JPH07176143A - 光情報記録再生装置 - Google Patents

光情報記録再生装置

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JPH07176143A
JPH07176143A JP34444093A JP34444093A JPH07176143A JP H07176143 A JPH07176143 A JP H07176143A JP 34444093 A JP34444093 A JP 34444093A JP 34444093 A JP34444093 A JP 34444093A JP H07176143 A JPH07176143 A JP H07176143A
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JP34444093A
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Inventor
Takashi Kudo
隆至 工藤
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 各セクタの先頭に位置を識別するセクタマー
クを有するディスクについて、光ピックアップがオント
ラック中の位置が判別できるようにする。 【構成】 ディスク上にゾーン分割されたトラックと、
各ゾーンを円周上に複数個のセクタに区切り、その先頭
にセクタマークを有し、光ピックアップにより情報の記
録、再生を行う光情報記録再生装置で、セクタマーク検
出手段とセクタマークの時間的長さを検出する手段とを
設け、検出されたセクタマークの時間的長さから光ピッ
クアップがオントラック中のゾーンを判別する。 【効果】 光ディスクの記憶容量を減少させることな
く、光ピックアップのオントラック中の位置を検出する
ことが可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、Z−CAV方式やM
−CAV方式の光ディスク装置等の各種光学的情報記憶
媒体を使用する光情報記録再生装置の改良に係り、特
に、各セクタの先頭に位置を識別するためのセクタマー
クを有するディスクについて、光ピックアップがオント
ラック中の位置を判別できるようにした光情報記録再生
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ディスク上にゾーン分割されたトラック
と、各ゾーンを円周上に複数個のセクタに区切り、各セ
クタの先頭には、その位置を識別するセクタマークを有
し、各ゾーンごとにリード時およびライト時の同期クロ
ックとしてそれぞれ異なるマスタークロックを使用し
て、光ピックアップによりディスク上にスポットを照射
して情報の記録、再生を行う光情報記録再生装置におい
ては、光ピックアップがオントラック中の位置(ゾー
ン)を検出する必要がある。
【0003】このような光情報記録再生装置で、光ピッ
クアップがオントラック中の位置を判別する一つの方法
として、各ゾーンごとに異なり、かつマスタークロック
を使用せずに、オントラック中の位置を認知することが
可能な特殊パターンをディスク上のミラー面に形成し、
現在のオントラック中のゾーンを判別している(特開平
3−40221号公報)。そして、通常は、マスターク
ロックによってIDを読み出してオントラック位置を検
知している。
【0004】しかし、シークエラーが発生すると、セク
タマーク、トラックアドレスの認知が不能となるので、
シークエラー信号をトラガにして、ミラー面の長さから
ゾーン位置を検出し、そのゾーン位置からマスタークロ
ックを選出するようにしている。しかしながら、このゾ
ーン位置検出方法では、光ディスク上に長さの異なるミ
ラー面を設ける必要があるので、ミラー面の長さ分の記
憶容量が低下する(記録に使用できなくなる)、という
不都合がある。
【0005】また、このミラー面を長くすると、トラッ
クが、ハズれ易いなどの問題もあるので、長さの異なる
ミラー面を設ける方法は、必ずしも有効とはいえない。
ここで、従来から光情報記録再生装置で使用されている
光ピックアップについて、その構成を説明する。
【0006】図9は、光情報記録再生装置で使用されて
いる光ピックアップについて、その要部の詳細な構成を
示す図で、(1) は全体配置を示す上面図、(2) はその一
部拡大側面図である。図において、1は半導体レーザ
ー、2はカップリングレンズ、3は第1のビームスプリ
ッタ、3aはその偏光面、4は三角プリズム、5は対物
レンズ、6は光ディスク、7は集光レンズ、8はナイフ
エッジプリズム、9はフォーカス用受光素子、10は第
2のビームスプリッタ、11はMO信号用受光素子、1
2はトラック用受光素子、13は光源用前方フォトダイ
オードを示す。
【0007】この図9(1) に示すように、半導体レーザ
ー1からの出射光は、カップリングレンズ2によって平
行光にされ、第1のビームスプリッタ3、三角プリズム
4、対物レンズ5を通って、光ディスク6上に入射され
る。三角プリズム4と、対物レンズ5と、光ディスク6
との配置関係は、図9(2)の側面図に示されている。
【0008】このような径路で、光ディスク6へ入射し
た光は、光ディスク6上に記録された情報によるカー回
転によって回転される。そして、光ディスク6からの反
射光、すなわち、第1のビームスプリッタ3に入射する
戻り光は、図9(1) に示すように、第1のビームスプリ
ッタ3の偏光面3aで反射され、集光レンズ7、ナイフ
エッジプリズム8を通ってフォーカス用受光素子9へ入
射される。
【0009】したがって、このフォーカス用受光素子9
に入射される光量によって、光ピックアップのフォーカ
ス位置を検出することができる。また、第2のビームス
プリッタ10は、レーザー光のカー回転方向の変化を取
り出す光学素子である。
【0010】この第2のビームスプリッタ10によって
カー回転方向を取り出し、MO信号用受光素子11によ
ってその光を光電変換する。この場合に、ナイフエッジ
プリズム8からの光は、同時に、第2のビームスプリッ
タ10を通ってトラック用受光素子12に入射する。
【0011】そのため、トラック用受光素子12へ入射
する光量によって、光ピックアップのトラック位置を検
出することができる。なお、光源用前方フォトダイオー
ド13は、半導体レーザー1の発光パワーを制御するた
めの受光素子で、第1のビームスプリッタ3の偏光面3
aで反射された光の一部が入射される。
【0012】このように、光ピックアップには、フォー
カス用受光素子9、MO信号用受光素子11、トラック
用受光素子12、光源用前方フォトダイオード13等の
受光素子が設けられており、フォーカス用受光素子9
と、トラック用受光素子12とは、二分割受光素子で構
成されている。そして、光情報記録再生装置の光ディス
クドライブシステム装置では、これら両受光素子の光が
光電変換された後、次の電流−電圧変換器で変換され、
両者の電圧値の差や和による信号が、制御信号や再生信
号として使用される。
【0013】この発明では、光ピックアップに設けられ
たフォーカス用受光素子9やMO信号用受光素子11、
トラック用受光素子12等の光電変換出力が、フォーカ
ス位置や半径位置の検出に使用されたり、光ディスクの
情報の番地を表すアドレス信号の検出に使用されるの
で、この発明の前提として説明した。ところで、特殊パ
ターンをミラー面に形成して、現在オントラック中の位
置を検知する方法は、すでに提案されているが、ミラー
面の長さ分だけ記憶容量が低下したり、長いミラー面を
形成すると、トラックハズれが生じ易い、等の不都合が
ある。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、従来の光
情報記録再生装置において、現在のオントラック中の位
置を検知する場合に生じるこのような不都合を解決し、
一般的にディスク上に記録されているセクタマークを使
用することによって、記憶容量に影響を与えることな
く、また、トラックのハズれも生じない光情報記録再生
装置を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】この発明では、第1に、
ディスク上にゾーン分割されたトラックと、各ゾーンを
円周上に複数個のセクタに区切り、各セクタの先頭に
は、その位置を識別するセクタマークを有し、各ゾーン
ごとにリード時およびライト時の同期クロックとしてそ
れぞれ異なるマスタークロックを使用して、光ピックア
ップによりディスク上にスポットを照射して情報の記
録、再生を行う光情報記録再生装置において、セクタマ
ーク検出手段と、前記セクタマークの時間的長さを検出
するセクタマーク時間長検出手段、とを備え、検出され
たセクタマークの時間的長さから、前記光ピックアップ
がオントラック中のゾーンを判別するように構成してい
る。
【0016】第2に、上記第1の光情報記録再生装置に
おいて、上記セクタマークの時間的長さによる光ピック
アップのオントラック中のゾーンの判別は、セクタマー
クパターンの時間的長さの最大値を検出して行うように
構成している。
【0017】第3に、上記第2の光情報記録再生装置に
おいて、上記セクタマークパターンの時間的長さの最大
値の検出は、セクタマークをクロックに同期させて、正
転出力信号と反転出力信号とを出力する第1の出力手段
と、該第1の出力手段からの出力信号をクロックに同期
させて、正転出力信号と反転出力信号とを出力する第2
の出力手段と、前記第1の出力手段と第2の出力手段の
出力信号の立ち上がりエッジを検出する第1のエッジ検
出手段と、前記第1の出力手段と第2の出力手段の出力
信号の立ち下がりエッジを検出する第2のエッジ検出手
段と、前記第1のエッジ検出手段と第2のエッジ検出手
段の出力信号から、クロックに同期したセクタマークパ
ターンを生成するパターン生成手段と、該パターン生成
手段の出力信号からセクタマークパターンの最大値をカ
ウントするカウンタと、各部を制御するMCU等からな
る制御部、とを備え、該制御部が、前記カウンタの出力
の中で、最大値を選ぶ構成である。
【0018】第4に、上記第1の光情報記録再生装置に
おいて、上記光ピックアップのオントラック中の位置
と、セクタマークの時間的長さとの対応関係を記憶した
記憶手段を備え、上記MCU等からなる制御部が検出し
たセクタマークの時間的長さの情報を、前記記憶手段に
記憶した対応関係によって、光ピックアップのオントラ
ック中の位置に変換するように構成している。
【0019】
【作用】この発明では、各セクタの先頭に、その位置を
識別するために記録されているセクタマークに着目し
て、そのセクタマークの時間的長さを検出し、その長さ
から、光ピックアップがオントラック中のゾーンを判別
するようにして、記憶容量の低下やトラックのハズれが
生じないようにしている(請求項1から請求項4の発
明)。第2に、この光ピックアップがオントラック中の
ゾーンを判別するに際して、セクタマークパターンの時
間的長さの最大値を検出することにより、特別な検出手
段を使用せずに、オントラック位置が誤検出されないよ
うにしている(請求項2の発明)。
【0020】第3に、このセクタマークパターンの時間
的長さの最大値の検出に際して、セクタマークパターン
の最大値をカウントする手段を設け、そのカウント手段
の出力の中から最大値を選ぶことにより、簡単な回路構
成で最大値が検出できるようにしている(請求項3の発
明)。第4に、光ピックアップのオントラック中の位置
とセクタマークの時間的長さとの対応関係を記憶する変
換テーブル等を使用することにより、オントラック中の
位置の検出処理を高速化する(請求項4の発明)。
【0021】
【実施例1】次に、この発明の光情報記録再生装置につ
いて、図面を参照しながら、その実施例を詳細に説明す
る。この実施例は、主として請求項1の発明に対応して
いるが、請求項2から請求項4の発明にも関連してい
る。
【0022】図1は、この発明の光情報記録再生装置に
ついて、その要部構成の一実施例を示す機能ブロック図
である。図において、21は光ディスク、22はスピン
ドルモータ、23は光ピックアップ、24はトラック信
号用二分割受光素子、25はMO信号用二分割受光素
子、26はトラック信号用加算回路、27と28はトラ
ック信号用I−V変換器、29はMO信号用I−V変換
器、30はトラック和信号とMO信号の加減算回路、3
1はローパスフィルタ、32はイコライザ、33は減衰
器(アッテネータ)、34は微分回路、35はパルス検
出回路、36はMCU、37は回転数検出回路、38は
分周器、39はセクタマーク長検出回路、40は第1の
記憶手段、41はセクタマーク用基本クロック発生手
段、42はスピンドルモータ回転数制御手段、43は第
2の記憶手段を示す。
【0023】この図1に示した光情報記録再生装置で、
光ディスク21は、ゾーン分割されたトラックを有して
いる。この光ディスク21は、スピンドルモータ22に
よって回転され、このスピンドルモータ22の回転数
は、回転数検出回路37によって検出され、次段の分周
器38により分周されて、スピンドルモータ22の1回
転で数パルスが出力される。
【0024】この分周器38からのパルス信号は、MC
U(マイクロ・コントローラ・ユニット)36へ与えら
れる。また、光ピックアップ23は、先の図9に示した
構成である。この図1で、第1の記憶手段40には、ゾ
ーン位置対セクタマーク長の対応関係を示す情報が記憶
される。
【0025】第2の記憶手段43には、スピンドルモー
タ22の低速回転時におけるゾーン位置対セクタマーク
長の対応関係を示す情報が記憶される。光ピックアップ
23によって検出されたトラック信号用二分割受光素子
24とMO信号用二分割受光素子25の光は、トラック
信号用I−V変換器27,28と、MO信号用I−V変
換器29によって、それぞれ電圧値に変換される。この
図1のトラック信号用二分割受光素子24と、図9のト
ラック用受光素子12とは同じ機能を有し、また、図1
のMO信号用二分割受光素子25と、図9のMO信号用
受光素子11も同じ機能を有している。
【0026】そして、トラック信号用二分割受光素子2
4の電圧値変換出力は、トラック信号用加算回路26に
よって加算され、次段のトラック和信号とMO信号の加
減算回路30によって、MO信号用二分割受光素子25
の電圧値変換出力と加減算される。すなわち、加算によ
って、光ディスク21のプリフォーマット信号(予めエ
ンボスピットによって記録されている信号)を再生し、
減算によって、データ信号(光磁気信号で、書き込み、
消去が可能な信号)の再生を行う。
【0027】光ディスク21には、内周から外周に向っ
て、スパイラル状(うずまき状)にトラックが設けられ
ている。各トラックは、さらに、各セクタに分割され
る。セクタの先頭には、必ずセクタマークと呼ばれる特
定のロングパターンが設けられている。
【0028】図2は、セクタマークのパターンの一例を
示す図である。
【0029】この図2には、230MHz、90mmの光
ディスクのECMA規格(ヨーロッパ規格)によるセク
タマーク信号を示している。このセクタマーク信号の検
出は、図1のトラック和信号とMO信号の加減算回路3
0により、加算を行うことによって得られる。
【0030】このトラック和信号とMO信号の加減算回
路30によって得られたセクタマーク信号は、ローパス
フィルタ31によって高周波成分が除去され、イコライ
ザ32により波形整形された後に、減衰器(アッテネー
タ)33へ送られて減衰される。この減衰器33からの
出力を、微分回路34で微分し、パルス検出回路35に
よって二値化して、デジタル信号を生成する。
【0031】このパルス検出回路35によって検出され
たセクタマーク信号は、セクタマーク長検出回路39へ
送られて、セクタマークの長さが検出される。例えば、
Z−CAV方式では、一定間隔でトラックゾーンを区切
っている。各ゾーンで、光ディスク21の情報を読み込
むときと、書き込むときの同期クロックとして、それぞ
れ異なるマスタークロックを使用するために、セクタマ
ークの時間的な長さは、ゾーンごとに変ってくる。
【0032】先の図2において、10T,6T,6T,
14T,6T,6T,……のように記載されたTは、こ
のマスタークロックの1周期を意味している。次に、マ
スタークロックの長さとゾーン位置との対応関係を示す
変換テーブルについて説明する。
【0033】図3は、マスタークロックの長さとゾーン
位置との対応関係を示す変換テーブルの一例を示す図で
ある。ここでは、ディスクの回転数が、3,000rp
mの場合の数値例を示す。
【0034】この図3では、ゾーンが、CTL,0,
1,……,9と計11種類あり、それぞれにマスターク
ロックの値が設定されているとき、図2に示したセクタ
マーク10Tおよび14Tの時間的な長さを示してい
る。なお、以下の説明では、セクタマークの時間的長さ
を、セクタマーク長と略称する。図1のセクタマーク長
検出回路39内には、セクタマーク長測定用に、セクタ
マーク用基本クロック発生手段41が搭載されている。
【0035】セクタマークの測定は、ゾーン位置に関係
なく、常に一定のクロックを用いる必要があるので、次
の式(1) で示すような基準に従って、セクタマーク用基
本クロックの周波数が、決められている。
【0036】
【数1】
【0037】ここで、Kは検出精度を決定する定数で、
図3では、K=4としている。セクタマーク長検出回路
39の出力は、MCU36へ与えられる。MCU36
は、このセクタマーク長の出力から演算を行うことによ
って、光ピックアップ23のオントラック中の位置(以
下、バンド位置、またはゾーン位置と略称する)を検知
する。
【0038】この場合に、セクタマーク長の検出時間
は、例えば分周器38の出力(光デイスク21の1回転
で設定された数のパルスが出力される)を、セクタマー
ク長検出時間設定信号として使用し、光デイスク21の
1回転の間、または0.5回転の間のセクタ長を検出す
ればよい。以上のように、この実施例では、図1のトラ
ック信号用二分割受光素子24,MO信号用二分割受光
素子25,トラック信号用I−V変換器27と28,M
O信号用I−V変換器29,トラック信号用加算回路2
6,トラック和信号とMO信号の加減算回路30,ロー
パスフィルタ31,イコライザ32,減衰器33,微分
回路34,パルス検出回路35等によって構成されるセ
クタマーク検出手段と、回転数検出回路37,分周器3
8,セクタマーク長検出回路39,セクタマーク用基本
クロック発生手段41,第2の記憶手段43等によって
構成されるセクタマーク時間長検出手段とを設け、検出
されたセクタマークの時間的長さから、光ピックアップ
23がオントラック中のゾーンを判別するようにしてい
る。したがって、光ディスクの記憶容量を低下させるこ
となく、オントラック中の位置を検出することができ
る。
【0039】
【実施例2】次に、第2の実施例を説明する。この第2
の実施例は、請求項2と請求項3の発明に対応してい
る。この第2の実施例では、先の第1の実施例で説明し
た回転速度到達時間検出回転開始信号の立ち上がりに対
しても安定不良検出が可能な回路を構成した点に特徴を
有している。
【0040】図4は、この発明の光情報記録再生装置の
セクタマーク長検出回路について、その要部構成の一実
施例を示す機能ブロック図である。図における符号は図
1と同様であり、また、51は第1のDフリップフロッ
プ回路、52は第2のDフリップフロップ回路、53は
第1のアンドゲート回路、54は第2のアンドゲート回
路、55はJKフリップフロップ回路、56はカウンタ
を示し、A〜Iは信号を示す。
【0041】この第2の実施例でも、光情報記録再生装
置の基本的な構成は、図1と同様である。そこで、この
図4には、図1に示したセクタマーク長検出回路39に
ついて、その構成を詳しく示している。
【0042】この図2に示すセクタマーク長検出回路3
9の動作は、次のとおりである。第1のDフリップフロ
ップ回路51は、その入力端子D1に、図1に示したパ
ルス検出回路35によって検出されたセクタマーク信号
Aが与えられる。また、第2のDフリップフロップ回路
52の入力端子D2には、第1のDフリップフロップ回
路51の出力Qが入力される。
【0043】なお、この図4の回路で使用するクロック
CLK(図のB)は、全て図1のセクタマーク用基本ク
ロック発生手段41から出力されるセクタマーク用基本
クロックである。次に、この図4の回路の動作を、図5
のタイミングチャートによって詳しく説明する。
【0044】図5は、図4に示したセクタマーク長検出
回路39について、その動作を示すタイミングチャート
である。各信号波形に付けた符号は、図4の符号位置に
対応している。
【0045】この図5に示したクロックは、理解を容易
にするために、間隔を長くして示しているが、実際に
は、この図よりも極めて速いクロックが使用される。第
1のDフリップフロップ回路51において、入力された
セクタマーク信号により、クロックCLK(図5のB)
に同期した信号Cを生成し、第2のDフリップフロップ
回路52によって、このクロックCLKに同期させて、
信号Cとセットアップ時間だけ遅れたセクタマーク信号
Dを発生させる。
【0046】次段の第1のアンドゲート回路53と第2
のアンドゲート回路54によって、先の信号C,Dの立
ち上がりタイミング(図5のE)と、立ち下がりタイミ
ング(図5のH)を検出する。このようにして得られた
信号C,Dの立ち上がりタイミング(エッジ)と立ち下
がりタイミング(エッジ)の信号を、JKフリップフロ
ップ回路55へ入力させる。
【0047】そのため、JKフリップフロップ回路55
からは、図5にIで示すように、クロックCLKに同期
したセクタマーク信号Iが得られる。このセクタマーク
信号Iをカウンタ56へ入力して、JKフリップフロッ
プ回路55がHレベルとなる時間、すなわち、出力信号
Iの時間幅を測定して、MCU36へ出力する。
【0048】MCU36では、カウンタ56で検出した
セクタマーク信号IがHレベルとなる時間を、MCU3
6内のレジスタに格納し、MCU36は、格納された値
がMAX値(初期値は例えば0としておく)より大きい
かどうか比較し、大きいときは、その値をMAX値とす
る。このような処理を、予め決められた時間(ここで
は、スピンドルモータ22の1回転の時間としている)
実行し、セクタマーク信号IがHレベルとなる時間の最
大値を求める(請求項2の発明)。以上に述べたMCU
36が行う処理を、次の図6にフローで示す。
【0049】図6は、セクタマーク長の検出時における
主要な処理の流れを示すフローチャートである。図にお
いて、#1〜#7はステップを示す。
【0050】この図6で、ステップ#2から#7まで
は、ループ処理を示す。なお、ここでは、最大のマーク
長が14Tの場合とする。ステップ#1で、Hレベルと
なる時間を「0」にする。次のステップ#2から#7ま
での処理を、スピンドルモータの1回転が終了するま
で、繰り返えす。
【0051】ステップ#3で、JKフリップフロップ回
路55の出力パルスが、Hレベルになっている区間を測
定する。ステップ#4で、測定結果を、MCU36内の
レジスタ等に格納する。ステップ#5で、レジスタの内
容を、MAX値と比較する。
【0052】もし、レジスタの内容が、MAX値より小
でなければ(大であれば)、ステップ#6へ進み、その
レジスタの内容を、MAX値として格納する。また、レ
ジスタの内容が、MAX値より小であれば、スピンドル
モータの1回転が終了するまで、ステップ#2から#7
までの処理を、繰り返えす。
【0053】以上の処理によって、セクタマークのHレ
ベルの最大値を求める。なお、図4の回路構成では、第
2のDフリップフロップ回路52と、第1のアンドゲー
ト回路53、および第2のアンドゲート回路54を使用
している場合を示したが、第1のDフリップフロップ回
路51の出力Qを、直接カウンタ56へ入力することも
可能である。
【0054】また、この実施例では、入力されるセクタ
マーク信号が、図1のパルス検出回路35によってデジ
タル値にされており、ノイズによる誤動作がない場合の
回路構成を示している。パルス検出回路35は、次の図
7のように構成する。
【0055】図7は、パルス検出回路の一例を示す機能
ブロック図である。図において、61は第1の二値化用
コンパレータ、62は第2の二値化用コンパレータ、6
3はセット・リセットフリップフロップ回路を示し、ま
た、SL−AとSL−Bは第1と第2のスライスレベル
を設定するためのスライス電圧を示す。
【0056】光ディスクに記録された情報の再生信号
は、図1に示したローパスフィルタ、イコライザ、アッ
テネーション等からなる処理回路によって微分された
後、この図7に示すパルス検出回路35へ入力される。
したがって、微分された再生信号が、この図7のパルス
検出回路35でスライスされ、再生信号が生成される。
【0057】図8は、図7に示したパルス検出回路35
について、信号検出時の動作を説明するタイミングチャ
ートである。図の信号波形で、Aは微分後の再生信号、
Bは第1の二値化用コンパレータ61から出力されるパ
ルス信号、Cは第2の二値化用コンパレータ62から出
力されるパルス信号、Dはセット・リセットフリップフ
ロップ回路63から出力される再生信号を示す。
【0058】この図8のAに示すような微分後の再生信
号波形が、図7の第1の二値化用コンパレータ61の
(+)端子と、第2の二値化用コンパレータ62の
(−)端子へ、それぞれ入力される。この場合に、一方
の第1の二値化用コンパレータ61の(−)端子(スラ
イスレベル設定端子)には、第1のスライスレベルSL
−Aを設定するためのスライス電圧が、また、他方の第
2の二値化用コンパレータ62の(+)端子(スライス
レベル設定端子)には、第2のスライスレベルSL−B
を設定するためのスライス電圧が、それぞれ与えられて
いる。
【0059】したがって、第1の二値化用コンパレータ
61からは、図8のBに示すように、Aの微分後の再生
信号が、第1のスライスレベルSL−Aよりも高い電圧
の区間だけがハイレベル(出力H)となるパルス信号が
出力される。逆に、第2の二値化用コンパレータ62か
らは、図8のCに示すように、Aの微分後の再生信号
が、第2のスライスレベルSL−Bよりも低い電圧の区
間だけがハイレベル(出力H)となるパルス信号が出力
される。
【0060】この図8のBに示す第1の二値化用コンパ
レータ61からのパルス信号は、セット・リセットフリ
ップフロップ回路63のリセット端子Rへ与えられ、ま
た、図8のCに示す第2の二値化用コンパレータ62か
らのパルス信号は、セット・リセットフリップフロップ
回路63のセット端子Sへ与えられる。
【0061】このセット・リセットフリップフロップ回
路63によって、再生信号のゼロクロス点が求められ、
図8のDに示すように、その出力端子Qから再生信号が
得られる。なお、図7に示したパルス検出回路35は、
従来から公知であり、この第2の実施例でも、図1に示
した回路に使用できることを説明しているだけである。
【0062】以上のように、この第2の実施例では、セ
クタマークパターンの時間的長さの最大値を検出するた
めに、図4に示した第1のDフリップフロップ回路51
(セクタマークをクロックに同期させて、正転出力信号
と反転出力信号とを出力する第1の出力手段)と、第2
のDフリップフロップ回路52(該第1の出力手段から
の出力信号をクロックに同期させて、正転出力信号と反
転出力信号とを出力する第2の出力手段)と、第1のア
ンドゲート回路53(前記第1の出力手段と第2の出力
手段の出力信号の立ち上がりエッジを検出する第1のエ
ッジ検出手段)と、第2のアンドゲート回路54(前記
第1の出力手段と第2の出力手段の出力信号の立ち下が
りエッジを検出する第2のエッジ検出手段)と、JKフ
リップフロップ回路55(前記第1のエッジ検出手段と
第2のエッジ検出手段の出力信号から、クロックに同期
したセクタマークパターンを生成するパターン生成手
段)と、カウンタ56(該パターン生成手段の出力信号
からセクタマークパターンの最大値をカウントするカウ
ンタ)、およびMCU36(各部を制御するMCU等か
らなる制御部)を設けて、MCU36が、カウンタ56
の出力の中で、最大値を選ぶようにしている(請求項3
の発明)。したがって、簡単で安価な回路構成によっ
て、セクタマークの最大値を検出することができる。
【0063】
【実施例3】次に、第3の実施例を説明する。この第3
の実施例は、請求項4の発明に対応している。この第3
の実施例では、図1のMCU36が、毎回セクタマーク
の時間的長さから、マスタークロックを算出する必要が
ないので、光ピックアップ23のオントラック中の位置
の検出処理の速度を向上させる点に特徴を有している。
【0064】そして、この第3の実施例でも、セクタマ
ーク長検出回路39から、セクタマーク長をMCU36
へ出力するまでの処理は、第1の実施例と共通してい
る。そこで、先の第1の実施例で説明した図1の回路
と、図2に示したセクタマークのパターンを用いて説明
する。
【0065】セクタマーク長から、ゾーン位置を検出す
るために、図1に示した第1の記憶手段40を設ける。
この第1の記憶手段40には、図3に示したように、ゾ
ーン位置対セクタマーク長の対応関係を示す情報を、例
えば変換テーブルとして記憶させる。
【0066】例えば、14Tのセクタマーク長を検出
し、その値が710nsであったとすると、MCU36
は、変換テーブルを持っている第1の記憶手段40か
ら、バンド位置が「BAND2」であると判断できる。
この変換テーブルには、予め測定誤差を許容できるよう
に、例えば「BAND2」は、14T長が690ns〜
730nsまでに入っていれば良い、というように記憶
しておく。
【0067】なお、このような変換テーブルを使用しな
いでバンド位置を検出することも可能である。例えば、
MCU36が、式(1) に示したように、セクタマーク用
基本クロックの周波数を、1/(14T長/14)によ
って計算し、マスタークロックからバンド位置を判断す
ることもできる。
【0068】しかし、処理速度を向上させる点では、変
換テーブルを使用する方が有利である。以上のように、
この第3の実施例では、光ピックアップのオントラック
中の位置と、セクタマークの時間的長さとの対応関係を
記憶した記憶手段(図3のような変換テーブル)を設
け、MCU等からなる制御部(図1のMCU36)が検
出したセクタマークの時間的長さの情報を、記憶手段に
記憶した対応関係によって光ピックアップのオントラッ
ク中の位置に変換することによって、光ピックアップの
オントラック中の位置を迅速に検出している(請求項4
の発明)。
【0069】
【発明の効果】請求項1の光情報記録再生装置では、検
出されたセクタマークの時間的長さから、光ピックアッ
プがオントラック中のゾーンを判別している。したがっ
て、光ディスクの記憶容量を減少させることなしに、光
ピックアップのオントラック中の位置を検出することが
可能になる。
【0070】請求項2の光情報記録再生装置では、請求
項1の光情報記録再生装置におけるセクタマークの時間
的長さによる光ピックアップがオントラック中のゾーン
の判別に、セクタマークの時間的長さの最大値を検出す
るようにしている。したがって、特別な手段を設けなく
ても、光ピックアップのオントラック中の位置の誤検出
を防止することができる。
【0071】請求項3の光情報記録再生装置では、請求
項2の光情報記録再生装置におけるセクタマークの時間
的長さの最大値の検出に際して、MCUなどの制御部が
最大値を選ぶようにしている。したがって、簡単な回路
構成で、セクタマークの時間的長さの最大値を検出する
ことができる。
【0072】請求項4の光情報記録再生装置では、請求
項1の光情報記録再生装置における光ピックアップのオ
ントラック中の位置を検出に際して、MCUなどの制御
部が検出したセクタマークの時間的長さを、変換テーブ
ルのような記憶手段を使用している。したがって、制御
部は、オントラック中の位置の検出時に、毎回セクタマ
ークの時間的長さから、マスタークロックを算出する必
要がなくなり、光ピックアップのオントラック中の位置
の検出処理の速度が向上される。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の光情報記録再生装置について、その
要部構成の一実施例を示す機能ブロック図である。
【図2】セクタマークのパターンの一例を示す図であ
る。
【図3】マスタークロックの長さとゾーン位置との対応
関係を示す変換テーブルの一例を示す図である。
【図4】この発明の光情報記録再生装置のセクタマーク
長検出回路について、その要部構成の一実施例を示す機
能ブロック図である。
【図5】図4に示したセクタマーク長検出回路39につ
いて、その動作を示すタイミングチャートである。
【図6】セクタマーク長の検出時における主要な処理の
流れを示すフローチャートである。
【図7】パルス検出回路の一例を示す機能ブロック図で
ある。
【図8】図7に示したパルス検出回路35について、信
号検出時の動作を説明するタイミングチャートである。
【図9】光情報記録再生装置で使用されている光ピック
アップについて、その要部の詳細な構成を示す図であ
る。
【符号の説明】
21 光ディスク 22 スピンドルモータ 23 光ピックアップ 24 トラック信号用二分割受光素子 25 MO信号用二分割受光素子 26 トラック信号用加算回路 27 トラック信号用I−V変換器 28 トラック信号用I−V変換器 29 MO信号用I−V変換器 30 トラック和信号とMO信号の加減算回路 31 ローパスフィルタ 32 イコライザ 33 減衰器 34 微分回路 35 パルス検出回路 36 MCU 37 回転数検出回路 38 分周器 39 セクタマーク長検出回路 40 第1の記憶手段 41 セクタマーク用基本クロック発生手段 42 スピンドルモータ回転数制御手段 43 第2の記憶手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G11B 27/10 C 8224−5D

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ディスク上にゾーン分割されたトラック
    と、各ゾーンを円周上に複数個のセクタに区切り、各セ
    クタの先頭には、その位置を識別するセクタマークを有
    し、各ゾーンごとにリード時およびライト時の同期クロ
    ックとしてそれぞれ異なるマスタークロックを使用し
    て、光ピックアップによりディスク上にスポットを照射
    して情報の記録、再生を行う光情報記録再生装置におい
    て、 セクタマーク検出手段と、 前記セクタマークの時間的長さを検出するセクタマーク
    時間長検出手段、とを備え、 検出されたセクタマークの時間的長さから、前記光ピッ
    クアップがオントラック中のゾーンを判別することを特
    徴とする光情報記録再生装置。
  2. 【請求項2】 請求項1の光情報記録再生装置におい
    て、 上記セクタマークの時間的長さによる光ピックアップの
    オントラック中のゾーンの判別は、セクタマークパター
    ンの時間的長さの最大値を検出して行うことを特徴とす
    る光情報記録再生装置。
  3. 【請求項3】 請求項2の光情報記録再生装置におい
    て、 上記セクタマークパターンの時間的長さの最大値の検出
    は、 セクタマークをクロックに同期させて、正転出力信号と
    反転出力信号とを出力する第1の出力手段と、 該第1の出力手段からの出力信号をクロックに同期させ
    て、正転出力信号と反転出力信号とを出力する第2の出
    力手段と、 前記第1の出力手段と第2の出力手段の出力信号の立ち
    上がりエッジを検出する第1のエッジ検出手段と、 前記第1の出力手段と第2の出力手段の出力信号の立ち
    下がりエッジを検出する第2のエッジ検出手段と、 前記第1のエッジ検出手段と第2のエッジ検出手段の出
    力信号から、クロックに同期したセクタマークパターン
    を生成するパターン生成手段と、 該パターン生成手段の出力信号からセクタマークパター
    ンの最大値をカウントするカウンタと、 各部を制御するMCU等からなる制御部、とを備え、 該制御部が、前記カウンタの出力の中で、最大値を選ぶ
    ことを特徴とする光情報記録再生装置。
  4. 【請求項4】 請求項1の光情報記録再生装置におい
    て、 上記光ピックアップのオントラック中の位置と、セクタ
    マークの時間的長さとの対応関係を記憶した記憶手段を
    備え、 上記MCU等からなる制御部が検出したセクタマークの
    時間的長さの情報を、前記記憶手段に記憶した対応関係
    によって、光ピックアップのオントラック中の位置に変
    換することを特徴とする光情報記録再生装置。
JP34444093A 1993-12-18 1993-12-18 光情報記録再生装置 Pending JPH07176143A (ja)

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JP34444093A JPH07176143A (ja) 1993-12-18 1993-12-18 光情報記録再生装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100437767C (zh) * 2005-02-09 2008-11-26 索尼株式会社 记录设备和方法,以及盘制造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN100437767C (zh) * 2005-02-09 2008-11-26 索尼株式会社 记录设备和方法,以及盘制造方法

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