CN1192369C - 光盘装置 - Google Patents

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Abstract

一种光盘装置是根据在光束通过在朝与光盘100的信息道垂直的一个方向上偏离了的位置上形成的第1纹孔串和在朝与信息道垂直的另一个方向上偏离了的位置上形成的第2纹孔串时的反射光量信号(加法器130的输出)的振幅的差检测出第2TE信号并修正基于推挽法的TE信号(减法器125的输出)。这种光盘装置即使在发生径向倾斜的情况下也能稳定地进行信息的再生，并且，在记录时不会消去相邻信息道的信息。

Description

光盘装置
技术领域
本发明涉及把信息记录在形成了信息道的光盘上或从光盘再生信息的光盘装置的跟踪控制以及控制光学式拾取的光轴和光盘的信息面的倾斜的角度控制。
背景技术
在以往的光盘装置中有一种光盘装置把由半导体激光等的光源产生的光束聚焦照射在以规定转速旋转着的光盘上并再生光盘上记录着的信号。下面用图35对光盘的一个例子进行说明。在光盘上有多个信息道按螺旋状形成。图35为表示光盘剖面的模式图。借助于凸凹所形成的槽形成信息道。凹部和凸部为信息道。信息道的道距为0.74微米(以下记为μm)。用相变材料等在信息面上添附记录膜。在把信息记录在光盘上的情况下，一边进行跟踪控制使光束总是位于信息道上，一边把根据改变光束的强度，从而改变记录膜的反射率。在再生光盘上的信息的情况下，一边进行跟踪控制使光束总是位于信息道上，一边用探测器接受来自光盘的反射光。通过处理光检测器的输出再生信息。
下面用图36对地址进行说明。
涂黑了的部分为凸部。用纹孔串表示的部分为标题区域。纹孔成凸的形状。标题区域被配置在各扇区的最前头。纹孔串配置在凸部信息道和凹部信息道的中央位置上。此标题区域的构成一般称为CAPA(ComplementaryAllocated Pit Address)。标题区域由Variable Frequency Osillator(下面记为VFO)和扇区的地址构成。VFO1、2是由单一频率所记录。被用于导入锁相回路(以下称为PLL)。扇区地址1表示凹部扇区的地址，扇区地址2表示凸部扇区的地址。
光盘沿径向被划分为几个区段，各区段中每个信息道的扇区数是一定的。其构成为随着区段由内周向外周而每个信息道的扇区数也增加。
在进行信息的记录及再生的情况下，要在控制光盘的转速随着各区段的变化而变化后再进行。因此，各区段上的线速度几乎为一定。而且，标题区域以外的区域为信息的可重写区域。以下记为可重写区域。
用于跟踪控制的信息道偏移量的检测也同样从来自光盘的反射光得到。下面对一般称为推挽法的跟踪误差检测方法进行说明。以下把跟踪误差记为TE。推挽法是一种也被称为远场法的方法。其方法是通过把在光盘导向槽上所反射回绕的光作为在相对于信息道中心对称配设的2分区光检测器的受照部的输出差取出来检测TE信号。如图37所示，当光束斑的中心和槽的凸部及凹部的中心一致时可以得到左右对称的反射回绕分布，在除此之外的情况下，左右光强度不对称。当光斑扫过信息道时，2分区光检测器的输出差如图38所示。在凹部及凸部的中心，TE信号变为零。跟踪控制就是根据TE信号使光盘上的光斑朝着与信息道垂直的方向移动来进行的。使光束斑朝着与信息道垂直的方向移动是借助于跟踪调节器使聚焦透镜移动来进行的。
但是，图38中实线所示的TE信号的特性是在光束的光轴与光盘的信息面垂直的情况下的特性。在光束的光轴朝光盘的半径方向倾斜的情况下以虚线表示。以下把从与光盘的信息面垂直的面朝着光束光轴的半径方向的倾斜记为径向倾斜。
TE信号因径向倾斜而偏离。即，即使进行跟踪控制使TE信号变为零，光斑还是会偏离信息道的中心。当NA＝0.6、波长为650nm、信息道道距为0.6μm、槽深为波长/6、凸部与凹部的占空比为50％时，1度倾斜产生约0.13μm的道偏离。光束的光强分布偏离高斯分布也会产生一些偏离。在光盘装置中，由光盘的倾斜或光盘马达的旋转台等的倾斜可能会产生1度左右的径向倾斜。
如上所述，当由光盘的倾斜或光盘马达的旋转台等的倾斜产生1度左右的径向倾斜时，因产生约0.13μm的道偏离，信息的再生变得不稳定，记录时可能会消去相邻信息道的信息。
发明内容
本发明的目的就是提供一种即使在产生径向倾斜的情况下也可以稳定地进行信息再生且在记录时不会消去相邻信息道的信息的光盘装置。
为了达到此目的，本发明的光盘装置具备有把光束聚束照射在带有配置了在朝与信息道垂直的一个方向上偏离了的位置上形成的第1纹孔串和在朝与信息道垂直的另一个方向上偏离了的位置上形成的第2纹孔串的第1区域和用纹孔串记录信息的第2区域的光盘上并检测出记录在光盘上的信息的再生信号测出部、用推挽法测出信息道与光束位置偏离的第1跟踪误差测出部、从再生信号测出部输出的第1纹孔串及第2纹孔串的再生信号测出信息道与光束位置偏离的第2跟踪误差测出部、使光束横扫信息道移动的移动部、根据第1跟踪误差测出部的输出信号控制移动部使光束定位在信息道上的第1跟踪控制部、根据第2跟踪误差测出部的输出信号改变第1跟踪控制部的目标位置的修正部。
还有，本发明的光盘装置具备有把光束聚束照射在配置了在朝与信息道垂直的一个方向上偏离了的位置上形成的第1纹孔串和在朝与信息道垂直的另一个方向上偏离了的位置上形成的第2纹孔串的光盘上并检测出记录在光盘上的信息的再生信号测出部、用推挽法测出信息道与光束位置偏离的第1跟踪误差测出部、从再生信号测出部输出的第1纹孔串及第2纹孔串的再生信号测出信息道与光束位置偏离的第2跟踪误差测出部、使光束横扫信息道移动的移动部、改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、根据第1跟踪误差测出部的输出信号控制移动部使光束定位在信息道上的跟踪控制部、根据第2跟踪误差测出部的输出信号改变跟踪控制部的目标位置的修正部、根据修正部工作时的第1跟踪误差测出部的输出信号控制角度可变部的角度控制部。
在上述的构成上，本发明的光盘装置基于根据在光束通过在朝与信心导垂直的一个方向上偏离了的位置上形成的第1纹孔串和在朝与信心导垂直的另一个方向上偏离了的位置上形成的第2纹孔串上的时候的再生信号测出光束与信息道的位置偏离的第2 TE信号修正基于用推挽法的TE信号的跟踪控制目标位置，因此，可以修正因径向倾斜导致的信息道偏离，光斑被控制在信息道的中心上。
还有，在基于根据在光束通过在朝与信心导垂直的一个方向上偏离了的位置上形成的第1纹孔串和在朝与信心导垂直的另一个方向上偏离了的位置上形成的第2纹孔串上的时候的再生信号测出光束与信息道的位置偏离的第2TE信号修正了基于用推挽法的TE信号的跟踪控制目标位置的时候，根据用推挽法的TE信号控制径向倾斜，因此，光束的光轴与光盘的信息面垂直。
附图说明
图1为本发明实施例1中的光盘装置的方框图。
图2为表示上述实施例1中的标题区域的构成和全反射光量的图。
图3为表示上述实施例1中的标题区域的构成和全反射光量的图。
图4为表示上述实施例1中的标题区域的构成和全反射光量的图。
图5为用于说明上述实施例1中的第2 TE信号的波形图。
图6为用于说明上述实施例1中的信号电路的门控信号的波形图。
图7为上述实施例1中的绝对值测出电路134的方框图。
图8为用于说明上述实施例1中的绝对值测出电路的波形图。
图9为上述实施例1中的LPF135的方框图。
图10为上述实施例1中的LPF153的方框图。
图11为上述实施例1中的LFF153的特性图。
图12为上述实施例1中的跟踪控制系统的方框线图。
图13为上述实施例1中的跟踪控制系统的特性图。
图14为上述实施例1中的跟踪控制系统的整个方框线图。
图15为用于说明上述实施例1中的限幅器157的波形图。
图16为表示上述实施例1中的检索时的第1 TE信号的波形图。
图17为本发明实施例2中的光盘装置的方框图。
图18为上述实施例2中的角度传感器的方框图。
图19为表示上述实施例2中的角度传感器的特性的特性图。
图20为本发明实施例3中的光盘装置的方框图。
图21为上述实施例3中的PLL电路430的方框图。
图22为用于说明上述实施例3中的PLL电路430的波形图。
图23为表示上述实施例3中的晃动测出信号与径向倾斜关系的特性图。
图24为本发明实施例4中的光盘装置的方框图。
图25为用于说明上述实施例4中的径向倾斜测出方法的图。
图26为用于说明上述实施例4中的径向倾斜测出信号的偏离的模式图。
图27为上述实施例4中的LPF503的方框图。
图28为本发明实施例5中的光盘装置的方框图。
图29为本发明实施例6中的光盘装置的方框图。
图30为表示上述实施例6中的全反射光量信号振幅与径向倾斜的关系的特性图。
图31为本发明实施例7中的光盘装置的方框图。
图32为表示上述实施例7中的第1 TE信号振幅与径向倾斜的关系的特性图。
图33为本发明实施例8中的光盘装置的方框图。
图34为表示上述实施例8中的径向倾斜测出信号与径向倾斜及信息道偏离的关系的特性图。
图35为说明上述以往例的光盘装置时的光盘的模式图。
图36为说明上述以往例的光盘装置时的标题区域的模式图。
图37为说明上述以往例的光盘装置时的用于说明使用推挽法的TE信号测出方法的模式图。
图38为说明上述以往例的光盘装置时的用于说明使用推挽法的TE信号与径向倾斜的关系的模式图。
图39为用于说明图10所示的LPF153的动作的波形图。
图40为实施例9中的光盘装置的方框图。
图41为用于说明上述实施例9中的径向倾斜检测方法的图。
图42表示上述实施例9中的倾斜检测特性。
图中，100：光盘，101：马达，103：聚焦透镜，104：调节器，105：全反射镜，106：光束，107：1/4波长板，108：耦合透镜，109：激光，110：偏光分光束镜，111：测量透镜，112：圆柱透镜，113：光检测器，114：传送马达，115：传送台，116、117、118、119：I/V转换器，120、121、123、124、142：加法器，122、125：减法器，131：地址再生电路，132：门控生成电路，134：绝对值测出电路，135、146：LPF，136、137、139：S/H电路，140：微处理器，143、149：A/D变换器，144、150：位相补偿滤波器，145、158：功率放大器，147、151：D/A变换器，156：乘法器，157：限幅器，171：马达控制电路，175：激光驱动电路。
具体实施方式
实施例1
下面对本发明的实施例1用为其方框图的图1进行说明。
光盘100被装在马达101的旋转轴102上，按规定的转速旋转着。
光盘100带有以凹凸按螺旋状所形成的信息道。凸部及凹部都是信息道，记录有信息。信息道的道距为0.6μm。而且，凸部及凹部的宽度约为0.6μm。
在传送台115上装有激光109、耦合透镜108、偏光分束器110、1/4波长板107、全反射镜105、光检测器113及调节器104，传送台115被构成为借助于传送马达114在光盘100的径向上移动。
由装在传送台115上的激光109产生的光束106在通过耦合透镜108变成平行光后，通过偏光分束器110及1/4波长板107，被全反射镜105反射，再借助于聚焦透镜103被聚焦照射在光盘100的信息面上。
由光盘100的信息面所反射的反射光通过聚焦透镜103后被全反射镜105反射，再通过1/4波长板107、偏光分束器110、测量透镜111、圆柱透镜112后入射到由4个受照部组成的光检测器113上。聚焦透镜103被装在调节器104的可动部上。还有，因聚焦控制与本发明没有直接关系，略去部分说明。调节器104是由聚焦用的线圈、跟踪用的线圈、聚焦用的永久磁铁以及跟踪用的永久磁铁构成。因此，当用功率放大器158把电压加在调节器104的聚焦用的线圈(未图示)上时，在线圈上流过电流，线圈受到来自聚焦用的永久磁铁(未图示)的磁力。因此，聚焦透镜103在与光盘100的面垂直的方向(图中上下方向)上移动。聚焦透镜103依照表示光束的焦点与光盘信息面的偏离的聚焦误差信号被控制为使光束106的焦点总是位于光盘100的信息面上。
还有，当用功率放大器145把电压加在跟踪用的线圈(未图示)上时，线圈上流过电流，并受到来自跟踪用的永久磁铁的磁力。因此，聚焦透镜103在光盘100的径向即横跨光盘100上的信息道的方向(图上为左右方向)上移动。
光检测器113由4个受照部形成。入射到了光检测器113上的来自光盘的反射光各自被转换成电流，再被送往I/V转换器116、117、118和119。I/V转换器116、117、118和119把输入的电流转换成与该电流强度相应的电压。
加法器120、121、123、124、130把输入信号相加后输出。减法器122、125把输入信号相减后输出。
减法器122的输出是表示光束的焦点与光盘100信息面的偏离的聚焦误差信号。聚焦误差信号被送到模拟·数字变换器149、位相补偿电路150、数字·模拟变换器151和功率放大器158。由功率放大器158导致电流在调节器104的聚焦用的线圈上流动。
模拟·数字变换器149(以下记为A/D变换器)把模拟信号转换为数字信号。还有，数字·模拟变换器151(以下记为D/A变换器)把数字信号转换为模拟信号。
位相补偿电路150为数字滤波器，用于稳定聚焦控制系统。因此，聚焦透镜103根据聚焦误差信号被驱动，使光束的焦点总是位于信息面上。
图1所示的光学系统构成一般被称为推挽法的TE信号检测方法。因此，减法器125的输出成为表示照射在光盘上的光束的光斑与光盘100的信息道的偏离的TE信号。以下把减法器125的输出记为第1 TE信号。第1 TE信号被送往开关155、A/D变换器143、加法器142、位相补偿电路144、D/A变换器170和功率放大器145。由功率放大器145导致电流在调节器104的跟踪用的线圈上流动。
位相补偿电路144为数字滤波器，用于稳定跟踪控制系统。这样，因聚焦透镜103被第1 TE信号所驱动，光束的光斑总在跟踪信息道。
还有，第1 TE信号通过低通滤波器146、D/A变换器147、加法器148后被送到功率放大器129中。这样，传送马达114被第1 TE信号的低频成分所控制。即，在跟踪控制系统中，对高频的干扰用调节器104跟踪，对低频成分的干扰用传送马达114跟踪。
加法器130把加法器123和加法器124的输出相加。即加法器130的输出成为光检测器113的全受光量。以下把加法器130的输出信号记为全反射光量。加法器130的输出被送到地址再生电路131中。地址再生电路131再生扇区地址后送到微处理器140(以下记为微机)。而且，把与地址同步的信号送到门控生成电路132。
门控生成电路132把在地址部上变为高电平的ID信号(参照图6(c))输出到开关133。此ID信号是从上次地址部的结束时刻起经过规定的时间后上升的信号。而且，在地址部的VFO1之后紧接着有脉冲(参照图6(d))被生成，此脉冲输出到采样·保持电路136(以下记为S/H电路)。以下把此脉冲记为VFO1信号。而且，在地址部的VFO2之后紧接着有脉冲(参照图6(e))，此脉冲输出到S/H电路137。以下把此脉冲记为VFO2信号。而且，在VFO2信号之后紧接着有脉冲(参照图6(f))被生成，此脉冲输出到S/H电路139。以下把此脉冲记为数据刷新信号。VFO1信号、VFO2信号、数据刷新信号都是从ID信号的上升沿开始经过各自规定的时间后被输出的脉冲信号。在门控生成电路132中设有对这样的规定时间进行计数的计数器。
开关133、HPF172、绝对值电路134、LPF135、S/H电路136、137、139以及减法器138构成用于检测第2 TE信号的电路。S/H电路139的输出成为第2 TE信号。
第2 TE信号经A/D变换器152被转换为数字信号，再经过乘法器156、LPF153、限幅器157以及开关154后被送往加法器142。
下面说明在使跟踪控制工作时的微机140的动作。
在初始状态下，微机140在开关154开了的状态下关闭开关155使跟踪控制工作。聚集透镜103被第1TE信号所驱动。
地址再生电路131读取地址，再把地址送往微机140。微机140根据地址识别区段。然后把指令送至马达控制电路171使得光盘100的转速变成与其区段相应的转速。当光盘100的转速变成指定的转速时，地址再生电路131把与地址同步了的信号送往门控生成电路132。
门控生成电路132输出ID信号、VFO1信号、VFO2信号及数据刷新信号。VFO1信号被送至S/H电路136，对CAPA的前半部分如VFO1的部分上的再生信号进行采样。VFO2信号被送至S/H电路137，对CAPA的前半部分如VFO2的部分上的再生信号进行采样。数据刷新信号紧接VFO2信号之后(比如几微秒一几十微秒)使保持在S/H电路136和S/H电路137上的信号电平之差在减法器138中进行计算并使该差保持在S/H电路139。
这样，第2 TE信号从S/H电路139被输出。
微机140保持闭合了开关155的状态，再闭合开关154，按照第2 TE信号并根据第1 TE信号对工作着的跟踪控制系统的目标位置进行修正。通过加法器142把偏置加在基于第1 TE信号的跟踪控制系统上。
下面对各块进行详细说明。
首先，用图2对第2 TE信号的检测方法进行说明。
图2表示光斑通过凸部的信息道的中心的情况。
借助于纹孔，来自光盘的反射光量被调制。波形(b)表示加法器130的输出。VFO1的纹孔串的中心线与光斑的中心所通过的轨迹之间的距离L1和VFO2的纹孔串的中心线与光斑的中心所通过的轨迹之间的距离L2相等，因此，VFO1的振幅m1与VFO2的振幅n1相等。
图3表示光斑通过信息道与信息道的中间位置的情况。
波形(b)表示加法器130的输出。在图3的情况下，VFO1的纹孔串与光斑的距离L1比VFO2的纹孔串光斑的距离L2短，因此，振幅m2比VFO2上的振幅n2大。
图4表示光斑位于信息道与信息道的中间位置的情况。
波形(b)表示加法器130的输出。在图4的情况下，VFO1的纹孔串与光斑的距离L1比VFO2的纹孔串光斑的距离L2长，因此，振幅m3比VFO2上的振幅n3小。
如图2、3、4所示，通过检测VFO1与VFO2上的全反射光量信号的振幅差可以检测出光斑与信息道的偏离。
图5表示信息道偏离与第2 TE信号的关系。而且，在凸部的信息道和在凹部的信息道上离开VFO1与VFO2的信息道中心的偏离量相反，因此，第2 TE信号相对于信息道偏离的斜率相反。
下面对检测VFO1与VFO2上的全反射光量信号的振幅的方法进行说明。
图6表示门控生成电路132的输出信号与加法器130的输出波形的关系。
(a)为光斑与标题区域的关系。波形(b)表示加法器130的输出，波形(c)表示ID信号，波形(d)表示VFO1信号，波形(e)表示VFO2信号，波形(f)表示数据刷新信号。
门控生成电路132以前一个扇区上的地址再生电路131输出的地址同步信号为基准分别生成下一个扇区的ID信号、VFO1信号、VFO2信号和数据更新信号。在其内部有振荡器和对该振荡器的输出进行计数的计数器。按照地址同步信号对计数器清零，依照计数器的值生成门控信号。
ID信号在从时间t10至时间t14的标题区域上变为高电平。VFO1信号为在VFO1后端的时间t11处变为高电平的脉冲信号。VFO2信号为在VFO2后端的时间t12处变为高电平的脉冲信号。数据刷新信号为在VFO2信号的后端的时间t13变为高电平的脉冲信号。
当ID信号变为高电平时，开关133闭合。这样加法器130的输出信号通过HPF172被输入到绝对值电路134中。绝对值电路134以零电平为基准输出输入信号的绝对值。HPF172把直流成分除去。LPF135把输入信号的高频成分除去后输出。
LPF135的输出电平变成与图2、3、4所示的m及n相应的电平。当控制端c变为高电平时，S/H电路136变为采样状态，当控制端c变为低电平时，为保持状态。而且，S/H电路136、139具有相同的构成。
这样，保持在时间t11处的LPF135的输出信号并输出。在此时刻，S/H电路136的输出分别变为图2、3、4上的m1、m2和m3的值。同样，S/H电路137保持在时间t12处的LPF135的输出信号并输出。在此时刻，S/H电路137的输出分别变为图2、3、4上的n1、n2和n3的值。
减法器138把S/H电路136和S/H电路137的输出信号的差输出。即表示在时间t11以后减法器的输出为(m-n)的值。
S/H电路139保持在时间t13处的减法器138的输出信号并输出。
这样，S/H电路139的输出表示VFO1上全反射光量信号的振幅与VFO2上全反射光量信号的振幅之差。即成为第2TE信号。
下面用图7对HPF172及绝对值电路134进行说明。电容器200、电阻201、211和开关202构成HPF172。还有，放大器203、204、二极管205、206和加法器207构成绝对值电路134。端子208被接到开关133上，端子209接到LPF135上。而且，端子210接到微机140上。
开关202被构成为在端子210为高电平时闭合，为低电平时打开。即HPF的时间常数可以转换。
HPF的输出被送到增益为1倍的放大器203和增益为-1倍的放大器204上。在放大器203、204上连接着二极管205、206。这样，在放大器203、204的输出为负的情况下，输出变成零。放大器203、204的输出被送到加法器207中。加法器207的输出送至端子209。
下面用图8说明动作。波形(a)表示输入到端子208上的波形，波形(b)表示ID信号，波形(c)表示放大器203的输出，波形(d)表示放大器204的输出，波形(e)表示加法器207的输出。而且，端子210当成是低电平。
加法器207的输出变成以VFO部的全反射光量信号的振幅的中心为基准转换成绝对值的波形。
下面用图9对LPF135进行说明。端子300被接到绝对值电路134上。端子303与S/H电路136、137连接。端子306与微机140连接。电阻301、305以及电容器302构成LPF。开关304被构成为当端子306设为高电平时闭合、设为低电平时打开。这样，可以转换时间常数。LPF135用上述构成把为绝对值电路134的输出信号的图8(e)所示的波形的由纹孔产生的高频成分除去。这样，LPF135的输出就表示VFO的全反射光量信号的振幅。
下面对把第2 TE信号加在跟踪控制系统上的这一块进行说明。
第2 TE信号由A/D变换器152转换成数字信号后通过乘法器156被送到LPF153上。
作为数字滤波器的LPF135的方框图表示于图10。
端子330与乘法器156连接。还有，端子331与限幅器157连接。端子335、337与微机140连接。乘法器334、338把系数乘在输入信号上后输出。延迟电路333只把输入信号延迟周期T时间后输出。各个电路在与周期T的基准时钟同步后以数字值处理。
图11表示滤波器的增益及位相特性。特性(a)表示增益特性。纵轴以分贝(dB)表示。横轴以频率的对数(Log)表示。到1Hz为止为平坦的特性，在1Hz以上变成-20dB/dec。在10Hz处变为0dB。特性(b)表示位相特性。纵轴以度表示位相。横轴与特性(a)相同。
下面对把第2 TE信号加在跟踪控制系统上的情况下跟踪控制系统的特性的差进行说明。即为在开关154闭合着的状态下的特性。
把作为第1 TE信号的减法器125的输出设为P、把加法器142的输出设为Q、把作为第2 TE信号的S/H电路139的输出设为R。图12表示其方框线图。
信号线O表示光斑的位置。信号线T表示信息道的位置。减法器350的输出表示光斑与信息道的偏离。信号U为表示真的光斑与信息道的偏离的信号。以下把信号U记为真的道偏离。真的道偏离信号U通过0次保持器354、LPF351被送到加法器353。0次保持器354的输出表示第2 TE信号。而且，LPF351相当于上述数字滤波器的LPF153。0次保持器354与当第2 TE信号为只由地址部测出的信号时的情况相对应。
信号线D表示上述径向倾斜所导致的偏置。这样，加法器352的输出表示第1 TE信号。
信号线U和信号线Q的传输特性如图13所示。而且，信号线D的电平设为0。
特性(a)表示增益特性。纵轴以分贝(dB)表示。横轴以频率的对数(Log)表示。到1Hz为止为平坦的特性，在1Hz以上变成-20dB/dec。在10Hz处变为0dB。在10Hz以上变成0dB。
特性(b)表示位相特性。纵轴以度表示位相。横轴与特性(a)相同。
在只用第1 TE信号的跟踪控制系统的情况即在开关154打开着的情况下，增益与频率无关，变成0dB。这样，借助于闭合开关154使10Hz以下的增益增高。在10Hz以下的频率上第2 TE信号占统治地位。第2 TE信号为使真的道偏离信号通过0次保持器后的信号，因此，不受信号线D的影响。这样，信号线D的影响被降低，即使有径向倾斜，光斑也会跟踪信息道的中心。
下面用图14的方框图对降低径向倾斜的影响的效果进行说明。方框383为用于位相补偿的滤波器、驱动电路以及跟踪调节器的联合体。设传输函数为G。方框383的输出表示光斑的位置。方框383为把LPF351及0次保持器354合并了的装置，该传输函数为K。-1倍的乘法器380为用作负反馈的反相放大器。
设方框383的输出为V。
V相对于根据径向倾斜产生的偏置D的传输函数以下式表示：
V/D＝-G/[1+(1+K)×G]。
当没有第2TE信号的修正时，传输函数以下式表示：
V/D＝-G/(1+G)。
因G的增益远大于1，所以，由第2 TE信号导致的修正相对于D的输出的影响被降低为约1/K倍。K的增益在1Hz以下为20dB，因此，在1Hz以下偏置D的影响被降低为1/10。
下面对前馈处理进行说明。
地址再生电路131读取地址，再把地址送往微机140。微机140根据地址识别区段。然后把指令送至马达控制电路171使得光盘100的转速变成与其区段相应的转速。当光盘100的转速变成指定的转速时，地址再生电路131把与地址同步了的信号送往门控生成电路132。
门控生成电路132输出ID信号、VFO1信号、VFO2信号及数据刷新信号。这样，第2 TE信号从S/H电路139被输出。
这样，当存在DC成分的径向倾斜时，作为S/H电路139的输出的第2 TE信号带有与径向倾斜相应的偏置。但是，即使闭合开关154响应到稳定为止需要花几个ms。
下面说明其理由。由图13的特性图可知第1TE信号和第2 TE信号的增益是在10Hz处变得相等。被设计为此频率的理由是因为受由每道相当的扇区数和转速决定的第2 TE信号的测出的频率所限制。因此，由第2 TE信号的修正动作的频带被限制为几10Hz。
于是，微机140根据将要闭合前的第2TE信号设定LPF153的初始值。
下面详细说明动作。而且，假设由径向倾斜所产生的偏置D为一定。
在图14中方框382的输出信号相对于D的传输函数为：
-K×G/[(1+K)×G+1]。
设此传递函数的DC上的增益为Gout。还有方框382的输入信号相对于D的传输函数为：
-G/[(1+K)×G+1]。
设此传递函数的DC上的增益为Gin。而且，K及G为在装置设计时决定的值，微机140预先存储着。
这样，当开关154被闭合且基于第2 TE信号的修正动作稳定时，方框382的输出变为D×Gout。而且，方框382的输入值为D×Gin。而且，如上所述，单只是闭合开关154到方框382的输出变为D×Gout要花几ms。于是，微机140取入将要闭合开关154前的第2 TE信号的电平。因径向倾斜所产生的偏置为D时，在开关154打开的状态下第2 TE信号的电平为-D。
然后，微机140在基于第2 TE信号的修正动作稳定了的状态下用取入的-D的值计算方框382的输出电平D×Gout。如上所述，方框382为把0次保持器354和LPF351合并3的装置。并且，LPF351相当于LPF153。
于是，微机140在图10的LPF153的开关336的端子b上设定D×Gout的值。
还有，微机140连接开关336的端子b和端子c。这样，D×Gout的值被输入到延迟电路333中。
微机140在送往开关336的端子b的设定值被取到延迟电路333后把开关336的端子a与端子c连接。延迟电路333的输出通过乘法器334及加法器332后从端子331输出。跟踪控制系统的频带通常为3KHz左右，因此，光斑在信息道的中心在几10μs的时间内移动。当光斑在信息道的中心移动时，LPF153的输入值变成D×Gin。而且，LPF153的截断频率为1Hz，因此，在几10μs的时间内，LPF153的输出几乎不变，还是保持D×Gout。这样，基于第2 TE信号的修正动作几10μs就结束了。
下面用图39说明动作。
图39的(a)表示LPF153的输出波形。波形(b)表示开关336的端子b的电平，波形(c)表示开关336的端子d的电平，波形(d)表示基准时钟，波形(e)表示光斑的位置。
还有，开关336被构成为在端子d为高电平的状态下连接端子a与端子c，在端子d为低电平的状态下连接端子b与端子c。
微机140在时间t40处取入第2 TE信号的电平-D。然后，计算D×Gout的值，把计算值设定在开关336的端子b上。微机140在由时间t40至时间t42的周期设定低电平到开关336的端子d上，因此，开关336的端子b和端子c连接。这样，在与基准时钟同步后在时间t41处微机140的计算结果被送到延迟电路333。在时间t43处，延迟电路333的输出电平为D×Gout。延迟电路333的输出信号通过乘法器334以及加法器332从端子331输出。微机140在时间t41处闭合开关154，因此，光斑在信息道的中心在几10μs的时间内移动，如波形(e)所示。也就是说，可以在几10μs的时间内使基于第2 TE信号的修正动作稳定。
下面对乘法器156进行说明。
乘法器156是用于调整第2 TE信号的检测系统的增益的。
微机140打开开关154并在加法器142的端子c上设定电压。基于第1 TE信号的跟踪控制系统根据设定电压离道。设定乘法器的系数使得此时的乘法器156的输出值与在端子c上设定的电压值相等。通过调节乘法器156的系数可以把由加法器142对第1 TE信号和第2 TE信号进行相加时的增益设成指定的关系。即可以正确地实现图13的特性。
在以下，将乘法器156的输出称为归一化的第2TE信号。
下面对限幅器157进行说明。当输入信号的电平在规定的范围内时，限幅器157照着输入信号的原样输出。但是，当输入信号的电平超过规定的范围时，对输出值限幅。图15表示输入与输出的关系。
当输入信号的电平超过B时，输出信号被限幅为B。
当使基于第2 TE信号的修正工作时，与径向倾斜相应的偏置会在第1 TE信号上产生。
图16上表示在进行横跨1条信息道的检索时的第1 TE信号。虚线表示基于第2 TE信号的修正不工作时的情况。在检索期间之外的第1 TE信号中偏置会产生。偏置是引起第2 TE信号的原因。即，L为径向倾斜所导致的偏置。因为此偏置，第1 TE信号的对称性变差，所以，当L大时，检索后的跟踪控制系统变得不稳定。而且，即使在通常的跟踪控制工作着的状态下，单侧的动态范围变窄，因此，对于振动等变得不稳定。
于是，通过对修正施加限制以确保稳定性。而且，在检索时打开开关154，停止基于第2 TE信号的修正。也就是说，在检索将要开始前打开开关154以开关155，然后，到达目的信息道后再闭合开关155使跟踪控制工作。当跟踪控制稳定后闭合开关154。由此，导入跟踪变的稳定。一般来说，再生时道偏离的容许值比记录时道偏离的容许值大。因为重写时会残留原信息，还会消除相邻道上的信息，所以，记录时道偏离的容许值小。这样，只当进行记录时闭合开关154才进行基于第2 TE信号的修正。
由此，没有必要在检索时频繁开闭开关154。
在以2倍的线速度再生此光盘的情况下，标题区域的VFO的频率变为2倍，转换绝对值电路134及LPF135的特性。可以正确地检测出VFO上的全反射光量信号的振幅。
实施例2
下面对本发明的实施例2用其方框图的图17进行说明。在与上述实施例1相同的方框上附上同一符号并略去说明。
与实施例1的不同之处在于构成上输送台185以旋转轴180为中心在半径方向上的倾斜可以改变。倾斜的调节是通过马达183进行的。马达183与功率放大器184连接着。角度传感器181检测出光盘信息面与输送台185的表面的半径方向的倾角。输送台185的表面被设计成与光轴垂直，因此可以测出光盘信息面与光轴的倾角。即可以测出径向倾斜。角度传感器181的输出通过减法器182被送往功率放大器184。减法器182构成为当光盘的信息面与光轴之间的角度为90度时其输出应为零。这样，输送台185的角度被控制成使光盘的信息面与光轴之间的角度为90度。
在实施例1中，对改变跟踪控制系统的目标位置使得VFO1与VFO2上的全反射光量信号的振幅相等的构成进行了说明，但严格说来，当存在径向倾斜时，即使VFO1与VFO2上的振幅相等还会产生道偏离。在有0.4度的径向倾斜的情况下会产生0.018μm左右的道偏离。
于是，在实施例2中添加倾斜调节功能，用于消去径向倾斜的影响。因此，光斑可以比较正确地跟踪信息道的中心。
下面用图18对角度传感器181的构成进行说明。
在基座402上装有LED400和2分区光检测器401。
来自LED400的照射束由光盘的信息面反射后入射到光检测器401。光检测器401被安装成当角度Q为90度时入射到光检测器各受照部的光量相等。当角度Q偏离90度时，入射到光检测器备受照部的光量变成不相等。图19表示相对于角度Q的减法器182的输出。在90度处变为零，大于90度时为正，小于90度时为负。
在实施例2中添加调节调节功能，因此，径向倾斜几乎被控制为零。这样，只要VFO1与VFO2上的全反射光量信号的振幅相等，光斑就可以正确地跟踪信息道的中心。
实施例3
下面对本发明的实施例3用其方框图的图20进行说明。在与上述实施例2相同的方框上附上同一符号并略去说明。
与实施例2的不同之处在于角度传感器181和减法器182被消除、添加了HPF420、421、428、2值化电路422、423、429、位相比较器424、LPF425、开关426以及PLL电路430。而且，微机140和光盘100分别被替换为微机427和光盘428。
HPF420、421、428为用于除去输入信号的直流成分的HPF。2值化电路422、423、429以零电平为基准把输入信号转换成高电平和低电平这2值后输出。位相比较器424比较输入信号的位相，在端子a的位相超前端子b的位相的期间输出电压E，在端子a的位相落后端子b的位相的期间输出电压-E。
图20所示的光学系统和HPF420、421、2值化电路422、423和位相比较器424、LPF425表示一般称为位相差检测方法的TE信号检测方法。位相差检测方法为在由凹凸纹孔串所形成的信息道上的TE信号检测方法。而且，以下把由凹凸纹孔串所形成的信息道的区域记为压花区域。
位相差检测方法不会产生推挽检测法产生的因上述径向倾斜导致的道偏离。
光盘428在内周和外周带有压花区域。
2值化电路429把通过HPF428的加法器130的输出的全反射光量信号2值化。
PLL电路430具有用于产生与2值化电路429的输出同步的时钟信号的锁相回路。PLL电路430带有位相比较器、LPF、VCO和分频器。而且，通过了LPF的位相比较器的输出的信号表示纹孔串的晃动。以下记为晃动检测信号。
微机427驱动输送马达114使光束的光斑在内周的压花区域上移动。微机427连接开关426的端子b与端子c并通过开关155把由位相差产生的TE信号送至A/D变换器143。微机427在开关154打开了的状态下闭合开关155并使跟踪控制工作。PLL电路430把晃动检测信号送往微机427。微机427通过功率放大器184驱动马达183使得晃动检测信号变为最小。当晃动检测信号变为最小时停止驱动马达183。
晃动检测信号变为最小时的角度就是径向倾斜为零时的角度。
微机427打开开关155并停止跟踪控制。然后通过功率放大器129驱动输送马达114，并使光斑在以凹凸形成信息道的可重写区域上移动。
移动后，开关426的端子a与端子c连接，闭合开关155并使跟踪控制工作。
下面说明使跟踪控制工作时的微机427的动作。
微机427闭合开关155并使跟踪控制工作，地址再生电路131读取地址并把地址送到微机427。微机427依照区段设定转速。地址再生电路131把地址同步信号送到门控生成电路132。
门控生成电路132生成规定的门控信号，第2 TE信号从S/H电路139被输出。
微机427闭合开关154并根据第2 TE信号修正基于第1 TE信号动作的跟踪控制系统。
与实施例2一样，在实施例3中添加倾斜调节功能，用于消去径向倾斜的影响。而且，在实施例3中，根据在压花区域上的晃动检测信号检测径向倾斜。
这样，只要VFO1与VFO2上的全反射光量信号的振幅相等，光斑就可以正确地位于信息道的中心。
下面对PLL电路430进行详细说明。把方框图表示于图21。
端值450被连接在2值化电路429上。端子455与微机427连接。位相比较器451比较输入信号的位相，在端子a的位相超前端子b的位相的期间输出电压E，在端子a的位相滞后端子b的位相的期间输出为负电压的电压E。LPF452除去位相比较器451的输出的高频成分并送至电压控制振荡器453(以下记为VCO453)。VCO453产生频率与输入电压相应的时钟信号。分频器454把输入的时钟信号进行分频后送往位相比较器451的端子a。
下面用图22说明动作。
波形a表示分频器454的输出，波形b表示端子450的波形，波形c表示位相比较器451的输出。
在时间t20处，波形a变为高电平，在时间t21处，波形b变为高电平。位相比较器451的端子a的信号的位相比端子b的信号的位相超前，因此，在从时间t20至t21期间，位相比较器451的输出为E。在时间t22和t23处，两波形升至高电平的时间为同时，因此，位相比较器451的输出为零。在时间t24处，波形b变为高电平，在时间t25处，波形a变为高电平。位相比较器451的端子b的信号的位相比端子a的信号的位相超前，因此，在从时间t24至t25期间，位相比较器451的输出为-E。
LPF452除去位相比较器451的输出的高频成分并送至VCO453。这样，VCO453的输出被控制成其位相与输入到位相比较器451的端子b的信号的位相一致。LPF452的输出表示从光盘再生的信号和由VCO453产生的信号的晃动。
此晃动检测信号对于径向倾斜显示图23那样的特性。径向倾斜为零时达到最小。
即，通过把晃动检测信号调为最小可以把径向倾斜调为零。
在实施例3中，在内周的压花区域上进行径向倾斜的调节，但也是可以在内周和外周上分别进行，还可根据半径位置改变调节值。而且，与半径位置相应的调节值可以通过线性插值得到。
在此情况下，与只在内周上进行调节的情况相比，提高了调节精度。
实施例4
下面对本发明的实施例4用其方框图的图24进行说明。在与上述实施例3相同的方框上附上同一符号并略去说明。
与实施例3的不同之处在于添加了加法器504、开关502、LPF503和D/A变换501。还有，微机427被替换成微机505。
在实施例4中，用于角度调节的径向倾斜的检测是基于由第2 TE信号修正了跟踪控制系统的目标位置时的第1 TE信号的电平进行的。
还有，用内周压花区域对径向倾斜的检测信号的偏值进行修正。
下面对用于角度调节的径向倾斜的检测方法进行说明。
图25(a)表示在径向倾斜为-0.4度的情况下第1 TE信号与信息的关系。虚线表示没有倾斜的情况。在径向倾斜为-0.4度的情况下，启动跟踪控制时，第1 TE信号的电平变成零。在此状态下启动基于第2 TE信号的修正时，TE信号的电平变为-R。这是因为通过基于第2 TE信号的修正使光斑被控制在信息道的中心。
图25(b)表示在没有径向倾斜的情况下第1 TE信号与信息的关系。在倾斜为0度的情况，启动跟踪控制时，第1 TE信号的电平变成零。在此状态下启动基于第2 TE信号的修正时，TE信号的电平不变，还是为零。
图25(c)表示在径向倾斜为0.4度的情况下第1 TE信号与信息的关系。虚线表示在没有径向倾斜的情况。在径向倾斜为0.4度的情况下，启动跟踪控制时，第1 TE信号的电平变成零。在此状态下启动基于第2 TE信号的修正时，TE信号的电平变为R。
即当启动基于第2 TE信号的修正时的第1 TE信号的电平对应于径向倾斜。
于是，微机505闭合开关502并根据第1 TE信号驱动马达183。这样，径向倾斜被控制使之为零。随着倾斜接近零，第1TE信号的径向倾斜所导致的道偏离也接近零。LPF503把角度控制系统的频带限制在几Hz以下。
下面对加法器506进行说明。加法器506对径向倾斜的检测信号的偏置进行修正。
微机505驱动输送马达114使光束在内周的压花区域上移动。微机505连接开关426的端子b与端子c并通过开关155把由位相差产生的TE信号送至A/D变换器143。微机505在开关154打开了的状态下闭合开关155并使跟踪控制工作。PLL电路430把晃动检测信号送往微机505。微机505通过加法器504、功率放大器184驱动马达183使得晃动检测信号变为最小。当晃动检测信号变为最小时停止向功率放大器184输出。
微机505打开开关155并停止跟踪控制。然后，通过功率放大器129驱动输送马达114，并使光斑在以压花区域的附近的凹凸形成信息道的可重写区域上移动。
移动后，闭合开关155并使跟踪控制工作。而且，闭合开关154并启动基于第2 TE信号的修正。微机505取入第1 TE信号并把此值设定在减法器506的-端子上。这样，减法器506的输出变成零。然后，微机505闭合开关502并开始角度控制。
在以压花区域和附近的凹凸形成的可重写区域上，径向倾斜几乎相同，因此，在以压花区域的附近的凹凸形成的可重写区域上，径向倾斜也为零。这样，基于第1 TE信号的倾斜检测的偏值被修正。
因信息道按螺旋状形成，光斑慢慢地向外周移动。当光盘等的倾斜变化时，第1 TE信号的电平随径向倾斜变化。马达183依照第1 TE信号被驱动，因此，被控制为使径向倾斜总是为零。
下面用图26对基于第1 TE信号的检测信号的偏置的因素之一进行说明。而且，为使说明简单，标题区域用连续的凸部表示。图26(a)表示当标题区域的中心和可重写区域的凸部的中心一致时的情况，是正常的情况。图26(b)表示当用虚线表示的标题区域的中心偏离用实线表示的可重写区域的凸部的中心时的情况，是在形成凹凸部及标题区域时偏离了的情况。在图b的情况下，当对跟踪控制系统的目标位置进行修正使得VFO1与VFO2上的振幅相等时，该修正值成为与J相应电平的DC成分。而且，凹凸部的倾斜等因素会导致在修正值中产生DC成分。如上所述，在压花区域上调节径向倾斜后在用附近的凹凸形成信息道的可重写区域上测定第1 TE信号的偏置并把该测定结果设定在减法器506的-端子上，由此可以修正因标题区域的中心偏离可重写区域的凸部的中心所导致的第1 TE信号的偏置。
在检索其他信息道时，打开开关502并停止马达183的动作，保持输送台185的倾斜。然后，打开开关154、155并停止跟踪控制，驱动输送马达114使光斑移向目标信息道。在移向目标信息道后，闭合开关154、155并启动跟踪控制。然后，闭合开关502再次启动角度控制。
下面用检索后的动作对标题区域处理进行说明。
微机505在开关154打开了的状态下闭合开关155并根据第1 TE信号启动跟踪控制。
地址再生电路131读取地址并把地址送到微机505。微机505设定与区段相应的转速。门控生成电路132生成规定的门控信号，第2 TE信号从S/H电路139被输出。
当在此信息道上有DC成分的径向倾斜时，第1 TE信号就有与径向倾斜相应的偏置。
角度控制的频带被限制在几个Hz，因此，即便闭合开关502，到稳定为止也要花几10ms。
于是，微机505根据在将要闭合开关502之前的第1 TE信号设定LPF503的初始值。图27表示LPF503的方框图。LPF503与LPF153一样为数字滤波器。
端子550连接到开关502上。而且，端子555连接到D/A变换器501上。端子553连接到微机505上。乘法器552在输入信号上乘上系数后输出。延迟电路554只是把输入信号延迟周期T后输出。各个电路与周期T的基准时钟信号同步并用数字值进行处理。
设将要闭合开关502之前的第1 TE信号为F。微机505把F设在图27中的LPF503的延迟电路554上。通常要花几10ms的响应被加快成几个ms。
下面对乘法器500进行说明。
乘法器500用于调节基于第1 TE信号的径向倾斜检测系统的增益。微机505打开开关502并在加法器504上设定电压，以规定转速驱动马达183并使输送台185只倾斜规定的角度。
第1 TE信号根据所给的角度变成与之相应的电平。微机505设定乘法器500的系数使得此时的乘法器500的输出变化量为规定的值。通过调节乘法器500的系数可以把角度控制系统的增益设成规定的值。
还有，如上所述，在不用第2 TE信号对跟踪控制系统的目标位置进行修正的情况下即，在不闭合开关154的情况下，第1 TE信号的电平不会成为随径向倾斜的变化而变化的信号，因此，必须保持或停止角度控制。
在实施例4中，在内周的压花区域和用附近的凹凸形成信息道的可重写区域上调节第1 TE信号的偏置，但也可以在内周和外周上分别进行并依照半径位置改变调节值。而且，与半径位置相应的调节值可以通过线性内插等求得。
与只在内周上进行调节的情况相比，在此情形下，调节精度提高了。
实施例5
下面对本发明的实施例5用为其方框图的图28进行说明。对与上述实施例4相同的模块附上相同的符号并略去说明。
与实施例4不同之处在于减法器506被删除并添加了减法器560。
实施例5与实施例4不同之处还在于径向倾斜检测信号的偏置修正的方法。即第1 TE信号的偏置修正方法不同。下面对减法器560进行说明。减法器560对径向倾斜检测信号的偏置进行修正。
微机505驱动输送马达114并使光斑移到内周的压花区域上。
微机505连接开关426的端子b与端子c并通过开关155把由位相差产生的TE信号送至A/D变换器143。微机505在开关154打开了的状态下闭合开关155并使跟踪控制工作。PLL电路430把晃动检测信号送往微机505。微机505通过功率放大器184驱动马达183使得晃动检测信号变为最小。当晃动检测信号变为最小时停止向功率放大器184输出。
微机505打开开关155并停止跟踪控制。然后通过功率放大器129驱动输送马达114，并使光斑在以压花区域的附近的凹凸形成信息道的可重写区域上移动。
移动后，闭合开关155并使跟踪控制工作。然后，闭合开关154并启动基于第2 TE信号的修正。微机505取入第1 TE信号并把此值设定在减法器506的-端子上。这样，减法器506的输出变成零。然后，微机505闭合开关502并开始角度控制。
因信息道按螺旋状形成，光斑慢慢地向外周移动。当光盘等的倾斜变化时，第1 TE信号的电平随径向倾斜变化。马达183依照减法器560的输出被驱动，因此，被控制为使径向倾斜总是为零。
在实施例5中，通过改变基于第1 TE信号的跟踪控制的目标位置对径向倾斜检测信号的偏置进行修正。而且，减法器560的-端子的设定值与标题区域和可重写区域的凸部或凹部的偏离量对应。这样，标题区域受到控制，因此，提高了基于第2 TE信号的目标位置的修正精度。
如在实施例4中所说明，在内周和外周上分别测定减法器560的-端子的设定值，也可以根据半径位置改变设定值。
实施例6
下面对本发明的实施例6用为其方框图的图29进行说明。对与上述实施例4相同的模块附上相同的符号并略去说明。
与实施例4不同之处在于2值化电路429、PLL电路430被删除、添加了绝对值检测电路580、LPF581。
实施例6与实施例4不同之处还在于在内周的压花区域上对径向倾斜检测信号的偏置进行修正时的方法。
绝对值电路580与绝对值检测电路134一样。而且，LPF581除去输入信号的高频成分。微机505驱动输送马达114并使光斑移到内周的压花区域上。微机505连接开关426的端子b与端子c并通过开关155把由位相差产生的TE信号送至A/D变换器143。微机505在开关154打开了的状态下闭合开关155并使跟踪控制工作。与记录在压花区域上的信息相应的信号通过HPF428被输入到绝对值电路580。绝对值电路580输出以输入信号的零电平为基准的绝对值。LPF581除去输入信号的高频成分。这样，LPF581的输出表示在压花区域上全反射光量信号的振幅。微机505通过加法器504和功率放大器184驱动马达183使得全反射光量信号的振幅达到最大。当全反射光量信号的振幅达到最大时停止向功率放大器184输出。
以后的动作和实施例4一样。
图30表示压花区域上的全反射光量信号的振幅和径向倾斜的关系。
当径向倾斜为零时全反射光量信号的振幅达到最大。
实施例7
下面对本发明的实施例7用为其方框图的图31进行说明。对与上述实施例6相同的模块附上相同的符号并略去说明。
与实施例6不同之处在于基于位相差的TE信号检测系统的模块被删除以及2值化电路428的输入端被连接到减法器125上。而且，微机505被替换成微机590。
实施例7与实施例不同之处在于径向倾斜检测信号的偏置的修正方法。
微机590驱动输送马达114并使光斑移到以凹凸形成信息道的可重写区域上。微机590打开开关155、154使跟踪控制不工作。第1 TE信号通过HPF428被输入到绝对值电路580。
绝对值电路580输出以输入信号的零电平为基准的绝对值。LPF581除去输入信号的高频成分。这样，LPF581的输出表示在跟踪控制不工作的状态下的第1 TE信号的振幅。微机590在跟踪控制不工作的状态下通过加法器504和功率放大器184驱动马达183使得在跟踪控制不工作的状态下的第1 TE信号的振幅达到最大。当第1 TE信号的振幅达到最大时停止向功率放大器184输出。
以后的动作和实施例6一样。
图32表示第1 TE信号的振幅的电平和径向倾斜的关系。
当径向倾斜为零时第1 TE信号的振幅达到最大。
实施例8
下面对本发明的实施例8用为其方框图的图33进行说明。对与上述实施例4相同的模块附上相同的符号并略去说明。
与图24的实施例4不同之处在于A/D变换器152、乘法器156、LPF153、限幅器157、开关154以及D/A变换501被删除。还有，微机505被替换成微机900，加法器142被替换成加法器901、数字的LPF503被替换成模拟的LPF902。还有，开关133的输入从加法器130的输出改为减法器125的输出、减法器506的+端从开关154的输出改为S/H电路139的输出。
在实施例8中。跟踪控制只基于通过推挽法检测出的第1 TE信号进行的。这样会产生由径向倾斜导致的道偏离。但是，通过进行径向倾斜的角度控制可以减小道偏离。径向倾斜的检测是用标题区域上的第1 TE信号进行的。径向倾斜的检测由开关133、HPF172、绝对值电路134、LPF135、S/H电路136、137、139以及减法器138进行的。各部模块与实施例4相同。即，S/H电路139的输出为减法器125的输出的VFO1上的振幅与VFO2上的振幅之差。S/H电路139的输出通过减法器506、乘法器500、开关502、LPF902及加法器504被送到功率放大器184。马达183根据S/H电路139的输出被驱动，因此，减小径向倾斜。即可以减小径向倾斜所导致的道偏离。
下面用图34对径向倾斜的检测进行说明。
图34表示减法器125的输出的VFO1上的振幅与VFO2上的振幅之差与道偏离及径向倾斜的关系。为在NA＝0.6、波长为650nm、信息道道距为0.6μm、槽深为波长/6、凸部与凹部的占空比为50％的条件下的特性。横轴表示道偏离，纵轴表示减法器125的输出的VFO1上的振幅与VFO2上的振幅之差。振幅差基本上与道偏离无关，表示径向倾斜量。即，各径向倾斜上的倾斜方向基本上与横轴平行。在道偏离为0.06μm时，振幅差是在径向倾斜约为-0.02度的情况下变为零。当径向倾斜约为-0.02度时道偏离在-0.01μm以下。即，径向倾斜和道偏离相互减小。处于在实用上没有问题的水平。而且，在没有径向倾斜的情况下的减法器125的输出变为与如上所述的图2(b)一样的波形。在有径向倾斜的情况下，即使光斑在信息道的中心，其波形也变为与图3(b)一样的波形。在径向倾斜的的极性相反情况下，其波形变为与图4(b)一样的波形。相对于径向倾斜的图2(b)、图3(b)、图4(b)上的(m-n)的特性变为图34所表示的特性。
下面对加法器506进行说明。加法器506对径向倾斜的检测信号的偏置进行修正。
微机900驱动输送马达114使光束在内周的压花区域上移动。微机900连接开关426的端子b与端子c并通过开关155把由位相差产生的TE信号送至A/D变换器143。微机900在开关502打开了的状态下闭合开关155并使跟踪控制工作。PLL电路430把晃动检测信号送往微机900。微机900通过加法器504、功率放大器184驱动马达183使得晃动检测信号变为最小。当晃动检测信号变为最小时停止向功率放大器184输出。
微机900打开开关155并停止跟踪控制。然后通过功率放大器129驱动输送马达114，并使光斑在以压花区域的附近的凹凸形成信息道的可重写区域上移动。
移动后，闭合开关155并使跟踪控制工作。微机900取入S/H电路139的输出信号并把此值设定在减法器506的-端子上。这样，减法器506的输出变成零。然后，微机900闭合开关502并开始角度控制。
在以压花区域的附近的凹凸形成的可重写区域上，径向倾斜几乎相同，因此，在以压花区域的附近的凹凸形成的可重写区域上，径向倾斜也为零。这样，作为S/H电路139的输出的径向倾斜检测的偏值被修正。
因信息道按螺旋状形成，光斑慢慢地向外周移动。当光盘等的倾斜变化时，S/H电路139的输出随径向倾斜变化。马达183依照S/H电路139的输出被驱动，因此，被控制为使径向倾斜总是为零。
下面对乘法器500进行说明。
乘法器500用于调节S/H电路139的输出的径向倾斜检测系统的增益。微机900打开开关502并在加法器504上设定电压，以规定转速驱动马达183并使输送台185只倾斜规定的角度。S/H电路139的输出根据所给的角度变成与之相应的电平。微机900设定乘法器500的系数使得此时的乘法器500的输出变化量为规定的值。通过调节乘法器500的系数可以把角度控制系统的增益设成规定的值。
在实施例8中，没有根据实施例1中所示的全反射光量信号的VFO1上的振幅与VFO2上的振幅之差对基于第1 TE信号的跟踪控制的目标位置进行修正。但是，把修正功能和径向倾斜的角度控制并用是容易的。
由上述可知，当光束通过在朝与信息道垂直的一个方向上偏离了的位置上形成的第1纹孔串和在朝与信息道垂直的另一个方向上偏离了的位置上形成的第2纹孔串时，本发明用基于来自光盘的反射光检测出光束与信息道的位置偏离的第2 TE信号修正基于推挽法的TE信号，因此，可以修正由倾斜导致的道偏离，光斑被控制在信息道的中心上。
还有，当光束通过在朝与信息道垂直的一个方向上偏离了的位置上形成的第1纹孔串和在朝与信息道垂直的另一个方向上偏离了的位置上形成的第2纹孔串时，根据基于反射光量检测出光束与信息道的位置偏离的第2 TE信号对基于推挽法的TE信号修正时，根据基于推挽法的TE信号控制光束的光轴与光盘的信息面的倾斜，使倾斜变为垂直。
实施例9
下面对本发明的实施例9用为其方框图的图40进行说明。对与上述实施例4相同的模块附上相同的符号并略去说明。
与实施例4不同之处在于添加了减法器1000。
在实施例9中，根据乘法器156的输出的被归一化了的第2 TE信号和减法器125的输出的第1 TE信号的电平之差进行用于角度调节的径向倾斜的检测。
下面对用于角度调节的径向倾斜的检测方法进行说明。
如上所述，当有径向倾斜时，即使进行跟踪控制使得第1 TE信号为零，光斑还是偏离信息道的中心。根据本实施例的构成，1度的倾斜大约会产生0.13μm的道偏离。
同样，当有径向倾斜时，即使对跟踪控制的目标位置进行修正使得第2TE信号为零，光斑还是偏离信息道的中心。1度的倾斜大约会产生0.045μm的道偏离。
即第1 TE信号和第2 TE信号受径向倾斜的影响不同。
这里，用图41对在径向倾斜为1度且进行跟踪控制使得第1 TE信号为零的情况进行说明。但是，设光盘的偏心等导致产生0.02μm的控制误差。图41的模式图a表示光斑和信息道的关系。波形b表示第1 TE信号，波形c表示被乘法器156归一化后的第2 TE信号，波形d表示第1 TE信号减去归一化后的第2 TE信号后的波形。
因径向倾斜为1度，综合考虑控制误差和径向倾斜引起的偏离后光斑只偏离信息道的中心0.15μm(参照模式图a)。1度的倾斜大约会使第2 TE信号产生0.045μm的道偏离。这样，在此状态下，归一化后的第2 TE信号的电平相当于从0.15μm减去0.045μm后的0.105μm的电平(参照波形c)。
这里，从第1 TE信号减去第2 TE信号。其结果变成相当于从0.02μm减去0.105μm后的-0.085μm的电平(参照波形d)。而且，在标题区域中，第1 TE信号是乱的，但标题区域的期间比可重写区域的期间短，因此，其影响可以忽略。
上述的说明假设了倾斜为1度的情况，对于0.5度的情况，其相减结果变为相当于-0.0425μm的电平。而且，对于-1度的情况，其相减结果变为相当于0.085μm的电平。
即第1 TE信号和第2 TE信号的电平差与径向倾斜成正比。
图42表示通过从第1 TE信号减去第2 TE信号的电平测出径向倾斜时的倾斜检测特性。
图42的横轴为径向倾斜(单位以度表示)。纵轴表示相减结果的倾斜检测值(单位％)。这里，倾斜检测值(单位％)为在以光盘镜面部上的全反射光量为100％时上述的VFO1及VFO2上的信号的振幅，是把从第1 TE信号减去规一化了的第2 TE信号后的值归一化后的值。
倾斜检测值当径向倾斜是0度时为0％，当径向倾斜是0.5度时为5.77％。而且，倾斜检测值的极性反转。
由图42可知，从第1 TE信号减去归一化了的第2 TE信号的电平后的结果几乎与径向倾斜成正比。即通过从第1 TE信号减去归一化了的第2 TE信号的电平可以测出径向倾斜。
减法器1000从第1 TE信号的电平减去第2 TE信号的电平。这样，输出值成为径向倾斜的检测信号。马达183是根据减法器1000的输出被驱动的，因此，使角度控制成为可能。

Claims (28)

1.一种光盘装置，其特征在于具备有把光束聚束照射在带有配置了在朝与信息道垂直的一个方向上偏离了的位置上形成的第1纹孔串和在朝与信息道垂直的另一个方向上偏离了的位置上形成的第2纹孔串的第1区域和用纹孔串记录信息的第2区域的光盘上并检测出记录在光盘上的信息的再生信号测出部、用推挽法测出信息道与光束位置偏离的第1跟踪误差测出部、从上述再生信号测出部输出的第1纹孔串及第2纹孔串的再生信号测出信息道与光束位置偏离的第2跟踪误差测出部、使光束横扫信息道移动的移动部、根据第1跟踪误差测出部的输出信号控制移动部使光束定位在信息道上的第1跟踪控制部、根据第2跟踪误差测出部的输出信号改变第1跟踪控制部的目标位置的修正部。
2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于上述修正部根据将要启动修正部前的第2跟踪误差测出部的输出设定修正量的初始值。
3.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于修正部在改变跟踪控制部的目标位置时预先求得第2跟踪误差测出部的输出的变化量，根据所求得的变化量修正目标位置。
4.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于修正部把目标位置的可变范围限定在规定的范围内。
5.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于修正部在跟踪控制部在达到稳定之前的期间停止工作。
6.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于修正部只在记录信息时工作。
7.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于第2跟踪误差测出部根据在第1及第2纹孔串中纹孔按一定周期构成的期间的再生信号测出部的输出检测出光束与信息道位置偏离。
8.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于第2跟踪误差测出部根据当光束通过第1纹孔串及第2纹孔串时的再生信号测出部的输出的振幅的差检测出光束与信息道位置偏离。
9.根据权利要求8所述的光盘装置，其特征在于第2跟踪误差测出部根据把再生信号测出部的输出以振幅的中心为基准变换为绝对值后再除去高频成分后的信号测定振幅。
10.根据权利要求9所述的光盘装置，其特征在于根据线速度改变除去的高频成分的频带。
11.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还具备有改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、测出照射在信息面上的光束的入射角的角度检测部和根据上述角度检测部的输出控制上述角度可变部的角度控制部。
12.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还备有用位相差法从上述再生信号测出部的输出的第2区域的纹孔串再生信号测出信息道与光束位置偏离的第3跟踪误差测出部、测定上述再生信号测出部的输出的晃动的晃动测定部、改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、控制上述角度可变部使上述晃动测定部的输出达到最小的角度控制部、和根据上述第3跟踪误差测出部的输出控制上述移动部使光束定位在信息道上的第2跟踪控制部。
13.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还备有用位相差法从上述再生信号测出部的输出的第2区域的纹孔串再生信号测出信息道与光束位置偏离的第3跟踪误差测出部、根据上述再生信号测出部的输出产生与记录在光盘上的信息同步的基准时钟信号的PLL部、测定上述再生信号测出部的输出和上述基准时钟信号的晃动的晃动测定部、改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、控制上述角度可变部使上述晃动测定部的输出达到最小的角度控制部、根据上述第3跟踪误差测出部的输出控制上述移动部使光束定位在信息道上的第2跟踪控制部。
14.根据权利要求13所述的光盘装置，其特征在于在内周及外周的第2区域上使上述第2跟踪控制部处于工作状态并根据启动上述角度控制部时的角度可变部的角度设定在指定半径位置上的上述角度可变部的角度，然后，在第1区域上启动上述第1跟踪控制部和上述修正部。
15.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还具备有改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、测定上述第1跟踪误差测出部的输出信号的振幅的振幅测定部、和控制上述角度可变部使上述振幅测定部的输出达到最大的角度控制部。
16.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还具备有用位相差法从上述再生信号测出部的输出的第2区域的纹孔串再生信号测出信息道与光束位置偏离的第3跟踪误差测出部、测定上述再生信号测出部的输出的振幅的信息振幅测定部、改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、控制上述角度可变部使上述信息振幅测定部的输出达到最大的角度控制部、和根据上述第3跟踪误差测出部的输出控制上述移动部使光斑定位在信息道上的第2跟踪控制部。
17.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还具备有改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、和根据上述修正部工作时的上述第1跟踪误差测出部的输出控制上述角度可变部的上述角度控制部。
18.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还具备有用位相差法从上述再生信号测出部的输出的第2区域的纹孔串再生信号测出信息道与光束位置偏离的第3跟踪误差测出部、测定上述再生信号测出部的输出的晃动的晃动测定部、改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、控制上述角度可变部使上述晃动测定部的输出达到最小的角度控制部、和根据上述第3跟踪误差测出部的输出控制上述移动部使光束定位在信息道上的第2跟踪控制部。
19.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还具备有用位相差法从上述再生信号测出部的输出的第2区域的纹孔串再生信号测出信息道与光束位置偏离的第3跟踪误差测出部、根据上述再生信号测出部的输出产生与记录在光盘上的信息同步的基准时钟信号的PLL部、测定上述再生信号测出部的输出和上述基准时钟信号的晃动的晃动测定部、改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、控制上述角度可变部使上述晃动测定部的输出达到最小的角度控制部、和根据上述第3跟踪误差测出部的输出控制上述移动部使光束定位在信息道上的第2跟踪控制部。
20.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还具备有用位相差法从上述再生信号测出部的输出的第2区域的纹孔串再生信号测出信息道与光束位置偏离的第3跟踪误差测出部、测定上述再生信号测出部的输出的振幅的信息振幅测定部、改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、控制上述角度可变部使上述信息振幅测定部的输出达到最大的角度控制部、和根据上述第3跟踪误差测出部的输出控制上述移动部使光束定位在信息道上的第2跟踪控制部。
21.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还具备有测定上述第1跟踪误差测出部的输出信号的振幅的振幅测定部、改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、和控制上述角度可变部使上述振幅测定部的输出达到最大的角度控制部。
22.根据权利要求17所述的光盘装置，其特征在于角度控制部根据驱动了角度可变部后的第1跟踪误差测出部的输出的变换量预先调节控制系统的增益。
23.根据权利要求17所述的光盘装置，其特征在于当使修正部变为不工作状态时使角度可变部保持在变化前的状态。
24.根据权利要求17所述的光盘装置，其特征在于其特征在于当使跟踪控制部变为不工作状态时使角度可变部保持在变化前的状态。
25.根据权利要求17所述的光盘装置，其特征在于根据将要启动角度控制部之前的第1跟踪误差测出部的输出预先在驱动角度可变部后启动角度控制部。
26.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还具备有用位相差法从上述再生信号测出部的输出的第2区域的纹孔串再生信号测出信息道与光束位置偏离的第3跟踪误差测出部、测定上述再生信号测出部的输出的晃动的晃动测定部、改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、控制上述角度可变部使上述晃动测定部的输出达到最小的角度控制部、和根据上述第3跟踪误差测出部的输出控制上述移动部使光束定位在信息道上的第2跟踪控制部。
27.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还具备有改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、根据上述第1跟踪误差测出部的输出和上述第2跟踪误差测出部的输出的差控制上述角度可变部的上述角度控制部。
28.一种光盘装置，其特征在于具备有使聚束照射在配置了在朝与信息道垂直的一个方向上偏离了的位置上形成的第1纹孔串和在朝与信息道垂直的另一个方向上偏离了的位置上形成的第2纹孔串的光盘上的用推挽法测出信息道与光束位置偏离的跟踪误差测出部、从所述跟踪误差测出部输出的第1纹孔串及第2纹孔串的信号测出对于光盘信息面上的光束的入射角的角度检测部、使光束横扫信息道移动的移动部、改变照射在信息面上的光束的入射角的角度可变部、根据跟踪误差测出部的输出信号控制上述移动部使光束定位在信息道上的跟踪控制部、根据所述跟踪误差测出部的输出信号改变跟踪控制部的目标位置的修正部和根据上述角度测出部的输出控制上述角度可变部的角度控制部。
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