JPH0963221A - デイスク検査装置 - Google Patents
デイスク検査装置Info
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- JPH0963221A JPH0963221A JP7233525A JP23352595A JPH0963221A JP H0963221 A JPH0963221 A JP H0963221A JP 7233525 A JP7233525 A JP 7233525A JP 23352595 A JP23352595 A JP 23352595A JP H0963221 A JPH0963221 A JP H0963221A
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- Japan
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- magneto
- recording
- circuit
- disk
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1816—Testing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/002—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
- G11B7/0037—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
- G11B7/00375—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs arrangements for detection of physical defects, e.g. of recording layer
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、デイスク検査装置において、高記録
密度のデイスク状記憶媒体を検査する際の検査時間が少
ないと共に、検証したデイスク状記憶媒体より再生した
データの信頼性を向上させる。 【解決手段】高周波信号欠落検出手段（２６）によつて
高周波信号が欠落したか否かを検出することにより、従
来確実に検出することが困難であつた高周波信号が欠落
する欠陥セクタによる再生データの誤りが未然に防止さ
れる。
密度のデイスク状記憶媒体を検査する際の検査時間が少
ないと共に、検証したデイスク状記憶媒体より再生した
データの信頼性を向上させる。 【解決手段】高周波信号欠落検出手段（２６）によつて
高周波信号が欠落したか否かを検出することにより、従
来確実に検出することが困難であつた高周波信号が欠落
する欠陥セクタによる再生データの誤りが未然に防止さ
れる。
Description
【０００１】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 発明の属する技術分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題（図６） 課題を解決するための手段（図２） 発明の実施の形態（図１〜図６） 発明の効果
【０００２】
【発明の属する技術分野】本発明はデイスク検査装置に
関し、例えば光磁気デイスク記録再生装置に適用し得
る。
関し、例えば光磁気デイスク記録再生装置に適用し得
る。
【０００３】
【従来の技術】従来、光磁気デイスク記録再生装置で使
用される光磁気デイスクには、一般に製造の際に物理的
欠陥が発生し、この物理的欠陥により、データを記録し
ても正しく再生できないエリアが存在する。このため、
光磁気デイスクは、製造後必ず欠陥セクタの有無が検査
される。この検査において、光磁気デイスクは全領域に
亘つてデータが記録及び再生される。正しく記録及び再
生できなかつたエリアについては、そのエリアの欠陥セ
クタのトラツク番号及びセクタ番号がデイスク上の管理
領域（ディフェクト・マネージメント・エリア（Defect
Management Area））に記録される。
用される光磁気デイスクには、一般に製造の際に物理的
欠陥が発生し、この物理的欠陥により、データを記録し
ても正しく再生できないエリアが存在する。このため、
光磁気デイスクは、製造後必ず欠陥セクタの有無が検査
される。この検査において、光磁気デイスクは全領域に
亘つてデータが記録及び再生される。正しく記録及び再
生できなかつたエリアについては、そのエリアの欠陥セ
クタのトラツク番号及びセクタ番号がデイスク上の管理
領域（ディフェクト・マネージメント・エリア（Defect
Management Area））に記録される。
【０００４】ユーザが実際にデータを光磁気デイスクに
記録及び再生するとき、光磁気デイスク記録再生装置
は、予め管理領域に登録されているセクタを避けて記録
及び再生する。このようにして、光磁気デイスク記録再
生装置は、見かけ上、データ誤りが発生しなかつたよう
に動作する。また光磁気デイスク記録再生装置は、使用
中に発生した欠陥セクタに対しても同様に処理して、デ
ータ誤りが発生することを防止している。
記録及び再生するとき、光磁気デイスク記録再生装置
は、予め管理領域に登録されているセクタを避けて記録
及び再生する。このようにして、光磁気デイスク記録再
生装置は、見かけ上、データ誤りが発生しなかつたよう
に動作する。また光磁気デイスク記録再生装置は、使用
中に発生した欠陥セクタに対しても同様に処理して、デ
ータ誤りが発生することを防止している。
【０００５】製造の際に発生する欠陥の原因としては、
スタンパの欠陥、基板製作や記録材料塗布の際の欠陥、
基板の屈折率不良、基板の劣化、記録材料の劣化、製造
中に発生した傷等による欠陥が考えられる。これらの各
種の欠陥による欠陥セクタを製造直後に確実に検出する
ため、製造直後の検査の際に設定する記録及び再生の条
件は、一般にユーザが実際に使用する際の条件を考慮し
て設定される。例えば、記録及び再生の際のレーザパワ
ーは最適点からずらされ、ＥＣＣ（符号訂正回路）は、
訂正能力がユーザが使用するレベルに比して低めに設定
される。
スタンパの欠陥、基板製作や記録材料塗布の際の欠陥、
基板の屈折率不良、基板の劣化、記録材料の劣化、製造
中に発生した傷等による欠陥が考えられる。これらの各
種の欠陥による欠陥セクタを製造直後に確実に検出する
ため、製造直後の検査の際に設定する記録及び再生の条
件は、一般にユーザが実際に使用する際の条件を考慮し
て設定される。例えば、記録及び再生の際のレーザパワ
ーは最適点からずらされ、ＥＣＣ（符号訂正回路）は、
訂正能力がユーザが使用するレベルに比して低めに設定
される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところが、近年、記録
ピツトのサイズを小さくして記録密度（記録線密度）を
向上させるに従つて、光磁気デイスク上の微細な欠陥や
傷などの影響力が相対的に増大した。このため、従来の
検出条件では、高密度記録の光磁気デイスクに記録され
たデータが正しく再生されたか否かを正確に判断して、
欠陥セクタを検出することが難しくなつてきた。従つ
て、従来の方法で検出した欠陥セクタを登録するだけで
は、検査した光磁気デイスクの信頼性を充分に確保する
ことが難しくなつてきたという問題があつた。
ピツトのサイズを小さくして記録密度（記録線密度）を
向上させるに従つて、光磁気デイスク上の微細な欠陥や
傷などの影響力が相対的に増大した。このため、従来の
検出条件では、高密度記録の光磁気デイスクに記録され
たデータが正しく再生されたか否かを正確に判断して、
欠陥セクタを検出することが難しくなつてきた。従つ
て、従来の方法で検出した欠陥セクタを登録するだけで
は、検査した光磁気デイスクの信頼性を充分に確保する
ことが難しくなつてきたという問題があつた。
【０００７】即ち、ＥＣＣの訂正能力を低めに設定して
検査しても、例えば図３に示す記録データ中の再同期信
号（図中、ＲＥＳＹＮＣで示す）に対応する部分に生じ
ていた高周波信号の欠落が偶然、欠陥として検出され
ず、登録されないことがあつた。再生高周波信号の振幅
は記録及び再生の際の僅かなジツタ等によつて大きく変
化する。このため、登録されなかつたセクタのデータエ
リアは、ユーザが実際に使用する際に、記録タイミング
のジツターや再生高周波信号の振幅の不揃い等によつて
データ誤りを生じさせるおそれある。
検査しても、例えば図３に示す記録データ中の再同期信
号（図中、ＲＥＳＹＮＣで示す）に対応する部分に生じ
ていた高周波信号の欠落が偶然、欠陥として検出され
ず、登録されないことがあつた。再生高周波信号の振幅
は記録及び再生の際の僅かなジツタ等によつて大きく変
化する。このため、登録されなかつたセクタのデータエ
リアは、ユーザが実際に使用する際に、記録タイミング
のジツターや再生高周波信号の振幅の不揃い等によつて
データ誤りを生じさせるおそれある。
【０００８】このように、再生高周波信号の欠陥が信頼
性の確保に対して相対的に大きく影響する。このため、
例えば従来の条件で検査を複数回繰り返し、検出結果の
精度を確保することが考えられる。ところが、製造時間
が増加して製造コストを上昇させるという欠点があつ
た。
性の確保に対して相対的に大きく影響する。このため、
例えば従来の条件で検査を複数回繰り返し、検出結果の
精度を確保することが考えられる。ところが、製造時間
が増加して製造コストを上昇させるという欠点があつ
た。
【０００９】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、高記録密度のデイスク状記憶媒体を検査する際の検
査時間が少ないと共に、検証したデイスク状記憶媒体よ
り再生したデータの信頼性を向上させ得るデイスク検査
装置を提案しようとするものである。
で、高記録密度のデイスク状記憶媒体を検査する際の検
査時間が少ないと共に、検証したデイスク状記憶媒体よ
り再生したデータの信頼性を向上させ得るデイスク検査
装置を提案しようとするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、駆動手段は、デイスク状記憶媒体
を駆動する。データ誤り訂正手段は、デイスク状記憶媒
体より再生したデータの誤りを訂正する。アドレスデー
タ検出手段は、データよりアドレスデータを検出する。
高周波信号欠落検出手段は、デイスク状記憶媒体より再
生した高周波信号の欠落を検出する。またデータ誤り訂
正手段の訂正結果と、アドレスデータ検出手段の検出結
果と、高周波信号欠落検出手段の検出結果とに基づいて
デイスク状記憶媒体の欠陥位置を判別する。
め本発明においては、駆動手段は、デイスク状記憶媒体
を駆動する。データ誤り訂正手段は、デイスク状記憶媒
体より再生したデータの誤りを訂正する。アドレスデー
タ検出手段は、データよりアドレスデータを検出する。
高周波信号欠落検出手段は、デイスク状記憶媒体より再
生した高周波信号の欠落を検出する。またデータ誤り訂
正手段の訂正結果と、アドレスデータ検出手段の検出結
果と、高周波信号欠落検出手段の検出結果とに基づいて
デイスク状記憶媒体の欠陥位置を判別する。
【００１１】高周波信号欠落検出手段によつて高周波信
号が欠落したか否かを検出することにより、従来確実に
検出することが困難であつた高周波信号が欠落する欠陥
セクタによる再生データの誤りが未然に防止されて、高
記録密度のデイスク状記憶媒体を検査する際の検査時間
が少ないと共に、検証したデイスク状記憶媒体より再生
したデータの信頼性を向上させることができる。
号が欠落したか否かを検出することにより、従来確実に
検出することが困難であつた高周波信号が欠落する欠陥
セクタによる再生データの誤りが未然に防止されて、高
記録密度のデイスク状記憶媒体を検査する際の検査時間
が少ないと共に、検証したデイスク状記憶媒体より再生
したデータの信頼性を向上させることができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。
施例を詳述する。
【００１３】図１及び図２は、全体としてデイスク検査
装置、例えば光磁気デイスク記録再生装置１を示し、欠
陥セクタを判定する際、従来の欠陥セクタ検出系で検出
することに加えて、再生高周波信号が欠落するか否かを
検出する。図１に示すように、光磁気デイスク記録再生
装置１は、システムコントロール回路２で内部を制御す
る。光磁気デイスク記録再生装置１は、インターフエー
ス回路であるＳＣＳＩコントローラ３を介して外部装置
との間でデータを入出力する。
装置、例えば光磁気デイスク記録再生装置１を示し、欠
陥セクタを判定する際、従来の欠陥セクタ検出系で検出
することに加えて、再生高周波信号が欠落するか否かを
検出する。図１に示すように、光磁気デイスク記録再生
装置１は、システムコントロール回路２で内部を制御す
る。光磁気デイスク記録再生装置１は、インターフエー
ス回路であるＳＣＳＩコントローラ３を介して外部装置
との間でデータを入出力する。
【００１４】まずデータを記録する際、光磁気デイスク
記録再生装置１は、データをデータ誤り訂正手段、例え
ば誤り訂正回路４に与えて誤り訂正符号を付加したデー
タを高周波信号（図中、ＲＦで示す）回路５に与える。
光磁気デイスク記録再生装置１は、デイスク状記憶媒
体、例えば光磁気デイスク６に効率的に記録するため、
記録再生系の特性に整合させたデータを高周波信号回路
５からレーザパワーコントロール回路７に与える。
記録再生装置１は、データをデータ誤り訂正手段、例え
ば誤り訂正回路４に与えて誤り訂正符号を付加したデー
タを高周波信号（図中、ＲＦで示す）回路５に与える。
光磁気デイスク記録再生装置１は、デイスク状記憶媒
体、例えば光磁気デイスク６に効率的に記録するため、
記録再生系の特性に整合させたデータを高周波信号回路
５からレーザパワーコントロール回路７に与える。
【００１５】光磁気デイスク記録再生装置１は、レーザ
パワーコントロール回路７より駆動信号を光ヘツド固定
部８に与えて、光ヘツド固定部８内のレーザダイオード
９を駆動して光磁気デイスク６に記録する。このとき、
光磁気デイスク記録再生装置１は、光ヘツド固定部８が
再生したデータを高周波信号回路５を介してレーザパワ
ーコントロール回路７にフイードバツクしてレーザダイ
オード９を駆動する。
パワーコントロール回路７より駆動信号を光ヘツド固定
部８に与えて、光ヘツド固定部８内のレーザダイオード
９を駆動して光磁気デイスク６に記録する。このとき、
光磁気デイスク記録再生装置１は、光ヘツド固定部８が
再生したデータを高周波信号回路５を介してレーザパワ
ーコントロール回路７にフイードバツクしてレーザダイ
オード９を駆動する。
【００１６】次に、データを再生する際、光磁気デイス
ク記録再生装置１は、光ヘツド固定部８が出力したデー
タを高周波信号回路５を介して誤り訂正回路４に与え、
データの誤りを訂正して復元した元のデータをＳＣＳＩ
コントローラ回路３を介して外部に出力する。光ヘツド
固定部８は、光磁気デイスク６より得た光を光ヘツド可
動部１０を介して光検出器１１に与え、光検出器１０の
出力信号をプリアンプ１２で増幅する。また光ヘツド固
定部８は、記録の際の駆動信号及び高周波信号を高周波
重畳回路１３で重畳してレーザダイオード９を駆動す
る。
ク記録再生装置１は、光ヘツド固定部８が出力したデー
タを高周波信号回路５を介して誤り訂正回路４に与え、
データの誤りを訂正して復元した元のデータをＳＣＳＩ
コントローラ回路３を介して外部に出力する。光ヘツド
固定部８は、光磁気デイスク６より得た光を光ヘツド可
動部１０を介して光検出器１１に与え、光検出器１０の
出力信号をプリアンプ１２で増幅する。また光ヘツド固
定部８は、記録の際の駆動信号及び高周波信号を高周波
重畳回路１３で重畳してレーザダイオード９を駆動す
る。
【００１７】光磁気デイスク記録再生装置１は、光ヘツ
ド可動部１０が有するレンズのアクチエータをフオーカ
スサーボ回路１６で制御して光磁気デイスク６上に焦点
を合わせると共に、光磁気デイスク６上のトラツクをト
ラツキングサーボ回路１７で走査する。光磁気デイスク
記録再生装置１は、光磁気デイスク６の回転を駆動手
段、例えばデイスクサーボ回路１８で制御すると共に、
光ヘツド可動部１０全体の位置をラジアルサーボ回路１
９で光磁気デイスク６の半径方向に制御しデイスク６上
のトラツクを走査する。
ド可動部１０が有するレンズのアクチエータをフオーカ
スサーボ回路１６で制御して光磁気デイスク６上に焦点
を合わせると共に、光磁気デイスク６上のトラツクをト
ラツキングサーボ回路１７で走査する。光磁気デイスク
記録再生装置１は、光磁気デイスク６の回転を駆動手
段、例えばデイスクサーボ回路１８で制御すると共に、
光ヘツド可動部１０全体の位置をラジアルサーボ回路１
９で光磁気デイスク６の半径方向に制御しデイスク６上
のトラツクを走査する。
【００１８】次に、光磁気デイスク６の記録エリアを検
査する際、光磁気デイスク記録再生装置１は、設定され
たエラー訂正能力を超えてデータ誤りが発生するか否か
と、アドレス部に複数回記録されている信号を設定数以
上読み出せるか否かとを検出する。また光磁気デイスク
記録再生装置１は、サーボ誤り信号が一定値以上に達す
るか否かと、データ部の再生同期信号を一定数以上検出
できるか否かとを検出する。さらに、光磁気デイスク記
録再生装置１は、再生高周波信号が欠落したか否かを検
出する。
査する際、光磁気デイスク記録再生装置１は、設定され
たエラー訂正能力を超えてデータ誤りが発生するか否か
と、アドレス部に複数回記録されている信号を設定数以
上読み出せるか否かとを検出する。また光磁気デイスク
記録再生装置１は、サーボ誤り信号が一定値以上に達す
るか否かと、データ部の再生同期信号を一定数以上検出
できるか否かとを検出する。さらに、光磁気デイスク記
録再生装置１は、再生高周波信号が欠落したか否かを検
出する。
【００１９】光磁気デイスク記録再生装置１は、以上の
検出結果に基づいて、欠陥セクタを判定してシステムコ
ントロール回路２に記憶する。光磁気デイスク記録再生
装置１は、検査の際に発見した欠陥セクタを光磁気デイ
スク６上の管理領域に記録し、実際に使用する際、欠陥
セクタを避けて記録及び再生する。
検出結果に基づいて、欠陥セクタを判定してシステムコ
ントロール回路２に記憶する。光磁気デイスク記録再生
装置１は、検査の際に発見した欠陥セクタを光磁気デイ
スク６上の管理領域に記録し、実際に使用する際、欠陥
セクタを避けて記録及び再生する。
【００２０】図２に示すように、光磁気デイスク記録再
生装置１は、誤り訂正回路４が再生データＳ２を元のデ
ータＳ３に復元できないとき、エラーフラグデータＳ４
を誤り訂正回路４よりシステムコントロール回路２に与
えて欠陥セクタとして記憶させる。光磁気デイスク記録
再生装置１は、高周波信号回路５が出力した再生データ
Ｓ２をアドレスデータ検出手段、例えばアドレスデータ
検出回路２０に与えて、アドレス部の信号を検査する。
生装置１は、誤り訂正回路４が再生データＳ２を元のデ
ータＳ３に復元できないとき、エラーフラグデータＳ４
を誤り訂正回路４よりシステムコントロール回路２に与
えて欠陥セクタとして記憶させる。光磁気デイスク記録
再生装置１は、高周波信号回路５が出力した再生データ
Ｓ２をアドレスデータ検出手段、例えばアドレスデータ
検出回路２０に与えて、アドレス部の信号を検査する。
【００２１】アドレスデータ検出回路２０は、セクタの
アドレス部のデータをアドレスデコーダ２１で復号し、
復号データＳ５を誤り検出用冗長度符号チエツク信号
（以下、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check ）という）
演算回路２２に与えてＣＲＣ演算させる。またアドレス
データ検出回路２０は、復号データＳ６をＣＲＣ検出回
路２３に与えてＣＲＣデータＳ７を再生させる。アドレ
スデータ検出回路２０は、ＣＲＣ演算回路２２による演
算データＳ８と、ＣＲＣ検出回路２３による再生ＣＲＣ
データＳ７とを一致検出回路２４に与えて比較させる。
アドレス部のデータをアドレスデコーダ２１で復号し、
復号データＳ５を誤り検出用冗長度符号チエツク信号
（以下、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check ）という）
演算回路２２に与えてＣＲＣ演算させる。またアドレス
データ検出回路２０は、復号データＳ６をＣＲＣ検出回
路２３に与えてＣＲＣデータＳ７を再生させる。アドレ
スデータ検出回路２０は、ＣＲＣ演算回路２２による演
算データＳ８と、ＣＲＣ検出回路２３による再生ＣＲＣ
データＳ７とを一致検出回路２４に与えて比較させる。
【００２２】アドレスデータ検出回路２０は、一致検出
回路２４の検出データＳ９をカウンタ回路２５に与え
て、正しく再生されたＣＲＣデータＳ７の数をカウント
させる。光磁気デイスク記録再生装置１は、カウンタ回
路２５によるカウント数データＳ１０をシステムコント
ロール回路２に与えて欠陥の有無を判定させる。
回路２４の検出データＳ９をカウンタ回路２５に与え
て、正しく再生されたＣＲＣデータＳ７の数をカウント
させる。光磁気デイスク記録再生装置１は、カウンタ回
路２５によるカウント数データＳ１０をシステムコント
ロール回路２に与えて欠陥の有無を判定させる。
【００２３】光磁気デイスク記録再生装置１は、高周波
信号回路５の出力Ｓ１１及びＳ１２をそれぞれ高周波信
号欠落検出手段、例えばドロツプアウト検出回路２６及
びタイミング信号発生回路２７に与える。再生高周波信
号が例えば図３に示す記録データ中の再同期信号に対応
した位置で欠落した場合、光磁気デイスク記録再生装置
１は、パルス状のドロツプアウト信号Ｓ１３をドロツプ
アウト検出回路２６よりラツチ回路２８に出力してラツ
チさせる。
信号回路５の出力Ｓ１１及びＳ１２をそれぞれ高周波信
号欠落検出手段、例えばドロツプアウト検出回路２６及
びタイミング信号発生回路２７に与える。再生高周波信
号が例えば図３に示す記録データ中の再同期信号に対応
した位置で欠落した場合、光磁気デイスク記録再生装置
１は、パルス状のドロツプアウト信号Ｓ１３をドロツプ
アウト検出回路２６よりラツチ回路２８に出力してラツ
チさせる。
【００２４】図４に示すように、光磁気デイスク記録再
生装置１は、それぞれのセクタのデータ部が終了する毎
にパルス状のタイミング信号Ｓ１４をタイミング信号発
生回路２７よりラツチ回路２８に与える。図２に示すよ
うに、光磁気デイスク記録再生装置１は、欠落位置から
次のセクタのタイミング信号Ｓ１４が出力されるまでラ
ツチした出力信号Ｓ１５をラツチ回路２８よりシステム
コントロール回路２に与える。これにより、光磁気デイ
スク記録再生装置１は、短い欠落も検出してシステムコ
ントロール回路２に記録することができる。
生装置１は、それぞれのセクタのデータ部が終了する毎
にパルス状のタイミング信号Ｓ１４をタイミング信号発
生回路２７よりラツチ回路２８に与える。図２に示すよ
うに、光磁気デイスク記録再生装置１は、欠落位置から
次のセクタのタイミング信号Ｓ１４が出力されるまでラ
ツチした出力信号Ｓ１５をラツチ回路２８よりシステム
コントロール回路２に与える。これにより、光磁気デイ
スク記録再生装置１は、短い欠落も検出してシステムコ
ントロール回路２に記録することができる。
【００２５】因みに、図６は、光磁気デイスク記録再生
装置１による記録フオーマツト例を示す。光磁気デイス
ク６上には、スパイラル状に連続する記録トラツクが設
けられる。記録トラツクは、一定量の記録データの記録
領域毎の例えば3102バイトのセクタに分割されている。
それぞれのセクタの先頭には、プリコードされた例えば
55バイトのアドレス部が設けられている。アドレス部に
は、データをアクセスする際に必要なアドレス情報が予
め記録されている。
装置１による記録フオーマツト例を示す。光磁気デイス
ク６上には、スパイラル状に連続する記録トラツクが設
けられる。記録トラツクは、一定量の記録データの記録
領域毎の例えば3102バイトのセクタに分割されている。
それぞれのセクタの先頭には、プリコードされた例えば
55バイトのアドレス部が設けられている。アドレス部に
は、データをアクセスする際に必要なアドレス情報が予
め記録されている。
【００２６】アドレス情報は、セクタマーク、基準信
号、アドレスマーク信号、識別信号及びポストアンブル
信号（図中、それぞれＳＭ、ＶＦＯ、ＡＭ、ＩＤ及びＰ
Ａで示す）で構成されている。基準信号、アドレスマー
ク信号及び識別信号は信頼性を確保するためそれぞれ３
回記録されている。セクタマークは、アドレス部の始ま
りであることを示す。基準信号は、信号検出の際に必要
なクロツクをＰＬＬ回路に作成させる。アドレスマーク
信号は、識別信号の始まりを示す。識別信号は、トラツ
ク番号及びセクタ番号と、幾つ目の識別信号かを示す識
別番号と、ＣＲＣ信号とでなる。ポストアンブル信号は
アドレス部の終わりを示す。
号、アドレスマーク信号、識別信号及びポストアンブル
信号（図中、それぞれＳＭ、ＶＦＯ、ＡＭ、ＩＤ及びＰ
Ａで示す）で構成されている。基準信号、アドレスマー
ク信号及び識別信号は信頼性を確保するためそれぞれ３
回記録されている。セクタマークは、アドレス部の始ま
りであることを示す。基準信号は、信号検出の際に必要
なクロツクをＰＬＬ回路に作成させる。アドレスマーク
信号は、識別信号の始まりを示す。識別信号は、トラツ
ク番号及びセクタ番号と、幾つ目の識別信号かを示す識
別番号と、ＣＲＣ信号とでなる。ポストアンブル信号は
アドレス部の終わりを示す。
【００２７】光磁気デイスク記録再生装置１は、各セク
タをトラツク番号及びセクタ番号によつて区別してアク
セスし、再生されたトラツク番号及びセクタ番号が正し
いか否かをＣＲＣ信号によつて判定する。
タをトラツク番号及びセクタ番号によつて区別してアク
セスし、再生されたトラツク番号及びセクタ番号が正し
いか否かをＣＲＣ信号によつて判定する。
【００２８】以上の構成において、光磁気デイスク記録
再生装置１は、図５に示す欠陥セクタ検出手順に従つて
光磁気デイスク６を検査する。即ち、光磁気デイスク記
録再生装置１は、開始ステツプＳＰ０から入り、ステツ
プＳＰ１において、光磁気デイスク６の全面を消去する
と、ステツプＳＰ２に移る。ステツプＳＰ２において、
光磁気デイスク記録再生装置１は、検査用データを記録
すると、ステツプＳＰ３に移り、検査条件を設定する。
このとき、光磁気デイスク記録再生装置１は、例えばレ
ーザダイオード９のパワーや記録及び再生条件を通常の
使用状態からずらしたり、誤り訂正回路４の訂正能力を
低く設定する。
再生装置１は、図５に示す欠陥セクタ検出手順に従つて
光磁気デイスク６を検査する。即ち、光磁気デイスク記
録再生装置１は、開始ステツプＳＰ０から入り、ステツ
プＳＰ１において、光磁気デイスク６の全面を消去する
と、ステツプＳＰ２に移る。ステツプＳＰ２において、
光磁気デイスク記録再生装置１は、検査用データを記録
すると、ステツプＳＰ３に移り、検査条件を設定する。
このとき、光磁気デイスク記録再生装置１は、例えばレ
ーザダイオード９のパワーや記録及び再生条件を通常の
使用状態からずらしたり、誤り訂正回路４の訂正能力を
低く設定する。
【００２９】続いて、ステツプＳＰ４に移り、光磁気デ
イスク記録再生装置１は、検証対象とするセクタの検証
順序を設定すると、ステツプＳＰ５に移る。ステツプＳ
Ｐ５において、光磁気デイスク記録再生装置１は、１つ
のセクタのデータを読みだすと、ステツプＳＰ６に移
る。ステツプＳＰ６において、光磁気デイスク記録再生
装置１は、誤り訂正回路４で訂正できない誤りが発生し
たか否かを判断し、否定結果を得ると、元のデータを再
生することができたと判断してステツプＳＰ７に移る。
イスク記録再生装置１は、検証対象とするセクタの検証
順序を設定すると、ステツプＳＰ５に移る。ステツプＳ
Ｐ５において、光磁気デイスク記録再生装置１は、１つ
のセクタのデータを読みだすと、ステツプＳＰ６に移
る。ステツプＳＰ６において、光磁気デイスク記録再生
装置１は、誤り訂正回路４で訂正できない誤りが発生し
たか否かを判断し、否定結果を得ると、元のデータを再
生することができたと判断してステツプＳＰ７に移る。
【００３０】ステツプＳＰ７において、光磁気デイスク
記録再生装置１は、カウンタ回路２５がカウントしたＣ
ＲＣ信号が２つ以下か否かを判断し、否定結果を得る
と、３つのＣＲＣ信号をカウントしたと判断して、ステ
ツプＳＰ８に移る。ステツプＳＰ８において、光磁気デ
イスク記録再生装置１は、高周波信号の欠落が発生した
か否かを判断し、否定結果を得ると高周波信号の欠落が
存在しないと判断して、ステツプＳＰ９に移る。
記録再生装置１は、カウンタ回路２５がカウントしたＣ
ＲＣ信号が２つ以下か否かを判断し、否定結果を得る
と、３つのＣＲＣ信号をカウントしたと判断して、ステ
ツプＳＰ８に移る。ステツプＳＰ８において、光磁気デ
イスク記録再生装置１は、高周波信号の欠落が発生した
か否かを判断し、否定結果を得ると高周波信号の欠落が
存在しないと判断して、ステツプＳＰ９に移る。
【００３１】ステツプＳＰ９において、光磁気デイスク
記録再生装置１は、最終セクタを検証したか否かを判断
し、否定結果を得ると、ステツプＳＰ４に戻つて、上述
の手順を繰り返す。ここで、ステツプＳＰ６において、
肯定結果を得ると、光磁気デイスク記録再生装置１は、
元のデータを再生することができなかつたと判断してス
テツプＳＰ１０に移り、欠陥セクタを登録して、ステツ
プＳＰ９に移り上述の手順を繰り返す。
記録再生装置１は、最終セクタを検証したか否かを判断
し、否定結果を得ると、ステツプＳＰ４に戻つて、上述
の手順を繰り返す。ここで、ステツプＳＰ６において、
肯定結果を得ると、光磁気デイスク記録再生装置１は、
元のデータを再生することができなかつたと判断してス
テツプＳＰ１０に移り、欠陥セクタを登録して、ステツ
プＳＰ９に移り上述の手順を繰り返す。
【００３２】またステツプＳＰ７においいて、肯定結果
を得ると、光磁気デイスク記録再生装置１は、３つのＣ
ＲＣ信号をカウントできなかつたと判断して、ステツプ
ＳＰ１０に移り、欠陥セクタを登録して、ステツプＳＰ
９に移り上述の手順を繰り返す。さらにステツプＳＰ８
において、肯定結果を得ると、光磁気デイスク記録再生
装置１は、高周波信号が欠落したと判断して、ステツプ
ＳＰ９に移り、欠陥セクタを登録して、ステツプＳＰ９
に移り上述の手順を繰り返す。やがてステツプＳＰ９に
おいて、肯定結果を得ると、光磁気デイスク記録再生装
置１は、最終セクタまで検証したと判断して、ステツプ
ＳＰ１１に移り、欠陥セクタ判定手順を終了する。
を得ると、光磁気デイスク記録再生装置１は、３つのＣ
ＲＣ信号をカウントできなかつたと判断して、ステツプ
ＳＰ１０に移り、欠陥セクタを登録して、ステツプＳＰ
９に移り上述の手順を繰り返す。さらにステツプＳＰ８
において、肯定結果を得ると、光磁気デイスク記録再生
装置１は、高周波信号が欠落したと判断して、ステツプ
ＳＰ９に移り、欠陥セクタを登録して、ステツプＳＰ９
に移り上述の手順を繰り返す。やがてステツプＳＰ９に
おいて、肯定結果を得ると、光磁気デイスク記録再生装
置１は、最終セクタまで検証したと判断して、ステツプ
ＳＰ１１に移り、欠陥セクタ判定手順を終了する。
【００３３】以上の構成によれば、ドロツプアウト検出
回路２６によつて高周波信号が欠落したか否かを検出す
ることにより、従来確実に検出することが困難であつた
高周波信号が欠落する欠陥セクタによる再生データの誤
りが未然に防止されて、検証した光磁気デイスク６より
再生したデータＳ３の信頼性を向上させることができ
る。
回路２６によつて高周波信号が欠落したか否かを検出す
ることにより、従来確実に検出することが困難であつた
高周波信号が欠落する欠陥セクタによる再生データの誤
りが未然に防止されて、検証した光磁気デイスク６より
再生したデータＳ３の信頼性を向上させることができ
る。
【００３４】また再生したデータＳ３の信頼性を向上さ
せることができることにより、記録密度を一段と向上さ
せることができる。さらに、一度の検証動作で充分な信
頼性を確保することができることにより、高記録密度の
光磁気デイスク６を検査する際の検査時間が少なくて済
む。従つて、製造コストの上昇を抑えることができる。
せることができることにより、記録密度を一段と向上さ
せることができる。さらに、一度の検証動作で充分な信
頼性を確保することができることにより、高記録密度の
光磁気デイスク６を検査する際の検査時間が少なくて済
む。従つて、製造コストの上昇を抑えることができる。
【００３５】なお上述の実施例においては、光磁気デイ
スク６を検査する場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、任意の記録方式で記録したデイスクから高周
波信号を再生して、この高周波信号が欠落したか否かを
検出する検査装置に広く適用し得る。
スク６を検査する場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、任意の記録方式で記録したデイスクから高周
波信号を再生して、この高周波信号が欠落したか否かを
検出する検査装置に広く適用し得る。
【００３６】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、高周波信
号欠落検出手段によつて高周波信号が欠落したか否かを
検出することにより、従来確実に検出することが困難で
あつた高周波信号が欠落する欠陥セクタによる再生デー
タの誤りが未然に防止されて、高記録密度のデイスク状
記憶媒体を検査する際の検査時間が少ないと共に、検証
したデイスク状記憶媒体より再生したデータの信頼性を
向上させ得るデイスク検査装置を実現できる。
号欠落検出手段によつて高周波信号が欠落したか否かを
検出することにより、従来確実に検出することが困難で
あつた高周波信号が欠落する欠陥セクタによる再生デー
タの誤りが未然に防止されて、高記録密度のデイスク状
記憶媒体を検査する際の検査時間が少ないと共に、検証
したデイスク状記憶媒体より再生したデータの信頼性を
向上させ得るデイスク検査装置を実現できる。
【図１】本発明によるデイスク検査装置の一実施例によ
る光磁気デイスク記録再生装置の記録再生系を示す構成
図である。
る光磁気デイスク記録再生装置の記録再生系を示す構成
図である。
【図２】本発明によるデイスク検査装置の一実施例によ
る光磁気デイスク記録再生装置の欠陥セクタ検出系を示
す構成図である。
る光磁気デイスク記録再生装置の欠陥セクタ検出系を示
す構成図である。
【図３】記録データの位置と、これに対応した再生高周
波信号の欠落例を示す略線図である。
波信号の欠落例を示す略線図である。
【図４】再生高周波信号に対応したラツチ回路の出力信
号を示すタイミング図である。
号を示すタイミング図である。
【図５】欠陥セクタ判定手順を示すフローチヤートであ
る。
る。
【図６】デイスク上の記録フオーマツトを示す略線図で
ある。
ある。
１……光磁気デイスク記録再生装置、２……システムコ
ントロール回路、３……ＳＣＳＩコントローラ、４……
誤り訂正回路、５……高周波信号回路、６……光磁気デ
イスク、７……レーザパワーコントロール回路、８……
光ヘツド固定部、９……レーザダイオード、１０……光
ヘツド可動部、１１……光検出器、１２……プリアン
プ、１３……高周波重畳回路、１６……フオーカスサー
ボ回路、１７……トラツキングサーボ回路、１８……デ
イスクサーボ回路、１９……ラジアルサーボ回路、２０
……アドレスデータ検出回路、２１……アドレスデコー
ダ、２２……ＣＲＣ演算回路、２３……ＣＲＣ検出回
路、２４……一致検出回路、２５……カウンタ回路、２
６……ドロツプアウト検出回路、２７……タイミング信
号発生回路、２８……ラツチ回路。
ントロール回路、３……ＳＣＳＩコントローラ、４……
誤り訂正回路、５……高周波信号回路、６……光磁気デ
イスク、７……レーザパワーコントロール回路、８……
光ヘツド固定部、９……レーザダイオード、１０……光
ヘツド可動部、１１……光検出器、１２……プリアン
プ、１３……高周波重畳回路、１６……フオーカスサー
ボ回路、１７……トラツキングサーボ回路、１８……デ
イスクサーボ回路、１９……ラジアルサーボ回路、２０
……アドレスデータ検出回路、２１……アドレスデコー
ダ、２２……ＣＲＣ演算回路、２３……ＣＲＣ検出回
路、２４……一致検出回路、２５……カウンタ回路、２
６……ドロツプアウト検出回路、２７……タイミング信
号発生回路、２８……ラツチ回路。
Claims (2)
- 【請求項１】デイスク状記憶媒体を駆動する駆動手段
と、 上記デイスク状記憶媒体より再生したデータの誤りを訂
正するデータ誤り訂正手段と、 上記データよりアドレスデータを検出するアドレスデー
タ検出手段と、 上記デイスク状記憶媒体より再生した高周波信号の欠落
を検出する高周波信号欠落検出手段とを具え、上記デー
タ誤り訂正手段の訂正結果と、上記アドレスデータ検出
手段の検出結果と、上記高周波信号欠落検出手段の検出
結果とに基づいて上記デイスク状記憶媒体の欠陥位置を
判別するデイスク検査装置。 - 【請求項２】上記判別した欠陥位置情報を上記デイスク
状記憶媒体に記録することを特徴とする請求項１に記載
のデイスク検査装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7233525A JPH0963221A (ja) | 1995-08-18 | 1995-08-18 | デイスク検査装置 |
| US08/696,509 US5748590A (en) | 1995-08-18 | 1996-08-14 | Apparatus for inspecting disc recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7233525A JPH0963221A (ja) | 1995-08-18 | 1995-08-18 | デイスク検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0963221A true JPH0963221A (ja) | 1997-03-07 |
Family
ID=16956411
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7233525A Pending JPH0963221A (ja) | 1995-08-18 | 1995-08-18 | デイスク検査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5748590A (ja) |
| JP (1) | JPH0963221A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3900577B2 (ja) * | 1997-03-13 | 2007-04-04 | ソニー株式会社 | ディスク装置 |
| US6052348A (en) * | 1997-04-03 | 2000-04-18 | Seagate Technology, Inc. | System and method for write location defect compensation in computer storage media |
| KR100271617B1 (ko) | 1997-06-03 | 2000-11-15 | 윤종용 | 드롭다운(DropDown)현상을최소화하기위한예비탐색방법 |
| JP3858199B2 (ja) * | 2003-10-30 | 2006-12-13 | パイオニア株式会社 | 情報記録装置及び方法、並びにコンピュータプログラム |
| US7209905B2 (en) * | 2003-12-05 | 2007-04-24 | Pitney Bowes Inc. | System and method for detecting mail theft using additional mail pieces as probes |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0532356B1 (en) * | 1991-09-13 | 2000-03-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of recording data and information regarding defects |
-
1995
- 1995-08-18 JP JP7233525A patent/JPH0963221A/ja active Pending
-
1996
- 1996-08-14 US US08/696,509 patent/US5748590A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5748590A (en) | 1998-05-05 |
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