CN1308928C - 光记录装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光记录装置，在各驱动器(20-1～20-5)中，对成为各种介质的品质基准的基准介质(18)进行记录再现，将在由其结果得到的特性值上乘以预定的系数得到的阈值(1～5)分别预先保存在设置在驱动器中的预定的存储区中，在对作为记录对象的介质进行信息记录时，使用随着功率或者脉冲宽度变化而变化的多个记录条件对该介质进行记录再现，取得多个特性值，根据该多个特性值求出近似曲线，根据由上述近似曲线与上述阈值的位置关系求出的余量，进行对上述介质的记录品质的检查。

Description

光记录装置

技术领域

本发明涉及光盘记录装置等光信息记录装置，特别是涉及具有对记录品质的检查有用的基准值的光信息记录装置。

背景技术

在CD-R和DVD-R等所代表的光信息记录介质(以下，称为“介质”)的记录中，成为记录对象的介质和在记录中使用的记录装置(以下，称为“驱动器”)的匹配性，因各个组合的不同而不同。作为其原因认为是：因构成介质的记录材料的种类差异或者制造时的成膜偏差而使最佳的记录条件发生变化这样的介质一侧的原因，以及因构成驱动器的拾取器(pickup)或半导体激光器的种类差异或制造时的组装偏差、而使最佳的条件发生变化这样的驱动器一侧的原因。实际上，作为这些复合原因，存在适合于各种组合的记录条件。

因此，以往使用以下方法：在介质一侧存储能够从驱动器一侧识别该介质种类的ID信息，并且在驱动器一侧存储按介质的每种类型所预先准备的记录条件，在进行实际的记录时，从装入到驱动器中的介质读出该介质的ID信息，使用与该ID信息相关联的记录条件。

然而，在该以往的方法中，对于预先验证的已知的介质，选择某种程度的适当的某种记录条件，但是对于未验证的未知的介质，在所准备的记录条件下有时完不成对应，另外，即使是已知的介质，有时由于记录环境的变化，诸如记录速度、干扰、老化，在所准备的记录条件下也不能对应。

作为谋求对这种未知介质进行对应的方法，已知在下述文献中记载的方法。

[专利文献1]日本特开2001-126254号公报

在该文献1中，公开了以下方法：以由驱动器本身求出每种介质最佳的记录条件为目的(参照段落0009)，在该驱动器的EEPROM中预先存储再现基准盘而得到的不对称值β或者坑(pit)长度(参照段落0028)，将对成为记录对象的介质进行测试记录而得到的β值和保存在EEPROM中的β值进行比较，进行策略的修正，使得能得到作为目标的β值和坑长度(参照段落0029～0031)。

根据该方法，由于能够对每种介质进行策略的优化，因此能提高对未知介质的对应能力，并且由于对每个驱动器设定作为目标的β值和坑长度，因此，能够抑制驱动器一侧的偏差(参照段落0036)。

但是，在该方法中，对预先由标准确定的具有坑的基准盘进行再现，将所得到的结果作为驱动器一侧的基准值，因此，未考虑影响记录的各种因素，在将记录环境基准化方面不充分。

另外，β值，在该值的特性方面，因各种介质不同，最佳的β值不同。即，在所有的介质中，β＝0不是最佳值，例如，对于介质A，β＝5％为最佳值，对于介质B，β＝10％为最佳值，对于这样的各种介质，最佳值不同。因此，对于只再现一个基准盘而得到的β值，不能成为对其它介质的品质检查的指标，因此作为记录品质检查的基准不充分。

另外，尽管作为基准的β值也并非最佳点，在该驱动器的能力方面，还能得出更适宜的记录条件，但还是将对基准盘再现而得到的结果作为基准，因此，在对未知介质的对应能力方面还有改善的余地。

进而，在该方法中，由于修正策略，以便接近作为目标的β值或者坑长度，因此，对于不能与目标值吻合的驱动器和介质的组合，难以进行对应。

另外，在该方法中，由于作为基准值的β值和坑长度终究不过是该驱动器作为记录目标的值，因此，用这些值的大小难以评价驱动器与介质的匹配性，作为评价驱动器与介质的匹配性的指标不充分。

发明内容

因此，本发明将提供对由驱动器和介质的组合确定的记录品质有效的检查方法。

为了达到上述目的，本发明的第1方案是在通过激光的脉冲照射在光记录介质中进行信息记录的光记录装置，其特征在于：对成为上述光记录介质的品质基准的基准介质进行记录再现，取得特性值，作为记录品质的判断基准具有该特性值。

在本发明中，通过对基准介质的记录再现，在基准介质上再现由驱动器和介质的组合确定的记录环境，根据由此得到的信息求出该驱动器固有的系统基准值。该系统基准值在用该驱动器进行多种多样的介质的记录时，成为表示与各介质的匹配性的基准，通过灵活运用该值能够检查对多种介质的记录品质。

即，在进行记录品质的检查时，需要用于判断记录品质优劣的基准值，但是，如专利文献1的方法所示，如果该基准值是由再现特性得到的，则不能将影响记录的各种因素基准化，因此记录品质的判断精度不充分。

在本发明中，将由对基准介质进行记录再现而得到的特性值作为系统基准值，由此固定从该驱动器观察到的记录特性和再现特性的变动因素，能对多种多样的介质的记录品质进行优劣判定。

这里，作为记录品质的判断基准，既可以直接使用上述的系统基准值，也可以使用在系统基准值上乘以预定的系数而求出的阈值，另外，还可以使用由该阈值与跳变(jitter)等特性曲线的位置关系定义的余量(margin)。另外，理想的是基准介质选定多种多样的介质中具有标准记录特性的介质，在本发明中，利用该基准介质的测试区或者未记录区，使用8-16信号或者EFM信号、或者特定的测试图形进行记录再现，进行记录品质的检查。

这时所使用的测试图形最好使用能进行使用很少的记录区的短时间测试，使用品质检查所需的信息高效地出现的图形，另外，为了从低速到高速记录能进行稳定的记录，加入使伺服抽样(servo sampling)稳定的图形也是有效的，而不仅是品质检查所需的图形。另外，在低速和高速下，或者根据记录速度变更测试图形的方法也是有用的。

另外，最好对于伴随记录速度的变化而变化的多个记录条件，进行上述基准介质的记录再现，取得多个特性值，将该多个特性值作为对各个记录速度的判断基准预先保存在预定的存储区中。

由驱动器与记录介质的组合所确定的记录特性受记录速度影响很大，因此如上述那样，通过对每种记录速度准备判断基准，能使与记录速度相对应的记录条件最佳化。

另外，最好对于伴随功率或者脉冲宽度的变化而变化的多个记录条件进行上述基准介质的记录再现，取得多个特性值，将该多个特性值中的最佳特性值作为上述判断基准保存在预定的存储区中。

从像这样在多个记录条件下得到的结果中选定最佳的特性值，由此该驱动器中的更理想的条件成为基准，因此记录品质的判断基准变得更加正确，即使是驱动器与介质的匹配性差的组合，也能得到最佳的条件。成为记录品质的判断基准的系统基准值、阈值或者余量最好存储在设置于驱动器内的非易失性存储器中。

另外，上述判断基准最好使用在从上述记录再现的结果得到的特性值上乘以预定的系数求出的阈值，通过这样构成，在使用跳变曲线那样具有极值的特性曲线进行记录品质的检查时，在比该特性曲线的最小点高的位置设定成为记录品质的判断基准的阈值，由此能以在该阈值与跳变等特性曲线的交点定义的余量的大小判断记录品质的优劣。

另外，最好将上述光记录装置固有的值或者上述光记录装置的每种类型固有的值设定为上述判断基准，设定每个装置固有的值的情况下，能最大限度地吸收每个个体的偏差，设定装置的每种类型固有的值的情况下，与对每个装置进行设定相比较能谋求减少设定工时。同样，也可以将在多个光记录装置中求出的系统基准值的平均值设定为上述判断基准，通过这样构成也能谋求减少设定工时。

另外，本发明的第2方案是在通过激光的脉冲照射在光记录介质中进行信息记录的光记录装置，其特征在于：具有上述光记录装置固有的判断基准，使用该判断基准检查上述光记录介质的记录品质，取得记录品质，根据该记录品质确定记录条件。

这样，以驱动器固有的基准值作为基准，判断记录品质的优劣，在记录品质良好的情况下，以良好时特有的过程进行记录条件的优化，在记录品质差时，以差时特有的过程进行记录条件的优化，由此能对应更多的记录环境。

这样，在本发明中，根据记录品质进行记录条件的优化，因此即使在驱动器或者介质中存在老化，其影响也表现为记录品质的优良与否，因此能以包含老化的影响在内的形式进行记录条件的优化。而在专利文献1所述的方法中，如果在驱动器中产生老化，则由于目标值本身产生偏移，因此对老化的对应能力不充分。

本发明不像上述的专利文献1所述的那样，进行接近作为目标的基准值的修正，而是进行如下的优化：例如在记录品质被判定为高灵敏度的情况下，使记录条件移动到低功率、窄脉冲一侧；在记录品质被判定为低灵敏度的情况下，使记录条件移动到高功率、宽脉冲一侧。

但是，本发明并没有否定作为基准值具有β值，在记录品质检查时，将由该驱动器与介质的组合得到的β值保存在驱动器内的非易失性存储器中，在以相同或者相似的条件进行记录时，能将该β值作为目标值使用。这样，在将β值用作目标值的情况下，最好对驱动器与介质的每种组合预先保存目标β值，更理想的是，还对每种记录速度预先取得β值。

另外，本发明的第3方案是通过激光的脉冲照射在光记录介质中进行信息记录的光记录装置，其特征在于：具有上述光记录装置固有的判断基准，使用该判断基准检查上述光记录介质的记录品质，并报告该类检查结果。通过这样构成，在装入了对于该驱动器来讲匹配性差、难以记录的介质的情况下，能将记录困难的情况报告给外围设备或者使用者，请求变更记录条件。

例如，在装入到某驱动器中的介质是极低灵敏度的情况下，在进行正式记录之前发出警告信号，通过对适当的记录条件进行变更或者停止记录动作，避免不能再现或者再现品质差的低灵敏度记录。其结果，能避免由不适当的记录引起的介质区的损坏。

另外，本发明的第4方案是通过激光的脉冲照射在光记录介质中进行信息记录的光记录装置，其特征在于：在预定的存储区中保存了对于上述光记录介质成为记录品质的判断基准的跳变值或者出错率。这样，通过将跳变值或者出错率作为基准值，能以这些值的大小判定记录品质的优劣，因此最好作为记录品质检查的基准。

即，在本发明中，作为基准的值最好是对记录环境的依赖性少、用该值的大小或者偏离基准值的偏差能判断品质优劣的绝对指标，例如，对于专利文献1所述的β值，β＝0不一定是最佳的，例如，在热特性不同的介质中最佳的β值也不同，因此难以作为多种多样的介质的记录品质基准加以利用。

另外，本发明的第5方案是通过激光的脉冲照射在光记录介质中进行信息记录的光记录装置，其特征在于：对成为上述光记录介质的品质基准的基准介质进行记录再现，取得特性值，将在该特性值上乘以预定的系数得到的阈值预先保存在预定的存储区中，在上述光记录介质中进行信息的记录时，使用伴随功率或者脉冲宽度的变化而变化的多个记录条件对该记录介质进行记录再现，取得多个特性值，根据该多个特性值求出近似曲线，根据由上述近似曲线与上述阈值的位置关系求出的余量，对上述光记录介质进行记录品质的检查。

这样，在进行正式记录之前，对成为记录对象的介质进行改变了功率或者脉冲宽度的测试记录，取得跳变曲线等近似曲线，通过将该跳变曲线等近似曲线与预先保存在驱动器内的阈值进行比较，能适当地检查由该驱动器和介质构成的记录系统的记录品质。

这时，作为记录品质的判断基准，最好使用由上述近似曲线与上述阈值的位置关系确定的余量，通过将余量的大小作为基准，能更精密地进行记录品质的判断。例如，在余量大的情况下记录品质是良好的倾向，小的情况下记录品质是差的倾向，因此对于未取得规定余量的介质，还能进行是否拒绝该驱动器的记录的处置。这样，根据余量的大小判定记录品质的优良与否，设定与记录品质对应的记录条件，由此能构筑抗干扰的影响、驱动器的偏差、介质的偏差等各种影响强的记录系统。

另外，本发明的第6方案是通过激光的脉冲照射在记录介质中进行信息记录的光记录装置，其特征在于：使用对成为上述光记录介质的品质基准的基准介质进行记录再现而得到的特性值和对上述光记录装置和/或上述光记录介质的状态进行检测而得到的状态值，进行记录品质的判断。

这里，将检测该驱动器内的温度或者介质温度的值设定为上述状态值，考虑这些温度依赖性进行记录品质的判断是有效的。作为这种状态检测方法，已在日本特许第3024282号中公开，该文献所记载的内容作为参考描述，加入到本说明书中。

如以上说明的那样，根据本发明，根据驱动器与介质的组合，设定更适宜的记录条件，因此能进行对用以往方法不能记录的组合的对应，另外，对于用以往方法不能充分优化的记录条件，用本方法也能进行优化。

附图说明

图1是表示本发明的光信息记录介质和光信息记录装置的总体结构的框图。

图2是表示本发明的驱动器所执行的一系列程序的流程图。

图3是表示图2所示的基准阈值的确定步骤的详细过程的流程图。

图4是表示图3所示的流程的一个实施例的示意图。

图5是表示图3所示的流程的一个实施例的示意图。

图6是表示对每个驱动器求阈值时的例子的示意图。

图7是表示将由多台驱动器求出的阈值的平均值设定为其它驱动器的阈值时的例子的示意图。

图8是表示在图2的步骤S20中执行的记录特性检查的结果为得到谷形图形的例子的示意图。

图9是表示在图2的步骤S20中执行的记录特性检查的结果为得到向右下方倾斜的图形的例子的示意图。

图10是表示在图2的步骤S20中执行的记录特性检查的结果为得到向右上方倾斜的图形的例子的示意图。

图11是表示在图2的步骤S20中得到了谷形图形时，在步骤S22中执行的确定测试区的一例的示意图。

图12是表示在图2的步骤S20中得到了向右下方倾斜的图形时，在步骤S22中执行的确定测试区的一例的示意图。

图13是表示在图2的步骤S20中得到了向右上方倾斜的图形时，在步骤S22中执行的确定测试区的一例的示意图。

图14是表示使用8个图形，执行图2的步骤S20时的例子的图。

图15是说明通过曲线近似，求在图2的步骤S22中使用的功率范围的方法的示意图。

图16是说明通过曲线近似，求在图2的步骤S22中使用的功率范围的例子的示意图。

图17是说明通过抽样，求在图2的步骤S22中使用的功率范围的示意图。

图18是表示在图2所示的步骤S24的测试记录中使用的脉冲图形的例子的示意图。

图19是表示在图2的步骤S26中确定的其它的调整主要原因的一例的示意图。

图20是表示在图2的步骤S26中确定的其它的调整主要原因的一例的示意图。

图21是表示将至超过阈值的位置为止作为测试区的例子的示意图。

图22是表示在图21的步骤的基础上，将至得到功率范围的极值为止作为测试区的例子的示意图。

图23是表示将阈值附近的2点之间作为功率范围的例子的示意图。

图24是表示在功率范围内以更微细的品质变化时的例子的示意图。

图25是表示在图24的步骤的基础上，将至得到功率范围的极值为止作为测试区的例子的示意图。

图26是表示变更脉冲宽度直到超过阈值的位置为止，并将该变更范围作为测试区的例子的示意图。

图27是表示在图26的步骤的基础上，将至得到功率范围的极值为止作为测试区的例子的示意图。

图28是表示在脉冲范围内以更微细的品质变化时的例子的示意图。

图29是表示在图21的步骤的基础上，将至得到最小跳变的极值为止作为测试区的例子的示意图。

图30是表示在图26的步骤的基础上，将至得到最小跳变的极值为止作为测试区的例子的示意图。

具体实施方式

以下，参照附图详细说明本发明的光信息记录装置。另外，本发明不限于以下所说明的实施方式，还可以进行适当的变更。

图1是表示由本发明的驱动器和介质构成的记录系统的整体结构的框图。如该图所示，该记录系统由本发明的驱动器20和使用了该驱动器的成为记录对象的介质16构成。作为介质16，可以使用以CD-R、DVD-R为代表的染料型介质，或者以CD-RW、DVD-RW为代表的相变化型介质等光信息记录介质。

如该图所示，驱动器20具备构成对介质16照射激光的光学系统的拾取器30，检测拾取器30的控制位置等几何信息的伺服检测单元32，检测由拾取器30得到的RF信号的RF检测单元34，控制设置在拾取器30内的激光二极管的LD控制器36，存储LD控制器36的控制条件和后述的阈值等的存储器38，基于伺服检测单元32的检测结果进行拾取器30的跟踪的跟踪控制单元40，进行拾取器30的聚焦的聚焦控制单元42。

由于这些构成驱动器20的各要素，对业内人员而言是公知的技术事项，因此，这里省略详细的说明。

另外，在进行作为本发明的主要部分的记录品质的检查时，这些要素中，LD控制器36与存储器38具有特别的关系，LD控制器36通过将照射到介质16的激光的条件，即记录脉冲输出到拾取器30，由此进行记录条件的控制，在存储器38中存储记录脉冲的脉冲图形和其它各种条件。

图2是表示本发明的驱动器所执行的一系列步骤的流程图。如该图所示，上述驱动器20执行步骤S10～步骤S14，直到进行该驱动器的初始设定为止，接着，执行到确定测试记录的条件为止的步骤S16～步骤S22，然后，执行在已确定的条件下进行测试记录的步骤S24，基于其结果，执行确定正式记录的条件的步骤S26，在该条件下，执行在介质16中记录信息的步骤S28。以下，详细说明这些步骤。

(基准条件的确定)

在图2所示的步骤S10中，首先，使用任意标准的介质，一边使记录速度变化一边进行测试记录，以1个脉冲宽度和3个功率值为基准条件求出。作为3个功率值，最好是使用上述测试记录的结果中跳变最小的值和位于其前后的2个功率值。作为前后的2个功率值，最好是使用成为跳变良与否的基准的阈值附近的值。在检查后述的记录品质时使用在这里求出的基准条件。

(基准阈值的确定)

如后所述，在本发明中，为了将小于等于跳变阈值的区域设定为测试记录条件的范围(以下，称为“测试区”)，需要确定成为该判断基准的阈值。作为阈值的值，也可以按照驱动器或介质的种类预先准备标准性的值，而表示跳变的允许区域的最低线的阈值，根据图1所示的拾取器30及其它要素的状态而变化，或根据记录介质的速度而变化。

因此，推荐对实际使用的驱动器和介质的每个组合求出该阈值，使其具有更可靠的判断基准，从而进行更可靠的测试区的设定。

对驱动器和介质的每个组合设定该阈值也成为记录步骤的增加因素，因此将每个驱动器个体的偏差假定为阈值变动的主要原因，可以在制造驱动器时，在存储器38中预先存储适用于每个个体的阈值。

图3是表示图2所示的基准阈值的确定步骤的详细过程的流程图。如该图所示，通过进行预定记录条件下的记录再现，基于该结果确定作为系统的基准值，将从该基准值确保了预定余量(margin)的值，作为在确定测试区时使用的阈值来进行基准阈值的确定。以下，依次说明各步骤。

首先，执行进行记录条件设定的步骤S50，在该步骤中，准备脉冲宽度、功率、记录再现速度、记录地址等记录再现所必需的条件的预定的图形，在将该记录条件设定在驱动器20中以后，在该驱动器内装入基准介质。作为基准介质，最好从各种介质中选择标准特性的介质。

接着，对按照在上述步骤S50中设定的记录条件装入的基准介质，执行进行记录和再现的步骤S52，取得各记录条件下的记录再现特性值，诸如跳变值。作为在这里所取得的特性值选择表示记录品质的值。

接下来，执行从在上述步骤S52中取得的记录再现特性值中求出最佳值，诸如跳变的最小值，并将其作为系统基准值的步骤S54。由此，将在该驱动器中接近最佳值的跳变值设定为基准值。另外，该基准值可以不是跳变最佳点，而是与预定的阈值交叉的2点的中间值，即功率余量的中间值。

最后，执行将对在上述步骤S54中确定了的系统基准值乘以预定系数α(最好是α＞1)的值计算为阈值的步骤S56。由此，对系统基准值以具有预定余量的形式进行判断。即，使用了系统基准值的阈值的计算，按照阈值＝系统基准值×α进行，作为系数α，最好是使用1.5左右的值。另外，该系数α可以根据驱动器或介质的种类设定适当的值，既可以像α＝0.8～1.2那样，设定为接近系统基准值的值，也可以像α＝2.0～3.0那样设定为很大的值。

图4是表示图3所示的流程的一个实施例的示意图。该图所示的例子，是使用跳变值作为表示记录品质的特性值，对W1～W4的各脉冲宽度，使功率从P1变化到P6，从而得到再现特性102-1～102-4时的例子。在该图所示的例子中，脉冲宽度W1～W4和功率P1～P6为记录条件，能得到最低跳变值的再现特性102-3的极值成为系统基准值，在该系统基准值上例如乘以1.5而得到的值成为阈值。另外，该图的矩阵内所示的箭头，表示使测试条件发生变化的方向，在以下的说明中，也以相同的意义使用。

图5是表示图3所示流程的一个实施例的示意图。该图所示的例子是使用跳变值作为表示记录品质的特性值，对W1～W4的各脉冲宽度改变功率的变化范围，从而得到再现特性102-1～102-4时的例子。在该图所示的例子中，能得到最低跳变值的再现特性102-2的极值成为系统基准值，在该系统基准值上乘以例如1.5而得到的值为阈值。这样，阈值的确定还可以对每个脉冲宽度变更功率条件而求出。

图6是表示对每个驱动器求阈值时的例子的示意图。在希望进行与驱动器的个体偏差相对应的阈值设定时，如该图所示，在各驱动器20-1～20-5中对公共的基准介质18进行记录再现，预先存储每个驱动器固有的阈值1～5。

图7是表示将在多台驱动器中求出的阈值的平均值设定为其它驱动器的阈值时的例子的示意图。在要简化阈值的设定步骤的情况下，如该图所示，取在标准的驱动器20-1～20-5中对公共的基准介质18进行记录再现而得到的阈值1～5的平均值，将该平均阈值用作其它驱动器20-6～20-10的阈值。

这时，为了求平均阈值而使用的驱动器20-1～20-5既可以是相同设计的驱动器，也可以不是完全相同的设计而是类似设计的驱动器。另外，作为这些驱动器20-1～20-5的阈值，也可以使用平均阈值。进而，还可以将一次求出的平均阈值广泛地用作以后制造的相同或类似设计的驱动器的阈值。另外，也可以有意识地准备多台具有偏移的驱动器，求它们的平均值。

(记录装置的初始设定)

执行将在上述说明的图2的步骤S10和步骤S12中求出的基准条件和基准阈值，并存储在驱动器20内的存储器38中的步骤S14。该步骤最好是预先在制造驱动器20时进行。

(记录对象介质的装入)

接着，执行在完成了步骤S14的初始设定的驱动器20内，装入进行信息记录的介质16的步骤S16。

(按照基准条件进行的记录再现)

接着，执行使用在步骤S14中设定的条件，在步骤S16中装入的介质16上进行记录的步骤S18。具体地讲，就是使用定义为基准条件的1个脉冲宽度和3种功率值，进行3次记录再现得到3个点的跳变值。当按照与功率轴的关系对这3个点的跳变值进行绘图时，与驱动器20和介质16的组合相对应的记录特性的倾向非常明显。

(记录品质的检查)

图8是表示在图2的步骤S20中执行的记录品质检查的结果为得到谷形图形的例子的示意图。如该图所示，使用在至上述为止的步骤中得到的各基本条件下的跳变值和阈值，来进行记录品质的检查。该图所示的例子，是使用功率P1、P2、P3作基准条件时的例子，连接由各功率值得到的跳变值的假想线成为谷形的图形。当得到这种谷形的图形时，意味着在步骤S10中使用的基准介质和在步骤S16中装入的记录对象介质的灵敏度相同，记录特性类似。

这里，该图8中的(a)是谷形图形的最小值小于等于阈值的例子，该图8中的(b)是谷形图形的最小值大于等于阈值的例子，在任意一个图形中，都可以认为基准介质和记录对象介质具有相同的灵敏度。这样，在基准介质和记录对象介质是相同的灵敏度的情况下，如后所述，在测试记录中使用的条件，设定在以基准条件为中心的功率×脉冲宽度的面区域内。

这里，在该图8中的(a)和(b)中，在各记录点P1、P2、P3分别得到的再现值和再现基准值的差分量，即在该图的例子中跳变值和跳变阈值的差分量不同，该图8中的(a)所得到的再现值接近于再现基准值。

这还可以是以下的结构，由于可以认为该图8中的(a)比该图8中的(b)更容易找到最佳条件，因此，可以将得到该图8中的(a)的记录特性时的测试次数设定得比得到该图8中的(b)的记录特性时的测试次数还少，从而以更少的测试次数发现更适宜的解。

即，在再现值和再现基准值的差分量少的情况下，最佳条件接近上述基准条件，在再现值和再现基准值的差分量多的情况下，最佳条件远离上述基本条件，因此，在想使测试次数更少时，最好是根据再现值和再现基准值的差分量来改变测试次数。

图9是表示在图2的步骤S20中执行的记录品质检查的结果为得到向右下方倾斜的图形的例子的示意图。在该图所示的例子中，成为跳变值随着P1、P2、P3和功率的上升而下降的向右下方倾斜的图形。当得到这种向右下方倾斜的图形时，意味着记录对象介质的灵敏度比基准介质的灵敏度还低。

这里，该图9中的(a)是向右下方倾斜的图形的最小值小于等于阈值的例子，该图9中的(b)是向右下方倾斜的图形的最小值大于等于阈值的例子，可以认为在任何一个图形中，记录对象介质的灵敏度都比基准介质的灵敏度低。这样，在记录介质的灵敏度低时，如后所述，使在以基准条件为中心的功率×脉冲宽度的面区域划分出的测试区向高功率、宽脉冲宽度一侧移动，并进行测试记录。

另外，在得到了该图所示的向右下方倾斜的图形的情况下，可以认为在更高功率一侧存在跳变的最小值，因此，还能以比P3还高的功率进行追加，再次确认记录特性。此时，虽然记录次数增加了1次，但可以提高记录品质的检查精度。另外，得到该图形的情况，也与得到上述的谷形图形的情况相同，可以根据再现值和再现基准值的差分量来改变测试次数。

另外，在得到该图所示的向右下方倾斜的图形的情况下，可以认为最佳解比上述图8所示的谷形图形更远离基准条件，因此，最好是与谷形图形的情况相比增加测试次数。

图10是表示在图2的步骤S20中执行的记录品质检查的结果为得到向右上方倾斜的图形的例子的示意图。在该图所示的例子中，成为跳变值随着P1、P2、P3和功率的上升而上升的向右上方倾斜的图形。在得到这种向右上方倾斜的图形时，意味着记录对象介质的灵敏度比基准介质的灵敏度还高。

这里，该图10中的(a)是向右上方倾斜的图形的最小值小于等于阈值的例子，该图10中的(b)是向右上方倾斜的图形的最小值大于等于阈值的例子，在任何图形中，都可以认为记录对象介质的灵敏度比基准介质的灵敏度高。这样，在记录介质的灵敏度高时，如后所述，使在以基准条件为中心的功率×脉冲宽度的面区域划分出的测试区向低功率、窄脉冲宽度一侧移动，并进行测试记录。

另外，在得到该图所示向右上方倾斜的图形时，可以认为在更低功率一侧存在跳变的最小值，因此，还能够以比P1还低的功率进行追加，并再次确认记录特性。此时，虽然记录次数增加了1次，但能够提高记录品质的检查精度。另外，得到了该图形的情况，也与得到了上述谷形图形的情况相同，可以根据再现值和再现基准值的差分量改变测试次数。

另外，在得到了该图所示的向右上方倾斜的图形的情况下，可以认为最佳解比上述图8所示的谷形图形更远离基准条件，因此，最好是与谷形图形的情况相比增加测试次数。

(确定测试区)

图11是表示在图2的步骤S20中得到谷形图形时，在步骤S22中执行的确定测试区的一例的示意图。如该图所示，在得到了谷形图形的情况下，将由P1、P2、P3分别得到的跳变值描绘的近似曲线106和与阈值的交点作为在测试记录中使用的功率的变化区域，该变化区域为功率范围。另外，在本发明中，实际上将在测试记录中使用的功率的范围定义为“功率范围”，将跳变值小于等于阈值的功率的范围定义为“功率余量”。

这里，由于近似曲线106对于每个脉冲宽度都不同，因此，当设在基准条件下使用的脉冲宽度为W4时，对以该W4为中心的各脉冲宽度W1～W6，用功率P1、P2、P3记录，可以确认从其结果得到的近似曲线106和阈值的交点。由此，如该图的矩阵图形所示，对于每个脉冲宽度均得到小于等于阈值的功率范围，该图的用阴影线表示的区域为测试区。这里，当用矩阵中的图形表示作为基准条件而使用的P1、P2、P3的功率的3个条件和脉冲宽度W4时，就成为该图的108-1、108-2、108-3，所确定的测试区设定为以基准条件为中心的功率×脉冲宽度的面区域。

这样，通过对每个脉冲宽度求出功率范围，可以将小于等于阈值的区域集中起来进行测试，因此，能够以很少的测试次数找到更适宜的条件。

另外，在可以将功率余量取得较宽的情况下，将功率变化的幅度设定得较大；在功率余量狭窄的情况下，将功率变化的幅度设定得较小，从而也可以谋求测试次数的降低。例如，也可以构成为，在取10mW的余量的情况下，假定即使简略地进行测试也可以得到最佳值，从而以2mW的幅度进行5次测试；在取1mW的余量的情况下，判断为需要更加精密的测试，从而以0.1mW的幅度进行10次测试。

图12是表示在图2的步骤S20中得到了向右下方倾斜的图形的情况下，在步骤S22中执行的确定测试区的一例的示意图。如该图所示，在得到了向右下方倾斜的图形的情况下，可以认为最佳条件位于更高功率一侧，因此，以比P3还高的功率值P+进行追加纪录，设由P1、P2、P3、P+得到的跳变值所描绘的近似曲线106和阈值的交点为功率范围。以脉冲宽度W1～W6分别进行该处理，从而得到如该图的矩阵图形所示的测试区。

这里，由上述过程所确定的测试区，成为以基准条件108-1、108-2、108-3为中心的功率×脉冲宽度的面区域被移动到高功率一侧的图形。在该例子中，虽然原封不动地使用了在谷形图形中所使用的W1～W6，但是，由于在向右下方倾斜的图形的情况下，存在低灵敏度倾向，因此，也可以使其移动到比W1～W6更宽的脉冲宽度区域来确定功率范围。

图13是表示在图2的步骤S20中得到向右上方倾斜的图形的情况下，在步骤S22中执行的确定测试区的一例的示意图。如该图所示，在得到了向右上方倾斜的图形的情况下，可以认为最佳条件位于更低功率一侧，因此，以比P1还低的功率值P+进行追加纪录，设由P+、P1、P2、P3得到的跳变值所描绘的近似曲线106和阈值的交点为功率范围。以脉冲宽度W1～W6分别进行该处理，从而得到如该图的矩阵图形所示的测试区。

这里，由上述过程所确定的测试区，成为以基准条件108-1、108-2、108-3为中心的功率×脉冲宽度的面区域被移动到低功率一侧的图形。在该例子中，虽然也原封不动地使用了在谷形图形中所使用的W1～W6，但是，由于在向右上方倾斜的图形的情况下，存在高灵敏度倾向，因此，也可以使其移动到比W1～W6更窄的脉冲宽度区域，确定功率范围。

即，在上述方法中，对每个脉冲宽度进行记录品质的检查，基于该结果，对每个脉冲宽度确定测试次数，因此，能够期待测试次数的降低。以上所说明的记录品质的检查，是通过将基准条件下的记录所产生的跳变变化描绘成图形来进行的例子，更理想的是，推荐使用如下所示的8种图形来进行。

图14是表示用8种图形来执行图2的步骤S20时的例子。如该图所示，不管图形1是谷形、向右上方倾斜、向右下方倾斜等中的哪种图形，都是用于跳变的最大值小于等于阈值时的图形。当得到了该图形时，视为具有与基准介质同等程度的灵敏度，并且，判断为可以较宽地取得小于等于阈值的余量，将功率条件分别扩展到低功率一侧和高功率一侧。即，在该图形1中，由于不能取得阈值附近的值，因此，在低功率一侧和高功率一侧两边都进行追加记录。

然后，对从该追加记录的结果得到的跳变特性进行曲线近似，设该近似曲线与跳变阈值交叉的大小2个点的间隔为功率范围的基准值。

进而，在得到了该图形时，将基准值±0.2T的脉冲宽度区域定为测试区，在进行测试记录时，在该测试区内每0.2T使其变化，并进行最佳记录条件的检测。另外，T表示记录坑的单位时间长度。

这里，设成为基准值的脉冲宽度为脉冲条件1，设已扩展的2个点为脉冲条件2和脉冲条件3时，图形1的脉冲条件2和脉冲条件3成为扩展了±0.2T后的脉冲宽度。随着该脉冲宽度的条件变更，在作为测试条件而使用的功率范围中也进行若干变更。

即，在将脉冲宽度变更了0.1T时，设功率范围的基准值×(1-0.05×1)mW为该脉冲宽度中的功率范围，在将脉冲宽度变更了0.2T时，设功率范围的基准值×(1-0.05×2)mW为该脉冲宽度中的功率范围，在将脉冲宽度变更了-0.1T时，设功率范围的基准值×(1-0.05×(-1))mW为该脉冲宽度中的功率范围。

由此，与该图形1相当时的测试条件成为下述3组。

(1)脉冲宽度的基准值，功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.2T，功率范围的基准值×(1-0.05×(-2))mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.2T，功率范围的基准值×(1-0.05×(+2))mW

另外，在本发明中，上述条件(1)所示的基准条件，也可以不在实际的测试记录中使用。

图形2是得到谷形图形的情况，是跳变的最小值小于等于阈值时使用的图形。在得到该图形的情况下，判断为记录对象介质具有与基准介质相同的灵敏度，选择基准值±0.1T为脉冲宽度条件。然后，按照与图形1相同的过程，对这些脉冲条件的每一个进行功率范围的设定。其结果是与该图形2相当时的测试条件成为下述的3组。

(1)脉冲宽度的基准值，功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.1T，功率范围的基准值×(1-0.05×(-1))mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.1T，功率范围的基准值×(1-0.05×(+1))mW

图形3是得到谷形图形的情况，是跳变的最小值超过了阈值时使用的图形。在得到该图形的情况下，判断为记录对象介质与基准介质的灵敏度相同，而且介质的特性差大，选择基准值±0.2T作为脉冲宽度条件。然后，根据与图形1相同的过程，在这些各个脉冲条件下进行功率范围的设定。其结果是与该图形3相当时的测试条件成为以下的3组。

(1)脉冲宽度的基准值，功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.2T，功率范围的基准值×(1-0.05×(-2))mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.2T，功率范围的基准值×(1-0.05×(+2))mW

图形4是可以得到向右下方倾斜的图形的情况，是跳变的最小值小于等于阈值时使用的图形。在得到该图形的情况下，判断为记录对象介质比基准介质的灵敏度稍低，将基准值、+0.1T和+0.2T这3个点选择为脉冲宽度条件。然后，根据与图形1相同的过程，在这些各个脉冲条件下进行功率范围的设定。其结果是与该图形4相当时的测试条件成为以下的3组。

(1)脉冲宽度的基准值，功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值+0.1T，功率范围的基准值×(1-0.05×(+1))mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.2T，功率范围的基准值×(1-0.05×(+2))mW

图形5是可以得到向右下方倾斜的图形的情况，是跳变的最小值超过了阈值时使用的图形。在得到该图形的情况下，判断为记录对象介质比基准介质的灵敏度低很多，将基准值、+0.2T和+0.4T这3个点选择为脉冲宽度条件。然后，根据与图形1相同的过程，在这些各个脉冲条件下进行功率范围的设定。其结果是与该图形5相当时的测试条件成为以下的3组。

(1)脉冲宽度的基准值，功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值+0.2T，功率范围的基准值×(1-0.05×(+2))mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.4T，功率范围的基准值×(1-0.05×(+4))mW

图形6是可以得到向右上方倾斜的图形的情况，是跳变的最小值小于等于阈值时使用的图形。在得到该图形的情况下，判断为记录对象介质比基准介质的灵敏度高，将基准值、-0.1T和-0.2T这3个点选择为脉冲宽度条件。然后，根据与图形1相同的过程，在这些各个脉冲条件下进行功率范围的设定。其结果是与该图形6相当时的测试条件成为以下的3组。

(1)脉冲宽度的基准值，功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.1T，功率范围的基准值×(1-0.05×(-1))mW

(3)脉冲宽度的基准值-0.2T，功率范围的基准值×(1-0.05×(-2))mW

图形7是可以得到向右上方倾斜的图形的情况，是跳变的最小值超过了阈值时使用的图形。在得到该图形的情况下，判断为记录对象介质比基准介质的灵敏度高，将基准值、-0.2T和-0.4T这3个点选择为脉冲宽度条件。然后，根据与图形1相同的过程，在这些各个脉冲条件下进行功率范围的设定。其结果，与该图形7相当时的测试条件成为以下的3组。

(1)脉冲宽度的基准值，功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.2T，功率范围的基准值×(1-0.05×(-2))mW

(3)脉冲宽度的基准值-0.4T，功率范围的基准值×(1-0.05×(-4))mW

图形8是可以得到山形图形的情况，是跳变的最大值超过了阈值时使用的图形。在得到该图形的情况下，判断为是异常图形，将基准值±0.2T选择为脉冲宽度条件。然后，根据与图形1相同的过程，在这些各个脉冲条件下进行功率范围的设定。其结果，与该图形8相当时的测试条件成为以下的3组。

(1)脉冲宽度的基准值，功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.2T，脉冲功率范围的基准值×(1-0.05×(-2))mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.2T，功率范围的基准值×(1-0.05×(+2))mW

另外，在以上说明的8个图形中，在检测出了最接近基准介质的图形2以外的图形的情况下，为了确认不是由再现误动作产生的图形，可以采用再次再现以该图形为基础的记录结果，再次检测跳动的结构。

这种情况下，通过再次的再现检测出了图形2以外的特性的情况下，根据图14所示的条件，可以进行记录条件的追加和扩展。

这里，在进行了上述再现误动作的确认的结果是检测出了图形8的情况下，认为有可能是记录误动作，因此在进行追加记录和脉冲宽度的扩展之前，根据脉冲宽度的基准值进行再次记录。在再现该再记录结果也为图形8的情况下，不进行追加记录，即，不进行用于进行脉冲条件1的余量测定的功率扩展，而进行脉冲条件的扩展，即，进行脉冲条件2和3的扩展。与这些脉冲条件2和3的扩展相对应的功率的扩展可以用前面所述的方法进行。

即，在图形8的情况下，由于在脉冲条件1中没有取得余量，不能够求出成为扩展基准的功率范围，因此将最初的功率条件范围设定为成为基准的功率范围。

(测试区的确定：用近似法进行的功率范围的确定)

通过执行上述的过程，确定以很少的测试次数得到最佳解的有效的测试区，以下对于在该测试区的确定时重要的功率范围的确定方法进行说明。

在本发明中由于希望以尽可能少的测试次数提高找到最佳解的精度，因此使测试条件集中在小于等于阈值区域中的方法与上述相同。根据该考虑方法，在测试记录时使用的功率范围可以从表示相对于阈值的余量的大小2点的功率值求出。这里，所谓相对于阈值的余量，如果是该区域，则意思是可以得到小于等于阈值的特性值的宽度，所谓大小2点的功率值，意思是确定该余量宽度的低功率一侧的值和高功率一侧的值。

这里，如果考虑各种介质的测试记录时间的缩短和像一次写入介质那样在测试记录区中有限制的介质的测试区的效率，则最好是测试记录所需要的记录点更少，而在这里求出的功率范围由于是成为最佳记录条件的判断基准的重要图形，因此希望是高精度。

高精度地求该功率范围意思是所选择的区域集中的测试，因此有助于减少测试次数。例如，在以0.1mW 1次的频率进行测试记录的情况下，如果功率范围是1mW则进行10次测试记录，如果是2mW则进行20次测试记录，因此将功率范围重叠在一起，有助于减少测试次数。

因此，在本发明中，提倡着眼于描绘记录再现信号的记录品质对记录功率以最佳点为极值的二次曲线的变化，通过使用多个记录点近似计算特性曲线，得到要求出的余量的方法。通过应用这种近似方法，能够高精度而且容易地以几个记录点求出功率范围，能谋求降低测试次数。

图15是说明通过曲线近似求出在图2的步骤S22中使用的功率范围的方法的示意图。如该图所示，在进行近似时，首先，选择作为记录特性的判断基准的跳变值成为阈值附近的低功率一侧的a点和高功率一侧的c点的2点，和位于它们之间而且比这些a、c和阈值中的任一个值都小的跳变值的b。即，在这里所选择的a、b、c具有以下的关系。

a＞b，c＞b，阈值＞b。

这里，上述的阈值附近，如该图所示，定义为距阈值具有某种宽度的上限值和下限值的间隔，理想的是将上限值设定为阈值的40％，将下限值设定为阈值的5％。然后，用二次函数对这些a、b、c的值进行近似，将该二次函数与阈值交叉的大小2点的差分作为功率范围。另外，作为阈值附近而定义的范围能够考虑-5％～+40％或者-10％～30％等记录点的间隔等进行适当变更。

图16是说明通过曲线近似求出在图2的步骤S22中使用的功率范围的其它例子的示意图。如该图所示，在仅由A、B、C的3个条件不能得到满足上述的“a＞b，c＞b，阈值＞b”的条件关系的情况下，最好通过追加高功率一侧的D，得到阈值附近的值。

进而，如该图所示，在满足B＞C的关系的情况下，最好不使用B，而用A、C、D这3个点计算近似式。

这时3个记录点与阈值的关系成为“A＞C，D＞C，阈值＞C”，成为适于描绘近似曲线的关系，因此用3点近似能够得到高精度的近似曲线。另外，D所示的追加记录条件可以根据追加前的记录点所示的A＞B，B＞C和阈值确定。

另外，与图15不同，在低功率一侧没有阈值附近的值的情况下，可以从A点在低功率条件下进行追加，根据记录点与阈值的关系，也可以适宜地追加一个点以上的记录条件。

另外，在追加记录条件中使用的功率的范围，可以相对于预定的功率幅度具有一定的变化，也可以预先求出跳变变动对功率变更的关系，根据该关系设定功率条件。

另外，在进行上述记录条件的追加，也不能得到足以求出功率范围的记录点的情况下，通过与上述相同的过程，进行再次记录条件的追加，变更记录点。

另外，在像一次写入介质那样在测试记录区中具有限制的情况下，或者为了避免使用庞大的测试时间，可以使上述再次记录条件的追加次数具有上限值，还可以通过记录条件的追加具有追加功率的上限值，使得记录功率不超过激光器输出值。

另外，在上述的例子中，通过3点近似求出了功率范围，但是也可以选择最接近阈值的2点，根据这2点分别表示的大小2点的功率值的差分确定功率范围。

除此以外，作为选择阈值附近的2点的方法，还可以使功率变化地进行记录直到发现跨过阈值的大小2点，在该纪录中选择最接近阈值的2点，也可以直接选择该2点。关于该方法以下进行详细的说明。

(测试区的确定：通过抽样进行的功率范围的确定)

图17是说明通过抽样求出图2的步骤S22中使用的功率范围的例子的示意图。在该图所示的例子中，不是上述的3点近似，而是使功率逐渐变化直到可以得到接近阈值的值，以接近阈值的大小2点的功率值为基准求出功率范围。

即，如该图所示，使记录功率从P1到P2、P3、……顺序增加进行记录再现，反复进行记录再现直到可以得到大于等于阈值的值的功率值P6为止。如果用矩阵表示该处理的图形，则功率从P1变化到P6，功率范围成为最接近阈值的低功率一侧的P2与高功率一侧的P6之间的间隔。这样，通过选择跨过阈值的2点能够确定功率范围。

这里，作为选择接近阈值的大小2点的方法，能够适宜地选择以下的方式。

1)选择成为功率余量的大小2点的方法，即，在满足再现基准值的功率区域内，分别选择最接近再现基准值的2点

2)选择虽然稍稍跨出功率余量以外，但是最接近再现基准的2点

3)选择在低功率一侧跨过再现基准值的大小2点

4)选择在高功率一侧跨过再现基准值的大小2点

5)分别选择在低功率一侧和高功一侧处于跨过再现基准值的2点的状态的最接近再现基准值的2点。

另外，也可以使用通过上述各方法选择出的2点对记录特性进行近似，求出与再现基准值交叉的大小2点。

(测试记录)

图18是表示在图2所示的步骤S24的测试记录中使用的脉冲图形的例子的示意图。该图18中的(a)是使用由单一脉冲图形构成的单脉冲时的例子，该图18中的(b)是使用由多个脉冲图形构成的多脉冲时的例子。如该图所示，单脉冲10-1和多脉冲10-2具有配置在脉冲起始的起始脉冲12和配置在末端的末端脉冲14，以主功率PW表示的高度规定记录脉冲整体的能量，以起始脉冲宽度Ttop表示的长度规定提供给记录坑顶端的初始能量。另外，用虚线所示的PWD是在能量的微调时利用的区域，关于该部分在后面叙述。

这里，主脉冲TW最好是在记录脉冲10-1、10-2中成为最高的值，起始脉冲宽度Ttop具有与3T长度的记录坑相对应的宽度，该宽度的记录脉冲出现的概率最高，对记录品质的影响最大，因此最好在测试记录中使该Ttop变化。

如该图所示，在使用单脉冲或多脉冲中的任一种的情况下，都将至上述为止的步骤中确定的测试功率的值用作主脉冲PW，将测试脉冲的宽度用作起始脉冲宽度Ttop。

这样，在使主脉冲PW和起始脉冲宽度Ttop阶段性地变化的同时，对于在图2的步骤S16中装入的介质进行测试记录，再现由其结果形成的记录坑，得到各个测试条件下的跳变值。

然后，进而进行使用了预定的坑-脊(pit-land)图形的其它的测试记录，检验记录脉冲与记录坑的偏移等其它的调整原因，结束一系列的测试记录。

(测试条件的确定)

上述测试记录的结果确定参数，该参数用于调整可以得到最小跳变值的主脉冲PW和起始脉冲宽度Ttop的值，以及其它调整原因，将这些值作为适于该驱动器和介质的组合的记录条件。

图19是表示在图2的步骤S26中确定的其它调整原因的一例的示意图。与图18相同，该图19中的(a)是使用由单一脉冲图形构成的单脉冲时的例子，该图19中的(b)是使用由多个脉冲图形构成的多脉冲时的例子。

如该图19中的(a)所示，在单脉冲10-1的情况下，作为其它调整原因，在起始脉冲12与末端脉冲14之间，设置比主功率PW低PWD的低功率区。通过规定该量，防止记录坑成为泪形。同样地，在多脉冲10-2的情况下，如该图19中的(b)所示，通过规定位于起始脉冲12与末端脉冲14之间的中间脉冲的宽度Tmp，防止记录坑成为泪形。

图20是表示在图2的步骤S26中确定的其它调整原因的一例的示意图。与图18相同，该图20中的(a)是使用由单一的脉冲图形构成的单脉冲时的例子，该图20中的(b)是使用由多个脉冲图形构成的多脉冲时的例子。

如该图所示，在单脉冲10-1和多脉冲10-2中的任意一种的情况下，作为其它的调整原因，设定调整起始脉冲12的开始位置的Ttopr，并设定调整末端脉冲14的结束位置的Tlast，通过调整这些值，确定记录后的坑长度为适当的值的脉冲图形。

将由上述过程得到的主功率PW、起始脉冲宽度Ttop、低功率区PWD、起始脉冲位置Ttopr、末端脉冲位置Tlast存储在图1所示的存储器38中，结束记录条件的确定。

(信息的记录)

图1所示的LD控制器36，对从驱动器20的外部输入的成为记录对象的信息，以在上述步骤中存储在存储器38中的各种记录条件为基准，生成记录脉冲，将其输出到拾取器30。由此，进行对介质16的信息的记录。

(确定测试区的其它形态)

以下，说明成为本发明的特征部分的确定测试区的其它实施方式。

图21是表示将至超过阈值的位置为止作为测试区的例子的示意图。在该图所示的例子是使测试记录时使用的功率按照P1、P2……的顺序变化，在跳变值超过了阈值的P6结束测试记录的例子。当用矩阵表示该图形时，对某脉冲宽度使功率离散地变化为P1、P2、……、P6，将其中跳变值最低的功率值P4作为记录条件104。此时，使功率变化的P1～P6成为功率范围，接近小于等于阈值的区域的P2～P6成为功率余量。这样，通过将至达到阈值为止作为测试区，与总是测试固定的功率范围的方法相比较，可以谋求减少测试次数。

图22是表示将至得到功率范围的极值为止作为测试区的例子的示意图。该图所示的例子是在图21所示的过程的基础上使脉冲宽度发生变化，将对每个脉冲宽度得到的功率范围或功率余量的极值作为记录条件的例子。在该例子中，一边使脉冲宽度依次变化为W1、W2、……，一边执行使功率对各脉冲宽度变化直到达到图21所示的阈值的步骤，反复执行该步骤，直到能特定功率范围或功率余量成为最大的脉冲宽度W4为止。

功率范围或者功率余量的极值，可以通过验证相邻的抽样点的值的变化量来特定。从而，在脉冲宽度W4达到极值时，进行测试记录，直到下一个W5为止。这里，由于功率范围和功率余量对于各脉冲宽度均不相同，因此，如该图的矩阵图形所示，所测试的阴影区域对于每个脉冲宽度也不同。

在脉冲宽度W4成为极值的情况下，在该W4中跳变值最低的功率P3和脉冲宽度W4成为记录条件104。这样，就可以在图21的步骤的基础上，通过使脉冲宽度变化，以很少的测试次数使测试区沿着脉冲宽度方向扩展。

图23是表示将阈值附近的2点间隔作为功率范围的例子的示意图。该图所示的例子是使功率逐渐变化至得到接近阈值的值为止，以接近阈值的大小2点的功率值为基准求出功率范围的例子。关于该例子的执行过程，由于与使用了上述图17进行了说明相同，因此，这里省略说明。

该例子与上述图21所示的例子的不同点在于，不是只对P2～P6的抽样点进行测试，而是在功率范围确定后，使其在该范围内以更细微的幅度变化，求出更合适的条件。

图24是表示使其在功率范围内以更细微的幅度变化时的例子的示意图。如该图所示，对在图23中确定的功率范围P2～P6，以更细微的幅度使功率变化，设在所得到的跳变值中最小的条件为记录条件104。这样，通过以更细微的幅度检查功率范围，就可以找到接近最佳的值。另外，在该例子中，表示了在P3和P4之间发现了最佳点的例子。

图25是表示在图24的步骤的基础上，将至得到功率范围的极值为止作为测试区的例子的示意图。该图所示的例子是在图24所示的过程的基础上使脉冲宽度变化，将对各脉冲宽度所得到的功率范围或功率余量的极值作为记录条件的例子。该考虑方法，由于与将图21所示的步骤用于图22时相同，因此，在这里省略说明。

图26是表示变更脉冲宽度直到超过阈值的位置，并将该变更范围作为测试区的例子的示意图。该图所示的例子是使在测试记录时使用的脉冲宽度按照W1、W2、……的顺序变化，在跳变值超过了阈值的W6结束测试记录的例子。当用矩阵表示该图形时，对功率P1使脉冲宽度依次变为W1、W2、……、W6，将其中跳变值最低的脉冲宽度W4作为记录条件104。此时，使脉冲宽度变化的W1～W6成为测试的脉冲范围，接近小于等于阈值的区域的W2～W6成为脉冲余量。这样，通过将达到阈值为止作为测试区，与总是测试固定的脉冲范围的方法相比较，可以谋求减少测试次数。

图27是表示将至得到脉冲范围的极值为止作为测试区的例子的示意图。该图所示的例子是在图26所示的程序的基础上使功率值变化，将对各功率值得到的脉冲范围或脉冲余量的极值作为记录条件的例子。该例子中，一边使功率值依次变化为P1、P2、……，一边执行使脉冲变化直到各功率达到图26所示的阈值为止的步骤，反复进行该步骤，直到可以特定脉冲范围或脉冲余量成为最大的功率P4为止。

通过检验相邻的抽样点的值的变化，能够特定脉冲范围或脉冲余量的极值。从而，在功率P4成为极值时，进行测试记录，直到下1个P5为止。这里，由于对于各功率脉冲范围和脉冲余量不同，因此，如该图的矩阵图形所示，对于每个功率所测试的阴影区也不同。

当功率P4成为极值时，在该P4中跳变值最低的脉冲宽度W3和功率P4成为记录条件104。这样，通过在图26的步骤的基础上使功率变化，能够以很少的测试次数沿着功率方向扩展测试区。

图28是表示以更细微的幅度使其在脉冲范围内变化时的例子的示意图。如该图所示，对成为在图27中特定的脉冲范围的极值附近的P3～P5，以更细微的幅度使功率变化，将所得到的跳变值中最小的条件作为记录条件104。这样，通过以更细微的幅度检查极值附近的功率，就能够找到接近最佳的值。另外，在该例子中，表示了在P3和P4之间发现了最佳点的例子。

图29是表示在图21的步骤的基础上，将至得到最小跳变的极值为止作为测试区的例子的示意图。该图所示的例子是在图21所示的过程的基础上使脉冲宽度变化，将对各脉冲宽度得到的跳变的最小值的极值作为记录条件的例子。在该例子中，一边使脉冲宽度依次变化为W1、W2、……，一边对各脉冲宽度执行图21所示的步骤；比较在该各步骤中所得到的跳变的最小值的同时，反复执行该步骤，直到能够特定其中成为最小的跳变值的脉冲宽度W4为止。

通过验证相邻的抽样点的值的变化量，可以特定跳变最小值的极值。从而，当脉冲宽度W4成为极值时进行测试记录，直到后一个的W5为止。这里，由于对于各脉冲宽度跳变的最小值不同，因此，如该图的矩阵图形所示，对于各脉冲宽度所测试的阴影区也不同。

当脉冲宽度W4成为极值时，在该W4中跳变值最低的功率P3和脉冲宽度W4成为记录条件104。这样，在图21的步骤的基础上，通过检测跳变最小值的极值，也能够以很少的测试次数使测试区沿着脉冲宽度方向扩展。

图30是表示在图26的步骤的基础上将至得到最小跳变的极值为止作为测试区的例子的示意图。该图所示的例子是在图26所示的过程的基础上使功率变化，将对各功率得到的跳变的最小值的极值作为记录条件的例子。在该例子中，一边使功率依次变化为P1、P2、……，一边对各功率执行图26所示的步骤，比较在该各步骤中所得到的跳变的最小值的同时，反复执行该步骤，直到能够特定其中成为最小的跳变值的功率P4为止。

通过验证相邻的抽样点的值的变化量，可以特定跳变最小值的极值。从而，在功率P4成为极值时进行测试记录，直到后一个的P5为止。这里，由于对于各功率跳变的最小值不同，因此，如该图的矩阵图形所示，对于各功率所测试的阴影区也不同。

在功率P4成为极值时，在该P4中跳变值最低的脉冲宽度W2和功率P4成为记录条件104。这样，在图26的步骤的基础上，通过检测跳变最小值的极值，也能够以很少的测试次数使测试区沿着功率方向扩展。

如以上说明的那样，在本发明中，基于记录品质的检查结果确定了在测试记录中使用的功率和/或脉冲宽度，因此，能够以更少的次数得到更适当的记录条件。

理想的是，推荐以考虑了介质特性、驱动器特性及它们的匹配性的接近实际记录环境的形式，进行记录品质的检查，并基于其结果确定测试条件。

另外，在本发明中，也可以采用不使测试次数变化而根据记录品质的检查结果移动测试区的结构，例如，在上述记录特性预测的结果为相同的灵敏度、低灵敏度、高灵敏度的情况下，也可以分别采用下述的方式。

(1)记录介质的灵敏度与基准介质的灵敏度相同时

判断为成为本预测的基础的基准记录条件接近最佳条件，在该基准记录条件的周围，将功率和脉冲宽度在预定的区域扩展，将其确定为测试区。例如，当设基准记录条件是功率P、脉冲宽度W时，功率的测试范围为P±5mW，脉冲宽度的测试范围为W±0.2T。

(2)记录介质的敏感度比基准介质的灵敏度低时

判断为记录介质的最佳值比基准介质的最佳值需要更多的热量，使测试区向更高功率、更宽脉冲宽度一侧移动。例如，当设基准记录条件是功率P、脉冲宽度W时，功率的测试范围为P～P+10mW，脉冲宽度的测试范围为W～W+0.4T。

(3)记录介质的灵敏度比基准介质的灵敏度高时

判决为记录介质的最佳值比基准介质的最佳值适用更少的热量，使测试区向更低功率、更窄脉冲宽度一侧移动。例如，当设基准记录条件为功率P、脉冲宽度为W时，功率的测试范围为P-10mW～P，脉冲宽度的测试范围为W-0.4T～W。

即，在上述的例子中，通过以功率P和脉冲宽度W为中心，使由功率范围为10mW、脉冲范围为0.4的面构成的区域根据记录特性移动，从而得到更适当的记录条件。另外，该测试区的确定也可以基于使用了上述图14的8个图形来进行。

根据本发明，根据驱动器和介质的组合来设定更适当的记录条件，因此，可以对应于在以往的方法中不能记录的组合。其结果是，可以期待适用于高速记录或者高密度记录等记录环境较严格的记录系统。

Claims (11)

1.一种光记录装置，通过激光的脉冲照射在光记录介质上进行信息的记录，其特征在于：

包括

内置有激光光源的拾取器；

控制使用上述拾取器进行光记录介质的记录和再现的控制器；以及

存储器，

使用上述拾取器对成为上述光记录介质的品质基准的基准介质进行记录和再现，

在上述基准介质的记录中，上述控制器使激光的功率或者脉冲宽度变化来控制记录条件以取得上述基准介质的记录品质的特性值，

将取得的上述特性值作为记录品质的判断基准存储在上述存储器中。

2.根据权利要求1所述的光记录装置，其特征在于：

对于伴随记录速度的变化的多个记录条件，进行上述基准介质的记录和再现，取得多个特性值，将该多个特性值作为对各个记录速度的判断基准保存在上述存储器中。

3.根据权利要求1所述的光记录装置，其特征在于：

对于伴随功率或者脉冲宽度的变化的多个记录条件，进行上述基准介质的记录和再现，取得多个跳变值，将该多个跳变值中的最小值作为上述判断基准保存在上述存储器中。

4.根据权利要求1所述的光记录装置，其特征在于：

对于伴随功率或者脉冲宽度的变化的多个记录条件，进行上述基准介质的记录再现，取得多个跳变值，将该多个跳变值中的最小值乘以预定的系数求出的阈值作为上述判断基准保存在上述存储器中。

5.根据权利要求1所述的光记录装置，其特征在于：

上述判断基准，是上述光记录装置所固有的值或者上述光记录装置的一个机型所固有的值。

6.根据权利要求1所述的光记录装置，其特征在于：

上述判断基准是在多个光记录装置中求出的作为系统基准值的跳变值最小值的平均值。

7.一种光记录装置，通过激光的脉冲照射在光记录介质上进行信息的记录，其特征在于：

包括

内置有激光光源的拾取器；

控制使用上述拾取器进行光记录介质的记录和再现的控制器；以及

存储上述光记录装置所固有的记录品质的判断基准的存储器，

使用上述拾取器对上述光记录介质进行记录和再现，使用上述判断基准检查上述光记录介质的记录品质，取得记录品质，根据该记录品质确定记录条件，

其中，上述固有的判断基准是使用上述拾取器对成为上述光记录介质的品质基准的基准介质进行记录和再现，在上述基准介质的记录中由上述控制器控制记录条件而取得的上述基准介质的记录品质的特性值。

8.根据权利要求7所述的光记录装置，其特征在于：

使用该判断基准检查上述光记录介质的记录品质后报告该检查结果。

9.根据权利要求1或7所述的光记录装置，其特征在于：

上述记录品质的判断基准是跳变值或者出错率。

10.根据权利要求4所述的光记录装置，其特征在于：

在上述光记录介质上进行信息的记录时，使用伴随功率或者脉冲的变化的多个记录条件对该光记录介质进行记录再现，取得多个跳变值，根据该多个跳变值求出近似曲线，

基于由上述近似曲线与上述阈值的位置关系求出的容限，进行对上述光记录介质的记录品质的检查。

11.根据权利要求1或7所述的光记录装置，其特征在于：

使用上述拾取器对上述光记录介质进行记录和再现，在上述光记录介质的记录中，上述控制器使激光的功率或者脉冲宽度变化来控制记录条件以取得上述光记录介质的记录条件和记录品质的状态值，使用上述记录品质的特性值，和上述状态值，进行记录品质的判断。

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