CN1565033A - 缺陷检测装置和缺陷检测方法 - Google Patents

Abstract

在由RF信号得到的检测最大值处于减少方向的情况下，把检测最大值减去所需相减值的相减结果值作为最大值，在由R F信号得到的检测最小值处于增加方向的情况下，把检测最小值加上所需相加值的相加结果值作为最小值，同时，通过从上述最大值减去上述最小值，来求出表示RF信号振幅电平的RF振幅值。

Description

缺陷检测装置和缺陷检测方法

发明领域

本发明涉及一种用于检测，例如由于装填后的光盘记录媒体信号面上的损伤或附着物等而不能正常读出记录信号的状态的，所谓缺陷(DEFECT)状态的缺陷检测装置，及该缺陷检测装置的缺陷检测方法。

背景技术

例如，可进行CD(Compact Disc：紧凑盘)或DVD(Digital VersatileDisc：数字通用盘)等光盘上记录的数字数据再生的光盘再生装置正在广泛普及。

这种光盘再生装置，所装填的光盘信号面上边有了损伤或附着物时，就不能正常读取光盘上纪录信号。而且，随之，不能正确识别读出的信号，就不能进行正常的数据再生了。

这种场合，就检测对光盘照射后的激光反射光所得到的再生RF信号来说，当然其振幅电平减少。因此，在再生装置一侧，所谓缺陷状态，就是检测由于上述这种光盘上损伤而不能获得规定值以上再生RF信号振幅电平的状态。再者，而且，一般认为要通过检测这种缺陷状态，使各部分识别处于没有正确进行从光盘读出数据的状态，并进行与此相应的必要控制动作。

尽管，进行这种缺陷状态的检测之际，首先，需要检测所输入RF信号中的最大值和最小值。而且，采用从测定的最大值中减去最小值的办法，可以求出RF信号的振幅电平。并且，通过判别该振幅电平是否在作为缺陷阈值设定的规定电平以下，就能够进行缺陷状态的检测。

这里，正当这样进行缺陷状态检测的时候，要是照样利用这样由RF信号测定的最大值和最小值的话，例如RF信号振幅突发性变化时，这些最大值、最小值就照样追随其变化。而且，随之，由这些最大值和最小值算出的振幅电平来说，对这种电平变动就该照样跟着变化。

因此，通过进行照样利用这样从RF信号测定的最大值、最小值的缺陷检测，例如在RF信号的振幅电平仅仅突发性降低时，也测出了缺陷状态，结果等于诱发缺陷状态的误检测。

因此，现有技术方面，为了防止这种缺陷状态的误检测，要对实际的RF信号振幅电平变化减缓追随上述最大值、最小值。

图10是表示现有缺陷检测电路100的内部结构框图。

图10中，首先，对该缺陷检测电路100提供检测照射光盘信号面后的激光反射光得到的再生RF信号。而且，该再生RF信号在图示的A/D变换器105中变换为数字数据，并供给最大值保持电路106和最小值保持电路111。

最大值保持电路106，这样检测由A/D变换器105供给的RF信号中每隔一定区间的最大值，同时保持测定的最大值作为区间最大值。而且，按规定的时间，把这样保持的区间最大值向最大值选择器107和最大值比较电路109输出。

将由上述最大值保持电路106输出的区间最大值、和如后述这样由减法电路110输出的减法结果值，输入到最大值选择器107。并且，与此同时，将从后述的最大值比较电路109来的比较结果信号，也输入到该最大值选择器107。

该最大值选择器107，按照由最大值比较电路109输入的比较结果信号，对最大值存储电路108选择输出所输入的区间最大值、减法结果值的某一方。

最大值存储电路108，输入由最大值选择器107输出的区间最大值、或减法结果值，并加以存储。而且，通过按规定的时间也输出这样存入的值，作为图示的峰值(Peak)对减法器117输出上述存入的区间最大值或减法结果值。并且，这样由最大值存储电路108输出的峰值也供给最大值比较电路109和减法电路110。

给减法电路110，设定内部固定值「α」。而且，对该减法电路110来说，如上述一样，从由最大值存储电路108输入的峰值中减去该固定值「α」，把由此算出的值作为减法结果值，对最大值选择器107输出。

最大值比较电路109，对由上述最大值存储电路108供给的峰值与如前面说过的一样由最大值保持电路106供给的区间最大值进行比较。即，等于用该最大值比较电路109，对最大值保持电路106内的现在检测区间测定的区间最大值(现在的最大值)与从该现在检测区间来看对应前一个检测区间由最大值存储电路108输出的峰值(前一个最大值)进行比较。而且因此，就是想要用该最大值比较电路109，判别RF信号的现在最大值对前一个最大值是增加，或是减少。

该最大值比较电路109，在判别为由上述最大值保持电路106供给的区间最大值是由上述最大值存储电路108供给的峰值以上的场合，就对前面说过的最大值选择器107输出用于选择输出比较区间最大值的比较结果信号。即，认为由上述最大值保持电路106供给的现在最大值，变成了由最大值存储电路108供给的前一个最大值以上的场合，使其选择输出由最大值保持电路106保持的区间最大值作为峰值。

另一方面，判别为上述区间最大值一方小于上述峰值的场合，对最大值选择器107输出用于选择输出从上述减法电路110来的减法结果值的比较结果信号。即，认为RF信号中现在最大值一方比前一个最大值减少的场合，使其选择输出上述减法电路110来的减法结果值。

这里，按照上述说明，RF信号的最大值处于增加方向的场合，就该从上述最大值存储电路108，输出由最大值保持电路106测定的区间最大值作为峰值。相反，RF信号的最大值处于减少方向的场合，变成了输出从前一个输出的峰值减去固定值「α」的值(减法结果值)作为上述峰值。

即，这个场合，RF信号的最大值处于减少方向的时候，作为从最大值存储电路108输出的峰值，就变成按一定减少率减少。

最小值保持电路111检测由上述A/D变换器105供给的RF信号中每隔一定区间的最小值，并保持测定的最小值作为区间最小值。而且，按规定的时间，对最小值选择器112和最小值比较电路114输出这样保持着的区间最小值。

将由上述最小值保持电路111输出的区间最小值和如后述一样由加法电路115输出的加法结果值，输入最小值选择器112。并且，也将后述的最小值比较电路114来的比较结果信号，输入该最小值选择器112。

该最小值选择器112，按照由最小值比较电路114输入的比较结果信号，对最小值存储电路113，选择输出所输入的区间最小值和加法结果值的某一方。

最小值存储电路113，如上述一样输入由最小值选择器112输出的区间最小值，或者加法结果值，并加以存储。而且，通过按规定的时间以这样存入的值输出，对减法器117、最小值比较电路114和加法电路115供给上述存入的区间最小值或加法结果值，作为图示的谷值(Bottom)。

给加法电路115，设定内部固定值「β」。而且，用该加法电路115，对由最小值存储电路113供给的谷值加上该值「β」，把由此算出的值作为加法结果值，对最小值选择器112输出。

最小值比较电路114，对由上述最小值存储电路113供给的谷值与如前面说过的一样由最小值保持电路111供给的区间最小值进行比较。即，在该最小值比较电路114，对在最小值保持电路111的现在检测区间测定的区间最小值(现在的最小值)与从该现在检测区间来说对应前一个检测区间由最小值存储电路113输出的谷值(前一个最小值)进行比较。而且因此，就是用该最小值比较电路114，判别RF信号的现在最小值对一个前的最小值是增加，或是减少。

该最小值比较电路114，在判别为由上述最小值保持电路111供给的区间最小值是由上述最小值存储电路113供给的谷值以下的场合，就对前面说过的最小值选择器112输出用于选择输出区间最小值的比较结果信号。即，认为由上述最小值保持电路111供给的现在最小值，成了由最小值存储电路113供给的前一个最小值以下的场合，要使其选择输出由最小值保持电路111保持的区间最小值作为谷值。

一方面，判别为上述区间最小值一方大于上述谷值的场合，对最小值选择器112输出用于选择输出从上述加法电路115来的加法结果值的比较结果信号。即，认为RF信号的现在最小值一方比前一个值增加的场合，就要选择输出上述加法电路115来的加法结果值。

这里，按照上述说明，RF信号的最小值处于减少方向的场合，从上述最小值存储电路113，就该输出由最小值保持电路111测定的区间最大值作为谷值。相反，RF信号的最小值处于增加方向的场合，变成了输出对前一个输出的谷值加上固定值「β」的值(加法结果值)作为上述谷值。

即，这一场合，RF信号的最小值处于增加方向的时候，作为从最小值存储电路113输出的谷值，就按一定增加率使其增加。

减法器117输入从最大值存储电路108输出的峰值和从最小值存储电路113输出的谷值，从峰值减去谷值。而且，对缺陷判定电路119输出这样算出的值，作为图示的峰值(Peak)—谷值(Botton)。

用缺陷判定电路119，通过比较由减法器117输入的峰值—谷值与图示的缺陷阈值118，进行缺陷状态的检测。

该缺陷判定电路119，要根据例如上述峰值—谷值为上述缺陷阈值118以下的值，输出“H”电平作为图示的缺陷信号。

利用图11、图12A和图12B，说明如上述一样构成的现有缺陷检测电路100中所得的动作。

首先，图11中，表示对于缺陷检测电路100所得的动作方面，说明RF信号的最大值一侧、最小值一侧的双方振幅电平减少时的图。

图11中，首先，如图示那样，因为RF信号最大值一侧的振幅电平在减少，在图10所示的最大值保持电路106测定的区间最大值也在减少。

因此，在最大值比较电路109，判定现在最大值保持电路106内保持的区间最大值一方比峰值要小，并给最大值选择器107，输入用于选择输出减法电路110来的减法结果值的比较结果信号。

而且，随之，现在已经从最大值选择器107输出上述减法结果值，并变为输出该减法结果值，也作为从最大值存储电路108输出的峰值。

即，如前面说过的那样，RF信号的最大值处于减少方向(RF信号最大值一侧的振幅电平一直减少)的场合，变为输出从前一个输出的峰值减去固定值「α」后的值作为峰值。

这里，这样一来通过输出从前一个输出的峰值减去固定值「α」后的值，如图所示作为峰值，其斜率必然具有与上述固定值「α」相应的一定斜率并在减少。

即，这时的峰值方面，从前一个最大值(对应于前一个检测区间输出的峰值)，不管下一次测定的区间最大值的值减少幅度，都具有与固定值「α」相应的一定斜率并在减少。

因此，就该峰值来说，如上述一样RF信号最大值一侧振幅电平处于减少方向的场合，如图那样缓慢追随实际RF信号最大值电平变动。

另外，就该峰值来说，也如前面说过的那样RF信号最大值处于增加方向的场合，变为选择输出由最大值保持电路106测定的区间最大值。因此，如图所示那样RF信号最大值成了增加方向的场合(RF信号最大值一侧振幅电平处于增加方向的场合)，该峰值将大致追随RF信号最大值电平变动。

并且，该图11中，由于RF信号最小值一侧振幅电平在减少，就该在图10所示的最小值保持电路111中测定的区间最小值在增加。

据此，最小值比较电路114中，判别谷值这方大于现在最小值保持电路111中保持的区间最小值，并把用于选择输出加法电路115来的加法结果值的比较结果信号输入最小值选择器112。

而且，随之，现在已经从最小值选择器112，选择输出上述加法结果值，就从最小值存储电路113输出的谷值来说，也变为输出该加法结果值。

即，这一场合也变成，RF信号最小值处于增加方向(RF信号最小值一侧振幅电平在减少)的场合，就谷值来说，应该对前一个输出的谷值，输出加上固定值「β」的值。

这里，这样通过输出把固定值「β」加到前一个输出谷值的值，如图所示，就谷值来说，其斜率必然具有与上述固定值「β」相应的一定斜率并在增加。

即，作为这时的谷值，从前一个最小值(与前一个检测区间对应输出的谷值)，而不管向下一次测定的区间最小值的值增加幅度，有与固定值「β」对应的一定斜率并使其增加。

所以，作为上述谷值，这时也如上述一样RF信号最小值一侧振幅电平处于减少方向的场合(处于最小值增加方向的场合)，如图示那样缓慢追随实际RF信号的最小值电平的变动。

另外，作为该谷值，也如前面说过的那样RF信号最小值处于减少方向的场合，就该选择输出由最小值保持电路111测定的区间最小值。因此，如图所示那样RF信号最小值成了减少方向的场合(RF信号最小值一侧振幅电平处于增加方向的场合)，该谷值就大致追随RF信号最小值电平变动。

这样以来生成的峰值和谷值，如前面图10中说过的那样供给减法器117，应从峰值减去谷值，就该得到表示如图示那样的RF信号振幅电平的峰值—谷值。

而且，该峰值—谷值，在如图示那样设定在缺陷阈值118以下的场合，应该由缺陷判定电路119输出“H”电平作为缺陷信号(图中检测缺陷期间)。即，这样以来峰值—谷值低于缺陷阈值，也可当作RF信号的振幅为缺陷状态，根据减少程度，就该检测缺陷状态。

接着，在图12A和图12B，表示对应于RF信号仅仅单测振幅电平减少的场合获得的，缺陷检测电路100中的缺陷检测动作例。

该图12A和图12B中，图12A是说明RF信号仅最大值一侧振幅电平减少场合的图。

首先，这时，由于RF信号最小值一侧的振幅电平不变，如图示那样，谷值方面为大致恒定。即，这时，按照RF信号最大值一侧振幅电平的变动，只有峰值变动，所以对峰值—谷值来说，如图所示应该与峰值大约相同转变。

因此，这时峰值—谷值的电平变化，现在已经取决于峰值的电平变化，变为具有按照固定值「α」的斜率在减少。

而且，这样减少的峰值—谷值，如图示那样根据在缺陷阈值以下的值，就该检测缺陷状态(图中检测缺陷期间)。

图12B是说明仅仅RF信号最大值一侧振幅电平减少场合的图。

这时，与上述图12A的情况相反，由于变成仅RF信号最小值一侧振幅电平变动，所以对峰值—谷值来说，要用与峰值—谷值增加幅度大约相同幅度减少。

即，这时的峰值—谷值，变为具有与固定值「β」对应的斜率并在减少。

而且，这时也应该这样减少峰值—谷值，如图示那样根据在缺陷阈值以下的值，检测缺陷状态(图中检测缺陷期间)。

从上述说明也可以理解，对现有的缺陷检测电路100而言，由于按照固定值「α」的减少率在减少，使其缓慢追随RF信号最大值一侧振幅电平的降低。并且，同样，由于按与固定值「β」相应的增加率而使谷值增加，使其对RF信号最小值一侧振幅电平降低也缓慢追随。

而且，通过从峰值减去谷值，求出表示RF信号振幅电平的峰值—谷值，使该峰值—谷值缓慢追随实际RF信号振幅电平降低。

这里，在这种现有的缺陷检测电路100，如前面图11所示，RF信号最大值一侧和最小值一侧的双方振幅电平都减少了的场合，由于峰值减少而谷值增加，就会追随最大值一侧和最小值一侧双方的RF信号振幅电平降低。

所以，就这时的峰值—谷值来说，会大致对应追随实际的RF信号振幅电平降低，能够相当正确地进行缺陷状态检测。

但是，如图12A和图12B所示那样，RF信号振幅电平偏向某一方减少的场合，对该振幅电平的降低就只能追随最大值一侧或最小值一侧的一方变动，这时的峰值—谷值将具有按固定值「α」、或固定值「β」的一定斜率在减少了。即，这时的峰值—谷值，与图11的场合比较很明白，变为不可能与实际RF信号振幅电平对应追随变动。

因为，用现有的缺陷检测电路100，这样RF信号振幅电平偏向某一方减少的场合，与图11的情况比较，显著迟延了缺陷检测定时。而且，因此实际RF信号振幅电平显著减少却不能相应正确地进行缺陷状态检测。

发明内容

因而，本发明鉴于以上这些方面的问题，作为缺陷检测装置确定构成如下。

也就是，首先，具备通过检测由对记录媒体的信号读出动作而得到的RF信号最大值，得到检测最大值的最大值检测单元，和通过检测上述RF信号最小值而得到检测最小值的最小值检测单元，进而，要具备：在由所述最大值检测单元得到的检测最大值处于减少方向的情况下，求出从该检测最大值减去所需相减值的相减结果值，并把该相减结果值作为所述RF信号最大值输出的最大值输出单元；在由所述最小值检测单元得到的检测最小值处于增加方向的情况下，求出从该检测最小值加上所需相加值的相加结果值，并把该相加结果值作为所述RF信号最小值输出的最小值输出单元。

而且，要具备：通过从由所述最大值输出单元输出的最大值中减去由所述最小值输出单元输出的最小值，算出表示所述RF信号振幅电平的RF振幅值的振幅电平算出单元；和通过比较由上述振幅电平算出单元算出的RF振幅值与规定阈值，进行缺陷状态检测的缺陷检测单元。

而且，要具备：根据由所述最大值检测单元得到的检测最大值和由所述最小值检测单元得到的检测最小值，算出所述RF信号振幅电平中心值的中心值算出单元；和按照由所述中心值算出单元算出的所述中心值电平，可变设定在所述最大值输出单元的所述相减值和所述最小值输出单元的所述相加值的可变值设定单元。

并且，本发明中，从作为缺陷检测方法来说确定如下。

即，首先，执行通过检测由对记录媒体的信号读出动作而得到的RF信号最大值，得到检测最大值的最大值检测步骤，和通过检测上述RF信号最小值而得到检测最小值的最小值检测步骤，进而，执行：在由所述最大值检测步骤得到的检测最大值处于减少方向的情况下，求出从该检测最大值减去所需相减值的相减结果值，并把该相减结果值作为所述RF信号最大值输出的最大值输出步骤；在由所述最小值检测步骤得到的检测最小值处于增加方向的情况下，求出从该检测最小值加上所需相加值的相加结果值，并把该相加结果值作为所述RF信号最小值输出的最小值输出步骤。

而且，实行：通过从由所述最大值输出步骤输出的最大值中减去由所述最小值输出步骤输出的最小值，算出表示所述RF信号振幅电平的RF振幅值的振幅电平算出步骤；和通过比较由上述振幅电平算出步骤算出的RF振幅值与规定阈值，进行缺陷状态检测的缺陷检测步骤，与此同时，要执行：根据由所述最大值检测步骤得到的检测最大值和由所述最小值检测步骤得到的检测最小值，算出所述RF信号振幅的中心值的中心值算出步骤；和对应于由所述中心值算出步骤算出的中心值电平，可变设定由所述最大值输出步骤减法运算的所述相减值和由所述最小值输出步骤加法运算的所述相加值的可变值设定步骤。

按照上述本发明，如上述一样算出的RF信号振幅中心值，超过上述规定电平就增加或减少，假如RF信号的振幅电平偏向最大值一侧或最小值一侧减少的场合，按照场合应使上述相减值或上述相加值可变。

而且，例如，这样以来可变设定的上述相减值或上述相加值，如果要变为大于通常的值，随着RF信号振幅电平减少，上述最大值的减少幅度、或上述最小值的增加幅度就变成大于通常的值。即，随之，由这些最大值和最小值算出的RF振幅值，其减少幅度也会增加。

因此，按照本发明，这样以来RF信号振幅电平偏向最大值一侧或最小值一侧减少的场合，就该更加按照该振幅电平的降低倾向，追随上述RF振幅值变动。

附图说明

图1是表示应用本发明实施例的缺陷检测装置的光盘再生装置内部结构例图。

图2是表示作为实施例的缺陷检测装置内部结构例框图。

图3是表示作为实施例的缺陷检测装置内构成的中心值检测电路内部结构例框图。

图4A是说明RF信号振幅电平偏向最大值一侧降低场合的图，图4B是说明RF信号振幅电平偏向最小值一侧降低场合的图。

图5是用于说明在作为实施例的缺陷检测装置内得到的动作的图。

图6是用于说明在作为实施例的缺陷检测装置内得到的动作的图。

图7是说明对于在作为实施例的缺陷检测装置内得到的动作与现有的比较的图。

图8是说明对于在作为实施例的缺陷检测装置内得到的动作与现有的比较的图。

图9A和图9B是对于在作为实施例的缺陷检测装置内得到的动作、和对于RF信号的最大值一侧和最小值一侧的双方振幅电平降低场合进行说明的图。

图10是表示现有缺陷检测装置内部的结构框图。

图11是用于说明在现有缺陷检测装置内得到的动作的图。

图12A和图12B是用于说明在现有缺陷检测装置内得到的动作的图。

具体实施方式

下面，本发明的缺陷检测装置以应用于可对光盘记录媒体上纪录着的数字数据进行再生的光盘再生装置的场合为例，进行实施例的说明。

图1表示应用作为本发明实施例的缺陷检测装置的光盘再生装置0的结构图。该图所示的光盘再生装置0，与用作CD(Compact Disc)格式光盘的，例如CD、CD-ROM、CD-R(Recordable)、CD-RW(Re-Writable)等的光盘媒体对应采用可再生数据的结构。

该图中，光盘1再生时借助于主轴电机2，用一定线速度(CLV(ConstantLinear Velocity)进行旋转驱动。而且通过光学头3进行纪录在光盘1上记录道的位数据读出。

如上述一样为了进行从光盘1读出数据的动作，光学头3具有进行激光输出的激光二极管3c、由偏振光束分离器、1/4波长片等构成的光学系统3d、成为激光输出端的物镜3a、以及用于检测反射光的检测器3b等。

物镜3a用双轴机构4，在光盘半径方向(纪录道方向)和与光盘离合的方向保持可变移动，并且，使全体光学头3成为用推动机构5可沿光盘半径方向移动。

通过上述光学头3的再生动作，将从光盘1检测出的信息送到RF放大器6。这时，在RF放大器6通过对输入的信息施加放大处理、和要求的运算处理等，获得再生RF信号、跟踪错误信号、聚焦错误信号等。

缺陷(DEFECT)检测电路20比较由上述RF放大器6供给的再生RF信号振幅电平与内部设定的阈值，检测RF信号振幅电平为阈值以下的场合。并且，与此同时，缺陷检测电路20要把与该检测结果相应的信号作为图示的缺陷信号DEFECT，供给例如后述的PLL/轴伺服电路19等需要的各部。

该缺陷检测电路20要根据检测再生RF信号振幅电平成了阈值以下的RF信号，通过例如输出“H”电平作为上述缺陷信号，对必要各部通知测定缺陷状态。

另外，关于该缺陷检测电路20的内部结构以后再叙述。

在光学系统伺服电路16，根据由RF放大器6供给的跟踪错误信号、聚焦错误信号、以及系统控制器18来的纪录道转移指令、存取指令等，发生各种伺服驱动信号、控制双轴机构4和推动机构5进行聚焦和跟踪控制。

并且，在用RF放大器6获得的再生RF信号，供给图示的信号处理部7内的二进制电路8，成为按照EFM方式(8/14调制)进行纪录编码的所谓EFM信号形式并输出，如图所示送给寄存器9和PLL/轴伺服电路19。

并且，将跟踪错误信号和聚焦错误信号送给光学系统伺服电路16。

从上述二进制电路8通过寄存器9送给EFM译码电路10的EFM信号，在这里进行EFM解调。

该EFM译码电路10，用与从后述的同步检测电路21输出的再生用同步信号、以及由图示的PLL/轴伺服电路19供给的PLCK对应的定时，执行关于输入EFM信号的解调处理。

通过上述EFM译码电路10进行EFM解调后的数据送给ECC(ErrorCorrecting Circuit：纠错电路)/去交织处理电路11。在ECC/去交织处理电路11用规定的时间对RAM12边进行数据的写入和读出动作边执行错误校正处理和ECC/去交织处理。通过ECC/去交织处理电路11，施加了错误校正处理和ECC/去交织处理后的数据送给后述的缓冲管理器13。

在PLL/轴伺服电路19，通过输入由二进制电路8供给的EFM信号使PLL电路动作，输出作为与EFM信号同步后的再生时钟的信号PLCK。该信号PLCK作为主时钟，成为信号处理部7内的处理基准时钟。所以，信号处理部7的信号处理系统动作定时就是追随主轴电机2的旋转速度。

这时，如上述一样将缺陷检测电路20来的缺陷信号送给该PLL/轴伺服电路19。而且，作为该缺陷信号，在提供“H”电平的期间，要在VCO的频率固定上述信号PLCK的频率。

即，这样检测缺陷状态的期间，由于变成不进行基于输入的EFM信号的时钟再生，就成了进行稳定地时钟再生。

电机驱动器17根据由PLL/轴伺服电路19供给的，例如轴伺服控制信号，生成电机驱动信号并送给主轴电机2。因此，主轴电机2旋转驱动光盘，使其获得按照规定旋转控制方式的适合的旋转速度。

在同步检测电路21，把从PLL/轴伺服电路19输入的信号PLCK作为基准时钟，进行从通过寄存器9供给的EFM信号检测帧同步(帧同步信号)的动作。

并且，在该同步检测电路21，由于漏码或快门的影响或者数据中的同步图案欠缺，或者检测同样同步图案的场合，所以也要执行帧同步内插处理和窗口保护等处理。

如上述一样，将信号处理部7的ECC/去交织处理电路11输出的数据送给缓冲管理器13。

在缓冲管理器13，执行存储控制，用于使送来的再生数据暂时存入缓冲RAM14。作为光盘再生装置0来的再生输出，就该读出被缓冲RAM14进行缓冲的数据并转移输出。

接口部15和外部的主机50连接，与主机50之间进行再生数据、各种指令等的通信。

这时，缓冲管理器13要从暂时存入缓冲RAM14的再生数据中进行需要量的读出，转移到接口部15。而且，在接口部15，应该按照例如规定的数据接口格式进行打包处理，把能够转移的再生数据输送给主机50。

另外，从主机50来的读指令、写指令其他信号都通过接口部15送给系统控制器18。

系统控制器18由具备微机等构成，按照应执行构成该再生装置的各功能电路部分的要求动作执行适当控制处理。

另外，该图1中，假设光盘再生装置0连到主机50，然而作为应用本发明的缺陷检测装置的再生装置，也有不和主机50等连接的形式。此时，由又设置操作部或显示部，又设置数据输入输出的接口部位的结构，变成和图1不同。即，按照用户操作进行再生，同时形成端子部用于各种数据输入输出就行。

在这里，把有关上述缺陷检测电路20的内部结构表示在图2的框图上。

首先，在该缺陷检测电路20，将由图1所示的RF放大器6供给的再生RF信号，在图示的A/D变换器25变换为数字数据，送给最大值保持电路26和最小值保持电路31。

最大值保持电路26，这样检测由A/D变换器25供给的RF信号中每隔一定区间的最大值，同时保持测定的最大值作为区间最大值。而且，以规定的时间，对最大值选择器27、最大值比较电路29和中心值检测电路36输出这样保持的区间最大值。

把由上述最大值保持电路26输出的区间最大值与后述的这样由减法电路30输出的减法结果值输入最大值选择器27。并且，与此同时，也把后述的最大值比较电路29来的比较结果信号输入该最大值选择器27。

该最大值选择器27根据由最大值比较电路29输入的比较结果信号，对最大值存储电路28选择输出输入的区间最大值和减法结果值的二者之一方。

最大值存储电路28输入由最大值选择器27输出的区间最大值或减法结果值，并将其存储。而且，采用以规定的时间而输出这样存储的值的办法，作为图示的峰值对减法器37输出上述存储的区间最大值或减法结果值。并且，这样由最大值存储电路28输出的峰值也送给最大值比较电路29和减法电路30。

对于减法电路30，如图所示从中心值检测电路36，输入作为相减值的值「αA」、或值「αB」。

该减法电路30对由最大值存储电路28输入的峰值，如上述一样进行相应由中心值检测电路36输入的相减值的减法处理。即，由上述中心值检测电路36输入值「αA」的场合，进行用「峰值(Peak)-αA」表达的减法处理。并且，从上述中心值检测电路36输入值「αB」的场合，进行用「峰值(Peak)-αB」表达的减法处理。

而且，减法电路30把通过这些减法处理算出的值作为减法结果值对最大值选择器27输出。

最大值比较电路29比较由上述主轴电机2供给的峰值和如前面说过那样由最大值保持电路26供给的区间最大值。即，在该最大值比较电路29，变成比较在最大值保持电路26的现在检测区间测定的区间最大值(现在的最大值)与从该现在检测区间来看对应于前一个检测区间由最大值存储电路28输出的峰值(前一个最大值)。而且因此，在该最大值比较电路29，就是想要判别RF信号的现在最大值对前一个最大值是增加，或者是减少。

该最大值比较电路29，在判别为上述由最大值保持电路26供给的区间最大值是由上述最大值存储电路28供给的峰值以上的场合，对前面说过的最大值选择器27输出比较结果信号，用于选择输出区间最大值。即，假如由上述最大值保持电路26供给的现在最大值变为由最大值存储电路28供给的前一个最大值以上的场合，就要选择输出用最大值保持电路26保持着的区间最大值作为峰值。

另一方面，判别为上述区间最大值方小于上述峰值的场合，对最大值选择器27输出比较结果信号，用于选择输出自上述减法电路30来的减法结果值。即，认为在RF信号的现在最大值方比前一个最大值减少的场合，变为选择输出自上述减法电路30来的减法结果值。

最小值保持电路31检测由上述A/D变换器25供给的RF信号中每隔一定区间的最小值，同时保持测定的最小值作为区间最小值。而且，以规定的时间而对最小值选择器32、最小值比较电路34和中心值检测电路36输出这样保持的区间最小值。

这里，将前面说过的最大值保持电路26来的区间最大值，和上述最小值保持电路31来的区间最小值输入到中心值检测电路36。

该中心值检测电路36，要从这些区间最大值和区间最小值，算出表示RF信号振幅中心值的RF中心值。而且，根据这样算出的RF中心值的电平，要转换对上述减法电路30输出的相减值α和对后述的加法电路35输出的相加值β，而对此以后叙述。

将由上述最小值保持电路31输出的区间最小值和由如后述这样的加法电路35输出的加法结果值输入到最小值选择器32。并且，把后述的最小值比较电路34来的比较结果信号也输入到该最小值选择器32。

该最小值选择器32，根据由最小值比较电路34输入的比较结果信号，对最小值存储电路33选择输出所输入的区间最小值和加法结果值的二者之一方。

最小值存储电路33输入如上述这样由最小值选择器32输出的区间最小值或加法结果值，将其存储起来。而且，通过以规定的时间而输出这样存入的值，对减法器37、最小值比较电路34和加法电路35输出上述存入的区间最小值或加法结果值，作为图示的谷值。

从上述的中心值检测电路36，对加法电路35输入作为相加值的值「βA」或值「βB」。

该加法电路35对如上述这样由最小值存储电路33输入的谷值，进行与由上述中心值检测电路36输入的相加值相应的加法处理。即，由上述中心值检测电路36输入值「βA」的场合，进行用「谷值(Bottom)+βA」表达的加法处理。并且，从上述中心值检测电路36输入值「βB」的场合，进行用「谷值(Bottom)+βB」表达的加法处理。

而且，加法电路35，对最大值选择器27输出由这些加法处理算出的值作为加法结果值。

最小值比较电路34比较由上述最小值存储电路33供给的谷值与前面说过的这样由最小值保持电路31供给的区间最小值。即，在该最小值比较电路34，变成比较在最小值保持电路31中的现在检测区间测定的区间最小值(现在的最小值)与从该现在的检测看对应于前一个检测区间由最小值存储电路33输出的谷值(前一个最小值)。而且由此，在该最小值比较电路34，判别RF信号的现在最小值对前一个最小值是增加，或是减少。

该最小值比较电路34判别为由上述最小值保持电路31供给的区间最小值是由上述最小值存储电路33供给的谷值以下的场合，对前面说过的最小值选择器32输出比较结果信号，用于选择输出区间最小值。即，认为上述由最小值保持电路31供给的现在最小值成了由最小值存储电路33供给的前一个最小值以下的场合，要选择输出由最小值保持电路31保持着的区间最小值作为谷值。

另一方面，判别为上述区间最小值方大于上述谷值的场合，就对最小值存储电路33输出比较结果信号，用于选择输出上述加法电路35来的加法结果值。即，认为RF信号的现在最小值方比前一个值还增加的场合，要选择输出上述加法电路115来的加法结果值。

减法器37输入从最大值存储电路28输出的峰值和从最小值存储电路33输出的谷值，并从峰值中减去谷值。而且，对缺陷判定电路39输出这样算出的值作为图示的峰值—谷值。

在缺陷判定电路39，通过比较由上述减法器37输入的峰值—谷值与设为图示的缺陷阈值38的值，进行缺陷状态的检测。

该缺陷判定电路39，根据例如上述峰值—谷值变为上述缺陷阈值38以下的值，就要输出“H”电平作为图示的缺陷信号。

接着，图3中表示上述中心值检测电路36的内部结构。

图3中，该中心值检测电路36，如图所示由具有加法器40、1/2运算电路41、中心值比较电路42、α值转换阈值43、α值转换电路44、β值转换阈值45、中心值比较电路46、以及β值转换电路47构成。

首先，将图2中所示的最大值保持电路26来的区间最大值，和最小值保持电路31来的区间最小值分别输入图示的加法器40。而且，该加法器40对1/2运算电路41输出把这些区间最大值和区间最小值相加后的值。

1/2运算电路41，要采用把用加法器40相加后的区间最大值和区间最小值之和的值乘以1/2的办法，获得表示RF信号振幅中心值的RF中心值。

在该1/2运算电路41，作为如上述这样获得的RF中心值，在例如图2中所示的A/D变换器25执行8位的A/D变换处理的场合，用「0」～「255」的值表示。

这里，在图4A和图4B虽然表示1/2运算电路41中得到的RF中心值与实际RF信号振幅的关系，但是这个时候，如果例如上述「0～255」的值中，设定为「0」侧表示RF信号的最小值，「255」侧表示RF信号的最大值，例如在上述RF中心值偏向「0」侧的时候，作为实际的RF信号，如图4A所示就变为最大值一侧的振幅电平偏于减少。

并且，相反，例如上述中心值偏向「255」侧的时候，如图4B所示就该最小值一侧的振幅电平偏于减少。

所以，如上述这样通过参照在1/2运算电路41中得到的RF中心值，作为RF信号振幅，就该可以判别是最大值一侧的振幅电平偏于减少，还是最小值一侧的振幅电平偏于减少。

在该1/2运算电路41，将如上述这样得到的RF中心值，如图所示一样对中心值比较电路42、46输出。

中心值比较电路42通过比较由上述1/2运算电路41输入的RF中心值与图示的α值转换阈值43，判别RF中心值是否超过该阈值并偏向最小值一侧，同时对α值转换电路44输出与比较结果相应的双值比较结果信号。即，在该中心值比较电路42，就要判别RF信号的最大值一侧振幅电平是否超过某程度并偏于减少。

而且，与此同时，该中心值比较电路42，从上述比较结果，在判别为RF中心值一方小于上述α值转换阈值43的值的场合和除此以外的场合，要对上述α值转换电路44输出不同的双值比较结果信号。

另外，作为这时的上述α值转换阈值43，这样以来为了能够判别RF中心值是否偏向最小值一侧，将上述「0」～「255」的值之中，设定变为接近「0」(最小值一侧)的规定值。

α值转换电路44根据通过上述中心值比较电路42输入的比较结果信号，对图2所示的减法电路30选择输出值「αA」或值「αB」。

该α值转换电路44，在由上述中心值比较电路42输入的比较结果信号是表示RF中心值是α值转换阈值43的值以上的场合，要对上述减法电路30输出值「αA」。

另一方面，借助于上述中心值比较电路42输入的比较结果信号，应表示RF中心值小于α值转换阈值43的值(RF信号最大值一侧振幅电平超过种程度并偏于减少)的场合，要对上述减法电路30输出值「αB」。

另外，在该α值转换电路44，假设上述值「αA」和上述值「αB」为正数，而且假设「αA」＜「αB」。于是，这时当认为RF信号最大值一侧振幅电平超过某程度并偏于减少时，作为减法电路30的相减值，就该输出比上述值「αA」的值还大的值「αB」。

中心值比较电路46，通过比较由上述1/2运算电路41输入的RF中心值与图示的β值转换阈值45，判别RF中心值是否超过该阈值并偏向最大值一侧，同时对β值转换电路47输出与比较结果相应的双值比较结果信号。

该中心值比较电路46，如上述那样通过判别RF中心值是否超过阈值并偏向最大值一侧，来判别RF信号最小值一侧振幅电平是否超过某程度并偏于减少。

而且，与此同时该中心值比较电路46，从上述比较结果，在判别为RF中心值一方大于上述β值转换阈值45的值的场合和除此以外的场合，要对上述β值转换阈值45输出不同的双值比较结果信号。

另外，作为这时的上述β值转换阈值45，为了能够判别RF中心值是否偏向最大值一侧，将上述「0」～「255」的值之中，设定为接近「255」(最大值一侧)的规定值。

β值转换电路47根据由上述中心值比较电路46输入的比较结果信号，对图2所示的加法电路35选择输出值「βA」或值「βB」。

该β值转换电路47，在通过上述中心值比较电路46输入的比较结果信号是表示RF中心值是β值转换阈值45的值以下的场合，要对上述加法电路35输出值「βA」。

另一方面，借助于上述中心值比较电路46输入的比较结果信号，表示RF中心值大于β值转换阈值45的值(RF信号最小值一侧电平超过某种程度并偏于减少)的场合，要对上述加法电路35输出值「βB」。

另外，这时也，假设上述值「βA」和上述值「βB」为正数，同时假设「βA」＜「βB」。于是，这时当认为RF信号最小值一侧振幅电平超过某程度并偏于减少时，作为加法电路35的相加值，就该输出比上述值「βA」的值还大的值「βB」。

下面利用图5～图6说明如上述这样构成的缺陷检测电路20中得到的动作。

首先，参照图5，按照RF信号最大值一侧振幅电平一方比最小值一侧大幅度偏于减少的场合，说明在缺陷检测电路20中得到的动作。

该图中，图示的峰值和谷值，分别表示由图2中说过的最大值存储电路28、最小值存储电路33输出的值，这里为说明方便，谷值表示以一定电平得到的场合。即，在该图5中，为说明方便，将RF信号最小值一侧振幅电平设为一定，例举仅最大值一侧的振幅电平大幅度减少的场合。

并且，图示的峰值—谷值是通过图2中所示的减法器37算出的值，这时如上述那样将谷值设为一定，所以如图所示，应以与峰值大致统一值转变。

RF信号表示借助于图1中说过的RF放大器6生成的信号，并且，RF中心值表示在图3所示的1/2运算电路41中算出的RF信号振幅中心值。

缺陷阈值、α值转换阈值，分别是设定为图2中所示的缺陷阈值38和图3中所示的α值转换阈值43的植，在这里，如图示那样表示将这些缺陷阈值和α值转换阈值设定为同一值。

并且，缺陷信号是通过图2中所示的缺陷判定电路39输出的信号。

首先，图5中，在图示的时刻t1以前期间，作为RF信号振幅电平，最大值一侧和最小值一侧都以最大电平大致一定进行转变。因此，该期间，就由最大值存储电路28输出的峰值和由最小值存储电路33输出的谷值来说，变为输出用最大值保持电路26和最小值保持电路31分别测定的区间最大值和区间最小值

在上述时刻t1以后的时刻t2，如图所示，假定仅RF信号最大值一侧的振幅电平减少了。

这样以来，据此，在图2所示的最大值比较电路29，就该判别在该时刻t2测定的区间最大值一方比前一个输出的峰值要小。而且，随之，在最大值选择器27，现在已经选择输出减法电路30来的减法结果值。

也就是，该时刻t2以后，这样选择输出的减法结果值，已经通过最大值存储电路28并作为峰值输出。

并且，与此同时，在该时刻t2，如上述那样由于仅仅减少RF信号最大值一侧振幅电平，作为最大值保持电路26中测定的区间最大值，比时刻t1的区间最大值还要减少。而且，随之，就在图3中说过的中心值检测电路36内1/2运算电路41所得到的RF中心值来说，也变成减少其值。

这里，在时刻t2以后到时刻t3的期间，作为上述RF中心值，如图所示那样处于超过α值转换阈值43的值的状态。所以，变成从图3所示的中心值比较电路42对α值转换电路44输出表示RF中心值为α值转换阈值43的值以上的比较结果信号，与其相应在α值转换电路44，作为对减法电路30输出的相减值，要选择输出值「αA」。

由于，在该时刻t2～时刻t3的期间，如上述那样就作为由最大值存储电路28输出峰值的比较结果值来说，变为输出从前一个峰值中减去上述值「αA」的值。

也就是，在该期间，变为具有与值「αA」相应斜率使峰值—谷值在减少。

接着，在该时刻t2以后的时刻t3，如图所示，假设RF中心值在α值转换阈值以下。

这样以来，与此相应，同上述的场合相反，变成从上述中心值比较电路42对α值转换电路44，输出表示RF中心值小于α值转换阈值43的值的(RF信号最大值一侧振幅电平偏于降低)的比较结果信号。而且，与此相应，在α值转换电路44，作为对减法电路30输出的相减值，要选择输出大于上述值「αA」的值「αB」。

由于，在该时刻t3以后的期间，如上述那样，就作为由最大值存储电路28输出峰值的比较结果值来说，变为输出从前一个峰值减去上述值「αB」的值。

即，就该时刻t3以后输出的峰值—谷值来说，变成如图所示具有比上述值「αA」相应的斜率还大的斜率(以更大的减少幅度)在减少。

其结果，如上述那样，一般认为RF中心值在α值转换阈值43以下，RF信号最大值一侧振幅电平超过某程度并偏于减少的场合，变得可以追随峰值—谷值，使之更接近实际RF信号振幅电平的降低趋向。

这样对减法电路30输入的相减值α，在从值「αA」转换为值「αB」的时刻t3以后的图中时刻t4，如图所示那样，设定峰值—谷值在缺陷阈值以下。

这样以来，在图2所示的缺陷判定电路39，将从减法器37输入的峰值—谷值，判别为在缺陷阈值38以下的值，而且，与此相应，从该缺陷判定电路39，如图所示输出变成“H”电平的缺陷信号。

这种“H”电平的缺陷信号的输出，借助于缺陷判定电路39直到判别峰值—谷值成了缺陷阈值以上的时刻t6为止，都会继续不断。即，上述时刻t4～时刻t6的期间就是DEFCT(缺陷)期间。

另外，图中时刻不通以后，如图所示那样，随着RF信号最大值一侧振幅电平在增大(RF信号最大值为增加方向)，作为峰值，象前面图2中说过的一样，变成选择输出用最大值保持电路26测定的区间最大值。因而，就该时刻t5以后的峰值来说，变为大致追随RF信号最大值电平变动，与此同时，对峰值—谷值而言，如图所示那样也变为大致追随RF信号最大值电平而增加。

接着，参照图6，说明有关对应RF信号最小值一侧振幅电平一方比最大值一侧要大幅度偏于减少的场合缺陷检测电路20中得到的动作。

另外，为说明方便，假定该图中也认为RF信号最大值一侧振幅电平一定，并例举仅仅最小值一侧振幅电平大幅度减少的场合。

并且，该图中，图示的β值转换阈值表示图3所示的β值转换阈值45的值

首先，图6中，在图示的时刻t1以前的期间，作为RF信号振幅电平，最大值一侧和最小值一侧都以最大电平大致一定进行转变。因而，在该期间，作为由最大值存储电路28输出的峰值和由最小值存储电路33输出的谷值，就变成输出用最大值保持电路26和最小值保持电路31分别测定的区间最大值和区间最小值。

在上述时刻t1以后的时刻t2，如图那样设为RF信号最小值一侧振幅电平偏于减少了。

这样以来，这时图2所示的最小值比较电路34中，现在已经判别该时刻t2测定的区间最小值这方比前一个输出的谷值增大，就最小值存储电路33来的谷值来说，变成输出加法电路35来的加法结果值。

并且，与此同时，这时最小值保持电路31中测定的区间最小值，随着从时刻t1的区间最小值起增大，作为图所示的中心值检测电路36内1/2运算电路41所得的RF中心值，也变成增加其值。

这里，在时刻t2以后到时刻t3期间，上述RF中心值方面，如图所示那样仍然在β值转换阈值45的值以下。所以，从图3所示的中心值比较电路46，对β值转换电路47变成输出表示RF中心值小于β值转换阈值45的值的比较结果信号，与此对应，β值转换电路47中作为对加法电路35输出的相加值，要选择输出值「βA」。

因此，该时刻t2～时刻t3的期间，如上述那样，就由最小值存储电路33输出谷值的比较结果值来说，变成对前一个谷值输出加上上述值「βB」的值。

即，就该期间的峰值—谷值来说，这样谷值随着以相应上述值「βB」的增加幅度而增加，变为有于该值「βB」相应斜率在减少。

接着，该时刻t2以后的时刻t3，如图所示RF中心值设定超过β值转换阈值。

这样以来，与此相应，同上述场合相反，从上述中心值比较电路46对β值转换电路47，现在已经输出表示RF中心值大于β值转换阈值45的值(RF信号最大值一侧振幅电平偏于降低)的比较结果信号。而且，与此相应，β值转换电路47中，作为对加法电路35输出的相加值，要选择输出比上述值「βA」还大的值「βB」。

因此，该时刻t3以后的期间，如上述那样，就作为由最小值存储电路33输出谷值的比较结果值来说，就变成输出对前一个谷值加上上述值「βB」的值。

即，该时刻t3以后，对输出的峰值—谷值而言，变成有如图所示大于相应上述值「βB」的斜率(以更大的减少幅度)在减少。

其结果，如上述那样，认为RF中心值超过β值转换阈值45，RF信号最小值一侧振幅电平偏于降低的场合，就变成能够按照实际RF信号振幅电平降低趋势追随峰值—谷值，使其接近。

另外，这时，在该时刻t3以后的时刻t4，如图所示峰值—谷值在缺陷阈值以下的场合，变成由缺陷判定39输出变为“H”电平的缺陷信号。而且，在图示的时刻t6，直到用缺陷判定39判别峰值—谷值超过缺陷阈值为止继续这种“H”电平的缺陷信号的输出，于是时刻t4～时刻t6为止的期间，如图所示那样就是缺陷检测期间。

并且，这时，图中的时刻t5以后，如图所示随着RF信号最小值一侧振幅电平在增大(RF信号的最小值为减少方向)，作为谷值也变为选择输出用最小值保持电路31检测的区间最小值。因此，这时就时刻t5以后的谷值来说，也大致追随RF信号最小值电平变动，随之峰值—谷值方面，也变成大致追随RF信号振幅电平的变动而增加。

在这里，利用图7和图8，比较作为本实施例的缺陷检测电路20中所得的动作与图10中所示现有的缺陷检测电路100中所得的动作来看。

首先，图7中，表示关于前面图5的场合与同一RF信号获得的场合，比较对于上述缺陷检测电路20和缺陷检测电路100所得的动作图。

该图中，如前面也说过的那样，在现有的缺陷检测电路100，如图那样RF信号最大值处于减少方向的场合，变成常常以相应固定值「α」的减少幅度在减少峰值—谷值。

所以，通过现有的缺陷检测电路100，这样仅仅RF信号最大值一侧振幅电平偏于减少的场合，不可能以一定的斜率减少峰值—谷值，不会追随峰值—谷值使其沿着实际RF信号振幅电平趋向降低。

相反，如果本实施例的缺陷检测电路20，就如在前面说过的图示时刻t3，与检测RF中心值超过α值转换阈值43的值相应，如图所示那样峰值—谷值的斜率，从与值「αA」相应的值，变为随值「αB」的值而变化。

即，这样以来检测RF中心值偏向最小值一侧，RF信号最大值一侧振幅电平超过某程度在减少的场合，作为上述峰值—谷值的斜率，就是变成可转换为比值「αA」要大的对应值「αB」。

因为，用本实施例的缺陷检测电路20，在该时刻t3以后的期间，可按照实际RF信号振幅电平的降低趋势忠实地追随峰值—谷值。

因此，以本实施例的缺陷检测电路20，与用现有的缺陷检测电路100检测缺陷状态的定时时刻t4a比较，就可在更早的时刻t4进行缺陷状态的检测。

而且，正如比较以图中缺陷信号1表示的本实施例缺陷检测电路20所得的缺陷信号与以缺陷2表示的现有缺陷检测电路100所得的缺陷信号可知，在现有技术，相对于只能从时刻t4以后的时刻t4a到t6成为缺陷检测期间，而在本实施例，变成可在从时刻t4到时刻t6的较长时间范围获得缺陷检测期间。

图8中，表示在得到与前面图6时同一RF信号的场合下，比较上述缺陷检测电路20与缺陷检测电路100中获得的动作图。

这时，现有的缺陷检测电路100中，如图那样RF信号最小值在增加方向的场合，常常以相应固定值「β」的增加幅度使峰值—谷值在增加。

所以，用现有的缺陷检测电路100，这样仅仅RF信号最小值一侧振幅电平偏于减少的场合，只能以一定斜率增加峰值—谷值，只能沿着实际RF信号振幅电平的降低趋势，追随峰值—谷值使其接近。

相反，在本实施例的缺陷检测电路20，如前面说过的那样在图示的时刻t3，相应检测RF中心值超过了β值转换阈值45的值，如图所示那样峰值的斜率，从相应值「βA」就变为相应值「βB」。

因而，用本实施例的缺陷检测电路20，该时刻t3以后的期间，能够沿着实际RF信号振幅电平的降低趋势追随峰值—谷值使其接近。

所以，这时也以本实施例的缺陷检测电路20，同现有缺陷检测电路100作为检测缺陷状态定时的时刻t4a比较，现在已经可以在更早的时刻t4进行缺陷状态的检测。

而且，这时也如图所示，相对于现有技术中只能得到从时刻t4以后的时刻t4a到时刻t6的缺陷检测期间，而在本实施例，变成可在从时刻t4到时刻t6的较长时间范围获得缺陷检测期间。

尽管，到此为止的说明中，就作为本实施例的缺陷检测电路20得到的动作来说，虽然说明了RF信号振幅电平大幅度偏向最大值一侧和最小值一侧任一方减少的场合，但是这里，用下面的图9A和图9B，考察看看RF信号的最大值一侧和最小值一侧双方振幅电平都减少的场合。

该图9A和图9B中，首先如图9A所示，RF信号的最大值一侧和最小值一侧双方振幅电平都减少的场合，应该峰值减少，同时谷值也在增加。

即，这时是，可从RF信号的最大值一侧和最小值一侧双方追随对振幅电平的降低，因此，会以较大的减少幅度减少图示的峰值—谷值。

所以，这时，如现有技术那样即使把峰值减少幅度和谷值增加幅度作为固定，也能沿着比较实际的RF信号振幅电平降低形式追随峰值—谷值。

但是，这里，试试看例如图示的RF中心值超过α值转换阈值43或β值转换阈值45降低或上升的场合，用本实施例的缺陷检测电路20，这种场合通过使相减值α或相加值β更大值可变，就要增加峰值的减少幅度或谷值的增加幅度。而且，随之，就峰值—谷值来说，也应该增加其减少幅度。

图9B中表示比较这时本实施例的缺陷检测电路20与现有的缺陷检测电路100的动作图，然而如上述那样把检测RF中心值超过α值转换阈值43或β值转换阈值45的时刻设为时刻tn时，就现有缺陷检测电路100中的峰值—谷值来说，即使在时刻tn以后，也应该维持该时刻tn以前的减少幅度。

相反，在本实施例的缺陷检测电路20，该时刻tn以后，由于将相减值α或相加值β转换为更大的值，峰值—谷值的减少幅度也应比该时刻tn以前增加。

即，用本实施例的缺陷检测电路20，这样即使是RF信号的最大值一侧和最小值一侧双方振幅电平都减少的场合，在RF中心值超过α值转换阈值43、或超过β值转换阈值45并降低或上升时，如图所示都能够比现有还早地进行缺陷状态检测。

上面，对本实施例的缺陷检测电路20进行了说明。

也如上述一样，在本实施例的缺陷检测电路20，设置中心值检测电路36，算出表示RF信号振幅中心值的RF中心值。

而且，与此同时，用该中心值检测电路36，例如算出的RF中心值电平，测定超过了α值转换阈值43的场合，变成得到把减法电路30中的相减值转换为比值「αA」要大的值「αB」的动作。并且，例如算出的RF中心值电平，测定在α值转换阈值43以下的场合，变成得到把加法电路35中的相加值转换为比值「βA」要大的值「βB」的动作。

因此，本实施例的缺陷检测电路20中，如上述那样，测定RF中心值电平超过α值转换阈值43或β值转换阈值45，RF信号振幅电平的最大值一侧或最小值一侧的任一方偏于减少的场合，就有可能增大表示RF信号振幅电平的峰值—谷值减少幅度。

而且，这样采用有可能增大峰值—谷值减少幅度的办法，测定RF信号振幅电平的最大值一侧或最小值一侧任一方偏于减少的场合，就能够按照实际RF信号振幅电平降低趋势追随峰值—谷值使其接近。

并且，与此同时，从迄今的说明也可以这样理解，本实施例的缺陷检测电路20不是采用原封不动利用由RF信号检测的区间最大值、区间最小值的结构，而在实际RF信号振幅电平降低下不要照样追随峰值和谷值。即，在RF信号振幅电平突发性变动的场合等，防止缺陷误检测。

其结果，用本实施例的缺陷检测电路20，现在已经能够一面维持现有的缺陷误检测防止功能，一面比现有技术大幅度提高RF信号振幅电平的最大值一侧或最小值一侧的任一方偏于减少场合的缺陷检测精度。

这样以来，由于能够比现有技术提高缺陷状态的检测精度，例如即使一定程度降低A/D变换RF信号时的取样频率，也能进行与现有技术同等水平精度的缺陷检测。

另外，上述实施例中，作为应用本发明缺陷检测装置的再生装置，例举同CD格式的光盘对应的光盘再生装置0。但是，本发明的缺陷检测装置方面，除此以外，也可以应用于例如与DVD(Digital Versatile Disc)、MD(MiniDisc：光磁盘)等格式盘对应的再生装置。

并且，又除对应于磁盘媒体的再生装置以外，可以应用于例如开始对应于记录数字数据的带状记录媒体的再生装置等，从记录媒体获得读出的信号作为RF信号，起因于记录媒体上的缺陷(损伤、附着物等)并得到RF信号振幅减少这种特性的全部再生装置。

并且，本实施例中，要按照RF中心值电平变化，只设定A、B双值作为可变的相减值α和相加值β，然而设定三个值以上作为其相减值α和相加值β也无妨。

即，要给图3中所示的α值转换阈值43和β值转换阈值45，分别设置双值以上的不同值，根据RF中心值超过第一个阈值，把上述相减值α和相加值β转换为更大的值，同时进而根据超过第二个阈值，把上述相减值α和相加值β转换为更大的值。

就是这样，在RF信号振幅电平偏向最大值一侧或最小值一侧的任一方并降低的场合，可根据其偏心程度增大峰值—谷值的减少幅度。

即，这样根据振幅电平的降低偏心，由于使峰值—谷值的减少幅度增大，就能够使峰值—谷值进一步忠实地追随实际RF信号振幅电平的降低。

因此，通过本变形例，现在已经能够进行更高精度的缺陷检测。

工业实用性

正如上面说明的一样，在本发明中，从RF信号测定的区间最大值处于减少方向的场合，要把区间最大值减去要求的相减值(值α)的减法结果值输出作为最大值(峰值)。并且，与此同时，从RF信号测定的区间最小值处于增加方向的场合，要把区间最小值加上要求的相加值(值β)的加法结果值输出作为最小值(谷值)。

而且，应该从如上述那样输出的最大值减去最小值，以便求出表示RF信号振幅电平RF振幅值(峰值—谷值)，由此，使之能够防止实际RF信号振幅电平突发性变动时的缺陷误检测。

在这个方面，本发明中，设定RF信号振幅的中心值超过规定电平并增加或减少，RF信号振幅电平偏向最大值一侧或最小值一侧降低的场合，与此相应要可变设定上述相减值、或上述相加值。

而且，例如，如果设定可变的上述相减值或上述相加值使其变为大于通常的值，就可以把随着RF信号振幅电平降低的上述最大值的减少幅度、或上述最小值的增加幅度作为大于通常的值。即，由此，作为从这些最大值和最小值算出的RF振幅值，也就可以增加其减少幅度。

上面的结果，按照本发明，在RF信号振幅电平的最大值一侧或最小值一侧偏于减少的场合，能够按照该振幅电平的降低趋势忠实地追随RF振幅值，同时也已经能够防止上述这种缺陷误检测。

即，按照本发明，现在已经可以一面维持现有缺陷误检测防止功能，一面更高精度进行缺陷状态的检测。

Claims (3)

1.一种缺陷检测装置，其特征在于，具有：

最大值检测单元，通过检测由对记录媒体的信号读出动作而得到的RF信号的最大值，得到检测最大值；

最小值检测单元，通过检测上述RF信号的最小值，得到检测最小值；

最大值输出单元，在由上述最大值检测单元得到的检测最大值处于减少方向的情况下，求出从该检测最大值减去所需的相减值的相减结果值，并把该相减结果值作为上述RF信号最大值来输出；

最小值输出单元，在由上述最小值检测单元得到的检测最小值处于增加方向的情况下，求出从该检测最小值加上所需的相加值的相加结果值，并把该相加结果值作为上述RF信号最小值来输出；

振幅电平算出单元，通过从由上述最大值输出单元输出的最大值中减去由上述最小值输出单元输出的最小值，算出表示上述RF信号振幅电平的RF振幅值；

缺陷检测单元，通过把由上述振幅电平算出单元算出的RF振幅值与规定阈值进行比较，来实行缺陷状态检测；

中心值算出单元，根据由上述最大值检测单元得到的检测最大值和由上述最小值检测单元得到的检测最小值，算出上述RF信号的振幅中心值；以及

可变值设定单元，按照由上述中心值算出单元算出的上述中心值电平，可变设定在上述最大值输出单元中的上述相减值和上述最小值输出单元中的上述相加值。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，

上述可变值设定单元构成为，

使其对应于由上述中心值算出单元算出的上述中心值比规定阈值还小，可变设定最大值存储单元中的上述相减值为更大的值，对应于上述中心值比规定阈值还大，可变设定最小值存储单元中的上述相加值为更大的值。

3.一种缺陷检测方法，其特征在于，具有：

最大值检测步骤，通过检测由对记录媒体的信号读出动作而得到的RF信号的最大值，得到检测最大值；

最小值检测步骤，通过检测上述RF信号的最小值，得到检测最小值；

最大值输出步骤，在由上述最大值检测步骤得到的检测最大值处于减少方向的情况下，求出从该检测最大值减去所需的相减值的相减结果值，并把该相减结果值作为上述RF信号最大值来输出；

最小值输出步骤，在由上述最小值检测步骤得到的检测最小值处于增加方向的情况下，求出从该检测最小值加上所需的相加值的相加结果值，并把该相加结果值作为上述RF信号最小值来输出；

振幅电平算出步骤，通过从由上述最大值输出步骤输出的最大值中减去由上述最小值输出单元输出的最小值，算出表示上述RF信号振幅电平的RF振幅值；

缺陷检测步骤，通过把由上述振幅电平算出步骤算出的RF振幅值与规定阈值进行比较，来实行缺陷状态检测；

中心值算出步骤，根据由上述最大值检测步骤得到的检测最大值和由上述最小值检测步骤得到的检测最小值，算出上述RF信号的振幅中心值；以及

可变值设定步骤，对应于由上述中心值算出步骤算出的上述中心值电平，可变设定由上述最大值输出步骤进行加法运算的上述相减值和由上述最小值输出步骤进行减法运算的上述相加值。

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