JPH07153078A

JPH07153078A - 情報の記録再生制御方法

Info

Publication number: JPH07153078A
Application number: JP29631793A
Authority: JP
Inventors: Hiromi Senoo; 廣美妹尾; Toshimitsu Kaku; 敏光賀来
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1993-11-26
Filing date: 1993-11-26
Publication date: 1995-06-16

Abstract

(57)【要約】【目的】記録媒体に記録すべき記録マークの長さと幅を
高精度に制御し、情報の信頼性および記録容量の向上を
図る方法と装置を提供する。【構成】試し書きパターン発生回路１０と記録パルス生
成回路１２により記録パルス列を生成し、レーザドライ
バ１３で記録媒体５に記録マークを記録する。記録媒体
５からの再生信号から試し書きパターン中心レベル検出
回路１９において２種類からなる試し書きパターン中心
レベルを検出し、その差が０となるときの記録パワーを
最適記録パワーとして正規の記録動作をすることによ
り、記録感度変動などによる記録マーク変動を抑圧す
る。【効果】記録再生装置と記録媒体との適合性を向上させ
るとともに、高精度に記録マークを制御できるので、記
録再生装置の信頼性および記録容量や情報の転送レート
を向上させる効果がある。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、記録媒体上に記録再生
を行う情報記録再生装置に係り、特に熱的記録による記
録マークの高精度な記録再生制御方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の記録方式は、特開平３−２２２２
３号公報に記載のように、記録マークの記録符号列をパ
ルス化して記録符号列の長さに対応する一連のパルス列
を形成し、パルス列の長さ、振幅を記録符号列の直前に
ある記録符号列の逆相の長さに応じて制御し、パルス列
を３つの部分に分け、各パルスのパルス幅を変化させて
記録を行う方式となっていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、記録
媒体の膜厚変動や環境温度変動による記録媒体に対する
記録感度変動が発生する点について考慮されておらず、
高精度に記録マークを制御できないために記録容量の低
下を引き起こす問題があった。

【０００４】本発明の目的は、前記記録感度変動による
記録マークの変動を極力抑制し、高精度な記録マーク制
御をすることにある。

【０００５】本発明の他の目的は、記録再生装置と記録
媒体との相性を向上させるとともに、記録再生装置によ
る記録感度変動さらに記録パワー変動も抑圧することに
ある。

【０００６】本発明の他の目的は、記録再生装置の信頼
性及び記憶容量や情報の転送レートを向上させることに
ある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、記録媒体と記録を行う装置との適合性を向上させる
ために、あらかじめ記録媒体の所定の位置に試し書きを
行い、試し書きによって得られる再生信号から最適記録
パワーを見つけだし、その後に正規の情報の記録を開始
するものである。

【０００８】また、試し書きデータならびに正規の情報
の入力データビット列を、記録を行う装置の変調方式に
対応する符号列にするとともに、前記符号列を記録媒体
に記録するためのデータ列を生成し、レーザ光源を駆動
して記録媒体に記録領域を形成することによって、正確
な記録を行うものである。

【０００９】上記他の目的を達成するために、試し書き
データならびに正規の情報の入力データビット列の記録
マークに応じた記録パルス列と記録補助パルスを発生さ
せ、記録パルス列と記録補助パルスに対する２つの光強
度または、２つのエネルギーレベルを用いて記録媒体に
記録したものである。

【００１０】上記他の目的を達成するために、記録パル
ス列と記録補助パルスの光強度を変調することによっ
て、情報の重ね書きを可能とする記録媒体において、記
録パワーと消去パワーに適用させたものである。

【００１１】また、あらかじめ記録媒体の所定の位置に
試し書きを行い、試し書きによって得られる最適記録パ
ワーに基づいて正規の情報の記録を開始するにあたっ
て、試し書きデータならびに正規の情報の入力データビ
ット列を、記録を行う装置の符号列にするとともに、前
記符号列を記録媒体に記録するためのデータ列を生成
し、レーザ光源を駆動して記録媒体に記録領域を形成す
る記録波形において、記録マークに応じた記録パルス列
と記録補助パルスに対する光強度またエネルギーレベル
を制御するものである。

【００１２】

【作用】試し書きは記録媒体と記録を行う装置との適合
性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の所定の位
置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜厚変動等
や、環境温度変動及び記録を行う装置の特性変化による
記録媒体に対する記録感度変動等を検知するために、記
録すべき厳しい記録マークを正規の情報の記録を行う前
に記録媒体上に書き込む動作をする。さらに、記録した
試し書きデータから得られる再生信号から最適記録パワ
ーを見つけだすために、記録するための記録波形の光強
度またはエネルギーを変化させて記録動作を実行する。
それによって、常に記録媒体に対する最適な記録条件を
得ることが出来るので、上述した記録感度変動にともな
う情報の記録誤動作がなくなるとともに信頼性のある記
録再生が出来る。

【００１３】さらに、正規の情報の記録直後またはある
周期での記録再生によって行われる試し書きを極力低減
するために、記録マークに応じた記録パルス列と記録補
助パルスを発生させ、記録パルス列と記録補助パルスに
対する２つの光強度または、２つのエネルギーレベルを
用いて記録媒体の温度をほぼ一定にして記録マークの長
さや幅を制御した記録である。

【００１４】

【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。図１は、
本発明の装置構成の一実施例を示す。情報記録再生装置
は、レーザ１を中心とする光ヘッドと情報を記憶させる
ための記録媒体５と記録パルス生成回路１２を中心とす
る記録処理系と光ヘッドから得られた再生信号を情報に
変換する再生回路１６を中心とした再生処理系から構成
される。記録媒体５は、記録膜とそれを保持する基板か
ら構成される。

【００１５】上位ホストからの命令や情報データはコン
トローラ８において命令の解読や記録データの変調が行
われ、変調方式に対応する符号列に変換される。シンセ
サイザ９は装置全体の基準クロックを発生させる発振器
であり、大容量化の手法としてゾーンごとに基準クロッ
クを変えて内外周での記録密度を略一定とするＺＣＡＶ
（Ｚoned Ｃonstant Ａngular Ｖelocity）と呼ばれ
る記録方法を採用した場合には、シンセサイザ９の発振
周波数もゾーンに応じて変えていく必要がある。

【００１６】試し書きは記録媒体と記録を行う装置との
適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の所定
の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜厚変
動等や、環境温度変動及び記録を行う装置の特性変化に
よる記録媒体に対する記録感度変動等を検知するための
試し書きパターンを正規の情報の記録を行う前に記録媒
体上に書き込む動作をする。この試し書きパターンは変
調方式に対応する符号列に変換されており、試し書きパ
ターン発生回路１０において生成する。コントローラ８
からの正規の情報データに応じて変調された符号列と試
し書きパターン発生回路１０からの符号列はセレクタ１
１に入力され、コントローラ８の制御信号により試し書
き処理あるいは通常の記録処理に対応して切り換えられ
る。セレクタ１１からの符号列は記録パルス生成回路１
２に入り、記録マークの長さや幅を制御するための記録
パルス列に変換される。これら記録パルス列はレーザド
ライバ１３に入力され、レーザドライバ１３からの記録
電流によりレーザ１を高出力発振させ、レーザ１から出
た光はレンズ１２で平行光となってプリズム３を通り、
レンズ２４により記録媒体５上に収束して符号列に応じ
た記録マークを記録する。高周波重畳回路１４はレーザ
１に起因するレーザ雑音を低減するために設けてあり、
記録／消去時にはレーザの寿命の関点から高周波重畳を
休止することもある。

【００１７】再生時はレーザ１を低出力発振させ、記録
媒体５に入射させる。記録媒体５からの反射光はプリズ
ム３で光路を分離して光検出器７に入射させる。光検出
器７で光電変換した後、プリアンプ１５で増幅し、再生
回路１６に入力する。再生回路１６は波形等化回路、自
動利得制御回路、二値化回路などから構成されており、
入力された再生信号を二値化信号とする。再生回路１６
からの二値化信号はセルフクロッキングのためにＰＬＬ
（Ｐhase Ｌocked Ｌoop）回路１７に入力される。Ｐ
ＬＬ１７で得られる、二値化信号に同期した再生クロッ
クと二値化信号はデータ弁別のために弁別回路１８に入
力され、その結果としてのデータ弁別信号はコントロー
ラ８に入力され、データが復調される。外部印加磁界を
用いて情報の記録、再生、消去を行う光磁気ディスク装
置においては、外部磁場発生器６を設けて記録／消去時
に磁界の向きを切り換えて記録／消去パワーを照射する
ことにより実施する。また、再生時は光検出器７の前に
配置した波長板（図示せず）により反射光をｐ偏光、ｓ
偏光に分離して光検出器（２分割）７でそれぞれを差動
することにより光磁気信号を得ることができる。

【００１８】試し書き処理時は再生回路１６の中からア
ナログ信号状態の再生信号を試し書きパターン中心レベ
ル検出回路１９に導く。試し書き処理時に使用する記録
パターンとして当該装置における最高周波数の最密パタ
ーンと最低周波数の最疎パターンの組合せパターンを用
い、その再生信号において最密パターンの中心レベルと
最疎パターンの中心レベルを試し書きパターン中心レベ
ル検出回路１９で検出して、その中心レベルの差をＡ／
Ｄ変換器２０によってコントローラ８に取り込み、その
差が０となる時の記録パワーが最適記録パワーと判定し
て正規の記録を実施する。この様に試し書きにより、常
に最適パワーを設定することで高精度な記録マークを記
録することが可能となる。

【００１９】図２に、本発明の記録媒体上に記録する記
録方式の一実施例を示す。ここでは変調方式として
（１，７）ＲＬＬコードを採用した場合について説明す
る。図１で説明したコントローラ８からの正規の情報デ
ータに応じて変調された符号列と試し書きパターン発生
回路１０からの符号列で、セレクタ１１からの出力が記
録符号列である。この記録符号列は、（１，７）ＲＬＬ
コードの場合２Ｔ_W〜８Ｔ_Wの７通りあり、マークエッジ
記録のために変調コードの“１”で極性を反転するＮＲ
ＺＩ（Ｎon Ｒeturn Ｔo Ｚero Ｉnverse）信号と
なっている。ここではＴ_Wは窓幅を表わし、シンセサイ
ザ９で発振する基準クロック周期はＴ_Wに等しい。５イ
ンチ光ディスクを回転数３０００ｒｐｍで記録再生する
場合、記録ピット長を０.７５μｍとすれば（１，７）
ＲＬＬコードでは内周２ＭＢ／ｓ、外周４ＭＢ／ｓの転
送速度を実現することができ、この時のＴ_Wは内周で４
０ｎｓ、外周で２０ｎｓの時間となる。記録パルス生成
回路１２によって、記録符号列のパルス部に対応した記
録パルス列を発生させる。記録パルス列は、先頭パルス
と２番目以降のパルスの長さが異なり、先頭パルスは最
短パルス幅２Ｔ_Wに対して３／２Ｔ_Wのパルス幅と、１／
２Ｔ_W分短くする。３Ｔ_W以降のパルス幅は先頭パルス３
／２Ｔ_Wと２番目以降のパルス幅１／２Ｔ_Wとギャップ幅
１／２Ｔ_Wの組合せ(基準クロック波形と同じ）を加算し
ていくことにより得られる。これらのパルスは基準クロ
ックに同期して発生させる。これにより、パルス幅およ
びパルス間隔の制御が向上する。

【００２０】図３に記録マーク形状、レーザの記録電流
波形および制御信号を示す。レーザの記録電流波形は記
録パルス列とギャップの組合せにより構成され、それぞ
れの記録パルス列の後縁には記録補助パルスによって時
間幅の休止期間を設ける。記録補助パルスは、記録符号
列の立ち下がり位置からある時間幅（例えばＴ_W）のギ
ャップ部を設けることによって、記録パルス列最終立ち
下がり位置からの熱が次の記録パルス列の先頭立ち上が
り位置の温度をほとんど変化させないようにする。レー
ザパワーは５つのパワーレベルに設定されている。再生
時の再生パワーＰｒ、記録時に高周波重畳を休止するた
めに再生パワーが変調度分低下した時の再生パワーＰ
ｒ’、記録補助パルスによる記録パワーがＰｐｈ、先頭
パルスの記録パワーがＰｗ１、２番目以降の後方パルス
の記録パワーがＰｗ２である。このパワーを実現するた
めに電流源として再生パワーを一定に保つＡＰＣ（Ａut
oＰower Ｃontrol）からの電流源Ｉｒ’、Ｉｒ’に重
畳する記録補助パルス用電流源Ｉｐｈ、さらに重畳する
先頭パルス用電流源Ｉｗ１、後方パルスを生成するのに
必要な電流源Ｉｗｒを設けて、記録補助パルスパワーＰ
ｐｈは電流をＩｒ’＋Ｉｐｈとし、先頭パルスパワーＰ
ｗ１はＩｒ’＋Ｉｐｈ＋Ｉｗ１とし、後方パルスパワー
Ｐｗ２はＩｒ’＋Ｉｐｈ＋Ｉｗ１＋Ｉｗ２としてレーザ
を発光させることにより目的の記録波形を得ることがで
きる。再生時はＩｒ’と高周波重畳回路からの電流Ｉｈ
ｆの加算により、再生電流Ｉｒを実現する。次に記録時
の制御信号の説明を行う。ＷＲＧＡＴＥ−Ｎは記録状態
を表わすゲート信号であって、通常のセクタ内の記録デ
ータ領域においてイネーブルとなる。また、高周波重畳
回路のＯＮ／ＯＦＦ制御信号として用い、再生中はＯＮ
し、記録中はＯＦＦするように動作する。ＷＲＰＬＳ−
Ｐは記録パルス列に対応し、ＰＨＰＬＳ−Ｐは記録補助
パルスを生成する信号であり、各記録パルス列の後端に
おいて熱遮断のためにＴ_Wの休止期間を有している。Ｐ
ＥＡＫＰＬＳ−Ｐは後方パルスを先頭パルスよりもパワ
ーを上げるために用いる制御信号である。これらの制御
信号は次の図４に示すレーザドライバ内の演算回路２１
に入力される。重ね書きができない光磁気ディスク装置
における消去時の制御信号は、ＷＲＰＬＳ−Ｐ，ＰＨＰ
ＬＳ−Ｐ，ＰＥＡＫＰＬＳ−ＰはＷＲＧＡＴＥ−Ｐ（Ｗ
ＲＧＡＴＥ−Ｎ信号の逆極性信号）と同じ波形にするこ
とによりデータの消去が可能になる。この記録波形では
先頭パルスのパワーを後方パルスのパワーより低く設定
している。こうすることにより、先頭パルスによる記録
マーク幅と後方パルスによる記録マーク幅を等しくし、
記録マーク長も高精度に制御することができる。これは
先頭パルスによる記録媒体上の温度と後方パルスによる
温度を一定にすることにほかならず、記録マーク幅が一
定となるので記録媒体を再生して得られるデータ部の再
生信号振幅を一定とすることができる。再生信号の中心
またはあるレベルで直接スライスすることによって、二
値化信号を生成することができる。また、この記録パル
ス列と記録補助パルスの組合せを用いて、特開昭６２−
１７５９４８記載の交換結合膜による重ね書き可能な光
磁気ディスクにおいて記録補助パルスのパワーレベルを
消去パワーに、記録パルスのパワーを記録パワーとする
ことにより重ね書きが実現できる。

【００２１】図４にレーザの記録波形を生成するレーザ
ドライバの一実施例を示す。記録電流波形に対してそれ
ぞれ電流源Ｉｗ１，Ｉｗ２，Ｉｐｈおよび再生パワーを
一定に保つＡＰＣ（Ａuto Ｐower Ｃontrol）からの
電流源Ｉｒ’を設ける。電流源Ｉｗ１，Ｉｗ２，Ｉｐｈ
はＺＣＡＶに対応して各ゾーンにおいて可変可能として
おく必要があり、コントローラ８からのゾーンデータを
データバスＤＢＵＳ０〜７−Ｐ経由で各電流源に設けた
Ｄ／Ａ変換器にセットすることにより実現できる。ま
た、Ｄ／Ａ変換器はレーザの発光効率、光ヘッドの利用
効率を考慮して所定のパワーになるように出力ゲインを
調整する。その調整データは、それぞれのＤ／Ａ変換器
に対して例えばＥＥＰＲＯＭに内蔵しておくことにより
実現できる。各電流源は高速スイッチング可能なカレン
トスイッチＣＳ１，ＣＳ２，ＣＳ３に接続されており、
図３の示す記録パルス制御信号により高速スイッチング
を実行し、所望の記録電流波形を得ることができる。こ
の回路では＋駆動レーザの高速スイッチングに対応する
ためにｐｎｐ形トランジスタの代わりに、高速スイッチ
ング可能なｎｐｎ形トランジスタを使用する。電流源Ｉ
には各電流源に設けたＤ／Ａ変換器の合計電流をカレン
トミラー回路（図示せず）により合計電流を流してお
き、各カレントスイッチによってカレントスイッチ側に
電流を吸い込み、レーザに流れる電流を制御する形をと
る。−駆動レーザの場合はそれぞれの電流源からの電流
を加算することで実現できる。高周波重畳回路は制御信
号ＷＲＧＡＴＥ−Ｐによって再生中はＯＮし、記録中は
ＯＦＦするように動作する。ここで使用するスイッチと
しては特開昭６３−９００３７号記載のＰＩＮダイオー
ドが好適である。

【００２２】試し書き処理は記録媒体と記録を行う装置
との適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の
所定の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜
厚変動等や、環境温度変動及び記録を行う装置の特性変
化による記録媒体に対する記録感度変動等を検知し、常
に最適条件下で記録を実行することを目的として正規の
情報の記録を行う前に記録媒体上に書き込む動作をす
る。図５に試し書き処理手順のフローチャートの一例を
示す。試し書き用のトラックはＺＣＡＶの場合、各ゾー
ンにおいて数トラック設置されており、たとえば内、
中、外周３ゾーンでの試し書き結果を基に全ゾーンの記
録条件を設定する方法をとる。まず最初に内周の試し書
きトラックへ光ヘッドを位置付ける。ここでは所定の試
し書きトラックをまず消去し、試し書きに備える。この
時の消去パワーとしてはあらゆる環境温度を想定して高
く設定しておく必要がある（たとえば、０℃における消
去パワー）。次に試し書きの記録開始パワーを設定す
る。この時の設定パワーは低くする必要があり、たとえ
ば５０℃時の記録パワーとする。当該トラックにおいて
試し書き先頭セレクタが検出されたならば試し書きパタ
ーンを記録し始める。図６に試し書きパターンの１例と
記録パワーの設定方法について示す。試し書きパターン
として当該装置での最高周波数である最密パターン
（（１，７）ＲＬＬコードの場合、２Ｔ_W）と最低周波
数である最疎パターン（８Ｔ_W）の繰り返しパターンを
使用する。マークエッジ記録の場合、記録マークの時間
軸制御が重要であり、最密パターンと最疎パターンの再
生信号の中心レベルが等しいときに各パターンの時間軸
が制御されたことになり、この時の記録パワーを最適パ
ワーとする。このように本実施例では時間軸変動を振幅
レベル変動で検出することになる。記録パワーは１セク
タあたり１条件として、順次セクタを更新しながら記録
パワーを更新していく。ＺＣＡＶの場合、記録条件はコ
ントローラからデータバスＤＢＵＳ０〜７−Ｐを経由し
てレーザドライバに設定する必要があり、その設定時間
を考慮すると記録するセクタは最低１セクタおきとなる
（図６）。１処理あたりの記録条件数は５〜１０程度で
十分あり、ビット長を０.７５μｍとすると５インチ円
板の最内周では１０２４Ｂ／セクタフォーマットの場
合、セクタ数は３０程度となるので１トラック以内で記
録処理は終了する。この時の最密パターンと最疎パター
ンを１組とした時の１セクタ内の繰り返し周期は、再生
時の信号変動よりも高く選択すれば試し書きパターン信
号と信号変動を分離することが可能となり、検出精度を
高くすることができる。再生時の信号変動成分としては
ディスク基板自身が持つリターデーションによる周波数
成分が主流であり、試し書きパターンの繰り返し周期と
してリターデーションの主周期の２倍以上の周期を選択
するとよい。

【００２３】試し書き処理の再生動作は光ヘッドを試し
書きトラックに位置付けることから始まる。上述した記
録動作にてパワーを変えながら記録したセクタを選択的
に順次よく読みだしていく。図１の試し書きパターン中
心レベル検出回路１９において各セクタの再生信号の中
から最密パターンの中心レベル（Ｖ₁）と最疎パターン
の中心レベル（Ｖ₂）を検出し、その電圧差ΔＶ＝Ｖ₁−
Ｖ₂を求める。ΔＶはＡ／Ｄ変換器２０でディジタルデ
ータとしてコントローラ８に取り込み、その中から最適
記録パワーの判定条件であるΔＶ＝０となるセクタの記
録条件を見つけだす。この一連の処理において、ΔＶ＝
０となるセクタがない場合にはΔＶの正負極性から記録
条件の大小を判定してそれに応じて再度記録開始パワー
を設定し、試し書き処理を実行する。同一トラックにお
いて２回以上の試し書き処理を実行してもΔＶ＝０とな
るセクタがない場合は装置異常として処理を終了する。
ΔＶ＝０となるセクタを見つけだした後は、このセクタ
に対する設定パワーを最適パワーとしてコントローラ内
のメモリに保管しておく。こうして試し書きにより最適
パワーが決定した試し書きトラックは次の試し書き処理
に備えるために消去しておく。この時の消去パワーは当
該試し書き処理に使用した最大記録パワーに設定するこ
とにより消し残りなく消去することができる。内周での
試し書き処理が終了した後に中周での試し書き処理を実
行する。同様にして中周でのΔＶ＝０となるセクタを見
つけだした後は、このセクタに対する設定パワーを最適
パワーとしてコントローラ内のメモリに保管しておく。
最後に外周においても同様の試し書き処理を実行してΔ
Ｖ＝０となるセクタを見つけだした後は、このセクタに
対する設定パワーを最適パワーとしてコントローラ内の
メモリに保管しておく。内、中、外周での最適パワーか
ら内挿計算によって各ゾーンの最適パワーを計算してメ
モリ内に記憶することにより、試し書き処理が終了し、
正規の情報の記録再生を開始する。上述の実施例におけ
る試し書き開始時の試し書きトラック消去動作におい
て、消去動作の代わりに未記録セクタ検出動作を実行し
て、検出した未記録セクタに順次記録パワーを代えなが
ら記録動作を実行してもよい。ただし、記録するセクタ
は最低１セクタおきとなる。以上の実施例では内、中、
外周において試し書き処理を実行することにしている
が、記録媒体の記録感度があらかじめ明らかになってい
る場合にはディスク内のある１ゾーンの試し書きトラッ
クでの試し書き処理を実行するだけでも同様の効果を得
ることができる。

【００２４】図７に試し書き処理において得られた再生
信号と実測例の１例を示す。再生信号において、記録パ
ワーの大きさによって最密パターンと最疎パターンの再
生信号の中心レベルの差ΔＶが変化する。最密パターン
と最疎パターンの周期に合わせて２種類のサンプリング
パルスＳＡＭＰＬＥ１−Ｐ，ＳＡＭＰＬＥ２−Ｐをコン
トローラ８より発行し、それぞれのパターンから中心レ
ベルとしてＶ₁，Ｖ₂を検出する。（３）に試し書き処理
において得られた記録パワー条件に対するΔＶ＝Ｖ₁−
Ｖ₂の１実測例を示す。記録パワーとΔＶはほぼ比例関
係にあることがわかる。ΔＶ＝０となる記録条件がない
場合には０に最も近い負極性の記録条件と正極性の記録
条件からΔＶ＝０となる記録条件を算出することが可能
である。

【００２５】図８に試し書きパターン中心レベル検出回
路１９の第１の実施例を示す。ここでは再生回路１６か
らの再生信号に対してピークホールド回路２２とボトム
ホールド回路２３によりエンベロープを検出し、それぞ
れを抵抗分割により中心レベルを検出する。その後、２
個のサンプルホールド回路２４，２５によってそれぞれ
のパターンに対応する中心レベルとしてＶ₁，Ｖ₂を検出
し、さらに差動アンプ２６によりΔＶを求めてその結果
をＡ／Ｄ変換器２０へ入力する。Ａ／Ｄ変換器２０では
ΔＶをディジタルデータとしてコントローラ８に送出す
る。

【００２６】図９に試し書きパターン中心レベル検出回
路１９の第２の実施例を示す。ここでは再生回路１６か
らの再生信号に対して低域周波数遮断回路（ＬＰＦ）２
７を設け、これにより再生信号の平均レベルを検出し、
その後は第１の実施例と同様に２個のサンプルホールド
回路２４，２５によってそれぞれのパターンに対する平
均レベルとしてＶ₁，Ｖ₂を検出し、さらに差動アンプ２
６によりΔＶを求めてその結果をＡ／Ｄ変換器２０へ入
力する。

【００２７】

【発明の効果】本発明によれば、記録媒体の膜厚変動や
環境温度変動による記録媒体に対する記録感度変動およ
び記録再生装置による記録感度変動も抑圧し、記録再生
装置と記録媒体との適合性を向上させるとともに、高精
度に記録マークを制御できるので、記録再生装置の信頼
性および記録容量や情報の転送レートを向上させる効果
がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例を説明するためのブロッ
ク図。

【図２】使用する記録符号列、記録パルス列の説明図、

【図３】記録電流波形を示す説明図。

【図４】レーザドライバのブロック図。

【図５】試し書き処理手順のフローチャートの一例。

【図６】試し書きパターンの一例と記録パワー設定法の
説明図。

【図７】試し書き処理において得られた再生信号と１実
測例。

【図８】試し書きパターン中心レベル検出回路１９の第
１の実施例。

【図９】試し書きパターン中心レベル検出回路１９の第
２の実施例。

【符号の説明】

８…コントローラ、１０…試し書きパターン発生回路、１２…記録パルス生成回路、１３…レーザドライバ、１６…再生回路、１７…ＰＬＬ、１８…弁別回路、１９…試し書きパターン中心レベル検出回路、２０…Ａ／Ｄ変換器、２２…ピークホールド回路、２３…ボトムホールド回路、２４，２５…サンプルホールド回路、２６…差動アンプ、２７…低域周波数遮断回路（ＬＰＦ）。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】記録媒体と記録を行う装置との適合性を向
上させるために記録媒体の所定の位置に試し書きデータ
を記録パワーを可変しながら記憶し、記録された試し書
きデータの再生信号から得られる最適記録パワーの情報
をもとに記録媒体に正規の情報の記録を開始し、光源か
らの光で記録媒体の所定の領域に光スポットを照射し、
記録媒体上に未記録部分とは物理的に異なる記録領域を
形成することにより情報の記録を行う記録方法におい
て、上記試し書きデータならびに正規の情報の入力デー
タビット列を記録を行う装置の変調方式に基づく符号列
にし、該符号列を記録媒体に記録するためのデータパル
ス列を生成し、光源を駆動して記録媒体に記録領域を形
成することによって記録を行うことを特徴とする情報の
記録再生制御方法。
【請求項２】試し書きデータならびに正規の情報の入力
データビット列の記録マークに応じた記録パルス列と記
録補助パルスを発生させ、前記記録パルス列の先頭パル
スと２番目以降のパルスの長さを異ならせるとともに、
前記記録パルス列からの熱が他の記録パルス列にほとん
ど影響を及ばないように各記録パルス列の後側に休止期
間を持つ前記記録補助パルスを設け、記録に関して少な
くとも２つの光強度または、２つのエネルギーレベルを
設けるように光源を駆動することを特徴とする請求項１
記載の情報の記録再生制御方法。
【請求項３】前記記録パルス列と前記記録補助パルスの
光強度を変調することによって、情報の重ね書きを可能
とする記録媒体を用い、記録パワーと消去パワーに適用
させたことを特徴とする請求項１記載の情報の記録再生
制御方法。
【請求項４】少なくともレーザー光と外部印加磁界とを
用いて記録、再生、或いは消去を行う光記録において、
記録パルスとしてレーザー光を不連続でかつ微小なパル
スから構成されたものを記録媒体に照射して記録するこ
とにより記録媒体内を拡散する熱の流れを制御し、形成
される磁区の幅と長さを制御したことを特徴とする光磁
気記録の記録制御方式。
【請求項５】少なくともレーザー光と外部印加磁界とを
用いて記録、再生、或いは消去を行う光記録において、
用いる記録パルスとして少なくともデータ記録領域及び
プリヒート領域の２つの部分よりなることを特徴とする
光磁気記録の記録制御方式。
【請求項６】少なくともレーザー光と外部印加磁界とを
用いて記録、再生、或いは消去を行う光記録において、
記録パルスと記録パルスとの間に一定期間の記録レベル
の低い部分を設け、さらに優位にはその部分により記録
パルスからの熱流を制御しピット間の熱による干渉を抑
制したことを特徴とする光磁気記録の記録制御方式。
【請求項７】請求項４〜６記載の記録パルスのデータ記
録領域において、少なくとも２種類以上のパワーレベル
から構成されることを特徴とする光磁気記録の記録制御
方式。
【請求項８】請求項６及び７記載の記録パルスのデータ
記録領域において、用いる不連続でかつ微小なパルスの
パルス幅を少なくとも先頭のパルスの幅をその後方のパ
ルスの幅より長くしたことを特徴とする光磁気記録の記
録制御方式。
【請求項９】請求項６及び７記載の記録パルスのデータ
記録領域において、用いる不連続でかつ微小なパルスの
パルス幅を制御するのに記録クロックにより行い、それ
により形成される検出窓幅の整数分の一としたことを特
徴とする光磁気記録の記録制御方式。
【請求項１０】請求項６及び７記載の記録パルスのデー
タ記録領域において、用いる不連続でかつ微小なパルス
のパルス間隔を制御するのに記録クロックにより行い、
それにより形成される検出窓幅の整数分の一としたこと
を特徴とする光磁気記録の記録制御方式。
【請求項１１】請求項６及び７記載の記録パルスのデー
タ記録領域において、用いる不連続でかつ微小なパルス
のパワーレベルを少なくとも先頭のパルスのパワーレベ
ルを後方のパルスのそれより低くしたことを特徴とする
光磁気記録の記録制御方式。
【請求項１２】請求項６記載の少なくともレーザー光と
外部印加磁界とを用いて記録、再生、或いは消去を行う
光記録において、記録パルスと記録パルスとの間に設け
た一定期間の記録レベルの低い部分において、その間隔
を制御するのに記録クロックにより行い、それにより形
成される検出窓幅の整数分の一としたことを特徴とする
光磁気記録の記録制御方式。
【請求項１３】少なくともレーザー光と外部印加磁界と
を用いて記録、再生、或いは消去を行う光記録におい
て、用いる記録パルスとして少なくともデータ記録領域
及びプリヒート領域の２つの部分よりなり、さらにその
記録パルスと記録パルスとの間に設けた一定期間の記録
レベルの低い部分を用いる記録媒体或いは使用環境条件
に応じてその設定値のすべて或いはその内の少なくとも
１つを独立してあるいは連動させて変化させたことを特
徴とする光磁気記録の記録制御方式。
【請求項１４】請求項１と２において、試し書きによっ
て記録波形の中で記録パルスのレベルと補助パルスのレ
ベルの両方あるいはそのうちの少なくとも１つのレベル
を制御することを特徴とする情報の記録再生制御方法。
【請求項１５】請求項１と２において、試し書き処理時
に使用する記録パターンとして当該装置における最高周
波数の最密パターンと最低周波数の最疎パターンを用
い、その再生信号において最密パターンの中心レベルと
最疎パターンの中心レベルを検出して、それぞれの中心
レベルが等しくなるような記録パワーに設定して正規の
記録を実施することを特徴とする情報の記録再生制御方
法。
【請求項１６】請求項１５において、試し書きの記録動
作ではセクタ毎に記録パワーを順次可変しながら記録
し、再生動作では当該セクタを順次再生しながら最密パ
ターンと最疎パターンの中心レベルを検出して、それぞ
れのレベルが等しくなる。すなわち差が０となるセクタ
において設定した記録パワーを最適パワーとして正規の
記録を実施することを特徴とする情報の記録再生制御方
法。
【請求項１７】請求項１５において、試し書きの記録パ
ターンの再生信号の中心レベルの検出にピークホールド
回路とボトムホールド回路を用いることを特徴とする情
報の記録再生制御方法。
【請求項１８】請求項１５において、試し書きの記録パ
ターンの再生信号の中心レベルの検出に低域周波数遮断
回路を用いることを特徴とする情報の記録再生制御方
法。
【請求項１９】請求項１５において、試し書き処理時の
記録パターンである最密パターンと最疎パターンの組合
せの繰り返し周期をディスク基板自身が持つリターデー
ションが変化する周期に対して２倍以上とすることを特
徴とする情報の記録再生制御方法。
【請求項２０】請求項１５において、試し書き処理を実
行したトラックに対して、処理終了時には試し書き処理
で使用した最大パワーによって当該トラックを消去して
おくことを特徴とする情報の記録再生制御方法。