JP3075632B2 - 光ディスクプレーヤ - Google Patents

光ディスクプレーヤ

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    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
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  • Optics & Photonics (AREA)
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  • Optical Head (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ピックアップからの
変調光によって光ディスクの記録面への情報の記録が可
能な光ディスクプレーヤに係り、特に様々な要因によっ
て不適切な形状に変化するピットの形状とするための光
ディスクプレーヤに関する。
【0002】
【従来の技術】現在、光ディスクには、再生専用のコン
パクトディスク(CD)や記録可能なCD−Rディスク
等がある。
【0003】記録可能なディスクとしては、レーザ光を
用いて記録・再生する方式をとる追記形(Write Once)
と書換え可能形とがある。ディスクの構造はCDと同じ
であるが、異なる点は信号を記録する面である。
【0004】つまり、追記形の場合の記録信号面の材料
は、TeやBiを用い、これにレーザ光を当てるとその
部分が熔融してピットが形成される方法と、Sb2 Se
3 、TeOxや有機色素系の薄膜を用いてこれにレーザ
光を当てると光の反射率が変化する方法の二通りがあ
る。
【0005】一方、書換え可能形の場合の記録信号面の
材料は、希土類金属(Ga,Tb,Dr,Ho等)と3
d遷移金属(Fe,Co,Ni)とのアモルファス合金
が用いられており、信号の記録に際しては光磁気記録方
式(Magnet Optics) が採用されている。ここでの記録
は、外部磁界によって予めイニシャライズされている光
磁気ディスクの記録面の所定箇所をレーザビームの照射
によってキューリー温度(150℃程度)より上げる
と、そこに加わった外部磁界により記録面が垂直磁化さ
れる。読出しは、これに光を当てた時に偏光面がごくわ
ずかに回転する現象(カー効果)を用いることによって
行われる。
【0006】この他にSbTeSeやInSeTe等の
材料を用い、結晶相からアモルファスとの相変化を光で
読出す方式や、有機色素2相膜の熱変化を光で読出す方
式等も研究されている。
【0007】ところで、上述した追記形(Write Once)
や書換え可能形における熱によってピットを形成する記
録方式では、図1(a),(b)に示すように、ピット
ポジション記録方式とピットエッジ記録方式とが考えら
れている。
【0008】両者を比較した場合の大きな違いは、同図
(a)に示すピットボジション記録方式の場合、1つの
ピットに1つの情報を持たせているのに対し、同図
(b)に示すピットエッジ記録方式には、1つのピット
のエッジに情報を持たせていることから、ピットボジシ
ョン記録方式に比べてピットエッジ記録方式はビット密
度を2倍にすることができるという利点がある。
【0009】ところが、このようなピットエッジ記録方
式では、たとえば図2(a)に示すようなデータに基づ
いて光ディスクの記録面に信号を記録しようとした場
合、たとえば同図(b)に示すように、涙型のピットが
形成されてしまう。これは、レーザビームによる熱が光
ディスクの記録面に蓄積されることから生じるものであ
る。また、同図(c)に示すように、ピットp1 の後に
ピットp2 が形成される際、記録すべきピットの領域が
点線部分から実線部分に広がってしまう。これは、熱干
渉によるものであり、ピットp1 とピットp2 との間隔
が短い場合に生じ易い。
【0010】このように、適切な形状のピットが形成さ
れない場合、再生時において、再生RF信号にジッタを
生じてしまい、再生音が不適切なものとなったり、再生
音にノイズ等が発生してりする原因となる。
【0011】このようなことから、従来では、図3に示
すように、レーザーパワーの記録波形をEFM信号に対
して僅かにディレイタイムを設けるとともに、温度上昇
領域と保温領域とを設ける等の工夫を施している。以
下、この方式をマルチパルス記録方式という。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述した従
来のマルチパルス記録方式では、光ディスクの種別や記
録時における周囲温度等の各種要因によって記録状態等
が異なることから、それぞれの光ディスクや各種条件に
応じてレーザーパワーの記録波形を変える必要があるた
め、適切なピット形状を得ることは極めて困難となって
いる。
【0013】特に、CAV方式の光ディスクの場合は線
速度が異なることから、その線速度の異なる毎にレーザ
ーパワーの記録波形を変える必要があり、理論上は可能
であるが、実際上、適切なピット形状を得ることは極め
て困難である。
【0014】本発明は、このような事情に対処してなさ
れたもので、光ディスクの記録パワー測定領域にテスト
信号を記録し、これを再生し最適条件を得ることによっ
て、各種の光ディスクに対する情報記録を適切に行うこ
とができる光ディスクプレーヤを提供することを目的と
する。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、レーザビームを光ディスクの記録面に照
射しピットを形成することで情報記録を行う光ディスク
プレーヤであって、上記ピットを最適な形状に形成する
ための上記レーザビームの照射条件に関する条件情報
を、上記光ディスクの種別毎に予め記憶する記憶手段
と、情報記録すべき光ディスクの所定記録領域に、上記
情報記録すべき光ディスクに対応する上記条件情報に基
づいて上記レーザビームを照射させることで試し記録を
行い、上記試し記録により形成されるピットの再生情報
と上記試し記録の際の条件情報との変動分を検出し、上
記変動分に基づいて上記試し記録の際の条件情報を補正
する補正手段とを備え、上記記憶手段に予め記憶された
上記各条件情報は、上記レーザビームの照射期間の情報
を含み、上記補正手段は、上記変動分に基づいて、上記
試し記録の際の条件情報に含まれる上記照射期間の長さ
と、上記照射期間内における上記レーザビームの照射非
照射の回数を補正することを特徴とする。
【0016】
【作用】本発明の光ディスクプレーヤでは、最適条件で
ピット記録を行わせようとするものであり、記憶手段に
記憶されている各種条件に基づいて光ディスクの最中心
側に設けられた記録パワー測定領域に対して試し記録を
行うとともに、この試し記録された信号の再生情報から
記録時における変動分を補正して記憶手段に記憶されて
いる各種条件を更新するようにしたものである。
【0017】
【実施例】以下、本発明の実施例の詳細を図面に基づい
て説明する。図4は、本発明の光ディスクプレーヤの一
実施例を示すものであり、光変調方式によって情報の記
録が可能な光ディスク1はスピンドルモータ2によって
回転されるようになっている。ピックアップ3はサボー
メカ4によって光ディスク1の記録面に対するトラッキ
ング及びフォーカスがとられるようになっている。ピッ
クアップ3によって読取られた再生RF信号はRFアン
プ5によって増幅されるようになっている。
【0018】RFアンプ5のRF出力は、イコライザー
6によってf特が調整され、ジッタ検出部7及びデコー
ダ8を経た後、D/Aコンバータによってアナログ信号
に変換され、オーディオ出力とされる。
【0019】エラー生成部10は、ピックアップ3によ
って読取られた信号からトラッキングエラー信号やフォ
ーカスエラー信号を生成しサーボ11に出力すると、サ
ーボ11はこれらの信号が零となるようにサーボメカ4
を駆動する。またサーボ11は、システムコントローラ
12からの制御信号に基づいてスピンドルモータ2の回
転動作をコントロールしている。
【0020】DCアンプ13は、ピックアップ3によっ
て読取られた信号から光ディスク1の反射率を検出し、
システムコントローラ12に出力する。線速度検出部1
4は、RFアンプ5の出力からアドレスやサーボ11か
らのサーボ信号に基づいてスピンドルモータ2の回転速
度及び図示省略のピックアップ3のディスク半径方向に
おける位置を検出する位置検出センサからの位置信号等
に基づきピックアップ3の線速度を検出する。
【0021】エッジ検出部15は、RFアンプ5の出力
からピットの前後のエッジを検出し、記録ピット長を検
出する。記録パワー検出部16は、光ディスク1の記録
パワー測定領域(PCA)に記録された信号の記録パワ
ーを検出する。ちなみに、記録パワー測定領域(PC
A)は、たとえば図5に示すように、リードインの内側
のプログラムメモリ領域(PMA)の更に内側に設けら
れている。なお、プログラムメモリ領域(PMA)は、
たとえば記録した情報の開始及び終了アドレス等が書込
まれる領域である。
【0022】周囲温度検出部17は、たとえば熱電対か
らなり、記録時の周囲温度を検出する。レーザドライバ
18は、システムコントローラ12からの制御信号に基
づいてピックアップ3における光ディスク1の記録面に
対してのレーザーパワーを最適な状態に調整する。
【0023】メモリ19には、DCアンプ13からの光
ディスク1の反射率情報、線速度検出部14からの線速
度情報、エッジ検出部15からの記録ピット長情報、記
録パワー検出部16からの記録パワー情報及び周囲温度
検出部17からの記録時の周囲温度情報等が記憶される
ようになっている。
【0024】このような構成の光ディスクプレーヤの動
作を、図6を用いて説明する。まず、周囲温度検出部1
7からの記録時の周囲温度情報をメモリ19に記憶させ
る(ステップ601)。次いで、ピックアップ3を光デ
ィスク1の最内周側の記録パワー測定領域(PCA)に
移動させ、その領域に所定量のテスト信号を記録した
後、記録パワー検出部16からの記録パワー情報をメモ
リ19に記憶させる(ステップ602)。
【0025】ここで、ディスク再生位置にセットされた
ディスクがCAVディスクの場合には、線速度と記録パ
ワーとの比をメモリ19に記憶させ(ステップ60
3)、更にDCアンプ13からの光ディスク1の反射率
情報をメモリ19に記憶させる(ステップ604)。
【0026】エッジ検出部15からの記録ピット長情報
をメモリ19に記憶させる(ステップ605)。この状
態から、図3における記録波形のディレイ部分を除々に
大きくして再度記録パワー測定領域(PCA)に対する
テスト記録及び再生を試み、ジッタ検出部7によって検
出されるジッタの少ない状態に記録波形のディレイ部分
を固定し、この固定した値をメモリ19に記憶させる
(ステップ606〜609)。
【0027】次いで、図3における記録波形の保温領域
を除々に大きくして再度記録パワー測定領域(PCA)
に対するテスト記録及び再生を試み、ジッタ検出部7に
よって検出されるジッタの少ない状態に記録波形の保温
領域を固定し、この固定した値をメモリ19に記憶させ
る(ステップ610〜613)。
【0028】更に、上記の保温領域における分割パルス
の量を除々に増加させて再度記録パワー測定領域(PC
A)に対するテスト記録及び再生を試み、ジッタ検出部
7によって検出されるジッタの少ない状態に分割パルス
の量を固定し、この固定した値をメモリ19に記憶させ
る(ステップ614〜617)。
【0029】この状態を記録すべき光ディスク1の最適
条件とし、この条件に基づいて光ディスク1へのプログ
ラムエリアへの情報の記録を開始する。
【0030】また、このような光ディスク1の最適条件
を求めるフローは、仕様形態の異なる他の光ディスクに
対しても行われ、それぞれのタイプに対応させてメモリ
19に最適条件を示す情報を記憶させるとともに、記憶
後に別の光ディスクに対して情報を記録させる場合に
は、同一条件の光ディスクに対しメモリ19から最適条
件を示す情報を読出して情報の記録を行わせる。
【0031】このように、本実施例では、DCアンプ1
3の検出結果である光ディスク1の反射率、線速度検出
部14の検出結果である線速度、エッジ検出部15の検
出結果である記録ピット長、記録パワー検出部16の検
出結果である記録パワー、周囲温度検出部17の検出結
果である記録時の周囲温度をそれぞれメモリ19に記憶
させ、最終的に再生信号のエラー率及びジッタの少ない
状態を最適条件としてメモリ19に記憶させ、この最適
条件を示す情報に基づいて信号の記録を行わせるように
した。
【0032】したがって、記録時における周囲温度等の
各種要因に変動がある場合であっても、常に最適条件が
得られることから、それぞれの光ディスクに対して適切
なピットを容易に形成することができる。
【0033】また、CAV方式の光ディスクのように線
速度が異なるディスクであっても、線速度検出部14の
検出結果に基づいてレーザーパワーの記録波形を変える
ことが可能であり、適切なピットを容易に形成すること
ができる。
【0034】なお、本実施例では、メモリ19に、DC
アンプ13からの光ディスク1の反射率情報、線速度検
出部14からの線速度情報、エッジ検出部15からの記
録ピット長情報、記録パワー検出部16からの記録パワ
ー情報及び周囲温度検出部17からの記録時の周囲温度
情報等を記憶させる場合について説明したが、この例に
限らず、予め各種ディスクに対し使用範囲内温度にて光
ディスク1の反射率情報、線速度情報、記録ピット長情
報、記録パワー情報及び周囲温度情報等の項目について
測定し、これらの測定結果をメモリ19に記憶させてお
き、これらの情報を基本データとして光ディスク1の記
録開始前における再度記録パワー測定領域(PCA)に
対するテスト記録及び再生を試み、最適な条件が得られ
るようにしてもよく、この場合にはDCアンプ13、線
速度検出部14、エッジ検出部15、記録パワー検出部
16、周囲温度検出部17等が不要となることら構成の
簡素化を図ることができる。
【0035】またシステムコントローラ12に、自己学
習機能を持たせるようにしてもよく、この場合には、メ
モリ19に対して常に最適な条件が更新記録されること
から、経時変化に伴った記録条件の変動等に適宜対処可
能となる。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ディス
クプレーヤによれば、記憶手段に記憶されている各種条
件に基づいて光ディスクの最中心側に設けられた記録パ
ワー測定領域に対して試し記録を行うとともに、この試
し記録された信号の再生情報から記録時における変動分
を補正して記憶手段に記憶されている各種条件を更新す
るようにした。
【0037】したがって、記録時における最適条件を得
ることができ、各種光ディスクに対する情報記録を適切
に行うことができるため、再生時においてはノイズ等の
発生が少なくなることから適切な再生情報を得ることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の記録方式におけるピットポジション記録
方式とピットエッジ記録方式とを示す図である。
【図2】図1のピットエッジ記録方式における熱によっ
て形状の変えられたピットを示す図である。
【図3】図2における形状の変えられたピットを適切な
形状で記録しようとする場合の信号波形を示す図であ
る。
【図4】本発明の光ディスクプレーヤの一実施例を示す
ブロック図である。
【図5】図4の光ディスクプレーヤによって情報の記録
再生が可能な光ディスクの一例を示す図である。
【図6】図4の光ディスクプレーヤの動作を説明するた
めのフローチャートである。
【符号の説明】
1 光ディスク 2 スピンドルモータ 3 ピックアップ 7 ジッタ検出部 10 エラー生成部 12 システムコントローラ 13 DCアンプ 14 線速度検出部 15 エッジ検出部 16 記録パワー検出部 17 周囲温度検出部 18 レーザドライバ 19 メモリ

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザビームを光ディスクの記録面に照
    射しピットを形成することで情報記録を行う光ディスク
    プレーヤであって、 前記ピットを最適な形状形成するため前記レーザビ
    ームの照射条件に関する条件情報を、前記光ディスクの
    種別毎に予め記憶する記憶手段と、 情報記録すべき光ディスクの所定記録領域に、前記情報
    記録すべき光ディスクに対応する前記条件情報に基づい
    て前記レーザビームを照射させることで試し記録を行
    い、前記試し記録により形成されるピットの再生情報と
    前記試し記録の際の条件情報との変動分を検出し、前記
    変動分に基づいて前記試し記録の際の条件情報を補正す
    る補正手段とを備え、 前記記憶手段に予め記憶された前記各条件情報は、前記
    レーザビームの照射期間の情報を含み、 前記補正手段は、前記変動分に基づいて、前記試し記録
    の際の条件情報に含まれる前記照射期間の長さと、前記
    照射期間内における前記レーザビームの照射非照射の回
    数を補正することを特徴とする光ディスクプレーヤ。
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