JPH10222877A - 光ディスク及びこの欠陥検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 欠陥の検査を高い精度で、迅速に且つ短時間
で行なうことができる光ディスクの欠陥検査方法を提供
する。 【解決手段】 ディスク半径方向にわたり交互に形成さ
れたランド３及びグルーブ４とからなり、光学的に情報
の記録再生が可能な記録フィールドと、各記録フィール
ド間にあって隣接するランド及びグルーブ間をまたぐ位
置に設けたヘッダとを備えた光ディスク１の欠陥検査方
法において、前記ランド及びグルーブのいずれか一方に
検査用信号を記録するステップと、前記検査用信号を記
録したトラックのヘッダと記録フィールドを再生して前
記光ディスクの欠陥を検査するステップとを有するよう
に構成する。これにより、短時間で且つ高い精度で光デ
ィスクの欠陥検査を行なう。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光学的に情報の記
録、再生が可能なランドグルーブ方式の光ディスク及び
この欠陥検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、光ディスクの記録容量を増やす
ためには、記録密度の向上が図られ、これまでのランド
のみの記録、或いはグルーブのみの記録に対し、ランド
とグルーブの両方にデータを記録する方式が提案されて
いる。しかし、この記録方式においては、ヘッダを如何
にしてディスク上に形成するかが大きな課題であった。
この解決法として、例えば１９９５年電子情報通信学会
総合大会Ｃ−２８７の［ランド・グルーブ記録用光ディ
スクにおけるアドレスの検討］には、ヘッダを隣接する
ランドとグルーブの中間にまたがらせるようにして設け
る方法が提案されている。

【０００３】通常、光ディスクは、製造工程でエンボス
ピットで形成されたヘッダマークの成形不良が生じた
り、ディスク面に異物が付着したりして情報の欠如や誤
情報が発生する場合がある。そのため、光ディスクに情
報を記録する前にディスクの全面にわたり、欠陥検査が
行なわれる。検査は、ヘッダとこれに続く記録フィール
ドに大別されて行なわれる。そして、光ディスクを出荷
する前に欠陥箇所、すなわち欠陥セクタを検出し、その
セクタを使用しないための欠陥管理処理（ディフェクト
マネジメント）を行なう。具体的にはこの欠陥管理処理
は、ＰＤＩ（一次欠陥管理表）を光ディスクに登録する
ことにより行なわれ、そして、使用時に光ディスク記録
装置はその欠陥セクタをスキップして記録を行うことに
なる。このような欠陥処理を行うためには、全セクタの
記録フィールドにわたり検査信号を記録して、その後に
セクタの先頭に位置するヘッダ信号とこれに続く記録フ
ィールドの記録状態を再生してエラーを検出していた。

【０００４】ところが、光ディスクを使用するときの所
定の線速度で記録並びに再生を行うと、欠陥検査に長時
間を費やすという課題があった。とりわけ、記録密度を
上げるためにランドとグルーブの双方のトラックに記録
を行なうようにしたランド・グルーブ記録方式の光ディ
スクでは、これまで以上に検査時間がかかってしまうと
いう問題があった。そこで、検査時間の短縮を図るため
に、特開昭６２−３４４６号公報には、トラックを非連
続的にサンプリングする方法が記載されている。この方
法においては、所定のセクタ位置から複数のセクタ分の
データをサンプリングし、その後、半径方向に少数のト
ラック分だけジャンプし、ジャンプ先において最初に光
ビームが照射されるセクタから所定数のセクタのサンプ
リングを行うことを１回転中に複数度繰り返すことによ
り、光ディスクの記録フィールドの欠陥を短時間に検査
するものである。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た検査方法にあっては、次のような問題点が依然として
存在した。 （１）セクタを非連続的にサンプリングするため、全面
にわたってヘッダを検査する事ができない。 （２）ディスクの１回転中にサンプリングとジャンプを
複数回繰り返すので、未検査のセクタが多くなり、その
結果、記録フィールドの欠陥検査の精度が低くなってし
まう。 （３）記録フィールドのみの欠陥検査であり、ヘッダの
検査を行なうことができない。 本発明は、以上のような問題点に着目し、これを有効に
解決すべく創案されたものであり、その目的は、欠陥の
検査を高い精度で、迅速に且つ短時間で行なうことがで
きる光ディスク及びその欠陥検査方法を提供することに
ある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するために、ディスクの半径方向にわたり交互に形
成されたランド及びグルーブとからなり、光学的に情報
の記録再生が可能な記録フィールドと、各記録フィール
ド間にあって隣接する前記ランド及びグルーブ間をまた
ぐ位置に設けたヘッダとを備えた光ディスクにおいて、
前記ランド及びグルーブのいずれか一方に検査用信号を
記録するようにしたものである。

【０００７】上記光ディスクを検査する場合には、上述
のようにまず、ランドかグルーブのいずれか一方のトラ
ックにのみ、検査用信号を記録する。次に、この検査用
信号を記録したトラックのヘッダとこれに続く記録フィ
ールドを再生し、その再生信号にエラーが含まれるか否
かをチェックする。通常、エラーの主たる原因となるゴ
ミ等は、トラック幅よりも数倍も大きいので、１周分の
トラックを検査した時にエラーが存在しなければ、それ
に隣接するトラックもエラーが存在しないものと類推す
ることができる。従って、再生用信号が記録されたグル
ーブのトラック或いはランドのトラック全体を検査して
エラーがなければ、それに隣接するランド或いはグルー
ブにもエラーが存在しないものと類推することができ
る。従って、光ディスクの欠陥検査を従来方法と比較し
て、高精度に且つ短時間で、迅速に行なうことが可能と
なる。

【０００８】

【発明の実施の形態】以下に、本発明に係る光ディスク
及びこの欠陥検査方法の一実施例について添付図面を参
照して詳述する。図１は本発明に係る光ディスクを示す
模式図、図２は図１中の破線で囲まれたヘッダの近傍を
示す拡大模式図、図３は図１に示す光ディスクの部分拡
大断面図である。図示するようにこの光ディスク１の基
板２には、記録用のトラックＴが螺旋状、或いは同心円
状に形成されている。図１においては同心円状に形成し
たトラックＴが示される。この基板２には、読み出し
用、或いは書き込み用のレーザ光Ｌが入射する入射面か
ら見て図３に示すように凹部状のランド３と凸部状のグ
ルーブ４がディスク半径方向に沿って交互に形成されて
おり、ディスク全面では、例えば螺旋状に形成される。
この螺旋の方向は時計回り方向でもよいし、反時計回り
方向でもよい。

【０００９】また、ランド、グルーブを螺旋状に形成す
る代わりに、ランドとグルーブを１周毎に交互に切り替
えて形成するようにしてもよい。そして、これらのラン
ド３とグルーブ４の上面がそれぞれトラックＴとして構
成され、両方に情報を記録できるようになっている。
尚、ランド３とグルーブ４を交互に切り替えて形成する
ようにしてもよいが、この場合にはランドからグルーブ
への切り替えは、任意のタイミング設定でき、例えばセ
クタ毎か１回転毎に切り替えるのが好ましい。これらの
トラックＴはディスクの周方向に沿って複数のセクタＳ
に分割される。このセクタＳは、例えばＣＡＶ（consta
nt angular velocity ：角速度一定）やＣＬＶ（consta
nt linear velocity：線速度一定）あるいはＺＣＡＶ
（zone constant angular velocity ）やＺＣＬＶ（zon
e constant linear velocity）のフォーマットで形成さ
れる。

【００１０】図１のセクタＳは、角速度一定の場合を示
す。これらのセクタＳは、ヘッダＨとこれに続く記録フ
ィールドＦからなり、ヘッダＨは予め基板上に凹凸マー
クとして形成されたエンボスデータ５から構成され、セ
クタナンバーとトラックナンバーの物理的な番地を表す
ＩＤ（識別子）等が複数個含まれている。図２に示すよ
うにヘッダＨのエンボスデータ５は、隣接する一対のラ
ンド３とグルーブ４の間にまたがって位置し、１個のヘ
ッダＨを隣接する一対のランド３とグルーブ４で共用す
るようになっている。レーザ光のスポットは、ヘッダＨ
の中心を走査しないが、レーザ光のスポットがランド３
を走査しようと、グルーブ４を走査しようと常にヘッダ
Ｈのデータを読みとることができる。記録フィールドＦ
はヘッダＨの後方（レーザ光のスポットが走査する方向
の後方）に設け、ランド３とグルーブ４の両方のトラッ
ク上に配置される。この基板上に、相変化型あるいは光
磁気型の記録膜を形成し、光ディスクを製造する。

【００１１】図４は光ディスクの欠陥検査装置を示す概
略構成図である。図示するように、６は光ディスク１を
所定の速度で回転させる駆動モータである。７は検査用
信号を発生する信号発生器であり、この出力は記録部８
へ入力される。記録部８は、駆動モータ６の回転を制御
しつつ光ピックアップ部９のコントロールを行なって光
ディスク１に検査用信号を記録するようになっている。
一方、再生部１０は、上記駆動モータの回転を制御しつ
つ光ピックアップ部９のコントロールを行なって光ディ
スク１に記録されていた検査用信号を読み出すものであ
る。評価部１１は、上記読み出し信号を評価し、これに
エラーが含まれるか否かを検討するものである。

【００１２】次に、以上のように構成した欠陥検査装置
を用いて行なわれる本発明方法について説明する。ま
ず、駆動モータ６に、この光ディスク１を装着し、欠陥
検査用の信号をランド３か或いはグルーブ４のどちらか
片方のトラックＴの記録フィールドＦに記録する。検査
用信号は信号発生器７にて発生され、これを記録部８に
より光ピックアップ部９を介して光ディスク１に記録す
る。連続的にグルーブ４が形成されている場合は、グル
ーブ４にトラッキングをかけたまま光ディスクの全面に
わたり検査用信号を記録する。または、ランド３にトラ
ッキングをかけたまま光ディスクの全面にわたり検査用
信号を記録してもよい。このようにグルーブ４やランド
３が連続されている場合には、トラックＴをジャンプす
る必要がなく、従って、ランド３とグルーブ４の両方の
トラックに記録を行う場合に比べ、おおよそ１／２の時
間で検査用信号の記録を行うことができる。

【００１３】再生も記録の時と同様にして行なう。すな
わち、グルーブ４のトラックＴに記録した場合には、記
録したグルーブ４にトラッキングをかけたまま光ディス
ク全面にわたり検査用信号を再生する。または、ランド
３のトラックＴに記録した場合には記録したランド３に
トラッキングをかけたまま光ディスク全面にわたり検査
用信号を再生する。この再生は再生部１０が光ピックア
ップ部を制御することにより行ない、再生信号は評価乃
至判別のために評価部１１に送られる。欠陥セクタの判
別は、評価部１１において次のような評価をすることに
よって行なう。例えば、ヘッダに関しては、再生チャネ
ルで再生するヘッダＨの中の複数個のＩＤフィールドの
うち、少なくとも１つは、ＣＲＣ（Ｃｙｃｌｉｃ Ｒｅ
ｄｕｎｄａｃｙ Ｃｈｅｃｋ：巡回冗長検査）によって
検出されるバイト誤りがあってはならない。また、記録
フィールドＦも再生チャネルで再生し、訂正不可能なバ
イト誤りが規定の数以上あってはならない。尚、この判
別方法は、従来周知のものである。

【００１４】このようにグルーブ４が連続している場
合、またはランド３が連続している場合には、トラック
を例えば１回転毎にジャンプする必要がなく、従ってラ
ンド３とグルーブ４の両方のトラックを再生する場合に
比べ、おおよそ１／２の時間で再生を行うことができ
る。ここで再生用信号を記録していないグルーブ或いは
ランドは検査しないことになるが、光ディスク製造時に
付着する、傷やごみの大きさは、数ミクロンから数十ミ
クロンの大きさであるため、傷やごみが存在する場合に
はこれが複数のトラックにまたがって存在することにな
り、従って、半径方向の幅が１ミクロン以下のトラック
を１トラック分ジャンプしても、記録フィールドの欠陥
を十分に検出できる。すなわち、特定のグルーブ或いは
ランドのエラーがないと判断された時には、それに隣接
するランド或いはグルーブもエラーがないと類推するこ
とができるのである。

【００１５】また、ヘッダＨについては、１トラックジ
ャンプを行っても、前述のようにエンボスデータ５は隣
接するトラック間に跨ぐように設けられているので、全
部のヘッダを再生することになり、欠陥検査の精度は高
く保たれることになる。また、上記のランド及びグルー
ブ構成と異なり、ランド３とグルーブ４が１回転毎に特
定のセクタで交互に切り替わり螺旋状に形成されている
場合には、グルーブ４だけを１回転分記録し、隣のラン
ドのトラックには記録せずに飛び越え、最隣接のグルー
ブ４にジャンプして１回転分の記録を行う。この動作を
繰り返し、内周から外周にわたり光ディスクの全面に亘
ってを記録する。ランドについてもグルーブと同様にし
て、ランド３だけを１回転分記録し、隣のグルーブのト
ラックには記録せずに飛び越え、最隣接のランド３にジ
ャンプして１回転分の記録を行う。この動作を繰り返
し、内周から外周にわたり光ディスクの全面に亘って記
録する。

【００１６】また、このようにランド３とグルーブ４が
１回転毎に特定のセクタで交互に切り替わり螺旋状に形
成されている時には、検査用信号の再生時にはグルーブ
４だけを１回転分再生し、隣のランドのトラックは再生
せずに飛び越え、最隣接のグルーブ４にジャンプして１
回転分の再生を行う。この動作を繰り返し、内周から外
周にわたり光ディスクの全面に亘って再生する。ランド
についてもグルーブと同様にして、ランド３だけを１回
転分再生し、隣のグルーブのトラックは再生せずに飛び
越え、最隣接のランドにジャンプして１回転分の再生を
行う。この動作を繰り返し、内周から外周にわたり光デ
ィスクの全面に亘って再生する。

【００１７】この場合にも、前述した連続グルーブの場
合と同様に、ランドとグルーブの両方のトラックの欠陥
を検査するのに比べ、短時間に精度を高く保ったまま光
ディスクの欠陥検査行うことができる。

【００１８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ディス
ク及びこの欠陥検査方法によれば、次のように優れた作
用効果を発揮することができる。隣接するグルーブとラ
ンドにまたがってヘッダが形成された光ディスクの欠陥
検査を行なうに際して、グルーブのトラックのみ、或い
はランドのトラックのみに検査用信号を記録し、これを
再生して評価するようにしたので、短時間に欠陥検査行
うことができ、従って、製造効率が向上するのみなら
ず、製造コストも低減させることができる。また、１回
転中にサンプリングとジャンプを行う従来方法と比べ、
未検査のセクタ数が少なく抑えられ、記録フィールドの
欠陥検査の精度を高くすることができる。更に、ディス
ク全面に亘ってヘッダの検査を行なうことができるのみ
ならず、ヘッダと記録フィールドの両方の欠陥を検査す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ディスクを示す模式図である。

【図２】図１中の破線で囲まれたヘッダの近傍を示す拡
大模式図である。

【図３】図１に示す光ディスクの部分拡大断面図であ
る。

【図４】光ディスクの欠陥検査装置を示す概略構成図で
ある。

【符号の説明】

１…光ディスク、２…基板、３…ランド、４…グルー
ブ、５…エンボスデータ、７…信号発生器、８…記録
部、９…光ピックアップ部、１０…再生部、１１…評価
部、Ｆ…記録フィールド、Ｈ…ヘッダ、Ｓ…セクタ、Ｔ
…トラック。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ディスクの半径方向にわたり交互に形成
   されたランド及びグルーブとからなり、光学的に情報の
   記録再生が可能な記録フィールドと、各記録フィールド
   間にあって隣接する前記ランド及びグルーブ間をまたぐ
   位置に設けたヘッダとを備えた光ディスクにおいて、前
   記ランド及びグルーブのいずれか一方に検査用信号を記
   録した光ディスク。
2. 【請求項２】 ディスク半径方向にわたり交互に形成さ
   れたランド及びグルーブとからなり、光学的に情報の記
   録再生が可能な記録フィールドと、各記録フィールド間
   にあって隣接するランド及びグルーブ間をまたぐ位置に
   設けたヘッダとを備えた光ディスクの欠陥検査方法にお
   いて、前記ランド及びグルーブのいずれか一方に検査用
   信号を記録するステップと、前記検査用信号を記録した
   トラックのヘッダと記録フィールドを再生して前記光デ
   ィスクの欠陥を検査するステップとを有することを特徴
   とする光ディスクの欠陥検査方法。