JPS61145743A

JPS61145743A - 光デイスク媒体の欠陥検出方法

Info

Publication number: JPS61145743A
Application number: JP26792384A
Authority: JP
Inventors: Eiji Kaneko; 英治金子
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1984-12-19
Filing date: 1984-12-19
Publication date: 1986-07-03

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、光ディスク装置により媒体上の記録膜欠陥を
厳格に検出する光ディスク媒体の欠陥検出方法に関する
。

情報処理装置用大容量の外部記憶装置として期待されて
いる光ディスク装置は、従来から使用されている磁気デ
ィスク装置等と比較して士数倍の高密度記録が可能であ
る。又、光ディスク装置に対するデータの記録は、光デ
ィスク媒体上に光ビームを照射して熱反応により穴（ピ
ント）を開けることにより行われるため、データの長期
保存が可能である。

しかし、光ディスク媒体面には不純物による欠陥や記録
膜の不均一な個所が他の記録媒体に比較すると多く、こ
れらが原因になりデータエラーになる率が高（なってい
る、かかる欠陥は事前に確実に検出して、より高信頼性
あるデータの記Ｈ／再生が出来ることが望まれる。

〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕従来技
術として追記型光ディスク装置を例に取り説明する。

第２図は追記型光ディスク装置の構成図、第３図は追記
型光ディスク媒体の構成概要図、第４図は光検出レベル
の分布図をそれぞれ示す。

追記型光ディスク装置２では、一般に記録後攻像処理を
必要としない記録材料が用いられる。この記録材料上に
レーザ光束を強く絞り込むことによって、熱的に記録膜
ａにピント（穴）をあける（記録Ｂ５ｉ！ａを変化させ
る方法もあるが、本例ではビット（穴）をあける方法を
生体として説明する）ことによってデータが記録される
。

絞り込みレンズ１０で絞り込んだレーザ光は、直径１〜
２μｍ程度の微小スポットにして光ディスク媒体３上に
照射し形成されるビット（穴）は、直径０．６〜１．０
μ腸程度である。尚、前記ピント（穴）を形成してデー
タを記録する時には、レーザダイオード４の出力は記録
１１ｉａ上で約５〜１０ｍＷとなっている。又、データ
再生時には記録膜ａ上で約１〜２１となっている。

データ記録／再生時共に、照射されたレーザ光の光ディ
スク媒体３からの反射光量変化を光検出器８で検出して
、検出信号■が得られる。

即ち、データ記録時にはレーザダイオード４を高出力（
数１０１）で発振させ、制御装置１から転送されて来る
記録データ■に応じて光復調器５によって変調させ、ピ
ント（穴）を光ディスク媒体３上に記録する。

一方、データ再生時には、レーザダイオード４を数ａ＋
Ｗで連続発振させ、光ディスク媒体３上からの反射光束
をビームスプリッタ７によって光検出器８に導き信号検
出を行う、尚、絞り込みレンズ１０及び追従ミラー９は
光ディスク媒体３上の微小ビット（穴）を追従するため
に矢印の方向に可動となっている。

このような光ディスク媒体３は第３図（上面図及び断面
図）に示すような構成となっている。即ち、透明基板す
と記録膜ａからなり、記録膜ａ部分はインデックスマー
クやトラック番号、セクタ番号等が予め記録されている
プリフォーマット部Ｃと、データを記録するグループ（
溝）部ｄからなっている。

このプリフォーマット部Ｃとグループ（溝）部ｄとは、
透明基板す上にスタンプ技術を用いて形成さん、その後
記録膜ａが蒸着されている。尚、上述のデータの記録／
再生はグループ（溝）部ａ上をトラッキングしながら記
録１５１ａにレーザ光を照射して行われる。

このように光ディスク媒体３の記録１１１ａは、高信頼
度のデータの記録／再生を行う上で非常に重要な役目を
担っている。このよな記録膜ａに要求される諸特性とし
て以下のものがある。即ち、（１）高い記録感度を有す
ること、（２）雑音成分が少ないこと、（３）経時変化
が少ないこと等である・。

これらの諸要求に対して（１）は、記録膜ａの材質に対
する検討が必要であり、（２）は記録膜ａの表面の細か
い凹凸によるもので、結晶粒等膜自身の性質と蒸着法に
よって大きく変わってくる。又、（３）は記録膜ａの酸
化等による欠陥の増加、感度の劣化等に対する対策が必
要となる。

特に、追記型光ディスク装置２の場合、記録したデータ
は通常長期間（約１０年前後）保存しておきたいと言う
要求が強く、記録膜ａの酸化等による欠陥の増加、感度
の劣化等は問題となる。又、データの記録時、記録膜ａ
に欠陥が多いと高信頼度なデータが記録出来ない。

従って、従来は以下のような方式で媒体３の記録膜ａの
欠陥検出を行っていた。尚、この制御は光ディスク媒体
３の出荷検査時や、使用中にエラー発生率が高くなった
場合に、テストプログラムを流して随時行うものとする
。

テストプログラムを図示してない所定装置に掛けると、
データ再生時の制御信号■（これを以下再生モード信号
■と称する）が制御装置１よりレベル切換回路１１と、
レーザパワー調整回路１３とに送出される。

レベル切換回路１１は、この再生モード信号■の検査を
行う該当トラックの中心から±０．３μｍ幅ずれた位置
山）に相当する再生レベル（但し、光検出レベルは第４
図に示すように該当トラックの中心が最高レベルとなり
、中心位置よりずれるに伴い低（なる）に相当する検出
制限レベル■に変換　　　゛して、コンパレータ１４に
送出する。

又、レーザパワー調整回路１３は再生モード信号■を受
けると、レーザダイオード４の出力パワーを再生時の出
力パワーに調整し、媒体３に照射させる。

コンパレータ１４は再生時の出力パワーで該当トラック
を追従した時に得る光検出Ｓ８の検出信号■レベルと、
レベル切換回路１１の検出制限レベル■とを比較して、
検出信号■レベルが検出制限レベル■に達しなかった場
合、トラッキング異常信号■を制御装置１に送出する。

制御装置１はトラッキング異常信号■により、媒体３の
記録膜ａに欠陥が有ることを検出し、該当のセクタ番号
を欠陥セクタとして記憶する。

次に、データを記録する場合、制御信号■（これを以下
記録モード信号■と称する）が制御装置１よりレベル切
換回路１１と、論理積回路１２とに送出される。レベル
切換回路１１は、データを記録する該当トラックの中心
から±０．１μｍ幅ずれた位置（ａ）に相当する検出制
限レベル■に変換して、コンパレータ１４に送出する。

一方、論理積回路１２のもう１つの端子には記録データ
■が入力し、記録モード信号■との論理積条件を取り、
レーザダイオード４から記録時の出力パワーを出力する
よう、記録レベル制御信号■をレーザパワー調整回路１
３に送出し制御する。

これにより、コンパレータ１４は記録時の出力パワーで
該当トラックを追従した時に得る光検出器８の検出信号
Φレベルと、レベル切換回路１１の検出制限レベル■と
を比較して、検出信号■レベルが検出制限レベル■に達
しなかった場合、トラッキング異常信号■を制御装置１
に送出する。

制御装置１はトラッキング異常信号■により、媒体３の
記録膜ａに欠陥がをることを検出し、該当のセクタ番号
を欠陥セクタとして記憶す・ると共に、別セクタへのデ
ータ記録制御を行う。

以上のように、データ記録前に事前に記録媒体３の欠陥
を検査するには、記録媒体３の特性上再生モードロレベ
ルで行うが、再生モード０時の検出制限レベル■は、記
録モード０時の検出制限レベル■より可なり緩やか（該
当トラックの中心から±０．２μｍ幅ずれた位置に相当
するレベルだけ緩やか）となっている。

従って従来は、再生モード■では検出されない欠陥が記
録モード■では検出され、その度にセクタ位置を変更し
てデータ記録をやりなをすと言う問題点があった。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、上記問題点を解決するための光ディスク媒体
の欠陥検出方式を実現することを目的とするものであり
、該問題点は、記録モードの許容範囲でトラッキングし
、前記再生モードの照射レベルで該光ディスク媒体上の
トラックを照射する擬似記録モードを設け、前記擬似記
録モードを光ディスク装置に備え該光ディスク媒体上の
記録膜〔作用〕即ち、記録モードと再生モードの他に、レーザダイオー
ドの出力パワーは再生モードと同じで、欠陥検出レベル
は記録モードと同じとする擬似記録モードを設け、光デ
ィスク媒体の出荷検査時やデータ再生時エラーが多い時
の媒体検査等の場合に、テストプログラムを流して、媒
体にデータを記録することなく記録モードに耐えられな
い媒体欠陥を事前に検出し、効率的なデータ記録制御を
可能とする。

〔実施例〕

以下本発明の要旨を第１図に示す実施例により具体的に
説明する。

第１図は本発明に係る光ディスク媒体の欠陥検出方法の
一実施例を示す光ディスク装置のプロツクダイヤグラム
図を示す、尚企図を通じて同一符号は同一対象物を示す
。

次に、第１図に示す本実施例の中で、本発明に係る部分
を中心に、その動作を説明する。尚、本実施例の動作は
光ディスク媒体３の出荷検査時や媒体３使用時に、図示
してない装置にテストプロゲラを流して媒体３の記録膜
ａの欠陥（記録膜ａの蒸着時の部分剥落や、経年変化に
よる部分剥落等）を検出する動作である。

テストプロゲラにより媒体３の記録膜ａの欠陥検出制御
であることを確認した制御装置１は、擬似記録モード信
号■を光ディスク装置２に送出する。光ディスク装置２
ではこの信号■を論理和回路１５を経てレベル切換回路
１１の入力端子ｄと、論理和回路１６を経てレーザパワ
ー調整回路１３の入力端子ｅとに送り込む。

レベル切換回路１１０入力端子ｄは、記録モード信号■
が入力する端子と同一の端子であり、信号■と信号■は
論理和回路１５で論理和条件を取り、端子ｄへ信号■又
は信号■を送出する。

この端子ｄに信号■又は信号■が入、力すると、レベル
切換回路１１は検出範囲（ａ）に相当する検出制服レベ
ル信号■をコツパレータ１４に送出する。一方、端子ｅ
に信号■が入力すると、レーザパワー調整回路１３はレ
ーザダイオード４を制御して、再生モード■と同等の出
力パワーを出力し、当該トラックの追従を行う。

コンパレータ１４は再生モード■の出力パワーで当該ト
ラックを追従し、検出した検出信号■と検査レベル信号
■とを比較して、検査レベル信号■以下の検出信号０部
分があれば、トラッキング異常信号■を制御装置１に送
出する。

尚、論理和回路１６は信号■と信号■との論理和条件を
取り、信号■又は信号■をレーザパワー調整回路１３の
入力端子ｅに送込む。

〔発明の効果〕

以上のような本発明によれば、効率的な記録・再生動作
が可能な光ディスク媒体を提供出来ると言う効果がある
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る光ディスク媒体の欠陥ヰ★出方法
の一実施例を示す光ディスク装置のブロックダイヤグラ
ム図、第２図は追記型光ディスク装置の構成図、第３図は追記
型光ディスク媒体の構成概要図、第４図は光検出レベル
の分布図、をそれぞれ示す。図において、１は制御装置、　　　　　２は光ディスク装置、３は光
ディスク媒体、　４はレーザダイオード、５は光変調器
、　　　　　６はレンズ、７はビームスプリンタ、８は
光検出器、９は追従ミラー、　　　１０は絞り込みレン
ズ、１１はレベル切換回路、　１２は論理積回路、１３
はレーザパワー調整回路、１４はコンパレータ、　　１５．１６は論理和回路、を
それぞれ示す。薯３！；４光。茅４隅

Claims

【特許請求の範囲】

光ビームを照射することによりデータの記録及び再生を
行う光ディスク媒体上のトラックの中心位置より所定幅
のトラッキング許容範囲をもって該光ビームを所定レベ
ルで照射し、記録データを読取る再生モードと、前記再
生モードの許容範囲よりも小さく設定されたトラッキン
グ許容範囲で、しかも数倍の照射レベルでデータを記録
する記録モードとを有する光ディスク装置において、前
記記録モードの許容範囲でトラッキングし、前記再生モ
ードの照射レベルで該光ディスク媒体上のトラックを照
射する擬似記録モードを設け、前記擬似記録モードで該
光ディスク媒体上の記録膜欠陥を検出することを特徴と
する光ディスク媒体の欠陥検出方法。