CN1291408C

CN1291408C - 再现信号评估方法

Info

Publication number: CN1291408C
Application number: CNB031411789A
Authority: CN
Inventors: 小川昭人
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 2002-06-05
Filing date: 2003-06-05
Publication date: 2006-12-20
Anticipated expiration: 2023-06-05
Also published as: TW200401266A; US7307937B2; US20030227852A1; US20060239157A1; CN1474397A; US20060233085A1; KR100565926B1; TWI258737B; EP1369872A2; KR20030094124A; US20060233084A1; US7158462B2; US7301877B2

Abstract

本发明涉及一种用于对从信息记录介质再现的再现信号进行评估(ST11-ST14)的再现信号评估方法，在该信息记录介质上记录了由多个长度不同的代码构成的信息，而且根据从信息记录介质再现的最短代码之后的下一最短代码的再现信号，评估再现信号。

Description

再现信号评估方法

技术领域

本发明涉及一种诸如光盘的、可以记录和再现信息的信息记录介质、一种用于评估从信息记录介质再现的再现信号的评估方法、一种从信息记录介质中再现信息的再现方法、一种在信息记录介质上记录信息的方法以及一种信息再现设备。

背景技术

一种已知的可记录或可重写信息记录介质是电热记录介质。通过加热并冷却信息记录介质，可以使这种记录介质记录信息。典型的电热记录介质是相变介质。相变介质利用介质各相之间的差别，即，非晶态相与晶态相之间的物理特性的差别(例如，反射率的差别)记录信息。例如，在采用相变介质的光盘设备中，在预初始化过程中，晶化介质的整个表面，并以脉冲方式对介质照射高强度激光，从而形成非晶记录标记。

这是因为，强激光熔融介质，然后，在照射的激光束变弱时，该介质迅速冷却并变成非晶体。另一方面，在再现信息时，特定能级的弱激光照射介质，将作为记录标记的非晶体部分和晶体部分引起的反射率的变化转换为电信号，从而读取信息。

最近投入实际应用的、采用相变介质的光盘是DVD-RAM(ISO/IEC16824)。在这种DVD-RAM中，通过改变待照射的激光的能级来记录和擦除信息。以多个记录标记的形式，将信息记录到光盘的记录光道上。通过对记录光道照射多个激光束脉冲，成型各记录标记。通常，将激光脉冲的记录波形称为写策略(strategy)。写策略说明将标记记录到光盘上的激光调制方法或记录波形，对记录标记的每个长度定义写策略。

在DVD-RAM写策略中，光输出具有3个或者4个电平。具体地说，它们是：用于将介质加热到熔融温度以上的峰值功率、用于使介质保持晶化温度晶化保持时间的偏置功率1(擦除功率)以及用于迅速冷却熔融介质使其非晶的偏置功率2和偏置功率3。在DVD-RAM中，调节光输出电平，从而精确调节待记录的标记的大小和形状。

在DVD-RAM中，写策略中定义的光输出电平是常数，与标记的宽度以及间隔(无信号)的宽度无关。此外，与介于长间隔之间的记录标记不同，介于短间隔之间的记录标记接收用于记录前面标记和后面标记的热量，这样产生了热干扰问题：该热量会使记录标记重新晶化或者使熔融部分膨胀。在DVD-RAM中，为了避免发生这种问题，通过调节前间隔和后间隔的宽度，使脉宽更宽或者更窄，从而校正标记宽度的变化并获得要求的标记形状。

另一方面，在评估记录信号(标记/间隔)的方法中，在DVD-RAM内定义不对称性。DVD-RAM定义的不对称性用于评估记录数据的最致密图形的再现波形中心电平与记录数据的最稀疏图形的再现波形中心电平之间的差值。

如上所述，在DVD-RAM中，调节写策略，从而处理热干扰引起的记录标记区的变化问题。例如，平成第2000-36115号日本专利申请公开文献公开了这种调节过程和方法。在此公开中，在实际记录用户数据之前，记录测试图形，并调节写策略(脉宽)。在这种情况下，将所采用的调制方法中的最致密图形和最稀疏图形用作测试图形，并调节脉宽，以使各再现信号的中心电平之间的差值可以变成0。

关于DVD-RAM中再现信号的评估指数，将最致密图形的中心电平与最稀疏图形的中心电平之间的差值定义为不对称性。使不对称性低于标准值可以使最致密信号在振幅方向对再现信号包络保持平衡，这样加强了信息记录介质的再现特性和互换性。然而，在以高密度记录信息时，热干扰的影响变大，这样在振幅方向，不仅会严重损害最致密图形的平衡，而且会严重损害其它图形的平衡。在这种情况下，难以再现信息，而且还丧失了信息记录介质的互换性。

此外，在DVD-RAM中，尽管定义了不对称性，但是未公开为了优化不对称性而调节写策略的过程。

此外，包括最致密图形的随机数据内的抖动用作用于确定写策略的指数。然而，在记录信息的密度变得非常高，而且在将不同于传统限幅方法的、诸如部分响应最大似然(PRML)方法的识别方法用作再现信号处理方法时，就难以测量包括最致密图形的信号内的抖动。这样就产生了如下问题：可以确定将抖动用作指数的写策略。

此外，作为一种利用不对称性调节写策略的方法，平成第2000-36115号日本专利申请公开文献公开了一种以这样的方式记录关于最致密代码和最稀疏代码的组合图形的测试数据并调节写策略，特别是脉宽，以使各再现信号的中心电平对准的方法。然而，这种方法不能解决以高密度记录信息产生的热干扰问题。此外，在该校正方法中，无论何种情况仅校正脉宽。在热干扰影响严重的高密度记录情况下，产生如下问题：仅利用这种校正方法难以形成高精度的记录标记，而且难以调节不对称性。

发明内容

本发明的目的是提供一种可以清晰评估从信息记录介质再现的再现信号质量的再现信号评估方法、一种具有良好再现特性和极佳互换性的信息记录介质、一种可以以高精度从信息记录介质再现信息的信息再现设备和信息再现方法以及一种可以以良好再现特性和高互换性将信息记录到信息记录介质内的信息记录方法。

根据本发明一个方面的再现信号评估方法是一种用于对从信息记录介质再现的再现信号进行评估的再现信号评估方法，在该信息记录介质上记录了由多个长度不同的代码构成的信息，该再现信号评估方法包括：根据从信息记录介质再现的最短代码之后的下一最短代码的再现信号，评估再现信号。

根据本发明一个方面的信息记录介质是一种用于记录由多个长度不同的代码构成的信息的信息记录介质，其中根据从信息记录介质再现的最短代码之后的下一最短代码的再现信号评估再现信号的评估结果满足特定评估等级。

根据本发明一个方面的信息再现设备是一种用于从信息记录介质再现信息的信息再现设备，在该信息记录介质上记录了由多个不同长度的代码构成的信息，而且在该信息记录介质中，如果从信息记录介质中再现的最短代码的再现信号的最大值为IaH，而该再现信号的最小值为IaL，从该信息记录介质再现的最短代码之后的下一最短代码的再现信号的最大值为IbH，而该再现信号的最小值为IbL，而且其长度为从该信息记录介质再现的最长代码或者最短代码的3倍或者更多倍的代码的再现信号的振幅为Ic，则{(IbH+IbL)/2-(IaH+IaL)/2}/Ic×100的值等于或者大于-4并等于或者小于4，该信息再现设备包括：检测装置，用于检测照射在信息记录区上的光束的反射光；以及再现装置，用于根据检测装置检测的反射光，再现由长度不同的多个代码构成的信息。

根据本发明一个方面的信息再现方法是一种用于从信息记录介质再现信息的信息再现方法，在该信息记录介质上记录了由多个不同长度的代码构成的信息，而且在该信息记录介质中，如果从信息记录介质中再现的最短代码的再现信号的最大值为IaH，而该再现信号的最小值为IaL，从该信息记录区再现的最短代码之后的下一最短代码的再现信号的最大值为IbH，而该再现信号的最小值为IbL，而且其长度为从该信息记录区再现的最长代码或者最短代码的3倍或者更多倍的代码的再现信号的振幅为Ic，则{(IbH+IbL)/2-(IaH+IaL)/2}/Ic×100的值等于或者大于-4并等于或者小于4，该信息再现方法包括：检测照射在信息记录区上的光束的反射光；以及检测的反射光，再现由长度不同的多个代码构成的信息。

根据本发明一个方面的信息记录方法是一种用于将信息记录到信息记录介质的信息记录方法，该方法包括通过照射光束以下述方式记录信息以将由长度不同的多个代码构成的信息记录到信息记录介质，如果从信息记录介质中再现的最短代码的再现信号的最大值为IaH，而该再现信号的最小值为IaL，从该信息记录介质再现的最短代码之后的下一最短代码的再现信号的最大值为IbH，而该再现信号的最小值为IbL，而且其长度为从该信息记录介质再现的最长代码或者最短代码的3倍或者更多倍的代码的再现信号的振幅为Ic，则{(IbH+IbL)/2-(IaH+IaL)/2}/Ic×100的值等于或者大于-4并等于或者小于4。

附图说明

本发明说明书所包含的并作为本发明说明书一部分的附图示出本发明实施例，而且附图与上述所做的总体说明以及以下对实施例所做的详细说明一起用于解释本发明原理。

图1示出激光记录波形以及以标记形式将信息记录到其上的光道的原理图；

图2A和2B是用于解释表示代表信息的NRZI信号波形与记录波形之间的对应性的写策略的示意图；

图3示出利用写策略记录的用户数据的再现信号波形，即眼图形；

图4示出根据本发明一个实施例的光盘设备的实施例；

图5示出在改变擦除功率Bp1时，再现信号的不对称性1、不对称性2以及差错率(bER)的测量结果；

图6示出在改变时间Tsfp时，再现信号的不对称性1、不对称性2以及差错率(bER)的测量结果；

图7示出记录信号和再现信号的二次谐波(second higherharmonic)和差错率的测量结果；

图8是用于解释根据本发明第一实施例的写策略确定方法的流程图；

图9是用于解释第一擦除功率Bp11确定方法的流程图；

图10是用于解释第一擦除功率Bp11和nTO.W.mT擦除比的示意图；

图11是用于解释第二擦除功率Bp11确定方法的示意图；

图12是用于解释第三擦除功率Bp11确定方法的示意图；

图13是用于解释另一种不对称性测量方法的示意图；

图14是用于解释另一种不对称性测量方法的示意图；

图15是用于解释另一种不对称性测量方法的示意图；

图16A和16B示出记录功率Pp的设置值和评估指数(不对称性1、S、ΔV)的变化状态；

图17A和17B示出另一种不对称性测量方法；

图18A和18B示出设置值和时间Tsfp、Telp、Tlc的评估指数的变化状态；

图19A和19B示出另一种二次谐波测量方法；

图20A和20B示出设置值和时间Temp1的评估指数变化状态；

图21A和21B示出用于设置要记录标记的时间Tsfp、Telp的值以与前间隔或后间隔对应的补偿表；

图22示出擦除功率Bp1与评估指数(差错率、估计的bER)之间的关系；

图23示出记录功率Pp与评估指数(差错率、估计的bER)之间的关系；

图24是用于解释根据本发明一个实施例的写策略确定方法的第二实施例的流程图；

图25是用于解释根据本发明一个实施例的写策略确定方法的第三实施例的流程图；

图26示出光盘结构的原理图；

图27示出利用写策略记录的用户数据(2T至11T图形)的再现信号的波形，即眼图形；

图28示出再现信号的对称性5与差错率之间的关系；

图29示出再现信号的对称性与差错率之间的关系以及不对称性6与差错率之间的关系；

图30是用于解释再现信号评估方法的第一个例子的流程图；

图31是用于解释再现信号评估方法的第二个例子的流程图；

图32是以这样的方式记录信息，即，在利用再现信号评估方法进行评估时满足特定基准值的信息记录过程的流程图；以及

图33是用于解释以这样的方式从已经记录了信息的信息记录介质再现信息，即，在利用再现信号评估方法进行评估时满足特定基准值的信息再现过程的流程图。

具体实施方式

以下将参考附图详细说明本发明实施例。以下说明的实施例是作说明用的，而非限制性的。

图1示出根据本发明的激光记录波形以及在信息记录设备中将信息记录到其上的光道的原理图。可以将记录波形粗略划分为记录部分001和擦除部分002。假定该记录介质是相变介质。利用多个加热脉冲加热记录薄膜，然后，迅速冷却记录薄膜，从而在记录光道上形成非晶标记004。最好利用加热脉冲的上升位置确定记录标记004的前沿位置。同样，利用加热脉冲的下降位置确定记录标记004的后沿位置。

因此，为了向后移动记录标记的前沿位置(向附图所示的右侧移动)，只需向后移动加热脉冲的上升位置。对记录部分001照射多个加热脉冲。改变每个脉冲的宽度可以控制标记的形状，包括记录标记的横向宽度。在擦除部分002上，使记录光保持恒定能级。因此，使记录介质保持在晶化温度，然后，使记录介质晶化。将一个记录标记004与另一个记录标记004之间的晶化部分003称为间隔。

图2A和2B示出表示记录波形与记录信号之间的对应性的写策略的例子。如果基准时钟周期为T，则图2A示出用于记录2T标记的记录波形，而图2B示出用于记录9T标记的记录波形。在擦除部分002，记录光的功率保持在Bp1。在记录部分001，记录光的功率升高到Pp。此后，为了进行冷却，将记录光的功率降低到擦除功率Bp2或擦除功率Bp3。在记录部分001，根据它们的功能将各脉冲分割为开始脉冲005、中间脉冲006以及结束脉冲007。利用相对于NRZI信号的上升或基准时钟的上升位置的以下变量确定每个脉冲的宽度：延迟时间Tsfp、Tefp、Tsmp、Temp、Telp以及Tlc。利用待记录代码的长度确定中间脉冲的数量。

Tefp：相对于NRZI信号的上升的开始脉冲起始时间

Tefp：相对于NRZI信号的上升的开始脉冲结束时间

Tsmp：相对于基准时钟的中间脉冲起始时间

Temp：每个中间脉冲的脉宽

Tslp：相对于基准时钟的最后脉冲起始时间

Telp：相对于基准时钟的最后脉冲结束时间

Tlc：最后脉冲之后提供擦除功率Bp2的时间。

接着，将说明评估再现信号的方法。

图3示出利用写策略记录的用户数据(随机数据)的再现信号的波形，即眼图形。假定调制数据时使用的最短代码(标记或间隔的长度)为2T，而最长代码为13T。眼图形中具有最小振幅的信号是具有2T标记和2T间隔的再现信号。以下将具有2T标记和2T间隔的连续信号称为2T图形。将2T图形再现信号的最高电平定义为I2H，而将最低电平定义为I2L。下一小振幅信号是具有3T标记和3T间隔的再现信号。对于3T图形的再现信号，以与2T图形同样的方式定义I3H和I3L。将3T图形的振幅定义为I3。具有最大振幅的信号是具有13T标记和13T间隔的再现信号。对于13T图形的再现信号，以与2T图形的同样方式定义I13H和I13L。将13T图形的振幅定义为I13。

在此，将解释在该实施例中，用作再现信号的评估指数的两种对称性的定义。第一不对称性或不对称性1：AS2T13T是所有随机数据的包络波形的2T图形的不对称性，以下是其定义：

AS2T13T＝{(I13H+I13L)/2-(I2H+I2L)/2}/I13×100％ (1)

第二对称性或对称性2：AS2T3T是可能被错误识别的3T图形和2T图形的不对称性，以下是其定义：

AS2T3T＝{(I3H+I3L)/2-(I2H+I2L)/2}/I3×100％ (2)

其中，(I13H+I13L)/2是I13的中心电平、(I3H+I3L)/2是I3的中心电平，(I2H+I2L)/2是I2的中心电平。

第三不对称性或不对称性3：AS3T13T是13T图形的包络波形的3T图形的不对称性，以下是其定义：

AS3T13T＝{(I13H+I13L)/2-(I3H+I3L)/2}/I13×100％ (3)

上面使用了等式(1)定义的不对称性。

相反，等式(2)表示的不对称性和等式(3)表示的不对称性是该实施例新定义的。等式(2)定义的不对称性2可以用于估计调制法则中使用的代码中的可能识别错误的最短代码与下一个最短代码之间，例如2T代码与3T代码之间的信号电平差值。调制法则是，在将信息记录到光盘上时，将信息调制为其信号宽度为整倍数个图2A和2B所示的T，例如2T或者更多个T的信号情况下采用的法则。例如，例如在传统的DVD-RAM中，8-16调制作为调制法则。

不对称性2接近0的事实意味着，2T代码与3T代码的再现信号在振幅方向理想相关。如果不对称性2接近0，则在其上以高密度记录了数据的光盘的识别差错率低。特别是，在采用利用振幅方向上的多个识别阈值，例如PRML的识别方法的光盘中，理想关系的作用大。此外，在其上记录了其不对称性2接近0的信号的介质成为高互换性介质，因为该信号接近理想状态。

等式(3)定义的不对称性(3)可以用于估计调制法则中使用的代码中的最长代码与下一个最短代码之间，例如13T代码与3T代码之间的信号电平差值。在以高密度记录数据的光盘上，2T代码，即最致密代码的信号具有非常小的振幅，而且难以测量。相反，3T代码的振幅比13T代码的振幅足够小，而比2T代码的振幅足够大。因此，在不对称性3用于评估信号时，较易产生与不对称性1，即传统不对称性的定义的效果几乎相同的效果。测量不对称性1、不对称性2以及不对称性3使用的最稀疏代码并不局限于13T代码。例如，可以使用8T代码或更高T代码。

将说明以上定义的再现信号的不对称性与差错率之间的关系的测量结果。

图4示出在本发明中用于进行测量的光盘设备的实施例。在CPU 42的控制下，光学拾取器46使伺服电路49和致动器驱动器47进行聚焦和跟踪，以利用弱激光发射功率进行数据再现，从而产生聚焦在光盘40的记录光道上的光束。

光盘设备利用PRML识别方法在信号处理电路52中进行信号处理。评估指数测量电路48不仅可以测量不对称性1、不对称性2、不对称性3，而且可以测量二次谐波、擦除比、载波噪声比(C/N)、调制因数、差错率、估计差错率、S1、S2、S3以及以下说明的其它因数。根据确定如下所述的写策略以及设置记录波形发生器电路41的过程，CPU 42可以利用测量的评估指数值确定写策略。在测试数据存储装置43内存储以下说明的如图14、15、17A以及19A所示的测试数据。在CPU 42将选择器45转换到测试数据存储装置43时，将测试数据输入到记录波形发生器电路41。记录波形发生器电路41输出其波形对应于所设置的写策略的记录信号。该记录信号被LD驱动器44放大并驱动设置在光学拾取器46内的激光二极管(未示出)，其结果是，将标记记录在光盘上。选择器45通常连接到用户接口53，用户接口53可以输入待记录到光盘上的用户数据。

图5示出在改变擦除功率Bp1时，再现信号的不对称性1、不对称性2以及差错率(bER)的测量结果。此时，将图2A和2B所示写策略中擦除功率Bp1之外的所有变量固定。这样，改变擦除功率Bp1等于改变Pp/Bp比，即记录功率Pp与擦除功率Bp1之比。从测量结果中可以看出，随着擦除功率Bp1的升高，不对称性1和不对称性2在正方向发生变化。还可以看出，在Bp1＝2.4mW时，再现信号的差错率最佳。此时，不对称性2几乎为0，而不对称性1约为3％。因此，可以说，对于再现信号的差错率，不对称性2是比不对称性1更敏感的评估指数。

图6示出在改变时间Tsfp时，再现信号的不对称性1、不对称性2以及差错率(bER)的测量结果。此时，将写策略中Tsfp之外的所有变量固定。这样，延长时间Tsfp等于缩短开始脉冲的脉宽。从测量结果中可以看出，随着时间Tsfp的延长，不对称性在负方向发生变化。还可以看出，在时间Tsfp＝1.15[T]时，再现信号的差错率最佳。此时，不对称性2几乎为0，而不对称性1约为8％。因此，可以说，对于再现信号的差错率，不对称性2是比不对称性1更敏感的评估指数。

可以利用时间Telp和时间Tlc做同样的实验。实验结果已经证明，对于记录信号和再现信号的差错率，不对称性2是比不对称性1更敏感的评估指数。

根据上述结果，可以说，为了使再现信号的差错率低于规定值，并保持信息记录介质的互换性，不对称性的标准值(％)必须满足以下条件：

-标准值A＜不对称性1＜标准值B (4)

-标准值C＜不对称性2＜标准值D (5)

{标准值B-(-标准值A)}≥{标准值D-(-标准值C)} (6)

具体地说，满足该条件的信息记录介质可以实现高互换性。实验证明，将标准值A和B设置为5至15％，而将标准值C设置为3至15％，可以记录高可互换信号。

接着，将解释记录信号和再现信号的二次谐波，即另一个评估指数。二次谐波是在记录和再现诸如NT标记和NT间隔的nT图形(n是整数)，即具有纯音的信号时，其频率为载波频率的二倍的信号分量。在二次谐波大时，就意味着记录信号(标记/间隔)具有不对称性失真或漂移性(shifted duty)。

将解释说明二次谐波与记录信号和再现信号的差错率之间关系的实验结果。图7示出在改变时间Temp时，记录信号和再现信号的二次谐波和差错率的测量结果。在时间Temp为0.4[T]时，记录信号和再现信号的差错率最低。此时，二次谐波也最小。据此，可以看出，二次谐波适于作为记录信号和再现信号的评估指数。

以下将说明考虑到该实验结果的写策略确定方法。

图8是用于解释根据本发明第一实施例的写策略确定方法的流程图。

在第一步骤(ST001)，将所有参数，即，记录功率Pp、擦除功率Bp1、Bp2、Bp3以及时间Tsfp、Tefp、Tsmp、Temp、Tslp、Telp、Tlc分别设置为初始值(Pp0、Bp10、Bp20、Bp30、Tsfp0、Tefp0、Tsmp0、Temp0、Tslp0、Telp0、Tlc0)。确定擦除功率Bp21、Bp31的值，或者Bp21与Bp31之间的关系以及时间Tefp1、Tslp1的值，或者Tefp1与Tslp1之间的关系。

在第二步骤(ST002)，确定擦除功率Bp11的值。将擦除比和调制因数作为指数，确定该值，以便保证擦除比和调制因数分别具有足够裕度。调制因数是通过根据基准值标准化由介质上的标记构成的信息的再现信号的振幅获得的值，例如，从光盘镜面的反射光中获得的信号的振幅。在记录和再现不包括最致密代码的图形时获得的抖动值可以用作产生类似效果的指数。

在第三步骤(ST003)，确定记录功率Pp1的值。利用信号的不对称性作为指数，确定该值，以使该不对称性的值等于或者小于标准值。本申请人以前提交的专利申请(第2002-69138号日本专利申请)中建议的信号差错率或估计bER可以用作产生同样效果的指数。

在第四步骤(ST004)，确定时间Tsfp1、Telp1、Tlc1。利用信号的不对称性作为指数，确定各值，以使该不对称性的值等于或者小于标准值。

在第五步骤(ST005)，确定时间Temp1。利用信号的二次谐波作为指数，确定该值，以使二次谐波足够小。本申请人以前提交的专利申请(第2002-69138号日本专利申请)中建议的信号差错率或估计bER，或者具有5T或者更多个T代码的纯音信号的不对称性可以用作产生同样效果的指数。

在第六步骤(ST006)，确定与待记录信号的图形相应对应的时间Tsfp、Telp的补偿表。

在第七步骤(ST007)，确定擦除功率Bp12的值。利用信号的差错率或估计的bER作为指数，确定该值。

在第八步骤(ST008)，确定记录功率Pp2的值。利用信号的差错率或估计的bER作为指数，确定该值。

在第九步骤(ST009)，更新与待再记录信号的图形相应对应的时间Tsfp、Telp的补偿表。

在第十步骤，利用最终评估指数，评估再现信号。如果评估值等于或者小于标准值，则将此时的设置值确定为最终写策略。如果评估值超过该标准值，则控制返回到以前的步骤，并重新开始设置写策略。将信号差错率或估计的bER用作最终评估指数。

接着，将详细说明写策略确定方法中的每个步骤。

将介质制造商等根据介质特性事先规定的值(例如，热分析结果)、设备制造商等根据设备的记录特性和再现特性事先规定的值以及评估者根据基于过去经验的介质特性事先规定的值用作第一步骤(ST001)的各变量的初始值。以物理格式信息的形式，将初始值信息、介质信息以及其它因数记录到例如光盘的导入区，如图26所示。

此外，在第一步骤，根据该初始值确定Pp21和Bp31、下一个步骤之前的擦除功率Bp2和Bp3的值或者Bp2与Bp3之间的关系。确定擦除功率的方法有两种。一种确定方法是，在第二步骤以及之后的步骤中将擦除功率Bp2、Bp3固定为初始值。在这种情况下，在第二步骤以及之后的步骤中，擦除功率Bp2、Bp3保持初始值。另一种确定方法是，根据作为初始值给出的擦除功率Bp10、Bp20、Bp30计算比值Bp10/Bp20和比值Bp10/Bp30，并在第二比值和之后的步骤固定该比值。在这种情况下，在在第二步骤和之后的步骤改变擦除功率Bp1时，相应地改变擦除功率Bp2、Bp3。根据介质的特性等，选择使用这两种方法。

同样，确定时间Tefp1、Tsmp1、Tslp1的值，或Tftp1与Tsfp1之间的关系。确定该值的方法有两种。一种确定方法是，将所有的值固定为初始值。另一种确定方法是，根据初始值，计算开始脉冲的脉宽(Tefp0-Tsfp0)和结束脉冲的脉宽(Telp0-Tslp0)，并在第二步骤和之后的步骤固定这两个脉宽。在这种情况下，在改变时间Tsfp1、Telp1时，Tefp1和Tslp1也发生变化。根据介质的特性等，选择使用这两种方法。

在第二步骤(ST002)，确定擦除功率Bp1，以使重写(overwrite)过程中的擦除特性的功率裕度最大，而且足以获得该信号的调制因数。在第一步骤确定擦除功率Bp1之外的各值。

如下所述，将擦除比定义为擦除特性的评估指数。在将mT图形重写为nT图形信号时，将从重写之前nT图形的振幅降低到重写之后的振幅的比率定义为nT重写(O.W.)mT擦除比。以下将说明在第二步骤确定擦除功率Bp1的方法。

图9是第一擦除功率Bp11确定方法的流程图。在步骤ST101，根据擦除功率Bp1的初始值Bp0，利用如下等式确定擦除功率Bp1a：

Bp1a＝(Bp10-A/2)+n×(A/N) (7)

其中A是Bp1的评估范围(参考图10)，n是重复数量，N是重复步骤的最大数量。

在步骤ST102，在同一个光道上重写nT图形10次。在步骤ST103，利用频谱分析仪等，测量关于记录的和再现的nT图形振幅的信息。存储该测量值。在步骤ST104，在在步骤ST102进行重写的同一个光道上重写mT图形一次。在步骤ST105，再现记录在光道上的信息。利用频谱分析仪等测量再现的nT图形的振幅信息。存储该测量值。在步骤ST106，根据在步骤ST103和步骤ST105存储的两个振幅信息项的比值，计算nTO.W.mT擦除比。存储该结果。如果n≤N(步骤ST107中的是)，则控制过程返回步骤ST101，其中擦除功率Bp1a增加A/N。然后，重新执行步骤ST102至步骤ST107。这样，重复执行步骤ST101至步骤ST106，直到n＝N，以致每次均使擦除功率Bp1a增加A/N。

此时，在绘制计算的和存储的nTO.W.nT比的曲线时，得到图10所示的曲线。在此，从低功率开始向上顺序评估擦除特性。在步骤ST108，根据该曲线，确定位于该曲线与预定nTO.W.mT擦除比的标准阈值的交叉点的两个功率mTBp1H和mTBp1L。此外，利用如下等式，确定擦除功率Bp11，然后将其设置为擦除功率Bp1的值：

Bp11＝(mTBp1H+mTBp1L)/2 (8)

其中mT是调制法则中使用的最致密代码，而nT是调制法则中使用的代码中满足n≠m×2×k(k是自然数)的最长代码。

除了图11所示的nTO.T.mT擦除比，确定第二擦除功率Bp11的方法还可以利用上述方法测量nTO.W.(m+1)T擦除比，并确定如下擦除比Bp11：

Bp＝((m+1)TBp1H+mTB1L)/2 (9)

确定第三擦除功率Bp11的方法是，不仅评估擦除比，而且评估信号的调制因数。正如在第一种确定方法中那样，在该方法中，测量擦除特性的功率裕度。此外，重写nT图形10次，而以同样的顺序改变擦除功率Bp1a。然后，测量信号的调制因数或C/N。图12示出测量结果。根据在图10和图11计算的擦除特性以及图12所示的测量结果，将在调制因数从饱和区的降低在1dB的范围内的这一范围内实现最高擦除比率的擦除功率Bp1a确定为擦除功率Bp11的值。

另一种方法是将抖动或bER用作评估指数，代替nTO.W.mT擦除比。

确定第四擦除功率Bp的方法是，在改变擦除功率Bp1a时，测量kT图形和(m+1)T图形中的纯音抖动，并确定擦除功率Bp1，以使抖动裕度变成最大。将擦除功率Bp1设置为擦除功率Bp11的值，这样就完成了此确定过程。在此，k是调制法则中使用的最稀疏代码。

在第三步骤(ST003)，确定记录功率Pp，以使再现信号的不对称性等于或者小于标准值。与在第二步骤中相同，在第三步骤，尽管从低功率开始向上顺序改变记录功率Pp，但是仍记录测试数据，并测量评估指数。擦除功率Bp1、Bp2、Bp3的值是在第二步骤确定的各值。脉宽是在第一步骤确定的值。

在第三步骤，可以将以上定义的不对称性1、不对称性2以及不对称性3用作不对称性的评估指数。因为在第四步骤仔细校正不对称性，所以在第三步骤，可以仅校正例如总体取得平衡的不对称性1或不对称性3。

在这种情况下，通过记录例如随机数据，从再现信号波形的数字化结果和解码结果中检测图3所示的I13H、I13L、I2H、I2L以及利用等式(1)进行计算，可以测量不对称性。

在难以直接测量不对称性时，可以采用图13所示的方法。图13所示的信号是，以这样的方式对其施加性能反馈(duty feedback)，以使其中心自动达到限制电平(slice level)SL的信号。测量该信号的高电平A1和低电平A2以计算下面的值S1：

S1＝{(A1-SL)+(A2-SL)}/(A1-A2) (10)

在为了使该值为0进行校正时，其效果与使不对称性1为0时的效果几乎相同。此外，该方法还可以应用于限制电平SL为0时的情况，即，可以应用于DC-截止信号。由于此时测试数据被记录，所以可以使用与用户数据类似的随机数据。作为一种选择，还可以使用为了测量图14所示的不对称性将两种图形hT和kT进行组合获得的数据。其中，h是最致密代码，而k是最稀疏代码。

此外，作为测试数据，可以单独记录和再现图15所示的hT图形和kT图形。在测量了hT图形和kT图形的中心电压后，将它们之间的差值ΔV用作评估指数。在为了使该差值为0进行校正时，其效果与使不对称性1为0时的效果几乎相同。

图16A示出在第三步骤获得的记录功率Pp的设置值和评估指数(不对称性1、S、ΔV)是如何变化的。根据图16A，计算位于标准值的上限和下限与测量值的交叉点的记录功率Pp的值PpH和PpL。然后，利用下式，确定记录功率Pp：

Pp＝(PpH+PpL)/2 (11)

绘制作为评估指数的不对称性1的绝对值的曲线，如图16B所示，产生同样效果。

在达到标准值时，可以将该值确定为记录功率Pp，而无需使用等式(11)。

在第四步骤(ST004)，确定时间Tsfp1、Telp1、Tlc1，以便进一步详细校正再现信号的不对称性。在第四步骤，例如，在时间Tsfp的值从大到小顺序改变时，记录测试数据，并测量评估指数。记录功率Pp的值是在第三步骤确定的，而擦除功率Bp1、Bp2、Bp3的值是在第二步骤确定的。脉冲宽度是在第一步骤确定的。

在第四步骤，可以将以上定义的不对称性1和不对称性2用作不对称性评估指数。因为已经在第三步骤对不对称性进行了粗校正，而且可以在第四步骤对不对称性进行详细校正，所以在第四步骤可以仅对用作高敏感不对称性的不对称性2进行校正。

在这种情况下，通过从再现信号波形的数字化结果和解码结果中检测I3H、I3L、I2H、I2L以及利用等式(2)进行计算，可以测量不对称性。

在难以直接测量不对称性时，可以采用图17A和17B所示的方法。在这种情况下，将如图17A所示随机出现qT和(q+1)T标记和间隔的图形用作测试数据。其中，q是最致密代码。此外，图17B所示的信号是通过记录图17A所示的信号并对再现信号施加性能反馈获得的信号，因此再现信号的中心达到限制电平SL。测量该信号的高电平B1和低电平B2以计算下面的值S2：

S2＝{(B1-SL)+(B2-SL)}/(B1-B2) (12)

在为了使该值为0进行校正时，其效果与使不对称性2为0时的效果几乎相同。此外，该方法还可以应用于限制电平为0时的情况，即可以应用于DC截止信号。

此外，作为测试数据，可以单独记录和再现qT图形和(q+1)T图形。在测量qT图形和(q+1)T图形的中心电压后，将它们之间的差值ΔV用作评估指数。在为了使该差值为0进行校正时，其效果与使不对称性2为0时的效果几乎相同。

图18A示出时间Tsfp、Telp、Tlc的设置值以及评估指数(不对称性2、S2、ΔV)是如何变化的。根据图18A，计算位于标准值的上限和下限与测量值的交叉点的时间Tsfp的值TsfpH和TsfpL。然后，利用下式，确定时间Tsfp：

Tsfp1＝(TsfpH+TsfpL)/2 (13)

在达到标准值时，可以将该值确定为记录功率Pp，而无需使用等式(13)。

可以将信号的差错率或估计bER用作另一个评估指数。在这种情况下，也与不对称性的情况相同，在时间Tsfp从大到小顺序改变时，给出图18A和18B所示的曲线图。将位于与评估指数的标准阈值的交叉点的值设置为TsfpH和TsfpL。利用等式(13)确定Tsfp1。

以同样的方式确定时间Telp和时间Tlc。

在第五步骤(ST005)，确定时间Temp1，以减小长标记再现波形的失真。在第五步骤，时间Temp从小到大变化，试验性地写入测试数据，并测量评估指数。记录功率Pp的值是在第三步骤确定的值，而擦除功率Bp1、Bp2、Bp3的值是在第二步骤确定的值。时间Tefp、Tsmp、Tslp是在第一步骤确定的值，而时间Tsfp、Telp、Tlc是在第四步骤确定的值。

在第五步骤，可以将二次谐波用作评估指数。sT图形用作测试数据。其中，s是最稀疏代码，或较长代码，例如5T或更多个T的代码。

在难以直接测量二次谐波时，记录并再现sT图形，如图19A和19B所示。然后，利用下式计算S3：

S3＝{(C1-SL)+(C2-SL)}/(C1-C2) (14)

在使该值为0时，其效果与使二次谐波降低时的效果几乎相同。

图20A和20B示出第五步骤获得的时间Temp1的设置值和评估指数是如何发生变化的。图20A示出将S3用作评估指数的情况。图20B示出将二次谐波用作评估指数的情况。根据图20A和20B，计算位于评估指数的上限和下限与测量值的交叉点的时间Temp的值TempL和TempH。然后，利用下式，确定时间Temp：

Temp1＝(TempH+TempL)/2 (15)

在达到标准值时，可以将该值确定为Temp1，而无需使用等式(15)。

可以使用信号的差错率或估计bER。在这种情况下，在时间Temp从小到大顺序变化时，估计该信号，从而给出如图20A所示的曲线图。

在第六步骤(ST006)，确定补偿表。在此步骤，以这样的方式，根据连续间隔和标记代码的组合或标记和间隔的排列，相应设置时间Tsfp、Telp，即消除再现信号的非线性或与理想波形的差别。利用图21A和21B所示的表，根据前间隔或后间隔设置待记录标记的时间Tsfp、Telp的值。该表被称为补偿表。

在第七步骤(ST007)，记录随机信号，并通过将再现信号的差错率用作最终评估指数，或用作与差错率，例如估计bER密切相关的评估指数，微调Bp1。在改变Bp1的值时，重写该随机信号10次。在每次重写该随机信号时，估计评估指数。Bp1的值从低值顺序增大。图22示出测量结果。根据图22所示的曲线，确定位于与标准阈值的交叉点的Bp12L和Bp12H。然后，利用下式，确定Bp12：

Bp12＝(Bp12H+Bp12L)/2 (16)

在第八步骤(ST008)，记录随机信号，并通过将再现信号的差错率用作最终评估指数，或用作与差错率，例如估计bER密切相关的评估指数，微调Pp。在记录功率Pp的值发生变化时，重写该随机信号10次。在每次重写该随机信号时，估计评估指数。Pp的值从小值顺序增大。图23示出该测量结果。根据图23所示的曲线，确定位于与标准阈值的交叉点的Pp2L。然后，利用下式，确定Pp2：

Pp2＝Pp2L×α (17)

其中α由介质的特性确定的系数，并将α记录到位于导入区50的物理格式信息等内。

在第九步骤(ST009)，重新计算时间Tsfp和Telp的补偿表。在此步骤，以与第六步骤同样的方式，确定补偿量。

在第十步骤(ST010)，测量利用最终确定的写策略或与差错率相关的评估指数记录的随机信号的差错率。如果该值优于标准值，则将在第十步骤确定的写策略设置为写策略的最终确定值。如果该估计值劣于标准值，则控制返回先前步骤，并重新开始写策略确定过程。如果要对其进行记录的光盘是平台-凹坑记录类型的，则对平台(land)和凹坑执行同样的过程。

在本实施例的写策略确定方法中，在所有阶段，均不将包括最致密代码的信号中的抖动用作评估指数。因此，该方法可以应用于其中最致密代码的信号振幅如此小以致不能利用限幅方法进行二值化，或者不能测量抖动的高密度记录过程。此外，通过在处理过程中，调节记录功率和脉宽，降低信号的不对称性。因此，在将该方法应用于诸如PRML的、利用振幅方向上的信息的识别方法时，产生显著效果。

此外，利用该专利申请中定义的最致密代码和不对称性2，下一最致密代码的不对称性可以记录理想信号。由于改变脉宽所进行的调节可以比改变记录功率进行的调节更精细，所以根据使所有随机信号平衡的不对称性，估计并确定记录功率，而且以不对称性2的方式确定脉宽，这样使得这种调节过程可以使与信号中的最致密代码与下一最致密代码之间的平衡兼容的任何介质总体平衡。

此外，利用通过估计第二谐波和差错率调节时间Temp和中间脉冲的脉宽的过程，可以消除较长记录标记之前和之后的不对称性。因此，在将该方法应用于诸如PRML的、利用振幅方向上的信息的识别方法时，产生显著效果。

由于在根据各种长度的标记和间隔排列的补偿表如在步骤ST006中那样被确定之前，消除了标记之前和之后的不对称性，所以该表既不集中在不理想结果，也不脱离不理想结果，这样就可以正确确定该补偿表。也就是说，可以在短时间内，简单确定最佳脉冲形式。

如上所述，利用第一实施例的写策略确定方法，即使在可以进行高密度记录的光盘上仍可以以良好再现特性和高互换性记录信息。

接着，将说明根据本发明的写策略确定方法的第二实施例。图24是第二实施例的流程图。除了第二步骤和第三步骤(ST202、ST203)与第一实施例的第二步骤和第三步骤(ST002、ST003)不同之外，第二实施例与第一实施例相同。

与第一实施例的步骤ST001相同，在第一步骤(ST201)，将所有参数，即，记录功率Pp、擦除功率Bp1、Bp2、Bp3以及时间Tsfp、Tefp、Tsmp、Temp、Tslp、Telp、Tlc分别设置为初始值(Pp0、Bp10、Bp20、Bp30、Tsfp0、Tefp0、Tsmp0、Temp0、Tslp0、Telp0、Tlc0)。确定擦除功率Bp21、Bp31的值，或者Bp21与Bp31之间的关系以及时间Tefp1、Tslp1的值，或者Tefp1与Tslp1之间的关系。

在第二步骤(ST202)，确定记录功率Pp1的值。根据信号的振幅、C/N或调制因数，确定该值。此时，可以将信号记录到相邻光道上，这使得可以考虑到串扰和交叉擦除来确定记录功率Pp1。

在第三步骤(ST203)，确定擦除功率Bp11的值。利用信号的不对称性作为指数，确定该值，以使该不对称性的值等于或者小于标准值。可以将信号的差错率或估计bER用作产生同样效果的指数。

在第四步骤(ST204)，确定时间Tsfp1、Telp1、Tlc1。利用信号的不对称性作为指数，确定各值，以使该不对称性的值等于或者小于标准值。

在第五步骤(ST205)，确定时间Temp1。利用信号的二次谐波作为指数，确定该值，以使二次谐波足够小。信号差错率、估计bER或者5T或者更多个T代码的纯音信号的不对称性可以用作产生同样效果的指数。

在第六步骤(ST206)，确定与待记录信号的图形相应对应的时间Tsfp1、Telp1的补偿表。

在第七步骤(ST207)，确定擦除功率Bp12的值。利用信号的差错率或估计的bER作为指数，确定该值。

在第八步骤(ST208)，确定擦除功率Pp2的值。利用信号的差错率或估计的bER作为指数，确定该值。

在第九步骤(ST209)，更新与待再记录信号的图形相应对应的时间Tsfp1、Telp1的补偿表。

在第十步骤(ST210)，利用最终评估指数，评估再现信号。如果评估值等于或者小于标准值，则将此时的设置值确定为最终写策略。如果评估结果超过该标准值，则控制返回到以前的步骤，并重新开始设置写策略。将信号差错率或估计的bER用作最终评估指数。这样就完成了第二实施例的写策略确定过程。

在第一实施例中，由于主要根据擦除特性确定擦除功率Bp1，而主要根据不对称性确定记录功率Pp，所以根据情况，可以将信号的调制因数(或振幅)集中在不理想位置。根据介质的特性，一些介质具有较宽的擦除特性裕度和较窄的调制因数裕度。因为记录在相邻光道上的信号的串扰和交叉擦除的影响，可能限制信号的调制因数。在这种情况下，较早调节记录功率Pp，从而确定该信号的调制因数，此后，确定擦除功率Bp1，正如在第二实施例中所述。因为擦除功率Bp1与记录功率Pp的比值严重影响该信号的不对称性，所以固定记录功率Pp，而改变擦除功率Bp1，这样可以精确降低不对称性。

接着，将说明根据本发明的写策略确定方法的第三实施例。图25是第三实施例的流程图。除了第二步骤和第三步骤(ST302、ST303)与第一实施例的第二步骤和第三步骤(ST002、ST003)不同之外，第三实施例与第一实施例相同。

与第一实施例的步骤ST001相同，在第一步骤(ST301)，将所有参数，即，记录功率Pp、擦除功率Bp1、Bp2、Bp3以及时间Tsfp、Tefp、Tsmp、Temp、Tslp、Telp、Tlc分别设置为初始值(Pp0、Bp10、Bp20、Bp30、Tsfp0、Tefp0、Tsmp0、Temp0、Tslp0、Telp0、Tlc0)。确定擦除功率Bp21、Bp31的值，或者Bp21与Bp31之间的关系以及Tefp1、Tslp1的值，或者Tefp1与Tslp1之间的关系。

在第二步骤(ST302)，确定Pp/Bp11的值。利用信号的不对称性作为指数，确定该值，以使不对称性的值等于或者小于标准值。

在第三步骤(ST303)，确定记录功率Pp1。与此同时，由Pp/Bp11确定擦除功率Bp11的值。根据信号的振幅、C/N或调制因数，确定该值。可以将该信号的差错率或估计bER用作产生同样效果的指数。此时，可以将信号记录到相邻光道上，这使得可以考虑到串扰和交叉擦除确定记录功率Pp1。

在第四步骤(ST304)，确定时间Tsfp1、Telp1、Tlc1。利用信号的不对称性作为指数，确定各值，以使该不对称性的值等于或者小于标准值。

在第五步骤(ST305)，确定时间Temp1。利用信号的二次谐波作为指数，确定该值，以使二次谐波足够小。信号差错率、估计bER或者5T或者更多个T代码的纯音信号的不对称性可以用作产生同样效果的指数。

在第六步骤(ST306)，确定与待记录信号的图形相应对应的Tsfp1、Telp1的补偿表。

在第七步骤(ST307)，确定擦除功率Bp12的值。利用信号的差错率或估计的bER作为指数，确定该值。

在第八步骤(ST308)，确定记录功率Pp2的值。利用信号的差错率或估计的bER作为指数，确定该值。

在第九步骤(ST309)，更新与待再记录信号的图形相应对应的Tsfp1、Telp1的补偿表。

在第十步骤(ST310)，利用最终评估指数，评估再现信号。如果评估结果等于或者小于标准值，则将此时的设置值确定为最终写策略。如果评估结果超过该标准值，则控制返回到以前的步骤，并重新开始设置写策略。将信号差错率或估计的bER用作最终评估指数。这样就完成了第三实施例的写策略确定过程。

在普通介质中，信号不对称性的特征在于，它受擦除功率Bp1与记录功率Pp的比值的影响严重，但是，如果使擦除功率Bp1与记录功率Pp的比值保持常数，则即使在绝对值发生变化时，它的变化仍不大。

在第一实施例中，在根据擦除特性确定擦除功率Bp1后，根据不对称性确定记录功率Pp。因此，根据情况，记录功率Pp变得较高，这样使得记录标记变大。因此，存在对于确定的擦除功率Bp1，擦除特性变坏的可能性。

相反，在第三实施例中，确定擦除功率Bp1与记录功率Pp的比值，然后，绝对值改变，而该比值保持常数。这样可以利用最适于平衡的调制因数、擦除比、串扰以及交叉擦除确定写策略。

此外，已经发现，信号的不对称性主要取决于第一电平与第二电平的比值，而擦除特性主要取决于取决于擦除功率，调制因数取决于记录功率，单频率信号中的抖动取决于这两个功率。

为了优化不对称性，调节擦除功率与记录功率的比值。此外，确定第一电平和第二电平的绝对值，以便优化擦除特性、调制因数或单频率信号中的抖动。通过这样做，可以在短时间内，精确确定最佳脉冲电平。

接着，将说明对利用(1，10)RLL调制方法调制的用户数据(随机数据)再现信号进行评估的过程。RLL是游程长度受限的缩写。(1，10)RLL调制方法是连续信道位0或1的数量的上限被限制为11，而连续信道位0或1的数量的下限被限制为2的调制法则。也就是说，在利用(1，10)RLL调制方法进行记录的光盘上，连续出现的信道位0或1的数量在2至11之间。

图27示出利用(1，10)RLL调制方法调制的用户数据(随机数据)再现信号的眼图形。在(1，10)RLL调制方法中，调制该数据时采用的最短代码为2T(仅具有两个连续信道位0或1的图形)，而最长代码为11T(具有11个连续信道位0或1的图形)。因此，眼图形中具有最小振幅的信号是2T图形的再现信号。在此，将2T图形再现信号的最高电平定义为I2H(＝IaH)，而将最低电平定义为I2L(＝IaL)。此外，将2T图形的振幅定义为I2(＝Ia)。具有下一最大振幅的信号是3T图形再现信号。正如对2T图形进行定义那样，对3T图形再现信号定义I3H(＝IbH)、I3L(＝IbL)和I3(＝Ib)。另一方面，具有最大振幅的信号是11T图形再现信号。正如对2T图形进行定义那样，对11T图形再现信号定义I11H(＝IcH)、I11L(＝IcL)和I11(＝Ic)。

在此，将说明该实施例中的再现信号的两种不对称性、指数的定义。不对称性4：AS2T11T’，即第一不对称性是整个随机数据包络的2T图形的不对称性，以下是其定义：

AS2T11T’＝{(I11H+I11L)/2-(I2H+I2L)/2}/I11×100％ (18)

不对称性5：AS2T3T’，即第二不对称性是3T图形和2T图形中被认为特别可能被错误识别的的不对称性，以下是其定义：

AS2T3T’＝{(I3H+I3L)/2-(I2H+I2L)/2}/I11×100％ (19)

不对称性6：AS3T13T’，即第三不对称性是该包络的3T图形中的不对称性，以下是其定义：

AS3T11T’＝{(I11H+I11L)/2-(I3H+I3L)/2}/I11×100％ (20)

等式(18)定义的不对称性4对应于上述描述的不对称性1。相反，等式(19)表示的不对称性和等式(20)表示的不对称性是新定义的。等式(19)定义的不对称性5对应于上述不对称性2。11T图形，即最长代码的振幅I11用作除法的分母，因此等式(19)等于等式(20)减等式(18)。因此，计算等式(20)和等式(18)得出等式(19)的结果，这样更方便。不是将具有较小振幅的3T用作基准，而是将具有最大振幅的11T用作基准，这样可以提高测量精度。等式(19)可以用于分别计算该调制法则使用的各代码中特别可能被错误识别的最短代码和下一最短代码(在这种情况下，2T代码和3T代码)的信号电平的位移。不对称性5接近0的事实意味着，2T代码与3T代码的再现信号在振幅方向理想相关。因此，如果不对称性5接近0，则以高密度进行记录的光盘的识别差错率降低。在采用诸如PRML识别方法的、利用关于振幅方向的信息的识别方法的光盘中，效果尤其显著。此外，在其上记录了其不对称性5接近0的信号的介质上，该信号几乎处于理想状态，这样使得该介质具有高互换性。

等式(20)定义的不对称性6对应于上述不对称性3，而且可以用于分别估计调制法则中使用的代码中的最长代码与下一个最短代码(在这种情况下，11T代码与3T代码)的信号电平的位移。在以高密度进行记录的光盘上，2T代码，即最致密代码的信号具有这样小的振幅，以致有时难以测量该振幅。相反，3T代码信号的振幅比2T代码信号的振幅大，而比11T代码信号的振幅足够小。因此，使用不对称性3评估信号较易产生与不对称性4的效果几乎相同的效果。

接着，将说明表示以上定义的、再现信号的各不对称性与再现信号的差错率之间的关系的测量结果。图4示出用于进行测量的光盘设备。在信号处理过程中，该光盘设备采用PRML识别方法。评估指数测量电路108可以测量不对称性4、不对称性5、不对称性6以及差错率。

图28示出再现信号的不对称性5与差错率之间的关系。图29示出再现信号的不对称性4与差错率之间的关系以及不对称性6与差错率之间的关系。尽管每个不对称性的实际测量结果不仅有正值，而且有负值，但是该图中仅示出正值。

根据图28和29所示的结果，确定使信息记录介质保持互换性的条件。通常，信息记录介质的解调差错率必须等于或者小于1.0×10^-4，以满足实际用于防止发生问题的条件。其原因是，如果解调差错率低于1.0×10^-4，则可以利用纠错代码进行纠错，并读出正确信息。相反，如果解调差错率高于1.0×10^-4，即使在使用纠错代码时，仍不能进行纠错，这样就难以精确解调用户数据。

将图28与图29进行比较说明，由于不对称性5比不对称性4和不对称性6更敏感，所以即使在不对称性5的值小于不对称性4或不对称性6的值时，它仍达到1.0×10^-4。因此，必须一直使不对称5小于不对称4和不对称6的值。

如上所述，将不对称性4与不对称性5进行比较，或者将不对称性6与不对称性5进行比较，可以评估再现信号。也就是说，在不对称性5比不对称性4或不对称性6足够小时，这意味着，再现信号接近理想状态。相反，在不对称性5比不对称性4或不对称性6大时，这意味着再现信号远离理想状态。

从图28和图29可以得知确定再现信号接近理想状态以及介质具有高互换性的判据。等式(21)至等式(25)表示本发明的判据。

-标准值E＜不对称性4＜标准值F (21)

-标准值G＜不对称性6＜标准值H (22)

-标准值I＜不对称性5＜标准值J (23)

{标准值F-(-标准值E)}≥{标准值J-(-标准值I)} (24)

{标准值H-(-标准值G)}≥{标准值J-(-标准值I)} (25)

根据本发明，根据以下判据，评估再现信号：以这样的方式分别对不对称性4、不对称性5、不对称性6设置范围，即不对称性5的范围被设置为小于不对称性4和不对称性6的范围。这样可以更精确地确定再现信号的质量。可以认为满足该条件的信息记录介质能够实现高互换性。

图29所示的结果表明，为了将再现信号的差错率降低到规定值1.0×10^-4或者更低，必须将标准值E、F、G和H限制到15％或者更低。将信息记录介质的不对称性4和不对称性6降低到15％或者更低，可以从总体上实现再现稳定，而在实际使用中不产生任何问题。将标准值E、F、G和H限制到15％或者更低可以使再现信号的差错率平均低于1.0×10^-4，这样可以提供在实际使用中不产生任何问题的信息记录介质。此外，在将标准值E、F、G和H降低到10％或者更低时，几乎在所有的信息记录介质中，再现信号的差错率低于1.0×10^-4。因此，使信息记录介质中的不对称性4和不对称性6低于10％或者更低，可以保证高互换性和再现稳定性具有足够裕度。此外，将标准值E、R、G和H设置为10％或者更低，可以提供其再现稳定性具有足够裕度的高互换性信息记录介质。

另一方面，图28所示的结果显示，为了将再现信号的差错率降低到规定值1.0×10^-4或者更低，必须将标准值I和J限制到4％或者更低。将信息记录介质的不对称性5降低到4％或者更低，可以从总体上实现再现稳定，而在实际使用中不产生任何问题。将标准值I和J限制到4％或者更低可以使再现信号的差错率平均低于1.0×10^-4，这样可以提供在实际使用中不产生任何问题的信息记录介质。将标准值E、F、G和H降低到15％或者更低，可以使再现信号的差错率平均低于1.0×10^-4，这样可以提供在实际使用过程中不产生任何问题的信息记录介质。此外，在将标准值I和J降低到3％或者更低时，几乎在所有的信息记录介质中，再现信号的差错率低于1.0×10^-4。因此，将信息记录介质中的不对称性5降低到低于3％或者更低，可以保证高互换性和再现稳定性具有足够裕度。此外，将标准值I和J设置为3％或者更低，可以提供其再现稳定性具有足够裕度的高互换性信息记录介质。

图30和31是用于解释上述评估方法的流程图。具体地说，如图30所示，例如，根据{(I3H+I3L)/2-(I2H+I2L)/2}/I11×100(ST11)，评估质量。此时，如果{(I3H+I3L)/2-(I2H+I2L)/2}/I11×100的值等于或者大于-4并等于或者小于4(或者，等于或者大于-3并等于或者小于3)(ST12中的是)，则确定质量好(ST13)。相反，如果该值不等于或者大于-4和等于或者小于4(ST12中的否)，则确定质量不好(ST14)。

作为一种选择，如图31所示，根据{(I11H+I11L)/2-(I3H+I3L)/2}/I11×100(ST21)，评估质量。此时，如果{(I11H+I11L)/2-(I3H+I3L)/2}/I11×100的值等于或者大于-15并等于或者小于15(或者，等于或者大于-10并等于或者小于10)(ST22中的是)，则确定质量好(ST23)。相反，如果该值不等于或者大于-15和等于或者小于15(ST22中的否)，则确定质量不好(ST24)。

图32示出在利用图30或图31所示的评估方法确定其质量良好的光盘(如图26所示)上进行信息记录过程。图4所示的光盘设备将信息记录到该光盘上。具体地说，记录波形发生器电路41、LD驱动器44以及光学拾取器46将信息记录到光盘上。如图32所示，通过以这样的方式照射激光束，即{(I3H+I3L)/2-(I2H+I2L)/2}/I11×100的值等于或者大于-4并等于或者小于4(或者，等于或者大于-3并等于或者小于3)，记录信息(ST31)。作为一种选择，通过以这样的方式照射激光束，即{(I11H+I11L)/2-(I3H+I3L)/2}/I11×100的值等于或者大于-15并等于或者小于15(或者，等于或者大于-10并等于或者小于10)，记录信息(ST31)。继续此记录过程，直到完成记录要求的信息(ST32)。

图33示出从利用图30或图31所示的评估方法确定其质量良好的光盘(如图26所示)上再现信息的过程。具体地说，从以图32所示的信息记录过程在其上记录了信息的光盘上再现信息的过程。图4所示的光盘设备从光盘上再现信息。具体地说，LD驱动器44、光学拾取器46、光检测器(PD)50、前置放大器51以及信号处理电路52从光拾取器再现信息。如图33所示，光束照射在光盘上(ST41)。检测光盘反射的反射光(ST42)。根据反射光检测信号，再现记录在光盘上的信息(ST43)。此时，再现信号的评估指数满足特定基准值。具体地说，{(I3H+I3L)/2-(I2H+I2L)/2}/I11×100的值等于或者大于-4并等于或者小于4(或者，等于或者大于-3并等于或者小于3)。作为一种选择，{(I11H+I11L)/2-(I3H+I3L)/2}/I11×100的值等于或者大于-15并等于或者小于15(或者，等于或者大于-10并等于或者小于10)。因此，可以实现高精度再现。

本技术领域内的技术人员容易想到其它优点和变换例。因此，从更广的方面说，本发明并不局限于在此所示和所说明的特定细节以及说明性实施例。因此，在所附权利要求及其等同所限定的本发明基本原理的精神和/或范围内，可以对其进行各种修改。

Claims

1.一种用于对从信息记录介质再现的再现信号进行评估的再现信号评估方法，在该信息记录介质上记录了由多个长度不同的代码构成的信息，该再现信号评估方法包括：根据从信息记录介质再现的最短代码之后的下一最短代码的再现信号，评估再现信号(ST11-ST14，ST21-ST24)，其特征在于，

如果从信息记录介质中再现的最短代码的再现信号的最大值为IaH，该再现信号的最小值为IaL，

从该信息记录介质再现的最短代码之后的下一最短代码的再现信号的最大值为IbH，该再现信号的最小值为IbL，而且

最长代码的或者其长度为从该信息记录介质再现的最短代码的3倍或者更多倍的代码的再现信号的振幅为Ic，

则根据下式，评估再现信号(ST11-ST14)：

{(IbH+IbL)/2-(IaH+IaL)/2}/Ic×100。