CN1993742A - 光盘记录脉冲控制方法、其控制装置和光盘装置 - Google Patents

光盘记录脉冲控制方法、其控制装置和光盘装置 Download PDF

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    • G11B7/0062—Overwriting strategies, e.g. recording pulse sequences with erasing level used for phase-change media

Abstract

倘若不能决定正确的记录脉冲条件，就会有记录劣化产生、再生时错误产生的课题。本发明提供一种记录脉冲控制方法，它调整用来对可写入的光盘进行记录的记录脉冲，具有标记长度调整工序和标记位置调整工序。标记长度调整工序是调整记录标记长度调整参数的工序，它将记录标记长度调整参数调整成形成最接近规定的记录标记长度的记录标记的值。标记位置调整工序，是标记长度调整工序之后的、调整记录标记位置调整参数的工序，它将记录标记位置调整参数调整成形成最接近规定的记录标记位置的记录标记的值。

Description

光盘记录脉冲控制方法、其控制装置和光盘装置
技术领域
本发明涉及光盘记录脉冲控制方法、其控制装置和光盘装置，特别涉及调整用来对可写入的光盘进行记录的记录脉冲的光盘记录脉冲控制方法、其控制装置和光盘装置。
背景技术
对于在移动记录介质上记录、再生原数字信息的记录再生装置，即便使用相同记录脉冲形状，有时也会由于装置或记录介质的个体差异，而导致介质上所形成的标记形状偏差，再生的信号品质差异较大。为了防止这种偏差所导致的可靠性低下，装取记录介质时等进行校正操作。所谓校正是指，为确保用户数据的可靠性，对再生系统进行特性设定，对记录脉冲形状进行优化等的一种控制。
在一般的信息再生装置中，使用抽出再生信号包含的时钟信息并以从再生信号中抽出的时钟为基准辨别原数字信息的PLL电路。图20表示以往光盘驱动器的构成图。光盘37发出的反射光被光学头38转换成再生信号。再生信号的波形被波形均衡器39整形。波形整形后的再生信号，由比较器20二值化。通常比较器20的阈值受到反馈控制，以使二值化输出的积分结果为0。相位比较器21求出二值化输出与再生时钟的相位误差。所求相位误差由LPF22进行平均处理，形成VCO23的控制电压。以使相位比较器21输出的相位误差总是为0的方式，实施反馈控制。在被实施热记录的记录介质中，由于介质上的热干扰，介质上所形成的标记形状会随前后的记录样式而产生差异。因此，要求对各种样式(pattern)的记录设定最佳记录参数。
评价记录参数的指标，是上述误差检测输出。以使误差检测输出最小的方式，进行记录参数的设定。具体讲就是，记录补偿电路27使用初始设定的记录参数，将样式发生电路26输出的记录样式变为规定的脉冲波形。激光器驱动电路28使用该脉冲波形，在光盘上进行记录。然后，再生记录有规定的记录样式的磁道，误差检测电路24将比较器20的输出与VCO23的输出的相位误差的绝对值进行积分，从而得到有关再生时钟与二值化脉冲沿的抖动(iitter)的检测信号。然后，改变记录参数，并重复进行记录、再生。可以将检测值最小时的记录参数视为最佳。
图21表示误差检测电路24的具体动作的情形。对使用例如6T、4T、6T、8T组成的重复记录脉冲，优化4T标记和6T间隔的记录样式中的标记末端边沿的情况进行说明。可以认为6T间隔和8T标记间的标记始端边沿、8T标记和6T间隔间的末端边沿，已经是以最佳记录参数记录的。当参数发生电路26给出图21(a)那样的周期性NRZI信号后，记录补偿电路27，对一般的可擦写型光盘生成图21(b)那样的激光驱动波形。这里，Tsfp是设定标记始端位置的参数；Telp是设定标记末端位置的参数。激光器驱动电路28，实施图21(b)那样的发光功率调制。通过激光发光，如图21(c)所示，磁道(track)上会物理上形成无定形区域。这里，在将决定4T标记末端位置的Telp变为Telp1、Telp2、Telp3的情况下，所形成的标记形状，就会像图21(c)那样变化。对再生这种磁道的情况加以说明。
当4T标记末端的记录参数被设为最佳值Telp2时，得到图21(d-1)的实线的再生信号。阈值被设定成可以使比较器输出的积分值为0。检测比较器输出与再生时钟间的相位差，并以使相位误差的积分值为0的方式，生成图21(e-1)那样的再生时钟。
下面，对令4T标记末端的记录参数小于最佳值，并设为Telp1的情况进行说明。这时，得到图21(d-2)的实线的再生信号。由于4T标记末端边沿是在时间轴方向上变化，所以比较器阈值，如图21(d-2)所示的点划线那样，变得比图21(d-1)所示的阈值大。由于阈值的变化会带来比较器输出的变化，所以使相位误差的积分值为0的方式而生成的再生时钟，如图21(e-2)所示的那样，相位比图21(e-1)所示的再生时钟超前。
反之，对令4T标记末端的记录参数大于最佳值，并设为Telp3的情况进行说明。这时，得到图21(d-3)的实线的再生信号。由于4T标记末端边沿在时间轴方向上变化，所以比较器阈值如图21(d-3)所示的点划线那样，变得比图21(d-1)所示的阈值小。由于阈值的变化会带来比较器输出的变化，所以使相位误差的积分值为0的方式而生成的再生时钟，如图21(e-3)所示的那样，相位比图21(e-1)所示的再生时钟滞后。
当测定出标记末端边沿(再生信号的上升)与再生时钟的时间差(所谓数据-时钟间抖动)后，得到图21(f)那样的分布。其中，假定：4T标记末端、8T标记末端边沿，具有构成分散值相同的正态分布那样的偏差。如果是在图21(d-1)、图21(e-1)那样的再生信号和再生时钟的情况下，求上升边沿(标记末端边沿)的比较器输出与再生时钟的时间差的分布的话，就会变成图21(f-2)，也就是说，4T标记末端和8T标记末端的分布的各自的平均值为0。
但是，当4T标记末端的参数是Telp1(值比最佳值Telp2小的情况)时，就会像图21(f-1)那样，4T标记末端边沿分布的平均值和8T标记末端边沿分布的平均值不会是0，而是表示为距0相同距离的分布。因此，上升边沿的总分散比图21(f-2)情况的大。同样，当4T标记末端的参数是Telp3(值比最佳值Telp2大的情况)时，就会像图21(f-3)那样，4T标记末端边沿分布的平均值和8T标记末端边沿分布的平均值不会是0，而是变为距0相同距离的分布。其中，图21(f-1)中，4T标记末端和8T标记末端的分布对调。这种情况下，上升边沿的总分散，也比图21(f-2)情况大。
在像图20那样累加相位误差的绝对值并作为误差检测输出的情况下，误差检测值如图21(g)所示，随着记录参数Telp的变化而变化。因此，改变记录参数，设使误差检测电路24的输出最小的参数为最佳值。在上述的例子中已经说明了优化4T标记末端的参数Telp时的步骤，而对于其他的参数，也使用分别对应的特定样式进行试记录，并从误差检测输出中求出最佳参数。
以上步骤如果用流程图来表示所有记录参数求出时的动作，则如图22所示。跳到进行试记录的介质区域，对每个区域(例如扇区)改变标记始端或标记末端的记录参数，同时进行记录。进行记录区域的再生，并对每个改变了参数的区域取得误差检测输出。然后，求出误差检测输出最小的参数。为了求出下一个参数，重复以上动作直至所有参数求出为止。例如，上述方法记载于专利文献1、专利文献2中。
专利文献1：特开2000-200418号公报(图1)
专利文献2：特开2001-109597号公报(图1)
专利文献3：特开2002-141823号公报(图1)
(发明要解决的课题)
在大量生产光盘的记录再生装置时，由于使用部件的特性偏差或环境变化等，各装置不一定总具有相同特性。例如，与记录有关的激光器驱动装置和装载了激光器的头，以激光器特性的偏差为主要原因，即便向激光器供给相同的电流波形，脉冲宽度也会变化。各个装置不一定总能得到相同的发光波形。同样，在大量生产光盘自身时，也会发生某种程度的特性偏差，即使以相同的发光波形进行记录，各个盘片也不一定总能得到相同的标记形状。
因此，当使用具有标准特性的基准盘片，将具有标准特性的基准装置所决定的记录脉冲标准条件，直接用于具有特性偏差的大量生产的盘片和装置上时，就会出现由于组合而导致记录再生不能正确进行，发生品质不良的课题。
进而，虽然只要是在充分的品质管理基础上制造的特性偏差较小的盘片，问题就会有所减少，但是在预先记录在盘片上的记录脉冲标准条件与盘片性能有较大偏差的情况下，即使装置忠实地再现从盘片读出的记录脉冲标准条件，也会产生在该盘片上无法发挥特性的课题。
还有，用于在盘片上形成记录标记的记录脉冲条件的组合并不是一个，而是存在很多种。虽然是根据记录脉冲标准条件，调整上述装置和盘片的组合下的最佳记录脉冲，但必需考虑的是：由于在盘片上多次反复记录而导致盘片劣化的反复记录劣化、在已经记录的盘片上覆盖时用不适当的记录功率进行记录的情况下发生的记录劣化、以及温度湿度等环境变化而导致的记录劣化。例如，在标记长度调整方面，记录脉冲参数中也存在可主动调整的参数和不可主动调整的参数。以往存在的课题是：不考虑那种记录脉冲条件参数的特性，而进行记录脉冲条件的调整，发生记录劣化。
发明内容
本发明就是要解决上述课题，其目的是：降低可写入光盘和记录再生装置的特性偏差的影响以及上述各种记录劣化。
第1发明是一种记录脉冲控制方法，调整用来对可写入的光盘进行记录的记录脉冲，包括第1工序和第2工序。第1工序，是调整记录脉冲参数中与记录标记长度调整有关的参数(以下，记作记录标记长度调整参数)的工序。第1工序，将记录标记长度调整参数，调整为形成最接近规定的记录标记长度的记录标记的值。第2工序，是在第1工序之后，调整记录脉冲参数中与记录标记位置调整有关的参数(以下，记作记录标记位置调整参数)的工序。第2工序，将记录标记位置调整参数，调整为形成最接近规定的记录标记位置的记录标记的值。
这里，第1工序中，例如取得记录脉冲参数的基准值，并根据该基准值进行调整。第2工序中，例如根据由第1工序至少一部分被作调整的记录脉冲参数进行调整。另外，在第1工序和第2工序中，对于没有成为调整对象的记录脉冲参数，使用上述基准值。该基准值可以例如预先记录在光盘上。
第2发明是第1发明，第1工序，包含：对记录标记长度调整参数中、与记录标记前端位置的调整有关的参数(以下为前端位置调整参数)进行调整的第1第1工序。第1第1工序将前端位置调整参数调整为形成最接近规定的记录标记长度的记录标记的值。
第3发明是第2发明，第1工序还包含：对记录标记长度调整参数中、与记录标记后端位置的调整有关的参数(以下为后端位置调整参数)进行调整的第2第1工序。第2第1工序，在第1第1工序之后，将后端位置调整参数调整为形成最接近规定的记录标记长度的记录标记的值。
第4发明是第1发明，第1工序包含：对记录标记长度调整参数中、与记录标记前端位置的调整有关的参数(以下为前端位置调整参数)和与记录标记后端位置的调整有关的参数(以下为后端位置调整参数)进行调整的第3第1工序。另外，第3第1工序中，也可以例如通过同时改变前端位置调整参数和后端位置调整参数来进行调整。
第5发明是第4发明，第1工序还包含：在第3第1工序之后，对前端位置调整参数和后端位置调整参数之中、对形成的记录标记的记录标记长度影响较小的参数进行调整的第4第1工序。
第6发明是第2发明，前端位置调整参数，包含对记录脉冲的首脉冲位置进行调整的参数。
第7发明是第6发明，规定的记录标记长度，是指记录时使用的记录标记长度中、除最短的记录标记长度之外的记录标记长度。
第8发明是第2发明，前端位置调整参数，至少包含调整记录脉冲的首脉冲宽度的参数。另外，前端位置调整参数，还可以包含对首脉冲位置进行进一步调整的参数。
第9发明是第8发明，规定的记录标记长度，是指记录时使用的记录标记长度中最短的记录标记长度。
第10发明是第3发明，后端位置调整参数，包含调整记录脉冲的冷却脉冲宽度的参数。
第11发明是第3发明，后端位置调整参数，包含调整记录脉冲的尾脉冲宽度的参数。
第1 2发明是第11发明，规定的记录标记长度，是指记录时使用的记录标记长度中、除最短记录标记长度之外的记录标记长度。
第1 3发明是第1发明，第2工序，维持记录脉冲中的规定脉冲的脉冲宽度，同时调整脉冲位置。
第14发明是第13发明，规定脉冲，包含首脉冲、多脉冲、尾脉冲、冷却脉冲中的至少一个。第2工序，对记录标记位置调整参数进行调整，使规定脉冲的脉冲位置分别在相同方向上改变相同的量。这里，规定脉冲也可以是记录脉冲包含的所有脉冲，在这种情况下，可以同向同量地改变所有脉冲的脉冲位置。
第15发明是一种记录脉冲控制方法，调整用来对可写入的光盘进行记录的记录脉冲，包括：调整记录脉冲参数中与记录标记长度的调整有关的参数(以下为记录标记长度调整参数)的工序；以及，调整记录脉冲参数中与记录标记位置的调整有关的参数(以下为记录标记位置调整参数)的工序。在记录标记长度调整参数或记录标记位置调整参数的调整中，维持记录脉冲中的规定脉冲的脉冲宽度，同时调整脉冲位置。
第16发明是第15发明，规定脉冲，包含记录脉冲的首脉冲、多脉冲、尾脉冲、冷却脉冲中的任何一个。
第17发明是第15或第16发明，可写入的光盘是擦写型光盘。
第18发明是第15发明，在可写入的光盘是追记型光盘(CD-recordable)的情况下，在记录标记长度调整参数或记录标记位置调整参数的调整中，调整记录脉冲中的规定脉冲的脉冲宽度。
这里，对可写入的光盘是追记型光盘还是其它型光盘的(例如，擦写型)判断，例如，通过从光盘取得的判别信号等进行。
第19发明是一种记录脉冲控制装置，调整用来对可写入的光盘进行记录的记录脉冲，具备参数调整部和记录脉冲参数。参数调整部，进行记录脉冲参数的调整。记录脉冲调整部，按照由参数调整部调整的记录脉冲参数，调整记录脉冲。另外，参数调整部，在调整了记录脉冲参数中与记录标记长度的调整有关的参数(以下为记录标记长度调整参数)之后，调整与记录标记位置的调整有关的参数(以下为记录标记位置调整参数)。记录标记长度调整参数的调整中，改变记录标记长度调整参数，来将记录标记长度调整参数调整为形成被记录的记录标记中、最接近于规定的记录标记长度的记录标记的值。记录标记位置调整参数的调整中，改变记录标记位置调整参数，来将记录标记位置调整参数调整为形成被记录的记录标记中、最接近于规定的记录标记位置的记录标记的值。
第20发明是第19发明，记录标记长度调整参数的调整中，改变记录标记长度调整参数中与记录标记前端位置的调整有关的参数(以下为前端位置调整参数)，来将前端位置调整参数调整为形成被记录的记录标记中最接近于规定的记录标记长度的记录标记的值。
第21发明是第20发明，记录标记长度调整参数的调整中，在进行了前端位置调整参数的调整之后，改变记录标记长度调整参数中与记录标记后端位置的调整有关的参数(以下为后端位置调整参数)，来将后端位置调整参数调整为形成被记录的记录标记中最接近于规定的记录标记长度的记录标记的值。
第22发明是第19发明，记录标记长度调整参数的调整中，对记录标记长度调整参数中与记录标记前端位置的调整有关的参数(以下为前端位置调整参数)和与记录标记后端位置的调整有关的参数(以下为后端位置调整参数)进行调整。另外，记录标记长度调整参数的调整中，例如，可通过同时改变前端位置调整参数和后端位置调整参数，来进行调整。
第23发明是第22发明，记录标记长度调整参数的调整中，在前端位置调整参数和后端位置调整参数变化后，对前端位置调整参数和后端位置调整参数中对形成的记录标记的记录标记长度影响较小的参数再进一步进行调整。
第24发明是第20发明，前端位置调整参数，包含对记录脉冲的首脉冲的位置进行调整的参数。
第25发明是第24发明，规定的记录标记长度，是指记录时使用的记录标记长度中除最短记录标记长度之外的记录标记长度。
第26发明是第20发明，前端位置调整参数，至少包含对记录脉冲的首脉冲的宽度进行调整的参数。另外，前端位置调整参数还可以包含对首脉冲位置进行进一步调整的参数。
第27发明是第26发明，规定的记录标记长度，是指记录时使用的记录标记长度中最短的记录标记长度。
第28发明是第21发明，后端位置调整参数，包含对记录脉冲的冷却脉冲的宽度进行调整的参数。
第29发明是第21发明，后端位置调整参数，包含对记录脉冲的尾脉冲的宽度进行调整的参数。
第30发明是第29发明，规定的记录标记长度，是指记录时使用的记录标记长度中除最短记录标记长度之外的记录标记长度。
第31发明是第19发明，在记录标记位置调整参数的调整中，维持记录脉冲中规定脉冲的脉冲宽度，同时调整脉冲位置。
第32发明是第31发明，规定脉冲，至少包含首脉冲、多脉冲、尾脉冲、冷却脉冲中的2个，在记录标记位置调整参数的调整中，对记录标记位置调整参数进行调整，使规定脉冲的脉冲位置分别在相同方向上改变相同的量。这里，规定脉冲也可以是记录脉冲包含的所有脉冲，在这种情况下，可以同向同量地改变所有脉冲的脉冲位置。
第33发明是一种记录脉冲控制装置，调整用来对可写入的光盘进行记录的记录脉冲，具备参数调整部和记录脉冲调整部。参数调整部，进行记录脉冲参数的调整。记录脉冲调整部，按照由参数调整部调整的记录脉冲参数，调整记录脉冲。另外，参数调整部，进行记录脉冲参数中与记录标记长度调整有关的参数(以下为记录标记长度调整参数)的调整、和与记录标记位置调整有关的参数(以下为记录标记位置调整参数)的调整。在记录标记长度调整参数或记录标记位置调整参数的调整中，维持记录脉冲中规定脉冲的脉冲宽度，同时调整脉冲位置。
第34发明是第33发明，规定脉冲，包含记录脉冲的首脉冲、多脉冲、尾脉冲、冷却脉冲中的任何一个。
第35发明是第33或第34发明，可写入的光盘是擦写型光盘。
第36发明是第33发明，在可写入的光盘是追记型光盘的情况下，在记录标记长度调整参数或记录标记位置调整参数的调整中，调整记录脉冲中的规定脉冲的脉冲宽度。
第37发明是一种光盘装置，具备光学头、误差检测机构和记录脉冲控制机构。光学头，将激光照射到光盘上，接收其反射光并转换成再生信号。误差检测机构，取得再生信号，检测光盘上形成的记录标记与成为基准的记录标记之间的误差。记录脉冲控制机构，根据误差检测机构检测出的误差，调整用来对光盘进行记录的记录脉冲。另外，记录脉冲控制机构，具有参数调整部和记录脉冲参数。参数调整部，进行记录脉冲参数的调整。记录脉冲调整部，按照由参数调整部调整的记录脉冲参数，调整记录脉冲。另外，参数调整部，在调整了记录脉冲参数中与记录标记长度的调整有关的参数(以下为记录标记长度调整参数)之后，调整与记录标记位置的调整有关的参数(以下为记录标记位置调整参数)。记录标记长度调整参数的调整中，改变记录标记长度调整参数，来将记录标记长度调整参数调整为形成被记录的记录标记中、最接近于规定的记录标记长度的记录标记的值。记录标记位置调整参数的调整中，改变记录标记位置调整参数，来将记录标记位置调整参数调整为形成被记录的记录标记中、最接近于规定的记录标记位置的记录标记的值。
第38发明是一种光盘装置，具备光学头、误差检测机构和记录脉冲控制机构。光学头，将激光照射到光盘上，接收其反射光并转换成再生信号。误差检测机构，取得再生信号，检测光盘上形成的记录标记与成为基准的记录标记之间的误差。记录脉冲控制机构，根据误差检测机构检测出的误差，调整用来对光盘进行记录的记录脉冲。另外，记录脉冲控制机构，具备参数调整部和记录脉冲调整部。参数调整部，进行记录脉冲参数的调整。记录脉冲调整部，按照由参数调整部调整的记录脉冲参数，调整记录脉冲。另外，参数调整部，进行记录脉冲参数中与记录标记长度调整有关的参数(以下为记录标记长度调整参数)的调整、和与记录标记位置调整有关的参数(以下为记录标记位置调整参数)的调整。在记录标记长度调整参数或记录标记位置调整参数的调整中，维持记录脉冲中规定脉冲的脉冲宽度，同时调整脉冲位置。
第39发明是第37或第38发明，误差检测机构，使用一电平来检测误差，该电平为再生光盘上形成的记录标记时的波形的所有边沿的中心。这里，成为波形的所有边沿的中心的电平是指，例如在以该电平为阈值检测再生波形的相位误差的情况下，使检测的相位误差最小的电平。
第40发明是第37或第38发明，误差检测机构，使用一电平来检测误差，该电平为再生光盘上形成的记录标记时的波形的所有能量的中心。
第41发明是第37或第38发明，还具备记录样式发生电路，向记录脉冲控制机构输出规定的记录样式，该规定的记录样式包含成为记录脉冲控制机构中的调整对象的记录标记。规定的记录样式，分别以基本相同的比例包含不同长度的记录标记和不同长度的间隔。
第42发明是第37或第38发明，记录脉冲控制机构，将成为再生光盘上形成的记录标记时的波形的所有边沿的中心的电平、或成为波形的所有能量的中心的电平，基本维持恒定，同时进行记录标记长度调整参数和记录标记位置调整参数的调整。
第43发明是第42发明，记录脉冲控制机构，在进行不同记录标记所对应的记录标记长度调整参数的调整时，对一部分记录标记所对应的记录长度调整参数进行试记录，使一部分的记录标记变长，并对一部分的记录标记的记录标记长度进行调整，同时，对另一部分的记录标记所对应的记录长度调整参数进行试记录，使另一部分的记录标记变短，并对一部分的记录标记的记录标记长度进行调整。
第44发明是第42发明，记录脉冲控制机构，在进行不同记录标记所对应的记录标记位置调整参数的调整时，对记录标记位置调整参数进行试记录，使不同记录标记分别向反方向移动，并调整各个不同记录标记的记录标记位置。
以上那样，根据本发明，可以降低可写入光盘及记录再生装置的特性偏差的影响，且进行适当的记录脉冲调整控制，从而使记录状态良好，再生时错误减少。随之带来的是在光盘及记录再生装置大量生产时可提高成品率，提高产品的品质及削减成本。
附图说明
图1是本发明实施方式的记录脉冲调整的概略流程图。
图2是本发明实施方式的记录脉冲条件的说明图。
图3是本发明实施方式的各标记长度的记录脉冲波形图。
图4是本发明实施方式的边沿偏移检测说明图。
图5是本发明实施方式的记录脉冲调整步骤的流程图。
图6是2T标记的标记长度调整时的记录脉冲调整说明图。
图7是2T标记的标记长度调整时的记录脉冲调整说明图。
图8是2T标记的标记位置调整时的记录脉冲调整说明图。
图9是表示在2T标记的记录脉冲调整时求出的边沿偏移量的变化的图。
图10表示互功率特性和反复特性的图。
图11是3T标记的标记长度调整时的记录脉冲调整说明图。
图12是3T标记的标记长度调整时的记录脉冲调整说明图。
图13是3T标记的标记位置调整时的记录脉冲调整说明图。
图14是表示在3T标记的记录脉冲调整时求出的边沿偏移量的变化的图。
图15是表示记录脉冲条件的图。
图16是表示本发明实施方式的记录再生装置的一个构成例的框图。
图17是表示本发明实施方式的记录再生装置的一个构成例的框图。
图18是表示记录标记的始端位置和末端位置的说明图。
图19是对依据盘片的记录脉冲调整进行说明的记录脉冲调整说明图。
图20是表示以往的记录再生装置构成的框图。
图21是表示以往例的误差检测电路的具体动作的状态图。
图22是以往例的求记录脉冲参数的动作流程图。
图中：1，38-光学头，2，37-光盘，3，39-波形均衡器，4-A/D转换器，5-高通滤波器，6，21-相位比较器，7，22-LPF，8-D/A转换器，9，23-VCO，10-二值化电路，11-样式检测电路，12-边沿偏移检测电路，13，25-光盘控制器，14，26-样式发生器，15，27-记录补偿电路，16，28-激光器驱动电路，17-FIR过滤器，18-LMS模块，19-维特比译码电路，20-比较器，24-误差检测电路。
具体实施方式
下面，参照附图，对本发明的实施方式进行说明。
(实施方式)
首先，本记录脉冲控制的目的是进行最佳记录，以便使光盘上记录的数据以最小误差再生。为了实现最佳记录状态，需要优化与记录相关的参数。与记录相关的参数主要有：记录功率参数、记录脉冲参数、记录时的伺服参数等，本发明特别涉及对记录脉冲参数、即对后述的与记录时脉冲波形形状相关的参数的调整控制。
对本实施方式所使用的记录方式进行论述。在数据写入光盘时，使用基于多脉冲的标记边沿记录方式，将数据作为标记和间隔的长度信息写入盘中。此外，设使用标记长度为2T至9T(T是1个时钟周期的时间)、间隔长度为2T至9T的整数值的组合的调制方式。另外，在本实施方式中，假定在长度为2T、3T和4T以上的标记(略写为2Tm、3Tm、4Tm。)，和长度为2T、3T和4T以上的间隔(略写为2Ts、3Ts、4Ts。)的组合中，标记与间隔的边界部分会发生标记形状的畸变和标记间热干扰。对于一个标记，在标记的前端和后端有2处与间隔邻接的部分。因此，通过这些组合，对记录时使用的记录脉冲的边沿位置进行记录脉冲调整(记录补偿)，从而可以达到正确的标记长度的记录状态。如果设4Tm以上与4Ts以上的组合为一个组合，那么标记前端脉冲条件就有3×3的9种组合，标记后端脉冲条件也有3×3的9种组合，就可以设定各不相同的值的条件，总共具有18个条件的设定值。
图15是标记前端脉冲条件和标记后端脉冲条件的值表。例如，在图15的表(A)中，右下的“4Ts4Tm”，表示包含4T以上的间隔和与其相接的4T以上的标记的边界上的标记前端脉冲的条件。在图15的表(B)中，右上的“2Tm4Ts”，表示包含2T的标记和与其相接的4T以上的间隔的分界上的标记后端脉冲的条件。如图1 5的表所示，需要对每个记录标记长度和间隔长度的组合，调整、决定记录脉冲条件。
用成为特性基准的代表盘片和成为基准的代表记录再生装置，来决定图15所示的18个条件。设将决定的记录脉冲条件，作为记录脉冲的标准条件，预先记录在盘片上的特定区域。另外，记录脉冲标准条件中，存在例如记录脉冲的首脉冲宽度(Ttop)、首脉冲位置(dTtop)、多脉冲宽度(Tmp)、跟在尾脉冲后面的冷却脉冲宽度(dTe)等。对于本实施方式，作为一例，以值根据记录的标记和间隔的组合样式适当变化的脉冲条件为对象进行说明。
图1是用来说明本发明的实施方式的记录脉冲控制方法的流程图。作为对记录脉冲进行调整的步骤，首先是读出预先记录在盘片上的特定区域的记录脉冲标准条件，并作为记录脉冲条件进行设定。在特定的记录区域进行试记录，然后再生进行过试记录的区域。这时，为了调查记录状态，要求出与再生时的错误有关的参数。在本实施例中，会求出后述的边沿偏移(edge shift)量，确认记录状态。如果边沿偏移量为规定量以下或者接近于最小，就置为OK，并结束记录脉冲调整。另一方面，如果边沿偏移量是为规定量以上且不接近于最小，就置为NG，根据边沿偏移量，预测最佳记录脉冲条件，设定该记录脉冲条件，重复执行从上述试记录起的顺序，当边沿偏移量在规定量以下或接近最小时就结束。
此外，以读出的记录脉冲标准条件为基点，预先准备出多种样式的记录脉冲条件，在试记录时，一边改变记录脉冲条件，一边进行记录，然后再生进行过试记录的区域。再生时，对每个记录脉冲条件求出边沿偏移量，将边沿偏移量最小的记录脉冲条件作为决定记录脉冲条件来采用。但是，在判断为与以上述记录脉冲标准条件为基点准备的记录脉冲条件更为不同的记录脉冲条件，其边沿偏移量更小的情况下，准备出多种样式的被认为边沿偏移量小的记录脉冲条件，在试记录时，一边改变记录脉冲条件，一边进行记录，然后再生进行过试记录的区域。与上述同样，再生时，对每个记录脉冲条件都求出边沿偏移量，将边沿偏移量接近最小的记录脉冲条件作为决定记录脉冲条件来采用。这意味着虽然在第一记录中对比较接近记录脉冲标准条件的设定求出了参数的最佳点，但却没能求出最佳条件，进一步进行第二记录就会扩大参数的探索范围。这可能存在于盘片特性与记录脉冲标准条件的特性不同的情况下。此外，根据盘片与记录再生装置的组合，记录再生特性与标准特性相差很大的情况也很有可能。
图2表示以下三者的关系，即进行记录的原始信号(NRZI信号)、记录脉冲波形及构成记录脉冲波形的参数、使用记录脉冲进行记录时盘片上的标记。图2的例子是2T宽的标记、3T宽的间隔和3T宽的标记的2Tm3Ts3Tm记录序列。上面曾经提及，形成2T宽的标记这一最短标记的记录脉冲参数是首脉冲宽(Ttop)、首脉冲位置(dTtop)和冷却脉冲宽(dTe)。用来形成3T宽以上标记的记录脉冲参数，是首脉冲宽(Ttop)、首脉冲位置(dTtop)、多脉冲宽(Tmp)和冷却脉冲宽(dTe)。图3是表示从2T到9T的记录脉冲形状。只有2T是无多脉冲的形状。
这里，利用图4，说明边沿偏移量的求法。图4表示了通过使用dTe参数这一图2说明的冷却脉冲宽度的参数，改变3T标记的末端边沿位置形成的标记和再生该标记时再生信号的状态。记录脉冲条件A、B、C分别设dTe为例如-1、0、1，并在改变冷却脉冲宽度的同时改变形成的标记宽度。在边沿偏移检测点上，从图4(b)的再生信号中，对来自比较器阈值基准的再生信号的振幅电平进行采样，求出边沿偏移值。这里，虽然以振幅值作为时间轴的错位来求出边沿偏移，但当然也可以是时间轴的错位本身。也就是如上述图21说明的那样，可以是再生时钟与比较器得到的二值化的脉冲之间的时间差。如图4所示，在再生以记录脉冲条件A形成的标记时，可求得边沿偏移值X。这种情况下，如果设比较器阈值基准是0电平，可求得边沿偏移值X为正值，判断标记长度比基准短。另一方面，在再生以记录脉冲条件C形成的标记时，可求得边沿偏移值Z。这种情况下，如果设比较器阈值基准是0电平，可求得边沿偏移值Z为负值，判断标记长度比基准长。在再生以记录脉冲条件B形成的标记时，可求得边沿偏移值Y。这种情况下，如果设比较器阈值基准是0电平，可求得边沿偏移值Y大致为0，判断标记长度基本为最佳。再生时，将这些边沿偏移在规定区间累加，或求出规定区间的平均，就可以求出边沿偏移量。只要对上述图15所示的每个标记长度和间隔长度的组合都求出边沿偏移量，就可判断哪种长度的标记偏离最佳设定。
另外，比较器阈值，可以采用例如在再生光盘上形成的记录标记时的成为波形的所有边沿的中心的电平。这里，所谓波形的所有边沿的中心的电平(level)，是指例如在将该电平作为阈值检测再生波形的相位误差的情况下，使检测出的相位误差最小的电平。此外，作为比较器的阈值，也可以使用例如在再生光盘上形成的记录标记时的成为波形的所有能量的中心的电平。
首先，利用图1的流程图说明本发明的记录脉冲调整的流程。其次，说明记录脉冲的详细调整方法及调整步骤。
图5表示调整步骤的流程图。首先，进行调整使得标记长度为适当长度。下面说明2T标记的调整方法。用于记录2T标记的记录脉冲参数，如上所述为Ttop、dTtop和dTe。
第1步是通过调整Ttop参数和dTtop参数而进行的记录长度调整。图6表示通过同时同方向地改变Ttop参数和dTtop参数，来改变首脉冲宽度，从而改变形成的2T标记长度的情形。同时同方向地改变Ttop参数和dTtop参数，是指首脉冲的下降位置和冷却脉冲(cooling pulse)的宽度固定，只改变首脉冲宽度。当改变首脉冲宽度时，形成的标记长度就会变化。这时，求出2T标记始端的边沿偏移量L和末端的边沿偏移量T。然后，求出L与T相加的绝对值。L与T相加的绝对值表示标记长度，0意味着理想的标记长度。采用该值为最小的记录脉冲设定。图9(a)表示在改变Ttop参数和dTtop参数的同时求出L、T和|L+T|的具体例。这里，设定0被选择。如图3所示，形成2T标记的记录脉冲中无多脉冲。因此，当首脉冲宽度对末端边沿影响较大、使首脉冲宽度发生变化时，不仅是始端边沿，末端边沿也会发生变化。也就是说，意味着标记宽度会在始端方向和末端方向上同时变化。
第2步是通过调整dTe参数而进行的记录长度调整。图7表示改变dTe参数致使冷却脉冲宽度变化，从而改变所形成的2T标记长度的情形。改变dTe参数，是指首脉冲的宽度和首脉冲的下降位置固定，只改变冷却脉冲宽度。当改变冷却脉冲宽度时，形成的标记长度就会变化。这时，求出2T标记始端的边沿偏移量L和末端的边沿偏移量T。然后，求出L与T相加的绝对值。L与T相加的绝对值表示标记长度，0意味着理想的标记长度。采用该值为最小的记录脉冲设定。图9(b)表示在改变dTe参数的同时求出L、T和|L+T|的具体例。这里，设定0被选择。
第3步是由dTtop参数和dTe参数实现的记录位置调整。图8表示同时同方向地改变dTtop和dTe参数致使记录脉冲整体的位置变化，从而改变所形成的2T标记的位置的情形。同时同方向地改变dTtop参数和dTe参数，是指，首脉冲的宽度和冷却脉冲的宽度固定，改变记录脉冲整体的位置。当改变记录脉冲整体的位置时，形成的标记位置就会变化。这时，求出2T标记始端的边沿偏移量L和末端的边沿偏移量T。进而，将L的绝对值与T的绝对值相加。L的绝对值与T的绝对值的相加，表示标记的相位错位，0意味着理想的标记长度。采用该值为最小的记录脉冲设定。图9(c)表示在改变dTtop参数和dTe参数的同时，求出L、T和|L-T|的具体例。这里，设定0被选择。这样，从第1步至第3步进行标记调整和标记位置调整。
标记长度的调整在第1步和第2步进行，第2步中由冷却脉冲宽度的变化实现的标记长度的调整，对第1步具有辅助作用。因此优选：冷却脉冲宽度，相对记录脉冲的标准条件不作很大改变。或者，冷却脉冲宽度，也可以相对记录脉冲的标准条件完全不作改变。这是因为冷却脉冲宽度的变化很有可能成为下列记录劣化的原因，即：由于在盘片上多次反复记录而导致盘片劣化的反复记录劣化、在覆盖已经记录的盘片时用不适当的记录功率进行记录情况下发生的记录劣化、温度湿度等环境变化而导致的记录劣化等。
对此，利用图10进行进一步说明。图10(a)，再生以最佳功率进行记录的区域，以及阶段性改变记录功率来进行记录的区域，并测定错误发生概率。可以称之为互功率(cross power)特性。图10(b)，再生以最佳功率对同一区域进行反复记录的区域，并测定错误发生概率。可以称之为反复记录特性。互功率特性和反复记录特性，有意地施加记录压力，制作产生记录劣化的区域，求出再生该区域时错误发生的概率。在图10中，将冷却脉冲宽度设定得与记录脉冲标准条件差距较大来进行记录的情况用虚线表示，将冷却脉冲宽度设定得与记录脉冲标准条件几乎不变来进行记录的情况用实线表示。这样，在冷却脉冲宽度采取与记录脉冲标准条件差距较大的设定来进行记录的情况下，错误发生率变大，有可能形成记录劣化容易发生的状态。
下面，说明3T标记以上的调整方法。用来记录3T以上标记的记录脉冲参数，如上所述是Tmp、Ttop、dTtop和dTe。作为一例，对3T标记调整进行说明。
第1步，是由dTtop参数实现的记录长度调整。与2T标记调整同样，通过同时同方向地改变Ttop参数和dTtop参数来改变首脉冲宽度，就可使形成的标记长度改变。但是，在本发明的实施方式中，作为首脉冲宽度参数的Ttop参数，是记录脉冲标准设定，只有作为控制首脉冲位置的参数的dTtop参数用来调整标记长度。这时，作为控制多脉冲宽度的参数的Tmp参数也可以设为记录脉冲标准设定。改变dTtop参数，是指首脉冲宽度、多脉冲宽度和冷却脉冲宽度固定，只改变首脉冲的下降位置。如图11的设定A到设定C所示，当改变首脉冲的下降位置时，形成的标记长度就会变化。这时，求出3T标记始端的边沿偏移量L和末端的边沿偏移量T。然后，求出L与T相加的绝对值。L与T相加的绝对值表示标记长度，0意味着理想的标记长度。采用该值为最小的记录脉冲设定。图14(a)表示在改变dTtop参数的同时求出L、T和|L+T|的具体例。由于仅改变与标记始端边沿相关的参数dTop，所以，只有始端的边沿偏移量L有变化，末端的边沿偏移量T没有变化。因此，|L+T|所表示的标记长是变化的，使|L+T|最小的dTop设定，选择设定0或1。
第2步是由dTe参数实现的标记长度调整。改变dTe参数，是指首脉冲宽度、首脉冲下降位置和多脉冲宽度固定，只改变冷却脉冲宽度。如图12的设定A到设定C所示，当改变冷却脉冲宽度时，形成的标记长度就会变化。这时，求出3T标记始端的边沿偏移量L和末端的边沿偏移量T。然后，求出L与T相加的绝对值。L与T相加的绝对值表示标记长度，0意味着理想的标记长度。采用该值为最小的记录脉冲设定。图14(b)表示在改变dTe参数的同时求出L、T和|L+T|的具体例。这里，设定1被选择。
第3步，是由dTtop参数和dTe参数实现的标记位置调整。通过同时同方向地改变Ttop和dTe参数，使多脉冲宽度和多脉冲位置原样固定，通过改变记录脉冲整体的位置，改变形成的3T标记的位置。如图13的设定A到设定C所示，当改变记录脉冲整体的位置时，形成的标记位置就会变化。这时，求出3T标记始端的边沿偏移量L和末端的边沿偏移量T。然后，将L的绝对值和T的绝对值相加。L的绝对值与T的绝对值的相加表示标记的相位错位，0意味着理想的标记位置。采用该值为最小的记录脉冲设定。图14(c)表示在改变dTtop参数和dTe参数的同时求出L、T和|L-T|的具体例。这里，设定0被选择。这样，通过第1步至第3步，对3T以上的标记长度进行标记调整和标记位置调整。
如果通过第1步的标记长度调整，使首脉冲宽度向短侧变化，那么上述的互功率特性就有可能恶化。此外，如果通过第1步的标记长度调整，使首脉冲宽度向长侧变化，那么上述的反复记录特性就有可能恶化。在图10中，将首脉冲宽度设得与记录脉冲标准条件差距较大来进行记录的情况用虚线表示，将首脉冲宽度设得与记录脉冲标准条件几乎不变来进行记录的情况用实线表示。这样，在首脉冲宽度采取与记录脉冲标准条件差距较大的设定进行记录的情况下，有可能形成记录劣化容易发生的状态。对此，本发明的特征在于：在第1步的标记长度调整中，将首脉冲宽度设为记录脉冲标准条件，只调整首脉冲的位置。标记长度调整虽是在第1步和第2步中进行，但第2步的通过改变冷却脉冲宽度而进行的标记长度的调整，对第1步起到辅助作用。因此，优选与记录脉冲标准条件差距不大。
另外，对于标记长度调整，也可以用如下方式调整参数，即同时改变标记的前端位置和后端位置。进一步，可以将该调整当作主调整，其后再进行微调整。在微调整过程中，可以对改变标记前端位置的参数和改变标记后端位置的参数中、因参数的变化导致形成的标记的变化较小的参数进行调整。
对实现本发明的光盘记录脉冲控制方法的光盘记录再生装置(光盘装置)进行说明。图16表示本发明记录再生装置的一例。由光学头1照射到光盘2的激光，通过反射将介质上的信息转换成再生信号。再生信号的波形被波形均衡器3整形。被波形整形后的再生信号根据再生时钟被A/D转换器4量化。量化后的再生信号被高通滤波器5除去低频成分。相位比较器6从高通滤波器5的输出中检测相位误差信息。LPF7从检测出的相位误差中检测应跟随的频率成分。通过D/A转换器8，LPF7的输出被转换成模拟信号。VCO9由转换后的模拟信号控制，生成再生时钟。再生时钟相位受到反馈控制，使得相位比较器6检测的相位误差平均为0。以上说明的A/D转换器4、高通滤波器5、相位比较器6、LPF7、D/A转换器8和VCO9，构成了用来生成再生时钟的PLL电路。
此外，根据高通滤波器5的输出，二值化电路10对原数字信息进行判别。样式检测电路11，从判别的二值化数据，识别由规定长度的标记和间隔的组合构成的样式。边沿偏移检测电路12，将样式检测电路11检测出的、在规定长度的标记和间隔中包含的相位误差信息以样式为单位进行累加，求得与记录脉冲参数的最佳值的错位(边沿偏移)。这里，进行上述图4说明的边沿偏移检测。以上说明的二值化电路10、样式检测电路11和边沿偏移检测电路12，构成了检测边沿偏移量的边沿检测电路。另外，PLL电路(由A/D转换器4、高通滤波器5、相位比较器6、LPF7、D/A转换器8和VCO9构成)和边沿检测电路(由二值化电路10、样式检测电路11和边沿偏移检测电路12构成)，构成了对光盘2上形成的记录标记与规定基准之间的误差进行检测的误差检测电路(误差检测机构)。
光盘控制器13根据每种样式的边沿偏移量，对被判断为有必要变更的记录脉冲参数进行变更。对于记录脉冲参数的变更方法，由于上述已经说明，所以省略说明。样式发生电路14输出试记录用的记录补偿学习用样式。记录补偿电路15，根据来自光盘控制器13的记录脉冲参数，按照记录补偿学习样式来制成激光发光波形。由以上的光盘控制器13和记录补偿电路15，构成根据上述误差检测电路检测出的误差，调整用于对光盘2进行记录的记录脉冲的记录脉冲控制电路(记录脉冲控制机构)。激光器驱动电路16，按照制成的激光器发光样式驱动光学头1的激光器。
(其他)
<1>
图16所示的本发明的记录再生装置中，构成为用二值化电路10将高通滤波器5的输出二值化，并根据二值化结果进行样式检测。但是，不一定如此，也可以像图17那样构成记录再生装置，进行样式检测。也就是说，将高通滤波器5的输出输入到FIR滤波器17，通过根据FIR滤波器17的输出求出均衡误差来更新FIR滤波器17的抽头系数(Tap系数)的LMS模块18，进行适应均衡，同时，根据FIR滤波器17的输出推定概率上最确定的状态迁移的维特比译码电路(Viterbi decoding circuit)19，输出二值化结果。样式检测电路11，利用维特比译码电路19的二值化结果进行样式检测。只要是像这样来进行样式检测求出边沿偏移量的构成，就能够使用更为准确的二值化结果，从而求出更为正确的边沿偏移量。
<2>
虽然在上述实施方式中，作为记录脉冲调整的步骤，对标记长度调整后进行标记位置调整的示例进行了说明，但也可以在标记位置调整后进行标记长度调整。
<3>
虽然在上述实施方式中，作为记录脉冲调整的步骤，对标记长度调整后进行标记位置调整的示例进行了说明，但也可以同时进行标记长度调整和标记位置调整。
<4>
虽然在上述实施方式中，对以与记录脉冲条件记录的原始信号的标记长度相应的首脉冲宽度、首脉冲位置、多脉冲宽度、冷却脉冲宽度作为参数的记录脉冲控制进行了说明，但本发明不限于此。本发明对采用其他方式的记录脉冲控制也适用。
<5>
在上述实施方式中，对读出在盘片上的特定区域预先记录的记录脉冲标准条件，以记录脉冲标准条件为基点调整记录脉冲条件进行了说明。这里，对于同一盘片和记录再生装置的组合，也可以在决定记录脉冲条件之后，预先在盘片上的特定区域记录该记录脉冲条件，并以该记录脉冲条件为基点，使用上述记录脉冲控制方法，对记录脉冲条件进行再调整。对于同一盘片和记录再生装置的组合，由于记录脉冲条件的变化不大，所以，以微小的调整或几乎不调整，就可以决定最佳的记录脉冲条件。由此带来的优点是可以缩短调整时间。此外，比较易受温度湿度等环境变化影响的是标记长度最短的记录。因此，可以仅对最短记录长度使用上述实施方式说明的记录脉冲控制方法进行调整。
<6>
虽然在上述实施方式中，将边沿偏移量作为再生时的特定参数求出，使利用边沿偏移量的规定计算达到最小的方式决定记录脉冲条件，但本发明不限于此。也可以使用其他计算方法。
<7>
虽然在上述实施方式中，将边沿偏移量作为再生时的特定参数使用，但本发明不限于此。例如，也可以将专利文献3记载的PRML(PartialResponse Maximum Likelihood)方式的再生信号评价指标作为再生时的特定参数使用。
<8>
上述实施方式中说明的记录脉冲调整方法，主要用于可擦写盘片(RE盘)，对一次可写的盘片(R盘)可以使用不同的控制方法。
RE盘是可以重复写入的盘片，需要在已经记录的区域上覆盖新的信息(数据)。因此维持重写特性(根据覆盖的记录品质的特性)是非常重要的。虽然为了维持该重写特性，使记录时照射盘面的记录功率恒定最为重要，但此外，调整记录脉冲形状也很重要。就RE盘而言，在进行与记录脉冲形状相关的调整时，为了维持重写特性，优选在保持记录脉冲宽度恒定的同时改变脉冲位置。
另一方面，R盘无需考虑重写特性，由于通过记录脉冲形状形成的记录标记易受影响(感度高)，所以优选在改变记录脉冲宽度的同时进行调整。
例如，设在记录脉冲调整中，如图18所示，有改变记录标记的始端(Lead)位置和末端(Trail)位置，调整形成的记录标记长度和位置的工序。
就RE盘而言，在与图18的记录标记长度有关的调整或调整Lead位置和Trail位置的工序中，如图19(a)所示，使记录脉冲宽度保持恒定的同时进行调整。也就是说，改变Lead位置时，同相同量地改变与首脉冲的上升位置和下降位置有关的参数即Tstp参数和Tetp参数。由此就可以不改变首脉冲宽度，改变首脉冲位置，调整Lead位置。同样，在改变Trail位置时，同相同量地改变与尾脉冲的上升位置和下降位置有关的参数即Tslp参数和Tetp参数，以及决定冷却脉冲宽度的参数即Tecp参数。由此就可以保持尾脉冲宽度和冷却脉冲宽度的恒定，同时调整Trail位置。由上使得RE盘可以不改变记录脉冲宽度，通过调整记录脉冲位置，维持重写特性。
另一方面，就R盘而言，在与图18的记录标记长度有关的调整或调整Lead位置和Trail位置的工序中，如图19(b)所示，改变记录脉冲宽度的同时进行调整。也就是说，改变Lead位置时，只改变与首脉冲的上升位置有关的参数即Tstp参数。由此就可以改变首脉冲宽度，调整Lead位置。同样，在改变Trail位置时，只改变与尾脉冲的下降位置有关的参数即Telp参数。由此就可以改变尾脉冲的宽度，调整Trail位置。另外，也可以在进行Trail位置调整时，同相同量地改变与尾脉冲的下降位置有关的参数即Telp参数和决定冷却脉冲宽度的参数即Tecp参数，在使冷却脉冲宽度恒定的状态下调整Trail位置。
另外，虽然这里对成为调整对象的参数是表示各脉冲位置的参数的情况进行了说明，但这里说明的技术思想，也同样可以用于成为调整对象的参数是上述实施方式说明的表示各脉冲位置和宽度的参数的情况。
以上的根据盘片对控制方法所进行的切换，在图16所示的记录再生装置中，可由光盘控制器13实现。也就是说，光盘控制器13会取得预先在光盘2的控制磁道或者其他区域记录的用来判别盘片的判别信息，按照RE盘和R盘来切换记录脉冲的调整方法。如果判别为是RE盘，光盘控制器13就使用本节记载的对RE盘的方法或者本实施方式记载的方法，进行记录脉冲的调整；如果判别为是R盘，光盘控制器13就使用本节记载的对R盘的方法，进行记录脉冲的调整。
由上，就可以根据RE盘与R盘特性的差异进行记录，进行更为恰当的记录。
<9>
实施方式中说明的装置也可以通过集成电路等来实现。具体讲就是，在上述实施方式中通过图16和图17说明的记录再生装置中，各模块既可以通过LSI等半导体装置个别地单片化，也可以包含一部或全部地单片化。
具体讲就是，可以使光盘控制器13和记录补偿电路15单片化。此外，图16和图17中用符号40表示的构成，即光学头1和光盘2以外的构成也可以作为半导体装置被单片化。另外，在符号40表示的构成中，可以只有激光器驱动电路16以外的构成作为半导体装置被单片化。另外，对于作为半导体装置制造的构成、例如符号40表示的构成来说，除了作为半导体装置安装，还可以通过例如ROM或RAM等存储装置和CPU等运算装置的协作来实现。在这种情况下，ROM预先储存实施由符号40表示的构成所实现的记录脉冲调整的程序，CPU执行ROM储存的程序。此外，RAM读出实施由符号40表示的构成所实现的记录脉冲调整的程序，CPU执行RAM中读入的程序。
另外，虽然这里采用LSI，但由于集成度的差异，有时也可以称呼为IC、System-LSI、Super-LSI、Ultra-LSI。
此外，集成电路化的方法并不限于LSI，也可以用专用电路或通用处理器来实现。LSI制造后，也可以利用可编程的FPGA(Field ProgrammableGate Array)或可重构LSI内部电路单元的连接或设定的可重构处理器(Reconfigurable Processor)。
再有，如果由于半导体技术的进步或派生的其他技术出现了取代LSI的集成电路化技术，当然也可以使用该技术来进行功能模块的集成化。生物技术的应用等是也很可能的。
<10>
另外，本发明也可以是以下内容。
本发明的光盘记录脉冲控制方法及其控制装置，是从预先记载有对标记长度和间隔长度的多个组合分别特定了记录脉冲的信息的记录脉冲标准条件的可写入的光盘中读出记录脉冲标准条件，调整上述记录脉冲标准条件，求出记录脉冲条件的记录脉冲控制方法及其控制装置。上述记录脉冲条件，是与进行记录的原始信号的标记长度相应的首脉冲宽度、首脉冲位置、多脉冲宽度、冷却脉冲宽度。首脉冲宽度和多脉冲宽度是上述记录脉冲标准条件，试记录和试记录的再生步骤至少进行一次以上，决定出首脉冲位置和冷却脉冲宽度的条件，使得再生时特定的参数基本达到所希望的值。
此外，还具有：通过变更首脉冲位置或冷却脉冲宽度来调整标记长度的步骤；和，通过同时同方向地变更首脉冲位置和冷却脉冲宽度来调整标记位置的步骤。
此外，上述记录脉冲控制，适用于进行记录的原始信号中除去最短标记长度之外的标记长度。
此外，本发明，是从预先记载有对标记长度和间隔长度的多个组合分别特定了记录脉冲的信息的记录脉冲标准条件的可写入的光盘中读出记录脉冲标准条件，调整上述记录脉冲标准条件，求出记录脉冲条件的记录脉冲控制方法及其控制装置。上述记录脉冲条件，是与进行记录的原始信号的标记长度相应的首脉冲宽度、首脉冲位置、冷却脉冲宽度。具有以下步骤：至少进行一次以上的试记录和试记录的再生步骤，通过首脉冲宽度的变更来进行标记长度调整的步骤或通过冷却脉冲宽度的变更来进行标记长度调整的步骤；以及，通过同时同方向地变更首脉冲位置和冷却脉冲宽度来调整标记位置的步骤。决定记录脉冲条件，使得再生时特定的参数基本达到所希望的值。
此外，上述记录脉冲控制，适用于进行记录的原始信号中的最短标记长度。
此外，本发明，是从预先记载有对标记长度和间隔长度的多个组合分别特定了记录脉冲的信息的记录脉冲标准条件的可写入的光盘中读出记录脉冲标准条件，调整上述记录脉冲标准条件，求出记录脉冲条件的记录脉冲控制方法及其控制装置。上述记录脉冲条件，是与进行记录的原始信号的标记长度相应的首脉冲宽度、首脉冲位置、多脉冲宽度、冷却脉冲宽度。至少进行一次以上的试记录和试记录的再生步骤，按照上述进行记录的原始信号的标记长度，使要变更的上述记录脉冲条件可变，针对每一个标记长度进行标记长度和标记位置的调整，针对每一个标记长度决定记录脉冲条件，使得再生时特定的参数基本达到所希望的值。
此外，根据冷却脉冲宽度的标记长度调整，与根据首脉冲位置的标记长度调整相比，缩小了距记录脉冲标准条件的调整量。
此外，上述再生时特定的参数，是再生所形成的标记时求出的标记上升和下降各自的边沿偏移量。
此外，在标记长度和间隔长度的多个组合中，求出所形成的标记的上升边沿偏移量和下降边沿偏移量，在标记长度调整时，将上升边沿偏移量和下降边沿偏移量之和基本达到最小的记录脉冲条件作为决定记录脉冲条件；在标记位置调整时，将上升边沿偏移量的绝对值和下降边沿偏移量的绝对值之和基本达到最小的记录脉冲条件作为决定记录脉冲条件。
<11>
样式发生电路14产生的记录补偿学习用样式可以是如下样式。例如，记录脉冲调整用记录样式无需是用户数据的样式。更具体讲就是，例如，当将用户数据用于2T标记调整时，由于2T标记发生的概率大，所以2T标记的变化会导致根据记录样式的再生波形求出的比较器的阈值(参照图4)即基准电平发生变化。基准电平一旦变动，就不可能适当地检测出标记长度和标记位置。
因此，作为记录脉冲调整用记录样式，优选：使用基准电平不易变化的记录样式。例如优选：使用包含以调制解调规则发生的最短至最长的标记长度(例如，2T～9T)、且其各标记长度的发生概率几乎相同的样式。这种情况下，当变化某一记录标记的标记长度或标记位置等时，其影响相对于所有边沿(2T～9T)而言，不过是1/16的影响，即便是将基准电平决定为作为所有边沿的中心的电平的情况下，也几乎不会对基准电平造成影响，可以确切地检测出标记长度和标记位置。
<12>
记录标记的调整，可以按照抑制对波形阈值(基准电平)产生影响的这种步骤进行。例如，在用一个记录样式同时调整多个记录标记(例如，2T和3T等)的标记长度的情况下，对2T标记，以从短方向往长方向变化的方式进行参数调整；对3T标记以从长方向往短方向变化的方式进行参数调整。由此，波形的所有边沿的中心或波形的所有能量的中心几乎不变，记录标记调整对基准电平带来的影响几乎没有。因而可以确切地检测出标记长度和标记位置。此外，在标记位置的调整中，也同样优选按照抑制对波形阈值产生影响的这种步骤来进行调整。具体讲就是，在同时调整多个记录标记(例如，2T和3T等)的标记长度的情况下，使2T标记和3T标记反相位移动，即，使2T标记和3T标记反方向(时间超前方向和时间滞后方向)移动地进行调整。
产业上的利用可能性
本发明的光盘记录脉冲控制方法、其控制装置及光盘装置，从在特定区域预先记录了记录脉冲标准条件的可写入的光盘中，读出上述记录脉冲标准条件，设定记录再生装置的记录脉冲条件，在进行数据的记录再生的光盘的记录脉冲条件调整方法中，通过降低可写入光盘及记录再生装置的特性偏差的影响，进行适当的记录脉冲调整控制，就会使记录状态良好，再生时错误减少。
因此，本发明在光盘及记录再生装置大量生产时可提高成品率，对产品的品质提高和成本削减非常有效。

Claims (44)

1.一种记录脉冲控制方法，调整用来对可写入的光盘进行记录的记录脉冲，包括：
第1工序，是调整记录脉冲参数中与记录标记长度调整有关的参数(以下，记作记录标记长度调整参数)的工序，将所述记录标记长度调整参数，调整为形成最接近规定的记录标记长度的记录标记的值；以及，
第2工序，是在所述第1工序之后、调整所述记录脉冲参数中与记录标记位置调整有关的参数(以下，记作记录标记位置调整参数)的工序，将所述记录标记位置调整参数，调整为形成最接近规定的记录标记位置的记录标记的值。
2.根据权利要求1所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述第1工序，包含：对所述记录标记长度调整参数中、与记录标记前端位置的调整有关的参数(以下为前端位置调整参数)进行调整的第1第1工序，
所述第1第1工序将所述前端位置调整参数调整为形成最接近所述规定的记录标记长度的记录标记的值。
3.根据权利要求2所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述第1工序还包含：对所述记录标记长度调整参数中、与记录标记后端位置的调整有关的参数(以下为后端位置调整参数)进行调整的第2第1工序，
所述第2第1工序，在所述第1第1工序之后，将所述后端位置调整参数调整为形成最接近所述规定的记录标记长度的记录标记的值。
4.根据权利要求1所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述第1工序包含：对所述记录标记长度调整参数中、与记录标记前端位置的调整有关的参数(以下为前端位置调整参数)和与记录标记后端位置的调整有关的参数(以下为后端位置调整参数)进行调整的第3第1工序。
5.根据权利要求4所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述第1工序还包含：在所述第3第1工序之后，对所述前端位置调整参数和所述后端位置调整参数之中、对形成的记录标记的记录标记长度影响较小的参数进行调整的第4第1工序。
6.根据权利要求2所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述前端位置调整参数，包含对所述记录脉冲的首脉冲位置进行调整的参数。
7.根据权利要求6所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述规定的记录标记长度，是指记录时使用的记录标记长度中、除最短的记录标记长度之外的记录标记长度。
8.根据权利要求2所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述前端位置调整参数，至少包含调整所述记录脉冲的首脉冲宽度的参数。
9.根据权利要求8所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述规定的记录标记长度，是指记录时使用的记录标记长度中最短的记录标记长度。
10.根据权利要求3所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述后端位置调整参数，包含调整所述记录脉冲的冷却脉冲宽度的参数。
11.根据权利要求3所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述后端位置调整参数，包含调整所述记录脉冲的尾脉冲宽度的参数。
12.根据权利要求11所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述规定的记录标记长度，是指记录时使用的记录标记长度中、除最短记录标记长度之外的记录标记长度。
13.根据权利要求1所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述第2工序，维持所述记录脉冲中的规定脉冲的脉冲宽度，同时调整脉冲位置。
14.根据权利要求13所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述规定脉冲，包含首脉冲、多脉冲、尾脉冲、冷却脉冲中的至少一个，
所述第2工序，对所述记录标记位置调整参数进行调整，使所述规定脉冲的脉冲位置分别在相同方向上改变相同的量。
15.一种记录脉冲控制方法，调整用来对可写入的光盘进行记录的记录脉冲，包括：
调整记录脉冲参数中与记录标记长度的调整有关的参数(以下为记录标记长度调整参数)的工序；以及，
调整所述记录脉冲参数中与记录标记位置的调整有关的参数(以下为记录标记位置调整参数)的工序，
在所述记录标记长度调整参数或所述记录标记位置调整参数的调整中，维持所述记录脉冲中的规定脉冲的脉冲宽度，同时调整脉冲位置。
16.根据权利要求15所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述规定脉冲，包含所述记录脉冲的首脉冲、多脉冲、尾脉冲、冷却脉冲中的任何一个。
17.根据权利要求15或16所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
所述可写入的光盘是擦写型光盘。
18.根据权利要求15所述的记录脉冲控制方法，其特征在于，
在所述可写入的光盘是追记型光盘的情况下，在所述记录标记长度调整参数或所述记录标记位置调整参数的调整中，调整所述记录脉冲中的所述规定脉冲的脉冲宽度。
19.一种记录脉冲控制装置，调整用来对可写入的光盘进行记录的记录脉冲，其中，
具备：进行记录脉冲参数调整的参数调整部；和
按照由所述参数调整部调整的所述记录脉冲参数，调整所述记录脉冲的记录脉冲调整部，
所述参数调整部，在调整了记录脉冲参数中与记录标记长度的调整有关的参数(以下为记录标记长度调整参数)之后，调整与记录标记位置的调整有关的参数(以下为记录标记位置调整参数)，
所述记录标记长度调整参数的调整中，改变所述记录标记长度调整参数，来将所述记录标记长度调整参数调整为形成被记录的记录标记中、最接近于规定的记录标记长度的记录标记的值，
所述记录标记位置调整参数的调整中，改变所述记录标记位置调整参数，来将所述记录标记位置调整参数调整为形成被记录的记录标记中、最接近于规定的记录标记位置的记录标记的值。
20.根据权利要求19所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述记录标记长度调整参数的调整中，改变所述记录标记长度调整参数中与记录标记前端位置的调整有关的参数(以下为前端位置调整参数)，来将所述前端位置调整参数调整为形成被记录的记录标记中最接近于所述规定的记录标记长度的记录标记的值。
21.根据权利要求20所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述记录标记长度调整参数的调整中，在进行了所述前端位置调整参数的调整之后，改变所述记录标记长度调整参数中与记录标记后端位置的调整有关的参数(以下为后端位置调整参数)，来将所述后端位置调整参数调整为形成被记录的记录标记中最接近于所述规定的记录标记长度的记录标记的值。
22.根据权利要求19所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述记录标记长度调整参数的调整中，对所述记录标记长度调整参数中与记录标记前端位置的调整有关的参数(以下为前端位置调整参数)和与记录标记后端位置的调整有关的参数(以下为后端位置调整参数)进行调整。
23.根据权利要求22所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述记录标记长度调整参数的调整中，在所述前端位置调整参数和所述后端位置调整参数变化后，对所述前端位置调整参数和所述后端位置调整参数中对形成的记录标记的记录标记长度影响较小的参数再进一步进行调整。
24.根据权利要求20所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述前端位置调整参数，包含对所述记录脉冲的首脉冲的位置进行调整的参数。
25.根据权利要求24所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述规定的记录标记长度，是指记录时使用的记录标记长度中除最短记录标记长度之外的记录标记长度。
26.根据权利要求20所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述前端位置调整参数，至少包含对所述记录脉冲的首脉冲的宽度进行调整的参数。
27.根据权利要求26所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述规定的记录标记长度，是指记录时使用的记录标记长度中最短的记录标记长度。
28.根据权利要求21所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述后端位置调整参数，包含对所述记录脉冲的冷却脉冲的宽度进行调整的参数。
29.根据权利要求21所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述后端位置调整参数，包含对所述记录脉冲的尾脉冲的宽度进行调整的参数。
30.根据权利要求29所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述规定的记录标记长度，是指记录时使用的记录标记长度中除最短记录标记长度之外的记录标记长度。
31.根据权利要求19所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
在所述记录标记位置调整参数的调整中，维持所述记录脉冲中规定脉冲的脉冲宽度，同时调整脉冲位置。
32.根据权利要求31所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述规定脉冲，包含首脉冲、多脉冲、尾脉冲、冷却脉冲中的至少一个，
在所述记录标记位置调整参数的调整中，对所述记录标记位置调整参数进行调整，使所述规定脉冲的脉冲位置分别在相同方向上改变相同的量。
33.一种记录脉冲控制装置，调整用来对可写入的光盘进行记录的记录脉冲，其中，
具备：进行记录脉冲参数调整的参数调整部；和
按照由所述参数调整部调整的所述记录脉冲参数，调整所述记录脉冲的记录脉冲调整部，
所述参数调整部，进行记录脉冲参数中与记录标记长度调整有关的参数(以下为记录标记长度调整参数)的调整、和与记录标记位置调整有关的参数(以下为记录标记位置调整参数)的调整，
在所述记录标记长度调整参数或所述记录标记位置调整参数的调整中，维持所述记录脉冲中规定脉冲的脉冲宽度，同时调整脉冲位置。
34.根据权利要求33所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述规定脉冲，包含所述记录脉冲的首脉冲、多脉冲、尾脉冲、冷却脉冲中的任何一个。
35.根据权利要求33或34所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
所述可写入的光盘是擦写型光盘。
36.根据权利要求33所述的记录脉冲控制装置，其特征在于，
在所述可写入的光盘是追记型光盘的情况下，在所述记录标记长度调整参数或所述记录标记位置调整参数的调整中，调整所述记录脉冲中的所述规定脉冲的脉冲宽度。
37.一种光盘装置，其中，
具备：光学头，将激光照射到光盘上，接收其反射光并转换成再生信号；
误差检测机构，取得所述再生信号，检测光盘上形成的记录标记与成为基准的记录标记之间的误差；以及，
记录脉冲控制机构，根据所述误差检测机构检测出的误差，调整用来对光盘进行记录的记录脉冲，
所述记录脉冲控制机构，具有：
进行记录脉冲参数调整的参数调整部；和
按照由所述参数调整部调整的所述记录脉冲参数，调整所述记录脉冲的记录脉冲调整部，
所述参数调整部，在调整了记录脉冲参数中与记录标记长度的调整有关的参数(以下为记录标记长度调整参数)之后，调整与记录标记位置的调整有关的参数(以下为记录标记位置调整参数)，
所述记录标记长度调整参数的调整中，改变所述记录标记长度调整参数，来将所述记录标记长度调整参数调整为形成被记录的记录标记中、与规定的记录标记长度的误差最小的记录标记的值，
所述记录标记位置调整参数的调整中，改变所述记录标记位置调整参数，来将所述记录标记位置调整参数调整为形成被记录的记录标记中、与规定的记录标记位置的误差最小的记录标记的值。
38.一种光盘装置，其中，
具备：光学头，将激光照射到光盘上，接收其反射光并转换成再生信号；
误差检测机构，取得所述再生信号，检测光盘上形成的记录标记与成为基准的记录标记之间的误差；以及，
记录脉冲控制机构，根据所述误差检测机构检测出的误差，调整用来对光盘进行记录的记录脉冲，
所述记录脉冲控制机构，具有：
进行记录脉冲参数调整的参数调整部；和
按照由所述参数调整部调整的所述记录脉冲参数，调整所述记录脉冲的记录脉冲调整部，
所述参数调整部，进行记录脉冲参数中与记录标记长度调整有关的参数(以下为记录标记长度调整参数)的调整、和与记录标记位置调整有关的参数(以下为记录标记位置调整参数)的调整，
在所述记录标记长度调整参数或所述记录标记位置调整参数的调整中，维持所述记录脉冲中规定脉冲的脉冲宽度，同时调整脉冲位置。
39.根据权利要求37或38所述的光盘装置，其特征在于，
所述误差检测机构，使用一电平来检测所述误差，该电平为再生所述光盘上形成的记录标记时的波形的所有边沿的中心。
40.根据权利要求37或38所述的光盘装置，其特征在于，
所述误差检测机构，使用一电平来检测所述误差，该电平为再生所述光盘上形成的记录标记时的波形的所有能量的中心。
41.根据权利要求37或38所述的光盘装置，其特征在于，
还具备记录样式发生电路，向记录脉冲控制机构输出规定的记录样式，该规定的记录样式包含成为所述记录脉冲控制机构中的调整对象的记录标记，
所述规定的记录样式，分别以基本相同的比例包含不同长度的记录标记和不同长度的间隔。
42.根据权利要求37或38所述的光盘装置，其特征在于，
所述记录脉冲控制机构，将成为再生所述光盘上形成的记录标记时的波形的所有边沿的中心的电平、或成为波形的所有能量的中心的电平，基本维持恒定，同时进行所述记录标记长度调整参数和所述记录标记位置调整参数的调整。
43.根据权利要求42所述的光盘装置，其特征在于，
所述记录脉冲控制机构，在进行不同记录标记所对应的所述记录标记长度调整参数的调整时，对一部分记录标记所对应的记录长度调整参数进行试记录，使所述一部分的记录标记变长，并对所述一部分的记录标记的记录标记长度进行调整，同时，对另一部分的记录标记所对应的记录长度调整参数进行试记录，使所述另一部分的记录标记变短，并对所述一部分的记录标记的记录标记长度进行调整。
44.根据权利要求42所述的光盘装置，其特征在于，
所述记录脉冲控制机构，在进行不同记录标记所对应的所述记录标记位置调整参数的调整时，对所述记录标记位置调整参数进行试记录，使所述不同记录标记分别向反方向移动，并调整各个所述不同记录标记的记录标记位置。
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