CN1873791A - 光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路。对于驱动器来说，即使是未知的介质，也能得到更接近最佳的记录条件。尤其是提供一种对Wobble和Lpp的信号品质提高有效的方法。通过调整由起始脉冲(12)、中间脉冲(14)、最终脉冲(16)构成的记录脉冲的中间脉冲条件PWD、Tmp，来控制摘要附图的(c)所示的饱和码的坑宽度(W)，并且，该饱和码的坑长度和相位，根据摘要附图的(a)和(b)所示的记录脉冲的前侧相位校正量(Ttop)和后侧相位校正量(Tlast)来进行控制。

Description

光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路

技术领域

本发明涉及光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路，尤其涉及能够进行依照驱动器和介质的匹配性的记录条件最优化的光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路。

背景技术

在以CD-R和DVD-R等为代表的光信息记录介质(以下称作“介质”)的记录中，作为记录对象的介质与记录所使用的记录装置(以下称作“驱动器”)的匹配性因各个组合的不同而不同。作为其原因，考虑有以下情况，即：由于构成介质的记录材料的种类的不同或制造时的成膜差异而使最佳的记录条件发生变化的介质一方的主要原因；和由于构成驱动器的拾取器、半导体激光器的种类的不同或制造时的组装差异而使最佳的条件发生变化的驱动器一方的主要原因。实际上，作为它们的复合原因，存在适合于各组合的记录条件。

因此，以往使用以下的方法，即：预先在介质一方存储可从驱动器一方识别该介质的种类的ID信息，并且预先在驱动器一方按介质的种类存储预先准备的记录条件，在进行实际的记录时，从放入在驱动器中的介质读入该介质的ID信息，使用与该ID信息相关联的记录条件(称作“光策略(light strategy)”)。

可是，在以往的方法中，对于预先验证过的已知的介质，能选择在某种程度上适合的某个记录条件，但是对于未验证的未知的介质，就存在无法用所准备的记录条件应对的情况，此外，即使是已知的介质，因为记录环境的变化，例如记录速度、干扰、时间的变化，存在无法用所准备的记录条件应对的情况。

作为应对这样的未知介质的方法，已知有以下文献所记载的方法。

[专利文献1]日本特开2003-30837号公报

[专利文献2]日本特开2004-110995号公报

[专利文献3]日本特开2000-231727号公报

在上述专利文献1的段落0020中，有“…对各记录图案(pattern)检测与道时钟(channel clock)的相位误差。记录补偿参数调整部12根据相位误差检测部11的检测结果，使发光波形规则最优化…”这样的记载，公开了通过与道时钟的比较来检测、校正相位误差的方法。

此外，在上述文献1的段落0024中有“接着，记录用于确定发光波形规则的测试图案。然后，再现已记录该测试图案的区域，研究预先准备的发光波形规则与相位误差量的关系。即，测量各种标记的长度与紧接在该标记之前的各种间隔的长度的各组合中的相位误差量。从测量出的相位误差量预测相位误差量变为零的发光波形规则，确定所需的发光波形规则…”这样的记载，公开了按标记(mark)和间隔(space)的各组合来测量相位误差量，预测相位误差量变为零的方法(参照图8和图12)。

根据该专利文献1中记载的方法，能进行基于记录图案的相位误差的校正，因此该方法是对策略的最优化有效的方法。

但是，在上述专利文献1的方法中，与以往相同，是对预先存储在驱动器中的策略进行微调整，所以对于不适合预先存储的策略的介质，就难以满足良好的记录品质。

此外，在上述专利文献2的段落0045中，有“…一体地(连续地)生成相当于3T期间的起始脉冲和相当于8T期间的单脉冲…”这样的记载，在上述专利文献2的段落0046中，有“…光脉冲以2级来调整激光功率，当激光功率(起始脉冲的峰值)Ph与激光功率(非多脉冲的峰值)Pm的比处于最佳时，得到最佳功率…”这样的记载，暗示了对Ph/Pm的比率进行最优化的有用性。

但是，在上述专利文献2的方法中，如该文献的段落0067中所记载的那样，根据存储在驱动器或介质中的值，临时设定Ph和Pm的初始值，然后求出Ph/Pm的比率，因此与专利文献1的情况一样，对于不适合临时设定的值的介质，就难以满足良好的记录品质。

在专利文献3中，与专利文献1一样，记载了对记录图案的相位误差进行校正的方法，但只进行相位校正，根据介质的情况，有时会出现较长的码的调制度变得过大的情况，如果调制度变大，则坑的宽度和深度将变大，因此，如果它们变得过大，则摆动(Wobble)和岸上预刻凹坑(Lpp：Land Pre-Pit)的信号品质将降低。

发明内容

因此，本发明提供一种与驱动器和介质的匹配性相应的记录条件的最优化方法，尤其是提供一种对Wobble和Lpp的信号品质提高有效的方法。

为达到上述目的，本发明的第1技术方案提供一种光信息记录装置，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：通过调整与饱和码对应的记录脉冲的至少起始脉冲条件，来控制与该饱和码对应的记录坑的相位的装置，其中，所述饱和码具有信号振幅饱和的长度；和通过调整与上述饱和码对应的记录脉冲的中间脉冲条件，来控制与该饱和码对应的记录坑的宽度的装置。

这样，通过调整饱和码的起始脉冲条件来进行相位控制，通过调整中间脉冲条件来进行宽度控制，由此，能够对RF、Wobble、Lpp各信号进行高品质的记录。尤其是14T这样的最长码，其记录坑的宽度容易扩大，在高密度介质上进行记录时，该坑宽度的扩大成为产生对于Wobble、Lpp的串扰(cross talk)的原因，因此，优选的是预先调整最长码的中间脉冲条件。

在此，所谓饱和码，是指再现记录坑所得到的RF信号的振幅饱和的码，属于比从驱动器的激光二极管所照射的再现点(spot)直径长的码。

另外，优选的是，记录坑的长度和相位的控制，是通过调整确定记录脉冲的前端的起始脉冲的条件和确定记录脉冲的后端的最终脉冲的条件来进行的，这样，通过主要以独立的控制参数分别控制坑的长度和宽度，能够进行高品质的记录。

另外，本发明的第2技术方案提供一种基于第1技术方案的光信息记录装置，其特征在于，包括：使上述具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲条件变化，对上述介质进行测试记录的装置；求出由上述测试记录的结果所得到的调制度的趋势的装置；以及根据上述调制度的趋势确定上述饱和码的中间脉冲条件的装置。

这样，通过取得调制度相对于中间脉冲的变化趋势，可以设定能得到适当的调制度的记录条件，能够进行更高品质的记录。

另外，本发明的第3技术方案提供一种基于第2技术方案的光信息记录装置，其特征在于：还包括求出适于上述介质的目标调制度的装置；上述饱和码的中间脉冲条件，将上述目标调制度确定为指标。

这样，通过将适于记录对象介质的目标调制度作为指标，即使记录对象介质的种类改变了，也能够进行高品质的记录。作为设定目标调制度的方法，能够使用以下的方法：按介质的种类预先将适于该介质的目标调制度作为指标存储在驱动器内的方法；通过测试记录求出适于记录对象介质的目标调制度的方法；以及通过测试记录确认发生Wobble、Lpp的差错的记录条件，确定该介质所容许的调制度的上限的方法等。

另外，本发明的第4技术方案提供一种基于第2技术方案的光信息记录装置，其特征在于，包括：使上述具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲条件变化，对上述介质进行测试记录的装置；使用比上述饱和码短的非饱和码，对上述介质进行测试记录的装置；再现上述各测试记录的结果，检测出上述饱和码的记录长度和上述非饱和码的记录长度的装置；以及基于上述饱和码的记录长度相对于上述检测出的非饱和码的记录长度的变化趋势，确定上述饱和码的中间脉冲条件的装置。

这样，利用饱和码相对于非饱和码的长度变化趋势，来确定中间脉冲的条件，由此，能够对较短的码和较长的码的调制平衡进行最优化，因此，能够进行更高品质的记录。

另外，本发明的第5技术方案提供一种光信息记录装置，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：使上述起始脉冲的条件与最短码对应，进行测试记录的装置；使比上述最短码长的码的中间脉冲条件变化，对上述介质进行测试记录的装置；再现上述各测试记录的结果，检测出上述最短码的记录长度和比上述最短码长的码的记录长度的装置；以及基于比上述最短码长的码的记录长度相对于上述检测出的最短码的记录长度的变化趋势，确定比上述最短码长的码的中间脉冲条件的装置。

这样，与出现频率高的最短码对应地设定起始脉冲，基于该最短码，利用该最短码和比该最短码长的码的长度变化趋势，确定该较长的码的中间脉冲条件，由此，能够对较长的码相对于已被最优化的较短的码的调制平衡进行最优化，因此，能够进行更高品质的记录。

这种结构对于伴随测试记录的高速化，难以进行基于饱和码的调制度评价的情况也是有效的，例如，在最短码为3T的情况下，通过使用4T、5T等非饱和码，即使是高速测试记录，也能够进行调制度的评价。当然，也可以对比最短码长的码设定饱和码。

另外，本发明的第6技术方案提供一种光信息记录装置，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：使上述具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲的高度变化、并使上述最终脉冲停止，对上述介质进行测试记录的装置；和基于上述测试记录的结果，确定上述饱和码的起始脉冲的高度与中间脉冲的高度的比率的装置。

这样，通过以将最终脉冲关断的状态进行使中间脉冲条件变化了的测试记录，将容易看到调制度变化的趋势，因此，能够进行更高精度的记录条件的设定。

另外，本发明的第7技术方案提供一种光信息记录装置，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：以多个窄脉冲构成上述具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲，使该各个窄脉冲的宽度变化，并且将该窄脉冲的宽度和上述最终脉冲的宽度设定为相等的宽度，对上述介质进行测试记录的装置；和基于上述测试记录的结果，确定上述饱和码的窄脉冲的宽度的装置。

这样，通过在将构成中间脉冲的窄脉冲的宽度和最终脉冲的宽度取为相等宽度的状态下进行使中间脉冲条件变化的测试记录，将容易看到调制度变化的趋势，因此，能够进行更高精度的记录条件的设定。优选的是，以相等间隔配置多个窄脉冲的梳状脉冲来构成中间脉冲。

另外，本发明的第8技术方案提供一种光信息记录方法，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：通过调整与具有信号振幅饱和的长度的饱和码对应的记录脉冲的至少起始脉冲条件，来控制与该饱和码对应的记录坑的相位的步骤；和通过调整与上述饱和码对应的记录脉冲的中间脉冲条件，来控制与该饱和码对应的记录坑的宽度的步骤。

另外，本发明的第9技术方案提供一种光信息记录方法，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：使具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲条件变化，对上述介质进行测试记录的步骤；求出得到了上述测试记录的结果的调制度的趋势的步骤；以及根据上述调制度的趋势确定上述饱和码的中间脉冲条件的步骤。

另外，本发明的第10技术方案提供一种光信息记录方法，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：使具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲条件变化，对上述介质进行测试记录的步骤；使用比上述饱和码短的非饱和码，对上述介质进行测试记录的步骤；再现上述各测试记录的结果，检测上述饱和码的记录长度和上述非饱和码的记录长度的步骤；以及基于上述饱和码的记录长度相对于上述检测出的非饱和码的记录长度的变化趋势，确定上述饱和码的中间脉冲条件的步骤。

另外，本发明的第11技术方案提供一种光信息记录方法，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：使上述起始脉冲的条件与最短码对应，进行测试记录的步骤；使比上述最短码长的码的中间脉冲条件变化，对上述介质进行测试记录的步骤；再现上述各测试记录的结果，检测出上述最短码的记录长度和比上述最短码长的码的记录长度的步骤；以及基于比上述最短码长的码的记录长度相对于上述检测出的最短码的记录长度的变化趋势，确定比上述最短码长的码的中间脉冲条件的步骤。

另外，本发明的第12技术方案提供一种光信息记录方法，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：使具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲的高度变化并使上述最终脉冲停止，对上述介质进行测试记录的步骤；和基于上述测试记录的结果，确定上述饱和码的起始脉冲的高度与中间脉冲的高度的比率的步骤。

另外，本发明的第13技术方案提供一种光信息记录方法，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：以多个窄脉冲构成具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲，使该各个窄脉冲的宽度变化，并且将该窄脉冲的宽度和上述最终脉冲的宽度设定为相等的宽度，对上述介质进行测试记录的步骤；和基于上述测试记录的结果，确定上述饱和码的窄脉冲的宽度的步骤。

另外，本发明的第14技术方案提供一种信号处理电路，被安装在光信息记录装置中，由第8技术方案～第13技术方案的任一项所述的方法构成，其中，该光信息记录装置，通过设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息。

在此，在上述各发明中，优选的是，记录脉冲由起始脉冲和后续脉冲构成，起始脉冲与出现频率最高、难以进行记录的最短坑对应地设定。例如，在如CD-R那样定义了3T～11T的坑串的情况下，或者在如DVD-R那样定义了3T～11T、14T的情况下，优选的是预先使其与3T坑对应。

另外，后续脉冲可以取非多脉冲和多脉冲中的任一者的形式，优选的是，在为非多脉冲的情况下，以起始脉冲和后续脉冲的功率比进行记录脉冲的最优化，在为多脉冲的情况下，以多个分割脉冲构成后续脉冲，调整上述各个分割脉冲的占空比(duty)，进行记录脉冲的最优化。

起始脉冲的条件和后续脉冲的条件，可以组合脉冲功率、脉冲宽度、占空比的任一者来进行定义，优选的是，通过调整起始脉冲和后续脉冲的比进行记录脉冲的最优化。

另外，通过首先确定起始脉冲的条件，然后确定后续脉冲的条件，可以做成为能得到更稳定的记录品质的结构。即，采用这样的方法：首先预先求出起始脉冲的最佳条件，由此可以找出更为合适的起始脉冲条件，之后，求出后续脉冲的条件。与此不同，如上述专利文献2所记载的那样，在首先进行起始脉冲和后续脉冲的比率的最优化的方法中，有时不能得到起始脉冲的最佳解，应对未知介质的能力下降。另外，为了进一步提高精度，也可以反复多次进行起始脉冲条件的确定和后续脉冲条件的确定。

如上所述，按照本发明，即使是对于驱动器未知的介质，也能得到更接近最佳的记录条件。尤其是能够得到使Wobble和Lpp的信号品质提高的适当的记录条件。

附图说明

图1是表示本发明的记录脉冲的结构和确定记录条件的整体流程的概念图。

图2是表示本发明的驱动器的内部结构的框图。

图3是表示图1所示的mT确定流程的详细内容的流程图。

图4是表示图3所示的基准阈值的确定步骤的详细内容的流程图。

图5是表示图4所示的流程的一个实施例的概念图。

图6是表示图4所示的流程的一个实施例的概念图。

图7是表示按每个驱动器求出阈值时的例子的概念图。

图8A、图8B是表示在图3的步骤S120中实施记录品质检查得到山谷形图案的例子的概念图。

图9A、图9B是表示在图3的步骤S120中实施记录品质检查得到右下降图案的例子的概念图。

图10A、图10B是表示在图3的步骤S120中实施记录品质检查得到右上升图案的例子的概念图。

图11是表示在图3的步骤S120中得到了山谷形图案时，在步骤S122中执行的测试区域确定的一例的概念图。

图12是表示在图3的步骤S120中得到了右下降图案时，在步骤S122执行的测试区域确定的一例的概念图。

图13是表示在图3的步骤S120中得到了右上升图案时，在步骤S122中执行的测试区域的确定的一例的示意图。

图14是表示在使用8个图案执行图3的步骤S120时的例子的图。

图15是说明通过曲线近似求出在图3的步骤S122中使用的功率范围(power range)的概念图。

图16是说明通过曲线近似求出在图3的步骤S122中使用的功率范围的另一个例子的概念图。

图17是通过抽样求出在图3的步骤S122中使用的功率范围的例子的概念图。

图18是表示在图1的(b)所示的步骤S200的比率确定中使用的测试用记录脉冲的例子的概念图。

图19是表示图1的(b)所示的步骤S200的比率确定流程的执行顺序的流程图。

图20是表示从图19所示的测试记录到再现数据的计数为止的操作概念的概念图。

图21是表示图19所示的计数结果的存储映像(image)的概念图。

图22A、图22B是表示图19所示的柱状图(histogram)生成的映像的概念图。

图23A、图23B是表示图19所示的阈值确定的映像的概念图。

图24A、图24B是表示通过图23所示的方法得到的阈值的例子的概念图。

图25是表示用于检测坑平衡(balance)引起的偏移量的记录图案的一个例子的图。

图26是表示坑平衡偏移检测中所使用的特定图案检测用的表结构的概念图。

图27是表示通过计数结果的绝对比较来检测长度偏移量时的具体例子的概念图。

图28是表示图19所示的控制量预测的执行例子的流程图。

图29是表示使PWD变化时的记录条件S1、S2的变化与偏移量D1、D2之间的关系的概念图。

图30是表示利用了关于单脉冲形状的直线近似的长度偏移校正的一个例子的概念图。

图31是表示利用了关于多脉冲的形状的直线近似的长度偏移校正的一个例子的概念图。

图32是表示用于存储校正量PWD和Tmp的表构造的概念图。

图33是表示在图1的步骤S300中执行的nT脉冲的结构概念的概念图。

图34是表示在图1的(b)所示的步骤S400的相移校正中使用的测试用记录脉冲的例子的概念图。

图35是表示在图1的(b)所示的步骤S400的相位条件确定流程的执行步骤的流程图。

图36是表示用于检测各坑长度的前侧相移量的记录图案和再现图案的一个例子的图。

图37是表示用于检测各坑长度的后侧相移量的记录图案和再现图案的一个例子的概念图。

图38是表示用于检测由热干扰引起的坑偏移量的记录图案的一个例子的图。

图39是表示坑前相移检测和坑后相移检测所使用的特定图案检索用的表(table)结构的概念图。

图40是表示坑干扰偏移检测中所使用的特定图案检测用的表结构的概念图。

图41是表示通过计数结果的相对比较来检测偏移量时的具体例子的概念图。

图42是表示根据图35中的控制量预测确定Ttop、Tlast的执行例子的流程图。

图43是表示记录条件S1、S2的变化与偏移量D1、D2之间的关系的概念图。

图44是表示利用了直线近似的前侧相移校正的一个例子的概念图。

图45是表示利用了直线近似的后侧相移校正的一个例子的概念图。

图46是表示用于存储校正量Ttop和Tlast的表构造的概念图。

图47是表示校正后的单脉冲的例子的概念图。

图48是表示校正后的多脉冲的例子的概念图。

图49是表示通过中间脉冲的调整来控制记录坑的宽度的概念的概念图。

图50是表示在图49所示的概念中最终脉冲的适当的设定例的概念图。

图51是表示非饱和码和饱和码的关系的概念图。

图52是表示通过中间脉冲条件的调整来进行坑宽度控制的第1例的执行顺序的流程图。

图53是表示通过图52所示的顺序所得到的调制度的变化趋势例的XY坐标曲线图。

图54是表示通过中间脉冲条件的调整来进行坑宽度控制的第2例的执行顺序的流程图。

图55是表示通过图54所示的顺序所得到的调制度的变化趋势例的XY坐标曲线图。

图56是表示通过中间脉冲条件的调整来进行坑宽度控制的第3例的执行顺序的流程图。

具体实施方式

以下，参照附图详细说明本发明的光信息记录装置。另外，本发明不限于以下说明的实施方式，可以进行适当的变更。

图1是表示本发明的记录脉冲的结构和确定记录条件的整体流程的概念图。如图1的(a)所示，本发明的记录脉冲10，由位于该记录脉冲的最前面的起始脉冲12和接着该起始脉冲的后续脉冲14构成。

这里，设最短坑的数据长度为mT(参照图1中的“DATA1”)，设该记录脉冲的长度为m’T，设比最短坑长的坑的数据长度为nT(参照图1中的“DATA2”)，设该记录脉冲10的长度为n’T，则与最短坑的记录脉冲长度相等的起始脉冲12具有m’T的长度，后续脉冲14具有(n-m)T的长度。在本实施例中，假定取m＝3、n＝3～11、14的值。T是在光盘系统中定义的单位时间，其周期由时钟信号确定。

记录脉冲10的条件，通过执行图1的(b)所示的一系列的流程来确定。该流程，在光信息记录装置(以下，称作“记录装置”或“驱动器”)中放入了光信息记录介质(以下，称作“介质”或“盘”)的状态下的测试记录时被执行。

如图1的(b)所示，在确定记录脉冲10的条件时，首先，确定m’T长度的脉冲条件(步骤S100)，之后，利用该m’T长度的条件，求出作为m’T长度的脉冲条件与(n-m)T长度的脉冲条件的比率的m’T/(n-m)T(步骤S200)。之后，根据该比率构成nT脉冲(步骤S300)，最后，进行相移校正，确定n’T长度的记录脉冲的条件(步骤S400)。

图2是表示本发明的驱动器的内部结构的框图。如图2所示，该驱动器100使用从激光振荡器103输出的激光，对介质50进行信息的记录再现。

在对介质50进行信息的记录时，由编码器101以EFM方式对与所希望的记录信息对应的记录信号进行编码，将该编码后的记录数据提供给策略电路102。

在此，在该策略电路102中，设定有预定策略的各种设定参数，该策略电路102校正策略的各种设定参数，控制从激光振荡器103输出的激光的强度、脉冲宽度，生成应该能得到所希望的记录状态的记录脉冲。

由策略电路102形成的记录脉冲，被提供给激光振荡器103，激光振荡器103与该记录脉冲对应地控制输出激光，将该被控制的激光通过透镜104、半反射镜106、透镜106照射在以恒定的线速度或恒定的角速度转动的介质50上，由此，在介质50的记录层上记录与所希望的记录数据对应的由坑、岸串组成的记录图案。

而在对记录于介质50上的信息进行再现时，从激光振荡器103通过透镜104、半反射镜105、透镜106对以恒定的线速度或恒定的角速度转动的介质50照射同样的再现激光。

这时，再现激光使用比记录时从激光振荡器103输出的激光的强度弱的再现激光，该再现激光被介质50反射后的反射光，通过透镜106、半反射镜105、透镜107而被受光部108接收，转换成电信号。

从受光部108输出的电信号，与记录在介质50上的由坑(pit)、岸(land)组成的记录图案对应。对于从该受光部108输出的电信号，由同步信号检测电路109根据该电信号所包含的摆动(wobble)成分生成预定周期的时钟信号，之后，通过2值化电路110被2值化，进而被解码器111解码，作为再现信号进行输出。

这样，由驱动器和介质所构成的记录系统的记录品质，取决于驱动器的特性差异和介质的特性差异，因此，通过上述的策略削弱其影响能够提高记录品质。作为介质，可以应用以CD-R、DVD-R为代表的色素型介质、或以CD-RW、DVD-RW为代表的相变型介质等各种光信息记录介质。

以下，详细说明上述的驱动器执行的图1的(b)所示的记录脉冲条件确定流程。

(m’T条件的确定)

图3是表示图1所示的m’T确定流程的详细的执行步骤的流程图。如图3所示，上述的驱动器100，首先执行进行该驱动器的初始设定的步骤S110～S114，接着，执行确定测试记录的条件的步骤S116～S122，然后，执行以确定的条件进行测试记录的步骤S124，执行根据其结果确定起始脉冲的条件的步骤S126。以下，详细说明上述的各个步骤。

(基准条件的确定)

在图3所示的步骤S110中，首先，使用任意标准的介质一边使记录速度变化一边进行测试记录，求出1个脉冲宽度和3个功率值作为基准条件。优选的是，使用上述测试记录的结果作为3个功率值，即：抖动变成最小的值、以及位于其前后的2个功率值。最好是，使用成为出错率好坏的基准的阈值附近的值作为前后2个功率值。在此求得的基准条件在后面的记录品质检查时进行使用。

(基准阈值的确定)

如后述那样，为了设定满足预定的记录容限的区域作为测试记录条件的范围(以下，称为“测试区域”)，需要确定成为判断基准的阈值。可以依照驱动器、介质的种类准备标准的值作为阈值的值，但是，表示出错率容许区域的最低限(minimum line)的阈值，随图7所示的构成拾取器的光学系统部件或其它元件的状态而变化，而且，还随记录介质的速度而变化。

因此，推荐的是，按实际使用的驱动器和介质的组合来求出上述阈值，使其具有更准确的判断基准，从而进行更准确的测试区域的设定。

不过，按驱动器和介质的组合来设定上述阈值，还成为记录步骤增加的主要原因，因此，也可以假定每个驱动器个体的差异为阈值变动的主要原因，将在驱动器制造时适于每个个体的阈值预先存储在存储区域115中。

图4是详细表示图3所示的基准阈值的确定步骤的流程图。如图4所示，进行基于预定的记录条件的记录再现，再根据其结果确定作为系统的基准值，将从该基准值确保了预定的容限的值设定为在确定测试区域时使用的阈值，由此来进行基准阈值的确定。以下，依次说明各个步骤。

首先，执行进行记录条件设定的步骤S150。在该步骤中，将脉冲宽度、功率、记录再现速度、记录地址等记录再现所需的条件准备为预定的图案，将该记录条件设定在驱动器中之后，在该驱动器内放入基准介质。优选的是，从各种介质中选择特性标准的介质作为基准介质。

接着，执行以在上述步骤S150中设定的记录条件对所放入的基准介质进行记录和再现的步骤S152，获得各记录条件中的记录再现特性，例如出错率、抖动、振幅、C/N值。选择表示记录品质的值作为在此取得的特性值。

接着，执行步骤S154，在该步骤S154中，从在上述步骤S152中获得的记录再现特性值求出最佳值、例如抖动最小值，将此值取为系统基准值。由此，在上述驱动器内将被认为接近最佳值的抖动值设定为基准值。也可以是，该基准值并不是最佳点，而是取为与预定的阈值相交的2点的中间值，即功率范围的中间值。

最后，执行步骤S156，在步骤S156中，计算将在上述步骤S154中确定的系统基准值与预定的系数α(优选的是设定α＞1)相乘后的值，将其作为阈值。由此，能够以具有预定的容限的形式对系统基准值进行判断。即，使用了系统基准值的阈值的计算，是用阈值＝系统基准值×α来进行的，最好是使用大约为1.5的数值作为系数α。该系数α可以根据驱动器、介质的种类设定适当的值，既可以设定α＝0.8～1.2这样接近系统基准值的值，也可以设定α＝2.0～3.0这样稍大的值。

图5是表示图4所示的流程的一个实施例的概念图。图5所示的例子，使用抖动值作为表示记录品质的特性值，对于W1～W4的各脉冲宽度，使功率在P1～P6的范围内进行变化，从而得到再现特性202-1～202-4。在图5所示的例子中，脉冲宽度W1～W4和功率P1～P6成为记录条件，得到最低抖动值的再现特性202-3的极值成为系统基准值，将该系统基准值乘以例如1.5而得到的值为阈值。图5中的矩阵内所示的箭头表示使测试条件变化的方向，在以下的说明中也以相同的含义使用。

图6是表示图4所示的流程的一个实施例的概念图。图6所示的例子，使用抖动值作为表示记录品质的特性值，按W1～W4的各脉冲宽度，改变功率的变化范围，从而得到再现特性202-1～202-4。在图6所示的例子中，得到最低抖动值的再现特性202-2的极值成为系统基准值，将该系统基准值乘以例如1.5而得到的值为阈值。这样，也可以按各脉冲宽度改变功率条件来求得阈值。

图7是表示按各驱动器求出阈值时的例子的概念图。在希望进行与驱动器的个体差异相应的阈值设定的情况下，如图7所示，各驱动器100-1～100-5分别对共用的基准介质50进行记录再现，预先按各驱动器存储固有的阈值1～5。

在想要简化阈值的设定步骤的情况下，也可以求出用数个标准的驱动器的每一个对共用的基准介质进行记录再现而得到的阈值1～5的平均值，并将该平均阈值作为其它驱动器的阈值使用。

这时，为了求出平均阈值而使用的驱动器，既可以是相同设计的驱动器，也可以是并非完全相同的、类似的设计的驱动器。进而，也可以将一次求得的平均阈值作为以后制造的相同或类似设计的驱动器的阈值而普遍使用。另外，也可以有意地准备存在差异的多台驱动器，求出这些驱动器的平均值。

(记录装置的初始设定)

执行步骤S114，在该步骤S114中，把用以上说明的图8的步骤S110和步骤S112求得的基准条件和基准值存储在驱动器100内的记录区域115中。优选的是，预先在制造该驱动器100时执行该步骤S114。

(放入记录对象介质)

接着，执行步骤S116，在步骤S116中，在已结束步骤S114的初始设定后的驱动器100内放入进行信息记录的介质50。

(基于基准条件的记录再现)

下面，执行步骤S118，在步骤S118中，使用在步骤S114中设定的条件，对在步骤S116中放入的介质50上进行记录。具体地说，使用作为基准条件所定义的1个脉冲宽度和3种功率值进行3次记录再现，得到3点抖动值。将该3点抖动值与功率轴之间的关系用图形表示，能够明确与驱动器100和介质50的组合相应的记录特性的趋势。

(记录品质的检查)

图8A、图8B是表示在图3的步骤S120中实施记录品质检查而得到山谷形图案的例子的概念图。如图8A、图8B所示，使用在步骤S120之前的步骤中所得到的各基准条件下的抖动值和阈值来进行记录品质的检查。在图8A、图8B所示的例子中，作为基准条件使用了功率P1、P2、P3，联结由各功率值得到的抖动值的假想线变为山谷形的图案。在得到了这样的山谷形图案时，意味着在步骤S110中使用的基准介质和在步骤S116中放入的记录对象介质为相同的灵敏度，记录特性是类似的。

这里，图8A是山谷形图案的最小值小于等于阈值的例子，图8B是山谷形图案的最小值大于等于阈值的例子，在任一个图案中，都认为基准介质和记录对象介质是相同的灵敏度。这样，在基准介质和记录对象介质是相同的灵敏度的情况下，如后述的那样，以将基准条件作为中心的功率×脉冲宽度的面区域来设定在测试记录中使用的条件。

在此，在图8A和图8B中，在各记录点P1、P2、P3分别得到的再现值与再现基准值的差量、即在图8A、图8B的例子中抖动值与抖动阈值的差量不同，在图8A中所得到的再现值更接近再现基准值。

这被认为是图8A比图8B更容易发现最佳条件，因此，得到图8A的记录特性时与得到图8B的记录特性时相比，测试次数设定得较少，也可以做成为以更少的测试次数发现更合适的解的结构。

即，再现值与再现基准值的差量小的情况下，最佳条件接近上述基准条件，再现值与再现基准值的差量大的情况下，最佳条件远离上述基准条件，因此，在想要进一步减少测试次数的情况下，最好是根据再现值与再现基准值的差量改变测试次数。

图9A、图9B是表示在图3的步骤S120中实施记录品质检查而得到右下降的图案的例子的概念图。在图9A、图9B所示的例子中，为随着P1、P2、P3和功率的增加抖动值下降的右下降的图案。在得到了这样的右下降的图案时，意味着记录对象介质的灵敏度比基准介质的灵敏度低。

在此，图9A是右下降图案的最小值小于等于阈值的例子，图9B是右下降图案的最小值大于等于阈值的例子，在任一个图案中，都被认为是记录对象介质的灵敏度比基准介质的灵敏度低。这样，在记录对象介质的灵敏度比基准介质的灵敏度低的情况下，如后述的那样，使以将基准条件作为中心的功率×脉冲宽度的面区域所划分的测试区域向高功率、宽脉冲宽度侧移动来进行测试记录。

另外，在得到了图9A、图9B所示的右下降图案的情况下，考虑到抖动的最小值位于更高功率侧，因此，可以用比P3更高的功率进行追加记录，再次确认记录特性。在这种情况下，记录次数增加一次，但能够提高记录品质的检查精度。在得到了这种图案的情况下，与得到了上述山谷形图案的情况相同，可以根据再现值和再现基准值的差量改变测试次数。

此外，当取得图9A、图9B所示的右下降图案时，认为与上述图8A、图8B所示的山谷形图案相比，最佳解远离基准条件，因此最好是与山谷形图案相比，预先增加测试次数。

图10A、图10B是表示在图3的步骤S120中执行记录品质检查而得到右上升的图案的例子的概念图。在图10A、图10B所示的例子中，为随着P1、P2、P3和功率的增加、抖动值上升的右上升的图案。当取得这样的右上升的图案时，意味着与基准介质相比，记录对象介质的灵敏度更高。

这里，图10A是右上升图案的最小值小于等于阈值的例子，图10B是右上升图案的最小值大于等于阈值的例子，在任一个图案中，都被认为是与基准介质相比，记录对象介质的灵敏度更高。这样，当记录对象介质的灵敏度更高时，如后所述，使以基准条件为中心的功率×脉冲宽度的面区域所划分的测试区域向低功率、窄脉冲宽度侧移动来进行测试记录。

此外，当取得图10A、图10B所示的右上升图案时，考虑到抖动的最小值位于更低功率侧，因此可以用比P1低的功率进行追加记录，再次确认记录特性。这时记录次数增加1次，但是能提高记录品质的检查精度。当得到了该图案时，与得到了上述山谷形图案时同样，可以根据再现值和再现基准值的差量改变测试次数。

此外，当得到了图10A、图10B所示的右上升图案时，考虑到与上述图8A、图8B所示的山谷形图案相比，最佳解远离基准条件，所以最好是与山谷形图案相比，预先增加测试次数。

(测试区域的确定)

图11是表示在图3的步骤S120中得到山谷形图案时，在步骤S122中执行的测试区域确定的一例的概念图。如图11所示，当得到了山谷形图案时，将连结在点P1、P2、P3分别得到的抖动值的近似曲线206与阈值的相交点设为在测试记录中使用的功率变化区域，该变化区域为功率范围。在本发明中，把实际在测试记录中使用的功率范围定义为“功率范围”，把抖动小于等于阈值的功率范围定义为“功率容限”。

这里，近似曲线206随各脉冲宽度的不同而不同，所以当设基准条件中使用的脉冲宽度为W4时，则对于以该W4为中心的脉冲宽度W1～W6，分别以功率P1、P2、P3记录，并确认所得到的近似曲线206与阈值的相交点。据此，如图11的矩阵映像所示，按各脉冲宽度取得小于等于阈值的功率范围，图11的阴影线所示的区域为测试区域。这里，如果用矩阵中的映像表示作为基准条件使用的P1、P2、P3这3个功率条件和脉冲宽度W4，则成为图11的208-1、208-2、208-3，所确定的测试区域设定为以基准条件为中心的功率×脉冲宽度的面区域。

这样，通过对每一个脉冲宽度求功率范围，能够集中小于等于阈值的区域进行测试，因此，能够以少的测试次数发现更适当的条件。

另外，通过在功率容限取得较宽时，将功率变化的步长设定得较大，在功率容限窄时，将功率变化的步长设定得较小，也能够减少测试次数。例如，也可以是这样的结构，当取10mW的容限时，假设粗略(rough)地测试也能得到最佳值，则以2mW的步长进行5次测试，当取1mW的容限时，判断为需要更精密的测试，以0.1mW的步长进行10次测试。

图12是表示当在图3的步骤S120得到右下降图案时，在步骤S122执行的测试区域确定的一例的概念图。如图12所示，当得到右下降图案时，考虑到最佳条件位于更高功率侧，因此，用高于P3的功率值P+进行追加记录，连结在P1、P2、P3、P+各处分别得到的抖动值的近似曲线206与阈值的相交点作为功率范围。分别以脉冲宽度W1～W6进行该处理，得到图12的矩阵映像所示的测试区域。

这里，由上述步骤所确定的测试区域，为以208-1、208-2、208-3为中心的功率×脉冲宽度的面区域向高功率侧移动了的形状。在该例子中，原封不动地使用了山谷形图案中使用的W1～W6，但是当为右下降图案时，处于低灵敏度倾向，所以也可以移动到比W1～W6更宽的脉冲宽度区域来确定功率范围。

图13是表示在图3的步骤S120中得到右上升图案时，在步骤S122中执行的测试区域的确定的一个例子的概念图。如图13所示，当得到右上升图案时，考虑到最佳条件位于更低功率侧，所以用比P1更低的功率值P+进行追加记录，以连结在P+、P1、P2、P3处分别得到的抖动值的曲线206和阈值的相交点为功率范围。用脉冲宽度W1～W6分别进行该处理，得到图13的矩阵映像所示的测试区域。

这里，由上述步骤确定的测试区域为把以基准条件208-1、208-2、208-3为中心的功率×脉冲宽度的面区域向低功率侧移动了的形状。在该例子中，原封不动地使用了山谷形图案中使用的W1～W6，但是当为右上升图案时，处于高灵敏度倾向，所以也可以移动到比W1～W6更窄的脉冲宽度区域来确定功率范围。

即，在上述方法中，按各脉冲宽度进行记录品质的检查，根据结果，按各脉冲宽度确定测试次数，所以能期待测试次数的减少。以上说明的记录品质的检查，是通过把基于基准条件的记录的抖动变化构图而进行的，更理想的是使用以下所示的8个图案进行。

图14是表示使用8个图案执行图3的步骤S120时的例子的图。如图14所示，无论图案1是山谷形、右上升、右下降等的哪个图案，都是抖动的最大值小于等于阈值时应用的图案。当得到该图案时，视为与基准介质相同程度的灵敏度，并且判断小于等于阈值的容限取得较宽，使功率条件分别向低功率侧和高功率侧扩展。即在图案1中，无法取得阈值附近的值，所以对低功率侧和高功率侧双方进行追加记录。

然后，对由该追加记录所得到的抖动特性进行曲线近似，将该近似曲线与抖动阈值相交的大小2点的间隔取为功率范围的基准值。

进而，当得到该图案时，把基准值±0.2T的脉冲宽度区域确定为测试区域，在测试记录时，在该测试区域内按0.2T变化，进行最佳记录条件的检测。其中，T表示记录坑的单位时间长度。

这里，当设成为基准值的脉冲宽度为脉冲条件1、扩展的2点为脉冲条件2、3时，图案1的脉冲条件2、3成为扩展±0.2T后的脉冲宽度。伴随着该脉冲宽度的条件变更，在作为测试条件使用的功率范围中也进行若干的变更。

即，当把脉冲宽度变更0.1T时，以功率范围的基准值×(1-0.05×1)mW为该脉冲宽度的功率范围，脉冲宽度变更0.2T时，以功率范围的基准值×(1-0.05×2)mW为该脉冲宽度的功率范围，当把脉冲宽度变更-0.1T时，以功率范围的基准值×[1-0.05×(-1)]mW为该脉冲宽度的功率范围。

因此，适合于该图案1时的测试条件为以下的3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-2)]mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+2)]mW

在本发明中，也可以在实际的测试记录中不使用上述(1)所示的基准条件。

图案2是在得到了山谷形图案的情况下，抖动的最小值小于等于阈值时应用的图案。当得到了该图案时，判断为记录对象介质与基准介质为相同灵敏度，选择基准值±0.1T作为脉冲宽度条件。然后通过与图案1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该图案2时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.1T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-1)]mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.1T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+1)]mW

图案3是在得到了山谷形图案的情况下，抖动的最小值超过阈值时应用的图案。当得到了该图案时，判断为记录对象介质和基准介质为相同灵敏度，并且介质的特性差异大，选择基准值±0.2T作为脉冲宽度条件。然后通过与图案1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该图案3时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-2)]mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+2)]mW

图案4是在得到了右下降图案的情况下，抖动的最小值小于等于阈值时应用的图案。在得到了该图案时，判断为记录对象介质比基准介质的灵敏度略低，选择基准值、+0.1T和+0.2T这3点作为脉冲宽度条件。然后通过与图案1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该图案4时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值+0.1T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+1)]mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+2)]mW

图案5是在得到了右下降图案的情况下，抖动的最小值超过阈值时应用的图案。在得到了该图案时，判断为记录对象介质比基准介质的灵敏度低很多，选择基准值、+0.2T和+0.4T这3点作为脉冲宽度条件。然后通过与图案1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该图案5时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值+0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+2)]mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.4T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+4)]mW

图案6是在得到了右上升图案的情况下，抖动的最小值小于等于阈值时应用的图案。在得到了图案时，判断为记录对象介质比基准介质的灵敏度略高，选择基准值、-0.1T和-0.2T这3点作为脉冲宽度条件。然后通过与图案1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该图案6时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.1T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-1)]mW

(3)脉冲宽度的基准值-0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-2)]mW

图案7是在得到了右上升图案的情况下，抖动的最小值超过阈值时应用的图案。在得到了该图案时，判断为记录对象介质比基准介质的灵敏度高很多，选择基准值、-0.2T和-0.4T这3点作为脉冲宽度条件。然后通过与图案1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该图案7时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-2)]mW

(3)脉冲宽度的基准值-0.4T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-4)]mW

图案8是在得到了山形图案的情况下，抖动的最大值超过阈值时应用的图案。在得到了该图案时，判断为是异常图案，选择基准值±0.2T作为脉冲宽度条件。然后通过与图案1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该图案8时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-2)]mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+2)]mW

当检测到以上说明的8个图案中最接近基准介质的图案2以外的图案时，为了确认并不是再现误动作引起的，也可以再次再现成为该图案的基础的记录结果，再次检测抖动。这时，当通过再次再现检测到图案2以外的图案时，可以按照图14所示的条件进行记录条件的追加和扩展。

这里，当进行上述再现误动作的确认的结果为检测到图案8时，考虑记录误动作的可能性，所以在进行追加记录和脉冲宽度的扩展之前，以脉冲宽度的基准值再次进行记录。当再现该再记录结果也为图案8时，不进行追加记录，即，不进行用于测量脉冲条件1的容限的功率扩展，而进行脉冲条件的扩展，即脉冲条件2、3的扩展。可以用上述方法进行与脉冲条件2、3的扩展相应的功率的扩展。

即，在图案8的情况下，用脉冲条件1无法取得容限，无法求出成为扩展的基准的功率范围，所以把初始的功率条件范围设定为成为基准的功率范围。

(测试区域的确定：基于近似法的功率范围的确定)

通过执行上述步骤，能以少的测试次数确定对得到最佳解有效的测试区域，但是关于对确定该测试区域很重要的功率范围的确定方法，进行以下的说明。

在本发明中，想以尽可能少的测试次数提高发现最佳解的精度，所以使测试条件集中在小于等于阈值的区域中的方法如上所述。根据该考虑方法，可以根据表示对阈值的容限的大小2点的功率值求出测试记录时使用的功率范围。这里，对阈值的容限是指在该区域中能得到小于等于阈值的特性值的宽度，大小2点的功率值是指确定该容限宽度的低功率侧的值和高功率侧的值。

这里，如果考虑缩短各种介质的测试记录时间和提高一次写入介质那样对测试记录区域有限制的介质的测试区域的效率，则希望测试记录所需要的记录点更少，但是这里求取的功率范围是成为最佳记录条件的判断基准的重要参数，所以希望是高精度。

以高精度求该功率范围意味着选择的区域更集中的测试，所以也有助于减少测试次数。例如当以0.1mW 1次的频率进行测试记录时，如果功率范围为1mW，就进行10次测试记录，如果为2mW，就进行20次测试记录，所以缩小功率范围将有助于减少测试次数。

因此，在本发明中，提倡这种方法，即：着眼于描绘记录再现信号的记录品质相对于记录功率的以最佳点为极值的2次曲线的变化，使用数个记录点近似计算特性曲线，从而得到要求出的容限量的方法。通过应用这样的近似方法，用数个记录点就能高精度且容易地求出功率范围，减少测试次数。

图15是说明通过曲线近似求出在图3的步骤S122中使用的功率范围的概念图。如图15所示，在进行近似时，首先选择作为记录特性的判断基准的抖动值在阈值附近的低功率侧的a和高功率侧的c这2点、以及位于它们之间且比a、c和阈值中的任意一个值都小的抖动值b。即，这里选择的a、b、c具有以下的关系。

a＞b、c＞b、阈值＞b

这里，上述阈值附近如图15所示，定义为离阈值具有某个宽度的上限值和下限值之间的范围，优选的是，上限值设定为阈值的40％，下限值设定为阈值的5％。然后，用2次函数来近似a、b、c的值，以该2次函数与阈值相交的大小2点的差为功率范围。考虑到记录点的间隔，定义为阈值附近的范围可以适当变更为-5％～+40％或-10％～30％等。

图16是说明通过曲线近似求出图3的步骤S122中使用的功率范围的另一个例子的概念图。如图16所示，当只用A、B、C这3个条件，无法得到满足上述“a＞b、c＞b、阈值＞b”的条件的关系时，最好通过追加记录高功率侧的D，得到阈值附近的值。

进而，如图16所示，当存在B＞C的关系时，最好不使用B，而用A、C、D这3点计算近似式。

这时，3个记录点和阈值的关系变为“A＞C、D＞C、阈值＞C”，为适合于描绘近似曲线的关系，所以能通过3点近似得到高精度的近似曲线。其中，D所示的追加记录条件可以根据追加记录前的记录点表示的A＞B、B＞C和阈值来确定。

此外，与图15相反，当在低功率侧没有阈值附近的值时，可以用比A低的功率条件进行追加记录，根据记录点和阈值的关系，可以适当追加1点以上的记录条件。

此外，追加记录条件中使用的功率的范围，既可以相对于预定的功率步长具有一定的变化，也可以预先求出抖动变动对功率的变动的关系，根据该关系设定功率条件。

另外，在即使进行上述记录条件的追加也不能取得足以求出功率范围的记录点时，通过与上述同样的步骤再次进行记录条件的追加来变更记录点。

此外，如一次写入介质那样测试记录区域有限制时，为了避免使用很长的测试时间，可以使上述再次记录条件的追加次数具有上限值，也可以使追加记录功率具有上限值，使得记录功率不会因记录条件的追加而超过激光输出值。

此外，在上述的例子中，通过3点近似求出功率范围，但是，也可以选择最接近阈值的2点，根据这2点分别表示的大小2点的功率值的差来确定功率范围。

此外，作为选择阈值附近的2点的方法，可以使功率变化并记录，直到发现跨过阈值的大小2点，选择在该记录过程中最接近阈值的2点，也可以原封不动地选择这2点。关于该方法，以下进行详细的说明。

(测试区域的确定：基于抽样的功率范围的确定)

图17是通过抽样求出图3的步骤S122中使用的功率范围的例子的概念图。在图17所示的例子中，不是上述3点近似，而是使功率逐渐变化，直到得到接近阈值的值，把接近阈值的大小2点的功率值作为基准，求出功率范围。

即，如图17所示，按从P1到P2、P3…的顺序增加记录功率，进行记录再现，反复进行记录再现，直到得到大于等于阈值的值的功率值P6。如果用矩阵表示该处理的映像，则从P1～P6进行功率变化，但是功率范围变为最接近阈值的低功率侧的P2和高功率侧的P6之间的范围。这样通过选择跨过阈值的2点，也能确定功率范围。

这里，作为选择接近阈值的大小2点的方法，可以适当选择使用以下的方式。

1)选择形成功率容限的大小2点的方法，即，在满足再现基准值的功率区域内选择与再现基准值最接近的2点

2)选择虽然稍靠功率容限的外侧，但最接近再现基准值的2点

3)在低功率侧选择跨过再现基准值的大小2点

4)在高功率侧选择跨过再现基准值的大小2点

5)在低功率侧和高功率侧选择成为跨再现基准值的形状的2点，即分别与再现基准值最接近的2点

此外，也可以使用通过上述方法选择的2点来近似记录特性，求出与再现基准相交的大小2点。通过以上步骤，可确定成为记录脉冲条件的基准的起始脉冲条件。

(m’T/(n-m)T比率的确定)

图18是表示在图1的(b)所示的步骤S200的比率确定中使用的测试用记录脉冲的例子的概念图。图18的(a)是使用以单一的脉冲图案构成的单脉冲时的例子，图18的(b)是使用以多个脉冲图案构成的多脉冲时的例子。如图18所示，单脉冲10-1和多脉冲10-2，由配置在记录脉冲最前面的起始脉冲12和之后的后续脉冲14构成，后续脉冲14包括配置在记录脉冲的最后面的最终脉冲16。

这里，用总功率PW表示的高度规定记录脉冲整体的能量，以起始脉冲宽度Ttop表示的长度规定施加给记录坑前端的初始能量。该总功率PW，优选为记录脉冲10-1、10-2中最高的值，起始脉冲的宽度Ttop，具有对应于具有3T的长度的最短记录坑的宽度。该最短宽度的记录脉冲的出现概率最高，对记录品质的影响大，因此，优选为首先确定该起始脉冲12的功率PW和宽度Ttop的最佳条件。

接着，通过m’T/(n-m)T比率确定的流程，来确定后续脉冲14。作为后续脉冲的条件，在为单脉冲10-1时，如图18的(a)所示，设置比总功率PW低PWD的低功率区域，通过规定该量来防止记录坑成为泪滴状。同样，在为多脉冲10-2时，如图18的(b)所示，通过规定位于起始脉冲12和最终脉冲16之间的中间脉冲的宽度Tmp，或者通过规定Tmp和Tsmp的占空比来防止记录坑成为泪滴状。这些后续脉冲的条件确定是将起始脉冲的条件作为基准来进行的。

图19是表示图1的(b)所示的步骤S200的比率确定流程的执行顺序的流程图。如图19所示，图2所示的驱动器，首先，为了设定策略电路102执行的记录策略的各种参数，基于对介质50改变了(n-m)T的条件的多个记录图案进行测试记录(步骤S210)。这时，mT脉冲的条件，预先固定为在上述m’T条件确定流程中所得到的值。

之后，再现由该测试记录所形成的记录图案(步骤S212)，之后，偏移检测部112用与预定时钟同步的计数器，对从2值化电路110得到的再现2值化信号进行计数(步骤S214)，将该再现2值化信号中所包含的坑和岸的长度作为计数数据，存储在记录区域115(步骤S216)。

然后，记录偏移检测部112用存储在记录区域115中的计数数据，生成表示每个计数值的出现频率的柱状图(步骤S218)，根据该柱状图确定成为坑长度和岸长度的判断基准的计数结果的阈值(步骤S220)。

然后，记录偏移检测部112，以上述阈值为基准从存储在记录区域115中的计数数据中，检索包含特定的坑/岸图案的多种特定图案(步骤S222)，对包含在该特定图案中的被认为是同一坑长度的计数结果取平均值，并且对被认为是同一岸长度的计数结果取平均值，从而求出构成特定图案的各坑和各岸的平均长度(步骤S224)。

然后，记录偏移检测部112，将所抽出的多个特定图案中的一个设定为基准图案，将该抽出的图案所包含的对象记录坑的长度与基准长度进行比较(步骤S226)，检测对于记录脉冲的坑的长度偏移量(步骤S228)。

然后，运算式导出部113，根据记录偏移检测部112检测出的偏移量，导出用于确定最佳策略的运算式；策略确定部114，使用以该运算式导出部113所导出的运算式；爱预测各种参数的控制结果(步骤S230)，根据该预测结果确定图18所示的PWD或Tmp，将其设定于在策略电路102中(步骤S232)。

图20是表示从图19所示的测试记录到再现数据的计数为止的操作概念的概念图。如图20所示，首先，进行测试记录，并在光盘上形成图20的(a)所示的记录坑。然后，对该记录坑进行再现，如图20的(b)所示，得到与该记录坑对应的再现RF信号。对该再现RF信号进行2值化后，得到图20的(c)所示的再现2值化信号，并用图20的(d)所示的时钟信号对该2值化信号的极性反转之间的脉冲长度进行计数，得到图20的(e)所示的计数结果。

图21是表示图28所示的计数结果的存储映像的概念图。如图21所示，在用时钟信号进行了计数的2值化信号中，其计数结果以极性反转部分为界限，与坑、岸的区别一起依次以时序存储在设置于存储区域115中的表内。图21所示的表，以附加了此后可进行检索的地址的状态来存储。

图22A、图22B是表示图19所示的柱状图生成的图像的概念图。如图22A、图22B所示，如果将计数值的出现频率图形化，则可得到柱状图，如果将坑和岸分开分别生成柱状图，则可得到图22A所示的表示坑的计数倾向的坑柱状图和图22B所示的表示岸的计数倾向的岸柱状图这两种柱状图。这样，在光盘上，对基准时钟的各单位长度nT(n＝3、4、5、…14)的长度必然被确定，因此对于各单位长度nT，能得到出现频率分布的峰。

图23A、图23B是表示图19中的阈值确定的映像的概念图。如图23A、图23B所示，在柱状图中的各峰和峰之间所形成的谷的部分可以作为各单位长度nT的长度判断阈值来使用，因此对于坑柱状图和岸柱状图，分别设定成为坑长的判断基准的坑长度阈值和成为岸长度的判断基准的岸长阈值。

图24A、图24B是表示通过图23A、图23B所示的方法得到的阈值的例子的概念图。如图24A所示，按各坑长度的界限来定义坑长度阈值，如图24B所示，按各间隔长度的界限来定义间隔长度阈值。在图33A所示的例子中，成为2T和3T的界限的阈值为“计数值＝2”，成为3T和4T的界限的阈值为“计数值＝9”，以下，设定到14T和15T的界限为止。另外，在图33B所示的例子中，成为2T和3T的界限的阈值为“计数值＝2”，成为3T和4T的界限的阈值为“计数值＝10”，以下，设定到14T和15T的界限为止。

接着，对图19中的从特定图案的检索(步骤S222)到偏移量的检测(步骤S228)为止的各步骤进行详细的说明。这些步骤是根据记录偏移检测部112中的各种偏移的检测原理来进行的。

图25是表示用于检测坑平衡引起的偏移量的记录图案的一个例子的图。在此，所谓坑平衡，表示上述的起始脉冲与后续脉冲的平衡。如图25所示，在检测坑平衡引起的偏移量时，使用如图25的(a)所示的记录脉冲进行测试记录。该记录脉冲包括坑LxT、坑PyT、岸LzT连续的图案，将固定岸LyT的岸长度和固定岸LzT的岸长度固定，将可变坑PxT的坑长度如图25的(b)～(f)所示那样，按3T、4T、…7T来变化。另外，虽然未图示，但是可变坑长度的变化一直进行到14T。

在此，在测量该记录图案的可变长度的坑PyT的长度时，该可变长度的坑PyT的长度在理想的记录状态下应该是分别与理想的坑长度对应。

但是，当该可变长度的坑PyT的长度偏移理想的规定长度时，岸LxT的岸长度和岸LzT的岸长度固定，因此，该可变长度的坑PyT的离规定长度的偏移量，对应于记录时的策略中的3T、4T、…14T分别相对于坑P3T、P4T、…P14T的长度偏移量。

因此，若使用某策略进行测试记录，根据该记录脉冲引起的测试记录的再现图案，如图25的(b)～(f)所示那样，对可变长度的坑PyT的记录结果与各坑的基准长度进行比较，检测各坑长度离理想长度的偏移量，则能够检测各坑长度的长度偏移量。

图26是表示坑平衡偏移检测中所使用的特定图案检测用的表结构的概念图。在进行坑平衡偏移的检测的情况下，以对每个特定图案设定的关于岸LxT、坑PyT、岸LzT的阈值范围为基准，对在图2的存储区域115内存储的数据进行检索(相当于图19的步骤S222)，抽取满足该阈值的数据串。

之后，对分别相当于岸LxT、坑PyT、岸LzT的计数结果进行区分，按坑岸LxT、坑PyT、岸LzT求出平均值(相当于图19的步骤S224)。如果使用该计数结果的平均值进行图25所示的图案比较，则能得到各坑长度的前侧相移量。

图27是表示通过计数结果的绝对比较来检测长度偏移量时的具体例子的概念图。如图27所示，在通过与理想的基准长度进行比较来检测偏移量时，首先，从存储在存储区域内的数据组中检索抽取图27的(a)所示的特定图案，如图27的(b)和(c)所示，比较相对于成为比较对象的部位的计数值。在图27所示的例子中，由于坑3T成为比较部位，因此求出作为特定图案的计数结果的图27的(c)所示的“9”和作为相当于基准长度的计数结果的图27的(d)所示的“8”的差值，得到的差值“1”就成为3T坑的偏移量。

图28是表示图19中的控制量预测的执行例子的流程图。如图28所示，控制量的预测是通过执行以下一连串的步骤进行的：以记录条件不同的S1和S2这两种以上的条件进行测试记录(步骤S250)；再现得到的记录标记(步骤S252)；比较得到的再现图案，从而求出与条件1对应的偏移量D1和与条件S2对应的偏移量D2(步骤S254)；以及对S1和S2之间、D1和D2之间的关系进行直线近似(步骤S256)，使用该直线确定最佳校正量(步骤S258)。

根据策略的各种设定参数，改变如上述那样所检测出的偏移量D1和D2。并且，能够清楚地得知，根据该策略的各种设定参数进行改变的偏移量DQ和D2，对其分析的结果大致呈直线地进行变化。

即，由上述记录偏移检测部112所检测出的各自的测试记录中的偏移量，能够作为基于最小二乘法而近似的直线状的变化而得到。

因此，在本实施方式的驱动器中，在进行例如2次测试记录时，能够着眼于策略的各种设定参数与检测出的偏移量D1、D2之间的直线关系，来确定最佳的策略。在本发明中，也可以是用曲线近似来替代直线近似。

即，在单脉冲时，PWD为以记录条件S1、S2进行变化的典型参数，在多脉冲时，Tmp为以记录条件S1、S2进行变化的典型参数，使这些参数以S1、S2进行变化，检测其影响而作为D1、D2，使用这4点进行直线近似，使用该直线得到能够消除偏移的校正量。

图29是表示使PWD变化时的记录条件S1、S2的变化与偏移量D1、D2之间的关系的概念图。在此，图29的(a)所示的记录脉冲为使PWD只按S1变化的记录脉冲S1，图29的(b)所示的记录脉冲为使PWD只按S2变化的记录脉冲S2，使用这两个条件进行测试记录。

结果，得到与图29的(a)的记录脉冲对应的图29的(a1)所示的图案S1，与图41的(b)的记录脉冲对应的图29的(b1)所示的图案S2。在此，图案S1与控制量S1对应地产生D1的偏移量，图案S2与控制量S2对应地产生D2的偏移量。

如果知道相对于控制量S1和S2的偏移量D1和D2，并假设对某个参数具有多少控制量，则能预测产生多少偏移，因此，利用这些关系来进行控制量的预测和校正值的确定。

图30是表示利用了关于单脉冲形状的直线近似的长度偏移校正的一个例子的概念图。在确定对该长度偏移的校正量PWD的情况下，首先，如图30的(a)所示，以成为基准的脉冲长度为基准波形nT，此时，如图30的(b)所示，用在脉冲的中央缺少了PWD的波形进行测试记录，结果是，如图30的(c)所示，检测所得到的再现信号的长度偏移Δ。

在图30所示的例子中，使该PWD进行S1＝+0.1和S2＝+0.3这两种变化，所得到的长度偏移Δ为偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然后，使用这些所得到的S1、S2、D1、D2，如图30的(e)所示，用直线来近似控制结果Δ对控制量PWD的关系，并利用该直线确定能消除长度偏移的校正量PWD＝+0.2作为最佳校正值。这时，预先固定起始脉冲的条件而不进行变化。

这样，如果求出至少2个变化点，则策略的变化S1、S2和偏移量的变化D1、D2的关系能进行直线的近似或者曲线的近似，因此能使用该直线求出偏移量变为零的最佳校正量。

具体地讲，求出使策略S以多点变化时的偏移量D，将此时的策略S和偏移量D的关系代入普通式子“D＝a×S+b”，通过求解联立方程式求出常数a、b，最终，求出与理想的偏移量D对应的策略S，并将该策略S设定在图1所示的策略电路102中，由此进行记录脉冲的最佳校正。

例如，在图2所示的记录偏移检测部112中，设从使用某个策略S1的测试记录的再现图案检测出的偏移量为D1、从使用另外的策略S2的测试记录的再现图案检测出的偏移量为D2，则由

D1＝a×S1+b

D2＝a×S2+b计算a、b，并求出使用计算出的a和b的函数

S＝(D-b)/a，通过将用于改善记录品质的、例如用于校正在补偿电路中产生的初始的输出偏移等的输出偏移量D代入该函数中，确定最佳策略S。

图31是表示利用了关于多脉冲的形状的直线近似的长度偏移校正的一个例子的概念图。在确定对该长度偏移的校正量Tmp的情况下，首先，如图31的(a)所示，把成为基准的脉冲长度取为基准波形Tmp，此时，如图31的(b)所示，以把中间脉冲长度取为Tmp的波形进行测试记录，结果，如图31的(c)所示，检测得到的再现信号的长度偏移Δ。这时，预先固定起始脉冲的条件而不进行变化。

在图31所示的例子中，使Tmp的变化进行S1＝+0.3和S2＝+0.1这两种变化，所得到的长度偏移Δ为偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然后，使用这些所得到的S1、S2、D1、D2，如图31的(e)所示，用直线来近似控制结果Δ对控制量Tmp的关系，并利用该直线确定能消除长度偏移的校正量Tmp＝+0.2作为最佳校正值。

图32是表示用于存储校正量PWD和Tmp的表构造的概念图。如图32所示，校正量PWD和Tmp用成为校正对象的每个坑长度来定义。例如，在校正对象坑为3T时的校正量PWD，校正量被存储在图中表示为“PW3”的区域内，在校正对象坑为3T时的校正量Tmp，校正量被存储在图中表示为“Tm3”的区域内，以下，对于4T、5T、…14T，与3T同样地进行存储。

图33是表示在图1的步骤S300中执行的nT脉冲的结构概念的概念图。如图33的(a)所示，形成例如5T坑时的记录数据，作为具有5个时钟信号周期的长度的nT长度的脉冲信号而被输出。对于该记录数据，校正后的脉冲如图33的(b)和图33的(c)所示，以m’T的起始脉冲开始，作为具有n’T长度的脉冲信号而输出，在单脉冲的情况下，在(n-m)T脉冲内定义PWD，在多脉冲的情况下，在(n-m)T脉冲内定义Tmp。

这时，PWD和Tmp为固定起始脉冲的条件而求得的值，因此成为依照将mT脉冲的条件作为基准的最佳m’T/(n-m)T比率的值。其结果，以起始脉冲和后续脉冲构成的nT脉冲，成为对记录品质的提高最理想的值。在该时刻，因为还未定义相位条件，所以，通过进一步执行关于后述的相位条件的确定的流程，来得到被最优化的策略。

(相移校正)

图34是表示在图1的(b)所示的步骤S400的相移校正中使用的测试用记录脉冲的例子的概念图。图34的(a)是使用由单一的脉冲图案构成的单脉冲时的例子，图34的(b)是使用由多个脉冲构成的多脉冲时的例子。

如图34的各图所示，无论是单脉冲10-1和多脉冲10-2的哪一者，都设定调整起始脉冲12的开始位置的Ttop和调整后端脉冲16的结束位置的Tlast作为记录脉冲的相位条件。通过调整这些值，能够将记录后的坑长进一步地最优化。通过进行把以到上述为止的流程所确定的起始脉冲的条件和后续脉冲的条件作为基准的测试记录，来确定这些相位条件。

图35是表示在图1的(b)所示的步骤S400的相位条件确定流程的执行步骤的流程图。如图35所示，图2所示的驱动器，首先对介质50进行基于变更了由mT脉冲和(n-m)T脉冲构成的nT脉冲的相位条件后的多个记录图案的测试记录(步骤S410)。此时，mT脉冲的条件和(n-m)T脉冲的条件，预先固定为在到上述为止的流程中得到的值。

然后，再现通过该测试记录所形成的记录图案(步骤S412)，之后，偏移检测部112用与预定时钟同步的计数器，对从2值化电路110得到的再现2值化信号进行计数(步骤S414)，将该再现2值化信号中所包含的坑和岸的长度作为计数数据，存储在记录区域115中(步骤S416)。

然后，记录偏移检测部112用存储在记录区域115中的计数数据，生成表示每个计数值的出现频率的柱状图(步骤S418)，根据该柱状图确定成为坑长度和岸长度的判断基准的计数结果的阈值(步骤S420)。

然后，记录偏移检测部112，以上述阈值为基准从存储在记录区域115中的计数数据中，检索包含特定的坑/岸图案的多种特定图案(步骤S422)，对包含在该特定图案中的被认为是同一坑长度的计数结果取平均值，并且对被认为是同一岸长度的计数结果取平均值，从而求出构成特定图案的各坑和各岸的平均长度(步骤S424)。

然后，记录偏移检测部112，将所抽出的多个特定图案中的一个设定为基准图案，将该基准图案与其它图案进行比较(步骤S426)，分别独立地检测下述偏移量(步骤S428)。

1)坑相对于记录脉冲的前侧相移量

2)坑相对于记录脉冲的后侧相移量

3)热干扰导致的偏离记录脉冲的坑偏移量

然后，运算式导出部113，根据记录偏移检测部112检测出的偏移量，导出用于确定最佳策略的运算式；策略确定部114，用由该运算式导出部113所导出的运算式预测各种参数的控制结果(步骤S430)，根据该预测结果确定图34所示的Ttop和Tlast，并将其设定在策略电路102中(步骤S432)。

在此，从步骤S410的测试记录到步骤S424的取平均值为止的顺序，用与上述图20～图24所示的同样的方法进行，在此省略详细的说明。

图36是表示用于检测各坑长度的前侧相移量的记录图案和再现图案的一个例子的图。如图36所示，在检测各坑长度的前侧相移时，使用图36的(a)所示的记录脉冲进行测试记录。其记录脉冲包含固定坑PxT、固定岸LyT、可变坑PzT连续的图案，使固定坑PxT的坑长度和固定岸LyT的岸长度固定，使可变坑PzT的坑长度如图36的(b)～(f)所示那样，按3T、4T、…7T来变化。另外，虽然未图示，但是可变坑长度的变化一直进行到14T。

在此，在测量该记录图案的固定岸LyT的长度时，该固定岸LyT的长度在理想的记录状态下应该是恒定的。但是，当该固定岸LyT的长度偏离理想的规定长度时，由于坑PxT的坑长是固定的，因此，该固定岸LyT长度的理想的规定长度的偏移量，与相对于记录时策略中的3T、4T、…14T各自的坑P3T、P4T、…P14T的记录脉冲的前侧相移量相对应。

因此，当将可变坑PzT为3T的图36的(b)的图案设定为基准图案，将余下的图36的(c)～(f)的图案设定为比较图案，对这些比较图案的固定岸LyT的长度和基准图案的固定岸LyT的长度进行比较，如图36的各图所示，得到相对于基准图案的前侧相移量FPS4T～FPS7T。

在此，各偏移量FPS3T～FPS7T，可以作为以某个部位为基准的相对值来检测，因此，基准图案的前侧相移量FPS3T可以定义为零，也可以作为偏离理想的长度的偏移量来检测。另外，也可以将图36的(c)～(f)所示的图案中的任意一个设定为基准图案，而不用图36的(b)的图案。

图37是表示用于检测各坑长度的后侧相移量的记录图案和再现图案的一个例子的概念图。如图37所示，在检测各坑长度的后侧相移量时，使用图37的(a)所示的记录脉冲进行测试记录。该记录脉冲包含可变坑PxT、固定岸LyT、固定坑PzT连续的图案，使固定岸LyT的岸长度和固定坑PzT的坑长度固定，使可变坑PxT的坑长度像图37的(b)～(f)所示那样，按3T、4T、…7T来变化。另外，虽然未图示，但是可变坑长的变化一直进行到14T。

在此，在测量该记录图案的固定岸LyT的长度时，该固定岸LyT的长度在理想的记录状态下应该是恒定的。但是，当该固定岸LyT的长度偏离理想的规定长度时，由于坑PzT的坑长度是固定的，因此，该固定岸LyT长度的理想的规定长度的偏移量，与对记录时策略中的3T、4T、…14T各自的坑P3T、P4T、…P14T的记录脉冲的后侧相移量相对应。

因此，当将可变坑PxT为3T的图37的(b)的图案设定为基准图案，将余下的图37的(c)～(f)的图案设定为比较图案，对这些比较图案的固定岸LyT的长度和基准图案的固定岸LyT的长度进行比较，如图37的各图所示，得到对基准图案的后侧相移量RPS4T～RPS7T。

在此，各偏移量RPS3T～RPS7T，可以作为以某个部位为基准的相对值来检测，因此，基准图案的后侧相移量RPS3T可以定义为零，也可以作为偏离理想的长度的偏移量来检测。另外，也可以将图37的(c)～(f)所示的图案中的任意一个设定为基准图案，而不用图37的(b)的图案。

图38是表示用于检测由热干扰引起的坑偏移量的记录图案的一个例子的图。如图38所示，在检测由热干扰引起的坑偏移量的情况下，使用图38的(a)所示的记录脉冲进行测试记录。该记录脉冲，包含岸LxT、坑PyT、岸LzT连续的图案，使固定坑PyT的坑长度和固定岸LzT的岸长度固定，并使可变岸LxT的岸长度如图38的(b)～(f)所示，按3T、4T、…7T来变化。另外，虽然未图示，但是可变岸长度的变化一直进行到14T。

在此，如果测量该记录图案的固定坑PyT的长度，则该固定长度的坑PyT的长度在理想的状态下应恒定。但是，如果该固定坑PyT的长度偏离理想的规定的长度，则岸LzT的岸长度是固定的，因此该固定坑LyT的理想的规定长度的偏移量，与由紧接在可变岸LxT之前形成的坑的热干扰引起的偏移量相对应。

因此，当把可变岸LxT为3T的图38的(b)图案设定为基准图案，把图38的剩下的(c)～(f)的图案设定为比较图案，对这些比较图案的固定坑PyT的长度和基准图案的固定坑PyT的长度进行比较，如图38的各图所示，能得到对基准图案的前侧相移量HID3T～HID7T。

在此，各偏移量HID3T～HID7T只要能作为以某个部位为基准的相对值来检测即可，因此基准图案的前侧相移量HID3T也可以定义为零，另外，也可以作为偏离理想长度的偏移量来检测。并且，也可以将图38的(c)～(f)所示的图案的任意一个设定为基准图案，来替代图38的(b)的图案。

图39是表示坑前相移检测和坑后相移检测所使用的特定图案检索用的表结构的概念图。在进行坑前相移的检测的情况下，以对每个特定图案设定的关于坑PxT、岸LyT、坑PzT的图39的(a)所示的阈值范围为基准，对在图27的存储区域115内存储的数据进行检索(相当于图35的步骤S422)，抽取满足该阈值的数据串。

之后，对分别相当于坑PxT、岸LyT、坑PzT的计数结果进行区分并按坑PxT、岸LyT、坑PzT求出平均值(相当于图35的步骤S424)。如果使用该计数结果的平均值进行上述的图案比较，则能得到各坑长度的前侧相移量。图39的(b)是进行坑后相移的检测时的阈值例，但是思考方法和操作与进行坑前相移的检测的情况是相同的。

图40是表示坑干扰偏移检测所使用的特定图案检测用的表结构的概念图。如图40所示，坑干扰偏移的检测以与使用图39说明的坑前相移和坑后相移同样的方法来进行。

图41是表示通过计数结果的相对比较来检测偏移量时的具体例子的概念图。图41是检测坑前相移时的具体例子，但是检测其它的偏移量时也用同样的方法进行。在检测偏移量时，首先，从存储在存储区域内的数据组中检索抽取图41的(a)和(b)所示的基准图案和比较图案，如图41的(c)和(d)所示，比较对本来应为固定长度的部位的计数值。在图41所示的例子中，由于岸LyT成为比较部位，因此求出作为基准图案的计数结果的图41的(c)所示的“12”和作为比较图案的计数结果的图41的(d)所示的“11”的差值，得到的差值“1”就成为偏移量FPS4T的值。

图42是表示根据图35中的控制量预测确定Ttop、Tlast的执行例子的流程图。如图42所示，控制量的预测是通过执行以下一连串的步骤进行的：以记录条件不同的S1和S2这两种以上的条件进行测试记录(步骤S450)；再现得到的记录坑(步骤S452)；比较得到的再现图案，从而求出与条件1对应的偏移量D1和与条件S2对应的偏移量D2(步骤S454)；以及对S1和S2之间、D1和D2之间的关系进行直线近似(步骤S456)，使用该直线确定最佳Ttop和Tlast(步骤S458)。

图43是表示记录条件S1、S2的变化与偏移量D1、D2之间的关系的概念图。如果以图43的(a)所示的记录脉冲为“PzT＝3T”的基准脉冲，则成为比较对象的“PzT＝4T”的记录脉冲在使PzT的前端按S1变化的图43的(b)的记录脉冲S1和使PzT的前端按S2变化的图43的(c)的记录脉冲S2这两个条件下进行测试记录。

结果，得到与图43的(a)的记录脉冲对应的图43的(a1)所示的基准图案，与图43的(b)的记录脉冲对应的图43的(b1)所示的比较图案S1，与图43的(c)的记录脉冲对应的图43的(c1)所示的比较图案S2。在此，比较图案S1与控制量S1对应地产生D1的偏移量，比较图案S2与控制量S2对应地产生D2的偏移量。

如果知道相对于控制量S1和S2的偏移量D1和D2，并假设对某个参数具有多少控制量，则能预测产生多少偏移，因此，利用这些关系来进行控制量的预测和校正值的确定。

图44是表示利用了直线近似的前侧相移校正的一个例子的概念图。在确定对前侧相移的校正量Ttop的情况下，首先，如图44的(a)所示，将成为基准的脉冲位置取为基准相位φ，此时，如图44的(b)所示，用使脉冲的位置错开Ttop的波形进行测试记录(相当于记录条件S1、S2)，结果是，如图44的(c)所示，检测所得到的再现信号的相移Δφtop(相当于偏移量D1、D2)。

在图44所示的例子中，使该Ttop进行S1＝+0.1和S2＝+0.3这两种变化，所得到的检测相位Δφtop为偏移量D1＝-0.1和D2＝+0.1。然后，使用这些所得到的S1、S2、D1、D2，如图44的(e)所示，用直线来近似控制结果Δφtop对控制量Ttop的关系，并利用该直线确定能消除相移的校正相位Ttop＝+0.2作为最佳校正值。

这样，如果求出至少2个变化点，则策略的变化S1、S2和偏移量的变化D1、D2的关系能进行直线的近似或者曲线的近似，因此能使用该直线求出偏移量变为零的最佳校正量。

具体地讲，求出使策略S以多点变化时的偏移量D，将此时的策略S和偏移量D的关系代入普通式子“D＝a×S+b”，通过求解联立方程式求出常数a、b，最终，求出与理想的偏移量D对应的策略S，并将该策略S设定在图1所示的策略电路102中，由此进行记录脉冲的最佳校正。

例如，在图1所示的记录偏移检测部112中，设从使用某个策略S1的测试记录的再现图案检测出的偏移量为D1、从使用另外的策略S2的测试记录的再现图案检测出的偏移量为D2，则由

D1＝a×S1+b

D2＝a×S2+b计算a、b，并求出使用计算出的a和b的函数

S＝(D-b)/a，通过将用于改善记录品质的、例如用于校正在补偿电路中产生的初始的输出偏移等的输出偏移量D代入该函数中，确定最佳策略S。

求出该最佳策略S的函数能与3T、4T、…14T各自的坑P3T、P4T、…P14T相应地求出。并且，求出该最佳策略S的函数还能分别与记录速度相应地求出。

图45是表示利用了直线近似的后侧相移校正的一个例子的概念图。在确定对后侧相移的校正量Tlast的情况下，首先，如图45的(a)所示，以成为基准的脉冲位置为基准相位φ，此时，如图45的(b)所示，用使脉冲的位置错开Tlast的波形进行测试记录，结果，如图45的(c)所示，检测得到的再现信号的相移Δφlast。

在图45所示的例子中，使该Tlast进行S1＝-0.1和S2＝-0.3这两种变化，所得到的检测相位Δφlast为偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然后，使用这些所得到的S1、S2、D1、D2，如图45的(e)所示，用直线来近似控制结果Δφlast对控制量Tlast的关系，并利用该直线确定能消除相移的校正相位Tlast＝-0.2作为最佳校正值。

图46是表示用于存储校正量Ttop和Tlast的表构造的概念图。如图46的(a)所示，校正量Ttop用成为校正对象的每个坑长度与该各坑的前方岸长度的组合来定义。例如，在校正对象坑为3T、该坑的前方岸为3T的情况下，在图中表示为“3-3”的区域内存储校正量，在校正对象坑为4T、该坑的前方岸为3T的情况下，在图中表示为“3-4”的区域内存储校正量，以下，对于5T、…14T，与3T和4T同样地进行存储。

另外，如图46的(b)所示，校正量Tlast用成为校正对象的每个坑长度与该各坑的后方岸长度的组合来对定义。例如，在校正对象坑为3T、该坑的后方岸为3T的情况下，在图中表示为“3-3”的区域存储校正量，在校正对象坑为4T、该坑的后方岸为3T的情况下，在图中表示为“3-4”的区域存储校正量，以下，对于5T、…14T，与3T和4T同样地进行存储。

图47是表示校正后的单脉冲的例子的概念图。如图47的各图所示，在将图47的(a)所示的记录数据记录在光盘上的情况下，对每个坑长度设定应用了最佳的校正值的策略。例如，在记录3T坑的情况下，如图47的(b)所示，从图46所示的表中根据前方的岸长度读出3T坑的前端校正值Ttop，并且，根据后方岸长度读出3T坑的后端校正值Tlast，并用该Ttop和Tlast对记录脉冲的前端和后端进行校正。

在校正4T坑的情况下，如图47的(c)～(f)所示，除了Ttop和Tlast之外，还从图32的表中读出该坑长度的PWD校正值，并进行该PWD值所对应的脉冲形状的校正。

图48是表示校正后的多脉冲的例子的概念图。如图48的各图所示，在多脉冲的情况下，取代上述图47所示的单脉冲的PWD校正值，从图32的表中读出该坑长度的Tmp校正值，并进行该Tmp值所对应的脉冲形状的校正。其它的与单脉冲的情况相同。

在以上说明的实施方式中，通过将偏移量D代入求出最佳策略S的函数中来确定最佳策略，但是，也可以构成为准备从上述函数求出的校正表，并根据该校正表确定最佳策略S。

另外，也可以在每次改变光盘的种类或者每次改变记录速度时进行上述最佳策略的设定处理，另外，也可以采用如下的结构，即：在将由上述最佳策略的设定处理确定的最佳策略的条件与光盘的种类和记录速度相对应地预先存储在存储器中，再次用同一种类的光盘进行记录的情况下，或者用同一记录速度进行记录的情况下，读出存储在该存储器中的最佳策略来进行使用。

图49是表示通过中间脉冲的调整来控制记录坑的宽度的概念的概念图。如图49的(a)和图49的(b)所示，在由起始脉冲12、中间脉冲14、最终脉冲16构成记录脉冲的情况下，通过调整图49的各图所示的中间脉冲PWD、Tmp，来控制图49的(c)所示的饱和码的坑宽度W，该坑的长度和相位由图49的(a)和图49的(b)所示的前侧相位校正量Ttop和后侧相位校正量Tlast进行控制。

图50是表示在图49所示的概念中最终脉冲的适当的设定例的概念图。如图50的(a)所示，在将非多脉冲用作记录脉冲时，优选的是以将最终脉冲16关断(OFF)的状态，使中间脉冲条件PWD变化，由此来控制饱和码的坑宽度。如图50的(b)所示，在将多脉冲用作记录脉冲时，优选的是在将构成中间脉冲14的窄脉冲的宽度Tmp和最终脉冲16的宽度设定为相等宽度的状态下，使中间脉冲条件Tmp变化，由此来控制饱和码的坑宽度。

图51是表示非饱和码和饱和码的关系的概念图。如图51所示，将作为比圆点直径Spot短的码、即以非饱和状态得到3T～6T这样的再现信号的振幅的码作为非饱和码，将以非饱和状态得到7T～14T这样的再现信号的振幅的码作为饱和码，与饱和码对应的坑宽度的扩大，成为使Wobble和Lpp的信号品质降低的主要原因，因此，基于图49和图50所示的概念，调整与该饱和码对应的记录脉冲的中间条件。

图52是表示通过中间脉冲条件的调整来控制坑宽度的第1例的执行顺序的流程图。如图52所示，在进行基于中间脉冲的坑宽度控制时，首先，通过测试记录等方法，确定适于记录对象介质的目标(target)调制度(步骤S500)，使与饱和信号、例如14T对应的记录脉冲的中间脉冲条件变化，进行测试记录(步骤S502)。

接着，再现上述测试记录的结果，测量调制度，对与中间脉冲条件的变化相应的调制度的变化趋势进行绘图(步骤S504)，根据该绘制出的趋势来设定能得到最适于该介质的调制度的中间脉冲条件(步骤S506)。

图53是表示通过图52所示的顺序所得到的调制度的变化趋势例的XY坐标曲线图。如图53所示，将调制度相对于中间脉冲条件PWD、Tmp的变化的变化情况进行绘图后，表示出大体按一次直线变化的趋势，因此，将该一次直线与适于该介质的目标调制度相交的、图中以白圆圈示出的点设定为中间脉冲条件的最佳条件。

图54是表示通过中间脉冲条件的调整来进行坑宽度控制的第2例的执行顺序的流程图。如图54所示，在本例中，首先，准备包含非饱和码和饱和码的测试图案，使与包含在该测试图案中的饱和码对应的记录脉冲的中间脉冲条件变化，进行测试记录(步骤S600)。

之后，再现测试记录结果，检测出非饱和码的长度，并求出该检测出的长度的每1T的长度(步骤S602～S606)。同样地，再现测试记录结果，检测出饱和码的长度，并求出该检测出的长度的每1T的长度(步骤S608～S612)。

之后，与中间脉冲条件的变化对应地描绘非饱和码的每1T的长度A与饱和码的每1T的长度B之间的差(步骤S614)，根据该绘制出的趋势来设定能得到最适于该介质的调制度的中间脉冲条件(步骤S616)。

图55是表示通过图54所示的步骤所得到的调制度的变化趋向例的XY曲线图。如图54所示，若对2个码的调制平衡相对于中间脉冲条件PWD、Tmp的变化的变化进行绘图，则表示为按一次直线变化的趋势，因此，将该一次直线与成为调制平衡的最佳点的零点相交的、在图中以白圆圈示出的点设定为中间脉冲条件的最佳条件。

图56是表示通过中间脉冲条件的调整来控制坑宽度的第3例的执行顺序的流程图。如图56所示，在本例中，首先，准备包含成为最短码的3T码和比3T码长的例如4T码的测试图案，使与该测试图案所包含的4T码对应的记录脉冲的中间脉冲条件变化，进行测试记录(步骤S700)。

之后，再现测试记录结果，检测3T码的长度，并求出该检测出的长度的每1T的长度(步骤S702～S706)。同样地，再现测试记录结果，检测4T码的长度，并求出该检测出的长度的每1T的长度(步骤S708～S712)。

之后，与中间脉冲条件的变化对应地描绘出3T码的每1T的长度A与4T码的每1T的长度B的差(步骤S714)，根据该绘制出的趋势，设定能得到最适于该介质的调制度的中间脉冲条件(步骤S716)。

(工业可利用性)

按照本发明，对于驱动器来说，即使是未知的介质，也能得到更接近最佳的记录条件，因此，能期待其应对更苛刻的记录环境。

Claims (14)

1.一种光信息记录装置，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：

通过调整与饱和码对应的记录脉冲的至少起始脉冲条件，来控制与该饱和码对应的记录坑的相位的装置，其中，所述饱和码具有信号振幅饱和的长度；和

通过调整与上述饱和码对应的记录脉冲的中间脉冲条件，来控制与该饱和码对应的记录坑的宽度的装置。

2.根据权利要求1所述的光信息记录装置，其特征在于：

包括

使上述具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲条件变化，对上述介质进行测试记录的装置；

求出由上述测试记录的结果所得到的调制度的趋势的装置；以及

根据上述调制度的趋势确定上述饱和码的中间脉冲条件的装置。

3.根据权利要求2所述的光信息记录装置，其特征在于：

还包括求出适于上述介质的目标调制度的装置，

上述饱和码的中间脉冲条件，将上述目标调制度确定为指标。

4.根据权利要求1所述的光信息记录装置，其特征在于：

包括

使上述具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲条件变化，对上述介质进行测试记录的装置；

使用比上述饱和码短的非饱和码，对上述介质进行测试记录的装置；

再现上述各测试记录的结果，检测出上述饱和码的记录长度和上述非饱和码的记录长度的装置；以及

基于上述饱和码的记录长度相对于上述检测出的非饱和码的记录长度的变化趋势，确定上述饱和码的中间脉冲条件的装置。

5.一种光信息记录装置，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：

使上述起始脉冲的条件与最短码对应，进行测试记录的装置；

使比上述最短码长的码的中间脉冲条件变化，对上述介质进行测试记录的装置；

再现上述各测试记录的结果，检测出上述最短码的记录长度和比上述最短码长的码的记录长度的装置；以及

基于比上述最短码长的码的记录长度相对于上述检测出的最短码的记录长度的变化趋势，确定比上述最短码长的码的中间脉冲条件的装置。

6.根据权利要求1所述的光信息记录装置，其特征在于：

包括

使上述具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲的高度变化、并使上述最终脉冲停止，对上述介质进行测试记录的装置；和

基于上述测试记录的结果，确定上述饱和码的起始脉冲的高度与中间脉冲的高度的比率的装置。

7.根据权利要求1所述的光信息记录装置，其特征在于：

包括

以多个窄脉冲构成上述具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲，使该各个窄脉冲的宽度变化，并且将该窄脉冲的宽度和上述最终脉冲的宽度设定为相等宽度，对上述介质进行测试记录的装置；和

基于上述测试记录的结果，确定上述饱和码的窄脉冲的宽度的装置。

8.一种光信息记录方法，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：

通过调整与具有信号振幅饱和的长度的饱和码对应的记录脉冲的至少起始脉冲条件，来控制与该饱和码对应的记录坑的相位的步骤；和

通过调整与上述饱和码对应的记录脉冲的中间脉冲条件，来控制与该饱和码对应的记录坑的宽度的步骤。

9.根据权利要求8所述的光信息记录方法，其特征在于：

包括

使上述具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲条件变化，对上述介质进行测试记录的步骤；

求出由上述测试记录的结果所得到的调制度的趋势的步骤；以及

根据上述调制度的趋势确定上述饱和码的中间脉冲条件的步骤。

10.根据权利要求8所述的光信息记录方法，其特征在于：

包括

使上述具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲条件变化，对上述介质进行测试记录的步骤；

使用比上述饱和码短的非饱和码，对上述介质进行测试记录的步骤；

再现上述各测试记录的结果，检测上述饱和码的记录长度和上述非饱和码的记录长度的步骤；以及

基于上述饱和码的记录长度相对于上述检测出的非饱和码的记录长度的变化趋势，确定上述饱和码的中间脉冲条件的步骤。

11.一种光信息记录方法，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，其特征在于，包括：

使上述起始脉冲的条件与最短码对应，进行测试记录的步骤；

使比上述最短码长的码的中间脉冲条件变化，对上述介质进行测试记录的步骤；

再现上述各测试记录的结果，检测上述最短码的记录长度和比上述最短码长的码的记录长度的步骤；以及

基于比上述最短码长的码的记录长度相对于上述检测出的最短码的记录长度的变化趋势，确定比上述最短码长的码的中间脉冲条件的步骤。

12.根据权利要求8所述的光信息记录方法，其特征在于：

包括

使上述具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲的高度变化、并使上述最终脉冲停止，对上述介质进行测试记录的步骤；和

基于上述测试记录的结果，确定上述饱和码的起始脉冲的高度与中间脉冲的高度的比率的步骤。

13.根据权利要求8所述的光信息记录方法，其特征在于：

包括

以多个窄脉冲构成上述具有信号振幅饱和的长度的饱和码的中间脉冲，使该各个窄脉冲的宽度变化，并且将该窄脉冲的宽度和上述最终脉冲的宽度设定为相等的宽度，对上述介质进行测试记录的步骤；和

基于上述测试记录的结果，确定上述饱和码的窄脉冲的宽度的步骤。

14.一种信号处理电路，被安装在光信息记录装置中，由权利要求8～权利要求13的任一项所述的方法构成，其中，该光信息记录装置，设定与多种类的各码对应地用起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息。

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