CN1244092C - 光记录设备与激光功率控制方法 - Google Patents

Abstract

本发明披露了一种光记录设备，该光记录设备根据环境标记生成条件实时获得最适当记录激光功率状态。在通过对有机涂剂记录介质照射脉冲串方式激光输出记录数据时，检测对应于脉冲串方式激光输出中的第一信号值和对应于脉冲串方式激光输出中的第二脉冲和后续脉冲的第二信号值作为反射光信息信号；获取其比值；利用获得比值和基准比值产生激光功率补偿信号以控制激光输出功率。

Description

光记录设备与激光功率控制方法

技术领域

本发明涉及用于记录到诸如光盘的记录介质内的光记录设备和激光功率控制方法。

背景技术

CD型和DVD型光盘是众所周知的光记录介质。可以在用户端进行数据记录的介质，特别是一次性写入介质或可重写介质以及记录设备也得到广泛普及。

例如，CD-R(可记录压缩光盘)和DVD-R(可记录数字多用途光盘)通常用作一次性写入介质。在这些光盘中，有机涂剂薄膜用作光盘记录层，在激光照射到作为预置槽(pre-groove)成型的数据轨道上时，利用有机涂剂变化形成坑(标记(mark))。

在将数据记录到这种记录介质上时，如果对激光功率进行优化，则可以成功成型坑，而且可以改善再现时的再现信号质量。

为此，在将有机涂剂薄膜记录介质装入光记录设备内时，或者在立即开始进行记录之前，通过稍许改变激光功率，在记录介质的预定区域(写测试区)进行几次写测试以确定在该区域内使再现信号质量最佳的记录激光功率。例如，将再现RF信号的非对称性或抖动用作评估再现信号质量的评估函数。

在进行记录操作之前，获得最适当激光功率，并且在记录过程中应用所谓APC(自动激光功率控制)从而以最适当功率输出激光。因此，可以成功进行记录。

然而，仅对此写测试区获得最适当激光功率。

因为制造记录介质时的记录薄膜成型过程，所以从光盘中心到外围，光盘上的记录薄膜不均匀。

此外，半导体激光器输出的激光波长通常随温度发生变化。照射到记录介质表面上的激光波长改变记录介质的光吸收率。换句话说，即使激光输出功率恒定，光盘记录薄膜接收的能量仍会因为激光波长的变化而变化，因此，该能量产生的坑光斑状态也发生变化。总之，即使以最适当值输出记录激光功率，待生成的标记仍会偏离最适当标记状态。

如果考虑到这些问题，利用在某个时间点在光盘上的写测试区进行的功率校准过程获得的最适当激光功率不一定是整个光盘的最适当记录激光功率，或者在包括温度变化在内的各种环境条件下的最适当记录激光功率。

换句话说，即使利用APC过程以功率校准过程获得的最适当激光功率输出激光，仍不一定意味着始终能实现最适当记录过程(使再现过程获得高质量再现信号的坑形成过程)。

在执行仅将在写测试区获得的最适当记录功率作为目标值的APC过程时，如果在系统中考虑再现信号的质量容限，则它可以尽可能有效抑制记录介质光吸收率的波动，或者它可以有效采用在温度发生变化时其激光波长不可能发生波动的或者具有温控机构的激光器驱动设备。然而，在技术上，这些措施复杂而且在成本方面也不具有优势。

通过建议一种事先假定再现信号质量恶化的格式可以避免出现上述问题。然而，此建议会使光记录/再现系统产生相反的问题，即会强烈需要更高的密度。

发明内容

在上述情况下，本发明目的是始终以最适当激光功率执行记录过程以获得高质量再现信号。

为此，根据本发明的光记录设备包括：记录处理装置，用于对要记录的数据进行编码以产生编码数据并根据该编码数据产生用于实现脉冲串方式激光输出的激光器驱动脉冲；记录头装置，根据激光器驱动脉冲对记录介质发射激光输出以执行数据记录过程；反射光信息信号检测装置，用于检测在记录头装置发射激光输出时获得的反射光信息信号；信号值检测装置，用于在反射光信息信号检测装置检测的反射光信息信号中检测对应于脉冲串方式激光输出中的第一脉冲的第一信号值和对应于脉冲串方式激光输出的第二和后续脉冲的第二信号值；计算装置，用于获得信号值检测装置检测的第一与第二信号值的比值并利用获得比值和基准比值产生激光功率补偿信号；以及激光功率控制装置，根据计算装置发送的激光功率补偿信号，控制激光输出功率。

在这种情况下，记录介质具有作为记录层的有机涂剂薄膜。

此外，第一信号值是对应于脉冲串方式激光输出中的第一脉冲的反射光信息信号的峰值、中心值或调制值。

第二信号值是对应于脉冲串方式激光输出中的第二脉冲和后续脉冲的全部或部分的反射光信息信号的峰值、中心值、底值、平均值或调制值。

计算装置事先根据与记录过程有关的每种条件存储第一与第二信号值的最适当比值，然后从存储比值中选择适于当前条件的比值并将它用作基准比值。

根据本发明的激光功率控制方法用于将脉冲串方式激光输出应用到具有有机涂剂薄膜的记录介质上以记录数据的光记录设备。

在在激光输出过程中获得的反射光信息信号中，检测对应于脉冲串方式激光输出中的第一脉冲的第一信号值和对应于脉冲串方式激光输出的第二和后续脉冲的第二信号值；获得所检测的第一与第二信号值的比值；利用获得比值和基准比值产生激光功率补偿信号；以及根据激光功率补偿信号控制激光输出功率。

例如，与具有一般相变记录薄膜的记录介质相比，对于激光照射在其上具有有机涂剂薄膜的记录介质，成型坑标记的速度更快。换句话说，利用当前激光照射过程记录的标记对利用激光照射过程获得的反射光产生影响。上述“更快速成型坑标记”意味着产生坑标记的速度如此“快”以致所记录的标记改变记录激光反射光的量。

对于这种记录介质，利用反射光信息可以实时监测标记生成状态。因此，在进行记录期间检测含有标记生成信息的反射光信息，几乎与此同时，确定当前输出的记录功率是否最适于标记生成，并且如果记录功率从最适当状态漂移，则将漂移补偿反馈到激光功率控制系统用于将激光功率控制到最适当状态。

附图说明

图1是示出根据本发明实施例的脉冲串方式光发射驱动过程和RF信号的示意图。

图2是示出RF信号的示意图。

图3是示出在改变记录功率时获得的RF信号波形的示意图。

图4是示出在改变记录功率时获得的RF信号波形的示意图。

图5是示出在改变记录功率时获得的RF信号波形的示意图。

图6是示出在改变记录功率时获得的RF信号波形的示意图。

图7是示出记录功率与归一化振幅之间关系的示意图。

图8是根据该实施例的光盘驱动设备的方框图。

图9是根据该实施例光盘驱动设备的主要部分的方框图。

图10是示出根据该实施例的RF信号采样过程的示意图。

图11是根据该实施例的记录功率补偿过程的流程图。

图12是根据该实施例的另一种记录功率补偿过程的流程图。

图13是示出在根据该实施例的记录功率补偿过程中的比值与记录功率之间关系的示意图。

图14是根据该实施例光盘驱动设备的主要部分的另一种实例结构的方框图。

图15是示出根据该实施例的RF信号采样过程的另一个例子的示意图。

图16是示出根据该实施例的RF信号采样过程的另一个例子的示意图。

图17是示出根据该实施例的RF信号采样过程的另一个例子的示意图。

图18是示出根据该实施例的RF信号采样过程的另一个例子的示意图。

图19是示出根据该实施例的RF信号采样过程的另一个例子的示意图。

实现本发明的最佳方式

作为一种根据本发明实施例的光记录设备和激光功率控制方法，将以DVD-R光盘驱动设备(记录与再现设备)及其激光功率控制过程为例进行说明。将以如下顺序进行说明。

1.脉冲串记录方法和RF信号

2.光盘驱动设备的结构

3.记录功率补偿过程(例子1)

4.记录功率补偿过程(例子2)

5.各种变换例

1.脉冲串记录方法与RF信号

根据该实施例的光盘驱动设备将数据记录到诸如DVD-R的具有有机涂剂薄膜的记录介质，并从诸如DVD-R的具有有机涂剂薄膜的记录介质再现数据，而且在进行记录时利用所谓脉冲串方法发射激光。

为了解释根据本实施例的光盘驱动设备实现的激光功率控制原理(之后说明)，首先对在进行记录时采用的脉冲串方式激光发射驱动方法和在利用激光输出进行记录过程中检测到的反射光信息信号为RF信号进行说明。

在进行记录时，对要记录的数据进行编码以最终产生NRZI方法行程长度受限码。

例如，图1(a)以简化方式示出光盘上的数据轨道。为了这样成型具有标记M和间隔SP的数据轨道，编码系统输出图1(b)所示的数据流作为编码数据。

在这种情况下，作为例子示出形成8T标记(坑)、3T间隔、3T标记、4T间隔以及6T标记的编码数据流(其中T表示对应于信道位的长度单位)。

对于图1(b)所示的编码数据，产生类似于图1(c)所示的所谓脉冲串方式激光器驱动脉冲作为实际执行激光输出的信号。

换句话说，在成型标记M期间，根据坑长度，断续输出具有记录电平的激光器驱动脉冲(写脉冲)，而在对应于间隔SP期间，连续输出具有再现电平的激光器驱动脉冲。

可以考虑采用各种波形的激光器驱动脉冲，在此仅示出一个例子。在这种情况下，在产生编码数据时约1.5T之后，产生写脉冲并持续1.5T时间周期。然后，0.5T时间周期的写脉冲在两个相邻写脉冲之间持续0.5T时间周期，直到编码数据下降。

因此，为了成型如图所示的8T标记，在1.5T读电平后，输出1.5T写脉冲，然后在0.5T读电平插入其间情况下，输出5个0.5T写脉冲。

为了成型6T标记，在1.5T读电平后，输出1.5T写脉冲，然后，在0.5T读电平插入其间情况下，输出3个0.5T写脉冲。

为了成型3T标记，对于3T时间周期，在1.5T读电平之后，输出1.5T写脉冲足够了，不存在后续0.5T写脉冲。

由于利用这种激光器驱动脉冲可以实现激光输出，所以在坑成型期间激光功率断续升高。

在实现这种脉冲串方式激光输出时，图1(d)示出在有机涂剂薄膜光盘反射光时检测到的RF信号。

更具体地说，第一脉冲具有较大振幅，第二脉冲具有较小脉冲，而第三、第四以及后续脉冲几乎与第二脉冲具有同样振幅。

为了便于说明问题，将在RF信号内检测的脉冲称为第一脉冲P#1、第二脉冲P#2、第三脉冲P#3、...、以及第n脉冲P#n，如图2所示。

此外，将脉冲振幅峰值表示为“PK”，将脉冲底值表示为“BT”，而将脉冲中心值表示为“CT”。例如，将第一脉冲P#1的峰值表示为“PK1”，将第二脉冲P#2的峰值表示为“PK2”等。

同样，将第一脉冲P#1的底值“BT”和中心值“CT”表示为“BT1”和“CT1”，将第二脉冲P#2的底值“BT”和中心值“CT”表示为“BT2”和“CT2”等。

此外，将第二脉冲P#2到第n脉冲P#n的平均值表示为“av”。将第二脉冲P#2的峰值PK2到第n脉冲P#n的峰值PKn的平均值表示为“avPK”。将第二脉冲P#2的底值BT2到第n脉冲P#n的底值BTn的平均值表示为“avBT”。将第二脉冲P#2的中心值CT2到第n脉冲P#n的中心值CTn的平均值表示为“avCT”。

如图1和图2所示，在RF信号中，第一脉冲P#1具有大振幅，而第二脉冲P#2以及后续脉冲具有较小振幅。这是因为，由于生成标记的过程是由激光器驱动脉冲中的第一写脉冲产生的激光发射瞬间启动的，所以RF信号内的第二脉冲P#2和后续脉冲因为正在形成的标记的影响而具有减少反射光量。也就是说，RF信号，特别是第二脉冲P#2和后续脉冲，显示被正在形成的标记影响的信息。换句话说，RF信号可以是实时监测标记生成状态的信息信号。

图3至图6示出在采用各种电平的记录激光功率时检测的RF信号波形。

这些图示出对应于具有DC分量的主射束总光量的各RF信号。对在光学系统将脉冲串方式激光照射到DVD-R上时RF信号光电检测器获得的信号进行电流-电压变换，并利用RF矩阵放大器进行放大以获得RF信号。

平均激光输出功率在图3中为2.24mW，在图4中为3.27mW，在图5中为3.73mW，在图6中为4.72mW。

在检测每个RF信号内的第一脉冲P#1的峰值PK1以及第二脉冲P#2和后续脉冲的峰值PKn时，从试验结果中可以发现，在特定记录条件(确定记录介质、确定光学系统以及确定线速度)下，第二脉冲P#2和后续脉冲的峰值PK2、...和PKn几乎不发生变化。

通过将图3与图4进行比较，尤其可以确认，第一脉冲P#1的峰值与第二脉冲和后续脉冲的峰值PK2、...和PKn的各比值根据照射到记录介质上的光量的大小发生变化。

此外，还发现，在利用抖动评估质量时，如果峰值PK1与峰值PK2的比值在进行记录期间为某个常数值，则再现RF信号的质量在该记录区内最佳。

根据这些发现，显然，在进行记录期间监测RF信号、例如计算峰值PK1与峰值PK2的比值并且如果该比值从实现最佳记录条件的比值(事先在各种条件下测量的基准值)漂移，则对激光功率控制系统进行补偿的环境下，可以实现使最适合于生成标记的记录功率被输出的反馈功能。

图7是示出记录激光功率与根据试验获得的归一化振幅之间关系。归一化振幅是将振幅除以第一脉冲P#1的振幅(峰值)获得的值，即它们之间的比值。

图7示出在2mW至5mW的激光功率范围内，第一脉冲P#1的振幅PK1、第二脉冲P#2的归一化峰值(PK2/PK1)、第三脉冲P#3的归一化峰值(PK3/PK1)、第三脉冲P#3(以及后续脉冲)的归一化底值(例如BT3/PK1)、第三脉冲P#3(以及后续脉冲)的归一化中心值(例如CT3/PK1)、以及第三脉冲P#3以及后续脉冲的归一化调制值(例如(PK3-BT3)/PK1)。

假设在平均记录功率约为2.8mW时，在系统的预定线速度条件下，再现RF信号的质量最佳。

例如，可以考虑，在记录功率逐渐增加时，第二脉冲P#2的归一化峰值从0.8开始降低，并且在该归一化峰值下降到约0.63时，标记生成状态最佳。

根据这种现象，显然，如果因为环境温度发生变化或者介质上的薄膜不均匀使得生成标记所需能量不够，则第二脉冲的归一化峰值显示大于0.63的值，例如0.70。

换句话说，在进行记录期间监测作为归一化值的比值(P2/P1)时，并且在将提高记录功率以使该值恢复正常值的指令送到激光器控制系统以实际提高激光功率时，第二脉冲的归一化峰值恢复到0.63，并且在这种环境下，标记生成条件也变成最佳。

相反，如果生成标记所需能量过剩，则在监测第二脉冲的归一化振幅并将其与目标值0.63的差值反馈到激光器控制系统时，始终在最佳条件下生成标记。

在将待检测比值表示为B/A时，则上述描述中的第一脉冲P#1的峰值PK1与第二脉冲P#2的峰值PK2的比值(PK2/PK1)就作为待检测比值B/A。显然，根据图7，例如，在2mW至3mW(假定存在最适当激光功率)范围内，第三脉冲P#3以及后续脉冲的归一化峰值、归一化底值、归一化中心值以及归一化调制值也在某种程度上发生线性变化。

因此，除了第一脉冲P#1的峰值PK1与第二脉冲P#2的峰值PK2的比值外，还可以考虑以同样方式将第一峰值PK1与第三峰值PK3(或PK4、...)的比值、峰值PK1与中心值CT2(或CT3、...)的比值、峰值PK1与底值BT2(或BT3、...)的比值、峰值PK1与平均值av(或avPK、avCT、avBT)的比值、峰值PK1与调制值(PK2-BT2、或PK3-BT3、...)等用于激光功率反馈控制过程。

在利用第一脉冲P#1的中心值CT1进行归一化时，可以考虑能获得同样效果。因此，中心值CT1或调制值(PK1-BT1)可以代替峰值PK1用作值A。

换句话说，除了PK2/PK1以外，待检测的比值B/A可以是PK3/PK1，BT2/PK1、CT2/PK1、avPK/PK1或各种其它比值。

由于在如图1所示的3T标记生成期间不存在第二以及后续脉冲，所以未获得值B。因此在3T标记生成期间，不执行计算比值B/A的过程。

以下将说明本实施例的结构和运行过程。工作点是检测到在RF信号内检测到的比值，即比值B/A，其中第一信号值A表示与第一脉冲有关的信号值(例如PK1或CT1)，而第二信号值B表示与第二以及后续脉冲有关的信号值(例如PK2、PK3、CT2、CT3、BT2、BT3，av或avPK)，并根据上述比值执行激光功率反馈控制过程。

在本实施例中，正如用于有机涂剂薄膜记录介质的光记录设备那样，假定在记录过程中，标记生成速度比在普通相变介质中快，并且在介质表面反射反射光时，RF光电检测器获得具有记录功率的光通量，用于表示待利用其能量改变的标记的生成状态，该光通量通过光学系统的返回通路。

进一步假定为了在精确位置成型标记，通过防止在记录介质上产生热干扰，在高密度记录系统中采用脉冲串方式激光发射过程。

在传统方法采用的所谓APC激光器控制方法中，APC光电检测器监测(正面监测)部分出射光通量以获得环境温度的变化引起的变化，或者获得在半导体激光器的I-L(电流与光输出)特性老化期间引起的变化，估计出射光的数量，并将估计量与事先规定的记录功率目标值进行比较以将该状态反馈到激光器驱动电路系统。

为了准确获得脉冲串方式光记录波形，需要在对应于脉冲宽度的时间对出射光量的监测信号进行采样的电路。利用该电路，即使环境温度发生变化，或者发生老化，外出激光功率仍始终保持恒定电平。

该电路仅用于对激光输出电平进行控制以使其成为最适当电平。但是不能控制影响标记生成过程而不影响半导体激光器I-L特性的因素，例如记录薄膜的不均匀性，或因为温度变化引起的波长波动导致的记录介质的能量吸收率的变化，如上所述。

在本实施例中，在进行记录期间，RF光电检测器检测包括标记生成信息的反射光，几乎可以同时确定当前输出的记录功率是否最适于标记生成过程，并且如果记录功率从最适当状态漂移，则将补偿信号反馈到激光功率控制系统以控制半导体激光器的功率。因此，可以实现对影响标记生成过程的所有因素(例如记录薄膜的不均匀性或因为波形波动引起的能量吸收率的变化)进行控制的激光功率控制过程。

更具体地说，在光学系统和电系统的频率特性限制的状态下，在因为环路光长度、光电转换时间以及传输时间而相对于半导体激光器输出脉冲串方式出射光通量稍许延迟的时间、检测RF光电检测器测量的信号。在对应于脉冲周期的适当时间对该信号进行采样以获得测量振幅比值时，确定是否成功产生标记。换句话说，在将获得比值与目标比值进行比较时，获得反馈控制信号用于进行激光功率控制。

2.光盘驱动设备的结构

以下将说明根据本实施例的特定结构和运行过程。

例如，作为根据本发明光记录设备实施例的光盘驱动设备是将数据记录到DVD-R和从DVD-R再现数据的设备。在激光功率控制过程中，除了执行APC控制之外，还执行利用RF信号采样值的比值(B/A)进行的补偿控制过程。假定作为基础处理过程，将第一脉冲P#1的峰值PK1与第二峰值P#2的峰值的比值用作比值(B/A)，其中PK1作为值A，而PK2作为值B。

还可以使用各种其它比值，并在以下的变换例中对它们进行说明。

图8示出根据本发明的光盘驱动设备30的全部结构。图9示出涉及图8所示结构中激光功率控制的主要部分的结构。

如图8所示，将诸如DVD-R的光盘100安装在转盘7上，并在记录/再现过程中，利用主轴马达6使其以恒线速度(CLV)旋转。

光拾取器1读取记录在轨道上的坑数据，轨道摆动信息以及非凹陷预置坑(land-prepit)信息。作为数据记录在被成型为槽的轨道上的坑即所谓涂剂变化坑。

在光拾取器1上设置：激光二极管4，用作激光光源；光电检测器5，用于检测反射光；物镜2，用作激光输出端；以及光学系统24，通过物镜2照亮光盘记录面，并将反射光照射到光电检测器5上。

还在光拾取器1上设置用于从激光二极管4接收部分输出光的监测检测器22。

图9以略图方式示出光拾取器1的内部结构。光学系统24将激光二极管4的激光输出照射到物镜2，光学系统24具有光栅板(未示出)、准直透镜24a、减速板(未示出)、PBS(偏振射束分裂器)24b以及多透镜(未示出)，然后使该激光输出照射到光盘100上。光电检测器5检测光盘100反射的光。

还将激光二极管4输出的部分激光照射到监测检测器22，然后将其检测光用于APC过程，如下所述。

激光二极管4输出波长为650nm或635nm的激光。光学系统的NA为0.6。

双轴机构3以可移动方式在寻轨方向和聚焦方向保持物镜2。

滑轨(sled)机构8以可移动方式在光盘径向方向作为整体保持光拾取器1。

激光器驱动器18发送的驱动信号(驱动电流)驱动光拾取器1的激光二极管4的激光发射过程。

如图8所示，光电检测器5检测光盘100反射的光，将它转换为对应于接收光量的电信号，然后将该信号送到矩阵电路9。

对矩阵电路9设置用于作为光电检测器5的多个光接收元件的输出电流的电流-电压变换电路和矩阵计算/放大电路，矩阵电路9利用矩阵计算过程产生所需信号。

例如，产生对应于再现数据的RF信号、用于伺服控制过程的聚焦误差信号FE以及寻轨(tracking)误差信号TE。

此外，产生与非凹陷预置坑和槽的摆动有关的推挽信号P/P。

将矩阵电路9输出的RF信号送到二值化电路11，将聚焦误差信号FE和寻轨误差信号TE送到伺服电路14，而将推挽信号P/P送到地址解码器26。

还将RF信号送到脉冲采样部分25，并将该信号用于激光功率补偿控制过程，如下所述。

地址解码器26利用推挽信号P/P提取非凹陷预置坑信息以产生与轨道摆动同步的摆动时钟信号，并对在光盘100上预格式化的地址信息进行解码。将解码地址信息送到系统控制器10。

将产生的摆动时钟信号送到地址解码器26和主轴伺服电路23。根据摆动时钟信号产生编码时钟信号，并将它送到编码/解码部分12。

二值化电路11对矩阵电路9获得的RF信号进行二值化，然后将它送到编码/解码部分12。

对编码/解码部分12设置在进行再现期间用作解码器的功能块和在进行记录期间用作编码器的功能块。

在进行再现期间，作为解码过程对行程长度受限码进行解调、进行纠错、进行去交错以获得再现数据。

编码/解码部分12利用PLL过程产生与RF信号同步的再现数据块，并在再现过程中，对该再现数据块执行上述解码过程。

在再现过程中，编码/解码部分12将上述解码的数据累加到缓冲存储器20内。

将缓存在缓冲存储器20内的数据作为光盘驱动设备30的再现输出读取和发送。

接口部分13与外部主计算机80相连，并与主计算机80通信记录数据、再现数据以及各种命令。

在再现过程中，通过接口部分13，将被解码并被存储在缓冲存储器20内的再现数据送到主计算机80。

通过接口部分13，将读命令、写命令以及其它信号从主计算机80送到系统控制器10。

在进行记录期间，主计算机80发送记录数据。通过接口部分13将该记录数据送到缓冲存储器20并缓存在其内。

在这种情况下，在对缓存记录数据进行编码时，编码/解码部分12执行包括对光盘100上的记录数据执行纠错码附加过程、交错过程、子代码附加过程以及行程长度受限码调制过程的编码过程。

编码/解码部分12将与摆动时钟信号同步的编码时钟信号用作编码过程的基准时钟信号。

写策略21将在编码/解码部分12执行的编码过程中产生的NRZI格式记录数据变换为脉冲串方式记录脉冲(激光器驱动脉冲)，并将它送到激光器驱动器18。

写策略21还进行记录补偿，也就是说，根据记录层、激光光点形状以及记录线速度的特性，对最适当记录功率进行微调并对激光器驱动脉冲波形进行调节。

激光器驱动器18根据接收的激光器驱动脉冲将驱动电流送到激光二极管4用于激光发射驱动过程。接着，根据记录数据，在光盘90上成型标记(涂剂变化坑)。

在利用监测检测器22的输出监测激光输出功率时，APC电路(自动功率控制)19控制激光输出，使得其恒定而与温度无关的电路。系统控制器10给出激光输出的目标值，而APC电路控制激光器驱动器，使得其激光输出电平为目标值。

以下将参考图9详细说明APC电路的实例结构。

根据矩阵电路9发送的聚焦误差信号FE和寻轨误差信号TE，伺服电路14产生各种伺服驱动信号、聚焦驱动信号、寻轨驱动信号以及滑轨驱动信号，然后执行伺服操作。

更具体地说，根据聚焦误差信号FE和寻轨误差信号TE，伺服电路14产生聚焦驱动信号FD和寻轨驱动信号TD，并将它们送到双轴驱动器16。双轴驱动器16驱动光拾取器1的双轴机构3内的聚焦线圈和寻轨线圈。这样，光拾取器1、矩阵电路9、伺服电路14、双轴驱动器16以及双轴机构3形成寻轨伺服回路和聚焦伺服回路。

伺服电路14还将寻轨伺服回路断开，并根据系统控制器10发送的轨道转移指令将转移驱动信号送到双轴驱动器16以执行轨道转移操作。

伺服电路14还根据作为寻轨误差信号TE的低频分量获得的滑轨误差信号和系统控制器10实现的存取执行控制过程产生滑轨驱动信号，然后将该信号送到滑轨驱动器15。滑轨驱动器15根据滑轨驱动信号驱动滑轨机构8。滑轨机构8包括成型在主轴上用于保持光拾取器1的机构(但是未示出)、滑轨电动机以及传动齿轮。在滑轨驱动器15根据滑轨驱动信号驱动滑轨机构8时，光拾取器1实现预定滑动运动。

主轴伺服电路23进行控制以便CLV旋转主轴马达6。

在进行数据记录时，主轴伺服电路23获得摆动时钟信号作为主轴马达6的当前转速信息，并将它与CLV基准转速信息进行比较以产生主轴误差信号SPE。

由于编码/解码部分12内的PLL产生的再现时钟信号(用作解码过程基准的时钟信号)用作进行数据再现时主轴马达6的当前转速信息，将该时钟信号与CLV基准转速信息进行比较以产生主轴误差信号SPE。

主轴伺服电路23将根据主轴误差信号SPE产生的主轴驱动信号送到主轴马达驱动器17。例如，主轴马达驱动器17根据主轴驱动信号将三相驱动信号送到主轴马达6以CLV旋转主轴马达6。

主轴马达23还根据系统控制器10发送的主轴突跳/制动控制信号产生主轴驱动信号，并利用主轴马达驱动器17使主轴6执行，例如开始旋转、停止旋转、加速旋转或减速旋转。

利用微型计算机构成的系统控制器10对伺服系统和记录与再现系统内的上述各种操作过程进行控制。

系统控制器10根据主计算机80发送的命令进行各种处理。

例如，在主计算机80发送请求传送记录在光盘100内的数据的读命令时，首先，利用对目标设置的特定地址进行查找操作控制过程。更具体地说，将指令送到伺服电路14以使光拾取器1利用对目标设置的、查找命令指定的地址进行存取操作。

然后，执行将特定数据区内的数据发送到主计算机80所需的操作控制过程。换句话说，从光盘100读取所需数据、进行解码、缓存以及发送。

在主计算机80发送写命令时，系统控制器10首先将光拾取器1移动到待写入数据的位置。然后，系统控制器10使编码/解码部分12对主计算机80发送的数据进行编码，如上所述。

如上所述，写策略21将激光器驱动脉冲送到激光器驱动器18以进行记录。

存储器27统指系统控制器10为了进行处理使用的ROM、RAM以及非易失性存储器。存储器27可以是内置在由微型计算机构成的系统控制器10内的存储器。

存储器27用作进行计算的工作区和在光盘驱动设备内执行控制过程所需的程序、各种参数以及常数的存储器。在本实施例中，将各种系统条件(例如介质类型和线速度)和最适当比值(PK2/PK1)存储到存储器27内的非易失性存储区内作为激光功率补偿过程的信息，如上所述。例如，最适当比值是在从制造厂发运该设备之前在各种系统条件下利用试验方法获得的，并存储试验结果作为数据表。

以下将概况说明光盘驱动设备30的再现过程和记录过程。

<再现过程>

-伺服过程

矩阵电路9将光拾取器1检测的信号变换为伺服误差信号，例如聚焦误差信号FE和寻轨误差信号TE，并送到伺服电路14。伺服电路14输出的驱动信号FD和TD驱动光拾取器1的双轴机构3以实现聚焦伺服和寻轨伺服。

-数据再现过程

矩阵电路9将光拾取器1检测的信号变换为RF信号并送到编码/解码部分12。编码/解码部分12再现信道时钟信号并根据信道时钟信号进行解码。将解码数据送到接口部分13。

-旋转控制过程

将编码/解码部分12再现的信道时钟信号送到主轴伺服电路23，从而对光盘100的旋转过程进行控制。

-地址再现过程

地址包括在RF信号内，编码/解码部分12对该地址进行解码并送到系统控制器10。

-激光器控制过程

APC电路19根据系统控制器10的指令进行控制以保持恒激光输出。

<记录过程>

-伺服过程

执行与再现过程同样的过程。矩阵电路9或伺服电路14进行补偿，使得不出现因为提高激光功率而提高增益。

-数据记录过程

编码/解码部分12对通过接口部分13接收的数据进行诸如ECC附加、重新排列以及调制的信道编码过程。写策略21将被信道编码的数据变换为适于光盘100的激光器驱动脉冲，并通过激光器驱动器18(APC电路19)将它送到激光二极管4。

-旋转控制过程

将根据矩阵电路9输出的推挽信号P/P产生的摆动时钟信号送到主轴伺服电路23并用于恒线速度(CLV)旋转控制过程。

-地址再现过程

从矩阵电路9输出的推挽信号P/P内检测非凹陷预置坑信息。对检测的非凹陷预置坑信息进行解码以产生地址，然后系统控制器10读取该地址。

还根据推挽信号P/P产生编码时钟信号，并将它送到编码/解码部分12。

以下将参考图9说明在本实施例中用于激光功率控制过程的结构。由于进行记录期间执行的激光功率补偿过程是本实施例操作过程中的重点，所以以下说明记录过程。

根据参考图8所做的上述说明可以明白，在进行记录期间将激光器驱动脉冲，即特定激光器驱动电流值与调制信号的组合方式从写策略21输入到激光器驱动器18时，激光二极管4发射激光，物镜2将激光聚焦为光点并通过上述光学系统投射到光盘100上的预定区域内。

用于前置监测的检测器22接收部分出射光通量，并检测光量以估计该激光功率的发射光量。

在反射光盘上的标记生成状态时，聚焦在光盘100上的光通量作为反射光(再现信号)返回光学系统24，最后将它投射到RF信号光电检测器5上被划分为多个分段。

例如，APC电路19包括电流/电压变换部分19a、采样/保持电路19b、A/D变换器19c、激光功率控制器19d、目标值保持部分19e、D/A变换器19f以及定时信号发生器19g，如图9所示。

根据编码/解码部分12输出的编码数据，即用作激光器驱动脉冲信号源的信号，定时信号发生器19g输出各种定时信号以控制采样/保持电路19b、A/D变换器19c以及激光功率控制器19d的运行时间。

在进行记录期间，执行脉冲串方式激光发射过程。APC电路19监测记录电平激光功率以使其保持在目标值。

电流/电压变换部分19a将监测检测器22发送的信号(对应于接收光量的电流)变换为电压，并发送到采样/保持电路19b。由于执行脉冲串方式激光发射过程，所以采样/保持电路19b采样信号，并将该信号保持脉冲串脉冲宽度所保持的时间周期，即将该信号保持在适当时间根据定时信号发生器19g发送的定时信号施加记录功率激光输出的时间。

A/D变换器19c将被保持、输出的电压变换为数字值，并将它送到激光功率控制器19d作为当前估计激光功率。

激光功率控制器19d将目标值保持部分19e规定的激光功率目标值与估计激光功率进行比较以将对应于其间差值的量叠加到当前指示值，然后通过D/A变换器19f将它送到激光器驱动器19。系统控制器10在目标值保持部分19e内设置目标激光功率值。

利用APC电路19的此过程，可以实现使激光输出功率保持在目标值的功能。

如上所述，APC电路19执行的操作是将激光输出控制在恒电平，而不根据所考虑的诸如激光波长波动和记录薄膜不均匀性的因素对记录功率进行优化。

在本实施例中，还设置了激光功率补偿结构。更具体地说，采样RF信号以获得比值，然后根据该比值进行激光功率补偿。

如图9所示，对矩阵电路9设置电流/电压变换部分9a和RF矩阵放大器9b作为用于获得RF信号的结构。利用这些部件，根据光电检测器5检测的反射光量产生RF信号。

将矩阵电路9获得的RF信号送到脉冲采样部分25。根据进行该比值的需要，该脉冲采样部分进行采样。

在本实施例中，假定将对RF信号获得的比值B/A设置为第一脉冲P#1的峰值PK1与第二脉冲P#2的峰值PK2之间的比值PK2/PK1。

因此，以这样的方式配置脉冲采样部分25，即采样峰值PK1和PK2作为数值A和B。

更具体地说，设置对应于峰值PK1的峰值保持电路25a1和A/D变换器25b1和对应于峰值PK2的峰值保持电路25a2和A/D变换器25b2。此外，还设置定时信号发生器25c。

根据编码/解码部分12发送的、图10(a)所示编码数据，定时信号发生器25c将图10(d)所示的、表示对应于图10(c)所示RF信号中第一脉冲P#1时间周期的采样周期的信号发送到峰值保持电路25a1以在该时间周期内保持并输出该峰值。定时信号发生器25c还对A/D变换器25b1进行定时控制以将保持并输出的峰值变换为数字值。

定时信号发生器25c还将图10(e)所示的、表示对应于RF信号中第二脉冲P#2时间周期的采样周期的信号发送到峰值保持电路25a2以在该时间周期内保持并输出该峰值。定时信号发生器25c还对A/D变换器25b2进行定时控制以将保持并输出的峰值变换为数字值。

利用这些操作过程，A/D变换器25b1将峰值PK1作为数字值输出到系统控制器10，而A/D变换器25b2将峰值PK2作为数字值输出到系统控制器10。

由于根据图10(a)所示的编码数据产生图10(b)所示的脉冲串方式激光器驱动脉冲，所以定时信号发生器25c可以根据该编码数据获得图10(c)所示RF信号中的第一脉冲P#1时间周期和第二脉冲P#2时间周期的定时信号。实际上，在激光输出定时信号与脉冲采样部分25接收作为反射光信息的RF信号时的定时信号之间存在因为光学系统24和矩阵电路9中的处理过程产生的延迟。因此，定时信号发生器25c考虑到该延迟产生采样周期定时信号。

系统控制器10读取峰值PK1和PK2作为用于计算比值的数值A和B，计算比值，并将计算比值与基准比值进行比较以产生激光功率补偿信号。

在图9中，用于产生这种激光功率补偿信号的功能块示于系统控制器10内。

设置采样值输入部分10a、估计计算部分10b、补偿计算部分10c以及补偿-基准保持部分10d。实际上，需要在系统控制器10内利用软件实现这些部分。

将参考图11和图12详细说明处理过程实例。采样值输入部分10a读取峰值PK1作为数值A，采样峰值PK2作为数值B，然后将它们发送到估计计算部分10b。估计计算部分10b计算比值B/A作为当前激光功率的估计值。

补偿-基准保持部分10d保持对应于包括当前线速度的当前记录条件的最适当PK2/PK1值(以下简称基准比值)。例如，在如上所述作为表格存储在图8所示存储器27内的、各记录条件的最适当比值中，载入对应于当前记录条件的最适当比值。

补偿计算部分10c将估计计算部分10b计算的比值与补偿-基准保持部分10d保持的基准比值进行比较以产生激光功率补偿信号。

将激光功率补偿信号送到APC电路19内的激光功率控制器19d。例如，根据激光功率补偿信号，激光功率控制器19d对存储在目标值保持部分19e内、用于上述激光功率调节控制的目标值进行补偿。

利用激光功率补偿信号可以对存储在目标值保持部分19e内的目标值本身进行更新。

在本实施例中，利用这种结构，几乎在进行记录的同时，根据对应于脉冲串方式波形的RF信号振幅的相关性，计算该比值用作记录功率估计值。将该比值与基准比值进行比较以计算用于补偿记录功率的数值。对APC回路内的处理过程进行补偿。这样，考虑到光盘100上的标记生成状态，实现最适当记录功率控制过程中的反馈过程。

3.记录功率补偿过程(例子1)

将参考图11说明系统控制器10实现的激光功率补偿过程，即系统控制器10内的、图9所示各功能块执行的处理过程的特定例子。

图11所示的各步骤与图9所示各功能块具有如下对应关系：

F101和F102：补偿-基准保持部分10d

F103和F104：采样值输入部分10a

F105：估计计算部分10b

F106至F109：补偿计算部分10c

在记录激光功率补偿过程中，系统控制器10首先在步骤F101检验与记录过程有关的各种系统条件。更具体地说，系统控制器10检验介质类型、记录线速度以及记录功率目标值。

然后，在步骤F102，从存储在存储器27内的数据表中读取适于该系统条件的基准比值(B/A)ref。

接着，对补偿过程做好准备，并在步骤F103开始补偿计算过程。

在步骤F103，读取A/D变换器25b1输出的第一脉冲P#1的峰值PK1作为数值A。

在步骤F104，读取A/D变换器2562输出的第二脉冲P#2的峰值PK2作为数值B。

然后，在步骤F105，计算比值B/A。

在步骤F106，将计算比值B/A与基准比值(B/A)ref进行比较。

在比值B/A大于基准比值(B/A)ref时，处理过程进入步骤F109，并将通过将当前记录功率目标值，即APC电路19中的目标值保持部分19e保持的记录功率目标值提高0.5mW获得的值设置为新补偿记录功率目标值。

然后，在步骤F108，将新记录功率目标值送到激光功率控制器19d作为激光功率补偿信号，并利用该新记录功率目标值使APC回路进行记录功率控制。处理过程返回步骤F103。

如果在步骤F106，比值B/A小于基准值(B/A)ref，则处理过程进入步骤F107，并将通过将当前记录功率目标值，即APC电路19中的目标值保持部分19e保持的记录功率目标值降低0.5mW获得的值设置为新补偿记录功率目标值。

然后，在步骤F108，将新记录功率目标值送到激光功率控制器19d作为激光功率补偿信号，并利用该新记录功率目标值使APC回路进行记录功率控制。处理过程返回步骤F103。

在处理过程返回步骤F103后，重复进行同样的处理过程。

简而言之，将比值B/A与基准比值(B/A)ref进行比较，然后在一个时间将APC回路内的记录功率目标值提高或降低0.5mW，使得比值B/A几乎收敛到基准比值(B/A)ref。

如果在步骤F106，比值B/A变得几乎等于基准比值(B/A)ref，则中止记录功率目标值补偿过程。

如上所述，根据图11所示的处理过程例子，以这样的方式，根据对比值B/A与基准比值(B/A)ref所做的比较对用作APC电路19的基准值的记录功率目标值进行补偿，即比值B/A最终与基准比值(B/A)ref一致，也就是说，记录激光功率达到最适当记录激光功率。

通过进行这种激光功率补偿过程，将实际记录功率控制到最适于当前记录过程环境。利用它，对于因为激光二极管4的I-L特性与温度的关系或者因为老化引起的激光波长波动、因为它们引起的光盘100的能量吸收率的变化以及因为光盘100的薄膜不均匀性引起的最适当记录功率的变化，可以控制激光输出。因此，可以实现最适当标记生成过程，而且在进行再现时，可以改善RF信号的质量(抖动等)。

4.记录功率补偿过程(例子2)

图12示出可以代替图11所示处理过程例子用作记录功率补偿过程的处理过程例子。

由于步骤F201至F205与图11所示的步骤F101至F105相同，所以省略对它们进行说明。

在图12所示的处理过程例子中，在在步骤F205计算比值B/A后，在步骤F206计算(B/A)/(B/A)ref。

然后，在步骤F207，确定(B/A)/(B/A)ref是否为“1”。如果它不是“1”(未落入被认为“1”的区域内)，则处理过程进入步骤F208。

在步骤F208，计算对应于比值B/A相对于基准比值(B/A)ref的漂移的比值α。

图13示出记录功率与根据表数据获得的比值B/A和基准比值(B/A)ref之间的关系。在当前系统条件下，假定该图所示的记录功率Pref是最适当记录功率。在这种情况下，根据计算比值B/A计算的当前功率为该图所示的、考虑到系统条件的记录功率Po。

在上述说明中，在Pref＝(1+α)Po中规定比值α，而且比值α指出当前记录功率目标值与新补偿记录功率目标值的增量比值。

例如，比值α满足-0.3≤α≤0.3。

计算了比值α之后，将利用(1+α)乘以当前记录功率目标值，即APC电路19内的目标值保持部分19e保持的记录功率目标值获得的值设置为新补偿记录功率目标值。

然后，在步骤F210，将新记录功率目标值送到激光功率控制器19d作为激光功率补偿信号，并利用新记录功率目标值使APC回路进行激光功率控制。处理过程返回步骤F203。

在这种补偿过程中，如果为了进行补偿而计算比值α所采用的算法是理想的，并且利用一种补偿过程可以使记录功率目标值达到最适当值，则在步骤F210结束处理过程。然而，如果考虑到该算法不会始终是理想的情况，则处理过程最好返回步骤F203，重复步骤F207的确定过程，并且在激光功率充分接近最适当状态，即(B/A)/(B/A)ref达到“1”(或者落入被认为是“1”的区域内)后完成补偿过程。

仅利用此激光功率补偿过程，对于因为激光波长波动引起的光盘100的能量吸收率的变化以及因为光盘100的薄膜不均匀性引起的最适当记录功率的变化，可以对激光输出进行控制。因此，实现最适当标记生成过程，而且在进行再现时可以改善RF信号的质量(抖动等)。

5.各种变换例

在该实施例中对光盘驱动设备30及其激光功率补偿过程进行了说明。本发明并不局限于上述实施例，而且可以设想各种变换例。

在上述实施例中，对第一脉冲P#1的峰值PK1和第二脉冲P#2的峰值PK2进行采样，将PK2/PK1用作比值B/A。

然而，比值B/A并不局限于此比值，还可以是上述各种其它比值。

例如，在将第二脉冲P#2以及后续脉冲的各峰值的平均值avPK用作数值B时，脉冲采样部分25需要具有如图14所示的配置。

更具体地说，在这种情况下，对脉冲采样部分25设置对应于峰值PK1的峰值保持电路25a1和A/D变换器25b1作为获得数值A的结构。由于平均值avPK用作数值B，所以设置对应于峰值PK2的峰值保持电路25a2和A/D变换器25b2、对应于峰值PK3的峰值保持电路25a3和A/D变换器25b3、...、对应于峰值PKn的峰值保持电路25a(n)和A/D变换器25b(n)作为对第二脉冲P#2和后续脉冲的峰值PK2、PK3、...、PKn进行采样的结构。

根据图15(a)所示的、编码/解码部分12发送的编码数据，定时信号发生器25c将图15(d)所示的、表示对应于图15(c)所示RF信号中第一脉冲P#1时间周期的采样周期的信号发送到峰值保持电路25a1以在该时间周期内保持并输出该峰值。此外，定时信号发生器25c还对A/D变换器25b1进行定时控制以将保持并输出的峰值变换为数字值。

定时信号发生器25c还将图15(e)所示的、表示对应于RF信号中第二脉冲P#2时间周期的采样周期的信号发送到峰值保持电路25a2以在该时间周期内保持并输出该峰值。此外，定时信号发生器25c还以这样的方式进行定时控制，以致A/D变换器25b2将保持并输出的峰值变换为数字值。

定时信号发生器25c还将图15(f)所示的、表示对应于RF信号中第三脉冲P#3时间周期的采样周期的信号发送到峰值保持电路25a3以在该时间周期内保持并输出该峰值。此外，定时信号发生器25c还以这样的方式进行定时控制，以致A/D变换器25b3将保持并输出的峰值变换为数字值。

尽管该图未示出，但是定时信号发生器25c还产生表示第四脉冲P#4至第n脉冲P#n各采样周期的信号以及用于控制A/D变换时间的信号。

接着，A/D变换器25b1输出峰值PK1作为数字值，然后系统控制器10内的采样值输入部分10a读取峰值PK1作为数值A。

A/D变换器25b2至25b(n)还将后续脉冲的各峰值PK2、...、PK输入到采样值输入部分10a。通过计算(PK2+PK3+...+PKn)/n，采样值输入部分10a获得它们的平均值avPK，并将该计算平均值avPK设置为数值B。

然后，估计计算部分10b需要根据数值A和B获得比值B/A，而补偿计算部分10c需要以上述同样方式产生激光功率补偿信号。换句话说，需要执行图11或图12所示的处理过程。

图16示出以同样方式将第一脉冲P#1的峰值PK1用作数值A，而将第二脉冲P#2和第三脉冲P#3的底值BT2和BT3用作数值B的情况。未示出脉冲采样部分25的结构图。在这种情况下，除了设置第一脉冲P#1的峰值保持电路25a1外，还需要设置第二脉冲P#2的底值保持电路和第三脉冲P#3的底值保持电路以及相应的A/D变换器。

定时信号发生器25c输出规定如图16(d)、图16(e)以及图16(f)所示采样周期的信号以对峰值PK1以及底值BT2和BT3进行采样。

接着，系统控制器10内的采样值输入部分10a接收峰值PK1和底值BT2和BT3。采样值输入部分10a将峰值PK1用作数值A，而将底值BT2和BT3用作数值B。既可以将底值BT2用作数值B，也可以将底值BT3用作底值B。作为一种选择，还可以将平均值(BT2+BT3)/2用作数值B。

图17示出以同样方式将第一脉冲P#1的峰值PK1用作数值A，而将第二脉冲P#2和后续脉冲的中心值用作数值B的情况。未示出脉冲采样部分25的结构图。在这种情况下，除了设置第一脉冲P#1的峰值保持电路25a1外，还需要设置第二脉冲和后续脉冲P#2至P#n的底值保持电路、第二脉冲和后续脉冲P#2至P#n的峰值保持电路以及相应的A/D变换器。

定时信号发生器25c输出规定如图17(d)、图17(e)以及图17(f)所示采样周期的信号以对峰值PK1以及第二脉冲和后续脉冲P#2至P#n的各峰值和底值进行采样。

接着，系统控制器10内的采样值输入部分10a接收峰值PK1以及第二脉冲P#2和后续脉冲的各峰值和底值。采样值输入部分10a将峰值PK1用作数值A，并通过将第二脉冲P#2和后续脉冲的峰值和底值之和除以2计算各中心值CT(2-n)，并将它们用作数值B。

图18示出以同样方式将第一脉冲P#1的峰值PK1用作数值A，而将第二脉冲和后续脉冲P#2至P#n的所有采样值的平均值av用作数值B的情况。未示出脉冲采样部分25的结构图。在这种情况下，除了设置第一脉冲P#1的峰值保持电路25a1外，还需要设置第二脉冲和后续脉冲P#2至P#n的采样电路以及相应的A/D变换器。

定时信号发生器25c输出规定如图18(d)和图18(e)所示采样周期的信号以对峰值PK1和以第二脉冲P#2至第n脉冲区域内的预定采样周期为间隔的各振幅进行采样。

接着，系统控制器10内的采样值输入部分10a接收峰值PK1以及第二脉冲P#2和后续脉冲的采样值。采样值输入部分10a将峰值PK1用作数值A，并通过将第二脉冲P#2和后续脉冲的各采样值之和除以采样数量计算平均值av，并将它用作底值B。

图19示出以同样方式将第一脉冲P#1的峰值PK1用作数值A，而将第二脉冲和后续脉冲P#2至P#n的底值用作数值B的情况。未示出脉冲采样部分25的结构图。在这种情况下，除了设置第一脉冲P#1的峰值保持电路25a1外，还需要设置第二脉冲和后续脉冲P#2至P#n的底值保持电路以及相应的A/D变换器。

定时信号发生器25c输出规定如图19(d)和图19(e)所示采样周期的信号以对峰值PK1以及第二脉冲P#2至第n脉冲区域内的各底值进行采样。

接着，系统控制器10内的采样值输入部分10a接收峰值PK1以及第二脉冲P#2和后续脉冲的各底值。采样值输入部分10a将峰值PK1用作数值A，而将第二脉冲P#2和后续脉冲的各底值用作数值B。

如上所述，可以将各种项目用作计算比值B/A的数值A和B。还可以将第一脉冲P#1的中心值CT1或调制值(PK1-BT1)用作数值A。

还可以将各种项目用作数值B，例如，对应于第二脉冲P#2和后续脉冲的各峰值、底值、中心值、平均值或调制值(峰值-底值)。

事先作为表数据存储在存储器27内的基准比值(B/A)ref需要与数值A和B对应。例如，在将第一脉冲P#1的中心值CT1用作数值A而将第二脉冲P#2的中心值CT2用作数值B时，基准比值(B/A)ref必须是最适当CT2/CT1值。

在本实施例中，光盘驱动设备是对DVD-R进行处理的记录与再现设备。光盘驱动设备还可以是对其它类型记录介质进行处理的记录设备。

从本发明工作原理的观点出发，本发明可以最好应用于对具有有机涂剂薄膜的记录介质进行处理并对激光照射具有快速标记生成响应的光盘驱动设备。本发明还可以最好应用于不是对具有有机涂剂薄膜的记录介质进行处理而是对对激光照射具有快速标记生成响应的记录介质，即其反射光包含了生成标记的影响的记录介质进行处理的记录设备。

图8所示的光盘驱动设备30与主计算机80相连。根据本发明的光记录设备可以是不与主计算机80或其它设备相连的设备。在这种情况下，设置工作部分和显示部分，并且数据输入与输出接口部分与图8所示的具有不同结构。换句话说，需要根据用户的操作进行记录和再现，并且需要构造用于输入和输出各种数据的终端部分。

显然，如上所述，根据本发明，例如，在利用脉冲串方式激光输出将数据记录到有机涂剂记录介质上时，检测对应于脉冲串方式激光输出中的第一脉冲的第一信号值以及对应于脉冲串方式激光输出中的第二脉冲和后续脉冲的第二信号值作为反射光信息信号，获得它们的比值，然后利用获得比值和基准比值产生激光功率补偿信号以控制激光输出功率。这意味着，检测记录状态本身，即标记生成过程以补偿激光功率。考虑到记录过程，在所有环境条件(影响标记生成的所有因素)下，将激光功率补偿到最适当值。更具体地说，对于因为半导体二极管的I-L特性与温度的关系或者因为老化引起的激光波长波动以及因为记录介质表面上的薄膜不均匀性导致的记录介质能量吸收率的变化，可以控制激光输出。

因此，始终实现最适当标记生成过程，而且在进行再现时，可以改善RF信号的质量(抖动等)。

在上述补偿过程中，对应于脉冲串方式激光输出中的第一脉冲的反射光信息信号的峰值、中心值或调制值最好用作第一信号值，而对应于脉冲串方式激光输出中的第二脉冲和后续脉冲的全部或部分的反射光信息信号峰值、中心值、底值、平均值或调制值最好用作第二信号值。

在事先根据与记录过程有关的每种条件存储第一和第二信号值的最适当比值，然后从存储比值中选择适于当前条件的比值用作基准比值时，可以对各种记录条件，例如介质类型、线速度以及目标激光功率进行适当处理。

Claims (9)

1.一种用于将数据记录到记录介质内的光记录设备，其特征在于包括：

记录处理装置，用于对要记录的数据进行编码处理以产生编码数据并根据该编码数据产生用于执行脉冲串方式激光输出的激光器驱动脉冲；

记录头装置，根据激光器驱动脉冲对记录介质发射激光输出以执行数据记录；

反射光信息信号检测装置，用于检测在记录头装置发射激光输出时获得的反射光信息信号；

信号值检测装置，用于在反射光信息信号检测装置检测的反射光信息信号中，检测对应于脉冲串方式激光输出中的第一脉冲的第一信号值和对应于脉冲串方式激光输出的第二和后续脉冲的第二信号值；

计算装置，用于获得信号值检测装置检测的第一与第二信号值的比值并利用获得比值和基准比值产生激光功率补偿信号；以及

激光功率控制装置，根据计算装置发送的激光功率补偿信号，控制激光输出功率。

2.根据权利要求1所述的光记录设备，其特征在于，记录介质具有作为记录层的有机涂剂薄膜。

3.根据权利要求1所述的光记录设备，其特征在于，第一信号值是对应于脉冲串方式激光输出中的第一脉冲的反射光信息信号的峰值、中心值或调制值。

4.根据权利要求1所述的光记录设备，其特征在于，第二信号值是对应于脉冲串方式激光输出中的第二脉冲和后续脉冲的全部或部分的反射光信息信号的峰值、中心值、底值、平均值或调制值。

5.根据权利要求1所述的光记录设备，其特征在于，计算装置事先根据与记录过程有关的系统条件存储第一与第二信号值的最适当比值，以及从存储比值中选择适于当前条件的比值并将它用作基准比值。

6.一种用于将脉冲串方式激光输出应用到具有有机涂剂薄膜的记录介质上以记录数据的光记录设备的激光功率控制方法，其特征在于包括步骤：

在激光输出过程中获得的反射光信息信号中，检测对应于脉冲串方式激光输出中的第一脉冲的第一信号值和对应于脉冲串方式激光输出的第二和后续脉冲的第二信号值；

获得所检测的第一与第二信号值的比值；

利用获得比值和基准比值产生激光功率补偿信号；以及

根据激光功率补偿信号控制激光输出功率。

7.根据权利要求6所述的激光功率控制方法，其特征在于，第一信号值是对应于脉冲串方式激光输出中的第一脉冲的反射光信息信号的峰值、中心值或调制值。

8.根据权利要求6所述的激光功率控制方法，其特征在于，第二信号值是对应于脉冲串方式激光输出中的第二脉冲和后续脉冲的全部或部分的反射光信息信号的峰值、中心值、底值、平均值或调制值。

9.根据权利要求6所述的激光功率控制方法，其特征在于，事先根据与记录过程有关的系统条件存储第一与第二信号值的最适当比值，然后从存储比值中选择适于当前条件的比值并将它用作基准比值。

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