CN1308938C - 光盘装置及其控制方法 - Google Patents

Abstract

一种光盘装置具有：旋转信息记录介质的旋转装置、向信息记录介质的数据面照射光束的光源、聚束上述光束的聚束装置、检测上述数据面和通过上述聚束装置聚束的光束的焦点之间错开的聚焦误差检测装置、将上述聚束装置移动向与上述数据面垂直的方向的聚焦方向移动装置、在上述数据面上上述光束以规定的状态聚束并基于上述聚焦误差检测装置的输出驱动上述聚焦方向移动装置的聚焦控制装置、将上述光源移动到上述信息记录介质的半径方向的跟踪方向移动装置、在上述半径方向的不同的2点分别求得在上述信息记录介质旋转1周期间的整数倍期间得到的上述聚焦控制装置的输出的平均值并基于上述不同的2点的平均值求上述数据面的倾斜的倾斜计算装置。

Description

光盘装置及其控制方法

技术领域

本发明涉及一种光盘装置，是利用光束在光盘等记录介质上记录数据，以及再现在记录介质上记录的数据的光盘装置。特别是关于其具有控制对于记录介质的数据面的光束的入射角度的机构的光盘装置。

背景技术

在光盘装置中，对于向光盘装置等的记录介质照射的光束的光轴，把数据面从垂直错开的角度称作倾斜角，把倾斜角不是零的情形称为发生倾斜。随着光盘等记录介质的记录密度提高，控制倾斜角成为重要的问题。发生倾斜角时，由于记录或再现信号的跳动之恶化变得显著，因而确保光盘装置的性能就变得困难。

图1(a)和(b)，表示在倾斜角没有发生时和倾斜角发生时的光盘的数据面上投影的光束的截面。另外，图2(a)和(b)，是表示相对于倾斜量的再现信号的跳动和误差率的特性图。从图1和图2可知，由于倾斜产生彗形像差，其结果，引起再现信号的跳动之恶化和误差率的上升。

由倾斜产生的像差超过允许值时，不能进行最佳状态的记录和再现，而产生数据的可靠性低下的问题。另外，相对于该倾斜角的像差的允许幅度，随着光盘的记录密度增大而变窄，确保装置的记录再现性能就变得困难。

为了确保向高密度光盘的记录再现的性能，不仅是光学系统和驱动系统的机械的位置吻合调整，还要设置专用传感器检测倾斜角，通过导入适当地倾斜光头或物镜的倾斜控制，修正倾斜角，实现最佳的记录和再现的光盘装置从过去就已被知晓。

图3是表示该以往的光盘装置的构成的方块图。以下，说明图3所示的光盘装置的聚焦控制和倾斜控制。

从半导体激光等的光源1发出的光束，通过分束器3，通过作为聚束光束的聚束装置的物镜4聚束照射到作为记录介质的光盘2的数据面(信号记录面)上。由光盘2的数据面衍射反射的光束的返回光，由分束器3反射，由作为接收返回光的接收光装置的检测器5接收光并检测。物镜4通过作为移动装置的聚焦执行元件6相对于数据面移动到垂直方向(以下将该方向称为聚焦方向)，能够改变在光盘2的数据面上的光束的聚束状态。

由从检测器5输出的返回光的检测信号，输入到作为生成对应于光盘2的数据面上的光束的聚束状态的聚焦误差信号(FE信号)的聚焦误差检测装置的FE信号生成部7，生成FE信号。FE信号被输入到相位补偿部8，例如由DSP(数字信号处理器)的数字滤波器构成的相位偏移，在低域偏移电路通过后，作为聚焦驱动信号而输出。聚焦驱动信号在聚焦驱动部9被放大，通过放大的信号驱动聚焦执行元件6，实现使在光盘的数据面上的光束的聚束状态控制为总处于规定的聚束状态的聚焦控制。

下面，说明图3的以往的光盘装置的倾斜控制。检测照射到光盘2的光束的光轴和数据面的倾斜的倾斜传感器10，由向着光盘2的数据面发射光的发光二极管等的光源42，和接收从数据面来的反射光、输出检测信号的检测器43构成。

作为倾动照射到光盘2的光束的光轴的光轴倾动装置的倾斜执行元件11，通过倾动光头12，能够改变光盘2和照射到光盘2上的光束的光轴的倾斜。倾斜信号生成部13，使用从倾斜传感器10出来的检测信号，生成对应于光盘2的数据面和光轴的倾斜的倾斜信号。倾斜控制部14收取倾斜信号将倾斜执行元件驱动信号输出向倾斜执行元件11，由此，在光盘2的信号记录面上总是正交地照射光束，实现了控制光头12的倾斜控制。

在以往的倾斜控制中，有以下所示的课题。

在使用倾斜传感器的倾斜检测中，使由倾斜传感器的检测位置和照射到光盘的数据面上的光束的位置一致，在空间配置上是困难的。是由于在光盘的数据面上的照射位置的垂直下方光头(特别是物镜4)总是存在的。因此，倾斜传感器检测的是从光束位置隔开一些距离的位置的光盘的倾斜。其结果，在光盘2的数据面呈曲面形状时，倾斜传感器，不能正确地检测光束位置的倾斜角，而产生不能够进行正确的倾斜控制的问题。

另外，通过倾斜传感器的每一个其特性离散，和由在倾斜传感器和旋转光头12及光盘的驱动机构之间产生组装时的配置误差等，在由倾斜传感器检测的倾斜角和实际的倾斜角之间产生错位(零点偏移)。为了使该零点偏移为规定值以下，在装置的组装工序中对每一个光盘装置都需要作精密的调整。其结果，就产生光盘装置的生产成本上升的问题。

进而，在装置的组装工序中即使调整零点偏移，由倾斜传感器的经常变化及温度特性也能产生误差。由这样的组装后的误差，也产生在倾斜传感器不能作正确的倾斜控制的问题。

近年市场销售的信息机器，多被强烈要求外形要小。但在上述的以往的光盘装置中，为了确保倾斜传感器的安装空间，使光头小型化就变得困难。因此，使光盘装置小型化就变得困难。另外，倾斜传感器本身也构成使光盘装置的成本上升的要因。

本发明的目的在于提供，解决上述课题的至少一个，通过适当的倾斜控制能够正确地进行数据的记录、再现的光盘装置。

发明内容

本发明的光盘装置，其具有：旋转信息记录介质的旋转装置，和向着信息记录介质的数据面照射光束的光源，和聚束上述光束的聚束装置，和检测与上述数据面和由上述聚束装置聚束的光束焦点之间错开的聚焦误差检测装置，和将上述聚束装置移动向与上述数据面垂直的方向的聚焦方向移动装置，和在上述数据面上上述光束以规定的状态聚束、基于上述聚焦误差检测装置的输出驱动上述聚焦方向移动装置的聚焦控制装置，和将上述光源移动到上述信息记录介质的半径方向的跟踪方向移动装置，和在上述半径方向的不同的2点分别求得在上述信息记录介质旋转1周期间的整数倍的期间得到的上述聚焦控制装置的输出平均值、基于上述不同的2点的平均值、求上述数据面的倾斜的倾斜计算装置。

在某理想实施例中，上述旋转装置，与上述光源位于上述信息记录介质的内周侧时比较，位于外周侧时的情形旋转速度变小地使上述信息记录介质旋转，使上述倍数的值与上述光源位于上述信息记录介质的内周侧时比较在位于外周侧时变得小。

本发明的物镜的倾斜控制装置具有，输出驱动使物镜的一端向其焦点方向移动的第1聚焦方向移动装置的驱动值的第1驱动装置，和输出驱动使物镜的另一端向其焦点方向移动的第2聚焦方向移动装置的驱动值的第2驱动装置，和检测上述第1驱动装置和上述第2驱动装置的驱动值、输出它们的差的驱动电平差检测装置，和使上述驱动值的差为规定的值地、控制上述第1驱动装置和上述第2驱动装置的控制装置。

在某理想实施例中，上述控制装置，以在停止上述第1驱动装置和上述第2驱动装置的状态的上述驱动值的差为基准电平，控制上述第1驱动装置和上述第2驱动装置。

在某理想实施例中，上述控制装置，在使上述第1聚焦方向移动装置和上述第2聚焦方向移动装置分别从上述第1驱动装置和上述第2驱动装置电断离开的同时，将向上述第1聚焦方向移动装置和上述第2聚焦方向移动装置输出的驱动值以分别是零时的上述驱动值的差为基准电平，控制上述第1驱动装置和上述第2驱动装置。

在某理想实施例中，物镜的倾斜控制装置使上述基准电平以规定的时间间隔更新。或者进而具有温度传感器，在上述温度传感器的输出变化到规定值以上时，更新上述基准电平。

另外，本发明的光盘装置，具有：聚束光束的物镜，和将上述物镜的一端向其焦点方向移动的第1聚焦方向移动装置，和将上述物镜的另一端向其焦点方向移动的第2聚焦方向移动装置，和在上述其中之一所述的物镜倾斜控制装置。

在某理想实施例中，上述光盘装置，进而具有：旋转信息记录介质的旋转装置，和向着信息记录介质的数据面照射光束的光源，和检测上述数据面和通过上述聚束装置聚束的光束焦点之间错开的聚焦误差检测装置，和将上述光源移动到上述信息记录介质的半径方向的跟踪方向移动装置，和在上述半径方向的不同的2点分别求得上述聚焦控制装置的输出、基于上述不同的2点的输出，求上述数据面的倾斜的倾斜计算装置；基于上述倾斜计算装置的计算结果，决定上述规定的值。

本发明的聚焦驱动装置，具有，输出驱动将物镜向其焦点方向移动的聚焦方向移动装置的驱动值的驱动装置，和检测上述驱动值的驱动电平检测装置，将上述驱动值以设定为零的状态的上述驱动电平检测装置的输出为基准电平，并基于上述基准电平修正上述驱动装置的输出的直流电平。

另外，本发明的聚焦驱动装置，具有，输出驱动将物镜向其焦点方向移动的聚焦方向移动装置的驱动值的驱动装置，和检测上述驱动值的驱动电平检测装置；以在规定期间停止上述驱动装置的动作时的上述驱动电平检测装置的输出为基准电平，基于上述基准电平修正上述驱动装置的输出的直流电平。

另外，本发明的聚焦驱动装置，具有，输出驱动将物镜向其焦点方向移动的聚焦方向移动装置的驱动值的驱动装置，和检测上述驱动值的驱动电平检测装置；在将上述驱动电平检测装置从上述聚焦方向移动装置电断离开的同时，以将向上述聚焦方向移动装置输出的驱动值为零时的上述驱动电平检测装置的输出为基准电平，基于上述基准电平而修正上述驱动装置的输出的直流电平。

在某理想实施例中，聚焦驱动装置，以规定的时间间隔更新上述基准电平。或者，进而具有温度传感器，在上述温度传感器的输出变化到规定值以上时，更新上述基准电平。

另外，本发明的光盘装置，具有：聚束光束的物镜，和使上述物镜向其焦点方向移动的聚焦方向移动装置，和生成表示由上述物镜聚束的光束的焦点与规定的位置之间错开的聚焦误差信号的聚焦误差检测装置，和在上述其中之一所述的聚焦驱动装置，和上述聚焦误差信号和上述驱动电平检测装置的输出为规定的关系地、控制上述驱动装置的控制单元装置。

在某理想实施例中，上述聚焦驱动装置，进而具有：旋转信息记录介质的旋转装置，和向着信息记录介质的数据面照射上述光束的光源。

本发明的跟踪驱动装置，具有：输出驱动将物镜向信息记录介质的半径方向移动的跟踪方向移动装置的驱动值的驱动装置，和检测上述驱动值的驱动电平检测装置；将上述驱动值以设定为零的状态的上述驱动电平检测装置的输出为基准电平，基于上述基准电平而修正上述驱动装置的输出的直流电平。

另外本发明的跟踪驱动装置，具有：输出驱动将物镜向信息记录介质的半径方向移动的跟踪方向移动装置的驱动值的驱动装置，和检测上述驱动值的驱动电平检测装置；以将向上述驱动装置的动作在规定期间停止时的上述驱动电平检测装置的输出为基准电平，基于上述基准电平而修正上述驱动装置的输出的直流电平。

另外，本发明的跟踪驱动装置，具有：输出驱动将物镜向信息记录介质的半径方向移动的跟踪方向移动装置的驱动值的驱动装置，和检测上述驱动值的驱动电平检测装置；在将上述驱动电平检测装置从上述跟踪方向移动装置电断离开的同时，以将向上述跟踪方向移动装置输出的驱动值设定为零时的上述驱动电平检测装置的输出为基准电平，基于上述基准电平而修正上述驱动装置的输出的直流电平。

在某理想实施例中，跟踪驱动装置使上述基准电平以规定的时间间隔更新。或者，进而具有温度传感器，在上述温度传感器的输出变化到规定值以上时，更新上述基准电平。

另外本发明的光盘装置，具有：聚束光束的物镜，和使物镜向信息记录介质的半径方向移动的跟踪方向移动装置，和生成表示由上述物镜聚束的光束与规定的位置之间错开的跟踪误差信号的跟踪误差检测装置，和在上述其中之一所述的跟踪驱动装置，和上述跟踪误差信号和上述驱动电平检测装置的输出为规定的关系地、控制上述驱动装置的控制单元装置。

在某理想实施例中，上述光盘装置，进而具有：旋转信息记录介质的旋转装置，和向着信息记录介质的数据面照射上述光束的光源。

本发明的物镜的倾斜控制装置，具有：输出驱动改变物镜的倾斜的物镜倾斜装置的驱动值的驱动装置，和检测上述驱动值的驱动电平检测装置；将上述驱动值以设定为零的状态的上述驱动电平检测装置的输出为基准电平，基于上述基准电平而修正上述驱动装置的输出的直流电平。

另外，本发明的物镜的倾斜控制装置，具有：输出驱动改变物镜的倾斜的物镜倾斜装置的驱动值的驱动装置，和检测上述驱动值的驱动电平检测装置；以将上述驱动装置的动作在规定期间停止时的上述驱动电平检测装置的输出为基准电平，基于上述基准电平而修正上述驱动装置的输出的直流电平。

另外，本发明的物镜的倾斜控制装置，具有：输出驱动改变物镜的倾斜的物镜倾斜装置的驱动值的驱动装置，和检测上述驱动值的驱动电平检测装置；在将上述驱动电平检测装置从物镜的倾斜装置电断离开的同时，以将向上述跟踪方向移动装置输出的驱动值设定为零时的上述驱动电平检测装置的输出为基准电平，基于上述基准电平而修正上述驱动装置的输出的直流电平。

在某理想实施例中，物镜的倾斜控制装置使上述基准电平以规定的时间间隔更新。或者，进而具有温度传感器，在上述温度传感器的输出变化到规定值以上时，更新上述基准电平。

另外，本发明的光盘装置，具有：聚束光束的物镜，和改变物镜的倾斜的物镜倾斜装置，和在上述其中之一所述的物镜的倾斜控制装置，和上述驱动电平检测装置的输出为规定的值地、控制上述驱动装置的控制单元装置。

在某理想实施例中，上述光盘装置，进而具有：旋转信息记录介质的旋转装置，和向着信息记录介质的数据面照射上述光束的光源。

另外，本发明的光盘装置，具有：向着信息记录介质的数据面照射光束的光源，和聚束光束的聚束装置，和使上述聚束装置和上述数据面的距离变化而移动上述聚束装置的移动装置，和接收从上述数据面反射的光束的返回光的接收光装置，和基于从上述接收光装置发出的信号、产生响应上述信息记录介质的数据面上的光束的聚束状态的信号的聚焦误差检测装置，和基于从上述聚焦误差检测装置发出的信号向上述移动装置输出驱动信号、上述光束为规定的聚束状态而控制的聚焦控制装置，和使上述聚束装置倾斜的倾斜装置，和基于上述驱动信号决定为了算出上述数据面的形状而使用的至少1个计算式、使用上述决定的计算式求得上述数据面的倾斜量的倾斜计算装置，和根据上述倾斜量、驱动倾斜装置、相对于上述数据面、光束实质地垂直地照射而控制的倾斜控制装置。

在某理想实施例中，上述倾斜计算装置，基于在决定上述计算式以后求得的上述驱动信号，更新上述决定的计算式。

在某理想实施例中，上述倾斜计算装置，将上述信息记录介质装入到上述光盘装置后，在对于上述信息记录介质进行记录和再现以前，执行：为了决定上述计算式而进行的驱动信号的初始检测，和在对于上述信息记录介质在记录和再现中、为了上述计算式的更新而进行的驱动信号的补充检测。

在某理想实施例中，上述倾斜计算装置，在于上述数据面的不同的半径位置设定的多个检测点，基于上述光束在照射上述数据面时得到的聚焦控制装置的驱动信号决定上述计算式。

在某理想实施例中，上述倾斜计算装置，对于上述信息记录介质在记录和再现中，每次上述光束在到达或通过上述多个检测点其中之一时，都进行驱动信号的检测和上述计算式的更新。

在某理想实施例中，上述倾斜计算装置，在上述初始检测之前，在上述信息记录介质的半径方向的多个位置检测上述驱动信号，从检测结果判断上述数据面的翘曲形状，基于上述判断的结果，在上述初始检测和上述补充检测中决定检测驱动信号的检测点的位置。

上述倾斜计算装置，对上述数据面的翘曲形状，在判断为第1形状时，在上述初始检测和上述补充检测的多个检测点的配置，与上述数据面的中周部比较，在其内周部和外周部呈高密度地设定，对上述数据面的翘曲形状，在判断为第2形状时，在上述初始检测和上述补充检测的多个检测点的位置于内周部、中周部和外周部呈等间隔地设定。

在某理想实施例中，光盘装置，进而具有检测在上述数据面上记录数据时产生的写入误差、或再现在上述数据面上记录的数据时产生的读入误差的误差检测装置，对在上述补充检测的上述计算式的更新所使用的上述驱动信号的检测，基于上述误差检测装置的信号来进行。

在某理想实施例中，上述误差检测装置，进而具有检测订正从上述信息记录介质再现的数据的符号错误的符号错误订正装置，每当上述符号错误订正装置的符号错误数超过规定值时，执行上述补充检测。

在某理想实施例中，上述误差检测装置，具有检测相当于上述数据面的位置信息的地址信息的再现误差的地址误差检测装置，上述再现误差每超过规定数就执行上述补充检测。

在某理想实施例中，光盘装置，具有从上述信息记录介质再现的数据、和分别暂时存放记录在上述信息记录介质中的数据的缓冲装置，基于存放在上述缓冲装置的数据量执行上述补充检测。

在某理想实施例中，在上述补充检测的上述驱动信号的检测的时间间隔，在从上述信息记录介质再现数据的情形和在向上述信息记录介质记录数据的情形是不同的。

在某理想实施例中，光盘装置，进而具有温度传感器，上述温度传感器的输出在规定值以上变化时执行上述补充检测。

在某理想实施例中，上述倾斜计算装置的计算式，含近似上述数据面的倾斜的翘曲函数，在上述补充检测中，于更新上述计算式时设定上述翘曲函数的次数。

在某理想实施例中，光盘装置，进而具有使上述信息记录介质以规定的旋转数旋转的旋转装置，聚焦控制装置输出的上述驱动信号，是上述信息记录介质旋转1周期间的整数倍的期间的平均值。

在某理想实施例中，光盘装置，进而具有：使上述信息记录介质以规定的旋转数旋转的旋转装置，和对于上述信息记录介质在进行记录和再现时、对上述旋转装置控制其线速度为一定、在上述初始检测时、对上述旋转装置控制其角速度为一定的旋转控制装置。

在某理想实施例中，上述倾斜计算装置，在上述多个检测点之一进行2次以上上述驱动信号的检测时，使用至此取得的驱动信号的值的平均值，进行上述计算式的更新。

在某理想实施例中，上述倾斜计算装置，在上述多个检测点之一进行2次以上上述驱动信号的检测时，对于至此检测取得的驱动信号的值，如果是规定范围以外，则对其驱动信号的检测结果判断为不正确，终止上述计算式的更新。

在某理想实施例中，上述至少1个计算式，含有近似数据面的翘曲的翘曲函数，和表示在半径方向的任意位置的倾斜的倾斜近似函数。

在某理想实施例中，上述倾斜计算装置的计算式含有折线函数。

在某理想实施例中，上述倾斜计算装置，对上述信息记录介质在记录和再现时，每当上述光束到达或通过上述多个检测点其中之一时，进行驱动信号的检测，基于检测结果修正决定上述折线函数时使用的所有的驱动信号的值，基于修正的驱动信号的值更新折线函数。

在某理想实施例中，在上述初始检测和上述补充检测中的多个检测点的配置与上述数据面的中周部比较，在内周部和外周部为密度高的设定。

在某理想实施例中，上述信息记录介质的数据面具有第1和第2记录层的时候，倾斜计算装置分别决定为了算出上述第1及第2记录层的形状而使用的至少1个计算式，使用上述决定的计算式求上述第1及第2记录层和上述聚束装置的倾斜量。

在某理想实施例中，上述移动装置，是对于上述数据面使上述聚束装置在略垂直方向驱动的一对聚焦执行元件，上述倾斜装置，是对于上述数据面倾斜地驱动上述聚束装置的上述一对聚焦执行元件。

在某理想实施例中，上述移动装置，是对于上述数据面使上述聚束装置在略垂直方向驱动的一对聚焦执行元件，上述倾斜装置，是对于上述数据面倾斜地驱动上述聚束装置的倾斜执行元件。

本发明的光盘装置的控制方法，包含有：为了保持照射到信息记录介质的数据面上的光束为规定的聚束常态、使聚束上述光束的聚束装置在与上述数据面垂直的方向驱动的步骤，和求驱动在上述信息记录介质旋转1周期间的整数倍的期间得到的上述聚束装置的驱动信号的平均值的步骤，和在上述信息记录介质的半径方向的不同的2点分别求上述平均值、基于在上述不同的2点的平均值、求上述数据面的倾斜的步骤，和基于上述数据面的倾斜、改变上述聚束装置的倾斜的步骤。

本发明的物镜的倾斜控制方法，包含有：向其焦点方向驱动物镜的两端的步骤，和检测驱动上述两端的驱动信号的差的步骤，和使上述驱动信号的差为规定值地控制上述第1驱动装置和上述第2驱动装置的步骤。

另外，本发明的物镜的驱动方法，包含有：输出使物镜向规定方向移动而驱动移动装置的驱动信号的步骤，和检测上述驱动信号的步骤，和在使上述驱动信号设定为零的状态、以由上述检测步骤检测的值为基准电平、基于上述基准电平修正上述驱动信号的直流电平的步骤。

另外，本发明的物镜的驱动方法，包含有：输出使物镜向规定方向移动而驱动移动装置的驱动信号的步骤，和检测上述驱动信号的步骤，和以使上述驱动信号的输出由在规定期间停止时的上述检测步骤检测的值为基准电平、基于上述基准电平而修正驱动信号的直流电平的步骤。

另外，本发明的物镜的驱动方法，包含有：输出使物镜向规定方向移动而驱动移动装置的驱动信号的步骤，和检测上述驱动信号的步骤，和在电断离开输出上述驱动信号的装置和上述移动装置的同时、以由使上述驱动信号为零时的上述检测步骤检测的值为基准电平、基于上述基准电平而修正驱动信号的直流电平的步骤。

在某理想实施例中，上述规定的方向是聚焦方向。

在某理想实施例中，上述规定的方向是跟踪方向。

在某理想实施例中，上述规定的方向是倾斜方向。

另外，本发明的光盘装置的控制方法，包含有：为了改变照射到信息记录介质的数据面上的光束的聚束状态、使聚束上述光束的聚束装置向与上述数据面垂直的方向驱动的步骤，和接收从上述数据面反射的光束的返回光的步骤，和基于从上述接收光装置发出的信号、产生响应上述信息记录介质的数据面上的光束的聚束状态的信号的步骤，和基于响应上述聚束状态的信号、向移动上述聚束装置的装置输出驱动信号、使上述光束呈规定的聚束状态地控制的步骤，和基于上述驱动信号决定为了算出上述数据面的形状而使用的至少1个计算式、使用上述决定的计算式求上述数据面和上述聚束装置的倾斜量的步骤，和根据上述倾斜量、驱动改变上述聚束装置的倾斜的装置、对于上述数据面使光束实质地垂直地照射而控制的步骤。

另外，本发明的光盘装置的控制方法，包含有：以照射上述信息记录介质的数据面的光束为规定的聚束状态而进行聚焦控制的状态，在于上述信息记录介质的半径方向的不同的多个位置、取得在上述光束照射上述数据面时得到的聚焦驱动信号的步骤(A)，和基于上述取得的多个聚焦驱动信号的值、决定为了算出上述数据记录面的形状而使用的至少1个计算式的步骤(B)，和使用上述决定的计算式、求上述数据记录面的倾斜量、基于求得的倾斜量改变物镜的倾斜的步骤(C)。

在某理想实施例中，进而包含有：执行步骤(B)后、以进行聚焦控制的状态、在于上述信息记录介质的半径方向的至少1个以上的规定位置、取得在上述光束照射上述数据面时得到的聚焦驱动信号的步骤(D)，和基于在步骤(D)和步骤(A)取得的聚焦驱动信号的值、更新上述计算式的步骤(E)，和基于更新的计算式、求上述数据记录面的倾斜量、基于求得的倾斜量改变物镜的倾斜的步骤(F)。

在某理想实施例中，每当到达或通过上述光束在上述信息记录介质的半径方向的至少1个以上的规定的位置其中之一时，执行上述步骤(D)～(F)。

在某理想实施例中，检测在上述数据面上记录数据时产生的写入误差、或再现在上述数据面上记录的数据时产生的读入误差，基于检测结果，执行上述步骤(D)～(F)。

在某理想实施例中，基于从上述信息记录介质再现的数据、和分别暂时存放记录在上述信息记录介质中的数据的量，执行上述步骤(D)～(F)。

在某理想实施例中，检测上述光盘装置内的温度，在温度的变化为规定值以上时执行上述步骤(D)～(F)。

在某理想实施例中，在上述步骤(A)和(D)中取得聚焦驱动信号的位置，比上述信息记录介质的中周部，于其外周部配置得更密。

在某理想实施例中，上述计算式含折线函数。

在某理想实施例中，在上述步骤(D)中，在上述至少1个以上的规定位置其中之一取得上述聚焦驱动信号，基于在步骤(D)中取得的上述聚焦驱动信号，完全修正在步骤(A)中取得的上述聚焦驱动信号，基于修正的聚焦驱动信号执行上述步骤(E)。

在某理想实施例中，上述信息记录介质进行1个旋转期间的整数倍的期间来取得上述聚焦驱动信号，作为聚焦驱动信号的值使用其平均值。

本发明的计算机可读取的记录介质，记录在计算机中执行于上述其中之一所述的方法中规定的各步骤的程序。

附图说明

图1(a)是在盘没有发生倾斜时，表示投影到盘的数据面上的光束的截面，(b)是在盘发生倾斜时，表示投影到盘的数据面上的光束的截面。

图2(a)和(b)是在盘发生倾斜时，分别表示盘的倾斜量和再现信号的跳动及误差率的关系的图。

图3是表示根据以往技术的光盘装置的构成的方块图。

图4(a)是表示发生倾斜时的物镜4和与光盘2的数据面的相对位置的模式图，(b)是表示光头的位置和与在其位置的聚焦驱动信号值之间的关系的模式图。

图5是表示本发明的光盘装置的第1实施例的方块图。

图6是表示在图5所示的光盘装置的执行元件的俯视图。

图7是表示在图5所示的光盘装置的驱动电流部的方块图。

图8表示聚焦驱动信号及旋转1圈信号的波形。

图9是表示本发明的光盘装置的第2实施例的方块图。

图10是表示在图9所示的光盘装置的执行元件的俯视图。

图11是表示本发明的光盘装置的第3实施例的方块图。

图12是表示本发明的光盘装置的第4实施例的方块图。

图13是表示本发明的光盘装置的第5实施例的方块图。

图14是表示光盘的形状的模式图。

图15是表示光盘形状和其近似函数的模式图。

图16是表示在初始检测和补充检测的检测点的位置的图。

图17是表示初始检测的顺序的流程图。

图18是表示补充检测的顺序的流程图。

图19是表示在第1实施例的变形例的检测点的位置的图。

图20是表示翘曲函数的图。

图21是表示从图19的函数得到的倾斜近似值的图。

图22是表示补充检测的顺序的流程图。

图23是表示本发明的光盘装置的第6实施例的方块图。

图24是表示补充检测的顺序的流程图。

图25是表示补充检测的其他顺序的流程图。

图26是表示补充检测的其他顺序的流程图。

图27是表示本发明的光盘装置的第7实施例的方块图。

图28是表示再现动作中的读缓冲存储器内的数据量的时间变化的图。

图29是表示记录动作中的写缓冲存储器内的数据量的时间变化的图。

图30是表示补充检测的顺序的流程图。

图31是表示盘的翘曲状态的模式图。

图32是表示翘曲函数和实际的盘翘曲形状的关系的模式图。

图33是表示再现动作中的读缓冲存储器内的数据量的时间变化的图。

图34是表示记录动作中的写缓冲存储器内的数据量的时间变化的图。

图35是表示再现时和记录的翘曲函数更新的时间间隔的差的图。

图中：1、42-光源，2、100-光盘，3、11-分束器，4、103-物镜，5、43、113-检测器，6、106-聚焦执行元件，7、115-聚焦误差信号生成部(FE信号生成部)，8、9-聚焦控制部，10-倾斜传感器，11-倾斜执行元件，12、114-光头，13-倾斜信号生成部，14-倾斜控制部，15a、15b-聚焦执行元件，16a、125-第1聚焦驱动部，16b、126-第2聚焦驱动部，17-光头移送轴，18、118-移送电动机，19-编码器，20-电动机驱动部，21、130-微处理机(微机)，22-聚焦存储器，23、120、122、123-减法运算部，24、124-加法运算部，25、102-电动机控制部，26、131-旋转检测部，27、101-电动机，28-EEPROM，29-加法放大部，30-均值器(EQ)，31-数据限制器，32-PLL部(PLL)，33-解调部，34-ID读取部，35-错误订正部(ECC)，36-模拟地址计数器，37-读缓冲存储器，38-主计算机，39-写缓冲存储器，40-调制部，41-激光二级管驱动部(LD驱动部)，105-全反射镜，106-光束，107-1/4波长板，108-耦合透镜，109-激光，111-检测透镜，112-圆筒透镜，116、121-相位补偿部，127、128-驱动电流检测部，135-第1聚焦用线圈，136-第2聚焦用线圈。

具体实施方式

对于光盘的数据面的光束轴的倾斜，能够区分为光盘的半径方向和光盘的圆周方向。由其中圆周方向的倾斜带来的影响，一般通过信号处理除去地而构成再现信号处理电路。在本发明中，处置光盘的半径方向的倾斜。以下，在本发明申请书中，将光盘的半径方向的倾斜(径方向的倾斜)简单地称作倾斜或倾斜角。

首先说明在本发明的实施例中使用作为共通利用的技术的聚焦驱动信号的倾斜角的检测。图4(a)是表示发生倾斜时的物镜4和光盘2的数据面的相对位置的模式图，图4(b)是表示光头的位置和在其位置的聚焦驱动信号值之间的关系的模式图。如参照图3说明的，在光盘装置中，在光盘2的数据面上，通过使光束总是呈规定的聚束状态而驱动聚焦执行元件，进行聚焦控制。从而，在进行聚焦控制时，光盘2的数据面和物镜4的距离与半径位置无关而呈恒定(L)。在光盘2倾斜时，由于对应其物镜4的位置改变，在半径位置d1和d2的物镜4的位置的差为Zr。

该Zr与在光盘2的半径位置d1和d2的数据面的高度的差Zd相等。由于相对于盘的水平面的倾斜θd，和连接在半径位置d1及d2的物镜4的位置的线与水平面成的角θr相等，从Zr和半径位置d1及d2的差R通过下式(1)能够求出光盘2的数据面的倾斜。

θd＝θr＝tan^-1(Zr/R)                           (1)

另外，作为控制聚焦执行元件的驱动输入的聚焦驱动信号值和物镜4的变位的关系由于事先已知，物镜4的聚焦方向的位置能够从聚焦驱动信号值求出。在这里，使聚焦驱动信号值和物镜4的聚焦方向的变位量之间的关系为pf，在半径位置d1与d2的聚焦驱动信号值的差为Vs，根据式(1)，θd由下式(2)表示。

θd＝tan^-1(Pf×Vs/R)                          (2)

例如由于在CD或DVD的光盘2产生的倾斜为1度左右，即使使θd如下式(3)那样近似也几乎没有误差。

θdPf×Vs/R                                 (3)

如以上，对于半径位置的聚焦驱动信号值的变化，与对于半径方向的数据面的翘曲量的变化为大致等价。因此，利用此关系，通过检测每个规定的半径位置的聚焦驱动信号值，能够检测径向的倾斜角。

在以下的实施例中，从该聚焦驱动信号值(信号)计算径向的倾斜，使用其计算结果说明进行倾斜控制的光盘装置和控制方法。特别是第1到第4的实施例，主要是关于光束的控制方法，第5到第7的实施例，主要是关于基于光盘的数据面的倾斜检测和检测的倾斜角的倾斜修正的方法。

(第1实施例)

图5是表示根据本发明的光盘装置的第1实施例的方块图。在光盘装置801中，光盘100，被安装在对应于旋转装置的电动机101上，以规定的旋转数旋转。电动机101，通过对应于旋转控制装置的电动机控制部102而被控制。电动机101的旋转数，由微型计算机130(以下记为微机130)设定。旋转检测部131，电动机101每作1个旋转时便输出脉冲。以下将此信号记为1旋转信号(PG)。1旋转信号被送到微机130。

光盘100，具有规定厚度的基板，向作为基板的一面的数据面照射光束。在数据面，形成由凹凸形成的螺旋状的磁道。在光头114，安装有：物镜103、为射出光束的光源的激光109、耦合透镜108、分束器110、1/4波长板107、全反射镜105、检测透镜111、圆筒透镜112、检测器113、执行元件104。

移送电动机118，有作为跟踪方向移动装置的功能，使光头114向光盘100的半径方向(图中左右的方向)移动。移送电动机118由微机130控制。

从激光109发出的光束106由耦合透镜108变为平行光后，通过分束器110、1/4波长板107，被全反射镜105反射，通过物镜103聚束照射到光盘100的数据面上。

通过光盘100的数据面反射的反射光，在物镜103通过被全反射镜105反射，在1/4波长板107、分束器110、检测透镜111和圆筒透镜112通过，入射到由被多个分割(在本实施例中为4个)的接收光部构成的检测器113上。物镜103安装在执行元件104的可动部(以下记为透镜支架)上。执行元件104含有第1聚焦用线圈135及第2聚焦用线圈136、第1聚焦用永久磁石(图中未示)及第2聚焦用永久磁石(图中未示)。执行元件104和第1聚焦用线圈135及执行元件104和第2聚焦用线圈136分别具有作为第1聚焦方向控制装置和第2聚焦方向控制装置的功能。第1聚焦方向控制装置和第2聚焦方向控制装置，具有作为聚焦方向移动装置的功能。

第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136，安装在执行元件104的固定部。另外，第1聚焦用永久磁石和第2聚焦用永久磁石，分别安装在透镜支架上。

第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136，夹住物镜103配置在光盘100的半径方向。另外，在图5中，由于正确地图示困难，第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136对于物镜103，表示在位于单侧位置。

在执行元件104的第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136使用作为第1驱动装置的第1聚焦驱动部125和作为第2驱动装置的第2聚焦驱动部126，施加相等的电压时，在第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136中流动相同大小的电流，第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136产生相等的磁通量。产生的各自的磁通对第1聚焦用永久磁石和第2聚焦用永久磁石的磁通给予相同的影响。由此，物镜103向与光盘100的数据面垂直的方向(图中的上下方向)移动，以下，将该方向称为聚焦方向。

在执行元件104的第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136使用第1聚焦驱动部125和第2聚焦驱动部126，施加不同的电压时，使第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136的驱动电流产生差，对与于第1聚焦用线圈135产生的磁通和第2聚焦用线圈136产生的磁通对应的聚焦用永久磁石的磁通给予的影响变得不同。因此，在光盘的半径方向，物镜103的内侧和外侧的聚焦方向的变位量不同。其结果，物镜103向光盘100的半径方向倾斜。相对于光束106的光轴，物镜103的光轴向光盘100的半径方向倾斜时，在半径方向产生彗形像差。另外，光盘100相对于光束106的光轴，向半径方向倾斜时，在半径方向产生彗形像差。

这样，对第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136的驱动电流给予差，通过使物镜103向半径方向倾斜，能够抵消由光盘100向半径方向倾斜时产生彗形像差。即，即使光盘100倾斜，与其对应也能够通过倾斜物镜103降低彗形像差，能够确保良好的数据的再现特性和记录特性。

检测器113由4个接收光部形成。从入射到检测器113上的光盘出来的反射光，被送到聚焦误差信号生成部115(以下记为FE信号生成部115)。FE信号生成部115，作为聚焦误差检测装置，生成表示光束106的焦点和光盘100的数据面之间的错位的聚焦误差信号(以下记为FE信号)。

图5所示的光学系统构成一般被称为象散法的FE信号的检测方式。FE信号，被送向相位补偿部116。相位补偿部116，是推进稳定聚焦控制系统的相位的过滤器。作为相位补偿部116的输出的聚焦驱动信号，被送到微机130。另外，通过加法运算部124的一方的+端子和减法运算部123的+端子，分别被送到第2聚焦驱动部126和第1聚焦驱动部125。

加法运算部124输出加法运算在各个+端子输入的信号的值。减法运算部123，输出从输入到+端子的信号减法运算输入到-端子的信号的值。

通过根据象散法的反馈回路，在第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136分别流动相同电流地，第1聚焦驱动部125和第2聚焦驱动部126输出电压。

另外，驱动电流检测部127、驱动电流检测部128分别检测在第1聚焦用线圈135、第2聚焦用线圈136中流动的驱动电流量。相位补偿部116、第1聚焦驱动部125和第2聚焦驱动部126具有作为聚焦控制装置的功能，由于对于表示光束106的焦点和光盘100的数据面之间错开的FE信号的电流相等地流动在第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136中，光束106的焦点总是位于光盘100的数据面地，被物镜103控制。

驱动电流检测部127和驱动电流检测部128，检测在第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136中流动的驱动电流，送到减法运算部120的+端子、一侧的-端子(图中表示为“-1”的端子)。减法运算部120的另一侧的-端子(图中表示为“-2”的端子)，连接到微机130上。减法运算部120，输出从+端子的输入信号减法运算2个-端子的输入信号值。从而，从微机130输入的-端子的输入信号为零时，减法运算部120的输出表示在第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136中流动的驱动电流的差。对该信号在下面记做驱动电流差信号。另外，有关微机130设定在减法运算部120的-端子的信号在后面叙述。驱动电流差信号，被送到减法运算部122的-端子。驱动电流检测部127、驱动电流检测部128和减法运算部120具有作为检测控制物镜的倾斜的驱动电平差的装置的功能。

微机130，从在光盘100不同的半径方向的2点的相位补偿部116的输出的差和其2点的间隔，检测为光盘100的半径方向的倾斜的倾斜角。向光头114的半径方向的移动由移送电动机118进行。

物镜103的倾斜量(倾斜角)，通过微机130设定在减法运算部122的+端子处。

减法运算部122的输出，通过相位补偿部121被送到减法运算部123的-端子和加法运算部124的一方的+端子处。相位补偿部121的输出，通过被送到减法运算部123的-端子和加法运算部124的+端子处，使第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136的驱动电流产生差。

从而，驱动电流差信号的电平，通过微机130控制为与设定在减法运算部120的+端子的电平相等。由此，物镜103通过微机130为响应设定在减法运算部122的+端子的电平的倾斜。即，物镜103响应光盘100的倾斜而被控制。相位补偿部121，是使驱动电流信号的控制系统稳定的相位补偿过滤器。这样，相位补偿部121、减法运算部122、减法运算部123、加法运算部124、和微机130具有控制物镜的倾斜的控制装置的功能。

另外，驱动电流检测部127，为能够使第1聚焦驱动部125从第1聚焦用线圈135电断离开的构成。另外，同样地驱动电流检测部128，为能够使第2聚焦驱动部126从第2聚焦用线圈136电断离开的构成。通过使驱动电流检测部127、128的端子c为高电平，能够设定其电断离开的状态。

在该电断离开的状态的减法运算部120的输出，表示驱动电流检测部127、128和减法运算部120的电路偏移。另外，微机130向减法运算部120的-端子输入的信号，设定为零电平。详情在后面叙述。

微机130，在使驱动电流检测部127、驱动电流检测部128的端子c为高电平的状态取入减法运算部120的输出，为了使取入的值为零，调整向减法运算部120的-端子输入的信号的电平。从而，驱动电流差信号的偏移被除去。

下面，详细说明各方块图的动作。图6是对光盘装置801的执行元件104从上看的俯视图。聚焦用线圈202和聚焦用线圈203串联连接，构成第1聚焦用线圈135。聚焦用线圈204和聚焦用线圈205串联连接，构成第2聚焦用线圈136。夹住物镜103，在盘的半径方向(图中的上下方向)配置第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136。

固定物镜103的透镜支架200，通过导线180连接到光头114的固定部(没图示)。另外，第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136也安装在光头114的固定部。第1聚焦用永久磁石201和第2聚焦用永久磁石206，安装在透镜支架200上。

使第1聚焦用线圈135的驱动电流在与第2聚焦用线圈136的驱动电流相反的方向流动时，在第1聚焦用线圈135产生的磁通和由第2聚焦用线圈136产生的磁通的方向为反向。从而，第1聚焦用永久磁石201的磁通受到的影响和第2聚焦用永久磁石206的磁通受到的影响的方向为反向。为了使透镜支架200靠近光盘100的数据面，在第1聚焦用线圈135中流动驱动电流，为了从光盘100的数据面远离开，在第2聚焦用线圈136中流动驱动电流时，透镜支架200的内周侧(配置第1聚焦用线圈135的一侧)靠近光盘100的数据面，透镜支架200的外周侧从光盘100的数据面离开。即、物镜103的光轴向外周侧倾斜。

另外，为了透镜支架200从光盘100的数据面远离开，在第1聚焦用线圈135中流动驱动电流，为了靠近光盘100的数据面，在第2聚焦用线圈136中流动驱动电流时，透镜支架200的内周侧(配置第1聚焦用线圈135的一侧)从光盘100的数据面远离开，透镜支架200的外周侧靠近光盘100的数据面。即、物镜103的光轴向内周侧倾斜。

使第1聚焦用线圈135的驱动电流和第2聚焦用线圈136的驱动电流的方向为相同时，在第1聚焦用线圈135产生的磁通和由第2聚焦用线圈136产生的磁通的方向为相同。从而，第1永久磁石201的磁通受到的影响和第2永久磁石206的磁通受到的影响的方向也为相同，透镜支架200不倾斜地向聚焦方向动作。即，使第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136分别以同相位驱动时，物镜103向聚焦方向移动，以反相位驱动时倾斜。

在这里，使作为对于物镜103的倾斜的减法运算部120的输出的第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136的驱动电流的差的关系为Pt。在使物镜103仅倾斜θr时，在减法运算部120的+端子处设定由式(4)表示的Y的值。

Y＝θr×Pt                            (4)

由此，减法运算部122的+端子和-端子的电平为相等。从而，物镜103的倾斜为Ur。下面，说明驱动电流检测部127和128的动作。

图7是表示驱动电流检测部127的构成的方块图。端子250连接减法运算部120的一侧的-端子，端子251连接第1聚焦驱动部125，端子252连接第1聚焦用线圈135，端子253连接微机130。总之，端子250相当于图5所示的驱动电流检测部127的端子d。同样，端子251对应端子b，端子252对应端子a，端子253对应端子c。

开关256、257、258，例如在向各自的端子c输入高电平的信号时，为关闭的构成。反转部259，是反转输入电平而输出的数字电路。

通过第1聚焦驱动部125在第1聚焦用线圈135中流动电流时，在电阻255上也流动相同大小的电流。通过电压下降在电阻255的两端产生电压差。电阻255的端子a连接到开关257的端子a上，电阻255的端子b连接到开关258的端子a上。开关256的端子a连接到减法运算部254的-端子上，开关256的端子b连接到减法运算部254的+端子上。减法运算部254将从+端子的输入电平减法运算-端子的输入电平得的值输出到端子250上。

通常，端子253通过微机130设定为低电平。从而，开关256打开，开关257、258关闭。由此，向减法运算部254的+端子送电阻255的端子a的信号，向减法运算部254的-端子送电阻255的端子b的信号。减法运算部254的输出，表示电阻255的电压下降的电平。即，表示在第1聚焦用线圈135中流动的电流值。

驱动电流检测部128的构成也是与驱动电流检测部127的构成相同。由此，驱动电流检测部128的输出表示在第2聚焦用线圈136中流动的电流值。

从而，通过微机130驱动电流检测部的端子253(或驱动电流检测部127、128的端子c)为低电平时，减法运算部120的输出，表示在第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136中流动的电流值的差。

下面，说明通过微机130驱动电流检测部的端子253(或驱动电流检测部127、128的端子c)设定为高电平时的动作。端子253为高电平时开关256的端子c为高电平，开关256关闭。另外，开关257、258的端子c为低电平开关257、258打开。从而，连接减法运算部254的+端子和-端子。即，减法运算部254的输入差为零。这时，减法运算部254的输出，表示在向第1聚焦用线圈135流动的驱动电流为零时的减法运算部254的输出信号的偏移。

驱动电流检测部128的动作也与驱动电流检测部127同样。由此，驱动电流检测部128的输出表示驱动电流检测部128的输出信号的偏移。

从而，通过微机130驱动电流检测部127、128的端子253(或驱动电流检测部127、128的端子c)为高电平时，减法运算部120的输出，为从驱动电流检测部128的输出信号的偏移减法运算驱动电流检测部127的输出信号的偏移的信号。

表示该驱动电流差信号的检测系统的偏移的信号，被送向微机130。微机130，将该偏移值设定在减法运算部120的-端子上。从而，即使偏移驱动电流检测部127和驱动电流检测部128的输出信号，第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136的驱动电流的差被正确地控制为响应设定于减法运算部122的+端子的电压值的差。

该驱动电流差信号的检测系统的偏移的测定，通过微机130带的计时器如果为以规定的间隔来进行而构成，即使偏移由种种的重要原因作时间上的变化也可以进行对应其的控制。另外，一般地电路的偏移，由电路的温度而变化。因此，监测光盘装置801内的温度，基于其温度，也可以进行驱动电流差信号的检测系统的偏移的测定。具体地，如图5所示，使温度传感器185和A/D变换温度传感器185的输出向微机130输入的A/D变换电路186两者设置在光盘装置801内，以其输出变化到规定值以上的时间调整(总之规定的温度范围变化的时间调整)，测定驱动电流差信号的检测系统的偏移。根据这样的构成，偏移由电路的温度变化即使随时间变化，也可以进行与其对应的控制。

另外，对驱动电流检测部127的偏移，以开关257、258打开而开关256关闭的状态进行，但以停止第1聚焦驱动部125的动作的状态进行也可以。是由于第1聚焦驱动部125的动作停止时在第1聚焦用线圈135中流动的电流为零。在这时驱动电流检测部128和第2聚焦驱动部126也作同样地设定。

下面，说明检测作为盘100的半径方向的倾斜的倾斜角的微机130的动作。如参照图4说明地，光盘100的倾斜θd，将相对于相位补偿部116的输出的变化的物镜103的聚焦方向的变位量的关系定义为Pf，将在半径位置d1和d2的相位补偿部116的输出电平的差定义为Vs，将半径位置d1和d2的距离对应为R的时候，由式(3)表示。

θd＝Pf×Vs/R                      (3)

从而，从式(3)和式(4)，在减法运算部122的+端子设定式(5)的电压Ys时物镜103的倾斜θo，如式(6)所示为θd。

Ys＝Pf×Vs×Pt/R                   (5)

θo＝Ys/Pt

   ＝Pf×Vs×Pt/(R×Pt)

   ＝θd                             (6)

使用图8说明由从相位补偿部116输出的聚焦驱动信号求物镜103的位置的动作。在图8中，波形(a)表示相位补偿部116的输出，波形(b)表示从旋转检测部131输出的旋转一周的信号。由于一般地在光盘100有端面摆动，响应其，物镜103在聚焦方向变位。从而，如波形(a)所示，在盘旋转一周的期间相位补偿部116的输出变动。变动的频率，为光盘100的旋转频率以上，并且，由于与旋转一周信号同步，通过在光盘100旋转一周的时间T平均相位补偿部116的输出能够正确除去盘的端面摆动等的变动成分。即，仅能够正确地检测DC成分。另外，由于在光盘100旋转一周的时间完成测定而能够缩短测定时间。

微机130，基于旋转一周的信号跨过时间T的期间积分作为相位补偿部116的输出的聚焦驱动信号，通过以时间T作除法运算检测作为DC成分的V。

如上述，第1聚焦驱动部125和第2聚焦驱动部126的增幅率由于预先已知能够算出在第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136中流动的电流值。另外，由于相对于驱动电流的变化的物镜103的变位量的关系也预先已知通过测定V可知物镜103的平均高度。

微机130，使光头114向半径方向移动求在2点的物镜103的高度差，基于2点的半径方向的距离求光盘100的倾斜。并且，响应检测的光盘100的倾斜，通过设定减法运算部122的+端子的电平倾斜物镜103。

在实际的装置中，每个执行元件上述的Pf值为离散的。就这时的动作进行说明。在实际的装置中标准的执行元件的Pf被记忆着，由该值进行盘的倾斜的计算。在这里，实际的执行元件的值，与Pf比较定为低的Pfd。另外，将在半径位置d1和d2的物镜103的位置的差定义为Zs，将相位补偿部116的输出的差定义为Vsd。另外，实际的盘的倾斜定义为θr。Vsd使用式(3)的关系由式(7)表示。

Vsd＝Zs/Pfd                       (7)

由此，检测的盘的倾斜θsd从式(3)由式(8)表示。

θsd＝Pf×Vsd/R

    ＝Pf×Zs/(R×Pfd)             (8)

由此，由式(4)和式(8)，式(9)的Ysd被设定在减法运算部122的+端子处。

Ysd＝Pf×Zs×Pt/(R×Pfd)               (9)

在这里，作为相对于物镜103的倾斜的减法运算部120的输出的驱动电流的差的变化量的关系Pt也由于执行元件分散。然而，在执行元件104中，聚焦方向的驱动系统和倾斜的驱动系统通过同一构成元件实现。相对于驱动电流的聚焦方向的变位的灵敏度如果变低，成比例地，倾斜的灵敏度就下降。由于，把作为相对于物镜103的倾斜的变化的减法运算部120的输出的驱动电流的差的变化量的关系定义为Pt，把相对于相位补偿部116的输出的变化的物镜103的聚焦方向的变位量的关系定义为Pf，如果Pf减少，Pt成反比地增大。把作为设想的执行元件对于物镜103的倾斜的变化的减法运算部120的输出的驱动电流的差的变化量的关系定义为Ptd时，Ptd为式(10)。

Ptd＝Pf×Pt/Pfd                    (10)

物镜103的实际的倾斜θod，由式(4)、式(9)和(10)，得到以下的式(11)。

θod＝Ysd/Ptd

    ＝Pf×Zs×Pt/(R×Pfd×Pyd)

    ＝Pf×Zs×Pt×Pfd/(R×Pfd×Pf×Pt)

    ＝Zs/R

    ＝Ur                              (11)

如式(11)所示，每个执行元件即使Pf和Pt不同，光盘100的倾斜也为θr。即，响应光盘100的倾斜，可正确地控制物镜103的倾斜。

这样，根据本实施例，在光盘100的半径方向的不同的2点，取得由聚焦控制的聚焦驱动信号，分别平均跨过光盘100旋转一周的期间取得的信号。被平均的聚焦驱动信号值，光盘的端面摆动的影响被除去。2个被平均的聚焦驱动信号值的差，由于对应于在2点的物镜103的高度的差，基于2点的半径方向的距离，求得光盘100的倾斜。基于求得的倾斜，通过驱动执行元件104，使物镜能够与光盘100的倾斜一致，使光束相对于光盘100能够垂直地照射。由此，能够实现可以正确地进行数据的记录、再现的光盘装置。

另外，不需要检测物镜的倾斜的新的元件。因此，不会产生由于使用新的元件，而成本上升，增加组装时的调整，增加经常性误差的主要原因之类的问题。进而，能够使光头小型化。

特别在本实施例，为了求光盘100的倾斜而使用的聚焦执行元件，作为使物镜倾斜的执行元件而使用。因此，即使聚焦执行元件受到周围的温度带来的影响，作为使物镜倾斜的执行元件由于受到相同影响，而其影响被消掉。另外，在构成聚焦执行元件的第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136之间，即使产生作为聚焦执行元件的驱动灵敏度差，在作为使物镜倾斜的执行元件而驱动时，其驱动灵敏度差被消掉。

另外，由驱动电流检测部127和驱动电流检测部128分别检测在第1聚焦驱动部125和第2聚焦驱动部136流动的驱动电流，由减法运算部120求出作为这些差的驱动电流信号。该驱动电流信号，对应光盘100的倾斜而物镜103倾斜地与微机设定的信号的电平一致，由于控制第1聚焦驱动部125和第2聚焦驱动部136，在第1聚焦驱动部125和第2聚焦驱动部136即使有偏移也能够正确调整物镜的倾斜。

另外，微机130，通过将驱动电流检测部127和驱动电流检测部的端子c设定为高电位，使第1聚焦用线圈135和第1聚焦驱动部125及第2聚焦用线圈136和第2聚焦驱动部136，能够从减法运算部120电断离开。这时，从驱动电流检测部127和驱动电流检测部128向减法运算部120输入的信号，表示在向第1聚焦用线圈135和第2聚焦用线圈136流动的驱动电流为零时的驱动电流检测部127和驱动电流检测部128的输出信号的偏移。

从而，以此时的减法运算部120的输出为基准进行控制，通过微机130将该输出值输入到减法运算部120的负端子，驱动电流检测部127和驱动电流检测部128的偏移被消除。

另外，在本实施例中，在微机130中，求了在光盘100旋转一周的期间的相位补偿部116的聚焦驱动信号的平均值，但求相位补偿部116的输出的平均的期间，即使是光盘100旋转一周的期间的2以上的整数倍，可得到与本实施例相同的效果。

另外，一般地使被称为CLV的线速度为恒定，旋转光盘100，进行数据的记录再现时，比较内周在外周的光盘的旋转数要小。在这里，求相位补偿部116的输出的平均值的测定时间在内周和外周被限制在规定一定时间的时侯，使在内周的测定时间为光盘旋转n周的时间，使在外周的测定时间为光盘旋转m周的时间，m在n以下地(都是零以上的整数)，决定m和n也可以。由这样，在限定的测定时间内可以进行更高精度的检测。

(第2实施例)

图9是表示本发明的光盘装置的第2实施例的方块图。在图9所示的光盘装置802中，与第1实施例同样，在相同的构成要素中赋予相同的参照符号。

在光盘装置802中，物镜103安装在执行元件309的可动部。执行元件309含有聚焦用线圈352、跟踪用线圈351、倾斜用线圈350和4个永久磁石(图中未示)。聚焦用线圈352、跟踪用线圈351、倾斜用线圈350分别对应聚焦方向移动装置、跟踪方向移动装置、物镜倾斜装置。

对聚焦用线圈352使用聚焦驱动部302施加电压时在线圈里流动电流，产生磁通。通过聚焦用线圈352产生的磁通作用于永久磁石的磁通，物镜103向聚焦方向移动。同样，对跟踪用线圈351使用跟踪驱动部306施加电压时在线圈里流动电流，产生磁通。通过跟踪用线圈351产生的磁通作用于永久磁石的磁通，物镜103横切光盘100的半径方向、即光盘100上的磁道地(在图中向左右)移动。另外，对倾斜用线圈350使用倾斜驱动部308施加电压时，物镜103向光盘100的半径方向(在图中左右方向)倾斜，总之，聚焦驱动部302、跟踪驱动部306、倾斜驱动部308分别具有驱动装置的功能。

作为FE信号生成部115的输出的FE信号，通过相位补偿部116、减法运算部301、开关380送向聚焦驱动部302。聚焦驱动部302，使响应输入信号的电流通过作为驱动电平检测装置的驱动电流检测部310流向聚焦用线圈352。驱动电流检测部310，检测在聚焦用线圈352上流动的电流。这时，开关380的端子a和端子d处于连接的状态。通过这样的构成，物镜103，控制光束106的焦点经常位于光盘100的数据面上。总之，相位补偿部116和聚焦驱动部302具有作为聚焦控制装置的功能。另外，相位补偿部116具有作为聚焦控制要素装置的功能。

微机313，使开关380的端子b和端子d连接时间Ts的期间，取入在该状态的驱动电流检测部310的输出。开关380的端子b，由于设定在零电平，在聚焦驱动部302输入零电平的信号。从而，在该状态的驱动电流检测部310的输出，表示聚焦驱动部302的输出的偏移。另外，驱动电流检测部310的输出的偏移为零。在下面，将该信号记为偏移信号。微机313，将取入的偏移信号送入减法运算部301的-端子。由此，能够消除聚焦驱动部302的的偏移影响，响应相位补偿部116的输出的电流正确地在聚焦用线圈352上流动。即，由于为外干扰的偏移被消除，聚焦控制的控制精度变高。

上述的驱动电流检测部310和聚焦驱动部302的偏移的测定，在聚焦控制的动作停止的状态进行。将时间Ts例如定为10μs以下，也可以在使聚焦控制动作的状态进行。

微机313，与第1实施例相同，从在光盘100不同的半径方向的2点的相位补偿部116的输出的差和其2点的间隔检测光盘100的半径方向的倾斜。微机313，通过使响应检测的盘的倾斜的电流在倾斜用线圈350中流动，使物镜103倾斜。为此微机313将必要的电流值设定在减法运算部307的+端子。开关382，作为驱动电平检测装置的驱动电流检测部314和倾斜驱动部308的构成和动作，是与开关380、驱动电流检测部310和聚焦驱动部302相同。从而，能够消除倾斜驱动部308的偏移的影响，微机313响应设定在减法运算部307的+端子的电平的电流正确地在倾斜用线圈351中流动。即，物镜103的倾斜的调整精度变高。

图9所示的光学系统一般地构成被称作推挽法的跟踪误差信号的检测方式。以下，将跟踪误差信号记为TE信号。作为跟踪误差检测装置的TE信号生成部303，通过推挽法检测输出光束106和光盘100的磁道的偏离。TE信号通过相位补偿部304和减法运算部305和开关381被送到跟踪驱动部306。通过跟踪驱动部306在跟踪用线圈351流动电流。从而，光束106的焦点，被控制在光盘100的磁道上。相位补偿部304具有作为控制要素装置的功能，相位补偿部304和跟踪驱动部306构成跟踪控制装置。

微机313，将作为跟踪驱动部306和驱动电平检测装置的驱动电流检测部311的偏移设定在减法运算部305的-端子处。另外，开关381、驱动电流检测部311、和跟踪驱动部306的构成和动作，是与开关380、驱动电流检测部310和聚焦驱动部302相同。从而，能够消除跟踪驱动部306的偏移的影响，响应相位补偿部304的输出的电流正确地在跟踪用线圈351中流动。即，跟踪控制的控制精度变高。

以下，就执行元件309进行详细说明。图10是在本实施例的光盘装置中，说明执行元件309的构成的图，具体地是对执行元件309从上面看的图。固定物镜103的透镜支架401，通过导线404连接到光头400的固定部(没图示)。另外，永久磁石402、403安装在透镜支架401上。执行元件309具有4个聚焦用线圈405a、405b、405c、405d、4个跟踪用线圈406a、406b、406c、406d、4个倾斜用线圈407a、407b、407c、407d。各线圈，被绕在铁心上，安装在光头400的固定部。另外，通过铁心和与各个铁心相对的永久磁石形成磁通的环。

聚焦用线圈405a、405b、405c、405d，串联连接，构成聚焦用线圈352。在聚焦用线圈352上使用聚焦驱动部302施加电压时在线圈中流动电流，产生磁通。通过聚焦用线圈352产生的磁通作用于永久磁石的磁通，物镜103向光盘100的聚焦方向移动。

同样，跟踪用线圈406a、406b、406c、406d，串联连接，构成跟踪用线圈351。在跟踪用线圈351上使用跟踪驱动部306施加电压时在线圈中流动电流，产生磁通。通过跟踪用线圈351产生的磁通作用于永久磁石的磁通，物镜103横切光盘100的半径方向、即光盘100上的磁道地移动。

倾斜用线圈407a、407b、407c、407d，串联连接，构成倾斜用线圈350。在倾斜用线圈350上使用倾斜驱动部308施加电压时通过线圈407a、407b产生的磁通和通过线圈407c、407d产生的磁通的方向相反地连接线圈。从而，物镜103向盘100的半径方向倾斜。

上述的聚焦驱动部302、跟踪驱动部306、倾斜驱动部308、和驱动电流检测部310、311、314的偏移的测定，通过微机313带的计时器以规定的间隔进行。另外，一般地，电路的偏移，由于由电路的温度变化如在第1实施例中说明地那样，设置温度传感器，其输出变化到规定值以上时，进行电路偏移的测定的动作也可以。

这样，根据本实施例，通过开关380，在规定的期间，通过将聚焦驱动部302的输入设定为零，驱动电流检测部310输出驱动电流检测部310的偏移信号。以该偏移信号作为基准值，使从相位补偿部116向聚焦驱动部302输入的信号的直流电平在减法运算部301补充，总之，消除偏移。因此，在聚焦驱动部302即使产生偏移也能够提高聚焦控制的精度。另外，在跟踪控制和倾斜控制也同样地消除在各个驱动部的偏移，能够提高各个的控制精度。

(第3实施例)

图11是表示本发明的光盘装置的第3实施例的方块图。在图11所示的光盘装置803中，在与第2实施例相同构成要素中赋予相同参照符号。

在光盘装置803中，作为FE信号生成部115的输出的FE信号，通过相位补偿部116和减法运算部500被向聚焦驱动部302送出。聚焦驱动部302，将响应输入信号的电流通过驱动电流检测部310流向聚焦用线圈352。驱动电流检测部310，检测在聚焦用线圈352中流动的电流。驱动电流检测部310的输出，向微机506和减法运算部500的一方的-端子(图中表示“-1”的端子)。这时开关501的端子a和端子d是连接的状态。另外，通过微机506在减法运算部500的另一方的-端子(图中表示“-2”的端子)设定为零电平。

在聚焦驱动部302，输入相位补偿部116的输出和驱动电流检测部310的输出的差。从而，减法运算部500的输出为规定的关系(在本实施例中是零)地控制聚焦用线圈352。即，响应相位补偿部116的输出的电流在聚焦用线圈352中流动。由此，物镜103，控制光束的焦点总是位于光盘100的数据面上。

下面就微机506设在减法运算部500的-端子(图中表示“-2”的端子)进行说明。微机506使开关501的端子a和端子d在时间Tp期间打开，取入在该状态的驱动电流检测部310的输出。在该状态的驱动电流检测部310的输出，表示驱动电流检测部310的输出的偏移。微机506将取入的驱动电流检测部310的输出的偏移电平送到减法运算部500的-端子。从而，能够消除驱动电流检测部310的偏移的影响，响应相位补偿部116的输出的电流在聚焦用线圈352中正确地流动。即，由于消除作为外部干扰的偏移使聚焦控制的控制精度提高。

另外，上述的驱动电流检测部310的偏移的测定，在聚焦控制的动作停止的状态进行。使时间Tp例如如果为数10μs以下，也可以在使聚焦控制动作的状态进行。

微机506，与第2实施例相同，从在光盘100不同的半径方向的2点的相位补偿部116的输出的差和其2点的间隔检测光盘100的半径方向的倾斜。通过使响应检测的盘的倾斜的电流在倾斜用线圈350中流动，使物镜103倾斜。电流值设定在减法运算部504的+端子。减法运算部504、开关505、驱动电流检测部314、和倾斜驱动部308的构成和动作，是与减法运算部500、开关501、驱动电流检测部310、和聚焦驱动部302相同。从而，能够消除驱动电流检测部314的偏移的影响，由此，微机506响应设定在减法运算部504的+端子的电平的电流正确地在倾斜用线圈351中流动。即，物镜103的倾斜的调整精度变高。

TE信号，通过相位补偿部和减法运算部502被送到跟踪驱动部306。跟踪驱动部306，使响应输入信号的电流通过驱动电流检测部311流到跟踪用线圈351。从而，光束106的焦点，被控制处于盘100的磁道上。

微机506，使驱动电流检测部311的偏移设定在减法运算部502的-端子(图中表示“-2”的端子)上。减法运算部502、开关503、驱动电流检测部306、和电驱动电流检测部311的构成及动作，是与减法运算部500、开关501、聚焦驱动部302和驱动电流检测部310相同。从而，能够消除跟踪驱动部306的偏移的影响，响应相位补偿部304的输出的电流正确地在跟踪用线圈351中流动。即，跟踪控制的控制精度变高。

根据这样的本实施例，通过使开关501在规定的期间打开，停止聚焦驱动部302的动作。这期间，驱动电流检测部310输出的信号表示偏移。从而，以该偏移为基准，通过使相位补偿部116的输出由减法运算部500补充，从相位补偿部116的输出驱动电流检测部310的偏移被消除。其结果，能够提高聚焦控制的精度。另外，在跟踪控制和倾斜控制中，各个驱动电流检测部的偏移同样地被消除，能够提高各个控制精度。

(第4实施例)

图12是表示本发明的光盘装置的第4实施例的方块图。在图12所示的光盘装置804中，在与第2实施例相同的构成要素中赋予相同的参照符号。

在光盘装置804中，作为FE信号生成部115的输出的FE信号，通过相位补偿部116和减法运算部500被向聚焦驱动部302送出。聚焦驱动部302，将响应输入信号的电流通过驱动电流检测部600流向在聚焦用线圈352。作为驱动电流检测装置的驱动电流检测部600，检测在聚焦用线圈352中流动的电流。与在第1实施例使用的驱动电流检测部127的构成和动作是相同的。驱动电流检测部600的输出，向微机603和减法运算部500的一方的-端子(图中表示“-1”的端子)送出。通过微机603在减法运算部500的另一方的-端子(图中表示“-2”的端子)设定为零电平。

在聚焦驱动部302，输入相位补偿部116的输出和驱动电流检测部600的输出的差。从而，减法运算部500的输出为零地控制聚焦用线圈352的电流。即，响应相位补偿部116的输出的电流在聚焦用线圈352中流动。由此，物镜103，使光束106的焦点总是位于光盘100的数据面上。

下面就微机603设定在减法运算部500的-端子的信号进行说明。微机603使驱动电流检测部600的端子c在时间Tq期间为高电位。微机603取入在该状态的驱动电流检测部600的端子d的输出。在该状态的驱动电流检测部600的输出，如在第1实施例说明的那样，表示驱动电流检测部600的输出信号的偏移。

微机603将取入的驱动电流检测部600的输出的偏移电平送到减法运算部500的-端子。从而，能够消除驱动电流检测部600的偏移的影响，响应相位补偿部116的输出的电流在聚焦用线圈352中正确地流动。即，由于作为外部干扰的偏移被消除，使聚焦控制的控制精度提高。

上述的驱动电流检测部600的偏移的测定，在聚焦控制的动作停止的状态进行。另外，使时间Tq如果定为数10μs以下，也可以在使聚焦控制动作的状态进行。

与第2实施例相同，微机603，从在光盘100不同的半径方向的2点的相位补偿部116的输出的差和其2点的间隔检测光盘100的半径方向的倾斜。

微机603，通过使响应检测的盘的倾斜的电流在倾斜用线圈350中流动，使物镜103倾斜。电流值设定在减法运算部504的+端子。减法运算部504、作为驱动电平检测装置的驱动电流检测部602、和倾斜驱动部308的构成和动作，是与减法运算部500、驱动电流检测部600、和聚焦驱动部302相同。从而，能够消除驱动电流检测部602的偏移的影响，微机603响应设定在减法运算部504的+端子的电平的电流正确地在倾斜用线圈351中流动。即，物镜103的倾斜的调整精度变高。

TE信号，通过相位补偿部304和减法运算部502被送到跟踪驱动部306。通过跟踪驱动部306，电流在跟踪用线圈351流动。从而，光束106的焦点，被控制处于盘100的磁道上。

减法运算部502、跟踪驱动部306、和作为驱动电平检测装置的驱动电流检测部601的构成及动作，是与减法运算部500、聚焦驱动部302、和驱动电流检测部600相同。从而，能够消除驱动电流检测部601的偏移的影响，响应相位补偿部304的输出的电流正确地在跟踪用线圈351中流动。即，跟踪控制的控制精度变高。

这样，根据本实施例，微机603，通过使驱动电流检测部600的端子c设定在高电平，使聚焦驱动部302及第2聚焦用线圈352能够从减法运算部500电断离开。这时，从驱动电流检测部600向减法运算部500输入的信号，表示在向聚焦用线圈352流动的驱动电流为零时的驱动电流检测部600的输出信号的偏移。

从而，以这时的减法运算部500为基准进行控制地通过微机603使该输出值输入到减法运算部500的负端子，驱动电流检测部600的偏移被取消，能够提高聚焦控制的精度。另外，在跟踪控制和倾斜控制中，各个驱动电流检测部的偏移同样地被消除，能够提高各个控制精度。

(第5实施例)

图13是表示本发明的光盘装置的第5实施例的方块图。在图13所示的光盘装置805中，光盘2，被安装在对应于旋转装置的电动机27上，以规定的旋转数旋转。电动机27的旋转数由微机21设定，例如使电动机27的线速度为一定地通过对应于旋转控制装置的盘电动机控制部25控制。旋转检测部26，电动机27每作1周旋转就输出1周旋转信号。

聚焦执行元件15a、15b，夹住物镜4安装在光盘2的半径方向。聚焦执行元件15a、15b分别如图6所示，含有设在规定物镜4的透镜支架上的聚焦用永久磁石和聚焦用线圈。

向第1聚焦驱动部16a和第2聚焦驱动部16b输入同一的聚焦驱动信号时，第1聚焦驱动部16a和第2聚焦驱动部16b移动向聚焦方向地驱动物镜4。聚焦执行元件15a、15b，对应于第1聚焦方向移动装置和第2聚焦方向移动装置，这些一起构成聚焦方向移动装置。

另外，向第1聚焦驱动部16a和第2聚焦驱动部16b输入相位和信号电平不同的聚焦驱动信号时，由于驱动第1聚焦驱动部16a和第2聚焦驱动部16b的电流的方向和大小不同，物镜4的内侧和外侧的聚焦方向的变位量不同。由此能够使物镜4向光盘2半径方向(或径向方向)倾斜。总之，聚焦执行元件15a、15b，构成倾斜作为聚束装置的物镜的倾斜装置。

如在以往的技术中所述的那样，光盘2相当于光束的光轴向半径方向倾斜时，在半径方向产生彗形像差。相反，相对于光束的光轴即使物镜4的光轴向光盘2的半径方向倾斜，由于在半径方向产生彗形像差，向第1聚焦驱动部16a和第2聚焦驱动部16b输入相位不同的聚焦驱动信号，通过使物镜4向半径方向倾斜，能够抵消光盘2由向半径方向倾斜而产生的彗形像差。这样通过倾斜物镜4降低彗形像差，能够实现良好的记录和再现。

移送电动机18，安装在光头送轴17上，通过驱动该移送电动机18旋转光头送轴17，具有使光头12向光盘2的半径方向移动的跟踪方向移动装置的功能。在移送电动机18，安装与移送电动机18的旋转同步生成脉冲信号的编码器19，输出与旋转同步的脉冲信号。从编码器19的输出输入到微机21，通过计数脉冲能够检测电动机的旋转角。由于移送电动机18的旋转角对应于光头12的移动量，通过编码器19的输出能够检测光头12的半径位置(具体地讲被光束照射的光盘2的半径位置)。

从相位补偿部8出来的聚焦驱动信号，向作为求倾斜量的倾斜计算装置的微机21和减法运算部23的一方的+端子和加法运算部24的+端子输入。微机21具有以输入的聚焦驱动信号和半径位置作为数值数据而记忆的聚焦记忆器22，判别是否现在的半径位置是检测聚焦驱动信号而设定的规定的半径位置，如果是设定的规定的半径位置，以半径位置和聚焦驱动信号的直流成分的关系作为数值数据随时记忆在聚焦记忆器22上。通过微机21，检测聚焦驱动信号的直流成分，使用检测值决定盘的翘曲形状近似的翘曲函数，求得从翘曲函数得到的倾斜近似函数的顺序和更新翘曲函数及倾斜近似函数的顺序在下面详细说明。

微机21，通过求得的倾斜近似函数算出在半径位置的倾斜近似值，从倾斜近似值生成输出倾斜驱动信号。倾斜驱动信号，被输入到减法运算部23的-端子和加法运算部24的+端子。减法运算部23从输入到+端子的信号减法运算输入到-端子的信号，向第2聚焦驱动部16b输出。加法运算部24将加法运算输入到2个+端子的信号的值输出向第1聚焦驱动部16a。

由以上实现了，在光盘信号面上光束总是被控制为规定的聚束状态的聚焦控制，和降低由倾斜带来的彗形像差地控制物镜的倾斜的倾斜控制。这样相位补偿部8、第1聚焦驱动部16a和第2聚焦驱动部16b具有作为聚焦控制装置的功能，微机21、减法运算部23、加法运算部24、第1聚焦驱动部16a和第2聚焦驱动部16b具有作为倾斜控制的功能。

如在第1实施例中说明的那样，将从相位补偿部8输出的聚焦驱动信号的直流成分由于倾斜控制。图8(a)表示从相位补偿部8输出的聚焦驱动信号的波形，图8(b)表示从旋转检测部26输出的1周旋转信号的波形。在各自的图中，纵轴和横轴，表示信号输出和时间。如图8(a)所示，由于在旋转的盘上产生端面摆动，聚焦控制动作中跟随端面摆动，物镜4在聚焦方向变位。因此，在盘旋转1周之间聚焦驱动信号与端面摆动同步地变动。作为端面摆动以外的聚焦驱动信号的变动要因，也可以考虑在旋转盘的表面产生伤痕及槽。但是，由这些的影响带来的聚焦驱动信号的变动是旋转频率以上。从而，通过在盘的1周的旋转周期T平均聚焦驱动信号，能够除去或平均变动成分，仅能够检测在倾斜计算中必要的聚焦驱动信号的直流成分。另外，通过在倾斜检测中使用检测结果，能够检测正确的光盘2的半径方向的倾斜。将平均化的聚焦驱动信号称为聚焦驱动信号值。

下面，详细地说明从聚焦驱动信号值求倾斜的方法和构成。代表CD、DVD的一般的光盘2的翘曲形状，不是在图4表示的单纯的直线形状，如图14所示，例如，与内周附近比较在外周附近的翘曲大，在最外周附近翘曲变小。这样，翘曲在半径方向当然不是相同地产生。另外，翘曲的形状，因每个光盘2而异。在本实施例中，将在盘产生的翘曲形状由从聚焦驱动信号值求得的函数来近似。因此，为了提高物镜4的倾斜补充的精度，更加期望决定光盘2的翘曲形状的函数的近似精度高。

如图14所示，在将盘的翘曲形状以1次函数近似时，翘曲形状和1次函数的直线为一致的区域是很少的。对此，例如，在将盘的翘曲形状以3次函数近似时，翘曲形状和3次函数的直线大体一致。这样，最好以次数高的函数来近似翘曲形状。

图15，是表示将以实线所示的盘的翘曲形状由1次函数近似的例。如图15所示，近似点的间隔以相对地宽的3点近似盘的翘曲形状的时候，得到由直线L1表示的近似函数，近似点的间隔以相对地窄的5点近似盘的翘曲形状的时候，得到由直线L2表示的近似函数。由图15，可知近似点的间隔窄其近似精度则高。

由以上可知，通过使近似函数的次数变高、使在近似运算用的点数变多，如果使近似点的间隔变窄，能够提高近似精度。

但是，使近似点变多时，为推定盘的翘曲形状所必要的时间就变长。另外，如果近似函数的次数变高，由于为决定近似函数必要的近似点的数也变多，同样，为推定盘的翘曲形状所必要的时间就变长。其结果，产生光盘装置的启动时间就变长的问题。

在本实施例中，为了同时解决这些问题，对于光盘分为在进行记录和再现以前实行的初始检测和在进行记录和再现中进行的补充检测的2个阶段，进行盘的翘曲形状(翘曲)的检测。例如，在初始检测中，仅检测在内周的写入的读取及控制信息的追记等使用的区域的翘曲形状。由此，减少检测点数缩短启动时的检测时间。其后，在记录和再现中的补充检测中，为了跨全周提高近似精度进行追加的检测。由此缩短启动时的检测时间，并且高精度地近似盘翘曲形状成为可能。

另外，初始检测，是在将光盘装填到光盘装置805上后，对于光盘一直执行到记录动作或再现动作其中之一开始之前。一般地，初始检测，基于光盘的装填动作进行，不论操作者是否进行了记录或再现操作，光盘装填到光盘装置805上后都自动地执行。但是，基于操作者的记录或再现操作，对于光盘在进行记录或再现操作之前操作也可以。作了初始检测的光盘在光盘装置805放置时，在下一次进行记录或再现时省略初始检测也可以。

另外，补充检测，使光盘在记录或再现中进行。该所谓“记录或再现中”不一定意味着连续地进行记录或再现动作当中，而意味着对于光盘从开始记录或再现动作时典型地到光盘的旋转停止的光盘装置805一连串的记录或再现动作期间。从而，例如，补充检测光头进行查找动作时，及在处于暂时停止状态时执行也可以。

以下，就微机21从其检测的聚焦驱动信号求倾斜近似函数的具体的方法和其构成详细进行说明。在微机21，通过记忆在聚焦存储器22内的数据，对于与作为在检测点的半径位置x和其位置的聚焦控制部8的输出的聚焦驱动信号值y的关系，近似于规定的翘曲函数y＝f(x)。使翘曲函数为2次时，f(x)由下式(12)表示。

f(x)＝ax²+bx+c                    (12)

为系数a、b、和c的决定，能够使用各种近似方法。例如，应用最小二乘法决定系数a、b、c也可以。在某半径位置xi聚焦驱动信号值为yi时，与在xi的翘曲函数f(x)的值和实际的值yi的偏离vi用下式(13)表示。

vi＝f(xi)-yi＝axi²+bxi+c-yi       (13)

有关检测点全部的vi的二次方的总和为最小地决定a、b、c的值时，由式(12)表示的曲线通过检测点的大体平均的位置。这样，能够算出近似检测点的半径位置和在其位置的聚焦驱动信号值y的关系的规定的翘曲函数y＝f(x)。

从倾斜对应于翘曲的倾斜，通过微分翘曲函数能够求倾斜近似函数z＝g(x)。倾斜近似函数z＝g(x)使用a、b、c时由下式(14)表示。

z＝g(x)＝df(x)/dx＝2ax+b           (14)

从而，在微机21，使用从聚焦存储器22出来的数据输出用式(13)表示的vi的二次方的总和为最小地决定a、b、c的值，求倾斜近似函数z＝g(x)，利用斜近似函数对在现在的半径位置的倾斜，计算出倾斜近似值。其后，以倾斜近似值为基础生成、输出倾斜驱动信号。

下面说明初始检测和启动后的补充检测的顺序。为了初始检测和补充检测，为了作在微机21所用的近似函数的次方和近似计算，预先设定检测必要的聚焦驱动信号的半径位置(检测点)。另外，分别设定初始检测的检测点和补充检测的检测点。

图16是表示在盘的半径方向的聚焦驱动信号值的检测点的位置的一例。如图16所示，在初始检测中，在光盘的最内周上的点A、最外周上的点C、和位于上述2点的中间的点B取得聚焦驱动信号值。另外在补充检测中，加上初始检测的点A、B、C，在位于这些的点的中间的点D、E取得聚焦驱动信号值。有关设定的检测点的位置信息的数据，被存放在微机21的ROM(没图示)或者连接微机21的EEPROM28中。

在本实施例中，为了容易说明，使翘曲函数的次数为2，进而使在初始检测和补充检测中使用的检测点的间隔如前所述作为等间隔进行说明，但本发明不限于该近似函数的次方或函数的种类。另外考虑盘的一般的翘曲形状的特性，在作为复杂的翘曲形状的内周及外周使检测点的间隔变窄，在单纯的翘曲形状的中周变宽也可以。由这样的作法，相对于检测点的多数量能够高效率地提高近似值，对于各种各样的翘曲、下垂形状的盘能够给予对应。作为在这里的内周、中周和外周，指对光盘的半径方向大致3等分时的内侧区域、中央区域和外侧区域。

另外，在初始检测中，首先，为了把握光盘全体的翘曲形状，以规定的间隔检测半径方向的聚焦驱动信号值也可以。并且，基于检测结果，决定盘的翘曲形状，按其翘曲形状设定最佳的检测点也可以。例如，作为盘的翘曲形状，预先设定比中周部在内周部及外周部翘曲更大的第1形状，和以大致相等的曲率在整体盘翘曲的第2形状。在判断为第1形状时，与中周部比较内周部及外周部密度大地多个设定聚焦驱动信号值的检测点。另外，在判断为第2形状时，在中周部、内周部及外周部呈大致等间隔地多个设定聚焦驱动信号值的检测点。下面，在设定的检测点，进行初始检测和补充检测。由这样的作法，相对于检测点的多数量能够高效率地提高近似值，对于各种各样的翘曲、下垂形状的盘能够给予对应。

以下，首先说明在装置启动时的初始检测的微机21的处理。图17是说明初始检测的动作的流程图。在聚焦控制动作的状态，通过微机21控制移送电动机18，使光头12向半径方向的检测点A移动(S1)。光头12到达检测点A，经过纠正物镜4的摆动的整理时间后，通过微机21在盘的1个旋转周期平均聚焦驱动信号，进行聚焦驱动信号的直流成分的检测(S2)。将其检测结果和半径位置之间的关系作为数值数据记忆在聚焦存储器22中(S3)。

下面将光头12移向检测点B(S4)，检测聚焦驱动信号的直流成分(S5)。将检测结果和半径位置的关系记忆在存储器22中(S6)。进而将光头12移向检测点C(S7)，进行聚焦驱动信号的直流成分的检测(S8)。将检测结果和半径位置的关系作为初始检测数据记忆在存储器22中(S9)。在所有的检测点ABC的检测如果完成，结束初始检测的处理。通过以上的顺序微机21使用初始检测数据，计算2次翘曲函数(式(12))。并且，求倾斜近似函数(式(13))。

装置动作中，使用得到的倾斜近似函数，对应光头12的位置，逐次求倾斜近似值。并且，从倾斜近似值生成倾斜驱动信号，向减法运算部23和加法运算部24输出。第1聚焦驱动部和第2聚焦驱动部将基于倾斜驱动信号的驱动电流向执行元件15a和15b输出。由此，物镜4响应光盘2的倾斜而倾斜，降低或消除彗形像差。

另外如前所述，在初始检测中在规定的半径位置移动光头12进行检测。这时，电动机的旋转控制为线速度一定(CLV)方式时，每隔规定的半径位置改变电动机的旋转数。因此，聚焦驱动信号的检测，有必要在电动机的旋转数直到稳定在规定值之前经过必要的整理时间后进行，从而增加检测时间。在这时，以角加速度一定(CAV)方式进行控制，如果保持相同的旋转数而执行上述的初始检测，避开检测时间的增加，可以缩短装置的启动时间。另外，在启动时光头多位于内周侧。因此，以在启动时设定的内周的旋转数进行角加速度的控制，在保持住其旋转数的状态，如果执行上述初始检测，在光盘装置的系统能够提高必要的内周的控制数据的再现及INDEX及DMA等的信息的记录的可靠性。另外，通过在以下说明的补充检测的处理由于跨盘全周确保倾斜精度，能够提高装置整体的系统平衡。

下面就补充检测进行说明。补充检测是在装置动作中进行的检测。图18是表示补充检测的动作的流程图。装置动作中，在聚焦控制动作的状态，微机21判断是否以从编码器19发出的信号为基础现时光头12的半径位置是在规定的检测点A～E表示的半径位置(S1)。现时的半径位置如果是检测点A～E其中之一的半径位置，进行聚焦驱动信号的直流成分检测(S2)。进而，在与现时的检测点同一半径位置在其前进行检测，判断是否其数值数据被记忆在聚焦存储器22中(S3)。其结果，在同一半径位置如果其前被进行检测放弃该数据(S4)，将现时的检测结果和半径位置的关系作为数值数据记忆在聚焦存储器22中，进行数据的更新(S5)。

另外，在同一半径位置如果其前没被进行检测，不执行S4，将现时的检测结果和半径位置的关系作为数值数据记忆在聚焦存储器22中(S5)。以上的处理，每次光头12向规定的检测点A～E表示的半径位置移动都被执行，微机21，通过补充检测使用被记忆的数值数据和初始检测数据，再计算、更新2次翘曲函数和倾斜近似函数(S6)。进而微机21使用被更新的倾斜近似函数，总是生成、输出在现时的半径位置的倾斜驱动信号(S7)。通过输出的倾斜驱动信号物镜4响应盘而作最佳倾斜，能够实现良好的再现和记录。

以上这样，每当进行补充检测，翘曲函数和倾斜近似函数就被更新，基于更新的函数进行倾斜控制。从而，初始检测后，最初直到执行补充检测，通过由初始检测决定的倾斜近似函数计算倾斜驱动值，进行倾斜控制。其后每次执行补充检测都更新倾斜近似函数，基于更新的倾斜近似函数计算倾斜驱动值，由新的计算值进行倾斜控制。被更新的倾斜近似函数的近似精度，由于在近似计算使用的近似点的个数增加，与其以前的倾斜近似函数比较为相同或比其精度更高。

上述的初始检测和补充检测的顺序，通过微机21，由依次控制光盘装置805的各构成要素来进行。使其顺序在微机21中执行的程序，被保存在EFPROM28及图中未示的ROM、RAM、硬盘、磁记录介质等的计算机可读取的记录介质中。

另外在本实施例中，在同一半径位置进行聚焦驱动信号的检测时，求前面记忆的结果和现时的检测结果的平均值，使记忆在聚焦存储器22中也可以。根据这样作法，在盘的1个旋转周期平均能够降低从聚焦驱动信号不能够消除的检测误差等的影响。

另外，使用检测的聚焦驱动信号值，比较更新了的翘曲函数的相关系数和更新以前的相关系数，在后者的值比前者小时，更新了的翘曲函数的近似精度判断为已恶化也可以。在这时，检测的聚焦驱动信号值作为异常数据处理，不使记忆在聚焦存储器22中。由此，由于能够降低或除去由于聚焦偏离及由振动冲击带来的不正确的检测结果给予计算的影响，可以期待提高对于聚焦驱动信号的检测值的可靠性。或者，比较更新了的翘曲函数的相关系数和更新以前的相关系数，在后者的值比前者小时，相关系数为更新以前的相关系数之上，变更翘曲函数的次数求变更的次数的翘曲函数的系数。并且，在以后的倾斜控制中使用更新的次数的翘曲函数也可以。由此，翘曲函数的近似精度变高，能够更加正确地进行倾斜控制。

如以上说明，根据本实施例，通过使倾斜检测分为初始检测、补充检测2阶段，在启动时的检测时间的缩短和提高近似精度同时成立是可能的。

另外，由于在启动后作为补充检测随时检测盘的翘曲形状，由光盘2的温度特性等，在初始检测后，即使经常地光盘2的翘曲形状变化时，也能够适当地检测、补充光盘2的倾斜。

在本实施例中，使用1个函数近似光盘2的翘曲形状。但是，将光盘2在半径方向分隔为多个区域，每分隔的区域都用不同的函数近似也可以。另外，将光盘2的翘曲形状用折线近似也可以。以下，作为本实施例的变形例，说明以将光盘2的翘曲形状由折线构成的翘曲函数近似的光盘装置。

由变形例的光盘装置，具有由图13的方块图所示的构造。图19表示光盘2的翘曲形状。在由变形例的光盘装置中，如图19所示，在检测点A～G，检测聚焦驱动信号值。检测点A～G，与中周部比较，在内周部和外周部，检测点的密度变大，以不均等的间隔隔开配置。如上所示，在光盘2产生的翘曲，一般地，由于在内周侧和外周侧变大，在内周侧和外周侧的区域，通过使检测点的密度变大，以少的检测点能够近似精度高的光盘2全体的翘曲形状。在CD及DVD等的5英寸光盘的情形，例如，从盘的中心，在23mm、26mm、31mm、45mm、50mm、55mm、58mm的位置配置检测点A～G。这些检测点的位置信息预先被记忆在光盘装置内。另外，为了容易看，图19，检测点间的相对的距离对于这些值没被正确地表示。

在启动时的初始检测中，如图18所示，在聚焦控制动作的状态，通过微机21控制移送电动机18，使光头12向半径方向的检测点A移动(S1)。光头12到达检测点A，经过纠正物镜4的摆动的整理时间后，通过微机21在盘的1个旋转周期平均聚焦驱动信号，进行聚焦驱动信号的直流成分的检测(S2)。将其检测结果和半径位置之间的关系作为数值数据记忆在聚焦存储器22中(S3)。

下面将光头12移向检测点B(S4)，检测聚焦驱动信号的直流成分(S5)。将检测结果和半径位置的关系记忆在存储器22中(S6)。进而将光头12移向检测点C(S7)，进行聚焦驱动信号的直流成分的检测(S8)。将检测结果和半径位置的关系作为初始检测数据记忆在存储器22中(S9)。在图18中没有图示，但通过同样的顺序，使光头12移动向检测点D、E、F、G，在各自的检测点，进行聚焦驱动信号的直流成分的检测。如果在全部的检测点A～G的检测完成，结束初始检测的处理。

下面，微机21，将在从于各检测点的聚焦驱动信号值和半径位置的数据邻接的检测点的聚焦驱动信号值用直线连接，求由图20所示的折线构成的翘曲函数。并且通过微分求得的翘曲函数，求倾斜近似函数。

装置动作中，使用得到的倾斜近似函数，对应光头12的位置，逐次求倾斜近似值。并且，从倾斜近似值生成倾斜驱动信号，向减法运算部23和加法运算部24输出。第1聚焦驱动部和第2聚焦驱动部将基于倾斜驱动信号的驱动电流向执行元件15a和15b输出。由此，物镜4响应光盘2的倾斜而倾斜，降低或消除彗形像差。

图21，使用倾斜近似函数，表示在检测点A～G的各中点(从盘的中心，24.5mm、28.5mm、38mm、47.5mm、52.5mm、56.5mm的位置)的倾斜(翘曲函数的倾斜)。如图21所示，在从盘的中心离开38mm外周侧倾斜的值为负，正确地表示图19所示的光盘2的翘曲形状。

下面，说明启动后的补充检测的顺序。作为翘曲函数在使用折线时，在补充检测中，即使更新在1个检测点的聚焦驱动信号值，使由折线构成的翘曲函数整体也不能由更新了的聚焦驱动信号值更新。因此，在变形例中，在补充检测时为了更新翘曲函数使用别的函数。

光盘启动后，光盘2的翘曲形状变化大的要因之一，是周围的环境的温度的变化。根据试验结果，以光盘2的半径方向的位置为r，在时间Δt后，在位置r的翘曲形状的变化Δy，能够由下式(15)近似。

Δy＝a×(r-RO)                       (15)

在这里，a是比例常数，RO是翘曲形状不变化的半径位置。例如，RO是接线板的外周位置。翘曲形状，由于能够由聚焦驱动信号值表现，在Δt后，在位置r的聚焦驱动信号值的变化Δf，以A为比例常数，能够由下式(16)表示。

Δf＝A×(r-RO)                       (16)

从而，如果知道在检测点A～G其中之一的初始检测时的聚焦驱动信号值和补充检测的聚焦驱动信号值，由于Δf为已知，通过将Δf和检测点的半径方向的位置r代入式(16)中，能够求得比例常数A。

下面，使用求得的比例常数A，从式(16)算出在其他检测点A～G的聚焦驱动信号值Δf，从初始检测时的聚焦驱动信号值进而计算在补充检测时的其他检测点A～G的聚焦驱动信号值。使用在测定的检测点的聚焦驱动信号值和算出的其他检测点A～G的聚焦驱动信号值更新翘曲函数，进而更新倾斜近似函数。并且，从更新的倾斜近似函数对应光头12的位置求倾斜近似值，进而生成倾斜驱动信号。

对这样的顺序参照图22进行整理。装置动作中，在聚焦控制动作的状态，微机21判断是否以从编码器19发出的信号为基础现时光头12的半径位置是在规定的检测点A～E所示的半径位置(S1)。现时的半径位置如果是检测点A～E其中之一的半径位置，进行聚焦驱动信号的直流成分检测(S2)。

下面，以在该检测点的初始检测时的聚焦驱动信号值和在步骤S2检测的聚焦驱动信号值的差为Δf，以该检测点的位置为r，代入式(16)中求比例常数A，决定式(16)(S3)。使用式(16)，求在其他检测点的Δf(S4)。对求得的Δf加上初始检测时的聚焦驱动信号值，更新在由步骤S2检测的点以外的各检测点的聚焦驱动信号值(S5)。

使用由步骤S2检测的聚焦驱动信号值和由步骤S5求得的聚焦驱动信号值，更新翘曲函数和倾斜近似值(S6)。进而，根据光头12的位置，逐次求倾斜近似值，从其值，生成倾斜驱动信号(S7)。

另外，在如图22所示的步骤中，装置动作中，光头在到达由规定的检测点A～G所示半径位置时，进行补充检测。但是，如在以下的实施例中说明的那样，即使是在进行在光头记录和再现时使用的时候，在有移动光头能够进行补充检测的时间的时候，在进行记录再现的磁道在最近的检测点A～G突增，进行补充检测也可以。装置启动后，特别是盘易受大的温度变化，有盘的翘曲形状变化的可能。在这时，不管装置的动作状态，装置启动后，在每规定的时间(例如每2到3分钟)进行补充检测也可以。

通过这样的本实施例，对于光盘分为在进行记录和再现以前和进行记录和再现中2个阶段，可以检测盘的倾斜量。在进行记录和再现以前的初始检测中，通过减少检测点数，能够缩短检测时间，在记录、再现中的补充检测中，通过进行追加的检测，能够提高近似盘的翘曲形状的函数的近似精度。由此在能够高精度地近似光盘等的记录介质的翘曲形状、并实现适当的倾斜控制的同时，也能够实现启动时检测时间的缩短。另外，由于通过补充检测能够更新翘曲函数和倾斜近似函数，记录和再现中，即使光盘的倾斜变化也能够适当地进行物镜的倾斜控制。

(第6实施例)

图23是表示本发明的光盘装置的第6实施例的方块图。在图23所示的光盘装置806中，在与第5实施例相同的构成要素中赋予相同的参照符号。

在光盘装置806中，从接收光区域被多个地分隔的检测器5输出的各检测信号，在加法运算放大部29中，被加法运算和放大，变为再现信号(RF信号)，被输入到均值器(EQ)30中。

均值器30，使再现信号在该信号带域波形均衡化，将处理的信号输出到数据限制器(DSL)31。数据限制器(DSL)31，将波形均衡化了的再现信号与预先记忆的规定电平比较，基于其结果通过2值化生成2值化数据信号，使2值化数据信号输出到PLL电路(PLL)32。PLL电路32，进行符合2值化数据信号的时钟信号的频率控制和相位控制，使2值化数据信号和时钟信号同步。从该同步的时钟信号生成数据窗，抽出辨别其窗内的数据，作为同步数据信号输出向解调部33和ID读取部34。解调部33，解调同步数据信号，将解调数据输出到作为符号误差订正装置的误差订正电路(ECC)35。误差订正电路35，进行解调数据的误差订正，输出被订正的数据信号(DATA)。

另外·作为误差检测装置的微机21，监测着误差订正电路35，通过比较订正前后的数据计数误差数，从误差数计算误差率。ID读取部34，从同步数据信号中的扇区ID检测扇区地址信号，将相当于现时扫描位置的地址信息输出到主机。另外，ID读取部34，在不能够检测扇区地址信号时，利用以前检测的扇区地址和PLL电路32的时钟，补充输出不能检测的扇区地址。这样将补充的扇区地址称为模拟地址。微机21监测着ID读取部34，将算出模拟地址的次数输出到作为地址误差检测装置的模拟地址计数器36中。

在本实施例中，与第5实施例相同，分为启动时的初始检测和装置动作中的补充检测2个阶段进行检测。特别是在本实施例中，在实现补充检测的方法及实现其的构成中有特征。有关初始检测，由与第5实施例共通的方法和构成能够实现。

在本实施例的补充检测在装置动作中进行。图24是表示顺序的流程图。微机21监测误差订正电路35，判断误差率是否超过规定值(S1)。有关规定值，例如在DVD装置时，作为位误差设定在从1×10^-3到5×10^-3左右比较合适。这在DVD装置中，起因于在1次误差订正其可能的位误差的上限为5×10^-3左右。但是，设定其他的规定值也可以。

误差率如果超过预先设定的规定值，进行聚焦驱动信号的直流成分的检测(S2)，进而将该检测结果和半径位置的关系作为同值数据记忆在聚焦存储器22中(S3)。补充检测，每当确认误差率超过规定值便执行，微机21，使用由补充检测记忆的数值数据和初始检测数据，再次计算、更新翘曲函数和倾斜近似函数(S4)。进而微机21使用更新了的倾斜近似函数，总是生成、输出在现时半径位置的倾斜驱动信号(S5)。通过输出的倾斜驱动信号，根据光盘2的表面形状物镜2作最佳倾斜，能够实现良好的再现。

根据本实施例，配合误差率的增加进行随时补充检测。因此，对再现时的翘曲函数的精度恶化适当并且实时地检测，能够更新翘曲函数和倾斜近似函数。其结果，使由补充检测的翘曲函数的更新，能够随时反应在倾斜控制中。

另外，在本实施例的补充检测的执行的延时的判断，不仅是上述的误差率，即使用模拟地址36也能实现。图25是表示使用模拟地址36的补充检测的顺序的流程图。用该图说明使用模拟地址36的补充检测。

微机21，判断检测的模拟地址36的计数值是否超过预先设定的计数值(S1)，在超过规定的计数值时进行聚焦驱动信号的直流成分的检测(S2)。并且，以检测结果和半径位置的关系作为数值数据记忆在聚焦存储器22中(S3)。补充检测，每当确认模拟地址36的计数值超过规定的计数值便执行。微机21，使用由补充检测记忆的数值数据和初始检测数据，再次计算、更新翘曲函数和倾斜近似函数(S4)。进而微机21使用倾斜近似函数，总是生成、输出在现时光束的半径位置的倾斜驱动信号(S5)。根据输出的倾斜驱动信号，使物镜2倾斜，能够实现良好的再现和记录。

以上这样，配合模拟地址计数的增加，通过随时进行补充检测，适当并且实时检测翘曲函数的精度的恶化，能够更新翘曲函数和倾斜近似函数。由补充检测的翘曲函数的更新，随时反应在倾斜控制。

另外，上述补充检测，在光盘装置动作中通过误差率及模拟地址计数器判断了其执行。但是，由于光盘2的翘曲根据温度而变化，使温度传感器185和将温度传感器185的输出作A/D变换向微机130输入的A/D变换电路186设置在光盘装置806，由微机21判断温度传感器的输出是否预先设定的规定值以上变化了，进行由补充检测的翘曲函数的更新也可以。图26是表示使用温度传感器的补充检测的顺序的流程图，用该图说明使用温度传感器的补充检测。

微机21，对通过温度传感器185检测的温度的变化量，判断是否超过预先设定的规定值(S1)，在超过规定值时进行聚焦驱动信号的直流成分的检测(S2)。以该检测结果和半径位置的关系作为数值数据记忆在聚焦存储器22中(S3)。补充检测，每当确认由温度传感器检测的温度变化量超过规定的值便执行。微机21，使用由补充检测记忆的数值数据和初始检测数据，再次计算、更新翘曲函数和倾斜近似函数(S4)。进而微机21使用更新的倾斜近似函数，总是生成、输出在现时的半径位置的倾斜驱动信号(S5)。根据输出的倾斜驱动信号，使物镜2倾斜，能够实现良好的再现和记录。

这样，使用温度传感器，通过配合温度变化进行补充检测，适当检测在启动后由光盘2的温度特性产生的光盘2的倾斜变化，能够更新翘曲函数。另外，由补充检测的翘曲函数和倾斜近似函数更新，随时反应在倾斜控制中。

根据本实施例，误差及补充的地址、即地址误差产生时，适当更新翘曲函数和倾斜近似函数，进行倾斜驱动值的再计算。因此，在产生相当于部分的翘曲及倾斜的外部干扰(例如由伤痕等带来的倾斜执行元件的不规则的倾斜)，该部分的数据的读取及写入称为可能。

特别是在动画数据的再现、记录中，在该翘曲函数的更新处理需要时间时，数据中断，容易产生信息组噪音等观测的问题。但是如用本实施例，由于由1次补充检测的点是1个，则不产生在动画数据的再现、记录中的数据中断。

根据这样的本实施例，对应在再现或记录时的数据所含的误差比例，由于进行翘曲函数的更新，随时适当的倾斜控制都成为可能，能够以良好的状态进行再现或记录。从而能够提高数据写入或读取的可靠性。

(第7实施例)

图27是表示本发明的光盘装置的第7实施例的方块图。在图27所示的光盘装置8067，在与第6实施例相同的构成要素中赋予相同的参照符号。

光盘装置807进行再现动作时，从误差订正电路35输出的误差订正后的再现数据信号(DATA)，输入储存到作为使再现数据临时存放的缓冲装置的读缓冲区存储器37中。储存在读缓冲区存储器37中的再现数据，根据从主计算机38发出的要求，通过微机21输出到主计算机38中。通过这样的处理，光盘装置807能够再现记录在光盘上的信号。另外，微机21监测读缓冲区存储器37，能够检测储存在读缓冲区存储器37中的数据量。

另外，光盘装置807在进行记录动作时，从主计算机38输出的记录数据，储存在作为临时收放记录数据的缓冲装置的写缓冲区存储器39中。储存在写缓冲区存储器39中的记录数据，通过微机31输出到调制部40中，由规定的调制方式调制。被调制的数据，输出到使搭载于光头12中的光源1发光的LD驱动部(激光而极管驱动部)41中。光源1发出对应从LD驱动部41出来的驱动信号的光束，通过发出的光束照射到光盘2的记录面上在光盘2的记录面上记录信号。另外，微机21监测写缓冲区存储器39，能够检测储存在写缓冲区存储器39中的数据量。

下面说明作为本实施例的特征的数据读出和写入及进行补充检测的延时。将在光盘2和缓冲区存储器之间的数据输入输出的速度定义为Vin，将缓冲区存储器和主计算机38之间的数据输入输出的速度定义为Vout。由于稍微要确保重新作处理的执行时间而确保性能，通常，使Vin＞Vout地设定数据输入输出的速度。光盘装置807也要满足该关系。

图28表示在光盘装置807的再现动作中的读缓冲区存储器37中的数据量的时间变化。光头12从光盘2进行数据的读出期间(时间t0～t1)，从光盘2读出的数据被送到读缓冲区存储器37中。这时，读缓冲区存储器37中的数据量以Vin-Vout的速度增加。由光头12的数据的读出中断期间(时间t1～t2)，读缓冲区存储器37中的数据量以Vout的速度减少。

在光盘装置807的再现动作中，从读缓冲区存储器37向主计算机38输出的再现数据不中断也可，再现数据的中断是读缓冲区存储器37中的数据量为0以下的状态(时间t3)。从而，读缓冲区存储器37中的数据量，总是不降至规定的量M1以下地控制读出动作的开始延时也可。有关规定的量M1，例如在DVD中，设定在组合错误订正符号而制的1个积符号1ECC(Error Correcyion Code)信息组的容量是适当的。但是，容量M1是1ECC信息组的容量以外的值也可以。

将在光盘装置807的再现动作中的时间t4的读缓冲区存储器37中的数据量定义为Mr(＞M1)，

T1＝(Mr-M1)/Vout                     (17)

由此计算的时间T1期间，光头12中断数据的读出，能够执行别的处理。在以下将该时间T1称为富余时间T1。

换句话说，在时间t4即使光头12中断数据的读出动作，其后读缓冲区存储器37中的数据量在为M1的时间t5中光头12如果再开始数据的读出动作，向主计算机38输出的再现数据不中断。

另外图29，表示在光盘装置807的记录动作中的写缓冲区存储器39中的数据量的时间变化。光盘装置807的记录动作中，从主计算机38数据向写缓冲区存储器39以Vout的速度被送出。因此光头12在不进行向光盘的数据的写入期间(时间t6～t7)，写缓冲区存储器39中的数据量以Vout的速度增加。

另外，光头12进行数据写入期间(时间t7～t8)，写缓冲区存储器39中的数据量以Vin-Vout的速度减少。在光盘装置807的记录动作中，有必要将从主计算机38输出的所有记录数据写入到光盘2上。为此，写缓冲区存储器39中的数据量达到缓冲区存储器的大小，在写缓冲区存储器39中如果避开没有接收从主计算机38输出的记录数据的空容量的状态(t9)也可以。从而，存储在写缓冲区存储器39中的数据量不超过规定的量M2也可以。规定的量M2，写缓冲区存储器39的大小MW的一半左右是适当的。

这在装置的记录动作中产生重新作处理光头12的写入动作被中断，是再次考虑数据有存储在写缓冲区存储器39中的可能性的量。另外，该规定的量M2为写缓冲区存储器39的大小MW的一半左右以外的值也可以。

将在装置的记录动作中的时间t8的写缓冲区存储器39中的数据量定义为Mw(＜M2)，

T2＝(M2-Mw)/Vout                      (18)

由此计算的时间T2期间，光头12中断写入动作，能够执行别的处理。在以下将该时间T2称为富余时间T2。

换句话说，在时间t8，即使光头12中断写入动作，其后写缓冲区存储器中的数据量在为M2的时间t10中，光头12如果再开始写入动作，从主计算机38输出的记录数据全都被记录在光盘2中。

以上通过着眼于光盘装置的再现动作的读缓冲区存储器37中的数据量Mr和光盘装置的再现动作的写缓冲区存储器39中的数据量Mw，能够计算可以中断光头12读出动作和写入动作的富余时间T1、T2，在该时间内执行倾斜检测是可能的。

在本实施例中，与第5和第6实施例相同，分为启动时的初始检测和装置动作中的补充检测2个阶段进行倾斜检测。初始检测与第5和第6实施例同样地进行，补充检测在上述富余时间T1、T2中执行。图30是表示光盘装置807的补充检测的动作顺序的流程图。

首先，考虑光盘装置807进行再现动作的情形。微机21判断是否现时的读缓冲区存储器37中的数据量Mr超过了规定的容量M1(S1)。在超过规定的容量M1时从现时的数据量Mr算出由式(17)计算的富余时间T1(S2)。微机21，在富余时间T1以内头12从现时位置移动，在该位置进行聚焦驱动信号的直流成分的检测，再次判断是否有光头12能够回到现时位置的检测点(S3)。在有可以执行的检测点时，光头12中断读出动作(S4)，移动到判断为可以执行处理的上述检测点(S5)。在移动的检测点微机21进行聚焦驱动信号的直流成分的检测(S6)，将其检测结果和半径位置关系作为数值数据记忆在聚焦存储器22中(S7)。其后，光头12移动向原来的半径位置(S8)，再次开始读出动作(S9)。

另外，在光盘装置807进行记录动作时，微机21首先判断现时的写缓冲区存储器39中的数据量Mw是否低于规定的容量M2(S1)。算出从现时的数据量Mw由式(18)计算的富余时间T2(S2)。微机21，在富余时间T2以内头12从现时位置移动，在该位置进行聚焦驱动信号的直流成分的检测，再次判断是否有光头12能够回到现时位置的检测点(S3)。在有可以执行的检测点时，光头12中断写入动作(S4)，移动到判断为可以执行处理的上述检测点(S5)。在移动的检测点微机21进行聚焦驱动信号的直流成分的检测(S6)，将其检测结果和半径位置关系作为数值数据记忆在聚焦存储器22中(S7)。其后，光头12移动向原来的半径位置(S8)，再次开始写入动作(S9)。

这样的装置的再现时和记录时的补充检测，光头12从现时位置移动到规定的检测点从储存在读缓冲区存储器37、写缓冲区存储器39中的数据容量判断、执行是否有尽量检测聚焦驱动信号的直流值的时间富余。

进而，微机21，使用由补充检测记忆的数值数据、和初始检测数据，再次计算、更新翘曲函数和倾斜近似函数(S10)。微机21使用被更新的倾斜近似函数，总是生成、输出在现时的半径位置的倾斜驱动信号(S11)。通过输出的倾斜驱动信号使物镜4倾斜，能够实现良好的再现和记录。这样，由补充检测的翘曲函数和倾斜近似函数的更新，随时反应在倾斜控制中。

下面，说明光盘装置807比起记录使再现能够以更高倍速动作时的物镜的倾斜控制。在这种情形，利用读缓冲区存储器37、写缓冲区存储器39通过改变在再现和记录中翘曲函数和倾斜近似函数的更新的时间间隔，可以适当的翘曲函数和倾斜近似函数的更新、以及在再现和记录中的适当的近似精度的确保。作为高倍速，为了提高记录时和再现时的数据转送速度，称作比规定的旋转速度还快地旋转盘。

图31，是表示盘的翘曲为直线状时的盘的翘曲形状。这时，由于假定盘翘曲为直线状，在盘的内周的I和外周的检测点O之间的任意位置倾斜为恒定。从而，由启动时的初始检测检测在内周部的检测点I、J的聚焦驱动信号的直流成分，通过计算，能够计算翘曲函数和倾斜近似函数。但是，实际的盘翘曲由于一般地越向外周部变得越大，翘曲函数与实际的翘曲形状不同。

图32，表示翘曲函数和某盘翘曲形状。由图可知，在内周的检测点I、J近旁近似误差小，但在中周的检测点M近旁比检测点I、J近旁近似误差大，在最外周的检测点O近旁进而近似误差变大。总之，将直线作为翘度函数使用时，越向外周部变得越大。

从而，对光盘2以高倍速连续再现和连续记录时，由于光头向盘的外周方向移动的速度也变快，旋转速度越高，越有必要缩短补充检测的间隔频繁地更新翘曲函数和倾斜近似函数。

图33是表示在光盘装置的再现动作中的读缓冲存储器37内的数据量的时间变化。在装置的再现动作中，读缓冲存储器37内的数据量在达到读缓冲存储器大小MR的时间t12中光头12中断读出动作时，缓冲存储器37内的数据量以Vout的速度减少。其后，在读缓冲存储器37内的数据量为M1的时间t13中，光头12如果再次开始读出动作，输出到主计算机38的再现数据不中断。

从而，在这时间t12～t13之间进行补充检测，能够更新翘曲函数。其后，光头12的读出动作再次开始时，在读缓冲存储器37内以Vin-Vout的速度储存数据。在读缓冲存储器37内的数据量能够富余时，再次中断光头12读出动作成为可能，再次能够执行翘曲函数和倾斜近似函数的更新。从而，更新在装置的再现动作中的翘曲函数的时间间隔，可知依赖于在读缓冲存储器37内存储数据的速度Vin-Vout。

另外，图34是表示在装置的记录动作中的写缓冲存储器39内的数据量的时间变化。在光盘装置的记录动作中，在写缓冲存储器39内的数据量为O的时间t14中光头12中断写入动作时，写缓冲存储器39内的数据量以Vout的速度增加。其后，在写缓冲存储器39内的数据量达到M2的时间t15中，光头12如果再次开始写入动作，将从主计算机38输出的记录数据能够全部记录到光盘2上。

从而，在从该时间t14到t15之间进行补充检测，能够更新翘曲函数。其后，再次开始光头12的写入动作时写缓冲存储器39内的数据量以Vin-Vout的速度减少。在写缓冲存储器的容量能够富余时，再次中断光头12写入动作成为可能，再次能够更新翘曲函数。从而，更新在记录时的翘曲函数的时间间隔，可知依赖于写缓冲存储器39内的数据减少的速度Vin-Vout。

图35是表示在比记录再现为还高倍速的光盘装置中读缓冲存储器37和写缓冲存储器39内的数据量时间变化。以再现时的Vin为Vin1，以记录时的Vin为Vin2，由于比起记录再现为更高倍速，Vin1＞Vin2的关系成立。由此关系，在装置的再现动作中，读缓冲存储器37内的数据量增加的速度Vin-Vout，在装置的记录中比写缓冲存储器39内的数据量减少的速度Vin2-Vout变得更大。

在这里，光头12中断读出动作的延时，读缓冲存储器37内的数据量作为达到读缓冲存储器大小MR的延时，光头12中断写入动作的延时，作为写缓冲存储器39内的数据量为零的时间。另外，在光头12的读出动作中存储在读缓冲存储器37内的数据的最大量，和在光头12的写入动作中存储在写缓冲存储器39内的数据的最大量相等，

MR-M1＝M2                              (19)

的关系成立。这时，由图21，更新高倍速再现时的翘曲函数的时间间隔，可知与更新在记录时的翘曲函数的时间间隔比较要短。

总之，更新在高倍速再现时的翘曲函数的时间间隔与记录时相比能够缩短，这可满足从保持在再现和记录的适当的近似精度的观点出发的必要性。

这样，根据本实施例，利用在读缓冲存储器37、写缓冲存储器39中存储的数据，判断能够中断光头12读出和写入动作的延时，能够随时进行补充检测。从而，光盘装置的再现动作中不中断向主计算机输出的再现数据的流动，另外，记录动作中，不中断从主计算机输出的记录数据的流动，进行翘曲函数和倾斜近似函数的更新，能够进行适当的倾斜控制。

另外，特别是在比记录对再现还要以高倍速动作的CD-R/RW中作为代表的光盘装置中，在再现和记录中可以确保翘曲函数的近似精度。

这样由于总是能以良好的状态再现和记录，本实施例，使需要连续性的计算机的编码数据及音乐信息对于编码化的数据的再现及记录适合的。

另外，在从上述第1至第7实施例中，说明了光盘使用具有1个记录层的光盘的本发明。但是本发明也能够处置具有2层以上的记录层的光盘。在光盘为有第1和第2数据记录层的2层光盘的时候，检测各自的记录层的倾斜，基于检测结果，能够倾斜物镜。另外，在从第5至第7实施例中，使上述初始检测动作和补充检测动作对于各自的数据记录层进行，分别决定翘曲函数和倾斜近似函数也可以。但是，在初始检测的检测点的数量多时，对于2个数据记录层，同样通过进行初始检测，在初始检测需要的时间变长。在初始检测需要的时间变长成为问题时，例如对于第1数据记录层使用检测点A～G如上所述进行初始检测，对于第2数据记录层，仅使用检测点E～G进行初始检测。并且，在对于第2数据记录层的检测点A～D的聚焦驱动信号值，使用在对于第1数据记录层的检测点A～D的聚焦驱动信号值。数据记录层即使为2层在光盘2的内周侧，翘曲函数的差异小，是由于2个数据记录层的倾斜角实质上是相等的。通过使用这样的检测方法，即使缩短检测时间，也能够实质地维持检测精度。

另外，在从上述第5至第7实施例中，没有设置测量从第1聚焦驱动部16a和第2聚焦驱动部16b输出的驱动电流的电路，但采用第1实施例的构成，检测驱动电流也可以。总之，从第5至第7实施例能够与第1实施例融洽地组合。另外，作为倾斜物镜的装置，采用倾斜用线圈也可以。在这时，基于从倾斜近似函数求得的倾斜近似值，决定驱动倾斜用线圈的驱动电流，使物镜根据盘的翘曲形状倾斜。总之，第5至第7实施例与第1至第4都能够实施例融洽地组合。

另外，在从上述第1至第7实施例中说明的光盘装置的控制方法及物镜的驱动方法等，使其顺序在微机中执行的程序被保存在EEPROM及ROM、RAM、硬盘、磁记录介质等计算机可以读取的记录介质中。

根据本发明，在光盘的数据面即使产生由翘曲等带来的倾斜，也能够使物镜响应光盘的倾斜而倾斜。因此，通过适当的倾斜控制实现能够正确地进行数据的记录、再现的光盘装置。

另外，降低由驱动物镜的驱动部及控制部的偏移带来的影响，能够实现高精度的控制。

Claims (36)

1.一种光盘装置，其特征在于，具有：

向着信息记录介质的数据面照射光束的光源，和

聚束所述光束的聚束装置，和

使所述聚束装置和所述数据面的距离变化而移动所述聚束装置的移动装置，和

接收从所述数据面反射的光束的返回光的接收光装置，和

基于从所述接收光装置发出的信号、产生响应所述信息记录介质的数据面上的光束的聚束状态的信号的聚焦误差检测装置，和

基于从所述聚焦误差检测装置发出的信号向所述移动装置输出驱动信号并使所述光束为规定的聚束状态而进行控制的聚焦控制装置，和

使所述聚束装置倾斜的倾斜装置，和

基于所述驱动信号来决定近似所述数据面形状的至少1个计算式并使用所述决定的计算式求得所述数据面的倾斜量的倾斜计算装置，和

根据所述倾斜量来驱动倾斜装置、使光束对所述数据面垂直照射而进行控制的倾斜控制装置。

2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：所述倾斜计算装置，基于在决定所述计算式以后求得的所述驱动信号，更新所述决定的计算式。

3.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于：所述倾斜计算装置，将所述信息记录介质装入到光盘装置后，在对于所述信息记录介质进行记录和再现以前，执行为了决定所述计算式而进行的驱动信号的初始检测，和在对于所述信息记录介质记录和再现中，为了所述计算式的更新而进行的驱动信号的补充检测。

4.根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于：所述倾斜计算装置，在于所述数据面的不同的半径位置设定的多个检测点，基于所述光束在照射所述数据面时得到的聚焦控制装置的驱动信号而决定所述计算式。

5.根据权利要求4所述的光盘装置，其特征在于：所述倾斜计算装置，对于所述信息记录介质在作记录和再现中，每次所述光束在到达或通过所述多个检测点其中之一时，都进行驱动信号的检测和所述计算式的更新。

6.根据权利要求4所述的光盘装置，其特征在于：所述倾斜计算装置，在所述初始检测之前，在所述信息记录介质的半径方向的多个位置检测所述驱动信号，从检测结果判断所述数据面的翘曲形状，基于所述判断的结果，在所述初始检测和所述补充检测中决定检测驱动信号的检测点的位置。

7.根据权利要求6所述的光盘装置，其特征在于：所述倾斜计算装置，对所述数据面的翘曲形状，在判断为第1形状时，在所述初始检测和所述补充检测的多个检测点的配置，与所述数据面的中周部比较，在其内周部和外周部呈高密度地设定，对所述数据面的翘曲形状，在判断为第2形状时，在所述初始检测和所述补充检测的多个检测点的位置于内周部、中周部和外周部呈等间隔地设定。

8.根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于，还具有检测在所述数据面上记录数据时产生的写入误差、或在所述数据面上再现记录的数据时产生的读入误差的误差检测装置，对在所述补充检测的所述计算式的更新所使用的所述驱动信号的检测，基于所述误差检测装置的信号来进行。

9.根据权利要求8所述的光盘装置，其特征在于：所述误差检测装置，还具有，检测订正从所述信息记录介质再现的数据的符号错误的符号错误订正装置，每当所述符号错误订正装置的符号错误数超过规定值时，执行所述补充检测。

10.根据权利要求8所述的光盘装置，其特征在于：所述误差检测装置，具有检测相当于所述数据面的位置信息的地址信息的再现误差的地址误差检测装置，所述再现误差每超过规定数就执行所述补充检测。

11.根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于：具有从所述信息记录介质再现的数据、和分别暂时存放在所述信息记录介质中记录的数据的缓冲装置，基于存放在所述缓冲装置中的数据量执行所述补充检测。

12.根据权利要求11所述的光盘装置，其特征在于：在所述补充检测的所述驱动信号的检测的时间间隔，在从所述信息记录介质再现数据的情形和在向所述信息记录介质记录数据的情形是不同的。

13.根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于：还具有检测所述光盘装置内的温度的温度传感器，所述温度传感器的输出在规定值以上变化时执行所述补充检测。

14.根据权利要求5、8、11或13所述的光盘装置，其特征在于：所述倾斜计算装置的计算式，含近似所述数据面的倾斜的翘曲函数，在所述补充检测中，于更新所述计算式时，设定所述翘曲函数的次数。

15.根据权利要求5、8、11或13所述的光盘装置，其特征在于：还具有使所述信息记录介质以规定的旋转数旋转的旋转装置，聚焦控制装置输出的所述驱动信号，是所述信息记录介质旋转1周期间的整数倍期间的平均值。

16.根据权利要求5、8、11或13所述的光盘装置，其特征在于：还具有：使所述信息记录介质以规定的旋转数旋转的旋转装置，和对于所述信息记录介质在进行记录和再现时，对所述旋转装置控制其线速度为一定，在所述初始检测时，对所述旋转装置控制其线速度为一定的旋转控制装置。

17.根据权利要求5、8、11或13所述的光盘装置，其特征在于：所述倾斜计算装置，在所述多个检测点之一进行2次以上所述驱动信号的检测时，使用至此取得的驱动信号的值的平均值，进行所述计算式的更新。

18.根据权利要求5、8、11或13所述的光盘装置，其特征在于：所述倾斜计算装置，在所述多个检测点之一进行2次以上所述驱动信号的检测时，对于至此检测取得的驱动信号的值，如果是规定范围外，则对其驱动信号的检测结果判断为不正确，终止所述计算式的更新。

19.根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于：所述至少1个计算式，含有近似数据面的翘曲的翘曲函数，和表示在半径方向的任意位置的倾斜的倾斜近似函数。

20.根据权利要求4所述的光盘装置，其特征在于：所述倾斜计算装置的计算式含有折线函数。

21.根据权利要求20所述的光盘装置，其特征在于：所述倾斜计算装置，对所述信息记录介质在记录和再现时，每当所述光束到达或通过所述多个检测点其中之一时，就进行驱动信号的检测，基于检测结果修正在决定所述折线函数时使用的所有的驱动信号的值，基于修正的驱动信号的值更新折线函数。

22.根据权利要求21所述的光盘装置，其特征在于：在所述初始检测和所述补充检测中的多个检测点的配置与所述数据面的中周部比较，在内周部和外周部为密度高的设定。

23.根据权利要求4所述的光盘装置，其特征在于：所述信息记录介质的数据面具有第1和第2记录层的时候，倾斜计算装置分别决定为了算出所述第1及第2记录层的形状而使用的至少1个计算式，使用所述决定的计算式求所述第1及第2记录层和所述聚束装置的倾斜量。

24.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：所述移动装置，是对于所述数据面使所述聚束装置在略垂直方向驱动的一对聚焦执行元件，所述倾斜装置，是对于所述数据面倾斜地驱动所述聚束装置的所述一对聚焦执行元件。

25.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：所述移动装置，是对于所述数据面使所述聚束装置在略垂直方向驱动的一对聚焦执行元件，所述倾斜装置，是对于所述数据面倾斜地驱动所述聚束装置的倾斜执行元件。

26.一种光盘装置的控制方法，其特征在于，包含有：

为了改变照射到信息记录介质的数据面上的光束的聚束状态，使聚束所述光束的聚束装置向与所述数据面垂直的方向驱动的步骤，和

接收从所述数据面反射的光束的返回光的步骤，和

基于从所述接收光装置发出的信号、产生响应所述信息记录介质的数据面上的光束的聚束状态的信号的步骤，和

基于响应所述聚束状态的信号、向移动所述聚束装置的装置输出驱动信号、使所述光束呈规定的聚束状态地进行控制的步骤，和

基于所述驱动信号来决定近似所述数据面形状的至少1个计算式并使用所述决定的计算式求所述数据面和所述聚束装置的倾斜量的步骤，和

根据所述倾斜量、驱动改变所述聚束装置的倾斜的装置、对于所述数据面使光束垂直地照射而进行控制的步骤。

27.一种光盘装置的控制方法，其特征在于：包含有：

以照射所述信息记录介质的数据面的光束为规定的聚束状态而进行聚焦控制的状态，在于所述信息记录介质的半径方向的不同的多个位置，在所述光束照射所述数据面时得到的聚焦驱动信号的步骤(A)，和

基于所述取得的多个聚焦驱动信号的值来决定近似所述数据记录面的形状的至少1个计算式的步骤(B)，和

使用所述决定的计算式，求所述数据记录面的倾斜量、基于求得的倾斜量改变物镜的倾斜的步骤(C)。

28.根据权利要求27所述的光盘装置的控制方法，其特征在于，还包含有：执行步骤(B)后，以进行聚焦控制的状态，在于所述信息记录介质的半径方向的至少1个以上的规定位置，在取得所述光束照射所述数据面时得到的聚焦驱动信号的步骤(D)，和基于在步骤(D)和步骤(A)取得的聚焦驱动信号的值、更新所述计算式的步骤(E)，和基于更新的计算式、求所述数据记录面的倾斜量、基于求得的倾斜量改变物镜的倾斜的步骤(F)。

29.根据权利要求28所述的光盘装置的控制方法，其特征在于：每当到达或通过所述光束在所述信息记录介质的半径方向的至少1个以上的规定位置其中之一时，执行所述步骤(D)～(F)。

30.根据权利要求28所述的光盘装置的控制方法，其特征在于：检测在所述数据面上记录数据时产生的写入误差、或再现在所述数据面上记录的数据时产生的读入误差，基于检测结果，执行所述步骤(D)～(F)。

31.根据权利要求28所述的光盘装置的控制方法，其特征在于：基于从所述信息记录介质再现的数据、和分别暂时存放记录在所述信息记录介质中的数据的量，执行所述步骤(D)～(F)。

32.根据权利要求28所述的光盘装置的控制方法，其特征在于：检测所述光盘装置内的温度，在温度的变化为规定值以上时执行所述步骤(D)～(F)。

33.根据权利要求28所述的光盘装置的控制方法，其特征在于：在所述步骤(A)和(D)中取得聚焦驱动信号的位置，所述信息记录介质的外周部比中周部配置得更密。

34.根据权利要求28所述的光盘装置的控制方法，其特征在于：所述计算式含折线函数。

35.根据权利要求34所述的光盘装置的控制方法，其特征在于：在所述步骤(D)中，在所述至少1个以上的规定位置其中之一取得所述聚焦驱动信号，基于在步骤(D)中取得的所述聚焦驱动信号，完全修正在步骤(A)中取得的所述聚焦驱动信号，基于修正的聚焦驱动信号执行所述步骤(E)。

36.根据权利要求从27至35中任意一项所述的光盘装置的控制方法，其特征在于：在所述信息记录介质进行1个旋转期间的整数倍[的]期间取得所述聚焦驱动信号，并使用其平均值作为聚焦驱动信号的值。

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