CN1622206A - 一种光盘刻写参数的优化方法及装置 - Google Patents

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Abstract

一种光盘刻写参数优化方法，包括步骤：获取标记游程长度的变化量；根据标记游程长度的变化量与参数的变化量之间的关系，确定参数的调整量；调整所述参数值。这种优化方法适用于多种光盘系统，刻写过程可以采用多种刻写策略，可以对多个激光脉冲的功率或者起止时间进行优化，从而使标记游程长度达到优化目标。

Description

一种光盘刻写参数的优化方法及装置
                             技术领域
本发明涉及一种光盘刻写参数的优化方法，尤其涉及一种同时优化光盘刻写的多个参数的方法及其装置。
                             背景技术
如今，光盘系统凭借其相对低廉的成本和巨大的容量已经成为多媒体影音信息与大量数据的理想载体。现有的光盘分为：使用EFM(Eight to Fourteen Modulation)编码规则的CD(Compact Disc)光盘；使用EFM+编码规则的DVD光盘；使用17PP编码规则的BD(Blu-Ray)光盘；以及其它一些并不普及的光盘。其中每一种又可以分为：只读(Read-Only)光盘、一次记录(Recordable)光盘和可重写(Rewritable)光盘。
对于一次记录光盘和可重写光盘，数据是由记录激光刻写出的标记(Mark)以及标记间的空区(Space)代表的。由于它们对聚焦的读取激光具有不同的反射率，从而产生高频调制信号。模拟的高频信号经过交流耦合后被送入二进制信号裁切器(Slicer)，通过与裁切门限电平(Slice Level)比较转换为二进制数据，得到分别对应于光盘上的标记和空区的标记电平和空区电平。再通过与时钟信号的耦合，就能得到各个标记和空区的游程长度(Runlength)，从而进一步恢复出记录的原始数据。
原始数据的恢复是由裁切后得到的标记游程长度和空区游程长度决定的，但最终是由刻写的标记物理长度决定的。因为空区物理长度是由与其相邻的两个标记物理长度决定的，所以刻写的标记物理长度的准确度决定了读取的标记游程长度和空区游程长度的偏差量，从而决定了光盘刻写的质量。
为了精确地刻写光盘，依据光盘种类的不同，发展了很多种不同的刻写策略：适用于一次记录CD-R光盘的方形激光波型刻写策略；适用于一次记录DVD光盘的开始和结尾部分采用较高功率的“狗骨架(dog-bone)”波型刻写策略；适用于低速(10倍速以下)CD-RW光盘的“1T刻写策略”；适用于高速相变介质光盘的“2T刻写策略”；此外，还有适用于其它各种光盘的相应刻写策略。每一种刻写策略是由若干不同种类的激光脉冲按照一定次序组成的。通常，不同的标记采用不同的激光脉冲序列进行刻写，其中相同种类的激光脉冲采用相同的字母表示。每个种类的激光脉冲又都包含脉冲高度(即功率)和脉冲宽度(由开始时间与结束时间决定)两个参数。在实际刻写过程中，如果刻写参数发生变化，就会最终影响到数据记录的质量。
图1显示了一种在超速(Ultra Speed)CD-RW系统中使用的“2T刻写策略”中用于24倍速下刻写3T、4T和5T标记的激光脉冲模式。如图1所示，这种“2T刻写策略”中每个T的时间被均匀地分成8个时间分度(这里1个时间分度为1.206ns)，即刻写策略是由相同宽度的激光脉冲构成的序列，每个时间分度的激光脉冲的高度由不同的字母表示。具体的激光脉冲模式如下：
3T标记
eeewwwww wwwwbbbb bbbcceee
4T标记
eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbddee
5T标记
eeewwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwb bbbffeee
其中，字母w表示刻写功率；e表示擦除功率；b表示冷却功率；参数c、d、f分别是用于精确调整3T、4T、5T标记的后沿的脉冲，具体功率可以依照情况进行优化设定。
在光盘刻写过程中，为了得到精确的标记物理长度，从而准确地恢复原始数据，需要对刻写参数进行优化，即对刻写策略中激光的脉冲功率和/或脉冲起止时间进行优化。
传统的刻写参数优化方法都集中于刻写功率和擦除功率的优化，因为特定刻录条件下的最佳刻写功率和擦除功率是由光盘和驱动器的匹配共同决定的。
对于一次记录光盘和低速可重写光盘，传统技术只对刻写功率进行校正，具体的技术细节已经作为光盘标准加以公布。在正式刻写光盘前，驱动器根据光盘标准所规定的OPC(Optimum Power Control)步骤搜寻最佳的刻写功率。在每张光盘的ATIP(Absolute TimeIn Pregroove)信息里包含了刻写策略涉及的激光脉冲参数优化的初始值。驱动器以这个优化的初始值作为出发点，按照OPC的步骤进行GAMMA信号测量，找到最佳刻写功率。而最佳擦除功率不需要独立进行校正，因为ATIP信息里也包含了这种光盘的最佳擦除功率与最佳刻写功率的比例。详细的OPC步骤可以参考CD-R和CD-RW的橙皮书标准。
对于多倍速刻录光盘，光盘驱动器存有一张查找用的表格。因为光盘和驱动器之间存在各种差异，这张查找用的表格需要容纳尽可能多光盘的刻写参数值。具有该表格的驱动器能通过查找该表格方便的找到适用于某种特定光盘的刻写参数的优化值。
然而对于高速可重写光盘，例如超速CD-RW、可重写DVD光盘以及可重写蓝光光盘，将不得不采用2T或更复杂的刻写策略。由于至少有四个激光脉冲功率或脉冲宽度需要进行优化，而光盘上的ATIP码又没有包含这些参数的优化信息；同时，这些参数随驱动器的光电结构和刻录环境的不同而变化，因此驱动器必须自行优化这些参数。对于一张未知的光盘，如何快速灵活地优化刻写参数是一个巨大的挑战。
传统的针对高速可重写光盘的参数优化方法主要包括：由B.Tieke和F.Tang提出的基于数据对数据抖动或数据对时钟抖动的测量来优化刻写功率的方法；由Willem Geurtzen提出的基于Beta测量优化擦除功率的方法；以及F.Tang提出的基于数据对数据抖动或数据对时钟抖动的测量来优化擦除功率的方法。这些方法只能优化刻写功率或者擦除功率。
然而，还没有任何一种传统的刻写参数优化方法能适用于各种刻录光盘类型(包括各种一次记录或可重写光盘)和不同的刻写策略。尤其是还没有任何针对标记游程长度，同时优化多个激光脉冲参数的方法，使各个符号(Symbol)的标记游程长度尽可能地接近精确的标记游程长度(如光盘标准规定的标准标记长度)。通过使各个标记的游程长度标准化，从而使得空区的游程长度也标准化，得到较小的标记和空区长度或位置抖动(Jitter)，达到低的误码率，最终得到准确的原始数据。
综上所述，传统的优化方法存在诸多问题。因此，需要提供一种适用于各种情况的光盘刻写参数的优化方法，以同时优化多个刻写参数。
                             发明内容
本发明的目的是提供一种能够得到精确的标记游程长度的光盘刻写参数优化方法及装置。本发明的进一步目的是提供能够同时优化多个光盘刻写参数的优化方法。
为此，本发明提供了一种光盘刻写参数的优化装置，包括：一个获取装置，用于获取标记游程长度的变化量；一个确定装置，用于确定刻写参数的调整量；和一个调整装置，用于调整所述的刻写参数值。
本发明还提供了一种光盘刻写参数优化方法，包括步骤：获取标记游程长度的变化量；根据标记游程长度的变化量与参数的调整量之间的关系，确定参数的调整量；调整所述参数值。
在本发明中，确定了参数的调整量对标记游程长度的变化量的影响。
通过本发明提供的优化方法及装置，就可以同时对多个刻写参数进行优化，从而得到精确的标记游程长度。
                             附图说明
图1是超速CD-RW系统中用于刻写3T、4T、5T标记的“2T刻写策略”的激光脉冲模式；
图2是光盘刻录系统中获取标记游程长度的示意图；
图3是由于高频信号的变化引起的裁切电平再平衡的示意图；
图4是依据本发明的光盘刻写参数优化装置的结构图；
图5是依据本发明的一个优选实施例的工作流程图；
图6、7、8分别是为确定参数c、d、f的强度(ns/mW)所作的多次实验和测量；
图9是对3T、4T、5T标记的游程长度偏差进行一次优化后的结果，这里系统设定的优化目标是标准规定的各标记的标准长度。
                       具体实施方式
为了提供一种能够同时优化多个刻写参数的优化方法，发明人仔细研究了光盘刻写中参数变化影响标记游程长度的原因。通过分析，清楚地表明了传统的优化方法局限于单一参数优化的原因，同时为新的优化方法提供了思路。
图2是光盘刻录系统中获取标记游程长度的示意图，用来说明刻写参数变化影响标记游程长度的原因。
在一次记录或可重写光盘的刻写过程中，刻写装置110根据刻写参数的设置在光盘上刻写出标记。相邻标记之间成为空区。标记和空区具有各自的物理长度，由刻写参数决定。
当光盘上的标记(Mark)与空区(Space)被读取装置120读出时，就会产生高频调制信号。该高频调制信号对应着标记物理长度和空区物理长度。通过二进制信号裁切装置140将来自读取装置120的高频信号与来自裁切电平确定装置130的裁切门限电平(SliceLevel)比较，转换为二进制数据，就得到标记电平和空区电平。最后由游程长度测量装置160根据内部或外部的时钟装置150产生的时钟信号对来自二进制信号裁切装置140的标记电平和空区电平进行测量，就能得到标记和空区的游程长度。
上述过程中使用的裁切门限电平由裁切电平确定装置130依据二进制信号裁切装置140反馈的标记电平和空区电平加以确定，并且不断动态地变化。其原理是，裁切电平确定装置在其内部对裁切后得到的二进制数据的游程长度进行积分。一般，空区的游程长度的值取正，而标记游程长度的值取负。“DSV(DigitalSumValue)趋向最小”原理将对裁切门限电平施加负反馈控制作用，使其电平位置保证所有空区的游程长度之和趋近于所有标记的游程长度之和。这样，当高频信号发生变化后，就会导致裁切门限电平的再平衡。
图3给出了上述由于高频信号的变化引起裁切电平再平衡过程的更清晰的图像。图中，实线表示再平衡前的稳定状态，虚线表示再平衡后的状态。S0、S1分别是再平衡前后的高频信号，L0、L1分别是再平衡前后的裁切门限电平。dS是读出的高频信号发生的变化，Δh是因此造成的裁切门限电平的移动量。由于高频信号由S0改变dS到S1位置，裁切门限电平会相应的由L0移动Δh到L1位置。
这样，由于刻写参数的变化(dPj)，标记物理长度会发生相应的变化(dPhyLj)。标记物理长度的变化以及空区物理长度的变化，又会引起高频信号发生变化。由于高频信号的变化，测得的标记游程长度也相应地变化(ΔMarkRLi)。然而，标记游程长度不仅与高频信号有关，还与裁切电平有关。而裁切电平本身也受高频信号影响。
这意味着某一个刻写参数的变化，不仅会引起与其对应的标记的游程长度变化，而且所有其他标记的游程长度也会受到影响。因此测得的标记游程长度的变化量并非真实的标记物理长度的变化量。结果是，测量到的标记游程长度依赖于所有的刻写参数的设置(例如CD系统中3T标记的物理长度变化将影响6T标记的游程长度的观测值)。
本发明中所指的标记或空区的物理长度或游程长度是指在一次测试中某种标记或空区的多个物理长度或游程长度样本被平均后的长度，用来衡量长度的整体效果，从而去除了热干扰和测量噪音等的影响。
正是由于每一参数的变化都会最终影响所有的标记游程长度，而传统的方法又不能预期两个或更多个参数同时变化对标记游程长度的复杂影响。因此，传统的优化方法局限在单一参数的优化上。当涉及多个参数时，或者无能为力，或者只能将其简化为分别执行各个参数的优化。
本发明在仔细研究多个参数与标记游程长度的影响后，针对标记游程长度，创造性的提出了同时优化多个参数的优化方法。具体内容在下面所举的实施例中将做详细的描述。
图4是本发明的光盘刻写参数优化装置的一个实施例的示意图。该优化装置200包括：一个获取装置210，用于获取标记游程长度的变化量；一个确定装置230，用于确定刻写参数的调整量；和一个调整装置240，用于调整所述的刻写参数值。
执行优化时，由获取装置210根据来自游程长度测量装置160的标记游程长度，获取标记游程长度的变化量；而后由确定装置230根据标记游程长度变化量与刻写参数整量的关系，确定刻写参数的调整量；最后，由调整装置240，根据确定装置230确定的刻写参数调整量调整所述的刻写参数值。这样就能使标记游程长度达到规定的优化目标。
本发明的光盘刻写参数优化装置还可以包括一个判断装置220，用来判断是否需要进行优化。因此，执行优化时，获取装置210获取标记游程长度的变化量后，由判断装置220进行判断，确定是否需要进行优化。
如果已经达到优化目标规定的标记游程长度，那么无需由该装置进行优化，可以直接由传统的刻写装置进行刻写。如果需要优化，则由确定装置230确定刻写参数的调整量；最后，再由调整装置240根据确定装置230确定的刻写参数调整量，调整所述的刻写参数值。这样就能使标记游程长度达到优化目标。
上述装置可以适用于一次记录或可重写的CD、DVD或蓝光光盘。
通过该装置可以执行本发明的优化方法中的各个过程，从而对多个激光脉冲的功率或者起止时间进行同时优化，使标记游程长度达到优化目标。
下面结合附图与实施例详细阐明本发明的优化方法。
本发明的光盘刻写参数优化方法的实施例A是在一种超速(Ultra Speed)CD-RW光盘上进行的光盘刻写的多参数优化。优化过程在24倍速下刻写，10倍速下读取测量。优化过程采用按EFM编码规则产生的随机数据序列，使用如表一所示的“2T刻写策略”来控制标记的刻写。
                             表一  实施例A中使用的刻写策略
3T标记eeewwwww wwwwbbbb bbbcceee
4T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbdde
5T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbbffee
6T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww Wbbbggee
7T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbhheee
8T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbggee
9T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbhheee
10T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbggee
11T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbhheee
其中，字母w表示刻写功率，e表示擦除功率，b表示冷却功率，g和h为预先定义的功率，参数c是用于精确调整所有3T标记的后沿的功率，参数d是用于精确调整所有4T标记的后沿的功率，参数f是用于精确调整所有5T标记的后沿的功率。
开始优化前，确定需要进行优化的参数。考虑到3T、4T和5T标记对于电信号的位探测而言有极关键的作用，因为它们总共占所有标记的样本数量的70％，且它们的频率较高，所以确定优化的参数为c、d和f，使3T、4T和5T标记达到精确的标记游程长度。
在本例中确定的优化目标是光盘标准规定的标记游程长度，因为是在10倍速下读取测量，因此3T标记的优化目标是69.45ns(纳秒)，4T标记的优化目标是92.6ns，5T标记的优化目标是115.75ns，并且设允许的误差范围为±0.5ns。
具体的优化流程如图5所示。开始优化后，首先执行步骤S10，为各个刻写参数设定初始值。
对于不进行优化的参数，其参数值是预先定义的。根据OPC步骤后确定的刻写功率Pw＝40mW，擦除功率Pe＝8mW，冷却功率Pb＝0.1mW，g和h的功率Pg＝Ph＝4mW。
Pc，Pd和Pf是要进行优化的参数c、d和f的功率，它们的初始值可以在驱动器允许的范围内随机选定。为了减少优化过程的工作量，通常选定为擦除功率的一半，即在本例中采用的初始值为Pc＝Pd＝Pf＝4mW。
而后执行步骤S20，根据参数的当前值在光盘的优化功率校正(OPC)区域刻写一段根据EFM编码规则产生的随机数据。
完成后执行步骤S30，测量所写的数据的标记游程长度，并用3T、4T和5T标记的游程长度优化目标分别减去测得的3T、4T和5T标记的游程长度，得到3T、4T和5T标记游程长度的偏差量，这也是需要的3T、4T和5T标记游程长度的变化量，如图9中的标记◆所示。3T标记游程长度变化量为ΔMarkRL3T＝1.58ns，4T标记游程长度变化量为ΔMarkRL4T＝-1.86ns，5T标记游程长度变化量为ΔMarkRL5T＝-1.15ns。图9中，当测得的标记游程长度与各标记游程长度的优化目标值一致时为0。
进行判断步骤S40，确定是否需要进行优化。本例中，优化过程中设定的允许误差范围为±0.5ns，比较显示3T、4T和5T标记游程长度偏差量均超过了优化目标允许的误差范围，因此需要进行优化。
执行步骤S51、S52，根据步骤S30得到标记游程长度的变化量，确定要优化参数的调整量。
其中在步骤S51中，根据标记游程长度的变化量与标记物理长度的变化量之间的关系
dPhyLc dPhyLd dPhyLf = 2.03 0.73 0.57 1.03 1.73 0.57 1.03 0.73 1.57 · ΔMarkRL 3 T ΔMarkRL 4 T ΔMarkPL 5 T - - - Eq . ( 1 )
可以确定需要的3T、4T和5T标记的物理长度的变化量
dPhyLc dPhyLd dPhyLf = 2.03 0.73 0.57 1.03 1.73 0.57 1.03 0.73 1.57 · 1.58 - 1.86 - 1.15 = 1.197 - 2.243 - 1.533
即dPhyLc＝1.197ns，dPhyLd＝-2.243ns，dPhyLf＝-1.533ns。
然后执行步骤S52，根据需要的标记物理长度的变化量确定各参数的功率调整量。
根据标记物理长度的变化量与参数间的关系dPr＝dPhyLy/Kr，结合系数Kc＝-0.83(ns/mW)，Kd＝-1.27(ns/mW)，Kf＝-1.05(ns/mW)可以得到需要的功率调整量dPc＝dPhyLc/Kc＝1.197/-0.83＝-1.442mW，dPd＝-2.243/-1.27＝1.766mW，dPf＝-1.533/-1.05＝1.46mW。
得到功率调整量后，执行步骤S60，调整各参数的功率设定值。将各参数的功率值调整为Pc＝4-1.442＝2.558mW，Pd＝4+1.766＝5.766mW，Pf＝4+1.46＝5.46mW。
然后跳回步骤S20，重新进行刻写测试。测量其标记游程长度，判断是否达到系统设定的优化目标。将3T、4T和5T标记的游程长度优化目标分别减去测得的3T、4T和5T标记的游程长度，得到3T、4T和5T标记游程长度的调整量，结果如图9中标记■所示。在图9中，标记◆所示的是没有优化时的标记游程长度调整量，标记■所示的是一次优化后的标记游程长度调整量。
执行判断步骤S40，结果显示为ΔMarkRL3T＝0.105ns，ΔMarkRL4T＝-0.05ns，ΔMarkRL5T＝-0.198ns，可见3T、4T和5T标记游程长度的调整量显著减小。上述结果表明，经过一次优化之后就达到了系统设定的优化目标范围，不必再重复优化步骤。
达到优化目标后，就可以执行步骤S70，用优化后的各参数功率值进行正式的刻写过程。
在上述优化过程中，步骤S51中所采用的标记游程长度变化量与标记物理长度变化量之间的关系Eq.(1)是由以下步骤确定的。
首先，确定在涉及多个刻写参数时标记物理长度变化量与标记游程长度变化量之间的关系，其原理如下所述。
一般地，需要进行优化的刻写参数j共M个，为j＝1，2，…M；用符号Pj表示参数j的设定值，dPj表示参数j的参数值变化量；由dPj所分别引起的受参数j直接影响的标记的物理长度的变化量为dPhyLj(j＝1，2，…M)；经信号裁切器裁切后测量到的标记游程长度的变化量为ΔMarkRLi(i＝1，2，...N)。其中，标记i是标准允许的标记类型，例如对于采用EFM编码规则CD光盘系统，i可以是3T，4T…11T标记，分别用标记i＝1，…9表示。
可以将参数变化量与标记游程长度的变化量间的关系表示为：
dP1       →       dPhyL1          ΔMarkRL1
dP2       →       dPhyL2          ΔMarkRL2
…                                     ……                              ……
dPj       →       dPhyLj  ΔMarkRLi
…                                     ……                              ……
dPM       →       dPhyLM          ΔMarkRLN
上述过程在背景技术中已经结合附图2加以详细说明。通过仔细研究引起标记游程长度发生变化的原因，可以得到标记物理长度变化量与标记游程长度变化量之间的关系。
对于工作中的二进制信号裁切器，通常裁切门限电平经过一个短暂的过渡时期将趋于稳定，由于裁切器相对于高频信号而言具有佷大的时间常数，因此在一段时间内可以将裁切门限电平认为是一个恒定的电平。并且，一般情况下被读出的高频信号对于所有的标记和台阶具有相同的上升沿和下降沿，它们在裁切门限电平附近是线性的，它们的斜率的绝对值是“K”。
进一步，考虑到不同的标记i的样本数量对裁切门限电平的变化会做出不同的影响，因此定义权重系数jp描述标记的样本数量分布，jp指示受参数j直接影响的标记的样本数量占所有标记的样本数量的百分比。通常，当采用按编码规则产生的随机数据进行优化时，分布权重系数与编码规则有关；当采用用户自定义的数据进行优化时，分布权重系数与编码规则无关。
当裁切门限电平位于其平衡位置的初始状态时，如果对参数j引入变化量dPj，dPj所引起的对应标记的物理长度的变化量为dPhyLj，从而读出的高频信号将发生变化，根据“DSV趋向最小”原理，裁切门限电平将移动Δh以补偿裁切后测得的所有标记的游程长度总和的变化量，最终使测得的所有标记的游程长度都会发生变化ΔMarkRLi。下面的方程Eq.(2)用来表示图3中的裁切门限电平的再平衡的结果。
dPhyL1×1p+...+dPhyLj×jp+...+dPhyLM×Mp＝-(Δh/K)×2           Eq.(2)
或写为通式 Σ j = 1 M dPhy L j × jp = - ( Δh / K ) × 2
而测得的标记i的游程长度的变化量可以由真实的标记物理长度的变化量及裁切门限电平的移动通过下面的方程Eq.(3)来表示。
ΔMarkR L i = ( Δh / K ) × 2 + Σ j = 1 M e ij × dPhy L j - - - Eq . ( 3 )
其中，eij为影响系数，当参数j对标记i有直接影响时eij＝1，当参数j对标记i无直接影响时eij＝0。
结合方程Eq.(2)和Eq.(3)能够得到下述的涉及多个刻写参数的标记物理长度变化量与标记游程长度变化量间的变换关系Eq.(4)。
其中，变换矩阵的系数vij＝-jp+eij。
而后，将上述的变换关系逆变换，得到标记游程长度变化量与标记物理长度变化量间的关系。具体方法为：
当M＝N，并且变换矩阵在数学上非奇异时，即变换矩阵的行列式不等于零时，表示为
Figure A20031012072400142
对Eq.(4)逆变换，得到涉及多个刻写参数的标记游程长度变化量与标记物理长度变化量间的关系，表示为
Figure A20031012072400143
在本实施例中，用符号dPc表示参数c的功率变化量，dPd表示参数d的功率变化量，dPf表示参数f的功率变化量。符号dPhyLc表示由dPc引起的3T标记的物理长度的变化量，dPhyLd表示由dPd引起的4T标记的物理长度的变化量，dPhyLf表示由dPf引起的5T标记的物理长度的变化量。ΔMarkRL3T表示测得的3T标记的游程长度的变化量，ΔMarkRL4T表示4T标记的游程长度的变化量，ΔMarkRL5T表示5T标记的游程长度的变化量。
于是根据Eq.(2)可以得到裁切门限电平的再平衡方程：
dPhyLc×cp+dPhyLd×dp+dPhyLf×fp＝-(Δh/K)×2
根据方程Eq.(3)，裁切后测得的3T、4T和5T标记的游程长度的变化量可表示为
ΔMarkRL3T＝(Δh/K)×2+dPhyLc
ΔMarkRL4T＝(Δh/K)×2+dPhyLd
ΔMarkRL5T＝(Δh/K)×2+dPhyLf
因此，对应于Eq.(4)的涉及参数c、d和f的3T、4T和5T标记的物理长度变化量与3T、4T和5T标记的游程长度变化量的关系为
ΔMarkRL 3 T ΔMarkRL 4 T ΔMarkRL 5 T = - cp + 1 - dp - fp - cp - dp + 1 - fp - cp - dp - fp + 1 · dPhyLc dPhyLd dPhyLf - - - Eq . ( 6 )
本实施例采用的是EFM编码规则，产生的随机数据序列中的标记样本数量分布是大致恒定的。本实施例的优化过程中采用的是一个包含25000个标记的随机数据序列，其中各标记的样本数量分布如表二所列。
               表二  根据EFM规则的标记样本数量分布
因此，可以定义3个权重系数来描述3T、4T和5T标记的样本分布情况。cp＝7660/25000＝0.31指示受参数c直接影响的3T标记的样本数量所占的百分比，dp＝5514/25000＝0.22指示受参数d直接影响的4T标记的样本数量所占的百分比，fp＝4310/25000＝0.17指示受参数f直接影响的5T标记的样本数量所占的百分比。代入Eq.(6)后得到
ΔMarkRL 3 T ΔMarkRL 4 T ΔMarkRL 5 T = 0.69 - 0.22 - 0.17 - 0.31 0.78 - 0.17 - 0.31 - 0.22 0.83 · dPhyLc dPhyLd dPhyLf
因为变换矩阵的行列式不等于零，即 det 0.69 - 0.22 - 0.17 - 0.31 0.78 - 0.17 - 0.31 - 0.22 0.83 ≠ 0
经矩阵逆变换后可得到对应于Eq.(5)的变换关系：
dPhyLc dPhyLd dPhyLf = 0.69 - 0.22 - 0.17 - 0.31 0.78 - 0.17 - 0.31 - 0.22 0.83 - 1 · ΔMarkRL 3 T ΔMarkRL 4 T ΔMarkRL 5 T
dPhyLc dPhyLd dPhyLf = 2.03 0.73 0.57 1.03 1.73 0.57 1.03 0.73 1.57 · ΔMarkRL 3 T ΔMarkRL 4 T ΔMarkRL 5 T - - - Eq . ( 1 )
这就是步骤S51中所用的标记游程长度变化量与标记物理长度变化量间的关系Eq.(1)。
步骤S52中所采用的标记物理长度变化量与刻写参数值的变化量之间的关系dPr＝dPhyLr/Kr以及系数Kc＝-0.83(ns/mW)、Kd＝-1.27(ns/mW)、Kf＝-1.05(ns/mW)是由以下步骤确定的。
首先，确定某个刻写参数r与标记物理长度变化量的关系。
当仅有参数r从设定值Pr变化dPr时，此时dPr≠0且dPx＝0(x＝1，2，...M，x≠r)，除受参数r直接影响的标记的物理长度变化量dPhyLr≠0外，其它标记的物理长度不会变化，即dPhyLx＝0。如果受参数r直接影响的标记为s，其游程长度的变化量为ΔMarkRLs；另一个不受该参数r直接影响的标记为t，其游程长度的变化量为ΔMarkRLt。
由Eq.(3)可以得到如下方程，来描述测得的标记游程长度的变化量：
ΔMarkRLs＝(Δh/K)×2+dPhyLr
ΔMarkRLt＝(Δh/K)×2
因此，ΔMarkRLs＝ΔMarkRLt+dPhyLr，
        dPhyLr＝ΔMarkRLs-ΔMarkRLt                     Eq.(7)
通常情况下，激光脉冲参数r的变化量与受其影响的标记的物理长度的变化量之间的关系可以表示成dPhyLr＝f(dPr)。
为了得到标记物理长度的变化量与激光脉冲参数的变化量之间的关系，逐次改变Pr，进行多次刻写实验。然后测量标记游程长度的变化量，可以得到标记游程长度的变化量与激光脉冲参数之间的关系：
ΔMarkRLs＝f1(Pr)、ΔMarkRLt＝f2(Pr)，
通过结合Eq.(7)就能得到：
dPhyLr＝ΔMarkRLs-ΔMarkRLt＝f1(Pr)-f2(Pr)＝f1-2(Pr)。
将激光脉冲参数的初始值Pr0代入就能得到激光脉冲参数r的变化量dPr与标记物理长度的变化量dPhyLr之间的关系
dPhyLr＝f1-2(Pr)＝f1-2(Pr0+dPr)＝f(dPr)
根据需要的标记物理长度的变化量dPhyLr和激光脉冲参数的初始值Pr0，就可算出需要的激光脉冲参数的变化量dPr。
对于常见的刻录光盘，通过合理定义刻写策略的参数(激光脉冲的功率或起止时间)，可以使得在一定范围内，该参数与受其直接影响的标记物理长度的变化量的关系近似为线性关系，从而可以定义ΔMarkRLs＝K1×dPr和ΔMarkRLt＝K2×dPr。
于是Eq.(7)变为
dPhyLr＝K1×dPr-K2×dPr＝(K1-K2)×dPr≡Kr×dPr                Eq.(8)
逆变换后得到dPr＝dPhyLr/Kr。其中，强度系数Kr用于指示激光脉冲参数r的变化量所引起的受其直接影响的标记的物理长度的变化量，从而可以方便地用于优化计算。
最后，确定系数Kr。
在本实施例中，需要确定各个刻写参数的系数Kc、Kd、Kf(ns/mW)，即3T、4T和5T标记后沿的激光脉冲参数值的变化量所引起的3T、4T和5T标记的物理长度的变化量。
为此，根据步骤S10确定的各参数的初始值，逐次改变c、d和f的功率值进行一系列的刻写实验。然后测量3T、4T和5T标记的游程长度相对于优化目标的变化量，所得的测量结果如图6、7、8所示，并拟合出它们的线性趋势线。而后基于线性趋势线的斜率计算各参数的强度系数。
在针对参数c所作测量的结果图6中，考虑到4T和5T的标记游程长度的变化量相对于参数c是一样的，为消除测量误差，取它们斜率的平均值作为K2
得到K1＝-0.58(ns/mW)、K2＝-0.25(ns/mW)
根据Eq.(8)，Kc＝K1-K2＝-0.58-0.25＝-0.83(ns/mW)，
同样的，可以从图7、图8得到Kd＝-1.27(ns/mW)，Kf＝-1.05(ns/mW)。
因此得到标记物理长度变化量与刻写参数值变化量之间的关系dPr＝dPhyLr/Kr以及强度系数Kc＝-0.83(ns/mW)、Kd＝-1.27(ns/mW)、Kf＝-1.05(ns/mW)。
进一步，本发明并不局限于以上描述的实施例，还可有各种变化。
这种多参数同时优化的思想也可适用于其它一次记录或可重写的CD、DVD和蓝光光盘系统，如DVD+R和DVD+RW刻录系统或BD-RW刻录系统等。
适用的刻写策略可以是方形激光刻写策略、“狗骨架”刻写策略、″1T刻写策略″或″2T刻写策略″等。
进行优化的刻写参数不仅可以是激光脉冲的功率，也可以是激光脉冲的起止时间，即保持某个刻写策略的激光脉冲功率不变，而去优化它的激光脉冲的起止时间，同样可以精确调整标记的前沿或后沿，使标记游程长度达到优化目标。
下面简略介绍本发明的几种变化实施例，用来说明本发明适用于各种情况下的刻写参数优化。其中与实施例A相同或显而易见的变化不再详述。
本发明的优化方法的实施例B是在与实施例A相同的光盘上进行的光盘刻写的多参数优化。区别在于，使用如表三所示的“2T刻写策略”来控制标记的刻写。
                                      表三  实施例B中使用的刻写策略
3T标记eeewwwww wwwwbbbb bbbcceee
4T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbdde
5T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbbffee
6T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbggee
7T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbhheee
8T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbhhee
9T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbhheee
10T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbhhee
11T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbhheee
其中，字母w表示刻写功率，e表示擦除功率，b表示冷却功率，h为预先定义的功率，参数c是用于精确调整所有3T标记的后沿的功率，参数d是用于精确调整所有4T标记的后沿的功率，参数f是用于精确调整所有5T标记的后沿的功率，参数g是用于精确调整所有6T标记的后沿的功率。
其中，要进行优化的参数为c、d、f和g，用来分别精确地调整所有3T、4T、5T和6T标记的后沿，使它们达到精确的标记游程长度。
因此，根据表二所示的EFM编码规则的标记样本数量分布，可以定义4个权重系数来描述3T、4T、5T和6T标记的样本分布情况。cp＝0.31指示受参数c直接影响的3T标记的样本数量所占的百分比，dp＝0.22指示受参数d直接影响的4T标记的样本数量所占的百分比，fp＝0.17指示受参数f直接影响的5T标记的样本数量所占的百分比，gp＝0.10指示受参数g直接影响的6T标记的样本数量所占的百分比。
因此，对应于Eq.(1)表示的标记游程长度的变化量与标记物理长度的变化量的变换关系为：
dPhyLc dPhyLd dPhyLf dPhyLg = 0.69 - 0.22 - 0.17 - 0.10 - 0.31 0.78 - 0.17 - 0.10 - 0.31 - 0.22 0.83 - 0.10 - 0.31 - 0.22 - 0.17 0.90 - 1 · ΔMarkRL 3 T ΔMarkRL 4 T ΔMarkRL 5 T ΔMarkRL 6 T - - - Eq . ( 9 )
使用与实施例A相同的方法就可以对参数c、d、f和g同时进行优化，在此不再详述。
进一步，本发明中受标记受某个参数直接影响的标记的权重系数不限于按编码规则产生，也可以由用户自定义，此时分布权重系数与编码规则无关。本发明的优化方法的实施例C应用于与实施例B相同的刻写的多参数优化。
实施例C允许用户自由定义用于优化实验的数据，则描述3T、4T、5T和6T标记的样本分布情况的4个权重系数为cp＝0.3，dp＝0.2，fp＝0.1，gp＝0.05，分别指示受参数c、d、f和g直接影响的标记的样本数量所占的百分比。
因此，对应于Eq.(9)表示的标记游程长度的变化量与标记物理长度的变化量的变换关系为：
dPhyLc dPhyLd dPhyLf dPhyLg = 0 . 7 - 0.2 - 0.1 - 0.05 - 0.3 0.8 - 0.1 - 0.05 - 0.3 - 0.2 0 . 9 - 0.05 - 0.3 - 0.2 - 0.1 0.95 - 1 · ΔMarkRL 3 T ΔMarkRL 4 T ΔMarkRL 5 T ΔMarkRL 6 T - - - Eq . ( 10 )
使用相同的方法就可以对参数c、d、f和g同时进行优化。
本发明的优化方法的实施例D是在与实施例A相同的光盘上进行的光盘刻写的多参数优化，使用如表四所示的“2T刻写策略”来控制标记的刻写。
               表四  实施例D中使用的刻写策略
3T标记eeewwwww wwwwbbbb bbbbeeee
4T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbee
5T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbbbeee
6T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbggee
7T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbhheee
8T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbhhee
9T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbhheee
10T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbhhee
11T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwwb bbbhheee
这里，字母w、e、b、g和h的定义与实施例A是相同的.区别在于，定义参数c为控制3T标记后沿的擦除功率e的起始时间，用于精确调整所有3T标记的后沿；参数d为控制4T标记后沿的擦除功率e的起始时间，用于精确调整所有4T标记的后沿；参数f为控制5T标记后沿的擦除功率e的起始时间，用于精确调整所有5T标记的后沿。
要进行优化的参数c、d和f的初始值为表四所示的时间，即距离末端分别为4个时间分度、2个时间分度和3个时间分度，这里1个时间分度为1.206ns。
因此，可以使用与Eq.(1)相同的的标记游程长度的变化量到标记物理长度的变化量的变换关系：
dPhyLc dPhyLd dPhyLf = 2.03 0.73 0.57 1.03 1.73 0.57 1.03 0.73 1.57 · ΔMarkRL 3 T ΔMarkRL 4 T ΔMarkRL 5 T
但步骤52中需要重新确定刻写标记物理长度变化量与参数值的变化量之间的关系，即某个刻写参数的强度系数(ns/ns)，也就是这个参数的起始时间的变化量(ns)所引起的其直接影响的标记物理长度的变化量(ns)。它们同样可以通过实验获得。
因此，根据实施例A所使用的方法，显而易见可以对多个激光脉冲的持续时间(即脉冲宽度)同时进行优化。
本发明的优化方法的实施例E应用于使用EFM+编码规则的可重写DVD光盘系统中。
对于一次记录或可重写的DVD光盘系统，若采用按EFM+编码规则产生的随机数据序列进行优化过程，需注意每两个14T的游程长度被手工地插在固定的距离上，而其它标记的样本数量分布也是大致恒定的，如表五所列，所以权重系数也要做相应的变化。
                表五  根据EFM+规则的标记样本数量分布
Figure A20031012072400202
根据实施例A所使用的方法，显而易见可以应用于DVD光盘上进行的刻写的多参数优化。
进一步，本发明还可以适用于对某种标记的一部分进行优化的方法。
本发明的优化方法的实施例F是在与实施例A相同的光盘上进行的光盘刻写的多参数优化。区别在于，使用如表六所示的“2T刻写策略”来控制标记的刻写。
                            表六  实施例F中使用的刻写策略的基本部分
3T标记eeewwwww wwwwbbbb bbbbeeee
4T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbee
5T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbbbeee
6T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbeeee
7T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbeeeee
8T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbeeee
9T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbeeeee
10T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbeeee
11T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbeeeee
特别地，使用表七所示的激光脉冲模式控制紧接3T空区的3T、4T和5T标记的刻写
    表七  实施例F中使用的刻写策略的特殊部分
(3T空区)3T标记eeewwwww wwwwbbbb bbbcceee
(3T空区)4T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbdde
(3T空区)5T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbbffee
表六、表七中，字母w表示刻写功率，e表示擦除功率，b表示冷却功率，参数c是用于精确调整紧接3T空区的3T标记的后沿的功率，参数d是用于精确调整紧接3T空区的4T标记的后沿的功率，参数f是用于精确调整紧接3T空区的5T标记的后沿的功率。
其中，要进行优化的参数为c、d和f，用来分别精确地调整紧接3T空区的3T、4T和5T标记的后沿，使它们达到精确的标记游程长度。
因此，根据表二所示的EFM编码规则的标记样本数量分布，可以定义3个权重系数来描述3T、4T和5T标记的样本分布情况。cp＝0.31×0.31＝0.096指示受参数c直接影响的3T标记的样本数量所占的百分比，dp＝0.31×0.22＝0.068指示受参数d直接影响的4T标记的样本数量所占的百分比，fp＝0.31×0.17＝0.053指示受参数f直接影响的5T标记的样本数量所占的百分比。
因此，对应于Eq.(1)表示的标记游程长度的变化量与标记物理长度的变化量的变换关系为：
dPhyLc dPhyLd dPhyLf = 0.904 - 0.068 - 0.053 - 0.096 0.932 - 0.053 - 0.096 - 0.068 0.947 - 1 · ΔMarkRL ( 3 T ) 3 T ΔMarkRL ( 3 T ) 4 T ΔMarkRL ( 3 T ) 5 T - - - Eq . ( 11 )
使用与实施例A相同的方法，就可以对参数c、d和f同时进行优化，从而特别控制紧接3T空区的3T、4T和5T标记。
本发明的优化方法的实施例G是在与实施例F相同的光盘上进行的光盘刻写的多参数优化，使用如表六所示的“2T刻写策略”来控制标记的刻写。
区别在于，使用表八所示的激光脉冲模式控制紧接3T空区的3T标记、紧接4T空区的4T标记、和紧接5T空区的5T标记的刻写，代替表七对紧接3T空区的3T、4T和5T标记后沿的控制。
表八  实施例G中使用的刻写策略的特殊部分
(3T空区)3T标记eeewwwww wwwwbbbb bbbcceee
(4T空区)4T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbwwwww wbbbbdde
(5T空区)5T标记eeewwwww wbbbbbbb bbbbbbww wwwwwwwb bbbbffee
表八中，字母w表示刻写功率，e表示擦除功率，b表示冷却功率，参数c是用于精确调整紧接3T空区的3T标记的后沿的功率，参数d是用于精确调整紧接4T空区的4T标记的后沿的功率，参数f是用于精确调整紧接5T空区的5T标记的后沿的功率。
其中，要进行优化的参数为c、d和f，用来分别精确地调整紧接3T空区的3T、紧接4T空区的4T标记、和紧接5T空区的5T标记的后沿，使它们达到精确的标记游程长度。
因此，根据表二所示的EFM编码规则的标记样本数量分布，可以定义3个权重系数来描述3T、4T和5T标记的样本分布情况。cp＝0.31×0.31＝0.096指示受参数c直接影响的3T标记的样本数量所占的百分比，dp＝0.22×0.22＝0.048指示受参数d直接影响的4T标记的样本数量所占的百分比，fp＝0.17×0.17＝0.029指示受参数f直接影响的5T标记的样本数量所占的百分比。
因此，对应于Eq.(11)表示的标记游程长度的变化量与标记物理长度的变化量的变换关系为：
dPhyLc dPhyLd dPhyLf = 0.904 - 0.048 - 0.029 - 0.096 0.952 - 0.029 - 0.096 - 0.048 0.971 - 1 · ΔMarkRL ( 3 T ) 3 T ΔMarkRL ( 4 T ) 4 T ΔMarkRL ( 5 T ) 5 T - - - Eq . ( 12 )
使用与实施例A相同的方法，就可以对参数c、d和f同时进行优化，从而特别控制紧接3T空区的3T标记、紧接4T空区的4T标记、和紧接5T空区的5T标记的刻写。
以上结合附图详细描述了本发明的多种实施例，这些实施例以及附图仅是为了说明本发明的思想、内容以及应用。对于本技术领域内熟练的技术人员而言，根据以上描述的内容作出各种变化和修改是显而易见的，因此，都不能脱离本发明的精神和范围。本发明保护范围以权利要求的记载为准。

Claims (17)

1.一种光盘刻写参数的优化装置，包括：
一个获取装置，用于获取标记游程长度的变化量；
一个确定装置，用于确定刻写参数的调整量；和
一个调整装置，用于调整所述的刻写参数值。
2.如权利要求1所述的装置，进一步包括一个判断装置，用来判断是否需要进行优化。
3.一种光盘刻写参数的优化方法，包括步骤：
(a)获取标记游程长度的变化量；
(b)根据标记游程长度的变化量与刻写参数的调整量之间的关系，确定刻写参数的调整量；和
(c)调整所述的参数值。
4.如权利要求3所述的方法，其中步骤(b)进一步包括：
(b1)根据标记游程长度的变化量与标记物理长度的变化量之间的关系，确定标记物理长度的变化量；
(b2)根据标记物理长度的变化量与刻写参数的调整量之间的关系，确定刻写参数的调整量。
5.如权利要求4所述的方法，其中步骤(b1)中的标记游程长度的变化量与标记物理长度的变化量之间的关系包括：
标记物理长度的变化量对标记游程长度的变化量的影响关系。
6.如权利要求5所述的方法，其中所述的标记物理长度的变化量对标记游程长度的变化量的影响关系包括：
标记物理长度的变化量与标记游程长度的变化量以及标记物理长度的变化量对标记游程长度的变化量的影响程度表征量之间的关系。
7.如权利要求6所述的方法，其中所述的影响程度表征量包括：
标记物理长度的变化量对标记游程长度的变化量的影响系数。
8.如权利要求3所述的方法，其中所述的刻写参数包括多个刻写参数。
9.如权利要求7所述的方法，其中所述的标记游程长度的变化量与标记物理长度的变化量之间的关系包括关系式
其中，要优化的刻写参数为j＝1，2，…M；
dPhyLj表示受第j个要优化的刻写参数直接影响的标记物理长度的变化量；
ΔMarkRLi表示测得的第i个标记游程长度的变化量；
变换矩阵中的系数vij是影响系数，表示参数j对标记i的影响，当参数j对标记i有直接影响时，vij＝-jp+1，当参数j对标记i没有直接影响时，vij＝-jp；
jp表示受第j个要优化的刻写参数直接影响的标记的样本数量在全部标记的样本数量中所占的百分比。
10.如权利要求9所述的方法，其中所述的影响系数变换矩阵的行列式不等于零，表示为
Figure A2003101207240003C2
11.如权利要求4所述的方法，其中步骤(b2)包括步骤：
(b2.1)针对要优化的刻写参数(r)，用多个参数值(Pr)进行刻写实验；
(b2.2)测量受该刻写参数(r)直接影响的标记(s)的游程长度的变化量ΔMarkRLs，得到它与该参数值(Pr)之间的函数关系ΔMarkRLs＝f1(Pr)；
(b2.3)测量该刻写参数(r)不直接影响的标记(t)的游程长度的变化量ΔMarkRLt，得到它与该参数值(Pr)之间的函数关系ΔMarkRLt＝f2(Pr)；
(b2.4)将步骤(b2.2)的结果与步骤(b2.3)的结果相减，得到标记物理长度的变化量(dPhyLr)与要优化的参数值(Pr)之间的关系dPhyLr＝ΔMarkRLs-ΔMarkRLt＝f1(Pr)-f2(Pr)＝f1-2(Pr)＝f(Pr0+dPr)(其中Pr0为刻写参数(r)的初始值，dPr为参数值的变化量)。
12.如权利要求3所述的方法，其中进一步包括步骤：
在所述光盘上刻写一段随机数据。
13.如权利要求3所述的方法，其中进一步包括步骤：
将获得的各个标记游程长度的变化量与预定的优化目标进行比较，确定是否需要继续优化。
14.如权利要求13所述的方法，其中进一步包括步骤：
当无需继续优化时，将当前的参数值定为执行刻写的参数值。
15.如权利要求3-14任一所述的方法，其中所述的刻写参数包括激光脉冲的功率。
16.如权利要求3-14任一所述的方法，其中所述的刻写参数包括激光脉冲的起止时间。
17.如权利要求3-14任一所述的方法，其中所述的光盘刻写采用方形激光刻写策略、“狗骨架”波形刻写策略、“1T刻写策略”或“2T刻写策略”。
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