JPH05242480A - 光ディスクプレーヤ - Google Patents

光ディスクプレーヤ

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JPH05242480A
JPH05242480A JP4076024A JP7602492A JPH05242480A JP H05242480 A JPH05242480 A JP H05242480A JP 4076024 A JP4076024 A JP 4076024A JP 7602492 A JP7602492 A JP 7602492A JP H05242480 A JPH05242480 A JP H05242480A
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  • Optics & Photonics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 各種光ディスクに対する情報記録を適切に行
うことができるため、 【構成】 ＤＣアンプ１３の検出結果である光ディスク
１の反射率、線速度検出部１４の検出結果である線速
度、エッジ検出部１５の検出結果である記録ピット長、
記録パワー検出部１６の検出結果である記録パワー、周
囲温度検出部１７の検出結果である記録時の周囲温度を
それぞれメモリ１９に記憶させ、最終的に再生信号のエ
ラー率及びジッタの少ない状態を最適条件としてメモリ
１９に記憶させ、この最適条件を示す情報に基づいて信
号の記録を行わせるようにした。 【効果】 記録時における周囲温度等の各種要因に変動
がある場合であっても、常に最適条件が得られることか
ら、それぞれの光ディスクに対して適切なピットを容易
に形成することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ピックアップからの
変調光によって光ディスクの記録面への情報の記録が可
能な光ディスクプレーヤに係り、特に様々な要因によっ
て不適切な形状に変化するピットの形状とするための光
ディスクプレーヤに関する。
【０００２】
【従来の技術】現在、光ディスクには、再生専用のコン
パクトディスク（ＣＤ）や記録可能なＣＤ−Ｒディスク
等がある。
【０００３】記録可能なディスクとしては、レーザ光を
用いて記録・再生する方式をとる追記形（Write Once）
と書換え可能形とがある。ディスクの構造はＣＤと同じ
であるが、異なる点は信号を記録する面である。
【０００４】つまり、追記形の場合の記録信号面の材料
は、ＴｅやＢｉを用い、これにレーザ光を当てるとその
部分が熔融してピットが形成される方法と、Ｓｂ2 Ｓｅ
3 、ＴｅＯｘや有機色素系の薄膜を用いてこれにレーザ
光を当てると光の反射率が変化する方法の二通りがあ
る。
【０００５】一方、書換え可能形の場合の記録信号面の
材料は、希土類金属（Ｇａ，Ｔｂ，Ｄｒ，Ｈｏ等）と３
ｄ遷移金属（Ｆｅ，Ｃｏ，Ｎｉ）とのアモルファス合金
が用いられており、信号の記録に際しては光磁気記録方
式（Magnet Optics） が採用されている。ここでの記録
は、外部磁界によって予めイニシャライズされている光
磁気ディスクの記録面の所定箇所をレーザビームの照射
によってキューリー温度（１５０℃程度）より上げる
と、そこに加わった外部磁界により記録面が垂直磁化さ
れる。読出しは、これに光を当てた時に偏光面がごくわ
ずかに回転する現象（カー効果）を用いることによって
行われる。
【０００６】この他にＳｂＴｅＳｅやＩｎＳｅＴｅ等の
材料を用い、結晶相からアモルファスとの相変化を光で
読出す方式や、有機色素２相膜の熱変化を光で読出す方
式等も研究されている。
【０００７】ところで、上述した追記形（Write Once）
や書換え可能形における熱によってピットを形成する記
録方式では、図１（ａ），（ｂ）に示すように、ピット
ポジション記録方式とピットエッジ記録方式とが考えら
れている。
【０００８】両者を比較した場合の大きな違いは、同図
（ａ）に示すピットボジション記録方式の場合、１つの
ピットに１つの情報を持たせているのに対し、同図
（ｂ）に示すピットエッジ記録方式には、１つのピット
のエッジに情報を持たせていることから、ピットボジシ
ョン記録方式に比べてピットエッジ記録方式はビット密
度を２倍にすることができるという利点がある。
【０００９】ところが、このようなピットエッジ記録方
式では、たとえば図２（ａ）に示すようなデータに基づ
いて光ディスクの記録面に信号を記録しようとした場
合、たとえば同図（ｂ）に示すように、涙型のピットが
形成されてしまう。これは、レーザビームによる熱が光
ディスクの記録面に蓄積されることから生じるものであ
る。また、同図（ｃ）に示すように、ピットｐ1 の後に
ピットｐ2 が形成される際、記録すべきピットの領域が
点線部分から実線部分に広がってしまう。これは、熱干
渉によるものであり、ピットｐ1 とピットｐ2 との間隔
が短い場合に生じ易い。
【００１０】このように、適切な形状のピットが形成さ
れない場合、再生時において、再生ＲＦ信号にジッタを
生じてしまい、再生音が不適切なものとなったり、再生
音にノイズ等が発生してりする原因となる。
【００１１】このようなことから、従来では、図３に示
すように、レーザーパワーの記録波形をＥＦＭ信号に対
して僅かにディレイタイムを設けるとともに、温度上昇
領域と保温領域とを設ける等の工夫を施している。以
下、この方式をマルチパルス記録方式という。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述した従
来のマルチパルス記録方式では、光ディスクの種別や記
録時における周囲温度等の各種要因によって記録状態等
が異なることから、それぞれの光ディスクや各種条件に
応じてレーザーパワーの記録波形を変える必要があるた
め、適切なピット形状を得ることは極めて困難となって
いる。
【００１３】特に、ＣＡＶ方式の光ディスクの場合は線
速度が異なることから、その線速度の異なる毎にレーザ
ーパワーの記録波形を変える必要があり、理論上は可能
であるが、実際上、適切なピット形状を得ることは極め
て困難である。
【００１４】本発明は、このような事情に対処してなさ
れたもので、光ディスクの記録パワー測定領域にテスト
信号を記録し、これを再生し最適条件を得ることによっ
て、各種の光ディスクに対する情報記録を適切に行うこ
とができる光ディスクプレーヤを提供することを目的と
する。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、光ピックアップからの変調されたレーザ
ビームによって光ディスクの記録面への情報の記録が可
能な光ディスクプレーヤにおいて、前記光ディスクの種
別毎にそれぞれの記録面におけるピット形状が最適とな
る各種条件が記憶されている記憶手段と、この記憶手段
に記憶されている各種条件に基づいて前記光ディスクの
最中心側に設けられた記録パワー測定領域に対して試し
記録を行うとともに、この試し記録された信号の再生情
報から記録時における変動分を補正して前記記憶手段に
記憶されている各種条件を更新する条件設定手段とを具
備することを特徴とする。
【００１６】
【作用】本発明の光ディスクプレーヤでは、最適条件で
ピット記録を行わせようとするものであり、記憶手段に
記憶されている各種条件に基づいて光ディスクの最中心
側に設けられた記録パワー測定領域に対して試し記録を
行うとともに、この試し記録された信号の再生情報から
記録時における変動分を補正して記憶手段に記憶されて
いる各種条件を更新するようにしたものである。
【００１７】
【実施例】以下、本発明の実施例の詳細を図面に基づい
て説明する。図４は、本発明の光ディスクプレーヤの一
実施例を示すものであり、光変調方式によって情報の記
録が可能な光ディスク１はスピンドルモータ２によって
回転されるようになっている。ピックアップ３はサボー
メカ４によって光ディスク１の記録面に対するトラッキ
ング及びフォーカスがとられるようになっている。ピッ
クアップ３によって読取られた再生ＲＦ信号はＲＦアン
プ５によって増幅されるようになっている。
【００１８】ＲＦアンプ５のＲＦ出力は、イコライザー
６によってｆ特が調整され、ジッタ検出部７及びデコー
ダ８を経た後、Ｄ／Ａコンバータによってアナログ信号
に変換され、オーディオ出力とされる。
【００１９】エラー生成部１０は、ピックアップ３によ
って読取られた信号からトラッキングエラー信号やフォ
ーカスエラー信号を生成しサーボ１１に出力すると、サ
ーボ１１はこれらの信号が零となるようにサーボメカ４
を駆動する。またサーボ１１は、システムコントローラ
１２からの制御信号に基づいてスピンドルモータ２の回
転動作をコントロールしている。
【００２０】ＤＣアンプ１３は、ピックアップ３によっ
て読取られた信号から光ディスク１の反射率を検出し、
システムコントローラ１２に出力する。線速度検出部１
４は、ＲＦアンプ５の出力からアドレスやサーボ１１か
らのサーボ信号に基づいてスピンドルモータ２の回転速
度及び図示省略のピックアップ３のディスク半径方向に
おける位置を検出する位置検出センサからの位置信号等
に基づきピックアップ３の線速度を検出する。
【００２１】エッジ検出部１５は、ＲＦアンプ５の出力
からピットの前後のエッジを検出し、記録ピット長を検
出する。記録パワー検出部１６は、光ディスク１の記録
パワー測定領域（ＰＣＡ）に記録された信号の記録パワ
ーを検出する。ちなみに、記録パワー測定領域（ＰＣ
Ａ）は、たとえば図５に示すように、リードインの内側
のプログラムメモリ領域（ＰＭＡ）の更に内側に設けら
れている。なお、プログラムメモリ領域（ＰＭＡ）は、
たとえば記録した情報の開始及び終了アドレス等が書込
まれる領域である。
【００２２】周囲温度検出部１７は、たとえば熱電対か
らなり、記録時の周囲温度を検出する。レーザドライバ
１８は、システムコントローラ１２からの制御信号に基
づいてピックアップ３における光ディスク１の記録面に
対してのレーザーパワーを最適な状態に調整する。
【００２３】メモリ１９には、ＤＣアンプ１３からの光
ディスク１の反射率情報、線速度検出部１４からの線速
度情報、エッジ検出部１５からの記録ピット長情報、記
録パワー検出部１６からの記録パワー情報及び周囲温度
検出部１７からの記録時の周囲温度情報等が記憶される
ようになっている。
【００２４】このような構成の光ディスクプレーヤの動
作を、図６を用いて説明する。まず、周囲温度検出部１
７からの記録時の周囲温度情報をメモリ１９に記憶させ
る（ステップ６０１）。次いで、ピックアップ３を光デ
ィスク１の最内周側の記録パワー測定領域（ＰＣＡ）に
移動させ、その領域に所定量のテスト信号を記録した
後、記録パワー検出部１６からの記録パワー情報をメモ
リ１９に記憶させる（ステップ６０２）。
【００２５】ここで、ディスク再生位置にセットされた
ディスクがＣＡＶディスクの場合には、線速度と記録パ
ワーとの比をメモリ１９に記憶させ（ステップ６０
３）、更にＤＣアンプ１３からの光ディスク１の反射率
情報をメモリ１９に記憶させる（ステップ６０４）。
【００２６】エッジ検出部１５からの記録ピット長情報
をメモリ１９に記憶させる（ステップ６０５）。この状
態から、図３における記録波形のディレイ部分を除々に
大きくして再度記録パワー測定領域（ＰＣＡ）に対する
テスト記録及び再生を試み、ジッタ検出部７によって検
出されるジッタの少ない状態に記録波形のディレイ部分
を固定し、この固定した値をメモリ１９に記憶させる
（ステップ６０６〜６０９）。
【００２７】次いで、図３における記録波形の保温領域
を除々に大きくして再度記録パワー測定領域（ＰＣＡ）
に対するテスト記録及び再生を試み、ジッタ検出部７に
よって検出されるジッタの少ない状態に記録波形の保温
領域を固定し、この固定した値をメモリ１９に記憶させ
る（ステップ６１０〜６１３）。
【００２８】更に、上記の保温領域における分割パルス
の量を除々に増加させて再度記録パワー測定領域（ＰＣ
Ａ）に対するテスト記録及び再生を試み、ジッタ検出部
７によって検出されるジッタの少ない状態に分割パルス
の量を固定し、この固定した値をメモリ１９に記憶させ
る（ステップ６１４〜６１７）。
【００２９】この状態を記録すべき光ディスク１の最適
条件とし、この条件に基づいて光ディスク１へのプログ
ラムエリアへの情報の記録を開始する。
【００３０】また、このような光ディスク１の最適条件
を求めるフローは、仕様形態の異なる他の光ディスクに
対しても行われ、それぞれのタイプに対応させてメモリ
１９に最適条件を示す情報を記憶させるとともに、記憶
後に別の光ディスクに対して情報を記録させる場合に
は、同一条件の光ディスクに対しメモリ１９から最適条
件を示す情報を読出して情報の記録を行わせる。
【００３１】このように、本実施例では、ＤＣアンプ１
３の検出結果である光ディスク１の反射率、線速度検出
部１４の検出結果である線速度、エッジ検出部１５の検
出結果である記録ピット長、記録パワー検出部１６の検
出結果である記録パワー、周囲温度検出部１７の検出結
果である記録時の周囲温度をそれぞれメモリ１９に記憶
させ、最終的に再生信号のエラー率及びジッタの少ない
状態を最適条件としてメモリ１９に記憶させ、この最適
条件を示す情報に基づいて信号の記録を行わせるように
した。
【００３２】したがって、記録時における周囲温度等の
各種要因に変動がある場合であっても、常に最適条件が
得られることから、それぞれの光ディスクに対して適切
なピットを容易に形成することができる。
【００３３】また、ＣＡＶ方式の光ディスクのように線
速度が異なるディスクであっても、線速度検出部１４の
検出結果に基づいてレーザーパワーの記録波形を変える
ことが可能であり、適切なピットを容易に形成すること
ができる。
【００３４】なお、本実施例では、メモリ１９に、ＤＣ
アンプ１３からの光ディスク１の反射率情報、線速度検
出部１４からの線速度情報、エッジ検出部１５からの記
録ピット長情報、記録パワー検出部１６からの記録パワ
ー情報及び周囲温度検出部１７からの記録時の周囲温度
情報等を記憶させる場合について説明したが、この例に
限らず、予め各種ディスクに対し使用範囲内温度にて光
ディスク１の反射率情報、線速度情報、記録ピット長情
報、記録パワー情報及び周囲温度情報等の項目について
測定し、これらの測定結果をメモリ１９に記憶させてお
き、これらの情報を基本データとして光ディスク１の記
録開始前における再度記録パワー測定領域（ＰＣＡ）に
対するテスト記録及び再生を試み、最適な条件が得られ
るようにしてもよく、この場合にはＤＣアンプ１３、線
速度検出部１４、エッジ検出部１５、記録パワー検出部
１６、周囲温度検出部１７等が不要となることら構成の
簡素化を図ることができる。
【００３５】またシステムコントローラ１２に、自己学
習機能を持たせるようにしてもよく、この場合には、メ
モリ１９に対して常に最適な条件が更新記録されること
から、経時変化に伴った記録条件の変動等に適宜対処可
能となる。
【００３６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ディス
クプレーヤによれば、記憶手段に記憶されている各種条
件に基づいて光ディスクの最中心側に設けられた記録パ
ワー測定領域に対して試し記録を行うとともに、この試
し記録された信号の再生情報から記録時における変動分
を補正して記憶手段に記憶されている各種条件を更新す
るようにした。
【００３７】したがって、記録時における最適条件を得
ることができ、各種光ディスクに対する情報記録を適切
に行うことができるため、再生時においてはノイズ等の
発生が少なくなることから適切な再生情報を得ることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の記録方式におけるピットポジション記録
方式とピットエッジ記録方式とを示す図である。
【図２】図１のピットエッジ記録方式における熱によっ
て形状の変えられたピットを示す図である。
【図３】図２における形状の変えられたピットを適切な
形状で記録しようとする場合の信号波形を示す図であ
る。
【図４】本発明の光ディスクプレーヤの一実施例を示す
ブロック図である。
【図５】図４の光ディスクプレーヤによって情報の記録
再生が可能な光ディスクの一例を示す図である。
【図６】図４の光ディスクプレーヤの動作を説明するた
めのフローチャートである。
【符号の説明】
１ 光ディスク ２ スピンドルモータ ３ ピックアップ ７ ジッタ検出部 １０ エラー生成部 １２ システムコントローラ １３ ＤＣアンプ １４ 線速度検出部 １５ エッジ検出部 １６ 記録パワー検出部 １７ 周囲温度検出部 １８ レーザドライバ １９ メモリ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 光ピックアップからの変調されたレーザ
    ビームによって光ディスクの記録面への情報の記録が可
    能な光ディスクプレーヤにおいて、 前記光ディスクの種別毎にそれぞれの記録面におけるピ
    ット形状が最適となる各種条件が記憶されている記憶手
    段と、 この記憶手段に記憶されている各種条件に基づいて前記
    光ディスクの最中心側に設けられた記録パワー測定領域
    に対して試し記録を行うとともに、この試し記録された
    信号の再生情報から記録時における変動分を補正して前
    記記憶手段に記憶されている各種条件を更新する条件設
    定手段とを具備することを特徴とする光ディスクプレー
    ヤ。
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