JPH06349224A

JPH06349224A - 光磁気ディスクの検査装置、検査システム及び検査方法

Info

Publication number: JPH06349224A
Application number: JP13764993A
Authority: JP
Inventors: Mitsuo Hoshi; 光男星; Kiyoyuki Kikuchi; 清幸菊地
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1993-06-08
Filing date: 1993-06-08
Publication date: 1994-12-22

Abstract

(57)【要約】【構成】システムコントローラ２で発生された検査用
ダミーデータがエンコーダ／デコーダ３、ヘッド駆動回
路１０、磁気ヘッド１１を介して光磁気ディスク９に記
録される。光学ピックアップ７で読み出された記録デー
タは、ＲＦマトリックスアンプ１２を介してデモジュレ
ータ１３及びＲＦアンプ１９に送られる。パリティ／ア
ドレス検出及び計数回路１６によりカウントされる上記
デモジュレータ１３、エンコーダ／デコーダ３を介した
サーボ信号及びアドレス信号のエラー数と、基準信号発
生器２１からの基準信号に基づいて、幅検出器２２によ
り検出される上記ＲＦアンプ１９、コンパレータ２０を
介したＲＦ信号の落ち込みの幅とは、ＣＰＵ１４を介し
てインターフェイス１５からホストコンピュータに送信
される。【効果】光磁気ディスクに実際にデータを記録するこ
とにより発生するようなエラーを内在する欠陥まで検出
することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスク上の欠
陥等を検査する光磁気ディスクの検査装置、光磁気ディ
スクの検査システム及び光磁気ディスクの検査方法に関
する。

【０００２】

【従来の技術】例えば３．５インチや５インチ等の光磁
気ディスク（いわゆるＭＯディスク）を用いてデータの
記録、再生を行う光磁気記録再生装置が知られている。
このような光磁気記録再生装置に用いられる光磁気ディ
スクを製造して出荷する前段階の検査工程においては、
上記光磁気ディスクに対してデータの記録は行わずに、
再生レベルの光ビームを上記光磁気ディスクに供給し、
上記光磁気ディスクからの戻り光を、光ヘッドの光検出
器によって受光してＲＦ信号のレベルを観測することが
一般に行われている。

【０００３】すなわち、このような検査工程において、
上記戻り光のＲＦ信号が変化するか否かを検出すること
により、上記光磁気ディスク上に欠陥（ディフェクト）
やゴミの付着等が存在するか否かを検出している。また
上記欠陥等の検出と同時に、フォーカシングエラー信号
及びトラッキングエラー信号の各々の信号レベルを検出
し、上記検出の結果に基づいて、予め形成された案内溝
であるいわゆるプリグルーブの形状及び上記光磁気ディ
スクの反り等の検査を行っている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した光
磁気ディスクの検査方法によれば、上記光磁気ディスク
に対して実際にデータの記録を行っていないので、実際
に記録することにより発生するようなエラーを内在する
欠陥まで検出するような検査は困難である。

【０００５】ここで、光磁気ディスクを使用する際のデ
ータ記録時には、データを上記光磁気ディスク上に記録
した後に、すぐにその記録データを読み出して、正しく
記録できたか否かを判定（いわゆるベリファイ）する。
このとき、上記光磁気ディスク上のセクタ内に多数の欠
陥等が存在してデータの再生を行うことができないよう
な欠陥セクタがあれば、該欠陥セクタに記録されるべき
データを他のセクタ、すなわちいわゆる交代セクタに記
録する交代セクタ処理を行うことができる。この交代セ
クタはディスク毎に予め登録されており、このような交
代セクタ処理により、上記欠陥セクタによる不具合はあ
る程度回避することができる。

【０００６】これに対して、音楽情報等のデータを連続
的に記録するような光磁気ディスクの場合には、上述の
ような交代セクタ処理を行うことが困難であり、できた
としても記録可能容量（いわゆる録音時間）が減って、
例えば７４分録音用ディスクとして市販されているにも
かかわらずこれよりも少ない時間しか録音できず、ユー
ザに迷惑を及ぼすことになる。このため、上記連続デー
タ記録用の光磁気ディスクの検査時には、光磁気ディス
ク上の記録可能領域内に実際にデータを記録して検査を
行うことが必要とされる。

【０００７】さらに、近年において、例えば直径６４mm
の光磁気ディスクにディジタルオーディオ信号を圧縮処
理して記録するようないわゆるＭＤ（ミニディスク）が
提案され、市場に供給されてきているが、このような民
生オーディオ機器用の光磁気ディスクは、コンピュータ
データ記録専用の光磁気ディスクに比べて、需要量が膨
大なものとなることが考えられ、大量生産によるコスト
ダウンが普及率を飛躍的に増大させる上で極めて重要で
ある。従って、従来のコンピュータデータ記録専用の光
磁気ディスク等のように、１枚ずつ人間の手作業により
検査を行っているのでは、手間がかかってコストアップ
の原因となるため、同時に複数枚の光磁気ディスクを自
動的に検査できるような自動検査方法や装置、あるいは
システムが強く望まれているのが現状である。

【０００８】そこで、本発明は上述の実情に鑑み、光磁
気ディスクの記録可能領域にデータを記録して自動的に
検査を行えるような光磁気ディスクの検査装置、検査シ
ステム及び検査方法を提供することを目的とするもので
ある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光磁気ディ
スクの検査装置は、プリグルーブをディスクの径方向に
蛇行させることによってアドレスデータが記録された光
磁気ディスクに光ビームを照射する光ヘッドと、光磁気
ディスクを挟んで上記光ヘッドと相対向する位置に配さ
れて、検査のためのデータに基づいて変調された外部磁
界を印加する磁気ヘッドとを有するディスク記録再生部
と、上記光ヘッド及び上記磁気ヘッドにより光磁気ディ
スクに記録された検査用データを上記光ヘッドにより読
み取った信号のデコードを行うと共に、光磁気ディスク
のアドレスデータをデコードするデコーダと、上記デコ
ーダからの出力よりエラーフラグを検出し、上記エラー
フラグの数をカウントする検出手段と、上記検出手段か
らの出力信号と上記ディスク記録再生部の動作を制御す
る制御部と、上記検出手段からの出力を外部に出力する
と共に、外部からのコマンドを上記制御部に供給するイ
ンターフェイスとを備えて成ることにより上述した課題
を解決する。

【００１０】ここで、上記光磁気ディスクの検査装置に
は、検査用データを発生するデータ発生部を設けること
が好ましい。

【００１１】本発明に係る光磁気ディスクの検査システ
ムは、ディスク記録再生部により光磁気ディスクに検査
用データを連続的に記録し、この検査用データの記録が
終了した後に上記ディスク記録再生部により読み取った
信号をデコードしてこのデコーダからの出力よりエラー
フラグを検出し、上記エラーフラグの数をカウントする
複数台の光磁気ディスクの検査装置と、上記光磁気ディ
スクの検査装置からの出力を受信して表示するホストコ
ンピュータとを備え、上記複数台の光磁気ディスクの検
査装置は直列に接続されることを特徴とする。

【００１２】本発明に係る光磁気ディスクの検査方法
は、光ヘッドから記録に必要なレベルの光ビームを照射
した状態で、磁気ヘッドにより検査用データに基づいて
変調された外部磁界を印加して光磁気ディスクに検査用
データを連続的に記録し、上記検査用データの記録が終
了した後に、上記光ヘッドから再生に必要なレベルの光
ビームを照射し、光磁気ディスクからの反射光を上記光
ヘッドの光検出器で受光し、上記光検出器からの検出出
力に基づいて光磁気ディスクの検査を行う光磁気ディス
クの検査方法において、上記磁気ヘッドに供給する駆動
電流を記録時の正規の駆動電流よりも小さくすることを
特徴とする。

【００１３】

【作用】上記光磁気ディスクに対して検査用データを自
動的に記録し、再生された検査用データのエラーの状態
を自動的に測定することにより、光磁気ディスク上の欠
陥を精確に検出することができ、検査の自動化が達成で
きる。

【００１４】

【実施例】以下、本発明の好ましい実施例について、図
面を参照しながら説明する。図１は、本発明に係る光磁
気ディスクの検査装置の一実施例の概略的な構成を示す
ブロック図である。この実施例においては、いわゆるＭ
Ｄ（ミニディスク）に対して記録再生を行うＭＤ記録再
生装置をベースとして構成した光磁気ディスクの検査装
置を想定している。従って、光磁気ディスク（ＭＤ）９
の記録可能領域には、ディスク径方向に一定周期で蛇行
（ウォブル）されることでクラスタアドレス及びセクタ
アドレス情報が記録されたプリグルーブと呼ばれる溝が
予め形成されている。このアドレス情報はＡＤＩＰ（AD
dress In Pregroove）信号と呼ばれ、このＡＤＩＰ信号
はトラッキング動作やスピンドルサーボの制御、及びデ
ータ記録再生時のアクセス動作の制御等に用いられる。

【００１５】この図１において、ホストコンピュータよ
りインターフェース１５やＣＰＵ１４を介して光磁気デ
ィスクの自動検査を行わせるための検査命令がシステム
コントローラ２に送られる。このシステムコントローラ
２内の図示しないデータジェネレータにより光磁気ディ
スクの検査用ダミーデータが発生され、エンコーダ／デ
コーダ３に送られる。上記エンコーダ／デコーダ３で
は、検査用ダミーデータにエラー訂正用符号であるＣ
₁ 、Ｃ₂ パリティが付加され、さらに変調されて、ヘッ
ド駆動回路１０に供給される。

【００１６】また、上記システムコントローラ２からは
サーボ信号処理回路４に対して各々のサーボ系を駆動す
る命令が送られる。これによって上記サーボ信号処理回
路４は、スピンドルモータ５、送りモータ６、光学ピッ
クアップヘッド７を、それぞれサーボ駆動制御する。す
なわち、上記スピンドルモータ５が駆動されて光磁気デ
ィスク９が回転され、また、上記送りモータ６が駆動さ
れて上記光学ピックアップヘッド７のトラッキングサー
ボ動作等が行われ、さらに、上記光学ピックアップヘッ
ド７により対物レンズ８のフォーカスサーボ動作が行わ
れて、上記光磁気ディスク９上の記録可能領域内の所望
の位置へ移動制御される。

【００１７】磁気ヘッド１１は、上記ヘッド駆動回路１
０により上記光磁気ディスク９を挟んで上記光学ピック
アップ７の対向位置に移動される。上記ヘッド駆動回路
１０には、磁界変調電流制御回路１７で制御されたデー
タの記録及び再生に必要な最小電流が供給されることに
より、上記磁気ヘッド１１の磁界が変調される。

【００１８】上記所望の位置へ移動制御された光ピック
アップヘッド７からの光ビームを、上記対物レンズ８を
介して上記光磁気ディスク９に照射し、光磁気記録媒体
膜をキュリー温度以上に加熱して磁化を消失させる。こ
のとき、記録したいデータの‘１’又は‘０’に対応し
て上記磁気ヘッド１１に流す電流の方向を反転すること
で磁界が発生し、上記磁界が発生した部分の温度がキュ
リー温度以下になった時に上記磁界が記録されることに
より、検査用ダミーデータが記録される。データの記録
再生時に上記光ピックアップヘッド７から出力される光
ビームの強さは、レーザパワー制御回路１８により、デ
ータの記録及び再生に必要な最低のレベルに調節され
る。上記磁界変調電流制御回路１７及びレーザパワー制
御回路１８により上記磁気ヘッド１１及び上記光学ピッ
クアップヘッド７からの出力を最小限に抑えることによ
り、検査用ダミーデータを連続して上記光磁気ディスク
９に記録することができる。

【００１９】すなわち、通常のいわゆるＭＤ（ミニディ
スク）の記録再生時には、一般の記録再生レートの約５
倍の記録再生が可能なディスク回転速度で、５回の記録
再生が可能なタイミングの内の１回の割合の間引きを行
って実際の記録や再生を行っているが、上記検査用ダミ
ーデータの記録再生時には、このような間引きを行わ
ず、上記約５倍のレートでそのまま連続的に記録や再生
を行うことで、検査工程の所要時間の短縮化（例えば記
録あるいは再生に要する時間が１７〜１８分）を図って
いる。このような高速の連続記録や再生を行わせること
を考慮して、上記光学ピックアップヘッド７からのレー
ザパワーを、上記レーザパワー制御回路１８により記録
再生に必要な最低レベルとし、ディスク寿命の低下を防
いでいる。また、上記磁界変調電流制御回路１７によ
り、上記磁気ヘッド１１を正規の記録時の記録電流より
も低い（例えば９０％程度の）電流値で駆動している。
さらにこれらの磁界変調電流制御及びレーザパワー制御
は、後述するように複数の光磁気ディスク検査装置を用
いる場合の各装置間のばらつきを調整する上でも有用で
ある。

【００２０】上述のような記録操作により、上記光磁気
ディスク９上に連続して記録された検査用ダミーデータ
を再生するときには、上記光学ピックアップヘッド７に
より上記光磁気ディスク９上の磁化方向の変化によって
生じる光の偏光面方向の変化が信号として読み出ださ
れ、ＲＦマトリックスアンプ１２に送られる。

【００２１】上記ＲＦマトリックスアンプ１２では、光
ビームの正確な制御に必要なフォーカスエラー信号及び
トラッキングエラー信号等のサーボ信号、データ再生用
のＲＦ信号等を、上記読み出された信号から生成し、Ａ
ＤＩＰデモジュレータ１３には上記プリグルーブの蛇行
に基づくＡＤＩＰ信号を送り、上記エンコーダ／デコー
ダ３及びＲＦアンプ１９には上記ＲＦ信号を送り、サー
ボ信号処理回路４には上記サーボ信号を送る。

【００２２】上記ＡＤＩＰデモジュレータ１３では上記
ＡＤＩＰ信号を復調し、アドレス情報や上記スピンドル
モータ５の回転制御用サーボ信号及びトラッキングサー
ボ信号を取り出して上記エンコーダ／デコーダ３に供給
する。上記エンコーダ／デコーダ３では、上記ＲＦ信号
が復調され、Ｃ₁ パリティによる２重訂正及びＣ₂ パリ
ティによる訂正が行われる。上記エラー訂正された信号
は、パリティ／アドレス検出及び計数回路１６に送ら
れ、上記エラー訂正により訂正できなかったＣ₁、Ｃ₂
エラー及び上記ＡＤＩＰ信号内のＡＤＩＰエラーの個数
が検出された後、それぞれのエラー数の合計が算出され
る。

【００２３】また、上記ＲＦアンプ１９では、ＲＦ信号
を増幅してコンパレータ２０に供給する。上記コンパレ
ータ２０では上記ＲＦ信号は２値化され、幅検出回路２
２に供給される。上記光磁気ディスク９上に欠陥が存在
するときには上記ＲＦ信号は落ち込むので、上記幅検出
回路２２では、基準信号発振器２１から発振される基準
クロック信号に基づいて上記２値化されたＲＦ信号の落
ち込みの幅を検出することにより、上記光磁気ディスク
９上の欠陥を検出することができる。このように、訂正
エラー信号ではなく生のＲＦ信号を観察することによ
り、媒体である光磁気ディスクの状態を知ることができ
る。

【００２４】上記検出されたＣ₁ エラー、Ｃ₂ エラー、
ＡＤＩＰエラー、及び欠陥信号はＣＰＵ（中央演算装
置）１４に送られ、このＣＰＵ１４からインターフェイ
ス１５を介してホストコンピュータへ送信されて表示さ
れる。

【００２５】この場合の測定項目としては、Ｃ₁ エラー
（２重訂正エラー）個数、Ｃ₁ 連続エラー（バースト）
有無及び発生時のアドレス、Ｃ₂ エラー個数及び発生時
のアドレス、ＡＤＩＰ（アドレス）エラー個数、及びＡ
ＤＩＰ（アドレス）連続エラー発生直後のアドレス等が
挙げられる。

【００２６】また、ホストコンピュータによるデータ処
理項目としては、Ｃ₁ エラーレートについて１秒間での
最大個数の最悪値や１０秒間平均での最大個数の平均
値、発生時アドレスによるマッピング、１秒間の最大個
数のマッピング、ＡＤＩＰ（アドレス）エラートータル
個数やエラーレートの最悪値、及びマッピング等が挙げ
られる。ここで、上記マッピングとは、ホストコンピュ
ータの画面上で、横軸にアドレスをとり、縦軸にエラー
数（Ｃ₁ エラー、Ｃ₂ エラー、ＡＤＩＰエラーの個数
等）をとって例えば棒グラフ（バーグラフ）表示するよ
うな表示処理のことである。

【００２７】上述のような複数台の光磁気ディスクの検
査装置及び光磁気ディスクから送信される検出結果を出
力するホストコンピュータが接続された光磁気ディスク
の検査システムの構成を図２に示す。

【００２８】光磁気ディスクの検査システムは、ホスト
コンピュータと複数台の検査装置、例えばいわゆるＭＤ
（ミニディスク）記録再生装置をベースに検査用回路部
を付加した装置が、ＬＡＮ（Local Area Network) 等の
大量で高速なデータ伝送を行うことができ、相互通信が
可能なネットワークケーブルを用いて直列に接続される
ことにより構成される。上記ネットワークケーブルを用
いることにより、最大２５５台の検査装置をホストコン
ピュータから制御することが可能となる。

【００２９】例えば、表示装置３２及びキーボード３３
を備えた一般的なパーソナルコンピュータであるホスト
コンピュータ３１と、３台の光磁気ディスクの検査装置
３４、３５、３６とにより構成された光磁気ディスクの
検査システムにおいては、上記ホストコンピュータ３１
と上記光磁気ディスクの検査装置３４、上記光磁気ディ
スクの検査装置３４と上記光磁気ディスクの検査装置３
５、上記光磁気ディスクの検査装置３５と上記光磁気デ
ィスクの検査装置３６とが、それぞれネットワークケー
ブルで接続されることにより、光磁気ディスクの検査シ
ステムとして直列に接続されることになる。

【００３０】上記キーボード３３から入力されたコマン
ドは、上記ホストコンピュータ３１によりコマンド信号
として上記光磁気ディスクの検査装置３４、３５、３６
にそれぞれ送信される。上記光磁気ディスクの検査装置
３４、３５、３６では上記コマンド信号に基づいて、同
時に光磁気ディスクの検査が行われる。上記検査の結果
は、ネットワークケーブルを介して上記ホストコンピュ
ータ３１に送信され、上記表示装置３２上に表示され
る。

【００３１】図３及び図４には、上記光磁気ディスクの
検査システムにおけるホストコンピュータ及び光磁気デ
ィスクの動作をフローチャートで示す。

【００３２】図３のステップＳ１において、上記ホスト
コンピュータ３１上で光磁気ディスクの検査に用いられ
る記録開始クラスタ及びセクタ等の各種パラメータが設
定される。このときホストコンピュータ３１により設定
される測定パラメータの具体例としては、記録開始クラ
スタ、記録開始セクタ、記録終了クラスタ、記録終了セ
クタ、記録終了時間（秒）、ＡＤＩＰ連続エラー数、Ｃ
₁ 連続エラー数、再生レーザパワー、記録レーザパワ
ー、磁界変調電流、記録動作する／しない等である。

【００３３】次のステップＳ２で、上記光磁気ディスク
の検査装置３４、３５、３６へ検査を開始するコマンド
信号が送信されることにより、上記光磁気ディスクの検
査装置３４、３５、３６において光磁気ディスクの検査
が実行される。

【００３４】上記光磁気ディスクの検査装置３４、３
５、３６は、図４のステップＳ１１で上記ホストコンピ
ュータ３１からのコマンド信号を受信した後、ステップ
Ｓ１２で上記パラメータの内容に従って検査用ダミーデ
ータ（内部パターン）の記録を行う。次に、ステップＳ
１３で上記記録データを再生し、Ｃ₁ エラー数、Ｃ₂ エ
ラー数、アドレスエラー数等の予め決められた測定項目
に基づいてエラーの測定を行う。上記エラー測定の結果
は、例えば１秒間毎に合計され、得られたデータは内部
のメモリ内に記憶される。

【００３５】上記エラー測定が継続して行われている間
に、ステップＳ１４でエラー測定が２０秒経過したか否
かを判別し、２０秒間経過していないならば、ステップ
Ｓ１３に戻って記録データの再生及びエラー測定を行
い、２０秒間経過したならば、ステップＳ１５に進ん
で、上記メモリ内に記憶された２０秒間分のデータを上
記ホストコンピュータ３１に送信する。

【００３６】さらに、上記送信されたデータがエラー測
定により得られる最後のデータであるか否かをステップ
Ｓ１６で判別し、最後のデータであれば上記ホストコン
ピュータ３１から送信される次のコマンド信号を待つ
が、最後のデータでないならば、ステップＳ１３に戻
り、記録データの再生及びエラー測定を続ける。

【００３７】上記ホストコンピュータ３１では、図３の
ステップＳ３で上記光磁気ディスクの検査装置３４、３
５、３６から送信されるデータを待ち、上記データを受
信したならば、ステップＳ４でデータ処理を行い、アド
レスデータに対応したエラーを表示装置３２上に表示す
る。さらに、ステップＳ５で上記受信したデータが上記
光磁気ディスクの検査装置３４、３５、３６による所望
の検査の最後のデータであるか否かを判別し、最後のデ
ータであれば光磁気ディスクの検査動作を終了するが、
最後のデータでなければ、ステップＳ１に戻り、再び所
望の検査を行うために必要なパラメータを設定して光磁
気ディスクの検査測定を行う。

【００３８】この自動検査時の測定項目及び規格の具体
例を次の表１に示す。

【００３９】

【表１】

【００４０】この表１中の記録データエラー品質のブロ
ックエラーの全面平均及び１０秒平均については、上記
光磁気ディスクの検査装置３４等で、１０秒毎のＣ₁ エ
ラーを計測し、１０秒毎のエラーレート及び全面平均の
エラーレートでそれぞれ表したものである。ここでブロ
ックエラーの全面平均は、エラー数を７３５０×測定時
間で割ったもの（＝エラー数／（７３５０×測定時
間））に相当する。

【００４１】なお、本発明は上述の実施例のみに限定さ
れるものではなく、例えば、適用可能な光磁気ディスク
はいわゆるＭＤ（ミニディスク）に限らず、他の種々の
光磁気ディスクが使用でき、また、上記測定項目や規格
も表１の具体例に限定されない。この他、本発明の要旨
を逸脱しない範囲で種々の変更や構成が取り得ることは
勿論である。

【００４２】

【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明に係る光磁気ディスクの検査装置によれば、光ヘッド
と磁気ヘッドとを有するディスク記録再生部と、上記光
ヘッド及び上記磁気ヘッドにより光磁気ディスクに記録
された検査用データを上記光ヘッドにより読み取った信
号のデコードを行うと共に、光磁気ディスクのアドレス
データをデコードするデコーダと、上記デコーダからの
出力よりエラーフラグを検出し、上記エラーフラグの数
をカウントする検出手段と、上記検出手段からの出力信
号と上記ディスク記録再生部の動作を制御する制御部
と、上記検出手段からの出力を外部に出力すると共に、
外部からのコマンドを上記制御部に供給するインターフ
ェイスとを備えて成ることにより、上記光磁気ディスク
に対して検査用データを自動的に記録し、再生された検
査用データのエラーの状態を自動的に測定することによ
り、光磁気ディスク上の欠陥を精確に検出することがで
き、検査の自動化が達成できる。

【００４３】また、本発明に係る光磁気ディスクの検査
システムは、ディスク記録再生部により光磁気ディスク
に検査用データを連続的に記録し、この検査用データの
記録が終了した後に上記ディスク記録再生部により読み
取った信号をデコードしてこのデコーダからの出力より
エラーフラグを検出し、上記エラーフラグの数をカウン
トする複数台の光磁気ディスクの検査装置と、上記光磁
気ディスクの検査装置からの出力を受信して表示するホ
ストコンピュータとを備え、上記複数台の光磁気ディス
クの検査装置は直列に接続されることにより、高速かつ
簡易に所望の光磁気ディスクの検査測定を行うことがで
き、多数のディスクの自動検査を実現することで量産効
率を高め、大量生産により光磁気ディスクのコストダウ
ンを図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光磁気ディスクの検査装置の概略
的な構成を示すブロック図である。

【図２】本発明に係る光磁気ディスクの検査システムの
概略構成を示すブロック図である。

【図３】本発明に係る光磁気ディスクの検査システムの
ホストコンピュータの動作を説明するためのフローチャ
ートである。

【図４】本発明に係る光磁気ディスクの検査システムの
検査装置の動作を説明するためのフローチャートであ
る。

【符号の説明】

２・・・・・・・・・・・システムコントローラ３・・・・・・・・・・・エンコーダ／デコーダ４・・・・・・・・・・・サーボ信号処理７・・・・・・・・・・・光学ピックアップヘッド９・・・・・・・・・・・光磁気ディスク１１・・・・・・・・・・磁気ヘッド１４・・・・・・・・・・ＣＰＵ１５・・・・・・・・・・インターフェイス１６・・・・・・・・・・パリティ／アドレス検出及び
計数回路１７・・・・・・・・・・磁界変調電流制御回路１８・・・・・・・・・・レーザパワー制御回路１９・・・・・・・・・・ＲＦアンプ２０・・・・・・・・・・コンパレータ２１・・・・・・・・・・基準信号発振器２２・・・・・・・・・・幅検出回路３１・・・・・・・・・・ホストコンピュータ３４、３５、３６・・・・光磁気ディスクの検査装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】プリグルーブをディスクの径方向に蛇行
させることによってアドレスデータが記録された光磁気
ディスクに光ビームを照射する光ヘッドと、該光磁気デ
ィスクを挟んで上記光ヘッドと相対向する位置に配され
て、検査のためのデータに基づいて変調された外部磁界
を印加する磁気ヘッドとを有して成るディスク記録再生
部と、上記光ヘッド及び上記磁気ヘッドにより上記光磁気ディ
スクに記録された検査用データを上記光ヘッドにより読
み取った信号のデコードを行うと共に、上記光磁気ディ
スクのアドレスデータをデコードするデコーダと、上記デコーダからの出力よりエラーフラグを検出し、上
記エラーフラグの数をカウントする検出手段と、上記検出手段からの出力信号と上記ディスク記録再生部
の動作を制御する制御部と、上記検出手段からの出力を外部に出力すると共に、外部
からのコマンドを上記制御部に供給するインターフェイ
スとを備えて成ることを特徴とする光磁気ディスクの検
査装置。
【請求項２】検査用データを発生するデータ発生部を
備えることを特徴とする請求項１記載の光磁気ディスク
の検査装置。
【請求項３】ディスク記録再生部により光磁気ディス
クに検査用データを連続的に記録し、この検査用データ
の記録が終了した後に上記ディスク記録再生部により読
み取った信号をデコードしてこのデコーダからの出力よ
りエラーフラグを検出し、上記エラーフラグの数をカウ
ントする複数台の光磁気ディスクの検査装置と、上記光磁気ディスクの検査装置からの出力を受信して表
示するホストコンピュータとを備え、上記複数台の光磁
気ディスクの検査装置を直列に接続して成ることを特徴
とする光磁気ディスクの検査システム。
【請求項４】光ヘッドから記録に必要なレベルの光ビ
ームを照射した状態で磁気ヘッドにより検査用データに
基づいて変調された外部磁界を印加して光磁気ディスク
に検査用データを連続的に記録し、上記検査用データの
記録が終了した後に、上記光ヘッドから再生に必要なレ
ベルの光ビームを照射し、上記光磁気ディスクからの反
射光を上記光ヘッドの光検出器で受光し、上記光検出器
からの検出出力に基づいて上記光磁気ディスクの検査を
行う光磁気ディスクの検査方法において、上記磁気ヘッドに供給する駆動電流を記録時の正規の駆
動電流よりも小さくすることを特徴とする光磁気ディス
クの検査方法。