CN1906670A - 记录功率决定方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种决定往信息记录介质中记录数据时的光束的记录功率的记录功率决定方法，包括：以多个测试记录功率往信息记录介质中分别记录测试数据的工序；分别读出以各个测试记录功率记录的测试数据，来生成信号，并分别测定对应各个测试记录功率的信号的调制度的工序；通过对各个测试记录功率，分别计算各个测试记录功率的n次方(幂指数n为1以外的实数)、与对应的调制度之积，来获得对应多个测试记录功率的多个乘积的工序；根据多个测试记录功率与多个乘积之间的相关关系，计算第1记录功率的工序；以及，根据第1记录功率，计算记录功率的工序。

Description

记录功率决定方法及装置

技术领域

本发明，涉及一种决定往信息记录介质中记录数据时的记录功率的、记录功率决定方法以及记录功率决定装置。

背景技术

作为用来记录数据的信息记录介质，公知有光盘。光盘装置，往光盘上照射光束，来记录数据，并对光盘中所记录的数据进行再生。即使在光盘或光盘装置同样制造的情况下，由于光盘或光盘装置中存在个体差异，因此存在的问题是，有时该个体差异，会导致无法在光盘中适当记录数据，另外无法适当再生记录在光盘中的数据。

作为用来防止这种问题的一个公知方法，是在装载光盘时，对各个光盘以及光盘装置决定适当的记录功率。

图16为表示一般的光盘601的示意图。如图16所示，光盘601中轨道602形成为螺旋状。通过对轨道602照射调制过记录功率的光束，在轨道602中形成多个标记以及多个空白，通过这样来进行数据的记录。光盘601中，设有用户记录数据时所使用的用户数据区域、以及决定光束的记录功率时所使用的记录功率决定区域。记录功率决定区域，设置在用户数据区域以外的区域(具体而言，为光盘601的最内侧区域或最外围区域)中。

图17为表示以往的光盘装置700的示意图。光盘装置700具有：光头702、再生部704、解调·ECC(Error Correcting Code)电路706、记录功率决定部708、记录功率设定部710、激光器驱动电路712、以及记录数据生成部714。

光盘601被装载到光盘装置700中之后，光盘601的类型被识别，并旋转光盘601。光头702具有半导体激光器(未图示)，在光盘601旋转时，用从光头702的半导体激光器出射的光束，照射光盘601。

在光盘601中记录数据时，光头702用具有给定的记录功率的光束照射光盘601，在光盘601中形成标记。这里，通过标记边缘记录方式，对Run Length Limited(1，7)调制方式的数据进行记录。这种情况下，光盘601中，对最短2T至最长8T的每一个基准周期T，形成7种标记与空白。

另外，在从光盘601读出数据时，光头702通过功率比记录功率小的再生功率的光束照射光盘601，并接收由光盘601反射的光。光头702通过对所接收到的光进行光电变换，生成表示光盘601中所记录的数据的信号。再生部704，测定由光头702所生成的信号的调制度，同时将光头702所生成的信号数字化。关于调制度，将在后面参照图19进行说明。

解调·ECC电路706，对由再生部704数字化的信号进行解调，并进行错误修正。记录功率决定部708，根据由再生部704所测定的调制度，决定记录数据时的记录功率。记录功率设定部710，在激光器驱动电路712中设定由记录功率决定部708所决定的记录功率。记录数据生成部714生成要往光盘601中记录的数据。激光器驱动电路712驱动光头702，使得光头702用记录功率设定部710所设定的记录功率，将记录数据生成部714中所生成的数据记录在光盘601中。

图18为表示以往的光盘装置700中的再生部704的示意图。如图18所示，再生部704具有前置放大器801、采样保持电路802、AD变换器803、运算器804、以及二值化数据生成部805。

二值化数据生成部805，将光头702所生成的信号数字化后，生成数字化了的数据(二值化数据)，将表示二值化数据的信号705，输出给解调·ECC电路706以及记录功率决定部708。

前置放大器801，对光头702所生成的信号进行放大。采样保持电路802对前置放大器801所放大的信号进行采样，并保持信号的峰值以及谷值。AD变换器803，将采样保持电路802所保持的峰值以及谷值数字化。运算器804对数字化了的峰值以及谷值进行运算来获得调制度。

图19为表示前置放大器801所输出的信号波形的示意图。如图19所示，如果设从光头702的半导体激光器熄灭时的信号电平、或光头702的半导体激光器虽照射再生功率的光束却没有受到光盘601所反射的光的影响时的信号电平起，到与标记对应的信号的信号电平为止为振幅A，从光头702的半导体激光器熄灭时的信号电平起，到与空白对应的信号的信号电平为止为振幅B，则调制度通过(A-B)/A来表示。

再次参照图17，对以往的记录功率决定方法进行说明。

光盘601中，记录有在决定记录功率时所使用的常数参数。光头702，生成表示从光盘601读出的常数参数(以下，称作给定值)的信号703，并将信号703输出给再生部704。再生部704的二值化数据生成部805，生成将表示给定的值的信号703二值化后的信号705，并将信号705输出给记录功率决定部708。

记录功率设定部710，在激光器驱动电路712中设定光束的测试记录功率。记录功率设定部710，设定不同的8个测试记录功率A～H。这里，测试记录功率A是最大的测试记录功率，按照测试记录功率B～H的顺序，测试记录功率渐渐变小。

记录数据生成部714，生成测试数据，将表示所生成的测试数据的信号715，输出给激光器驱动电路712。激光器驱动电路712驱动光头702，使得光头702在光盘601的记录功率决定区域中，从给定的位置起连续轨道的约1周记录测试数据。记录数据生成部714，生成测试数据，使得用光头702在光盘601中连续形成8T标记以及8T空白。光盘601中，在光盘601的约1周上，重复记录测试记录功率A～H。图20中，在光盘601中，通过A～H来表示与测试记录功率A～H对应的区域。

测试数据的记录结束后，光头702将再生功率的光束照射给光盘601，通过这样，读出记录在轨道中的测试数据，并生成表示测试数据的信号。光头702所生成的信号的振幅，根据光盘601上是否形成有标记进行变化。光头702所生成的信号703，被输入给再生部704。

再次参照图18。在图18所示的再生部704中，前置放大器801放大信号703。采样保持电路802，保持由前置放大器801所放大过的信号的峰值以及谷值。A/D变换部803，将采样保持电路802所保持的信号的峰值以及谷值数字化。运算器804运算数字化了的峰值与谷值，得到信号的调制度。由于信号703的振幅因测试记录功率A～H而异，因此调制度因测试记录功率A～H而异。运算器804，生成表示信号的调制度的信号707，并将信号707输出给记录功率决定部708。

记录功率决定部708，根据对应于测试记录功率A～H的调制度，通过以下所示的以往的两个记录功率决定方法中的任一个方法，来决定记录功率。

图21为说明以往的第1记录功率决定方法的图，是表示测试记录功率与调制度之间的关系的曲线图。以往的第1记录功率决定方法中，记录功率决定部708，根据多个测试记录功率与对应多个测试记录功率的调制度之间的相关关系，选择调制度为M0的记录功率P0。记录功率决定部708，计算出记录功率P0与从光盘601读出的给定值之积，来决定记录数据时的记录功率。记录功率决定部708，将表示所计算出的记录功率的信号709，输出给记录功率设定部710。

图22为说明以往的第2记录功率决定方法的图，是表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率之积)之间的关系的曲线图。以往的第2记录功率决定方法中，记录功率决定部708，分别计算出对应多个测试记录功率的调制度与多个测试记录功率之积，生成表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率之积)的相关关系的近似直线，在近似直线中计算出乘积为0的记录功率Pthr。接下来，记录功率决定部708，计算出记录功率Pthr与从光盘601读出的给定值之积，来决定记录数据时的记录功率。记录功率决定部708，将表示计算出的值的信号709，输出给记录功率设定部710。

但是，以往的第1记录功率决定方法以及以往的第2记录功率决定方法，均无法决定适当的记录功率。

记录功率决定部708，在按照以往的第1记录功率决定方法决定记录功率时，例如若光盘601与光头702之间产生了相对倾斜，便无法决定适当的记录功率。以下，对照图23，对产生了倾斜的情况下的记录功率进行说明。

图23为表示记录功率与调制度之间的关系的曲线图。图23的曲线图中，将记录时以及读出所记录的数据时均没有发生倾斜的情况下的结果通过实线1101表示，将记录时产生了倾斜而读出时未产生倾斜的情况下的结果通过实线1102表示，将记录时以及读出时均产生了倾斜的情况下的结果通过实线1103来表示。产生了倾斜的情况下的调制度，比没有产生倾斜的情况下的调制度小。在读出时没有产生倾斜而记录时产生了倾斜的情况下，8个记录功率中，记录功率最低的记录功率H的调制度无法测定。同样，在记录时以及读出时均产生了倾斜的情况下，记录功率H的调制度也无法测定。

测试数据的记录以及测试数据的读出，在记录用户数据之前进行，在记录测试数据之后立即读出所记录的测试数据。因此，如果在产生相对倾斜的状态下记录测试数据，并读出测试数据，则会得到图23中通过实线1103所示的结果。在按照以往的第1记录功率决定方法，决定记录功率的情况下，记录功率决定部708，选择对应调制度M0的记录功率P1103。其结果是，除了测试数据记录时的倾斜的影响，还受到读出测试数据时(以下，称作测试数据读出时)的倾斜的影响。

然而，虽然在测试数据记录时产生了倾斜的情况下，认为记录用户数据时也产生了倾斜，但读出该用户数据时不一定会产生倾斜。用户数据，几本不会在记录之后马上读出，多数情况下，用户数据，被在其他的光盘装置或在光盘被再次装载的光盘装置中读出，在读出用户数据时没有产生倾斜。因此，在决定记录功率时，可以不考虑测试数据读出时的倾斜的影响，而只考虑测试数据记录时的倾斜的影响。所以，产生相对倾斜时应当选择的记录功率，不是记录功率P1103，而是图23中所示的记录功率P1102。在按照以往的第1记录功率决定方法决定记录功率的情况下，记录功率决定部708，由于选择了大于记录功率P1102的记录功率P1103，因此光头702，以不必要大的记录功率记录数据。所以，以往的第1记录功率决定方法中，重复进行记录会使得光盘601很快恶化。

另外，在记录功率决定部708按照以往的第2记录功率决定方法决定记录功率的情况下，如图24所示，如果选择8个测试记录功率中的测试记录功率较大的4个测试记录功率，并对这4个测试记录功率，生成表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率之积)的相关关系的近似直线，则在近似直线中乘积为0的记录功率，为记录功率Pthr1。另外，如果选择8个测试记录功率中的测试记录功率较小的4个测试记录功率，并对这4个测试记录功率，生成表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率之积)的相关关系的近似直线，则在近似直线中乘积为0的记录功率，为记录功率Pthr2。

从图24可以得知，因测试记录功率，近似直线中乘积为0的记录功率大为不同。也即，在按照以往的第2记录功率决定方法决定记录功率的情况下，根据以哪个测试功率记录测试数据、以及使用哪个测试记录功率的结果决定记录功率，所决定的记录功率也大为不同。因此，在按照以往的第2记录功率决定方法的情况下，记录功率决定部708无法唯一决定适当的记录功率。另外，在记录功率决定部708决定了大于适当的记录功率的记录功率的情况下，光盘很快就会恶化，另外，在记录功率决定部708决定了小于适当的记录功率的记录功率的情况下，无法在光盘中适当地记录数据。

发明内容

本发明正是鉴于以上问题提出的，其目的在于：提供一种决定适当的记录功率的记录功率决定方法以及记录功率决定装置。

本发明的记录功率决定方法，决定往信息记录介质中记录数据时的光束的记录功率，包括：以多个测试记录功率在上述信息记录介质中分别记录测试数据的工序；分别读出以各个测试记录功率记录的测试数据来生成信号，并分别测定各个测试记录功率所对应的上述信号的调制度的工序；通过对各个测试记录功率，分别计算各个测试记录功率的n(幂指数n为1以外的实数)次方与对应的调制度之积，来获得对应上述多个测试记录功率的多个乘积的工序；根据上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系，计算第1记录功率的工序；以及，根据上述第1记录功率，计算上述记录功率的工序。

某个实施方式中，上述计算第1记录功率的工序，包括：生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率的工序。

某个实施方式中，上述获得多个乘积的工序中，上述幂指数n的值为2。

某个实施方式中，上述记录功率决定方法，还包括：读出记录在上述信息记录介质中的值的工序，上述信息记录介质中，记录有Pind的值、ρ的值、以及κ的值，上述进行读出的工序，包括：读出上述Pind的值、上述ρ的值、以及上述κ的值的工序，上述进行记录的工序，包括：将上述多个测试记录功率的范围设为上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的工序，上述计算第1记录功率的工序，包括：生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率的工序，上述计算记录功率的工序，包括：计算上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积的工序。

某个实施方式中，上述记录功率决定方法，还包括：读出记录在上述信息记录介质中的值的工序，上述信息记录介质中，记录有上述幂指数n的值，读出记录在上述信息记录介质中的值的工序，包括：读出上述幂指数n的值的工序，上述获得多个乘积的工序，包括：使用上述所读出的幂指数n的值的工序。

某个实施方式中，上述记录测试数据的工序，包括：以使上述测定调制度的工序中所生成的上述信号包含多个单一周期的信号的方式，记录上述测试数据的工序。

某个实施方式中，上述信息记录介质中，通过调制过的光束，形成多个标记与多个空白，上述记录测试数据的工序，包括：以使上述测定调制度的工序中所生成的上述信号的振幅、与上述信息记录介质中所形成的标记中最长的标记的振幅大致相同的方式，形成多个标记的工序。

某个实施方式中，上述信息记录介质中，多个轨道形成为同心圆状或螺旋状。

某个实施方式中，上述获得多个乘积的工序，包括：上述幂指数n为多个值，对上述多个值的每一个，分别获取对应上述多个测试记录功率的多个乘积的工序，上述记录功率决定方法，还包括：通过对多个值的每一个，分别计算上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的直线性，来计算对应上述多个值的多个直线性，并决定上述多个值中直线性最高的值的工序，上述计算第1记录功率的工序，包括：使用与上述多个值中直线性最高的值相关的对应上述多个测试记录功率的多个乘积，来计算上述第1记录功率的工序。

某个实施方式中，上述多个值包括第1值与第2值，上述第1值为2，上述第2值为3。

某个实施方式中，上述记录功率决定方法，还包括：读出记录在上述信息记录介质中的值的工序，上述信息记录介质中，记录有Pind的值、ρ的值、以及κ的值，上述进行读出的工序，包括：读出上述Pind的值、上述ρ的值、以及上述κ的值的工序，上述进行记录的工序，包括：将上述多个测试记录功率的范围设为上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的工序，上述计算第1记录功率的工序，包括：生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率的工序。

某个实施方式中，上述计算记录功率的工序，包括：在上述幂指数n的值为2时的直线性比上述幂指数n的值为3时的直线性高的情况下，计算上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积；以及，在上述幂指数n的值为3时的直线性比上述幂指数n的值为2时的直线性高的情况下，计算上述第1记录功率与(3×(κ的值)-2)/(2×(κ的值)-1)以及(ρ的值)的乘积的工序。

某个实施方式中，上述多个值包括第1值与第2值，决定上述多个值中直线性最高的值的工序，包括：对上述第1值，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第1测试记录功率群的工序；根据上述第1测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第1测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第1直线，并计算上述第1直线的第1斜率的工序；对上述第1值，以与上述第1测试记录功率群的测试记录功率不成为完全相同的方式，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第2测试记录功率群的工序；根据上述第2测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第2测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第2直线，并计算上述第2直线的第2斜率的工序；根据上述第1斜率与上述第2斜率，获得上述第1值所对应的第1比的工序；对上述第2值，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第3测试记录功率群的工序；根据上述第3测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第3测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第3直线，并计算上述第3直线的第3斜率的工序；对上述第2值，以与上述第3测试记录功率群的测试记录功率不成为完全相同的方式，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第4测试记录功率群的工序；根据上述第4测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第4测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第4直线，并计算上述第4直线的第4斜率的工序；根据上述第3斜率与上述第4斜率，获得上述第2值所对应的第2比的工序；以及，比较上述第1比与上述第2比的工序。

某个实施方式中，上述设定第1测试记录功率群的工序，包括：选择上述多个测试记录功率中最大的两个记录功率的工序，上述设定第2测试记录功率群的工序，包括：选择上述多个测试记录功率中最小的两个记录功率的工序，上述设定第3测试记录功率群的工序，包括：选择上述多个测试记录功率中最大的两个记录功率的工序，上述设定第4测试记录功率群的工序，包括：选择上述多个测试记录功率中最小的两个记录功率的工序。

某个实施方式中，还包括：对上述第1值，计算表示上述多个测试记录功率的全体平均的第1平均功率的工序；以及，对上述第2值，计算表示上述多个测试记录功率的全体平均的第2平均功率的工序，上述设定第1测试记录功率群的工序，包括：以使属于上述第1测试记录功率群的测试记录功率的平均值大于上述第1平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第1测试记录功率群的测试记录功率的工序，上述设定第2测试记录功率群的工序，包括：以使属于上述第2测试记录功率群的测试记录功率的平均值小于上述第1平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第2测试记录功率群的测试记录功率的工序，上述设定第3测试记录功率群的工序，包括：以使属于上述第3测试记录功率群的测试记录功率的平均值大于上述第2平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第3测试记录功率群的测试记录功率的工序，上述设定第4测试记录功率群的工序，包括：以使属于上述第4测试记录功率群的测试记录功率的平均值小于上述第2平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第4测试记录功率群的测试记录功率的工序。

某个实施方式中，还包括：将上述多个值中上述直线性最高的值，记录到上述信息记录介质中的工序。

某个实施方式中，上述信息记录介质中，还记录有用来识别上述信息记录介质的识别信息，上述记录功率决定方法，还包括：将上述识别信息、和与上述识别信息所对应的上述多个值中直线性最高的值，保存到识别信息存储部中的工序。

某个实施方式中，上述记录功率决定方法，还包括：读出记录在上述信息记录介质中的识别信息的工序，上述获得多个乘积的工序，包括：判断上述所读出的识别信息是否与存储在上述识别信息存储部中的识别信息相同，在判断为上述所读出的识别信息与存储在上述识别信息存储部中的识别信息相同的情况下，使用与存储在上述识别信息存储部中的上述识别信息相对应的值的工序。

某个实施方式中，上述识别信息，包含表示上述信息记录介质的制造者或批次的数据。

本发明的程序，用来在信息记录装置中执行上述记录功率决定方法的各个工序。

本发明的记录功率决定装置，决定记录部往信息记录介质中记录数据时的光束的记录功率，具备：输入部，其输入表示多个测试记录功率所对应的多个调制度的信号；计算部，其通过对各个测试记录功率，分别计算各个测试记录功率的n(幂指数n为1以外的实数)次方与对应的调制度之积，来获得对应上述多个测试记录功率的多个乘积，并根据上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系，来计算第1记录功率，并根据上述第1记录功率计算上述记录功率；以及，输出部，其将表示上述计算部所计算出的记录功率的信号，输出给上述记录部。

某个实施方式中，上述计算部，生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率。

某个实施方式中，上述幂指数n的值为2。

某个实施方式中，上述输入部中，被输入表示Pind的值、ρ的值、κ的值的信号，上述输出部，将表示上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的范围内的测试记录功率的信号，输出给上述记录部，上述计算部，通过生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率，并计算出上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积，来计算上述记录功率。

某个实施方式中，上述输入部中，被输入表示上述幂指数n的值的信号，上述计算部，使用上述幂指数n的值。

某个实施方式中，上述幂指数n为多个值，上述计算部，对上述多个值的每一个，分别获取对应上述多个测试记录功率的多个乘积，通过对多个值的每一个，分别计算上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的直线性，来计算对应上述多个值的多个直线性，决定上述多个值中直线性最高的值，并使用与上述多个直线性中最高的直线性所对应的值相关的、上述多个测试记录功率所对应的多个乘积，来计算上述第1记录功率。

某个实施方式中，上述多个值包括第1值与第2值；上述第1值为2，上述第2值为3。

某个实施方式中，上述输入部中，被输入表示Pind的值、ρ的值、及κ的值的信号；上述输出部，将表示上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的范围内的测试记录功率的信号，输出给上述记录部；上述计算部，根据上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系来生成近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率。

某个实施方式中，上述计算部，在上述幂指数n的值为2时的直线性比上述幂指数n的值为3时的直线性高的情况下，计算上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积；在上述幂指数n的值为3时的直线性比上述幂指数n的值为2时的直线性高的情况下，计算上述第1记录功率与(3×(κ的值)-2)/(2×(κ的值)-1)以及(ρ的值)的乘积。

某个实施方式中，上述多个值，包括第1值与第2值，上述计算部，

对上述第1值，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第1测试记录功率群；根据上述第1测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第1测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第1直线，并计算上述第1直线的第1斜率；对上述第1值，以与上述第1测试记录功率群的测试记录功率不成为完全相同的方式，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第2测试记录功率群；根据上述第2测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第2测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第2直线，并计算上述第2直线的第2斜率；根据上述第1斜率与上述第2斜率，获得上述第1值所对应的第1比；对上述第2值，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第3测试记录功率群；根据上述第3测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第3测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第3直线，并计算上述第3直线的第3斜率；对上述第2值，以与上述第3测试记录功率群的测试记录功率不成为完全相同的方式，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第4测试记录功率群；根据上述第4测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第4测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第4直线，并计算上述第4直线的第4斜率；根据上述第3斜率与上述第4斜率，获得上述第2值所对应的第2比；通过比较上述第1比与上述第2比，决定上述第1值与上述第2值中直线性较高的值。

某个实施方式中，上述计算部，设定上述第1测试记录功率群时，选择上述多个测试记录功率中最大的两个记录功率；设定上述第2测试记录功率群时，选择上述多个测试记录功率中最小的两个记录功率；设定上述第3测试记录功率群时，选择上述多个测试记录功率中最大的两个记录功率；设定上述第4测试记录功率群时，选择上述多个测试记录功率中最小的两个记录功率。

某个实施方式中，上述计算部，对上述第1值，计算表示上述多个测试记录功率的全体平均的第1平均功率；对上述第2值，计算表示上述多个测试记录功率的全体平均的第2平均功率；设定上述第1测试记录功率群时，以使属于上述第1测试记录功率群的测试记录功率的平均值大于上述第1平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第1测试记录功率群的测试记录功率；设定上述第2测试记录功率群时，以使属于上述第2测试记录功率群的测试记录功率的平均值小于上述第1平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第2测试记录功率群的测试记录功率；设定上述第3测试记录功率群时，以使属于上述第3测试记录功率群的测试记录功率的平均值大于上述第2平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第3测试记录功率群的测试记录功率；设定上述第4测试记录功率群时，以使属于上述第4测试记录功率群的测试记录功率的平均值小于上述第2平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第4测试记录功率群的测试记录功率。

某个实施方式中，上述输出部对上述记录部输出信号，使得上述记录部将上述多个值中上述直线性最高的值，记录到上述信息记录介质中。

本发明的信息记录装置，具有：记录部，使用光束往信息记录介质中记录数据；读出部，读出记录在上述信息记录介质中的数据；以及，记录功率决定装置，决定上述记录部往上述信息记录介质中记录数据时的上述光束的记录功率，其中，上述记录部，以多个测试记录功率在上述信息记录介质中记录测试数据，上述读出部，分别读出以各个测试记录功率在上述信息记录介质中所记录的测试数据，来生成信号，并分别测定对应各个测试记录功率的上述信号的调制度，上述记录功率决定装置，通过对各个测试记录功率，分别计算各个测试记录功率的n(幂指数n为1以外的实数)次方与对应的调制度之积，来获得对应上述多个测试记录功率的多个乘积，根据上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系，计算第1记录功率，并根据上述第1记录功率，计算上述记录功率。

某个实施方式中，上述幂指数n的值为2，上述信息记录介质中，记录有Pind的值、ρ的值、以及κ的值，上述读出部，读出上述Pind的值、上述ρ的值、以及上述κ的值，上述记录功率决定装置，将上述多个测试记录功率的范围设为上述Pind的值的0.9倍至1.1倍，上述记录功率决定装置，生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率，并计算上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积。

某个实施方式中，上述记录部，以使由上述读出部所生成的上述信号包含多个单一周期的信号的方式，记录上述测试数据。

某个实施方式中，上述记录部，通过调制过的光束，在上述信息记录介质中形成多个标记与多个空白，上述记录部，以使由上述读出部所生成的上述信号的振幅、与上述信息记录介质中所形成的标记中最长的标记的振幅大致相同的方式，形成多个标记。

某个实施方式中，上述记录功率决定装置，上述幂指数n为多个值，对上述多个值的每一个，分别获取对应上述多个测试记录功率的多个乘积，通过对多个值的每一个，分别计算上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的直线性，来计算对应上述多个值的多个直线性，决定上述多个值中直线性最高的值，上述记录部，将上述多个值中上述直线性最高的值，记录在上述信息记录介质中。

某个实施方式中，上述记录功率决定装置，具有存储直线性最高的值的存储器。

某个实施方式中，上述信息记录介质中，记录有用来识别上述信息记录介质的识别信息，上述读出部，读出上述识别信息，上述存储器中，设有用来将上述识别信息、与对应上述识别信息的上述多个值中直线性最高的值，保存到识别信息存储部中的识别信息存储部，上述识别信息、与对应上述识别信息的上述多个值中直线性最高的值，被保存到识别信息存储部，上述记录功率决定装置，读出记录在上述信息记录介质中的识别信息，判断上述所读出的识别信息是否与存储在上述识别信息存储部中的识别信息相同，在判断为上述所读出的识别信息与存储在上述识别信息存储部中的识别信息相同的情况下，使用存储在上述识别信息存储部中的上述识别信息所对应的值。

某个实施方式中，上述识别信息，包含表示上述信息记录介质的制造者或批次的数据。

本发明的信息记录介质，具有用来存放幂指数n(幂指数n的值为1以外的实数)的值的区域，且如下求取，通过对各个测试记录功率，分别计算多个测试记录中的各个测试记录功率的n次方与对应的调制度之积，来获得对应上述多个测试记录功率的多个乘积，根据上述多个测试记录功率与对应上述多个测试记录功率的多个乘积，来对幂指数n的多个值，获取上述多个测试记录功率与上述多个乘积的相关关系的直线性，并将上述多个直线性中最高的直线性所对应的幂指数n的值作为结果。

本发明的记录功率决定方法，决定往信息记录介质中记录数据时的光束的记录功率，上述信息记录介质中，记录有Mind的值与ρ的值，包括：读出记录在上述信息记录介质中的值的工序，其包括读出上述Mind的值与上述ρ的值的工序；在以多个测试记录功率在上述信息记录介质中记录了测试数据之后，分别读出以各个测试记录功率所记录的测试数据来生成信号，分别测定对应各个测试记录功率的上述信号的多个调制度，确认上述多个调制度中最大的调制度大于上述Mind的值，上述多个调制度中最小的调制度小于上述Mind的值的工序；根据上述多个测试记录功率与上述多个调制度计算第1记录功率的工序；以及，根据上述第1记录功率与上述ρ的值，计算上述记录功率的工序。

某个实施方式中，上述进行确认的工序，包括：判断上述多个调制度中最大的调制度是否小于上述Mind的值，并在判断为上述多个调制度中最大的调制度小于上述Mind的值的情况下，以更大的多个测试记录功率反复进行记录，直到测定到大于上述Mind的值的调制度的工序；以及，判断上述多个调制度中最小的调制度是否大于上述Mind的值，并在判断为上述多个调制度中最小的调制度大于上述Mind的值的情况下，以更小的多个测试记录功率反复进行记录，直到测定到小于上述Mind的值的调制度的工序。

某个实施方式中，上述计算第1记录功率的工序，包括：通过对各个测试记录功率，分别计算各个测试记录功率的n次方(幂指数n为实数)与对应的调制度之积，来得到对应上述多个测试记录功率的多个乘积的工序；以及，根据上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系，计算第1记录功率的工序。

某个实施方式中，上述计算第1记录功率的工序，包括：生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率的工序。

某个实施方式中，上述幂指数n的值为1。

某个实施方式中，上述信息记录介质中，记录有Pind的值与κ的值；上述进行读出的工序，包括读出上述Pind的值与上述κ的值的工序；上述进行确认的工序，包括将上述多个测试记录功率的范围设为上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的工序，上述计算第1记录功率的工序，包括生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率的工序，上述计算记录功率的工序，包括计算上述第1记录功率与(κ的值)以及(ρ的值)的乘积的工序。

某个实施方式中，上述幂指数n的值为2。

某个实施方式中，上述信息记录介质中，记录有Pind的值与κ的值，上述进行读出的工序，包括读出上述Pind的值与上述κ的值的工序，上述进行确认的工序，包括将上述多个测试记录功率的范围设为上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的工序，上述计算第1记录功率的工序，包括生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率的工序，上述计算记录功率的工序，包括计算上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积的工序。

某个实施方式中，上述进行确认的工序，包括计算上述调制度为上述Mind的值的给定记录功率的工序；以及，以使上述多个测试记录功率中最小的测试记录功率大于上述给定记录功率的0.9倍的方式，设定上述多个测试记录功率的范围的工序。

某个实施方式中，上述进行确认的工序，包括计算上述调制度为上述Mind的值的给定记录功率的工序；以及，以使上述多个测试记录功率中最大的测试记录功率小于上述给定记录功率的1.1倍的方式，设定上述多个测试记录功率的范围的工序。

某个实施方式中，上述进行确认的工序，包括以使上述所生成的信号包含多个单一周期的信号的方式，记录上述测试数据的工序。

某个实施方式中，上述信息记录介质中，通过调制过的光束形成有多个标记与多个空白，且上述进行确认的工序，包括以使上述所生成的信号的振幅，与上述信息记录介质中所形成的标记中最长的标记的振幅大致相同的方式，形成多个标记的工序。

某个实施方式中，上述信息记录介质中，多个轨道形成为同心圆状或螺旋状。

本发明的程序，用来在信息记录装置中执行上述记录功率决定方法的各个工序。

本发明的记录功率决定装置，决定记录部往信息记录介质中记录数据时的光束的记录功率，包括：输入部，输入表示对应多个测试记录功率的多个调制度、Mind的值、以及ρ的值的信号；计算部，其确认上述多个调制度中最大的调制度大于上述Mind的值，上述多个调制度中最小的调制度小于上述Mind的值，并根据上述多个测试记录功率与上述多个调制度计算第1记录功率，根据上述第1记录功率与上述ρ的值，计算上述记录功率；以及输出部，将表示上述计算部所计算出的记录功率的信号输出给记录部。

某个实施方式中，上述计算部，通过对各个测试记录功率，分别计算各个测试记录功率的n次方(幂指数n为实数)与对应的调制度之积，来得到对应上述多个测试记录功率的多个乘积，根据上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系，计算第1记录功率，并计算上述第1记录功率与上述ρ的值的乘积。

某个实施方式中，上述计算部，生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率。

某个实施方式中，上述幂指数n的值为1；上述输入部中，被输入Pind的值与κ的值；上述输出部，将表示上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的范围内的测试记录功率的信号，输出给上述记录部，上述计算部，生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率，并计算上述第1记录功率与(κ的值)以及(ρ的值)的乘积。

某个实施方式中，上述幂指数n的值为2；上述输入部中，被输入Pind的值与κ的值，上述输出部，将表示上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的范围内的测试记录功率的信号，输出给上述记录部，上述计算部，生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率，并计算上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积。

某个实施方式中，上述计算部，计算上述调制度为上述Mind的值的给定记录功率，并以使上述多个测试记录功率的最小值大于上述给定记录功率的0.9倍的方式，设定上述多个测试记录功率，上述输出部，将表示上述所设定的多个测试记录功率的信号输出给上述记录部。

某个实施方式中，上述计算部，计算上述调制度为上述Mind的值的给定记录功率，并以使上述多个测试记录功率的最大值小于上述给定记录功率的1.1倍的方式，设定上述多个测试记录功率，上述输出部，将表示上述所设定的多个测试记录功率的信号输出给上述记录部。

本发明的信息记录装置，具有：记录部，使用光束在信息记录介质中记录数据；读出部，读出记录在上述信息记录介质中的数据；以及记录功率决定装置，决定上述记录部往上述信息记录介质中记录数据时的上述光束的记录功率，上述信息记录介质中，记录有Mind的值与ρ的值；上述读出部，读出上述Mind的值与上述ρ的值，上述记录部，以多个测试记录功率在上述信息记录介质中记录测试数据，上述读出部，分别读出以各个测试记录功率在上述信息记录介质中所记录的测试数据来生成信号，并测定分别对应上述多个测试记录功率的上述信号的多个调制度，上述记录功率决定装置，确认上述多个调制度中最大的调制度大于上述Mind的值，上述多个调制度中最小的调制度小于上述Mind的值，并根据上述多个测试记录功率与上述多个调制度计算第1记录功率，根据上述第1记录功率与上述ρ的值，计算上述记录功率。

某个实施方式中，上述记录功率决定装置，判断上述多个调制度中最大的调制度是否小于上述Mind的值，并在上述记录功率决定装置判断为上述多个调制度中最大的调制度小于上述Mind的值的情况下，上述记录功率决定装置决定更大的多个测试记录功率，直到上述读出部测定到大于上述Mind的值的调制度；上述记录功率决定装置，判断上述多个调制度中最小的调制度是否大于上述Mind的值，并在上述记录功率决定装置判断为上述多个调制度中最小的调制度大于上述Mind的值的情况下，上述记录功率决定装置决定更小的多个测试记录功率，直到上述读出部测定到小于上述Mind的值的调制度

某个实施方式中，上述记录功率决定装置，通过对各个测试记录功率，分别计算各个测试记录功率的n次方(幂指数n为实数)与对应的调制度之积，来得到对应上述多个测试记录功率的多个乘积，根据上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系，计算第1记录功率，并计算上述第1记录功率与上述ρ的值的乘积。

某个实施方式中，上述幂指数n的值为1，上述信息记录介质中，记录有Pind的值与κ的值，上述读出部，读出上述Pind的值与上述κ的值，上述记录功率决定装置，将上述多个测试记录功率的范围决定为上述Pind的值的0.9倍至1.1倍，生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率，计算上述第1记录功率与(κ的值)以及(ρ的值)的乘积。

某个实施方式中，上述幂指数n的值为2，上述信息记录介质中，记录有Pind的值与κ的值，上述读出部，读出上述Pind的值与上述κ的值，上述记录功率决定装置，将上述多个测试记录功率的范围决定为上述Pind的值的0.9倍至1.1倍，生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率，计算上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积。

某个实施方式中，上述记录功率决定装置，计算上述调制度为上述Mind的值的给定记录功率，并以使上述多个测试记录功率中最小的测试记录功率大于上述给定的记录功率的0.9倍的方式，决定上述多个测试记录功率的范围。

某个实施方式中，上述记录功率决定装置，计算上述调制度为上述Mind的值的给定记录功率，并以使上述多个测试记录功率中最大的测试记录功率小于上述给定的记录功率的1.1倍的方式，决定上述多个测试记录功率的范围。

某个实施方式中，上述记录部，以使上述读出部所生成的上述信号包含有多个单一周期的信号的方式，记录上述测试数据。

某个实施方式中，上述记录部，在上述信息记录介质中，通过调制过的光束形成多个标记与多个空白，上述记录部，以使上述读出部所生成的上述信号的振幅，与上述信息记录介质中所形成的标记中最长的标记的振幅大致相同的方式，形成多个标记。

通过本发明的记录功率决定方法以及记录功率决定装置，能够决定适当的记录功率，通过这样，能够适当地记录数据。另外，还能够防止信息记录介质迅速恶化。

另外，通过本发明的程序，能够决定适当的记录功率，通过这样，能够适当地记录数据。另外，还能够防止信息记录介质迅速恶化。

另外，通过本发明的信息记录装置，能够决定适当的记录功率，通过这样，能够适当地记录数据。另外，还能够防止信息记录介质迅速恶化。

另外，通过本发明的信息记录介质，通过读出记录在信息记录介质中的幂指数的多个值中直线性最高的值，并使用该值，不需要进行直线性的比较，就能够迅速决定适当的记录功率。

附图说明

图1为表示本发明中的光盘的示意图。

图2为表示本发明的光盘装置的实施方式的示意图。

图3为说明本发明中二值化信号波形与用来形成标记的脉冲波形之间的关系的示意图。

图4为表示本发明的光盘装置中的再生部的实施方式的示意图。

图5为表示本发明的光盘装置中的记录功率决定装置的实施方式的示意图。

图6为用来说明本发明的记录功率决定方法的第1实施方式的流程图。

图7为用来说明本发明的记录功率决定方法的第1实施方式中在光盘中以多个测试记录功率记录测试数据的示意图。

图8为说明本发明的记录功率决定方法的第1实施方式的图，(a)为表示测试记录功率与调制度之间的关系的曲线图，(b)为表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)之间的关系的曲线图。

图9为说明本发明的记录功率决定方法的第1实施方式中的倾斜的影响的图，(a)为表示记录功率与调制度之间的关系的曲线图，(b)为表示记录功率与(调制度与记录功率的二次方的乘积)之间的关系的曲线图。

图10为说明本发明的记录功率决定方法的第1实施方式的图，是表示测试记录功率与调制度之间的关系的曲线图。

图11为说明本发明的记录功率决定方法的第1实施方式的图，是表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的乘积)之间的关系的曲线图。

图12为说明本发明的记录功率决定方法的第2实施方式中的倾斜的影响的图，(a)为表示测试记录功率与调制度之间的关系的曲线图，(b)为表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)之间的关系的曲线图，(c)为表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的三次方的乘积)之间的关系的曲线图。

图13为说明本发明的记录功率决定方法的第3实施方式的流程图。

图14为说明本发明的记录功率决定方法的第3实施方式的图，(a)为表示测试记录功率与调制度之间的关系的曲线图，(b)为表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)之间的关系的曲线图。

图15为说明本发明的记录功率决定方法的第4实施方式的图，(a)为表示测试记录功率与调制度之间的关系的曲线图，(b)为表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的乘积)之间的关系的曲线图。

图16为表示一般的光盘的示意图。

图17为表示以往的光盘装置的示意图。

图18为表示以往的光盘装置中的再生部的示意图。

图19为用来说明调制度的示意图。

图20为用来说明在以往的记录功率决定方法中，在光盘中以多个测试记录功率记录测试数据的示意图。

图21为说明以往的第1记录功率决定方法的图，是表示测试记录功率与调制度之间的关系的曲线图。

图22为说明以往的第2记录功率决定方法的图，是表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的乘积)之间的关系的曲线图。

图23为说明以往的第1记录功率决定方法中的倾斜的影响的图，是表示记录功率与调制度之间的关系的曲线图。

图24为说明以往的第2记录功率决定方法的图，是表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的乘积)之间的关系的曲线图。

图中：100-光盘装置，101-光盘，102-光头，104-再生部，106-解调·ECC电路，108-记录功率决定装置，110-记录功率设定部，112-激光器驱动电路，114-记录数据生成部，210-记录部，220-读出部。

具体实施方式

(实施方式1)

下面，对照图1～图11，对本发明的记录功率决定方法以及记录功率决定装置的第1实施方式进行说明。

图1为表示本实施方式中的光盘101的示意图。光盘101中轨道(track)301形成为螺旋状，通过对轨道301照射调制过记录功率的光束，在轨道301中形成多个标记(mark)以及多个空白(space)，通过这样来进行数据的记录。光盘101中，设有用户记录数据时所使用的用户数据区域、以及决定光束的记录功率时所使用的记录功率决定区域。记录功率决定区域，设置在用户数据区域以外的区域(具体而言，为光盘101的最内侧区域或最外围区域)中。

图2为表示具有本实施方式的记录功率决定装置108的光盘装置100的示意图。光盘装置100具有：使用光束在光盘101中记录数据的记录部210、读出光盘101中所记录的数据的读出部220、决定记录部210在光盘101中记录数据时的光束的记录功率的的记录功率决定装置108、以及解调·ECC(Error Correcting Code)电路106。记录部210，具有光头102、记录功率设定部110、激光器驱动电路112、以及记录数据生成部114。读出部220具有光头102与再生部104。

光盘101被装载到光盘装置100中之后，光盘101的类型被识别，并旋转光盘101。光头702具有半导体激光器(未图示)，在光盘101旋转时，通过从光头102的半导体激光器所出射的光束，照射光盘101。

在光盘101中记录数据时，光头102通过具有给定的记录功率的光束照射光盘101，在光盘101中形成标记。这里，通过标记边缘记录方式，对Run Length Limited(1，7)调制方式的数据进行记录。这种情况下，光盘101中，对最短2T至最长8T的每个基准周期T，形成7种标记与空白。

另外，在从光盘101读出数据时，光头102，通过功率比记录功率小的再生功率的光束照射光盘101，并接收由光盘101所反射的光。光头102通过对所接收到的光进行光电变换，生成表示光盘101中所记录的数据的信号。

图3为用来说明二值化信号波形、与用来形成标记的脉冲波形的关系的示意图。图3中表示的是，对应2T标记的二值化信号波形以及用来形成2T标记的脉冲波形、对应3T标记的二值化信号波形以及用来形成3T标记的脉冲波形、以及对应4T标记的二值化信号波形以及用来形成4T标记的脉冲波形。

记录功率的参数，是峰值功率(Pp)、偏压功率(Pe)以及谷值功率(Pbw)。本实施方式中，峰值功率、偏压功率、谷值功率的比是一定的。如图3所示，表示Pp的脉冲，在2T标记中为1个，在3T标记中为2个，随着标记长每增加T而增加1个。

脉冲波形的时间上的参数，是Ttop、dTtop、Tmp以及dTe。图3中，Ttop意味着第1个脉冲表示Pp的时间，dTtop表示从二值化信号波形中的上升时刻的1T后起、到第1个脉冲的上升时刻为止的时间，Tmp意味着第1个以外的脉冲表示Pp的时间，dTe表示从二值化信号波形中的下降时刻起、到最后的脉冲从Pbw上升到Pe的时刻为止的时间。

本实施方式中，峰值功率(Pp)、偏压功率(Pe)、以及谷值功率(Pbw)，对所有标记(2T～8T)均相同。另外，Tmp也对所有标记相同。Ttop、dTtop、dTe，分为2T、3T、及4T以上这3个种类。

再次参照图2。图2中所示的光盘装置100的再生部104，测定由光头102所生成的信号的调制度，同时将光头102所生成的信号数字化。解调·ECC电路106，通过再生部104解调数字化了的信号，并进行错误修正。记录功率决定装置108，根据由再生部104所测定的调制度，决定记录数据时的记录功率。记录功率设定部110，将记录功率决定装置108所决定的记录功率设定在激光器驱动电路112中。记录数据生成部114，生成要在光盘101中记录的数据。激光器驱动电路112驱动光头102，使得光头102将记录数据生成部114中所生成的数据，以记录功率设定部110所设定的记录功率记录在光盘101中。

图4为表示本实施方式的光盘装置100中的再生部104的示意图。如图4所示，再生部104具有前置放大器201、采样保持电路202、AD变换器203、运算器204、以及二值化数据生成部205。

二值化数据生成部205，将光头102所生成的信号数字化，来生成数字化了的数据(二值化数据)，将表示二值化数据的信号105，输出给解调·ECC电路106以及记录功率决定装置108。

前置放大器201，对光头102所生成的信号进行放大。采样保持电路202，对前置放大器201所放大的信号进行采样，并保持信号的峰值以及谷值。AD变换器203，将采样保持电路202所保持的峰值以及谷值数字化。运算器204，对数字化了的峰值以及谷值进行运算来获得调制度，将表示调制度的信号107输出给记录功率决定装置108。

图5为表示本实施方式的记录功率决定装置108的示意图。如图5所示，记录功率决定装置108，具有：输入表示调制度的信号107的输入部401；计算记录部210在光盘101中记录数据时的光束的记录功率的计算部402；对记录部210的记录功率设定部110进行输出的输出部403；以及，存储器404。

下面对照图6，对本实施方式的记录功率决定方法进行说明。

光盘101中，记录有决定记录功率时所使用的常数参数。如图6的S12所示，光头102生成表示从光盘101读出的常数参数(以下，称作给定值)的信号103，并将信号103输出给再生部104。再生部104的二值化数据生成部205，生成将表示给定值的信号103二值化后的信号105，将信号105输出给记录功率决定装置108。

如图6的S14所示，以多个测试记录功率在光盘101中记录测试数据。此时，记录功率决定装置108，将表示预先决定的8个不同的测试记录功率A～H的信号109，输出给记录功率设定部110，记录功率设定部110，将测试记录功率A～H设定在激光器驱动电路112中。这里，测试记录功率A是最大的测试记录功率，按照测试记录功率B～H的顺序，测试记录功率逐渐减小。

记录数据生成部114，生成测试数据，将表示所生成的测试数据的信号115，输出给激光器驱动电路112。激光器驱动电路112驱动光头102，使得光头102在光盘101的记录功率决定区域中，从给定的位置起在轨道的约1周上连续记录测试数据。记录数据生成部114生成测试数据，使得通过光头102在光盘101中连续形成8T标记以及8T空白。光盘101中，在光盘101的约1周中，重复记录测试记录功率A～H。图7中，在光盘101中通过A～H来表示对应测试记录功率A～H的区域。通过像这样在光盘101的约1周中多次重复进行记录，能够在光盘101的周边方向上将倾斜偏差的影响消除。

再次参照图6。测试数据的记录结束后，如图6的S16所示，光头102以再生功率对光盘101照射光束。通过这样，读出记录在光盘101的轨道中的测试数据并生成信号。光头102所生成的信号的振幅，根据光盘101上是否形成有标记而进行变化。光头102所生成的信号103，输入给再生部104。

如图3所示，再生部104中，前置放大器201放大信号103。采样保持电路202，保持由前置放大器201放大过的信号的峰值以及谷值。A/D变换器203，将采样保持电路202所保持的信号的峰值以及谷值数字化。运算器204，运算数字化了的峰值与谷值，来获得信号的调制度。由于信号103的振幅因测试记录功率A～H而异，因此调制度根据测试记录功率A～H而不同。运算器204生成表示信号的调制度的信号107，并将信号107输出给记录功率决定装置108。

如图5所示，记录功率决定装置108的输入部401，被从再生部104的运算器204，输入表示对应测试记录功率A～H的调制度的信号107。

如图6的S18所示，记录功率决定装置108的计算部402，计算出对应测试记录功率A的调制度与测试记录功率A的二次方的乘积。另外，计算部402，对各个测试记录功率B～H，计算出对应测试记录功率的调制度与测试记录功率的二次方的乘积。通过这样，计算部402得到对应测试记录功率A～H的多个乘积。

接下来，如图6的S20所示，计算部402，根据多个测试记录功率A～H与多个乘积之间的相关关系，计算第1记录功率。具体来说，计算部402生成表示多个测试记录功率与多个乘积的相关关系的近似直线，并在近似直线中将乘积为0的记录功率设为上述的第1记录功率。以下，对照图8进行详细说明。

图8(a)为表示测试记录功率与对应测试记录功率的调制度之间的关系的曲线图，图8(b)为表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)之间的关系的曲线图。从图8(a)与图8(b)可以得知，测试记录功率与调制度的相关关系的直线性较低，而与此相对，测试记录功率与(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)之间的相关关系的直线性较高，图8(b)的曲线图中，对应测试记录功率A～H的8个点几乎排列成直线。

计算部402，计算出在图8(b)的曲线图中所示的近似直线中，调制度与测试记录功率的二次方的乘积为0的记录功率P500。

接下来，如图6的S22所示，计算部402，根据记录功率P500计算记录功率。具体来说，通过对记录功率P500与光盘101中所记录的给定的值进行运算，来计算记录功率。

输出部403，将表示计算部402所计算出的记录功率的信号109，输出给记录功率设定部110。

另外，还可以使用程序，使CPU(未图示)通过上述的步骤控制光盘装置100的各部来执行，另外，该程序可以记录在未图示的EEPROM或ROM、RAM、硬盘、磁记录介质等计算机可读的记录介质中。

接下来，对照图9，对光盘101与光头102之间产生了相对倾斜的情况下的记录功率与调制度的关系进行说明。

图9(a)为表示记录功率与对应记录功率的调制度之间的关系的曲线图，是与图23的曲线图相同的曲线图。图9(a)的曲线图中，记录时以及读出所记录的数据时均没有产生倾斜的情况下的结果通过实线1201A表示，记录时产生了倾斜而读出时未产生倾斜的情况下的结果通过实线1202A表示，记录时以及读出时均产生了倾斜的情况下的结果通过实线1203A表示。产生了倾斜的情况下的调制度，比没有产生倾斜的情况下的调制度小。在读出时没有产生倾斜而记录时产生了倾斜的情况下，8个记录功率中，记录功率最低的测试记录功率H的调制度无法测定。同样，在记录时以及读出时均产生了倾斜的情况下，测试记录功率H的调制度也无法测定。

图9(b)为表示图9(a)所示的记录功率与调制度中，记录功率与(调制度与记录功率的二次方的乘积)之间的关系的曲线图。图9(b)的曲线图中，记录时以及读出时均没有产生倾斜的情况下的结果通过实线1201B表示，记录时产生了倾斜而读出时未产生倾斜的情况下的结果通过实线1202B表示，记录时以及读出时均产生了倾斜的情况下的结果通过实线1203B表示。

如上所述，测试数据的记录以及测试数据的读出，在记录用户数据之前进行，将测试数据记录之后，立即读出测试数据。因此，如果在产生相对的倾斜的状态下记录测试数据，并读出测试数据，便得到如实线1203A以及实线1203B所示的结果。

根据本实施方式，记录功率决定装置108如图9(b)的曲线图所示，计算出(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)为0的记录功率P1203，根据记录功率P1203与记录在光盘101中的给定的值，计算记录功率，并将表示所计算出的记录功率的信号109，输出给记录功率设定部110。

此时，实线1203B中所示的结果中，除了记录时的倾斜的影响之外，还受到读出时的倾斜的影响。如上所述，由于决定记录功率时，可以只考虑记录时的倾斜的影响，因此此时应当选择的记录功率本质上是记录功率P1202，但如图9(b)所示可以确认，按照本实施方式的记录功率决定方法所选择的记录功率P1203，与本来应当选择的记录功率P1202实际上几乎相等。

也即，(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)为0的记录功率，是在光盘101中形成标记所必需的临界记录功率，在通过比该记录功率大的记录功率进行记录的情况下，由于不管有没有产生读出时的倾斜，都可测定出非0的调制度，因此认为(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)为0的记录功率，不管是否产生了读出时的倾斜，都相等。

如上所述，通过本实施方式，即使在产生了光盘与光头之间的相对倾斜的情况下，也能够决定适当的记录功率，通过这样能够适当记录数据。另外，通过本实施方式，能够防止在重复进行记录时光盘迅速恶化。

另外，通过本实施方式，并不仅限于倾斜，在产生记录时的调制度的恶化以及再生时的调制度的恶化这两种恶化的压力下，也能够决定适当的记录功率。

另外，本实施方式，在以为了高密度进行记录而要求以更高精度控制记录功率的BD(Blu-ray Disc)标准为准的光盘装置中，特别有效。

另外，制造以BD标准为准的光盘的盘片制造商，在光盘出厂之前，预先决定在光盘中记录数据时推荐的记录功率Pwo。该记录功率Pwo被决定为，理想的光盘装置通过该记录功率Pwo在理想的光盘中记录数据之后，读出数据后测定适当的调制度，但由于光盘以及光盘装置中存在个体差异，因此即使光盘装置以记录功率Pwo记录数据，在读出时也不一定就能测定适当的调制度。

因此，光盘装置在往光盘中记录数据时，调查多个测试记录功率与调制度之间的关系，来决定适当的记录功率。盘片制造商将决定适当的记录功率时所使用的常数参数，预先记录在光盘中。该常数参数是，Pind、ρ、κ、Mind。详细内容将在后面说明，而用来在光盘中记录数据的适当的记录功率，使用比记录功率Pwo小的记录功率Pind以及记录功率Pind与调制度Mind之间的关系来决定。这是由于，如果要直接决定记录功率Pwo，则(1)由于记录功率Pwo的附近调制度饱和，因此如图9所示，难以检测到与倾斜等外扰相伴的最佳记录功率的变化，(2)如果重复记录功率的决定，则光盘101会发生恶化。

下面对照图10以及图11，对片盘片制造商所推荐的记录功率Pwo与Pind、ρ、κ、Mind之间的关系进行说明。

盘片制造商，决定记录功率Pwo之后，接下来决定记录功率Pind，并根据ρ＝(记录功率Pwo)/(记录功率Pind)的关系，决定ρ。

盘片制造商如图10所示，读出以形成8T标记的方式用记录功率Pind记录的数据，并将对应该数据的信号的调制度，设为调制度Mind。

另外，盘片制造商如图11所示，读出以形成8T标记的方式用从记录功率Pind的0.9倍至1.1倍的范围内的多个测试记录功率记录的测试数据，来生成信号，并测定信号的多个调制度。多个调制度，分别对应多个测试记录功率。

盘片制造商，对各个测试记录功率分别计算调制度与测试记录功率的乘积，根据多个测试记录功率与多个乘积之间的相关关系，计算出记录功率Pthr。具体来说，生成表示多个测试记录功率与多个乘积之间的相关关系的近似直线，并将近似直线中乘积为0的记录功率设为记录功率Pthr。接下来，根据κ＝(记录功率Pind)/(记录功率Pthr)的关系，决定κ。

盘片制造商，预先将Pind的值与ρ的值、κ的值、Mind的值记录在光盘101中。

本实施方式中，根据测试记录功率与调制度之间的关系，计算出与调制度为0的记录功率Pthr相当的值，并根据记录功率Pthr与κ的值计算出记录功率(即与Pind相当的值)，根据该记录功率与ρ的值，计算出记录功率Pw。

以下，对光盘以BD标准为准的情况下的本实施方式的记录功率方法进行说明。

再生部104读出记录在光盘101中的κ的值与ρ的值，再生部104将表示κ的值与ρ的值的信号105，输出给记录功率决定装置108。

光盘装置100的记录部210用测试记录功率A～H记录测试数据之后，再生部104测定对应多个测试记录功率的多个调制度。再生部104，将表示对应多个测试记录功率的多个调制度的信号107，输出给记录功率决定装置108。

读出测试数据后，获得如图8(a)所示的结果时，记录功率决定装置108如图8(b)所示，计算出调制度与测试记录功率的二次方的乘积为0的记录功率P500，按照以下所示的(式1)，计算出用于记录数据的记录功率Pw1。

Pw1＝P500×(-1/κ+2)×ρ  …(式1)

记录功率决定装置108，将表示所计算出的记录功率Pw1的信号109，输出给记录功率设定部110。

如上所示，通过本实施方式，由于测试记录功率与(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)的相关关系的直线性高，因此能够与测试记录功率的范围无关地决定适当的记录功率。

另外，虽然以上的说明中，使用(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)，也即使用测试记录功率的幂指数n的值为2的情况下的乘积，来计算第1记录功率(P500)，但本发明并不仅限于此。因光盘的构造或记录膜的特性差异，有时幂指数n的值为2以外的值时，测试记录功率与(调制度与测试记录功率的n次方的乘积)之间的相关关系的直线性增高。因此，幂指数n的值并不仅限于2。

但是，如以上对照图22所述，在幂指数的值为1的情况下，也即测试记录功率与(调制度与测试记录功率的乘积)之间的相关关系的直线性较低，即图22的曲线图中，所标绘的点偏离直线。

因此，幂指数n的值可以是1以外的实数。在关于幂指数n的值，对现有的若干个光盘进行实验时发现，例如在幂指数n的值为1.5～2.5时，测试记录功率与(调制度与测试记录功率的n次方的乘积)之间的相关关系的直线性增高。但是幂指数n的值并不仅限于此，幂指数n的值例如可以是0.5，或0、-1。

根据本实施方式，由于能够增加测试记录功率与(调制度与测试记录功率的n次方的乘积)的相关关系的直线性，因此与测试记录功率无关，能够计算出调制度与测试记录功率的n次方的乘积为0的记录功率。

另外，如图7所示，还可以不用8个测试记录功率A～H来实施记录，例如用4个测试记录功率A～D来进行记录，或用4个测试记录功率E～H来进行记录，或用4个测试记录功率C～F来进行记录，也能够适当获得记录功率P500。在使用给定大小的区域决定记录功率的情况下，通过减少测试记录功率的数目，能够增加重复次数，提高所决定的记录功率的精度。

另外，优选在光盘101中记录幂指数n的值。通过在光盘101中记录幂指数n的值，能够提高光盘101的构造以及光盘101内的记录膜的设计的自由度。

本实施方式的记录功率决定方法，在像以BD规格为准的光盘装置那样、为了高密度地进行记录要求更高精度地控制记录功率的光盘装置中，特别有效。

(实施方式2)

下面对照图12，对本发明的记录功率决定方法以及记录功率决定装置的第2实施方式进行说明。

本实施方式的记录功率决定装置108，具有与对照图5所说明的实施方式1的记录功率决定装置相同的构成，具有本实施方式的记录功率决定装置108的光盘装置100，也与对照图2在实施方式1中所说明的光盘装置具有相同的构成。因此，为了避免冗长，本实施方式的记录功率决定装置108以及光盘装置100的记载中，省略了与实施方式1的说明重复的部分。

本实施方式的记录功率决定装置108，与实施方式1中所说明的记录功率决定装置的不同点在于，对幂指数n的多个值的每一个，计算调制度与测试记录功率的n次方的乘积，计算出测试记录功率与(调制度与测试记录功率的n次方的乘积)的相关关系的直线性，使用多个值中直线性最高的值，来决定记录功率。

下面对照图2以及图5，对幂指数n的值为2以及3的情况下的记录功率决定方法进行说明。

再生部104，将表示对应多个测试记录功率的多个调制度的信号107，输出给记录功率决定装置108。记录功率决定装置108中，输入部401中被从再生部104的运算器204，输入表示对应测试记录功率A～H的调制度的信号107。

计算部402，计算出对应测试记录功率A的调制度与测试记录功率A的二次方的乘积。另外，计算部402，对各个测试记录功率B～H，计算对应测试记录功率的调制度与测试记录功率的二次方的乘积。这样，计算部402，得到幂指数n为2的情况下的对应测试记录功率A～H的多个乘积。

计算部402，还计算出对应测试记录功率A的调制度与测试记录功率A的三次方的乘积。另外，计算部402，对各个测试记录功率B～H，计算对应测试记录功率的调制度与测试记录功率的三次方的乘积。这样，计算部402，得到幂指数n为3的情况下的对应测试记录功率A～H的多个乘积。

图12(a)为表示测试记录功率与对应测试记录功率的调制度之间的关系的曲线图，图12(b)为表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)之间的关系的曲线图，图12(c)为表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的三次方的乘积)之间的关系的曲线图。

计算部402，将幂指数n的值为2的情况下的直线性与幂指数n的值为3的情况下的直线性进行比较，来决定值2与值3中直线性较高的值。关于直线性的比较将在后面说明。这里，例如若设值2的直线性比值3的直线性高，则计算部402，使用之前计算的、幂指数n为2的情况下的对应测试记录功率A～H的多个乘积，根据多个测试记录功率A～H与多个乘积之间的相关关系，计算记录功率P500。具体来说，计算部402生成表示多个测试记录功率与多个乘积之间的相关关系的近似直线，计算出在近似直线中乘积为0的记录功率P500，计算部402，通过对记录功率P500以及从光盘101读出的给定的值进行运算，来计算记录功率。输出部403，将表示所计算出的记录功率的信号109输出给记录功率设定部110，记录功率设定部110，在激光器驱动电路112中设定记录功率。

这里参照图12(b)以及图12(c)，对直线性的比较进行说明。

计算部402，在幂指数的值为2的情况下，计算测试记录功率与(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)之间的相关关系的直线性。计算部402，例如选择测试记录功率A～H中最大的两个(测试记录功率A和测试记录功率B)以及测试记录功率A～H中最小的两个(测试记录功率G和测试记录功率H)。计算部402，生成在图12(b)的曲线图中连接对应测试记录功率A的点和对应测试记录功率B的点的直线(以下称作第1直线)，计算出第1直线的斜率(以下称作第1斜率)。计算部402，还生成在图12(b)的曲线图中连接对应测试记录功率G的点与对应测试记录功率H的点的直线(以下称作第2直线)，计算出第2直线的斜率(以下称作第2斜率)。计算部402，计算第1斜率与第2斜率之比(以下称作第1比)。

计算部402，在幂指数的值为3的情况下也一样，计算测试记录功率与(调制度与测试记录功率的三次方的乘积)之间的相关关系的直线性。计算部402，例如选择测试记录功率A～H中最大的两个(测试记录功率A和测试记录功率B)以及测试记录功率A～H中最小的两个(测试记录功率G和测试记录功率H)。计算部402，生成在图12(c)的曲线图中连接对应测试记录功率A的点和对应测试记录功率B的点的直线(以下称作第3直线)，计算出第3直线的斜率(以下称作第3斜率)。计算部402还生成在图12(c)的曲线图中连接对应测试记录功率G的点和对应测试记录功率H的点的直线(以下，称作第4直线)，计算出第4直线的斜率(以下称作第4斜率)。计算部402，计算第3斜率与第4斜率之比(以下称作第2比)。

接下来，计算部402，将第1比与第2比进行比较，判断为第1比与第2比中接近1的那方所对应的值的直线性高，计算部402如上所述，根据直线性高的值所对应的相关关系，计算记录功率。这样，由于计算部402根据直线性更高的相关关系决定记录功率，因此能够决定更加适当的记录功率。

但是直线性的比较方法并不仅限于此。虽然以上的说明中，计算部402，将多个测试记录功率的最大值附近的斜率与最小值附近的斜率进行比较，但计算部402也可以使用其他的方法，来对多个测试记录功率的最大值附近的斜率与最小值附近的斜率进行比较。

计算部402，在幂指数n为2的情况下，计算出表示多个测试记录功率的全体平均的第1平均功率。接下来，计算部402，以让多个测试记录功率中的属于某个组(以下称作第1测试记录功率群)的测试记录功率的平均，大于第1平均功率的方式，从多个测试记录功率中选择属于第1测试记录功率群的至少两个测试记录功率，生成表示属于第1测试记录功率群的测试记录功率及对应这些测试记录功率的乘积之间的相关关系的第1直线，并计算第1直线的第1斜率。计算部402，还以让多个测试记录功率中的属于另一个组(以下称作第2测试记录功率群)的测试记录功率的平均，小于第1平均功率的方式，从多个测试记录功率中选择属于第2测试记录功率群的至少两个测试记录功率，生成表示属于第2测试记录功率群的测试记录功率及对应这些测试记录功率的乘积之间的相关关系的第2直线，并计算第2直线的第2斜率。接下来，计算部402，根据第1斜率与第2斜率计算出第1比。

计算部402，在幂指数n为3的情况下也一样，计算出表示多个测试记录功率的全体平均的第2平均功率。接下来，计算部402，以让多个测试记录功率中的属于某个组(以下称作第3测试记录功率群)的测试记录功率的平均，大于第2平均功率的方式，从多个测试记录功率中选择属于第3测试记录功率群的至少两个测试记录功率，生成表示属于第3测试记录功率群的测试记录功率及对应这些测试记录功率的乘积之间的相关关系的第3直线，并计算第3直线的第3斜率。另外，计算部402，还以让多个测试记录功率中的属于另一个组(以下称作第4测试记录功率群)的测试记录功率的平均，小于第2平均功率的方式，从多个测试记录功率中选择属于第4测试记录功率群的至少两个测试记录功率，生成表示属于第4测试记录功率群的测试记录功率及对应这些测试记录功率的乘积之间的相关关系的第4直线，并计算第4直线的第4斜率。接下来，计算部402，根据第3斜率与第4斜率计算出第2比。

接下来，计算部402，判断为第1比与第2比中比值接近1的那方所对应的值的直线性高。

如上所示，选择幂指数n的值中直线性高的值。

另外，本实施方式中的直线性的比较方法，并不仅限于此。计算部402，可以对多个值的每一个，设定由多个测试记录功率中的至少2个测试记录功率构成的、某个测试记录功率群，并以与上述某个测试记录功率群的测试记录功率不成为完全相同的方式，设定由从多个测试记录功率中选择出的至少2个测试记录功率构成的、另一个测试记录功率群，并对每个不同的测试记录功率群形成直线，计算直线的斜率来比较直线性。

更为详细的说，计算部402，对值2，选择多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，设定由所选择的至少两个测试记录功率所构成的第1测试记录功率群，根据第1测试记录功率群的全体测试记录功率、与第1测试记录功率群的全体测试记录功率所对应的乘积，生成第1直线，并计算第1直线的第1斜率。另外，计算部402，对值2，以与第1测试记录功率群的测试记录功率不成为完全相同的方式，选择多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由所选择的至少两个测试记录功率所构成的第2测试记录功率群，根据第2测试记录功率群的全体测试记录功率、与第2测试记录功率群的全体测试记录功率所对应的乘积，生成第2直线，并计算第2直线的第2斜率。接下来，计算部402根据第1斜率与第2斜率，计算第1比。

计算部402，对值3也一样，选择多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，设定由所选择的至少两个测试记录功率所构成的第3测试记录功率群，根据第3测试记录功率群的全体测试记录功率、与第3测试记录功率群的全体测试记录功率所对应的乘积，生成第3直线，并计算第3直线的第3斜率。另外，计算部402，对值3，以与第3测试记录功率群的测试记录功率不成为完全相同的方式，选择多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由所选择的至少两个测试记录功率构成的第4测试记录功率群，根据第4测试记录功率群的全体测试记录功率、与第4测试记录功率群的全体测试记录功率所对应的乘积，生成第4直线，并计算第4直线的第4斜率。接下来，计算部402，根据第3斜率与第4斜率，计算第2比。

计算部402，通过对第1比与第2比进行比较，决定第1值与第2值中直线性高的值。

以上说明了多个比较方法，而在任意一个比较方法中，计算部402在一方的比为1以上，另一方的比为1以下的情况下，可计算出为1以上的比的倒数，在任意一个比均为1以下的状态下选择接近1的那一方。或者，计算部402，在一方的比为1以上、另一方比为1以下的情况下，计算为1以下的比的倒数，在任意一个比均为1以上的状态下，选择接近1的那一方。

另外，上述多个比较方法，不过是直线性的比较方法的示例，只要能够比较相关关系的直线性，使用任意的方法均可。

另外，与实施方式1中所说明的一样，在幂指数n的值为3的情况下，(调制度与测试记录功率的三次方的乘积)为0的记录功率，是在光盘101中形成标记所必需的临界的记录功率，在用比该记录功率大的记录功率进行记录的情况下，不管有没有产生读出时的倾斜，都能测定出调制度，因此认为(调制度与测试记录功率的三次方的乘积)为0的记录功率，不管是否产生了读出时的倾斜都相等。

另外，近年来开发出了具有多个记录膜的光盘，但通过本实施方式，能够对1张光盘的多个记录膜的每一个，适当决定幂指数n的值。

另外，本实施方式的记录功率决定装置108中，输出部402，以将幂指数n的多个值中直线性最高的值记录在光盘101中的方式，向记录部210输出信号，记录部210将幂指数n的多个值中直线性最高的值记录在光盘101中。光盘101中，可以预先设置用来记录幂指数n的多个值中直线性最高的值的区域，或者幂指数n的多个值中直线性最高的值，可被记录在光盘101的用户数据区域中。像这样，在光盘101的给定区域中记录有幂指数n的多个值中直线性最高的值的情况下，装载该光盘101的光盘装置100，在决定记录功率时，将光盘101中所记录的幂指数n的多个值中直线性最高的值读出，并通过使用该值，不需要进行直线性的比较，就能够迅速决定适当的记录功率。

或者，幂指数n的多个值中直线性最高的值，也可以被记录在光盘装置100中。

本实施方式中，光盘101中记录有用来识别光盘101的识别信息。识别信息，例如是制造光盘101的盘片制造商的相关信息，或光盘101的批次的相关信息。

再生部104读出光盘101中所记录的识别信息，再生部104将表示识别信息的信号105，输出给记录功率决定装置108。

记录功率决定装置108的输入部401中，被输入表示识别信息的信号105。记录功率决定装置108的存储器404中，设有识别信息存储部。计算部402，决定出光盘101的识别信息所对应的幂指数n的多个值中直线性最高的值之后，将光盘101的识别信息、与该识别信息所对应的幂指数n的多个值中直线性最高的值，保存在存储器404的识别信息存储部中。

由于存储器404中存储有光盘101的识别信息、与该识别信息所对应的幂指数n的多个值中直线性最高的值，因此光盘101被装载到光盘装置100中后，再生部104读出所装载的光盘101的识别信息，记录功率决定装置108的计算部402，判断所读出的识别信息是否与识别信息存储部中所保存的识别信息相同。在计算部402判断为所读出的识别信息与保存在识别信息存储部中的识别信息相同的情况下，计算部402，将存储器404中所保存的幂指数n的多个值中直线性最高的值读出，通过使用该值，不需要对多个值进行直线性的比较，就能够迅速决定适当的记录功率。

另外，本实施方式也与实施方式1相同，在以BD标准为准的光盘装置中特别有效。

如实施方式1中所述，以BD标准为准的光盘中，预先记录有Pind的值与ρ的值、κ的值、Mind的值，再生部104读出ρ的值与κ的值。

在计算部402判断为幂指数n的值为2时直线性较高的情况下，计算部402，计算如图12(b)中所示的记录功率P500，按照以下所示的(式1)计算记录功率Pw1。

Pw1＝P500×(-1/κ+2)×ρ  …(式1)

另外，在计算部402判断为幂指数n的值为3时直线性较高的情况下，计算部402，计算如图12(c)所示的记录功率P600，并按照以下所示的(式2)计算记录功率Pw1。

Pw1＝P600×(3κ-2)×(2κ-1)×ρ  …(式2)

输出部403，将表示记录功率Pw1的信号109，输出给记录功率设定部110。

另外，虽然以上的说明中，幂指数n的值是2以及3，但因光盘的构造或光盘的记录膜的特性不同，有时为2以及3以外的值时，直线性较高。本实施方式中，幂指数n的值并不仅限于2以及3，只要幂指数的值是1以外的实数，任意的值都可以。在计算记录功率时，与κ以及ρ相关的系数，根据幂指数n的值进行变化。例如，在幂指数n的值为0的情况下，计算部402，按照以下所示的(式2’)来计算记录功率Pw1。

Pw1＝P700×(1/(2-κ))×ρ  …(式2’)

这里，P700，是通过在幂指数n为0的情况下生成表示多个测试记录功率与多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算出近似直线中乘积为0的记录功率得到的。

为了参考，在幂指数n的值为1的情况下，如对照图22所述，记录功率Pw1，按照以下所示的公式进行计算。

Pw1＝Pthr×κ×ρ

这里，Pthr，是在幂指数n为1的情况下生成表示多个测试记录功率与多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算出近似直线中乘积为0的记录功率得到的。

另外，虽然以上的说明中，对两个值比较直线性，但本实施方式并不仅限于此，本实施方式中，还可以对3个以上的值比较直线性。例如，幂指数的值，可以从2、2.5、3这3个值中决定直线性较高的值。

通过本实施方式，根据测试记录功率与(调制度与测试记录功率的n(n为1以外的实数)次方的乘积)之间的相关关系，计算出幂指数n的至少两个值中直线性较高的值，通过这样，能够与测试记录功率的范围无关地，决定适当的记录功率。

(实施方式3)

下面对照图14，对本发明的记录功率决定方法以及记录功率决定装置的第3实施方式进行说明。

本实施方式的记录功率决定装置108，也具有与对照图5所说明的实施方式1的记录功率决定装置相同的构成，具有本实施方式的记录功率决定装置108的光盘装置100，也与对照图2在实施方式1中所说明的光盘装置具有相同的构成。因此，为了避免冗长，本实施方式的记录功率决定装置108以及光盘装置100的记载中，省略了与实施方式1的说明重复的部分。

下面对照图13，对本实施方式的记录功率决定方法进行说明。

如上所述，以BD标准为准的光盘101的给定区域中，记录有Pind的值、ρ的值、κ的值、Mind的值，如图13的S32所示，再生部104从光盘101读出Pind的值、ρ的值、κ的值、以及Mind的值。再生部104，将表示Pind的值、ρ的值、κ的值、Mind的值的信号105，输出给记录功率决定装置108。

如图13的S34所示，确认多个调制度中最大的调制度大于(Mind的值)，多个调制度中最小的调制度小于(Mind的值)。

此时，记录功率决定装置108，在记录测试数据时，决定测试记录功率A～H，使得相邻的测试记录功率之差为Pind的值的至少10％以下。

以测试记录功率A～H记录测试数据之后，再生部104，测定对应多个测试记录功率的多个调制度。再生部104，将表示对应多个测试记录功率的多个调制度的信号107，输出给记录功率决定装置108。

记录功率决定装置108的计算部402，确认多个调制度中最大的调制度大于(Mind的值)，多个调制度中最小的调制度小于(Mind的值)。具体来说，计算部402判断最大的调制度是否小于(Mind的值)。在计算部402判断为最大的调制度小于(Mind的值)的情况下，计算部402，设定大于之前的测试记录功率的测试记录功率，并且输出部403，将表示新设定的测试记录功率的信号109输出给记录部210。记录部210，以新设定的测试记录功率记录测试数据。再生部104读出新记录的测试数据，计算部402再次判断最大的调制度是否小于(Mind的值)。计算部402，设定更大的多个测试记录功率，直到再生部104测定到大于Mind的值的调制度。

另外，计算部402，判断最小的调制度是否大于(Mind的值)。在计算部402判断为最小的调制度大于(Mind的值)的情况下，计算部402设定小于之前的测试记录功率的测试记录功率，输出部403将表示新设定的测试记录功率的信号109，输出给记录部210。记录部210以新设定的测试记录功率记录测试数据。再生部104读出新记录的测试数据，计算部402，再次判断最小的调制度是否大于(Mind的值)。计算部402，设定更小的多个测试记录功率，直到再生部104测定到小于Mind的值的调制度。

这样，计算部402，确认最大的调制度大于(Mind的值)，最小的调制度小于(Mind的值)。

图14(a)为表示测试记录功率与调制度之间的关系的曲线图。计算部402如图14(a)所示，确认最小的测试记录功率H的调制度为Mind以下，最大的测试记录功率A的调制度大于(Mind的值)。

接下来，计算部402确认到最大的调制度大于(Mind的值)，最小的调制度小于(Mind的值)之后，计算对应多个测试记录功率的多个调制度与多个测试记录功率的二次方的乘积。

图14(b)为表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)之间的关系的曲线图。

接下来，在图13的S36中，计算部402，如图14(b)所示，生成表示多个测试记录功率与多个乘积之间的相关关系的近似直线，计算近似直线中乘积为0的记录功率P500。

接下来，如图13的S38所示，计算部402根据记录功率P500，按照以下所示的(式1)，计算用来记录用户数据的记录功率Pw1。

Pw1＝P500×(-1/κ+2)×ρ  …(式1)

输出部403，将表示记录功率Pw1的信号109，输出给记录功率设定部110。

根据本实施方式，确认调制度与(Mind的值)之间的关系，通过确认出最小的调制度小于(Mind的值)，最大的调制度大于(Mind的值)，来以与盘片制造商决定Pind时所使用的测试记录功率的范围相接近的记录功率的范围实施记录，从而能够更加适当地求出盘片制造商所推荐的记录功率。

另外，虽然以上的说明中，确认出最小的调制度小于(Mind的值)，最大的调制度大于(Mind的值)，但可通过添加多个测试记录功率中最小的测试记录功率，为调制度约为Mind的记录功率的0.9倍以上这一条件，来以与盘片制造商决定Pind时所使用的测试记录功率的范围更接近的范围实施记录，能够更加准确地求出盘片制造商所推荐的记录功率。

另外，通过添加多个测试记录功率中最大的测试记录功率，为调制度约为Mind的记录功率的1.1倍以内这一条件，来以与盘片制造商决定Pind时所使用的测试记录功率的范围更接近的测试记录功率的范围实施记录，从而能够更加准确地求出盘片制造商所推荐的记录功率。

另外，通过令最小的测试记录功率，为调制度约为Mind的记录功率的0.9倍以上，且最大的测试记录功率，为调制度约为Mind的记录功率的1.1倍以下，能够更加准确地求出盘片制造商所推荐的记录功率。

另外，相对调制度为Mind的记录功率的前后余量也可以不是10％，只要以与盘片制造商决定Pind时所使用的测试记录功率的范围相接近的范围的测试记录功率实施记录即可。

另外，从图14(a)的曲线图可以推断，随着记录功率增大，形成在光盘101中的标记的宽度变宽，结果导致调制度增加，而记录功率达到某个程度以上后，轨道宽度带来的限制的影响变大，标记的宽度饱和，调制度也随之饱和。记录功率与调制度的关系中，记录功率的大小可以分为3个范围。第1个范围是，调制度完全没有受到轨道的影响地增加的范围(小于测试记录功率H的范围)，第2个范围是，调制度在受到轨道的影响的同时增加的范围(测试记录功率H到测试记录功率A的范围)，第3个范围是，调制度受到轨道的影响而饱和的范围(大于测试记录功率A的范围)。

如图14(b)所示，虽然测试记录功率A～H的范围内，测试记录功率与(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)之间的相关关系，显示出较高的直线性，但大于测试记录功率A的记录功率以及小于测试记录功率H的记录功率中，决定标记宽度的要因不同，因此不一定显示出高直线性。

再有，从形成标记的临界记录功率到测试记录功率H为止的记录功率的范围非常狭窄。另外，大于测试记录功率A的记录功率中，由于调制度饱和，因此难以检测出与外扰相伴的最佳记录功率的变化。因此，决定记录功率时所使用的调制度的范围，最好是调制度受到轨道的影响的同时增加的范围。

在记录功率处于调制度完全没有受到轨道的影响地增加的范围的情况下，存在光盘101或光头102上附着有灰尘、或光盘101与光头102之间产生了相对倾斜或散焦等外扰、或因光头102的温度变化从光头102所出射的光束的强度减少等情况，另外，在记录功率处于调制度受到轨道的影响而饱和的范围的情况下，存在随光头102的温度变化，从光头102所出射的光束的强度增加的情况。

如上所述，在测试记录功率H的调制度大于Mind的值的情况下，再次设定小于之前的测试记录功率的测试记录功率，来再次记录测试数据，同样，在测试记录功率A的调制度小于Mind的值的情况下，再次设定大于之前的测试记录功率的测试记录功率，来再次记录测试数据，但本实施方式并不仅限于此。还可以扩大测试记录功率的范围，只使用给定调制度的范围，决定记录功率。

但是，为了扩大测试记录功率的范围，需要增大相邻的记录功率之差，或扩大决定记录功率时使用的区域，但存在的问题是，前者精度较差，后者增加了到决定记录功率为止的时间、或者决定记录功率所使用的区域的消耗加快。特别是，由于追记型的光盘中无法覆盖，因此不优选扩大决定记录功率所使用的区域这一方式。因此，优选将相邻的测试记录功率之差设为Pind的值的10％以下，在1轨道以下的记录区域中记录测试数据，以形成8T标记，并只在没有落到给定的调制度的范围内的情况下，再次设定测试记录功率的范围后记录测试数据。通过这样，能够在短时间内决定高精度的记录功率。

如上所述，通过本实施方式的记录功率决定方法以及记录功率决定装置，能够决定适当的记录功率。

(实施方式4)

以下对照图15，对本发明的记录功率决定方法以及记录功率决定装置的第4实施方式进行说明。

实施方式3中，根据多个测试记录功率与(调制度与测试记录功率的二次方的乘积)之间的关系，来计算第1记录功率，但本发明并不仅限于此。

本实施方式中，对幂指数为1的情况进行说明。

本实施方式的记录功率决定装置108，也具有与对照图5在实施方式1中所说明的记录功率决定装置相同的构成，具有本实施方式的记录功率决定装置108的光盘装置100，也与对照图2在实施方式1中所说明的光盘装置具有相同的构成。因此，为了避免冗长，本实施方式的记录功率决定装置108以及光盘装置100的说明中，省略了与实施方式1的说明重复的部分。

如上所述，以BD标准为准的光盘101的给定区域中，记录有Pind的值、ρ的值、κ的值、Mind的值。本实施方式的记录功率决定装置108，确认最大的调制度大于(Mind的值)，最小的调制度小于(Mind的值)，这一点与实施方式3中所说明的记录功率决定装置相同，因此省略本实施方式的记录功率决定装置108中与实施方式3的说明重复的部分。

图15(a)，为表示测试记录功率与测试记录功率所对应的调制度之间的关系的曲线图。记录功率决定装置108的计算部402，如图15(a)所示，确认最小的测试记录功率H的调制度小于(Mind的值)，最大的测试记录功率A的调制度大于(Mind的值)。

接下来，计算部402，确认到最大的调制度大于(Mind的值)，最小的调制度小于(Mind的值)之后，计算多个调制度与多个测试记录功率的乘积。

图15(b)，为表示测试记录功率与(调制度与测试记录功率的乘积)之间的关系的曲线图。

计算部402，如图15(b)所示，生成表示多个测试记录功率与多个乘积之间的相关关系的近似直线，计算近似直线中乘积为0的记录功率P1500。接下来，计算部402按照以下所示的(式3)，计算用来记录数据的记录功率Pw1。

Pw1＝P1500×κ×ρ  …(式3)

根据本实施方式中，确认调制度与(Mind的值)之间的关系，通过确认出调制度中最小的调制度小于(Mind的值)，调制度中最大的调制度大于(Mind的值)，能够以与盘片制造商决定Pind时所使用的测试记录功率的范围相接近的范围的测试记录功率实施记录，从而能够更加准确地求出盘片制造商所推荐的记录功率。

另外，以上的说明中，确认出最小的调制度小于(Mind的值)，最大的调制度大于(Mind的值)，但还可以添加最小的测试记录功率，为调制度约为Mind的记录功率的0.9倍以上这一条件，通过这样，能够以与盘片制造商决定Pind时所使用的测试记录功率的范围更接近的范围的测试记录功率实施记录，从而能够更加准确地求出盘片制造商所推荐的记录功率。

同样，通过添加最大的测试记录功率，为调制度约为Mind的记录功率的1.1倍以下这一条件，能够以与盘片制造商决定Pind时所使用的测试记录功率的范围更接近的范围的测试记录功率实施记录，从而能够更加准确地求出盘片制造商所推荐的记录功率。

另外，通过令最小的测试记录功率，为调制度约为Mind的记录功率的0.9倍以上，且最大的测试记录功率，为调制度约为Mind的记录功率的1.1倍以下，能够更加准确地求出盘片制造商所推荐的记录功率。

另外相对调制度为Mind的记录功率的前后余量也可以不是10％，只要以与盘片制造商决定Pind时所使用的测试记录功率的范围接近的测试记录功率的范围实施记录即可。

在幂指数的值为1的情况下，如图15(b)所示，测试记录功率与(调制度与测试记录功率的乘积)的相关关系的直线性，有时不如幂指数的值为2时的相关关系的直线性那样好，由于有时因所设定的测试记录功率的范围，乘积为0的记录功率Pthr的值稍有变动，因此相比测试记录功率与(调制度与测试记录功率的乘积)的相关关系的直线性较高的第3实施方式，优选以与盘片制造商决定Pind时所使用的测试记录功率的范围接近的范围的测试记录功率实施记录。

另外，以上的说明中，在测试记录功率H的调制度大于(Mind的值)的情况下，再次设定比之前的测试记录功率低的测试记录功率来再次记录测试数据，同样，在记录功率A的调制度小于Mind的值的情况下，再次设定比之前记录时的测试记录功率大的测试记录功率，来再次记录测试数据，但也可以扩大测试记录功率的范围，只使用给定的调制度的范围，决定记录功率。

但是，为了扩大测试记录功率的范围，需要增大相邻的测试记录功率之差、或扩大决定记录功率所使用的区域，而存在的问题是，前者精度较差，后者增加了到决定记录功率为止的时间。与第3实施方式同样，优选将测试记录功率的差设为Pind的值的10％以下，在1轨道以下的记录区域记录测试数据，并只在无法决定记录功率的情况下，再次设定测试记录功率的范围后记录测试数据。通过这样，能够在短时间内决定高精度的记录功率。

另外，以上的实施方式3～4中，对幂指数的值为1的情况与2的情况进行了说明，但幂指数只要是实数即可，可以取任意的值。另外，实施方式3～4中，也可以如实施方式2中所述，以使测试记录功率与(调制度与测试记录功率的n次方的乘积)的相关关系的直线性增高的方式，选择幂指数n的值。这种情况下，由于幂指数n的值所对应的相关关系的直线性高，因此即使测试记录功率的范围较大，也能够唯一决定乘积为0的记录功率，从而能够在更短的时间内决定适当的记录功率。另外，这种情况下，也优选将所选择的幂指数n的值记录在光盘中。通过将幂指数n的值记录在光盘中，能够扩大盘片制造商设计记录膜的自由度。

如上所述，通过实施方式3～4，从光盘101中读出(Mind的值)，参照Mind的值，计算调制度与记录功率的n次方的乘积，通过这样，能够适当决定记录数据时的记录功率。

另外，虽然上述实施方式1～4的光盘装置，在光盘中记录数据，并再生记录在光盘中的数据，但本发明并不仅限于此。本发明可应用于，在记录数据之前，以多个测试记录功率进行记录的信息记录装置。

另外，虽然上述实施方式1～4中，使用光盘作为信息记录介质，但本发明并不仅限于此。本发明能够应用于决定记录功率的任意的信息记录介质。

另外，虽然上述实施方式1～4中，以Run Length Limited(1，7)调制方式来记录数据，但本发明并不仅限于此。本发明还可以使用其他记录方式。在使用Run Length Limited(1，7)调制方式以外的调制方式的情况下，优选对包含许多该方式中的最长标记与最长空白连续的信号所对应的测试数据实施记录。另外，本发明可以使用任意的单一周期的信号。在使用任意的单一周期的信号的情况下，优选信号的振幅与最长标记和最长空白的信号的振幅为相同程度。

另外，虽然上述实施方式1～4中，峰值功率(Pp)、偏压功率(Pe)、以及谷值功率(Pbw)对所有的标记共通，Tmp对所有的标记共通，但本发明并不仅限于此。作为用来决定记录功率的参数，还可以使用其他参数。

另外，虽然上述实施方式1～4中，将Ttop、dTtop、dTe分为2T、3T、及4T以上这3个种类，但本发明并不仅限于此。分类也可以使用其他的分类方法。

另外，虽然上述实施方式1～4中，峰值功率、偏压功率、及谷值功率之比是一定的，但本发明并不仅限于此。还可以分别独立决定峰值功率、偏压功率、以及谷值功率。例如在决定峰值功率时，固定偏压功率与谷值功率，从而分别决定各个功率。

另外，虽然上述实施方式1～4中，以8个测试记录功率记录测试数据，但本发明并不仅限于此。本发明能够应用于以多个测试记录功率进行记录的情况。

另外，虽然上述实施方式1～4中，记录功率决定装置108预先决定测试记录功率A～H，但本发明并不仅限于此。记录功率决定装置108，可以不预先决定记录功率A～H，记录功率设定部110，可以将表示激光器驱动电路112中所设定的测试记录功率A～H的信号，输出给记录功率决定装置108。

另外，虽然上述实施方式1～4中，记录功率决定装置108决定记录功率，但在记录功率决定装置以及周边的构成要素组合在IC中的情况下，也具有相同的效果。

通过本发明的记录功率决定方法以及记录功率决定装置，能够决定适当的记录功率，通过这样，能够适当地记录数据。另外，能够防止光盘快速恶化。另外，在以为了高密度进行记录而要求高精度控制记录功率的BD标准为准的光盘装置中，特别有效。

Claims (42)

1.一种记录功率决定方法，决定往信息记录介质中记录数据时的光束的记录功率，包括：

以多个测试记录功率在上述信息记录介质中分别记录测试数据的工序；

分别读出以各个测试记录功率记录的测试数据来生成信号，并分别测定各个测试记录功率所对应的上述信号的调制度的工序；

通过对各个测试记录功率，分别计算各个测试记录功率的n次方与对应的调制度之积，来获得对应上述多个测试记录功率的多个乘积的工序，其中幂指数n为1以外的实数；

根据上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系，计算第1记录功率的工序；以及，

根据上述第1记录功率，计算上述记录功率的工序。

2.如权利要求1所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述计算第1记录功率的工序，包括：生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率的工序。

3.如权利要求1所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述获得多个乘积的工序中，上述幂指数n的值为2。

4.如权利要求3所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述记录功率决定方法，还包括：读出记录在上述信息记录介质中的值的工序，

上述信息记录介质中，记录有Pind的值、ρ的值、以及κ的值，

上述进行读出的工序，包括：读出上述Pind的值、上述ρ的值、以及上述κ的值的工序，

上述进行记录的工序，包括：将上述多个测试记录功率的范围设为上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的工序，

上述计算第1记录功率的工序，包括：生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率的工序，

上述计算记录功率的工序，包括：计算上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积的工序。

5.如权利要求1所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述记录功率决定方法，还包括：读出记录在上述信息记录介质中的值的工序，

上述信息记录介质中，记录有上述幂指数n的值，

读出记录在上述信息记录介质中的值的工序，包括：读出上述幂指数n的值的工序，

上述获得多个乘积的工序，包括：使用上述所读出的幂指数n的值的工序。

6.如权利要求1所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述记录测试数据的工序，包括：以使上述测定调制度的工序中所生成的上述信号包含多个单一周期的信号的方式，记录上述测试数据的工序。

7.如权利要求6所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述信息记录介质中，通过调制过的光束，形成多个标记与多个空白，

上述记录测试数据的工序，包括：以使上述测定调制度的工序中所生成的上述信号的振幅、与上述信息记录介质中所形成的标记中最长的标记的振幅大致相同的方式，形成多个标记的工序。

8.如权利要求1所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述信息记录介质中，多个轨道形成为同心圆状或螺旋状。

9.如权利要求1所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述获得多个乘积的工序，包括：上述幂指数n为多个值，对上述多个值的每一个，分别获取对应上述多个测试记录功率的多个乘积的工序，

上述记录功率决定方法，还包括：通过对多个值的每一个，分别计算上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的直线性，来计算对应上述多个值的多个直线性，并决定上述多个值中直线性最高的值的工序，

上述计算第1记录功率的工序，包括：使用与上述多个值中直线性最高的值相关的对应上述多个测试记录功率的多个乘积，来计算上述第1记录功率的工序。

10.如权利要求9所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述多个值，包括第1值与第2值；

上述第1值为2，上述第2值为3。

11.如权利要求10所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述记录功率决定方法，还包括：读出记录在上述信息记录介质中的值的工序，

上述信息记录介质中，记录有Pind的值、ρ的值、以及κ的值，

上述进行读出的工序，包括：读出上述Pind的值、上述ρ的值、以及上述κ的值的工序，

上述进行记录的工序，包括：将上述多个测试记录功率的范围设为上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的工序，

上述计算第1记录功率的工序，包括：生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率的工序。

12.如权利要求11所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述计算记录功率的工序，包括：

在上述幂指数n的值为2时的直线性比上述幂指数n的值为3时的直线性高的情况下，计算上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积；以及，

在上述幂指数n的值为3时的直线性比上述幂指数n的值为2时的直线性高的情况下，计算上述第1记录功率与(3×(κ的值)-2)/(2×(κ的值)-1)以及(ρ的值)的乘积的工序。

13.如权利要求9所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述多个值包括第1值与第2值，

决定上述多个值中直线性最高的值的工序，包括：

对上述第1值，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第1测试记录功率群的工序；

根据上述第1测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第1测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第1直线，并计算上述第1直线的第1斜率的工序；

对上述第1值，以与上述第1测试记录功率群的测试记录功率不成为完全相同的方式，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第2测试记录功率群的工序；

根据上述第2测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第2测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第2直线，并计算上述第2直线的第2斜率的工序；

根据上述第1斜率与上述第2斜率，获得上述第1值所对应的第1比的工序；

对上述第2值，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第3测试记录功率群的工序；

根据上述第3测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第3测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第3直线，并计算上述第3直线的第3斜率的工序；

对上述第2值，以与上述第3测试记录功率群的测试记录功率不成为完全相同的方式，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第4测试记录功率群的工序；

根据上述第4测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第4测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第4直线，并计算上述第4直线的第4斜率的工序；

根据上述第3斜率与上述第4斜率，获得上述第2值所对应的第2比的工序；以及，

比较上述第1比与上述第2比的工序。

14.如权利要求13所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述设定第1测试记录功率群的工序，包括：选择上述多个测试记录功率中最大的两个记录功率的工序，

上述设定第2测试记录功率群的工序，包括：选择上述多个测试记录功率中最小的两个记录功率的工序，

上述设定第3测试记录功率群的工序，包括：选择上述多个测试记录功率中最大的两个记录功率的工序，

上述设定第4测试记录功率群的工序，包括：选择上述多个测试记录功率中最小的两个记录功率的工序。

15.如权利要求13所述的记录功率决定方法，其特征在于：

还包括：对上述第1值，计算表示上述多个测试记录功率的全体平均的第1平均功率的工序；以及，

对上述第2值，计算表示上述多个测试记录功率的全体平均的第2平均功率的工序，

上述设定第1测试记录功率群的工序，包括：以使属于上述第1测试记录功率群的测试记录功率的平均值大于上述第1平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第1测试记录功率群的测试记录功率的工序，

上述设定第2测试记录功率群的工序，包括：以使属于上述第2测试记录功率群的测试记录功率的平均值小于上述第1平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第2测试记录功率群的测试记录功率的工序，

上述设定第3测试记录功率群的工序，包括：以使属于上述第3测试记录功率群的测试记录功率的平均值大于上述第2平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第3测试记录功率群的测试记录功率的工序，

上述设定第4测试记录功率群的工序，包括：以使属于上述第4测试记录功率群的测试记录功率的平均值小于上述第2平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第4测试记录功率群的测试记录功率的工序。

16.如权利要求9所述的记录功率决定方法，其特征在于：

还包括：将上述多个值中上述直线性最高的值，记录到上述信息记录介质中的工序。

17.如权利要求9所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述信息记录介质中，还记录有用来识别上述信息记录介质的识别信息，

上述记录功率决定方法，还包括：将上述识别信息、和与上述识别信息所对应的上述多个值中直线性最高的值，保存到识别信息存储部中的工序。

18.如权利要求17所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述记录功率决定方法，还包括：读出记录在上述信息记录介质中的识别信息的工序，

上述获得多个乘积的工序，包括：判断上述所读出的识别信息是否与存储在上述识别信息存储部中的识别信息相同，在判断为上述所读出的识别信息与存储在上述识别信息存储部中的识别信息相同的情况下，使用与存储在上述识别信息存储部中的上述识别信息相对应的值的工序。

19.如权利要求17所述的记录功率决定方法，其特征在于：

上述识别信息，包含表示上述信息记录介质的制造者或批次的数据。

20.一种程序，其特征在于：

用来在信息记录装置中执行权利要求1～19中的任一项所述的记录功率决定方法的各个工序。

21.一种记录功率决定装置，决定记录部往信息记录介质中记录数据时的光束的记录功率，具备：

输入部，其输入表示多个测试记录功率所对应的多个调制度的信号；

计算部，其通过对各个测试记录功率，分别计算各个测试记录功率的n次方与对应的调制度之积，来获得对应上述多个测试记录功率的多个乘积，并根据上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系，来计算第1记录功率，并根据上述第1记录功率计算上述记录功率，其中幂指数n为1以外的实数；以及，

输出部，其将表示上述计算部所计算出的记录功率的信号，输出给上述记录部。

22.如权利要求21所述的记录功率决定装置，其特征在于：

上述计算部，生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率。

23.如权利要求21所述的记录功率决定装置，其特征在于：

上述幂指数n的值为2。

24.如权利要求23所述的记录功率决定装置，其特征在于：

上述输入部中，被输入表示Pind的值、ρ的值、κ的值的信号，

上述输出部，将表示上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的范围内的测试记录功率的信号，输出给上述记录部，

上述计算部，通过生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率，并计算出上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积，来计算上述记录功率。

25.如权利要求21所述的记录功率决定装置，其特征在于：

上述输入部中，被输入表示上述幂指数n的值的信号，

上述计算部，使用上述幂指数n的值。

26.如权利要求21所述的记录功率决定装置，其特征在于：

上述幂指数n为多个值，上述计算部，对上述多个值的每一个，分别获取对应上述多个测试记录功率的多个乘积，通过对多个值的每一个，分别计算上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的直线性，来计算对应上述多个值的多个直线性，决定上述多个值中直线性最高的值，并使用与上述多个直线性中最高的直线性所对应的值相关的、上述多个测试记录功率所对应的多个乘积，来计算上述第1记录功率。

27.如权利要求26所述的记录功率决定装置，其特征在于：

上述多个值，包括第1值与第2值，

上述第1值为2，上述第2值为3。

28.如权利要求27所述的记录功率决定装置，其特征在于：

上述输入部中，被输入表示Pind的值、ρ的值、及κ的值的信号；

上述输出部，将表示上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的范围内的测试记录功率的信号，输出给上述记录部；

上述计算部，根据上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系来生成近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率。

29.如权利要求28所述的记录功率决定装置，其特征在于：

上述计算部，

在上述幂指数n的值为2时的直线性比上述幂指数n的值为3时的直线性高的情况下，计算上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积；

在上述幂指数n的值为3时的直线性比上述幂指数n的值为2时的直线性高的情况下，计算上述第1记录功率与(3×(κ的值)-2)/(2×(κ的值)-1)以及(ρ的值)的乘积。

30.如权利要求26所述的记录功率决定装置，其特征在于：

上述多个值，包括第1值与第2值，

上述计算部，

对上述第1值，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第1测试记录功率群；

根据上述第1测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第1测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第1直线，并计算上述第1直线的第1斜率；

对上述第1值，以与上述第1测试记录功率群的测试记录功率不成为完全相同的方式，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第2测试记录功率群；

根据上述第2测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第2测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第2直线，并计算上述第2直线的第2斜率；

根据上述第1斜率与上述第2斜率，获得上述第1值所对应的第1比；

对上述第2值，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第3测试记录功率群；

根据上述第3测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第3测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第3直线，并计算上述第3直线的第3斜率；

对上述第2值，以与上述第3测试记录功率群的测试记录功率不成为完全相同的方式，选择上述多个测试记录功率中的至少两个测试记录功率，来设定由上述所选择的至少两个测试记录功率构成的第4测试记录功率群；

根据上述第4测试记录功率群的所有测试记录功率，并根据与上述第4测试记录功率群的所有测试记录功率对应的乘积，来生成第4直线，并计算上述第4直线的第4斜率；

根据上述第3斜率与上述第4斜率，获得上述第2值所对应的第2比；

通过比较上述第1比与上述第2比，决定上述第1值与上述第2值中直线性较高的值。

31.如权利要求30所述的记录功率决定装置，其特征在于：

上述计算部，

设定上述第1测试记录功率群时，选择上述多个测试记录功率中最大的两个记录功率；

设定上述第2测试记录功率群时，选择上述多个测试记录功率中最小的两个记录功率；

设定上述第3测试记录功率群时，选择上述多个测试记录功率中最大的两个记录功率；

设定上述第4测试记录功率群时，选择上述多个测试记录功率中最小的两个记录功率。

32.如权利要求30所述的记录功率决定装置，其特征在于：

上述计算部，

对上述第1值，计算表示上述多个测试记录功率的全体平均的第1平均功率；

对上述第2值，计算表示上述多个测试记录功率的全体平均的第2平均功率；

设定上述第1测试记录功率群时，以使属于上述第1测试记录功率群的测试记录功率的平均值大于上述第1平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第1测试记录功率群的测试记录功率；

设定上述第2测试记录功率群时，以使属于上述第2测试记录功率群的测试记录功率的平均值小于上述第1平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第2测试记录功率群的测试记录功率；

设定上述第3测试记录功率群时，以使属于上述第3测试记录功率群的测试记录功率的平均值大于上述第2平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第3测试记录功率群的测试记录功率；

设定上述第4测试记录功率群时，以使属于上述第4测试记录功率群的测试记录功率的平均值小于上述第2平均功率的方式，从上述多个测试记录功率中选择属于上述第4测试记录功率群的测试记录功率。

33.如权利要求26所述的记录功率决定装置，其特征在于：

上述输出部对上述记录部输出信号，使得上述记录部将上述多个值中上述直线性最高的值，记录到上述信息记录介质中。

34.一种信息记录装置，具有：

记录部，使用光束往信息记录介质中记录数据；

读出部，读出记录在上述信息记录介质中的数据；以及，

记录功率决定装置，决定上述记录部往上述信息记录介质中记录数据时的上述光束的记录功率，其中，

上述记录部，以多个测试记录功率在上述信息记录介质中记录测试数据，

上述读出部，分别读出以各个测试记录功率在上述信息记录介质中所记录的测试数据，来生成信号，并分别测定对应各个测试记录功率的上述信号的调制度，

上述记录功率决定装置，通过对各个测试记录功率，分别计算各个测试记录功率的n次方与对应的调制度之积，来获得对应上述多个测试记录功率的多个乘积，根据上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系，计算第1记录功率，并根据上述第1记录功率，计算上述记录功率，其中幂指数n为1以外的实数。

35.如权利要求34所述的信息记录装置，其特征在于：

上述幂指数n的值为2，

上述信息记录介质中，记录有Pind的值、ρ的值、以及κ的值，

上述读出部，读出上述Pind的值、上述ρ的值、以及上述κ的值，

上述记录功率决定装置，将上述多个测试记录功率的范围设为上述Pind的值的0.9倍至1.1倍，

上述记录功率决定装置，生成表示上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的近似直线，并计算在上述近似直线中上述乘积为0的上述第1记录功率，并计算上述第1记录功率与(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘积。

36.如权利要求34所述的信息记录装置，其特征在于：

上述记录部，以使由上述读出部所生成的上述信号包含多个单一周期的信号的方式，记录上述测试数据。

37.如权利要求36所述的信息记录装置，其特征在于：

上述记录部，通过调制过的光束，在上述信息记录介质中形成多个标记与多个空白，

上述记录部，以使由上述读出部所生成的上述信号的振幅、与上述信息记录介质中所形成的标记中最长的标记的振幅大致相同的方式，形成多个标记。

38.如权利要求34所述的信息记录装置，其特征在于：

上述记录功率决定装置，上述幂指数n为多个值，对上述多个值的每一个，分别获取对应上述多个测试记录功率的多个乘积，通过对多个值的每一个，分别计算上述多个测试记录功率与上述多个乘积之间的相关关系的直线性，来计算对应上述多个值的多个直线性，决定上述多个值中直线性最高的值，

上述记录部，将上述多个值中上述直线性最高的值，记录在上述信息记录介质中。

39.如权利要求34所述的信息记录装置，其特征在于：

上述记录功率决定装置，具有存储直线性最高的值的存储器。

40.如权利要求39所述的信息记录装置，其特征在于：

上述信息记录介质中，记录有用来识别上述信息记录介质的识别信息，

上述读出部，读出上述识别信息，

上述存储器中，设有用来将上述识别信息、与对应上述识别信息的上述多个值中直线性最高的值，保存到识别信息存储部中的识别信息存储部，

上述识别信息、与对应上述识别信息的上述多个值中直线性最高的值，被保存到识别信息存储部，

上述记录功率决定装置，读出记录在上述信息记录介质中的识别信息，判断上述所读出的识别信息是否与存储在上述识别信息存储部中的识别信息相同，在判断为上述所读出的识别信息与存储在上述识别信息存储部中的识别信息相同的情况下，使用存储在上述识别信息存储部中的上述识别信息所对应的值。

41.如权利要求40所述的信息记录装置，其特征在于：

上述识别信息，包含表示上述信息记录介质的制造者或批次的数据。

42.一种信息记录介质，其特征在于：

具有用来存放幂指数n的值的区域，该幂指数n的值为1以外的实数，且如下求取，

通过对各个测试记录功率，分别计算多个测试记录中的各个测试记录功率的n次方与对应的调制度之积，来获得对应上述多个测试记录功率的多个乘积，根据上述多个测试记录功率与对应上述多个测试记录功率的多个乘积，来对幂指数n的多个值，获取上述多个测试记录功率与上述多个乘积的相关关系的直线性，并将上述多个直线性中最高的直线性所对应的幂指数n的值存储在所述区域。

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