JPS61134927A - バースト欠陥検出回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ディスク媒体上のバースト欠陥を再生信号
により確実に検出する再生信号検出回路に関する。

情報処理装置用大容量の外部記憶装置として期待されて
いる光ディスク装置は、従来から使用されている磁気デ
ィスク装置等と比較して十数倍の高密度記録が可能であ
る。又、光ディスク装置に対するデータの記録は、光デ
ィスク媒体面上に光ビームを照射して熱反応により穴（
ピント）を開けることにより行われるため、データの長
期保存が可能である。

しかし、光ディスク媒体面には不純物による欠陥や記録
膜の不均一な個所が他の記録媒体に比較すると多く、こ
れらが原因になりデータエラーになる率が非常に高くな
っている。かかる欠陥は事前に確実に検出してより高信
頼性あるデータの記録／再生が維持されることが望まれ
ている。

〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕従来技
術として追記型光ディスク装置を例に取り説明する。

第４図は追記型光ディスク装置の光学系構成図。

第５図は追記型光ディスク媒体の構成概要図をそれぞれ
示す。

追記型光ディスク装置では、一般に記録後視像処理を必
要としない記録材料が用いられる。この記録材料上にレ
ーザ光束を強く絞り込むことによって、熱的に記録膜ａ
にビット（穴）をあける（記録膜ａを変化させる方法も
あるが９本例ではビット（穴）をあける方法を主体とし
て説明する）ことによってデータが記録される。

絞り込みレンズ８で絞り込んだレーザ光は、直径１μ誦
程度の微小スポットにして光ディスク媒体１上に照射し
形成されるビット（穴）は、直径０．６〜１．０　ＤＩ
１１程度である。尚、前記ピント（穴）を形成してデー
タを記録する時には、レーザダイオード２の出力は記録
膜ａ上で約５〜１０ａ＋Ｗとなっている。又、データ再
生時には記録１ｊｊａ上で約１〜２Ｉ１１−となってい
る。

データ記録／再生時共に、照射されたレーザ光の光ディ
スク媒体１からの反射光量変化を光検出器６で検出して
、検出信号■が得られる。

即ち、データ記録時にはレーザダイオード２を高出力（
数１０＋ｗＷ）で発振させ２図示してない回路から転送
されて来る入力信号に応じて光復調器３によって変調さ
せ、ビット（穴）を光ディスク媒体１上に記録する。

一方、データ再生時には、レーザダイオード２゛を数１
で連続発振させ、光ディスク媒体１上からの反射光束を
ビームスブリフタ５によって光検出器６に導き信号検出
を行う。尚、絞り込みレンズ８及び追従ミラー７は光デ
ィスク媒体１上の微小ビット（穴）を追従するために矢
印の方向に可動となっている。

このような光ディスク媒体１は第５図に示すような構成
となっている。即ち、透明基板すと記録膜ａ・からなり
、記録膜ａ部分はインデックスマークやトランク番号、
セクタ番号等が予め記録されているプリフォーマット部
Ｃと、データを記録するグループ（溝）部ｄからなって
いる。

このブリフォーマットｉｃとグループ（溝）部ｄとは、
透明基板す上にスタンプ技術を用いて形成され、その後
記録膜ａが蒸着されている。尚。

上述のデータの記録／再生はグループ（溝）部ａ上をト
ラッキングしながら記録膜ａにレーザ光を照射して行わ
れる。

このように光ディスク媒体１の記録膜ａは、高信頼度な
データの記録／再生を行う上で非常に重要な役目を担っ
ている。このような記録膜ａに要求される諸特性として
以下のものがある。即ち。

（１）高い記録感度を有すること、（２）雑音成分が少
ないこと、（３）経時変化が少ないこと等である。

これらの諸要求に対して（１）は、記録膜ａの材質に対
する検討が必要であり、（２）は記録１！９！ａの表面
の細かい凹凸によるもので、結晶粒等膜自身の性質と蒸
着法によって大きく変わってくる。又１（３）は記録膜
ａの酸化等による欠陥の増加、感度の劣化等に対する対
策が必要となる。

特に、追記型光ディスク装置の場合、記録したデータは
通常長期間（約１０年前後）保存しておきたいと言う要
求が強く、記録ｉ＊ａの酸化等による欠陥の増加、感度
の劣化等は問題となる。又、データの記録時、記録膜ａ
に欠陥が多いと高信頼度なデータが記録出来ない等の問
題点がある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、上記問題点を解決するための再生信号検出回
路を実現することを目的とするものであり、該問題点は
、光ディスク媒体に照射した光の反射光量を検出した信
号の直流化した信号レベルを検出するための時定数Ｔ１
を有する第１の検出手段と１時定数Ｔ２を有する第２の
検出手段と。

前記第２の検出手段の出力レベルを所定値にレベルシフ
トするレベルシフト手段と、前記第１の検出手段の出力
レベルと前記レベルシフト手段の出力レベルとを比較す
る比較手段と、前記比較手段の出力信号幅を計数する計
数手段とを設け、前記比較手段の出力信号幅が前記計数
手段の所定計数値に達する幅の時、該光ディスク媒体の
所定状態検出信号を出力する本発明による光デ・フク装
置により解決される。

〔作用〕

即ち、データ再生時のレベルで照射したレーザ光の反射
光量信号を時定数の異なる２つの検出手段２例えば積分
回路に加え、それぞれの出力を比較回路で比較すること
により反射光量信号の直流レベルの変動を検出し、前記
比較回路の出力が所定時間以上継続した時、記録膜の酸
化等による欠陥（バースト欠陥）と判定し、事前にこれ
ら欠陥（バースト欠陥）を検出して処置を施すことによ
り、常に高信頼度なデータを得ることが可能となった。

〔実施例〕

以下本発明の要旨を第１図〜第３図に示す実施例により
具体的に説明する。

第１図は本発明に係る再生信号検出回路の一実施例を示
すブロックダイヤグラム、第２図は第１図に示す再生信
号検出回路の各点の信号波形図。

第３図は本発明に係る再生信号検出回路の他の実施例を
示すブロックダイヤグラムをそれぞれ示す。

尚全図を通じて同一符号は同一対象物又は内容を示す。

次に、第１図に示す第１の実施例の動作を説明する。尚
１本実施例の動作はデータ未記録部分のバースト欠陥個
所を事前に検出する場合の動作を例に取り説明する。

本実施例のグループ（：ａ）部ｄは複数のトラック（媒
体１の１回転を１トラツクとする）からなっており、１
トラツクは複数のセクタからなって１いるものとする。

記録するデータは、前記セクタ単位に記録される。今、
第２図に示すようにセクタＮまでは既にデータが記録さ
れており、セクタ（Ｎ＋１）以降の未記録部分にデータ
を記録したい場合、制御部（図示してない）は該当トラ
ンクの再生動作を指示する。

この時２反射光量を検出した光検出器６は再生信号のを
積分回路９と、積分回路１０に送出する。

積分回路９は、再生信号■を抵抗器Ｒ１とコンデンサＣ
１からなる時定数Ｔ１で直流レベル信号■にして、比較
回路１２の（−）端子に送出する。

一方、積分回路１０では再生信号■を抵抗器Ｒ２とコン
デンサＣ２からなる時定数Ｔ２と演算増＠器１４とで直
流レベル化し、レベルシフト回路１１に送出する。レベ
ルシフト回路１１では所定オフセット電圧Ｅを加えると
共に、１以下の増幅度を持つ演算増幅器１５で増幅した
直流レベル信号■を比較回路１２の（＋）端子に送出す
る。

尚、これらの操作は、比較回路１２で信号■と比較する
時、第２図で示す個所（イ）と１個所（ハ）での直流レ
ベルの変化状況の相違を明確にし。

個所（イ）と１個所（ハ）を検出出来るようにするため
である。

比較回路１２は信号■と信号■とを比較し、相違点があ
れば、その間信号■をパルス幅検出回路１６に送出する
。相違点が現れる個所は急峻なレベル変動が発生する個
所であり、第２図で示す（イ）個所と、　（ハ）個所で
ある。

即ち、記録済み部分から未記録部分に変化する個所（イ
）と、記録膜ａはかれ等の欠陥がある個所（ハ）は、そ
れ以前のレベルとそれ以後のレベルに急峻なレベル変動
が発生する。

パルス幅検出回路１６は、信号■を受けている期間、カ
ウンタ１６（例えば、１６進カウンタ）は発振器１日か
らのクロックパルスを計数する。この計数値が所定計数
値（例えば、８カウント）に達すると、出力信号■を制
御部（図示してない）に出力する。

尚、計数値が所定計数値（例えば、８カウント）に達し
ない場合（例えば１個所（ロ）のようなノイズ発生個所
）は９本実施例では問題個所とは検出しない。

この出力信号■を制御部（図示してない）はバースト欠
陥検出信号として受け２例えば、そのセクタ（Ｎ＋１）
にはデータを記録しないような処置を施す。

尚、　ＩＩＩ所（イ）は特に欠陥個所ではないため。

このような個所は予め制御部（図示してない）で把握し
ており５個所（イ）にかかる場合、制御部（図示してな
い）からマスク信号■が論理積回路１７に送出され１発
振器１日からのクロ・ツクパルスがカウンタ１６へ送り
込まれないようにする。

第３図に示す第２の実施例は、第１図の積分回路１０の
機能と、レベルシフト回路１１の機能を１つの積分回路
１９で実現するようにしたもので、より節易な回路構成
としたもので、動作は第１図で示す第１の実施例と同様
な動作となる。尚、信号■と信号■′及び信号■と信号
■′は同一信号を示す。

〔発明の〃）果〕

以上のような本発明によれば、簡単な回路構成で、光デ
ィスク媒体の欠陥を′ａ確に検出でき、記録データの高
信頼度が保証されると言う効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る再生信号検出回路の一実施例を示
すブロックダイヤグラム。 第２図は第１図に示す再生信号検出回路の各点の信号波
形図。 第３図は本発明に係る再生信号検出回路の他の実施例を
示すブロックダイヤグラム。 第４図は追記型光ディスク装置の光学系構成図。 第５図は追記型光ディスク媒体の構成概要図。 をそれぞれ示す。 図において。 １は光ディスク媒体、　　２はレーザダイオード。 ３は光変調器、　　　　　４はレンズ。 ５はビームスブリック、６は光検出器。 ７は追従ミラー、　　　　８は絞り込みレンズ。 ９、１０，１９．２０は積分回路。 １１はレベルシフト回路、１２は比較器。 １３はカウンタ回路、　　　１４，１５．２１は演算増
幅器。 １６はカウンタ、１７は論理積回路。 １８は発振器。 をそれぞれ示す。 ○　　■　■　■■Ｇ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. トラック及びセクタの番号情報やタイミング情報が予め
   記録されている領域と、データを記録する領域からなる
   光ディスク媒体上に光学的にデータを記録／再生する装
   置において、前記光ディスク媒体に照射した光の反射光
   量を検出した信号の直流化した信号レベルを検出するた
   めの時定数Ｔ１を有する第１の検出手段と、時定数Ｔ２
   を有する第２の検出手段と、前記第２の検出手段の出力
   レベルを所定値にレベルシフトするレベルシフト手段と
   、前記第１の検出手段の出力レベルと前記レベルシフト
   手段の出力レベルとを比較する比較手段と、前記比較手
   段の出力信号幅を計数する計数手段とを設け、前記比較
   手段の出力信号幅が前記計数手段の所定計数値に達する
   幅の時、該光ディスク媒体の所定状態検出信号を出力す
   ることを特徴とする再生信号検出回路。