JPH0450676B2

JPH0450676B2 -

Info

Publication number: JPH0450676B2
Application number: JP59001399A
Authority: JP
Inventors: Hideki Hosoya
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1984-01-10
Filing date: 1984-01-10
Publication date: 1992-08-14
Also published as: DE3500521C2; DE3500521A1; US4811316A; FR2558001A1; JPS60145576A; FR2558001B1

Description

【発明の詳細な説明】〔技術分野〕本発明は情報担体のトラツクシーク方法に係
り、特に案内トラツクを有する情報担体に対して
情報を光学的に記録、再生する光学情報記録再生
装置のトラツクシーク方法に関する。

〔従来技術〕

今日、光を利用して情報を高密度に記録あるい
は再生する光学情報記録再生装置が注目されてい
る。この装置は、光感応性記録材料を用いて形成
された情報担体を回転させ、この情報担体上にレ
ーザ等の光を直径1μｍ程度の微小スポツトに集
光させて、凹凸、穴、反射率や磁化方向の変化等
を形成したり検出したりして情報の記録、再生を
行なつている。たとえば、再生専用のものとして
は、光学式のビデオ・デイスクやデジタル・オー
デイオ・デイスク等があり、記録、再生可能なも
のとしては電子フアイル・システム等に用いられ
ている光デイスクなどがある。さらに記録信号の
対象としても映像信号や音響信号、そしてコンピ
ユータ等のデジタル信号などが考えられ、その応
用範囲は増々広くなつている。

このような光学式情報担体（以下、情報担体と
略記する）には、信号を狭トラツク・ピツチで高
密度に記録し、また高密度に記録された信号を精
度良く再生するために、光学的に検出可能な案内
トラツクが設けられている。この案内トラツクに
スポツト光を精度良く追従させるためにはトラツ
キング制御が必要であり、またスポツト光を移動
させるシーク動作にも制御技術が必要とされる。

情報担体がデイスクである場合は、案内トラツ
クの形状はスパイラル状か、あるいは同心円状で
ある。また、情報担体にはプリグルーブ形とプリ
フオーマツテイング形とがあり、プリグルーブ形
では、案内トラツクが情報担体上に溝の形で形成
され、情報管理のためのトラツク番地やセクタ番
地も同時に凹凸の位相溝として形成される。プリ
フオーマツテイング形では、高出力光源を用いて
光感応性記録材料の屈折率を変化させることで案
内トラツク、トラツク番地、セクタ番地等が形成
される。

このようにして形成された情報担体上の案内ト
ラツクは、スポツト光の反射光の変化によつて識
別される。詳しく言えば、光検出器に２つの受光
部を設け、両受光部の境界線が案内トラツクの接
線方向と平行になるように配置する。そうすれ
ば、案内トラツクのズレ（正確には、スポツト光
の案内トラツクからの逸脱）は光強度分布の偏り
に反映され、トラツキング制御を行なうことがで
きる。

また、スポツト光が案内トラツクを横断する毎
に２つの受光部に到達する光量が順次変化するか
ら、２つの受光部の出力の差信号をトラツク横断
信号として利用できる。

このトラツク横断信号はシーク動作にとつて極
めて重要である。なぜならば、スポツト光が移動
したトラツク数はトラツク横断信号をカウントす
ることで求まるからである。したがつて、目標移
動トラツク数が与えられてシーク動作が開始され
ると、スポツト光の移動に従つてトラツク横断信
号がカウントされて行き、そのカウント値が目標
移動トラツク数と一致した時点でシーク動作が終
了する。このようにトラツク横断信号を利用して
高速シークが可能となる。

しかしながら、すでに述べたように高密度の情
報担体では、トラツク・ピツチが極めて狭くなつ
ている。たとえば光デイスクではトラツク間隔は
１〜2μｍであり、小さなキズやゴミ等が存在す
るだけで数本〜数十本のトラツクが一部欠損の状
態になつてしまう。トラツクがこのように欠陥部
分を有すると、従来のシーク方式では、スポツト
光が移動しても欠陥部分ではトラツク横断信号が
得られないことになり正しいシーク動作が行なえ
ないという欠点があつた。

一方、特開昭56−134364号公報には、上記欠点
を解決するため、１つのトラツク横断信号が検知
されてから予め設定された時間内に次のトラツク
横断信号が検知されなかつた場合に、トラツク横
断信号の代わりに疑似検知信号を発生させて、欠
陥による横断トラツク数のカウント誤差を補正す
る方法が記載されている。この方法を用いれば、
情報担体上の欠陥に影響されずに正確なトラツク
シークを行うことができる。

しかしながら、上記疑似検知信号を発生させる
方法においては、設定時間を一定としているた
め、光スポツトの移動速度が一定でなかつたり、
トラツクに揺らぎが生じたりした場合には、カウ
ントされるトラツク数に誤差が生じる恐れがあつ
た。例えば、トラツクが同心円状或はスパイラル
状に形成されたデイスク状の情報担体がターンテ
ーブルに偏心して装着され、この情報担体を回転
させながら、その半径方向に光スポツトを走査し
たとする。この場合、偏心の影響によつて光スポ
ツトと情報担体との相対速度は刻々と変化し、ト
ラツク横断信号が検知される時間間隔も変化す
る。これに対し、上記方法では、疑似検知信号を
発生させるための設定時間が一定であるため、こ
の設定時間と実際に検知されるトラツク横断信号
の時間間隔との差がカウント誤差につながる。

更に具体的に説明するならば、仮に光スポツト
と情報担体との相対速度が徐々に増加していく期
間に欠陥が発生したとすると、実際に検知される
べきトラツク横断信号間の時間間隔が設定時間よ
り短くなる。そのため、カウントされる疑似検知
信号の数は、欠陥がなかつた場合にカウントされ
るトラツク横断信号の数よりも少なくなつてしま
う。

［発明の目的］本発明は、上記従来技術の問題点に鑑みてなさ
れたものであり、その目的は情報担体上に欠陥が
存在し、且つ、光スポツトと情報担体との相対速
度が変化する場合においても、トラツクカウント
数に誤差を生ずることなく正確なシーク動作を行
うことのできる光学情報記録再生装置のトラツク
シーク方法を提供することにある。

［発明の要旨］本発明の上記目的は、複数のトラツクが形成さ
れた情報担体上をこれらのトラツクを横切るよう
に光スポツトで走査し、この光スポツトからの光
を光検知器で受光することによつてトラツク横断
信号を間欠的に検知する過程と、１つのトラツク
横断信号が検知されてから設定された時間内に次
のトラツク横断信号が検知されなかつた場合に
は、トラツク横断信号の代わりに疑似検知信号を
発生する過程と、前記検知されたトラツク横断信
号および疑似検知信号をカウントすることによつ
て、前記光スポツトの情報担体上の位置を判断す
る過程とから成る光学情報記録再生装置のトラツ
クシーク方法において、前記設定時間を、直前の
トラツク横断信号の１つ前のトラツク横断信号が
検知されてから直前のトラツク横断信号が検知さ
れるまでの第１の時間と、直前のトラツク横断信
号の２つ前のトラツク横断信号が検知されてから
１つ前のトラツク横断信号が検知されるまでの第
２の時間とを用いて、第１の時間から第２の時間
を引いた差の時間を第１の時間に加えた時間に設
定することによつて達成される。

〔発明の実施例〕

以下本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明
する。

第１図は本発明のトラツクシーク方法を実施す
る光学情報記録再生装置のカウント回路の一実施
例を示すブロツク構成図である。

同図において、光検出器１は２つの受光部１
ａ，１ｂを有し、これら受光部１ａおよび１ｂの
境界線は図示されていない情報担体の案内トラツ
ク接線方向と平行に配置されている。案内トラツ
クの位置によつて受光部１ａおよび１ｂに入射す
る光量は変化し、各入射光量が光電変換されて受
光部１ａおよび１ｂから電気信号として差動増幅
器２へ出力される。差動増幅器２は受光部１ａお
よび１ｂへの入射光量の差に対応する差出力ａを
ローパス・フイルタ３（以下、LPF３とする）
へ出力する。LPF３は、トラツク横断信号以外
の雑音を除去するために設けられている。LPF
３を通過した差出力ａは、波形整形回路４に入力
して整形され矩形波ｂとなつてモノ・マルチ・バ
イブレータ５（以下、MM５と記す）へ入力す
る。MM５は、矩形波ｂをトリガとして入力し、
時定数で決定されるパルス幅をもち且つ矩形波ｂ
と同期同相であるトラツク横断パルスｃを発生さ
せて、アンドゲート６（以下AND６とする）の
第１の入力端子へ出力する。

一方、クロツク・オシレータ７（以下、CLK
７とする）は、通常考えられるトラツク横断パル
スｃのパルス間隔よりも十分短い周期のクロツ
ク・パルスｄを発生し、φカウンタ８とＮカウン
タ９の各クロツク入力端子CKへ出力する。たた
しφカウンタ８は、トラツク横断パルスｃのパル
ス間隔をクロツクパルスｄの個数でカウント測定
するカウンタであり、Ｎカウンタ９はトラツク横
断パルスｃをカウントするカウンタである。

φカウンタ８のカウント出力はレジスタ
（REG）１０、減算器（SUB）１１、および加算
器（ADD）１２にそれぞれ出力される。レジス
タ１０の内容であるカウント数C₁は減算器１１
へ出力され、減算器１１はレジスタ１０のカウン
ト数C₁とφカウンタ８のカウント出力との差ΔC
を算出して加算器１２へ出力する。加算器１２は
減算器１１からの出力ΔCとφカウンタ８のカウ
ント出力とを加算して計数値C₀をφカウンタ８
およびゲート幅設定回路１４へ出力する。計数値
C₀はφカウンタ８の設定値となる。なお、上記
レジスタ１０、減算器１１、そして加算器１２に
よつて構成される部分回路を、以下計数値設定回
路１３とする。

ゲート幅設定回路１４は、計数値設定回路１３
からの出力C₀に従つてゲート幅を決定し、その
ゲート幅を可変ゲート回路１５へ出力する。可変
ゲート回路１５はゲート幅設定回路１４から入力
したゲート幅と、φカウンタ８のキヤリー端子
CRから出力されるキヤリー信号とに従つて、ゲ
ート信号ｆをAND６の第２の入力端子へ出力す
る。AND６は、可変ゲート回路１５からのゲー
ト信号ｆによつて開閉が決定され、トラツク横断
パルスｃを通過させたり、阻止したりする。

AND６の出力ｇはオア・ゲート１６（以下、
OR１６とする）の第１の入力端子に入力する。
OR１６は、AND６の出力ｇとφカウンタ８のキ
ヤリー端子CRからのキヤリー信号とを入力し、
それらの論理和である擬似トラツク横断パルスｈ
をＮカウンタ９のイネーブル端子ENB、φカウ
ンタ８のロード端子LD、およびレジスタ１０の
ロード端子LDへそれぞれ出力する。

Ｎカウンタ９は、イネーブル端子ENBにハイ
レベルが入力されている間、カウント可能状態に
あり、クロツク入力端子CKからのパルスをカウ
ントすることができる。したがつて、OR１６か
らの疑似トラツク横断パルスｈのパルス幅を
CLK７からのクロツク・パルスｄの１クロツク
（たとえば20ns）に相当するように定めておけば、
擬似トラツク横断パルスｈをカウントすることが
できる。

横断トラツク数設定回路１７は、たとえばプリ
セツト可能なカウンタ等であり、ここに移動トラ
ツク数が設定され、その移動トラツク設定値がＮ
カウンタ９へ出力される。Ｎカウンタ９は擬似ト
ラツク横断パルスｈを上述したようにカウントし
て行き、移動トラツク設定値に到達した時点でキ
ヤリー端子CRよりキヤリー信号を送出し、スポ
ツト光が目標位置に到達したことを知らせる。

このような構成と基本動作を有する本実施例に
おいては、CLK７、φカウンタ８、および計数
値設定回路１３によつてトラツク横断パルスｃの
間隔が測定され、トラツク横断パルスｃが欠落し
た時には擬似パルスとしてキヤリー信号ｅがφカ
ウンタ８で生成される。以下、第２図ないし第４
図の波形図を用いて本実施例の具体的な動作を詳
細に述べる。

第２図は、トラツク横断パルスｃが１パルス欠
落した場合の波形図である。なお、第２図ａ〜ｈ
の波形は、第１図における差出力ａ、矩形波ｂ、
トラツク横断パルスｃ、クロツク・パルスｄ、φ
カウンタ８のキヤリー信号ｅ、ゲート信号ｆ、擬
似トラツク横断パルスｈにそれぞれ対応してい
る。

第２図ａには差動増幅器２の差出力ａの波形が
示されているが、案内トラツクに何らかの欠陥が
存在するために波形１０１（実線）が得られ、案
内トラツクの横断を示す波形１０１′（破線）が
ひとつ欠落している。差出力ａはLPF３を通過
した後、波形整形回路４によつて差出力ａのマイ
ナス成分のみが矩形波ｂに整形される〔第２図
ｂ〕。むろん、波形１０１′に対応する矩形波ｂは
存在していない。第２図ｂの矩形波ｂは、MM５
に入力してトラツク横断パルスｃとなる〔第２図
ｃ〕。

第２図ｃのトラツク横断パルスｃは、説明の都
合上、パルス１０２とパルス１０３の時間間隔を
Δt₁、パルス１０３とパルス１０４の時間間隔を
Δt₂とし、パルス１０３とパルス１０４の発生時
刻をそれぞれt₁，t₂とする。また、案内トラツク
に欠陥が存在しなければ発生したはずのパルスを
パルス１０５として、第２図ｃでは破線で表わし
ている。以下、発生しなかつたパルス１０５の代
わりに、どのようにして擬似パルスが発生させら
れるかが説明される。

すでに述べたように、φカウンタ８はトラツク
横断パルスｃの間隔をクロツク・パルスｄのカウ
ント数で測定し、そのカウント数はレジスタ１０
に入力して格納される。そこで、第１図に示され
た本実施例の回路が第２図ｃにおける時刻t₂の直
前、すなわちパルス１０４が発生する直前の状態
にあると仮定する。この状態において、レジスタ
１０にはパルス１０２と１０３との時間間隔Δt₁
に相当するクロツク・パルスｄのカウント数C₁
が格納されており、またφカウンタ８にはパルス
１０３からパルス１０４の直前までの時間間隔
Δt₂に相当するクロツク・パルスｄのカウント数
C₂がカウントされているはずである。そして、
そのカウント数C₂は計数値設定回路１３から与
えられた設定値C₀に達していないものとする。
そのためにキヤリー信号ｅのパルスは出力され
ず、可変ゲート回路１５は非動作状態を持続しゲ
ート信号ｆはハイレベルに保持されている。

このような状態において、第２図ｃのパルス１
０４がMM５からAND６へ出力されたとする。
トラツク横断パルスｃのパルス１０４はゲート信
号ｆがハイレベルであるためAND６を通過して
パルス１０４ｇとなり、OR１６の出力端子に擬
似トラツク横断パルスｈの１パルス（パルス
104h）として現われる。そしてこのパルス１０
４ｈは、Ｎカウンタ９のイネーブル端子ENB、
φカウンタ８およびレジスタ１０の各ロード端子
LDへそれぞれ入力する。

擬似トラツク横断パルスｈの１パルスとしての
パルス１０４ｈをイネーブル端子ENBに入力し
たＮカウンタ９は、クロツク入力端子CKに入力
しているクロツク・パルスｄによつてカウントを
＋１する。

パルス１０４ｈがφカウンタ８およびレジスタ
１０の各ロード端子LDに入力すると、φカウン
タ８と計数値設定回路１３は次のように動作す
る。

レジスタ１０には現時点でのφカウンタ８のカ
ウント数C₂が格納され、レジスタ１０に格納さ
れていたパルス１０２と１０３の間隔Δt₁に相当
するクロツク・パルスｄのカウント数C₁は、減
算器１１において現時点のφカウンタ８のカウン
ト数C₂を減算し（ΔC＝C₂−C₁）、その結果ΔCを
加算器１２へ出力する。加算器１２においては、
減算器１１からのΔCと現時点でのφカウンタ８
のカウント数C₂とが加算され、計数値C₀＝C₂＋
ΔCが算出される。計数値C₀はφカウンタ８に入
力して、トラツク横断パルスＣのパルス間隔の最
大値Δt₃を設定する、と同時にφカウンタ８はク
リアされる。こうして、第２図ｃにおけるパルス
１０４の次に発生するであろうパルス１０５は、
せいぜいカウント数C₀のうちに発生することが
予測される。

φカウンタ８は、再びクロツク・パルスｄによ
つて歩進して行く。しかしトラツク横断パルスｃ
のパルス１０５は発生しない。そのためにφカウ
ンタ８はさらにカウントを継続し、ついに設定さ
れた計数値C₀と一致する。

カウント数が計数値C₀と一致すると、φカウ
ンタ８は第２図ｅに示されるように、キヤリー信
号ｅのパルス１０６を可変ゲート回路１５および
OR１６へ出力する。

パルス１０６は、OR１６を経て擬似トラツク
横断パルスｈの擬似パルス１０６ｈとなり、Ｎカ
ウンタ９のイネーブル端子ENB、φカウンタ８
およびレジスタ１０の各ロード端子LDへ入力す
る。以下同様の動作がくりかえされ、トラツク横
断パルスｃのパルス１０５が欠落してもキヤリー
信号ｅのパルス１０６がＮカウンタ９へ入力する
こととなり、パルス１０５の欠落が補正された擬
似トラツク横断パルスｈ〔第２図ｈ〕を得ること
ができる。

一方、キヤリー信号ｅのパルス１０６は可変ゲ
ート回路１５へも同時に入力する。可変ゲート回
路はカウンタやモノマルチバイブレータ等で構成
され、キヤリー信号ｅのパルス１０６の発生と同
時にゲート信号ｆをハイレベルからローレベルへ
変化させる。これによつてAND６はOFF状態と
なり、トラツク横断パルスｃはＮカウンタ９側へ
伝達されない。ゲート信号ｆがローレベルとなる
時間間隔はゲート幅設定回路１４によつて決定さ
れる。ゲート幅設定回路１４は計数値設定回路１
３から出力される計数値C₀を入力して、本実施
例ではカウント数C₀／２を設定し、可変ゲート
回路１５へ出力する。したがつてゲート信号ｆが
ローレベルとなりAND６がOFF状態となる時間
間隔は、第２図ｅおよびｆに示されるように計数
値C₀に相当する時間間隔Δt₃の半分である。

このように、キヤリー信号ｅのパルス１０６を
発生して擬似パルス１０６ｈを生成した時点で
AND６をOFF状態にしてトラツク横断パルスｃ
を阻止するのは、擬似パルス１０６ｈを発生した
直後にトラツク横断パルスｃのパルス１０５が発
生した場合にトラツク数を２重にカウントしてし
まう事態を避けるためである。この場合の動作は
後に第４図を用いて説明する。

以上第２図を用いてトラツク横断パルスｃの１
パルスが欠落した場合の擬似トラツク横断パルス
ｈの発生動作を説明した。

次に第３図および第４図を用いて、正しいトラ
ツク横断パルスｃが得られる場合の動作を説明す
る。

第３図および第４図は第２図と同形式の波形図
である。ただし差動増幅器２の差出力ａ、波形整
形回路４から出力される矩形波ｂ、およびCLK
７から出力されるクロツク・パルスｄは第２図と
同じであるから、第３図および第４図では省略し
てある。

正しいトラツク横断パルスｃが得られる場合に
は２通りある。ひとつは第３図に示されるよう
に、キヤリー信号ｅのパルス１０８が発生する前
に正しいトラツク横断パルスｃのパルス１０７が
発生する場合、他のひとつは第４図に示されるよ
うに、キヤリー信号ｅのパルス１１０が発生した
後正しいトラツク横断パルスｃのパルス１０９が
発生する場合である。

まず第３図において、トラツク横断パルスｃの
パルス１０７がMM５から出力された時点では、
キヤリー信号ｅのパルス１０８はφカウンタ８の
キヤリー端子CRから可変ゲート回路１５へ出力
されていないためにゲート信号ｆはハイレベルに
維持されている〔第３図ｆ〕。したがつてパルス
１０７はAND６を通つてパルス１０７ｇとなり、
OR１６を通つてパルス１０７ｈとなつてＮカウ
ンタ９のイネーブル端子ENB、φカウンタ８お
よびレジスタ１０の各ロード端子LDへ入力する。
したがつて、正しいトラツク横断パルスがＮカウ
ンタ９によつてカウントされる。また、φカウン
タ８は計数値設定回路１３から計数値C₀を入力
し、同時にカウンタがクリアされるためにキヤリ
ー信号ｅのパルス１０８は出力されず、２重カウ
ントは避けられる。

次に、第４図において、キヤリー信号ｅのパル
ス１１０が発生すると、そのパルス１１０はOR
１６を経てパルス１１０ｈとなりＮカウンタ９の
イネーブル端子ENB、φカウンタ８およびレジ
スタ１０の各ロード端子LDに入力する。またパ
ルス１１０は可変ゲート回路１５にも入力してゲ
ート信号ｆをハイレベルからローレベルへ変化さ
せる〔第４図ｆ〕。ゲート信号ｆがローレベルに
なることで、AND６はOFF状態となり、トラツ
ク横断パルスｃのパルス１０９がパルス１１０よ
り後に発生したとしてもＮカウンタ９側へ伝達さ
れない結果となる。したがつて、OR１６から出
力される擬似トラツク横断パルスｈは正しいトラ
ツク横断パルスとなり、２重にカウントする事態
が防止される。

またゲート信号がｆがローレベルである時間
は、本実施例ではゲート幅設定回路１４によつて
計数値C₀の半分に設定されているので、トラツ
ク横断パルスｃの間隔が計数値C₀に相当する時
間間隔に比べて1.5倍以上変動しない限り２重カ
ウントを防止でき、実用には十分である。

第５図は第３図および第４図と同じ形式の波形
図であるが、トラツク横断パルスｃが複数連続し
て欠落した場合を示している。本実施例の回路動
作は第２図の場合の動作がくりかえされるだけで
ある。

トラツク横断パルスｃのパルス１１３，１１４
および１１５が欠落したとすると、まずキヤリー
信号ｅのパルス１１６が発生して、ゲート信号ｆ
がハイレベルからローレベルに変化しAND６を
OFF状態にする。同時にパルス１１６が擬似パ
ルス１１６ｈを形成する。

ゲート信号ｆはパルス１１１とパルス１１２の
時間間隔の半分に当たる時間だけローレベルを維
持した後ハイレベルに復帰する。以下同様に、パ
ルス１１２とパルス１１６の時間間隔でパルス１
１７、つづいてパルス１１８が発生し、擬似パル
ス１１７ｈ，１１８ｈが形成される。こうして複
数のトラツク横断パルスｃが連続して欠落して
も、その欠落を補う擬似パルスを発生して正しい
横断トラツク数をＮカウンタ９によつてカウント
することができる。

以上第２図ないし第５図を用いた説明によつ
て、トラツク横断パルスｃがどのように欠落した
としても本実施例の回路によつてその欠落は補正
されることが明らかになつた。また、本実施例で
はφカウンタ８とＮカウンタ９が１つのクロツク
によつて同期して動作するために、高速動作でも
誤動作を生じないという利点がある。

なお、第１図に示された本実施例の回路では、
Ｎカウンタ９のカウント動作をクロツク・パルス
ｄとイネーブル端子ENBに入力する擬似トラツ
ク横断パルスｈとによつて行なつていたが、これ
に限定されるものではないことは当然である。要
は擬似トラツク横断パルスｈをカウントすればよ
いのであるから、第６図に示されるようにＮカウ
ンタ９を常時カウント可能状態、すなわちイネー
ブル端子ENBを常にハイレベルに保持しておき、
擬似トラツク横断パルスｈをクロツク入力端子
CKに入力してもよい。むろん、この場合はクロ
ツク・パルスｄをＮカウンタ９へ入力する必要は
なくなる。その他の回路構成および動作は第１図
と全く同じであるから説明は省略する。

また、第１図および第６図に示された本発明の
実施例においては、２つの受光部を有する光検出
器１を用いて、両受光部に入射する光量の差によ
りトラツキング・エラー信号等を得ているが、こ
れはあくまでも一例であり、本発明によるトラツ
クシーク方法がトラツキング方式によらず適用で
きることは明白である。

〔発明の効果〕

以上詳細に説明したように、本発明による光学
情報記録再生装置のトラツクシーク方法は情報担
体上のキズあるいはゴミ等によつて案内トラツク
に欠陥が存在する場合であつても、スポツト光を
安定かつ高速にシーク動作させることができると
いう大きな効果を有する。

また、本発明は欠陥を補償する疑似検知信号を
発生させるための設定時間を、トラツク横断信号
の検知間隔の変化に応じて補正するようにしたの
で、光スポツトと情報担体との相対速度が変化し
ても、トラツクカウント数に誤差を生ずることな
く正確なシーク動作を行うことのできるものであ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のトラツクシーク方法を実施す
る光学情報記録再生装置のカウント回路の第１の
実施例の構成を示すブロツク回路図、第２図はト
ラツク横断パルスがひとつ欠落した場合の第１の
実施例の動作を説明するための波形図、第３図お
よび第４図は正しいトラツク横断パルスが発生し
た場合の第１の実施例の動作を説明するための波
形図、第５図はトラツク横断パルスが連続して欠
落した場合の第１の実施例の動作を説明するため
の波形図、第６図は本発明のトラツクシーク方法
を実施する光学情報記録再生装置のカウント回路
の第２の実施例の構成を示すブロツク回路図であ
る。６……アンド・ゲート回路（AND）、７……ク
ロツク・オシレータ（CLK）、８……φカウン
タ、９……Ｎカウンタ、１３……計数値設定回
路、１４……ゲート幅設定回路、１５……可変ゲ
ート回路、１６……オア・ゲート回路（OR）。

Claims

【特許請求の範囲】１複数のトラツクが形成された情報担体上をこ
れらのトラツクを横切るように光スポツトで走査
し、この光スポツトからの光を光検出器で受光す
ることによつてトラツク横断信号を間欠的に検知
する過程と、１つのトラツク横断信号が検知され
てから設定された時間内に次のトラツク横断信号
が検知されなかつた場合には、トラツク横断信号
の代わりに疑似検知信号を発生する過程と、前記
検知されたトラツク横断信号および疑似検知信号
をカウントすることによつて、前記光スポツトの
情報担体上の位置を判断する過程とから成る光学
情報記録再生装置のトラツクシーク方法におい
て、前記設定時間が、直前のトラツク横断信号の１
つ前のトラツク横断信号が検知されてから直前の
トラツク横断信号が検知されるまでの第１の時間
と、直前のトラツク横断信号の２つ前のトラツク
横断信号が検知されてから１つ前のトラツク横断
信号が検知されるまでの第２の時間とを用いて、
第１の時間から第２の時間を引いた差の時間を第
１の時間に加えた時間に設定されていることを特
徴とする光学情報記録再生装置のトラツクシーク
方法。