JP2001243629A - 光ディスク記録装置 - Google Patents
光ディスク記録装置Info
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- JP2001243629A JP2001243629A JP2000049731A JP2000049731A JP2001243629A JP 2001243629 A JP2001243629 A JP 2001243629A JP 2000049731 A JP2000049731 A JP 2000049731A JP 2000049731 A JP2000049731 A JP 2000049731A JP 2001243629 A JP2001243629 A JP 2001243629A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ディスク記録装置におけるＰＣＡ領域で最
適出力値を検出するための読み出し動作を行う際のトラ
ック飛びなどのエラーの発生を低減させ、動作を安定化
した光ディスク記録装置を提供する。 【解決手段】 光ディスクのＰＣＡ領域テストエリアに
レーザー出力を変化させながらテスト信号を記録する手
段と、最適記録レーザー出力を記録済みＰＣＡ領域テス
トエリアのテスト信号振幅により検出する手段とを有
し、前記ＰＣＡ領域テストエリアへのテスト信号の記録
は記録するレーザー出力を最小値から最大値を経由して
最大値より小になる値でその記録が終了するように設定
したものである。
適出力値を検出するための読み出し動作を行う際のトラ
ック飛びなどのエラーの発生を低減させ、動作を安定化
した光ディスク記録装置を提供する。 【解決手段】 光ディスクのＰＣＡ領域テストエリアに
レーザー出力を変化させながらテスト信号を記録する手
段と、最適記録レーザー出力を記録済みＰＣＡ領域テス
トエリアのテスト信号振幅により検出する手段とを有
し、前記ＰＣＡ領域テストエリアへのテスト信号の記録
は記録するレーザー出力を最小値から最大値を経由して
最大値より小になる値でその記録が終了するように設定
したものである。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク記録装
置、特に、光ディスクに記録を行う際の最適記録レーザ
ー光を求める方式であるＯＰＴＩＭＵＭ ＰＯＷＥＲ
ＣＯＮＴＲＯＬＰＲＯＣＥＤＵＲＥ（以下ＯＰＣ処理と
いう）における記録テストエリアとなるＰＯＷＥＲ Ｃ
ＡＬＩＢＲＡＴＩＯＮ ＡＲＥＡ（以下ＰＣＡ領域とい
う）の安定した読み出しを行うことができる光ディスク
記録装置に関するものである。
置、特に、光ディスクに記録を行う際の最適記録レーザ
ー光を求める方式であるＯＰＴＩＭＵＭ ＰＯＷＥＲ
ＣＯＮＴＲＯＬＰＲＯＣＥＤＵＲＥ（以下ＯＰＣ処理と
いう）における記録テストエリアとなるＰＯＷＥＲ Ｃ
ＡＬＩＢＲＡＴＩＯＮ ＡＲＥＡ（以下ＰＣＡ領域とい
う）の安定した読み出しを行うことができる光ディスク
記録装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】以下、従来の光ディスク記録装置につい
て図面を参照しながら説明する。図４は従来の光ディス
ク記録装置のＯＰＣ処理における光ディスクＰＣＡ領域
テストエリアの説明図である。
て図面を参照しながら説明する。図４は従来の光ディス
ク記録装置のＯＰＣ処理における光ディスクＰＣＡ領域
テストエリアの説明図である。
【０００３】ＯＰＣ処理においては、記録可能な光ディ
スク記録装置により光ディスクに記録する際、まず記録
する光ディスクのＰＣＡ領域テストエリアにおいて、図
４に示すように、１フレーム（１フレーム：７５分の１
秒）毎にレーザー出力光量（Ｐ１，Ｐ２，…，Ｐ１５）
を徐々に上昇させながら計１５フレームの記録テストを
行ない、ピックアップのレーザー出力を読み出し出力に
設定し、上記のテスト記録されたエリアのテスト信号の
振幅を読み出すことにより、記録に用いる光ディスクと
ピックアップでの最適記録レーザー出力値を求め、ピッ
クアップのレーザー出力をこの求められた最適値に設定
して光ディスクのデータエリアに記録を行なうようにし
たものである。
スク記録装置により光ディスクに記録する際、まず記録
する光ディスクのＰＣＡ領域テストエリアにおいて、図
４に示すように、１フレーム（１フレーム：７５分の１
秒）毎にレーザー出力光量（Ｐ１，Ｐ２，…，Ｐ１５）
を徐々に上昇させながら計１５フレームの記録テストを
行ない、ピックアップのレーザー出力を読み出し出力に
設定し、上記のテスト記録されたエリアのテスト信号の
振幅を読み出すことにより、記録に用いる光ディスクと
ピックアップでの最適記録レーザー出力値を求め、ピッ
クアップのレーザー出力をこの求められた最適値に設定
して光ディスクのデータエリアに記録を行なうようにし
たものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うなＯＰＣ処理におけるテスト記録を行う光ディスク記
録装置では、最適記録レーザー出力を求める際に、ＰＣ
Ａ領域テストエリアに対してレーザー出力を１フレーム
毎に上昇させながらテスト記録が行なわれ、１フレーム
毎において低いレーザー出力から高いレーザー出力の順
番で記録されているので、前記ＰＣＡ領域テストエリア
部分の読み出しを行なう際、各フレーム境界付近等、隣
り合う領域が高いレーザー出力で記録されている領域と
低いレーザー出力で記録されている領域、もしくは、高
いレーザー出力で記録されている領域と記録されていな
い領域で読み出し動作が行われると、その動作は不安定
な状態となり、読み出しを行っている部分から突然違う
部分にレーザーピックアップが移動してしまう等の問題
や、またテスト記録を行なうＰＣＡ領域テストエリアの
一部に外傷や生成時のむらがあると、正確な最適記録レ
ーザー出力が求められなくなる可能性が大きくなるとい
う問題点があった。
うなＯＰＣ処理におけるテスト記録を行う光ディスク記
録装置では、最適記録レーザー出力を求める際に、ＰＣ
Ａ領域テストエリアに対してレーザー出力を１フレーム
毎に上昇させながらテスト記録が行なわれ、１フレーム
毎において低いレーザー出力から高いレーザー出力の順
番で記録されているので、前記ＰＣＡ領域テストエリア
部分の読み出しを行なう際、各フレーム境界付近等、隣
り合う領域が高いレーザー出力で記録されている領域と
低いレーザー出力で記録されている領域、もしくは、高
いレーザー出力で記録されている領域と記録されていな
い領域で読み出し動作が行われると、その動作は不安定
な状態となり、読み出しを行っている部分から突然違う
部分にレーザーピックアップが移動してしまう等の問題
や、またテスト記録を行なうＰＣＡ領域テストエリアの
一部に外傷や生成時のむらがあると、正確な最適記録レ
ーザー出力が求められなくなる可能性が大きくなるとい
う問題点があった。
【０００５】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
であり、光ディスク記録装置におけるＰＣＡ領域で最適
出力値を検出するための読み出し動作を行う際のトラッ
ク飛びなどのエラーの発生を低減させ、動作を安定化し
た光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
であり、光ディスク記録装置におけるＰＣＡ領域で最適
出力値を検出するための読み出し動作を行う際のトラッ
ク飛びなどのエラーの発生を低減させ、動作を安定化し
た光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の光ディスク装置
は、記録可能な光ディスク上に、レーザーピックアップ
よりレーザー光を照射して記録または読み出しを行うよ
うにした複数の回転数を有する光ディスク記録装置であ
って、光ディスク上に存在する最適記録レーザ出力を求
めるためのＰＣＡ領域テストエリアを探し出す手段と、
前記ＰＣＡ領域テストエリアにレーザー出力を変化させ
ながらテスト信号を記録する手段と、最適記録レーザー
出力を記録済みＰＣＡ領域テストエリアのテスト信号振
幅により検出する手段とを有し、前記ＰＣＡ領域テスト
エリアへのテスト信号の記録は記録するレーザー出力を
最小値から最大値を経由して最大値より小になる値でテ
スト記録が終了するように設定したものである。
は、記録可能な光ディスク上に、レーザーピックアップ
よりレーザー光を照射して記録または読み出しを行うよ
うにした複数の回転数を有する光ディスク記録装置であ
って、光ディスク上に存在する最適記録レーザ出力を求
めるためのＰＣＡ領域テストエリアを探し出す手段と、
前記ＰＣＡ領域テストエリアにレーザー出力を変化させ
ながらテスト信号を記録する手段と、最適記録レーザー
出力を記録済みＰＣＡ領域テストエリアのテスト信号振
幅により検出する手段とを有し、前記ＰＣＡ領域テスト
エリアへのテスト信号の記録は記録するレーザー出力を
最小値から最大値を経由して最大値より小になる値でテ
スト記録が終了するように設定したものである。
【０００７】この発明によれば、隣り合う領域が高いレ
ーザー出力で記録されている領域と低いレーザー出力で
記録されている領域、もしくは高いレーザー出力で記録
されている領域と記録されていない領域の再生または読
み出し時に起こる可能性のあるトラック飛び等のエラー
を低減し正確な最適記録レーザー出力を安定して求める
ことができる。
ーザー出力で記録されている領域と低いレーザー出力で
記録されている領域、もしくは高いレーザー出力で記録
されている領域と記録されていない領域の再生または読
み出し時に起こる可能性のあるトラック飛び等のエラー
を低減し正確な最適記録レーザー出力を安定して求める
ことができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態につ
いて図面を参照しながら説明する。
いて図面を参照しながら説明する。
【０００９】（実施の形態１）図１は、本発明の光ディ
スク記録装置の実施の形態１における構成を示すブロッ
ク図、図２は本発明の光ディスク記録装置の実施の形態
１のＯＰＣ処理における光ディスクＰＣＡ領域テストエ
リアの説明図である。
スク記録装置の実施の形態１における構成を示すブロッ
ク図、図２は本発明の光ディスク記録装置の実施の形態
１のＯＰＣ処理における光ディスクＰＣＡ領域テストエ
リアの説明図である。
【００１０】図１に示されるように、本実施の形態にお
ける光ディスク記録装置１１３は、インターフェイス１
１２、ＲＡＭ１０２およびＲＯＭ１０３を備えたＣＰＵ
１０１、ＥＦＭエンコードデコード回路１０４、ＥＦＭ
ウォブル信号処理回路１０５、レーザー制御回路１０
６、レーザーピックアップ１０７、速度切り替え回路１
０８、回転制御回路１０９、モータ１１０、光ディスク
１１１より構成され、ホストコンピュータ１１４とイン
ターフェイス１１２を介して接続されている。
ける光ディスク記録装置１１３は、インターフェイス１
１２、ＲＡＭ１０２およびＲＯＭ１０３を備えたＣＰＵ
１０１、ＥＦＭエンコードデコード回路１０４、ＥＦＭ
ウォブル信号処理回路１０５、レーザー制御回路１０
６、レーザーピックアップ１０７、速度切り替え回路１
０８、回転制御回路１０９、モータ１１０、光ディスク
１１１より構成され、ホストコンピュータ１１４とイン
ターフェイス１１２を介して接続されている。
【００１１】次に、その動作を説明する。まず、光ディ
スク記録装置１１３に光ディスク１１１を挿入すると、
ＣＰＵ１０１は、回転制御回路１０９に指示してモータ
１１０をスピンアップする。更に、ＣＰＵ１０１はレー
ザー制御回路１０６に指示し、レーザーピックアップ１
０７を駆動する。このＣＰＵ１０１はホストコンピュー
タ１１４からの各種コマンド及びデータをインターフェ
イス１１２を通して送受信するように動作する。ここ
で、ホストコンピュータ１１４により記録速度指令がＣ
ＰＵ１０１に発行されると、ＣＰＵ１０１は、光ディス
クの回転速度を速度切り替え回路１０８に設定し、回転
制御回路１０９を介して、モータ１１０が設定速度に切
り替わる。次に、ホストコンピュータ１１４からの記録
コマンドにより、ＣＰＵ１０１はＰＣＡ領域での最適記
録レーザー出力値を求める記録テストを記録速度に応じ
て速度切り替え回路１０８に設定し、レーザー制御回路
１０６を介して、レーザーピックアップ１０７のレーザ
ー出力制御を行う。ここでＰＣＡ領域テストエリアにお
いてレーザー制御出力の照射を順次上げながら変化させ
て計１５フレーム分最適記録レーザー出力を求めるテス
ト記録を行う。
スク記録装置１１３に光ディスク１１１を挿入すると、
ＣＰＵ１０１は、回転制御回路１０９に指示してモータ
１１０をスピンアップする。更に、ＣＰＵ１０１はレー
ザー制御回路１０６に指示し、レーザーピックアップ１
０７を駆動する。このＣＰＵ１０１はホストコンピュー
タ１１４からの各種コマンド及びデータをインターフェ
イス１１２を通して送受信するように動作する。ここ
で、ホストコンピュータ１１４により記録速度指令がＣ
ＰＵ１０１に発行されると、ＣＰＵ１０１は、光ディス
クの回転速度を速度切り替え回路１０８に設定し、回転
制御回路１０９を介して、モータ１１０が設定速度に切
り替わる。次に、ホストコンピュータ１１４からの記録
コマンドにより、ＣＰＵ１０１はＰＣＡ領域での最適記
録レーザー出力値を求める記録テストを記録速度に応じ
て速度切り替え回路１０８に設定し、レーザー制御回路
１０６を介して、レーザーピックアップ１０７のレーザ
ー出力制御を行う。ここでＰＣＡ領域テストエリアにお
いてレーザー制御出力の照射を順次上げながら変化させ
て計１５フレーム分最適記録レーザー出力を求めるテス
ト記録を行う。
【００１２】すなわち、従来のＯＰＣ処理におけるテス
ト記録では、図４に示されるように、光ディスクの内周
側から外周側に向けて、低いレーザー出射光量Ｐ１から
高いレーザー出射光量Ｐ１５の順番（Ｐ１，Ｐ２，…，
Ｐ１５）で記録されるが、本実施の形態のＯＰＣ処理に
おけるＰＣＡ領域テストエリアの記録は図２に示される
ように、テスト記録される計１５ＡＴＩＰフレーム分の
さまざまなレーザー出射光量を低いレーザー出射光量か
ら順番にＰ１，Ｐ２，…，Ｐ１５とし、内周側から奇数
番目のレーザー出射光量を昇順にＰ１，Ｐ３，…，Ｐ１
３，Ｐ１５のようにレーザー出力し、その後偶数番目の
レーザー出射光量を降順にＰ１４，Ｐ１２，…Ｐ４，Ｐ
２のようにレーザー出力し、従来同様、計１５ＡＴＩＰ
フレーム分テスト記録が行われる。上記の方法により、
ＰＣＡ領域テストエリアに記録がされると、その後、Ｃ
ＰＵ１０１は、レーザー制御回路１０６を介してレーザ
ーピックアップ１０７を読み出し出力に設定し、テスト
記録を行ったＰＣＡ領域テストエリアを読み出し動作さ
せながら、記録されているテスト信号（ＲＦ信号）の振
幅のサンプリングを行い、ＣＰＵ１０１は、内部で最適
記録レーザー出力値を演算して最適記録レーザー出力を
決定し、その求められた最適記録レーザー出力でＰＣＡ
領域カウントエリアに１フレーム分記録を行い、あらか
じめ光ディスク上に記録されている番地信号を読み取る
ことによって、記録を行う番地を探し出し、上記最適記
録レーザー出力にてデータエリアに記録を行う。
ト記録では、図４に示されるように、光ディスクの内周
側から外周側に向けて、低いレーザー出射光量Ｐ１から
高いレーザー出射光量Ｐ１５の順番（Ｐ１，Ｐ２，…，
Ｐ１５）で記録されるが、本実施の形態のＯＰＣ処理に
おけるＰＣＡ領域テストエリアの記録は図２に示される
ように、テスト記録される計１５ＡＴＩＰフレーム分の
さまざまなレーザー出射光量を低いレーザー出射光量か
ら順番にＰ１，Ｐ２，…，Ｐ１５とし、内周側から奇数
番目のレーザー出射光量を昇順にＰ１，Ｐ３，…，Ｐ１
３，Ｐ１５のようにレーザー出力し、その後偶数番目の
レーザー出射光量を降順にＰ１４，Ｐ１２，…Ｐ４，Ｐ
２のようにレーザー出力し、従来同様、計１５ＡＴＩＰ
フレーム分テスト記録が行われる。上記の方法により、
ＰＣＡ領域テストエリアに記録がされると、その後、Ｃ
ＰＵ１０１は、レーザー制御回路１０６を介してレーザ
ーピックアップ１０７を読み出し出力に設定し、テスト
記録を行ったＰＣＡ領域テストエリアを読み出し動作さ
せながら、記録されているテスト信号（ＲＦ信号）の振
幅のサンプリングを行い、ＣＰＵ１０１は、内部で最適
記録レーザー出力値を演算して最適記録レーザー出力を
決定し、その求められた最適記録レーザー出力でＰＣＡ
領域カウントエリアに１フレーム分記録を行い、あらか
じめ光ディスク上に記録されている番地信号を読み取る
ことによって、記録を行う番地を探し出し、上記最適記
録レーザー出力にてデータエリアに記録を行う。
【００１３】以上のように本実施の形態によれば、ＰＣ
Ａ領域テストエリアにおいてテスト記録を行なう時に記
録するレーザー出力を最小値から最大値を経由して最大
値より小になる値でテスト記録を行うことにより、隣り
合う領域が高いレーザー出力で記録されている領域と低
いレーザー出力で記録されている領域、もしくは、高い
レーザー出力で記録されている領域と記録されていない
領域になることを防ぐことができるので、トラック飛び
等のエラーを低減し正確な最適記録レーザー出力を安定
して求めることができる。
Ａ領域テストエリアにおいてテスト記録を行なう時に記
録するレーザー出力を最小値から最大値を経由して最大
値より小になる値でテスト記録を行うことにより、隣り
合う領域が高いレーザー出力で記録されている領域と低
いレーザー出力で記録されている領域、もしくは、高い
レーザー出力で記録されている領域と記録されていない
領域になることを防ぐことができるので、トラック飛び
等のエラーを低減し正確な最適記録レーザー出力を安定
して求めることができる。
【００１４】（実施の形態２）本実施の形態における光
ディスク記録装置の構成は実施の形態１で示した図１に
示す装置と基本的に同様であるため、これを引用する。
図３は本発明の光ディスク記録装置の実施の形態２のＯ
ＰＣ処理における光ディスクＰＣＡ領域テストエリアの
説明図である。
ディスク記録装置の構成は実施の形態１で示した図１に
示す装置と基本的に同様であるため、これを引用する。
図３は本発明の光ディスク記録装置の実施の形態２のＯ
ＰＣ処理における光ディスクＰＣＡ領域テストエリアの
説明図である。
【００１５】図１に示す光ディスク記録装置１１３に光
ディスク１１１を挿入すると、ＣＰＵ１０１は回転制御
回路１０９に指示してモータ１１０をスピンアップす
る。更に、ＣＰＵ１０１はレーザー制御回路１０６に指
示し、レーザーピックアップ１０７を駆動する。ＣＰＵ
１０１は、ホストコンピュータ１１４からの各種コマン
ド及びデータをインターフェイス１１２を介して送受信
を行う。ホストコンピュータ１１４により記録速度指令
がＣＰＵ１０１に発行されると、ＣＰＵ１０１は、光デ
ィスクの回転速度を速度切り替え回路１０８に設定し、
回転制御回路１０９を介して、モータ１１０が設定速度
に切り替わる。次に、ホストコンピュータ１１４からの
記録コマンドにより、ＣＰＵ１０１はＰＣＡ領域テスト
エリアでの最適記録レーザー出力値を求める記録テスト
を記録速度に応じて、速度切り替え回路１０８に設定
し、レーザー制御回路１０６を介して、レーザーピック
アップ１０７のレーザー出力制御を行う。ここでＰＣＡ
領域テストエリアにおいてレーザー制御出力の照射を順
次上げながら変化させて計２ｎフレーム分最適記録レー
ザー出力を求めるテスト記録を行う。
ディスク１１１を挿入すると、ＣＰＵ１０１は回転制御
回路１０９に指示してモータ１１０をスピンアップす
る。更に、ＣＰＵ１０１はレーザー制御回路１０６に指
示し、レーザーピックアップ１０７を駆動する。ＣＰＵ
１０１は、ホストコンピュータ１１４からの各種コマン
ド及びデータをインターフェイス１１２を介して送受信
を行う。ホストコンピュータ１１４により記録速度指令
がＣＰＵ１０１に発行されると、ＣＰＵ１０１は、光デ
ィスクの回転速度を速度切り替え回路１０８に設定し、
回転制御回路１０９を介して、モータ１１０が設定速度
に切り替わる。次に、ホストコンピュータ１１４からの
記録コマンドにより、ＣＰＵ１０１はＰＣＡ領域テスト
エリアでの最適記録レーザー出力値を求める記録テスト
を記録速度に応じて、速度切り替え回路１０８に設定
し、レーザー制御回路１０６を介して、レーザーピック
アップ１０７のレーザー出力制御を行う。ここでＰＣＡ
領域テストエリアにおいてレーザー制御出力の照射を順
次上げながら変化させて計２ｎフレーム分最適記録レー
ザー出力を求めるテスト記録を行う。
【００１６】すなわち、図３に示すように、まず、はじ
めの１５フレーム分（ｎフレーム＝１５フレームとす
る。）のテスト記録をレーザー出力の最小値から最大値
にＰ１，Ｐ２，…，Ｐ１５の順に行う。次の１５フレー
ム分の記録を最大値から最小値にＰ１５，…，Ｐ２，Ｐ
１の順に記録を行い、全体が最小値から最大値、最大値
から最小値となるようにテスト記録を行う。このよう
に、ＰＣＡ領域テストエリアにテスト記録がされると、
その後、ＣＰＵ１０１は、レーザー制御回路１０６を介
してレーザーピックアップ１０７を読み出し出力に設定
し、テスト記録を行なったＰＣＡ領域テストエリアを再
生読み出し動作させながら、記録されているテスト信号
の振幅のサンプリングを行う。このサンプリングを行う
際、記録されている区間が２ｎフレーム分記録されてい
るわけであるから、ｎフレーム分毎にそれぞれ目的の設
定値を求めることができる。その後、それぞれの求めた
設定値を比較することにより、より正確な最適記録レー
ザー出力値を求めることができ、このようにして求めら
れた最適記録レーザー出力値を設定し、データエリアに
記録を行う。
めの１５フレーム分（ｎフレーム＝１５フレームとす
る。）のテスト記録をレーザー出力の最小値から最大値
にＰ１，Ｐ２，…，Ｐ１５の順に行う。次の１５フレー
ム分の記録を最大値から最小値にＰ１５，…，Ｐ２，Ｐ
１の順に記録を行い、全体が最小値から最大値、最大値
から最小値となるようにテスト記録を行う。このよう
に、ＰＣＡ領域テストエリアにテスト記録がされると、
その後、ＣＰＵ１０１は、レーザー制御回路１０６を介
してレーザーピックアップ１０７を読み出し出力に設定
し、テスト記録を行なったＰＣＡ領域テストエリアを再
生読み出し動作させながら、記録されているテスト信号
の振幅のサンプリングを行う。このサンプリングを行う
際、記録されている区間が２ｎフレーム分記録されてい
るわけであるから、ｎフレーム分毎にそれぞれ目的の設
定値を求めることができる。その後、それぞれの求めた
設定値を比較することにより、より正確な最適記録レー
ザー出力値を求めることができ、このようにして求めら
れた最適記録レーザー出力値を設定し、データエリアに
記録を行う。
【００１７】以上のように本実施の形態によれば、隣り
合うフレームが高いレーザー出力で記録されている領域
と低いレーザー出力で記録されている領域、もしくは、
高いレーザー出力で記録されている領域と記録されてい
ない領域になることを防ぐことができるので、トラック
飛び等のエラーを低減し正確な最適記録レーザー出力を
安定して求めることができると共に、最適記録レーザー
出力をフレーム毎に再検出することにより、一部のフレ
ームにＰＣＡ領域の外傷や生成時のむらがあっても、他
のフレームから正確な最適記録レーザー出力値を得るこ
とができる。
合うフレームが高いレーザー出力で記録されている領域
と低いレーザー出力で記録されている領域、もしくは、
高いレーザー出力で記録されている領域と記録されてい
ない領域になることを防ぐことができるので、トラック
飛び等のエラーを低減し正確な最適記録レーザー出力を
安定して求めることができると共に、最適記録レーザー
出力をフレーム毎に再検出することにより、一部のフレ
ームにＰＣＡ領域の外傷や生成時のむらがあっても、他
のフレームから正確な最適記録レーザー出力値を得るこ
とができる。
【００１８】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、ＰＣＡ領
域への最適記録レーザー光の出射光量を求めるテスト記
録を行う際、隣り合うフレームが高いレーザー出力で記
録されている領域と低いレーザー出力で記録されている
領域、もしくは、高いレーザー出力で記録されている領
域と記録されていない領域になることを防ぐことができ
るので、トラック飛び等のエラーの発生は低減されＰＣ
Ａ領域の安定した再生または読み出しを行うことがで
き、また、最適記録レーザー出力を再検出することによ
り、テスト記録を行うＰＣＡ領域の一部に外傷や生成時
のむらがあっても、正確な最適記録レーザー出力値を求
めることができるという有利な効果が得られる。
域への最適記録レーザー光の出射光量を求めるテスト記
録を行う際、隣り合うフレームが高いレーザー出力で記
録されている領域と低いレーザー出力で記録されている
領域、もしくは、高いレーザー出力で記録されている領
域と記録されていない領域になることを防ぐことができ
るので、トラック飛び等のエラーの発生は低減されＰＣ
Ａ領域の安定した再生または読み出しを行うことがで
き、また、最適記録レーザー出力を再検出することによ
り、テスト記録を行うＰＣＡ領域の一部に外傷や生成時
のむらがあっても、正確な最適記録レーザー出力値を求
めることができるという有利な効果が得られる。
【図１】本発明の光ディスク記録装置の実施の形態１に
おける構成を示すブロック図
おける構成を示すブロック図
【図２】本発明の光ディスク記録装置の実施の形態１の
ＯＰＣ処理における光ディスクＰＣＡ領域テストエリア
の説明図
ＯＰＣ処理における光ディスクＰＣＡ領域テストエリア
の説明図
【図３】本発明の光ディスク記録装置の実施の形態２の
ＯＰＣ処理における光ディスクＰＣＡ領域テストエリア
の説明図
ＯＰＣ処理における光ディスクＰＣＡ領域テストエリア
の説明図
【図４】従来の光ディスク記録装置のＯＰＣ処理におけ
る光ディスクＰＣＡ領域テストエリアの説明図
る光ディスクＰＣＡ領域テストエリアの説明図
１０１ ＣＰＵ １０２ ＲＡＭ １０３ ＲＯＭ １０４ ＥＦＭエンコードデコード回路 １０５ ＥＦＭウォブル信号処理回路 １０６ レーザー制御回路 １０７ レーザーピックアップ １０８ 速度切り替え回路 １０９ 回転制御回路 １１０ モータ １１１ 光ディスク １１２ インターフェイス １１３ 光ディスク記録装置 １１４ ホストコンピュータ
Claims (4)
- 【請求項１】 記録可能な光ディスク上に、レーザーピ
ックアップよりレーザー光を照射して記録または読み出
しを行うようにした複数の回転数を有する光ディスク記
録装置であって、光ディスク上に存在する最適記録レー
ザ出力を求めるためのＰＣＡ領域テストエリアを探し出
す手段と、前記ＰＣＡ領域テストエリアにレーザー出力
を変化させながらテスト信号を記録する手段と、最適記
録レーザー出力を記録済みＰＣＡ領域テストエリアのテ
スト信号振幅により検出する手段とを有し、前記ＰＣＡ
領域テストエリアへのテスト信号の記録は記録するレー
ザー出力を最小値から最大値を経由して最大値より小に
なる値でテスト記録が終了するように設定されているこ
とを特徴とする光ディスク記録装置。 - 【請求項２】 ＰＣＡ領域テストエリアへのテスト信号
の記録は記録するレーザー出力の奇数番目を昇順にし、
最大値を経由して偶数番目を降順にテスト記録を行うこ
とを特徴とする請求項１記載の光ディスク記録装置。 - 【請求項３】 ＰＣＡ領域テストエリアへのテスト信号
の記録は記録するレーザー出力を最小値から最大値を経
由して最大値より最小値となるように左右対称にになる
値でテスト記録が終了するように設定されていることを
特徴とする請求項１記載の光ディスク記録装置。 - 【請求項４】 記録可能な光ディスク上に、レーザーピ
ックアップよりレーザー光を照射して記録または読み出
しを行うようにした複数の回転数を有する光ディスク記
録装置であって、光ディスク上に存在する最適記録レー
ザ出力を求めるためのＰＣＡ領域テストエリアを探し出
す手段と、前記ＰＣＡ領域テストエリアにレーザー出力
を変化させながらテスト信号を記録する手段と、最適記
録レーザー出力を記録済みＰＣＡ領域テストエリアのテ
スト信号振幅により検出する手段とを有し、前記ＰＣＡ
領域テストエリアへのテスト信号の記録は記録するレー
ザー出力を最小値から最大値を経由して最大値より最小
値となるように左右対称になる値でテスト記録が終了す
るように設定され、これらテスト記録から最適記録レー
ザー出力値を求める際、レーザー出力を最小値から最大
値の間で求めた後、最大値から最小値で記録した間のＰ
ＣＡ領域テストエリアを用いて最適記録レーザー出力を
再検出することを特徴とする光ディスク記録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000049731A JP2001243629A (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | 光ディスク記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000049731A JP2001243629A (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | 光ディスク記録装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001243629A true JP2001243629A (ja) | 2001-09-07 |
Family
ID=18571626
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000049731A Pending JP2001243629A (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | 光ディスク記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001243629A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007323730A (ja) * | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Sony Corp | 光ディスク記録装置およびその最適記録パワー決定方法 |
| JP2010503137A (ja) * | 2006-09-07 | 2010-01-28 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 書込パワー較正を実施するための方法及び装置 |
| US7843784B2 (en) | 2006-04-11 | 2010-11-30 | Sony Corporation | Optical disc recording apparatus and method for determining optimum write power thereof |
-
2000
- 2000-02-25 JP JP2000049731A patent/JP2001243629A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7843784B2 (en) | 2006-04-11 | 2010-11-30 | Sony Corporation | Optical disc recording apparatus and method for determining optimum write power thereof |
| JP2007323730A (ja) * | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Sony Corp | 光ディスク記録装置およびその最適記録パワー決定方法 |
| JP4556913B2 (ja) * | 2006-05-31 | 2010-10-06 | ソニー株式会社 | 光ディスク記録装置およびその最適記録パワー決定方法 |
| JP2010503137A (ja) * | 2006-09-07 | 2010-01-28 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 書込パワー較正を実施するための方法及び装置 |
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