KR100343189B1 - 오버라이트방식이적용되는상변화형광기록장치및광기록매체 - Google Patents

오버라이트방식이적용되는상변화형광기록장치및광기록매체 Download PDF

Info

Publication number
KR100343189B1
KR100343189B1 KR1019950037498A KR19950037498A KR100343189B1 KR 100343189 B1 KR100343189 B1 KR 100343189B1 KR 1019950037498 A KR1019950037498 A KR 1019950037498A KR 19950037498 A KR19950037498 A KR 19950037498A KR 100343189 B1 KR100343189 B1 KR 100343189B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
recording
light beam
intensity
recording medium
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
KR1019950037498A
Other languages
English (en)
Other versions
KR960015441A (ko
Inventor
하세가와히로시
고보리히로미치
Original Assignee
가부시끼가이샤 도시바
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가부시끼가이샤 도시바 filed Critical 가부시끼가이샤 도시바
Publication of KR960015441A publication Critical patent/KR960015441A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100343189B1 publication Critical patent/KR100343189B1/ko
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/007—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track
    • G11B7/00736—Auxiliary data, e.g. lead-in, lead-out, Power Calibration Area [PCA], Burst Cutting Area [BCA], control information
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/006—Overwriting
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/0045—Recording
    • G11B7/00454—Recording involving phase-change effects
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/0055—Erasing
    • G11B7/00557—Erasing involving phase-change media

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Abstract

복수의 기록 존으로 이루어지는 MCAV 방식 상 변화 광디스크에 대해 적어도 기록용 광 전원, 소거용 광 전원 및 오프 펄스용 광 전원을 조사함으로써, 상기 광디스크의 기록층에 기록된 기록 정보를 오버라이트에 의해 재기록하는 광기록 장치로서,
광 디스크상에 광 빔을 조사하는 반도체 레이저와, 이 반도체 레이저에 의해 상기 광디스크상에 조사되는 각 광 빔의 강도 P1, P2, P3(P1>P2>P3) 및 조사기간 τ1, τ3 를 {(P2 - P3) × τ3}/1(P1 - P2) × τ1)이 1 이하가 되도록 제어하는 제어부를 구비한다.

Description

오버라이트 방식이 적용되는 상 변화형 광 기록 장치 및 광 기록 매체
본 발명은 광 빔에 의한 열에 의해 결정 상태와 비결정 상태를 광 디스크의 기록층에 발생시켜 정보의 기록을 행하는 오버라이트 방식이 적용되는 상(相) 변화형 광 기록 장치 및 광 기록 방법에 관한 것이다.
재기록 가능형인 광 기록 장치의 한 형태로서 광 기록 매체를 구성하는 기록 재료의 결정- 비결정간의 상 전이를 이용하여 정보를 기록하는, 소위 상 변화형(相 變化型) 광 기록 장치의 연구 및 개발이 진행되고 있다. 소위 오버라이트 방식이 적용되는 상 변화형 광 기록 장치 및 광 기록 방법은 광 빔에 의한 열에 의해 결정상태와 비결정 상태를 광 디스크의 기록층에 생기게 하여 정보의 기록을 행하도록 하고 있다.
이하 상세히 설명하면, 상 변화형 광 기록 장치는 광 기록 매체상에 집광 조사하는 빔의 강도를 기록 정보에 따라 제어하는 기능을 가지고, 비결정부 형성 위치에 제1 강도의 광 빔, 결정부 형성 위치에 제1 강도보다도 낮은 제2 강도의 광 빔을 각각 조사하여 광 기록 매체상의 비결정부 형성 위치에 따라 정보를 기록하는 것을 기본으로 한다.
이러한 기본 구성의 상 변화형 광 기록 장치에 있어서, 제1 강도의 광 빔 조사 종료후 일정 기간 동안 제2 강도보다도 더 낮은 제3 강도의 광 빔을 조사함으로써, 제1 강도의 광 빔 조사에 의해 형성된 용융 영역을 급랭시킴으로써 비결정부의 영역을 확대시키고, 큰 재생 신호를 얻으려고 하는 방법이 제안되어 있다(미국 특허 제4,939,717호 명세서).
그러나, 이 공지의 방법에서는 제3 강도의 광 빔의 조사 기간이 너무 길면, 광 기록 매체상에 결정화 온도에 도달하지 않는 영역이 생기고, 이전에 형성되어 있던 기록 마크(이전(旣) 기록 마크)의 비결정부의 결정화가 불충분하게 된다. 즉,이 경우에는 비결정부 형성에 의한 이전 기록 마크의 소거가 불완전한 상태에서 새로운 정보가 기록되기 때문에, 오히려 기록의 신뢰성을 저하시키게 된다. 또, 제3 강도의 광 빔의 조사 기간이 너무 짧아도 기록 마크가 너무 커져서 재생 신호 품질이 저하하기 때문에, 충분한 기록 신뢰성을 얻을 수 없다.
상술한 공지의 방법에서는 제3 강도의 광 빔에 관해서는 그 조사 기간만이 규정되어 있다. 구체적으로는 미국 특허 제4,939,717호 명세서에 의하면, 제3 광 빔의 조사 기간을 τ, 광 빔의 파장을 λ, 광 기록 매체와 광 빔과의 상대 속도를 v로 하면, 0<τ<λ/v와 같이 규정되어 있다. 그러나 본 발명자들의 연구에 의하면, 제3 강도의 광 빔의 조사 기간이 동일하더라도, 제3 광 빔 강도의 대소에 따라서 조사 기간의 과부족 상태가 달라짐이 판명되었다. 즉, 제3 광 빔의 조사 기간의 과부족은 제1 강도 및 제1 강도의 광 빔 조사 기간에 기인한 승온 과정과, 제3 강도 및 제3 강도의 광 빔 조사 기간에 기인한 강온(降溫) 과정의 관계에 의해 결정되는 것임에도 불구하고, 상술한 공지예에서는 이들 관계에 관하여 적정한 조건이 고려되고 있지 않다. 때문에, 상술한 바와 같이 소거 불완전성이나 재생 신호 품질의 저하에 의해 충분한 기록 신뢰성을 얻을 수 없는 결과를 초래하고 있었다.
상술한 바와 같이, 제3 강도의 광 빔 조사 기간만을 규정하는 공지예의 기술에서는 제3 강도의 광 빔 조사 기간에 과부족이 생기기 때문에 충분한 기록 신뢰성을 얻을 수 없는 문제가 있었다.
본 발명의 목적은 제3 강도의 광 빔의 조사 기간의 과부족에 의한 소거 불완전성이나 재생 신호 품질 저하의 문제를 해결하여 충분한 기록 신뢰성을 얻을 수있는 상 변화형 광 기록 장치 및 광 기록 방법을 제공하는 것에 있다.
상기의 과제를 해결하기 위해 본 발명의 광 기록 장치는, 원반형 광 기록 매체에 비결정부를 형성하기 위해 광 기록 매체를 제1 강도 P1의 광 빔으로 제1 조사기간 τ1 동안 조사한 후, 제3 강도 P3의 광 빔으로 제3 조사 기간 τ3 동안 조사하고, 상기 광 기록 매체에 결정부를 형성하기 위해 광 기록 매체를 제2 강도 P2의 광 빔으로 조사함으로써 상기 광 기록 매체에 기록 정보를 기록하는 광 기록 장치에 있어서, 광 기록 매체상에 광 빔을 조사하는 광 빔 조사 수단과, 이 광 빔 조사 수단에 의해 상기 광 기록 매체상에 조사되는 광 빔의 강도 P1, P2, P3을 P1〉P2〉P3으로 되도록 제어하고 광 빔의 제1 및 제3 조사 기간 τ1, τ3을 {(P2- P3)× τ3}/{(P1- P2)× τ1)〈 1의 식을 만족하도록 제어하는 제어 수단을 구비하고, 상기 제어 수단은 광 빔의 강도 P1, P2, P3 및 조사 기간 τ1, τ3을 나타내는 데이터를 상기 광 기록 매체의 외주측 및 내주측 중 적어도 한쪽에 기록한다.
또한, 상기의 과제를 해결하기 위해 본 발명의 광 기록 방법은, 광 기록 매체에 정보를 기록하는 광 기록 방법에 있어서, 광 기록 매체의 기록 영역 상에 비 결정부를 형성하기 위해 광 기록 매체를 제1 강도 P1의 광 빔으로 조사 기간 τ1 동안 조사한 후, 제3 강도 P3의 광 빔으로 조사 기간 τ3 동안 조사하고, 상기 광 기록 매체에 결정부를 형성하기 위해 광 기록 매체를 제2 강도 P2 (여기에서, P1〉P2〉P3)의 광 빔으로 조사하는 단계와, 상기 제1 강도 P1의 광 빔의 조사에 의해 형성되고 제3 강도 P3의 광 빔의 조사에 의해 확장된 비결정부의 후반 부분을 상기 제2 강도 P2의 광 빔을 조사함으로써 결정화하여 소실시키는 단계와, 상기 광빔의 강도 P1, P2, P3 및 조사 기간 τ1, τ3을 나타내는 데이터를 상기 광 기록 매체의 외주측 및 내주측 중 적어도 한 쪽에 기록하는 단계를 포함한다.
또한, 상기의 과제를 해결하기 위해 본 발명의 광 기록 방법은, 복수의 기록존으로 이루어지는 MCAV 방식 상 변화 광 디스크에 대하여 정보를 기록하고 재생하는 방법에 있어서, 적어도 기록용 광 파워, 소거용 광 파워 및 오프 펄스용 광 파워를 이용하고 상기 기록용 광 파워의 조사 시간 및 상기 오프 펄스용 광 파워의 조사 시간을 상기 광 디스크의 각 기록 존에 따라서 변화되도록 하여 기록 정보를 기록 및 재생하는 단계와, 상기 기록용 광 파워의 조사 강도 및 조사 기간을 나타내는 데이터를 상기 광 기록 매체의 외주측 및 내주측 중 적어도 한 쪽에 기록 및 재생하는 단계를 포함한다.
상기한 바와 같은 본 발명에 의하면, 강도 P3의 광 빔의 조사에 의해 매체에 도달하는 광량이 강도 P2의 광 빔의 조사시를 밑도는 총광량 (P2- P3)×τ3와, 강도 P1의 광 빔의 조사에 의해 매체에 도달하는 광량이 강도 P2의 광 빔의 조사시를 상회하는 총광량 (P1- P2)×τ1과의 비, 즉 총광량비 {(P2- P3)×τ3}/{(P1- P2)×τ1}을 1 이하로 함으로써, 제3 강도 P3의 광 빔의 조사 기간 τ3이 적정화된다. 이 결과, τ3이 최대인 경우에 생기는 이전 기록 마크의 소거 불완전성이나, τ3이 부족한 경우에 생기는 재생 신호 품질 저하의 문제가 해결되어 기록 신뢰성이 향상된다. 이 효과는 광 기록 매체와 광 빔과의 상대 속도가 높으면서 기록 마크 간격이 작은 경우 정도가 더욱 현저해진다.
또한, 본 발명에 의하면 제3 강도 P3의 광 빔의 조사 기간 τ3의 적정화에의하여 제1 강도 P1의 광 빔의 조사에 의해 형성된 비결정부는 그 후반 부분이 제2 강도 P2의 광 빔의 조사에 의한 결정화에 의해 소실된다. 이것에 의해 정보의 기록밀도를 올려야 할 기록 마크 간격을 짧게 하더라도 소거한 나머지가 발생하기 어렵기 때문에 재생 신호 품질이 향상되며, 높은 기록 신뢰성을 얻을 수 있다.
또한, 본 발명의 목적은 다음과 같은 광 기록 장치에 의해 달성된다. 즉, 광 기록 매체 상에 정보를 기록하는 광 기록 장치로서, 광 빔 발생 수단과, 광 기록매체 상에 비결정부를 형성하기 위해, 광 기록 매체에 제1 강도 P1의 광 빔을 조사 기간 τ1 동안 조사한 후, 제3 강도 P3의 광 빔을 조사 기간 τ3 동안 조사하고, 상기 광 기록 매체 상에 결정부를 형성하기 위해 광 기록 매체에 제2 강도 P2의 광 빔을 조사하도록 제어하는 제어 수단을 구비하며, 상기 정보를 기록하는 정보 기록 영역 및 기록 조건 기록 영역은 광 기록 매체 상에 배치되고, 상기 기록 조건 기록 영역은 상기 정보 기록 영역의 외주측 및 내주측 중 적어도 한 쪽에 형성되며, 상기 기록 조건 기록 영역에는 {(P2- P3)×τ3}/{(P1- P2)×τ1}〈 1의 식을 만족시키는 광 빔 강도 P1, P2, P3 (여기에서, P1〉P2〉P3) 및 조사 기간 τ1, τ3을 나타내는 기록 조건 데이터가 기록된다.
또한, 본 발명의 목적은 다음과 같은 광 기록 방법에 의해 달성된다. 즉, 광 기록 매체 상에 정보를 기록하는 광 기록 방법으로서, 상기 광 기록 매체 상의 정보 기록 영역의 외주측 및 내주측 중 적어도 한쪽에 배치되는 기록 조건 기록 영역에 기록되며 {(P2- P3)×τ3}/{(P1- P2)×τ1}〈 1의 식을 만족시키는 광 빔의 강도 P1, P2, P3(여기에서, P1〉P2〉P3) 및 조사 기간 τ1, τ3을 나타내는 기록 조건 데이터를, 상기 기록 매체로의 정보 기록에 앞서 상기 기록 조건 기록 영역으로부터 검출하는 검출 단계와, 이 검출 단계에 의해 검출된 상기 기록 조건 데이터에 기초하여 상기 기록 매체에 대해 정보 기록을 행하는 정보 기록 단계를 포함하고, 상기 정보 기록 단계는 광 기록 매체에 비결정부를 형성하기 위해 상기 광 기록 매체에 제1 강도 P1의 광 빔을 조사 기간 τ1 동안 조사하는 단계, 상기 광 기록 매체에 제3 강도 P3의 광 빔을 조사 기간 τ3 동안 조사하는 단계, 및 상기 광 기록 매체에 결정부를 형성하기 위해 상기 광 기록 매체에 제2 강도 P2의 광 빔을 조사하는 단계를 포함한다.
실시예
이하, 본 발명의 실시예를 설명한다.
제1도에 본 발명의 일실시예에 관한 광 기록 장치의 구성을 도시한다. 제1도에 있어서, 광원(101)은 예컨대 반도체 레이저이고, 이 광원(101)으로부터 발생된 광 빔은 콜리메이터 렌즈(102)에 의해 평행 광속으로 된 후, 빔 스플리터(103)를 통해 대물 렌즈(104)로 유도되고, 이 대물 렌즈(104)에 의해 원반형상의 광 기록 매체(105) 상에 미소 스폿으로서 집속 조사된다. 광 기록 매체(105)는 모터(106)에 의해 일정한 속도로 회전하고 있다. 광원(101)은 제어기(107)로부터의 신호에 의해 광 빔의 조사와 광 빔의 강도가 제어된다. 광 기록 매체(105)에 기록된 정보를 재생하는 경우는 광 기록 매체(105)로부터의 반사광이 대물 렌즈(104)를 입사광의 역방향으로 통과하고, 빔 스플리터(103)에 의해 입사광과 분리되어 광검출기 등을 포함하는 검출계(108)로 유도되어 재생 정보 신호가 추출된다.
광 기록 매체(105)에 정보를 기록하는 경우는 제어기(107)에 의해 제2도에 도시된 바와 같이 광 빔의 강도(광 강도)가 기록 정보에 따라 비결정부 형성을 위한 제1 강도 P1, 결정부 형성을 위한 제2 강도 P2 및 P2 보다도 더 낮은 제3 강도 P3 간에서 변화하도록 제어된다. 제2도에 도시된 바와 같이, 기록 정보가 「0」,「1」의 2치 데이터인 것으로 하면, 「1」에 대응하는 위치에 강도 P1의 광 빔을 τ1의 기간만큼 조사한 후, τ3의 기간만큼 강도 P3의 광 빔을 조사하고, 다음의 「0」에 대응하는 위치까지의 기간은 강도 P2의 광 빔을 조사한다.
제3도에 제어기(107)의 구체적인 회로 구성예를 도시한다. 또, 제4도에 제3도의 각 부의 신호 파형을 도시한다. 제3도에 있어서, 기록 정보(201)는 기준 클록 주기로 입력되는 2치 데이터이고, D 타입의 플립플롭(D- FF)인 제1 플립플롭(202)의 클록 입력 단자 CK에 입력된다. 플립플롭(202)의 입력 단자 D는 "H" 레벨로 고정되어 있다. 플립플롭(202)의 반전 출력은 지연량 τ1의 지연선(203)을 통하여 클리어 단자 CLR에 입력된다. 따라서, 플립플롭(202)으로부터는 제4A도에 도시된 바와 같이 기록 정보(201)의 데이터 펄스의 상승과 동기하여 τ1의 폭의 펄스가 출력된다.
제1 플립플롭(202)의 출력은 동일하게 D- FF인 제2 플립플롭(204)의 클록 입력 단자 CK에 입력된다. 이 플립플롭(204)의 입력 단자 D도 "H" 레벨로 고정되어 있다. 플립플롭(204)의 반전 출력은 지연량 τ3의 지연선(205)을 통하여 클리어 단자 CLR에 입력된다. 따라서, 플립플롭(204)으로부터는 제4B도에 도시된 바와 같이 플립플롭(202)의 출력 펄스의 하강과 동기하여 τ3의 폭의 펄스가 출력된다.
한편, 광 빔의 강도를 P1, P2, P3로 각각 설정하기 위한 레벨 설정치 VP1, VP2, VP3이 입력되어 있고, 이들 레벨 설정치 VP1, VP2, VP3은 버퍼(207, 208, 209)를 통하여 스위치(210, 211, 212)의 일단에 각각 부여된다. 스위치(210, 211, 212)는 예컨대 MOS 트랜지스터이며, 그 각 타단은 구동 증폭기(213)의 입력 단자에 공통으로 접속된다. 스위치(210)의 제어 단자에는 플립플롭(202)의 비반전 출력이 부여되고, 스위치(211)의 제어 단자에는 플립플롭(202, 204)의 각 출력을 입력으로 하는 NOR 게이트(206)의 출력이 부여되며, 또한 스위치(212)의 제어 단자에는 플립플롭(204)의 비반전 출력이 부여된다. 제4C도에 NOR 게이트(206)의 출력 파형을 도시한다.
구동 증폭기(213)는 제1도의 광원(101)을 구동시키기 위한 광원 구동 신호(214)를 출력한다. 이 광원 구동 신호(214)는 스위치(210, 211, 212)가 각각의 제어 단자에 부여되는 제4A도, 제4C도, 제4B도의 신호에 의해 온·오프 제어됨으로써, 제4D도에 도시된 바와 같은 레벨 설정치 VP1, VP2, VP3의 사이에서 변조된다.
지연선(203, 205)의 각 지연량 τ1, τ3, 즉 제1 강도 P1의 광 빔 및 제3 강도 P3의 광 빔의 조사 기간은 광 기록 매체(105)상의 기록 반경 위치(정보를 기록차는 트랙의 반경 방향의 위치)마다 적정 조건을 설정할 수 있게 하기 위해, τ1 절환 신호(215), τ3 절환 신호(216)에 의해 각각 절환된다. 이 경우, 광 기록 매체(105)의 매체면을 반경 방향으로 복수의 존으로 분할하고, 존마다 기준 클록 주기를 변화시켜서, 즉 기록 주파수를 존마다 변화시켜서 기록 재생을 행하는 ZCAV(zone constant angular velocity) 방식의 광 기록 장치에서는 τ1, τ3의 적어도 한쪽을 기록 반경 위치마다의 기준 클록 주기에 비례시키는 것으로, 조건 설정을 용이하게 할 수 있다. 가장 간단하게는 τ1, τ3을 함께 기준 클록 주기에 일치시키면 된다. 또한, ZCAV는 MCAV(modified constant angular velocity)로 불리기도 한다.
또한, 이와 같이 기준 클록 주기에 비례하여 τ1, τ3의 적어도 한쪽만을 변화시키는 대신에, 후술하는 강도 P3의 광 빔의 조사에 의하여 매체에 도달하는 광량이 강도 p2의 광 빔 조사시를 밑도는 총광량 (P2-P3)×τ3과, 강도 P1의 광 빔의 조사에 의해 매체에 도달하는 광량이 강도 P2의 광 빔 조사시를 상회하는 총광량 (P1- P2)×τ1의 적어도 한쪽을 기준 클록 주기에 비례하여 변화시켜도 좋다.
또한, 제3도의 구성은 여러 가지 변형하여 실시하는 것이 가능하며, 예컨대 D 형 플립플롭(D- FF) 대신에 단안정 멀티바이브레이터를 이용해도 좋다.
다음에, 본 실시예에 있어서의 정보 기록 과정을 제5A도, 제5B도를 참조하여 설명한다. 제5A도, 제5B도는 광 빔의 강도 및 각각의 강도의 광 빔의 조사 기간과, 광 기록 매체(105) 상에 형성되는 기록 마크와의 관계를 도시한 것이다. 광 기록 매체(105) 상에 기록 정보의 「1」에 대응하여 제1 강도 P1의 광 빔을 조사하면, 그 조사 영역은 융점 이상으로 가열되어 용융하고, 조사 종료후는 비결정 상태가 된다. 이것에 의해, 비결정부로 이루어진 기록 마크가 형성된다. 한편, 광 기록 매체(105) 상에 기록 정보의 「0」에 대응하여 제2 강도 P2의 광 빔을 조사하면, 그 조사 영역은 융점 미만이면서 결정화 온도 이상으로 가열되어 결정화된다.
제1 강도 P1의 광 빔의 조사후, 계속하여 제3 강도 P3의 광 빔을 기간 τ3에걸쳐서 조사하면, 강도 P1의 광 빔의 조사에 의해 형성된 용융 영역이 급랭된다. 그리고, 강도 P3의 광 빔의 조사후, 기록 정보의 「0」에 대응한 기간에 걸쳐서 제2 강도 P2의 광 빔을 조사한다.
여기서, 강도 P3의 광 빔의 조사 기간 τ3이 적정한 경우에는 제5A도에 도시된 바와 같이, 강도 P1의 광 빔의 조사에 의해 형성되고, 또한 강도 P3의 광 빔의 조사에 의해 급냉된 비결정부는 도중에 강도 P2의 광 빔의 조사에 의한 결정화가 시작됨으로써 후반 부분이 소실되고, 광 기록 매체와 광 빔과의 상대 이동 방향에 있어서의 기록 마크의 길이가 단축된다. 이것에 의해, 비결정부로서 형성되는 기록 마크의 간격을 단축하여 정보의 기록 밀도를 높인 경우라도 기록 마크부[비결정부(非結晶部)]와 비기록 마크부(결정부)를 명확하게 구별하여 검출할 수 있기 때문에, 양호한 재생 신호 품질을 얻을 수 있다.
상 변화형 광 기록 장치에서는 정보의 기록시에 매체 위를 기록 마크가 되어야 할 영역보다도 넓은 범위에 걸쳐서 용융시킨 후, 그 용융 영역을 냉각하는 것으로 비결정질화시켜 기록 마크를 형성한다. 그 때, 용융 영역의 외연 부분이 냉각시에 결정화하는 효과 때문에 비결정부인 이전 기록 마크의 흔적(비결정부와 결정부의 흡수율차에 기인한 마크의 불균일)이 남기 어려우며, 양호한 소거 성능을 얻을 수 있다. 이것은 상 변화형 광 기록 장치의 본래적인 특징이다.
그러나, 본 발명자들의 연구 결과에 의하면, 정보 기록시의 광 기록 매체와 광 빔과의 상대 이동 속도(엄밀하게는 매체면과 광 빔 스폿과의 상대 이동 속도)가 5m/s 정도 이상으로 높아지면, 용융 영역의 외연의 냉각이 순간적으로밖에 행해지지 않기 때문에, 이 효과가 작용하기 어려워진다. 이 결과, 이전 기록 마크의 흔적이 마크의 불균일로서 남기 쉬워지며, 소거 성능이 떨어진다. 예컨대, 90mm 지름의 광 디스크를 3,600rpm으로 회전시켜서 기록 재생을 행할 경우, 광 디스크의 최외주에서의 광 빔의 상대 이동 속도는 15m/s로도 되므로, 이러한 소거 성능 열화의 영향을 충분히 고려할 필요가 있다.
여기서 통상의 CAV 방식, 즉 광 디스크의 회전수가 일정하고, 기록 반경 위치에 의하지 않고 기준 클록 주기가 일정한 방식에서는 광 기록 매체와 광 빔과의 상대 이동 속도가 큰 외주만큼 기록 마크 간격이 커지기 때문에, 소거 성능의 열화에 의한 마크의 결함이 다소 있더라도 기록 마크를 용이하게 인접 마크와 분리하여 검출할 수 있다. 이 때문에, 기록되어 있는 정보를 바르게 재생할 수 있고, 기록 정보의 신뢰성은 비교적 용이하게 확보된다.
이것에 대하여, 기록 용량을 크게 하기 위해 ZCAV 방식을 채용하여 내외주의 기록 마크 간격을 거의 같게 하면서 기록 마크 간격을 광 빔의 스폿 사이즈(광 빔의 강도가 중심 강도의 e-2배 이상이 되는 영역의 직경) 이하로 축소하려면, 특히 광 기록 매체와 광 빔과의 상대 이동 속도가 큰 외주측에서의 소거 성능의 열화에 의한 영향이 표면화된다. 즉, 작은 간격으로 형성되어 있는 기록 마크에서는 마크의 불균일에 의해 기록 정보의 신뢰성이 극히 열화된다.
이와 같이 광 빔의 상대 이동 속도가 5m/s 이상이고, 또한 기록 마크 간격이 광 빔의 스폿 사이즈 이하가 되는 경우에는 강도 P3의 광 빔 조사 기간 τ3을 설치하는 것이 소거 성능을 양호하게 하는데 있어서 특히 유효하며, 이것에 의해서 예컨대 ZCAV와 같은 방식에 있어서도 기록 정보의 신뢰성을 충분히 높일 수 있다.
그러나, 제5B도에 도시된 바와 같이 τ3이 너무 길면, 강도 P1의 광 빔의 조사에 의한 용융 영역과, 강도 P2의 광 빔의 조사에 의한 결정화 영역의 전연과의 사이에 극간이 생기고, 이 극간 부분은 충분히 결정화되지 않게 된다. 즉, 이 극간 부분에 이전 기록 마크의 일부가 존재하고 있더라도 이것을 충분히 결정화하여 소거할 수 없게 되며, 제5B도 중에 도시된 바와 같은 「소거한 나머지」가 되어버리기 때문에, 기록 정보의 신뢰성이 손상된다. 본 발명에 의하면, 이 문제는 강도 P3의 광 빔의 조사 기간 τ3을 과부족 없이 적정히 절정하고, 또한 광 빔의 각 강도 P1, P2, P3을 적절히 설정함으로써 해결할 수 있다. 그러면, 먼저 제6도를 이용하여 τ3의 과부족과 매체 온도의 관계를 설명한다.
제6A도는 τ3이 부족할 때의 매체 온도의 추이를 도시하고 있다. 이 경우, 강도 P1의 광 빔 조사에 의한 가열 온도(용융 온도) T1로부터, 강도 P2의 광 빔의 조사에 의한 결정화 온도 T2로의 냉각이 완만하기 때문에, 비결정부로 된 기록 마크의 길이가 필요 이상으로 커지게 된다. 이 때문에 재생시에 기록 마크와 비기록 마크와의 판별이 곤란해져 재생 신호 품질이 저하한다. 즉, 기록 정보의 신뢰성이 저하한다.
제6B도는 τ3이 적정할 때의 매체 온도의 추이를 도시한 것으로, 이 경우에는 매체 온도의 T1로부터 T2로의 이행은 빠르게 행해진다. 따라서, 기록 마크의 길이가 과대해지는 일이 없으며, 양호한 재생 신호 품질을 얻을 수 있다.
제6C도는 τ3이 과대할 때의 매체 온도의 추이를 도시한 것이다. 이 경우에는 매체 온도는 T1으로부터 T2로 이행하는 과정에서 일단 결정화 부족 온도 T3에 도달한다. 이 때문에, 이 결정화 부족 온도 T3에 도달한 부분에 이전 기록 마크가 형성되어 있으면, 이것을 결정화하여 소거할 수 없게 되어 소거 불완전이 발생한다. 따라서, 기록 정보의 신뢰성이 저하한다.
강도 P1의 광 빔 조사 기간 τ1 후의 매체 온도 T1은 강도 P2의 광 빔 조사에 의한 정상 온도 T2로부터, 광 빔의 강도의 증가량(P1- P2)을 반영하여 상승한다. 매체의 온도 변화의 시정수를 t로 하면, 이 관계는 (1)식으로 나타낼 수 있다.
T1=T2+T2×(P1- P2)/P2×{1- exp(- τ1/t)}…(1)
한편, 강도 P3의 광 빔 조사 기간 τ3 후의 매체 온도 T3은 강도 P2의 광 빔의 조사에 의한 결정화 온도(정상 온도) T2에 대하여 매체의 초기 온도차(T1- T2)와, 광 빔 강도의 감소량(P2- P3)의 양쪽을 반영하여 T1으로부터 하강한다. 이 관계는 (2)식으로 나타낼 수 있다.
T3=T1- ((T1- T2)+T2(P2- P3)/Pa)x {1- exp(- τ3/T))…(2)
예컨대, τ1 및 τ3이 시정수 t 보다도 충분히 짧다고 가정하면, (1)식 및 (2)식은 이하의 (3)식 및 (4)식과 같이 간단해질 수 있다.
T1=T2+T2×(P1- P2)/P2×τ1/t…(3)
T3=T1- {(T1- T2)+T2×(P2- P3)/P2}×τ3/t…(4)
(3)식 및 (4)식으로부터 T3=T2가 되는 조건을 구하면, (5)식이 된다.
(P2- P3)×τ3=(1 - τ3/t)×(P1- P2)×τ1 …(5)
여기서, τ3은 t 보다도 충분히 작다고 가정하고 있으므로, (5)식의 우변 제1 항은 거의 1이기 때문에, (6)식과 같이 나타내어진다.
(P2- P3)×τ3(P1- P2)×τ1 …(6)
(6)식은 다음과 같이 이해할 수 있다.
제6D도는 τ3의 적정시의 광 빔 강도 P1, P2, P3 및 광 빔 조사 시간 τ1, τ3의 관계를 도시한 것이다. 도면에 도시된 바와 같이, (6)식 좌변의 (P2- P3)×τ3은 강도 P3의 광 빔의 조사에 의해서 매체에 도달하는 광량이 강도 P2의 광 빔 조사 시간을 밑도는 총광량이다. 또한, (6)식 우변의 (P1- P2)×τ1은 강도 P1의 광 빔의 조사에 의해 매체에 도달하는 광량이 강도 P2의 광 빔 조사시를 상회하는 총광량이다. 조사 기간 τ1 및 τ3이 온도 변화의 시정수 t 보다도 충분히 짧은 경우에는 이들의 총광량을 같게 한다. 즉, 양 총광량의 비(이하, 총광량비라 한다){(P2- P3)×τ3}/{(P1- P2)×τ1}을 1로 하여 강도 P1의 광 빔의 조사에 의한 영향과 강도 P3의 광 빔의 조사에 의한 영향을 상쇄하는 것이, 제6B도에 도시된 바와 같이 강도 P1의 광 빔 조사후, 매체 온도를 바로 결정화 온도 T2로 모으는 조건이다.
실제로는 매체의 온도 변화는 제6A도, 제6B도, 제6C도와 같이 지수 함수가 되므로, τ1 또는 τ3은 t 보다도 충분히 짧다고는 한정하지 않는다. 따라서, 제6B도의 적정 기록 상태에 있어서의 총광량비도 1로부터 다소 변화하지만, (5)식의 우변 제1항이 1 보다도 작은 것으로부터 알 수 있듯이, 통상은 1을 밑돈다. 즉, 본 발명에 따라서 총광량비 {(P2- P3)×τ3}/{(P1- P2)×τ1}을 1 이하로 하는 것이적정 기록 조건이 된다. 특히, 매체상의 기록 마크 위치에 정보를 갖게 하는 「마크 위치 기록」의 경우, τ1 또는 τ3은 통상 짧으면서 같은 정도이기 때문에, (5)식의 관계는 유지된다. 발명자들의 실험에 의하면, 적정 기록 조건은 총광량비가 대체로 1/3~1이 되는 범위로 생각하여 지장이 없었다.
제7도에, 강도 P3의 광 빔 조사 시간 τ3 및 강도 P2를 변경시키는 것으로 총광량비 {(P2- P3)×τ3}/{(P1- P2)×τ1}를 변화시킨 경우의 CNR(캐리어·노이즈비)와 소거비의 총광량비 의존성의 실측예를 도시한다. 사용한 광 기록 매체는 수지 기판상에 보호층, 기록 재료층, 보호층 및 반사층을 순서대로 적층한 일반적인 구성의 상 변화형 광 디스크이다. 기록 재생에 이용한 광원의 파장은 690 nm, 선속도(광 기록 매체와 광 빔의 상대 이동 속도)는 9 m/s이고, 광 빔 강도는 P1이 12 mW, P3이 1 mW, 또한 강도 P1의 광 빔의 조사 시간 τ1은 39 ns이다.
제7도의 종축의 CNR과 소거비는 각각 신호 기록 성능과 소거 성능을 나타내고 있고, 양쪽이 함께 실용상 바람직한 값을 나타내는 총광량비 {(P2- P3)×τ3}/{(P1- P2)×τ1}의 범위는 1(100%) 이하이다. 즉, 총광량비가 1을 초과하면, CNR은 양호하더라도 소거비가 크게 저하하지만, 총광량비가 1이하, 보다 바람직하게는 1/3∼2/3의 범위이면 CNR 및 소거비는 함께 실용상 만족할 수 있는 값을 나타낸다. 또한, 본 실측예에 의하면 CNR과 소거비의 양쪽이 가장 양호한 특성을 나타내는 총광량비는 약 1/2(50%)이다.
또, 본 실측예에서는 총광량비는 상술한 바와 같이 특히 1/3 ~ 2/3의 범위가 바람직하지만, 이 범위는 광 기록 매체와 광 빔과의 상대 이동 속도, 마크 간격,매체 구조 등에 의해서도 변화한다. 이들의 조건을 고려하여 발명자들이 여러 가지 행한 실험에 의하면, 총광량비는 상술한 대체로 1/3 ~ 1이 되는 범위가 적정 기록 조건임이 확인되었다.
여기서, 적정한 τ3은 P1 ∼ P3 및 τ1에 의존하는 것을, 제8A도 내지 제8D도를 참조하여 설명한다.
제8A도 내지 제8D도는 제6도와 같이 광 기록 매체의 온도의 추이를 나타내는 도면이다. 제8A도는 기준이 되는 P1, P2, P3, τ1에 있어서의 적정한 τ3을 나타내고 있다. 강도 P1의 광 빔을 τ1 기간 동안 매체에 조사한 후에, 강도 P3의 광 빔을 매체에 조사한다. 이 강도 P3의 광 빔을 매체에 조사하는 중의 매체 온도는 피크 온도 T1으로부터 목표 온도 T3을 목표로서 하강한다. 이 때, 매체 온도가 소거 온도 T2에 도달할 때까지의 시간이 적정한 τ3 값이 된다. 이것은 제6B도에 상당한다.
제8B도는 광 빔의 강도 P1 만이 기준치로부터 변화한 경우에 있어서의 적정한 τ3 값의 변화를 나타낸다. 광 빔의 강도 P1이 너무 커졌을 때의 피크 온도 T1'은 기준시의 피크 온도 T1보다도 높아진다. 또한, 강도 P1이 너무 작아졌을 때의 피크 온도 T1"은 T1보다도 낮아진다. 따라서, 강도 P3의 광 빔을 매체에 조사하여 매체 온도가 목표 온도 T3을 목표로 하여 하강할 때에, T2에 도달할 때까지의 시간은 광 빔의 강도 P1이 과대인 경우와, 과소인 경우에서는 각각 다르다. 즉, P1이 과대시에는 적정한 τ3'는 길어지고, 한편, P1이 과소시에는 적정한 τ3"은 짧아진다.
제8C도에는 τ1만 기준치로부터 변화한 경우의 적정한 τ3 값의 번화를 나타낸다. P1이 번화했을 때와 마찬가지로 τ1이 과대할 때의 피크 온도 T1'은 기준시의 피크 온도 T1 보다도 높고, τ1이 과소일 때 피크 온도 T1"은 T1 보다도 낮아진다. 따라서, 이 경우도 τ1이 과대할 때에는 적정한 τ3'은 길어지고, 한편 τ1이 과소시에는 적정한 τ3"은 짧아진다.
제8D도에는 P3만 기준치로부터 변화했을 경우의 적정한 τ3 값의 변화를 나타낸다. P3의 대소에 따라서, P3 조사중의 목표 온도 T3이 변화한다. P3 과대시의 목표 온도 T3'은 T3 보다도 높아진다. 따라서, P3 조사중에 매체 온도가 피크 온도 T1로부터 하강할 때, T2에 도달할 때까지의 시간이 각각 다르며, P3이 과대시에는 적정한 τ3'은 길어지고, 한편 P3이 과소시에는 적정한 τ3"은 짧아진다.
전술한 바와 같이, 적정한 τ3치는 P1, P2, P3 및 τ에 의해서 변화한다. 따라서, τ3 값을 규정하기 위해서는 이들의 관계를 고려할 필요가 있다. 또, 여기서는 P2를 변화시키는 경우에 관하여 기술하지 않았지만, 상술한 P1, P3에 의한 매체 온도의 차이는 각각 (P1- P2), (P2- P3)에 기인하는 현상이기 때문에, 역시 P2에 의해서도 적정한 τ3 값은 변화한다.
다음에, 제9도 내지 제12도를 참조하여 본 발명의 광 기록 매체의 일예와, 제1도와는 다른 또 다른 실시예인 광 기록 장치에 관해서 설명한다.
제9도에 도시된 바와 같이, 원반형 광 기록 매체(105)에는 정보 기록 영역(105A)이 형성되어 있다. 또한, 정보 기록 영역(105A)의 외주측에는 제1 기록 조건 기록 영역(105B)이 형성되고, 정보 기록 영역(105A)의 내주측에는 제2 기록조건 기록 영역(105C)이 형성되어 있다. 제1 , 제2 기록 조건 기록 영역 (105B, 105C)에는 P1∼P3, τ1∼τ3의 전부 또는 적어도 τ3이 기록되어 있다. 이 경우 P1∼P3, τ1∼τ3은 반경 rn에 따른 값이 선정되어 있다. 하기의 표는 제1, 제2 기록 조건 기록 영역(105B, 105C)에 기록되어 있는 N 개의 반경 rn과 τ3n과의 조합예를 나타내고 있다.
또, τ3 등의 기록 조건은 제1 기록 조건 기록 영역(105B)에만 기록하는 경우, 제2 기록 조건 기록 영역(105C)에만 기록하는 경우, 제1 기록 조건 기록 영역(105B)과 제2 기록 조건 기록 영역(105C)의 방방에 기록하는 경우의 어느 것이라도 좋다. 물론, 광 빔의 강도 P1, P2, P3(P1〉P2〉P3) 및 조사 기간 τ1, τ3은 {(P2- P3)×τ3}/{(P1- P2)×τ1}이 1 이하가 되는 조건을 충족시키는 것이다.
또한. 광 기록 매체가 일정한 회전수로 회전되는 경우는 광 빔의 강도 P1, P2, P3(P1〉P2〉P3) 및 조사 기간 τ1, τ2, τ3은 다음 조건에 따른다. 즉, {(P2- P3)×τ3}/{(P1- P2)×τ1}이 1 이하가 되도록, 상기 (P2- P3)×τ3 및 (P1-P2)×τ1 중 적어도 한쪽이 원반형 광 기록 매체(105)의 광 빔이 조사되는 기록 반경 rn에 따라서 변화시키고 있다.
제11도는 본 발명의 다른 실시예에 관한 광 기록 장치를 도시하는 블록도이다. 이 장치의 동작은 제12도에 도시하는 흐름도에 따른다. 즉, 제12도의 단계 301씨서 광 기록 장치의 동작이 개시하면, 원반형 광 기록 매체(105)는 회전 구동된다. 검출계(108)는 최초로 원반형 광 기록 매체(105)의 제1, 제2 기록 조건 기록 영역(105B, 105C)의 어느 한쪽, 또는 양쪽에 기록된 τ3 등의 기록 조건을 나타내는 데이터를 검출한다. 이 검출된 τ3 등의 기록 조건을 나타내는 데이터는 검출계(108), 제어기(107)를 통하여 메모리(109)에 격납된다(제12도의 단계 301, 302). 그리고, 마크마다의 기록 동작의 실행에 있어서는 메모리(109)에 격납된 τ3 등의 기록 조건을 나타내는 데이터에 따라서 기록 조건을 결정하고, 기록 동작을 실행한다(제12도의 단계 303). 기록해야 할 모든 마크의 기록 동작이 종료했을 때, 이 광 기록 장치의 동작은 종료된다(제12도의 단계 304).
본 실시예의 광 기록 장치는 또 다음과 같이 정의된다. 즉, 본 실시예의 광 기록 장치는 광 기록 매체의 비결정부 형성 부위에 제1 강도 P1의 광 빔을 조사 기간 τ1 만큼 조사한 후, 제3 강도 P3의 광 빔을 조사 기간 τ3 만큼 조사하고, 상기 광 기록 매체의 결정부 형성 부위에 제2 강도 P2의 광 빔을 조사함으로써 기록 정보를 기록한다.
이 경우, 상기 광 기록 매체에는 기록 정보를 기록하는 정보 기록 영역과,
이 정보 기록 영역의 외주측 및 내주측 중 적어도 한쪽에 형성되는 기록 조건 기록 영역이 형성되어, 해당 기록 조건 기록 영역에는 {(P2- P3)×τ3}/{P1- P2}×τ1}이 1 이하의 조건을 충족시키는, 광 빔의 강도 P1, P2, P3 (P1〉P2〉P3)및 조사 기간 τ1, τ3을 나타내는 기록 조건 데이터가 기록되어 있다.
또한, 상기 기록 조건 기록 영역에는 상기 정보 기록 영역의 복수의 반경 위치 마다의 광 빔의 강도 P1, P2, P3 및 조사 기간 τ1, τ3 중 적어도 τ3을 나타내는 기록 조건 데이터가 기록되어 있다.
본 실시예의 광 기록 장치는 상기 기록 매체로의 정보 기록에 앞서 상기 기록 조건 기록 영역으로부터 상기 기록 조건 데이터를 검출하는 기록 조건 데이터 검출 수단과,
이 수단에 의해 검출된 상기 기록 조건 데이터에 기초하여 상기 기록 매체로의 정보 기록을 행할 때에 이용하는, 상기 정보 기록 영역의 임의의 반경 위치마다의 광 빔의 강도 P1, P2, P3 및 조사 기간 τ1, τ3 중 적어도 τ3을 결정하는 결정 수단을 구비한다.
또, 상기 결정 수단은 상기 정보 기록 영역을 임의의 반경마다 분할함으로써 복수의 반경 영역을 설정하는 수단과, 이 수단에 의해 설정한 복수의 반경 영역마다 고유의 τ3을 결정하는 수단을 구비한다. 예컨대, 제10A도에 도시된 바와 같이, 기록 조건 데이터의 데이터점 마다 반경 영역을 분할하고, 각 영역내의 데이터점의 τ3의 값을 고유의 수치로 하여 영역내에서 일정하게 되는 경우이다.
혹은, 상기 결정 수단은 상기 정보 기록 영역을 복수의 반경마다 분할함으로써 복수의 반경 영역을 설정하는 수단과, 이 수단에 의해 설정한 복수의 반경 영역마다 고유의 τ3을 결정하는 수단과, 상기 수단에 의해 설정한 복수의 반경 영역 상호간에서는 상기 결정된 τ3을 보간 처리함으로써 보간된 τ3을 산출하는 수단을구비한다. 예컨대, 제10B도에 도시된 바와 같이, 기록 조건 데이터의 데이터점마다 반경 영역을 분할하고, 각 영역내의 데이터점의 τ3의 값을 고유의 τ3 값으로 하여 영역 상호간에서 이 τ3을 보간하고, 반경 위치마다 τ3을 결정하는 경우이다.
또한, 제10B도에서 도시된 바와 같은 직선으로 보간하는 경우는 r에 있어서의 τ3은 양측의 데이터점 rn, rn+1과 그 값 τ3n, τ3n+1로부터
에서 구한다. 구체적으로는 데이터점 r1, r2의 사이에 있는 r12에서는
가 된다.
또한, 본 실시예의 광 기록 방법은 다음과 같이 정의된다. 즉, 광 기록 매체 상에 정보를 기록하는 광 기록 방법에 있어서, 상기 광 기록 매체 상의 정보 기록 영역의 외주측 및 내주측 중 적어도 한쪽에 배치되는 기록 조건 기록 영역에 기록되며 {(P2- P3)×τ3}/{(P1- P2)×τ1}〈 1의 식을 만족시키는 광 빔의 강도 P1, P2, P3(여기에서, P1〉P2〉P3) 및 조사 기간 τ1, τ3 을 나타내는 기록 조건 데이터를, 상기 기록 매체로의 정보 기록에 앞서 상기 기록 조건 기록 영역으로부터 검출하는 검출 단계와, 이 검출 단계에 의해 검출된 상기 기록 조건 데이터에 기초하여 상기 기록 매체에 대해 정보 기록을 행하는 정보 기록 단계를 포함하고, 상기 정보 기록 단계는 광 기록 매체에 비결정부를 형성하기 위해 상기 광 기록 매체에제1 강도 P1의 광 빔을 조사 기간 τ1 동안 조사하는 단계, 상기 광 기록 매체에 제3 강도 P3의 광 빔을 조사 기간 τ3 동안 조사하는 단계, 및 상기 광 기록 매체에 결정부를 형성하기 위해 상기 광 기록 매체에 제2 강도 P2의 광 빔을 조사하는 단계를 포함하는 광 기록 방법.
상기 정보 기록 단계는 상기 기록 조건 데이터에 기초하여 상기 기록 매체로의 정보 기록을 행할 때에 이용하는, 상기 정보 기록 영역의 임의의 반경 위치마다의 광 빔의 강도 P1, P2, P3 및 조사 기간 τ1, τ3 중 적어도 τ3을 결정하는 결정 단계를 포함한다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 의하면 광 기록 매체의 비결정부 형성 위치에 제1 강도 P1의 광 빔을 조사한 후, 제3 강도 P3의 광 빔을 조사하고, 결정부 형성 위치에 제2 강도 P2의 광 빔을 조사하여 정보를 기록함에 있어서, 제3 강도 P3의 광 빔의 조사 기간 τ3을 적정화함으로써, 소거 불완전성과 재생 신호 품질 저하의 문제를 해결하여 기록 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
제1도는 본 발명의 일실시예에 관한 광 기록 장치의 구성도.
제2도는 동실시예에 있어서의 기록 정보와 광 빔의 강도와의 관계를 나타낸 도면.
제3도는 동실시예에 있어서의 제어 회로의 회로 구성예을 나타낸 도면.
제4도는 제3도의 제어 회로의 동작을 설명하기 위한 신호 파형도.
제5도는 실시예에 있어서의 제3 강도의 광 빔 조사 기간과 기록 마크 형상의 관계를 나타낸 도면.
제6도는 동실시예에 있어서의 제3 강도의 광 빔 조사 기간과 매체 온도의 관계를 설명하기 위한 도면.
제7도는 동실시예에 있어서의 CNR 및 소거비의 총광량비 의존성의 실측예을 나타낸 도면.
제8A도 내지 제8D도는 각각 광 빔의 조사 조건과 적정한 τ3과의 관계를 나타낸 도면.
제9도는 본 발명에 있어서의 원반형 광 기록 매체의 개략 평면도.
제10A도 및 제10B도는 각각 원반형 광 기록 매체의 반경 r과 강도 P3의 광 빔의 조사 시간 τ3과의 관계를 나타낸 특성도.
제11도는 본 발명의 다른 실시예에 관한 광 기록 장치의 구성도.
제12도는 제11도에 나타낸 광 기록 장치의 동작을 나타내는 흐름도.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 〉
101 : 광원
102 : 콜리메이터 렌즈
103 : 빔 스플리터
104 : 대물렌즈
105 : 광 기록 매체
106 : 모터
107 : 제어기
108 : 검출계
202, 204 : 플립플롭
203 : 지연선
207, 208, 209 : 버퍼
210, 211, 212 : 스위치

Claims (21)

  1. 디스크형 광 기록 매체에 비결정부를 형성하기 위해 상기 광 기록 매체를 제1 강도 P1의 광 빔으로 제1 조사 기간 τ1 동안 조사한 후 상기 광 기록 매체를 제3 강도 P3의 광 빔으로 제3 조사 기간 τ3 동안 조사하고 상기 광 기록 매체에 결정부를 형성하기 위해 상기 광 기록 매체를 제2 강도 P2로 조사함으로써 상기 광 기록 매체 상에 정보를 기록하는 광 기록 장치에 있어서,
    상기 광 기록 매체를 상기 광 빔으로 조사하는 광 빔 조사 수단과,
    P1〉P2〉P3이 되도록 상기 강도 P1, P2 및 P3을 제어하고, {(P2-P3)×τ3}/{(P1-P2)×τ1}이 1 이하로 되는 조건을 만족하도록 상기 광 빔의 조사 기간 τ1 및 τ3을 제어하는 제어 수단을 포함하고,
    상기 제어 수단에 의해 상기 제1 강도 P1, 상기 제2 강도 P2 및 상기 제3 강도 P3과 조사 기간 τ1 및 τ3을 나타내는 데이터를 상기 디스크형 광 기록 매체의 외주측 및 내주측 중 적어도 한 쪽에 기록하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제어 수단은 상기 광 빔과 상기 광 기록 매체의 상대 이동 속도를 5m/s 이상으로 설정하고 상기 광 빔으로 조사되는 비결정부에 형성된 기록 마크들 사이의 최소 간격을 상기 광 빔의 강도가 그의 중심 강도의 e-2배로 되는 스폿 사이즈이하로 설정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 광 기록 매체를 소정의 회전 속도로 구동하는 구동 수단을 더 포함하고, 상기 제어 수단은 상기 광 빔으로 조사된 광 기록 매체 상의 기록 반경 존에 따라 (P2-P3)×τ3과 (P1-P2)×τ1 중 적어도 하나를 변화시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제어 수단은 상기 광 빔과 상기 광 기록 매체의 상대 이동 속도를 5m/s 이상으로 설정하고 상기 광 빔으로 조사되는 비결정부에 형성된 기록 마크들 사이의 최소 간격을 상기 광 빔의 강도가 그의 중심 강도의 e-2배로 되는 스폿 사이즈 이하로 설정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 구동 수단에 의해 소정의 회전 속도로 구동되는 상기 광 기록 매체의 기록 반경 존에 따라 상기 광 빔에 의해 수행되는 기록 정보를 변형시키기 위해 기준 클록 주기를 변화시키는 변화 수단을 더 포함하고, 상기 제어 수단은 {(P2-P3)×τ3}/{(P1-P2)×τ1}이 1 이하로 되는 조건을 만족하도록 상기 기준 클록 주기에비례하여 상기 광 빔의 조사 기간 τ1과 τ3 중 적어도 하나를 변화시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제어 수단은 상기 광 빔과 상기 광 기록 매체의 상대 이동 속도를 5m/s 이상으로 설정하고 상기 광 빔으로 조사되는 비결정부에 형성된 기록 마크들 사이의 최소 간격을 상기 광 빔의 강도가 그의 중심 강도의 e-2배로 되는 스폿 사이즈 이하로 설정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  7. 정보 기록 영역과 광 기록 매체 상에 형성되는 기록 조건 기록 영역을 포함하고,
    상기 기록 조건 기록 영역은 상기 정보 기록 영역의 외주측과 내주측 중 적어도 한 쪽에 형성되어 그 내부에 {(P2-P3)×τ3}/{P1-P2}× τ1)}이 1 이하인 조건을 만족하는 광 빔의 강도 P1, P2, F3 (여기에서, P1〉P2〉P3) 및 조사 기간 τ1 및 τ3을 나타내는 기록 조건 데이터를 저장하는 것을 특징으로 하는 광 기록 매체.
  8. 제7항에 있어서,
    기록 조건 기록 영역에는 상기 정보 기록 영역의 복수의 반경 위치마다 상기광 빔의 강도 P1, P2, P3과 조사 기간 τ1 및 τ3 중 적어도 τ3을 나타내는 기록 조건 데이터를 저장하는 것을 특징으로 하는 광 기록 매체.
  9. 기록 매체를 제1 강도 P1의 광 빔으로 제1 조사 기간 τ1 동안, 제3 강도의 광 빔으로 제3 조사 기간 τ3 동안 및 미리 결정된 조건하에서 제2 강도의 광 빔으로 조사하여 정보를 기록하는 광 기록 매체에 있어서,
    상기 정보를 기록하는 정보 기록 영역과,
    상기 정보 기록 영역의 외주측 및 내주측 중 적어도 한 쪽에 형성되어, P1〉P2〉P3인 광 빔 강도 P1, P2, P3 및 상기 광 기록 매체의 방사상의 위치와 관련된 조사 기간 τ1, τ3을 나타내고 방사상의 각 위치마다
    {(P2- P3)×τ3}/{(P1- P2)×τ1}이 1 이하
    의 조건을 만족하는 기록 조건 데이터를 기록하는 기록 조건 기록 영역을 구비하는 것을 특징으로 하는 광 기록 매체.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 기록 조건 기록 영역은 상기 광 기록 매체의 반경 위치 r을 나타내는 반경 위치 데이터 그룹, P1 기록 조건 데이터 그룹, P2 기록 조건 데이터 그룹, P3 기록 조건 데이터, τ1 기록 조건 데이터 그룹 및 상기 강도 P1, P2, P3과 상기 방사 위치로 표현되는 상기 복수의 방사 위치에 상응하고 {(P2-P3)×τ3}/{(P1-P2)×τ1}이 1 이하인 조건을 만족하는 조사 기간 τ1, τ3을 나타내는 τ3 기록 조건데이터 그룹을 저장하는 것을 특징으로 하는 광 기록 매체.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 기록 조건 기록 영역은 반경 위치 데이터 r과 반경 위치마다 하나의 그룹으로써 상호 관련된 기록 조건 데이터 P1, P2, P3, τ1 및 τ3을 저장하는 것을 특징으로 하는 광 기록 매체.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 기록 조건 기록 영역은 상기 광 기록 매체의 방사 위치의 미리 결정된 순서에 따라서 상기 광 빔의 강도 P1, P2, P3(P1〉P2〉P3)과 상기 광 빔의 조사 기간 τ1, τ3을 나타내고 {(P2-P3)×τ3}/{(P1-P2)×τ1}이 1 이하인 조건을 만족하는 기록 조건 데이터 P1, P2, P3, τ1 및 τ3을 저장하는 것을 특징으로 하는 광 기록 매체.
  13. 제9항에 있어서,
    상기 기록 조건 기록 영역은 상기 정보 기록 영역의 복수의 방사 위치마다 상기 광 빔의 강도 P1, P2, P3과 조사 기간 τ1, τ3 중 적어도 τ3을 저장하는 것을 특징으로 하는 광 기록 매체.
  14. 광 기록 매체에 정보를 기록하는 광 기록 장치에 있어서,
    광 빔을 상기 기록 매체에 전송하는 광 빔 조사 유닛과,
    상기 기록 매체에 비결정 영역을 형성하기 위해 제1 조사 기간 τ1 동안 제1 강도 P1을 갖는 광 빔과, 제3 조사 기간 τ3 동안 제3 강도를 갖는 광 빔과, 결정 영역을 형성하기 위해 제2 강도 P2를 갖는 광 빔을 상기 광 기록 매체에 조사하도록 상기 광 빔을 제어하는 제어 유닛을 포함하고,
    상기 광 기록 매체는,
    상기 정보를 기록하는 정보 기록 영역과,
    상기 정보 기록 영역의 외주측 및 내주측 중 적어도 한 쪽에 형성되어, P1〉P2〉P3인 광 빔 강도 P1, P2, P3 및 상기 광 기록 매체의 방사상의 위치와 관련된 조사 기간 τ1, τ3을 나타내고 방사상의 각 위치마다
    {(P2- P3)×τ3}/{(P1- P2)×τ1}이 1 이하
    의 조건을 만족하는 기록 조건 데이터를 기록하는 기록 조건 기록 영역을 구비하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 기록 조건 기록 영역은 상기 광 기록 매체의 반경 위치 r을 나타내는 반경 위치 데이터 그룹, P1 기록 조건 데이터 그룹, P2 기록 조건 데이터 그룹, P3 기록 조건 데이터, τ1 기록 조건 데이터 그룹 및 상기 강도 P1, P2, P3과 상기 방사 위치로 표현되는 상기 복수의 방사 위치에 상응하고 {(P2-P3)×τ3}/{(P1-P2)×τ1}이 1 이하인 조건을 만족하는 조사 기간 τ1, τ3을 나타내는 τ3 기록 조건데이터 그룹을 저장하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  16. 제14항에 있어서,
    상기 기록 조건 기록 영역은 반경 위치 데이터 r과 반경 위치마다 하나의 그룹으로써 상호 관련된 기록 조건 데이터 P1, P2, P3, τ1 및 τ3을 저장하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 기록 조건 기록 영역은 방사 위치의 미리 결정된 순서에 따라서 상기 광 빔의 강도 P1, P2, P3(P1〉P2〉P3)과 상기 광 빔의 조사 기간 τ1, τ3을 나타내고 {(P2-P3)×τ3}/{(P1-P2)×τ1}이 1 이하인 조건을 만족하는 기록 조건 데이터 P1, P2, P3, τ1 및 τ3을 기록하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  18. 제14항에 있어서,
    상기 기록 조건 기록 영역은 상기 정보 기록 영역의 복수의 방사 위치마다 상기 광 빔의 강도 P1, P2, P3과 조사 기간 τ1, τ3 중 적어도 τ3을 나타내는 기록 조건 데이터를 저장하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  19. 제14항에 있어서,
    상기 정보를 상기 기록 매체에 기록하기 전에 상기 기록 조건 기록 영역으로부터 상기 기록 조건 데이터를 검출하는 기록 조건 데이터 검출 수단과,
    상기 기록 조건 데이터 검출 수단에 의해 검출된 기록 조건 데이터에 기초하여 상기 정보 기록 영역의 복수의 방사 위치마다 상기 광 빔의 강도 P1, P2, P3과 조사 기간 τ1, τ3 중 적어도 τ3을 결정하는 결정 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  20. 제19항에 있어서,
    상기 결정 수단은 상기 정보 기록 영역을 복수의 방사 영역으로 분할하도록 상기 복수의 방사 영역을 설정하는 수단과 상기 설정 수단에 의해 설정된 상기 복수의 방사 영역마다 소정의 τ3을 결정하는 결정 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
  21. 제19항에 있어서,
    상기 결정 수단은 상기 정보 기록 영역을 복수의 방사 영역으로 분할하도록 상기 복수의 방사 영역을 설정하는 수단과 상기 설정 수단에 의해 설정된 상기 복수의 방사 영역마다 소정의 τ3을 결정하는 결정 수단 및 상기 설정 수단에 의해 설정된 상기 복수의 방사 영역에 대해 결정된 τ3의 보간 처리를 통해 보간된 τ3을 산출하는 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광 기록 장치.
KR1019950037498A 1994-10-27 1995-10-27 오버라이트방식이적용되는상변화형광기록장치및광기록매체 Expired - Lifetime KR100343189B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26408594 1994-10-27
JP94-264085 1994-10-27

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960015441A KR960015441A (ko) 1996-05-22
KR100343189B1 true KR100343189B1 (ko) 2002-11-29

Family

ID=17398312

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950037498A Expired - Lifetime KR100343189B1 (ko) 1994-10-27 1995-10-27 오버라이트방식이적용되는상변화형광기록장치및광기록매체

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5673248A (ko)
EP (1) EP0709833B1 (ko)
KR (1) KR100343189B1 (ko)
DE (1) DE69524543T2 (ko)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69723931T2 (de) * 1996-02-16 2004-06-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Verfahren und vorrichtung zur aufzeichnung auf einen optischen informationsträger
US6173955B1 (en) * 1998-12-22 2001-01-16 Mikohn Gaming Corporation Poker dice casino game method of play
AU2001288125A1 (en) * 2000-09-29 2002-04-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical information recording medium and method of reproducing the record
JP3793437B2 (ja) * 2000-10-10 2006-07-05 Ｔｄｋ株式会社 光記録方法および光記録媒体
DE102013202138A1 (de) * 2013-02-08 2014-08-14 Gebr. Schmid Gmbh Vorrichtung zur Substratnassbehandlung und Verwendung

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0265971A1 (en) * 1986-10-31 1988-05-04 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for optical information recording

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2796290B2 (ja) * 1987-04-10 1998-09-10 株式会社日立製作所 可逆相変化を用いた情報記録方法
JP2972899B2 (ja) * 1991-01-24 1999-11-08 株式会社リコー 光磁気記録方法
JPH0774285B2 (ja) * 1991-06-07 1995-08-09 東レ株式会社 発泡樹脂成形品
JP2639279B2 (ja) * 1992-05-08 1997-08-06 ヤマハ株式会社 光ディスク記録装置
JPH06302042A (ja) * 1993-04-15 1994-10-28 Hitachi Ltd 光磁気ディスク装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0265971A1 (en) * 1986-10-31 1988-05-04 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for optical information recording

Also Published As

Publication number Publication date
EP0709833A1 (en) 1996-05-01
KR960015441A (ko) 1996-05-22
EP0709833B1 (en) 2001-12-12
US5673248A (en) 1997-09-30
DE69524543T2 (de) 2002-06-27
DE69524543D1 (de) 2002-01-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6205102B1 (en) Method and device for recording an optical information carrier
US6529457B1 (en) Optical information recording medium, optical information recording apparatus, and method of recording test signal on the same
JP3231533B2 (ja) 光学的情報記録方法
US5412626A (en) Method of recording optical information with selective correction in pulse waveform and a recording system therefor
JP3266971B2 (ja) 光学情報の記録方法
JP3648914B2 (ja) レーザ光のパワー制御方法及び光ディスク記録装置
KR19990029542A (ko) 정보기록방법 및 정보기록장치
JPH06338064A (ja) 光情報記録媒体および光学的情報記録／再生装置
JPH10320777A (ja) 記録方法、位相ずれ検出回路、及びそれらを用いた情報装置
JP2003203337A (ja) 情報記録方法及び情報記録装置
KR100343189B1 (ko) 오버라이트방식이적용되는상변화형광기록장치및광기록매체
US6751513B1 (en) Method and device for recording an optical information carrier
JPH09219021A (ja) 情報記録再生方法
EP0821825B1 (en) Method and device for recording an optical information carrier
US5673249A (en) Phase change type optical recording apparatus and optical recording method using an overwrite system
JP4055073B2 (ja) 光ディスクの記録方法および光ディスク記録装置
JP4003614B2 (ja) 記録パワー調整方法及びそれを用いた光学情報記録装置
TW561457B (en) Optical disc recording device
JP3887146B2 (ja) 情報記録装置
JPH08212554A (ja) 光記録装置、光記録方法及び光記録媒体
JP2004280891A (ja) 記録方法，記録媒体及び記録装置
JP3593251B2 (ja) 光ディスク装置
JP2007528574A (ja) 記録担体の情報層にマークを記録する方法及び装置
JP2001043532A (ja) 光ディスク装置
JPH09128754A (ja) 情報の記録再生方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 19951027

PA0201 Request for examination

Patent event code: PA02012R01D

Patent event date: 19951027

Comment text: Request for Examination of Application

PG1501 Laying open of application
E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 19980624

Patent event code: PE09021S01D

AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
PE0601 Decision on rejection of patent

Patent event date: 19981230

Comment text: Decision to Refuse Application

Patent event code: PE06012S01D

Patent event date: 19980624

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event code: PE06011S01I

J201 Request for trial against refusal decision
PJ0201 Trial against decision of rejection

Patent event date: 19990406

Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal

Patent event code: PJ02012R01D

Patent event date: 19981230

Comment text: Decision to Refuse Application

Patent event code: PJ02011S01I

Appeal kind category: Appeal against decision to decline refusal

Decision date: 20000229

Appeal identifier: 1999101001265

Request date: 19990406

AMND Amendment
B90T Transfer of trial file for re-examination
PB0901 Examination by re-examination before a trial

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 19990506

Patent event code: PB09011R02I

Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal

Patent event date: 19990406

Patent event code: PB09011R01I

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 19981124

Patent event code: PB09011R02I

B601 Maintenance of original decision after re-examination before a trial
PB0601 Maintenance of original decision after re-examination before a trial
J301 Trial decision

Free format text: TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 19990406

Effective date: 20000229

PJ1301 Trial decision

Patent event code: PJ13011S01D

Patent event date: 20000302

Comment text: Trial Decision on Objection to Decision on Refusal

Appeal kind category: Appeal against decision to decline refusal

Request date: 19990406

Decision date: 20000229

Appeal identifier: 1999101001265

PS0901 Examination by remand of revocation
S901 Examination by remand of revocation
E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20000408

Patent event code: PE09021S01D

AMND Amendment
PS0601 Decision to reject again after remand of revocation

Patent event date: 20010216

Comment text: Decision to Refuse Application

Patent event code: PS06013S01D

Patent event date: 20000408

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event code: PS06012S01I

Patent event date: 20000313

Comment text: Notice of Trial Decision (Remand of Revocation)

Patent event code: PS06011S01I

Patent event date: 19980624

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event code: PS06012S01I

S601 Decision to reject again after remand of revocation
J201 Request for trial against refusal decision
PJ0201 Trial against decision of rejection

Patent event date: 20010321

Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal

Patent event code: PJ02012R01D

Patent event date: 20010216

Comment text: Decision to Refuse Application

Patent event code: PJ02011S01I

Patent event date: 19981230

Comment text: Decision to Refuse Application

Patent event code: PJ02011S01I

Appeal kind category: Appeal against decision to decline refusal

Decision date: 20020322

Appeal identifier: 2001101000722

Request date: 20010321

AMND Amendment
PB0901 Examination by re-examination before a trial

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 20010419

Patent event code: PB09011R02I

Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal

Patent event date: 20010321

Patent event code: PB09011R01I

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 20000808

Patent event code: PB09011R02I

Comment text: Transfer of Trial File for Re-examination before a Trial

Patent event date: 19990525

Patent event code: PB09012E01I

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 19990506

Patent event code: PB09011R02I

Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal

Patent event date: 19990406

Patent event code: PB09011R01I

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 19981124

Patent event code: PB09011R02I

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20010608

Patent event code: PE09021S01D

GRNO Decision to grant (after opposition)
PS0701 Decision of registration after remand of revocation

Patent event date: 20020322

Patent event code: PS07012S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 20000313

Patent event code: PS07011S01I

Comment text: Notice of Trial Decision (Remand of Revocation)

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 20020622

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 20020624

End annual number: 3

Start annual number: 1

PG1601 Publication of registration
PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20050531

Start annual number: 4

End annual number: 4

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20060607

Start annual number: 5

End annual number: 5

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20070531

Start annual number: 6

End annual number: 6

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20080527

Start annual number: 7

End annual number: 7

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20090527

Start annual number: 8

End annual number: 8

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20100528

Start annual number: 9

End annual number: 9

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20110527

Start annual number: 10

End annual number: 10

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20120611

Start annual number: 11

End annual number: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130603

Year of fee payment: 12

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20130603

Start annual number: 12

End annual number: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140516

Year of fee payment: 13

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20140516

Start annual number: 13

End annual number: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150518

Year of fee payment: 14

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20150518

Start annual number: 14

End annual number: 14

EXPY Expiration of term
PC1801 Expiration of term