JPH039537B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光デイスク媒体上のバースト欠陥を
確実に検出するバースト欠陥検出回路に関する。

情報処理装置用大容量の外部記憶装置として期
待されている光デイスク装置は、従来から使用さ
れている磁気デイスク装置等と比較して十数倍の
高密度記録が可能である。又、光デイスク装置に
対するデータの記録は、光デイスク媒体面上に光
ビームを照射して熱反応により穴（ピツト）を開
けることにより行われるため、データの長期保存
が可能である。

しかし、光デイスク媒体面には不純物による欠
陥や記録膜の不均一な個所が他の記録媒体に比較
すると多く、これらが原因になりデータエラーに
なる率が非常に高くなつている。かかる欠陥は事
前に確実に検出してより高信頼性あるデータの記
録／再生が維持されることが望まれている。

〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕

従来技術として追記型光デイスク装置を例に取
り説明する。

第４図は追記型光デイスク装置の光学系構成
図、第５図は追記型光デイスク媒体の構成概要図
をそれぞれ示す。

追記型光デイスク装置では、一般に記録後現像
処理を必要としない記録材料が用いられる。この
記録材料上にレーザ光束を強く絞り込むことによ
つて、熱的に、記録膜ａにピツト（穴）をあける
（記録膜ａを変化させる方法もあるが、本例では
ピツト（穴）をあける方法を主体として説明す
る）ことによつてデータが記録される。

絞り込みレンズ８で絞り込んだレーザ光は、直
径1μm程度の微小スポツトにして光デイスク媒体
１上に照射し形成されるピツト（穴）は、直径
0.6〜1.0μm程度である。尚、前記ピツト（穴）を
形成してデータを記録する時には、レーザダイオ
ード２の出力は記録膜ａ上で約５〜10mWとなつ
ている。又、データ再生時には記録膜ａ上で約１
〜2mWとなつている。

データ記録／再生時共に、照射されたレーザ光
の光デイスク媒体１からの反射光量変化を光検出
器６で検出して、検出信号が得られる。

即ち、データ記録時にはレーザダイオード２を
高出力（数10mW）で発振させ、図示してない回
路から転送されて来る入力信号に応じて光変調器
３によつて変調させ、ピツト（穴）を光デイスク
媒体１上に記録する。

一方、データ再生時には、レーザダイオード２
を数mWで連続発振させ、光デイスク媒体１上か
らの反射光束をビームスプリツタ５によつて光検
出器６に導き信号検出を行う。尚、絞り込みレン
ズ８及び追従ミラー７は光デイスク媒体１上の微
少ピツト（穴）を追従するために矢印の方向に可
動となつている。

このような光デイスク媒体１は第５図に示すよ
うな構成となつている。即ち、透明基板ｂと記録
膜ａからなり、記録膜ａ部分はインデツクスマー
クやトラツク番号、セクタ番号等が予め記録され
ているプリフオーマツト部ｃと、データを記録す
るグループ（溝）部ｄからなつている。

このプリフオーマツト部ｃとグループ（溝）部
ｄとは、透明基板ｂ上にスタンプ技術を用いて形
成され、その後記録膜ａが蒸着されている。尚、
上述のデータの記録／再生はグループ（溝）部ｄ
上をトラツキングしながら記録膜ａにレーザ光を
照射して行われる。

このように光デイスク媒体１の記録膜ａは、高
信頼度なデータの記録／再生を行う上で非常に重
要な役目を担つている。このような記録膜ａに要
求される諸特性として以下のものがある。即ち、
(1)高い記録感度を有すること、(2)雑音成分が少な
いこと、(3)経時変化が少ないこと等である。

これらの諸要求に対して(1)は、記録膜ａの材質
に対する検討が必要であり、(2)は記録膜ａの表面
の細かい凹凸によるもので、結晶粒等膜自身の性
質と蒸着法によつて大きく変わつてくる。又、(3)
は記録膜ａの酸化等による欠陥の増加、感度の劣
化等に対する対策が必要となる。

特に、追従型光デイスク装置の場合、記録した
データは通常長期間（約10年前後）保存しておき
たいと言う要求が強く、記録膜ａの酸化等による
欠陥の増加、感度の劣化等は問題となる。又、デ
ータの記録時、記録膜ａに欠陥が多いと高信頼度
のデータが記録出来ない等の問題点がある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、上記問題点を解決するためのバース
ト欠陥検出回路を実現することを目的とするもの
であり、該問題点は、光デイスク媒体に照射した
光の反射光量を検出した信号の直流化した信号レ
ベルを検出するための時定数Ｔ１を有する第１の
検出手段と、時定数Ｔ２を有する第２の検出手段
と、前記第２の検出手段の出力レベルを所定値に
レベルシフトするレベルシフト手段と、前記第１
の検出手段の出力レベルと前記レベルシフト手段
の出力レベルとを比較する比較手段と、記録済み
部分から未記録部分に変化する期間を除き前記比
較手段の出力信号幅を計数する計数手段とを設
け、前記比較手段の出力信号幅が前記計数手段の
所定計数値に達する幅の時、該光デイスク媒体の
バースト欠陥検出信号を出力する本発明による光
デイスク装置により解決される。

〔作用〕

即ち、データ再生時のレベルで照射したレーザ
光の反射光量信号を時定数の異なる２つの検出手
段、例えば積分回路に加え、それぞれの出力を比
較回路で比較することにより反射光量信号の直流
レベルの変動を検出し、前記比較回路の出力が所
定時間以上継続した時、記録膜の酸化等による欠
陥（バースト欠陥）と判定し、事前にこれら欠陥
（バースト欠陥）を検出して処置を施すことによ
り、常に高信頼度なデータを得ることが可能とな
つた。

〔実施例〕

以下本発明の要旨を第１図〜第３図に示す実施
例により具体的に説明する。

第１図は本発明に係るバースト欠陥検出回路の
一実施例を示すブロツクダイヤグラム、第２図は
第１図に示すバースト欠陥検出回路の各点の信号
波形図、第３図は本発明に係るバースト欠陥検出
回路の他の実施例を示すブロツクダイヤグラムを
それぞれ示す。尚全図を通じて同一符号は同一対
象物又は内容を示す。

次に、第１図に示す第１の実施例の動作を説明
する。

本実施例のグループ（溝）部ｄは複数のトラツ
ク（媒体１の１回転を１トラツクとする）からな
つており、１トラツクは複数のセクタからなつて
いるものとする。

記録するデータは、前記セクタ単位に記録され
る。今、第２図に示すようにセクタＮまでは既に
データが記録されており、セクタ（Ｎ＋１）以降
の未記録部分にデータを記録したい場合、制御部
（図示してない）は該当トラツクの再生動作を指
示する。

この時、反射光量を検出した光検出器６は再生
信号を積分回路９と、積分回路１０に送出す
る。積分回路９は、再生信号を抵抗器Ｒ１とコ
ンデンサＣ１からなる時定数Ｔ１で直流レベル信
号にして、比較回路１２の（−）端子に送出す
る。

一方、積分回路１０では再生信号を抵抗器Ｒ
２とコンデンサＣ２からなる時定数Ｔ２と演算増
幅器１４とで直流レベル化し、レベルシフト回路
１１に送出する。レベルシフト回路１１では所定
オフセツト電圧Ｅを加えると共に、１以下の増幅
度を持つ演算増幅器１５で増幅した直流レベル信
号を比較回路１２の（＋）端子に送出する。

尚、これらの操作は、比較回路１２で信号と
比較する時、第２図で示す個所イと個所ハでの直
流レベルの変化状況の相違を明確にし、個所イ
と、個所ハを検出出来るようにするためである。

比較回路１２は信号と信号とを比較し、相
違点があれば、その間信号をパルス幅検出回路
１３に送出する。相違点が現れる個所は急峻なレ
ベル変動が発生する個所であり、第２図に示すイ
個所と、ハ個所である。

即ち、記録済み部分から未記録部分に変化する
個所イと、記録膜ａはがれ等の欠陥がある個所ハ
は、それ以前のレベルとそれ以後のレベルに急峻
なレベル変動が発生する。

パルス幅検出回路１３は、信号を受けている
期間、カウンタ１６（例えば、16進カウンタ）は
発振器１８からのクロツクパルスを計数する。こ
の計数値が所定計数値（例えば、８カウント）に
達すると、出力信号を制御部（図示してない）
に出力する。

尚、計数値が所定計数値（例えば、８カウン
ト）に達しない場合（例えば、個所ロのようなノ
イズ発生個所）は、本実施例では問題個所とは検
出しない。

この出力信号を制御部（図示してない）はバ
ースト欠陥検出信号として受け、例えば、そのセ
クタ（Ｎ＋１）にはデータを記録しないような処
置を施す。

尚、個所イは特に欠陥個所ではないため、この
ような個所は予め制御部（図示してない）で把握
しており、個所イにかかる場合、制御部（図示し
てない）からマスク信号が論理積回路１７に送
出され、発振器１８からのクロツクパルスがカウ
ンタ１６へ送り込まれないようにする。

第３図に示す第２の実施例は、第１の積分回路
１０の機能と、レベルシフト回路１１の機能を１
つの積分回路１９で実現するようにしたもので、
より簡易な回路構成としたもので、動作は第１図
で示す第１の実施例と同様な動作となる。尚、信
号と信号′及び信号と信号′は同一信号を
示す。

〔発明の効果〕

以上のような本発明によれば、簡単な回路構成
で、光デイスク媒体の欠陥を適確に検出でき、記
録データの高信頼度が保証されると言う効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係るバースト欠陥検出回路の
一実施例を示すブロツクダイヤグラム、第２図は
第１図に示すバースト欠陥検出回路の各点の信号
波形図、第３図は本発明に係るバースト欠陥検出
回路の他の実施例を示すブロツクダイヤグラム、
第４図は追記型光デイスク装置の光学系構成図、
第５図は追記型光デイスク媒体の構成概要図、を
それぞれ示す。 図において、１は光デイスク媒体、２はレーザ
ダイオード、３は光変調器、４はレンズ、５はビ
ームスプリツタ、６は光検出器、７は追従ミラ
ー、８は絞り込みレンズ、９，１０，１９，２０
は積分回路、１１はレベルシフト回路、１２は比
較回路、１３はパルス幅検出回路、１４，１５，
２１は演算増幅器、１６はカウンタ、１７は論理
積回路、１８は発振器、をそれぞれ示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ トラツク及びセクタの番号情報やタイミング
   情報が予め記録されている領域と、データを記録
   する領域からなる光デイスク媒体上に光学的にデ
   ータを記録／再生する装置において、 前記光デイスク媒体に照射した光の反射光量を
   検出した信号の直流化した信号レベルを検出する
   ための時定数Ｔ１を有する第１の検出手段と、 時定数Ｔ２を有する第２の検出手段と、 前記第２の検出手段の出力レベルを所定値にレ
   ベルシフトするレベルシフト手段と、 前記第１の検出手段の出力レベルと前記レベル
   シフト手段の出力レベルとを比較する比較手段
   と、 記録済み部分から未記録部分に変化する期間を
   除き前記比較手段の出力信号幅を計数する計数手
   段とを設け、 前記比較手段の出力信号幅が前記計数手段の所
   定計数値に達する幅の時、該光デイスク媒体のバ
   ースト欠陥検出信号を出力することを特徴とする
   バースト欠陥検出回路。