CN1263005C - 在光记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法 - Google Patents

在光记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法 Download PDF

Info

Publication number
CN1263005C
CN1263005C CNB031249930A CN03124993A CN1263005C CN 1263005 C CN1263005 C CN 1263005C CN B031249930 A CNB031249930 A CN B031249930A CN 03124993 A CN03124993 A CN 03124993A CN 1263005 C CN1263005 C CN 1263005C
Authority
CN
China
Prior art keywords
mentioned
recording
record
signal
test signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
CNB031249930A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1501355A (zh
Inventor
鸣海建治
宫川直康
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Publication of CN1501355A publication Critical patent/CN1501355A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN1263005C publication Critical patent/CN1263005C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/0045—Recording
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • G11B7/1263—Power control during transducing, e.g. by monitoring
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • G11B7/1267—Power calibration
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/006—Overwriting
    • G11B7/0062—Overwriting strategies, e.g. recording pulse sequences with erasing level used for phase-change media

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

提供在记录信息信号前通过测试记录适当地决定记录功率和记录脉冲边缘位置等记录条件从而可以进行精密的信息信号记录的光学信息记录装置、光学信息记录方法、及光学信息记录媒体。为了抑制因重写时的标记畸变引起的边缘间隔偏差，对该测试信号按每个扇区随机地移动其记录起始点后在光学信息记录媒体(1)的多个扇区上进行测试记录。系统控制电路(2)，计算从多个扇区再生后的测试信号的边缘间隔平均值，并求出该平均值与测试信号原有的边缘间隔的差分，从而决定对边缘位置的校正量。

Description

在光记录媒体上记录 测试信号的光学信息记录装置和方法
技术领域
本发明涉及例如光盘等以光学方式进行信息的记录和再生的光学记录媒体及为使记录条件最佳化而在记录信息信号之前进行测试记录的信息记录方法和信息记录再生装置。
背景技术
近年来，作为以光学方式记录信息的媒体，提出并开发了光盘、光卡、光带等。其中的光盘，作为能以大容量且高密度进行信息的记录和再生的媒体，最为引人注目。
作为可重写型光盘的一种方式，有相变型光盘。在相变型光盘中使用的记录膜，根据激光的加热条件和冷却条件可变为非晶态和结晶态中的任何一种状态。而在非晶态和结晶态之间具有可逆性。在上述的非晶态和结晶态下，记录膜的光学常数(折射率和衰减系数)不同。在相变型光盘中，在记录膜上根据信息信号有选择地形成两种状态，并利用由此而产生的光学变化(透射率或反射率的变化)进行信息信号的记录和再生。
为获得上述两种状态，可用如下的方法记录信息信号。在将由光头聚焦后的激光(功率电平为Pp)以脉冲形式照射在光盘的记录膜上(将其称作记录脉冲)并使记录膜的温度上升到超过熔点时，使熔融部分在激光通过的同时急速冷却而变成非晶态的记录标记。另外，当聚焦并照射其强度为能使记录膜的温度上升到结晶温度以上、熔点以下的激光(功率电平为Pb，Pb＜Pp)时，照射部的记录膜变为结晶态。该功率电平Pb，称为擦除功率。
按照如上方式，在光盘的光道上，形成与记录数据信号对应的由非晶区域构成的记录标记及由结晶区域构成的非标记部(将其称作间隔区)的记录图案。并且，通过利用结晶区域与非晶区域的光学特性的不同，可以对信息信号进行再生。
另外，最近以来，代替标记位置记录(也称PPM记录)方式，越来越多地采用了标记边缘记录(也称PWM记录)方式。在标记位置记录中，仅在记录标记本身位置上具有信息，与此不同，在标记边缘记录中，在记录标记的前端边缘和后端边缘两个边缘位置上具有信息，所以具有使记录线密度提高的优点。
进一步，作为在增大光盘记录容量的同时使记录再生装置的主轴电机旋转控制易于进行的方法，提出了一种Z-CLV(Zoned ConstantLinear Velocity：区位恒定线速度)格式。Z-CLV格式的光盘，是将记录区域划分为由规定数量的光道构成的区、并使每1周的扇区数随着从内周的区到外周的区而增加的光盘。
对这种Z-CLV盘进行记录再生的装置，通过使盘的转速随着从盘的内周到外周逐级降低(这里，假定各区上的转速恒定)并使盘片的所有各周的线速度基本保持恒定，进行记录再生。
在无线技术公司的「光盘技术」(1988年)第223页上，以M-CLV(Modified Constant Linear Velocity：修正恒定线速度)格式的名称记述着这种Z-CLV格式。
可是，由于光盘是可交换的记录媒体，所以，要求光盘的记录再生装置能稳定地对不同的多个光盘进行记录再生。但是，即使是按相同条件制成的光盘，由于制造时的偏差或随时间的老化，记录再生时的最佳激光功率电平也是互不相同的。此外，由于光盘衬底表面的赃污、记录再生装置光学系统传送效率的降低、或动作状态的变化，也可能使照射到光盘记录膜的激光功率发生变化。
除此以外，特别是在标记边缘记录方式的情况下，光盘热特性的偏移，也会对记录标记本身的形成状态或记录标记间的热干扰程度造成影响。因此，记录脉冲的最佳边缘位置，在每个光盘上有可能不同。
在特开平4-137224号公报中公开了一种能够稳定地对信息信号进行记录再生而对如上所述的激光最佳功率电平的变化及记录脉冲最佳边缘位置的变化没有影响的方法的例。该方法是在记录信息信号之前先根据特定的数据模式(将其称作测试信号)进行测试记录，然后对所记录的测试信号进行再生，并通过测定该再生信号而求得记录标记的边缘位置，从而进行控制以使记录脉冲的边缘位置为最佳位置。
另外，作为其他例，在特开平6-195713号公报中，公开了在求得记录标记的边缘位置后对记录脉冲边缘位置或记录功率中的至少一个进行控制的技术。此外，在特开平9-63056号公报中，公开了根据误码率与功率的相关性决定最佳记录功率的方法。进一步，在特开平7-129959号公报中，公开了根据记录标记的长度及其前后的间隔长度控制记录脉冲边缘位置的方法。
另一方面，在在特开平9-219022号公报中，提出了提高光盘的可重写次数的方法。在该方法中，通过使记录数据信号的极性(1或0)随机地反转，防止记录膜上的损伤集中在特定部位，从而抑制记录膜的恶化。
但是，在上述的现有方法中，存在着有时因记录标记边缘位置的测定值发生偏差而使记录脉冲边缘位置的决定产生误差的问题。以下，参照图11～图14对该问题进行说明。
在图11～图14中，示出由以前记录的记录标记与重写后的记录标记的位置关系引起的标记畸变的例。在图11～图14的各图中，上边的图表示对记录标记进行重写前的光盘的光道状态，中间的图表示进行重写的测试信号的(作为记录数据信号的)模式，下边的图表示上述记录标记被重写后的上述光道的状态。
通常，作为对测试记录用的记录标记进行记录的光道，经常是分配规定的光道。在这种情况下，在上述规定的光道上反复重写记录标记。因此，当在应进行测试记录的光道上已记录着任何测试信号(或信息信号)时，通过重写记录的记录标记的形状将会受到已记录着的记录标记的影响而发生畸变。
在相变型光盘的情况下，在非晶区域(即存在记录标记的区域)和结晶区域上光学的吸收特性不同。因此，即使照射能量相同的激光，在非晶区域和结晶区域上光盘记录膜中的升温速度也不相同。由此，当光盘结构为使非晶区域上的光学吸收大于结晶区域时，重写后的记录标记在非晶区域上易于变大。其结果是，记录标记的边缘位置如图11～图14中带阴影线的部分所示，记录标记向延伸方向移动。将其称作标记畸变。而当光盘结构为使非晶区域上的光学吸收小于结晶区域时，也可能变成与上述相反的情况。
因此，记录标记的形状将随测试记录中应记录的记录标记与以前的记录标记的重叠情况而变化。其结果是，使记录标记的边缘位置发生变化。当已在光道上记录着的测试信号与要重写的测试信号相同或类似时，只要光盘的旋转变化不大，则以前记录的标记与重写后的记录标记的重叠情况始终相同。因此，将由于以前的数据模式与重写后的数据模式的相位关系而使所测得的边缘位置测定值产生偏差。
例如，当在如图11的上图所示的已存在着记录标记113的光道111上用该图的中图所示的模式的测试信号进行记录标记的重写时，如该图的下图所示，如将重写后的记录标记112与以前的记录标记113重叠，则将发生标记畸变114。
这里，当通过测定记录标记112与记录标记115的前端间隔x而决定3T(T为记录数据信号的时钟周期)的记录脉冲的前端边缘的位置时，如图11所示，如仅在已重写的记录标记112的后端部发生标记畸变114，则标记畸变114对前端间隔x不产生影响。但是，如图12所示，在将进行重写的3T的记录脉冲的记录标记115的前端与以前的记录标记113重叠时，在记录标记115的前端发生标记畸变116，因而所测定的前端间隔为x-Δ1。
另外，如图13所示，在将10T的记录脉冲的记录标记112的前端与以前的记录标记113重叠时，在记录标记112的前端发生标记畸变114，因而所测定的前端间隔为x+Δ2。
另外，如图14所示，在将3T的记录脉冲的记录标记115的前端及10T的记录脉冲的记录标记112的前端两者与以前的记录标记113重叠时，所测定的前端间隔为x-Δ1+Δ2。
在现有的方法中，还存在着将记录脉冲控制为最佳边缘位置后记录功率不一定是最佳的问题。以下，用图15对该问题进行说明。
图15示出通过改变记录脉冲宽度记录最短标记(例如，8-16调制时3T的记录脉冲的记录标记，以下，称为3T标记)的周期信号时的记录峰值功率Pp与误码率(或也可以是抖动)的关系。
当通过测试记录调整记录脉冲的边缘位置时，将使记录脉冲(或记录脉冲串)的长度发生变化。因此，记录脉冲为形成记录标记所提供的能量，受到边缘位置调整的影响。在形成像最短标记那样的短标记时，这种影响尤为显著。其结果是，最佳记录功率也发生变化。
例如，当在8-16调制中用于形成最短标记即3T标记的记录脉冲长度因边缘位置的调整而减小时，用于形成3T标记的能量减少，所以，误码率与峰值功率的相关性，从图15所示的g1改变为g2。其结果是，最佳记录功率(该功率经常是通过将误码率达到规定的阈值Bth时的功率Pth1或Pth2乘以一定的值决定)，将比边缘位置调整以前高。
另外，与上述问题相反，在现有的方法中，还存在着调整记录功率后记录脉冲的边缘位置不一定是最佳的问题。以下，对该问题进行说明。
当通过测试记录调整记录功率时，将使由激光对光盘记录膜提供的能量发生变化。因此，即使记录脉冲或记录脉冲串的长度相同，当记录功率改变时，在光盘的光道上形成的记录标记的长度即边缘位置也会发生变化。这种变化在形成短标记时尤为显著。其结果是，用于使记录标记的边缘位置为最佳的记录脉冲的最佳边缘位置发生变化。例如，当通过测试记录使记录功率增大时，3T标记的边缘位置的前端向前延伸，而边缘位置的后端向后延伸，所以用于记录3T标记的记录脉冲的边缘位置就变得不是最佳了。
另外，Z-CLV格式，以在各区内为恒定转速的方式使光盘旋转，所以线速度和线密度随各区内的半径而不同。即，在各区内越靠近外周线速度和记录线密度越低。因此，在现有的方法中，存在着当对Z-CLV格式的光盘进行测试记录时在各区内的整个区域范围上不一定能求得最佳记录功率或记录脉冲的最佳边缘位置的问题。
另外，例如在特开平9-219022号公报所公开的方法中，即使在通过测试记录决定记录脉冲的边缘位置时也要使数据模式的极性随机地反转，所以，即使是记录相同的数据模式，记录标记与间隔的关系(即，记录标记的前端边缘与后端边缘的关系)有时也会因极性而变成相反的。在这种情况下，将发生不能区分记录标记的前端边缘和后端边缘的问题。
发明内容
本发明的目的在于，为解决上述现有的问题，提供一种通过测试记录适当地决定记录功率和记录脉冲的边缘位置等记录条件从而能进行精密的信息信号记录的光学信息记录装置、光学信息记录方法及光学信息记录媒体。
为达到上述目的，本发明的第1光学信息记录装置的特征在于，备有：测试信号生成装置，用于生成测试信号；记录装置，将测试信号和信息信号变换为记录数据信号，并根据上述记录数据信号驱动光源从而在光学信息记录媒体上进行记录；记录起始点移动装置，用于将上述光学记录信息媒体的测试记录的起始点按每个扇区随机地移动；再生装置，用于从上述光学信息记录媒体再生信号；及记录条件决定装置，将上述测试信号从上述测试信号生成装置供给上述记录装置，并对上述光学信息记录媒体的多个扇区进行测试记录，然后，根据由上述再生装置从上述多个扇区再生上述测试信号后的结果的平均值，决定上述记录数据信号的脉冲边缘位置。
按照这种结构，可将在光学信息记录媒体的多个扇区上分别记录的测试信号的记录起始点按每个扇区随机地移动，所以，使已记录在进行测试记录的区域内的记录标记与对该记录标记进行重写的测试信号的记录标记的重叠情况在每个扇区内都变为随机的。由此，可以将因在已记录着的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的标记畸变所引起的测试信号的边缘间隔的偏差平均化。因此，使根据再生后的测试信号计算出的边缘间隔值不会发生由已记录在光学信息记录媒体上的记录标记与测试信号的记录标记的相位关系引起的偏差。其结果是，可以提供能精确地计算出测试信号的记录标记的边缘间隔并能通过使记录数据信号的边缘位置最佳化而对信息信号进行精密记录的光学信息记录装置。
为达到上述目的，本发明的第2光学信息记录装置的特征在于，备有：测试信号生成装置，用于生成测试信号；记录装置，将测试信号和信息信号变换为记录数据信号，并根据上述记录数据信号驱动光源从而在光学信息记录媒体上进行记录；数据模式生成装置，用于生成与上述测试信号不相关的数据模式；再生装置，用于从上述光学信息记录媒体再生信号；及记录条件决定装置，将数据模式从上述数据模式生成装置供给上述记录装置并将其记录在上述光学信息记录媒体中进行测试记录的区域内，然后，将测试信号从上述测试信号生成装置供给上述记录装置并对上述区域进行重写，根据由上述再生装置从上述区域再生上述测试信号后的结果，决定上述记录数据信号的记录脉冲边缘位置的适当值。
按照这种结构，在对光学信息记录媒体进行测试记录前，在将要进行测试记录的区域上记录与测试信号不相关的数据模式，所以，使对该区域进行重写的测试信号的记录标记与已记录着的记录标记的重叠情况变为随机的。由此，可以将因在已记录着的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的标记畸变所引起的测试信号的边缘间隔的偏差平均化。因此，使根据再生后的测试信号计算出的边缘间隔值不会发生由已记录在光学信息记录媒体上的记录标记与测试信号的记录标记的相位关系引起的偏差。其结果是，可以提供能精确地计算出测试信号的记录标记的边缘间隔并能通过使记录数据信号的边缘位置最佳化而对信息信号进行精密记录的光学信息记录装置。
上述第2光学信息记录装置，最好还备有用于将光学记录信息媒体的记录起始点按每个扇区随机移动的记录起始点移动装置，并至少对上述测试信号随机地移动记录的起始点。
按照这种结构，可以将因在已记录着的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的测试信号的边缘间隔的偏差进一步平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
在上述第2光学信息记录装置中，上述数据模式，最好是随机模式。
按照这种结构，由于在将要进行测试记录的区域上记录随机模式，所以，可以将因在已记录着的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的测试信号的边缘间隔的偏差进一步平均化，并能以更精确的方式决定记录数据信号的边缘位置最佳值。
为达到上述目的，本发明的第3光学信息记录装置的特征在于，备有：测试信号生成装置，用于生成测试信号；记录和擦除装置，将测试信号和信息信号变换为记录数据信号，并根据上述记录数据信号驱动光源而以在光学信息记录媒体上进行记录的记录模式及驱动上述光源而用规定的擦除功率使光照射在上述光学信息记录媒体上从而将信息从上述光学信息记录媒体擦除的擦除模式中的任何一种模式进行操作；再生装置，用于从上述光学信息记录媒体再生信号；及记录条件决定装置，使上述记录和擦除装置以上述擦除模式操作并将上述光学信息记录媒体中进行测试记录的区域的信息擦除，然后，由上述测试信号生成装置使上述记录和擦除装置以记录模式操作并将由上述测试信号生成装置供给的测试信号记录在上述区域内，根据由上述再生装置从上述区域再生上述测试信号后的结果，决定上述记录数据信号的记录脉冲边缘位置的适当值。
按照这种结构，能使上述光学信息记录媒体中将要进行测试记录的区域以与已记录着的记录标记的状态无关的方式进入初始化状态，所以，不存在测试信号的边缘间隔偏差，因而能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
为达到上述目的，本发明的第1光学信息记录方法的特征在于，包括：步骤(a)，生成测试信号；步骤(b)，将所生成的上述测试信号在上述光学记录信息媒体上的测试记录起始点按每个扇区随机地移动；步骤(c)，将上述随机移动后的测试信号变换为记录数据信号，并根据上述记录数据信号驱动光源从而在上述光学信息记录媒体的多个扇区上进行测试记录；步骤(d)，从上述光学信息记录媒体的上述多个扇区再生在上述步骤(c)中记录的测试信号；步骤(e)，计算再生上述测试信号后的结果的平均值；及步骤(f)，根据所算出的上述平均值，决定上述记录数据信号的记录脉冲边缘位置。
按照这种方法，可将光学信息记录媒体的多个扇区所记录的测试信号的记录起始点分别按每个扇区随机地移动，所以，使已记录在进行测试记录的区域内的记录标记与对该记录标记进行重写的测试信号的记录标记的重叠情况在每个扇区内都变为随机的。由此，可以将因在已记录着的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的标记畸变所引起的测试信号的边缘间隔的偏差平均化。因此，使根据再生后的测试信号计算出的边缘间隔值不会发生由已记录在光学信息记录媒体上的记录标记与测试信号的记录标记的相位关系引起的偏差。其结果是，可以提供能精确地计算出测试信号的记录标记的边缘间隔并能通过使记录数据信号的边缘位置最佳化而对信息信号进行精密记录的光学信息记录方法。
为达到上述目的，本发明的第2光学信息记录方法的特征在于，包括：步骤(a)，生成与在上述测试记录中使用的上述测试信号不相关的数据模式；步骤(b)，将所生成的上述数据模式变换为记录数据信号，并根据上述记录数据信号驱动光源从而在光学信息记录媒体中进行上述测试记录的区域内进行记录；步骤(c)，生成上述测试信号；步骤(d)，将所生成的上述测试信号变换为记录数据信号，并根据上述记录数据信号驱动光源从而在上述光学信息记录媒体中对上述区域进行重写；步骤(e)，从上述光学信息记录媒体的上述区域再生在上述步骤(d)中重写后的测试信号；及步骤(f)，根据再生上述测试信号后的结果，决定上述记录数据信号的记录脉冲边缘位置的适当值。
按照这种方法，在对光学信息记录媒体进行测试记录前，在将要进行测试记录的区域上记录与测试信号不相关的数据模式，所以，使对该区域进行重写的测试信号的记录标记与已记录着的记录标记的重叠情况变为随机的。由此，可以将因在已记录着的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的标记畸变所引起的测试信号的边缘间隔的偏差平均化。因此，使根据再生后的测试信号计算出的边缘间隔值不会发生由已记录在光学信息记录媒体上的记录标记与测试信号的记录标记的相位关系引起的偏差。其结果是，可以提供能精确地计算出测试信号的记录标记的边缘间隔并能通过使记录数据信号的边缘位置最佳化而对信息信号进行精密记录的光学信息记录方法。
上述第2光学信息记录方法，最好还包括将光学记录信息媒体的记录起始点按每个扇区随机移动的步骤，在该步骤中，至少对上述测试信号随机地移动记录起始点。
按照这种方法，可以将因在已记录着的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的测试信号的边缘间隔的偏差进一步平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
在上述第2光学信息记录方法中，上述数据模式，最好是随机模式。
按照这种方法，由于在将要进行测试记录的区域上记录随机模式，所以，可以将因在已记录着的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的测试信号的边缘间隔的偏差进一步平均化，并能以更精确的方式决定记录数据信号的边缘位置的最佳值。
为达到上述目的，本发明的第3光学信息记录方法的特征在于，包括：步骤(a)，驱动光源而以规定的擦除功率使光照射在上述光学信息记录媒体上，从而将进行上述测试记录的区域的信息从上述光学信息记录媒体擦除；步骤(b)，生成测试信号；步骤(c)，将所生成的上述测试信号变换为记录数据信号，并根据上述记录数据信号驱动光源从而在上述光学信息记录媒体中进行测试记录的区域内进行记录；步骤(d)，从上述光学信息记录媒体的上述区域再生在上述步骤(c)中记录的测试信号；步骤(e)，根据再生上述测试信号后的结果，决定上述记录数据信号的记录脉冲边缘位置的适当值。
按照这种方法，能使上述光学信息记录媒体中将要进行测试记录的区域以与已记录着的记录标记的状态无关的方式进入初始化状态，所以，不存在测试信号的边缘间隔偏差，因而能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
为达到上述目的，本发明的第4光学信息记录装置的特征在于，备有：测试信号生成装置，用于生成边缘测试信号及功率测试信号；记录装置，将上述边缘测试信号、功率测试信号和信息信号变换为记录数据信号，并根据上述记录数据信号驱动光源从而在光学信息记录媒体上进行记录；记录脉冲边缘调整装置，用于调整上述记录数据信号的记录脉冲边缘位置；再生装置，用于从上述光学信息记录媒体再生信号；第1记录条件决定装置，将边缘测试信号从上述测试信号生成装置供给上述记录装置，并对上述光学信息记录媒体进行记录，根据由上述再生装置从上述光学信息记录媒体再生边缘测试信号后的结果，对上述记录脉冲边缘调整装置决定上述记录脉冲的边缘位置设定值；及第2记录条件决定装置，将功率测试信号从上述测试信号生成装置供给上述记录装置，并对上述光学信息记录媒体进行记录，根据由上述再生装置从上述光学信息记录媒体再生功率测试信号后的结果，对上述记录装置决定上述光源的记录功率设定值；上述第1记录条件决定装置，根据对以使设定值为初始值的记录功率记录的边缘测试信号进行再生后的结果，对上述记录脉冲边缘调整装置决定上述记录脉冲的边缘位置的适当值，上述第2记录条件决定装置，根据对在使由上述第1记录条件决定装置决定的设定值为上述适当值的记录脉冲边缘位置上记录的功率测试信号进行再生后的结果，对上述记录装置决定上述光源的记录功率的适当值。
按照这种结构，在决定了记录脉冲边缘位置的适当值后，进一步由按该适当值设定的记录脉冲进行测试记录以便进行记录功率的最佳化，从而使记录脉冲的边缘位置和记录功率两者都能最佳化，所以，能够更精密地将信息信号记录在光学信息记录媒体上。
上述第4光学信息记录装置，最好还备有记录起始点移动装置，在进行上述边缘测试信号的测试记录时，用于将光学记录信息媒体的记录起始点按每个扇区随机地移动。
按照这种结构，可以将因在已记录在光学信息记录媒体中的将要进行测试记录的区域内的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的测试信号边缘间隔的偏差平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
上述第4光学信息记录装置，最好还备有用于生成与上述边缘测试信号及功率测试信号不相关的数据模式的数据模式生成装置，在上述光学信息记录媒体的记录上述边缘测试信号及功率测试信号的区域内，在进行上述边缘测试信号的测试记录之前，由上述记录装置记录上述数据模式。
按照这种结构，能使在将要进行测试记录的区域内进行重写的测试信号的记录标记与已记录着的记录标记之间的相关性进一步降低，所以，可以将测试信号边缘间隔的偏差平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
在上述第4光学信息记录装置中，上述第1记录条件决定装置，最好备有比较装置，用于将上述边缘测试信号的边缘间隔与从上述光学信息记录媒体再生上述边缘测试信号后得到的再生信号的边缘间隔进行比较，以便决定上述记录脉冲的边缘位置的适当值。
上述第4光学信息记录装置，最好还备有用于测定从上述光学信息记录媒体再生上述边缘测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的装置，上述第1记录条件决定装置，将由上述测定装置测定的结果为最小的记录脉冲边缘位置决定为适当值。
上述第4光学信息记录装置，最好还备有用于测定从上述光学信息记录媒体再生上述功率测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的装置，上述第2记录条件决定装置，根据由上述测定装置测定的结果为规定值以下的记录功率值决定记录功率的适当值。
在上述第4光学信息记录装置中，上述第2记录条件决定装置，最好根据对在使由上述第1记录条件决定装置决定的设定值为规定值的记录脉冲边缘位置上记录的功率测试信号进行再生后的结果，对上述记录装置决定上述光源的记录功率的上述初始值。
按照这种结构，使记录脉冲的边缘位置和记录功率两者都可以更精确地最佳化，并能更精密地将信息信号记录在光学信息记录媒体上。
进一步，最好还备有用于测定从上述光学信息记录媒体再生上述功率测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的装置，上述第2记录条件决定装置，根据由上述测定装置测定的结果为规定值以下的记录功率值决定记录功率的适当值，并将该适当值用作记录功率的上述初始值。
为达到上述目的，本发明的第4光学信息记录方法的特征在于，包括：步骤(a)，将光源的记录功率设定为初始值，并将边缘测试信号记录在光学信息记录媒体上；步骤(b)，根据从上述光学信息记录媒体再生在上述步骤(a)中记录的边缘测试信号的结果，决定记录脉冲的边缘位置的适当值；步骤(c)，将记录脉冲的边缘位置设定为在上述步骤(b)中决定的适当值，并将功率测试信号记录在上述光学信息记录媒体上；步骤(d)，根据从上述光学信息记录媒体再生在上述步骤(c)中记录的功率测试信号的结果，决定记录功率的适当值。
在该方法中，在决定了记录脉冲的边缘位置的适当值后，进一步由按该适当值设定的记录脉冲进行测试记录，以便进行记录功率的最佳化。因此，使记录脉冲的边缘位置和记录功率两者都能最佳化，所以，能够更精密地将信息信号记录在光学信息记录媒体上。
在上述第4光学信息记录方法中，在上述步骤(a)中，最好是将上述光学记录信息媒体的记录起始点按每个扇区随机地移动。
按照这种方法，可以将因在已记录在光学信息记录媒体中的将要进行测试记录的区域内的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的测试信号的边缘间隔的偏差平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
上述第4光学信息记录方法，在步骤(a)之前，最好是包括在上述光学信息记录媒体中进行测试记录的区域内记录与上述边缘测试信号及功率测试信号不相关的数据模式的步骤。
按照这种方法，能使在将要进行测试记录的区域内进行重写的测试信号的记录标记与已记录着的记录标记之间的相关性进一步降低，所以，可以将测试信号边缘间隔的偏差平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
在上述第4光学信息记录方法中，上述步骤(b)，最好包括比较步骤，将上述边缘测试信号的边缘间隔与从上述光学信息记录媒体再生上述边缘测试信号后得到的再生信号的边缘间隔进行比较。
在上述第4光学信息记录方法中，上述步骤(b)，最好还包括测定从上述光学信息记录媒体再生上述边缘测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的步骤，并将测定的结果为最小的记录脉冲边缘位置决定为适当值。
在上述第4光学信息记录方法中，上述步骤(d)，最好还包括测定从上述光学信息记录媒体再生上述功率测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的步骤，并根据使测定结果为规定值以下的记录功率值决定记录功率的适当值。
上述第4光学信息记录方法，在上述步骤(a)之前，最好还包括：步骤(e-1)，将记录脉冲的边缘位置设定为规定值，并将上述功率测试信号记录在上述光学信息记录媒体上；及步骤(e-2)，根据从上述光学信息记录媒体再生在上述步骤(e-1)中记录的功率测试信号后的结果，决定记录功率的适当值；并将在上述步骤(e-2)中决定的记录功率的适当值在上述步骤(a)中用作记录功率的初始值。
按照这种方法，可以使记录脉冲的边缘位置和记录功率两者都能精密地进行最佳化，并能更精密地将信息信号记录在光学信息记录媒体上。
进一步，上述步骤(e-2)，最好还包括测定从上述光学信息记录媒体再生上述功率测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的步骤，并根据使测定结果为规定值以下的记录功率值决定记录功率的适当值。
为达到上述目的，本发明的第5光学信息记录装置的特征在于，备有：测试信号生成装置，用于生成边缘测试信号及功率测试信号；记录装置，将上述边缘测试信号、功率测试信号和信息信号变换为记录数据信号，并根据上述记录数据信号驱动光源从而在光学信息记录媒体上进行记录；记录脉冲边缘调整装置，用于调整上述记录数据信号的记录脉冲的边缘位置；再生装置，用于从上述光学信息记录媒体再生信号；第1记录条件决定装置，将上述边缘测试信号从上述测试信号生成装置供给上述记录装置，并对上述光学信息记录媒体进行记录，根据由上述再生装置从上述光学信息记录媒体再生边缘测试信号后的结果，对上述记录脉冲边缘调整装置决定上述记录脉冲的边缘位置设定值；及第2记录条件决定装置，将功率测试信号从上述测试信号生成装置供给上述记录装置，并对上述光学信息记录媒体进行记录，根据由上述再生装置从上述光学信息记录媒体再生功率测试信号后的结果，对上述记录装置决定上述光源的记录功率设定值；上述第2记录条件决定装置，根据对在使设定值为初始值的记录脉冲边缘位置上记录的边缘测试信号进行再生后的结果，对上述记录装置决定上述光源的记录功率的适当值，上述第1记录条件决定装置，根据对以使由上述第2记录条件决定装置决定的设定值为上述适当值的记录功率记录的边缘测试信号进行再生后的结果，对上述记录脉冲边缘调整装置决定上述记录脉冲的边缘位置的适当值。
按照这种结构，在决定了记录功率的适当值后，进一步由按该适当值设定的记录功率进行测试记录，以便进行记录脉冲边缘位置的最佳化，从而使记录脉冲的边缘位置和记录功率两者都能最佳化，所以，能够更精密地将信息信号记录在光学信息记录媒体上。
上述第5光学信息记录装置，最好还备有记录起始点移动装置，在进行上述边缘测试信号的测试记录时，用于将光学记录信息媒体的记录起始点按每个扇区随机地移动。
按照这种结构，可以将因在已记录在光学信息记录媒体中的将要进行测试记录的区域内的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的测试信号的边缘间隔的偏差平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
上述第5光学信息记录装置，最好还备有用于生成与上述边缘测试信号及功率测试信号不相关的数据模式的数据模式生成装置，在上述光学信息记录媒体的记录上述边缘测试信号及功率测试信号的区域内，在进行上述边缘测试信号的测试记录之前，由上述记录装置记录上述数据模式。
按照这种结构，能使在将要进行测试记录的区域内进行重写的测试信号的记录标记与已记录着的记录标记之间的相关性进一步降低，所以，可以将测试信号边缘间隔的偏差平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
上述第5光学信息记录装置，最好还备有用于测定从上述光学信息记录媒体再生上述功率测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的测定装置，上述第2记录条件决定装置，根据由上述测定装置测定的结果为规定值以下的记录功率值决定记录功率的适当值。
在上述第5光学信息记录装置中，上述第1记录条件决定装置，最好备有比较装置，用于将上述边缘测试信号的边缘间隔与从上述光学信息记录媒体再生上述边缘测试信号后得到的再生信号的边缘间隔进行比较，以便决定上述记录脉冲的边缘位置的适当值。
上述第5光学信息记录装置，最好还备有用于测定从上述光学信息记录媒体再生上述边缘测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的测定装置，上述第1记录条件决定装置，将由上述测定装置测定的结果为最小的记录脉冲边缘位置决定为适当值。
在上述第5光学信息记录装置中，上述第1记录条件决定装置，最好根据对以使由上述第2记录条件决定装置决定的设定值为规定值的记录功率记录的上述边缘测试信号进行再生后的结果，对上述记录脉冲边缘调整装置决定上述记录脉冲的边缘位置的上述初始值。
按照这种结构，使记录脉冲的边缘位置和记录功率两者都可以更精确地最佳化，并能更精密地将信息信号记录在光学信息记录媒体上。
进一步，最好还备有记录起始点移动装置，在进行上述边缘测试信号的测试记录时，用于将光学记录信息媒体的记录起始点按每个扇区随机地移动。
另外，最好还备有用于生成与上述边缘测试信号及功率测试信号不相关的数据模式的数据模式生成装置，在上述光学信息记录媒体的记录上述边缘测试信号及功率测试信号的区域内，在进行上述边缘测试信号的测试记录之前，由上述记录装置记录上述数据模式。
另外，上述第1记录条件决定装置，最好备有比较装置，用于将上述边缘测试信号的边缘间隔与从上述光学信息记录媒体再生上述边缘测试信号后得到的再生信号的边缘间隔进行比较。
另外，最好还备有用于测定从上述光学信息记录媒体再生上述功率测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的测定装置，上述第1记录条件决定装置，将由上述测定装置测定的结果为规定值以下的记录脉冲边缘位置决定为适当值，并将所决定的上述记录脉冲的边缘位置的适当值用作上述初始值。
为达到上述目的，本发明的第5光学信息记录方法的特征在于，包括：步骤(a)，将记录脉冲的边缘位置设定为初始值，并将功率测试信号记录在光学信息记录媒体上；步骤(b)，根据从上述光学信息记录媒体再生在上述步骤(a)中记录的功率测试信号的结果，决定光源的记录功率的适当值；步骤(c)，根据在上述步骤(b)中决定的记录功率，将边缘测试信号记录在上述光学信息记录媒体上；步骤(d)，根据从上述光学信息记录媒体再生在上述步骤(c)中记录的边缘测试信号的结果，决定记录脉冲的边缘位置的适当值。
在该方法中，在决定了记录功率的适当值后，进一步由按该适当值设定的记录功率进行测试记录，以便进行记录脉冲的边缘位置的最佳化。因此，使记录脉冲的边缘位置和记录功率两者都能最佳化，所以，能够更精密地将信息信号记录在光学信息记录媒体上。
在上述第5光学信息记录方法中，在上述步骤(c)中，最好是将上述光学记录信息媒体的记录起始点按每个扇区随机地移动。
按照这种方法，可以将因在已记录在光学信息记录媒体中的将要进行测试记录的区域内的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的测试信号的边缘间隔的偏差平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
上述第5光学信息记录方法，在步骤(c)之前，最好包括在上述光学信息记录媒体中进行测试记录的区域内记录与上述边缘测试信号及功率测试信号不相关的数据模式的步骤。
按照这种方法，能使在将要进行测试记录的区域内进行重写的测试信号的记录标记与已记录着的记录标记之间的相关性进一步降低，所以，可以将测试信号边缘间隔的偏差平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
在上述第5光学信息记录方法中，上述步骤(b)，最好还包括测定从上述光学信息记录媒体再生上述功率测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的步骤，并根据使测定结果为规定值以下的记录功率值决定记录功率的适当值。
上述第5光学信息记录方法，上述步骤(d)，最好包括比较步骤，将上述边缘测试信号的边缘间隔与从上述光学信息记录媒体再生上述边缘测试信号后得到的再生信号的边缘间隔进行比较。
在上述第5光学信息记录方法中，上述步骤(d)，最好还包括测定从上述光学信息记录媒体再生上述边缘测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的步骤，并将测定的结果为最小的记录脉冲边缘位置决定为适当值。
上述第5光学信息记录方法，在上述步骤(a)之前，最好还包括：步骤(e-1)，将记录功率设定为规定值，并将边缘测试信号记录在上述光学信息记录媒体上；及步骤(e-2)，根据从上述光学信息记录媒体再生在上述步骤(e-1)中记录的边缘测试信号后的结果，决定记录脉冲的边缘位置的适当值；并将在上述步骤(e-2)中决定的记录脉冲边缘位置的适当值在上述步骤(a)中用作记录脉冲的边缘位置的初始值。
按照这种方法，可以使记录脉冲的边缘位置和记录功率两者都能最佳化，并能更精密地将信息信号记录在光学信息记录媒体上。
进一步，在上述步骤(e-1)中，最好是将上述光学记录信息媒体的记录起始点按每个扇区随机地移动。
另外，在步骤(e-1)之前，最好包括在上述光学信息记录媒体中进行测试记录的区域内记录与上述边缘测试信号及功率测试信号不相关的数据模式的步骤。
另外，上述步骤(e-2)，最好包括比较步骤，将上述边缘测试信号的边缘间隔与从上述光学信息记录媒体再生上述边缘测试信号后得到的再生信号的边缘间隔进行比较。
另外，上述步骤(e-2)，最好还包括测定从上述光学信息记录媒体再生上述边缘测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的步骤，并将测定结果为最小的记录脉冲的边缘位置决定为适当值。
为达到上述目的，本发明的第6光学信息记录装置的特征在于，备有：测试信号生成装置，用于生成测试信号；记录装置，将测试信号和信息信号变换为记录数据信号，并根据上述记录数据信号驱动光源从而在光学信息记录媒体上进行记录；极性反转装置，用于使上述记录数据信号的极性反转；极性反转控制装置，当进行上述测试记录时，仅将从上述测试信号变换的记录数据信号的反转信号和非反转信号中的任何一个供给上述记录装置，并当记录上述信息信号时，以按每个扇区随机选择的方式仅将从上述信息信号变换的记录数据信号的反转信号和非反转信号中的任何一个供给上述记录装置；记录脉冲边缘调整装置，用于调整上述记录数据信号的记录脉冲的边缘位置；再生装置，用于从上述光学信息记录媒体再生信号；及记录条件决定装置，根据由上述再生装置从上述光学信息记录媒体再生上述测试信号后的结果，决定记录脉冲边缘位置的适当值，并供给上述记录脉冲边缘调整装置。
按照这种结构，可以提供使光学信息记录媒体的可重写次数提高并可以在通过测试记录取得的最佳记录条件下对信息信号进行精密记录的光学信息记录再生装置。
上述第6光学信息记录装置，最好还备有记录起始点移动装置，用于在上述光学记录信息媒体上按每个扇区随机地移动记录数据信号的记录起始点。
按照这种结构，可以将因在已记录在光学信息记录媒体中的将要进行测试记录的区域内的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的测试信号的边缘间隔的偏差平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
上述第6光学信息记录装置，最好还备有用于产生与上述测试信号不相关的数据模式的数据模式产生装置，在进行测试记录之前，在进行测试记录的光道上记录上述数据模式。
按照这种结构，在将要进行测试记录的区域内进行重写的测试信号的记录标记与已记录着的记录标记的重叠情况变为随机的，所以，可以将测试信号边缘间隔的偏差平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
在上述第6光学信息记录装置中，上述记录条件决定装置，最好备有比较装置，用于将上述测试信号的边缘间隔与从上述光学信息记录媒体再生上述测试信号后得到的再生信号的边缘间隔进行比较，以便决定上述记录脉冲的边缘位置的适当值。
上述第6光学信息记录装置，最好还备有用于测定从上述光学信息记录媒体再生上述测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的测定装置，上述记录条件决定装置，将由上述测定装置测定的结果为规定值以下的记录脉冲的边缘位置决定为适当值。
上述第6光学信息记录装置，最好备有：第2测试信号生成装置，用于生成第2测试信号；及第2记录条件决定装置，由上述记录脉冲边缘调整装置将记录脉冲边缘位置设定为上述适当值，将从上述第2测试信号生成装置供给并由上述极性反转控制装置按每个扇区随机选定的第2测试信号的反转信号和非反转信号中的任何一个记录在上述光学信息记录媒体上，根据上述再生装置从上述光学信息记录媒体再生第2测试信号后的结果，对上述记录装置决定上述光源的记录功率的适当值。
在决定记录功率的测试记录中，与进行用于决定记录脉冲边缘位置的测试记录或通常信息信号的记录时相比，在多数情况下可能以更高的记录功率进行记录。按照这种结构，当进行决定记录功率的测试记录时，由于可以通过使第2测试信号的极性随机地反转进行测试记录，所以能够防止光学信息记录媒体中的进行测试记录的区域的记录膜的恶化。
进一步，上述第6光学信息记录装置，最好还备有用于测定从上述光学信息记录媒体再生上述第2测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的测定装置，上述第2记录条件决定装置，根据由上述测定装置测定的结果为规定值以下的记录功率值决定记录功率的上述适当值。
为达到上述目的，本发明的第6光学信息记录方法的特征在于，包括：步骤(a)，随机地决定是否使第1测试信号的极性反转，并仅将上述第1测试信号的反转信号和非反转信号中的任何一个在上述光学信息记录媒体的规定光道上进行测试记录；步骤(b)，根据从上述光学信息记录媒体再生在上述步骤(a)中记录的第1测试信号的结果，决定记录脉冲边缘位置的适当值；及步骤(c)，按每个扇区随机选择在上述光学信息记录媒体上记录的信息信号的反转信号和非反转信号中的任何一个并将记录脉冲的边缘位置设定为在上述步骤(b)中决定的适当值，从而在上述光学信息记录媒体上进行记录。
按照这种方法，可以使光学信息记录媒体的可重写次数提高、且可以在通过进行测试记录取得的最佳记录条件下对信息信号进行精密的记录。
在上述第6光学信息记录方法中，在上述步骤(a)中，最好将上述光学记录信息媒体的记录起始点按每个扇区随机地移动。
按照这种方法，可以将因在已记录在光学信息记录媒体中的将要进行测试记录的区域内的记录标记上重写测试信号的记录标记而发生的测试信号的边缘间隔的偏差平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
上述第6光学信息记录方法，在上述步骤(a)之前，最好包括在上述规定的光道上记录与测试信号不相关的数据模式的步骤。
按照这种方法，能使在将要进行测试记录的区域内进行重写的测试信号的记录标记与已记录着的记录标记之间的重叠情况变为随机的，所以，可以将测试信号边缘间隔的偏差平均化，并能以更精确的方式使记录数据信号的边缘位置最佳化。
在上述第6光学信息记录方法中，上述步骤(b)，最好包括比较步骤，将上述第1测试信号的边缘间隔与从上述光学信息记录媒体再生上述第1测试信号后得到的再生信号的边缘间隔进行比较。
在上述第6光学信息记录方法中，上述步骤(b)，最好还包括测定从上述光学信息记录媒体再生上述第1测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的步骤，并将使测定结果为最小的记录脉冲边缘位置决定为适当值。
上述第6光学信息记录方法，在上述步骤(b)结束之后、上述步骤(c)之前，最好包括：步骤(b-1)，按每个扇区随机选择第2测试信号的反转信号和非反转信号中的任何一个并将记录脉冲的边缘位置设定为在上述步骤(b)中决定的适当值，从而在上述光学信息记录媒体上进行记录；及步骤(b-2)，根据从上述光学信息记录媒体再生在上述步骤(b-1)中记录的第2测试信号的结果，决定记录功率的适当值。
在决定记录功率的测试记录中，与进行用于决定记录脉冲边缘位置的测试记录或通常信息信号的记录时相比，在多数情况下可能以更高的记录功率进行记录。按照这种方法，在进行决定记录功率的测试记录的步骤(b-1)中，由于可以通过使第2测试信号的极性随机地反转进行测试记录，所以能够防止光学信息记录媒体中的进行测试记录的区域的记录膜的恶化。
进一步，上述步骤(b-2)，最好还包括测定从上述光学信息记录媒体再生上述第2测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的步骤，并根据使测定结果为规定值以下的记录功率值决定记录功率的适当值。
为达到上述目的，本发明的第7光学信息记录方法，采用在记录区域内包含由规定数量的光道构成的多个区、并使每1周的扇区数随着从内周的区到外周的区而增加、且在同一区内越靠外周记录线密度越低的Z-CLV格式的光学信息记录媒体，在上述光学信息记录媒体上记录信息信号之前，对上述光学信息记录媒体进行测试记录，该光学信息记录方法的特征在于，包括：步骤(a)，以与上述各区的最内周光道的信息信号的记录线密度大致相等的记录线密度，对测试信号进行测试记录；及步骤(b)，从上述光学信息记录媒体再生上述测试信号，并根据再生结果决定记录脉冲边缘位置和记录功率中的任何一个的适当值。
按照这种方法，从各区的内周到外周都能得到容许的抖动(或误码率)，并可以对信息信号进行精密的记录。
在上述第7光学信息记录方法中，上述步骤(b)，最好还包括测定从上述光学信息记录媒体再生上述测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的步骤，并根据使测定结果为规定值以下的记录功率值决定记录功率的适当值。
在上述第7光学信息记录方法中，在上述步骤(a)内，进行测试记录的光道，最好至少大致是一个区内的最内周。
在上述第7光学信息记录方法中，在上述步骤(a)内，进行测试记录的光道，最好是自光学信息记录媒体的记录区域起的内周侧和外周侧的光道。
为达到上述目的，本发明的第1光学信息记录媒体，采用在记录区域内包含由规定数量的光道构成的多个区、并使每1周的扇区数随着从内周的区到外周的区而增加、且在同一区内越靠外周记录线密度越低的Z-CLV格式的光学信息记录媒体中，该光学信息记录媒体的特征在于：在至少一个上述区内的大致的最内周上，具有用于测试记录的区域。
为达到上述目的，本发明的第2光学信息记录媒体，采用在记录区域内包含由规定数量的光道构成的多个区、并使每1周的扇区数随着从内周的区到外周的区而增加、且在同一区内越靠外周记录线密度越低的Z-CLV格式的光学信息记录媒体中，该光学信息记录媒体的特征在于：在自上述记录区域起的内周侧和外周侧具有测试记录区域，上述测试记录区域的记录线密度，与上述记录区域内的各区的最内周光道的信息信号的记录线密度大致相等。
在上述第1和第2光学信息记录媒体中，记录膜由相变材料构成。
另外，上述第1～第6光学信息记录装置，在结构上，最好是在调整上述光学信息记录装置时、上述光学信息记录装置起动时、从上述起动时起经过了规定的时间时、更换上述光学信息记录媒体时、上述光学信息记录媒体的误码率超过规定值时、及上述光学信息记录装置的使用环境温度变化时的至少任何一个时刻，执行测试记录和记录条件的设定。
按照这种结构，通过在调整光学信息记录装置时进行测试记录，可以补偿光学信息记录装置间的变动因素。通过在光学信息记录装置起动时及从上述起动时起经过了规定的时间时进行测试记录，可以补偿光学信息记录装置本身的变动因素。通过在更换光学信息记录媒体时进行测试记录，可以补偿光学信息记录媒体间的变动因素。通过在光学信息记录媒体的误码率超过规定值时进行测试记录，可以补偿光学信息记录媒体本身的变动因素。通过在使用环境温度变化时进行测试记录，可以补偿由光学信息记录装置及光学信息记录媒体与温度的相关性引起的变动因素。
另外，利用上述第1～第7光学信息记录方法在光学信息记录媒体上进行信息记录的光学信息记录装置，其特征在于：在调整上述记录再生装置时、上述记录再生装置起动时、从上述起动时刻经过了规定的时间时、更换上述光学信息记录媒体时、上述光学信息记录媒体的误码率超过规定值时、及上述光学信息记录装置的使用环境温度变化时的至少任何一个时刻，执行测试记录和记录条件的设定。
按照这种结构，通过在调整记录再生装置时进行测试记录，可以补偿光学信息记录装置间的变动因素。通过在光学信息记录装置起动时及从上述起动时起经过了规定的时间时进行测试记录，可以补偿光学信息记录装置本身的变动因素。通过在更换光学信息记录媒体时选行测试记录，可以补偿光学信息记录媒体间的变动因素。通过在光学信息记录媒体的误码率超过规定值时进行测试记录，可以补偿光学信息记录媒体本身的变动因素。通过在使用环境温度变化时进行测试记录，可以补偿由光学信息记录装置及光学信息记录媒体与温度的相关性引起的变动因素。
另外，在上述第1～第6光学信息记录装置中，光学信息记录媒体的记录膜最好由相变材料构成。
另外，在上述第1～第7光学信息记录方法中，光学信息记录媒体的记录膜最好由相变材料构成。
附图说明
图1是表示本发明第1和第6实施形态的记录再生装置的结构的框图。
图2是说明上述第1实施形态的记录再生装置的动作的流程图。
图3是表示本发明第2实施形态的记录再生装置的结构的框图。
图4是说明上述第2实施形态的记录再生装置的动作的流程图。
图5是表示本发明第3和第4实施形态的记录再生装置的结构的框图。
图6是说明上述第3实施形态的记录再生装置的动作的流程图。
图7是说明上述第4实施形态的记录再生装置的动作的流程图。
图8是表示本发明第5实施形态的记录再生装置的结构的框图。
图9是说明上述第5实施形态的记录再生装置的动作的流程图。
图10是说明上述第6实施形态的记录再生装置的动作的流程图。
图11是表示在现有的光盘中进行测试记录前的光道状态、测试记录用的测试信号、根据该测试信号进行测试记录时的上述光道状态的一例的说明图。
图12是表示在现有的光盘中进行测试记录前的光道状态、测试记录用的测试信号、根据该测试信号进行测试记录时的上述光道状态的另一例的说明图。
图13是表示在现有的光盘中进行测试记录前的光道状态、测试记录用的测试信号、根据该测试信号进行测试记录时的上述光道状态的其他例的说明图。
图14是表示在现有的光盘中进行测试记录前的光道状态、测试记录用的测试信号、根据该测试信号进行测试记录时的上述光道状态的其他例的说明图。
图15是表示在现有的光盘中通过改变记录脉冲宽度记录最短标记的周期信号时的记录峰值功率Pp与误码率的关系的曲线图。
具体实施方式
以下，参照附图说明本发明的实施形态。
(第1实施形态)
图1是表示本发明第1实施形态的记录再生装置(光学信息记录装置)的简略结构的框图。
本记录再生装置，是一种用光盘1进行信息记录再生的装置，备有使光盘1旋转的主轴电机10和激光源(图中未示出)，并备有将激光聚焦在光盘1的预期部位上的光头9。该记录再生装置的总体动作由系统控制电路2(记录条件决定装置)控制。作为光盘1，最好使用记录膜由相变材料构成的相变型光盘。
该记录再生装置，为了对光盘1进行信息记录，备有按每个扇区随机地移动记录起始点的记录起始点移动电路3(记录起始点移动装置)及生成用于决定记录脉冲边缘位置的测试信号的边缘测试信号生成电路4(边缘测试信号生成装置)。
上述记录再生装置，作为记录装置，备有根据所要记录的信息信号产生二进制记录数据信号的调制电路5、根据记录数据信号产生用于驱动激光器的记录脉冲的记录信号生成电路6、对该记录信号生成电路6输出的记录脉冲的边缘位置进行调整的记录脉冲边缘调整电路7。另外，还设有用于根据记录脉冲边缘调整电路7输出的记录脉冲对驱动光头9内的激光源的电流进行调制的激光器驱动电路8。
另外，上述记录再生装置，作为从光盘1进行信息再生的再生装置，备有根据来自光盘1的反射光对再生信号进行波形处理的再生信号处理电路11、检测再生信号的边缘时刻的边缘时刻检测电路12、用于获得再生信息的解调电路13。
其次，用图2的流程图说明本实施形态的记录再生装置的动作。
当进行测试记录时，首先，由光头9对光盘1上的规定光道进行查找(步骤1，以下，简记为S1)，并由系统控制电路2决定激光器驱动电路8的记录功率设定值(S2)。然后，边缘测试信号生成电路4，生成测试信号，并作为记录数据信号输出到记录信号生成电路6(S3)。
记录信号生成电路6，检测记录数据信号的信号反转间隔是信道时钟周期T的几倍。然后，根据记录标记的长度在规定的时刻产生规定个数和规定宽度的记录脉冲。
这里，记录起始点移动电路3，按扇区随机地移动记录选通信号的起始位置并输出到记录信号生成电路6。该所谓的记录选通信号是「1」或「0」的数字信号，仅当在光盘1进行信息记录时为「1」，在除此以外的时间里是「0」信号。与此相反，也可以是记录时为「0」而其他时间为「1」的信号。
这样，通过随机地移动记录选通信号的起始位置，可以按每个扇区随机地移动在光盘1的扇区上记录的一连串的记录数据信号的记录起始点(S4)。在这之后，记录脉冲边缘调整电路7，将用于驱动激光源的记录脉冲输入到激光器驱动电路8。
激光器驱动电路8，根据记录脉冲对驱动激光源的电流进行调制，并进行对该扇区的记录(S5)。反复进行上述S3～S5的记录动作，直到完成规定扇区数的记录(S6中为“是”)为止。
其结果是，即使是对相同光道重写模式相同的测试信号，也能按每个扇区随机地改变新记录标记与老记录标记的相位关系。因此，能使图11～图14所示的各种状态的标记畸变以同等的概率存在。
在记录了测试信号后，由光头9对该扇区进行再生(S7)，再生信号处理电路11，进行再生信号的均衡和二进制化。然后，边缘时刻检测电路12，通过对二进制化后的再生信号进行限幅并检测信号反转间隔(S8)，测定记录标记的边缘间隔。所测定的边缘间隔，被存储在系统控制电路2中的存储器(图中未示出)内(S9)。对进行过测试记录的所有扇区反复进行上述S7～S9的处理(直到S10中为“是”为止)。
在这之后，系统控制电路2，计算存储器所存储着的边缘间隔测定值的平均值(S11)。如上所述，在S4中，将测试信号的记录起始点按每个扇区随机移动后进行记录，所以，由于如图11～图14所示的各种标记畸变的影响造成的边缘间隔的偏差(即，图11～图14的Δ1和Δ1的影响)被平均化了。因此，使在S11中计算出的边缘间隔的平均值不会发生因与以前的数据模式的相位关系引起的偏差。其结果是，可以求得与重写实际信息信号时的状态相同的理想边缘间隔。
接着，求出根据对测试记录结果进行再生后的再生信号计算出的边缘间隔与测试信号的边缘间隔的差分(例如，在如图11～图14所示的测试信号的情况下，为所算出的边缘间隔的相应时间与15T之差)(S12)。然后，按照根据上述差分校正后的位置决定记录脉冲的边缘位置(例如，在如图11～图14所示的例中，为用于记录3T标记的记录脉冲的前端边缘)(S13)，在由记录脉冲边缘调整电路7设定该边缘的校正量(S14)后，结束测试记录。以后，当实际记录信息信号时，由于可根据由记录脉冲边缘调整电路7设定好的记录脉冲边缘位置进行记录，所以能够在理想的边缘位置上形成记录标记。
在如上所述的本实施形态中，通过按每个扇区随机地移动测试信号的记录起始点后而对多个扇区进行记录并求出根据其再生信号求得的记录标记边缘间隔的平均值，可以进行无偏差地精确决定记录标记边缘位置的测试记录，因而能进行更精密的信息信号记录。
(第2实施形态)
图3是表示本发明第2实施形态的记录再生装置的简略结构的框图。
该记录再生装置，是一种用光盘1进行信息记录再生的装置，备有使光盘1旋转的主轴电机10和激光源(图中未示出)，并备有将激光聚焦在光盘1的预期部位上的光头9。该记录再生装置的总体动作由系统控制电路22控制。
该记录再生装置，作为记录装置(或记录和擦除装置)，备有生成用于决定记录脉冲边缘位置的测试信号的边缘测试信号生成电路4、根据所要记录的信息信号产生二进制记录数据信号的调制电路5、根据记录数据信号产生用于驱动激光器的记录脉冲的记录信号生成电路6、对该记录信号生成电路6输出的记录脉冲的边缘位置进行调整的记录脉冲边缘调整电路7。另外，还设有用于根据记录脉冲边缘调整电路7输出的记录脉冲对驱动光头9内的激光源的电流进行调制的激光器驱动电路8。
另外，上述记录再生装置，为从光盘1进行信息的再生，备有根据来自光盘1的反射光对再生信号进行波形处理的再生信号处理电路11、检测再生信号的边缘时刻的边缘时刻检测电路12、用于获得再生信息的解调电路13。
本实施形态的记录再生装置，设有在想要记录测试信号的光道上进行测试信号的记录之前生成所要记录的数据模式的数据模式生成电路21，用以代替第1实施形态中的记录起始点移动电路3。而作为该数据模式，采用与测试信号不相关的数据。
其次，用图4的流程图说明由系统控制电路22控制的本实施形态的记录再生装置的动作。
当进行信号记录时，首先，由光头9对光盘1上的规定光道进行查找(S21)，并由系统控制电路22决定激光器驱动电路8的记录功率设定值(S22)。然后，数据模式生成电路21，生成与测试信号的模式不相关的数据模式，并作为记录数据信号输出到记录信号生成电路6(S23)。由记录信号生成电路6将该记录数据信号变换为记录脉冲，并由激光器驱动电路8对激光器的驱动电流进行调制，然后，对进行测试记录的该扇区进行记录(S24)。
在这之后，由边缘测试信号生成电路4将测试信号作为记录数据信号输出到记录信号生成电路6(S25)。同样由记录信号生成电路6将该记录数据信号变换为记录脉冲，由激光器驱动电路8对激光器的驱动电流进行调制，并对在上述S24中已将来自数据模式生成电路21的数据模式进行了记录的扇区进行重写(S26)。
这里，在S26中进行重写的以前已在步骤S24中记录的数据模式，是与测试信号的模式不相关的数据模式，所以，由测试信号产生的记录标记与以前的记录标记的重叠情况为随机的，因此使图11～图14所示的各种状态的标记畸变以同等的概率存在。
在记录了测试信号后，由光头9对在S26中重写后的扇区进行再生(S27)，再生信号处理电路11，进行再生信号的均衡和二进制化。然后，边缘时刻检测电路12，通过对二进制化后的信号进行限幅并检测信号反转间隔(S28)，测定记录标记的边缘间隔。所测定的边缘间隔，被存储在系统控制电路2中的存储器内(S29)。
然后，由系统控制电路22计算边缘间隔测定值的平均值(S30)。如上所述，由于进行重写的以前已记录的数据模式是与测试信号的模式不相关的模式，所以，由图11～图14所示的各种标记畸变的影响造成的边缘间隔的偏差(即，图11～图14的Δ1和Δ1的影响)被平均化了。因此，使计算出的边缘间隔的平均值不会发生因与以前的数据模式的相位关系引起的偏差。其结果是，可以求得精确的记录标记边缘间隔。
接着，求出根据进行了测试记录的测试信号的再生信号计算出的边缘间隔与测试信号原有的边缘间隔的差分(例如，在如图11～图14所示的测试信号的情况下，为与所算出的边缘间隔的相应时间与15T之差)(S31)。然后，按照根据上述差分校正后的位置决定记录脉冲的边缘位置(例如，在如图11～图14所示的例中，为用于记录3T标记的记录脉冲的前端边缘)(S32)，在由记录脉冲边缘调整电路7设定该边缘的校正量(S33)后，结束测试记录。以后，当实际记录信息信号时，由于可根据由记录脉冲边缘调整电路7设定好的记录脉冲边缘位置进行记录，所以能够在理想的边缘位置上形成记录标记。
如上所述，在本实施形态中，通过在测试记录之前在想要记录测试信号的光道上记录与测试信号的模式不相关的数据模式，可以进行无偏差地精确决定记录标记边缘位置的测试记录，因而能进行更精密的信息信号记录。
另外，如果在本实施形态中同时并用设置随机移动记录起始点的记录起始点移动电路3并对多个扇区记录再生测试信号的结构和方法，则在使测试记录前的数据模式与测试信号的数据模式的相关性进一步降低因而在能更精确地决定记录脉冲边缘位置这一点上是更为理想的。
另外，在本实施形态中，是使记录测试信号之前记录的数据模式为与测试信号的模式不相关的模式，但在结构上作为该数据模式也可以采用随机模式。在这种情况下，如在结构上使系统控制电路22预先具有随机的记录信息并由调制电路5对该记录信息进行调制，则可以将数据模式生成电路21省略，因而在使记录再生装置的结构简化这一点上是更为理想的。或者，采用从与本记录再生装置连接的外部装置(例如计算机等)向系统控制电路22输出随机记录信息并由调制电路5对该记录信息进行调制的结构，也可以取得同样的效果。
另外，在记录测试信号之前记录的不相关的数据模式，也可以是模式周期不同的其他测试信号数据模式。在这种情况下，也可以将数据模式生成电路21省略因而使记录再生装置的结构简化，所以是更为理想的。
另外，也可以不是在记录测试信号之前记录不相关的数据模式，而是使激光以一定电平的擦除功率(Pb)照射光盘1，从而将在想要记录测试信号的光道上记录着的所有信号擦除。当光盘1为相变型光盘时，由于受擦除功率为Pb的激光连续照射的部分的记录膜变成结晶状态，所以可将所记录着的信号擦除。在这种情况下，也可以将数据模式生成电路21省略，因而在使记录再生装置简化这一点上是更为理想的。
(第3实施形态)
图5是表示本发明第3实施形态的记录再生装置的简略结构的框图。
该记录再生装置，是一种用光盘1进行信息记录再生的装置，备有使光盘1旋转的主轴电机10和激光源(图中未示出)，并备有将激光聚焦在光盘1的预期部位上的光头9。该记录再生装置的总体动作由系统控制电路32控制。
该记录再生装置，备有生成用于决定记录脉冲边缘位置的测试信号(边缘测试信号)的边缘测试信号生成电路4、根据所要记录的信息信号产生二进制记录数据信号的调制电路5、根据记录数据信号产生用于驱动激光器的记录脉冲的记录信号生成电路6、对该记录信号生成电路6输出的记录脉冲的边缘位置进行调整的记录脉冲边缘调整电路7。另外，还设有用于根据记录脉冲边缘调整电路7输出的记录脉冲对驱动光头9内的激光源的电流进行调制的激光器驱动电路8。
另外，上述记录再生装置，为从光盘1进行信息的再生，备有根据来自光盘1的反射光对再生信号进行波形处理的再生信号处理电路11、检测再生信号的边缘时刻的边缘时刻检测电路12、用于获得再生信息的解调电路13。
以上，与第1实施形态中由图1示出的结构基本相同。本实施形态的记录再生装置与第1实施形态的特有的不同之处在于，不具备记录起始点移动电路3，而是备有决定记录功率的误码率(图中，简记为BER)测定电路31、生成用于决定记录功率的测试信号(功率测试信号)的功率测试信号生成电路33。
其次，用图6的流程图说明由系统控制电路32控制的本实施形态的记录再生装置的动作。
当进行测试记录时，首先，由光头9对光盘1上的规定光道进行查找(S41)，并由系统控制电路32将激光器驱动电路8的记录功率设定值作为初始值(S42)。然后，由边缘测试信号生成电路4将用于决定记录脉冲边缘位置的测试信号(边缘测试信号)作为记录数据信号输出到记录信号生成电路6(S43)。记录信号生成电路6，将该记录数据信号变换为记录脉冲，并由激光器驱动电路8根据该记录脉冲对激光器的驱动电流进行调制，从而对进行测试记录的该扇区进行记录(S44)。
在记录了测试信号后，由光头9对在S44中进行了记录的扇区进行再生(S45)，再生信号处理电路11，进行再生信号的均衡和二进制化。然后，边缘时刻检测电路12，通过对二进制化信号进行限幅并检测信号反转间隔(S46)，测定记录标记的边缘间隔，并将测定值存储在系统控制电路32中的存储器内(S47)。
在这之后，系统控制电路32(第1记录条件决定装置)，计算边缘间隔测定值的平均值(S48)。接着，求出根据测试记录后的测试信号的再生信号计算出的边缘间隔与测试信号原有的边缘间隔的差分(例如，在如图11～图14所示的测试信号的情况下，为所算出的边缘间隔的相应时间与15T之差)(S49：比较装置)。然后，按照根据上述差分校正后的位置决定记录脉冲的边缘位置(例如，在如图11～图14所示的例中，为用于记录3T标记的记录脉冲的前端边缘)(S50)，并由记录脉冲边缘调整电路7设定该边缘校正量(S51)。
接着，将记录功率设定为功率调整范围的最小值(S52)，并由功率测试信号生成电路33向记录信号生成电路6输出用于决定功率的测试信号(功率测试信号)(S53)。然后，根据由该测试信号生成的记录脉冲，对进行测试记录的该扇区进行记录(S54)。在这之后，对所记录的测试信号进行再生(S55)，并由再生信号处理电路11进行均衡和二进制化。
接着，误码率测定电路(测定装置)31，通过将测试信号的模式与再生后的数据模式进行比较而测定误码率(S56)，并将测定值存储于系统控制电路32。逐级增加记录功率(S58)并反复进行上述S53～S56，直到记录功率达到功率调整范围内的最大值(S57中为“是”)为止。
然后，系统控制电路32(第2记录条件决定装置)，参照存储在存储器内的测定值，计算当误码率达到一定的阈值(图15中的Bth)时的记录功率的值(S59)。根据该值进行例如将该值乘以一定的系数等的处理，从而决定记录功率的适当值(S60)，由激光器驱动电路8将记录功率设定为适当值后(S61)，结束测试记录。按照这种方法，即使是通过调整记录脉冲边缘位置而改变了脉冲宽度时，也能以最佳的记录功率记录信息信号。
如上所述，在本实施形态中，在进行了决定记录脉冲边缘位置最佳值的测试记录后，可以在将记录脉冲边缘位置设定为上述最佳值的状态下进行决定记录功率最佳值的测试记录。因此，即使是通过调整记录脉冲的边缘位置而改变了脉冲宽度时也能使记录功率最佳化，能以最佳边缘位置和记录功率记录信息信号，所以在能够进行更为精密的信息信号记录这一点上可取得优良的效果。
在本实施形态中，在步骤S42中将决定边缘位置时的记录功率设定为规定值，但是，如果在S42之前追加一个进行用于决定该记录功率值的测试记录的步骤，则因可以更精确地决定记录脉冲的最佳边缘位置及记录功率，所以是更理想的。
另外，在本实施形态中，如果进一步同时并用设置如第1实施形态所述的记录起始点移动电路3以便随机地移动记录起始点并从多个扇区对测试信号进行记录再生从而决定记录脉冲的最佳边缘位置的结构和方法，则在可以进行无偏差地精确决定记录标记边缘位置的测试记录这一点上是更为理想的。
另外，在本实施形态中，如第2实施形态所述如果进一步同时并用设置数据模式生成电路21并在记录用于决定记录脉冲边缘位置的测试信号的光道上预先记录与测试信号的模式不相关的数据模式的结构和方法，则在可以进行无偏差地精确决定记录标记边缘位置的测试记录这一点上是更为理想的。
另外，在本实施形态中，如后文所述的第5实施形态所示如果进一步同时并用设置极性反转控制电路53、极性反转电路54和选择电路55并仅在进行用于决定记录脉冲边缘位置的测试信号的记录时以禁止记录数据信号的随机极性反转的方式进行记录的结构和方法，则在提高光盘的可重写次数且可以精密地记录信息信号这一点上是更理想的。
(第4实施形态)
本发明第4实施形态的记录再生装置的结构，与第3实施形态中图5所示的结构相同，但由系统控制电路32进行的控制不同。这里，用图7的流程图和图5说明由系统控制电路32控制的本实施形态的记录再生装置的动作。
当进行测试记录时，首先，由光头9对光盘1上的规定光道进行查找(S71)，并由系统控制电路32将记录脉冲边缘调整电路7的记录脉冲边缘位置设定为规定的位置(S72)。
接着，将记录功率设定为功率调整范围的最小值(S73)，并由功率测试信号生成电路33向记录信号生成电路6输出用于决定功率的测试信号(功率测试信号)(S74)，对进行测试记录的该扇区进行记录(S75)。
然后，对所记录的测试信号进行再生(S76)，并由再生信号处理电路11进行均衡和二进制化。误码率测定电路(测定装置)31，通过将测试信号的模式与再生后的数据模式进行比较而测定误码率(S77)，并将测定值存储于系统控制电路32。逐级增加记录功率(S79)，并反复进行上述S74～S77的处理，直到记录功率达到功率调整范围内的最大值(S78中为“是”)为止。
接着，系统控制电路(第2记录条件决定装置)32，根据所存储的测定值，计算当误码率达到一定的阈值(图15中的Bth)时的记录功率(S80)。根据该功率决定记录功率(S81)，并由激光器驱动电路8设定记录功率(S82)。
然后，由边缘测试信号生成电路4将用于决定记录脉冲边缘位置的测试信号(边缘测试信号)作为记录数据信号输出到记录信号生成电路6(S83)。记录信号生成电路6，将该记录数据信号变换为记录脉冲，并由激光器驱动电路8根据来自记录信号生成电路6的记录脉冲对激光器的驱动电流进行调制，从而对进行测试记录的该扇区进行记录(S84)。
在记录了测试信号后，由光头9对该扇区进行再生(S85)，再生信号处理电路11，进行再生信号的均衡和二进制化。然后，边缘时刻检测电路12，通过对二进制信号进行限幅并检测信号反转间隔(S86)，测定记录标记的边缘间隔，并将测定值存储在系统控制电路32中的存储器内(S87)。
在这之后，系统控制电路(第1记录条件决定装置)32，计算存储在存储器内的边缘间隔测定值的平均值(S88)。接着，求出根据测试记录后的测试信号的再生信号计算出的边缘间隔与测试信号原有的边缘间隔的差分(例如，在如图11～图14所示的测试信号的情况下，为所算出的边缘间隔的相应时间与15T之差)(S89：比较装置)。然后，按照根据上述差分校正后的位置决定记录脉冲的边缘位置(例如，在如图11～图14所示的例中，为用于记录3T标记的记录脉冲的前端边缘)(S90)，由记录脉冲边缘调整电路7设定该边缘的校正量(S91)，并结束测试记录。按照这种方法，也能在调整了记录功率后按最佳的记录脉冲边缘位置记录信息信号。
如上所述，在本实施形态中，在进行了用于将记录功率决定为适当值的测试记录后，可以在将记录功率设定为上述适当值的状态下，进行决定记录脉冲边缘位置的测试记录。因此，即使是通过调整记录功率而改变了激光的照射能量时也能按最佳的记录脉冲边缘位置记录信息信号。其结果是，在能够进行更为精密的信息信号记录这一点上可取得优良的效果。
在本实施形态中，在步骤S72中将决定记录功率时的边缘位置时设定为规定值，但是，如果在S72之前追加一个进行用于决定该边缘位置测试记录的步骤，则因可以更精确地决定记录脉冲的最佳边缘位置及记录功率，所以是更理想的。
另外，在本实施形态中，如第1实施形态所述如果进一步同时并用设置记录起始点移动电路3以便随机地移动记录起始点并从多个扇区进行测试信号的记录再生从而决定记录脉冲的最佳边缘位置的结构和方法，则在可以进行无偏差地精确决定记录标记边缘位置的测试记录这一点上是更为理想的。
另外，在本实施形态中，如第2实施形态所述如果进一步同时并用设置数据模式生成电路21并在记录用于决定记录脉冲边缘位置的测试信号的光道上预先记录与测试信号的模式不相关的数据模式的结构和方法，则在可以进行无偏差地精确决定记录标记边缘位置的测试记录这一点上是更为理想的。
另外，在本实施形态中，如后文所述的第5实施形态所示如果进一步同时并用设置极性反转控制电路53、极性反转电路54和选择电路55并仅在进行用于决定记录脉冲边缘位置的测试信号的记录时以禁止记录数据信号的随机极性反转的方式进行记录的结构和方法，则在提高光盘的可重写次数且可以精密地记录信息信号这一点上是更理想的。
当进行决定最佳记录功率及记录脉冲最佳边缘位置的测试记录时采用本实施形态的结构和方法、或采用上述第3实施形态的结构和方法，可根据要进行记录的光盘的结构、记录密度、调制方式等选择。例如，在抖动或误码率的变化对边缘位置变化敏感的光盘的情况下，最好采用本实施形态，而在抖动或误码率的变化对记录功率变化敏感的光盘的情况下，最好采用第3实施形态。
另外，一般来说，用于决定记录标记边缘位置的测试记录，与用于决定记录功率的测试记录相比，记录再生装置所需的结构更为复杂。因此，例如，在调整记录再生装置时(出厂时)，在采用例如时间间隔分析器等外部的测定器进行决定边缘位置的测试记录、然后只进行决定记录功率的测试记录的情况下，可以使记录再生装置的结构简化，在这一点上，第3实施形态更好一些。
(第5实施形态)
图8是表示本发明第5实施形态的记录再生装置的简略结构的框图。
本记录再生装置，是一种用光盘1进行信息记录再生的装置，备有使光盘1旋转的主轴电机10和激光源(图中未示出)，并备有将激光聚焦在光盘1的预期部位上的光头9。该记录再生装置的总体动作由系统控制电路52控制。
该记录再生装置，备有生成用于测试记录的测试信号的边缘测试信号生成电路4、根据所要记录的信息信号产生二进制记录数据信号的调制电路5、根据记录数据信号产生用于驱动激光器的记录脉冲的记录信号生成电路6、对该记录信号生成电路6输出的记录脉冲的边缘位置进行调整的记录脉冲边缘调整电路7。另外，还设有用于根据记录脉冲边缘调整电路7输出的记录脉冲对驱动光头9内的激光源(图中未示出)的电流进行调制的激光器驱动电路8。
另外，上述记录再生装置，为从光盘1进行信息的再生，备有根据来自光盘1的反射光对再生信号进行波形处理的再生信号处理电路11、检测再生信号的边缘时刻的边缘时刻检测电路12、用于获得再生信息的解调电路13。
上述记录再生装置，还备有用于使记录数据信号的极性反转的极性反转电路54、内部装有用于在记录信号生成电路6和极性反转电路54之间切换从调制电路5或边缘测试信号生成电路4输出的信号的输出端的开关的选择电路55、进行随机极性反转的禁止和解禁的极性反转控制电路53。
以下，用图9的流程图说明本实施形态的记录再生装置的动作。
当进行测试记录时，首先，由极性反转控制电路53进行使选择电路55的输出固定在记录信号生成电路6侧的控制，使来自边缘测试信号生成电路4的所有数据不能通过极性反转电路54(S101)。由此，可禁止记录测试信号的极性反转。
接着，由光头9对光盘1上的规定光道进行查找(S102)，并由系统控制电路52将激光器驱动电路8的记录功率设定为规定值(S103)。然后，边缘测试信号生成电路4，将测试信号作为记录数据信号输出到选择电路55(S104)。这里，由于在S101中已切换到记录信号生成电路6侧，所以，选择电路55使由边缘测试信号生成电路4输出的所有测试信号不能通过极性反转电路54，而是输入到记录信号生成电路6。
记录信号生成电路6，按照与上述实施形态同样的方式，将所输入的测试信号变换为用于驱动激光器的记录脉冲。激光器驱动电路8，根据该记录脉冲对激光器的驱动电流进行调制，并对进行测试记录的该扇区进行记录(S105)。
在记录了测试信号后，由光头9对进行了测试记录的扇区进行再生(S106)，再生信号处理电路11，进行再生信号的均衡和二进制化。然后，边缘时刻检测电路12，对二进制信号进行限幅并检测信号反转间隔(S107)。系统控制电路52，根据已检出的反转间隔，测定记录标记的边缘间隔，并将测定值存储在系统控制电路52中的存储器内(S108)。
然后，系统控制电路(记录条件决定装置)52，计算存储在存储器内的边缘间隔测定值的平均值(S109)。系统控制电路52，求出在S109中算出的边缘间隔与测试信号原有的边缘间隔的差分(例如，在如图11～图14所示的测试信号的情况下，为所算出的边缘间隔的相应时间与15T之差)(S110：比较装置)。接着，按照根据上述差分校正后的位置决定记录脉冲的边缘位置(例如，在如图11～图14所示的例中，为用于记录3T标记的记录脉冲的前端边缘)(S111)，并由记录脉冲边缘调整电路7设定该边缘的校正量(S112)。
最后，极性反转控制电路53，将在S101中设定的极性反转禁止解除，以便按每个扇区随机地进行选择电路55的开关的切换(S113)，并结束测试记录。
在该测试记录后，当实际记录信息信号时，按每个扇区随机地切换选择电路55的开关。由此，信息信号，可按每个扇区随机地选择从调制电路5经由极性反转电路54后以反转后的状态输出到记录信号生成电路6的反转状态、及不经由极性反转电路54而从调制电路5直接输出到记录信号生成电路6的非反转状态中的任何一种状态。其结果是，即使是在同一扇区反复记录类似的信息信号，也可以避免对光盘1的记录膜的特定位置的损伤。记录信息信号时的选择电路55的开关的切换，不限于按每个扇区，也可以按每一次重写进行。
如上所述，在本实施形态中，仅当进行测试记录时进行将记录数据信号的随机极性反转禁止的控制，所以，当决定记录标记的边缘位置时，可以区分记录标记的前端边缘和后端边缘，并能进行精密的信息信号记录。而且，当实际记录信息信号时，按每个扇区或每次重写进行使记录数据信号的极性随机反转的控制，从而在可以提高光盘的可重写次数这一点上取得优良的效果。
另外，在S101中，也可以与上述相反，由极性反转控制电路53对选择电路55的开关进行切换控制，使由边缘测试信号生成电路4输出的所有测试信号输入到极性反转电路54，进行极性反转。关键是，只要在一连串的测试记录中使记录数据信号的极性始终相同即可。
在本实施形态中，说明了备有边缘测试信号生成电路4并通过测试记录决定记录脉冲最佳边缘位置的结构和方法，但与第3实施形态一样，也可以同时并用在结构上进一步备有功率测试信号生成电路(第2测试信号生成装置)33并由系统控制电路(第2记录条件决定装置)52决定记录功率的结构和方法。在这种情况下，在决定记录功率的过程中，最好是进行控制以便将极性反转的禁止解除。其原因是，在用于决定记录功率的测试记录中，与进行用于决定记录脉冲边缘位置的测试记录或通常信息信号的记录时相比，在多数情况下可能以更高的记录功率进行记录，所以通过进行极性反转，可以抑制在测试光道上反复进行记录时的记录膜恶化。
另外，在本实施形态中，如第1实施形态所述如果进一步同时并用设置记录起始点移动电路3以便随机地移动记录起始点并从多个扇区进行测试信号的记录再生从而决定记录脉冲的最佳边缘位置的结构和方法，则在可以进行无偏差地精确决定记录标记边缘位置的测试记录这一点上是更为理想的。
另外，在本实施形态中，如第2实施形态所述如果进一步同时并用设置数据模式生成电路21并在记录用于决定记录脉冲边缘位置的测试信号的光道上预先记录与测试信号的模式不相关的数据模式的结构和方法，则在可以进行无偏差地精确决定记录标记边缘位置的测试记录这一点上是更为理想的。
(第6实施形态)
本发明的第6实施形态，采用在上述第1实施形态中图1所示结构的记录再生装置，但作为光盘1，采用Z-CLV格式的光盘。以下，用图10的流程图和图1说明本实施形态的记录再生装置的动作。
当进行测试记录时，首先，由光头9对光盘1上的记录区域的任何一个区的最内周附近的光道进行查找(步骤121)，并由系统控制电路2将激光器驱动电路8的记录功率设定为规定值(S122)。然后，边缘测试信号生成电路4，将测试信号作为记录数据信号输出到记录信号生成电路6(S123)。记录信号生成电路6，将该记录数据信号变换为记录脉冲，并通过由激光器驱动电路8对光头9的激光源(图中未示出)的驱动电流进行调制，对该扇区进行测试记录(S124)。
在记录了测试信号后，由光头9对进行了记录的扇区进行再生(S125)，再生信号处理电路11，进行再生信号的均衡和二进制化。然后，边缘时刻检测电路12，通过对二进制信号进行限幅并检测信号反转间隔(S126)，测定记录标记的边缘间隔，并将测定值存储在系统控制电路2中的存储器(图中未示出)内(S127)。进一步，系统控制电路2，根据存储在存储器内的测定值计算边缘间隔的平均值(S128)。
然后，系统控制电路2，求出在S128中算出的边缘间隔与测试信号原有的边缘间隔的差分(例如，在如图11～图14所示的测试信号的情况下，为所算出的边缘间隔的相应时间与15T之差)(S129)。接着，按照根据上述差分校正后的位置决定记录脉冲的边缘位置(例如，在如图11～图14所示的例中，为用于记录3T标记的记录脉冲的前端边缘)(S130)，并由记录脉冲边缘调整电路7设定该边缘的校正量(S131)。
其次，说明为确认本实施形态的效果而进行的比较实验。在本实验中，不是测定误码率，而是利用时间间隔分析器测定了再生信号的抖动。此外，在再生信号的边缘时刻检测中也使用了时间间隔分析器。
将本实验中采用的光盘1的衬底的区格式，示于表1。该格式为将半径25.0mm～50mm的记录区域(即，实际记录信息信号的区域)划分为10个区并使各区中的转速保持恒定的Z-CLV格式。在整个记录区域上时钟周期相同。在本实施形态中，采用了使各区最内周上的线速度相同的格式，但线速度在各区的最内周上也不一定相同。
                              表1
  区   最内周半径[mm]   最外周半径[mm]   转速[rpm]   最内周线速度[m/s]   最外周线速度[m/s]   信道时钟[ns]   最内周标记长度[μm]   最外周标记长度[μm]
  0   25.00   27.50   3132   8.20   9.02   17.09   0.42   0.46
  1   27.50   30.00   2847   8.20   8.95   17.09   0.42   0.46
  2   30.00   32.50   2610   8.20   8.88   17.09   0.42   0.46
  3   32.50   35.00   2409   8.20   8.83   17.09   0.42   0.45
  4   35.00   37.50   2237   8.20   8.79   17.09   0.42   0.45
  5   37.50   40.00   2088   8.20   8.75   17.09   0.42   0.45
  6   40.00   42.50   1958   8.20   8.71   17.09   0.42   0.45
  7   42.50   45.00   1842   8.20   8.68   17.09   0.42   0.45
  8   45.00   47.50   1740   8.20   8.66   17.09   0.42   0.44
  9   47.50   50.00   1649   8.20   8.63   17.09   0.42   0.44
对光盘1的衬底，采用了直径120mm、厚0.6mm的聚碳酸酯树脂。在该树脂衬底上，对凸凹形状的相位坑点按地址信息进行了预格式化，并在扇区区域上形成了记录用光道。光道间距为1.2μm。在衬底上用溅射法形成保护膜、相变记录膜、保护膜、及反射膜。并在其上粘合保护衬底。
作为保护膜，采用了ZnS-SiO2，作为相变记录膜，采用了Te-Sb-Ge，作为反射膜，采用了Al。并且，在主轴电机10的带动下使该光盘1以表1所列出的转速旋转，并由数值孔径(NA)为0，6的物镜将波长660nm的激光聚焦，从而进行记录再生。整个光点尺寸的半值宽度为0.62μm。
测试记录时的激光功率，为Pp＝11mW、Pb＝5mW、Pr＝1mW。记录信息的调制方式，采用了在DVD中使用的(8-16)脉宽调制。最短的3T标记的长度，为0.42μm，
在记录信息信号之前，在第0区最内周附近的光道上进行测试记录，并决定了记录脉冲的边缘位置。决定方法，依照第1实施形态中图2的流程图所示的步骤。
其中，对记录脉冲的边缘位置的前端，分别决定了记录标记长度(3T标记、4T标记、5T以上的标记)及紧靠在标记前面的间隔的长度(3T间隔、4T间隔、5T以上的间隔)共9种组合。对记录脉冲的边缘位置后端决定了记录的标记长度(3T标记、4T标记、5T以上标记)和紧靠其后的间隔长度(3T间隔、4T间隔、5T以上间隔)共9种组合。边缘位置的调整精度为0.5ns。
之所以按3T标记、4T标记及5T以上的标记各自分别规定边缘位置的调整值，其原因是，在3T标记和4T标记的情况下，在变成所谓的笔尖记录状态后标记长度比光点尺寸小，所以必须使边缘位置与5T以上的标记长度时不同。之所以按3T间隔、4T间隔、5T以上的间隔改变边缘位置的调整值，是因为在3T间隔和4T间隔的情况下，不能将标记间的热干扰忽略。
接着，根据由该测试记录决定了的记录脉冲边缘位置，在第0区的最内周(即，半径25.0mm)附近的光道及最外周附近的光道上将(8-16)脉宽调制的随机信息信号重写记录10次，并测定了再生信号的抖动。
然后，按照与上述同样的方式，在第0区的最外周(即，半径27.5mm)附近的光道上进行测试记录，并决定了记录脉冲的边缘位置。接着，根据在该测试记录中记录的记录脉冲边缘位置，在第0区最内周附近的光道及最外周附近的光道上将(8-16)脉宽调制的随机信息信号重写记录10次，并测定了再生信号的抖动。以上的抖动测定结果，示于表2。
                        表2
  测试记录光道
  区0的最内周   区0的最外周
  信息信号记录光道   区0的最内周   9.3％   10.4％
  区0的最外周   8.6％   8.5％
从表2可以看出，无论在区最内周附近还是在区最外周附近的光道上进行测试记录，随机信息信号的抖动都是在区最外周附近变得正常。这是因为在区的最外周线记录密度低的缘故。例如，如表1所示，在第0区中，最外周的最短标记长度为最内周的1.1倍。
另外，在源区最内周进行测试记录而在最外周记录随机信息信号时的抖动，与在区最外周进行测试记录并在最外周记录随机信息信号时的抖动基本相等。另一方面，在区最外周进行测试记录而在最内周记录随机信息信号时的抖动，则比在最内周进行测试记录并在最内周记录随机信息信号时的抖动增加了大约1％。
对其原因讨论如下。由于在区最外周记录线密度低，所以，当进行了测试记录时，与记录脉冲边缘位置的偏差对应的抖动值的变化程度小。因此，可以推测出当通过测试记录调整边缘位置时易于产生调整误差，其影响则表现为在最内周进行记录时的抖动值增加。
在如上所述的本实施形态中，通过以与Z-CLV盘的各区最内周光道的信息信号记录线密度大致相等的记录线密度记录测试信号，决定记录脉冲的边缘位置，从而在各区的从最内周到最外周的整个范围上都能得到容许的抖动(或误码率)，因而在可以进行精密的信息信号记录这一点上可取得优良的效果。
在本实施形态中，在光盘的记录区域、即记录信息信号的区域的各区内的最内周附近进行了测试记录，但也可以将光盘的至少一个区的最内周附近的区域作为用于测试记录的区域，并在该区域内进行测试记录。
另外，如表3所示，在光盘上的从记录区域起的内周侧和外周侧设置用于测试记录的区域，并使该区域的记录线密度为与各区最内周的记录线密度大致相等的记录线密度，也可以取得同样的效果。
                                     表3
  区   最内周半径[mm]   最外周半径[mm]   转速[rpm]   最内周线速度[m/s]   最外周线速度[m/s]   信道时钟[ns]   最内周标记长度[μm]   最外周标记长度[μm]
  测试记录区域   24.90   25.00   3145   8.20   8.23   17.09   0.42   0.42
  0   25.00   27.50   3132   8.20   9.02   17.09   0.42   0.46
  1   27.50   30.00   2847   8.20   8.95   17.09   0.42   0.46
  2   30.00   32.50   2610   8.20   8.88   17.09   0.42   0.46
  3   32.50   35.00   2409   8.20   8.83   17.09   0.42   0.45
  4   35.00   37.50   2237   8.20   8.79   17.09   0.42   0.45
  5   37.50   40.00   2088   8.20   8.75   17.09   0.42   0.45
  6   40.00   42.50   1958   8.20   8.71   17.09   0.42   0.45
  7   42.50   45.00   1842   8.20   8.68   17.09   0.42   0.45
  8   45.00   47.50   1740   8.20   8.66   17.09   0.42   0.44
  9   47.50   50.00   1649   8.20   8.63   17.09   0.42   0.44
  测试记录区域   50.00   50.10   1566   8.20   8.22   17.09   0.42   0.42
另外，在本实施形态中，说明了用于决定记录脉冲边缘位置的测试记录，但如果对用于决定记录功率的测试记录也以与记录区域的各区最内周光道的信息信号记录线密度大致相等的记录线密度进行测试记录，则可以在各区的从最内周到最外周的整个范围上都能设定最佳的记录功率，并能取得可以进行精密的信息信号记录的效果。
另外，在本实施形态中，如第1实施形态所述如果进一步同时并用设置记录起始点移动电路3以便随机地移动记录起始点并从多个扇区进行测试信号的记录再生从而决定记录脉冲的最佳边缘位置的结构和方法，则在可以进行无偏差地精确决定记录标记边缘位置的测试记录这一点上是更为理想的。
另外，在本实施形态中，如第2实施形态所述如果进一步同时并用设置数据模式生成电路21并在记录用于决定记录脉冲边缘位置的测试信号的光道上预先记录与测试信号的模式不相关的数据模式的结构和方法，则在可以进行无偏差地精确决定记录标记边缘位置的测试记录这一点上是更为理想的。
另外，在本实施形态中，如第5实施形态所示如果进一步同时并用设置极性反转控制电路53、极性反转电路54和选择电路55并仅在进行用于决定记录脉冲边缘位置的测试信号的记录时以禁止记录数据信号的随机极性反转的方式进行记录的结构和方法，则在提高光盘的可重写次数且可以精密地记录信息信号这一点上是更理想的。
在上述第1～第6实施形态中，要求进行测试记录的时刻，至少是调整记录再生装置时、记录再生装置起动时、从上述起动时起经过了规定的时间时、更换光盘时、光盘的误码率超过规定值时、及使用环境温度变化时。
通过在调整记录再生装置时进行测试记录，可以补偿记录再生装置间的变动因素。通过在记录再生装置起动时及从上述起动时起经过了规定的时间时进行测试记录，可以补偿记录再生装置本身的变动因素。通过在更换光盘时进行测试记录，可以补偿光盘间的变动因素。通过在光盘的误码率超过规定值时进行测试记录，可以补偿光盘本身的变动因素。通过在使用环境温度变化时进行测试记录，可以补偿由记录再生装置及光盘与温度的相关性引起的变动因素。
另外，在上述第1～第6实施形态中，为决定记录脉冲的边缘位置，采用了记录特定测试信号并测定再生信号的边缘间隔的结构和方法，但采用通过记录使边缘位置改变的多种测试信号(例如多种随机信号)而测定误码率(或抖动)并将由使误码率(抖动)为最小的测试信号设定的记录脉冲边缘位置决定为最佳值的结构和方法，也可以取得同样的效果。
另外，在上述第1～第6实施形态中，为决定记录脉冲的边缘位置，还采用了由边缘位置调整电路对通过记录某一个特定的测试信号而测定出的记录标记边缘间隔与最佳边缘间隔的差分进行校正的结构和方法。但是，采用通过记录逐级改变记录脉冲边缘位置的多种测试信号而对各测试信号测定记录标记的边缘间隔并由边缘位置调整电路将测得最佳边缘间隔的测试信号的记录脉冲边缘位置设定为最佳值的结构和方法，也可以取得同样的效果。
另外，在上述第1～第6实施形态中，由边缘时刻检测电路进行记录标记边缘间隔的测定并由系统控制电路对所测定的边缘间隔进行了存储和平均值计算，但这些处理也可以用例如时间间隔分析器等本记录再生装置以外的测定器进行。
另外，在上述第1～第6实施形态中，为产生测试信号而设置了测试信号生成电路，但也可以由系统控制电路产生特定的信息信号并将调制后的信号作为测试信号。因此，不需要另外设置测试信号生成电路，所以可实现装置的小型化。另外，也可以对该测试信号附加纠错码或进行交错处理，因而也可以在解调和纠错后测定误码率。
另外，上述光盘的层数、结构和材料，不限于以上所述，只要是光磁材料或色素材料等在记录标记部和非标记部光学特性不同的媒体，就可以应用上述方法。但是，如果是采用了相变材料作为记录膜的光盘，则由于结晶-非晶之间光学吸收不同，上述测试记录方法将能取得特别显著的效果。
另外，上述的记录功率、线速度、调制方式、记录密度、各脉冲的长度和位置、测试信号的模式等，当然并不一定限于本实施形态中所给出的情况，可以根据记录条件和媒体进行适当的设定。此外，误码率的测定，可以换成抖动的测定，而抖动的测定也可以换成误码率的测定。

Claims (18)

1.一种光学信息记录装置，采用可重写的光学信息记录媒体，在将信息信号记录在上述光学信息记录媒体上之前，对上述光学信息记录媒体进行使用测试信号的测试记录，该光学信息记录装置的特征在于，备有：测试信号生成装置，用于生成测试信号；记录装置，将测试信号和信息信号变换为记录数据信号，并根据上述记录数据信号驱动光源从而在光学信息记录媒体上进行记录；极性反转装置，用于使上述记录数据信号的极性反转；极性反转控制装置，当进行上述测试记录时，仅将从上述测试信号变换的记录数据信号的反转信号和非反转信号中的任何一个供给上述记录装置，并当记录上述信息信号时，以按每个扇区随机选择的方式仅将从上述信息信号变换的记录数据信号的反转信号和非反转信号中的任何一个供给上述记录装置；记录脉冲边缘调整装置，用于调整上述记录数据信号的记录脉冲的边缘位置；再生装置，用于从上述光学信息记录媒体再生信号；及记录条件决定装置，根据由上述再生装置从上述光学信息记录媒体再生上述测试信号后的结果，决定记录脉冲的边缘位置的适当值，并供给上述记录脉冲边缘调整装置。
2.根据权利要求1所述的光学信息记录装置，其特征在于：还备有记录起始点移动装置，用于在上述光学记录信息媒体上按每个扇区随机地移动记录数据信号的记录起始点。
3.根据权利要求1所述的光学信息记录装置，其特征在于：还备有用于产生与上述测试信号不相关的数据模式的数据模式产生装置，在进行测试记录之前，在进行测试记录的光道上记录上述数据模式。
4.根据权利要求1所述的光学信息记录装置，其特征在于：上述记录条件决定装置备有比较装置，用于将上述测试信号的边缘间隔与从上述光学信息记录媒体再生上述测试信号后得到的再生信号的边缘间隔进行比较，以便决定上述记录脉冲的边缘位置的适当值。
5.根据权利要求1所述的光学信息记录装置，其特征在于：还备有用于测定从上述光学信息记录媒体再生上述测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的测定装置，上述记录条件决定装置，将由上述测定装置测定的结果为规定值以下的记录脉冲的边缘位置决定为适当值。
6.根据权利要求1所述的光学信息记录装置，其特征在于，备有：第2测试信号生成装置，用于生成第2测试信号；及第2记录条件决定装置，由上述记录脉冲边缘调整装置将上述脉冲边缘位置设定为上述适当值，将由上述第2测试信号生成装置提供的、并由上述极性反转控制装置按每个扇区随机选定的第2测试信号的反转信号和非反转信号中的任何一个记录在上述光学信息记录媒体上，根据上述再生装置从上述光学信息记录媒体再生第2测试信号后的结果，对上述记录装置决定上述光源的记录功率的适当值。
7.根据权利要求6所述的光学信息记录装置，其特征在于：还备有用于测定从上述光学信息记录媒体再生上述第2测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的测定装置，上述第2记录条件决定装置，根据由上述测定装置测定的结果为规定值以下的记录功率值决定记录功率的上述适当值。
8.根据权利要求1所述的光学信息记录装置，其特征在于：在调整上述光学信息记录装置时、上述光学信息记录装置起动时、从上述起动时起经过了规定的时间时、更换上述光学信息记录媒体时、上述光学信息记录媒体的误码率超过规定值时、及上述光学信息记录装置的使用环境温度变化时的至少任何一个时刻，执行测试记录和记录条件的设定。
9.根据权利要求1所述的光学信息记录装置，其特征在于：上述光学信息记录媒体的记录膜由相变材料构成。
10.一种光学信息记录方法，采用可重写的光学信息记录媒体，在将信息信号记录在上述光学信息记录媒体上之前，进行测试记录，该光学信息记录方法的特征在于，包括：步骤(a)，随机地决定是否使第1测试信号的极性反转，并仅将上述第1测试信号的反转信号和非反转信号中的任何一个在上述光学信息记录媒体的规定光道上进行测试记录；步骤(b)，根据从上述光学信息记录媒体再生在上述步骤(a)中记录的第1测试信号的结果，决定记录脉冲的边缘位置的适当值；及步骤(c)，按每个扇区随机选择在上述光学信息记录媒体上记录的信息信号的反转信号和非反转信号中的任何一个，并将记录脉冲的边缘位置设定为在上述步骤(b)中决定的适当值，从而在上述光学信息记录媒体上进行记录。
11.根据权利要求10所述的光学信息记录方法，其特征在于：在上述步骤(a)中，将上述光学记录信息媒体的记录起始点按每个扇区随机地移动。
12.根据权利要求10所述的光学信息记录方法，其特征在于：在上述步骤(a)之前，包括在上述规定的光道上记录与测试信号不相关的数据模式的步骤。
13.根据权利要求10所述的光学信息记录方法，其特征在于：上述步骤(b)，包括比较步骤，将上述第1测试信号的边缘间隔与从上述光学信息记录媒体再生上述第1测试信号后得到的再生信号的边缘间隔进行比较。
14.根据权利要求10所述的光学信息记录方法，其特征在于：上述步骤(b)，包括测定从上述光学信息记录媒体再生上述第1测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的步骤，并将使测定结果为最小的记录脉冲边缘位置决定为适当值。
15.根据权利要求10所述的光学信息记录方法，其特征在于：在上述步骤(b)结束之后、上述步骤(c)之前，包括：步骤(b-1)，按每个扇区随机选择上述第2测试信号的反转信号和非反转信号中的任何一个并将记录脉冲的边缘位置设定为在上述步骤(b)中决定的适当值，从而在上述光学信息记录媒体上进行记录；及步骤(b-2)，根据从上述光学信息记录媒体再生在上述步骤(b-1)中记录的第2测试信号的结果，决定记录功率的适当值。
16.根据权利要求15所述的光学信息记录方法，其特征在于：上述步骤(b-2)，包括测定从上述光学信息记录媒体再生上述第2测试信号后得到的再生信号的误码率和抖动中的任何一个的步骤，并根据使测定结果为规定值以下的记录功率值决定记录功率的适当值。
17.根据权利要求10所述的光学信息记录方法，其特征在于：上述光学信息记录媒体的记录膜由相变材料构成。
18.根据权利要求10所述的光学信息记录方法，其特征在于：在调整为对上述光学信息记录媒体进行信息记录的记录再生装置时、上述记录再生装置起动时、从上述起动时起经过了规定的时间时、更换上述光学信息记录媒体时、上述光学信息记录媒体的误码率超过规定值时、及上述光学信息记录装置的使用环境温度变化时的至少任何一个时刻，执行测试记录和记录条件的设定。
CNB031249930A 1998-09-28 1999-09-28 在光记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法 Expired - Lifetime CN1263005C (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP273896/98 1998-09-28
JP273896/1998 1998-09-28
JP27389698A JP4272279B2 (ja) 1998-09-28 1998-09-28 光学的情報記録装置、光学的情報記録媒体および光学的情報記録方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB991221265A Division CN1177315C (zh) 1998-09-28 1999-09-28 在光学信息记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1501355A CN1501355A (zh) 2004-06-02
CN1263005C true CN1263005C (zh) 2006-07-05

Family

ID=17534091

Family Applications (6)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB031249949A Expired - Lifetime CN100365708C (zh) 1998-09-28 1999-09-28 光学记录媒体及记录测试信号的光学信息记录装置和方法
CNB031249914A Expired - Lifetime CN1253862C (zh) 1998-09-28 1999-09-28 在光记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法
CNB031249957A Expired - Lifetime CN1253863C (zh) 1998-09-28 1999-09-28 在光记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法
CNB991221265A Expired - Lifetime CN1177315C (zh) 1998-09-28 1999-09-28 在光学信息记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法
CNB031249930A Expired - Lifetime CN1263005C (zh) 1998-09-28 1999-09-28 在光记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法
CNB031249922A Expired - Lifetime CN1263004C (zh) 1998-09-28 1999-09-28 在光记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法

Family Applications Before (4)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB031249949A Expired - Lifetime CN100365708C (zh) 1998-09-28 1999-09-28 光学记录媒体及记录测试信号的光学信息记录装置和方法
CNB031249914A Expired - Lifetime CN1253862C (zh) 1998-09-28 1999-09-28 在光记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法
CNB031249957A Expired - Lifetime CN1253863C (zh) 1998-09-28 1999-09-28 在光记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法
CNB991221265A Expired - Lifetime CN1177315C (zh) 1998-09-28 1999-09-28 在光学信息记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB031249922A Expired - Lifetime CN1263004C (zh) 1998-09-28 1999-09-28 在光记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法

Country Status (10)

Country Link
US (4) US6480449B1 (zh)
EP (2) EP0991060B1 (zh)
JP (1) JP4272279B2 (zh)
KR (3) KR100400436B1 (zh)
CN (6) CN100365708C (zh)
DE (1) DE69930480T2 (zh)
ID (1) ID24833A (zh)
MY (4) MY128258A (zh)
TW (1) TW466478B (zh)
WO (1) WO2000019420A1 (zh)

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3719889B2 (ja) * 1999-11-29 2005-11-24 株式会社リコー 光記録媒体の記録方法および記録装置
US6631108B1 (en) * 2000-04-03 2003-10-07 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method for accurate positioning of data marks and spaces on an optical disc
US6950484B1 (en) * 2000-05-12 2005-09-27 Cypress Semiconductor Corp. Linearized digital phase-locked loop method
JP3765223B2 (ja) * 2000-05-23 2006-04-12 ヤマハ株式会社 光ディスク記録方法および光ディスク記録装置
JP3816304B2 (ja) * 2000-05-31 2006-08-30 株式会社リコー 光ディスク装置
AU2002227517A1 (en) * 2000-07-28 2002-02-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical disk device and recording power determining method
JP3858605B2 (ja) * 2001-02-13 2006-12-20 ティアック株式会社 光ディスク記録装置及び光ディスク記録媒体
JP4351813B2 (ja) * 2001-04-20 2009-10-28 株式会社東芝 光ディスク装置
JP4017837B2 (ja) * 2001-05-22 2007-12-05 株式会社日立製作所 情報記録方法及び光ディスク装置
US20030081518A1 (en) * 2001-10-30 2003-05-01 Nec Corporatin Recording power adjusting method and optical information record apparatus using the same
US20030147321A1 (en) * 2001-10-30 2003-08-07 Nec Corporation Recording power adjusting method and optical information record apparatus using the same
US7309350B2 (en) * 2001-12-03 2007-12-18 Xtent, Inc. Apparatus and methods for deployment of vascular prostheses
JP4006443B2 (ja) 2002-06-27 2007-11-14 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション プローブベースのデータ記憶装置及びそのデータ上書き方法
JP3938075B2 (ja) * 2003-03-11 2007-06-27 ヤマハ株式会社 光ディスク記録方法、及び光ディスク記録装置
JP2005038466A (ja) * 2003-07-16 2005-02-10 Ricoh Co Ltd 試し書き処理制御方法及び光ディスク装置
JP3740151B2 (ja) * 2003-08-27 2006-02-01 株式会社リコー 光記録方法及び光記録装置
JP4012875B2 (ja) * 2003-11-14 2007-11-21 株式会社リコー 情報記録方法及び情報記録装置
TWI256042B (en) * 2003-12-11 2006-06-01 Benq Corp Method for determining a threshold write-in power of a compact disc and related compact disc drive
TWI250516B (en) * 2004-04-22 2006-03-01 Lite On It Corp Laser power control method of optical disc recorder
JP3961512B2 (ja) * 2004-06-28 2007-08-22 シナノケンシ株式会社 光ディスク装置制御プログラム、光ディスク制御システムおよびホストコンピュータ
US7826581B1 (en) 2004-10-05 2010-11-02 Cypress Semiconductor Corporation Linearized digital phase-locked loop method for maintaining end of packet time linearity
JP2007048359A (ja) * 2005-08-09 2007-02-22 Taiyo Yuden Co Ltd 光記録方法、評価指標取得方法、光記録装置、マイクロｃｐｕ素子、及びコンピュータプログラム
KR20070065632A (ko) * 2005-12-20 2007-06-25 삼성전자주식회사 기록 조건 최적화 방법 및 장치 및 광 기록 매체
US8159913B2 (en) * 2006-10-17 2012-04-17 Hitachi, Ltd. Optical disc recording apparatus and recording power control method
JP4414995B2 (ja) * 2006-11-20 2010-02-17 株式会社日立エルジーデータストレージ 光ディスク記録装置及び記録方法
CN101197140B (zh) * 2006-12-05 2011-07-27 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 光盘驱动器刻录功率调整方法及装置
KR100871647B1 (ko) * 2007-02-16 2008-12-02 삼성전자주식회사 하드디스크 드라이브, 하드디스크 드라이브의 기록파라미터를 최적화하는 방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터프로그램을 기록한 기록 매체
JP2008299913A (ja) * 2007-05-29 2008-12-11 Hitachi Ltd 光ディスク装置及びその情報記録方法
AU2009207611A1 (en) 2008-01-25 2009-07-30 Basf Plant Science Gmbh Plants having enhanced yield-related traits and a method for making the same
US8779237B2 (en) 2008-06-26 2014-07-15 Basf Plant Science Gmbh Plants having enhanced yield-related traits and a method for making the same
MX2011001475A (es) 2008-08-20 2011-03-29 Basf Plant Science Gmbh Plantas que tienen rasgos mejorados relacionados con el rendimiento y un metodo para obtenerlas.
JP2012014753A (ja) * 2010-06-29 2012-01-19 Sony Corp 記録再生装置、レーザ駆動パルス調整方法
CN110715790A (zh) 2018-07-13 2020-01-21 中兴通讯股份有限公司 脉冲测试方法及装置、测试设备及存储介质

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5216657A (en) 1989-09-19 1993-06-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method and apparatus for timing variable optical information recording
NL9000150A (nl) * 1990-01-22 1991-08-16 Philips Nv Werkwijze en inrichting voor het aanbrengen van een patroon van gebiedjes met veranderde optische eigenschappen in een registratiedrager.
JP2797733B2 (ja) 1990-03-14 1998-09-17 松下電器産業株式会社 光学情報記録部材の記録方法
US5418770A (en) 1990-06-29 1995-05-23 Hitachi, Ltd. Method of and apparatus for correcting edge interval of pit in optical recording/read-out apparatus
JP2865841B2 (ja) 1990-09-28 1999-03-08 株式会社日立製作所 ディジタル信号記録再生方式
US5642343A (en) * 1990-06-29 1997-06-24 Hitachi, Ltd. Magnetooptic disc apparatus and recording medium
US5513165A (en) * 1990-06-29 1996-04-30 Hitachi, Ltd. Method for controlling the farm of a magnetic domain of a magneto-optical disk using pre-write testing
US5268893A (en) 1991-10-18 1993-12-07 International Business Machines Corporation Write power calibration utilizing least squares fit of read-back signals for moving media memory
JP3075632B2 (ja) 1992-02-27 2000-08-14 パイオニア株式会社 光ディスクプレーヤ
JPH05274675A (ja) 1992-03-27 1993-10-22 Hitachi Electron Eng Co Ltd 光ディスクの検査方法
JP3222934B2 (ja) 1992-06-05 2001-10-29 株式会社リコー マークエッジ記録方式における記録パルス補正方法
CN1083615A (zh) * 1992-08-19 1994-03-09 菲利浦电子有限公司 信息存储系统
US5703855A (en) * 1993-04-06 1997-12-30 Hitachi, Ltd. Optical disk apparatus and recording and reading method for an optical disk using the same
US5490126A (en) 1993-04-07 1996-02-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus for recording and reproducing data on a disk
DE69428178T2 (de) 1993-11-17 2002-07-04 Canon K.K., Tokio/Tokyo Optisches Informationsaufzeichnungs-/wiedergabegerät und -verfahren mit einer Funktion zur Einstellung der Wiedergabeleistung
JPH07220280A (ja) 1994-01-26 1995-08-18 Pioneer Electron Corp 追記型光ディスク記録装置におけるキャリブレーション方法及び装置
US6487151B1 (en) 1994-12-20 2002-11-26 Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. Optical information recording and reproducing system with overwrite capability and recording medium for use therewith
EP0737969B1 (en) 1995-04-10 2001-09-05 Nikon Corporation Optical recording method and apparatus
JP3816583B2 (ja) 1995-07-24 2006-08-30 松下電器産業株式会社 光学的情報記録媒体の記録方法
US5841747A (en) 1995-08-22 1998-11-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical disk device and method for setting recording power and erasing power
US5835479A (en) 1995-10-09 1998-11-10 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical information recording medium
US6052347A (en) 1996-02-23 2000-04-18 Ricoh Company, Ltd. Method and apparatus for detecting optimum recording power for an optical disk
JPH09288825A (ja) 1996-02-23 1997-11-04 Ricoh Co Ltd 光ディスク記録方法及びその装置
JP2856391B2 (ja) 1996-05-30 1999-02-10 株式会社日立製作所 情報記録方法及び情報記録装置
JP3787415B2 (ja) * 1996-06-04 2006-06-21 キヤノン株式会社 テスト記録方法及び該方法を用いた光学的情報記録再生装置
EP0905685A1 (en) 1996-09-05 1999-03-31 Nikon Corporation Optical recording method and optical recorder
JPH10112076A (ja) 1996-10-04 1998-04-28 Hitachi Ltd 情報の記録媒体とその製造方法および記録媒体の前処理方法
TW382703B (en) 1997-03-14 2000-02-21 Hitachi Ltd Signal recording method, phase difference detecting circuit, and information apparatus
JP2954083B2 (ja) 1997-05-01 1999-09-27 株式会社東芝 情報記録再生用媒体及び情報記録再生用媒体フォーマット装置並びに情報記録再生装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR100390470B1 (ko) 2003-07-04
TW466478B (en) 2001-12-01
CN1250208A (zh) 2000-04-12
DE69930480T2 (de) 2006-08-24
CN1263004C (zh) 2006-07-05
US6526012B1 (en) 2003-02-25
CN1501353A (zh) 2004-06-02
EP0991060A2 (en) 2000-04-05
MY131937A (en) 2007-09-28
MY128258A (en) 2007-01-31
KR20010015838A (ko) 2001-02-26
CN1253862C (zh) 2006-04-26
CN1501354A (zh) 2004-06-02
US6480449B1 (en) 2002-11-12
CN1501355A (zh) 2004-06-02
ID24833A (id) 2000-08-24
JP4272279B2 (ja) 2009-06-03
WO2000019420A1 (fr) 2000-04-06
EP0991060A3 (en) 2000-08-09
MY131749A (en) 2007-08-30
KR20030020428A (ko) 2003-03-08
EP1647979A2 (en) 2006-04-19
KR100452068B1 (ko) 2004-10-08
MY131936A (en) 2007-09-28
EP1647979A3 (en) 2008-12-10
KR20030020427A (ko) 2003-03-08
CN100365708C (zh) 2008-01-30
KR100400436B1 (ko) 2003-10-01
US6529457B1 (en) 2003-03-04
EP0991060B1 (en) 2006-03-22
US6526013B1 (en) 2003-02-25
CN1501356A (zh) 2004-06-02
CN1501357A (zh) 2004-06-02
CN1253863C (zh) 2006-04-26
CN1177315C (zh) 2004-11-24
JP2000105926A (ja) 2000-04-11
DE69930480D1 (de) 2006-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1263005C (zh) 在光记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法
CN1136547C (zh) 光盘记录和／或重放装置及设定记录功率及清除功率的方法
CN1242388C (zh) 产生光学信息记录介质的方法、光学信息记录方法及装置
CN1275236C (zh) 记录介质和记录装置及记录方法
CN1231894C (zh) 光记录装置,激光功率控制方法
CN1447314A (zh) 多值信息记录装置、方法、介质及信息记录一再现装置
CN1359517A (zh) 光盘、光盘装置以及光盘的读出方法
CN1967676A (zh) 再生装置、及球面像差校正和聚焦偏移的调整方法
CN1244092C (zh) 光记录设备与激光功率控制方法
CN1228775C (zh) 激光功率控制方法和光盘装置
CN1614707A (zh) 记录/再现装置、记录/再现方法、程序和记录功率调整装置
CN1669077A (zh) 激光束功率调制模式的确定方法、数据记录设备和媒体
CN1296910C (zh) 光记录方法及其装置和信号检测方法
CN1842846A (zh) 信息记录方法、信息记录装置以及信息记录介质
CN1734585A (zh) 光信息记录装置
CN1822127A (zh) 光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路
CN1694169A (zh) 再生信号的评价方法以及光盘装置
CN1841520A (zh) 光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路
CN1565033A (zh) 缺陷检测装置和缺陷检测方法
CN1926612A (zh) 信息记录装置和方法，信息记录/重放装置和方法，以及计算机程序
CN1627376A (zh) 在光信息记录介质上记录信息的方法和装置以及光记录介质
CN1764957A (zh) 信息记录方法、信息记录装置和信息记录介质
CN1692410A (zh) 光学数据记录方法
CN1906670A (zh) 记录功率决定方法及装置
CN1700319A (zh) 聚焦位置调整装置及光盘驱动装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CX01 Expiry of patent term
CX01 Expiry of patent term

Granted publication date: 20060705