JPH09147424A

JPH09147424A - 光記録媒体の検査方法

Info

Publication number: JPH09147424A
Application number: JP30548195A
Authority: JP
Inventors: Akira Suzuki; 章鈴木; Yoshihisa Chiba; 良久千葉
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1995-11-24
Filing date: 1995-11-24
Publication date: 1997-06-06

Abstract

(57)【要約】【課題】無駄な損失を出すことなく、短時間に検査を
行うことが可能な光記録媒体の検査方法を提供する。【解決手段】被検査対象の光記録媒体に対してフォー
カス制御及びトラッキング制御を行いながら再生信号を
検出して、再生信号の検出時間に対する再生信号が欠落
した時間の割合と、フォーカスエラー信号又はトラッキ
ングエラー信号がしきい値を越えた回数とを測定する。
そして、上記割合及び回数に基づいて光記録媒体を検査
する。ここで、再生信号の検出は、複数トラック毎に間
引いて行ってもよい。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気ディスクの
ような光記録媒体の検査方法に関する。詳しくは、再生
信号の検出時間に対する再生信号が欠落した時間の割合
と、フォーカスエラー信号又はトラッキングエラー信号
がしきい値を越えた回数とに基づいて検査することによ
り、無駄な損失を出すことなく、短時間に検査を行うこ
とを可能にした光記録媒体の検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクや光磁気ディスクのような光
記録媒体は、光学的又は磁気光学的に情報信号の記録再
生が行われる記録媒体であり、大容量化に適している。

【０００３】このような光記録媒体は、傷や異物等が表
面に存在していると、正常に記録再生ができない。そこ
で、通常、光記録媒体は、作製された後に、正常に記録
再生が行えるようになっているか、その品質の検査が行
われる。

【０００４】通常、このような光記録媒体の検査は、市
販されているドライブ装置を用いて、実際に、光記録媒
体に記録再生を行うことによって行われる。すなわち、
例えば、書換型光磁気ディスクは、書き込み及び読み取
りが可能なドライブ装置を使って、実際にディスク全面
にわたって任意の信号を書き込み、その後、書き込んだ
信号を再生して、最初に書き込んだ信号と再生された信
号とを照合し、記録再生時にエラーとなるセクターの数
を測定することにより、検査が行われる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な光記録媒体の検査方法では、市販されているドライブ
装置を用いるので、光記録媒体にディスクハブやカート
リッジ等の付属品を取り付けて、製品として完成させた
状態としなければ検査を行うことができない。しかし、
上述のような検査において、検査の対象となっているの
は、光記録媒体だけである。したがって、もし、検査の
結果、当該光記録媒体が不良となった場合には、光記録
媒体に取り付けられたディスクハブやカートリッジ等の
付属品が無駄になってしまうこととなる。

【０００６】また、光記録媒体には、５．２５インチ径
の光磁気ディスクのように、両面から記録再生が行える
ように２枚のディスク状の光記録媒体が貼り合わされた
両面記録型のものもある。そして、上述したように、従
来の光記録媒体の検査方法では、完成品に対して検査を
行うので、もし、両面記録型の光記録媒体の検査の結
果、一方の光記録媒体に不良があった場合には、他方の
光記録媒体が無駄になってしまうこととなる。

【０００７】このように、従来の検査方法では、光記録
媒体に不良があったときに、不良があった光記録媒体だ
けでなく、その付属品までもが損失となってしまい、更
には、両面記録型の場合には正常な光記録媒体までもが
損失となってしまう。このように、従来の検査方法で
は、光記録媒体に不良があったときに、不良媒体以外に
損失となる部材が多いため、製造コストの増大を招いて
しまっていた。

【０００８】また、一般に光記録媒体は容量が大きいの
で、全面にわたって記録再生を行うには非常に長い時間
がかかる。したがって、全面にわたって記録再生を行う
必要がある従来の検査方法では、検査に非常に長い時間
がかかっていた。具体的には、例えば、５．２５インチ
径の光磁気ディスクの片面を検査するのに、従来の検査
方法では、２５分程度の時間がかかってしまう。そこ
で、より短時間で検査を行うことが可能な検査方法が強
く望まれていた。

【０００９】そこで本発明は、このような従来の実情に
鑑みて提案されたものであり、無駄な損失を出すことな
く、短時間に検査を行うことが可能な光記録媒体の検査
方法を提供することを目的としている。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに完成された本発明に係る光記録媒体の検査方法は、
被検査対象の光記録媒体に対してフォーカス制御及びト
ラッキング制御を行いながら再生信号を検出して、再生
信号の検出時間に対する再生信号が欠落した時間の割合
と、フォーカスエラー信号又はトラッキングエラー信号
がしきい値を越えた回数とを測定し、上記割合及び回数
に基づいて光記録媒体を検査することを特徴とするもの
である。ここで、上記再生信号の検出は、複数トラック
毎に間引いて行ってもよい。

【００１１】このような本発明に係る光記録媒体の検査
方法では、被検査対象の光記録媒体から再生信号を検出
するだけなので、簡易なドライブ装置により、付属品が
取り付けられていない状態の光記録媒体に対して検査を
行うことができる。

【００１２】また、この光記録媒体の検査方法では、被
検査対象の光記録媒体に信号を書き込む必要がないの
で、短い時間で検査を行うことができる。しかも、再生
信号の検出を複数トラック毎に間引いて行った場合に
は、更に短い時間で検査を行うことができる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明を適用した具体的な
実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明す
る。なお、本発明は以下の例に限定されるものではな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、諸条件を任意に
変更することが可能であることは言うまでもない。

【００１４】本実施の形態に係る光記録媒体の検査方法
において被検査対象となるのは、磁気光学的に情報信号
の記録再生が行われる５．２５インチ径の光磁気ディス
クである。なお、ここでは光磁気ディスクを例に挙げる
が、本発明は光学的に情報信号の記録再生が行われる光
ディスク等に対しても適用可能である。

【００１５】一般に、光磁気ディスクは、図１のフロー
チャートに示すような工程によって作製される。すなわ
ち、先ず、ステップ１に示すように、円盤状のディスク
基板の成形が行われ、次に、ステップ２に示すように、
ステップ１で成形されたディスク基板上に記録層や保護
層等の成膜が行われる。ここで、成膜が完了した段階で
は、記録層の磁化方向がバラバラとなっている。そこ
で、記録層や保護層等を成膜した後に、ステップ３に示
すように、記録層の磁化方向がイレーズ方向に揃うよう
にバルクイレーズ処理が行われる。その後、ステップ４
に示すように、以上の工程によって作製された光磁気デ
ィスクに対して、本発明を適用した検査方法によって検
査が行われる。

【００１６】そして、光磁気ディスクの検査が完了した
ら、ステップ５に示すように、検査に合格した２枚の光
磁気ディスクが貼り合わされる。これにより、両面を記
録再生に使用することが可能な両面記録型光磁気ディス
クとなる。最後に、ステップ６に示すように、ステップ
５で作製された両面記録型光磁気ディスクに、ディスク
ハブやカートリッジ等の付属品の取り付けが行われ、市
販のドライブ装置で読み書きが可能な光磁気ディスクが
完成する。

【００１７】以上のように作製される光記録媒体の不良
の原因の殆どは、光磁気ディスクの表面に偶発的に生じ
る傷や異物等によるものである。すなわち、光磁気ディ
スクは、表面に生じた傷や異物等により、例えば、セク
ターマークを読み出せなくなったり、予め書き込まれた
アドレス情報等のＩＤを読み出せなくなったり、予め書
き込まれたアドレス情報等のＩＤが不良となったり、書
き込まれたデータを読み出せなくなったり、読み出した
データが不良となったり、或いはサーボエラーが発生し
てしまったりする。

【００１８】そして、このような傷や異物等の殆どは、
ディスク基板の成形から記録層及び保護層等の成膜が完
了するまでの間に生じる。そこで、上述したように、光
磁気ディスクの検査は、ディスク基板上に記録層や保護
層等が形成された後に行う。

【００１９】つぎに、このような光磁気ディスクの検査
に使用される検査装置について説明する。

【００２０】上記光磁気ディスクの検査に使用される検
査装置の基本的な構成は通常のドライブ装置とほぼ同じ
であるが、この検査装置では被検査対象の光磁気ディス
クから再生信号の検出だけが行われるので、この検査装
置はデータを書き込むための機能を備えている必要はな
い。また、この検査装置では、ディスクハブやカートリ
ッジ等の付属品を取り付ける前の状態の光磁気ディスク
の検査を行うので、付属品を取り付けていない光磁気デ
ィスクから再生信号の検出を行うことが可能となってい
る。

【００２１】そして、この検査装置は、図２に示すよう
に、光磁気ディスク１０を支持し回転させるためのスピ
ンドル１１と、光磁気ディスク１０から再生信号を検出
するための光ピックアップ１２と、光ピックアップ１２
を光磁気ディスク１０の径方向に移動させるためのスラ
イドモータ１３と、スピンドル１１、光ピックアップ１
２及びスライドモータ１３の動作等を制御する制御装置
とを備えている。

【００２２】上記スピンドル１１は、ディスクハブやカ
ートリッジ等の付属品を取り付ける前の状態の光磁気デ
ィスク１０を支持し回転させることが可能となってお
り、光磁気ディスク１０の検査を行う際に、付属品が取
り付けられていない被検査対象の光磁気ディスク１０を
支持し回転させる。ここで、スピンドル１１は、制御装
置１４に接続されており、制御装置１４によって回転が
制御される。なお、スピンドル１１には、光磁気ディス
ク１０を回転させたときに面揺れ等の有害な振動の発生
が少ないエアスピンドルが好適である。

【００２３】そして、光ピックアップ１２は、このよう
なスピンドル１１によって回転させられる被検査対象の
光磁気ディスク１０に対してレーザ光を入射して、フォ
ーカス制御やトラッキング制御を行いながら、被検査対
象の光磁気ディスク１０から再生信号を検出する。ここ
で、光ピックアップ１２は、制御装置１４に接続されて
おり、後述するように、光ピックアップ１２から制御装
置１４に再生信号、フォーカスエラー信号及びトラッキ
ングエラー信号が供給される。なお、この検査装置で
は、被検査対象の光磁気ディスク１０にデータを書き込
む必要がないので、この光ピックアップ１２は読み出し
専用の光ピックアップでよい。

【００２４】そして、スライドモータ１３は、このよう
な光ピックアップ１２を光磁気ディスク１０の径方向に
移動させるためのものであり、このスライドモータ１３
による光ピックアップ１２の移動と、上述のスピンドル
１１による光磁気ディスク１０の回転とにより、再生信
号の検出が光磁気ディスク１０の記録領域全体にわたっ
て行われることとなる。ここで、スライドモータ１３
は、スピンドル１１と同様に、制御装置１４に接続され
ており、制御装置１４によって動きが制御される。

【００２５】そして、制御装置１４は、上述のように、
スピンドル１１、光ピックアップ１２及びスライドモー
タ１３の動作を制御するとともに、光ピックアップ１２
から再生信号、トラッキングエラー信号及びフォーカス
エラー信号を受け取り、これらの信号から、後述するよ
うに被検査対象の光磁気ディスク１０の合否を判定す
る。

【００２６】つぎに、以上のような検査装置の光ピック
アップ１２について更に詳細に説明する。

【００２７】上記光ピックアップ１２は、光磁気ディス
ク１０に光を入射させるための往路の光学系と、光磁気
ディスク１０によって反射されて戻ってくる戻り光を検
出するための復路の光学系とから構成される。

【００２８】そして、光ピックアップ１２の往路の光学
系は、レーザ光源となるレーザダイオード２０と、レー
ザダイオード２０と光磁気ディスク１０を結ぶ光軸上に
配される第１のレンズ２１、第１の偏光ビームスプリッ
タ２２及び第２のレンズ２３とから構成される。そし
て、光磁気ディスク１０から再生信号を検出する際に
は、レーザダイオード２０からレーザ光が出射され、こ
のレーザ光が、第１のレンズ２１によって平行光にされ
た後、第１の偏光ビームスプリッタ２２を透過して第２
のレンズ２３に入射し、この第２のレンズ２３によって
光磁気ディスク１０上に集束される。ここで、レーザダ
イオード２０は、制御装置１４に接続されており、制御
装置１４からの指示によってオン・オフが制御される。
ここで、レーザダイオード２０から出射されるレーザ光
のパワーは、通常の光磁気ディスクドライブ装置と同様
に、光磁気ディスク１０上のフォーカス面において０．
５〜１．５ｍＷ程度であることが望ましい。

【００２９】一方、光ピックアップ１２の復路の光学系
は、上述のように光磁気ディスク１０に入射した後、反
射されて戻ってくる戻り光を検出するための光学系であ
り、第１の偏光ビームスプリッタ２２で反射される反射
光の光軸上に配された第２の偏光ビームスプリッタ２４
と、第２の偏光ビームスプリッタ２４を透過する透過光
の光軸上に配された第３のレンズ２５及び第１のフォト
ディテクタ２６と、第２の偏光ビームスプリッタ２４で
反射される反射光の光軸上に配された１／２波長板２７
及び第３の偏向ビームスプリッタ２８と、第３の偏光ビ
ームスプリッタ２８で反射される反射光の光軸上に配さ
れた第４のレンズ２９及び第２のフォトディテクタ３０
と、第３の偏光ビームスプリッタ２８を透過する透過光
の光軸上に配された第５のレンズ３１及び第３のフォト
ディテクタ３２とを備えている。

【００３０】そして、第１の偏光ビームスプリッタ２２
で反射された反射光は、第２の偏光ビームスプリッタ２
４に入射し、この第２の偏光ビームスプリッタ２４によ
って反射光と透過光とに分割される。そして、第２の偏
向ビームスプリッタ２４を透過した透過光は、第３のレ
ンズ２５によって集束された上で、第１のフォトディテ
クタ２６に入射し、この第１のフォトディテクタ２６に
よって検出される。

【００３１】一方、第２の偏向ビームスプリッタ２４に
よって反射された反射光は、１／２波長板２７によって
偏光面が４５度回転させられた後、第３の偏向ビームス
プリッタ２８に入射し、この第３の偏向ビームスプリッ
タ２８によって反射光と透過光とに分割される。そし
て、第３の偏向ビームスプリッタ２８によって反射され
た反射光は、第４のレンズ２９によって集束された上
で、第２のフォトディテクタ３０に入射し、この第２の
フォトディテクタ３０によって検出される。一方、第３
の偏向ビームスプリッタ２８を透過した透過光は、第５
のレンズ３１によって集束された上で、第３のフォトデ
ィテクタ３２に入射し、この第３のフォトディテクタ３
２によって検出される。

【００３２】ここで、第１のフォトディテクタ２６は、
光磁気ディスク１０の再生時にトラッキングエラー信号
及びフォーカスエラー信号を検出するためのものであ
る。そして、この第１のフォトディテクタ２６は、制御
装置１４に接続されており、第１のフォトディテクタ２
６によって検出されたトラッキングエラー信号及びフォ
ーカスエラー信号は、制御装置１４に供給される。

【００３３】一方、第２のフォトディテクタ３０及び第
３のフォトディテクタ３２は、光磁気ディスク１０から
の再生信号を検出するためのものであり、第２のフォト
ディテクタ３０によって検出された信号と、第３のフォ
トディテクタ３２によって検出された信号との差信号や
和信号が再生信号として検出される。そして、これら第
２のフォトディテクタ３０及び第３のフォトディテクタ
３２は、制御装置１４に接続されており、第２のフォト
ディテクタ３０及び第３のフォトディテクタ３２によっ
て検出された再生信号、すなわち、第２のフォトディテ
クタ３０によって検出された信号と、第３のフォトディ
テクタ３２によって検出された信号との差信号や和信号
は、制御装置１４に供給される。

【００３４】つぎに、以上のような検査装置によって行
われる光磁気ディスク１０の検査方法について説明す
る。

【００３５】光磁気ディスク１０を検査する際は、検査
装置のスピンドル１１に被検査対象の光磁気ディスク１
０をセットし、光ピックアップ１２により、フォーカス
制御及びトラッキング制御を行いながら、光磁気ディス
ク１０から再生信号を検出する。そして、このように光
ピックアップ１２によって検出された再生信号を、制御
装置１４によって所定のしきい値にて２値化し、再生信
号が正常に再生されずに欠落した時間（以下、再生信号
欠落時間と呼ぶ。）を測定する。また、このように再生
信号を検出するのと同時に、光ピックアップ１２によっ
て検出されたフォーカスエラー信号が、正常なフォーカ
シングができないようなしきい値を越えた回数、すなわ
ちフォーカスサーボエラーの回数を制御装置１４によっ
て測定するとともに、光ピックアップ１２によって検出
されたトラッキングエラー信号が、正常なトラッキング
ができないようなしきい値を越えた回数、すなわちトラ
ッキングサーボエラーの回数を制御装置１４によって測
定する。

【００３６】そして、以上の測定が光磁気ディスク１０
の記録領域全体に対して完了したら、すなわち、以上の
測定が光磁気ディスク１０のスタートトラックから最終
トラックに至るまで完了したら、再生信号の検出時間
（以下、測定総時間と呼ぶ。）に対する再生信号欠落時
間の割合を、エラーレートとして算出する。すなわち、
この検査において、エラーレートは下記式（１）によっ
て定義される。

【００３７】エラーレート＝再生信号欠落時間／測定総時間・・・（１）ここで、上記式（１）で定義されるエラーレートは、市
販のドライブ装置で検査した際に得られるバイトエラー
レート（Ｂ．Ｅ．Ｒ．）と良く相関がとれた値となる。

【００３８】そして、以上のように測定されたエラーレ
ートと、フォーカスサーボエラーの回数と、トラッキン
グサーボエラーの回数とを、それぞれ所定の判定レベル
と比較し、被検査対象の光磁気ディスク１０の合否を判
定する。ここで、通常、光磁気ディスクは、フォーカス
サーボエラーやトラッキングサーボエラーが１回でもあ
ると、市販のドライブ装置で記録再生を正常に行うこと
ができなくなる。したがって、通常は、フォーカスサー
ボエラーやトラッキングサーボエラーが１回でもある場
合には、当該光磁気ディスク１０を不良と判定する。

【００３９】以上のような検査方法では、被検査対象の
光磁気ディスクから再生信号を検出するだけなので、デ
ータを書き込むための機能を備えていない図２に示した
ような簡易な検査装置により、光磁気ディスクの検査を
行うことができる。しかも、この検査方法では、再生信
号を検出するだけなので、データの書き込みを要する従
来の検査方法に比べて、大幅に検査時間を短縮すること
ができる。

【００４０】また、この検査方法では、付属品が取り付
けらていない状態の光磁気ディスクに対して検査が行わ
れるので、もし、被検査対象の光磁気ディスクが不良で
あったとしても、ディスクハブやカートリッジ等の付属
品が無駄になることがない。さらに、この検査方法で
は、２枚の光磁気ディスクを貼り付ける前に、単板の光
磁気ディスクに対して検査が行われるので、もし、被検
査対象の光磁気ディスクが不良であったとしても、正常
な光磁気ディスクが無駄になるようなことがない。

【００４１】また、この検査方法は、光磁気ディスクの
製造工程の早い段階において行われるので、もし、ディ
スク基板の成形工程や、記録層や保護層等の成膜工程に
異常があった場合に、早い段階で異常を検知することが
できる。したがって、この検査方法によれば、ディスク
基板の成形工程や、記録層や保護層等の成膜工程におけ
る異常を早期に検知して対応を打つことが可能であり、
不良な光磁気ディスクの発生を減らすことができる。

【００４２】ところで、光磁気ディスクに許容されるエ
ラーサイズは、エラー訂正能力等の兼ね合いから、通
常、５０〜１００μｍ程度である。したがって、光磁気
ディスクの検査では、通常、５０〜１００μｍ程度以上
の大きさの傷や異物等を検出すればよい。そして、ディ
スク基板の成形工程や、記録層や保護層等の成膜工程に
おいて、偶発的に生じる傷や異物等は、通常、一定の方
向にだけ長いというようなことはなく、ほぼ２次元的に
広がりを持った円状の欠陥になっている見なすことがで
きる。したがって、上述の検査は、光磁気ディスクの全
トラックに行う必要はなく、数トラック毎に間引いて行
ってもよい。具体的には、被検査対象の光磁気ディスク
のトラックピッチが１．６μｍであれば、例えば、１０
トラック毎に再生信号の検出を行って検査を行っても、
１６μｍの分解能を持つこととなり、検出すべき傷や異
物等の大きさに十分対応できることとなる。

【００４３】そして、このように、再生信号の検出を複
数トラック毎に間引いて行った場合には、より短い時間
で検査を行うことが可能となり、光磁気ディスクの生産
性を更に向上することができる。具体的には、トラック
ピッチが１．６μｍ、総トラック数が２００００の光磁
気ディスクを、スピンドルの回転数を１８００ｒｐｍと
して、１０トラック毎に再生信号の検出を行って上述の
ような検査を行った場合、検査は３分程度の非常に短い
時間で終了する。ここで、スピンドルの回転を速くした
り、或いは、検査に用いる光ピックアップを複数にして
再生信号の検出を各光ピックアップで分担させたりする
ことにより、検査時間を更に飛躍的に短縮することも可
能である。

【００４４】なお、このように再生信号を検出するトラ
ックを間引いて検査を行う場合には、トラックを間引く
数が多い方が、より短い時間で検査を行うことが可能と
なる。ただし、このように複数トラック毎に間引いて行
ったときに検出されるエラーレートは、当然の事なが
ら、トラックを間引く数が少ない方が、市販のドライブ
装置で検査した際に得られるバイトエラーレートに対す
る相関が良くなる。

【００４５】ところで、上述の光磁気ディスクの検査方
法では、エラーレートとして再生信号欠落時間を測定総
時間で割った値を測定したが、更に、光磁気ディスクの
記録領域を複数のブロックに分割して、各ブロックにお
けるエラーレート（以下、ブロック別エラーレートと呼
ぶ。）も測定するようにしてもよい。

【００４６】すなわち、例えば、図３に示すように、光
磁気ディスク１０の記録領域を同心円状の複数のブロッ
ク１０ａに細分化して、各ブロック１０ａ毎にブロック
別エラーレートを算出するようにしてもよい。ここで、
ブロック別エラーレートは、各ブロック１０ａにおける
測定時間に対する、各ブロック１０ａにおける再生信号
欠落時間の割合として定義される。

【００４７】そして、このようなブロック別エラーレー
トを測定すれば、全体の平均としてのエラーレートだけ
でなく、細分化されたブロック毎にエラーの発生状況を
検出することができる。すなわち、ブロック別エラーレ
ートを測定することにより、局部的な傷や異物等を検出
することが可能となる。

【００４８】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、光記録媒体の検査時間を大幅に短縮すること
ができるので、光記録媒体の検査効率を大幅に向上する
ことができる。また、本発明の光記録媒体の検査方法で
は、光記録媒体に不良があっても、ディスクハブやカー
トリッジ等のような光記録媒体の付属品や、正常な光記
録媒体等を無駄な損失としてしまうようなことがない。

【００４９】したがって、本発明によれば、光記録媒体
の製造コストを下げて、光記録媒体の生産性を向上させ
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】光磁気ディスクの製造工程の一例を示すフロー
チャートである。

【図２】光磁気ディスクの検査装置の一構成例を示す模
式図である。

【図３】光磁気ディスクの記録領域を細分化した様子を
示す模式図である。

【符号の説明】

１０光磁気ディスク１１スピンドル１２光ピックアップ１３スライドモータ１４制御装置

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７４ 9558−5ＤＧ１１Ｂ 20/18 ５７４Ｊ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被検査対象の光記録媒体に対してフォーカ
ス制御及びトラッキング制御を行いながら再生信号を検
出して、再生信号の検出時間に対する再生信号が欠落し
た時間の割合と、フォーカスエラー信号又はトラッキン
グエラー信号がしきい値を越えた回数とを測定し、上記割合及び回数に基づいて光記録媒体を検査すること
を特徴とする光記録媒体の検査方法。
【請求項２】上記再生信号の検出を複数トラック毎に
間引いて行うことを特徴とする請求項１記載の光記録媒
体の検査方法。