JP3995658B2 - 情報記録再生装置 - Google Patents

Description

本発明は、ディスク上にレーザ光を照射して情報を記録および／若しくは再生する情報記録再生装置に関するものであり、特に、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の張り合わせディスクに対し情報を記録再生する光ディスク装置に用いて好適なものである。

従来の光ディスク装置には、レーザ光をトラックに追従させるための手段として、フォーカス制御手段とトラッキング制御手段が装備されている。この他、ＤＶＤドライブ等、高密度ディスクに対し情報を記録再生する光ディスク装置には、レーザ光の光軸がディスク面に対し垂直となるよう制御する、いわゆるチルト制御手段が装備されている。

かかるチルト制御に関し、たとえば、以下の特許文献１には、フォーカス制御信号を用いながらチルト制御を行う光ディスク装置が記載されている。すなわち、現記録再生位置におけるフォーカス制御信号をチルト制御回路へ入力し、このフォーカス制御信号に基づいてチルト補正機構を制御することで、ディスク回転によるチルト量に同期してチルトによる影響をキャンセルする、というものである。これにより、面ブレを有する光ディスクに対し、安定した記録・再生を行うことができる。
特開２００１−２３２１３号公報

上記特許文献１に示されたチルト制御手段は、ドライブ内温度の変化等によって面ブレの状態が動的に変化するような場合に用いて好適なものである。しかし、ＤＶＤ等の張り合わせディスクでは、ドライブ内温度が変化しても面ブレの状態はそれ程変化することはなく、よって、上記特許文献１のような動的なチルト制御は、必ずしも必要とはならない。

また、記録再生時に記録再生位置をシークする場合、逐一、反射ビームの状態等からチルト検出を行うようにすると、シーク後から記録再生開始までに要する時間が長くなってしまう。光ディスク装置の分野では、記録再生動作の高速化が求められており、この点から、シーク動作時のチルト制御においても一層の高速化が要求されている。

そこで、本発明は、無駄なチルト制御動作を抑制しつつ、チルト制御のさらなる高速化を図り得る情報記録再生装置を提供するものである。

請求項１の発明は、ディスク上にレーザ光を照射して情報を記録および／若しくは再生する情報記録再生装置において、基準ディスク上の所定の半径位置にフォーカスを合わせたときのフォーカスバイアス電圧に応じた基準値データを予め記憶する基準値データ記憶手段と、記録再生対象ディスク上の内周から外周へ向かって間隔が密になるように複数の半径位置にてフォーカスを合わせたときのフォーカスバイアス電圧を記録再生動作の開始に先立って検出し、検出したフォーカスバイアス電圧に応じたサンプル値データを前記半径位置に対応付けて取得するサンプル値データ取得手段と、前記記録再生対象ディスク上における記録再生位置の位置情報を取得する位置情報取得手段と、前記基準値データ記憶手段に記憶された基準値データと前記サンプル値データ取得手段によって取得されたサンプル値データの差分値から当該半径位置におけるチルト量に応じた値を取得し、取得した値と前記位置情報取得手段によって取得された位置情報に基づいて、当該記録再生位置におけるチルトサーボ信号を生成するチルトサーボ信号生成手段と、チルトサーボ信号生成手段によって生成されたチルトサーボ信号に応じてディスク面に対するレーザ光の傾きを調整するチルト調整手段とを有することを特徴とする。

請求項２の発明は、請求項１に記載の情報記録再生装置において、前記チルトサーボ信号生成手段は、前記記録再生対象ディスク上の半径位置のうち前記記録再生位置からみて直前または直後の半径位置におけるチルト量に応じた値を当該記録再生位置におけるチルト量に応じた値として、当該記録再生位置におけるチルトサーボ信号を生成することを特徴とする。

請求項３の発明は、請求項１に記載の情報記録再生装置において、前記チルトサーボ信号生成手段は、前記記録再生対象ディスク上の半径位置のうち前記記録再生位置を挟む２つの半径位置におけるチルト量に応じた値から当該記録再生位置におけるチルト量に応じた値を線形近似して当該記録再生位置におけるチルト量に応じた値を求め、求めたチルト量に応じた値をもとにチルトサーボ信号を生成することを特徴とする。

請求項４の発明は、請求項１ないし請求項３に記載の情報記録再生装置において、前記サンプル値データ取得手段において設定される半径位置は、前記基準値データ記憶手段において設定されている半径位置に対応するよう設定されており、前記チルトサーボ信号生成手段は、前記サンプル値データとこれに対応する前記基準値データの差分値に基づいて、当該半径位置におけるチルト量に応じた値を取得することを特徴とする。

請求項５の発明は、請求項１ないし請求項４に記載の情報記録再生装置において、前記記録再生対象ディスク上の記録再生位置がシークされるとき、前記チルトサーボ信号生成手段は、シーク先の目標位置を前記記録再生位置としてチルトサーボ信号を生成することを特徴とする。

なお、上記において、「チルト量に応じた値」とは、チルト量そのものの他、チルトサーボ信号等、チルト量に応じて変化する値を広く含むものである。

本発明の特徴は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。なお、上記請求項における「基準ディスク」は、以下の実施の形態では、ガラス基板等、平面精度の高い基板を有する標準ディスクとして例示されている。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明の一つの実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。

本発明によれば、記録再生位置に関する情報から、その位置において適正なチルトサーボ信号が予測・生成されるため、記録再生位置においてチルト量を実測する必要がなく、もって、チルト制御の簡易・迅速化を図ることができる。

特に、請求項６の発明によれば、シーク後の記録再生位置におけるチルト量を予測できるため、シーク発生時におけるチルト制御を著しく迅速化することができる。たとえば、シーク期間中にシーク後の記録再生位置のチルト量を予測・設定するようにすれば、シーク後速やかに、記録再生動作に移行することができる。

この他、本発明の効果は、以下に示す実施の形態の説明により、さらに明瞭となろう。

以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。

なお、本実施の形態では、記録再生対象ディスクとしてＤＶＤ＋ＲＷ（以下、ディスク１００と称する）が用いられている。かかるディスク１００は、内周から順番にリードイン領域、データ領域、リードアウト領域にエリア分割されている。また、ディスク１００には、内周から外周に向かって螺旋状のグルーブが形成されており、このグルーブに対しデータの記録が行われる。

ここで、グルーブは、径方向に蛇行（ウォブル）しており、このウォブルによってアドレス情報が保持されている。すなわち、ＡＤＩＰ（Address in pre-groove）と呼ばれる位相変調区間が、単調蛇行区間中に一定周期で挿入されており、かかる位相変調区間をビームが走査するとき、その反射光強度の変化からグルーブ上のアドレス情報が読み取られ再生される。なお、リードイン領域のＡＤＩＰには、当該ディスクに対する種々の制御データが位相変調によって記録されている。

図１に、実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す。

図示の如く、光ディスク装置は、ＥＣＣエンコーダ１０１と、変調回路１０２と、レーザ駆動回路１０３と、レーザパワー調整回路１０４と、光ピックアップ１０５と、信号増幅回路１０６と、復調回路１０７と、ＥＣＣデコーダ１０８と、サーボ回路１０９と、ＡＤＩＰ再生回路１１０と、コントローラ１１１から構成されている。

ＥＣＣエンコーダ１０１は、入力された記録データに誤り訂正符号を付加し、変調回路１０２へと出力する。変調回路１０２は、入力された記録データに所定の変調を施し、さらに記録信号を生成してレーザ駆動回路１０３に出力する。レーザ駆動回路１０３は、記録時には変調回路１０２からの記録信号に応じた駆動信号を半導体レーザ１０５ａに出力し、再生時には単一強度のレーザ光を出射するための駆動信号を半導体レーザ１０５ａに出力する。ここで、レーザパワーは、レーザパワー調整回路１０４によって調整・設定されたレーザパワーに設定される。

レーザパワー調整回路１０４は、試し書きの際に検出される再生ＲＦ信号の状態に基づいてレーザパワーを最適値に調整・設定する。ここで、レーザパワーの調整処理は、周知のγ法を用いて行われる。当該ディスクのγ値は、上記リードイン領域のＡＤＩＰに含まれている。

光ピックアップ１０５は、半導体レーザ１０５ａおよび光検出器１０５ｂを備え、レーザ光をグルーブ上に収束させることにより、ディスクに対するデータの書き込み／読み出しを行う。なお、かかる光ピックアップ１０５は、この他、グルーブに対するレーザ光の照射状態を調整するための対物レンズアクチュエータ（後述）と、半導体レーザ１０５ａから出射されたレーザ光を対物レンズに導き、且つ、ディスク１００からの反射光を光検出器１０５ｂに導くための光学系等を備えている。

信号増幅回路１０６は、光検出器１０５ｂから受信した信号を増幅および演算処理して各種信号を生成し、これを対応する回路に出力する。復調回路１０７は、信号増幅回路１０６から入力された再生ＲＦ信号を復調して再生データを生成し、ＥＣＣデコーダ１０８に出力する。ＥＣＣデコーダ１０８は、復調回路１０７から入力された再生データに誤り訂正を施し、後段回路に出力する。

サーボ回路１０９は、信号増幅回路１０６から入力されたフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号からフォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号を生成し、光ピックアップ１０５の対物レンズアクチュエータに出力する。また、信号増幅回路１０６から入力されたウォブル信号からモータサーボ信号を生成し、ディスク駆動モータに出力する。さらに、コントローラ１１１から供給されるチルトエラー信号からチルトサーボ信号を生成し、光ピックアップ１０５の対物レンズアクチュエータに出力する。

なお、サーボ回路１０９は、ピックアップ送り機構（図示せず）を駆動制御して、光ピックアップ１０５をディスク径方向に送り制御する構成も兼ね備えている。コントローラ１１１は、サーボ回路１０９を制御して、光ピックアップ１０５の走査位置をシークさせ、記録／再生位置をディスク上の所定位置にアクセスさせる。

ＡＤＩＰ再生回路１１０は、信号増幅回路１０６から入力されたウォブル信号からアドレス情報および各種コントロール情報を再生し、コントローラ１１１に出力する。コントローラ１１１は、内蔵メモリに各種データを格納するとともに、あらかじめ設定されたプログラムに従って、各部を制御する。なお、コントローラ１１１におけるチルトサーボ時の制御動作については、追って詳述する。

図２および図３に対物レンズアクチュエータの構成を示す。

図３に示す如く、コイルアセンブリは、レンズホルダー２０２と、フォーカシングコイル２０３と、４つのトラッキングコイル２０４と、４つのチルトコイル２０５から構成されている。なお、図において、各コイルに付された実線矢印は、各コイルの巻き方向を示すものである。

フォーカシングコイル２０３は、その内周枠がレンズホルダー２０２の外周より少許だけ大きくなるように、レンズホルダー２００の外周形状と同様の形状で巻回された後、樹脂によって固められる。しかる後、上方からレンズホルダー２０２に嵌め込まれ、接着剤で固着される。

トラッキングコイル２０４は、その内周枠が、レンズホルダー２０２の外周に形成された突部の外周より少許だけ大きくなるように、突部の外周形状と同様の形状で巻回された後、樹脂によって固められる。しかる後、側方から突部に嵌め込まれ、接着剤で固着される。

チルトコイル２０５は、その内周枠が、レンズホルダー２０２の裏面側に形成された一対の爪部に当接するような寸法にて巻回された後、樹脂によって固められる。しかる後、下方から爪部に嵌め込まれ、接着剤で固着される。

図２に、対物レンズアクチュエータの概観斜視図を示す。

上記の如くして各コイルが装着されたレンズホルダー２０２は、図示の如く、各コイルがマグネット２０９とヨーク２１０間の磁気ギャップに介挿されるようにして、ベース２０６に設置された支持体２０７に、ワイヤー２０８によって懸架される。

なお、ワイヤー２０８は、それぞれ対応するコイルに電気的に接続されており、これらワイヤーを介して各コイルにサーボ信号が供給される。各コイルに流れるサーボ信号のバイアス値を変更することで、フォーカス方向、トラッキング方向、チルト方向における対物レンズ２０１の変位量を変化させることができ、また、各コイルに流れるサーボ信号の方向を反転させることで、対物レンズ２０１の駆動方向を適宜反転させることができる。

図４に、光ピックアップ１０５をディスク径方向に案内支持する支持機構の要部構成を示す。

光ピックアップ１０５は、一対の支持シャフト３０１によって、ターンテーブル３０２の径方向に摺動可能に支持されている。ここで、光ピックアップ１０５の対物レンズ２０１は、ターンテーブル３０２にディスク１００が装着されたとき、光ピックアップ１０５の移動にともなってレーザ光がディスク１００の径方向にシークされるよう配備されている。

なお、支持シャフト３０１は、タンジェンシャルチルト調整ネジ３０３とラジアルチルト調整ネジ３０４を調整することによって、その一端が上下方向に変位可能となるよう配備されている。光ディスク装置は、その組み立て時に、タンジェンシャルチルト調整ネジ３０３とラジアルチルト調整ネジ３０４を調整することによって、光ピックアップ１０５のチルト状態がメカ調整される。

かかるメカ調整は、たとえばガラス基板等、平面精度の高い基板を有する標準ディスク（ディスクフォーマットはディスク１００と同様）をターンテーブル３０２に装着し、フォーカスサーボとトラッキングサーボをＯＮ、チルトサーボをＯＦＦとした状態で、その再生信号が最も良好になるよう、タンジェンシャルチルト調整ネジ３０３とラジアルチルト調整ネジ３０４を調整することによって行われる。具体的には、標準ディスクを再生したときの再生ＲＦ信号が最大となるよう、あるいは、再生信号のジッタが最小となるよう調整する。

かかるメカ調整が行われた後、光ピックアップ１０５は、標準ディスク上の所定の半径位置に送られ、その位置でフォーカスサーボがかけられる。このとき、チルトサーボはＯＦＦとされる（トラッキングサーボはＯＮ／ＯＦＦ何れでも良い）。そして、フォーカスＯＮ状態におけるフォーカスサーボ信号のバイアス値が、サーボ回路１０９からコントローラ１１１に出力され、基準バイアス値として内蔵メモリに格納される。

かかる基準バイアス値をもとに、ディスク１００（記録再生対象ディスク）に対するチルト制御が実行される。以下、かかるチルト制御を具体化した種々の実施例について順次説明する。

図５に、本実施例におけるチルト制御動作の概要を示す。

本実施例では、組み立て時に、上記標準ディスク上の一つの半径位置のみから基準バイアス値Ｖ０取得してコントローラ１１１に格納する。ここで、基準バイアス値Ｖ０の取得位置は、たとえば、ディスク１００の半径位置のうち、ディスク最内周から最外周までの領域の略中央に位置する地点に設定する。また、基準バイアス値Ｖ０は、当該地点において、ディスク１周分のフォーカスサーボ信号のバイアス値を順次サンプリングし、これらを平均化処理することによって求める。

本実施例において、ディスク１００（記録再生対象ディスク）が光ディスク装置に装着されると、記録／再生動作に先立って、光ピックアップ１０５が、予め決められた６つの半径位置Ｐ１〜Ｐ６にアクセスされ、それぞれの半径位置において、フォーカスサーボ信号のバイアス値ｖｓ１〜ｖｓ６が取得される。すなわち、半径位置Ｐ１〜Ｐ６にてフォーカスサーボをかけたときのフォーカスサーボ信号のバイアス値が、サーボ回路１０９からコントローラ１１１に出力される。コントローラ１１１は、上述の基準バイアス値Ｖ０と同様、ディスク１周分のフォーカスサーボ信号のバイアス値を順次サンプリングし、これらを平均化処理して、それぞれの半径位置Ｐ１〜Ｐ６に対するフォーカスバイアス値ｖｓ１〜ｖｓ６を取得する。そして、取得したフォーカスバイアス値ｖｓ１〜ｖｓ６を、各半径位置Ｐ１〜Ｐ６に対応付けて、サンプル値メモリに格納する。

しかる後、コントローラ１１１は、基準バイアス値Ｖ０とフォーカスバイアス値ｖｓ１〜ｖｓ６をもとに、各半径位置Ｐ１〜Ｐ６における当該ディスク１００の傾き角θ１〜θ６を算出する。すなわち、基準バイアス値Ｖ０とフォーカスバイアス値ｖｓ１〜ｖｓ６のバイアス差Δｖｓ１〜Δｖｓ６（Δｖｓ_ｎ＝ｖｓ_ｎ−Ｖ０）を求め、求めたバイアス差Δｖｓ１〜Δｖｓ６を、標準ディスクのディスク面に対する当該ディスク１００のディスク面の変位量Δｄ１〜Δｄ６（Δｖｓｎに応じた正負の極性をもっている）に換算する。そして、ディスク最内周位置から各半径位置Ｐ１〜Ｐ６までの距離ｒ１〜ｒ６と、上記変位量Δｄ１〜Δｄ６をもとに、各半径位置Ｐ１〜Ｐ６における当該ディスク１００の傾き角θ１〜θ６を求める。

ここで、傾き角θ_ｎは、たとえば、θ_ｎ＝ｔａｎ^−１{（Δｄ_ｎ＋１−Δｄ_ｎ）／（ｒ_ｎ＋１−ｒ_ｎ）}を演算することにより求める。あるいは、θｎ＝ｔａｎ^−１（Δｄ_ｎ／ｒ_ｎ）を演算することにより求めるようにしても良い。何れの場合も、傾き角θ_ｎは、Δｄ_ｎに応じた正負の極性をもつものとなる。

上記の如く、光ピックアップ１０５は平面精度の高い標準ディスクに対してメカ調整されているため、求めた傾き角θ１〜θ６は、各半径位置Ｐ１〜Ｐ６におけるレーザ光のチルト量にほぼ整合する。コントローラ１００は、求めた傾き角θ１〜θ６から、各半径位置Ｐ１〜Ｐ６におけるチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ６を検出する。そして、検出したチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ６をもとに、ディスク１００の全領域に対するチルト量Ｔｉを近似し、記録／再生時には、この近似値Ｔｉに応じたチルトエラー信号をサーボ回路１０９に出力する。

なお、上記半径位置Ｐ１〜Ｐ６は、たとえば、半径位置Ｐ１と半径位置Ｐ６がそれぞれディスク１００の最内周位置と最外周位置に位置し、半径位置Ｐ２〜Ｐ５が、半径位置Ｐ１と半径位置Ｐ６の間をほぼ均等に分割する位置に位置するよう設定する。この他、外周部に向かうほど間隔が密になるよう半径位置Ｐ２〜Ｐ５を設定するようにしても良い。これにより、外周部において生じやすい大きな面ブレに対しても、比較的精度よく、チルト量Ｔｉを近似することができる。

図６に、記録／再生位置におけるチルト量Ｔｉの近似例を示す。

図示の如く、本近似例では、記録／再生位置が上記半径位置Ｐ１〜Ｐ６のうち隣り合う２つの半径位置の間に位置するときは、その直前に位置する上記半径位置Ｐ１〜Ｐ５のチルト量Ｔｉを当該記録／再生位置のチルト量として設定する。このとき、上記半径位置Ｐ１〜Ｐ５のチルト量Ｔｉは、たとえば、上記に示す算出式：θ_ｎ＝ｔａｎ^−１{（Δｄ_ｎ＋１−Δｄ_ｎ）／（ｒ_ｎ＋１−ｒ_ｎ）}から求める。

なお、記録／再生位置の直前に位置する半径位置Ｐ１〜Ｐ５に代えて、記録／再生位置の直後に位置する半径位置Ｐ２〜Ｐ６のチルト量Ｔｉを当該記録／再生位置のチルト量として設定するようにしても良い。このとき、半径位置Ｐ２〜Ｐ６のチルト量Ｔｉは、たとえば、算出式：θｎ＝ｔａｎ^−１{（Δｄ_ｎ−Δｄ_ｎ−１）／（ｒ_ｎ−ｒ_ｎ−１）}から求める。

図７に、本実施例におけるチルト制御の処理フローを示す。なお、本処理フローは、上記図６に示したチルト量の近似方法を用いる場合のものである。

光ディスク装置にディスクが装着されると、コントローラ１１１は、光ピックアップ１０５を上記半径位置Ｐ１〜Ｐ６にアクセスせしめ、各半径位置のフォーカスバイアス値ｖｓ１〜ｖｓ６をサーボ回路１０９から取得し、これを半径位置に対応付けて内蔵メモリに記憶する（Ｓ１０１）。次いで、組み立て時に内蔵メモリに格納された基準バイアス値Ｖ０と、Ｓ１０１にて取得したフォーカスバイアス値ｖｓ１〜ｖｓ６をもとに上述の演算を行い、各半径位置Ｐ１〜Ｐ５におけるチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を算出する（Ｓ１０２）。そして、算出したチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５をそれぞれの半径位置Ｐ１〜Ｐ５に対応付けて記憶する（Ｓ１０３）。

なお、上記Ｓ１０２における算出は、上述の如く、中間的に、バイアス差Δｖｓ１〜Δｖｓ６、ディスク面の変位量Δｄ１〜Δｄ６、傾き角θ１〜θ５を算出しながら、最終的に、チルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を求めるようにしてもよいが、かかる中間演算を省略した算出アルゴリズムをコントローラ１１１に設定しておき、このアルゴリズムに従って、Ｓ１０１にて取得したフォーカスバイアス値ｖｓ１〜ｖｓ６から直接、チルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を求めるようにしてもよい。

しかして、半径位置Ｐ１〜Ｐ５におけるチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５がコントローラ１１１に記憶された後に、記録／再生指令が入力されると（Ｓ１０４）、コントローラ１１１は、その記録／再生動作中（Ｓ１０６：ＮＯ）、Ｓ１０３で記憶したチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５をもとに、チルトエラー信号を生成し、サーボ回路１０９に出力する（Ｓ１０５）。そして、記録／再生動作が終了すると（Ｓ１０６：ＹＥＳ）、ディスクがイジェクトされなければ（Ｓ１０７：ＮＯ）、Ｓ１０４に戻り、次の記録／再生動作の開始まで待機し、ディスクがイジェクトされると（Ｓ１０７：ＹＥＳ）、内蔵メモリに記憶したフォーカスバイアス値ｖｓ１〜ｖｓ６とチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を消去して、当該ディスクに対するチルト制御を終了する。

図８に、上記Ｓ１０５におけるチルト制御の処理フローを示す。

記録／再生動作の実行中、コントローラ１１１は、記録／再生位置にシークが発生するかを検出し（Ｓ２０１）、シークが発生しなければ、現記録／再生位置に応じた半径位置をＡＤＩＰ再生回路１１０からのアドレスデータをもとに検出する（Ｓ２０２）。そして、上記半径位置Ｐ１〜Ｐ６の内、現記録／再生位置からみて直前の位置にある半径位置Ｐｋを検出し（Ｓ２０３）、かかる半径位置Ｐｋに対応するチルト量として内蔵メモリに記憶されているチルト量Ｔｉｋを、現記録／再生位置におけるチルト量として設定する（Ｓ２０４）。さらに、設定したチルト量Ｔｉｋからチルトエラー信号を生成し、これをサーボ回路１０９に供給する（Ｓ２０５）。しかして、現記録／再生位置におけるチルト制御が実行される。

一方、記録／再生動作中に、記録／再生位置にシークが発生することを検出すると（Ｓ２０１：ＹＥＳ）、コントローラ１１１は、シーク後の記録／再生位置に応じた半径位置を、シーク目標アドレスをもとに検出する（Ｓ２０６）。そして、上記半径位置Ｐ１〜Ｐ６の内、当該シーク後の半径位置からみて直前の位置にある半径位置Ｐｋを検出し（Ｓ２０３）、かかる半径位置Ｐｋに対応するチルト量として内蔵メモリに記憶されているチルト量Ｔｉｋを、シーク後の記録／再生位置におけるチルト量として設定する（Ｓ２０４）。さらに、設定したチルト量Ｔｉｋからチルトエラー信号を生成し、これをサーボ回路１０９に供給する（Ｓ２０５）。しかして、シーク後の記録／再生位置におけるチルト制御が実行される。

かかる処理フローでは、記録／再生動作に先立って取得した半径位置Ｐ１〜Ｐ５のチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５のうち、現記録／再生位置に直近する半径位置のチルト量を現記録／再生位置におけるチルト量として設定するものであるから、現記録／再生位置におけるチルト量の実測を省略でき、現記録・再生位置におけるチルト制御を簡易・迅速化することができる。

特に、記録／再生位置にシークが発生する場合には、シーク目標アドレスから、シーク後の記録／再生位置のチルト量を予測できるため、シーク発生時におけるチルト制御を著しく迅速化することができる。たとえば、シーク期間中にシーク後の記録／再生位置のチルト量を予測するようにすれば、シーク後速やかに、記録／再生動作に移行することができる。

なお、上記では、現記録／再生位置またはシーク後の記録／再生位置からみて直前の位置にある半径位置Ｐ１〜Ｐ５のチルト量をこれら記録／再生位置のチルト量として設定したが、既に述べた如く、記録／再生位置の直後に位置する半径位置Ｐ２〜Ｐ６のチルト量Ｔｉを当該記録／再生位置のチルト量として設定するようにしても良い。このとき、半径位置Ｐ２〜Ｐ６のチルト量Ｔｉは、たとえば、算出式：θｎ＝ｔａｎ^−１{（Δｄ_ｎ−Δｄ_ｎ−１）／（ｒ_ｎ−ｒ_ｎ−１）}から求める。

また、上記では、半径位置Ｐ１〜Ｐ５のチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を予め算出し内蔵メモリに記憶するようにしたが、半径位置Ｐ１〜Ｐ６のフォーカスバイアス値ｖｓ１〜ｖｓ６のみを内蔵メモリに記憶し、チルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５は、記録／再生動作中に、対応するフォーカスバイアス値と基準バイアス値をもとに、その都度算出するようにしてもよい。

図９および図１０に、かかる場合の処理フローを示す。

図９の処理フローは、上記図７の処理フローに対応するもので、図７の処理フローと対比すると、チルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を算出・記憶する処理であるＳ１０２およびＳ１０３が省略されている。すなわち、図９の処理フローでは、Ｓ１０１において、半径位置Ｐ１〜Ｐ６のバイアス値ｖｓ１〜ｖｓ６のみが取得され、内蔵メモリに記憶される。

また、図１０の処理フローは、上記図８の処理フローに対応するもので、図８の処理フローと対比すると、記録／再生位置のチルト量を算出する処理であるＳ２１０が追加されている。すなわち、図１０の処理フローでは、当該記録／再生位置からみて直前の半径位置Ｐｋが検出された後（Ｓ２０３）、内蔵メモリに記憶されている基準バイアス値Ｖ０と、対応するフォーカスバイアス値から、当該半径位置Ｐｋのチルト量Ｔｉｋが算出される（Ｓ２１０）。このとき、チルト量Ｔｉｋは、上記算出式：θ_ｎ＝ｔａｎ^−１{（Δｄ_ｎ＋１−Δｄ_ｎ）／（ｒ_ｎ＋１−ｒ_ｎ）}に基づいて求められる。そして、算出されたチルト量Ｔｉｋが、当該記録／再生位置におけるチルト量として設定され（Ｓ２０４）、チルト制御が実行される（Ｓ２０５）。

上記本実施例１は、記録／再生位置の直前（または直後）に位置する半径位置Ｐ１〜Ｐ６のチルト量Ｔｉを当該記録／再生位置のチルト量として設定するものであったが、本実施例は、図１１に示す如く、記録／再生位置の直前と直後に位置する半径位置Ｐ１〜Ｐ６のチルト量Ｔｉ、Ｔｉ＋１から当該記録／再生位置のチルト量を線形近似して設定するものである。

図１２に、記録／再生時におけるチルト制御の処理フローを示す。

同図の処理フローは、上記図８の処理フローに対応するもので、図８の処理フローと対比すると、記録／再生位置の直前と直後に位置する半径位置Ｐ１〜Ｐ６のチルト量Ｔｉ、Ｔｉ＋１から当該記録／再生位置のチルト量を線形近似して設定する処理であるＳ３０１〜Ｓ３０３が追加されている。すなわち、図１２の処理フローでは、当該記録／再生位置からみて直前と直後の半径位置Ｐｋ、Ｐｋ＋１を検出した後（Ｓ３０１）、内蔵メモリに記憶されている当該半径位置Ｐｋ、Ｐｋ＋１のＴｉｋ、Ｔｉｋ＋１から、当該記録／再生位置のチルト量を線形近似して算出する（Ｓ３０２）。そして、算出されたチルト量を、当該記録／再生位置におけるチルト量として設定し（Ｓ３０３）、チルト制御を実行する（Ｓ２０５）。

本実施例によれば、線形近似によりチルト量を算出する分、上記実施例１に比べ処理が複雑化するものの、上記実施例１のように段階的にチルト量を設定する場合に比べ、チルト量の設定精度を向上させることができる。

なお、本実施例においても、上記実施例１における変更例と同様、半径位置Ｐ１〜Ｐ６のフォーカスバイアス値ｖｓ１〜ｖｓ６のみを内蔵メモリに記憶し、チルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ６は、記録／再生動作中に、対応するフォーカスバイアス値と基準バイアス値をもとに、その都度算出するようにしてもよい。すなわち、図１３に示す如く、Ｓ３０１の直後にＳ３１０を追加し、半径位置Ｐｋ、Ｐｋ＋１のフォーカスバイアス値ｖｓｋ、ｖｓｋ＋１と基準バイアス値Ｖ０から、当該半径位置Ｐｋ、Ｐｋ＋１のチルト量Ｔｉｋ、Ｔｉｋ＋１を算出する。そして、算出したチルト量Ｔｉｋ、Ｔｉｋ＋１をもとに、当該記録／再生位置におけるチルト量を線形近似する（Ｓ３０２）。

なお、本実施例では、記録／再生位置の直前と直後に位置する半径位置Ｐ１〜Ｐ６のチルト量Ｔｉ、Ｔｉ＋１をもとに記録／再生位置のチルト量が線形近似されるため、算出式：θｎ＝ｔａｎ^−１{（Δｄ_ｎ＋１−Δｄ_ｎ）／（ｒ_ｎ＋１−ｒ_ｎ）}をもとにチルト量Ｔｉｎを求めると半径位置Ｐ６のチルト量Ｔｉ６を求めることができず、記録／再生位置が半径位置Ｐ５とＰ６の間にある場合に、当該記録／再生位置のチルト量Ｔｉを線形近似により求めることができない。この点は、上記算出式：θｎ＝ｔａｎ^−１{（Δｄ_ｎ―１−Δｄ_ｎ）／（ｒ_ｎ―１−ｒ_ｎ）}をもとにチルト量Ｔｉｎを求める場合も同様である。

よって、本実施例におけるチルト量Ｔｉｎの算出は、たとえば、上記に示した算出式：θｎ＝ｔａｎ^−１（Δｄ_ｎ／ｒ_ｎ）をもとに行うようにするとよい。これにより、半径位置Ｐ１〜Ｐ６すべてについてチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ６を求めることができ、よって、最外周部近傍（Ｐ５〜Ｐ６の区間）においても、チルト量Ｔｉｎを線形近似することができる。

上記実施例１、２は、標準ディスクから一つの基準バイアス値Ｖ０のみを取得し内蔵メモリに記憶するものであったが、本実施例は、図１４に示す如く、半径位置Ｐ１〜Ｐ６にほぼ対応する位置から基準バイアス値Ｖ１〜Ｖ６を取得して記憶し、互いに対応する基準バイアス値Ｖｎとフォーカスバイアス値ｖｓｎから、各半径位置Ｐ１〜Ｐ５のチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を求めるものである。

図１５に、本実施例における処理フローを示す。同図の処理フローは、上記図７の処理フローに対応するもので、図７の処理フローと対比すると、チルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を算出する処理であるＳ１０２がＳ１１０に変更されている。すなわち、図１５の処理フローでは、Ｓ１１０において、基準バイアス値Ｖ１、Ｖ２とフォーカスバイアス値ｖｓ１、ｖｓ２をもとに、上記θ_ｎ＝ｔａｎ^−１{（Δｄ_ｎ＋１−Δｄ_ｎ）／（ｒ_ｎ＋１−ｒ_ｎ）}に基づいて、半径位置Ｐ１のチルト量Ｔｉ１を算出する。同様に、基準バイアス値Ｖ２〜Ｖ６とフォーカスバイアス値ｖｓ２〜ｖｓ６をもとに半径位置Ｐ２〜Ｐ５のチルト量Ｔｉ２〜Ｔｉ６を算出する。そして、算出したチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を各半径位置Ｐ１〜Ｐ５に対応付けて内蔵メモリに記憶する（Ｓ１０３）。

なお、本実施例は、チルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５の算出処理のみが上記実施例１、２と相違するものであって、その他の処理ステップは、上記実施例１、２に示す処理フローと同様にして行われる。すなわち、記録／再生動作に先立ってチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を内蔵メモリに格納しておく場合には、記録／再生動作時に、図８または図１２の処理フローがそのまま実行され、また、記録／再生動作時にチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を逐次算出する場合（図１０、図１３）には、互いに対応する基準バイアス値Ｖｎとフォーカスバイアス値ｖｓｎをもとに、チルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５の算出処理が行われる。

本実施例においては、ほぼ対応する半径位置において、基準バイアス値Ｖｎとフォーカスバイアス値ｖｓｎを取得し、これらをもとに各半径位置Ｐ１〜Ｐ５のチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を算出するものであるから、上記実施例１、２の如く一つのバイアス値Ｖ０をもとにチルト量Ｔｉ１〜Ｔｉ５を算出する場合に比べ、各半径位置におけるチルト量の算出精度を向上させることができる。

すなわち、組み立て時のメカ調整は、上記の如く、再生信号の状態が最も良好になるよう、調整ネジを調整しながらチルト調整を行うものであるため、これによりチルトを完全に除去することは困難であり、かかるメカ調整上の誤差により、本来設定されるべき基準バイアス値は、全ての半径位置において同一とはならず、半径位置に応じて僅かに相違する場合が多い。このような場合に、上記実施例１、２の如く一つのバイアス値Ｖ０をもとにチルト量Ｔｉｎを算出すると、半径位置によっては、バイアス値Ｖ０が本来設定されるべきバイアス値に対し大きくずれる場合があり、このため、算出したチルト量Ｔｉｎが実際のチルト量から大きくずれる惧れがある。

これに対し、本実施例の如く、ほぼ対応する半径位置において、基準バイアス値Ｖｎとフォーカスバイアス値ｖｓｎを取得し、これらをもとに各半径位置Ｐｎのチルト量Ｔｉｎを算出するようにすれば、上記の如くメカ調整上の誤差が生じたとしても、一つの基準バイアス値Ｖ０を用いるより、基準バイアス値Ｖｎを本来のバイアス値に近付けることができ、もって、算出したチルト量Ｔｉｎが実際のチルト量から大きくずれるのを抑制することができる。もって、本実施例によれば、上記実施例１、２の如く一つのバイアス値Ｖ０をもとにチルト量Ｔｉｎを算出する場合に比べ、各半径位置におけるチルト量の算出精度をさらに向上させることができる。

以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、他に種々の変更が可能であることは言うまでもない。本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。

実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図 実施の形態に係る対物レンズアクチュエータの構成を示す図 実施の形態に係る対物レンズアクチュエータの構成を示す図 実施の形態に係るピックアップ送り機構の構成を示す図 実施例１に係るチルト量Ｔｉの求め方を説明する図 実施例１に係るチルト量Ｔｉの近似例を説明する図 実施例１に係るチルト制御の処理フローを示す図 実施例１に係るチルト制御の処理フローを示す図 実施例１に係るチルト制御の処理フローの変更例を示す図 実施例１に係るチルト制御の処理フローの変更例を示す図 実施例２に係るチルト量Ｔｉの近似例を説明する図 実施例２に係るチルト制御の処理フローを示す図 実施例２に係るチルト制御の処理フローの変更例を示す図 実施例３に係るチルト量Ｔｉの求め方を説明する図 実施例３に係るチルト制御の処理フローを示す図

符号の説明

１００ ディスク
１０５ 光ピックアップ
１０６ 信号増幅回路
１０９ サーボ回路
１１０ ＡＤＩＰ再生回路
１１１ コントローラ

Claims (5)

1. ディスク上にレーザ光を照射して情報を記録および／若しくは再生する情報記録再生装置において、
   基準ディスク上の所定の半径位置にフォーカスを合わせたときのフォーカスバイアス電圧に応じた基準値データを予め記憶する基準値データ記憶手段と、
   記録再生対象ディスク上の内周から外周へ向かって間隔が密になるように複数の半径位置にてフォーカスを合わせたときのフォーカスバイアス電圧を記録再生動作の開始に先立って検出し、検出したフォーカスバイアス電圧に応じたサンプル値データを前記半径位置に対応付けて取得するサンプル値データ取得手段と、
   前記記録再生対象ディスク上における記録再生位置の位置情報を取得する位置情報取得手段と、
   前記基準値データ記憶手段に記憶された基準値データと前記サンプル値データ取得手段によって取得されたサンプル値データの差分値から当該半径位置におけるチルト量に応じた値を取得し、取得した値と前記位置情報取得手段によって取得された位置情報に基づいて、当該記録再生位置におけるチルトサーボ信号を生成するチルトサーボ信号生成手段と、
   チルトサーボ信号生成手段によって生成されたチルトサーボ信号に応じてディスク面に対するレーザ光の傾きを調整するチルト調整手段と、
   を有する情報記録再生装置。
2. 請求項１において、
   前記チルトサーボ信号生成手段は、前記記録再生対象ディスク上の半径位置のうち前記記録再生位置からみて直前または直後の半径位置におけるチルト量に応じた値を当該記録再生位置におけるチルト量に応じた値として、当該記録再生位置におけるチルトサーボ信号を生成する、
   ことを特徴とする情報記録再生装置。
3. 請求項１において、
   前記チルトサーボ信号生成手段は、前記記録再生対象ディスク上の半径位置のうち前記記録再生位置を挟む２つの半径位置におけるチルト量に応じた値から当該記録再生位置におけるチルト量に応じた値を線形近似して当該記録再生位置におけるチルト量に応じた値を求め、求めたチルト量に応じた値をもとにチルトサーボ信号を生成する、
   ことを特徴とする情報記録再生装置。
4. 請求項１ないし３の何れかにおいて、
   前記サンプル値データ取得手段において設定される半径位置は、前記基準値データ記憶手段において設定されている半径位置に対応するよう設定されており、
   前記チルトサーボ信号生成手段は、前記サンプル値データとこれに対応する前記基準値データの差分値に基づいて、当該半径位置におけるチルト量に応じた値を取得する、
   ことを特徴とする情報記録再生装置。
5. 請求項１ないし４の何れかにおいて、
   前記記録再生対象ディスク上の記録再生位置がシークされるとき、前記チルトサーボ信号生成手段は、シーク先の目標位置を前記記録再生位置としてチルトサーボ信号を生成する、
   ことを特徴とする情報記録再生装置。

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