JP3231533B2 - 光学的情報記録方法 - Google Patents

光学的情報記録方法

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JP3231533B2 JP00911794A JP911794A JP3231533B2 JP 3231533 B2 JP3231533 B2 JP 3231533B2 JP 00911794 A JP00911794 A JP 00911794A JP 911794 A JP911794 A JP 911794A JP 3231533 B2 JP3231533 B2 JP 3231533B2
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    • G11B7/2407Tracks or pits; Shape, structure or physical properties thereof
    • G11B7/24085Pits

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は例えばディスク状の記録
媒体上に同心円もしくは螺旋状に記録された情報トラッ
クに収束レーザ光を照射して情報を記録する方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来のオーバライト可能な光ディスクの
記録方式は例えば特開昭63−266632号公報また
は特開昭64−46231号公報に記載のように記録符
号列をパルス化して古い情報を消去しながら新しい情報
を記録する方式である。これらを記録パルス幅変調方式
(PWM)に適応した場合、図2に示すように形成され
た記録マーク(非晶質点)の形状は、長さが異なっても
その前端と後端で形状を対称にすることができ、再生エ
ラーを抑制することができ、高密度記録が可能である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】一方、相変化光記録媒
体は記録部を加熱溶融した後急冷して非晶質化して記録
を行い、結晶化温度と融点の間に保持して結晶化して消
去を行う。記録の際の溶融状態おいては固相と液相の間
の体積変化、熱伝導率、比熱の変化、及び記録パルス照
射時の温度分布の非対称性などの原因により、記録膜材
料が流動、もしくは偏析し、記録特性が変化してしま
う。これが、書換え可能回数を制限する要因となってい
る。
【0004】本発明の目的は相変化光ディスクに記録パ
ルス幅変調方式を適応して高密度化を図るために、書換
え回数に対する耐久性を向上する光ディスク装置及び媒
体を提供することに有る。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明では上の課題を解
決するために、長さNLの記録マークを空間的に独立し
た長さL以下のN個の隣接する微小記録マークとして記
録するものである。これにより、溶融した領域が隣接マ
ークに及ばないため、記録膜の流動を抑制して書換え寿
命を向上することができる。この微小記録マーク列は間
隔Lが再生光学系の波長λ、開口数NAとして、光学系
の分解能の観点から概略L<λ/2NAのときにはほぼ
長さNLの1つの信号として再生することができる。
【0006】微小マーク列の形成方法を以下に述べる。
ディスクの線速度vに対して、Tw=L/vがパルス幅
の最小単位となる。そこで図3に示すように1つの微小
マークを幅tの高出力パルスと幅Tw−tの低出力パル
スの対(基本パルス)によって形成する。高出力のパル
ス幅がTwに比較して短いために記録媒体の熱のこも
り、及び隣接マーク間の熱干渉が小さくなり対称性のよ
いマークが形成できる。
【0007】同様に消去パルスもパワーの値を変えるこ
とにより構成することができる。この場合、照射される
光パワーの平均値を記録パルス照射部と、消去パルス照
射部でほぼ一定にすることが望ましい。すなわち、記録
パルスの高出力値をWH、低出力値をWL、消去パルス
の高出力値をEH、低出力値をELとしたとき、WH/
WL>EH/ELとする。このようにすることによっ
て、前のパルスが記録パルスでも消去パルスでも続いて
照射するパルスの照射開始位置における記録膜の温度を
ほぼ一定とすることができ、熱干渉による記録感度や形
成されたマークの変動を抑制することができる。
【0008】
【作用】本発明によって、空間的に独立した微小な記録
マークの列を形成することができ、相変化光ディスク媒
体を用いて、安定に高密度の記録を可能にし、かつ書換
え可能な回数を向上することを可能にした。
【0009】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。
【0010】図1は本発明の光ディスク装置におけるレ
ーザ光のパワーモジュレーションを示す1実施例であ
る。媒体としては結晶状態と非晶質状態の間で可逆的に
相変化する記録膜としてGeSbTe系、InSbTe
系、AgInSbTe系等を主成分とした薄膜材料をデ
ィスク状の基板の上に形成したものを用いた。
【0011】この光ディスク媒体を約1800rpmで
回転させ、レーザ光のパワーレベルを図1に示すように
変調して照射した。実際には光スポットは動かず光ディ
スクの回転によって相対的に移動している。記録(非晶
質化)の光パルスは高出力レベルWH、低出力レベルW
L、消去(結晶化)の光パルスは高出力レベルEH、低
出力レベルELとした。
【0012】このような記録方法によって形成された非
晶質点は互いに独立でほぼ同一の形状とすることができ
た。各レベルの時間幅は可変に設定可能である。例えば
サンプルサーボ方式などの基準クロック(周期Tw)に
従って記録する場合には、各レベルの時間幅を例えばT
w/2の幅にすれば、レーザ駆動回路の温度特性や光デ
ィスクの回転変動に依存するジッタの少ない記録が可能
である。
【0013】図4は本発明の光ディスク装置におけるレ
ーザ光のパワーモジュレーションの別の実施例である。
本実施例では消去の光パルスとしては高出力レベルEH
と低出力レベルELを等しく選んだ場合を示し、時間幅
1Twと4Twの記録マークを形成する場合を示してい
る。
【0014】記録パルス列の先端の高出力レベルWH
1、及び後端の低出力レベルWL2をそれ以外の記録パ
ルス列の高出力レベルWH2、及び後端の低出力レベル
WL1と違った値に設定した。こうすることによって、
記録膜内の熱のこもり及び非晶質点を形成するときの冷
却速度を一定としてレベルのそろった非晶質点を形成す
ることができた。
【0015】図5は図4に示した記録パルスを照射した
場合の再生信号と記録パルス列のパワーの設定方法を示
している。
【0016】図5(a)の再生波形は1、2、3、10
Twの記録マークをそれぞれデューティ50%の信号と
して記録した後に再生した信号である。図に見られるよ
うに各再生信号の振幅は異なっているが平均値はほぼそ
ろっており、これをスライスレベルとして2値化すれ
ば、誤差の少ない弁別が可能である。
【0017】図5(b)は1、2、3Twの各再生信号
の平均値の変化と記録パルス列先端の非晶質レベルWH
1との関係の1例を示す。媒体として直径5.25イン
チのサンプルサーボフォーマットのプラスチック基板に
ZnS−20%SiO2誘電体保護膜、GeSbTe系
記録膜、ZnS−20%SiO2誘電体保護膜、Al−
3%Ti反射膜、ZnS−20%SiO2誘電体保護膜
を随時積層したものを用いた。
【0018】この媒体を1800rpmで一定回転させ
て線速度約7.5m/s、Tw=90nsの条件で1、
2、3、10Twの記録マークをそれぞれデューティ5
0%の繰返し信号として記録した後、最も平均値変化の
小さい10Tw信号の平均値に対して1、2、3Twの
各信号の平均値のずれ量を測定した結果である。各パワ
ーはEH=EL=7.9mW、WH2=13.3mWと
した。図に見られるようにWH1の値に対して1Tw信
号以外はほぼ平均値の変化は小さく、WH1=12.3
mWの条件で、平均値のずれが最小になった。このとき
図5(a)のように、各信号の平均値の揃った、スライ
スレベルのマージンの大きな再生信号が得られた。この
ような記録を行うことによって、形成された非晶質点の
大きさがほぼ一様で、かつ各非晶質点が独立しているこ
とは記録膜の電子顕微鏡観察によって確かめることがで
きた。従って、図4に示した照射レーザパワーの変調方
法が記録時の熱干渉を一定化し、安定した信号を記録す
るのに有効であることが分かった。ここでは示さなかっ
たが、WL2は各信号の後端部の信号レベルを制御する
のに有効なパラメータである。
【0019】図6は本発明の光ディスク装置におけるレ
ーザ光の変調と再生信号の一例である。これは1Tw信
号の繰返しパターンであり、下が記録レーザパルスのパ
ワー、上がその時の再生信号である。
【0020】図7は図6のパワー変調に対してWH1/
WL1の値が大きいときと小さいときの記録膜の到達温
度の分布も違いを模式的に示したものである。図に示す
ようにWH1/WL1の大小によって記録膜内の温度分
布、特に進行方向に対する加熱速度(単位時間当たりの
温度上昇)及び冷却速度(単位時間当たりの温度下降)
の大きさの関係が逆転する。従って記録膜が溶融状態の
時に温度分布によって受ける応力も異なるはずである。
これが相変化光記録における繰返し寿命にどのような影
響を与えるかを調べた。
【0021】図8はWH1/WL1と1万回繰返し記録
後の再生信号、及びそれをDC光で消去(結晶化)した
場合の信号を示す。媒体は上で説明したものと同じ5.
25インチのサンプルサーボフォーマットの媒体であ
る。図中のサンプルマークには再生光以外は照射されな
い。サンプルマークの右端が記録開始部、サンプルマー
クの左端が記録終了部である。
【0022】図8に見られるように、同じ信号を繰返し
記録することによって記録開始部と記録信号部に再生信
号のレベル変化が現れた。変化の向きが記録開始部と終
了部で反対になっていることからこれは記録膜の流動に
よる膜厚変化の結果であることがわかる。また、変化の
特性がWH1/WL1の大小によって逆転することから
これが、図7に示したように記録膜の温度分布の光ビー
ム進行方向に対する非対称性に依存しているものである
ことが考えられる。
【0023】ここに示した信号レベルの変化があると再
生信号処理の時にエラーを生じ、これが繰返し記録可能
な回数を制限する原因となる。ところが、このレベル変
化が照射する光パワーによって変わることから逆に、レ
ベル変化を検出してこれを小さくする方向に照射する光
パワーを設定し直すことによって繰返し記録寿命を伸ば
すことができる筈である。実際、WH1/WL1が大の
条件で繰返し記録した後にWH1/WL1が小の条件で
繰返し記録すると再生信号のレベル変化が小さくなって
いく現象が確かめられた。従って、ここに示したレベル
変化が可逆的なものであることが分かった。但し、繰返
し記録によって現れたこうした記録開始部、終了部の再
生信号レベルの変化の向きと大きさは媒体の膜構成や、
熱拡散の条件によって異なるため、予め媒体構成ごとに
調べて媒体に記録しておくこと等が必要である。
【0024】図9はサンプルサーボフォーマットの相変
化媒体の繰返寿命の向上方法のシステム的なアプローチ
の例を示したものである。
【0025】光ディスクに記録されるデータは通常ラン
ダムで同じ信号が同じ場所に繰返し記録されることは少
ない。しかし、例えばMS−DOSのFAT領域などの
ディレクトリやファイル管理領域等は書換えに際して一
部が変化するだけで非常に近いパターンが記録される。
相変化記録媒体では非晶質化の回数によって消し残りや
信号変調度などの特性に変化があるため、ファイル管理
領域でも位置に依らずほぼ同じ回数だけ非晶質化される
ことが望ましい。したがって、同じ論理データを位置を
シフトして記録することが望ましい。
【0026】図9ではサンプルサーボ方式において初期
信号と同じパターンをオーバライトする場合を示してい
る。オーバライト信号1から5は同じ論理データであ
る。オーバライト信号1はシフトなしの場合で初期信号
と全く同じ位置に非晶質点が形成されるため、繰返し寿
命の点では劣化が早い。これに対してオーバライト信号
2から5はデータのシフトを施した場合を示している。
サンプルサーボ方式では基準クロック周期Twの整数倍
及び半整数倍のシフトが簡単に得られる。オーバライト
信号2はTw/2だけシフトした場合、オーバライト信
号3は2Twだけシフトした場合、オーバライト信号4
は2Twだけパターンを論理的に回転した場合、オーバ
ライト信号5は2から4の組合せである。オーバライト
信号2から5のような記録を行えば同じ論理データに対
して物理的な非晶質点の形成位置をランダムに変化させ
ることができる。この場合、論理的な回転のみをいれば
物理的なデータ領域の大きさに変化がないのでフォーマ
ット効率を低下させずにすむ。
【0027】図10は記録方式別のオーバライト回数と
再生信号のS/N比の関係を測定した結果である。1T
wから10Twの信号を含む同一論理データを繰返し記
録した場合、非晶質点を空間的に独立にする本発明の記
録方式は寿命向上に有効であることが分かる。また記録
パターンをシフトした場合には繰返しによるS/N比の
低下は繰返し10万回まで見られなかった。このときの
パターンシフト方法は図9におけるオーバライト信号4
のような整数倍シフトを用い、シフト量を乱数で決定し
て毎回変化させた。
【0028】図11は記録パワーの設定方法を示す。こ
れは例えば媒体を装置にローディングしたときに行うと
よい。先ず、例えば内周中周外周に設定した特定の試し
記録領域に初期設定パワーで信号を記録し(501)、
図5に示した記録パワーと信号の平均レベルの関係を用
いて、これが所定の許容値以下になるようにパワーを補
正する(502)。次に、実際に記録すべき領域につい
て図8に示した関係を用いて記録開始部と終了部の信号
の差を測定して(503)、これを小さくする方向にパ
ワーの補正を行う(504)。但し、繰返し記録による
記録開始部、終了部の再生信号レベルの変化の向きは媒
体の膜構成や、熱拡散の条件によって異なるため、予め
媒体構成ごとに調べて媒体に記録しておくこと等が必要
である。また、記録の度に記録開始部と終了部の反射率
変化を測定するとオーバヘッドになり実効転送速度が低
下するため、例えば、記録再生命令がないときに予めセ
クタごとにに記録開始部と終了部の反射率変化を測定し
その結果をセクタの管理領域に記録しておく等の工夫に
よってオーバヘッドを最小化することができる。
【0029】第12は本発明に好適な媒体の構成を示す
1実施例である。ここではサンプルサーボ方式を用いて
ZCAV(Zoned Constant Angul
arVelocity)方式で記録する媒体を示してい
る。ZCAV方式では光ディスク媒体の回転速度が一定
なのでアクセスが速く、ゾーンごとに記録情報の線密度
がほぼ一定になるのでディスクの容量が大きくできる。
【0030】一方、サーボ方式の1つであるサンプルサ
ーボ方式では、基準クロックに基づいて時分割でデータ
とフォーカス誤差とトラッキング誤差を検出するので光
学系の構成が簡素になり、装置の小型化に有利である。
【0031】本発明では基準クロックを生成するPLL
(Phase Locked Loop)回路をサーボ
用とデータ用の2系統に分ける。光ディスク媒体にプリ
フォーマットされるクロック及びウォブルピットからな
るサーボマークはCAV方式と同様に放射状に配置す
る。サーボ用PLLはサーボマークを再生してフォーカ
ス及びトラッキング誤差信号を生成するために周波数を
一定とし、データ用PLLは記録密度が光ディスク媒体
の内外周で略一定になるように光ディスク媒体の半径に
ほぼ比例して周波数が大きくなるように設定する。
【0032】これにより、サーボ系とデータの記録再生
系は独立となり、CAV方式でプリフォーマットされた
光ディスク媒体にZCAVモードでデータを記録再生す
ることが可能になる。
【0033】この場合、光ディスク媒体に記録される信
号は内周から外周にかけてセグメント当たりの容量が大
きくなる。本実施例では最内周のゾーンで1セグメント
当たりNバイトの情報を記録し、全体をmゾーンに分割
する場合を示している。1セグメントのバイト数は内周
から外周にかけて1バイトづつ増加し最も外周のゾーン
ではN+m−1となる。本媒体はプリフォーマットが基
本的にCAV方式であるためデータ用クロックの選び方
によってZCAV方式のデータ記録にもCAV方式のデ
ータ記録にも対応できる点が特徴の1つである。
【0034】図13は本発明の光ディスク装置の構成を
示す1実施例である。レーザドライバ1407は光ヘッド14
03の半導体レーザを点灯し再生光を光ディスク媒体10
上に照射する。光ディスク媒体10からの反射光をおなじ
く光ヘッド1403内の光検出器によって電気信号に変換
し、プリアンプ1408によって増幅して光ディスク媒体上
の記録情報をRF信号として再生する。続いてRF信号
の振幅パターンからピット抽出を行い、サーボ系PLL
1419、サーボクロック1423によってサーボ系の基準クロ
ックを生成する。サーボ系PLL1419は一定周波数の基
準クロックを生成するようにフィードバックループ内の
分割数は固定である。このクロックを基準としてフォー
カス及びトラッキング用のサーボ用信号と、プリフォー
マットされたトラック及びセクタのアドレスを再生す
る。サーボ用信号から時分割演算によってフォーカス制
御、トラッキング制御用の偏差をエラー検出1411によっ
てとりだす。制御器1418ではこれらの偏差を0にするよ
うに機構ドライバ1409を介して光ヘッド1403内の2次元
アクチュエータのフォーカス及びトラッキング制御をす
る。
【0035】一方データ系の基準クロックは、再生した
RF信号からデータ系PLL1420、データクロック1424
によって生成し、それを基準に変調を施してデータの記
録再生を行う。データ系PLL1424はデータの記録密度
略一定とするように発振周波数がゾーンごとに変化す
る。したがって、フィードバックループ内の分割数はゾ
ーンごに変化する。復調器1421からの復調された再生デ
ータ、また変調器1416への記録データは、エラー訂正14
26によってエラー訂正処理、インターリーブ処理が行わ
れ、インターフェース1427を介してホストコンピュータ
との記録再生データの受渡しを行なう。ドライブコント
ローラ1428の動作は、内蔵のマイクロプロセッサによっ
て制御される。データ系の基準クロックにサーボ系の基
準クロックを用いれば容易にCAV方式の記録再生が実
現できる。その切り替えは切り替えスイッチ1430によっ
てデータクロックを選択して行うことができる。
【0036】以上に示した実施例はセクタアドレスがプ
リフォーマットされた光ディスク媒体に対応するもので
あり物理セクタ当たりの容量が内周から外周に向かって
大きくなる。パソコン等の用途では論理セクタが512
バイトあるいは1024バイトで一定になることが望ま
しい。アドレス管理1443はゾーンごとに変化する物理セ
クタから固定長の論理セクタに変換する機能を有する。
【0037】コントローラ1440は装置全体の機能制御を
行う。内部にはファイル管理1441、試し記録やパワー設
定を行う記録再生条件管理1442、アドレス管理1443、C
AV/ZCAV切り替え管理1444、記録のデータのシフ
ト量の決定と記録再生を行う記録シフト管理1445、イン
ターフェース管理1446の機能等がある。
【0038】第14図は本発明を直径64mm基板厚さ
0.6mmのパーソナル用途の光ディスクに適応した場
合のフォーマットの一例である。ここでは変調方式とし
て8−10変調を用い、回転数を3600rpm、トラ
ックピッチ1.35μm、最短マーク長0.7μm、ゾ
ーン数10とすることによって片面144MBの記憶容
量とすることができる。
【0039】図15は本発明の光ディスク媒体のサーボ
及びデータ領域を示す1実施例である。相変化光記録膜
では記録膜の流動によって繰返し記録による劣化が生じ
るため、記録領域に溝等の構造があると流動の抵抗とな
り寿命の向上が図れる。本実施例ではセグメント120
内のデータ領域157に溝110を設けた。これにより
データ部の繰返し寿命を向上するとともにサーボマーク
100の再生については溝の影響がクロックピット10
1及びウォブルピット102、103の再生信号に影響
しないように配慮している。この場合非晶質点900は
溝110の中に形成する。基板作成のプロセスの簡略化
のためにはピットと溝の深さを等しくすることが望まし
い。ピットの再生信号の変調度は深さが再生レーザ光の
波長の1/4のときに最大になるが、このとき溝の反射
率も最小になって記録データのS/Nが低下するため、
ピットと溝の深さは再生レーザ光の波長の1/4以下で
等しくすることが望ましい。
【0040】図16は本発明の光ディスク媒体のサーボ
及びデータ領域を示す別の実施例である。本実施例では
図15の実施例において溝110をデータ領域で2分割
したものである。これにより、トラック20に沿った反
った方向の流動に対して溝と溝の間で抵抗を大きくし
て、流動を抑制する効果が向上する。データ領域の溝の
数を3本以上にすればさらに効果が向上する。
【0041】図17は本発明の光ディスク媒体のサーボ
及びデータ領域を示す別の実施例である。本実施例では
溝の代わりにデータ領域ピット120を設けて流動に対
策としている。当然、ピットの数を増やせば流動防止効
果が向上する。また、ピット120をZCAV記録にお
けるデータの記録周波数に同期して配置することによっ
て、前に示したデータ用PLLの安定性が増し、よりジ
ッタの少ない記録が可能になる。
【0042】図18は本発明の光ディスク媒体のサーボ
及びデータ領域を示す別の実施例である。本実施例は図
15の実施例で記録データを溝110の中だけでなく、
溝の間にも記録した場合の実施例である。相変化光記録
では溝の中と間に同時に記録しても溝の深さが再生レー
ザ光の波長の1/8から1/6程度であればクロストー
クの抑制効果があることが知られており、本実施例はそ
の応用である。本実施例の特徴は溝の形成された偶数ト
ラック21の中央と、溝がない奇数トラック22の中央
にそれぞれクロックピット101を配置した点にある。
これによってウォブルピット102、103からトラッ
キング誤差信号を生成するときの極性を反転して、どち
らのトラックにも光ビームを追従させることが可能であ
る。
【0043】図19は本発明の光ディスク媒体のサーボ
及びデータ領域を示す別の実施例である。本実施例は図
18の実施例でプリフォーマットされたヘッダ領域を示
したものである。ピット列から成るヘッダ領域には相変
化信号のような溝によるクロクトーク抑制の効果がな
い。ここではヘッダ領域を前後に2分して、偶数トラッ
ク21のヘッダ情報を前半に、奇数トラック22のヘッ
ダ情報を後半に形成することとしてクロストークによる
再生エラーを回避した。また、ヘッダ情報は1トラック
おきに、例えば偶数トラックのみ、あるいは奇数トラッ
クのみに記録する方式ももちろん有効である。
【0044】図20は本発明の光ディスク媒体のサーボ
及びデータ領域を示す別の実施例である。本実施例は図
19の実施例でプリフォーマットされたヘッダ領域の形
成方法をROMデータ情報の記録に応用した場合の実施
例である。作用効果はヘッダ領域と同じである。ROM
データ情報は1トラックおきに、例えば偶数トラックの
み、あるいは奇数トラックのみに記録する方式ももちろ
ん有効である。
【0045】図21は本発明の光ディスク媒体の論理フ
ォーマットの1実施例である。ここではサンプルマーク
2バイトに対してデータ領域12バイトでセグメント構
成する場合を示している。1セクタを51セグメントで
構成することによりユーザ容量を512バイトとしてい
る。ECCは72バイト、ヘッダは24バイトである。
ヘッダに記録される情報は、図に示すようにセクタマー
ク、トラックNo、セクタNo、CAV/ZCAV切り
替え情報、ゾーン情報、トラック極性情報、記録パワー
の補正領域、ROM領域のインジケータ、記録クロック
シフト補正、その他である。またZCAV方式に対応し
て、ユーザ領域内に記録シフト情報、記録寿命に関する
記録開始部と終了部の再生信号レベル差の情報等を記録
する。
【0046】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、高密度に
安定した記録が実現できる。またS/N比を低下させる
ことなく多数回の繰り返し記録による劣化を低減するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光ディスク装置におけるレーザ光のパ
ワーモジュレーションを示す概念図。
【図2】従来の記録方式の概念図。
【図3】は本発明の記録消去パルスの波形図。
【図4】は本発明の光ディスク装置におけるレーザ光の
パワーモジュレーションの別の実施例の概念図。
【図5】図4に示した記録パルスを照射した場合の再生
信号の波形図と記録パルス列のパワーの設定方法を示す
グラフ図。
【図6】本発明の光ディスク装置におけるレーザ光の変
調と再生信号の一例を示す波形図。
【図7】WH1/WL1の値が大きいときと小さいとき
の記録膜の到達温度の分布も違いを模式的に示した波形
図。
【図8】WH1/WL1と1万回繰返し記録後の再生信
号、及びそれをDC光で消去(結晶化)した場合の信号
波形図。
【図9】サンプルサーボフォーマットの相変化媒体の繰
返寿命の向上方法のシステム的なアプローチの例を示し
た実施例概念図。
【図10】記録方式別のオーバライト回数と再生信号の
S/N比の関係を測定した結果を示すグラフ図。
【図11】記録パワーの設定方法を示す流れ図。
【図12】本発明に好適な媒体の構成例を示す平面図。
【図13】本発明の光ディスク装置の構成例を示すブロ
ック図。
【図14】本発明を直径64mm基板厚さ0.6mmの
パーソナル用途の光ディスクに適応した場合のフォーマ
ットの一例を示すチャート図。
【図15】本発明の光ディスク媒体のサーボ及びデータ
領域を示す実施例の平面図。
【図16】本発明の光ディスク媒体のサーボ及びデータ
領域を示す別の実施例の平面図。
【図17】本発明の光ディスク媒体のサーボ及びデータ
領域を示す別の実施例の平面図。
【図18】本発明の光ディスク媒体のサーボ及びデータ
領域を示す別の実施例の平面図。
【図19】本発明の光ディスク媒体のサーボ及びデータ
領域を示す別の実施例の平面図。
【図20】本発明の光ディスク媒体のサーボ及びデータ
領域を示す別の実施例の平面図。
【図21】本発明の光ディスク媒体の論理フォーマット
の1実施例を示す概念図。
【符号の説明】
10…光ディスク媒体、20…トラック、101…ウォ
ブルピット、102…クロックピット、120…ピッ
ト、900…非晶質点。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/00 - 7/013 G11B 7/125

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ビームをパルス状に照射することによっ
    て、相変化記録膜に、古い記録マークを消しながら新し
    い記録マークを形成して情報を記録する光学的情報記録
    方法であって、 Lを記録情報の空間的な長さの単位、Nを正の整数とし
    たとき、L/v(vは情報記録媒体の線速度)を基準ク
    ロックとして、N×Lの長さの記録信号を、前記基準ク
    ロック毎に、Lより小なるN個の、空間的に独立し、ほ
    ぼ同一の形状の記録点列として、光学的情報記録媒体に
    記録することを特徴とする光学的情報記録方法。
  2. 【請求項2】 前記基準クロックの単位をTwとしたと
    き、幅tの第1の出力のパルスと幅Tw-tの前記第1の出
    力よりも小さい出力の第2の出力のパルスの対によっ
    て、前記記録点列のそれぞれの記録点を形成することを
    特徴とする請求項1記載の光学的情報記録方法。
  3. 【請求項3】 前記幅tは、Tw/2であることを特徴と
    する請求項2記載の光学的情報記録方法。
  4. 【請求項4】 前記記録マークを形成する場合の高出力パ
    ルスの光強度をWH、低出力パルスの光強度をWL、前
    記古い記録マークを消す場合の高出力パルスの光強度を
    EH、低出力パルスの光強度をEL、前記記録マークの
    生成温度をT1、消失温度をT2として、 T1>T2のとき WH/WL>EH/EL≧1 T1<T2のとき WH/WL<EH/EL として光ビームを照射することを特徴とする請求項1乃
    至3何れかに記載の光学的情報記録方法。
  5. 【請求項5】 前記基準クロックは、サンプルサーボの基
    準クロックであることを特徴とする請求項1乃至4何れ
    かに記載の光学的情報記録方法。
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