JPH07122934B2 - 光学的情報記録方法 - Google Patents
光学的情報記録方法Info
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- JPH07122934B2 JPH07122934B2 JP61071083A JP7108386A JPH07122934B2 JP H07122934 B2 JPH07122934 B2 JP H07122934B2 JP 61071083 A JP61071083 A JP 61071083A JP 7108386 A JP7108386 A JP 7108386A JP H07122934 B2 JPH07122934 B2 JP H07122934B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光学的情報記録媒体に情報を記録する方法にお
いて、記録媒体上のゴミ、キズによる欠陥を早く見つけ
ることにより、情報処理速度を上げる方法に関するもの
である。
いて、記録媒体上のゴミ、キズによる欠陥を早く見つけ
ることにより、情報処理速度を上げる方法に関するもの
である。
書き換え可能な光学的情報記録再生装置には、相変化型
光ディスク装置や、光磁気ディスク装置等があるが、こ
こでは光磁気ディスク装置について説明する。
光ディスク装置や、光磁気ディスク装置等があるが、こ
こでは光磁気ディスク装置について説明する。
第５図に光学的情報記録媒体（以後、光磁気ディスクと
称す）を示す。光磁気ディスクはセクタ構造になってお
り、セクタs0〜snは、セクタのアドレス情報が記録され
ているアドレス部a0〜anとデータを記録するデータ部d0
〜dnから構成されている。
称す）を示す。光磁気ディスクはセクタ構造になってお
り、セクタs0〜snは、セクタのアドレス情報が記録され
ているアドレス部a0〜anとデータを記録するデータ部d0
〜dnから構成されている。
第６図に光磁気ディスク装置の模式構成図を示す。光磁
気ディスク装置は光磁気ディスクを実際に動かすディス
クドライブ装置２とディスクドライブ装置を制御するデ
ィスクドライブコントローラ１で構成されている。
気ディスク装置は光磁気ディスクを実際に動かすディス
クドライブ装置２とディスクドライブ装置を制御するデ
ィスクドライブコントローラ１で構成されている。
第７図に従来の光磁気ディスク装置の概略構成図を示
す。
す。
同図において、10はホストインターフェイス、11はマイ
クロプロセッサ、12はメモリ、13はバッファ、14はセレ
クタ、15は制御コントローラ、16は記録回路、17は再生
回路、18はドライブインターフェイス、19はレーザ駆動
回路、20は波形整形回路、21はヘッドアンプ、22は光学
ヘッド、23はリニアモータ、24はAT（Auto Trackkin
g）、AF（Auto Focus）回路、25はスピンドルモータ、2
6は該モータ駆動回路、27はバイアス磁界コイル、28は
バイアス磁界駆動回路、29は光磁気ディスクである。な
お、一点鎖線より左側は第６図におけるディスクドライ
ブコントローラ１、右側はディスクドライブ装置２の部
分である。
クロプロセッサ、12はメモリ、13はバッファ、14はセレ
クタ、15は制御コントローラ、16は記録回路、17は再生
回路、18はドライブインターフェイス、19はレーザ駆動
回路、20は波形整形回路、21はヘッドアンプ、22は光学
ヘッド、23はリニアモータ、24はAT（Auto Trackkin
g）、AF（Auto Focus）回路、25はスピンドルモータ、2
6は該モータ駆動回路、27はバイアス磁界コイル、28は
バイアス磁界駆動回路、29は光磁気ディスクである。な
お、一点鎖線より左側は第６図におけるディスクドライ
ブコントローラ１、右側はディスクドライブ装置２の部
分である。
第７図と第８図のフローチャートを用いて光磁気ディス
ク29にデータを記録する過程を説明する。
ク29にデータを記録する過程を説明する。
ホストよりホストインターフェイス10を通じデータ記録
指令、データ記録開始アドレス、記録データ量をマイク
ロプロセッサ11が受け取ると、マイクロプロセッサ11
は、これから記録するデータ領域の消去を指令する。光
磁気ディスク29は磁気ディスクの様なオーバーライトは
その構造上不可能であるから、光磁気ディスク29にデー
タを記録する場合、消去過程が必ず必要である。光磁気
ディスク29の消去は、バイアス磁界コイル27で消去バイ
アス磁界を作り、光学ヘッド22を所定の位置（セクタ）
にアクセスし、レーザを消去パワーにしデータの消去を
行なう（第８図のステップS1）。
指令、データ記録開始アドレス、記録データ量をマイク
ロプロセッサ11が受け取ると、マイクロプロセッサ11
は、これから記録するデータ領域の消去を指令する。光
磁気ディスク29は磁気ディスクの様なオーバーライトは
その構造上不可能であるから、光磁気ディスク29にデー
タを記録する場合、消去過程が必ず必要である。光磁気
ディスク29の消去は、バイアス磁界コイル27で消去バイ
アス磁界を作り、光学ヘッド22を所定の位置（セクタ）
にアクセスし、レーザを消去パワーにしデータの消去を
行なう（第８図のステップS1）。
消去が終了すると、ホストインターフェイス10よりバッ
ファ13へ記録するデータが送られ、続いて、記録回路16
により誤り訂正符号化および変調が行なわれ、レーザ駆
動装置19を経て、光学ヘッド22により所定のセクタおよ
び領域（複数のセクタ）にデータの記録が行なわれる
（ステップS2）。データを記録後、正確にデータが所定
のセクタSm（０≦ｍ≦ｎ）に記録されていることを確認
する目的で、記録したデータを再生し、再生回路17で誤
り訂正の復号化を行ない、誤り訂正が確実に行なわれる
ことを確認する（ステップS3）。
ファ13へ記録するデータが送られ、続いて、記録回路16
により誤り訂正符号化および変調が行なわれ、レーザ駆
動装置19を経て、光学ヘッド22により所定のセクタおよ
び領域（複数のセクタ）にデータの記録が行なわれる
（ステップS2）。データを記録後、正確にデータが所定
のセクタSm（０≦ｍ≦ｎ）に記録されていることを確認
する目的で、記録したデータを再生し、再生回路17で誤
り訂正の復号化を行ない、誤り訂正が確実に行なわれる
ことを確認する（ステップS3）。
この、記録データの確認でデータが正確に記録されてい
ない場合、さらに第９図に示すフローチャートの動作を
行なう。すなわち、第９図のステップS1〜ステップS4、
ステップS1〜ステップS9の処理を行ない、ステップS8の
規定回数になると、所定のセクタSm（０≦ｍ≦ｎ）は欠
陥セクタと判断され、ステップS9の欠陥セクタ処理を行
なう。このような、処理をすることによって、ゴミ、キ
ズ等の欠陥の存在によって欠陥セクタとなるセクタに対
しても情報を正確に記録できる。
ない場合、さらに第９図に示すフローチャートの動作を
行なう。すなわち、第９図のステップS1〜ステップS4、
ステップS1〜ステップS9の処理を行ない、ステップS8の
規定回数になると、所定のセクタSm（０≦ｍ≦ｎ）は欠
陥セクタと判断され、ステップS9の欠陥セクタ処理を行
なう。このような、処理をすることによって、ゴミ、キ
ズ等の欠陥の存在によって欠陥セクタとなるセクタに対
しても情報を正確に記録できる。
しかしながら、従来の光磁気ディスク装置においては、
ゴミ、キズ等による欠陥セクタにデータを記録しようと
する場合、第９図で示したフローチャートの様に欠陥セ
クタ処理へ至るまでの時間が長くなり、結果的に情報記
録スピードが低下するという問題点があった。
ゴミ、キズ等による欠陥セクタにデータを記録しようと
する場合、第９図で示したフローチャートの様に欠陥セ
クタ処理へ至るまでの時間が長くなり、結果的に情報記
録スピードが低下するという問題点があった。
本発明の目的は、迅速に欠陥処理を行うことができ、記
録スピードを向上させることができる光学的情報記録方
法を提供することにある。
録スピードを向上させることができる光学的情報記録方
法を提供することにある。
以上のような目的は、複数のセクタを備えた書き換え可
能な光学的情報記録媒体の所望のセクタに情報を記録す
る際に、前記所望のセクタを光ビームで走査することに
よって以前に記録された情報を消去した後、前記所望の
セクタを再び光ビームで走査することによって情報を記
録する光学的情報記録方法において、前記情報の消去を
行っている間に、前記光ビームの記録媒体からの反射光
量を測定し、測定された反射光量があらかじめ決められ
ている範囲を越えた場合、当該セクタを欠陥セクタと認
識して、当該セクタには記録を行わないことを特徴とす
る光学的情報記録方法によって達成される。
能な光学的情報記録媒体の所望のセクタに情報を記録す
る際に、前記所望のセクタを光ビームで走査することに
よって以前に記録された情報を消去した後、前記所望の
セクタを再び光ビームで走査することによって情報を記
録する光学的情報記録方法において、前記情報の消去を
行っている間に、前記光ビームの記録媒体からの反射光
量を測定し、測定された反射光量があらかじめ決められ
ている範囲を越えた場合、当該セクタを欠陥セクタと認
識して、当該セクタには記録を行わないことを特徴とす
る光学的情報記録方法によって達成される。
［作用］ 本発明の光学的情報記録方法によれば、情報の消去中に
消去に用いられる光ビームの記録媒体からの反射光量か
ら欠陥を検知することにより、あらためて欠陥検知のた
めの期間を設ける必要がなく、情報記録のための時間が
長くなることがない。
消去に用いられる光ビームの記録媒体からの反射光量か
ら欠陥を検知することにより、あらためて欠陥検知のた
めの期間を設ける必要がなく、情報記録のための時間が
長くなることがない。
以下、本発明の光学的情報記録方法について実施例に基
づき詳細に説明する。
づき詳細に説明する。
本発明は、光学的情報記録媒体（以後、光ディスクと称
す）上のゴミやキズ等による欠陥セクタを消去時に光デ
ィスクで反射された光束の光量を測定することにより検
出し、欠陥セクタの処理を早めることを特徴としている
ので、消去・書き換え可能な光ディスク装置に適用され
る。
す）上のゴミやキズ等による欠陥セクタを消去時に光デ
ィスクで反射された光束の光量を測定することにより検
出し、欠陥セクタの処理を早めることを特徴としている
ので、消去・書き換え可能な光ディスク装置に適用され
る。
第１図は本発明の光学的情報記録方法に用いられる光磁
気ディスク装置を示したブロック図である。
気ディスク装置を示したブロック図である。
同図において、40は反射光量監視回路であり、他の部分
は第７図で示した光磁気ディスク装置と前記監視回路40
の情報の流れを除き、同様である。すなわち、10はホス
トインターフェイス、11はマイクロプロセッサ、12はメ
モリ、13はバッファ、14はセレクタ、15は制御コントロ
ーラ、16は記録回路、17は再生回路、18はドライブイン
ターフェイス、19はレーザ駆動回路、20は波形整形回
路、21はヘッドアンプ、22は光学ヘッド、23はリニアモ
ータ、24はAT（Auto Trackking）、AF（Auto Focus）回
路、25はスピンドルモータ、26は該モータ駆動回路、27
はバイアス磁界コイル、28はバイアス磁界駆動回路、29
は光磁気ディスクである。
は第７図で示した光磁気ディスク装置と前記監視回路40
の情報の流れを除き、同様である。すなわち、10はホス
トインターフェイス、11はマイクロプロセッサ、12はメ
モリ、13はバッファ、14はセレクタ、15は制御コントロ
ーラ、16は記録回路、17は再生回路、18はドライブイン
ターフェイス、19はレーザ駆動回路、20は波形整形回
路、21はヘッドアンプ、22は光学ヘッド、23はリニアモ
ータ、24はAT（Auto Trackking）、AF（Auto Focus）回
路、25はスピンドルモータ、26は該モータ駆動回路、27
はバイアス磁界コイル、28はバイアス磁界駆動回路、29
は光磁気ディスクである。
第１図の装置において、情報の記録は、光磁気ディスク
29へ情報信号により変調された高エネルギーの光ビーム
を照射し、光ビームの熱とバイアス磁界コイル27からの
磁界により、光磁気ディスク29の材質の相（磁化方向）
を変化させることにより行う。また、その記録された情
報の再生は、低エネルギーで連続した光ビームを照射し
て、その反射光の位相で、材質の相を読み取ることによ
り行う。
29へ情報信号により変調された高エネルギーの光ビーム
を照射し、光ビームの熱とバイアス磁界コイル27からの
磁界により、光磁気ディスク29の材質の相（磁化方向）
を変化させることにより行う。また、その記録された情
報の再生は、低エネルギーで連続した光ビームを照射し
て、その反射光の位相で、材質の相を読み取ることによ
り行う。
光磁気ディスク29に正確に情報が記録できない、あるい
は正確に情報が再生できない場合の原因は、 ディスク材質自体の欠損 ディスク上のゴミやキズの存在 により、光磁気ディスク29の材質の相を変化させること
が不可能であったり、又は材質の相を読み取ることが不
可能であることによる。
は正確に情報が再生できない場合の原因は、 ディスク材質自体の欠損 ディスク上のゴミやキズの存在 により、光磁気ディスク29の材質の相を変化させること
が不可能であったり、又は材質の相を読み取ることが不
可能であることによる。
特に、ディスク上にゴミやキズが存在すると、光の散乱
により、ディスク材質に十分な熱量が供給されなかった
り、反射光の位相が検知できなくなったりする結果、情
報の記録あるいは再生が不可能になる。
により、ディスク材質に十分な熱量が供給されなかった
り、反射光の位相が検知できなくなったりする結果、情
報の記録あるいは再生が不可能になる。
正確の情報の記録・再生に無視できないほどのキズやゴ
ミが存在すると、光がキズやゴミによって散乱し、反射
光量が大きく変化する。そこで本発明においては、消去
時の反射光量を監視しておき、反射光量が通常の状態の
反射光量の範囲を外れるときは、ディスク上にゴミ、キ
ズがあるとみなして、すぐに欠陥セクタ処理へ移るよう
にする。
ミが存在すると、光がキズやゴミによって散乱し、反射
光量が大きく変化する。そこで本発明においては、消去
時の反射光量を監視しておき、反射光量が通常の状態の
反射光量の範囲を外れるときは、ディスク上にゴミ、キ
ズがあるとみなして、すぐに欠陥セクタ処理へ移るよう
にする。
ここで、通常の状態の反射光量の範囲を外れるとは、具
体的にはどのような場合であるかが問題となる。
体的にはどのような場合であるかが問題となる。
第２図は反射光量監視回路40の構成の一例を示す概略図
である。
である。
同図において、50a、50bはそれぞれ記録ピットからの光
を受ける光ディテクタ、51a、51bはそれぞれ電流・電圧
変換素子、52は加算器、53は比較器である。光ディテク
タ50a、50bはAF用、AT用のディテクタの両方から記録媒
体上のゴミ、キズを検知してもよい。
を受ける光ディテクタ、51a、51bはそれぞれ電流・電圧
変換素子、52は加算器、53は比較器である。光ディテク
タ50a、50bはAF用、AT用のディテクタの両方から記録媒
体上のゴミ、キズを検知してもよい。
そのような場合の一例として、AF用のディテクタを本発
明に併用することを考える。
明に併用することを考える。
第３図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）はそれぞれ光ディテクタ
に非対称にナイフエッジを配置してAF検出を行う構成を
示したものである。
に非対称にナイフエッジを配置してAF検出を行う構成を
示したものである。
同図において、50a、50bはそれぞれ光ディテクタ、70は
光源、71はビームスプリッター、72は光ディテクタ50a
の前に置かれたナイフエッジ、73は焦点を調節する絞り
込みレンズ、74はディスク面、75は焦点位置、76はディ
スク面上の無視できないゴミやキズである。
光源、71はビームスプリッター、72は光ディテクタ50a
の前に置かれたナイフエッジ、73は焦点を調節する絞り
込みレンズ、74はディスク面、75は焦点位置、76はディ
スク面上の無視できないゴミやキズである。
第３図（ａ）の場合は光ディスク面74が、焦点位置75よ
り近い場合（焦点誤差eF＜０）であり、光ディテクタ50
aは光を受光せず、光ディテクタ50bのみが光を受ける。
また、第３図（ｂ）の場合は光ディスク面74が焦点位置
75より遠い場合（焦点誤差eF＞０）であり、光ディテク
タ50aは光を受光し、光ディテクタ50bは光を受けない。
この光ディテクタの出力と焦点誤差をそれぞれ縦軸、横
軸にとり表わしたものが第４図に示すグラフの実線80で
ある。
り近い場合（焦点誤差eF＜０）であり、光ディテクタ50
aは光を受光せず、光ディテクタ50bのみが光を受ける。
また、第３図（ｂ）の場合は光ディスク面74が焦点位置
75より遠い場合（焦点誤差eF＞０）であり、光ディテク
タ50aは光を受光し、光ディテクタ50bは光を受けない。
この光ディテクタの出力と焦点誤差をそれぞれ縦軸、横
軸にとり表わしたものが第４図に示すグラフの実線80で
ある。
ここで、ディスク面74に無視できないゴミ、キズがある
とき、すなわち第３図（ｃ）の場合は、ゴミ、キズによ
り光が拡散されてしまうので、光ディテクタ50a、50bの
出力は共に低下し、焦点誤差eFによっては光ディテクタ
50a、50bの出力はほとんど変化しなくなる。これを示し
たのが第４図の破線81である。従って、この状態を所定
の検出回路で検出してやれば、ゴミ、キズ等の検出がで
きることになる。検出の最も簡単な例として、光ディテ
クタ50a、50bの出力を合計し、その値と通常の状態のレ
ベル値とを比較する方法が考えられる。第２図の加算器
52、比較器53はそのような処理をするためのものであ
る。
とき、すなわち第３図（ｃ）の場合は、ゴミ、キズによ
り光が拡散されてしまうので、光ディテクタ50a、50bの
出力は共に低下し、焦点誤差eFによっては光ディテクタ
50a、50bの出力はほとんど変化しなくなる。これを示し
たのが第４図の破線81である。従って、この状態を所定
の検出回路で検出してやれば、ゴミ、キズ等の検出がで
きることになる。検出の最も簡単な例として、光ディテ
クタ50a、50bの出力を合計し、その値と通常の状態のレ
ベル値とを比較する方法が考えられる。第２図の加算器
52、比較器53はそのような処理をするためのものであ
る。
次に、上記のような反射光量監視回路40を組み込んだ光
磁気ディスク装置の動作について第１図及び第２図を参
照しながら説明する。
磁気ディスク装置の動作について第１図及び第２図を参
照しながら説明する。
所定のセクタのデータ領域を消去中、反射光量監視回路
40が光磁気ディスク29からの反射光量を監視する。反射
光量は光ディテクタ50a、50bで電気信号になり、電流・
電圧変換素子51で電圧信号に変換され、加算器52で反射
光の総和が電圧レベルに変換される。加算器52の出力が
ある所定の範囲を超えると、比較器53によりドライブイ
ンターフェイス18を通じ、ディスクコントローラの制御
コントローラ15、あるいはマイクロプロセッサ11に割り
込みがかかる。反射光量監視回路40からの割り込みが入
ると、マイクロプロセッサ11あるいは制御コントローラ
15は消去中のセクタを欠陥セクタと認知する。
40が光磁気ディスク29からの反射光量を監視する。反射
光量は光ディテクタ50a、50bで電気信号になり、電流・
電圧変換素子51で電圧信号に変換され、加算器52で反射
光の総和が電圧レベルに変換される。加算器52の出力が
ある所定の範囲を超えると、比較器53によりドライブイ
ンターフェイス18を通じ、ディスクコントローラの制御
コントローラ15、あるいはマイクロプロセッサ11に割り
込みがかかる。反射光量監視回路40からの割り込みが入
ると、マイクロプロセッサ11あるいは制御コントローラ
15は消去中のセクタを欠陥セクタと認知する。
データ領域の消去が終了し、データを記録する際、消去
中、欠陥セクタと認知されたセクタには記録は行なわ
ず、ただちに欠陥セクタ処理を行なう。従って、従来例
の様に第９図のフローチャートにおけるステップS1〜ス
テップS4、ステップS1〜ステップS8のルーチンを経ず
に、欠陥セクタ処理を行うことが可能になり、実質上の
記録速度が向上する。
中、欠陥セクタと認知されたセクタには記録は行なわ
ず、ただちに欠陥セクタ処理を行なう。従って、従来例
の様に第９図のフローチャートにおけるステップS1〜ス
テップS4、ステップS1〜ステップS8のルーチンを経ず
に、欠陥セクタ処理を行うことが可能になり、実質上の
記録速度が向上する。
なお、以上の実施例では、本発明の情報記録方法を消去
可能な光磁気ディスク装置に適用した例を説明したが、
本発明はこれに限ることなく、例えば相転移方法の光デ
ィスク装置などにも適用することが可能である。
可能な光磁気ディスク装置に適用した例を説明したが、
本発明はこれに限ることなく、例えば相転移方法の光デ
ィスク装置などにも適用することが可能である。
以上、説明したように、光ディスク上のゴミやキズ等に
よる欠陥セクタを消去時に光ディスクで反射された光束
の光量を測定することにより検出し、種々の欠陥セクタ
処理を早めることができる。
よる欠陥セクタを消去時に光ディスクで反射された光束
の光量を測定することにより検出し、種々の欠陥セクタ
処理を早めることができる。
つまり、書き換え可能な光ディスク装置においては、反
射光量がある範囲を超えると、消去中のセクタを欠陥セ
クタと認知することで迅速に欠陥セクタ処理に移ること
ができ、実質上の情報記録スピードを向上することがで
きた。
射光量がある範囲を超えると、消去中のセクタを欠陥セ
クタと認知することで迅速に欠陥セクタ処理に移ること
ができ、実質上の情報記録スピードを向上することがで
きた。
また、書き換え可能な光ディスク装置においては、消去
中の反射光量を測定するので、レーザーパワーが一定で
あるため反射光量監視回路構成が単純になる利点もあ
る。
中の反射光量を測定するので、レーザーパワーが一定で
あるため反射光量監視回路構成が単純になる利点もあ
る。
第１図は本発明の光学的情報記録方法に用いられる光磁
気ディスク装置を示す概略ブロック図である。 第２図は反射光量監視回路の構成の一例を示す概略図で
ある。 第３図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）はそれぞれ光ディテクタ
の前に非対称にナイフエッジを配置してAF検出を行う場
合を示した図であり、第４図は光ディテクタ出力と焦点
誤差の関係を示すグラフである。 第５図は光磁気ディスクの概略図、第６図は光磁気ディ
スク装置の模式構成図、第７図は従来の光磁気ディスク
装置を示す概略ブロック図、第８図、第９図はそれぞれ
データ処理のフローチャートである。 40……反射光量監視回路、50a,50b……光ディテクタ。
気ディスク装置を示す概略ブロック図である。 第２図は反射光量監視回路の構成の一例を示す概略図で
ある。 第３図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）はそれぞれ光ディテクタ
の前に非対称にナイフエッジを配置してAF検出を行う場
合を示した図であり、第４図は光ディテクタ出力と焦点
誤差の関係を示すグラフである。 第５図は光磁気ディスクの概略図、第６図は光磁気ディ
スク装置の模式構成図、第７図は従来の光磁気ディスク
装置を示す概略ブロック図、第８図、第９図はそれぞれ
データ処理のフローチャートである。 40……反射光量監視回路、50a,50b……光ディテクタ。
Claims (1)
- 【請求項１】複数のセクタを備えた書き換え可能な光学
的情報記録媒体の所望のセクタに情報を記録する際に、
前記所望のセクタを光ビームで走査することによって以
前に記録された情報を消去した後、前記所望のセクタを
再び光ビームで走査することによって情報を記録する光
学的情報記録方法において、 前記情報の消去を行っている間に、前記光ビームの記録
媒体からの反射光量を測定し、測定された反射光量があ
らかじめ決められている範囲を越えた場合、当該セクタ
を欠陥セクタと認識して、当該セクタには記録を行わな
いことを特徴とする光学的情報記録方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61071083A JPH07122934B2 (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | 光学的情報記録方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61071083A JPH07122934B2 (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | 光学的情報記録方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62229530A JPS62229530A (ja) | 1987-10-08 |
| JPH07122934B2 true JPH07122934B2 (ja) | 1995-12-25 |
Family
ID=13450276
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61071083A Expired - Fee Related JPH07122934B2 (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | 光学的情報記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07122934B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2574765B2 (ja) * | 1986-07-09 | 1997-01-22 | 株式会社日立製作所 | 光磁気デイスク装置 |
| JPH02302952A (ja) * | 1989-05-17 | 1990-12-14 | Ricoh Co Ltd | 光磁気記録媒体に於けるセクターの良否判別方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5968828A (ja) * | 1982-10-08 | 1984-04-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的情報記録再生装置 |
-
1986
- 1986-03-31 JP JP61071083A patent/JPH07122934B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPS62229530A (ja) | 1987-10-08 |
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