CN1707632A - 光盘记录/再现方法、光盘记录/再现设备和光盘 - Google Patents

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Abstract

在使用PRML识别系统的光盘系统中,提供了一种短时间内得出最佳记录波的方法。利用适合于PRML识别系统的信号评估方法得到的评估值作为指标来调整记录波的参数。在这种情况下,作为参数调整方法,可以使用多种调整方法(S1-S3,S5)。

Description

光盘记录/再现方法、 光盘记录/再现设备和光盘
技术领域
本发明涉及一种光盘记录/再现方法、光盘记录/再现设备和光盘,尤其涉及在光盘上记录信号时和从光盘中再现信号时的参数调整。
背景技术
当将信息记录到光盘上时,要采用激光束。此时,需要优化激光束的记录功率。作为用于优化记录功率的技术,提供了如日本专利申请KOKAI公布号H4-141827中所公开的技术。
在日本专利申请KOKAI公布号H4-141827中,在记录功率渐变时,记录信息并测量此时所得到的再现信号的幅度。根据记录功率与再现信号的幅度之间的关系得出记录功率的最佳值。此外,在记录功率渐变时,记录信息并测量此时所得到的误码率。根据记录功率与误码率之间的关系得出记录功率的最佳值。产生激光束的电信号的记录波形采用所谓的多脉冲形式,即在短时间内反复置于高低电平。如果把利用记录波形所得到的激光束应用于光盘的轨道,那么将形成光斑(mark)。数据内容可利用轨道上排列的光斑和间隙的宽度来表示。
作为利用多脉冲波形的记录波的第一个与最后一个脉冲之间的关系的技术,提供了如日本专利申请KOKAI公布号2000-149262中所公开的技术。在这种情况下,多脉冲波形的记录波的第一个脉冲被称为首脉冲,而其最后一个脉冲被称为末脉冲。在日本专利申请KOKAI公布号2000-149262中,通过成对地利用所要记录的每一光斑的长度和该光斑之前(或之后)的间隙的长度,将记录波形划分成模式组,并优化每一模式组的首脉冲(或末脉冲)的宽度。通过改变首脉冲(或末脉冲)的宽度来记录信息,并测量此时出现的抖动量。抖动量是再现信号通过电平限幅器中所设置的分界电平的时间变化。根据首脉冲(或末脉冲)的宽度与抖动量之间的关系,得出首脉冲(或末脉冲)的宽度的最佳值。
作为用于再现光盘上所记录信息的系统,提供了限幅与识别系统以及PRML(部分响应和最大似然)识别系统。
简单地说,限幅与识别系统利用拾取头的光电转换器将光盘所反射的反射光转换成电信号。电信号在限幅电路中被限幅并被转换成解码二进制数据。
PRML识别系统如下所述。在PRML识别系统中,使用与记录/再现特性相应的PR(部分响应)特性。下面举例说明PR(1,2,2,2,1)特性。PR(1,2,2,2,1)特性表示与代码比特“1”相应的再现信号被置为“12221”的特性。通过对代码比特序列和表示PR特性的序列“12221”进行卷积运算得到再现信号。例如,代码比特序列“0100000000”的再现信号被置为“0122210000”。同样,代码比特序列“0110000000”的再现信号被置为“0134431000”,代码比特序列“0111000000”的再现信号被置为“0135653100”,代码比特序列“0111100000”的再现信号被置为“0135775310”,而代码比特序列“0111110000”的再现信号被置为“0135787531”。在PR(1,2,2,2,1)特性中,再现信号被置为九个电平。卷积运算所计算的再现信号是理想再现信号(以下称为通路(pass))。然而,在实际再现信号中,该特性不一定正好被置为PR(1,2,2,2,1)特性,并且再现信号含有诸如噪声等退化因素。在PRML识别系统中,利用均衡器设置再现信号的特性更接近于该PR特性。特性被设置为更接近于该PR特性的再现信号称为均衡再现信号。此后,利用维特比解码器选择相对于均衡再现信号具有最小欧几里德距离的通路。该通路与代码比特序列被设置为一一对应。维特比解码器输出与所选通路相应的代码比特序列作为解码二进制数据。
近来,随着光盘密度的提高,越来越多地使用PRML识别系统,以代替限幅与识别系统。
在使用了PRML识别系统的光盘系统中,假定再现信号不是二进制信号而是具有三个或三个以上值的信号即所谓多值信号。再现信号的幅度是再现信号的最大与最小值之间的电平差值。一种用于根据再现信号的幅度的测量值优化记录波形的方法是基于再现信号是二进制信号的假定的方法。也就是说,这种记录波形与使用PRML识别系统的光盘系统的最佳记录波形不同。
在使用PRML识别系统的光盘系统中,抖动量的减小不一定能导致提高再现信号的质量。也就是说,利用抖动量的测量未必能优化记录波形。
在误码率的测量中,测量值会因光盘的局部缺陷而有很大的不同。因此,利用根据误码率的测量值优化记录波形的方法会因误码率的变化所带来的影响而不足以能优化记录波形。此外,为了测量误码率,必须记录/再现光盘上非常长的代码比特序列。因此,根据误码率的测量值优化记录波形的方法需要很长时间来优化记录波形。
发明内容
本发明的实施例的一个目的在于,在使用PRML识别系统的光盘系统中提供一种得出最佳记录波形的方法。
本发明的另一个目的在于,在使用PRML识别系统的光盘系统中提供一种短时间内优化记录波形的方法。
此外,本发明的又一个目的在于,在使用PRML识别系统的光盘系统中提供一种能执行最佳记录/再现操作的光盘记录/再现设备。
本发明的另一个目的在于,在使用PRML识别系统的光盘系统中提供一种利用最佳记录波形来记录信息的光盘。
为了达到上述目的,在下述一种实施例中,根据第一记录参数调整方法确定第一记录参数,利用第一记录参数在媒体上记录信息,利用信号质量评估方法从再现信号中得出信号质量的评估值,当评估值满足预定值时终止调整记录参数的操作(例如,图3中的步骤S1至S4),当评估值不满足预定值时根据第二记录参数调整方法确定第二记录参数,利用第二记录参数在媒体上记录信息,利用信号质量评估方法从再现信号中得出信号质量的评估值,当评估值满足预定值时终止调整记录参数的操作,和当评估值不满足预定值时发出告警(例如,图3中的步骤S5至S6)。
在使用PRML识别系统的光盘系统中,利用上述光盘记录/再现方法可以得到最佳记录参数。
在使用PRML识别系统的光盘系统中,利用上述光盘记录/再现方法可以在短时间内得到记录参数。
此外,还可以提供一种利用上述光盘记录/再现方法所得出的记录波形能正确地记录/再现信息的光盘记录/再现设备。
此外,还可以提供一种通过利用上述光盘记录/再现方法所得出的记录波形记录信息来正确地记录信息的光盘。
这些实施例的其他目的和优点如随后的描述中所阐述,其中一部分可以从描述中直接看到,或者可以通过本发明的实践中认识到。利用以下特别指出的手段和组合,可以实现和得到本发明的这些目的和优点。
附图说明
所编入的并作为说明书的一部分的附图举例说明了本发明的实施例,并且结合以上所给出的一般描述和以下所给出的实施例的详细描述,阐明本发明的原理。
图1是说明本发明的光盘记录/再现设备的一个例子的框图;
图2是说明根据本发明的一种记录波形的一个例子的说明图;
图3是说明根据本发明的一种光盘记录/再现方法的一个例子的流程图;
图4是说明记录功率调整方法的一个例子的说明图;
图5是说明中间多脉冲宽度调整方法的说明图;
图6是说明在2T光斑记录时间的首脉冲宽度调整方法的说明图;
图7是说明在3T光斑记录时间的首脉冲宽度调整方法的说明图;
图8是说明PRSNR计算器的结构的一个例子的框图;
图9是说明SbER的基本原理的第一说明图;
图10是说明SbER的基本原理的第二说明图;
图11是说明SbER计算器的结构的一个例子的框图;
图12是说明自适应控制值计算器的结构的一个例子的框图;
图13是说明自适应控制值的基本原理的第一说明图;
图14A和14B是说明自适应控制值的基本原理的第二说明图;
图15是说明自适应控制值的基本原理的第三说明图;
图16是说明根据本发明的第二种光盘记录/再现方法的一个例子的流程图;
图17是说明本发明的第二种记录波形的一个例子的图;
图18是说明根据本发明的第三种光盘记录/再现方法的一个例子的流程图;
图19是说明根据本发明的第四种光盘记录/再现方法的一个例子的流程图;和
图20是说明本发明的第三种记录波形的一个例子的图。
具体实施方式
下面,将参照附图描述根据本发明的光盘记录/再现设备、记录方法和光盘媒体的实施例。
图1是说明光盘记录/再现设备的框图。利用其游程为“1”的调制器(未示出)将记录二进制数据转换成一个序列,其中在代码比特序列中至少两个“0”或“1”连续出现。根据控制器102输出的记录参数,利用激光二极管(LD)驱动器101将记录二进制数据转换成记录波。电信号的记录波通过拾取头(PUH)103被转换成光信号,然后被施加于光盘100上。在光盘100上,根据激光的施加形成光斑。作为光盘100,可以采用非凹陷部分和槽(land & groove)记录类型光盘。
在再现时,利用PUH103再现光盘100上所记录的信息为弱模拟信号。该模拟信号利用前置放大器104被放大到足够高的信号电平,然后通过模-数转换器(ADC)105被转换成以恒定频率抽样的数字信号。数字再现信号在含有锁相环(PLL)的均衡器106中被转换成与信道时钟同步的信号,同时,它还被转换成其特性接近于PR(1,2,2,2,1)特性的均衡再现信号。均衡器106中所用的均衡系数可从与信道时钟同步的信号和解码二进制数据中得出。
此后,在维特比解码器107中,选择一个通路。该通路相对于均衡再现信号的欧几里德距离最小,并输出与所选通路相应的代码比特序列作为解码二进制数据。
均衡再现信号和解码二进制数据输入到PRSNR(部分响应信噪比)计算器108,并测量评估值PRSNR。此外,均衡再现信号和解码二进制数据还输入到SbER(模拟误码率)计算器109,并测量评估值SbER。另外,均衡再现信号和解码二进制数据还输入到自适应控制值计算器110,并测量自适应控制值。所测量的PRSNR、SbER和自适应控制值输入到控制器102,并评估出评估值。此外,还调整和修改记录参数。另外,还可以有选择地切换第一和第二记录参数调整方法。尽管图中未示出,然而,需要的话还可以向报警装置输出一个告警信号。
此外,如稍后所详述,在控制器102中测量记录参数与评估值之间的关系,根据测量结果得出评估值的最佳值,并可以将使评估值被设置为最佳值的记录参数确定为调整值。另外,在控制器102中,测量记录参数与评估值之间的关系,根据测量结果得出评估值的最佳值,并可以将小于等于最佳值的某个值设置为规定值。然后,确定满足规定值的记录参数的上限值和下限值,并将该上限和下限值的中间值设置为记录参数的调整值。
(记录波形)
图2说明了记录二进制数据a和记录波形b的结构。在光盘上,与记录二进制数据(图2中的“a”)的高电平相应地形成光斑。记录波形b包括单脉冲,以记录最短2T光斑。所要记录的光斑越长,记录波形b的脉冲数越多。当在非凹陷部分轨道上记录信息时和当在槽轨道上记录信息时,单独设置记录参数。这些记录参数如表1中所示。
表1
  非凹陷部分轨道的记录参数   峰值功率,偏置功率1,偏置功率2,偏置功率3,TSFP,TEFP,TMP,TSLP,TELP,TLC
  槽轨道的记录参数   峰值功率,偏置功率1,偏置功率2,偏置功率3,TSFP,TEFP,TMP,TSLP,TELP,TLC
在时基方向,这些记录参数当中的TLC、TSFP、TELP是自适应控制参数。也就是说,光斑长度和间隙长度被分类成2T、3T和≥4T(≥4T表示大于等于4T的长度)的三个组,并为各个组设置单独的参数。可以为TLC设置对各个光斑长度而言不同的值。此外,可以为TSFP设置对各个光斑长度和光斑之前的间隙的长度而言不同的值。同样,可以为TELP设置对各个光斑长度和光斑之后的间隙的长度而言不同的值。自适应控制参数如表2中所示。
表2
  非凹陷部分轨道的TLC           光斑长度
  2T   3T   ≥4T
  al   bl   cl
  非凹陷部分轨道的TSFP            光斑长度
  2T   3T   ≥4T
  前面间隙长度   2T   dl   el   fl
  3T   gl   hl   il
  ≥4T   jl   kl   ll
  非凹陷部分轨道的TELP           光斑长度
  2T   3T   ≥4T
  后面间隙长度   2T   ml   nl   ol
  3T   pl   ql   rl
  ≥4T   sl   tl   ul
  槽轨道的TLC           光斑长度
  2T   3T   ≥4T
  ag   bg   cg
  槽轨道的TSFP           光斑长度
  2T   3T   ≥4T
  前面间隙长度   2T   dg   eg   fg
  3T   gg   hg   ig
  ≥4T   jg   kg   lg
  槽轨道的TELP           光斑长度
  2T   3T   ≥4T
  后面间隙长度   2T   mg   ng   og
  3T   pg   qg   rg
  ≥4T   sg   tg   ug
(记录参数调整过程)
下面将说明记录参数调整过程。由于非凹陷部分轨道记录参数和槽轨道记录参数的调整过程是一样的,因此,这里只说明非凹陷部分轨道记录参数调整过程。该调整过程的概述如图3中所示。
(峰值功率和偏置功率1的调整:图3中的步骤S1)
1.峰值功率被置为初始值PP0。PP0预先记录在光盘上的预定位置。再现相应位置的值,然后设置所得到的值。同样,偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置为初始值PB10、PB20和PB30。这些初始值PB10、PB20和PB30预先记录在光盘上的预定位置。同样,时基参数TSFP、TEFP、TMP、TSLP、TELP、TLC被置为初始值。时基参数的初始值预先记录在光盘上的预定位置。本例中,峰值功率和偏置功率1被看作是变量。
2.在某一轨道上连续10次记录随机数据后,再现该随机数据以得出均衡系数。在随后的过程中,利用这样得出的均衡系数。
3.在某一轨道上连续10次记录随机数据。每当调整峰值功率和偏置功率1时,都执行连续10次记录随机数据的操作。每当调整峰值功率和偏置功率1时,都测量PRSNR。调整峰值功率和偏置功率1以便提高PRSNR。执行这一调整操作以使峰值功率与偏置功率1的比等于PP0与PB10的比。
4.在过程3中,得出峰值功率与PRSNR之间的关系(参见图4)。
5.得出PRSNR的最大值。
6.得出被置为PRSNR的最大值的80%或80%以上的峰值功率的上限值PPOU和下限值PPOL
7.根据下列公式,得出峰值功率的调整值PP1和偏置功率1的调整值PB11
PP1=(PPOL+PPOU)/2
PB11=(PB10/PP0)×PP1
可以采用将过程5中所得出的PRSNR的最大值作为PP1的调整方法。在过程6中,规定值被置为最大值的80%或80%以上,不过这并非限定性的。此外,将PRSNR作为评估值,不过也可以将SbER作为评估值。当SbER作为评估值时,调整峰值功率和偏置功率1使SbER值较小。
(TMP的调整:图3中的步骤S2)
1.峰值功率被置为PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置为PB11、PB20和PB30。时基参数TSFP、TEFP、TMP、TSLP、TELP、TLC被置为初始值。本例中,TMP被看作是变量。
2.在某一轨道上连续10次记录随机数据。每当调整TMP时,都执行连续10次记录随机数据的操作。每当调整TMP时,都测量PRSNR。调整TMP以便提高PRSNR。
3.在过程2中,得出TMP与PRSNR之间的关系(参见图5)。
4.得出PRSNR的最大值。
5.得出被置为PRSNR的最大值的80%或80%以上的TMP的上限值TMPU和下限值TMPL
6.根据下列公式,得出TMP的调整值TMP(cal)
TMP(cal)=(TMPL+TMPU)/2
可以采用将过程4中所得出的PRSNR的最大值设置为TMP(cal)的调整方法。在过程5中,规定值被置为最大值的80%或80%以上,不过这并非限定性的。此外,将PRSNR作为评估值,不过也可以将SbER作为评估值。当SbER作为评估值时,调整TMP使SbER值较小。
(用于2T光斑的TSFP和用于3T光斑的TSFP的调整:图3中的步骤S3)
1.峰值功率被置为PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置为PB11、PB20和PB30。TMP被置为TMP(cal)。其他时基参数TSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLC被置为初始值。本例中,2T光斑的TSFP和3T光斑的TSFP被看作是变量。2T光斑的TSFP用表2中的dl、gl、jl来表示。同样,3T光斑的TSFP用表2中的el、hl、kl来表示。
2.在某一轨道上连续10次记录随机数据。每当调整2T光斑的TSFP时,都执行连续10次记录随机数据的操作。每当调整TSFP时,都测量PRSNR。调整TSFP以便提高PRSNR。
3.在过程2中,得出TSFP与PRSNR之间的关系(参见图6)。
4.得出PRSNR的最大值。
5.得出被置为PRSNR的最大值的80%或80%以上的2T光斑的TSFP的上限值TSFP2TU和下限值TSFP2TL
6.根据下列公式,得出2T光斑的TSFP的调整值TSFP2T
TSFP2T=(TSFP2TL+TSFP2TU)/2
7.在某一轨道上连续10次记录随机数据。每当调整3T光斑的TSFP时,都执行连续10次记录随机数据的操作。每当调整TSFP时,都测量PRSNR。调整TSFP以便提高PRSNR。
8.在过程7中,得出TSFP与PRSNR之间的关系(参见图7)。
9.得出PRSNR的最大值。
10.得出被置为PRSNR的最大值的80%或80%以上的3T光斑的TSFP的上限值TSFP3TU和下限值TSFP3TL
11.根据下列公式,得出3T光斑的TSFP的调整值TSFP3T
TSFP3T=(TSFP3TL+TSFP3TU)/2
可以采用将过程4中所得出的PRSNR的最大值作为TSFP2T和将过程9中所得出的PRSNR的最大值作为TSFP3T的调整方法。在过程5和10中,规定值被置为最大值的80%或80%以上,不过这并非限定性的。此外,将PRSNR作为评估值,不过也可以将SbER作为评估值。当SbER作为评估值时,调整TSFP使SbER值较小。
(PRSNR和SbER是否满足规定标准值的判断:图3中的步骤S4)
1.峰值功率被置为PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置为PB11、PB20和PB30。TMP被置为TMP(cal)。2T光斑的TSFP被置为TSFP2T。3T光斑的TSFP被置为TSFP3T。其他时基参数TSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLC被置为初始值。
2.在5个邻近轨道上连续10次记录随机数据。
3.再现过程2中所用的轨道中的中央轨道上所记录的数据,并得出均衡系数。在随后的过程中,利用这样得出的均衡系数。
4.测量PRSNR和SbER。
5.如果使PRSNR大于等于15.0,而使SbER小于等于5×10-5,那么,将过程1中所设置的记录参数作为调整后所得到的参数,然后终止记录参数调整过程。如果PRSNR小于15.0或SbER大于5×10-5,那么,执行下列自适应控制参数调整过程。
在过程5中,使PRSNR大于等于15.0,而使SbER小于等于5×10-5,不过,本发明并不局限于这种情况。例如,可使PRSNR大于等于13.0,并可使SbER小于等于5×10-4
(自适应控制参数TSFP、TELP的调整:图3中的步骤S5)
1.峰值功率被置为PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置为PB11、PB20和PB30。TMP被置为TMP(cal)。2T光斑的TSFP被置为TSFP2T。3T光斑的TSFP被置为TSFP3T。其他时基参数TSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLC被置为初始值。本例中,根据光斑长度和间隙长度所分类的9种TSFP、TELP(即表2中的dl、el、fl、gl、hl、il、jl、kl、ll、ml、nl、ol、pl、ql、rl、sl、tl、u1)被单独进行调整。
2.在某一轨道上连续10次记录长度大于等于928512个通道比特的随机数据。每当调整TSFP、TELP时,都执行连续10次记录随机数据的操作。
3.测量自适应控制值。计算9种TSFP、TELP中的每一种的自适应控制值,并将该值设置为+1、0或-1。
4.如果某一TSFP(TELP)的自适应控制值为+1,则将TSFP(TELP)减小(增加)时间ΔT。如果某一TSFP(TELP)的自适应控制值为-1,则将TSFP(TELP)增加(减小)时间ΔT。这里,ΔT为T/32。
5.重复执行过程2至4,直到所有自适应控制值都被置为0。如果所有自适应控制值都被置为0,那么,此时所得到的TSFP和TELP分别被置为TSFP(cal)和TELP(cal)
在上述情况下,重复执行这些过程,直到所有自适应控制值都被置为0,不过,本发明并不局限于这种情况。例如,可以重复执行这些过程,直到80%或80%以上的控制值被置为0。或者,还可以重复执行这些过程,直到使控制值尽可能接近于0。此外,可以预先规定重复次数,并可以按该规定次数来重复执行这些过程。
自适应控制值被置为3种类型[-1,0,+1]之一,不过,本发明并不局限于这种情况。例如,自适应控制值被置为5种类型[-2,-1,0,+1,+2]之一。
此外,ΔT被置为T/32,不过这并非限定性的,例如,ΔT可被置为T/16。
(图3的数据处理流程的上半部分和下半部分的特性)
上半部分是第一记录参数调整方法,它是下列两种调整方法之一或是这两种调整方法:与记录数据比特串无关的调整方法,和与记录数据比特串的代码比特“1”的游程(连续长度)有关的调整方法。下半部分是第二记录参数调整方法,它是这样一种调整方法,即与记录数据比特串的代码比特“1”的游程以及其邻近的代码比特“0”的游程有关的调整方法。
(光盘合适与否的判断)
1.峰值功率被置为PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置为PB11、PB20和PB30。TMP、TSFP、TELP被置为TMP(cal)、TSFP(cal)、TELP(cal)。其他时基参数TEFP、TELP、TLC被置为初始值。
2.在5个邻近轨道上连续10次记录随机数据。
3.再现过程2中所用的轨道中的中央轨道上所记录的数据,并得出均衡系数。在随后的过程中,利用这样得出的均衡系数。
4.测量PRSNR和SbER。
5.如果使PRSNR大于等于15.0U,而使SbER小于等于5×10-5,那么,将过程1中所设置的记录参数作为调整后所得到的参数,然后终止记录参数调整过程。如果PRSNR小于15.0或SbER大于5×10-5,那么,判定该光盘是不合适光盘,并卸下该光盘。
在过程5中,使PRSNR大于等于15.0,而使SbER小于等于5×10-5,不过,本发明并不局限于这种情况。例如,可使PRSNR大于等于13.0,并可使SbER小于等于5×10-4
(PRSNR的说明)
下面将说明用于计算记录参数的PRSNR。当通路之间的欧几里德距离短的时候,在维特比解码处理中往往会出现检测错误。不同通路之间的欧几里德距离d定义为d2=∑εi 2。在这种情况下,假定与通路之一相应的代码比特序列bk所定义的多项式被设为B(D)=∑bkDk,与另一通路相应的代码比特序列ck(bk、ck被设置为0或1)所定义的多项式被设为C(D)=∑ckDk,定义部分响应的多项式被设为H(D)=∑hkDk,而N(D)=(B(D)-C(D))*H(D)=∑εiDi。在这种情况下,D表示以信道时钟时间为单位的时延运算符,而hk表示预置部分响应特性,并且h0=1,h1=2,h2=2,h3=2,h4=1,而h5和随后的值都被置为0。此外,符号*表示卷积运算的运算符。通路之间的欧几里德距离相应于使用PRML识别系统的系统中的信号分量。
在组合有PR(1,2,2,2,1)特性和最小游程长度1的记录二进制数据的系统中,如表3中所示,得到通路之间的小欧几里德距离中的εi和d2
表3
  模式   εi   d2
  1   1 2 2 2 1   14
  2   1 2 1 0 -1 -2 -1   12
  3   1 2 1 0 0 0 1 2 1   12
  4   1 2 1 0 0 0 0 0 -1 -2 -1   12
  5   1 2 1 0 0 0 0 0 0 0 -1 -2 -1   12
  6   1 2 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0  1 2 1   12
均衡再现信号yk所定义的多项式Y(D)=∑ykDk与解码二进制数据ak所定义的多项式A(D)=∑akDk相应的通路P(D)=A(D)*H(D)之间的差P(D)·Y(D)=∑vkDk称为均衡差。该均衡差所带来的对模式1的影响可以表示为如下。
∑(vk+2vk+1+2vk+2+2vk+3+vk+4)2
N*(14R0+24R1+16R2+8R3+2R4)   (R1被定义为∑vkvk+i/N)
此外,该影响与模式1的噪声分量相应。同样,该均衡差所带来的对模式2、3的影响可以表示为如下。
∑(vk+2vk+1+vk+2-vk+4-2vk+3-vk+4)2
N*(12R0+16R1+2R2-8R3-12R4-8R5-2R6)
∑(vk+2vk+1+vk+2+vk+6+2vk+7+vk+8)2
N*(12R0+16R1+4R2+2R4+8R5+12R6+8R7+2R8)
此外,该影响与模式2、3的噪声分量相应。
因此,模式1的信噪比S1可以由下式给出。
S 1 = 14 × 14 14 R 0 + 24 R 1 + 16 R 2 + 8 R 3 + 2 R 4
= 14 R 0 + ( 12 R 1 + 8 R 2 + 4 R 3 + R 4 ) / 7
同样,模式2、3的信噪比S2、S3可以由下式给出。
S 2 = 12 × 12 12 R 0 + 16 R 1 + 2 R 2 - 8 R 3 - 12 R 4 - 8 R 5 - 2 R 6
= 12 R 0 + ( 8 R 1 + R 2 - 4 R 3 - 6 R 4 - 4 R 5 - R 6 ) / 6
S 3 = 12 × 12 12 R 0 + 16 R 1 + 4 R 2 + 2 R 4 + 8 R 5 + 12 R 6 + 8 R 7 + 2 R 8
= 12 R 0 + ( 8 R 1 + 2 R 2 + R 4 + 4 R 5 + 6 R 6 + 4 R 7 + R 8 ) / 6
信噪比越低,再现信号的质量越差。将S1、S2、S3中最低的一个作为PRSNR。
PRSNR计算器108的具体内部框图如图8中所示。PRSNR越高,信号质量越高,因此,可以调整记录参数以便提高PRSNR。
可以用同样的方式得出模式4、5、6的信噪比。因此,可以得到模式1至6的信噪比,并可以将其中的最小值作为PRSNR。然而,通常模式4、5、6出现的频率低于模式1、2、3出现的频率。为便于测量,在本实施例中,根据模式1、2、3来得出PRSNR。此外,可以用同样的方式得出通路之间具有更大欧几里德距离的模式的信噪比。为了更精确地评估信号质量,可以和关于这些模式的信噪比一起得出PRSNR。
图8中,标号301代表目标信号发生器,它利用PR波形和解码二进制数据来产生目标信号。标号302代表比较器,它对目标信号与均衡再现信号进行比较以得出均衡差。上述操作过程可利用均衡差来实现。乘法器利用βi来计算和加权均衡差的自相关。然后,得出相关值的和。
(SbER的说明)
下面,将说明用于计算记录参数的SbER。在PRSNR识别系统中,要考虑记录二进制模式T被误识别为不同的二进制模式F的概率。当均衡再现信号为S而模式T、F的通路为PT、PF(参见图9)时,模式T被误识别为模式F的条件用下式来表示。
D=E2 PF,S-E2 PT,S<0
其中,EPF,S表示通路PF与再现信号S之间的欧几里德距离,而EPT,S表示通路PT与再现信号S之间的欧几里德距离。信号P1与P2之间的欧几里德距离由下式给出。
E P 1 , P 2 = Σ i ( P 1 i - P 2 i ) 2
如果累积D值的分布(参见图10)表现为正态分布,而平均值及其标准偏差值分别设为μ和σ,那么,T被误识别为F的概率F(0)可表示为如下。
F ( 0 ) = ∫ - ∞ 0 exp { - ( x - μ ) 2 / 2 σ 2 } σ 2 π dx
通过得出关于模式对T、F的F(0)(其中往往会出现如表4中所示的误差),可以按下式得出bER(误码)的估算值SbER。
SbER=∑CT·F(0)·HT,F
其中,CT表示模式T的出现率,而HT,F表示汉明距离。
图11是SbER计算器109的具体内部框图。解码二进制数据输入到模式比较器401。模式比较器401对参考表402中所记录的模式与解码二进制数据进行比较以检测往往会被误识别的模式。检测模式输入到运算器403。再现信号通过寄存器404输入到该运算器403。因此,可以进行上式所示的运算以得出SbER。
表4
  模式T(F)   模式F(T) HT,F
  1   001110000   001100000 1
  2   011110000   011100000 1
  3   111110000   111100000 1
  4   001110001   001100001 1
  5   011110001   011100001 1
  6   111110001   111100001 1
  7   001110011   001100011 1
  8   011110011   011100011 1
  9   111110011   111100011 1
  10   000011100   000001100 1
  11   000011110   000001110 1
  12   000011111   000001111 1
  13   100011100   100001100 1
  14   100011110   100001110 1
  15   100011111   100001111 1
  16   110011100   110001100 1
  17   110011110   110001110 1
  18   110011111   110001111 1
  19   00111001100   00110011100 2
  20   01111001100   01110011100 2
  21   11111001100   11110011100 2
  22   00111001110   00110011110 2
  23   01111001110   01110011110 2
  24   11111001110   11110011110 2
  25   00111001111   00110011111 2
  26   01111001111   01110011111 2
  27   11111001111   11110011111 2
  28   00001100000   00000110000 2
  29   10001100000   10000110000 2
  30   11001100000   11000110000 2
  31   00001100001   00000110001 2
  32   10001100001   10000110001 2
  33   11001100001   11000110001 2
  34   00001100011   00000110011 2
  35   10001100011   10000110011 2
  36   11001100011   11000110011 2
  37   0011100110000   0011001100000 3
  38   0111100110000   0111001100000 3
  39   1111100110000   1111001100000 3
  40   0011100110001   0011001100001 3
  41   0111100110001   0111001100001 3
  42   1111100110001   1111001100001 3
  43   0011100110011   0011001100011 3
  44   0111100110011   0111001100011 3
  45   1111100110011   1111001100011 3
  46   0000110011100   0000011001100 3
  47   1000110011100   1000011001100 3
  48   1100110011100   1100011001100 3
  49   0000110011110   0000011001110 3
  50   1000110011110   1000011001110 3
  51   1100110011110   1100011001110 3
  52   0000110011111   0000011001111 3
  53   1000110011111   1000011001111 3
  54   1100110011111   1100011001111 3
(自适应控制值的说明)
图12是自适应控制值计算器110的内部框图。若干种预置模式(模式1)登记在模式确定单元501中,当解码二进制数据与登记模式相符时输出表示登记模式之一的信号。在模式存储器502中,根据来自模式确定单元的信号输出其中登记的三种模式(模式1、模式2、模式3)。在理想信号计算器511、512、513中,根据输出模式形成与PR(1,2,2,2,1)特性相应的通路。在距离计算器521、522、523中,计算通路以及这些通路与均衡再现信号之间的欧几里德距离(分别被设为E1、E2、E3)。在距离差计算器531、532中计算欧几里德距离E2与E1之间的差以及欧几里德距离E3与E1之间的差,并将其存储在距离差存储器541、542中。要存储这些距离差的距离差存储器的位置可根据模式确定单元的输出信号来确定。当记录/再现预置量的数据时,参数计算装置550根据距离差存储器中所存储的数据来计算自适应控制值。
在本实施例中,光斑和间隙的长度被划分成三种2T/3T/≥4T,并计算关于该光斑和间隙的每一模式的自适应控制值。存储在模式存储器中的模式1、模式2、模式3的内容如表5中所示。表5的第一和第二列相应于表2的自适应控制参数。例如,表5的第二行表示用于得出2T间隙/2T光斑记录的自适应控制值的模式。通过将与模式1中所出现的代码比特串“10”(或“01”)相应的部分改变成“00”(或“11”)得到模式2。此外,通过将与模式1的中心中所出现的代码比特串“10”(或“01”)相应的部分改变成“11”(或“00”)得到模式3。
表5
非凹陷部分轨道的TSFP,TELP   槽轨道的TSFP,TELP 模式2   模式1 模式3
  Dl   dg ?11011100?   ?11001100? ?11000100?
  gl   gg 110011100?   110001100? 110000100?
  jl   jg ?00011100?   ?00001100? ?00000100?
  el   eg ?110111100   ?110011100 ?110001100
  hl   hg 1100111100   1100011100 1100001100
  kl   kg ?000111100   ?000011100 ?000001100
  fl   fg ?110111110   ?110011110 ?110001110
il ig 1100111110 1100011110 1100001110
  ll   lg ?00011111?   ?00001111? ?00000111?
  ml   mg ?00100011?   ?00110011? ?00111011?
  pl   pg ?00100001?   ?00110001? ?00111001?
  sl   sg ?00100000?   ?00110000? ?00111000?
  nl   ng 001100011?   001110011? 001111011?
  ql   qg 0011000011   0011100011 0011110011
  tl   tg ?01100000?   ?01110000? ?01111000?
  ol   og ?11100011?   ?11110011? ?11111011?
  rl   rg ?111000011   ?111100011 ?111110011
  ul   ug ?11100000?   ?11110000? ?11111000?
表5中,“?”表示代码比特“0”或“1”。如果模式1中的“?”为“0”(“1”),那么与模式2、3中的每一个的相应部分中的“?”也为“0”(“1”)。例如,表5的第二行被扩展为如表6中所示。
表6
  dl   dg   0110111000011011100111101110001110111001   0110011000011001100111100110001110011001   0110001000011000100111100010001110001001
本发明的自适应控制值计算操作的基本概念如图13、14A、14B和15中所示。例如,考虑这样一种情况:模式确定单元所选的模式1、2、3各自具有如图13的上半部分中所示的“0”、“1”排列。根据模式1、2、3所计算的通路具有如图13的下半部分所示的波形。图13中所示的模式1、2、3的通路被设为P1(t)、P2(t)、P3(t),而再现信号被设为Y(t)。于是,P1(t)、P2(t)、P3(t)与Y(t)之间的欧几里德距离E1、E2、E3可以表示为如下。
    E1=∑{Y(t)-P1(t)}2
    E2=∑{Y(t)-P2(t)}2
    E3=∑{Y(t)-P3(t)}2
即使当记录模式1时,识别结果表示模式2的条件如下。
E1>E2
同样,即使当记录模式1时,识别结果表示模式3的条件如下。
E1>E3
在这种情况下,考虑下列关系。
D2=E2-E1
D3=E3-E1
D2、D3的分布如图14A、14B中所示。在图14A、14B中,分布小于等于“0”的区域相应于识别错误。在图14A中,当分布小于等于“0”时,选择模式2。此外,在图14B中,当分布小于等于“0”时,选择模式3。如果D2、D3的平均值分别被设为M2、M3而标准偏差分别设为σ2、σ3,那么,记录模式1时避免识别结果被设置为模式2的裕度Mgn2如下所示。
Mgn2=M2/σ2
同样,记录模式1时避免识别结果被设置为模式3的裕度Mgn3如下所示。
Mgn3=M2/σ3
在这种情况下,认为记录模式1时识别结果变成模式2的事件和识别结果变成模式3的事件是冲突事件。D2和-D3的分布如图15中所示。横坐标上给出了某一Ec值,而从分布D2和-D3到Ec的裕度Mgn2’、Mgn3’可以表示为如下。
Mgn2’=(M2-Ec)/σ2
Mgn3’=(M3+Ec)/σ3
当Mgn2’=Mgn3’的关系式成立时,可得到如下Ec的解。
Ec=(σ3*M2-σ2*M3)(σ2+σ3)
这表示,如果整个分布移位了Ec,那么,记录模式1时识别结果变成模式2的概率等于识别结果变成模式3的概率。这相应于最不容易出错的情况。也就是说,通过控制与Ec相应的记录波形,可以实现最好的记录操作。Ec的符号相应于使光斑更大还是更小,而Ec的绝对值相应于光斑尺寸的变化量。
Ec的单位是欧几里德距离。自适应控制参数TSFP、TELP的单位是时间。难以将欧几里德距离转换成时间。
因此,可以根据下列Ec来调整自适应控制参数。死区设在“0”处或在“0”附近,并且,如果Ec位于死区,则将自适应控制值置为“0”。如果Ec大于死区,则将自适应控制值置为+1。反之,如果Ec小于死区,则将自适应控制值置为-1。根据自适应控制值[-1,0,+1],将自适应控制参数TSFP、TELP增加或减小ΔT(=T/32)。自适应控制参数TSFP、TELP增加或减小了ΔT后,它们再一次被记录/再现以得出自适应控制值。重复执行以上操作,直到所有自适应控制值都变为“0”。
在上例中,重复执行操作直到所有自适应控制值都变为“0”,不过,本发明并不局限于这种情况。例如,可以重复执行该操作直到80%或80%以上的自适应控制值变为“0”。或者,可以重复执行该操作自适应控制值近似等于“0”。此外,还可以预先规定重复次数,并按该规定次数来重复执行该操作。
自适应控制值被置为3种类型[-1,0,+1],不过这并非限定性的。例如,它们可被置为5种类型[-2,-1,0,+1,+2]。此外,ΔT被置为T/32,不过它并不局限于这种情况。例如,ΔT可被置为T/16。
(第二记录参数调整过程)
下面将说明本发明的第二记录参数调整过程。由于非凹陷部分轨道记录参数的调整过程和槽轨道记录参数的调整过程是一样的,因此,这里只说明非凹陷部分轨道记录参数调整过程。该调整过程的概述如图16中所示。
(调整峰值功率和偏置功率1:图6中的步骤SA1)
1.峰值功率被置为初始值PPO。PP0预先记录在光盘上的预定位置。再现相应位置的数据,然后设置再现值。同样,偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置为初始值PB10、PB20和PB30。PB10、PB20和PB30预先记录在光盘上的预定位置。同样,时基参数TSFP、TEFP、TMP、TSLP、TELP、TLC被置为初始值。不过,TSFP、TEFP每个都被置为表2中所示的9个值。同样,TLC每个都被置为表2中所示的3个值。时基参数的初始值预先记录在光盘上的预定位置。本例中,峰值功率和偏置功率1被看作是变量。
2.在某一轨道上连续10次记录随机数据后,再现该随机数据以得出均衡系数。在随后的过程中,利用这样得出的均衡系数。
3.在某一轨道上连续10次记录随机数据。每当调整峰值功率和偏置功率1时,都执行连续10次记录随机数据的操作。每当调整峰值功率和偏置功率1时,都测量PRSNR。调整峰值功率和偏置功率1以便提高PRSNR。执行这一调整操作以使峰值功率与偏置功率1的比等于PP0与PB10的比。
4.在过程3中,得出峰值功率与PRSNR之间的关系(参见图4)。
5.得出PRSNR的最大值。
6.得出被置为PRSNR的最大值的80%或80%以上的上限值PPOU和下限值PPOL
7.根据下列公式,得出峰值功率的调整值PP1和偏置功率1的调整值PB11
PP1=(PPOL+PPOU)/2
PB11=(PB10/PP0)×PP1
可以采用将过程5中所得出的PRSNR的最大值设置为PP1的调整方法。在过程6中,规定值被置为最大值的80%或80%以上,不过这并非限定性的。此外,将PRSNR作为评估值,不过也可以将SbER作为评估值。当SbER作为评估值时,调整峰值功率和偏置功率1使SbER值较小。
(调整TMP:图16中的步骤SA2)
1.峰值功率被置为PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置为PB11、PB20和PB30。时基参数TSFP、TEFP、TMP、TSLP、TELP、TLC被置为初始值。本例中,TMP被看作是变量。
2.在某一轨道上连续10次记录随机数据。每当调整TMP时,都执行连续10次记录随机数据的操作。每当调整TMP时,都测量PRSNR。调整TMP以便提高PRSNR。
3.在过程2中,得出TMP与PRSNR之间的关系(参见图5)。
4.得出PRSNR的最大值。
5.得出被置为PRSNR的最大值的80%或80%以上的TMP的上限值TMPU和下限值TMPL
6.根据下列公式,得出TMP的调整值TMP(cal)
TMP(cal)=(TMPL+TMPU)/2
可以采用将过程4中所得出的PRSNR的最大值设置为TMP(cal)的调整方法。在过程5中,规定值被置为最大值的80%或80%以上,不过这并非限定性的。此外,将PRSNR作为评估值,不过也可以将SbER作为评估值。当SbER作为评估值时,调整TMP使SbER值较小。
(PRSNR和SbER是否满足规定的基准值的判断:图16中的步骤SA3)
1.峰值功率被置为PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置为PB11、PB20和PB30。TMP被置为TMP(cal)。其他时基参数TSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLC被置为初始值。
2.在5个邻近轨道上连续10次记录随机数据。
3.再现过程2中所用的轨道中的中央轨道上所记录的数据,并得出均衡系数。在随后的过程中,利用这样得出的均衡系数。
4.测量PRSNR和SbER。
5.如果使PRSNR大于等于15.0,而使SbER小于等于5×10-5,那么,将过程1中所设置的记录参数作为调整后所得到的参数,然后终止记录参数调整过程。如果PRSNR小于15.0或SbER大于5×10-5,那么,执行下列自适应控制参数调整过程。
在过程5中,使PRSNR大于等于15.0,而使SbER小于等于5×10-5,不过,本发明并不局限于这种情况。例如,可使PRSNR大于等于13.0,并可使SbER小于等于5×10-4
(自适应控制参数TSFP、TELP的调整:图16中的步骤SA4)
1.峰值功率被置为PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置为PB11、PB20和PB30。TMP被置为TMP(cal)。其他时基参数TSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLC被置为初始值。本例中,9种TSFP、TELP(即表2中所示的dl、el、fl、gl、hl、il、jl、kl、ll、ml、nl、ol、pl、ql、rl、sl、tl、ul)被单独进行调整。
2.在某一轨道上连续10次记录长度大于等于928512个通道比特的随机数据。每当调整TSFP、TELP时,都执行连续10次记录随机数据的操作。
3.测量自适应控制值。计算9种TSFP、TELP中的每一种的自适应控制值,并将该值设置为+1、0或-1。
4.如果某一TSFP(TELP)的自适应控制值为+1,则将TSFP(TELP)减小(增加)时间ΔT。如果某一TSFP(TELP)的自适应控制值为-1,则将TSFP(TELP)增加(减小)时间ΔT。这里,ΔT为T/32。
5.重复执行过程2至4,直到所有自适应控制值都被置为0。如果所有自适应控制值都被置为0,那么,此时所得到的TSFP和TELP分别被置为TSFP(cal)和TELP(cal)
在上例中,重复执行该操作,直到所有自适应控制值都变为“0”,不过,本发明并不局限于这种情况。例如,可以重复执行该操作,直到80%或80%以上的自适应控制值变为“0”。或者,还可以重复执行该操作,直到自适应控制值变为近似等于“0”。此外,可以预先规定重复次数,并可以按该规定次数来重复执行该操作。
自适应控制值被置为3种类型[-1,0,+1],不过,这并非限定性的。例如,自适应控制值可被置为5种类型[-2,-1,0,+1,+2]。此外,ΔT被置为T/32,不过它并不局限于这样情况。例如,ΔT可被置为T/16。
(光盘合适与否的判断:图16中的步骤SA5)
1.峰值功率被置为Pp1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置为初始值PB11、PB20和PB30。TMP、TSFP、TELP分别被置为TMP(cal)、TSFP(cal)、TELP(cal)。其他时基参数TEFP、TELP、TLC被置为初始值。
2.在5个邻近轨道上连续10次记录随机数据。
3.再现过程2中所用的轨道中的中央轨道上所记录的数据,并得出均衡系数。在随后的过程中,利用这样得出的均衡系数。
4.测量PRSNR和SbER。
5.如果使PRSNR大于等于15.0,而使SbER小于等于5×10-5,那么,将过程1中所设置的记录参数作为调整后所得到的参数,然后终止记录参数调整过程。如果PRSNR小于15.0或SbER大于5×10-5,那么,判定该光盘是不合适光盘,并卸下该光盘。
在过程5中,使PRSNR大于等于15.0,而使SbER小于等于5×10-5,不过,本发明并不局限于这种情况。例如,可使PRSNR大于等于13.0,并可使SbER小于等于5×10-4
(矩形记录波形)
在第一和第二种发明中,用所谓多脉冲模式作为记录波形。然而,本发明并不局限于这种情况,而还可以使用诸如记录波形(图17中的“b”)的矩形波形。图17中的“a”表示记录二进制数据。在这种情况下,记录参数如表7中所示。
表7
  非凹陷部分轨道的记录参数   峰值功率,偏置功率1,偏置功率2,TSFP,TELP,TLC
  槽轨道的记录参数   峰值功率,偏置功率1,偏置功率2,TSFP,TELP,TLC
当用矩形波作为记录波时,所用的记录参数调整过程如图18或19中所示。
可以将通过修改矩形记录波形所得到的如图20中所示的波形作为记录波形“b”。图20中的“a”是记录二进制数据。本发明所适用的记录波并不局限于上述情况。
在上述实施例中,使用了所谓非凹陷部分和槽记录类型光盘。然而,本发明并不局限于这种情况,还可以使用只在非凹陷部分上或槽中记录信息的光盘。
在上述实施例中,光斑长度和间隙长度被分类成2T、3T和≥4T的三个组,但本发明并不局限于这种情况。例如,光斑长度和间隙长度可以被分类成2T、3T、4T和≥5T的四个组,
在上述实施例中,采用了PR(1,2,2,2,1),但本发明并不局限于这种情况。例如,本发明可以适用于别的PR类,比如PR(1,2,2,1)或PR(3,4,4,3)。
在上述实施例中,说明了最小游程长度为“1”的情况,但本发明并不局限于这种情况。例如,本发明可以适用于最小游程长度为“2”的情况。
如上所述,在使用PRML识别系统的光盘系统中,利用本发明的光盘记录/再现方法可以得出最佳记录参数。此外,在使用PRML识别系统的光盘系统中,利用本发明的光盘记录/再现方法可以在短时间内得到记录参数。利用本发明的光盘记录/再现方法所得出的记录波,可以提供一种能正确地记录/再现信息的光盘记录/再现设备。此外,还可以提供一种通过利用根据本发明的光盘记录/再现方法所得出的记录波记录信息来正确地记录信息的光盘。
本发明并不局限于上述实施例,在实施阶段中不背离其技术范围的前提下可以作各种修改。此外,通过适当地组合上述实施例中所公开的多个成分,还可以作出各种发明。例如,可以从上述实施例中所示的全部成分中省去某些成分。此外,还可以适当地组合不同实施例的成分。
熟练技术人员还容易想到另外一些优点和修改方式。因此,从更广泛的意义上来说,本发明并不局限于本文所示和所述的具体细节和典型实施例。因此,在不背离后附权利要求及其等价要求所规定的一般发明概念的思想或范围的前提下,可以作出多种修改。

Claims (16)

1.一种光盘记录/再现方法,其特征在于包括:
根据第一记录参数调整方法确定用于设定记录波形的第一记录参数,
利用第一记录参数在媒体上记录信息,
利用信号质量评估方法,根据记录信息的再现信号得出信号质量的第一评估值,
当第一评估值满足预定值时,终止记录参数调整操作,
当第一评估值不满足预定值时,根据第二记录参数调整方法确定用于设定记录波形的第二记录参数,
利用第二记录参数在媒体上记录信息,
利用信号质量评估方法,根据记录信息的再现信号得出信号质量的第二评估值,
当第二评估值满足预定值时,终止记录参数调整操作,和
当第二评估值不满足预定值时,发出告警。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,第一记录参数调整方法包括下列调整方法中至少一种:与记录数据比特串无关的调整方法;和与记录数据比特串中代码比特“1”的连续长度有关的调整方法,而第二记录参数调整方法是与记录数据比特串中代码比特“1”的连续长度以及其邻近的代码比特“0”的连续长度有关的调整方法。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,信号质量评估方法包括至少两种信号质量评估方法。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,测量记录参数与评估值之间的关系,根据测量结果得出评估值的最佳值,并将使评估值被置为最佳值的记录参数用作调整值。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,测量记录参数与评估值之间的关系,根据测量结果得出评估值的最佳值,将不大于最佳值的某个值作为规定值,得出满足规定值的记录参数的上限值和下限值,并将该上限值与下限值之间的中间值用作记录参数调整值。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,评估值包括PRSNR(部分响应信噪比)和SbER(模拟误码率)中至少一个。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,按第一和第二记录参数调整方法调整基于记录波形的记录功率。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,按第一和第二记录参数调整方法调整基于记录波形的多脉冲宽度。
9.如权利要求1所述的方法,其特征在于,按第一和第二记录参数调整方法调整记录波形的最短光斑(2T)的记录参数和第二短光斑(3T)的记录参数中至少一个。
10.如权利要求1所述的方法,其特征在于,按第二记录参数调整方法调整记录波形的首脉冲、末脉冲、单脉冲和末冷却脉冲中至少一个。
11.一种光盘记录/再现设备,其特征在于包括:
装置(102),根据第一记录参数调整方法确定用于设定记录波形的第一记录参数,
装置(101,103),利用第一记录参数在媒体上记录信息,
装置(108,109),利用信号质量评估方法,根据记录信息的再现信号得出信号质量的第一评估值,
装置(102),当第一评估值满足预定值时,终止记录参数调整操作,
装置(102),当第一评估值不满足预定值时,根据第二记录参数调整方法确定用于设定记录波形的第二记录参数,
装置(101,103),利用第二记录参数在媒体上记录信息,
装置(110),利用信号质量评估方法,根据记录信息的再现信号得出信号质量的第二评估值,以及
装置(102),当第二评估值满足预定值时,终止记录参数调整操作,而当第二评估值不满足预定值时,发出告警。
12.如权利要求11所述的光盘记录/再现设备,其特征在于,确定第一和第二记录参数的装置(102)利用记录波形调整记录功率。
13.如权利要求11所述的光盘记录/再现设备,其特征在于,确定第一和第二记录参数的装置(102)利用记录波形调整多脉冲宽度。
14.如权利要求11所述的光盘记录/再现设备,其特征在于,确定第一和第二记录参数的装置(102)调整记录波形的最短光斑(2T)的记录参数和第二短光斑(3T)的记录参数中至少一个。
15.如权利要求11所述的光盘记录/再现设备,其特征在于,第一和第二评估值中每个包括PRSNR(部分响应信噪比)和SbER(模拟误码率)中至少一个。
16.一种光盘,其特征在于包括:
记录在记录轨道上的光斑和间隙,
其中,通过在记录轨道上安排光斑和间隙来记录记录信息,光斑是通过施加将电记录波输入到激光二极管所产生的激光所形成的,峰值功率、小于峰值功率的第一偏置功率、小于第一偏置功率的第二偏置功率和小于第二偏置功率的最小的第三功率的电平被定义为记录波的幅度方向的参数,多脉冲部分中最小脉冲的时间周期TMP、范围从记录信息上升到记录波的首脉冲的第一上升沿的时间周期TSFP、范围从记录信息上升到记录波的首脉冲的第一下降沿的时间周期TEFP、记录波的末脉冲的上升时间周期在记录信息下降前立刻结束的时间周期TELP和跟随记录信息下降的记录波的冷却脉冲的时间周期TLC被定义为时基方向的参数,当确定实际参数时,记录幅度方向的参数和时基方向的参数的初始值。
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