JPH09145634A - 欠陥検出方法及び装置、並びに光学的情報記録媒体 - Google Patents
欠陥検出方法及び装置、並びに光学的情報記録媒体Info
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- JPH09145634A JPH09145634A JP30307495A JP30307495A JPH09145634A JP H09145634 A JPH09145634 A JP H09145634A JP 30307495 A JP30307495 A JP 30307495A JP 30307495 A JP30307495 A JP 30307495A JP H09145634 A JPH09145634 A JP H09145634A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 実際に使用される記録再生装置のエラー訂正
能力を考慮した欠陥検出を可能とし、記録領域の交替処
理の発生を防止する。 【解決手段】 欠陥検査に用いるデータパターンを発生
する記録再生パターン発生回路１と、データパターンに
所定単位で誤り訂正符号を付加するエンコーダ２と、再
生レーザパワーのレーザ光にエンコーダ２の出力を重畳
するための記録再生回路３と、そのレーザ光を光ディス
ク１２の記録面に照射し、その反射光を受光して受光信
号を生成する光ヘッド１０と、光ヘッド１０の受光信号
からデータパターンを抜き出す受光系回路５と、その抜
き出したデータパターンに誤り訂正処理を施すデコーダ
６と、デコーダ６での誤り訂正処理の正否を判定し、否
と判定したときに光ディスク１２の欠陥を検出する判定
回路７とを有する。
能力を考慮した欠陥検出を可能とし、記録領域の交替処
理の発生を防止する。 【解決手段】 欠陥検査に用いるデータパターンを発生
する記録再生パターン発生回路１と、データパターンに
所定単位で誤り訂正符号を付加するエンコーダ２と、再
生レーザパワーのレーザ光にエンコーダ２の出力を重畳
するための記録再生回路３と、そのレーザ光を光ディス
ク１２の記録面に照射し、その反射光を受光して受光信
号を生成する光ヘッド１０と、光ヘッド１０の受光信号
からデータパターンを抜き出す受光系回路５と、その抜
き出したデータパターンに誤り訂正処理を施すデコーダ
６と、デコーダ６での誤り訂正処理の正否を判定し、否
と判定したときに光ディスク１２の欠陥を検出する判定
回路７とを有する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクのよう
な光学的に記録再生が行われる光学的情報記録媒体の欠
陥を検出する欠陥検出方法及び装置，並びに当該欠陥検
出方法を用いて好適な光学的情報記録媒体に関する。
な光学的に記録再生が行われる光学的情報記録媒体の欠
陥を検出する欠陥検出方法及び装置，並びに当該欠陥検
出方法を用いて好適な光学的情報記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、不可逆性の記録膜を有する追
記型光ディスクに対しては、通常読み出しを行う低レベ
ルのパワーのレーザ光を照射し、このレーザ光を照射し
た際のディスクからの反射光により、ディスクの欠陥検
出が行われている。
記型光ディスクに対しては、通常読み出しを行う低レベ
ルのパワーのレーザ光を照射し、このレーザ光を照射し
た際のディスクからの反射光により、ディスクの欠陥検
出が行われている。
【０００３】これは、光ディスクの製造時に、初期状態
のディスクの製品としての合否を決定するための検査と
して行われているものであり、実際にユーザがこのディ
スクを購入して記録を行う際にエラーとならないよう
に、初期状態で所定の検査規格のレベル以上の欠陥を持
つディスクを厳しく検出する必要があるためである。実
際の検査におけるこれら検査規格のレベルは、欠陥の大
きさや数から判断されて決定されている。
のディスクの製品としての合否を決定するための検査と
して行われているものであり、実際にユーザがこのディ
スクを購入して記録を行う際にエラーとならないよう
に、初期状態で所定の検査規格のレベル以上の欠陥を持
つディスクを厳しく検出する必要があるためである。実
際の検査におけるこれら検査規格のレベルは、欠陥の大
きさや数から判断されて決定されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、欠陥検査を
行う際には、実際に使用される記録再生装置のエラー訂
正能力については考慮されていない。このため、例えば
ディスクの周方向についた小さな傷などの単純に物理的
に連続した欠陥のように、実際に使用される記録再生装
置のエラー訂正能力によれば実際の記録時にエラーには
ならない（すなわちエラー訂正される）場合であって
も、上述した従来の検査ではディスク自体が不合格とな
ってしまい、製造時の歩留まりが低下する。
行う際には、実際に使用される記録再生装置のエラー訂
正能力については考慮されていない。このため、例えば
ディスクの周方向についた小さな傷などの単純に物理的
に連続した欠陥のように、実際に使用される記録再生装
置のエラー訂正能力によれば実際の記録時にエラーには
ならない（すなわちエラー訂正される）場合であって
も、上述した従来の検査ではディスク自体が不合格とな
ってしまい、製造時の歩留まりが低下する。
【０００５】また、上記検査規格のレベルは、上述した
ように欠陥の大きさや数から決定されており、確定した
検査規格のレベルを決定することは困難であり、したが
って検査規格のレベルによっては欠陥として検出された
り、逆にされなかったりする虞れがある。
ように欠陥の大きさや数から決定されており、確定した
検査規格のレベルを決定することは困難であり、したが
って検査規格のレベルによっては欠陥として検出された
り、逆にされなかったりする虞れがある。
【０００６】一方、例えば記録時にエラーとなるような
欠陥があるディスクを検査時に合格にしてしまうと、実
際の記録再生装置による記録時に、記録領域の交替処理
が発生してしまうことになり、書き込み速度が低下する
などの悪影響が発生する。
欠陥があるディスクを検査時に合格にしてしまうと、実
際の記録再生装置による記録時に、記録領域の交替処理
が発生してしまうことになり、書き込み速度が低下する
などの悪影響が発生する。
【０００７】そこで、本発明はこの様な実情に鑑みてな
されたものであり、実際に使用される記録再生装置のエ
ラー訂正能力を考慮した欠陥検出が可能で、ディスクの
製造時の歩留まりを向上させることができる欠陥検出方
法及び装置と、記録時にエラーとなるような欠陥があっ
ても記録領域の交替処理が発生せず、書き込み速度が低
下するようなことがない光ディスク等の光学的情報記録
媒体を提供することを目的とする。
されたものであり、実際に使用される記録再生装置のエ
ラー訂正能力を考慮した欠陥検出が可能で、ディスクの
製造時の歩留まりを向上させることができる欠陥検出方
法及び装置と、記録時にエラーとなるような欠陥があっ
ても記録領域の交替処理が発生せず、書き込み速度が低
下するようなことがない光ディスク等の光学的情報記録
媒体を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の欠陥検出方法及
び装置は、レーザ光を用いて情報記録及び情報再生が行
われる光学的情報記録媒体の欠陥を検出するものであっ
て、欠陥検査に用いるデータパターンに所定単位で誤り
訂正符号を付加し、この誤り訂正符号が付加されたデー
タパターンを再生レーザパワーのレーザ光に重畳して光
学的情報記録媒体の記録面に照射し、当該記録面からの
反射光を受光して得た受光信号から誤り訂正符号が付加
されたデータパターンを抜き出し、この誤り訂正符号が
付加されたデータパターンに誤り訂正処理を施してその
正否を判定し、当該判定にて否と判定したときに光学的
情報記録媒体の欠陥を検出することにより、上述の課題
を解決する。
び装置は、レーザ光を用いて情報記録及び情報再生が行
われる光学的情報記録媒体の欠陥を検出するものであっ
て、欠陥検査に用いるデータパターンに所定単位で誤り
訂正符号を付加し、この誤り訂正符号が付加されたデー
タパターンを再生レーザパワーのレーザ光に重畳して光
学的情報記録媒体の記録面に照射し、当該記録面からの
反射光を受光して得た受光信号から誤り訂正符号が付加
されたデータパターンを抜き出し、この誤り訂正符号が
付加されたデータパターンに誤り訂正処理を施してその
正否を判定し、当該判定にて否と判定したときに光学的
情報記録媒体の欠陥を検出することにより、上述の課題
を解決する。
【０００９】また、本発明の光学的情報記録媒体は、不
可逆性の記録膜を有するものであって、記録領域内の欠
陥位置を示す情報を、所定位置に記録してなることによ
り、上述の課題を解決する。
可逆性の記録膜を有するものであって、記録領域内の欠
陥位置を示す情報を、所定位置に記録してなることによ
り、上述の課題を解決する。
【００１０】すなわち、本発明によれば、光学的情報記
録媒体への情報の書き込み動作なしに、誤り訂正機能を
考慮して光学的情報記録媒体の欠陥位置を検出してい
る。
録媒体への情報の書き込み動作なしに、誤り訂正機能を
考慮して光学的情報記録媒体の欠陥位置を検出してい
る。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施の形
態について図面を参照にしながら説明する。
態について図面を参照にしながら説明する。
【００１２】図１には、本発明の欠陥検出方法が適用さ
れる欠陥検出装置の機能を有する記録再生装置の構成を
示す。
れる欠陥検出装置の機能を有する記録再生装置の構成を
示す。
【００１３】この図１において、光ディスクの欠陥を検
出する際には以下のようにする。
出する際には以下のようにする。
【００１４】先ず、光ディスク１２は、機械制御系回路
４により回転制御がなされるスピンドルモータ１１によ
り回転駆動され、光ヘッド１０は、機械制御系回路４に
より光ディスク１２上の所定位置に移動制御されると共
に光ディスク１２上にレーザスポットを形成するように
なされている。
４により回転制御がなされるスピンドルモータ１１によ
り回転駆動され、光ヘッド１０は、機械制御系回路４に
より光ディスク１２上の所定位置に移動制御されると共
に光ディスク１２上にレーザスポットを形成するように
なされている。
【００１５】このとき、記録再生パターン発生回路１か
らは、あるデータパターンが、例えば光ディスクへの記
録再生の単位であるセクタ単位で出力される。このデー
タパターンは、欠陥検査用の特定のデータパターンであ
ってもよいし、他の任意のデータパターンであってもよ
い。上記記録再生パターン発生回路１から出力されたデ
ータパターンは、エンコーダ２に送られ、ここでセクタ
単位でエンコーディングされる。具体的に言うと、当該
エンコーダ２では、セクタ単位で誤り訂正符号の付加等
の信号処理が行われ、この誤り訂正符号が付加された信
号から実際のセクタ単位の記録信号、すなわち光ヘッド
１０を駆動するための信号が形成される。以下の説明で
は、光ディスクの欠陥を検出する際に上記記録再生パタ
ーン発生回路１から出力され、上記エンコーダ２でのエ
ンコーディングにより得られた記録信号を、欠陥検出用
信号と呼ぶ。このエンコーダ２から出力された欠陥検出
用信号は、記録再生回路３に送られる。
らは、あるデータパターンが、例えば光ディスクへの記
録再生の単位であるセクタ単位で出力される。このデー
タパターンは、欠陥検査用の特定のデータパターンであ
ってもよいし、他の任意のデータパターンであってもよ
い。上記記録再生パターン発生回路１から出力されたデ
ータパターンは、エンコーダ２に送られ、ここでセクタ
単位でエンコーディングされる。具体的に言うと、当該
エンコーダ２では、セクタ単位で誤り訂正符号の付加等
の信号処理が行われ、この誤り訂正符号が付加された信
号から実際のセクタ単位の記録信号、すなわち光ヘッド
１０を駆動するための信号が形成される。以下の説明で
は、光ディスクの欠陥を検出する際に上記記録再生パタ
ーン発生回路１から出力され、上記エンコーダ２でのエ
ンコーディングにより得られた記録信号を、欠陥検出用
信号と呼ぶ。このエンコーダ２から出力された欠陥検出
用信号は、記録再生回路３に送られる。
【００１６】ここで、光ディスクとして不可逆性の記録
膜を有する追記型光ディスク１２を用いている場合にお
いて、当該追記型光ディスク１２にデータを記録する際
には、上記記録再生回路３は光ヘッド１０のレーザ発振
器を当該追記型光ディスク１２への記録が可能なレーザ
パワー（記録レーザパワーと呼ぶ）にて発光させると共
に、当該光ヘッド１０のレーザ発振器を記録信号に応じ
て発光させる。また、当該追記型光ディスク１２から信
号を再生する際には、上記記録再生回路３は光ヘッド１
０のレーザ発信器を当該追記型光ディスク１２への記録
がなされることのないレーザパワー（再生レーザパワー
と呼ぶ）にて発光させる。これに対して、光ディスクの
欠陥を検出する際の当該記録再生回路３は、光ヘッド１
０のレーザ発振器を上記再生レーザパワーにて発光させ
ると共に、この再生レーザ光に上記欠陥検出用信号を重
畳させるようにする。
膜を有する追記型光ディスク１２を用いている場合にお
いて、当該追記型光ディスク１２にデータを記録する際
には、上記記録再生回路３は光ヘッド１０のレーザ発振
器を当該追記型光ディスク１２への記録が可能なレーザ
パワー（記録レーザパワーと呼ぶ）にて発光させると共
に、当該光ヘッド１０のレーザ発振器を記録信号に応じ
て発光させる。また、当該追記型光ディスク１２から信
号を再生する際には、上記記録再生回路３は光ヘッド１
０のレーザ発信器を当該追記型光ディスク１２への記録
がなされることのないレーザパワー（再生レーザパワー
と呼ぶ）にて発光させる。これに対して、光ディスクの
欠陥を検出する際の当該記録再生回路３は、光ヘッド１
０のレーザ発振器を上記再生レーザパワーにて発光させ
ると共に、この再生レーザ光に上記欠陥検出用信号を重
畳させるようにする。
【００１７】光ディスクの欠陥を検出する際に、上記光
ヘッド１０のレーザ発振器から出力された、上記再生レ
ーザパワーとなっている、欠陥検出用信号が重畳された
再生レーザ光は、追記型光ディスク１２上に照射され
る。このとき、当該再生レーザ光は上記再生レーザパワ
ーとなっているため、追記型光ディスク１２に記録がな
されることはない。当該追記型光ディスク１２にて反射
された上記欠陥検出用信号が重畳されている再生レーザ
光は、光ヘッド１０の受光素子にて受光され、この受光
信号は受光系回路５に送られる。
ヘッド１０のレーザ発振器から出力された、上記再生レ
ーザパワーとなっている、欠陥検出用信号が重畳された
再生レーザ光は、追記型光ディスク１２上に照射され
る。このとき、当該再生レーザ光は上記再生レーザパワ
ーとなっているため、追記型光ディスク１２に記録がな
されることはない。当該追記型光ディスク１２にて反射
された上記欠陥検出用信号が重畳されている再生レーザ
光は、光ヘッド１０の受光素子にて受光され、この受光
信号は受光系回路５に送られる。
【００１８】当該受光系回路５は、上記受光信号から上
記再生レーザ光に重畳されている欠陥検出用信号を抜き
出す。当該抜き出された欠陥検出用信号は、デコーダ６
に送られる。
記再生レーザ光に重畳されている欠陥検出用信号を抜き
出す。当該抜き出された欠陥検出用信号は、デコーダ６
に送られる。
【００１９】当該デコーダ６は、セクタ単位で上記欠陥
検出用信号をデコードする。具体的には、欠陥検出用信
号に誤り訂正処理を施す。なお、デコーダ６はスクラン
ブルテーブル上のエラー訂正能力値をコントローラ９か
ら設定できるものである。このデコーダ６による誤り訂
正処理後の信号は、判定回路７に送られる。
検出用信号をデコードする。具体的には、欠陥検出用信
号に誤り訂正処理を施す。なお、デコーダ６はスクラン
ブルテーブル上のエラー訂正能力値をコントローラ９か
ら設定できるものである。このデコーダ６による誤り訂
正処理後の信号は、判定回路７に送られる。
【００２０】この判定回路７は、セクタ単位の上記誤り
訂正処理の正否が判定される。具体的には、欠陥検出の
際に記録再生パターン発生回路１から出力された欠陥検
査出用のデータパターンと、上記誤り訂正処理により得
られたデータパターンとを比較することにより、上記誤
り訂正処理の正否が判定される。すなわち、欠陥検査用
のデータパターンと上記誤り訂正処理により得られたデ
ータパターンとが一致したならば、当該セクタにおいて
正しく誤り訂正されたと判断し、一致しなければ当該セ
クタは正しく誤り訂正されていないと判断する。
訂正処理の正否が判定される。具体的には、欠陥検出の
際に記録再生パターン発生回路１から出力された欠陥検
査出用のデータパターンと、上記誤り訂正処理により得
られたデータパターンとを比較することにより、上記誤
り訂正処理の正否が判定される。すなわち、欠陥検査用
のデータパターンと上記誤り訂正処理により得られたデ
ータパターンとが一致したならば、当該セクタにおいて
正しく誤り訂正されたと判断し、一致しなければ当該セ
クタは正しく誤り訂正されていないと判断する。
【００２１】ここで、判定回路７にて当該セクタが正し
く誤り訂正されていないと判断されると言うことは、追
記型光ディスク１２上の当該セクタに応じた記録領域
に、上記エンコーダ２及びデコーダ６による誤り訂正能
力では対応できない欠陥が存在することを意味してい
る。上記判定回路７にて正しく誤り訂正されていないと
判断されたセクタは、欠陥セクタとして判定され、この
欠陥セクタのセクタ番号がメモリ８に保存される。
く誤り訂正されていないと判断されると言うことは、追
記型光ディスク１２上の当該セクタに応じた記録領域
に、上記エンコーダ２及びデコーダ６による誤り訂正能
力では対応できない欠陥が存在することを意味してい
る。上記判定回路７にて正しく誤り訂正されていないと
判断されたセクタは、欠陥セクタとして判定され、この
欠陥セクタのセクタ番号がメモリ８に保存される。
【００２２】その後、上記メモリ８に保存された欠陥セ
クタ番号は、例えば追記型光ディスク１２の所定の記録
領域に記録される。
クタ番号は、例えば追記型光ディスク１２の所定の記録
領域に記録される。
【００２３】図２には、本発明の光学的情報記録媒体の
一例である追記型光ディスク１２の記録領域の配置を示
している。すなわち、当該追記型光ディスク１２は、例
えばディスク最内周側と最外周側に、初期欠陥を登録す
る領域（欠陥情報領域ＤＭＡ：Defect Management Are
a）を設けており、この欠陥情報領域ＤＭＡに上記欠陥
セクタ番号を記録する。このように追記型光ディスク１
２に欠陥情報領域ＤＭＡを設けることで、例えば製造の
検査の際に得られた初期の欠陥情報をディスクに記録す
ることができ、これにより、書き込み時に、予めエラー
になると予想されるセクタにアクセスすることなく動作
可能となるため、書き込み時の交替処理が発生せず、記
録速度が増加する効果が得られる。また、ディスク製造
時に不合格となるディスクが減るため製造時の歩留まり
も向上する。図２の例ではディスク内外周それぞれ２箇
所ずつ合計４箇所の欠陥情報領域ＤＭＡ１〜ＤＭＡ４が
設けられており、これら欠陥情報領域ＤＭＡ１〜ＤＭＡ
４に同じ内容が記録される。なお、図２の図中ＷＤＬは
従来の追記型光ディスクから存在する交替処理用の領域
であり、ユーザデータエリアはユーザにより記録データ
が記録される領域である。また、図２の例では、ディス
クの記録領域はゾーンＺ１〜ゾーンＺ１３までの１３個
のゾーンに分けられている。
一例である追記型光ディスク１２の記録領域の配置を示
している。すなわち、当該追記型光ディスク１２は、例
えばディスク最内周側と最外周側に、初期欠陥を登録す
る領域（欠陥情報領域ＤＭＡ：Defect Management Are
a）を設けており、この欠陥情報領域ＤＭＡに上記欠陥
セクタ番号を記録する。このように追記型光ディスク１
２に欠陥情報領域ＤＭＡを設けることで、例えば製造の
検査の際に得られた初期の欠陥情報をディスクに記録す
ることができ、これにより、書き込み時に、予めエラー
になると予想されるセクタにアクセスすることなく動作
可能となるため、書き込み時の交替処理が発生せず、記
録速度が増加する効果が得られる。また、ディスク製造
時に不合格となるディスクが減るため製造時の歩留まり
も向上する。図２の例ではディスク内外周それぞれ２箇
所ずつ合計４箇所の欠陥情報領域ＤＭＡ１〜ＤＭＡ４が
設けられており、これら欠陥情報領域ＤＭＡ１〜ＤＭＡ
４に同じ内容が記録される。なお、図２の図中ＷＤＬは
従来の追記型光ディスクから存在する交替処理用の領域
であり、ユーザデータエリアはユーザにより記録データ
が記録される領域である。また、図２の例では、ディス
クの記録領域はゾーンＺ１〜ゾーンＺ１３までの１３個
のゾーンに分けられている。
【００２４】上述のように、本発明構成例の欠陥検出方
法及び装置においては、従来の検出方法が記録再生装置
の誤り訂正能力に関係なく欠陥検出を行っているのに対
して、記録再生装置の記録再生系回路を利用して実際の
記録再生動作をシミュレートして欠陥検出を行うように
しており、実際に使用される記録再生装置の誤り訂正能
力について考慮されているため、例えばディスクの周方
向についた小さな傷などの単純に物理的に連続した欠陥
のように、実際に使用される記録再生装置の誤り訂正能
力によれば実際の記録時にエラーにはならない（すなわ
ち誤り訂正される）欠陥については欠陥として検出され
ず、したがってディスクの製造時の歩留まりを向上させ
ることが可能となる。また、欠陥として検出されるの
は、誤り訂正できない欠陥部分であるため、従来のよう
に検査規格のレベルによって欠陥として検出されたり、
逆にされなかったりするような不確定性が無くなり、追
記型光ディスク等に高い信頼性を保てるようになる。
法及び装置においては、従来の検出方法が記録再生装置
の誤り訂正能力に関係なく欠陥検出を行っているのに対
して、記録再生装置の記録再生系回路を利用して実際の
記録再生動作をシミュレートして欠陥検出を行うように
しており、実際に使用される記録再生装置の誤り訂正能
力について考慮されているため、例えばディスクの周方
向についた小さな傷などの単純に物理的に連続した欠陥
のように、実際に使用される記録再生装置の誤り訂正能
力によれば実際の記録時にエラーにはならない（すなわ
ち誤り訂正される）欠陥については欠陥として検出され
ず、したがってディスクの製造時の歩留まりを向上させ
ることが可能となる。また、欠陥として検出されるの
は、誤り訂正できない欠陥部分であるため、従来のよう
に検査規格のレベルによって欠陥として検出されたり、
逆にされなかったりするような不確定性が無くなり、追
記型光ディスク等に高い信頼性を保てるようになる。
【００２５】さらに、追記型光ディスクに初期の欠陥情
報を保持する領域を設けたことで、製造の検査の際に得
られた初期の欠陥情報をディスクに記録することがで
き、書き込み時に予めエラーになると予想されるセクタ
にアクセスすることなく動作可能なため、書き込み時の
交替などが発生せず、記録速度が増加する効果が得られ
る。
報を保持する領域を設けたことで、製造の検査の際に得
られた初期の欠陥情報をディスクに記録することがで
き、書き込み時に予めエラーになると予想されるセクタ
にアクセスすることなく動作可能なため、書き込み時の
交替などが発生せず、記録速度が増加する効果が得られ
る。
【００２６】なお、上述の例では、光学的情報記録媒体
として追記型光ディスクを例に挙げているが、光磁気デ
ィスクのように複数回の記録再生が可能な媒体であって
も、本発明の欠陥検出方法を適用できることは言うまで
もない。
として追記型光ディスクを例に挙げているが、光磁気デ
ィスクのように複数回の記録再生が可能な媒体であって
も、本発明の欠陥検出方法を適用できることは言うまで
もない。
【００２７】また、本発明の欠陥検出方法を用いた欠陥
検出は製造初期時のみに限らず、出荷後にユーザが行う
ことも可能である。
検出は製造初期時のみに限らず、出荷後にユーザが行う
ことも可能である。
【００２８】なお、本発明の欠陥検出方法は、一般的に
使用される記録再生装置を対象にしているが、もちろ
ん、欠陥検出装置として特化された装置であってもよ
い。このため、記録再生装置として、エンコーダとデコ
ーダを２系統備えたもの、例えばディスクの両面が記録
再生に使用できるようなものにも適用できる。この場
合、ディスクの上下面に対応して２系統ずつのエンコー
ダ，デコーダを備えることで、両面同時に本発明の欠陥
検出方法を適用することができる。
使用される記録再生装置を対象にしているが、もちろ
ん、欠陥検出装置として特化された装置であってもよ
い。このため、記録再生装置として、エンコーダとデコ
ーダを２系統備えたもの、例えばディスクの両面が記録
再生に使用できるようなものにも適用できる。この場
合、ディスクの上下面に対応して２系統ずつのエンコー
ダ，デコーダを備えることで、両面同時に本発明の欠陥
検出方法を適用することができる。
【００２９】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
おいては、欠陥検査に用いるデータパターンに所定単位
で誤り訂正符号を付加し、この誤り訂正符号が付加され
たデータパターンを再生レーザパワーのレーザ光に重畳
して光学的情報記録媒体の記録面に照射し、当該記録面
からの反射光を受光して得た受光信号から誤り訂正符号
が付加されたデータパターンを抜き出し、この誤り訂正
符号が付加されたデータパターンに誤り訂正処理を施し
てその正否を判定し、当該判定にて否と判定したときに
光学的情報記録媒体の欠陥を検出することにより、光学
的情報記録媒体への情報の書き込み動作なしに、記録再
生装置の誤り訂正機能を考慮して光学的情報記録媒体の
欠陥位置を検出可能としており、したがって、光学的情
報記録媒体の製造時の歩留まりを向上させることができ
る。また、記録領域内の欠陥位置を示す情報を、不可逆
性の記録膜を有する光学的情報記録媒体の所定位置に記
録することにより、記録時にエラーとなるような欠陥が
あっても記録領域の交替処理の発生を防止でき、したが
って書き込み速度が低下するようなことがない。
おいては、欠陥検査に用いるデータパターンに所定単位
で誤り訂正符号を付加し、この誤り訂正符号が付加され
たデータパターンを再生レーザパワーのレーザ光に重畳
して光学的情報記録媒体の記録面に照射し、当該記録面
からの反射光を受光して得た受光信号から誤り訂正符号
が付加されたデータパターンを抜き出し、この誤り訂正
符号が付加されたデータパターンに誤り訂正処理を施し
てその正否を判定し、当該判定にて否と判定したときに
光学的情報記録媒体の欠陥を検出することにより、光学
的情報記録媒体への情報の書き込み動作なしに、記録再
生装置の誤り訂正機能を考慮して光学的情報記録媒体の
欠陥位置を検出可能としており、したがって、光学的情
報記録媒体の製造時の歩留まりを向上させることができ
る。また、記録領域内の欠陥位置を示す情報を、不可逆
性の記録膜を有する光学的情報記録媒体の所定位置に記
録することにより、記録時にエラーとなるような欠陥が
あっても記録領域の交替処理の発生を防止でき、したが
って書き込み速度が低下するようなことがない。
【図１】本発明の欠陥検出方法が適用される記録再生装
置の概略構成を示すブロック回路図である。
置の概略構成を示すブロック回路図である。
【図２】本発明の光学的情報記録媒体の一例としての追
記型光ディスクの記録領域の配置の様子について説明す
るための図である。
記型光ディスクの記録領域の配置の様子について説明す
るための図である。
１ 記録再生パターン発生回路 ２ エンコーダ ３ 記録再生回路 ４ 機械系制御回路 ５ 受光系回路 ６ デコーダ ７ 判定回路 ８ メモリ ９ コントローラ １０ 光ヘッド １２ 光ディスク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ 9558−5Ｄ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ
Claims (9)
- 【請求項１】 レーザ光を用いて情報記録及び情報再生
が行われる光学的情報記録媒体の欠陥を検出する欠陥検
出方法において、 欠陥検査に用いるデータパターンを発生し、 上記データパターンに所定単位で誤り訂正符号を付加
し、 上記光学的情報記録媒体への情報再生時に使用する再生
レーザパワーのレーザ光に、上記誤り訂正符号が付加さ
れたデータパターンを重畳し、 上記誤り訂正符号が付加されたデータパターンを重畳し
た上記再生レーザパワーのレーザ光を、上記光学的情報
記録媒体の記録面に照射し、 上記光学的情報記録媒体の記録面からの反射光を受光し
て受光信号を生成し、 上記受光信号から上記誤り訂正符号が付加されたデータ
パターンを抜き出し、 上記抜き出した上記誤り訂正符号が付加されたデータパ
ターンに誤り訂正処理を施し、 上記所定単位での誤り訂正処理の正否を判定し、 上記判定にて否と判定したときに、上記所定単位に対応
する上記光学的情報記録媒体の記録領域を欠陥として検
出することを特徴とする欠陥検出方法。 - 【請求項２】 上記欠陥として検出した上記光学的情報
記録媒体の記録領域の位置を示す情報を、上記光学的情
報記録媒体の所定位置に記録することを特徴とする請求
項１記載の欠陥検出方法。 - 【請求項３】 上記光学的情報記録媒体は、不可逆性の
記録膜を有する追記型光ディスクであることを特徴とす
る請求項２記載の欠陥検出方法。 - 【請求項４】 上記判定では、上記誤り訂正処理後のデ
ータパターンと上記欠陥検査に用いるデータパターンと
を比較し、上記誤り訂正処理後のデータパターンと上記
欠陥検査に用いるデータパターンとが一致しないとき
に、上記否と判定することを特徴とする請求項１記載の
欠陥検出方法。 - 【請求項５】 レーザ光を用いて情報記録及び情報再生
が行われる光学的情報記録媒体の欠陥を検出する欠陥検
出装置において、 欠陥検査に用いるデータパターンを発生するデータパタ
ーン発生手段と、 上記データパターンに所定単位で誤り訂正符号を付加す
る誤り訂正符号付加手段と、 上記光学的情報記録媒体への情報再生時に使用する再生
レーザパワーのレーザ光に、上記誤り訂正符号が付加さ
れたデータパターンを重畳する重畳手段と、 上記誤り訂正符号が付加されたデータパターンを重畳し
た上記再生レーザパワーのレーザ光を、上記光学的情報
記録媒体の記録面に照射する照射手段と、 上記光学的情報記録媒体の記録面からの反射光を受光し
て受光信号を生成する受光信号生成手段と、 上記受光信号から上記誤り訂正符号が付加されたデータ
パターンを抜き出す抜き出し手段と、 上記抜き出した上記誤り訂正符号が付加されたデータパ
ターンに誤り訂正処理を施す誤り訂正処理手段と、 上記所定単位での誤り訂正処理の正否を判定し、当該判
定にて否と判定したときに、上記所定単位に対応する上
記光学的情報記録媒体の記録領域を欠陥として検出する
判定検出手段とを有することを特徴とする欠陥検出装
置。 - 【請求項６】 上記欠陥として検出した上記光学的情報
記録媒体の記録領域の位置を示す情報を、上記光学的情
報記録媒体の所定位置に記録する記録手段を備えること
を特徴とする請求項５記載の欠陥検出装置。 - 【請求項７】 上記光学的情報記録媒体は、不可逆性の
記録膜を有する追記型光ディスクであることを特徴とす
る請求項６記載の欠陥検出装置。 - 【請求項８】 上記判定検出手段では、上記誤り訂正処
理後のデータパターンと上記欠陥検査に用いるデータパ
ターンとを比較し、上記誤り訂正処理後のデータパター
ンと上記欠陥検査に用いるデータパターンとが一致しな
いときに、上記否と判定することを特徴とする請求項５
記載の欠陥検出装置。 - 【請求項９】 不可逆性の記録膜を有する光学的情報記
録媒体において、 記録領域内の欠陥位置を示す情報を、所定位置に記録し
てなることを特徴とする光学的情報記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30307495A JPH09145634A (ja) | 1995-11-21 | 1995-11-21 | 欠陥検出方法及び装置、並びに光学的情報記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30307495A JPH09145634A (ja) | 1995-11-21 | 1995-11-21 | 欠陥検出方法及び装置、並びに光学的情報記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09145634A true JPH09145634A (ja) | 1997-06-06 |
Family
ID=17916588
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30307495A Withdrawn JPH09145634A (ja) | 1995-11-21 | 1995-11-21 | 欠陥検出方法及び装置、並びに光学的情報記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09145634A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6976196B2 (en) | 2002-02-20 | 2005-12-13 | Hitachi Global Storage Technologies Japan, Ltd. | Error detecting method and device, information storing and reproducing device and magnetic disk drive |
| WO2006090454A1 (ja) * | 2005-02-24 | 2006-08-31 | Fujitsu Limited | 記憶装置、欠陥チェック方法及びプログラム |
| US7417816B2 (en) | 2004-07-16 | 2008-08-26 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Surface analysis test with mixed ECC symbol |
-
1995
- 1995-11-21 JP JP30307495A patent/JPH09145634A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6976196B2 (en) | 2002-02-20 | 2005-12-13 | Hitachi Global Storage Technologies Japan, Ltd. | Error detecting method and device, information storing and reproducing device and magnetic disk drive |
| US7417816B2 (en) | 2004-07-16 | 2008-08-26 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Surface analysis test with mixed ECC symbol |
| WO2006090454A1 (ja) * | 2005-02-24 | 2006-08-31 | Fujitsu Limited | 記憶装置、欠陥チェック方法及びプログラム |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030204 |