JPH06259768A - 光学式情報記録再生装置における情報記録媒体の欠陥検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ディスクの全面欠陥検査（サーティファイ検
査）を短時間でできるようにする。 【構成】 ディスク初期化の際の全面サーティファイ時
に、そのディスクの各セクタに半導体レーザを再生パワ
ーで照射し、その反射光によって得る再生データ信号の
振幅が所定の下限レベル以下のミッシングパルスがあっ
たときには、そのミッシングパルスを検出したセクタの
記録データを消去して検査データを記録し、それをベリ
ファイして欠陥を検出したときにはそのセクタを欠陥セ
クタとして欠陥管理領域に登録し、上記ミッシングパル
スを検出しないセクタについては上記欠陥検出処理を省
略することにより、ディスク全体の欠陥検査に要する時
間を短縮する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光学式情報記録再生
装置において情報記録媒体であるディスクの初期化とし
て行なう情報記録媒体の欠陥検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】光磁気ディスク装置や光ディスク装置等
の光学式情報記録再生装置では、情報記録媒体であるデ
ィスクを使用する際に初期化として、全面欠陥検査（全
面サーティファイ）を行ない、その時に欠陥（エラー）
が検出された時には、そのセクタを交替情報記載領域に
登録するようにしている。

【０００３】従来、このようなディスクの全面欠陥検査
は、例えば図９にフローチャートを示すように、まず最
初にディスク内のデータを消去し、次に検査するデータ
パターンをそこに記録してその記録した内容をベリファ
イチェックし、そのチェックで欠陥を検出した時にはそ
のセクタを欠陥セクタとして、図１０にＤＭＡで示す交
替情報記載領域である欠陥管理領域（Ｄefect Ｍanagem
ent Ａreas）に登録していた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うにディスクの全面に亘ってデータを消去した後検査の
ためのデータパターンを記録し、その記録した内容を全
てベリファイチェックして欠陥のあるセクタを検出する
には、ディスク全面に亘る回転が合計で３回必要となる
ため、多くの時間がかかってしまうという問題点があっ
た。

【０００５】例えば、ＩＳＯ標準の１３０ｍｍのディス
クの場合には１８７５０本（巻回数）のトラックがある
ので、このディスクを１８００ｒｐｍで回転させたとす
ると、上記検査のために１面を３回転させると、１０分
２５秒×３回となって３０分以上も時間がかかってしま
うという問題点があった。この発明は上記の問題点に鑑
みてなされたものであり、ディスクの全面欠陥検査（サ
ーティファイ検査）を短時間でできるようにすることを
目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するため、上述したような光学式情報記録再生装置
において、ディスクの初期化として行なうディスクの全
面欠陥検査時に、そのディスクの各セクタに半導体レー
ザを再生パワーで照射し、その反射光によって得る再生
データ信号の振幅が所定の下限レベル以下のミッシング
パルスがあったときには、そのミッシングパルスを検出
したセクタに対して記録データを消去して検査データを
記録し、それをベリファイして欠陥を検出したときにそ
のセクタを欠陥セクタとして欠陥管理領域に登録する情
報記録媒体の欠陥検査方法を提供する。

【０００７】または、ディスクの初期化として行なうデ
ィスクの全面欠陥検査時に、そのディスクの各セクタに
半導体レーザを再生パワーで照射し、その反射光によっ
て得る再生データ信号の振幅が所定の上限レベル以上の
エキストラパルスがあったときには、そのエキストラパ
ルスを検出したセクタに対して記録データを消去して検
査データを記録し、それをベリファイして欠陥を検出し
たときにそのセクタを欠陥セクタとして欠陥管理領域に
登録する情報記録媒体の欠陥検査方法を提供する。

【０００８】あるいは、ディスクの初期化として行なう
ディスクの全面欠陥検査時に、そのディスクの各セクタ
に半導体レーザを再生パワーで照射し、その反射光によ
って得る再生データ信号からディスクの各セクタに書き
込まれている３つの識別子をそれぞれ読み取り、そのう
ち１つでも読み取れなかったときには、そのセクタに対
してのみ記録データを消去して検査データを記録し、そ
れをベリファイして欠陥を検出したときにそのセクタを
欠陥セクタとして欠陥管理領域に登録する情報記録媒体
の欠陥検査方法を提供する。

【０００９】そして、上記いずれかの情報記録媒体の欠
陥検査方法において、上記全面欠陥検査時に半導体レー
ザを再生パワーで照射する際のディスクの回転速度を、
通常の読み／書き時に比べて速くすると、効果的である
さらに、そのディスクの回転速度を速くする欠陥検査方
法において、ディスクの回転速度を速めたときにサーボ
系のエラーが発生した場合は、そのディスクの回転速度
を遅くするとよい。

【００１０】

【作用】この発明による光学式情報記録再生装置におけ
る情報記録媒体の欠陥検査方法によれば、ディスクの各
セクタに半導体レーザを再生パワーで照射し、その反射
光によって得る再生データ信号にミッシングパルスのあ
るセクタがあったとき、あるいはエキストラパルスのあ
るセクタがあったときに、それらのパルスを検出したセ
クタに対して記録データを消去して検査データを記録
し、それをベリファイして欠陥を検出したときにそのセ
クタを欠陥セクタとして欠陥管理領域に登録し、上記ミ
ッシングパルスあるいはエキストラパルスを検出しない
セクタについては上記の各処理をしないので、その処理
を省略できる分だけディスク全体の欠陥検査に要する時
間を短縮することができる。

【００１１】また、上記と同様にレーザを再生パワーで
照射し、その反射光によって得る再生データ信号からデ
ィスクの各セクタに書き込まれている３つの識別子をそ
れぞれ読み取り、そのうち１つでも読み取れなかったと
きには、そのセクタに対してのみ記録データを消去して
検査データを記録し、それをベリファイする欠陥検査方
法によっても、３つの識別子を全て読み取れたセクタに
対しては上記の消去，記録，ベリファイの各処理を行な
わないで済むので、それだけディスクの欠陥検査に要す
る時間を短縮することができる。

【００１２】そして、上記各情報記録媒体の欠陥検査方
法において、全面欠陥検査時に半導体レーザを再生パワ
ーで照射する際のディスクの回転速度を、通常の読み／
書き時に比べて速くすれば、その早めた分だけ欠陥検査
の時間をさらに短縮することができる。

【００１３】また、そのディスクの回転速度を速めたと
きにサーボ系のエラーが発生した場合には、そのディス
クの回転速度を少しずつ遅くするようにすれば、回転速
度を速めることによってサーボ系が追従できなくなるよ
うなことを防止できる。

【００１４】

【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて具
体的に説明する。図２はこの発明による情報記録媒体の
欠陥検査方法を実施する光学式情報記録再生装置の一例
を示すブロック図である。

【００１５】この光学式情報記録再生装置は、各種デー
タを記録（ライト）する情報記録媒体であるディスク１
を回転させるモータ２と、そのモータ２の回転速度（回
転数）を制御する回転制御系３と、ディスク１の記録面
に半導体レーザを照射する光ピックアップ４と、その光
ピックアップ４をディスク１の半径方向に移動させるア
クチュエータ制御系５と、光ピックアップ４からの信号
を検出する信号検出部６とを備えている。

【００１６】また、ＣＰＵを内蔵してこの装置全体の制
御を司ると共に、この発明によるディスク１の欠陥検査
（サーティファイ）処理等を行なうマイクロコンピュー
タであるドライブコントローラ７と、そのドライブコン
トローラ７が各種の処理を行なうときに使用する記憶エ
リアであるＲＯＭ，ＲＡＭ等のメモリ８と、ドライブコ
ントローラ７から送られる最適記録パワー値によって光
ピックアップ４の半導体レーザ（レーザ光）の照射を制
御するレーザ駆動回路９も備えている。

【００１７】したがって、ディスク１に情報を記録する
際は、ドライブコントローラ７の指示によって回転制御
系３がモータ２を回転駆動させてディスク１を回転させ
ると、まずアクチュエータ制御系５に指示を送って光ピ
ックアップ４を移動させてディスク１のコントロールト
ラックにレーザ光を照射し、その反射光に対応する信号
を信号検出部６によって検出してドライブコントローラ
７へ送る。

【００１８】するとドライブコントローラ７は、その信
号に応じた最適記録パワー値をアクチュエータ制御系５
に送って光ピックアップ４を移動させながら、ドライブ
コントローラ７で設定した最適記録パワー値でレーザ駆
動回路９が光ピックアップ４にディスク１の記録面にレ
ーザ光を照射させて各種の情報を記録する。

【００１９】また、ディスク１に記録されている情報を
再生（リード）する際には、ドライブコントローラ７か
らの再生出力値（再生パワー）でレーザ駆動回路９が光
ピックアップ４にレーザ光を照射させ、その反射光に応
じた信号を信号検出部６が検出してドライブコントロー
ラ７へ送って各種の情報を再生する。

【００２０】次に、図１に示すフローチャートと図３及
び図４を参照して、この発明による情報記録媒体の欠陥
検査方法の第１実施例について説明する。この第１実施
例では、サーティファイコマンドが発せられると、図１
に示すシーケンスがスタートする。まずステップ１で、
半導体レーザを再生パワーでディスクの内周側から各セ
クタに照射して、その反射光に対応して信号検出部６
（具体的な回路例を図５で追って説明する）から出力さ
れる図３に示す再生データ信号のうちＲＦ和信号を監視
する。

【００２１】次のステップ２では、その監視したＲＦ和
信号の振幅が、図４に示すように予め設定した所定の下
限レベルＬow以下になるミッシングパルスがあるか否か
を判断し、それが無ければステップ８ヘ進むが、図３に
ａで示すようにディスク面に欠陥部がある場合にはその
部分の反射光量が減少し、ミッシングパルスが発生する
のでステップ３へ進んで、そのミッシングパルスを検出
したセクタの記録データを消去する。

【００２２】ステップ４では、欠陥検査するための検査
データ(検査データパターン)をそのセクタに記録し、ス
テップ５でその記録した内容をベリファイチェックす
る。したがって、このミッシングパルスが発生したセク
タの部分だけでディスクを３往復回転させることにな
る。そして、そのベリファイチェックで欠陥を検出した
か否かをステップ６で判断し、欠陥がなければステップ
８へ進むが、あればステップ７へ進んでその欠陥を検出
したセクタを欠陥セクタとして交替情報記載領域である
欠陥管理領域（Ｄefect Ｍanagement Ａreas）に登録し
てステップ８に進む。

【００２３】ステップ８で次のセクタへ進み、ステップ
９で最終のセクタまでサーティファイしたと判断したと
きには処理を終了する。まだサーティファイしていない
セクタが残っていればステップ１へ戻って前述した処理
を繰り返し行なう。

【００２４】なお、ミッシングパルスは、例えばディス
クに欠陥のない通常の状態におけるＲＦ和信号のレベル
に対して２０％ダウンしたレベルを図４に示した下限レ
ベルＬowとして設定し、その下限レベルＬow以下にＲＦ
和信号のレベルが低下したときに検出されるようにして
おく。

【００２５】図５は信号検出部６の具体的な電気回路例
を示す電気回路図である。この電気回路は、図２に示し
た光ピックアップ４によってディスク面に向けて照射し
た半導体レーザの反射光を２個の受光素子が受光して出
力する光電流信号を、それぞれＩ／Ｖ変換回路１１，１
２に入力させて電圧信号に変換した後、抵抗Ｒ１，Ｒ２
とオペアンプ１３による和検出回路によってＲＦ和信号
を生成し、抵抗Ｒ３，Ｒ４とオペアンプ１４による差検
出回路によってＲＦ差信号を生成して、それぞれ出力す
る。

【００２６】次に、図６に示すフローチャートを参照し
て、この発明による情報記録媒体の欠陥検査方法の第２
実施例について説明する。この第２実施例は、図１で説
明した第１実施例とステップ２の判断及びステップ３の
処理のみが異なり、他の判断及び処理は全て同一である
ため、主にその相違する部分について説明する。

【００２７】図６に示すシーケンスがスタートすると、
図１のシーケンスと同様にステップ１で半導体レーザを
再生パワーでディスクの内周側から各セクタに照射し
て、その反射光に対応して信号検出部６から出力される
再生データ信号（ＲＦ和信号）を監視する。

【００２８】次のステップ２では、その監視したＲＦ和
信号の振幅が、図４に示すように予め設定した所定の上
限レベルＬup以上になるエキストラパルス（反射光量が
アップしたときに発生する）があるか否かを判断し、そ
れが無ければステップ８ヘ進むが、エキストラパルスが
あればステップ３へ進んで、そのエキストラパルスを検
出したセクタの記録データを消去する。それ以降は、図
１の実施例で説明したステップ４以降と全く同様な処理
を、最後のセクタのサーティファイが終了するまで繰り
返し実行する。

【００２９】なお、エキストラパルスは、例えばディス
クに欠陥のない通常の状態におけるＲＦ和信号のレベル
に対して２０％アップしたレベルを図４に示した上限レ
ベルＬupとして、その上限レベルＬup以上にＲＦ和信号
が上昇したときに検出されるようにしておく。さらに、
より確実な欠陥検査を行なうには、上述の第１実施例と
第２実施例を組合せて実施するようにするとよい。

【００３０】次に、図７に示すフローチャートを参照し
て、この発明による情報記録媒体の欠陥検査方法の第３
実施例について説明する。この第３実施例も、図１で説
明した第１実施例とステップ２の判断及びステップ３の
処理のみが異なり、他の判断及び処理は全て同一である
ため、主にその相違する部分について説明する。

【００３１】この実施例では、図１の実施例の場合と同
様に、ステップ１で半導体レーザを再生パワーでディス
クの内周側から各セクタに照射して、その反射光に対応
して信号検出部６から出力される再生データ信号を監視
する。

【００３２】次のステップ２では、その再生データ信号
からディスク１（図２）の各セクタの先頭に書き込まれ
ている３つの同一内容（トラックＮＯ.やセクタＮＯ.が
書かれている）の識別子（ＩＤ）をそれぞれ読み取り、
そのうち１つでも読み取れないものがあるか否かを判断
し、それが３つ全て読み取れればステップ８ヘ進むが、
そのうち１つでも読み取れないものがあったときにはス
テップ３へ進んで、そのセクタの記録データを消去す
る。それ以降は、図１の実施例で説明したステップ４以
降と全く同様な処理を、最後のセクタのサーティファイ
が終了するまで繰り返し実行する。

【００３３】次に、図８に示すフローチャートを参照し
て、この発明による情報記録媒体の欠陥検査方法の第４
実施例について説明する。この第４実施例では、図１の
実施例に対し、全面サーティファイ時に半導体レーザを
再生パワーで照射する際のディスク１（図２参照）の回
転速度を、通常の読み／書き時に比べて速くすることに
よって、サーティファイ時間を短縮するようにしてい
る。

【００３４】すなわち、この実施例では図８のシーケン
スがスタートすると、ステップ１１でディスクの回転速
度を図１の実施例の場合に比べて速くする（例えば２倍
にする）。次にステップ１２で、半導体レーザを再生パ
ワーでディスクの内周側から各セクタに照射して、その
反射光に対応して信号検出部６（図２参照）から出力さ
れる再生データ信号（ＲＦ和信号）を監視する。

【００３５】ステップ１３では、サーボ系にトラッキン
グエラー，フォーカスエラー，シークエラー等のエラー
発生がないかどうかを判断し、エラーが発生した場合は
ディスクの回転速度が速すぎてそれにサーボ系が追従で
きないと判断し、ステップ１４へ進んでディスクの回転
速度を所定速度だけ遅くし、ステップ１３の判断を繰り
返す。すなわち、サーボ系のエラーが発生しなくなるま
でディスクの回転速度を遅くする。

【００３６】また、エラーが発生せずサーボ系が追従で
きていると判断すると、ステップ１５へ進んで引き続き
信号検出部６から出力される再生データ信号の監視を続
行する。そして、次のステップ１６からステップ２３ま
での処理及び判断は、前述した図１の実施例におけるス
テップ２からステップ９までと全く同様であり、それら
の処理及び判断をして最後のセクタのサーティファイが
終了すると全ての処理を終了する。

【００３７】この実施例において、ディスクの回転速度
を、通常の読み／書き時の回転速度の２倍にすれば、全
面サーティファイ時間を１／２にすることができ、その
際にもしディスクの回転速度が速すぎてそれにサーボ系
が追従できない場合があったときでも、追従できるとこ
ろまでディスクの回転速度を下げて、サーボ系が追従で
きる最高回転速度で全面サーティファイを続けられる。

【００３８】なお、図８のステップ１１におけるディス
クの回転速度を、サーボ系が充分追従可能な回転速度に
予め設定しておけば、同図におけるステップ１３〜ステ
ップ１５の判断及び処理を省略することもできる。

【００３９】また、フロチャートの図示は省略するが、
図８のステップ１６とステップ１７を、図６で説明した
第２実施例のステップ２とステップ３の判断及び処理内
容にに代えれば、図８のステップ１５で監視した再生デ
ータ信号（ＲＦ和信号）の振幅にエキストラパルスがあ
るか否かを判断して、それがあった場合にはそのエキス
トラパルスを検出したセクタの記録データを消去して検
査データパターンを記録し、それをベリファイして欠陥
を検出したときにはそのセクタを欠陥セクタとして欠陥
管理領域に登録する処理を、図６の第２実施例よりも短
時間で行なうことができる。

【００４０】さらに、同様にフロチャートの図示は省略
するが、図８のステップ１６とステップ１７を、図７で
説明した第３実施例のステップ２とステップ３の判断及
び処理内容に代えれば、図８のステップ１５で監視した
再生データ信号からディスク１の各セクタに書き込まれ
ている３つの識別子（ＩＤ）をそれぞれ読み取り、その
うち１つでも読み取れないものがあったときには、その
セクタの記録データを消去して検査データパターンを記
録し、それをベリファイして欠陥を検出したときにはそ
のセクタを欠陥セクタとして欠陥管理領域に登録する処
理を、図７の第３実施例よりも短時間で行なうことがで
きる。

【００４１】

【発明の効果】以上説明してきたように、この発明によ
る光学式情報記録再生装置における情報記録媒体の欠陥
検査方法によれば、ディスクの各セクタに照射した半導
体レーザの反射光によって得る再生データ信号にミッシ
ングパルスのあるセクタ、あるいはエキストラパルスの
あるセクタがあったときには、そのパルスを検出したセ
クタに対して記録データを消去して検査データを記録
し、それをベリファイして欠陥を検出したときにそのセ
クタを欠陥セクタとして欠陥管理領域に登録するので、
上記ミッシングパルスあるいはエキストラパルスを検出
しないセクタについては上記欠陥検査の処理をしないで
済み、その分だけディスク全体の欠陥検査に要する時間
を短縮することができる。

【００４２】また、上記反射光によって得る再生データ
信号からディスクの各セクタに書き込まれている３つの
識別子をそれぞれ読み取り、そのうち１つでも読み取れ
なかったときには、そのセクタに対してのみ上記の記録
データ消去、検査データの記録、及びそれをベリファイ
する情報記録媒体の欠陥検査方法によっても、３つの識
別子を全て読み取れたセクタについては上記欠陥検査の
処理をしないで済むので、その分だけ欠陥検査に要する
時間を短縮することができる。

【００４３】さらに、全面欠陥検査時に半導体レーザを
再生パワーで照射する際のディスクの回転速度を、通常
の読み／書き時に比べて速くすれば、その早めた分だけ
欠陥検査の時間をさらに短縮することができる。

【００４４】さらにまた、そのディスクの回転速度を速
めたときにサーボ系のエラーが発生した場合には、その
ディスクの回転速度を少しずつ遅くするようにすれば、
ディスクの回転速度を速めることによってサーボ系が追
従できなくなるようなことを防止できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明による情報記録媒体の欠陥検査方法の
第１実施例を示すフロー図である。

【図２】同じくその方法を実施する光学式情報記録再生
装置の構成を示すブロック図である。

【図３】図１のフローチャートの説明に供する波形図で
ある。

【図４】ミッシングパルスとエキストラパルスを説明す
るための波形図である。

【図５】図２の信号検出部６の具体的な電気回路例を示
す電気回路図である。

【図６】この発明の第２実施例を示すフロー図である。

【図７】この発明の第３実施例を示すフロー図である。

【図８】この発明の第４実施例を示すフロー図である。

【図９】従来の情報記録媒体の欠陥検査方法の一例を示
すフロー図である。

【図１０】欠陥セクタを登録する欠陥管理領域を説明す
るための図である。

【符号の説明】

１ ディスク ２ モータ ３ 回転制御系 ４ 光ピックアップ ５ アクチュエータ制御系 ６ 信号検出部 ７ ドライブコントローラ ８ メモリ ９ レーザ駆動回路

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 情報記録媒体であるディスクに半導体レ
   ーザを用いてデータを記録し、そのデータを読み出して
   再生する光学式情報記録再生装置において、 前記ディスクの初期化として行なうディスクの全面欠陥
   検査時に、該ディスクの各セクタに前記半導体レーザを
   再生パワーで照射し、その反射光によって得る再生デー
   タ信号の振幅が所定の下限レベル以下のミッシングパル
   スがあったときには、該ミッシングパルスを検出したセ
   クタに対して記録データを消去して検査データを記録
   し、それをベリファイして欠陥を検出したときに該セク
   タを欠陥セクタとして欠陥管理領域に登録することを特
   徴とする情報記録媒体の欠陥検査方法。
2. 【請求項２】 情報記録媒体であるディスクに半導体レ
   ーザを用いてデータを記録し、そのデータを読み出して
   再生する光学式情報記録再生装置において、 前記ディスクの初期化として行なうディスクの全面欠陥
   検査時に、該ディスクの各セクタに前記半導体レーザを
   再生パワーで照射し、その反射光によって得る再生デー
   タ信号の振幅が所定の上限レベル以上のエキストラパル
   スがあったときには、該エキストラパルスを検出したセ
   クタに対して記録データを消去して検査データを記録
   し、それをベリファイして欠陥を検出したときに該セク
   タを欠陥セクタとして欠陥管理領域に登録することを特
   徴とする情報記録媒体の欠陥検査方法。
3. 【請求項３】 情報記録媒体であるディスクに半導体レ
   ーザを用いてデータを記録し、そのデータを読み出して
   再生する光学式情報記録再生装置において、 前記ディスクの初期化として行なうディスクの全面欠陥
   検査時に、該ディスクの各セクタに前記半導体レーザを
   再生パワーで照射し、その反射光によって得る再生デー
   タ信号から前記ディスクの各セクタに書き込まれている
   ３つの識別子をそれぞれ読み取り、そのうち１つでも読
   み取れなかったときには、該セクタに対してのみ記録デ
   ータを消去して検査データを記録し、それをベリファイ
   して欠陥を検出したときに該セクタを欠陥セクタとして
   欠陥管理領域に登録することを特徴とする情報記録媒体
   の欠陥検査方法。
4. 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれか一項に記載の
   情報記録媒体の欠陥検査方法において、前記全面欠陥検
   査時に半導体レーザを再生パワーで照射する際の前記デ
   ィスクの回転速度を、通常の読み／書き時に比べて速く
   することを特徴とする情報記録媒体の欠陥検査方法。
5. 【請求項５】 請求項４記載の情報記録媒体の欠陥検査
   方法において、前記ディスクの回転速度を速めたときに
   サーボ系のエラーが発生した場合は、該ディスクの回転
   速度を遅くすることを特徴とする情報記録媒体の欠陥検
   査方法。