JP2728210B2 - 光デイスク装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光デイスク上サーボピツトが記録されたサ
ーボエリアがトラツク毎に周期的に配置され、このサー
ボピツトを検出してトラツキング制御を行なう、いわゆ
るサンプルサーボ方式の光デイスク装置に係り、特に、
横切つたトラツク数を計数してアクセスを行なう光デイ
スク装置に関する。

〔従来の技術〕

従来、CDプレーヤや光学式ビデオデイスク装置などの
光デイスク装置においては、目標とするトラツクにアク
セスするための１つの方法として、光スポツトが横切る
トラツク数を検出し、この検出結果から光スポツトの位
置や移動速度を判定し、光スポツトの移動速度を制御し
ながら光スポツトを目標とするトラツクに移動される、
いわゆるクロストラツクカウント方式と呼ばれる方法が
知られている。

光スポツトが横切るトラツク数を検出するための一つ
の方法としては、光デイスクのデータ再生時などで光ス
ポツトのトラツキング制御に予め光デイスクに設けられ
た案内溝（プリグルーブ）を用いる方法がある（たとえ
ば、1986年12月18日に開催された「光メモリシンポジウ
ム'86」の論文「光デイスクメモリの高速アクセス方
式」）。光デイスクには予め螺旋状もしくは同心円状に
案内溝が形成されており、この案内溝からトラツキング
制御信号を得、これでもつて光スポツトがこの案内溝に
沿うようにトラツキング制御され、この光スポツトによ
つてデータの記録，再生を行なう。この案内溝は連続的
に形成されており、各トラツク毎に案内溝が存在してい
ることになる。

そこで、この案内溝を光スポツトが横切るときにはト
ラツクも横切つており、このために、光検出器から得ら
れる信号の光スポツトが案内溝を横切つたことによる振
幅変動を検出し、これを計数することにより、光スポツ
トが横切つたトラツク数を知ることができる。

一方、トラツキング制御方式の他の例として、光デイ
スク上にトラツキング制御信号を検出するための領域を
不連続に設けた、いわゆるサンプルサーボ方式も知られ
ている。以下、第７図，第８図により、サンプルサーボ
方式の概略を説明する。

第７図はサンプルサーボ方式のための光デイスクの一
部を拡大して示したものである。

同図において、光デイスク上の各トラツク、31a,31b,
31c,31d,……には周期的にサーボエリアA_Sが設けられて
いる。また、サーボエリアA_Sの周期は光デイスクの回転
周期の整数分の１であり、したがつて、サーボエリアA_S
は光デイスクの半径方向に配置されている。サーボエリ
アA_S間のデータエリアA_Dはデータピツト32が記録された
エリアである。各サーボエリアA_Sでは、トラツクの中心
（破線で示す）に関して互い反対方向に等距離離れ、か
つトラツク長手方向にも互いにづれた２つのサーボピツ
ト30a,30bが記録されている。かかる光デイスクが矢印
Ｘ方向に回転し、光スポツトがトラツク31a上にあると
すると、この光スポツトはサーボエリアA_Sで、まず、サ
ーボピツト30aを検出し、次に、サーボピツト30bを検出
する。そこで、サーボピツト30aによる検出信号振幅と
サーボピツト30bによる検出信号振幅とを比較すること
により、トラツキング制御信号が得られる。

なお、サーボエリアA_Sには同期ピツトも記録され、こ
の同期ピツトによつてクロツクを同期させるようにする
が、以下の説明では、この同期ピツトを省略する。

第８図はかかる光デイスクのトラツキング誤差信号を
生成するための回路を示すブロツク図である。

同図において、信号検出器39は第７図に示した光デイ
スクのトラツク上のピツトによつて変調された検出信号
を出力する。この検出信号は、サンプルホールド回路
（以下、S/H回路という）40でクロツクφ_１によつてサ
ンプルホールドされ、また、S/H回路41でクロツクφ_２
によつてサンプルホールドされる。ここで、クロツクφ
_１は第７図の各サーボエリアA_Sでのサーボピツト30aの
検出タイミングに合つており、クロツクφ_２はサーボピ
ツト30bに合つている。このために、S/H回路40では、検
出信号のサーボピツト30aによる信号振幅がサンプルホ
ールドされ、S/H回路41では、同じくサーボピツト30bに
よる信号振幅がサンプルホールドされる。これらS/H回
路40,41の出力信号は差動アンプ42で減算処理される。

そこで、第７図で光スポツトがサーボピツト30a側に
トラツキングずれを起しているとすると、サーボピツト
30bよりもサーボピツト30aによる信号振幅が大であるか
ら、S/H回路40の出力信号の振幅が大となり、差動アン
プ42から正の信号が出力される。また、逆に光スポツト
がサーボピツト30b側にトラツキングずれを起こしてい
ると、S/H回路41の出力信号の振幅が大となるから、差
動アンプ42から負の信号が出力される。

このように、差動アンプ42からは、光スポツトのトラ
ツキングずれ方向に応じて正または負の極性が異なり、
かつずれ量に応じた振幅の信号が得られる。したがつ
て、この信号をトラツキング誤差信号S_trとし、光スポ
ツトのトラツキング制御に用いることができる。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところで、アクセスで光スポツトを移動（シーク）さ
せる場合、光スポツトの移動方向も検知できなければな
らない。これは、シーク速度が高速となつて目標トラツ
クに引き込まれず、光スポツトがオーバランした場合や
光デイスクの偏心が大きい場合、光スポツトの移動方向
が知られないと、目標トラツクの方向が横切つたトラツ
ク数から検知できても、光スポツトが正しく目標トラツ
クの方向に移動しているか否かを判定するこができず、
したがつて、目標トラツクへ光スポツトを到達させるこ
とができなくなるからである。

連続した案内溝を有する光ディスクの場合には、たと
えば前田他「′83秋季信学会1022」に述べられているよ
うに、案内溝から得られるトラツキング誤差信号S_trと
案内溝を横切る毎にレベルが変化するトラツク横断信号
S_CRとを得、これらから光スポツトの移動方向と横断し
たトラツク数とを検出している。すなわち、トラツク横
断信号S_CRは光スポツトがトラツクを横断する毎に同じ
極性でレベルが変化するのに対し、トラツキング誤差信
号S_trは、トラツキング制御が行なえるようにするため
に、ある方向から光スポツトがトラツクを横切つたとき
正から負に極性が変わつたとすると、逆方向から光スポ
ツトがトラツクを横切つたときには、負から正に極性が
変わる。したがつて、トラツク横断信号S_CRとトラツキ
ング誤差信号S_trとの位相関係が光スポツトの移動方向
によつて異なることになり、この位相関係を検出するこ
とによつて光スポツトの移動方向を判定できる。

しかし、この案内溝を有する光デイスクの場合には、
光デイスクが大きく傾いて回転する場合や案内溝の形状
の精度が低く、幅や深さが変動している場合には、トラ
ツキング位置がオフセツトして精度よくアクセスを行な
うことができない。このために、光デイスクの製作に非
常に高い精度が要求される。

これに対し、各トラツクに周期的にサーボエリアを配
置したサンプルサーボ方式による光ディスクでは、案内
溝を必要としないために上記のような問題はない。

しかしながら、このサンプルサーボ方式の光ディスク
では、上記のようにトラツキング誤差信号S_trは得られ
るが、案内溝が設けられていないため、案内溝を設けた
光デイスクの場合のようにして光スポツトの移動方向を
判定することはできない。

一方、かかるサンプルサーボ方式の光デイスクに対
し、光スポツトのシーク速度を高めてアクセスを行なつ
て第８図の差動アンプ42から出力されるトラツキング誤
差信号S_trをみると、第９図に示すように、極性が周期
的に変化する波形となる。ここで、同図での点Ｐを光ス
ポツトがトラツクを横切る時点とする。そこで、ある方
向に光スポツトが移動しているとき、第９図（ａ）のよ
うに、点Ｐでトラツキング誤差信号S_trが負から正に極
性が反転するものとすると、これとは逆方向に光スポツ
トが移動しているときには、第９図（ｂ）に示すよう
に、トラツキング誤差信号S_trは点Ｐで正から負に極性
が反転する。なお、点Ｐ間の極性が反転する点は、光ス
ポツトがトラツク間の中心にある時点である。

このように、トラツキング誤差信号S_trは、光スポツ
トを横切るタイミングを基準とすると、光スポツトの移
動方向によつて極性が反転することになる。したがつ
て、アクセス時にこのトラツキング誤差信号S_trから光
スポツトがトラツクを横切つたタイミング（点Ｐ）を検
出できれば、第９図（ａ），（ｂ）からして、この点Ｐ
からの正，負の極性の順序によつて光スポツトの移動方
向を検出することができるであろうが、得られるトラツ
キング誤差信号S_trから正から負へ、負から正へ極性が
反転するいずれのタイミングが光スポツトのトラツク横
切りタイミングであるかを判定することはできない。

そこで、サーボエリアにトラツク中心を示すピツトを
付加し、このピツトを検出することにより、トラツキン
グ誤差信号S_trにおける極性反転点のいずれが光スポツ
トかトラツクを横切つたタイミングであるかを判定し、
これにもとづいて上記のように光スポツトの移動方向を
判定することも考えられる。しかし、この方法による
と、上記付加ピツトによつてサーボエリアが拡大される
ことになり、この分有効なデータエリアが減少するとい
う問題がある。

本発明の目的は、かかる問題点を解消し、付加的なピ
ツトを必要とせずに光スポツトの移動方向をも検出でき
るようにし、サンプルサーボ方式の光デイスクでもつて
アクセスを可能とした光デイスク装置を提供することに
ある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、本発明は、データエリア
にデータ信号が記録されているサンプルサーボ方式の光
デイスクからの検出信号からサーボピツトの検出信号と
データピツトの検出信号とに分離し、前者によつて光ス
ポツトの光デイスク上トラツクからのずれを表わすトラ
ツキング誤差信号を生成し、後者によつて光スポツトが
トラツクを横切つたことを表わすトラツク横断信号を生
成する。該トラツキング誤差信号と該トラツク横断信号
との位相関係は、光スポツトの光デイスク上での移動方
向によつて異なり、該位相関係を検出することにより、
該光スポツトの移動方向を判定する。この場合、光スポ
ットのトラックを横断する方向の速度ｖを、トラックの
ピッチをＬ、サーボエリアの周期をＴとして、L/4T以下
とする。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図面によつて説明する。

第１図は本発明による光デイスク装置の一実施例を示
すブロツク図であつて、１は光検出器、２は信号分離／
処理回路、３はパルス化回路、４はコントローラ、５は
カウンタ、６はD/A（デイジタル／アナログ）変換器、
７はf/v（周波数／電圧）変換器、８は減算器、９はパ
ワーアンプ、10はトラツキングアクチユエータである。

同図において、第７図に示したサンプルサーボ方式の
光デイスクが定角速度で回転駆動され、この光デイスク
の半径方向にデータの再生時より高速に光スポツトを移
動させてアクセスを行なうものとする。また、この光デ
イスクには、各データエリアA_D（第７図）にデータピツ
トが記録されているものとする。

この光スポツトの光デイスクからの反射光は光検出器
１で受光される。この反射光は光スポツトがトラツクを
横切る毎にデータピツトによつて強度変調され、また、
光スポツトがサーボエリアA_Sを横切る毎にサーボピツト
によつて強度変調されるから、光検出器１の出力信号Ａ
もこれらピツトによつてレベル変調される。

光検出器１の出力信号Ａは信号分離／処理回路２に供
給され、データピツトによる信号とサーボピツトによる
信号とに分離されて、前者からトラツク横断信号S
_CRが、後者からトラツキング誤差信号S_trが夫々生成さ
れる。パルス化回路３では、これらトラツク横断信号S
_CRとトラツキング誤差信号S_trと位相関係が検出されて
光スポツトの移動方向が判定され、光スポツトがトラツ
クを横断する毎に光スポツトの移動方向に応じてパルス
ＵまたはパルスＤが出力される。

ここで、光スポツトが光デイスクの内周側から外周側
に移動するとき、この光スポツトの移動方向を正とし、
逆の移動方向を負とする。パルス化回路３は、光スポツ
トの移動方向が正のとき、パルスＤを出力し、この移動
方向が負のとき、パルスＵを出力するものとする。

カウンタ５はアツプダウンカウンタであり、アクセス
開始前、コントローラ４により、目標トラツクまでに横
切るべきトラツク数を表わすデイジタル値（以下、初期
値という）N_Oがプリセツトされる。但し、この初期値N_O
は、目標トラツクへの光スポツトの移動方向が正のとき
には正値，この移動方向が負のときには負値である。ま
た、カウンタ５はパルスＵをアツプカウントし、パルス
Ｄをダウンカウントする。

そこで、いま、目標トラツクを決めてそのアクセス開
始を指令すると、コントローラ４によつてカウンタ５に
正の初期値N_Oがプリセツトされる。この初期値N_Oはカウ
ンタ５からカウント値Ｎとして出力され、D/A変換器６
でアナログ信号に変換される。このD/A変換器６から出
力されるアナログ信号は光スポツトがとるべき光デイス
ク上の移動速度および移動方向を決める信号であり、以
下、この移動方向を含めた移動速度を目標移動速度ｖ^＊
といい、これを表わすD/A変換器６の出力信号を目標移
動速度信号Ｖ^＊という。この目標移動速度Ｖ^＊は、光ス
ポツトを正の移動方向に移動させるようにするとき正で
あり、負の移動方向に移動させるようにするとき負であ
る。

上記のように、カウンタ５に正の初期値N_Oがプリセツ
トされると、D/A変換器６からは正の目標移動速度Ｖ^＊
を表わすアナログ信号が出力され、減算器８、パワーア
ンプ９を介し速度制御信号としてトラツキングアクチユ
エータ10に供給される。これにより、光スポツトは正の
移動方向に移動を開始し、アクセスが開始される。

この光スポツトが移動開始するとともに、上記のよう
に、光検出器１から信号Ａが出力され、信号分離／処理
回路２からトラツキング誤差信号S_tr,トラツク横断信号
S_CRが出力されて、パルス化回路３からパルスＤが出力
される。カウンタ５はプリセツトされた初期値N_Oからパ
ルスＤをダウンカウントする。このために、カウンタ５
のカウント値Ｎは光スポツトがトラツクを横切る毎に１
ずつ減少していく。したがつて、このカウント値Ｎは各
瞬時での光スポツトが目標トラツクに達するまでに横切
るべきトラツク数（以下、所要横断トラツク数という）
に等しく、目標移動速度ｖ^＊はこの所要横断トラツク数
に比例する。

また、カウンタ５に負の初期値N_Oがプリセツトされる
と、カウンタ５のカウント値Ｎは負値となり、D/A変換
器６からは負の目標移動速度ｖ^＊を表わす負極性の目標
移動速度信号Ｖ^＊が出力され、これがトラツキングアク
チユエータ10に供給されて光スポツトは負の移動方向に
移動する。これにより、パルス化回路３はパルスＵを出
力し、カウンタ５は負の初期値N_OからこのパルスＵをア
ツプカウントする。このため、カウンタ５のカウント値
Ｎは、負値であるが、その絶対値|N|が光スポツトがト
ラツクを横切る毎に１ずつ減少していく。したがつて、
このカウント値Ｎの絶対値|N|も所要横断トラツク数に
等しく、目標移動速度ｖ^＊の絶対値|v^＊｜も所要横断ト
ラツク数に比例する。

第２図に目標移動速度ｖ^＊の絶対値|v^＊｜の変化を実
線で示す。光スポツトが目標トラツクに達すると、カウ
ンタ５のカウント値Ｎは零となり、したがつて、|v^＊｜
も零となる。

一方、パルス化回路３から出力されるパルスU,Dは光
スポツトがトラツクを横切る毎に発生するから、それら
の繰り返し周波数は光スポツトの実際の移動速度（以
下、実移動速度という）ｖに比例する。

これらパルスU,Dはf/V変換器７に供給され、これらの
繰り返し周波数に比例した電圧信号、すなわち実移動速
度ｖに比例した電圧信号（以下、実移動速度信号とい
う）Ｖが生成される。減算器８ではD/A変換器６からの
目標移動速度信号Ｖ^＊からf/V変換器７からの実移動速
度信号Ｖが減算され、これらの差信号がパワーアンプ９
を介し速度制御信号としてトラツキングアクチユエータ
10に供給される。

これにより、第２図に破線で示すように、実移動速度
ｖが目標移動速度ｖ^＊の絶対値|v^＊｜に等しくなるよう
に、光スポツトが速度制御される。

ここで、D/A変換器６からの目標移動速度信号Ｖ^＊は
光スポツトの移動方向に応じて極性が反転する。また、
f/V変換器７から出力される実移動速度信号Ｖは光スポ
ツトの移動方向にかかわらず一定の極性（正極性）であ
る。減算器８は、かかる目標移動速度信号Ｖ^＊と実移動
速度信号Ｖとの上記減算処理を行なう場合、目標移動速
度信号Ｖ^＊が正のときにはそのまま目標移動速度信号Ｖ
^＊から実移動速度信号Ｖを減算するが、目標移動速度信
号Ｖ^＊が負のときには実移動速度信号Ｖを極性反転して
から減算を行なう。このように実移動速度信号Ｖ^＊を極
性反転するか否かは、カウンタ５のカウント値Ｎにおけ
る正，負の符号を示すビツト用いて判定することができ
る。

光スポツトが目標トラツクを過ぎてしまうと、カウン
タ５のカウント値Ｎは正，負の符号が反転し、目標移動
速度信号Ｖ^＊は極性が反転する。これにより、光スポツ
トは移動方向を反転し、同様に目標トラツクに近づくこ
とになる。

なお、図示しないが、光デイスクでのデータ再生時の
光スポツトのトラツキング制御機構も設けられており、
アクセス時には、これをオフ状態にする。アクセスでカ
ウンタ５のカウント値Ｎなどから光スポツトが目標トラ
ツクに、または、その極く近傍に達した状態になつたこ
とが検出されると、このトラツキング制御機構が動作
し、目標トラツクでの光スポツトのトラツキング制御が
開始する。

第３図は第１図における信号分離／処理回路２の一具
体例を示すブロツク図であつて、11,12はゲート回路、1
3はインバータ、14はトラツキング誤差信号発生回路、1
5はエンベロープ検波回路、16はダイオード、17はコン
デンサ、18は抵抗である。

同図において、光検出器１（第１図）の出力信号Ａは
ゲート回路11,12に供給され、ゲート信号Ｇにより、ゲ
ート回路11で光デイスクのサーボエリアA_S（第７図）か
ら検出された信号が、インバータ13によるゲート信号Ｇ
の反転信号により、ゲート回路12で光デイスクのデータ
エリアA_D（第７図）から検出された信号が夫々分離され
る。ここで、光デイスクは定角速度回転駆動されている
ので、サーボエリアA_Sは一定周期で検出され、したがつ
て、光デイスクの回転基準位相からゲート信号Ｇを簡単
に得ることができる。

ゲート回路11の出力信号はサーボエリアA_Sにおけるサ
ーボピツトの検出信号であり、第８図に示した構成とな
すトラツキング誤差信号発生回路14に供給されてトラツ
キング誤差信号S_trが生成される。また、ゲート回路12
の出力信号はデータエリアA_Dにおけるデータビツトの検
出信号であり、ダイオード16、コンデンサ17、抵抗18か
らなるエンベロープ検波回路15に供給され、各データピ
ツトの検出ピークを結ぶエンベローが検波されてトラツ
ク横断信号S_CRが得られる。

ここで、各データピツトはトラツクの中心軸上に配列
されているから、光スポツトがトラツクの中心軸上にあ
るときにはトラツク横断信号S_SRは振幅が最大となり、
光スポツトがトラツクの中心軸からずれるにつれてトラ
ツク横断信号S_CRの振幅は減少する。したがつて、トラ
ツク横断信号S_CRは、光スポツトが正，負いずれの方向
に移動しても、光スポツトがトラツクを横切るとき振幅
が最大となり、トラツク間にあるとき振幅が最小とな
る。これに対して、トラツキング誤差信号S_trは、光ス
ポツトがトラツクの中心軸上およびトラツク間の中心軸
上にあるとき零となり、これら中心軸からのずれ方向に
応じて極性が異なる。このために、トラツキング誤差信
号S_trはトラツク横断信号S_CRと位相が異なり（π/2だけ
ずれ）、しかも、光スポツトの移動方向に応じて、第９
図に示したように、光スポツトがトラツクを横切るタイ
ミングを基準として位相が反転する。この結果、第４図
に示したように、トラツク横断信号S_CRに対して、光ス
ポツトの移動方向に応じてトラツキング誤差信号S_trの
位相がπ/2だけ進んだり、遅れたりする。但し、点Ｐは
光スポツトがトラツクを横切るタイミングを表わす。

第５図は第１図におけるパルス化回路３の一具体例を
示す構成図であつて、19,20はコンパレータ、21はモノ
マルチバイブレータ、22はインバータ、23,24はアンド
ゲートである。

同図において、信号分離／処理回路２（第１図）から
のトラツキング誤差信号S_trがコンパレータ19で零レベ
ルと比較され、このトラツキング誤差信号S_trが負の期
間高レベルとなるパルス信号P₁が得られる。いま、光ス
ポツトの移動方向が正であつて、第４図により、第６図
に示すような位相関係でトラツク横断信号S_CRとトラツ
キング誤差信号S_trとが発生したとすると、コンパレー
タ19からは光スポツトがトラツク中心軸にあるときに立
上り、トラツク間の中心軸にあるときに立下がるパルス
P₁が得られる。このパルスP₁はその立上りエツジでモノ
マルチバイブレータ21をトリガし、光スポツトがトラツ
ク中心軸にあるタイミングのパルスP₂が得られる。この
パルスP₂はアンドゲート23,24に供給される。

一方、トラツク横断信号S_CRはコンパレータ20でV_Bレ
ベルと比較され、トラツク横断信号S_CRのV_Bレベル以下
の部分が高レベルとなるパルスＱが得られる。このパル
スＱはゲート信号としてアンドゲート24に供給され、ま
た、インバータ22で反転され、ゲート信号としてアン
ドゲート23に供給される。光スポツトの移動方向が正で
トラツク横断信号S_CRとトラツキング誤差信号S_trが第６
図に示す位相関係にあるとき、モノマルチバイブレータ
21からのパルスP₂はゲート信号の高レベル期間にあ
る。したがつて、このパルスP₂はアンドゲート23を通
り、パルスＤとしてカウンタ５（第１図）に供給され
る。

また、光スポツトの移動方向が負であつてトラツク横
断信号S_CRとトラツキング誤差信号S_trとが第４図に示す
位相関係にあるときには、トラツキング誤差信号S_trは
第６図の場合と位相が反転した関係にあるから、モノマ
ルチバイブレータ21から出力されるパルスP₂はゲート信
号Ｑの高レベル期間にある。したがつて、このパルスP₂
はアンドゲート24を通り、パルスＵとしてカウンタ５に
供給される。但し、このパルスP₂は光スポツトがトラツ
ク間の中心軸にあるタイミングを表している。しかし、
このパルスP₂をカウントしても、同様に光スポツトが横
切つたトラツクを表わしていることになる。

なお、光スポツトの移動方向が正確に判定でき、かつ
光スポツトが横切つたトラツク数が正確に得られるため
に、第４図に示したように、トラツク横断信号S_CRとト
ラツキング誤差信号S_trとが同一周波数で所定の位相関
係になければならない。このためには、光デイスクがサ
ーボエリアの間隔だけ回転する間（これをサーボエリア
の周期という）に光スポツトはトラツクピツチの1/4以
下移動するようにしなければならない。したがつて、光
スポツトの移動速度ｖは、サーボエリアの周期をＴ、ト
ラツクピツチをＬとすると、 となる。

また、データ信号をFM変調、MFM変調、２−７変調、E
FM変調などの“0"ビツト，“1"ビツトが連続する最大の
長さを制限する方式で変調することにより、データピツ
トの検出による信号振幅が正確に得られる。また、第３
図において、エンベロープ検波回路15の後段に適当なロ
ーパスフイルタを設けることができ、これにより、リツ
プルを取り除くことができ、トラツク横断信号の波形を
滑らかにしてコンパレータ20（第５図）の比較動作を安
定化できる。さらに、光デイスクでのサーボピツトの配
置については特に制限されるものではない。

なお、データの記録と消去可能な光デイスクに対し、
あらかじめダミーデータを記録しておけばよいので、本
発明は再生専用の光デイスクには限定されない。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、サンプルサー
ボ方式の光デイスクに対し、光デイスクに記録されてい
るデータピツトを検出することにより、この検出信号と
トラツキング誤差信号との位相関係とから光スポツトの
移動方向を判定可能となり、付加ピツトを不要としてア
クセスを精度よく実行可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による光デイスク装置の一実施例を示す
ブロツク図、第２図はこの実施例での光スポツトの目標
移動速度と実移動速度との一例を示す図、第３図は第１
図における信号分離／処理回路の一具体例を示すブロツ
ク図、第４図は光スポツトの移動方向に対するトラツキ
ング誤差信号とトラツク横断信号との位相関係を示す
図、第５図は第１図におけるパルス化回路の一具体例を
示す構成図、第６図は第５図における各部の信号を示す
波形図、第７図は従来のサンプルサーボ方式による光デ
イスクを示す部分平面図、第８図はこの光デイスクを用
いた従来の光デイスク装置を示すブロツク図、第９図は
光スポツトをトラツクに垂直方向に高速移動させたとき
の第８図に示した光デイスク装置で得られるトラツキン
グ誤差信号を示す波形図である。 １……光検出器、２……信号分離／処理回路、３……パ
ルス化回路、４……コントローラ、５……カウンタ、６
……デイジタル／アナログ変換器、７……周波数／電圧
変換器、８……減算器、10……トラツキングアクチユエ
ータ、S_tr……トラツキング誤差信号、S_CR……トラツク
横断信号。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−48621（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−160021（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−153137（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−24444（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−258738（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−123028（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−152564（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−78349（ＪＰ，Ａ) 土井利忠，伊賀章 「ディジタル・オ ーディオ」：ラジオ技術社，Ｐ．71−81

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】各トラック毎に等間隔にサーボエリアが配
   置されて該サーボエリアにトラッキング制御のためのサ
   ーボピットが記録され、該サーボエリア間に変調された
   データ信号によるデータピットが記録された光ディスク
   を用いた光デイスク装置において、 該光ディスクから反射される光ビームを検出する光検出
   器の出力信号が供給され、該サーボピットの第１の検出
   信号と該データピットの第２の検出信号とに分離する手
   段と、 該第１の検出信号から光スポットのトラックからのずれ
   量を表わすトラッキング誤差信号を生成する手段と、 該第２の検出信号から該光スポットが該トラックを横切
   るタイミングを表わすトラック横断信号を生成する手段
   と、 該トラッキング誤差信号と該トラック横断信号との位相
   関係を検出する手段とを設け、目標トラックへのアクセ
   ス時では、該光スポットの該トラックを横断する方向の
   速度ｖを、該トラックのピッチをＬ、該サーボエリアの
   周期をＴとして、L/4T以下の際に、検出される該トラッ
   キング誤差信号と該トラック横断信号との該位相関係に
   よって該目標トラックへのアクセス時での該光スポット
   の移動方向を判定可能に構成したことを特徴とする光デ
   イスク装置。
2. 【請求項２】請求項（１）において、 前記データ信号は、“0"ビットおよび“1"ビットの連続
   する最大長が制限される符号で変調されていることを特
   徴とする光デイスク装置。