KR20010015838A - 광학적 정보 기록매체 및 이에 테스트 신호를 기록하는광학적 정보 기록장치 및 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 정보신호를 기록하기 전에 기록 파워나 기록 펄스의 에지 위치 등의 기록조건을 테스트 기록에 의해 적절하게 결정함으로써, 정밀한 정보 신호의 기록을 가능하게 하는 광학적 정보 기록장치, 광학적 정보 기록방법 및 광학적 정보 기록매체로서, 기록 펄스의 에지 위치를 최적화하기 위한 테스트 신호가 에지 테스트 신호 생성회로(4)로부터 공급된다. 이 테스트 신호는 오버라이트에 의한 마크 변형으로 에지 간격에 편차가 생기는 것을 억제하기 위해, 기록 개시점 시프트 회로(3)에 의해 그 기록 개시점이 섹터마다 랜덤하게 시프트되어 광학적 정보 기록매체(1)의 다수의 섹터에 테스트 기록된다. 시스템 제어회로(2)가 다수의 섹터로부터 재생된 테스트 신호의 에지 간격의 평균치를 산출하고, 그 평균치와 테스트 신호 본래의 에지 간격의 차이를 구함으로써, 에지 위치의 보정량을 결정한다.

Description

광학적 정보 기록매체 및 이에 테스트 신호를 기록하는 광학적 정보 기록장치 및 방법{OPTICAL INFORMATION RECORDING MEDIUM, AND DEVICE AND METHOD FOR RECORDING TEST SIGNAL ON IT}
최근, 광학적으로 정보를 기록하는 매체로서, 광 디스크, 광 카드, 광 테이프 등이 제안, 개발되고 있다. 그 중에서도 광 디스크는 대용량이며 고밀도로 정보를 기록ㆍ재생할 수 있는 매체로서 주목받고 있다.
개서(改書)형 광 디스크의 하나의 방식에 상변화(相變化)형 광 디스크가 있다. 상변화형 광 디스크에 이용하는 기록막은 레이저광에 의한 가열 조건 및 냉각조건에 따라 비정질 상태 및 결정상태 중 어느 하나의 상태로 된다. 또한, 비정질 상태와 결정상태에는 가역성이 있다. 상기 비정질 상태와 결정상태에서는 기록막의 광학 정수(굴절율 및 소쇠(消衰)계수)가 다르다. 상변화형 광 디스크에서는 정보 신호에 따라 선택적으로 2개의 상태를 기록막에 형성하고, 이 결과로 발생하는 광학적 변화(투과율 또는 반사율의 변화)를 이용하여 정보신호의 기록ㆍ재생을 행한다.
상기 2개의 상태를 얻기 위해, 이하와 같은 방법으로 정보신호를 기록한다. 광 헤드에 의해 집속시킨 레이저광(파워 레벨Pp)을 광 디스크의 기록막에 펄스상태로 조사하고(이를 기록 펄스라고 부른다), 기록막 온도를 융점을 초과해 상승시키면, 용융부분은 레이저광의 통과와 함께 급속하게 냉각되어 비정질 상태의 기록 마크로 된다. 또한, 기록막의 온도를 결정화 온도 이상, 융점 이하의 온도까지 상승시키는 정도의 강도인 레이저광(파워 레벨 Pb, 또한, Pb＜Pp)을 집속하여 조사하면, 조사부의 기록막은 결정상태로 된다. 또한, 이 파워 레벨Pb를 소거 파워라고 부른다.
이와같이 하여 광 디스크의 트랙상에 기록 데이터 신호에 대응한 비정질 영역으로 이루어지는 기록 마크와, 결정영역으로 이루어지는 비마크부(이를 스페이스라고 부른다)의 기록 패턴이 형성된다. 그리고, 결정영역과 비정질 영역의 광학적 특성의 차이를 이용함으로써 정보신호를 재생시킬 수 있다.
또한, 최근에는 마크 포지션 기록(PPM 기록이라고도 한다)방식으로 바뀌어 마크 에지 기록(PWM 기록이라고도 한다)방식을 이용하는 일이 많아졌다. 마크 포지션 기록에서는 기록 마크 자체의 위치에만 정보를 가지게 하는데 대해, 마크 에지 기록에서는 기록 마크 전단 에지 및 후단 에지의 양쪽 에지 위치에 정보를 가지게 하므로, 기록선 밀도가 향상되는 이점이 있다.
또한, 광 디스크의 기록용량을 크게 하면서 기록 재생장치의 스핀들 모터의 회전제어를 용이하게 하는 방법으로, Z-CLV(Zoned Constant Linear Velocity) 포맷이 제안되고 있다. Z-CLV 포맷의 광 디스크는 기록영역을 소정 수의 트랙으로 구성되는 존(zone)으로 분할하고, 내주 존으로부터 외주 존으로 감에 따라 1주당 섹터수를 증가시킨 디스크이다.
이와같은 Z-CLV 디스크를 기록 재생하는 장치는 디스크의 내주로부터 외주로 감에 따라 단계적으로 디스크의 회전수를 저하시키고(여기에서 각 존에서의 회전수는 일정하게 한다), 디스크 전체 둘레에 걸쳐 선속도가 대략 일정하게 되도록 하여 기록 재생하는 것이다.
Z-CLV 포맷에 대해서는 예를들면 라디오 기술사 「광 디스크 기술」(1988년) 제223페이지에 M-CLV(Modified Constant Linear Velocity) 포맷의 호칭으로 기록되어 있다.
그런데, 광 디스크는 교환이 가능한 기록 매체이므로, 광 디스크의 기록 재생장치는 다른 다수의 광 디스크에 대해 안정되게 기록 재생이 가능할 것이 요구된다. 그러나, 동일 조건에서 제조된 광 디스크라도 제조시 편차나 시간경과 변화에 따라 기록 재생에 있어 최적의 레이저광의 파워 레벨이 상호 다른 경우가 있다. 또한, 광 디스크의 기판표면의 더러움이나 기록 재생장치의 광학계 전송효율의 저하나 동작 상태의 변동에 따라 광 디스크의 기록막에 도달하는 레이저광의 파워가 변동되는 일도 있을 수 있다.
이에 추가하여 특히 마크 에지 기록방식의 경우에는, 광 디스크의 열적 특성의 편차가 기록 마크 자체의 형성 상태나 기록 마크간의 열간섭 정도에 영향을 미친다. 따라서, 기록 펄스의 최적 에지 위치가 광 디스크마다 다를 가능성이 발생한다.
상기와 같은 레이저광의 최적 파워 레벨의 변동이나 기록 펄스의 최적 에지 위치의 변동에 영향받지 않고, 정보신호를 안정되게 기록 재생시키는 방법의 예가 일본국 특개평 4-137224호로 공보에 개시되어 있다. 이것은 정보신호를 기록하는데 앞서 특정의 데이터 패턴(이를 테스트 신호라고 한다)에 의한 테스트 기록을 행한 후에, 기록된 테스트 신호를 재생하고, 그 재생신호를 측정하여 기록 마크의 에지 위치를 구하여 기록 펄스의 에지 위치가 최적이 되도록 제어하는 것이다.
또한, 별도 예로서 일본국 특개평 6-195713호 공보에는, 기록 마크의 에지위치를 구하고 나서, 기록 펄스의 에지 위치 또는 기록 파워의 적어도 한쪽을 제어하는 기술이 개시되어 있다. 또한, 일본국 특개평 9-63056호 공보에는 비트 에러 레이트의 파워 의존성으로부터 최적의 기록 파워를 결정하는 방법이 개시되어 있다. 또한, 일본국 특개평 7-129959호 공보에는 기록 마크의 길이 및 그 전후 스페이스의 길이에 따라 기록 펄스의 에지 위치를 제어하는 방법이 개시되어 있다.
한편, 광 디스크의 개서 가능한 회수를 향상시키는 방법이 일본국 특개평 9-219022호 공보에 제안되어 있다. 이것은 기록 데이터 신호의 극성(1 또는 0)을 랜덤으로 반전함으로써 기록막에의 손상이 특정위치에 집중되는 것을 회피하고, 기록막이 약해지는 것을 억제하는 것이다.
그러나, 상술한 종래 방법에서는 기록 마크의 에지 위치의 측정값에 편차가 발생하므로, 기록 펄스 에지 위치의 결정에 오차가 발생하는 경우가 있는 문제점이 있었다. 이하, 이 문제점에 대해 도11 내지 도14를 참조하여 설명한다.
도11 내지 도14에 이전에 기록되어 있었던 기록 마크와, 오버라이트한 기록 마크와의 위치관계에 따라 발생하는 마크 변형의 예를 나타낸다. 도11 내지 도14의 각 도면에 있어서, 상단에 기록 마크를 오버라이트하기 전의 광 디스크의 트랙 상태, 중단에 오버라이트하는 테스트 신호의(기록 데이터 신호로서의)패턴, 하단에 상기 기록 마크가 오버라이트된 후의 상기 트랙의 상태를 각각 도시한다.
통상, 테스트 기록용의 기록 마크를 기록하는 트랙으로서, 소정 트랙이 할당되는 일이 많다. 이 경우, 상기 소정 트랙에는 기록 마크가 반복되어 오버라이트된다. 이 때문에, 테스트 기록해야할 트랙에 이미 어떠한 테스트 신호(또는 정보신호)가 기록되어 있는 경우, 오버라이트에 의해 기록한 기록 마크의 형상은 이미 기록되어 있던 기록 마크의 영향을 받아 변형이 발생한다.
상변화형 광 디스크의 경우, 비정질 영역(즉 기록 마크가 존재하는 영역)과 결정 영역에서는 광학적인 흡수특성이 다르다. 이 때문에 같은 에너지의 레이저광을 조사해도 비정질 영역과 결정영역에서는 광 디스크의 기록막 중의 승온 속도가 다르다. 이에따라, 비정질 영역에서의 광학적 흡수를 결정영역보다 크게한 디스크 구성의 경우에는 오버라이트한 기록 마크가 비정질 영역상에서 커지기 쉽다. 결과적으로, 기록 마크의 에지 위치는 도11 내지 도14중에 해칭을 줘 표시하는 바와같이, 기록 마크가 연장되는 방향으로 이동한다. 이를 마크 변형이라고 부른다. 또한, 비정질 영역에서의 광학적 흡수가 결정영역보다 작은 디스크 구성인 경우에는 상기와 반대로 되는 일도 있을 수 있다.
따라서, 테스트 기록으로 기록해야할 기록 마크와 이전 기록마크가 겹쳐지는 형태에 따라 기록 마크의 형상이 변화하게 된다. 그 결과, 기록 마크의 에지 위치가 변동된다. 트랙에 이미 기록되어 있는 신호와 오버라이트하는 테스트 신호가 동일 또는 유사한 경우에는 디스크의 회전 변동이 커지지 않는 한, 이전 기록 마크와 오버라이트한 기록 마크의 겹쳐지는 형태가 항상 동일해 진다. 따라서, 이전 데이터 패턴과 오버라이트한 데이터 패턴의 위상관계에 따라 측정된 에지 위치의 측정값에 편차가 발생했다.
예를들면, 도11의 상단에 표시하는 바와같이, 기록 마크(113)가 이미 존재하는 트랙(111)에, 동 도면의 중단에 표시하는 패턴의 테스트 신호를 이용하여 기록 마트의 오버라이트를 행한 경우, 도면의 하단에 표시하는 바와같이, 오버라이트한 기록 마크(112)가 이전 기록 마크(113)와 겹쳐지면, 마크 변형(114)이 발생한다.
여기서 기록 마크(112)와 기록 마크(115)의 전단간 폭(x)을 측정하여 3T(T는 기록 데이터 신호의 클록 주기)의 기록 펄스의 전단 에지 위치를 결정할 경우, 도11에 도시하는 바와같이 오버라이트한 기록 마크(112)의 후단부에만 마크 변형(114)이 발생하는 경우에는 전단간 폭(x)에 대해 마크 변형(114)의 영향은 발생하지 않는다. 그러나, 도12에 도시하는 바와같이, 오버라이트할 3T의 기록 펄스의 기록 마크(115)의 전단이 이전 기록 마크(113)와 겹쳐졌을 때에는 기록 마크(115)의 전단에 마크 변형(116)이 발생하여 측정되는 전단간 폭은 x－△1로 된다.
또한, 도13에 도시하는 바와같이, 10T의 기록 펄스의 기록 마크(112)의 전단이 이전 기록 마크(113)에 겹쳐졌을 시에는 기록 마크(112)의 전단에 마크 변형(114)이 발생하여 측정되는 전단간 폭은 x＋△2로 된다.
또한, 도14에 도시하는 바와같이, 3T의 기록 펄스의 기록 마크(115)의 전단과 10T의 기록 펄스의 기록 마크(112)의 전단의 양쪽이 이전 기록 마크(113)와 겹쳐졌을 시에 측정되는 전단간 폭은 x－△1＋△2로 된다.
또한, 종래의 방법에서는, 기록 펄스를 최적의 에지 위치에 제어한 후에 기록 파워가 반드시 최적으로 되는 것은 아니라는 문제점이 있었다. 이하, 이 문제점에 대해 도15를 이용하여 설명한다.
도15는 최단 마크(예를들면, 8-16 변조의 경우는 3T의 기록 펄스에 의한 기록 마크, 이하, 3T마크로 칭한다)의 주기신호를 기록 펄스폭을 변화시켜 기록했을 시의 기록 피크 파워(Pp)와 비트 에러 레이트(또는 지터라도 된다)의 관계를 나타낸다.
테스트 기록에 의해 기록 펄스의 에지 위치를 조정하면, 기록 펄스(또는 기록 펄스예)의 길이가 변화한다. 이 때문에, 기록 펄스가 기록 마크를 형성하기 위해 부여하는 에너지가 에지 위치 조정의 영향을 받는다. 이 영향은 최단 마크와 같은 짧은 마크를 형성하는 경우에 특히 현저해진다. 그 결과, 최적의 기록 파워도 변화한다.
예를들면, 8-16 변조에서 최단 마크인 3T 마크를 형성하기 위한 기록 펄스의 길이가 에지 위치의 조정에 의해 작아진 경우, 3T 마크를 형성하기 위한 에너지가 감소하므로, 비트 에러 레이트의 피크 파워 의존성은 도15에 도시하는 g1으로부터 g2로 변화한다. 그 결과, 최적의 기록 파워(이것은 비트 에러 레이트가 소정 임계치Bth로 될 때의 파워Pth1또는 Pth2에 일정 값을 곱해 결정하는 경우가 많다)가 에지 위치의 조정전 보다 높아지게 된다.
또한, 상기 문제점과는 반대로 종래 방법에서는 기록 파워를 조정한 후에 기록 펄스의 에지 위치가 반드시 최적으로 되는 것은 아니라는 문제점이 발생하는 경우도 있었다. 이 점에 대해 이하에 설명한다.
테스트 기록에 의해 기록 파워를 조정하면, 레이저광에 의해 광 디스크의 기록막에 주어지는 에너지는 변화한다. 이 때문에, 기록 펄스 또는 기록 펄스열의 길이가 같아도 기록 파워가 변화하면, 광 디스크상의 트랙에 형성되는 기록 마크의 길이 즉 에지 위치도 변화한다. 이 영향은 짧은 마크를 형성하는 경우에 특히 현저해진다. 그 결과, 기록 마크의 에지 위치를 최적으로 하기 위한 기록 펄스의 최적 에지 위치가 변화한다. 예를들면 테스트 기록에 의해 기록 파워가 증대하면, 3T 마크의 에지 위치의 전단이 전방으로 연장되고, 에지 위치의 후단이 후방으로 연장되므로, 3T 마크를 기록하기 위한 기록 펄스의 에지 위치가 최적으로 되지 않는다.
또한, Z-CLV 포맷은 각 존내에서는 일정 회전수로 광 디스크를 회전시키므로, 각 존내의 반경에 따라 선 속도 및 선 밀도가 다르다. 즉, 각 존내에서 외주로 갈수록 선 속도와 기록선 밀도가 저하한다. 이 때문에, 종래 방법에서는 Z-CLV 포맷의 광 디스크에 대해 테스트 기록할 경우에 각 존내의 영역에 걸쳐 최적의 기록 파워 또는 기록 펄스의 최적 에지 위치를 반드시 얻을 수 있는 것은 아니다라는 문제점이 있었다.
또한, 예를들면 일본국 특개평 9-219022호 공보에 개시된 방법에서는 테스트 기록으로 기록 펄스의 에지 위치를 결정할 때도 데이터 패턴의 극성이 랜덤으로 반전되므로, 동일 데이터 패턴을 기록해도 극성에 따라 기록 마크와 스페이스의 관계(즉, 기록 마크의 전단 에지와 후단 에지의 관계)가 반대로 되는 경우가 있다. 이 경우, 기록 마크의 전단 에지와 후단 에지의 구별이 불가능해 진다는 문제점을 가지고 있었다.
본 발명은 이들 종래의 문제를 해결하기 위해 기록 파워나 기록 펄스의 에지 위치 등의 기록조건을 테스트 기록에 의해 적절하게 결정함으로써 정밀한 정보신호의 기록이 가능한 광학적 정보 기록장치, 광학적 정보 기록방법 및 광학적 정보 기록매체를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제1 광학적 정보 기록장치는 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성수단과, 테스트 신호 및 정보 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 의거하여 광원을 구동시켜 광학적 정보 기록매체에 기록하는 기록수단과, 상기 광학적 정보 기록매체의 테스트 기록의 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 기록 개시점 시프트 수단과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 신호를 재생시키는 재생 수단과, 상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록수단에 상기 테스트 신호를 공급시키고, 상기 광학적 정보 기록매체의 다수의 섹터에 테스트 기록을 행하게한 후, 상기 재생수단에 상기 다수의 섹터로부터 상기 테스트 신호를 재생시킨 결과의 평균에 따라 상기 기록 데이터 신호의 펄스 에지 위치를 결정하는 기록 조건 결정수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
이 구성에 의하면, 광학적 정보 기록매체의 다수의 섹터 각각에 기록되는 테스트 신호의 기록 개시점이 섹터마다 랜덤하게 시프트되므로, 테스트 기록이 행해지는 영역에 이미 기록되어 있는 기록 마크와, 이 기록 마크에 오버라이트되는 테스트 신호의 기록 마크의 겹쳐지는 상태가 섹터마다 랜덤하게 된다. 이에 따라, 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생하는 마크 변형에 기인하는 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남이 평균화된다. 따라서, 재생된 테스트 신호로부터 산출되는 에지 간격의 값에는 광학적 정보 기록매체에 이미 기록되어 있던 기록 마크와, 테스트 신호의 기록 마크의 위상관계에 기인하는 편차는 발생하지 않는다. 그 결과, 테스트 신호의 기록 마크의 에지 간격을 정밀하게 산출할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 최적화하여 정보 신호의 정밀한 기록이 가능한 광학적 정보 기록장치를 제공할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제2 광학적 정보 기록장치는 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성수단과, 테스트 신호 및 정보신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 광학적 정보 기록매체에 기록하는 기록수단과, 상기 테스트 신호와는 상관 없는 데이터 패턴을 생성하는 데이터 패턴 생성수단과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 신호를 재생하는 재생수단과, 데이터 패턴 생성수단으로부터 상기 기록수단에 데이터 패턴을 공급시켜 상기 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하는 영역에 기록시킨 후에, 상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록수단에 테스트 신호를 공급시켜 상기 영역에 오버라이트시키고, 상기 재생수단이 상기 영역으로부터 상기 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스 에지 위치의 적정치를 결정하는 기록 조건 결정수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
이 구성에 의해, 광학적 정보 기록매체에 테스트 기록을 행하기 전에, 테스트 기록을 행하려는 영역에 테스트 신호와 상관없는 데이터 패턴이 기록되므로, 이 영역에 오버라이트되는 테스트 신호의 기록 마크와, 이미 기록되어 있는 기록 마크의 겹쳐지는 상태가 랜덤하게 된다. 이에따라 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생하는 마크 변형에 기인하는 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남이 평균화된다. 따라서, 재생된 테스트 신호로부터 산출되는 에지 간격의 값에는, 광학적 정보 기록매체에 이미 기록되어 있던 기록 마크와, 테스트 신호의 기록 마크의 위상관계에 기인하는 편차가 발생하지 않는다. 이 결과, 테스트 신호의 기록 마크의 에지 간격을 정밀하게 산출할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 최적화하여 정보 신호의 정밀 기록이 가능한 광학적 정보 기록장치를 제공할 수 있다.
상기 제2 광학적 정보 기록장치는 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 기록 개시점 시프트 수단을 더 구비하고, 적어도 상기 테스트 신호에 대해 기록 개시점을 랜덤하게 시프트시키는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생하는 테스트 신호의 에지 간격의 밀림을 더욱 평균화할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제2 광학적 정보 기록장치에 있어서, 상기 데이터 패턴이 랜덤 패턴인 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 테스트 기록을 행하려는 영역에 랜덤 패턴이 기록되므로, 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생하는 테스트 신호 에지 간격의 어긋남을 더욱 평균화할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치의 최적치를 보다 정밀하게 결정하는 것이 가능해진다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제3 광학적 정보 기록장치는 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성수단과, 테스트 신호 및 정보신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 광학적 정보 기록매체에 기록하는 기록모드 및 상기 광원을 구동시켜 소정 소거 파워로 상기 광학적 정보 기록매체에 광을 조사시킴으로서 상기 광학적 정보 기록매체로부터 정보를 소거하는 소거 모드 중 어느 하나로 동작하는 기록ㆍ소거수단과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 신호를 재생하는 재생수단과, 상기 기록ㆍ소거수단을 상기 소거 모드로 동작시켜 상기 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하는 영역의 정보를 소거시킨 후에, 상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록ㆍ소거수단을 기록 모드로 동작시켜 상기 테스트 신호 생성수단으로 공급시킨 테스트 신호를 상기 영역에 기록시키고, 상기 재생수단이 상기 영역으로부터 상기 테스트 신호를 재생시킨 결과에 따라 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치의 적정값을 결정하는 기록 조건 결정수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
이 구성에 의하면, 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하려는 영역이 이미 기록되어 있는 기록 마크의 상태에 상관없이 초기화된 상태로 되므로, 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남이 없어져 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적으로 할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제1 광학적 정보 기록방법은 테스트 신호를 생성하는 단계(a)와, 상기 생성한 테스트 신호의 광학적 정보 기록매체로의 테스트 기록의 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트하는 단계(b)와, 상기 램덤으로 시프트한 테스트 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 상기 광학적 정보 기록매체의 다수의 섹터에 테스트 기록하는 단계(c)와, 상기 광학적 정보 기록매체의 상기 다수의 섹터로부터 상기 단계(c)에서 기록된 테스트 신호를 재생시키는 단계(d)와, 상기 테스트 신호를 재생시킨 결과의 평균을 산출하는 단계(e)와, 상기 산출한 평균에 따라 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치를 결정하는 단계(f)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이 방법에 의하면, 광학적 정보 기록매체의 다수의 섹터의 각각에 기록되는 테스트 신호의 기록 개시점이 섹터마다 랜덤하게 시프트되므로, 테스트 기록이 행해지는 영역에 이미 기록되어 있는 기록 마크와, 이 기록 마크에 오버라이트되는 테스트 신호의 기록 마크의 겹쳐지는 상태가 섹터마다 랜덤하게 된다. 이에따라, 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생하는 마크 변형에 기인하는 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남이 평균화된다. 따라서, 재생된 테스트 신호로부터 산출되는 에지 간격의 값에는 광학적 정보 기록매체에 이미 기록되어 있던 기록 마크와, 테스트 신호의 기록 마크의 위상관계에 기인하는 편차는 발생하지 않는다. 이 결과, 테스트 신호의 기록 마크의 에지 간격을 정밀하게 산출할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 최적화하여 정보 신호의 정밀 기록이 가능한 광학적 정보 기록방법을 제공할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제2 광학적 정보 기록방법은 상기 테스트 기록에 이용하는 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 생성하는 단계(a)와, 상기 생성한 데이터 패턴을 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 광학적 정보 기록매체에서 상기 테스트 기록을 행하는 영역에 기록하는 단계(b)와, 상기 테스트 신호를 생성하는 단계(c)와, 상기 생성된 테스트 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 상기 광학적 정보 기록매체에서 상기 영역에 오버라이트하는 단계(d)와, 상기 광학적 정보 기록매체의 상기 영역으로부터 상기 단계(d)에서 오버라이트한 테스트 신호를 재생하는 단계(e)와, 상기 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 단계(f)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이 방법에 의하면, 광학적 정보 기록매체에 테스트 기록을 행하기 전에, 테스트 기록을 행하려는 영역에 테스트 신호와 상관없는 데이터 패턴이 기록되므로, 이 영역에 오버라이트되는 테스트 신호의 기록 마크와, 이미 기록되어 있는 기록 마크의 겹쳐지는 상태가 랜덤하게 된다. 이에따라 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생하는 마크 변형에 기인하는 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남이 평균화된다. 따라서, 재생된 테스트 신호로부터 산출되는 에지 간격의 값에는, 광학적 정보 기록매체에 이미 기록되어 있던 기록 마크와 테스트 신호의 기록 마크의 위상관계에 기인하는 편차가 발생하지 않는다. 이 결과, 테스트 신호의 기록 마크의 에지 간격을 정밀하게 산출할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 최적화하여 정보 신호의 정밀 기록이 가능한 광학적 정보 기록방법을 제공할 수 있다.
상기 제2 광학적 정보 기록방법은, 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트하는 단계를 더 포함하고, 상기 단계에 있어서, 적어도 상기 테스트 신호에 대해 기록 개시점을 랜덤하게 시프트시키는 것이 바람직하다.
이 방법에 의하면, 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생하는 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남을 더욱 평균화할 수 있어 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제2 광학적 정보 기록방법에 있어서, 상기 데이터 패턴이 랜덤 패턴인 것이 바람직하다.
이 방법에 의하면, 테스트 기록을 행하려는 영역에 랜덤 패턴이 기록되므로, 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생하는 테스트 신호 에지 간격의 어긋남을 더욱 평균화할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치의 최적치를 보다 정밀하게 결정하는 것이 가능해진다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명의 제3 광학적 정보 기록방법은, 광원을 구동시켜 소정 소거 파워로 광학적 정보 기록매체에 광을 조사시킴으로써 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 테스트 기록을 행하는 영역의 정보를 소거하는 단계(a)와, 테스트 신호를 생성하는 단계(b)와, 상기 생성한 테스트 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 상기 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하는 영역에 기록하는 단계(c)와, 상기 광학적 정보 기록매체의 상기 영역으로부터 상기 단계(c)에서 기록한 테스트 신호를 재생하는 단계(d)와, 상기 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 단계(e)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이 방법에 의하면, 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하려는 영역이 이미 기록되어 있는 기록 마크의 상태에 상관없이 초기화된 상태로 되므로, 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남이 없어지고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명의 제4 광학적 정보 기록장치는, 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성수단과, 상기 에지 테스트 신호, 파워 테스트 신호 및 정보신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 광학적 정보 기록매체에 기록하는 기록수단과, 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스 에지 위치를 조정하는 기록 펄스 에지 조정수단과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 신호를 재생하는 재생수단과, 상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록수단에 에지 테스트 신호를 공급시켜 상기 광학적 정보 기록매체에 기록시키고, 상기 재생수단이 상기 광학적 정보 기록매체로부터 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 대해 상기 기록 펄스 에지 위치의 설정치를 결정하는 제1 기록조건 결정수단과, 상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록수단에 파워 테스트 신호를 공급시켜 상기 광학적 정보 기록매체에 기록시키고, 상기 재생수단이 상기 광학적 정보 기록매체로부터 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록수단에 대해 상기 광원의 기록 파워의 설정치를 결정하는 제2 기록조건 결정수단을 구비하고, 상기 제1 기록조건 결정수단은 설정치가 초기치인 기록 파워로 기록된 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라, 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 대해 상기 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하고, 상기 제2 기록조건 결정수단은 상기 제1 기록조건 결정수단에 의해 결정된 설정치가 상기 적정치인 기록 펄스의 에지 위치에 기록된 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록수단에 대해 상기 광원의 기록 파워의 적정치를 결정하는 것을 특징으로 한다.
이 구성에 의하면, 기록 펄스의 에지 위치의 적성치를 결정한 후에, 이 적정치로 설정된 기록 펄스에 의해 테스트 기록을 더 행하여 기록 파워의 최적화를 행함으로써, 기록 펄스의 에지 위치와 기록 파워의 양쪽을 최적화할 수 있으므로, 정보신호를 광학적 정보 기록매체에 정밀하게 기록하는 것이 가능해진다.
상기 제4 광학적 정보 기록장치는, 상기 에지 테스트 신호의 테스트 기록을 행할 시에 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 기록 개시점 시프트 수단을 더 구비하는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하려는 영역에 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로서 발생하는 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남을 평균화할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제4 광학적 정보 기록장치는, 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 생성하는 데이터 패턴 생성수단을 더 구비하고, 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호를 기록하는 상기 광학적 정보 기록매체의 영역에 상기 에지 테스트 신호의 테스트 기록에 앞서 상기 기록수단에 상기 데이터 패턴을 기록시키는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 테스트 기록을 행하려는 영역에 오버라이트되는 테스트 신호의 기록 마크와 이미 기록되어 있는 기록 마크의 상관성이 더욱 저하되므로, 테스트 신호의 에지 간격의 밀림을 평균화할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제4 광학적 정보 기록장치에 있어서, 상기 제1 기록조건 결정수단은 상기 기록 펄스 에지 위치의 적정치를 결정하기 위해, 상기 에지 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 수단을 구비하는 것이 바람직하다.
상기 제4 광학적 정보 기록장치는, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제1 기록조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 최소로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것이 바람직하다.
상기 제4 광학적 정보 기록장치는, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 파워 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제2 기록조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 소정 값 이하로 되는 기록 파워 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것이 바람직하다.
상기 제4 광학적정보 기록장치에 있어서, 상기 제2 기록조건 결정수단은 상기 제1 기록조건 결정수단에 의해 결정된 설정치가 소정치인 기록 펄스의 에지 위치에서 기록된 상기 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라, 상기 기록수단에 대해 상기 광원의 기록 파워의 상기 초기치를 결정하는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 기록 펄스의 에지 위치와 기록 파워의 양쪽을 더 정밀하게 최적화할 수 있어 정보신호를 광학적 정보 기록매체에 정밀하게 기록하는 것이 가능해진다.
또한, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 파워 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제2 기록조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 파워 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하고, 상기 적정치를 기록 파워의 상기 초기치로서 이용하는 것이 바람직하다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제4 광학적 정보 기록방법은 광원의 기록 파워를 초기치로 설정하고, 에지 테스트 신호를 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계(a)와, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(a)에서 기록된 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 단계(b)와, 기록 펄스의 에지 위치를 상기 단계(b)에서 결정된 적정치로 설정하고, 파워 테스트 신호를 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계(c)와, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(c)에서 기록된 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 단계(d)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이 방법에서 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정한 후에, 이 적정치로 설정된 기록 펄스에 의해 다시 테스트 기록을 행하여 기록 파워의 최적화를 행한다. 이에 따라 기록 펄스의 에지 위치와 기록 파워의 양쪽을 최적화시킬 수 있으므로, 정보신호를 광학적 정보 기록매체에 정밀하게 기록하는 것이 가능해진다.
상기 제4 광학적 정보 기록방법에서는, 상기 단계(a)에서 상기 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 것이 바람직하다.
이 방법에 의하면, 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하려는 영역에 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생되는 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남을 평균화할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제4 광학적 정보 기록방법은 상기 단계(a)전에 상기 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하는 영역에 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 기록하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.
이 방법에 의하면, 테스트 기록을 행하려는 영역에 오버라이트되는 테스트 신호의 기록 마크와, 이미 기록되어 있는 기록 마크의 상관성이 더욱 저하되므로, 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남을 평균화할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제4 광학적 정보 기록방법에 있어서, 상기 단계(b)가 상기 에지 테스트 신호의 에지 간격과 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.
또는 상기 제4 광학적 정보 기록방법에 있어서, 상기 단계(b)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 최소로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것이 바람직하다.
상기 제4 광학적 정보 기록방법에 있어서, 상기 단계(d)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 파워 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 소정 값 이하로 되는 기록 파워의 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것이 바람직하다.
상기 제4 광학적 정보 기록방법은 상기 단계(a)에 앞서, 기록 펄스의 에지 위치를 소정 값으로 설정하고, 상기 파워 테스트 신호를 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계(e-1)와, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(e-1)에서 기록된 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 단계(e-2)를 더 포함하고, 상기 단계(e-2)에서 결정된 기록 파워의 적정치를 상기 단계(a)에서 기록 파워의 초기치로서 이용하는 것이 바람직하다.
이에따라, 기록 펄스의 에지 위치와 기록 파워의 양쪽을 더욱 정밀하게 최적화할 수 있고, 정보신호를 광학적 정보 기록매체에 정밀하게 기록하는 것이 가능해진다.
또한, 상기 단계(e-2)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 파워 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 소정값 이하로 되는 기록 파워값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것이 바람직하다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제5 광학적 정보 기록장치는 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성수단과, 상기 에지 테스트 신호, 파워 테스트 신호 및 정보 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 기록수단과, 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치를 조정하는 기록 펄스 에지 조정수단과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 신호를 재생하는 재생수단과, 상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록수단에 상기 에지 테스트 신호를 공급시켜 상기 광학적 정보 기록매체에 기록시키고, 상기 재생수단이 상기 광학적 정보 기록매체로부터 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 대해 상기 기록 펄스의 에지 위치의 설정치를 결정하는 제1 기록조건 결정수단과, 상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록수단에 파워 테스트 신호를 공급시켜 상기 광학적 정보 기록매체에 기록시키고, 상기 재생수단이 상기 광학적 정보 기록매체로부터 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록수단에 대해 상기 광원의 기록 파워의 설정치를 결정하는 제2 기록조건 결정수단을 구비하고, 상기 제2 기록조건 결정수단은 설정치가 초기치인 기록 펄스의 에지 위치에서 기록된 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록수단에 대해 상기 광원의 기록 파워의 적정치를 결정하고, 상기 제1 기록조건 결정수단은 상기 제2 기록조건 결정수단에 의해 결정된 설정치가 상기 적정치인 기록 파워로 기록된 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 대해 상기 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 것을 특징으로 한다.
이 구성에 의하면, 기록 파워의 적정치를 결정한 후에, 이 적정치로 설정된 기록 파워에 의해 다시 테스트 기록을 행하여 기록 펄스의 에지 위치의 최적화를 행함으로써, 기록 펄스의 에지 위치와 기록 파워의 양쪽을 최적화할 수 있으므로, 정보신호를 광학적 정보 기록매체에 정밀하게 기록하는 것이 가능해진다.
상기 제5 광학적 정보 기록장치는 상기 에지 테스트 신호의 테스트 기록을 행할 시에 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 기록 개시점 시프트 수단을 더 구비하는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 광학적 정보 기록매체에 있어서 테스트 기록을 행하려는 영역에 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생하는 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남을 평균화할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제5 광학적 정보 기록장치는, 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 생성하는 데이터 패턴 생성수단을 더 구비하고, 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호를 기록하는 상기 광학적 정보 기록매체의 영역에 상기 에지 테스트 신호의 테스트 기록에 앞서 상기 기록수단에 상기 데이터 패턴을 기록시키는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 테스트 기록을 행하려는 영역에 오버라이트되는 테스트 신호의 기록 마크와, 이미 기록되어 있는 기록 마크의 상관성이 더욱 저하되므로, 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남을 평균화할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화 할 수 있다.
상기 제5 광학적 정보 기록장치는, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 파워 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제2 기록 조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 소정값 이하로 되는 기록 파워의 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것이 바람직하다.
상기 제5 광학적 정보 기록장치에 있어서, 상기 제1 기록조건 결정수단은 상기 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하기 위해, 상기 에지 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 수단을 구비하는 것이 바람직하다.
상기 제5 광학적 정보 기록장치는, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제1 기록 조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 최소로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것이 바람직하다.
상기 제5 광학적 정보 기록장치에 있어서, 상기 제1 기록조건 결정수단은 상기 제2 기록조건 결정수단에 의해 결정된 설정치가 소정치인 기록 파워로 기록된 상기 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 대해 상기 기록 펄스의 에지 위치의 상기 초기치를 결정하는 것이 바람직하다.
이에따라, 기록 펄스의 에지 위치와 기록 파워의 양쪽을 더 정밀하게 최적화할 수 있고, 정보신호를 광학적 정보 기록매체에 정밀하게 기록하는 것이 가능해진다.
또한, 상기 에지 테스트 신호의 테스트 기록을 행할 시에, 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 기록 개시점 시프트 수단을 더 구비하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 생성하는 데이터 패턴 생성수단을 더 구비하고, 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호를 기록하는 상기 광학적 정보 기록매체의 영역에 상기 에지 테스트 신호의 테스트 기록에 앞서 상기 기록수단에 상기 데이터 패턴을 기록시키는 것이 바람직하다.
또한, 상기 제1 기록조건 결정수단은 상기 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하기 위해, 상기 에지 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 수단을 구비하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제1 기록조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 소정 값 이하로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하고, 상기 결정된 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 상기 초기치로서 이용하는 것이 바람직하다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제5 광학적 정보 기록방법은 기록 펄스의 에지 위치를 초기치로 설정하고, 파워 테스트 신호를 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계(a)와, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(a)에서 기록된 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 광원의 기록 파워의 적정치를 결정하는 단계(b)와, 상기 단계(b)에서 결정된 기록 파워에 따라 상기 광학적 정보 기록매체에 에지 테스트 신호를 기록하는 단계(c)와, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(c)에서 기록된 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 단계(d)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이 방법에서 기록 파워의 적정치를 결정한 후에, 이 적정치로 설정된 기록 파워에 의해 다시 테스트 기록을 행하여 기록 펄스의 에지 위치의 최적화를 행한다. 이에 따라, 기록 펄스의 에지 위치와 기록 파워의 양쪽을 최적화할 수 있으므로, 정보신호를 광학적 정보 기록매체에 정밀하게 기록하는 것이 가능해진다.
상기 제5 광학적 정보 기록방법에서는, 상기 단계(c)에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 것이 바람직하다.
이 방법에 의하면, 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하려는 영역에 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생하는 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남을 평균화할 수 있어 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제5 광학적 정보 기록방법은, 상기 단계(c)전에 상기 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하는 영역에 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 기록하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.
이 방법에 의하면, 테스트 기록을 행하려는 영역에 오버라이트되는 테스트 신호의 기록 마크와, 이미 기록되어 있는 기록 마크의 상관성이 더욱 저하되므로, 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남을 평균화할 수 있어 기록 데이터 신호의 에지 위치를 더욱 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제5 광학적 정보 기록방법에 있어서, 상기 단계(b)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 파워 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 소정 값 이하로 되는 기록 파워의 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것이 바람직하다.
상기 제5 광학적 정보 기록방법은 상기 단계(d)가 상기 에지 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.
상기 제5 광학적 정보 기록방법에서 상기 단계(d)가 상기 광학적 정보 기록매체로 부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 최소로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것이 바람직하다.
상기 제5 광학적 정보 기록방법은 상기 단계(a)에 앞서 기록 파워를 소정 값으로 설정하고, 에지 테스트 신호를 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계(e-1)와, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(e-1)에서 기록된 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 단계(e-2)를 더 포함하고, 상기 단계(e-2)에서 결정된 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 상기 단계(a)의 기록 펄스의 에지 위치의 초기치로서 이용하는 것이 바람직하다.
이에따라, 기록 펄스의 에지 위치와 기록 파워의 양쪽을 더욱 정밀하게 최적화할 수 있고, 정보신호를 광학적 정보 기록매체에 정밀하게 기록하는 것이 가능해진다.
또한, 상기 단계(e-1)에서 상기 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 것이 바람직하다.
상기 단계(e-1)전에, 상기 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하는 영역에 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 기록하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 단계(e-2)는 상기 에지 테스트 신호의 에지 간격과 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 단계(e-2)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생 신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 최소로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것이 바람직하다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제6 광학적 정보 기록장치는 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성 수단과, 테스트 신호 및 정보 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 광학적 정보 기록매체에 기록을 행하는 기록수단과, 상기 기록 데이터 신호의 극성을 반전하는 극성 반전수단과, 상기 테스트 기록을 행할 때에는 상기 테스트 신호로부터 변환된 기록 데이터 신호의 반전신호 및 비반전신호 중 어느 하나만을 상기 기록수단에 공급하고, 상기 정보신호를 기록할 때에는 상기 정보신호로부터 변환된 기록 데이터 신호의 반전신호 및 비반전 신호 중 어느 하나를 섹터마다 랜덤하게 선택하여 상기 기록수단에 공급하는 극성 반전 제어수단과, 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치를 조정하는 기록 펄스 에지 조정수단과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 신호를 재생하는 재생수단과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 재생수단에 상기 테스트 신호를 재생시킨 결과에 따라 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하고, 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 공급하는 기록조건 결정수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
이 구성에 의하면, 광학적 정보 기록매체의 개서 가능 회수가 향상되고, 또한 테스트 기록에 의해 최적화된 기록조건으로 정보신호의 정밀한 기록이 가능한 광학적 정보 기록 재생장치를 제공할 수 있다.
상기 제6 광학적 정보 기록장치는 기록 데이터 신호의 기록 개시점을 상기 광학적 정보 기록매체상에서 섹터마다 랜덤하게 시프트하는 기록 개시점 시프트 수단을 더 구비하는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하려는 영역에 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생하는 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남을 평균화할 수 있고, 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제6 광학적 정보 기록장치는, 상기 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 발생시키는 데이터 패턴 발생수단을 더 구비하고, 테스트 기록을 행하기 전에 테스트 기록을 행하는 트랙에 상기 데이터 패턴을 기록하는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 테스트 기록을 행하려는 영역에 오버라이트되는 테스트 신호의 기록 마크와, 이미 기록되어 있는 기록 마크의 겹쳐지는 상태가 랜덤하게 되므로, 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남이 평균화될 수 있어 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제6 광학적 정보 기록장치에서 상기 기록조건 결정수단은 상기 기록 펄스 에지 위치의 적정치를 결정하기 위해 상기 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 수단을 구비하는 것이 바람직하다.
상기 제6 광학적 정보 기록장치는 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 기록조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것이 바람직하다.
상기 제6 광학적 정보 기록장치는 제2 테스트 신호를 생성하는 제2 테스트 신호 생성수단과, 상기 제2 테스트 신호 생성수단으로부터 공급되며, 상기 극성 반전 제어수단에 의해 섹터마다 랜덤하게 선택된 제2 테스트 신호의 반전신호 및 비반전 신호 중 어느 하나를 기록 펄스의 에지 위치를 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 의해 상기 적정치로 설정하여 상기 광학적 정보 기록매체에 기록시키고, 상기 재생수단이 상기 광학적 정보 기록매체로부터 제2 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록수단에 대해 상기 광원의 기록 파워의 적정치를 결정하는 제2 기록조건 결정수단을 구비하는 것이 바람직하다.
기록 파워를 결정하는 테스트 기록에서는 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 기록이나 통상의 정보신호의 기록을 행하는 경우보다 높은 기록 파워로 기록을 행할 가능성이 높다. 이 구성에 의하면, 기록 파워를 결정하기 위한 테스트 기록을 행할 시에 제2 테스트 신호의 극성을 랜덤하게 반전시켜 테스트 기록을 행하므로, 광학정 정보 기록매체에서 테스트 기록이 이루어지는 영역의 기록막이 약해지는 것을 방지할 수 있다.
또한, 상기 제6 광학적 정보 기록장치는 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 제2 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제2 기록조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 파워의 값에 따라 기록 파워의 상기 적정치를 결정하는 것이 바람직하다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제6 광학적 정보 기록방법은 제1 테스트 신호의 극성을 반전할지 여부를 랜덤하게 결정하고, 상기 제1 테스트 신호의 반전신호 및 비반전 신호 중 어느 하나만을, 광학적 정보 기록매체의 소정 트랙에 테스트 기록할 단계(a)와, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(a)에서 기록된 제1 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 단계(b)와, 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 정보신호의 반전신호 및 비반전 신호중 어느 하나를 섹터마다 랜덤하게 선택하고, 기록 펄스의 에지 위치를 상기 단계(b)에서 결정된 적정치로 설정하여 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계(c)를 구비하는 것을 특징으로 한다.
이 방법에 의하면, 광학적 정보 기록매체의 개서 가능 회수가 향상되고, 또한 테스트 기록을 행함으로써 최적화된 기록조건으로 정보신호의 정밀한 기록이 가능해진다.
상기 제6 광학적 정보 기록방법에서는, 상기 단계(a)에서 상기 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 것이 바람직하다.
이 방법에 의하면, 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하려는 영역에 이미 기록되어 있는 기록 마크에 테스트 신호의 기록 마크가 오버라이트됨으로써 발생되는 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남을 평균화할 수 있어 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제6 광학적 정보 기록방법은, 상기 단계(a)전에 상기 소정 트랙에 테스트 신호와 상관없는 데이터 패턴을 기록하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.
이 방법에 의하면, 테스트 기록을 행하려는 영역에 오버라이트되는 테스트 신호의 기록 마크와, 이미 기록되어 있는 기록 마크의 겹쳐지는 상태가 랜덤하게 되므로, 테스트 신호의 에지 간격의 어긋남을 평균화할 수 있어 기록 데이터 신호의 에지 위치를 보다 정밀하게 최적화할 수 있다.
상기 제6 광학적 정보 기록방법에서, 상기 단계(b)가 상기 제1 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 제1 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.
상기 제6 광학적 정보 기록방법에서 상기 단계(b)가 상기 광학적 정보기록 매체로부터 상기 제1 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 최소로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것이 바람직하다.
상기 제6 광학적 정보 기록방법은 상기 단계(b)의 종료 후, 상기 단계(c)에 앞서, 제2 테스트 신호의 반전신호 및 비반전 신호중 어느 하나를 섹터마다 랜덤하게 선택하고, 기록 펄스의 에지 위치를 상기 단계(b)에서 결정된 적정치로 설정하여 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계(b-1)와, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(b-1)에서 기록된 제2 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 단계(b-2)를 포함하는 것이 바람직하다.
기록 파워를 결정하는 테스트 기록에서는 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 기록이나 통상의 정보신호의 기록을 행하는 경우보다 높은 기록 파워로 기록을 행할 가능성이 높다. 이 방법에 의하면, 기록 파워를 결정하기 위한 테스트 기록을 행하는 단계(b-1)에서, 제2 테스트 신호의 극성을 램덤으로 반전시켜 테스트 기록을 행하므로, 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록이 이루어지는 영역의 기록막이 약해지는 것을 방지할 수 있다.
또한, 상기 단계(b-2)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 제2 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 파워의 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것이 바람직하다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명의 제7 광학적 정보 기록방법은, 소정수의 트랙으로 구성되는 다수의 존을 기록영역에 포함하고, 내주 존으로부터 외주 존으로 됨에 따라 1주당 섹터수가 증가하고, 동 존 내에서는 외주만큼 가록선 밀도가 낮은 Z-CLV 포맷의 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에 상기 광학적 정보 기록매체에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록방법에서, 상기 각 존의 최내주 트랙의 정보신호의 기록선 밀도와 대략 동등한 기록선 밀도로 테스트 신호를 테스트 기록하는 단계(a)와, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 테스트 신호를 재생하고, 재생결과에 따라 기록 펄스의 에지 위치 및 기록 파워 중 어느 한쪽의 적정치를 결정하는 단계(b)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이 방법에 의하면, 각 존의 최내주로부터 최외주에 걸쳐 양호한 지터(또는 비트 에러 레이트)를 얻을 수 있어 정보신호의 정밀한 기록이 가능해진다.
상기 제7 광학적 정보 기록방법에서, 상기 단계(b)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 파워의 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것이 바람직하다.
상기 제7 광학적 정보 기록방법에서는, 상기 단계(a)에서 테스트 기록을 행하는 트랙이 적어도 하나의 존 내의 대략 최내주인 것이 바람직하다.
상기 제7 광학적 정보 기록방법에서는, 상기 단계(a)에서 테스트 기록을 행하는 트랙이 광학적 정보 기록매체의 기록영역보다 내주측 및 외주측의 트랙인 것이 바람직하다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명의 제1 광학적 정보 기록매체는 소정수의 트랙으로 구성되는 다수의 존을 기록영역에 포함하고, 내주 존으로부터 외주 존으로 됨에 따라 1주당 섹터수가 증가하고, 동 존 내에서는 외주만큼 가록선 밀도가 낮은 Z-CLV 포맷의 광학적 정보 기록매체에서 상기 존의 적어도 하나의 대략 최내주에 테스트 기록용의 영역을 가지는 것을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제2 광학적 정보 기록매체는 소정수의 트랙으로 구성되는 다수의 존을 기록영역에 포함하고, 내주 존으로부터 외주 존으로 됨에 따라 1주당 섹터수가 증가하고, 동 존 내에서 외주만큼 기록선 밀도가 낮은 Z-CLV 포맷의 광학적 정보 기록매체에서 상기 기록영역보다 내주측 및 외주측에 테스트 기록영역을 가지고, 상기 테스트 기록영역의 기록선 밀도가 상기 기록영역내의 각 존의 가장 내주측 트랙의 정보신호의 기록선 밀도와 대략 등등한 것을 특징으로 한다.
상기 제1 및 제2 광학적 정보 기록매체에서, 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것이 바람직하다.
또한, 상기 제1 내지 제6 광학적 정보 기록장치는 상기 광학적 정보 기록장치의 조정시, 상기 광학적 정보 기록장치의 기동시, 상기 기동시부터 소정 시간이 경과했을 때, 상기 광학적 정보 기록매체의 교환시. 상기 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때, 및 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 때 중, 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 실행하는 구성인 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 기록 재생장치의 조정시에 테스트 기록을 행함으로써 광학적 정보 기록장치간의 변동요소를 보상할 수 있다. 또한, 광학적 정보 기록장치의 기동시, 및 상기 기동시부터 일정 시간 경과했을 때에 테스트 기록을 행함으로써 광학적 정보 기록장치 자체의 변동 요소를 보상할 수 있다. 또한, 광학적 정보 기록매체의 변환시에 테스트 기록을 행함으로써 광학적 정보 기록매체간의 변동요소를 보상할 수 있다. 또한, 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때에 테스트 기록을 행함으로써, 광학적 정보 기록매체 자체의 변동요소를 보상할 수 있다. 또한, 사용환경의 온도가 변화했을 때에 테스트 기록을 행함으로써 광학적 정보 기록장치 및 광학적 정보 기록매체의 온도 의존성에 기인하는 변동 요소를 보상할 수 있다.
또한, 상기 제1 내지 제7 광학적 정보 기록방법에 의해 광학적 정보 기록매체에 정보의 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치는 상기 기록 재생장치의 조정시, 상기 기록 재생장치의 기동시, 상기 기동시부터 일정 시간 경과했을 때, 광학적 정보 기록매체의 교환시, 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때, 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도 변화했을 때의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록 조건의 설정을 행하는 것을 특징으로 한다.
이 구성에 의하면, 기록 재생장치의 조정시에 테스트 기록을 행함으로써, 광학적 정보 기록장치간의 변동요소를 보상할 수 있다. 또한, 광학적 정보 기록장치의 기동시 및 상기 기동시부터 일정 시간 경과했을 때에 테스트 기록을 행함으로써, 광학적 정보 기록장치 자체의 변동요소를 보상할 수 있다. 또한, 광학적 정보 기록매체의 교환시에 테스트 기록을 행함으로써 광학적 정보 기록매체간의 변동요소를 보상할 수 있다. 또한, 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때에 테스트 기록을 행함으로써, 광학적 정보 기록매체 자체의 변동요소를 보상할 수 있다. 또한, 사용환경의 온도가 변화했을 시에 테스트 기록을 행함으로써, 광학적 정보 기록장치 및 광학적 정보 기록매체의 온도 의존성에 기인하는 변동요소를 보상할 수 있다.
또한, 상기 제1 내지 제6 광학적 정보 기록장치에서 광학적 정보 기록매체의 기록층이 상변화 재료로 이루어지는 것이 바람직하다.
또한, 상기 제1 내지 제7 광학적 정보 기록방법에서 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것이 바람직하다.
본 발명은 예를들면 광 디스크 등의, 광학적으로 정보를 기록ㆍ재생시키는 광학적 정보 기록매체와, 기록조건을 최적화하기 위해 정보신호의 기록에 앞서 테스트 기록을 행하는 정보 기록방법 및 정보기록 재생장치에 관한 것이다.
도1은 본 발명의 제1 및 제6 실시형태에 관한 기록 재생장치의 구성을 도시하는 블록도,
도2는 상기 제1 실시형태에 관한 기록 재생장치의 동작을 설명하는 플로우 챠트,
도3은 본 발명의 제2 실시형태에 관한 기록 재생장치의 구성을 도시하는 블록도,
도4는 상기 제2 실시형태에 관한 기록 재생장치의 동작을 설명하는 플로우 챠트,
도5는 본 발명의 제3ㆍ제4 실시형태에 관한 기록재생 장치의 구성을 도시한 블록도,
도6은 상기 제3 실시형태에 관한 기록 재생장치의 동작을 설명하는 플로우 챠트,
도7은 본 발명의 제4 실시형태에 관한 기록 재생장치의 동작을 설명하는 플로우 챠트,
도8은 본 발명의 제5 실시형태에 관한 기록 재생장치의 구성을 도시하는 블록도,
도9는 상기 제5 실시형태에 관한 기록 재생장치의 동작을 설명하는 플로우 챠트,
도10은 본 발명의 제6 실시형태에 관한 기록 재생장치의 동작을 설명하는 플로우 챠트,
도11은 종래 광 디스크에 있어서, 테스트 기록을 행하기 전의 트랙 상태와, 테스트 기록용의 테스트 신호와, 이 테스트 신호에 따라 테스트 기록을 행한 경우의 상기 트랙상태와의 일예를 도시하는 설명도,
도12는 종래 광 디스크에 있어서, 테스트 기록을 행하기 전의 트랙 상태와, 테스트 기록용의 테스트 신호와, 이 테스트 신호에 따라 테스트 기록을 행한 경우의 상기 트랙 상태의 다른 예를 도시하는 설명도,
도13은 종래의 광 디스크에 있어서, 테스트 기록을 행하기 전의 트랙의 상태와, 테스트 기록용 테스트 신호와, 이 테스트 신호에 따라 테스트 기록을 행한 경우의 상기 트랙 상태의 다른 예를 도시하는 설명도,
도14는 종래의 광 디스크에 있어서, 테스트 기록을 행하기 전의 트랙의 상태와, 테스트 기록용 테스트 신호와, 이 테스트 신호에 따라 테스트 기록을 행한 경우의 상기 트랙 상태의 다른 예를 도시하는 설명도,
도15는 종래의 광 디스크에 있어서, 최단 마크의 주기신호를 기록 펄스폭을 변화시켜 기록했을 때의 기록 피크 파워Pp와 비트 에러 레이트의 관계를 도시하는 그래프이다.
이하, 본 발명의 실시형태에 대해 도면을 참조하면서 설명한다.
(제1 실시형태)
도1은 본 발명의 제1 실시형태의 기록 재생장치(광학적 정보 기록장치)의 개략 구성을 도시하는 블록도이다.
본 기록 재생장치는 광 디스크(1)를 이용하여 정보의 기록재생을 행하는 장치로, 광 디스크(1)를 회전시키는 스핀들 모터(10)와 레이저 광원(도시하지 않음)을 구비하여 광 디스크(1)의 원하는 곳에 레이저광을 집속시키는 광 헤드(9)를 구비하고 있다. 이 기록 재생장치 전체의 동작은 시스템 제어회로(2)(기록조건 결정수단)에 의해 제어된다. 광 디스크(1)로서는 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 상변화형 디스크를 이용하는 것이 바람직하다.
이 기록 재생장치는 광 디스크(1)에 정보의 기록을 행하기 위해, 섹터마다 기록 개시점을 랜덤하게 시프트하는 기록 개시점 시프트 회로(3)(기록 개시점 시프트 수단)와, 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 신호를 생성하는 에지 테스트 신호 생성회로(4)(테스트 신호 생성수단)를 구비하고 있다.
상기 기록 재생장치는 기록수단으로서 기록할 정보신호에 따라 2치화된 기록 데이터 신호를 재생시키는 변조회로(5)와, 기록 데이터 신호에 따라 레이저를 구동하기 위한 기록 펄스를 발생시키는 기록신호 생성회로(6)와, 이 기록신호 생성회로(6)가 출력하는 기록 펄스의 에지 위치를 조정하는 기록 펄스 에지 조정회로(7)를 구비하고 있다. 또한, 기록 펄스 에지 조정회로(7)가 출력하는 기록 펄스에 따라 광 헤드(9)내의 레이저 광원을 구동시키는 전류를 변조하기 위한 레이저 구동회로(8)가 설치되어 있다.
또한, 상기 기록 재생장치는 광 디스크(1)로부터 정보의 재생을 행하는 재생수단으로서, 광 디스크(1)로부터의 반사광에 따라 재생신호의 파형 처리를 행하는 재생신호 처리회로(11)와, 재생신호의 에지 타이밍을 검출하는 에지 타이밍 검출회로(12)와, 재생정보를 얻기 위한 복조(復調)회로(13)를 구비하고 있다.
다음에 도2의 플로우 챠트를 이용하여 본 실시형태의 기록 재생장치의 동작에 대해 설명한다.
테스트 기록시에는 우선 광 헤드(9)가 광 디스크(1)상의 소정 트랙을 시크(seek)하여(단계1, 이하 S1과 같이 약기한다), 시스템 제어 회로(2)가 레이저 구동회로(8)에서 기록 파워의 설정치를 결정한다(S2). 그리고 에지 테스트 신호 생성회로(4)가 테스트 신호를 생성하여, 기록신호 생성회로(6)에 기록 데이터 신호로서 송출한다(S3).
기록신호 생성회로(6)는 기록 데이터 신호의 신호 반전간격이 채널 클록 주기(T)의 몇배에 상당하는 지를 검출한다. 그리고, 기록 마크의 길이에 따라 소정 개수 및 소정폭의 기록 펄스를 소정 타이밍에서 발생시킨다.
여기서, 기록 개시점 시프트 회로(3)가 기록 게이트 신호의 개시위치를 섹터마다 랜덤하게 시프트시켜 기록신호 생성회로(6)로 송출한다. 이 기록 게이트 신호란, 「1」 또는 「0」의 디지털 신호로, 광 디스크(1)에 정보 기록을 행할 때만 「1」로 되고, 그 이외일 때는 「0」으로 되는 신호이다. 또한, 이와는 반대로 기록을 행할 때에 「0」으로 되고, 그 이외일 때에 「1」로 되는 신호이어도 된다.
이와같이 기록 게이트 신호의 개시위치를 랜덤하게 시프트시킴으로써, 광 디스크(1)의 섹터에 기록되는 일련의 기록 데이터 신호의 기록 개시점이 섹터마다 랜덤하게 시프트된다(S4). 그 후, 기록 펄스 에지 조정회로(7)가 레이저 광원을 구동시키기 위한 기록 펄스를 레이저 구동 회로(8)에 입력한다.
레이저 구동회로(8)는 기록 펄스에 따라 레이저 광원을 구동시키는 전류를 변조하고, 해당 섹터로의 기록을 행한다(S5). 상기 S3 내지 S5의 기록 동작을 소정 섹터수의 기록이 종료되기(S6에서 Yes)까지 반복한다.
이 결과, 아무리 동일한 패턴의 테스트 신호를 동일 트랙에 오버라이트하는 경우라도 새로운 기록 마크와 오래된 기록 마크의 위상관계는 섹터마다 랜덤하게 변화한다. 따라서, 도11 내지 도14에 도시하는 각종 상태의 마크 변형이 동등한 확율로 존재하게 된다.
테스트 신호의 기록 후는 광 헤드(9)가 해당 섹터를 재생하고(S7), 재생신호 처리회로(11)가 재생신호의 이퀼라이즈와 2치화를 행한다. 그리고, 에지 타이밍 검출회로(12)가 2치화된 재생신호를 슬라이스하고, 신호 반전 간격을 검출함으로써(S8), 기록 마크의 에지 간격을 측정한다. 측정된 에지 간격은 시스템 제어회로(2)내의 메모리(도시하지 않음)에 축적된다(S9). 상기 S7로부터 S9의 처리를 테스트 기록을 행한 모든 섹터에 대해 (S10에서 Yes가 되기까지) 반복한다.
그 후, 시스템 제어 회로(2)가 메모리에 축적되어 있는 에지 간격의 측정치의 평균을 산출한다(S11). 상술한 대로 S4에 있어서, 테스트 신호의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트하여 기록하였으므로, 도11 내지 도14에 도시한 각종 마크 변형의 영향에 의한 에지 간격의 어긋남(즉, 도11 내지 도14의 △1와 △2의 영향)은 평균화되어 있다. 이 때문에, S11에서 산출되는 에지 간격의 평균치에는 이전 데이터 패턴과의 위상관계에 기인하는 편차는 발생하지 않는다. 그 결과, 실제 정보신호를 오버라이트했을 때와 동일 상태의 이상적 에지 간격을 구하는 것이 가능해진다.
다음에 테스트 기록의 결과를 재생한 재생신호로부터 산출한 에지 간격과, 테스트 신호의 에지간격의 차분(예를들면, 도11 내지 도14에 도시한 테스트 신호의 경우는 산출한 에지 간격에 상당하는 시간과 15T의 차)을 구한다(S12). 그리고, 기록 펄스의 에지 위치(예를들면, 도11 내지 도14에 도시한 예에서는 3T 마크를 기록하기 위한 기록 펄스의 전단의 에지)를 상기 차분만큼 보정한 위치에 결정하고(S13), 그 에지 보정량을 기록 펄스 에지 조정회로(7)에 설정하고(S14), 테스트 기록을 종료한다. 이후, 실제로 정보신호를 기록할 때에는 기록 펄스 에지 조정회로(7)에서 설정한 기록 펄스의 에지 위치에 따라 기록을 행하므로, 이상적인 에지 위치에 기록 마크를 형성할 수 있다.
이상에 기술한 바와같이 본 실시형태에서는 테스트 신호의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트하여 다수의 섹터에 테스트 기록을 행하고, 그 재생신호로부터 얻은 기록 마크의 에지 간격의 평균치를 구함으로써, 기록 마크의 에지 위치를 편차없이 정밀하게 결정하는 테스트 기록이 가능해지고, 보다 정밀한 정보신호의 기록이 가능해진다.
(제2 실시형태)
도3은 본 발명의 제2 실시형태의 기록 재생장치의 개략 구성을 도시하는 블록도이다.
이 기록 재생장치는 광 디스크(1)를 이용하여 정보의 기록재생을 행하는 장치로, 광 디스크(1)를 회전시키는 스핀들 모터(10)와 레이저 광원(도시하지 않음)을 구비하여 광 디스크(1)의 원하는 곳에 레이저광을 집속시키는 광 헤드(9)를 구비하고 있다. 이 기록 재생장치 전체의 동작은 시스템 제어회로(22)에 의해 제어된다.
이 기록 재생장치는 기록수단(또는 기록ㆍ소거수단)으로서 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 신호를 생성하는 에지 테스트 신호 생성회로(4)와, 기록할 정보 신호에 따라 2치화된 기록 데이터 신호를 발생시키는 변조회로(5)와, 기록 데이터 신호에 따라 레이저를 구동하기 위한 기록 펄스를 발생시키는 기록신호 생성회로(6)와, 이 기록신호 생성회로(6)가 출력하는 기록 펄스의 에지 위치를 조정하는 기록 펄스 에지 조정회로(7)를 구비하고 있다. 또한, 기록 펄스 에지 조정회로(7)가 출력하는 기록 펄스에 따라 광 헤드(9)내의 레이저 광원을 구동시키는 전류를 변조하기 위한 레이저 구동회로(8)가 설치되어 있다.
또한, 상기 기록 재생장치는 광 디스크(1)로부터 정보 재생을 행하기 위해 광 디스크(1)로부터의 반사광에 따라 재생신호의 파형 처리를 행하는 재생신호 처리회로(11)와, 재생신호의 에지 타이밍을 검출하는 에지 타이밍 검출회로(12)와, 재생정보를 얻기 위한 복조회로(13)를 구비하고 있다.
본 실시형태의 기록 재생장치는 제1 실시형태의 기록 개시점 시프트 회로(3)대신에, 테스트 신호를 기록하려는 트랙에 테스트 신호의 기록에 앞서 기록할 데이터 패턴을 생성하는 데이터 패턴 생성회로(21)가 설치되어 있다. 또한, 이 데이터 패턴으로는 테스트 신호와는 상관없는 데이터를 이용한다.
디음에 도4의 플로우 챠트를 이용하여 시스템 제어회로(22)에 의해 제어되는 본 실시형태의 기록 재생장치의 동작에 대해 설명한다.
테스트 기록시에는 우선, 광 헤드(9)가 광 디스크(1)상의 소정 트랙을 시크하고(S21), 시스템 제어회로(22)가 레이저 구동회로(8)의 기록 파워의 설정치를 결정한다(S22). 그리고 데이터 패턴 생성회로(21)가 테스트 신호의 패턴과는 상관없는 데이터 패턴을 생성하고, 기록 데이터 신호로서 기록신호 생성회로(6)로 송출한다(S23). 이 기록 데이터 신호를 기록신호 생성회로(6)에서 기록 펄스로 변환시키고, 레이저 구동회로(8)로 레이저 구동 전류를 변조하고, 후에 테스트 기록을 행하는 해당 섹터에 기록한다(S24).
그 후, 에지 테스트 신호 생성회로(4)로부터 기록신호 생성회로(6)로, 테스트 신호를 기록 데이터 신호로서 송출한다(S25). 이 기록 데이터 신호를 동일하게 하여 기록생성 생성회로(6)에서 기록 펄스로 변환시키고, 레이저 구동회로(8)에서 레이저의 구동 전류를 변조하고, 상기 S24에서 데이터 패턴 생성회로(21)로부터의 데이터 패턴 기록을 행한 섹터로 오버라이트한다(S26).
여기서, S26에서 오버라이트하기 이전에 S24에서 기록된 데이터 패턴은 테스트 신호의 패턴과는 상관없는 패턴이므로, 테스트 신호에 의한 기록 마크와, 이전 기록 마크가 겹쳐지는 형태는 랜덤하게 되고, 도11 내지 도14에 도시하는 각종 마크 변형의 상태가 동등 확율로 존재하게 된다.
테스트 신호의 기록 후는 광 헤드(9)로 S26에서 오버라이트한 섹터를 재생시키고(S27), 재생신호 처리회로(11)가 재생신호의 이퀼라이즈 및 2치화를 행한다. 그리고, 에지 타이밍 검출회로(12)가 2치화 신호를 슬라이스하고, 신호반전 간격을 검출(S28)함으로써, 기록 마크의 에지 간격이 측정된다. 측정된 에지 간격은 시스템 제어 회로(22)내의 메모리에 축적된다(S29).
다음에 시스템 제어회로(22)가 에지 간격 설정치의 평균을 산출한다(S30). 전술과 같이 오버라이트하기 이전에 기록된 데이터 패턴은 테스트 신호의 패턴과 상관없는 패턴이므로, 도11 내지 도14에 도시하는 각종 마크 변형의 영향에 의한 에지 간격의 어긋남(즉, 도11 내지 도14의 △1와 △2의 영향)은 평균화된다. 이 때문에, 산출된 에지 간격의 값에는 이전 데이터 패턴과의 위상관계에 기인하는 편차는 발생하지 않는다. 그 결과, 정밀한 기록 마크의 에지 간격을 구하는 것이 가능해진다.
그리고, 테스트 기록한 테스트 신호의 재생신호로부터 산출한 에지 간격과, 테스트 신호 본래의 에지 간격과의 차분(예를들면, 도11 내지 도14에 도시한 테스트 신호의 경우는 산출한 에지 간격에 상당하는 시간과 15T와의 차)을 구한다(S31). 그리고, 기록 펄스의 에지 위치(예를들면, 도11 내지 도14에 도시한 예에서는 3T 마크를 기록하기 위한 기록 펄스의 전단 에지)를 상기 차분만큼 보정한 위치에 결정하고(S32), 그 에지 보정량을 기록 펄스 에지 조정회로(7)에 설정하고(S33), 테스트 기록을 종료한다. 이후, 실제로 정보신호를 기록할 때에는 기록 펄스 에지 조정회로(7)로 설정한 기록 펄스의 에지 위치에서 기록하므로, 이상적인 에지 위치에 기록 마크를 형성할 수 있다.
이상에 기술한 바와같이 본 실시형태에서는 테스트 기록에 앞서 테스트 신호를 기록하려는 트랙에 테스트 신호의 패턴과는 상관없는 데이터 패턴을 기록함으로써, 기록 마크의 에지 위치를 편차없이 정밀하게 결정하는 테스트 기록이 가능해져 보다 정밀한 정보신호의 기록이 가능해진다.
또한, 본 실시형태에서 다시 제1 실시형태에서 기술한 것과 같은 기록 개시점을 랜덤하게 시프트하는 기록 개시점 시프트 회로(3)를 설치하고, 다수의 섹터에 대해 테스트 신호를 기록 재생하는 구성 및 방법을 겸용하면, 테스트 기록전의 데이터 패턴과 테스트 신호의 데이터 패턴과의 상관성이 한층 저하되므로, 보다 정밀하게 기록 펄스의 에지 위치를 결정할 수 있는 점에서 더욱 바람직하다.
또한, 본 실시형태에서는 테스트 신호를 기록하기에 앞서 기록할 데이터 패턴을 테스트 신호의 패턴과는 상관없는 패턴으로 했는데, 이 데이터 패턴으로는 랜덤 패턴을 이용하는 구성으로 해도 된다. 이 경우, 시스템 제어회로(22)에 미리 랜덤 기록정보를 가지게 하고, 그 기록정보를 변조회로(5)에서 변조하는 구성으로 하면, 데이터 패턴 생성회로(21)를 생략할 수 있고, 기록 재생장치의 구성을 간략화할 수 있는 점에서 바람직하다. 혹은 본 기록 재생장치에 접속된 외부장치(예를들면 컴퓨터 등)로부터 랜덤 기록정보를 시스템 제어회로(22)로 송출시키고, 그 기록정보를 변조회로(5)에서 변조하는 구성으로 해도 동일한 효과를 얻을 수 있다.
또한, 테스트 신호를 기록하기에 앞서 기록할 상관없는 데이터 패턴은 패턴의 주기가 틀린 다른 테스트 신호의 데이터 패턴이어도 된다. 이 경우도 데이터 패턴 생성회로(21)를 생략할 수 있고, 기록 재생장치의 구성이 간략화되므로, 더욱 바람직하다.
또한, 테스트 신호의 기록에 앞서 테스트 신호에 상관없는 데이터 패턴을 기록하는 대신에 광 디스크(1)에 일정 레벨의 소거 파워(Pb)로 레이저광을 조사함으로써 테스트 신호를 기록하려는 트랙에 기록되어 있는 모든 신호를 소거하도록 해도 된다. 광 디스크(1)가 상변화형 광 디스크인 경우에는 소거 파워(Pb)의 레이저광의 연속적으로 조사된 부분의 기록막이 결정상태로 됨으로써 기록되어 있는 정보가 소거된다. 이 경우도 데이터 패턴 생성회로(21)를 생략할 수 있고, 기록 재생장치의 간략화를 도모할 수 있는 점에서 보다 바람직하다.
(제3 실시형태)
도5는 본 발명의 제3 실시형태의 기록 재생장치의 개략 구성을 도시하는 블록도이다.
이 기록 재생장치는 광 디스크(1)를 이용하여 정보의 기록재생을 행하는 장치로, 광 디스크(1)를 회전시키는 스핀들 모터(10)와 레이저 광원(도시하지 않음)을 구비하여 광 디스크(1)의 원하는 곳에 레이저광을 집속시키는 광 헤드(9)를 구비하고 있다. 이 기록 재생장치 전체의 동작은 시스템 제어회로(32)에 의해 제어된다.
이 기록 재생장치는 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 신호(에지 테스트 신호)를 생성하는 에지 테스트 신호 생성회로(4)와, 기록할 정보 신호에 따라 2치화된 기록 데이터 신호를 발생시키는 변조회로(5)와, 기록 데이터 신호에 따라 레이저를 구동시키기 위한 기록 펄스를 발생시키는 기록신호 생성회로(6)와, 이 기록신호 생성회로(6)가 출력하는 기록 펄스의 에지 위치를 조정하는 기록 펄스 에지 조정회로(7)를 구비하고 있다. 또한, 기록 펄스 에지 조정회로(7)가 출력하는 기록 펄스에 따라 광 헤드(9)내의 레이저 광원을 구동시키는 전류를 변조하기 위한 레이저 구동회로(8)가 설치되어 있다.
또한, 상기 기록 재생장치는 광 디스크(1)로부터 정보 재생을 행하기 위해 광 디스크(1)로부터의 반사광에 따라 재생신호의 파형 처리를 행하는 재생신호 처리회로(11)와 재생신호의 에지 타이밍을 검출하는 에지 타이밍 검출회로(12)와, 재생정보를 얻기 위한 복조회로(13)를 구비하고 있다.
이상은 제1 실시형태에서 도1에 도시한 구성과 거의 동일하다. 본 실시형태의 기록 재생장치가 제1 실시형태와 특별히 다른 것은, 기록 개시점 시프트 회로(3)를 구비하지 않고, 기록 파워를 결정하는 비트 에러 레이트(도면 중 BER로 약기한다) 측정회로(31)와, 기록 파워를 결정하기 위한 테스트 신호(파워 테스트 신호)를 생성하는 파워 테스트 신호 생성회로(33)를 구비한 것이다.
다음에 도6의 플로우 챠트를 이용하여 시스템 제어 회로(32)에 의해 제어되는 본 실시형태의 기록 재생장치의 동작에 대해 설명한다.
테스트 기록시에는 우선 광 헤드(9)가 광 디스크(1)상의 소정 트랙을 시크하여(S41), 시스템 제어 회로(32)가 레이저 구동 회로(8)의 기록 파워의 설정치를 초기치로 한다(S42). 그리고 에지 테스트 신호 생성회로(4)로부터 기록신호 생성회로(6)로, 기록 펄스의 에지 위치 결정용 테스트 신호(에지 테스트 신호)를 기록 데이터 신호로서 송출한다(S43). 기록신호 생성회로(6)는 이 기록 데이터 신호를 기록 펄스로 변환시키고, 레이저 구동회로(8)가 이 기록 펄스에 따라 레이저 구동 전류를 변조하고, 테스트 기록을 행하는 해당 섹터에 기록한다(S44).
테스트 신호의 기록 후는, 광 헤드(9)에 의해 S44에서 기록을 행한 섹터를 재생하고(S45), 재생신호 처리회로(11)가 재생신호의 이퀼라이즈 및 2치화를 행한다. 그리고, 에지 타이밍 검출회로(12)가 2치화 신호를 슬라이스하고, 신호 반전 간격을 검출함으로써(S46), 기록 마크의 에지 간격을 측정하고, 시스템 제어 회로(32)내의 메모리에 측정치를 축적한다(S47).
그 후, 시스템 제어 회로(32)(제1 기록조건 결정수단)가 에지 간격의 측정치의 평균을 산출한다(S48). 그리고, 테스트 기록한 테스트 신호의 재생신호로부터 산출한 에지 간격과, 테스트 신호 본래의 에지 간격과의 차이분(예를들면, 도11 내지 도14에 도시한 테스트 신호의 경우는 산출한 에지 간격에 상당하는 시간과 15T와의 차)을 구한다(S49 : 비교수단). 그리고, 기록 펄스의 에지 위치(예를들면, 도11 내지 도14에 도시한 예에서는 3T 마크를 기록하기 위한 기록 펄스의 전단 에지)를 상기 차이분만큼 보정한 위치에 결정하고(S50), 그 에지 보정량을 기록 펄스 에지 조정회로(7)에 설정한다(S51).
다음에 기록 파워를 파워 조정 범위의 최소치로 설정하고(S52), 파워 테스트 신호 생성회로(33)가 기록신호 생성회로(6)로, 파워 결정용 테스트 신호(파워 테스트 신호)를 송출한다(S53). 그리고, 이 테스트 신호로부터 생성된 기록 펄스에 따라 테스트 기록을 행하는 해당 섹터에 기록을 행한다(S54). 그 후, 기록한 테스트 신호를 재생하고(S55), 재생신호 처리회로(11)에서 이퀼라이즈나 2치화 등을 행한다.
그리고, 비트 에러 레이트 측정회로(측정수단)(31)가 테스트 신호의 패턴과 재생한 데이터 패턴을 비교하여 비트 에러 레이트를 측정하고(S56), 측정치를 시스템 제어회로(32)에 축적한다. 기록 파워가 조정범위내의 최대치로 되기까지(S57에서 Yes), 기록 파워를 단계적으로 증가시키고(S58), 상기 S53∼S56까지의 단계를 반복한다.
그리고, 시스템 제어회로(제2 기록조건 결정수단)(32)가 메모리에 축적된 측정치를 참조하고, 비트 에러 레이트가 일정 임계치(도15에서는 B1h)로 될 때의 기록 파워의 값을 산출한다(S59). 그 값에 따라 예를들면 이 값에 일정 계수를 곱하는 등의 처리를 행하고, 기록 파워의 적정치를 결정하고(S60), 레이저 구동회로(8)에서 기록 파워를 적정치로 설정하고(S61), 테스트 기록을 종료한다. 이 방법에 의하면, 기록 펄스의 에지 위치를 조정하여 펄스폭이 변화한 경우라도 최적의 기록 파워로 정보신호를 기록할 수 있다.
이상에 기술한 바와같이, 본 실시형태에서는 기록 펄스의 에지 위치의 최적치를 결정하는 테스트 기록을 행한 후에 기록 펄스의 에지 위치를 상기 최적치로 설정한 상태에서 기록 파워의 최적치를 결정하는 테스트 기록을 행한다. 따라서, 기록 펄스의 에지 위치를 조정하여 펄스폭이 변화한 경우라도 기록 파워를 최적화할 수 있으므로, 최적의 에지 위치 및 기록 파워로 정보신호를 기록할 수 있고, 보다 정밀한 정보신호의 기록이 가능해지는 점에서 우수한 효과를 얻을 수 있다.
또한, 본 실시형태에서는 에지 위치를 결정할 때의 기록 파워를 S42에서 소정값으로 설정했는데, 이 기록 파워의 값을 결정하기 위한 테스트 기록을 행하는 단계를 S42의 전에 추가하면, 보다 정밀하게 기록 펄스의 최적 에지 위치 및 기록 파워를 결정할 수 있으므로 보다 바람직하다.
또한, 본 실시형태에서 다시 제1 실시형태에서 기술한 바와같이, 기록 개시점 시프트 회로(3)를 설치하고, 기록 개시점을 랜덤하게 시프트하여 복수의 섹터로부터 테스트 신호를 기록 재생하여 기록 펄스의 최적 에지 위치를 결정하는 구성 및 방법을 겸용하면, 기록 마크의 에지 위치를 편차없이 정밀하게 결정하는 테스트 기록이 가능해지는 점에서 보다 바람직하다.
또한, 본 실시형태에서 다시 제2 실시형태에서 기술한 바와같이, 데이터 패턴 생성회로(21)를 설치하고, 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 신호를 기록하는 트랙에 미리 테스트 신호의 패턴과는 상관없는 데이터 패턴을 기록해 두는 구성 및 방법을 겸용하면, 기록 마크의 에지 위치를 편차없이 정밀하게 결정하는 테스트 기록이 가능해지는 점에서 보다 바람직하다.
또한, 본 실시형태에서 후술하는 제5 실시형태와 같이, 극성 반전 제어회로(53), 극성 반전회로(54) 및 선택회로(55)를 설치하고, 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 신호의 기록시에만 기록 데이터 신호의 랜덤 극성 반전을 금지하여 기록할 구성 및 방법을 겸용하면, 광 디스크의 개서 가능 회수를 향상시키고, 또한 정밀한 정보 신호의 기록이 가능해 지는 점에서 보다 바람직하다.
(제4 실시형태)
본 발명의 제4 실시형태의 기록 재생장치의 구성은 제3 실시형태에서 도5에 도시한 구성과 동일한데, 시스템 제어회로(32)에 의한 제어가 다르다.
여기서 도7 플로우 챠트 및 도5를 이용하여 시스템 제어 회로(32)에 의해 제어되는 본 실시형태에 관한 기록 재생장치의 동작에 대해 설명한다.
테스트 기록시에는 우선 광 헤드(9)가 광 디스크(1)상의 소정 트랙을 시크하고(S71), 시스템 제어 회로(32)가 기록 펄스 에지 조정회로(7)의 기록 펄스의 에지 위치를 소정 위치로 설정한다(S72).
다음에 기록 파워를 파워 조정 범위의 최소치로 설정하고(S73), 파워 테스트 신호 생성회로(33)로부터 기록신호 생성회로(6)로, 파워 결정용 테스트 신호(파워 테스트 신호)를 송출하고(S74), 테스트 기록을 행하는 해당 섹터에 기록을 행한다(S75).
다음에, 기록한 테스트 신호를 재생하고(S76), 재생신호 처리회로(11)에서 이퀼라이즈나 2치화를 행한다. 비트 에러 레이트 측정회로(측정수단)(31)가 테스트 신호의 패턴과 재생한 데이터 패턴을 비교하여 비트 에러 레이트를 측정하고(S77), 측정치를 시스템 제어회로(32)에 축적한다. 기록 파워가 조정 범위내의 최대치로 되기까지(S78에서 Yes), 기록 파워를 단계적으로 증가시키고(S79), 상기 S74∼S77까지의 처리를 반복한다.
그리고, 시스템 제어회로(제2 기록조건 결정수단)(32)이 축적된 측정치에 따라 비트 에러 레이트가 일정 임계치(도15에서는 Bth)로 되는 파워를 산출한다(S80). 그 파워로부터 기록 파워를 결정하고(S81), 레이저 구동회로(8)에서 기록 파워를 설정한다(S82).
다음에 에지 테스트 신호 생성회로(4)로부터 기록신호 생성회로(6)로, 기록 펄스의 에지 위치 결정용 테스트 신호(에지 테스트 신호)를 기록 데이터 신호로서 송출한다(S83). 기록신호 생성회로(6)는 이 기록 데이터 신호를 기록 펄스로 변환시킨다. 레이저 구동회로(8)는 기록신호 생성회로(6)로부터의 기록 펄스에 따라 레이저 구동전류를 변조함으로써, 테스트 기록을 행하는 해당 섹터에 기록을 행한다(S84).
테스트 신호의 기록 후는 광 헤드(9)로 해당 섹터를 재생하고(S85), 재생신호 처리회로(11)가 재생신호의 이퀼라이즈 및 2치화를 행한다. 그리고, 에지 타이밍 검출회로(12)가 2치화 신호를 슬라이스하고, 신호 반전 간격을 검출함으로써(S86), 기록 마크의 에지 간격을 측정하고, 시스템 제어회로(32)내의 메모리에 측정치를 축적한다(S87).
그 후, 시스템 제어회로(제1 기록조건 결정수단)(32)가 메모리에 축적된 에지 간격 측정치의 평균을 산출한다(S88). 그리고 테스트 기록한 테스트 신호의 재생신호로부터 산출한 에지 간격과, 테스트 신호 본래의 에지 간격의 차이분(예를들면, 도11 내지 도14에 도시한 테스트 신호의 경우는 산출한 에지 간격에 상당하는 시간과 15T의 차)을 구한다(S89 : 비교수단). 그리고, 기록 펄스의 에지 위치(예를들면, 도11 내지 도14에 도시한 예에서는 3T마크를 기록하기 위한 기록 펄스의 전단 에지)를 상기 차이분만큼 보정한 위치에 결정하고(S90), 그 에지 보정량을 기록 펄스 에지 조정회로(7)에 설정하고(S91), 테스트 기록을 종료한다. 이 방법에 의해 기록 파워를 조정한 경우라도 최적 기록 펄스의 에지 위치에서 정보신호를 기록할 수 있다.
이상에 기술한 바와같이, 본 실시형태에서는 기록 파워를 적정치로 결정하기 위한 테스트 기록을 행한 후에, 기록 파워를 상기 적정치로 설정한 상태에서 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 기록을 행한다. 이에따라, 기록 파워를 조정하여 레이저광의 조사 에너지가 변화한 경우라도 최적 기록 펄스의 에지 위치에서 정보신호를 기록할 수 있다. 이 결과, 더욱 정밀한 정보신호의 기록이 가능해지는 점에서 우수한 효과를 얻을 수 있다.
또한, 본 실시형태에서는 기록 파워를 결정할 때의 에지 위치를 S72에서 소정값으로 설정했는데, 이 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 기록을 행하는 단계를 S72의 전에 추가하면, 기록 펄스의 최적 에지 위치 및 기록 파워를 더욱 정밀하게 결정할 수 있으므로 보다 바람직하다.
또한, 본 실시형태에서 다시 제1 실시형태에서 기술한 바와같이, 기록 개시점 시프트 회로(3)를 설치하고, 기록 개시점을 랜덤하게 시프트하여 복수의 섹터로부터 테스트 신호를 기록 재생하여 기록 펄스의 최적 에지 위치를 결정하는 구성 및 방법을 겸용하면, 기록 마크의 에지 위치를 편차없이 정밀하게 결정하는 테스트 기록이 가능해지는 점에서 보다 바람직하다.
또한, 본 실시형태에서 다시 제2 실시형태에서 기술한 바와같이, 데이터 패턴 생성회로(21)를 설치하고, 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 신호를 기록하는 트랙에 미리 테스트 신호의 패턴과는 상관없는 데이터 패턴을 기록해 두는 구성 및 방법을 겸용하면, 기록 마크의 에지 위치를 편차없이 정밀하게 결정하는 테스트 기록이 가능해지는 점에서 보다 바람직하다.
또한, 본 실시형태에서 다시 후술하는 제5 실시형태와 같이, 극성 반전 제어회로(53), 극성 반전회로(54) 및 선택회로(55)를 설치하고, 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 신호의 기록시에만 기록 데이터 신호의 랜덤 극성 반전을 금지하여 기록하는 구성 및 방법을 겸용하면, 광 디스크의 개서 가능 회수를 향상시키고, 또한 정밀한 정보 신호의 기록이 가능해 지는 점에서 보다 바람직하다.
또한, 최적 기록 파워 및 기록 펄스의 최적 에지 위치를 결정하는 테스트 기록을 행할 때에 본 실시형태의 구성 및 방법을 이용할지, 상술한 제3 실시형태의 구성 및 방법을 이용할지는 기록할 광 디스크의 구조나 기록밀도, 변조방식 등에 따라 선택하면 된다. 예를들면, 에지 위치의 변동에 대해 지터 또는 비트 에러 레이트의 변동이 민감한 광 디스크의 경우, 본 실시형태쪽이 바람직하고, 기록 파워의 변동에 대해 지터 또는 비트 에러 레이트의 변동이 민감한 광 디스크에서는 제3 실시형태쪽이 바람직하다.
또한, 일반적으로 기록 마크의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 기록쪽이 기록 파워를 결정하기 위한 테스트 기록보다 기록 재생장치에 필요한 구성이 복잡해진다. 따라서, 예를들면, 기록 재생장치의 조정시(출하시)에 예를들면 타임 인터벌 분석기 등의 외부 측정기를 이용하여 에지 위치를 결정하는 테스트 기록을 행하고, 그 후는 기록 파워를 결정하는 테스트 기록만을 행하는 경우에는 기록 재생장치의 구성을 간략화할 수 있는 점에서 제3 실시형태쪽이 바람직하다.
(제5 실시형태)
도8은 본 발명의 제5 실시형태에 관한 기록 재생장치의 개략 구성을 도시하는 블록도이다.
본 기록 재생장치는 광 디스크(1)를 이용하여 정보의 기록재생을 행하는 장치이고, 광 디스크(1)를 회전시키는 스핀들 모터(10)와 레이저 광원(도시하지 않음)을 구비하여 광 디스크(1)의 원하는 곳에 레이저광을 집속시키는 광 헤드(9)를 구비하고 있다. 기록 재생장치 전체의 동작은 시스템 제어회로(52)에 의해 제어된다.
본 기록 재생장치는 테스트 기록용 테스트 신호를 생성하는 에지 테스트 신호 생성회로(4)와, 기록할 정보 신호에 따라 2치화된 기록 데이터 신호를 발생시키는 변조회로(5)와, 기록 데이터 신호에따라 레이저를 구동하기 위한 기록 펄스를 발생시키는 기록신호 생성회로(6)와, 기록신호 생성회로(6)가 출력하는 기록 펄스의 에지 위치를 조정하는 기록 펄스 에지 조정회로(7)를 구비하고 있다. 또한, 기록 펄스 에지 조정회로(7)가 출력하는 기록 펄스에 따라 광 헤드(9)내의 레이저 광원(도시하지 않음)을 구동시키는 전류를 변조하기 위한 레이저 구동회로(8)가 설치되어 있다.
또한, 상기 기록 재생장치는 광 디스크(1)로부터 정보 재생을 행하기 위해 광 디스크(1)로부터의 반사광에 따라 재생신호의 파형 처리를 행하는 재생신호 처리회로(11)와, 재생신호의 에지 타이밍을 검출하는 에지 타이밍 검출회로(12)와, 재생정보를 얻기 위한 복조회로(13)를 구비하고 있다.
상기 기록 재생장치는 기록 데이터 신호의 극성을 반전시키는 극성 반전회로(54)와, 변조회로(5) 또는 에지 테스트 신호 생성회로(4)로부터 송출된 신호의 출력선을 기록신호 생성회로(6)와 극성 반전회로(54)사이에서 절환하는 스위치를 내장한 선택회로(55)와, 랜덤 극성반전의 금지 및 해제를 행하는 극성 반전 제어회로(53)를 구비하고 있다.
다음에 도9의 플로우 챠트를 이용하여 본 실시형태의 기록 재생장치의 동작에 대해 설명한다.
테스트 기록시에는 우선 극성 반전 제어회로(53)가 선택회로(55)의 출력을 기록신호 생성회로(6)측에 고정하는 제어를 행하고, 에지 테스트 신호 생성회로(4)로부터의 모든 데이터가 극성 반전회로(54)를 통과하지 않도록 한다(S101). 이에 따라 기록 데이터 신호의 극성 반전이 금지된다.
다음에 광 헤드(9)가 광 디스크(1)상의 소정 트랙을 시크하여(S102), 시스템 제어회로(52)가 레이저 구동회로(8)의 기록 파워를 소정값으로 설정한다(S103). 그리고, 에지 테스트 신호 생성회로(4)가 기록 데이터 신호로서, 선택회로(55)로 테스트 신호를 송출한다(S104), 여기서는 S101에서 선택회로(55)가 기록신호 생성회로(6)측으로 절환되어 있으므로, 에지 테스트 신호 생성회로(4)로부터 송출되는 모든 테스트 신호가 극성 반전회로(54)를 통과하지 않고 기록신호 생성회로(6)로 입력된다.
기록신호 생성회로(6)는 전술의 실시형태와 동일하게 하여 입력된 테스트 신호를 레이저를 구동하기 위한 기록 펄스로 변환한다. 레이저 구동회로(8)는 이 기록 펄스에 따라 레이저의 구동 전류를 변조하고, 테스트 기록을 행하는 해당 섹터에 기록한다(S105).
테스트 신호의 기록후는 광 헤드(9)가 테스트 기록을 행한 섹터를 재생하고(S106), 재생신호 처리회로(11)가 재생신호의 이퀼라이즈 및 2치화를 행한다. 또한, 에지 타이밍 검출회로(12)가 2치화 신호를 슬라이스하고, 신호반전 간격을 검출한다(S107). 검출된 반전 간격에 따라 시스템 제어회로(52)가 기록 마크의 에지 간격을 측정하고, 시스템 제어회로(52)내의 메모리에 측정치를 축적한다(S108).
다음에 시스템 제어회로(기록조건 결정수단)(52)는 메모리에 축적된 에지 간격 측정치의 평균을 산출한다(S109). 시스템 제어회로(52)는 S109에서 산출한 에지 간격과, 테스트 신호 본래의 에지 간격의 차이분(예를들면, 도11 내지 도14에 도시한 테스트 신호의 경우는 산출한 에지 간격에 상당하는 시간과 15T의 차)을 구한다(S110 : 비교수단). 그리고, 기록 펄스의 에지 위치(예를들면, 도11 내지 도14에 도시한 예에서는 3T마크를 기록하기 위한 기록 펄스의 전단 에지)를 상기 차이분만큼 보정한 위치에 결정하고(S111), 그 에지 보정량을 기록 펄스 에지 조정회로(7)에 설정한다(S112).
마지막으로 극성반전 제어회로(53)가 선택회로(55)의 스위치의 절환을 섹터마다 랜덤하게 행할 수 있도록 S101에서 설정한 극성 반전 금지를 해제하고(S113), 테스트 기록을 종료한다.
이 테스트 기록 후에 실제로 정보신호를 기록할 때에는 선택회로(55)의 스위치가 섹터마다 랜덤하게 절환된다. 이에따라, 정보신호는 변조회로(5)로부터 극성반전회로(54)를 경유하여 반전된 상태에서 기록신호 재생회로(6)로 송출되는 반전상태와, 변조회로(5)로부터 극성 반전회로(54)를 경유하지 않고 직접 기록신호 재생회로(6)로 송출되는 비반전 상태중 어느 하나가 섹터마다 랜덤하게 선택된다. 이 결과, 유사한 정보신호를 동일 섹터로 반복 기록한 경우라도 광 디스크(1)의 기록막의 특정 위치에의 손상이 회피되게 된다. 또한, 정보신호의 기록시의 선택회로(55)의 스위치 절환은 섹터마다 한정되지 않고, 오버라이트마다 행해도 된다.
이상에 기술한 바와같이, 본 실시형태에서는 테스트 기록을 행할 때만 기록 데이터 신호의 랜덤 극성 반전을 금지하는 제어를 행함으로써, 기록 마크의 에지 위치를 결정할 때에, 기록 마크의 전단 에지와 후단 에지를 구별할 수 있고, 정밀한 정보신호의 기록이 가능해진다. 또한, 실제로 정보신호를 기록할 때에는 기록 데이터 신호의 극성을 섹터마다 또는 오버라이트마다 랜덤하게 반전하는 제어를 행함으로써, 광 디스크의 개서 가능한 회수를 향상시키는 것이 가능해지는 점에서 우수한 효과를 얻을 수 있다.
또한, S101에서 상기와는 반대로 에지 테스트 신호 생성회로(4)로부터 송출되는 모든 테스트 신호가 극성 반전회로(54)로 보내져 극성 반전되도록, 극성 반전 제어회로(53)가 선택회로(55)의 스위치 절환 제어를 행하도록 해도 된다. 요는 일련의 테스트 기록중에서 기록 데이터 신호의 극성이 항상 동일하면 된다.
또한, 본 실시형태에서는 에지 테스트 신호 생성회로(4)를 구비하고, 테스트 기록에 의해 기록 펄스의 최적 에지 위치를 결정하는 구성 및 방법에 대해 설명했는데, 제3 실시형태와 동일하게 파워 테스트 신호 생성회로(제2 테스트 신호 생성수단)(33)를 더 구비한 구성으로 하고, 시스템 제어회로(제2 기록조건 결정수단)(52)가 기록 파워를 결정하는 구성 및 방법을 겸용해도 된다. 이 경우, 기록 파워를 결정하는 과정에서 극성 반전의 금지를 해제하도록 제어하는 것이 바람직하다. 이것은 기록 파워를 결정하기 위한 테스트 기록에서 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 기록이나 정보신호의 기록보다 높은 기록 파워로 기록을 행할 가능성이 높으므로, 극성 반전을 행함으로써, 테스트 트랙에 반복 기록을 행했을 때의 기록막이 약해지는 것을 억제할 수 있기 때문이다.
또한, 본 실시형태에서 제1 실시형태에 기술한 바와같이, 기록 개시점 시프트 회로(3)를 설치하고, 기록 개시점을 랜덤하게 시프트하여 다수 섹터로부터 테스트 신호를 기록 재생하여 기록 펄스의 최적 에지 위치를 결정하는 구성 및 방법을 겸용하면, 기록 마크의 에지 위치를 편차없이 정밀하게 결정하는 테스트 기록이 가능해지는 점에서 보다 바람직하다.
또한, 본 실시형태에서 다시 제2 실시형태에 기술한 바와같이, 데이터 패턴 생성회로(21)를 설치하고, 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 신호를 기록하는 트랙에 미리 테스트 신호의 패턴과는 상관없는 데이터 패턴을 기록해 두는 구성 및 방법을 겸용하면, 기록 마크의 에지 위치를 편차없이 정밀하게 결정하는 테스트 기록이 가능해지는 점에서 보다 바람직하다.
(제6 실시형태)
본 발명의 제6 실시형태는 상기한 제1 실시형태에서 도1에 도시한 구성의 기록 재생장치를 이용하는데, 광 디스크(1)로서 Z-CLV 포맷의 광 디스크를 이용한다. 이하, 도10의 플로우 챠트 및 도1을 이용하여 본 실시형태의 기록 재생장치의 동작에 대해 설명한다.
테스트 기록시에는 우선 광 헤드(9)가 광 디스크(1)상의 기록 영역 중 어느 하나의 존의 최내주 부근의 트랙을 시크하여(S21), 시스템 제어 회로(2)가 레이저 구동 회로(8)의 기록 파워를 소정치로 설정한다(S122). 그리고 에지 테스트 신호 생성회로(4)가 테스트 신호를 기록 데이터 신호로서 기록신호 생성회로(6)로 송출한다(S123). 기록신호 생성회로(6)는 이 기록 데이터 신호를 기록 펄스로 변환시키고, 레이저 구동회로(8)가 광 헤드(9)의 레이저 광원(도시하지 않음)의 구동 전류를 변조함으로써, 해당 섹터에 테스트 기록을 행한다(S124).
테스트 신호의 기록 후는 광 헤드(9)가 테스트 기록을 행한 섹터를 재생하고(S125), 재생신호 처리회로(11)가 재생신호의 이퀼라이즈 및 2치화를 행한다. 그리고, 에지 타이밍 검출회로(12)가 2치화 신호를 슬라이스하고, 신호 반전 간격을 검출함으로써(S126), 기록 마크의 에지 간격을 측정하고, 시스템 제어 회로(2)내의 메모리(도시하지 않음)에 측정치를 축적한다(S127). 또한, 시스템 제어회로(2)가 메모리에 축적된 측정치로부터 에지 간격의 평균치를 산출한다(S128).
그리고, 시스템 제어 회로(2)가 S128에서 산출한 에지 간격과 테스트 신호 본래의 에지 간격과의 차이분(예를들면, 도11 내지 도14에 도시한 테스트 신호의 경우는 산출한 에지 간격에 상당하는 시간과 15T와의 차)을 구한다(S129). 그리고, 기록 펄스의 에지 위치(예를들면, 도11 내지 도14에 도시한 예에서는 3T 마크를 기록하기 위한 기록 펄스의 전단 에지)를 상기 차이분만큼 보정한 위치에 결정하고(S130), 그 에지 보정량을 기록 펄스 에지 조정회로(7)에 설정한다(S131).
다음에 본 실시형태의 효과를 높히기 위해 행한 비교실험에 대해 설명한다. 본 실험에서 비트 에러 레이트를 측정하는 대신에 타임 인터벌 분석기에 의해 재생신호의 지터를 측정했다. 또한, 재생신호의 에지 타이밍 검출에도 타임 인터벌 아날라이저를 사용했다.
본 실험에서 이용한 광 디스크(1) 기판의 존 포맷을 표1에 표시한다. 이 포맷에서는 반경 25.0mm∼50mm까지의 기록 영역(즉, 실제로 정보 신호를 기록하는 영역)을 10존으로 분할하고, 각 존에서 회전수가 일정한 Z-CLV 포맷으로 했다. 전체 기록 영역에 걸쳐 클록 주기는 동일하다. 본 실시형태에서는 각 존의 최내주에서 선속도가 동일해 지는 포맷으로 했는데, 선속도는 반드시 각 존의 최내주에서 동일하지 않아도 된다.
<표1>
광 디스크(1) 기판에는 직경 120mm, 두께 0.6mm의 폴리카보네이트 수지를 이용했다. 이 수지 기판에는 요철 형상의 위상 비트를 어드레스 정보로서 프리 포맷하고, 섹터 영역에는 기록용 트랙을 형성했다. 트랙 피치는 1.2㎛이다. 기판상에 보호막, 상변화 기록막, 보호막, 및 반사막을 스퍼터링법에 의해 성막하고, 그 위에 보호 기판을 접착했다.
보호막으로서 ZnS-SiO2, 상변화 기록막으로서 Te-Sb-Ge, 반사막으로서 Al을 이용했다. 그리고, 스핀들 모터(10)에 의해 이 광 디스크(1)를 표1에 기재한 회전수로 회전시키고, 파장 660nm의 레이저광을 개구수(NA) 0.6의 대물 렌즈로 집속시켜 기록 재생을 행했다. 스폿 사이즈의 반치 전폭은 0.62㎛이다.
테스트 기록시의 레이저광의 파워는 Pp=11mW, Pb=5mW, Pr=1mW로 했다. 기록정보의 변조방식은 DVD로 이용되는 (8-16) 펄스 변조폭을 이용했다. 최단인 3T의 마크 길이는 0.42㎛로 했다.
정보신호의 기록에 앞서, 제0 존의 최내주 부근의 트랙에서 테스트 기록을 행하고, 기록 펄스의 에지 위치를 결정했다. 결정방법은 제1 실시형태에서 도2의 플로우 챠트에 도시한 순서에 따랐다.
단, 기록 펄스의 에지 위치의 전단은 기록할 마크 길이(3T 마크, 4T 마크, 5T이상의 마크)와, 마크 직전의 스페이스 길이(3T 스페이스, 4T 스페이스, 5T 이상의 스페이스)의 9개의 조합에 대해 각각 결정했다. 또한, 기록 펄스의 에지 위치의 후단은 기록할 마크 길이(3T 마크, 4T 마크, 5T 이상의 마크)와 직후 스페이스 길이(3T 스페이스, 4T 스페이스, 5T 이상의 스페이스)의 9개 조합에 대해 결정했다.
에지 위치의 조정 정밀도는 0.5ns이다.
3T 마크, 4T 마크 및 5T 이상의 마크에서 에지 위치의 조정치를 각각 별도로 한 것은 3T 마크 및 4T 마크에서 소위 필끝(筆先) 기록의 상태가 되므로, 스폿 사이즈에 대해 마크 길이가 작아지므로, 에지 위치를 5T 이상의 마크 길이의 경우와 다르게할 필요가 있기 때문이다. 3T 스페이스, 4T 스페이스 및 5T 이상의 스페이스에서 에지 위치의 조정치를 변화시킨 것은 3T 스페이스, 4T 스페이스에서는 마크간의 열간섭의 영향을 무시할 수 없기 때문이다.
다음에, 이 테스트 기록에서 결정한 기록 펄스의 에지 위치에 따라 제0 존 최내주(즉, 반경 25.0mm) 부근의 트랙과 최외주 부근의 트랙에서(8-16) 펄스폭 변조의 랜덤 정보 신호를 10회 오버라이트 기록하고, 재생신호의 지터를 측정했다.
다음에 상기와 동일하게 제0 존의 최외주(즉 반경 27.5mm) 부근의 트랙에서 테스트 기록하고, 기록 펄스의 에지 위치를 결정했다. 그리고, 이 테스트 기록에서 기록한 기록 펄스의 에지 위치에 따라 제0 존의 최내주 부근의 트랙과 최외주 부근의 트랙에서(8-16) 펄스폭 변조의 랜덤 정보 신호를 10회 오버라이트 기록하고, 재생신호의 지터를 측정했다. 이상의 지터 측정결과를 표2에 표시한다.
<표2>
표2에 표시하는 바와같이, 존의 최내주 부근 및 존의 최외주 부근중 어느 한쪽 트랙에서 테스트 기록을 행해도 랜덤 정보 신호의 지터는 존의 최외주 부근쪽이 좋아지는 것을 알 수 있었다. 이것은 존의 최외주쪽이 기록선 밀도가 낮기 때문이다. 예를들면, 표1에 표시되는 바와같이, 제0 존에서는 최외주 최단 마크 길이는 최내주의 1.1 배이다.
또한, 존의 최내주에서 테스트 기록을 행하고, 최외주에서 랜덤 정보 신호를 기록했을 때의 지터는 존의 최외주에서 테스트 기록을 행하고, 최외주에서 랜덤 정보신호를 기록했을 시의 지터와 거의 동등한다. 한편, 존의 최외주에서 테스트 기록을 행하고, 최내주에서 랜덤 정보신호를 기록했을 시의 지터는 존의 최내주에서 테스트 기록을 행하고, 최내주에서 랜덤 정보신호를 기록했을 때의 지터보다 약 1% 증가했다.
그 이유는 이하와 같이 생각할 수 있다. 존의 최외주에서는 기록선밀도가 낮으므로, 테스트 기록했을 시에, 기록 펄스의 에지 위치의 어긋남에 대한 지터값의 변화도가 작다. 이 때문에, 테스트 기록에 의한 에지 위치의 조정시에 조정 오차가 발생하기 쉽고, 그 영향이 최내주에 기록했을 시의 지터치의 증가로서 나타난다고 추측할 수 있다.
이상에 기술한 바와같이, 본 실시형태에서는 Z-CLV 디스크의 각 존의 최내주 트랙의 정보신호의 기록선밀도와 대략 같은 기록선밀도로 테스트 신호를 기록하고, 기록 펄스의 에지 위치를 결정함으로써, 각 존의 최내주에서 최외주에 걸쳐 양호한 지터(또는 비트 에러 레이트)를 얻을 수 있고, 정밀한 정보신호의 기록이 가능해 지는 점에서 우수한 효과를 얻을 수 있다.
또한, 본 실시형태에서는 광 디스크의 기록영역, 즉 정보신호를 기록하는 영역의 존 내의 최내주 부근에서 테스트 기록을 행했는데, 광 디스크의 적어도 하나의 존의 최내주 부근의 영역을 테스트 기록용 영역으로서 설치하고, 그 영역에 테스트 기록을 해도 된다.
또한, 표3에 표시하는 바와같이, 광 디스크상에서의 기록영역보다 내주측 및 외주측에 테스트 기록용 영역을 설치하고, 그 영역의 기록선밀도를 각 존의 최내주의 기록선밀도와 대략 동등한 기록선밀도로 해도 동일한 효과를 얻을 수 있다.
<표3>
또한, 본 실시형태에서는 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 기록에 대해 설명했는데, 기록 파워를 결정하기 위한 테스트 기록에 대해서도 기록영역의 각 존의 최내주 트랙의 정보 신호의 기록선밀도와 대략 동등한 기록선밀도로 테스트 기록을 행하면, 각 존의 최내주로부터 최외주에 걸쳐 최적 기록 파워를 설정할 수 있고, 정밀한 정보신호의 기록이 가능해지는 효과를 얻을 수 있다.
또한, 본 실시형태에서 제1 실시형태에서 기술한 바와같이, 기록 개시점 시프트 회로(3)를 설치하고, 기록 개시점을 랜덤하게 시프트하여 다수의 섹터로부터 테스트 신호를 기록 재생하여 기록 펄스의 최적 에지 위치를 결정하는 구성 및 방법을 겸용하면, 기록 마크의 에지 위치를 편차없이 정밀하게 결정하는 테스트 기록이 가능해지는 점에서 보다 바람직하다.
또한, 본 실시형태에서 다시 제2 실시형태에서 기술한 바와같이, 데이터 패턴 생성회로(21)를 설치하고, 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 신호를 기록하는 트랙에 미리 테스트 신호의 패턴과 상관없는 데이터 패턴을 기록해 두는 구성 및 방법을 겸용하면, 기록 마크의 에지 위치를 편차없이 정밀하게 결정하는 테스트 기록이 가능해지는 점에서 보다 바람직하다.
또한, 본 실시형태에 있어서, 다시 제5 실시형태와 같이, 극성 반전 제어회로(53), 극성 반전회로(54) 및 선택회로(55)를 설치하고, 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위한 테스트 신호의 기록시만, 기록 데이터 신호의 랜덤 극성 반전을 금지하여 기록하는 구성 및 방법을 겸용하면, 광 디스크의 개서 가능한 회수를 향상시키고, 또한 정밀한 정보신호의 기록이 가능해지는 점에서 보다 바람직하다.
또한, 상기 제1 내지 제6 실시형태에서 테스트 기록을 행하는 것이 바람직한 타이밍은 적어도 기록 재생장치의 조정시, 기록 재생장치의 기동시, 상기 기동시부터 일정 시간 경과했을 시, 광 디스크의 교환시, 광 디스크의 비트 에러 레이트가 소정 값을 넘었을 시, 사용환경의 온도가 변화했을 시이다.
기록재생장치의 조정시에 테스트 기록을 행함으로써, 기록 재생장치간의 변동 요소를 보상할 수 있다. 또한, 기록 재생장치의 기동시, 및 상기 기동시부터 일정 시간 경과했을시에 테스트 기록을 행함으로써, 기록 재생장치 자체의 변동 요소를 보상할 수 있다. 또한, 광 디스크의 변환시에 테스트 기록을 행함으로써, 광 디스크간의 변동요소를 보상할 수 있다. 또한, 광 디스크의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때에 테스트 기록을 행함으로써, 광 디스크 자체의 변동요소를 보상할 수 있다. 또한, 사용환경의 온도가 변화했을 때에 테스트 기록을 행함으로써, 기록 재생장치 및 광 디스크의 온도 의존성에 기인하는 변동 요소를 보상할 수 있다.
또한, 상기 제1∼제6 실시형태에서는 기록 펄스의 에지 위치 결정에 특정 테스트 신호를 기록하여 재생신호의 에지 간격을 측정하는 구성 및 방법을 이용했는데, 에지 위치를 변화시킨 다수 종류의 테스트 신호(예를들면 다수 종류의 랜덤 신호)를 기록하여 비트 에러 레이트(또는 지터)를 측정하고, 비트 에러 레이트(또는 지터)가 최소로 된 테스트 신호로 설정한 기록 펄스의 에지 위치를 최적치로서 결정하는 구성 및 방법으로도 동일한 효과를 얻을 수 있다.
또한, 상기 제1∼제6 실시형태에서는 기록 펄스의 에지 위치를 결정하기 위해, 어느 특정 테스트 신호를 기록하여 측정한 기록 마크의 에지 간격과 최적 에지 간격의 차이를 에지 위치 조정회로로 보정하는 구성 및 방법으로 했다. 그러나, 기록 펄스의 에지 위치를 단계적으로 변화시킨 다수 종류의 테스트 신호를 기록하여 각각의 테스트 신호에 대해 기록 마크의 에지 간격을 측정하고, 최적 에지 간격이 얻어진 테스트 신호의 기록 펄스의 에지 위치를 최적치로서 에지 위치 조정회로로 설정하는 구성 및 방법으로도 동일한 효과를 얻을 수 있다.
또한, 상기 제1∼제6 실시형태에서는, 기록 마크의 에지 간격의 측정을 에지 타이밍 검출회로에서 행하고, 측정한 에지 간격의 축적 및 평균치의 산출을 시스템 제어 회로에서 행했는데, 이들 처리를 예를들면 타임 인터벌 분석기 등의 본 기록 재생장치의 외부 측정기로 행해도 된다.
또한, 상기 제1∼제6 실시형태에서 테스트 신호를 발생시키기 위해 테스트 신호 생성회로를 설치했는데, 시스템 제어회로로부터 특정 정보신호를 발생시켜 변조시킨 신호를 테스트 신호로 해도 된다. 이에 따라, 테스트 신호 생성회로를 별도로 설치할 필요가 없어지므로, 장치의 소형화를 도모할 수 있다. 또한, 이 테스트 신호에 에러 정정 부호의 부가나 인터 리브 처리가 행해져도 되고, 비트 에러 레이트는 복조 및 에러 정정후에 측정되는 것이어도 된다.
또한, 상기 광 디스크의 층수, 구성이나 재료는 상기에 한정되지 않고, 광 자기 재료나 색소 재료 등, 기록 마크와 비마크부에서 광학적 특성이 다른 매체이면 어떠한 것이라도 상기 방법을 적용시킬 수 있다. 그러나, 기록막으로서 상변화 재료를 이용한 광 디스크이면, 결정 비정질간에서 광학적인 흡수가 다르므로, 상기 테스트 기록 방법으로 특히 큰 효과를 얻을 수 있다.
또한, 상기 기록 파워, 선속도, 변조방식, 기록 밀도, 각 펄스의 길이ㆍ위치, 테스트 신호의 패턴 등은 본 실시형태에서 도시한 것에 한정되지 않고, 기록 조건이나 매체에 따라 적절한 것을 설정하는 것이 가능한 것은 말할 것도 없다. 또한, 비트 에러 레이트의 측정은 지터 측정으로 바꿔도 되고, 지터의 측정은 비트 에러 레이트의 측정으로 바꿔도 된다.

Claims (96)

  1. 개서 가능한 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에, 상기 광학적 정보 기록매체에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성수단과,
    테스트 신호 및 정보 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 광학적 정보 기록매체에 기록하는 기록수단과,
    상기 광학적 정보 기록매체의 테스트 기록의 개시점을 섹터마다 랜덤하게 으로 시프트시키는 기록 개시점 시프트 수단과,
    상기 광학적 정보 기록매체로부터 신호를 재생하는 재생 수단과,
    상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록수단에 상기 테스트 신호를 공급시키고, 상기 광학적 정보 기록매체의 다수의 섹터에 테스트 기록을 행하게 한 후, 상기 재생수단에 상기 다수의 섹터로부터 상기 테스트 신호를 재생시킨 결과의 평균에 따라 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스 에지 위치를 결정하는 기록 조건 결정수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록장치의 조정시, 상기 광학적 정보 기록장치의 기동시, 상기 기동시부터 소정 시간 경과했을 시, 상기 광학적 정보 기록매체의 교환시, 상기 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때, 및 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 시의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 실행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  4. 개서 가능한 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에, 상기 광학적 정보 기록매체에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성수단과,
    테스트 신호 및 정보 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 광학적 정보 기록매체에 기록하는 기록수단과,
    상기 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 생성하는 데이터 패턴 생성수단과,
    상기 광학적 정보 기록매체로부터 신호를 재생하는 재생수단과,
    데이터 패턴 생성수단으로부터 상기 기록수단에 데이터 패턴을 공급시켜 상기 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하는 영역에 기록시킨 후에 상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록수단에 테스트 신호를 공급시켜 상기 영역에 오버라이트시키고, 상기 재생수단이 상기 영역으로부터 상기 테스트 신호를 재생한 결과에 따라, 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치의 보정치를 결정하는 기록조건 결정수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  5. 제4항에 있어서, 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 및 오버 라이트마다 적어도 한쪽 타이밍에서 랜덤하게 시프트시키는 기록 개시점 시프트 수단을 더 구비하고, 적어도 상기 테스트 신호에 대해 기록 개시점을 랜덤하게 시프트시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  6. 제4항에 있어서, 상기 데이터 패턴이 랜덤 패턴인 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  7. 제4항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록장치의 조정시, 상기 광학적 정보 기록장치의 기동시, 상기 기동시부터 소정 시간 경과했을 시, 상기 광학적 정보 기록매체의 교환시, 상기 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때, 및 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 시의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 실행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  8. 제4항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  9. 개서 가능한 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에, 상기 광학적 정보 기록매체에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성수단과,
    테스트 신호 및 정보 신호를 기록 데이터 신호로 변환시키고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 기록모드 및 상기 광원을 구동시켜 소정 소거 파워로 상기 광학적 정보 기록매체에 광을 조사시킴으로써 상기 광학적 정보 기록매체로부터 정보를 소거하는 소거 모드 중 어느 하나로 동작하는 기록ㆍ소거수단과,
    상기 광학적 정보 기록매체로부터 신호를 재생하는 재생수단과,
    상기 기록ㆍ소거수단을 상기 소거 모드로 동작시켜 상기 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하는 영역의 정보를 소거시킨 후에, 상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록ㆍ소거수단을 기록 모드로 동작시켜 상기 테스트 신호 생성수단으로부터 공급시킨 테스트 신호를 상기 영역에 기록시키고, 상기 재생수단이 상기 영역으로부터 상기 테스트 신호를 재생시킨 결과에 따라, 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치의 적정값을 결정하는 기록조건 결정수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록장치의 조정시, 상기 광학적 정보 기록장치의 기동시, 상기 기동시부터 소정 시간 경과했을 시, 상기 광학적 정보 기록매체의 교환시, 상기 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때, 및 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 시의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 실행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  11. 제9항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  12. 개서 가능한 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에, 상기 광학적 정보 기록매체에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록방법에 있어서,
    (a) 테스트 신호를 생성하는 단계와,
    (b) 상기 생성한 테스트 신호의 광학적 정보 기록매체로의 테스트 기록의 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트하는 단계와,
    (c) 상기 램덤으로 시프트한 테스트 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 상기 광학적 정보 기록매체의 다수의 섹터에 테스트 기록하는 단계와,
    (d) 상기 광학적 정보 기록매체의 상기 다수의 섹터로부터 상기 단계(c)에서 기록된 테스트 신호를 재생하는 단계와,
    (e) 상기 테스트 신호를 재생한 결과의 평균을 산출하는 단계와,
    (f) 상기 산출한 평균에 따라 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  14. 제12항 기재의 광학적 정보 기록방법에 의해 광학적 정보 기록매체에 정보 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    상기 기록 재생장치의 조정시, 상기 기록 재생장치의 기동시, 상기 기동시부터 일정 시간 경과했을 시, 광학적 정보 기록매체의 교환시, 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 시, 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 시의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 실행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  15. 개서 가능한 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에, 상기 광학적 정보 기록매체에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록방법에 있어서,
    (a) 상기 테스트 기록에 이용하는 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 생성하는 단계와,
    (b) 상기 생성한 데이터 패턴을 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 광학적 정보 기록매체에서 상기 테스트 기록을 행하는 영역에 기록하는 단계와,
    (c) 상기 테스트 신호를 생성하는 단계와,
    (d) 상기 생성한 테스트 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 상기 광학적 정보 기록매체에서 상기 영역에 오버라이트하는 단계와,
    (e) 상기 광학적 정보 기록매체의 상기 영역으로부터 상기 단계(d)에서 오버 라이트한 테스트 신호를 재생하는 단계와,
    (f) 상기 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  16. 제15항에 있어서, 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트하는 단계를 더 포함하고, 상기 단계에서, 적어도 상기 테스트 신호에 대해 기록 개시점을 랜덤하게 시프트하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  17. 제15항에 있어서, 상기 데이터 패턴이 랜덤 패턴인 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  18. 제15항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  19. 제15항 기재의 광학적 정보 기록방법에 의해 광학적 정보 기록매체에 정보 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    상기 기록 재생장치의 조정시, 상기 기록 재생장치의 기동시, 상기 기동시부터 일정 시간 경과했을 시, 광학적 정보 기록매체의 교환시, 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 시, 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 시의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 실행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  20. 개서 가능한 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에, 상기 광학적 정보 기록매체에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록방법에 있어서,
    (a) 광원을 구동시켜 소정 소거 파워로 광학적 정보 기록매체에 광을 조사시킴으로써 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 테스트 기록을 행하는 영역의 정보를 소거하는 단계와,
    (b) 테스트 신호를 생성하는 단계와,
    (c) 상기 생성한 테스트 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 상기 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하는 영역에 기록하는 단계와,
    (d) 상기 광학적 정보 기록매체의 상기 영역으로부터 상기 단계(c)에서 기록한 테스트 신호를 재생하는 단계와,
    (e) 상기 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  21. 제20항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  22. 제20항 기재의 광학적 정보 기록방법에 의해 광학적 정보 기록매체에 정보 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    상기 기록 재생장치의 조정시, 상기 기록 재생장치의 기동시, 상기 기동시부터 일정 시간 경과했을 때, 광학적 정보 기록매체의 교환시, 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때, 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 시의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  23. 개서 가능한 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성수단과,
    상기 에지 테스트 신호, 파워 테스트 신호 및 정보신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 광학적 정보 기록매체에 기록하는 기록수단과,
    상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치를 조정하는 기록 펄스 에지 조정수단과,
    상기 광학적 정보 기록매체로부터 신호를 재생하는 재생수단과,
    상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록수단에 에지 테스트 신호를 공급시켜 상기 광학적 정보 기록매체에 기록시키고, 상기 재생수단이 상기 광학적 정보 기록매체로부터 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 대해 상기 기록 펄스의 에지 위치의 설정치를 결정하는 제1 기록조건 결정수단과,
    상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록수단에 파워 테스트 신호를 공급시켜 상기 광학적 정보 기록매체에 기록시키고, 상기 재생수단이 상기 광학적 정보 기록매체로부터 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라, 상기 기록수단에 대해 상기 광원의 기록 파워 설정치를 결정하는 제2 기록조건 결정수단을 구비하고,
    상기 제1 기록조건 결정수단은 설정치가 초기치인 기록 파워로 기록된 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라, 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 대해 상기 기록 펄스 에지 위치의 적정치를 결정하고,
    상기 제2 기록조건 결정수단은 상기 제1 기록조건 결정수단에 의해 결정된 설정치가 상기 적정치인 기록 펄스의 에지 위치에서 기록된 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록수단에 대해 상기 광원의 기록 파워의 적정치를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  24. 제23항에 있어서, 상기 에지 테스트 신호의 테스트 기록을 행할 시에, 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 기록 개시점 시프트 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  25. 제23항에 있어서, 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 생성하는 데이터 패턴 생성수단을 더 구비하고, 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호를 기록하는 상기 광학적 정보 기록매체의 영역에 상기 에지 테스트 신호의 테스트 기록에 앞서 상기 기록수단에 상기 데이터 패턴을 기록시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  26. 제23항에 있어서, 상기 제1 기록조건 결정수단은 상기 기록 펄스 에지 위치의 적정치를 결정하기 위해, 상기 에지 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  27. 제23항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제1 기록조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 최소로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  28. 제23항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 파워 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제2 기록조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 소정 값 이하로 되는 기록 파워 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  29. 제23항에 있어서, 상기 제2 기록조건 결정수단은 설정치가 소정치인 기록 펄스의 에지 위치에 기록된 상기 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라, 상기 기록수단에 대해 상기 광원의 기록 파워의 상기 초기치를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  30. 제29항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 파워 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제2 기록조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 파워 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하고, 상기 적정치를 기록 파워의 상기 초기치로서 이용하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  31. 제23항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록장치의 조정시, 상기 기록 재생장치의 기동시, 상기 기동시부터 소정 시간 경과했을 때, 광학적 정보 기록매체의 교환시, 상기 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때, 및 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 시의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 실행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  32. 제23항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  33. 개서 가능한 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록방법에 있어서,
    (a) 광원의 기록 파워를 초기치로 설정하고, 에지 테스트 신호를 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계와,
    (b) 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(a)에서 기록된 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 단계와,
    (c) 기록 펄스의 에지 위치를 상기 단계(b)에서 결정된 적정치로 설정하고, 파워 테스트 신호를 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계와,
    (d) 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(c)에서 기록된 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  34. 제33항에 있어서, 상기 단계(a)에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  35. 제33항에 있어서, 상기 단계(a)전에, 상기 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하는 영역에 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  36. 제33항에 있어서, 상기 단계(b)가 상기 에지 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  37. 제33항에 있어서, 상기 단계(b)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 최소로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  38. 제33항에 있어서, 상기 단계(d)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 파워 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 파워의 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  39. 제33항에 있어서, 상기 단계(a)에 앞서,
    (e-1) 기록 펄스의 에지 위치를 소정 값으로 설정하고, 상기 파워 테스트 신호를 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계와,
    (e-2) 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(e-1)에서 기록된 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 단계를 더 포함하고,
    상기 단계(e-2)에서 결정된 기록 파워의 적정치를 상기 단계(a)에서 기록 파워의 초기치로서 이용하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  40. 제39항에 있어서, 상기 단계(e-2)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 파워 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 파워값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  41. 제33항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  42. 제33항 기재의 광학적 정보 기록방법에 의해 광학적 정보 기록매체에 정보 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    상기 기록 재생장치의 조정시, 상기 기록 재생장치의 기동시, 상기 기동시부터 일정 시간 경과했을 때, 광학적 정보 기록매체의 교환시, 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 시, 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 시의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  43. 개서 가능한 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성수단과,
    상기 에지 테스트 신호, 파워 테스트 신호 및 정보 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 기록수단과,
    상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치를 조정하는 기록 펄스 에지 조정수단과,
    상기 광학적 정보 기록매체로부터 신호를 재생하는 재생수단과,
    상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록수단에 상기 에지 테스트 신호를 공급시켜 상기 광학적 정보 기록매체에 기록시키고, 상기 재생수단이 상기 광학적 정보 기록매체로부터 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 대해 상기 기록 펄스 에지 위치의 설정치를 결정하는 제1 기록조건 결정수단과,
    상기 테스트 신호 생성수단으로부터 상기 기록수단에 파워 테스트 신호를 공급시켜 상기 광학적 정보 기록매체에 기록시키고, 상기 재생수단이 상기 광학적 정보 기록매체로부터 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라, 상기 기록수단에 대해 상기 광원 기록 파워의 설정치를 결정하는 제2 기록조건 결정수단을 구비하고,
    상기 제2 기록조건 결정수단은 설정치가 초기치인 기록 펄스의 에지 위치에 기록된 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록수단에 대해 상기 광원의 기록 파워 적정치를 결정하고,
    상기 제1 기록조건 결정수단은 상기 제2 기록조건 결정수단에 의해 결정된 설정치가 상기 적정치인 기록 파워로 기록된 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 대해 상기 기록 펄스 에지 위치의 적정치를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  44. 제43항에 있어서, 상기 에지 테스트 신호의 테스트 기록을 행할 시에 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 기록 개시점 시프트 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  45. 제43항에 있어서, 상기 에지 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 생성하는 데이터 패턴 생성수단을 더 구비하고, 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호를 기록하는 상기 광학적 정보 기록매체의 영역에, 상기 에지 테스트 신호의 테스트 기록에 앞서 상기 기록수단에 상기 데이터 패턴을 기록시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  46. 제43항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 파워 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제2 기록 조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 소정값 이하로 되는 기록 파워의 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  47. 제43항에 있어서, 상기 제1 기록조건 결정수단은 상기 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하기 위해, 상기 에지 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  48. 제43항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제1 기록 조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 최소로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  49. 제43항에 있어서, 상기 제1 기록조건 결정수단은 설정치가 소정치인 기록 파워로 기록된 상기 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 대해 상기 기록 펄스의 에지 위치의 상기 초기치를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  50. 제49항에 있어서, 상기 에지 테스트 신호의 테스트 기록을 행할 시에, 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 기록 개시점 시프트 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  51. 제49항에 있어서, 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 생성하는 데이터 패턴 생성수단을 더 구비하고, 상기 에지 테스트 신호 및 파워 테스트 신호를 기록하는 상기 광학적 정보 기록매체의 영역에, 상기 에지 테스트 신호의 테스트 기록에 앞서 상기 기록수단에 상기 데이터 패턴을 기록시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  52. 제49항에 있어서, 상기 제1 기록조건 결정수단은 상기 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하기 위해 상기 에지 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  53. 제49항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제1 기록 조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하고, 상기 결정된 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 상기 초기치로서 이용하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  54. 제43항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록장치의 조정시, 상기 광학적 정보 기록장치의 기동시, 상기 기동시부터 소정 시간이 경과했을 때, 상기 광학적 정보 기록매체의 교환시, 상기 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때, 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 시의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 실행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  55. 제43항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  56. 개서 가능한 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록방법에 있어서,
    (a) 기록 펄스의 에지 위치를 초기치로 설정하고, 파워 테스트 신호를 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계와,
    (b) 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(a)에서 기록된 파워 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 광원의 기록 파워의 적정치를 결정하는 단계와,
    (c) 상기 단계(b)에서 결정된 기록 파워에 따라 상기 광학적 정보 기록매체에 에지 테스트 신호를 기록하는 단계와,
    (d) 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(c)에서 기록된 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  57. 제56항에 있어서, 상기 단계(c)에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  58. 상기 단계(c)전에 상기 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하는 영역에 상기 에지 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  59. 제56항에 있어서, 상기 단계(b)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 파워 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 소정 값 이하로 되는 기록 파워의 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  60. 제56항에 있어서, 상기 단계(d)가 상기 에지 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  61. 제56항에 있어서, 상기 단계(d)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 최소로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  62. 제56항에 있어서, 상기 단계(a)에 앞서,
    (e-1) 기록 파워를 소정치로 설정하고, 에지 테스트 신호를 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계와,
    (e-2) 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(e-1)에서 기록된 에지 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 단계를 더 포함하고,
    상기 단계(e-2)에서 결정된 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 상기 단계(a)의 기록 펄스의 에지 위치의 초기치로서 이용하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  63. 제62항에 있어서, 상기 단계(e-1)에서 상기 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  64. 제62항에 있어서, 상기 단계(e-1)전에 상기 광학적 정보 기록매체에서 테스트 기록을 행하는 영역에 상기 에지 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  65. 제62항에 있어서, 상기 단계(e-2)가 상기 에지 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  66. 제62항에 있어서, 상기 단계(e-2)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 에지 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생 신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 최소로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  67. 제56항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  68. 제56항 기재의 광학적 정보 기록방법에 의해 광학적 정보 기록매체에 정보 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    상기 기록 재생장치의 조정시, 상기 기록 재생장치의 기동시, 상기 기동시부터 소정 시간이 경과했을 때, 광학적 정보 기록매체의 교환시, 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때, 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 때의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  69. 개서 가능한 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에 상기 광학적 정보 기록매체에 대해 테스트 신호를 이용한 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성 수단과,
    테스트 신호 및 정보 신호를 기록 데이터 신호로 변환하고, 상기 기록 데이터 신호에 따라 광원을 구동시켜 광학적 정보 기록매체에 기록을 행하는 기록수단과,
    상기 기록 데이터 신호의 극성을 반전하는 극성 반전수단과,
    상기 테스트 기록을 행할 때에는 상기 테스트 신호로부터 변환된 기록 데이터 신호의 반전신호 및 비반전신호 중 어느 하나만을 상기 기록수단에 공급하고, 상기 정보신호를 기록할 때에는 상기 정보신호로부터 변환된 기록 데이터 신호의 반전신호 및 비반전 신호 중 어느 하나를 섹터마다 랜덤하게 선택하여 상기 기록수단에 공급하는 극성 반전 제어수단과,
    상기 기록 데이터 신호의 기록 펄스의 에지 위치를 조정하는 기록 펄스 에지 조정수단과,
    상기 광학적 정보 기록매체로부터 신호를 재생하는 재생수단과,
    상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 재생수단에 상기 테스트 신호를 재생시킨 결과에 따라 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하고, 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 공급하는 기록조건 결정수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  70. 제69항에 있어서, 기록 데이터 신호의 기록 개시점을 상기 광학적 정보 기록매체상에서 섹터마다 랜덤하게 시프트하는 기록 개시점 시프트 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  71. 제69항에 있어서, 상기 테스트 신호와는 상관없는 데이터 패턴을 발생시키는 데이터 패턴 발생수단을 더 구비하고, 테스트 기록을 행하기 전에 테스트 기록을 행하는 트랙에 상기 데이터 패턴을 기록하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  72. 제69항에 있어서, 상기 기록조건 결정수단은 상기 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하기 위해 상기 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  73. 제69항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 기록조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  74. 제69항에 있어서, 상기 제2 테스트 신호를 생성하는 제2 테스트 신호 생성수단과,
    상기 제2 테스트 신호 생성수단으로부터 공급되며, 상기 극성 반전 제어수단에 의해 섹터마다 랜덤하게 선택된 제2 테스트 신호의 반전신호 및 비반전 신호 중 어느 하나의 기록 펄스의 에지 위치를 상기 기록 펄스 에지 조정수단에 의해 상기 적정치로 설정하여 상기 광학적 정보 기록매체에 기록시키고, 상기 재생수단이 상기 광학적 정보 기록매체로부터 제2 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 상기 기록수단에 대해 상기 광원의 기록 파워의 적정치를 결정하는 제2 기록조건 결정수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  75. 제74항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 제2 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 수단을 더 구비하고, 상기 제2 기록조건 결정수단은 상기 측정수단에 의해 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 파워의 값에 따라 기록 파워의 상기 적정치를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  76. 제69항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록장치의 조정시, 상기 광학적 정보 기록장치의 기동시, 상기 기동시부터 소정 시간이 경과했을 때, 상기 광학적 정보 기록매체의 교환시, 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때, 및 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 때의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 실행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  77. 제69항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  78. 개서 가능한 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록방법에 있어서,
    (a) 제1 테스트 신호의 극성을 반전할지 여부를 랜덤하게 결정하고, 상기 제1 테스트 신호의 반전신호 및 비반전 신호 중 어느 한쪽만을 광학적 정보 기록매체의 소정 트랙에 테스트 기록할 단계와,
    (b) 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(a)에서 기록된 제1 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 펄스의 에지 위치의 적정치를 결정하는 단계와,
    (c) 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 정보신호의 반전신호 및 비반전 신호중 어느 하나를 섹터마다 랜덤하게 선택하고, 기록 펄스의 에지 위치를 상기 단계(b)에서 결정된 적정치로 설정하여 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  79. 제78항에 있어서, 상기 단계(a)에서 상기 광학적 정보 기록매체의 기록 개시점을 섹터마다 랜덤하게 시프트시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  80. 제78항에 있어서, 상기 단계(a)전에 상기 소정 트랙에 테스트 신호와 상관없는 데이터 패턴을 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  81. 제78항에 있어서, 상기 단계(b)가 상기 제1 테스트 신호의 에지 간격과, 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 제1 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 에지 간격을 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  82. 제78항에 있어서, 상기 단계(b)가 상기 광학적 정보기록 매체로부터 상기 제1 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 최소로 되는 기록 펄스의 에지 위치를 적정치로서 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  83. 제78항에 있어서, 상기 단계(b)의 종료 후, 상기 단계(c)에 앞서,
    (b-1) 제2 테스트 신호의 반전신호 및 비반전 신호중 어느 하나를 섹터마다 랜덤하게 선택하고, 기록 펄스의 에지 위치를 상기 단계(b)에서 결정된 적정치로 설정하여 상기 광학적 정보 기록매체에 기록하는 단계와,
    (b-2) 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 단계(b-1)에서 기록된 제2 테스트 신호를 재생한 결과에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  84. 제83항에 있어서, 상기 단계(b-2)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 제2 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 파워의 값에 따라 기록 파워의 상기 적정치를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  85. 제78항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  86. 제78항 기재의 광학적 정보 기록방법에 의해 광학적 정보 기록매체에 정보 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    상기 기록 재생장치의 조정시, 상기 기록 재생장치의 기동시, 상기 기동시부터 일정 시간이 경과했을 때, 광학적 정보 기록매체의 교환시, 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때, 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 때의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  87. 소정수의 트랙으로 구성되는 다수의 존을 기록영역에 포함하고, 내주의 존으로부터 외주의 존으로 됨에 따라 1주당 섹터수가 증가하고, 동 존내에서는 외주만큼 가록선 밀도가 낮은 Z-CLV 포맷의 광학적 정보 기록매체를 이용하고, 상기 광학적 정보 기록매체에 정보신호를 기록하기 전에, 상기 광학적 정보 기록매체에 테스트 기록을 행하는 광학적 정보 기록방법에 있어서,
    (a) 상기 각 존의 가장 내측 트랙의 정보신호의 기록선 밀도와 대략 동등한 기록선 밀도로 테스트 신호를 테스트 기록하는 단계와,
    (b) 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 테스트 신호를 재생하고, 재생결과에 따라 기록 펄스의 에지 위치 및 기록 파워 중 어느 한쪽의 적정치를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  88. 제87항에 있어서, 상기 단계(b)가 상기 광학적 정보 기록매체로부터 상기 테스트 신호를 재생하여 얻은 재생신호의 비트 에러 레이트 및 지터 중 어느 하나를 측정하는 단계를 포함하고, 측정한 결과가 소정치 이하로 되는 기록 파워의 값에 따라 기록 파워의 적정치를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  89. 제87항에 있어서, 상기 단계(a)에서 테스트 기록을 행하는 트랙이 적어도 하나의 존 내의 대략 최내주인 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  90. 제87항에 있어서, 상기 단계(a)에서 테스트 기록을 행하는 트랙이 광학적 정보 기록매체의 기록영역보다 내주측 및 외주측의 트랙인 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  91. 제87항에 있어서, 상기 광학적 정보 기록매체의 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록방법.
  92. 제87항 기재의 광학적 정보 기록방법에 의해 광학적 정보 기록매체에 정보 기록을 행하는 광학적 정보 기록장치에 있어서,
    상기 기록 재생장치의 조정시, 상기 기록 재생장치의 기동시, 상기 기동시부터 소정 시간이 경과했을 때, 광학적 정보 기록매체의 교환시, 광학적 정보 기록매체의 비트 에러 레이트가 소정치를 넘었을 때, 상기 광학적 정보 기록장치의 사용환경의 온도가 변화했을 때의 적어도 어느 하나의 타이밍에서 테스트 기록 및 기록조건의 설정을 실행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록장치.
  93. 소정수의 트랙으로 구성되는 다수의 존을 기록영역에 포함하고, 내주의 존으로부터 외주의 존으로 됨에 따라 1주당의 섹터수가 증가하고, 동 존 내에서는 외주만큼 가록선 밀도가 낮은 Z-CLV 포맷의 광학적 정보 기록매체에 있어서,
    상기 존의 적어도 하나의 대략 최내주에 테스트 기록용의 영역을 가지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록매체.
  94. 제93항에 있어서, 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록매체.
  95. 소정수의 트랙으로 구성되는 다수의 존을 기록영역에 포함하고, 내주의 존으로부터 외주의 존으로 됨에 따라 1주당 섹터수가 증가하고, 동 존 내에서 외주만큼 기록선 밀도가 낮은 Z-CLV 포맷의 광학적 정보 기록매체에 있어서,
    상기 기록영역보다 내주측 및 외주측에 테스트 기록영역을 가지고,
    상기 테스트 기록영역의 기록선 밀도가 상기 기록영역내의 각 존의 가장 내주측 트랙의 정보신호의 기록선 밀도와 대략 등등한 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록매체.
  96. 제95항에 있어서, 기록막이 상변화 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보 기록매체.
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