JPS62229530A - 光学的情報記録方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光学的情報記録媒体の情報を少なくとも再生で
きる光学的情報再生装置に関し、特に情報の再生および
／または記録詔よび／または消去が可能な光学的情報記
録再生装置における記録媒体上のゴミ、ギズによる欠陥
を早く見つけることによシ、情報処理速度を上げる方法
に関するものである。

〔従来の技術〕

書き換え可能な光学的情報記録再生装置には、相変化型
光デイスク装置や、光磁気ディスク装置等があるが、こ
こでは光磁気ディスク装置について説明する。

第５図に光学的情報記録媒体（以後、光磁気ディスーク
と称す）を示す。光磁気ディスクはセクタ構造になって
おル、セクタａ　ｏ　”’−ｓ　ｎは、セクタのアドレ
ス情報が記録されているアドレス部ｉｏ”−ｉｎとデー
タを記録するデータ部ｃｔ、　、、、　ｄ！Ｌから構成
されている。

Ｍ６図に光磁気ディスク装置の模式構成図を示す。光磁
気ディスク装置は光磁気ディスクを実際に動かすディス
クドライブ装置２とディスクドライブ装置を制御するデ
ィスクドライブコントローラ１で構成されている。

第７図に従来の光磁気ディスク装置の概略構成図を示す
。

同図において、１０はホストインターフェイス、１１は
マイクロプロセッサ、１２はメモリ、１３はバッファ、
１４はセレクタ、１５は制御コントローラ、１６は記録
回路、１７は再生回路、１８はドライツインターフェイ
ス、１９はレーデ駆動回路、２０は波形整形回路、２１
はヘッドアンプ、２２は光学ヘッド、２３はリニアそ一
タ、２４はＡ　Ｔ　（Ａｕｔｏ　Ｔｒａｃｋｋｉｔ＋ｇ
）、Ａ　Ｆ　（Ａｕｔｏ　Ｆｏｃｕｓ）回路、２５はス
ピンドルモータ、２６は該モータ駆動回路、２７はバイ
アス磁界コイル、２８はバイアス磁界北動回路、２９は
光磁気ディスクである。なお、一点鎖線より左側は第６
図におけるディスクドライブコントローラｌ、右側はデ
ィスクドライブ装置２の部分である。

第７図と第８図の７０−チャートを用いて光磁気ディス
ク２９にデータを記録する過程を説明する。

ホストよシホストインターフェイス１０を通じデータ記
録指令、データ記録開始アドレス、記録データｌ［−マ
イクロプロセッサ１１が受は取ると、マイクロプロセッ
サ１１は、これから記録するデータ領域の消去を指令す
る。光磁気ディスク２９は磁気ディスクの様なオーバー
ライドはその構造上不可能であるから、光磁気ディスク
２９にデータを記録する場合、消去過程が必ず必要であ
る。

光磁気ディスク２９の消去は、バイアス磁界コイル２７
で消去バイアス磁界を作シ、光学ヘプト２２を所定の位
置（セクタ）にアクセスし、レーザを消去ノ譬ワーにし
データの消去を行なう（第８図のステップＳｌ）。

消去が終了すると、ホストインターフェイス１０ヨシバ
ツフア１３へ記録するデータが送られ、続いて、記録回
路１６によシ誤シ訂正符号化および変調が行なわれ、レ
ーデ駆動装置１９ｔ−経て、光学ヘッド２２によシ所定
のセクタおよび領域（複数のセクタ）にデータの記録が
行なわれる（ステラｆＳ　２　）。データを記録後、正
確にデータが所定のセクタＳｍ　（０，≦ｍ≦ｎ）に記
録されていることを確認する目的で、記録したデータを
再生し、再生回路１７で誤シ訂正の復号化を行ない、誤
シ訂正が確実に行なわれることを確認する（ステラ７’
８３）。

この、記録データの確認でデータが正確に記録されてい
ない場合、さらに第９図に示すフローチャートの動作を
行なう。すなわち、第９図のステップ８１〜ステツｆｓ
４、ステップ８１〜ステツｆｓ９の処理を行ない、ステ
ップＳ８の規定回数になると、所定のセクタａｍ　（０
≦ｍ≦ｎ）は欠陥セクタと判断され、ステップＳ９の欠
陥セクタ処理を行なう。このような、処理をすることに
よって、ゴミ、キズ等の欠陥の存在によって欠陥セクタ
と〔発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、従来の光磁気ディスク装置においては、
ゴミ、キズ等による欠陥セクタにデータを記録しようと
する場合、第９図で示したフローチャートの様に欠陥セ
クタ処理へ至るまでの時間が長くなり、結果的に情報記
録スピードが低下するという問題点があった。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決し、記録
時等における実質上の転送レートを向上させることにあ
る。

以上のような目的は、光学的情報記録媒体に光を照射し
、情報を再生する光学的情報再生装置において、＃記記
録媒体上の欠陥を記録媒体を経九光束の光量を測定する
ことにより検出する手段を有することを特徴とする光学
的情報再生装置により達成される。

〔作用〕

上記のような光学的情報再生装置によれば、前記記録媒
体を経た光束の光ｊ！Ｌ′を測定することにより、情報
処理をしようとするセクタが、記録媒体上のゴミ、キズ
等による欠陥セクタであると瞬時に判断できるので、欠
陥セクタ処理に移る時間を大幅に短縮できる。

〔実施例〕

以下、本発明に係る光学的情報再生装置について実施例
に基づき詳細に説明する。

本発明は、光学的情報記録媒体（以後、元ディスクと称
す）上のゴミやキズ等による欠陥セクタを元ディスクを
経た光束の光量を測定することによシ検出し、欠陥セク
タの処理を早めることｔ−特徴としているので、再生の
みの光デイスク装置、利用者がその場で記録・再生でき
る元ディスク装置、さらには消去−書き換え可能な元デ
ィスク装置にも適用できるが、以下の記述にあたっては
、書き換え可能な元ディスク装置を例にと）説明する０ 第１図は光磁気ディスク装置に本発明を適用した場合を
示す概略ブロック図である。

同図において、４０は反射光量監視回路であシ、他の部
分は第１図で示した光磁気ディスク装置と前記監視回路
４０の情報の流れを除き、同様である。すなわち、１０
はホストインターフェイス、１１はマイクロプロセッサ
、１２はメモリ、１３はパプコア、１４はセレクタ、１
５は制御コントローラ、１６は記録回路、１７は再生回
路、１８はドライブインターフェイス、１９はレーデ駆
動回路、２０は波形整形回路、２１はヘッドアンプ、２
２は光学ヘッド、２３はリニアモータ、２４はＡ　Ｔ　
（Ａｕｔｏ　Ｔｒａｃｋｋｉｍｇ）Ｊ　Ｆ　（Ａｕｔｏ
　Ｆｏｃｕａ）回路、２５はスピンドルモータ、２６は
該モータ駆動回路、２７はバイアス磁界コイル、２８は
バイアス磁界駆動回路、２９は光磁気ディスクである。

第１図の装置において、情報の記録は、光磁気ディスク
２９へ情報信号によシ変調された高エネルギーの元ビー
ムを照射し、光ビームの熱とバイアス磁界コイル２７か
らの磁界によシ、光磁気ディスク２９の材質の相（磁化
方向）を変化させることによシ行う。また、その記録さ
れた情報の再生は、低エネルギーで連続した元ビームを
照射して、その反射光の位相で、材質の相ｆｔ読み取る
ことによシ行う。

光磁気ディスク２９に正確に情報が記録できない、ある
いは正確に情報が再生できない場合の原因は、 ■ディスク材質自体の欠損 ■ディスク上のゴミやキズの存在 によシ、光磁気ディスク２９の材質の相を変化させるこ
とが不可能であったシ、又は材質の相を読み取ることが
不可能であることによる。

特に、ディスク上にゴミやキズが存在すると、元の散乱
によシ、ディスク材質に十分な熱量が供給されなかった
シ、反射光の位相が検知できなくなったシする結果、情
報の記録あるいは再生が不可能になる。

正確な情報の記録・再生に無視できないほどのキズやゴ
ミが存在すると、光がキズやゴミによって散乱し、反射
光量が大きく変化する。そこで本発明においては、反射
光量を常時、監視しておき、反射光量が通常の状態（記
録又は再生が正確に行なわれている状態）の反射光量の
範囲を外れるときは、ディスク上にゴミ、キズがあると
みなして、すぐに欠陥セクタ処理へ移るようにする。

ここで、通常の状態の反射光量の範囲を外れるとは、具
体的にはどのような場合であるかが問題となる。

第２図は反射光量監視回路４０の構成の一例を示す概略
図である。

同図において、５０ａ、５０ｂはそれぞれ記録ピットか
らの’＋を受ける光ディテクタ、５１ａ、５１ｂはそれ
ぞれ電流・電圧変換素子、５２は加算器、５３は比較器
である。光ディテクタ５Ｑａ、５０ｂはＡＦ用、ＡＴ用
のディテクタの両方から記録媒体上のゴミ、キズを検知
してもよい。

そのような場合の一例として、ＡＦ用のディテクタを本
発明に併用することを考える。

第３図（ａ）、伽）、（Ｃ）はそれぞれ元ディテクタに
非対称にナイフェツジを配置してＡＦ検出を行う構成を
示し九ものである。

同図において、５０ａ、５０ｈはそれぞれう１デイテク
タ、７０は光源、７１はビームスプリッタ−１７２は元
ディテクタ５０ｍの前に置れたナイフェツジ、７３は焦
点を調節する絞シ込みレンズ、７４はディスク面、７５
は焦点位置、７６はディスク面上の無視できないゴミや
キズである。

第３図（ａ）の場合は元ディスク面７４が、焦点位［７
５よシ近い場合（焦点誤差６　Ｆ　（０）で１り、元デ
ィテクタ５０ａは元を受光せず、光ディテクタ５０ｂの
みが元を受ける。また、第３図体）の場合は光デイスク
面７４が焦点位置７５よシ遠い場合（焦点誤差”Ｆ＞Ｏ
）であシ、光ディテクタ５０ａは光を受光し、元ディテ
クタ５０ｂは光を受けない。この元ディテクタの出力と
焦点誤差をそれぞれ縦軸、横軸にとシ表わしたものが第
４図に示すグラフの実線８０である。

ここで、ディスク面７４に無視できないコ９ミ、キズが
あるとき、すなわち第３図（ｅ）の場合は、ゴミ、キズ
によシ元が拡散されてしまうので、光ディテクタ５０ｍ
、５０ｂの出力は共に低下し、焦点誤差’ａＦによって
は元ディテクタ５０ｍ、５０ｂの出力はほとんど変化し
なくなる。これを示したのが第４図の破線８１である。

従って、この状態を所定の検出回路で検出してやれば、
ゴミ、キズ等の検出ができることになる。検出の最も簡
単な例として、元ディテクタ５０ａ、５０ｂの出力を合
計し、その値と通常の状態のレベル値とを比較する方法
が考えられる。第２図の加算器５２、比較器５３はその
ような処理をするためのものである。

次に、上記のような反射光量監視回路４０を組み込んだ
光磁気ディスク装置の動作について第１図及び第２図を
参照しながら説明する。

所定のセクタのデータ領域を消去中、反射光量監視回路
４０が光磁気ディスク２９からの反射光量を監視する。

反射光量は元ディテクタ５０ａ、５０ｂで電気信号にな
フ、重犯・電圧変換素子５１゜で電圧信号に変換され、
加算器５２で反射光の総和が電圧レベルに変換される。

加算器５２の出力がある所定の範囲を超えると、比較器
５３によシトライブインターフェイス１８ｉ通じ、ディ
スクコントローラ６制御コントローラ１５、あるいはマ
イクロプロセッサ１１に割シ込みがかかる。反射光量監
視回路４０からの割シ込みが入ると、マイクロプロセッ
サ１１あるいは制御コントローラ１５は消去中のセクタ
を欠陥セクタと認知する。

データ領域の消去が終了し、データを記録する際、消去
中、欠陥セクタと認知されたセクタには記録は行なわず
、ただちに欠陥セクタ処理を行なう。従って、従来例の
様に第９図のフローチャートにおけるステップ８１−ス
テップＳ４、ステップ８１〜ステツｆＳ８のルーチンを
経ずに、欠陥セクタ処理を行うことが可能になシ、実質
上の記録速度が向上する。

前記の実施例では、消去可能な元ディスク装置として光
磁気ディスク装置について説明したが、その他の消去可
能な光デイスク装置、例えば相転移方式の元ディスク装
置も同様な構成でディスク上のゴミ、キズ等の検知が可
能である。

〔発明の効果〕

以上、説明したように、元ディスク上のゴミやキズ等に
よる欠陥セクタを元ディスクを経た光束の光量を測定す
ることによシ検出し、種々の欠陥セクタ処理を早めるこ
とができる。

つまシ、再生のみの元ディスク装置においては、誤シ訂
正処理比較等を行なわず、すぐに欠陥セクタ処理に移る
ことができ、また、書き換え可能な光デイスク装置にお
いては、反射ｆ、量がある範囲を超えると、消去中のセ
クタを欠陥セクタと認知することで迅速に欠陥セクタ処
理に移ることができ、実質上の情報再生または記録スピ
ードが向上することができ良。

また、杏き換え可能な光デイスク装置においては、消去
中の反射光量を測定するので、レーザーパワーが一定で
あるため反射光量監視回路構成が単純になる利点もある
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る光磁気ディスク装置を示す概略ブ
ロック図である。 第２図は反射光量監視回路の構成の一例を示す概略図で
ある。 第３図（ａ）、伽）、（ｅ）はそれぞれ元ディテクタの
前に非対称にナイフェツジを配置してＡＦ検出を行う場
合を示した図であシ、第４図は元ディテクタ出力と焦点
誤差の関係を示すグラフである。 第５図は光磁気ディスクの概略図、第６図は光磁気ディ
スク装置の模式構成図、第７図は従来の光磁気ディスク
装置を示す概略ブロック図、第８図、第９図はそれぞれ
データ処理のフローチャートである。 ４０・・・反射光量監視回路、５０ｍ　、５０ｂ・・・
元ディテクタ。

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. （１）光学的情報記録媒体に光を照射し、情報を再生す
   る光学的情報再生装置において、前記記録媒体上の欠陥
   を記録媒体を経た光束の光量を測定することにより検出
   する手段を有することを特徴とする光学的情報再生装置
   。
2. （２）前記記録媒体に情報が記録できる特許請求の範囲
   第（１）項記載の光学的情報再生装置。
3. （３）前記記録媒体の情報を書き換えることのできる特
   許請求の範囲第（１）項記載の光学的情報再生装置。
4. （４）前記記録媒体を経た光束が、記録媒体からの反射
   光または透過光である特許請求の範囲第（１）項記載の
   光学的情報再生装置。
5. （５）前記記録媒体の所定のセクタを消去中、前記記録
   媒体からの反射光量を測定し、測定された反射光量があ
   らかじめ決められている範囲を超えた場合、当該セクタ
   を欠陥セクタと認識する手段を有する特許請求の範囲第
   （３）項記載の光学的情報再生装置。