KR20060046153A - 광디스크 기록／재생 방법, 광디스크 기록／재생 장치 및광디스크 - Google Patents

광디스크 기록／재생 방법, 광디스크 기록／재생 장치 및광디스크 Download PDF

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KR20060046153A
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아키히토 오가와
나오키 모리시타
마사키 나카노
마사쯔구 오가와
슈이치 오쿠보
도시아키 이와나가
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가부시끼가이샤 도시바
닛뽄덴끼 가부시끼가이샤
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Abstract

본 발명은 PRML 식별 방식을 이용하는 광디스크 시스템에 있어서, 최적의 기록 파형을 단시간에 구하는 방법을 제공한다. PRML 식별 방식에 알맞은 신호 평가 방법에 의해서 얻은 평가값을 지표로 하여, 기록 파형의 파라미터를 조정한다. 이 경우, 파라미터의 조정 방법으로서는 복수의 조정 방법을 활용한다(S1-S3, S5).

Description

광디스크 기록／재생 방법, 광디스크 기록／재생 장치 및 광디스크{OPTICAL DISK RECORDING/REPRODUCING METHOD, OPTICAL DISK RECORDING/REPRODUCING APPARATUS AND OPTICAL DISK}
도 1은 본 발명의 광디스크 기록/재생 장치의 일례를 도시하는 블록도.
도 2는 본 발명에 따른 기록 파형의 예를 도시하는 설명도.
도 3은 본 발명에 따른 광디스크 기록/재생 방법의 예를 도시하는 흐름도.
도 4는 기록 파워의 조정 방법의 예를 도시하는 설명도.
도 5는 중간 멀티펄스 폭의 조정 방법을 설명하는 설명도.
도 6은 2T 마크 기록시의 선두 펄스 폭의 조정 방법을 설명하는 설명도.
도 7은 3T 마크 기록시의 선두 펄스 폭의 조정 방법을 설명하는 설명도.
도 8은 PRSNR 산출기의 구성예를 도시하는 블록도.
도 9는 SbER의 기본 원리를 나타내는 1번째 설명도.
도 10은 SbER의 기본 원리를 나타내는 2번째 설명도.
도 11은 SbER 산출기의 구성예를 도시하는 블록도.
도 12는 적응 제어값 산출기의 구성예를 도시하는 블록도.
도 13은 적응 제어값의 기본 원리를 나타내는 1번째 설명도.
도 14a 및 도 14b는 적응 제어값의 기본 원리를 나타내는 2번째 설명도.
도 15는 적응 제어값의 기본 원리를 나타내는 3번째 설명도.
도 16은 본 발명에 의한 제2 광디스크 기록/재생 방법의 예를 도시하는 흐름도.
도 17은 본 발명의 제2 기록 파형의 예를 도시하는 도면.
도 18은 본 발명에 의한 제3 광디스크 기록/재생 방법의 예를 도시하는 흐름도.
도 19는 본 발명에 의한 제4 광디스크 기록/재생 방법의 예를 도시하는 흐름도.
도 20은 본 발명의 제3 기록 파형의 예를 도시하는 도면.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
100: 광디스크, 101: LD 드라이버,
102: 컨트롤러, 103: 픽업 헤드,
104: 전치증폭기 105: 아날로그 디지털 컨버터,
106: 등화기, 107: 비터비 복호기,
108: PRSNR 산출기, 109: SbER 산출기,
110: 적응 제어값 산출기
본 발명은 광디스크 기록/재생 방법, 광디스크 기록/재생 장치 및 광디스크 에 관한 것으로, 특히 광디스크에 신호를 기록할 때와 광디스크로부터 신호를 재생할 때에 있어서의 파라미터 조정에 관한 것이다.
광디스크에 정보를 기록하는 경우에는 레이저 빔을 이용한다. 이 때, 레이저 빔의 기록 파워를 최적화할 필요가 있다. 기록 파워를 최적화하는 기술로서는 일본 특허 공개 평4-141827호에 개시된 기술이 있다.
일본 특허 공개 평4-141827호에서는, 기록 파워를 서서히 변화시키면 정보를 기록하고, 이 때 얻은 재생 신호 진폭을 측정한다. 기록 파워와 재생 신호 진폭간의 관계에 기초하여 기록 파워의 최적값을 구한다. 또한, 기록 파워를 서서히 변화시키면서 정보를 기록하고, 이 때 얻은 비트 오류율을 측정한다. 기록 파워와 비트 오류율간의 관계에 기초하여 기록 파워의 최적값을 구한다. 레이저 빔을 발생시키는 전기 신호의 기록 파형은 단시간에 하이 레벨과 로우 레벨로 반복 설정되는 소위 멀티펄스 형태를 취한다. 기록 파형을 이용하여 얻은 레이저 빔을 광디스크의 트랙에 인가하면 마크를 형성하게 된다. 데이터 콘텐츠는 트랙에 배치된 마크와 스페이스의 폭으로 표현된다.
멀티펄스 형태의 기록 파형의 제1 펄스와 최후 펄스간의 관계를 이용하는 기술로서는 일본 특허 공개 2000-149262호에 공개된 기술이 있다. 이 경우, 멀티펄스 형태의 기록 파형의 제1 펄스를 선두 펄스라고 부르고, 최후 펄스를 최종 펄스라고 부른다. 일본 특허 공개 2000-149262호에서는, 기록하여야 할 마크의 길이와 그 마크에 선행하는(또는 후속하는) 스페이스의 길이를 쌍으로 이용하여 기록 파형을 패턴 그룹으로 분류하여, 각 패턴 분류마다 선두 펄스(또는 최종 펄스)의 폭을 최적 화한다. 선두 펄스(또는 최종 펄스)의 폭을 변화하여 정보를 기록하고, 이 때 발생한 지터량을 측정한다. 지터량이란, 재생 신호가 레벨 슬라이서에 설정된 슬라이스 레벨을 통과할 때의 시간적인 변동이다. 선두 펄스(또는 최종 펄스)의 폭과 지터량간의 관계에 기초하여 선두 펄스(또는 최종 펄스)의 폭의 최적값을 구한다.
광디스크에 기록된 정보를 재생하는 시스템으로서는, 슬라이스 및 식별 방식 과, PRML(Partial Response and Maximum Likelihood) 식별 방식이 있다.
간단히 말하면, 슬라이스 및 식별 방식은 광디스크로부터 반사된 반사광을 픽업 헤드의 광전 변환기를 이용하여 전기 신호로 변환시킨다.
PRML 식별 방식은 다음과 같다. PRML 식별 방식에서는 기록/재생 특성에 대응하는 PR(Partial Response) 특성이 이용된다. 예로서 PR(1,2,2,2,1) 특성을 설명한다. PR(1,2,2,2,1) 특성이란, 부호 비트 "1"에 대응하는 재생 신호가 "12221"로 설정되는 특성을 나타낸다. 부호 비트 계열과 PR 특성을 나타내는 계열 "12221"과의 컨볼루션 연산에 의해서 재생 신호를 얻는다. 예컨대, 부호 비트 계열 "0100000000"에 대한 재생 신호는 "0122210000"으로 설정된다. 마찬가지로, 부호 비트 계열 "0110000000"의 재생 신호는 "0134431000"으로 설정되고, 부호 비트 계열 "0111000000"의 재생 신호는 "0135653100"로 설정되며, 부호 비트 계열 "0111100000"의 재생 신호는 "00135775310"로 설정되고, 부호 비트 계열 "0111110000"의 재생 신호는 "0135787531"로 설정된다. PR(1,2,2,2,1) 특성에서는 재생 신호는 9 레벨로 설정된다. 컨볼루션 연산에 의해 산출된 재생 신호는 이상적인 재생 신호(이하, 패스라고 부른다)이다. 그러나, 실제의 재생 신호는 반드시 PR(1,2,2,2,1) 특성으로 설정되는 것은 아니며, 또한, 재생 신호에는 잡음 등의 악화 요인도 포함된다. PRML 식별 방식에서는, 등화기를 이용하여, 재생 신호의 특징을 PR 특성에 가깝게 설정한다. PR 특성에 가깝게 설정된 특성을 갖는 재생 신호를 등화 재생 신호라고 부른다. 그 후, 비터비 복호기를 이용하여, 등화 재생 신호와의 유클리드 거리가 가장 짧은 패스를 선택한다. 패스와 부호 비트 계열은 1대1의 대응관계로 설정이다. 비터비 복호기는 선택한 패스에 대응하는 부호 비트 계열을 복호 바이너리 데이터로서 출력한다.
최근에, 광디스크의 밀도 증가로 인하여, 슬라이스 및 식별 방식 대신에 PRML 식별 방식을 더욱 자주 이용하고 있다.
PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에서는, 재생 신호는 바이너리(2치) 신호가 아니라, 3치 이상을 갖는 신호 또는 소위 다치(多値) 신호인 것을 가정하고 있다. 재생 신호의 진폭은 재생 신호의 최대값과 최소값간의 레벨의 차이다. 재생 신호 진폭의 측정값에 기초하여 기록 파형을 최적화하는 방법은 재생 신호가 2치(바이너리) 신호임을 전제로 한 방법이다. 즉, PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에 최적의 기록 파형과는 다르다.
PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에서는, 지터량을 작게 하는 것이 언제나 재생 신호의 품질을 향상시키는 것으로 직결되지는 않는다. 즉, 지터량의 측정값을 이용하여 기록 파형을 항상 최적화할 수는 없다.
비트 오류율의 측정시에 측정값은 광디스크의 국소 결함에 의해 크게 변동된다. 따라서, 비트 오류율의 측정값에 기초하여 기록 파형을 최적화하는 방법을 이 용하는 것으로는 비트 오류율 변동의 영향을 받기 때문에 기록 파형을 충분히 최적화할 수 없다. 또한, 비트 오류율을 측정하기 위해서는 매우 긴 부호 비트 계열을 광디스크에 기록/재생할 필요가 있다. 따라서, 비트 오류율의 측정값에 기초하여 기록 파형을 최적화하는 방법은 기록 파형의 최적화에 긴 시간을 필요로 한다.
본 발명의 실시예의 목적은 PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에서 최적의 기록 파형을 구하는 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에서 단시간에 기록 파형을 최적화하는 방법을 제공하는 것이다.
또한, 본 발명의 또 다른 목적은 PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에서 최적의 기록/재생 동작을 수행할 수 있는 광디스크 기록/재생 장치를 제공하는 것이다.
또한, 본 발명의 또 다른 목적은 PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에서 최적의 기록 파형을 이용하여 정보를 기록하는 광디스크를 제공하는 것이다.
상기 목적을 성취하기 위해서, 후술하는 일 실시예에서는, 제1 기록 파라미터 조정 방법에 따라서 제1 기록 파라미터를 결정하고, 제1 기록 파라미터를 이용하여 정보를 매체에 기록하며, 그 재생 신호로부터 신호 품질 평가 방법에 의해 신호 품질의 평가값을 구하여, 평가값이 미리 규정된 규정값을 만족하는 경우에는 기록 파라미터 조정 동작을 종료하고(예컨대 도 3의 단계 S1 내지 S4), 평가값이 미리 규정된 규정값을 만족하지 않는 경우에는 제2 기록 파라미터 조정 방법에 따라 서 제2 기록 파라미터를 결정하여, 제2 기록 파라미터를 이용하여 정보를 매체에 기록하고, 그 재생 신호로부터 신호 품질 평가 방법에 의해 신호 품질의 평가값을 구하여, 평가값이 미리 규정된 규정값을 만족하는 경우에는 기록 파라미터 조정을 종료하고, 평가값이 미리 규정된 규정값을 만족하지 않는 경우에는 경고를 발한다(예컨대 도 3의 단계 S5 내지 S6).
PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에서는 상기 광디스크 기록/재생 방법을 이용하여 광 기록 파라미터를 얻을 수 있다.
PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에서는 상기 광디스크 기록/재생 방법을 이용하여 단시간에 기록 파라미터를 얻을 수 있다.
또한, 광디스크 기록/재생 방법으로 구한 기록 파형을 이용하여 정보를 정확하게 기록/재생할 수 있는 광디스크 기록/재생 장치를 제공할 수 있다.
더욱이, 광디스크 기록/재생 방법으로 구한 기록 파형을 이용하여 정보를 정기록하여 정보가 정확하게 기록되는 광디스크를 제공할 수 있다.
실시예의 추가 목적 및 이점은 후술하는 상세한 설명에 개시될 것이며, 부분적으로는 상세한 설명으로부터 명백할 것이고, 또는 본 발명의 실시에 의해서 터득하게 될 수 있을 것이다. 본 발명의 목적 및 이점은 이하에서 특히 나타낸 도구 및 조합에 의해서 실현되고 획득될 수 있다.
명세서에 합체되어 일부를 구성하는 첨부 도면은 본 발명의 실시예를 나타내는 것이고, 전술한 일반적 설명과 후술하는 실시예의 상세한 설명과 함께 본 발명의 원리를 설명하는 역할을 한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명에 따른 광디스크 기록/재생 장치, 기록 방법 및 광디스크 매체의 실시예를 설명한다.
도 1은 광디스크 기록/재생 장치를 나타내는 블록도이다. 기록 바이너리 데이터는 런렝쓰(run length)가 "1"인 변조기(도시하지 않음)를 이용하여, 부호 비트 계열 중 "0" 또는 "1"이 적어도 2개 연속 발생하는 계열로 변환되고 있다. 기록 바이너리 데이터는 레이저 다이오드(LD) 드라이버(101)를 이용하여 컨트롤러(102)로부터 출력되는 기록 파라미터에 따라서 기록 파형으로 변환된다. 전기 신호의 기록 파형은 픽업 헤드(PUH)(103)에 의해서 광 신호로 변환된 후, 광디스크(100) 상에 공급된다. 광디스크(100) 상에서는 레이저광의 공급에 따라서 마크가 형성된다. 광디스크(100)에는 랜드&그루브 기록 방식의 광디스크를 이용한다.
재생 시에는 광디스크(100)에 기록된 정보는 PUH(103)를 이용하여 미약한 아날로그 신호로서 재생된다. 아날로그 신호는 전치증폭기(104)를 이용하여 충분히 높은 신호 레벨로 증폭된 후, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)(105)에 의해서 일정 주파수로 샘플링된 디지털 신호로 변환된다. 디지털 재생 신호는 위상 고정 루프(PLL)를 포함하는 등화기(106)에서 채널 클록에 동기한 신호로 변환되는 동시에, PR(1,2,2,2,1) 특성에 가까운 특성의 등화 재생 신호로 변환된다. 등화기(106)에서 이용하는 등화 계수는 채널 클록에 동기한 신호와 복호 바이너리 데이터로부터 구해진다.
그 후, 비터비 복호기(107)에서는 등화 재생 신호와의 유클리드 거리가 가장 작은 패스를 선택하여, 선택한 패스에 대응하는 부호 비트 계열을 복호 바이너리 데이터로서 출력한다.
등화 재생 신호와 복호 바이너리 데이터는 PRSNR(Partial Response Signal to Noise Ratio) 산출기(108)에 입력되어, 평가값 PRSNR이 측정된다. 또한, 등화 재생 신호와 복호 바이너리 데이터는 SbER(Simulated bit Error Rate) 산출기(109)에도 입력되어, 평가값 SbER이 측정된다. 또한, 등화 재생 신호와 복호 바이너리 데이터는 적응 제어값 산출기(110)에도 입력되어, 적응 제어값이 측정된다. 측정된 PRSNR, SbER과 적응 제어값은 컨트롤러(102)에 공급되어, 평가값이 평가된다. 또한, 기록 파라미터가 조정되고 산출된다. 또한, 제1 및 제2 기록 파라미터 조정 방법은 선택적으로 전환된다. 도면에 나타내지는 않았지만, 경보 신호를 필요에 따라서 경고 수단에 출력할 수도 있다.
또한, 후술하는 바와 같이, 기록 파라미터와 평가값간의 관계를 컨트롤러(102)에서 측정하고, 이 측정 결과에 기초하여 평가값의 최적값을 구하여, 평가값을 최적값으로 설정되게 하는 기록 파라미터를 조정값으로서 결정할 수 있다. 또한, 컨트롤러(102)에서는 기록 파라미터와 평가값간의 관계를 측정하고, 이 측정 결과에 기초하여 평가값의 최적값을 구하여, 이 최적값 이하인 소정의 값을 규정값으로 설정할 수 있다. 다음에, 이 규정값을 만족하는 기록 파라미터의 상한값과 하한값을 결정하여, 상한값과 하한값의 중간값을 기록 파라미터의 조정값으로 설정한다.
(기록 파형)
도 2는 기록 바이너리 데이터(a)와 기록 파형(b)의 구조를 보여준다. 기록 바이너리 데이터(도 2의 "a")의 하이 레벨에 대응하여, 마크가 광디스크 상에 형성된다. 기록 파형(b)은 가장 짧은 2T 마크의 기록시에는 단일의 펄스를 포함한다. 기록하는 마크가 길어짐에 따라서, 기록 파형(b)의 펄스수가 증가하게 된다. 기록 파라미터는 정보를 랜드 트랙에 기록하는 경우와 정보를 그루브 트랙에 기록하는 경우에 있어서 별개로 설정한다. 기록 파라미터를 표 1에 나타낸다.
랜드 트랙의 기록 파라미터 피크 파워, 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3, TSFP, TEFP, TMP, TSLP, TELP, TLC
그루브 트랙의 기록 파라미터 피크 파워, 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3, TSFP, TEFP, TMP, TSLP, TELP, TLC
시간축 방향의 기록 파라미터 중 TLC, TSFP, TELP는 적응 제어 파라미터이다. 즉, 마크 길이와 스페이스 길이를 2T, 3T, ≥4T(≥4T는 4T 이상의 의미)의 3 종류로 분류하여, 분류마다 별개의 파라미터를 설정한다. TLC의 경우에는 마크 길이마다 다른 값을 설정할 수 있다. 또한, TSFP의 경우에는 마크 길이와 그 마크에 선행하는 스페이스 길이마다 다른 값을 설정할 수 있다. 마찬가지로, TELP의 경우에는 마크 길이와 그 마크에 후속하는 스페이스 길이마다 다른 값을 설정할 수 있다. 적응 제어 파라미터를 표 2에 나타낸다.
랜드 트랙의 경우의 TLC 마크 길이
2T 3T ≥4T
a1 b1 c1
랜드 트랙의 경우의 TSFP 마크 길이
2T 3T ≥4T
선행하는 스페이스 길이 2T d1 e1 f1
3T g1 h1 i1
≥4T j1 k1 l1
랜드 트랙의 경우의 TELP 마크 길이
2T 3T ≥4T
후속하는 스페이스 길이 2T m1 n1 o1
3T p1 q1 r1
≥4T s1 t1 u1
그루브 트랙의 경우의 TLC 마크 길이
2T 3T ≥4T
ag bg cg
그루브 트랙의 경우의 TSFP 마크 길이
2T 3T ≥4T
선행하는 스페이스 길이 2T dg eg fg
3T gg hg ig
≥4T jg kg lg
그루브 트랙의 경우의 TELP 마크 길이
2T 3T ≥4T
후속하는 스페이스 길이 2T mg ng og
3T pg qg rg
≥4T sg tg ug
(기록 파라미터 조정 순서)
기록 파라미터의 조정 순서를 설명한다. 랜드 트랙용 기록 파라미터와 그루브 트랙용 기록 파라미터의 조정 순서는 동일하기 때문에, 여기서는 랜드 트랙용의 기록 파라미터 조정 순서만을 설명한다. 조정 순서의 개요를 도 3에서 보여준다.
(피크 파워와 바이어스 파워 1의 조정: 도 3의 단계 S1)
1. 피크 파워를 초기값 PP0으로 설정한다. PP0은 광디스크의 소정 위치에 미리 기록되어 있다. 대응하는 부분의 값을 재생하여, 얻어진 값을 설정한다. 마찬가지로, 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3을 초기값 PB10, PB20, PB30으로 설정한다. 초기값 PB10, PB20, PB30은 광디스크의 소정 위치에 미리 기록되어 있다. 마찬가지로, 시간축 파라미터 TSFP, TEFP, TMP, TSLP, TELP, TLC를 초기값으로 설정한다. 시간축 파라미터의 초기값은 광디스크의 소정 위치에 미리 기록되어 있다. 이 예에서는 피크 파워와 바이어스 파워 1을 변수로서 취급한다.
2. 어떤 트랙에 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한 후, 이 랜덤 데이터를 재생하여 등화 계수를 구한다. 이후의 순서에서는 이와 같이 구한 등화 계수를 이용한다.
3. 어떤 트랙에 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한다. 이 랜덤 데이터의 10회 연속 기록 동작은 피크 파워와 바이어스 파워 1을 조정할 때마다 실행된다. 피크 파워와 바이어스 파워 1을 조정할 때마다 PRSNR을 측정한다. PRSNR이 커지도록 피크 파워와 바이어스 파워 1을 조정한다. 조정 동작은 피크 파워와 바이어스 파워 1의 비율이 PP0과 PB10의 비율과 동일하게 설정되도록 실행된다.
4. 상기 순서 3에서 피크 파워와 PRSNR간의 관계를 구한다(도 4 참조).
5. PRSNR의 최대값을 구한다.
6. PRSNR의 최대값의 80% 이상으로 설정되는 피크 파워의 하한값 PP0L와 상한값 PP0U를 구한다.
7. 피크 파워의 조정값 PP1과, 바이어스 파워 1의 조정값 PB11을 다음식에 따라서 구한다.
PP1=(PP0L+PP0U)/2
PB11=(PB10/PP0)×PP1
상기 순서 5에서 구한 PRSNR의 최대값을 PP1로 하는 조정 방법을 이용하여도 좋다. 상기 순서 6에서는 규정값을 80% 이상으로 설정하였지만, 규정값은 이것에 한하지 않는다. PRSNR을 평가값으로 설정하였지만, SbER을 평가값으로 이용하여도 좋다. SbER을 평가값으로 하는 경우는 SbER값이 작아지도록 피크 파워와 바이어스 파워 1을 조정한다.
(TMP의 조정: 도 3의 단계 S2)
1. 피크 파워를 PP1로 설정한다. 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3을 PB11, PB20, PB30으로 설정한다. 시간축 파라미터 TSFP, TEFP, TMP, TSLP, TELP, TLC를 초기값으로 설정한다. 이 예에서는 TMP을 변수로서 취급한다.
2. 어떤 트랙에 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한다. 이 랜덤 데이터의 10회 연속 기록 동작은 TMP를 조정할 때마다 실행된다. TMP를 조정할 때마다 PRSNR을 측정한다. PRSNR이 커지도록 TMP를 조정한다.
3. 상기 순서 2에서 TMP와 PRSNR간의 관계를 구한다(도 5 참조).
4. PRSNR의 최대값을 구한다.
5. PRSNR의 최대값의 80% 이상으로 설정되는 TMP의 하한값 TMPL과 상한값 TMPU를 구한다.
6. TMP의 조정값 TMP(cal)를 다음의 식에 따라서 구한다.
TMP(cal)=(TMPL+TMPU)/2
상기 순서 4에서 구한 PRSNR의 최대값을 TMP(cal)로 하는 조정 방법을 이용하여도 좋다. 상기 순서 5에서는 규정값을 80% 이상으로 설정하였지만, 규정값은 이것에 한하지 않는다. PRSNR을 평가값으로 하였지만, SbER을 평가값으로 이용하여도 좋다. SbER을 평가값으로 하는 경우는 SbER값이 작아지도록 TMP를 조정한다.
(2T 마크용 TSFP와 3T 마크용 TSFP의 조정: 도 3의 단계 S3)
1. 피크 파워를 PP1로 설정한다. 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3을 PB11, PB20, PB30으로 설정한다. TMP를 TMP(cal)로 설정한다. 그 밖의 시간축 파라미터 TSFP, TEFP, TSLP, TELP, TLC를 초기값으로 설정한다. 이 예에서는 2T 마크용 TSFP와 3T 마크용 TSFP를 변수로서 취급한다. 2T 마크용 TSFP는 표 2에서는 d1, g1, j1로 나타내어지고 있다. 마찬가지로, 3T 마크용 TSFP는 표 2에서는 e1, h1, k1로 나타내어지고 있다.
2. 어떤 트랙에 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한다. 이 랜덤 데이터의 10회 연속 기록 동작은 2T 마크용 TSFP를 조정할 때마다 실행된다. TSFP를 조정할 때마다 PRSNR을 측정한다. PRSNR이 커지도록 TSFP를 조정한다.
3. 상기 순서 2에서 TSFP와 PRSNR간의 관계를 구한다(도 6 참조).
4. PRSNR의 최대값을 구한다.
5. PRSNR의 최대값의 80% 이상으로 설정되는 2T 마크용 TSFP의 하한값 TSFP2TL과 상한값 TSFP2TU를 구한다.
6. 2T 마크용 TSFP의 조정값 TSFP2T를 다음의 식에 따라서 구한다.
TSFP2T=(TSFP2TL+TSFP2TU)/2
7. 어떤 트랙에 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한다. 이 랜덤 데이터의 10회 연속 기록 동작은 3T 마크용 TSFP를 조정할 때마다 실행된다. TSFP를 조정할 때마다 PRSNR을 측정한다. PRSNR이 커지도록 TSFP를 조정한다.
8. 상기 순서 7에서 TSFP와 PRSNR간의 관계를 구한다(도 7 참조).
9. PRSNR의 최대값을 구한다.
10. PRSNR의 최대값의 80% 이상으로 설정되는 3T 마크용 TSFP의 하한값 TSFP3TL와 상한값 TSFP3TU를 구한다.
11. 3T 마크용 TSFP의 조정값 TSFP3T를 다음의 식에 따라서 구한다.
TSFP3T=(TSFP3TL+TSFP3TU)/2
상기 순서 4에서 구한 PRSNR의 최대값을 TSFP2T로 설정하고 9의 순서에서 구한 PRSNR의 최대값을 TSFP3T로 설정하는 조정 방법을 이용하여도 좋다. 상기 순서 5 및 10에서는 규정값을 80% 이상으로 설정하였지만, 규정값은 이것에 한하지 않는다. PRSNR을 평가값으로 하였지만, SbER을 평가값으로 이용하여도 좋다. SbER을 평가값으로 하는 경우는 SbER값을 작아지도록 TSFP 조정한다.
(PRSNR과 SbER이 규정 기준값을 만족하고 있는지의 판단: 도 3의 단계 S4)
1. 피크 파워를 PP1로 설정한다. 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3을 PB11, PB20, PB30으로 설정한다. TMP를 TMP(cal)로 설정한다. 2T 마크용 TSFP를 TSFP2T로 설정한다. 3T 마크용 TSFP를 TSFP3T로 설정한다. 그 밖의 시간축 파라미터 TSFP, TEFP, TSLP, TELP, TLC를 초기값으로 설정한다.
2. 5 개의 인접한 트랙에 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한다.
3. 상기 순서 2에서 이용한 트랙 중 중앙의 트랙에 기록된 데이터를 재생하여 등화 계수를 구한다. 이후의 순서에서는 이와 같이 구한 등화 계수를 이용한다.
4. PRSNR과 SbER을 측정한다.
5. 만일 PRSNR이 15.0 이상으로 설정되고 SbER이 5.0×10-5 이하로 설정되면, 상기 순서 1에서 설정한 기록 파라미터를 조정후에 얻은 파라미터로서 이용한 후, 기록 파라미터 조정 순서를 종료한다. 만일 PRSNR이 15.0 미만이거나, 또는 SbER이 5.0×10-5보다 크면, 다음에 설명하는 적응 제어 파라미터 조정 순서를 실시한다.
상기 순서 5에서 PRSNR이 15.0 이상으로 설정되고 SbER이 5.0×10-5 이하로 설정되었지만, 본 발명은 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, PRSNR은 13.0 이상으로 설정되어도 좋고, SbER은 1.5×10-4 이하로 설정되어도 좋다.
(적응 제어 파라미터 TSFP, TELP의 조정: 도 3의 단계 S5)
1. 피크 파워를 PP1로 설정한다. 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3을 초기값 PB11, PB20, PB30으로 설정한다. TMP를 TMP(cal)로 설정한다. 2T 마크용 TSFP를 TSFP2T로 설정한다. 3T 마크용 TSFP를 TSFP3T로 설정한다. 그 밖의 시간축 파라미터 TSFP, TEFP, TSLP, TELP, TLC를 초기값으로 설정한다. 이 예에서는 마크 길이와 스페이스 길이에 의해서 분류된 각각 9 종류의 TSFP, TELP가, 즉, 표 2의 d1, e1, f1, g1, h1, i1, j1, k1, l1, m1, n1, o1, p1, q1, r1, s1, t1, u1이 독립적으로 조정된다.
2. 어떤 트랙에 928512 채널 비트 이상인 길이의 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한다. 이 랜덤 데이터의 10회 연속 기록 동작은 TSFP, TELP를 조정할 때마다 실행된다.
3. 적응 제어값을 측정한다. 적응 제어값은 각각 9 종류의 TSFP, TELP마다 산출되고, 그 값은 +1, 0, -1 중 어느 하나로 설정된다.
4. 어떤 TSFP(TELP)에 대한 적응 제어값이 +1이면, TSFP(TELP)를 ΔT 시간분 감소(증가)시킨다. 어떤 TSFP(TELP)에 대한 적응 제어값이 -1이면, TSFP(TELP)를 ΔT 시간분 증가(감소)시킨다. 이 예에서 ΔT는 T/32이다.
5. 상기 순서 2 내지 4는 모든 적응 제어값이 0으로 설정될 때까지 반복 실행된다. 모든 적응 제어값이 0으로 설정되면, 이 때 얻은 TSFP를 TSFP(cal)로 설정하고 TELP를 TELP(cal)로 설정한다.
상기 예에서는 적응 제어값이 전부 0으로 설정될 때까지 순서들을 반복 실행하는 것으로 하였지만, 본 발명은 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, 제어값의 80% 이상이 0으로 설정될 때까지 상기 순서들을 반복 실행하는 것으로 하여도 좋다. 이와 달리, 제어값이 가능한 한 0으로 설정될 때까지 상기 순서들을 반복 실행하는 것으로 하여도 좋다. 또는, 반복 횟수를 미리 규정해 두고, 규정 횟수만큼 상기 순서들을 반복 실행하는 것으로 하여도 좋다.
적응 제어값을 [-1, 0, +1]의 3종류 중 하나로 설정하였지만, 본 발명은 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, 적응 제어값을 [-2, -1, 0, +1, +2]의 5종류 중 하나로 설정하는 것으로 하여도 좋다.
또한, ΔT를 T/32로 설정하였지만, 이것에 한하지 않고, 예컨대, ΔT를 T/16으로 설정하는 것으로 하여도 좋다.
(도 3의 데이터 처리 흐름의 전반과 후반의 특징)
전반은 제1 기록 파라미터 조정 방법으로서, 기록 데이터 비트 스트링과는 별개인 조정 방법과 기록 데이터 비트 스트링의 부호 비트가 "1"인 런렝쓰(연속 길이)에 종속하는 조정 방법 중 하나 또는 모두이다. 후반은 제2 기록 파라미터 조정 방법으로서, 기록 데이터 비트 스트링의 부호 비트가 "1"인 런렝쓰와 그에 인접하는 부호 비트가 "0"인 런렝쓰에 종속하는 조정 방법이다.
(광디스크가 부적합한지 여부의 판단)
1. 피크 파워를 PP1로 설정한다. 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3을 PB11, PB20, PB30으로 설정한다. TMP, TSFP, TELP를 TMP(cal), TSFP(cal), TELP(cal)로 설정한다. 그 밖의 시간축 파라미터 TEFP, TELP, TLC를 초기값으로 설정한다.
2. 5 개의 인접한 트랙에 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한다.
3. 상기 순서 2에서 이용하는 트랙 중 중앙의 트랙에 기록된 데이터를 재생하여 등화 계수를 구한다. 이후의 순서에서는 이와 같이 구한 등화 계수를 이용한다.
4. PRSNR과 SbER을 측정한다.
5. 만일 PRSNR이 15.0 이상으로 설정되고 SbER이 5.0×10-5 이하로 설정되면, 상기 순서 1에서 설정한 기록 파라미터를 조정후에 얻은 파라미터로서 이용한 후, 기록 파라미터 조정 순서를 종료한다. 만일 PRSNR이 15.0 미만이거나, 또는 SbER이 5.0×10-5보다 크면, 광디스크를 부적합 광디스크로 판정하여 광디스크를 배출한다.
상기 순서 5에서는 PRSNR이 15.0 이상으로 설정되고 SbER이 5.0×10-5 이하로 설정된 것으로 하였지만, 본 발명은 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, PRSNR이 13.0 이상으로 설정되거나, SbER이 1.5×10-4 이하로 설정되어도 좋다.
(PRSNR의 설명)
기록 파라미터의 산출에 이용하는 PRSNR을 설명한다. 비터비 복호 프로세스에서 검출 오류가 일어나기 쉬운 것은 패스 사이의 유클리드 거리가 짧은 경우이다. 상이한 패스들 사이의 유클리드 거리(d)는 d2=Σεi2로 정의된다. 이 예에서, 한 쪽의 패스에 대응하는 부호 비트 계열 bk로 정해지는 다항식을 B(D)=ΣbkDk로 설정하고, 다른 쪽의 패스에 대응하는 부호 비트 계열 ck(bk, ck은 0 또는 1로 설정)로 정해지는 다항식을 C(D)=ΣckDk로 설정하며, 부분 응답을 규정하는 다항식을 H(D)=ΣhkDk로 설정하여, N(D)=(B(D)-C(D))*H(D)=ΣεiDi로 된다. 이 예에서, D는 채널 클록 시간을 단위로 하는 시간 지연 연산자를 나타내고, hk는 소정의 부분 응답특성을 나타내며, 여기서는, h0=1, h1=2, h2=2, h3=2, h4=1, h5 이후는 전부 0으로 설정된다. 또한, 부호 *는 컨볼루션 연산의 연산자를 나타낸다. 패스들 사이의 유클리드 거리는 PRML 식별 방식을 채용한 시스템에 있어서의 신호 성분에 상당한다.
PR(1,2,2,2,1) 특성과 최소 런렝쓰 1의 기록 바이너리 데이터를 조합한 시스템에 있어서, 패스들 사이의 유클리드 거리가 작은 εi와 d2는 표 3에 나타낸 바와 같이 얻어진다.
패턴 εi d2
1 12221 14
2 1210-1-2-1 12
3 121000121 12
4 12100000-1-2-1 12
5 1210000000-1-2-1 12
6 121000000000121 12
등화 재생 신호 yk로 정해지는 다항식 Y(D)=ΣykDk와, 복호 바이너리 데이터 ak로 정해지는 다항식 A(D)=ΣakDk에 대응하는 패스 P(D)=A(D)*H(D)간의 차분 P(D)·Y(D)=ΣvkDk는 등화 오차라고 불린다. 등화 오차가 패턴 1에 주는 영향은 다음과 같이 나타낼 수 있다.
Σ(vk+2vk+1+2vk+2+2vk+3+vk+4)2=N*(14R0+24R1+16R2+8R3+2R4)(R1은 Σvkvk+i/N으로 정의)
또한, 이 영향은 패턴 1에 대한 잡음 성분에 상당한다. 마찬가지로, 등화 오차가 패턴 2, 3에 주는 영향은 다음과 같이 나타낼 수 있다.
Σ(vk+2vk+1+vk+2-vk+4-2vk+3-vk+4)2=N*(12R0+16R1+2R2-8R3-12R4-8R5-2R6)
Σ(vk+2vk+1+vk+2+vk+6+2vk+7+vk+8)2=N*(12R0+16R1+4R2+2R4+8R5+12R6+8R7+2R8)
또한, 이 영향은 각각 패턴 2, 3에 대한 잡음 성분에 상당한다.
따라서, 패턴 1의 신호대잡음비(S1)는 다음의 수학식 1로 주어진다.
Figure 112005027162041-PAT00001
마찬가지로, 패턴 2, 3의 신호대잡음비(S2, S3)는 다음의 수학식 2 및 3으로 표현될 수 있다.
Figure 112005027162041-PAT00002
Figure 112005027162041-PAT00003
신호대잡음비가 낮을수록 재생 신호의 품질이 열악하다. S1, S2, S3 중 가장 낮은 값을 PRSNR로 이용한다.
도 8에 PRSNR 산출기(108)의 구체적인 내부 블록도를 보여준다. PRSNR이 높을수록 신호 품질이 양호하기 때문에, PRSNR이 높아지도록 기록 파라미터를 조정하면 좋다.
패턴 4, 5, 6의 신호대잡음비도 같은 식으로 구할 수 있다. 따라서, 패턴 1 내지 6의 신호대잡음비를 구하여, 그 최소값을 PRSNR로 이용할 수도 있다. 그러나, 일반적으로 패턴 4, 5, 6의 발생 확률은 패턴 1, 2, 3의 발생 확률보다 낮다. 측정을 용이하게 하기 위해 본 실시예에서는 패턴 1, 2, 3에 기초하여 PRSNR을 구한다. 또한, 패스들 사이의 유클리드 거리가 보다 큰 패턴의 신호대잡음비도 같은 식으로 구할 수 있다. 보다 정확하게 신호 품질을 평가하기 위해서, 이들 패턴에 대한 신호대잡음비와 함께 PRSNR을 구할 수도 있다.
도 8에서, 참조 번호 301은 PR 파형과 복호 바이너리 데이터를 이용하여 목표 신호를 생성하는 목표 신호 발생기이다. 참조 번호 302는 목표 신호를 등화 재생 신호와 비교하여 등화 오차를 얻는 비교기이다. 등화 오차를 이용하여, 상술한 연산 처리가 실행된다. 등화 오차의 자기상관이 계산되어, βi를 이용하여 승산기에 의해서 가중처리된다. 이와 같이 하여, 각 상관값의 합이 구해진다.
(SbER의 설명)
다음에, 기록 파라미터의 산출에 이용하는 SbER을 설명한다. PRML 식별 방식에 있어서, 어떤 기록 바이너리 패턴(T)이 별도의 바이너리 패턴(F)으로 오식별될 확률을 고려한다. 패턴(T)이 패턴(F)으로 오식별되는 조건은 등화 재생 신호를 S로 하고 패턴(T, F)의 패스를 각각 PT, PF로 했을 때(도 9 참조) 다음의 수학식 4로 표현된다.
Figure 112005027162041-PAT00004
다만, EPF,S는 패스 PF와 재생 신호 S간의 유클리드 거리이고, EPT,S는 패스 PT와 재생 신호 S간의 유클리드 거리이다. 신호 P1과 신호 P2간의 유클리드 거리는 다음의 수학식 5로 주어진다.
Figure 112005027162041-PAT00005
T를 F로 오식별할 확률은 누적한 D값의 분포(도 10 참조)를 정규 분포로 나타내고 그의 평균값과 표준 편차값을 를 각각 μ와 σ로 설정하면, 다음의 수학식 6으로 표현될 수 있다.
Figure 112005027162041-PAT00006
표 4에 나타내는 바와 같이 오류가 발생하기 쉬운 패턴쌍(T, F)에 대하여 F(0)를 구함으로써 bER(비트 에러)의 추정값 SbER를 다음의 수학식 7로 구할 수 있다.
Figure 112005027162041-PAT00007
다만, CT는 패턴(T)의 발생 확률이고, HT,F는 허밍 거리이다.
도 11은 SbER 산출기(109)의 구체적인 내부 블록도이다. 복호 바이너리 데이터는 패턴 비교기(401)에 입력된다. 패턴 비교기(401)는 참조 테이블(402)에 기록되어 있는 패턴을 복호 바이너리 데이터와 비교하여, 오식별되기 쉬운 패턴을 검출한다. 검출된 패턴은 연산기(403)에 입력된다. 재생 신호는 레지스터(404)를 통해 연산기(403)에 입력된다. 이에 따라 상기 식에서 나타낸 연산이 실행되어 SbER을 얻을 수 있다.
패턴 T(F) 패턴 F(T) HT,F
1 001110000 001100000 1
2 011110000 011100000 1
3 111110000 111100000 1
4 001110001 001100001 1
5 011110001 011100001 1
6 111110001 111100001 1
7 001110011 001100011 1
8 011110011 011100011 1
9 111110011 111100011 1
10 000011100 000001100 1
11 000011110 000001110 1
12 000011111 000001111 1
13 100011100 100001100 1
14 100011110 100001110 1
15 100011111 100001111 1
16 110011100 110001100 1
17 110011110 110001110 1
18 110011111 110001111 1
19 00111001100 00110011100 2
20 01111001100 01110011100 2
21 11111001100 11110011100 2
22 00111001110 00110011110 2
23 01111001110 01110011110 2
24 11111001110 11110011110 2
25 00111001111 00110011111 2
26 01111001111 01110011111 2
27 11111001111 11110011111 2
28 00001100000 00000110000 2
29 10001100000 10000110000 2
30 11001100000 11000110000 2
패턴 T(F) 패턴 F(T) HT,F
31 00001100001 00000110001 2
32 10001100001 10000110001 2
33 11001100001 11000110001 2
34 00001100011 00000110011 2
35 10001100011 10000110011 2
36 11001100011 11000110011 2
37 0011100110000 0011001100000 3
38 0111100110000 0111001100000 3
39 1111100110000 1111001100000 3
40 0011100110001 0011001100001 3
41 0111100110001 0111001100001 3
42 1111100110001 1111001100001 3
43 0011100110011 0011001100011 3
44 0111100110011 0111001100011 3
45 1111100110011 1111001100011 3
46 0000110011100 0000011001100 3
47 1000110011100 1000011001100 3
48 1100110011100 1100011001100 3
49 0000110011110 0000011001110 3
50 1000110011110 1000011001110 3
51 1100110011110 1100011001110 3
52 0000110011111 0000011001111 3
53 1000110011111 1000011001111 3
54 1100110011111 1100011001111 3
(적응 제어값의 설명)
도 12는 적응 제어값 산출기(110)의 내부 블록도이다. 패턴 판별기(501) 내부에는 미리 설정된 수종류의 패턴(패턴 1)이 등록되어 있고, 복호 바이너리 데이터가 등록 패턴과 일치한 경우에는 등록된 어떤 패턴을 나타내는 신호를 출력한다. 패턴 메모리(502)에서는 패턴 판별기로부터의 신호에 따라서, 내부에 등록된 3종류의 패턴(패턴 1, 패턴 2, 패턴 3)을 출력한다. 이상 신호 산출기(511, 512, 513)에서는 출력 패턴에 기초하여 PR(1,2,2,2,1) 특성에 대응하는 패스가 작성된다. 거리 계산기(521, 522, 523)에서는 패스와 등화 재생 신호간의 유클리드 거리가 계산된다(각각, E1, E2, E3으로 설정됨). 유클리드 거리 E2와 E1간의 차 및 유클리드 거리 E3과 E1간의 차가 차분 산출기(531, 532)에서 계산되어, 거리차 메모리(541, 542)에 저장된다. 상기 차를 거리차 메모리의 어디에 저장할지는 패턴 판별기의 출력 신호에 의존한다. 소정량의 데이터가 기록/재생된 시점에서, 파라미터 산출 수단(550)은 거리차 메모리에 저장된 데이터로부터 적응 제어값을 산출한다.
본 실시예에서는, 마크와 스페이스의 길이를 2T/3T/≥4T의 3종류로 나눠, 마크와 스페이스에 대하여 패턴마다 적응 제어값을 산출한다. 표 5에서는 패턴 메모리에 저장되는 패턴 1, 패턴 2, 패턴 3의 내용을 보여준다. 표 5의 제1 열과 제2 열은 표 2의 적응 제어 파라미터에 대응하고 있다. 예컨대, 표 5의 제2 행은 2T 스페이스/2T 마크 기록용의 적응 제어값을 구하는데 이용되는 패턴을 보여주고 있다. 패턴 2는 패턴 1 중에 출현하는 부호 비트 스트링 "10"(또는 "01")에 대응하는 부분을 "00"(또는 "11")으로 변경하여 얻어지는 것이다. 또한, 패턴 3은 패턴 1의 중앙에 출현하는 부호 비트 스트링 "10"(또는 "01")에 대응하는 부분을 "11"(또는 "00")로 변경하여 얻어지는 것이다.
랜드 트랙에 대한 TSFP, TELP 랜드 트랙에 대한 TSFP, TELP 패턴 2 패턴 1 패턴 3
Dl dg ?110011100? ?11001100? ?11000100?
gl gg 110011100? 110001100? 110000100?
jl jg ?00011100? ?00001100? ?00000100?
el eg ?110111100 ?110011100 ?110001100
hl hg 1100111100 1100011100 1100001100
kl kg ?000111100 ?000011100 ?000001100
fl fg ?110111110 ?110011110 ?110001110
il ig 1100111110 1100011110 1100001110
ll lg ?00011111? ?00001111? ?00000111?
ml mg ?00100011? ?00110011? ?00111011?
pl pg ?00100001? ?00110001? ?00111001?
sl sg ?00100000? ?00110000? ?00111000?
nl ng 001100011? 001110011? 001111011?
ql qg 0011000011 0011100011 0011110011
랜드 트랙에 대한 TSFP, TELP 랜드 트랙에 대한 TSFP, TELP 패턴 2 패턴 1 패턴 3
tl tg ?01100000? ?01110000? ?01111000?
ol og ?11100011? ?11110011? ?11111011?
rl rg ?111000011 ?111100011 ?111110011
ul ug ?11100000? ?11110000? ?11111000?
표 5에서 "?"는 부호 비트 "0" 또는 "1"을 나타낸다. 패턴 1의 "?"가 "0"("1")이면, 패턴 2, 3의 각각에 대응하는 부분의 "?"도 "0"("1")이다. 예컨대, 표 5의 제2 행은 표 6과 같이 확장된다.
dl dg 0110111000 0110111001 1110111000 1110111001 0110011000 0110011001 1110011000 1110011001 0110001000 0110001001 1110001000 111001001
도 13, 도 14a, 도 14b, 도 15는 본 발명의 적응 제어값 산출 연산의 기본 개념을 보여준다. 예컨대, 패턴 판별기에 의해 선택된 패턴 1, 2, 3이 도 13의 상부에 나타내어지는 바와 같은 "0", "1"의 배열을 갖는 경우를 고려한다. 패턴 1, 2, 3에 기초하여 산출되는 패스는 각각 도 13의 하부에 나타내어지는 파형을 갖는다. 도 13에서 나타내어지는 패턴 1, 2, 3의 패스를 각각 P1(t), P2(t), P2(t)로 설정하고, 재생 신호를 Y(t)로 설정한다. 다음에, P1(t), P2(t), P3(t)와 Y(t)간의 유클리드 거리 E1, E2, E3은 아래의 식과 같이 표현될 수 있다.
E1=Σ{Y(t)-P1(t)}2
E2=Σ{Y(t)-P2(t)}2
E3=Σ{Y(t)-P3(t)}2
패턴 1을 기록했음에도 불구하고 식별 결과가 패턴 E2를 나타내게 되는 조건은 아래의 식과 같다.
E1>E2
마찬가지로, 패턴 1을 기록했음에도 불구하고 식별 결과가 패턴 E3을 나타내게 되는 조건은 아래의 식과 같다.
E1>E3
이 예에서, 아래의 식과 같은 관계를 고려한다.
D2=E2-E1
D3=E3-E1
D2, D3의 분포는 도 14a, 도 14b와 같이 나타내어진다. 도 14a, 도 14b에 있어서, 분포가 "0" 이하로 되는 영역이 식별 에러에 대응한다. 도 14a에서는 분포가 "0" 이하일 때 패턴 2가 선택된다. 또한, 도 14b에서는 분포가 "0" 이하일 때 패턴 3이 선택된다. D2, D3의 평균값을 각각 M2, M3으로 설정하고 표준편차를 각각 σ2, σ3으로 설정하면, 패턴 1을 기록했을 때에, 식별 결과가 패턴 2로 설정되지 않도록 하기 위한 마진 Mgn2는 다음과 같이 얻어진다.
Mgn2=M2/σ2
마찬가지로, 패턴 1을 기록했을 때에, 식별 결과가 패턴 3으로 설정되지 않도록 하기 위한 마진 Mgn3은 다음과 같이 얻어진다.
Mgn3=M3/σ3
이 예에서, 패턴 1을 기록했을 때에, 식별 결과가 패턴 2로 되는 사상(事象)과, 식별 결과가 패턴 3으로 되는 사상은 상반되는 사상이라고 생각된다. 도 15는 D2와 -D3의 분포를 보여주고 있다. 횡축 상에 어느 값(Ec)을 두어, 분포 D2 및 -D3의 Ec까지의 마진 Mgn2', Mgn3'은 다음과 같이 표현될 수 있다.
Mgn2'=(M2-Ec)/σ2
Mgn3'=(M3+Ec)/σ3
Mgn2'=Mgn3'인 관계가 설정되는 때에는 Ec에 관한 답은 다음과 같이 얻어진다.
Ec=(σ3*M2-σ2*M3)/(σ2+σ3)
이것은 Ec분만큼 분포 전체가 이동하면, 패턴 1을 기록했을 때에, 식별 결과가 패턴 2로 될 확률과 식별 결과가 패턴 3으로 될 확률이 같아지는 것은 의미한다. 이것은 가장 오류가 생기기 어려운 경우에 대응한다. 즉, Ec에 대응하는 기록 파형을 제어함으로써 양호한 기록 동작을 실행할 수 있다. Ec의 부호는 마크를 크게 하는지 작게 하는지에 대응하고, Ec의 절대값은 마크 사이즈의 변화량에 대응한다.
Ec의 단위는 유클리드 거리이다. 적응 제어 파라미터 TSFP, TELP의 단위는 시간이다. 유클리드 거리를 시간으로 변환하는 것은 어렵다.
따라서, Ec에 기초하여 다음과 같이 적응 제어 파라미터를 조정하면 좋다. "0" 근방에 불감대(dead zone)를 설정하여, Ec가 불감대 내에 있으면, 적응 제어값을 "0"으로 설정한다. Ec가 불감대보다도 크면, 적응 제어값을 +1로 설정한다. 반대로, Ec가 불감대보다도 작으면, 적응 제어값을 -1로 설정한다. 적응 제어값[-1, 0, +1]에 따라서 적응 제어 파라미터 TSFP, TELP를 ΔT(=T/32)씩 증가 또는 감소시킨다. 적응 제어 파라미터 TSFP, TELP를 ΔT씩 증가 또는 감소시킨 후, 다시 기록/재생하여 적응 제어값을 구한다. 적응 제어값이 전부 "0"으로 될 때까지 상기 조작을 반복 실행한다.
상기 예에서는 적응 제어값이 전부 "0"으로 될 때까지 상기 조작을 반복 실행하였지만, 본 발명은 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, 적응 제어값의 80% 이상이 "0"으로 될 때까지 상기 조작을 반복 실행하여도 좋다. 이와 달리, 적응 제어값이 대략 "0"으로 될 때까지 상기 조작을 반복 실행하여도 좋다. 또한, 반복 횟수를 미리 규정해 두고서, 규정 횟수만큼 상기 조작을 반복 실행하여도 좋다.
적응 제어값을 [-1, 0, +1]의 3종류로 설정하였지만, 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, 적응 제어값을 [-2, -1, 0, +1, +2]의 5종류로 설정하여도 좋다. 또한, ΔT를 T/32로 설정하였지만, ΔT는 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, ΔT를 T/16으로 설정하여도 좋다.
(제2 기록 파라미터 조정 순서)
본 발명의 제2 기록 파라미터의 조정 순서를 설명한다. 한편, 랜드 트랙용 기록 파라미터와 그루브 트랙용 기록 파라미터의 조정 순서는 동일하기 때문에, 여기서는 랜드 트랙용 기록 파라미터 조정 순서만을 설명한다. 조정 순서의 개요를 도 16에 나타낸다.
(피크 파워와 바이어스 파워 1의 조정: 도 16의 단계 SA1)
1. 피크 파워를 초기값 PP0으로 설정한다. PP0은 광디스크의 소정 위치에 미리 기록되어 있다. 대응하는 위치의 데이터를 재생하여, 재생값을 설정한다. 마찬가지로, 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3을 초기값 PB10, PB20, PB30으로 설정한다. PB10, PB20, PB30은 광디스크의 소정 위치에 미리 기록되어 있다. 마찬가지로, 시간축 파라미터 TSFP, TEFP, TMP, TSLP, TELP, TLC를 초기값으로 설정한다. 다만, TSFP, TEFP는 표 2에 나타내어지는 각각 9개의 값으로 설정된다. 마찬가지로, TLC는 표 2에 나타내어지는 3개의 값으로 설정된다. 시간축 파라미터의 초기값은 광디스크의 소정 위치에 미리 기록되어 있다. 이 예에서는 피크 파워와 바이어스 파워 1을 변수로서 취급한다.
2. 어떤 트랙에 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한 후, 이 랜덤 데이터를 재생하여 등화 계수를 구한다. 후속하는 순서에서는 이와 같이 구한 등화 계수를 이용한다.
3. 어떤 트랙에 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한다. 이 랜덤 데이터의 10회 연속 기록 동작은 피크 파워와 바이어스 파워 1을 조정할 때마다 실행된다. 피크 파워와 바이어스 파워 1을 조정할 때마다 PRSNR을 측정한다. PRSNR이 커지도록 피크 파워와 바이어스 파워 1을 조정한다. 조정 동작은 피크 파워와 바이어스 파워 1의 비율이 PP0과 PB10의 비율과 동일해지도록 실행된다.
4. 상기 순서3에서 피크 파워와 PRSNR간의 관계를 구한다(도 4 참조).
5. PRSNR의 최대값을 구한다.
6. PRSNR의 최대값의 80% 이상으로 설정되는 피크 파워의 하한값 PP0L과 상한값 PP0U를 구한다.
7. 피크 파워의 조정값 PP1과 바이어스 파워 1의 조정값 PB11을 다음의 식에 따라서 구한다.
PP1=(PP0L+PP0U)/2
PB11=(PB10/PP0)×PP1
상기 순서 5에서 구한 PRSNR의 최대값을 PP1로 설정하는 조정 방법을 이용하여도 좋다. 상기 순서 6에서는 규정값을 80% 이상으로 설정하였지만, 규정값은 이 값에 한하지 않는다. 또한, PRSNR을 평가값으로서 설정하였지만, SbER을 평가값으로서 이용하여도 좋다. SbER을 평가값으로 이용하는 경우는 SbER값이 작아지도록 피크 파워와 바이어스 파워 1을 조정한다.
(TMP의 조정: 도 16의 단계 SA2)
1. 피크 파워를 PP1로 설정한다. 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3을 PB11, PB20, PB30으로 설정한다. 시간축 파라미터 TSFP, TEFP, TMP, TSLP, TELP, TLC를 초기값으로 설정한다. 이 예에서는 TMP를 변수로서 취급한다.
2. 어떤 트랙에 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한다. 이 랜덤 데이터의 10회 연속 기록 동작은 TMP를 조정할 때마다 실행된다. TMP를 조정할 때마다 PRSNR을 측정한다. PRSNR이 커지도록 TMP를 조정한다.
3. 상기 순서 2에서 TMP와 PRSNR간의 관계를 구한다(도 5 참조).
4. PRSNR의 최대값을 구한다.
5. PRSNR의 최대값의 80% 이상으로 설정되는 TMP의 하한값 TMPL과 상한값 TMPU를 구한다.
6. TMP의 조정값 TMP(cal)를 다음의 식에 따라서 구한다.
TMP(cal)=(TMPL+TMPU)/2
상기 순서 4에서 구한 PRSNR의 최대값을 TMP(cal)로 설정하는 조정 방법을 이용하여도 좋다. 상기 순서 5에서는 규정값을 80% 이상으로 설정하였지만, 규정값은 이 값에 한하지 않는다. 또한, PRSNR을 평가값으로서 설정하였지만, SbER을 평가값으로서 이용하여도 좋다. SbER을 평가값으로서 이용하는 경우는 SbER값이 작아지도록 TMP를 조정한다.
(PRSNR와 SbER이 규정 기준값을 만족하고 있는지의 판단: 도 16의 단계 SA3)
1. 피크 파워를 PP1로 설정한다. 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3을 PB11, PB20, PB30으로 설정한다. TMP를 TMP(cal)로 설정한다. 그 밖의 시간축 파라미터 TSFP, TEFP, TSLP, TELP, TLC를 초기값으로 설정한다.
2. 어떤 5 개의 인접한 트랙에 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한다.
3. 상기 순서 2에 이용된 트랙들 중 중앙의 트랙에 기록된 데이터를 재생하여, 등화 계수를 구한다. 후속하는 순서에서는 이와 같이 구한 등화 계수를 이용한다.
4. PRSNR와 SbER을 측정한다.
5. 만일 PRSNR이 15.0 이상으로 설정되고 SbER이 5.0×10-5 이하로 설정되면, 상기 순서 1에서 설정한 기록 파라미터를 조정후에 얻은 파라미터로서 이용하고, 기록 파라미터 조정 순서를 종료한다. 만일 PRSNR이 15.0 미만이고, 또는 SbER이 5.0×10-5보다도 크면, 다음에 설명하는 적응 제어 파라미터 조정 순서를 실행한다.
상기 순서 5에서는 PRSNR이 15.0 이상으로 설정되고 SbER이 5.0×10-5 이하로 설정되었지만, 본 발명은 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, PRSNR이 13.0 이상으로 설정되거나, SbER이 1.5×10-4 이하로 설정되어도 좋다.
(적응 제어 파라미터 TSFP, TELP의 조정: 도 16의 단계 SA4)
1. 피크 파워를 PP1로 설정한다. 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3을 초기값 PB11, PB20, PB30으로 설정한다. TMP를 TMP(cal)로 설정한다. 그 밖의 시간축 파라미터 TSFP, TEFP, TSLP, TELP, TLC를 초기값으로 설정한다. 이 예에서는 각각 9종류의 TSFP, TELP, 즉, 표 2에 나타낸 d1, e1, f1, g1, h1, i1, j1, k1, l1, m1, n1, o1, p1, q1, r1, s1, t1, u1이 독립적으로 조정된다.
2. 어떤 트랙에 928512 채널 비트 이상의 길이의 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한다. 이 랜덤 데이터의 10회 연속 기록 동작은 TSFP, TELP를 조정할 때마다 실행된다.
3. 적응 제어값을 측정한다. 적응 제어값은 각각 9 종류의 TSFP, TELP마다 산출되며, 그 값은 +1, 0, -1 중 어느 하나로 설정된다.
4. 어떤 TSFP(TELP)에 대한 적응 제어값이 +1이면, TSFP(TELP)를 ΔT 시간분만큼 감소(증가)시킨다. 어떤 TSFP(TELP)에 대한 적응 제어값이 -1이면, TSFP(TELP)를 ΔT 시간분만큼 증가(감소)시킨다. 이 예에서 ΔT는 T/32이다.
5. 상기 순서 2 내지 4는 모든 적응 제어값이 0으로 설정될 때까지 반복 실행된다. 모든 적응 제어값이 0으로 설정되면, 이 때 얻은 TSFP와 TELP를 각각 TSFP(cal)과 TELP(cal)로 설정한다.
상기 예에서는 적응 제어값이 전부 "0"으로 될 때까지 상기 동작을 반복 실행하였지만, 본 발명은 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, 제어값의 80% 이상이 "0"으로 될 때까지 상기 동작을 반복 실행하여도 좋다. 이와 달리, 적응 제어값이 대략 "0"으로 될 때까지 상기 동작을 반복 실행하여도 좋다. 또한, 반복 횟수를 미리 규정해 두고서, 규정 횟수만큼 상기 동작을 반복 실행하여도 좋다.
적응 제어값을 [-1, 0, +1]의 3종류로 설정하였지만, 이것에 한하지 않는다. 예컨대, 적응 제어값을 [-2, -1, 0, +1, +2]의 5종류로 설정하여도 좋다. 또한, ΔT를 T/32로 설정하였지만, 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, ΔT를 T/16으로 설정하여도 좋다.
(광디스크가 부적합한 것인지 여부의 판단: 도 16의 단계 SA5)
1. 피크 파워를 PP1로 설정한다. 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, 바이어스 파워 3을 초기값 PB11, PB20, PB30으로 설정한다. TMP, TSFP, TELP를 각각 TMP(cal), TSFP(cal), TELP(cal)로 설정한다. 그 밖의 시간축 파라미터 TEFP, TELP, TLC를 초기값으로 설정한다.
2. 어떤 5 개의 인접한 트랙에 랜덤 데이터를 10회 연속 기록한다.
3. 상기 순서 2에 이용된 트랙 중 중앙의 트랙에 기록된 데이터를 재생하여, 등화 계수를 구한다. 후속하는 순서에서는 이와 같이 구한 등화 계수를 이용한다.
4. PRSNR과 SbER을 측정한다.
5. 만일 PRSNR이 15.0 이상으로 설정되고 SbER이 5.0×10-5 이하로 설정라면, 상기 순서 1에서 설정한 기록 파라미터를 조정후에 얻은 파라미터로서 이용하고, 이어서 기록 파라미터 조정 순서를 종료한다. 만일 PRSNR이 15.0 미만이거나, 또는 SbER이 5.0×10-5보다도 크면, 광디스크를 부적합한 것로서 판정하여 배출한다.
상기 순서 5에서는 PRSNR이 15.0 이상으로 설정되고 SbER이 5.0×10-5 이하로 설정되었지만, 본 발명은 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, PRSNR이 13.0 이상으로 설정되고, 또한 SbER이 1.5×10-4 이하로 설정되어도 좋다.
(구형 기록 파형)
제1 및 제2 발명에서는 기록 파형으로서 소위 멀티펄스 파형을 이용하였다. 그러나, 본 발명은 이 예에 한하지 않고, 기록 파형(도 17의 b)과 같은 구형파를 이용하여도 좋다. 도 17의 a는 기록 바이너리 데이터이다. 이 경우의 기록 파라미터를 표 7에 나타낸다.
랜드 트랙용 기록 파라미터 피크 파워, 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, TSFP, TELP, TLC
그루브 트랙용 기록 파라미터 피크 파워, 바이어스 파워 1, 바이어스 파워 2, TSFP, TELP, TLC
기록 파형으로서 구형파를 이용하는 경우의 기록 파라미터 조정 순서는 도 18 또는 도 19에 나타내어져 있다.
구형 기록 파형을 변형하여 얻은 도 20에 나타내는 파형을 기록 파형 "b"로서 이용하여도 좋다. 도 20의 "a"는 기록 바이너리 데이터이다. 본 발명이 적용될 수 있는 기록 파형은 상기한 경우에에 한하지 않는다.
이상의 실시예에서는 소위 랜드&그루브 기록 방식의 광디스크를 이용하였다. 그러나, 본 발명은 이것에 한하지 않고, 랜드에만 또는 그루브에만 정보를 기록하는 광디스크를 이용하여도 좋다.
이상의 실시예에서는 마크 길이와 스페이스 길이를 2T, 3T, ≥4T의 3종류로 분류하였지만, 본 발명은 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, 마크 길이와 스페이스 길이를 2T, 3T, 4T, ≥5T의 4종류로 분류하는 경우에도 적용할 수 있다.
이상의 실시예에서는 PR(1,2,2,2,1)을 이용하였지만, 본 발명은 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, 본 발명은 별도의 PR 클래스, 예컨대, PR(1,2,2,1) 또는 PR(3,4,4,3)의 경우에도 적용될 수 있다.
이상의 실시예에서는 최소 런렝쓰가 "1"인 경우를 설명하였지만, 본 발명은 이 예에 한하지 않는다. 예컨대, 최소 런렝쓰가 "2"인 경우에도 본 발명을 적용할 수 있다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 광디스크 기록/재생 방법에 의해, PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에 있어서, 최적의 기록 파라미터를 구하는 것이 가능해진다. 또한, 본 발명의 광디스크 기록/재생 방법에 의해, PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에 있어서, 기록 파라미터를 단시간에 구하는 것이 가능해진다. 본 발명의 광디스크 기록/재생 방법을 이용하여 구한 기록 파형을 이용함으로써, 정확하게 정보를 기록/재생할 수 있는 광디스크 기록/재생 방법을 제공하는 것이 가능해진다. 또한, 본 발명의 광디스크 기록/재생 방법에 따라 구한 기록 파형을 이용하여 정보를 기록함으로써, 정확하게 정보가 기록된 광디스크를 제공하는 것이 가능해진다.
본 발명은 상기 실시예에 한정되는 것이 아니라, 실시 단계에서는 그 기술적 범위를 벗어나지 않고 다양하게 변형될 수 있다. 또한, 상기 실시예에 개시되어 있는 복수의 구성 요소를 적절하게 조합하여 여러 가지 발명을 형성할 수 있다. 예컨대, 상기 실시예에 나타내어지는 전체 구성 요소로부터 몇 개의 구성 요소를 삭제하여도 좋다. 더욱이, 다른 실시예에 관한 구성 요소를 적절하게 조합하여도 좋다.
당업자에게는 추가의 이점 및 변형이 쉽게 이루어질 것이다. 따라서, 본 발명은 그의 더욱 넓은 형태에 있어서, 여기에 나타내고 개시한 상세한 설명 및 대표적인 실시예에 한하지 않는다. 따라서, 특허청구범위 및 그의 등가물에 의해서 정의되는 바와 같이 발명의 대개념의 정신 또는 범위를 벗어나지 않고 다양한 변형이 이루어질 수 있다.
본 발명의 광디스크 기록/재생 방법에 의해, PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에 있어서, 최적의 기록 파라미터를 구하는 것이 가능해진다. 또한, 본 발명의 광디스크 기록/재생 방법에 의해, PRML 식별 방식을 이용한 광디스크 시스템에 있어서, 기록 파라미터를 단시간에 구하는 것이 가능해진다. 또한, 본 발명의 광디스크 기록/재생 방법에 의해 구한 기록 파형을 이용함으로써, 정확하게 정보를 기록/재생할 수 있는 광디스크 기록/재생 방법을 제공하는 것이 가능해진다. 또한, 본 발명의 광디스크 기록/재생 방법에 의해 구한 기록 파형을 이용하여 정보를 기록함으로써, 정확하게 정보가 기록된 광디스크를 제공하는 것이 가능해진다.

Claims (16)

  1. 광디스크 기록/재생 방법으로서,
    제1 기록 파라미터 조정 방법에 따라서 기록 파형을 설정하는데 이용되는 제1 기록 파라미터를 결정하는 단계와,
    상기 제1 기록 파라미터를 이용하여 정보를 매체에 기록하는 단계와,
    상기 기록 정보의 재생 신호에 기초하여 신호 품질 평가 방법을 이용하여 신호 품질의 제1 평가값을 구하는 단계와,
    상기 제1 평가값이 미리 정해진 규정값을 만족하는 경우에는 기록 파라미터 조정 동작을 종료하는 단계와,
    상기 제1 평가값이 상기 미리 정해진 규정값을 만족하지 않는 경우에는 제2 기록 파라미터 조정 방법에 따라서 기록 파형을 설정하는데 이용되는 제2 기록 파라미터를 결정하는 단계와,
    상기 제2 기록 파라미터를 이용하여 정보를 상기 매체에 기록하는 단계와,
    상기 기록 정보의 재생 신호에 기초하여 상기 신호 품질 평가 방법을 이용하여 신호 품질의 제2 평가값을 구하는 단계와,
    상기 제2 평가값이 미리 정해진 규정값을 만족하는 경우에는 상기 기록 파라미터 조정 동작을 종료하는 단계와,
    상기 제2 평가값이 미리 정해진 규정값을 만족하지 않는 경우에는 경고를 발하는 단계
    를 포함하는 광디스크 기록/재생 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 기록 파라미터 조정 방법은 기록 데이터 비트 열에 의존하지 않는 조정 방법과, 기록 데이터 비트 열의 부호 비트 "1"의 연속 길이에 의존한 조정 방법 중 적어도 하나를 포함하고,
    상기 제2 기록 파라미터 조정 방법은 기록 데이터 비트 열의 부호 비트 "1"의 연속 길이와 그것에 인접하는 부호 비트 "0"의 연속 길이에 의존하는 조정 방법인 것인 광디스크 기록/재생 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 신호 품질 평가 방법은 적어도 2종류의 신호 품질 평가 방법을 포함하는 것인 광디스크 기록/재생 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 기록 파라미터와 상기 평가값간의 관계를 측정하고, 이 측정 결과에 기초하여 상기 평가값의 최적값을 구하며, 상기 평가값을 상기 최적값으로 설정되게 하는 기록 파라미터를 조정값으로 이용하는 것인 광디스크 기록/재생 방법.
  5. 제1항에 있어서, 상기 기록 파라미터와 상기 평가값간의 관계를 측정하고, 이 측정 결과에 기초하여 상기 평가값의 최적값을 구하며, 이 최적값보다 크지 않은 소정값을 규정값으로 이용하고, 이 규정값을 만족하는 기록 파라미터의 하한값 과 상한값을 구하여, 이들 하한값과 상한값의 중간값을 기록 파라미터의 조정값으로 이용하는 것인 광디스크 기록/재생 방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 평가값은 PRSNR(Partial Response Signal to Noise Ratio)와 SbER(Simulatioed bit Error Rate) 중 적어도 하나를 포함하는 것인 광디스크 기록/재생 방법.
  7. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 기록 파라미터 조정 방법에서는 상기 기록 파형에 기초하여 기록 파워를 조정하는 것인 광디스크 기록/재생 방법.
  8. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 기록 파라미터 조정 방법에서는 상기 기록 파형에 기초하여 멀티펄스 폭을 조정하는 것인 광디스크 기록/재생 방법.
  9. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 기록 파라미터 조정 방법에서는 상기 기록 파형의 최단 마크의 기록 파라미터와, 2번째로 짧은 마크의 기록 파라미터 중 적어도 하나를 조정하는 것인 광디스크 기록/재생 방법.
  10. 제1항에 있어서, 상기 제2 기록 파라미터 조정 방법에서는 상기 기록 파형의 선두 펄스, 최종 펄스, 단일 펄스 및 최종 쿨링 펄스 중 적어도 하나를 조정하는 것인 광디스크 기록/재생 방법.
  11. 광디스크 기록/재생 장치로서,
    제1 기록 파라미터 조정 방법에 따라서 기록 파형을 설정하는데 이용되는 제1 기록 파라미터를 결정하는 수단과,
    상기 제1 기록 파라미터를 이용하여 정보를 매체에 기록하는 수단과,
    상기 기록 정보의 재생 신호에 기초하여 신호 품질 평가 방법을 이용하여 신호 품질의 제1 평가값을 구하는 수단과,
    상기 제1 평가값이 미리 정해진 규정값을 만족하는 경우에는 기록 파라미터 조정 동작을 종료하는 수단과,
    상기 제1 평가값이 상기 미리 정해진 규정값을 만족하지 않는 경우에는 제2 기록 파라미터 조정 방법에 따라서 기록 파형을 설정하는데 이용되는 제2 기록 파라미터를 결정하는 수단과,
    상기 제2 기록 파라미터를 이용하여 정보를 상기 매체에 기록하는 수단과,
    상기 기록 정보의 재생 신호에 기초하여 상기 신호 품질 평가 방법을 이용하여 신호 품질의 제2 평가값을 구하는 수단과,
    상기 제2 평가값이 미리 정해진 규정값을 만족하는 경우에는 상기 기록 파라미터 조정 동작을 종료하고, 상기 제2 평가값이 미리 정해진 규정값을 만족하지 않는 경우에는 경고를 발하는 수단
    을 포함하는 광디스크 기록/재생 장치.
  12. 제11항에 있어서, 상기 제1 및 제2 기록 파라미터를 결정하는 수단은 상기 기록 파형을 이용하여 기록 파워를 조정하는 것인 광디스크 기록/재생 장치.
  13. 제11항에 있어서, 상기 제1 및 제2 기록 파라미터를 결정하는 수단은 상기 기록 파형을 이용하여 멀티펄스 폭을 조정하는 것인 광디스크 기록/재생 장치.
  14. 제11항에 있어서, 상기 제1 및 제2 기록 파라미터를 결정하는 수단은 상기 기록 파형의 최단 마크의 기록 파라미터와, 2번째로 짧은 마크의 기록 파라미터 중 적어도 하나를 조정하는 것인 광디스크 기록/재생 장치.
  15. 제11항에 있어서, 상기 제1 및 제2 평가값은 PRSNR(Partial Response Signal to Noise Ratio)와 SbER(Simulatioed bit Error Rate) 중 적어도 하나를 포함하는 것인 광디스크 기록/재생 장치.
  16. 광디스크로서,
    기록 트랙에 기록되는 마크와 스페이스를 포함하고,
    상기 마크와 스페이스를 상기 기록 트랙에 배치하는 것에 의해서 기록 정보를 기록하며,
    상기 마크는 전기적 기록파를 레이저 다이오드에 공급함으로써 생성되는 레이저광을 인가하는 것에 의해서 형성되고,
    피크 파워, 이 피크 파워보다 작은 제1 바이어스 파워, 이 제1 바이어스 파워보다 작은 제2 바이어스 파워, 및 이 제2 바이어스 파워보다 작고 최소인 제3 바이어스 파워는 상기 기록파의 진폭 방향의 파라미터로서 정의되며,
    멀티펄스 부분의 최소 펄스의 시간 TMP, 상기 기록 정보의 상승에서부터 상기 기록파의 선두 펄스의 제1 상승에 이르는 시간 TSFP, 상기 기록 정보의 상승에서부터 상기 기록파의 선두 펄스의 제1 하강에 이르는 시간 TEFP, 상기 기록파의 최종 펄스의 상승 기간이 상기 기록 정보의 하강 직전에 종료하는 시간 TELP, 및 상기 기록 정보의 하강에 뒤이은 상기 기록파의 쿨링 펄스의 시간 TLC는 시간축 방향의 파라미터로서 정의되고,
    상기 진폭 방향의 파라미터와 상기 시간축 방향의 파라미터의 초기값은 실제 파라미터가 결정된 때에 기록되는 것인 광디스크.
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