CN1967675B - 循轨误差控制装置、循轨误差控制电路、光盘装置和循轨误差控制方法 - Google Patents

循轨误差控制装置、循轨误差控制电路、光盘装置和循轨误差控制方法 Download PDF

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Abstract

第二循轨误差检测器基于第一和第二凹坑串之间各自的复制信号的比较，检测光轨和光束之间的移位，并输出第二移位检测结果。第二循轨误差控制器基于所述第二移位检测结果，以推拉控制校正目标位置。第三循轨误差控制器基于第二循轨误差控制器对所述目标位置的校正量，计算第一移位检测结果的校正数据，并基于所计算的校正数据校正第一移位检测结果。

Description

循轨误差控制装置、循轨误差控制电路、光盘装置和循轨误差控制方法
技术领域
本发明涉及一种循轨误差控制装置和方法，其用于控制光盘装置中光束的循轨误差，该光盘装置用于通过岸台光轨(land track)/沟槽光轨(groovetrack)记录方法将信息记录或复制到诸如DVD-RAM之类的光盘上。 
背景技术
近些年，随着对较大容量光盘的需求的增长，各种高密度光盘格式已经被提出。岸台/沟槽格式是其中的一个实例(DVD-RAM盘等)。这种格式包括凸起的岸台光轨和凹下的沟槽光轨，在这些地方循轨控制的极性在光盘径向方向上相互交替地反相。这些光轨盘旋地形成在光盘上，并且在信息被记录到这些光轨上后，可以进行复制。 
头区域形成在岸台和沟槽的每个扇区的前端。所述头区域是被称为CAPA(补充定位信息凹坑地址)的地址信息形成的区域。所述头区域由预制凹坑组成，以便地址信息不管是否有读取光头位于岸台或沟槽上都会被读取出来。所述头区域包括CAPA1区域和CAPA2区域。 
在用于将信息记录和复制到光盘上的光学记录和复制装置中，用于将光束在材料膜上保持一直处于预定的会聚状态的聚焦控制操作和用于控制光束始终正确地扫描预定光轨的循轨控制操作，得到执行。用于循轨控制操作的光轨的偏移量是基于从光盘反射的光，例如信号，来进行检测的。 
接着，对一般被称为推拉方法的循轨检测方法得到解释。用于循轨误差控制操作的信号在下文中被称为TE信号。推拉方法还被称为远场方法。在这种方法中，在光盘上的引导沟槽中的被反射和衍射的光被光学检测器接收，所述光学检测器分为两部分，并以光轨中心对称布置，光学检测器之间 的输出差被检测出来作为TE信号。只要光束凹坑的中心与岸台或沟槽光轨的中心重合，所述两个光学检测器的输出就具有对称的反射和衍射分布。但是，光强度在两个光学检测器的输出之间变化。因此，在光束凹坑位于岸台光轨或沟槽光轨的中心处时，所述TE信号变为零电平。因为循轨控制操作使用了TE信号的这种特性，循轨误差控制操作是根据TE信号在与光轨垂直的方向上移动光盘上的光束凹坑来执行的。具体地说，光束凹坑(聚焦透镜)根据TE信号被循轨致动器在垂直于光轨的方向上移动。 
在上述的TE控制配置(根据推拉方法的控制配置)中，在径向倾斜在光盘上产生时，TE控制的准确性会降低，这一点在美国专利US6459664、US2002/0051411、US2004/0105362、US6444682和US2003/0133387中进行了说明。必然地，传统的配置已经被提出来，其中，第二TE信号基于当通过CAPA1区域时反射的光束和当通过CAPA1区域时的反射的光束产生，并且前面所述的TE信号(这里称为第一TE信号)基于所产生的第二TE信号进行校正。因此，可以进一步地提高对光束和光轨之间的移位的控制的精确度。 
在具有岸台光轨或沟槽光轨的光盘中，因为径向倾斜等原因，在岸台光轨或沟槽光轨中第一TE信号会产生不同的直流偏移量。因此，光轨偏离的方向在岸台光轨L和沟槽光轨G处是相反的，这样在从CAPA1区域获取的第二TE信号和从CAPA2区域获取的第二TE信号之间，其幅度的相对极性被颠倒。因为这个原因，在第二TE信号被稳定(控制被会聚)在光轨切换点(第二TE信号的极性被切换的定时)，是需要一些时间的。 
然而，第一TE信号基于在头区域中产生的第二TE信号来进行校正的频宽，考虑到要被校正的信号，被设置在相比于循轨控制操作要低的电平上，其中所述头区域离散地形成在岸台或沟槽上。因为这个原因，因此，在基于第二TE信号的用于校正第一TE信号的循轨误差控制操作中，第二TE信号被稳定在光轨切换点处(这时第二TE信号的极性被切换)所需的时间，比普通的循轨误差控制操作中的对应时间要长。结果，在光轨切换点处的光轨偏离不能即时被校正。
当前可用的光盘装置需要高的记录和复制速度，前述的关于光轨偏离的校正速度的问题，对于要满足更高记录和复制速度的需要来说，是重要的。 
发明内容
因此，本发明的一个主要目的在于加速光轨偏离的校正速度，以满足更高记录和复制速度的需要。 
为了实现前述的目的，本发明具有如下的结构。一种循轨误差控制装置包括：复制信号检测器、扫描器、第一循轨误差控制器、第一循轨误差检测器、第二循轨误差检测器、第二循轨误差控制器、第三循轨误差控制器， 
其中，所述复制信号检测器用于发射光束到光盘上，并进而将记录在光盘上的信息作为复制信号进行检测，其中所述光盘具有：凸起的岸台光轨和凹下的沟槽光轨；第一凹坑串，其被设置来从光轨的中心沿所述盘的径向方向的一侧被移位，其中所述光轨沿着所述盘的圆周方向布置；和第二凹坑串，其被设置来从所述光轨的中心沿所述盘的径向方向的另一侧被移位， 
所述扫描器用于沿着所述光轨扫描光束， 
所述第一循轨误差检测器通过推拉方法检测所述光轨和光束之间的移位，并输出第一移位检测结果， 
所述第一循轨误差控制器基于所述第一移位检测结果，设置光束在光轨上的目标位置，并且以如下方式控制所述扫描器，该方式使光束跟随所述目标位置， 
所述第二循轨误差检测器基于对在第一和第二凹坑串中各自的复制信号之间的比较，来检测所述光轨和光束之间的移位，并输出第二移位检测结果， 
所述第二循轨误差控制器基于所述第二移位检测结果，校正所述第一循轨误差控制器的目标位置，并且 
所述第三循轨误差控制器基于第二循轨误差控制器对所述目标位置的校正量，计算第一移位检测结果的校正数据，并基于所计算的校正数据校正第一移位检测结果。 
根据本发明，在光轨的切换点处(TE信号的极性切换的定时处)，稳定TE信号所需的时间被缩短，从而可以在所述光轨切换点处快速地校正光轨移位。结果，光盘记录和复制装置可以被实现，从而充分地满足高速记录和复制的需要。 
附图说明
通过理解下述对实施例的描述，随着附带的权利要求书的清楚描述，上述的以及其他的目的将变得明显。本领域的技术人员通过实施本发明，将容易地理解这里没有说明的各种优点。 
图1显示了根据本发明第一实施例的光盘装置的结构图； 
图2显示了根据第一实施例的光盘装置的盘/头块的结构图； 
图3显示了根据第一实施例的光盘装置的第一TE检测电路的结构图； 
图4显示了根据第一实施例的光盘装置的第二TE检测电路的结构图； 
图5显示了根据第一实施例的光盘装置的第二循轨控制电路的结构图； 
图6是显示了光束位置和电信号RF幅度之间关系的第一波形图； 
图7是显示了光束位置和电信号RF幅度之间关系的第二波形图；； 
图8是显示了光束位置和电信号RF幅度之间关系的第三波形图；； 
图9是显示了光束和第二TE相加信号之间关系的第一波形图； 
图10是显示了光束和第二TE相加信号之间关系的第二波形图； 
图11是显示了光束和第二TE相加信号之间关系的第三波形图； 
图12是显示了光束和第二TE相加信号之间关系的第四波形图； 
图13是显示了根据第一实施例的光盘装置的TE控制操作的流程图； 
图14是显示了第二TE相加信号TE12的第一状态的波形图； 
图15是显示了第二TE相加信号TE12的第二状态的波形图； 
图16是显示了电信号RF的第一状态的波形图； 
图17是显示了第二TE信号TC的第一状态的波形图； 
图18是显示了第二TE相加信号TE12的第三状态的波形图； 
图19是显示了电信号RF的第二状态的波形图； 
图20是显示了第二TE信号TC的第二状态的波形图； 
图21是显示了第二TE控制信号TCOUT的第一状态的波形图； 
图22是显示了相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的第一状态的波形图； 
图23是显示了第二TE相加信号TE12的第四状态的波形图； 
图24是显示了电信号RF的第三状态的波形图； 
图25是显示了第二TE信号TC的第三状态的波形图； 
图26是显示了第二TE控制信号TCOUT的第二状态的波形图； 
图27是显示了相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的第二状态的波形图； 
图28是显示了第二TE相加信号TE12的第五状态的波形图； 
图29是显示了电信号RF的第三状态的波形图； 
图30是显示了第二TE信号TC的第四状态的波形图； 
图31是显示了第二TE控制信号TCOUT的第三状态的波形图； 
图32是显示了相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的第三状态的波形图； 
图33是显示了第二TE相加信号TE12的第六状态的波形图； 
图34是显示了电信号RF的第五状态的波形图； 
图35是显示了第二TE信号TC的第五状态的波形图； 
图36是显示了第二TE控制信号TCOUT的第四状态的波形图； 
图37是显示了相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的第四状态的波形图； 
图38是显示相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的计算公式1和计算公式2的图； 
图39是显示相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的设置位置的示例的图； 
图40是显示了根据第一实施例的光盘装置的TE控制操作的另一个示例的流程图； 
图41显示了光盘的光轨结构的图。 
具体实施方式
在下文中，参照附图解释了：光盘装置，其中构建有循轨误差控制装置；以及循轨误差控制电路，其根据本发明的实施例安装在所述循轨误差控制装置上。 
首先，在描述实施例的结构之前，对光盘的头区域“α”进行解释。如图41所示，头区域“α”被设置在光盘的岸台光轨L和沟槽光轨G的每个扇区的前端。所述头区域“α”是被称为CAPA(补充定位信息凹坑地址)的地址信息形成的地方。所述头区域“α”由预制凹坑(pre-pit)组成，这样，不管读取光头是位于岸台中还是位于沟槽中，地址信息都会被读取出来。 
所述头区域“α”包括对应于第一凹坑串的CAPA1区域和对应于第二凹坑串的CAPA2区域。CAPA1区域布置在每个对应扇区的沟槽光轨G的前端，CAPA2区域布置在每个对应扇区的岸台光轨L的前端。尽管CAPA1区域和CAPA2区域分布在每个扇区前端处的相邻岸台光轨L和沟槽光轨G之间，然而CAPA1区域和CAPA2区域不会形成在相同的径向位置处，但是CAPA1区域和CAPA2区域可以分布为在岸台光轨L和沟槽光轨G之间交替地改变径向位置。 
CAPA1区域和CAPA2区域被配置为可变频率振荡器1、2(在下文中称为VFO1、VFO1)，和扇区地址1、2。其中VFO1、VFO1采用单一频率记录，并用于形成锁相环(下文中称为PLL)。建立在CAPA1区域中的扇区地址1表示相应沟槽光轨G的扇区的地址，建立在CAPA2区域中的扇区地址2表示相应岸台光轨L的扇区的地址。 
接着，对采用推拉方法的循轨误差检测方法进行解释。用于循轨误差控制的信号在下文中被称为TE信号。所述推拉方法还称为远场方法。根据这种方法，在光盘上的引导沟槽中被反射和衍射的光被光学检测器接收，所述光学检测器分为两部分，并以光轨中心对称布置，光学检测器之间的输出差被检测出来作为TE信号。 
只要光束斑的中心与岸台或沟槽的中心是相互重合的，所述两个光学检测器的输出就具有对称的反射和衍射分布。否则，光强度在两个光学检测器的两种输出之间变化。因此，在光束斑位于岸台或沟槽的中心的情况下，所述TE信号是零电平。循轨控制操作使用了TE信号的这种特性，并且通过根据TE信号在与光轨垂直的方向上移动光盘上的光束凹坑，循轨误差控制操作被执行。具体地说，光束斑(聚焦透镜)根据TE信号被循轨致动器在垂直于光轨的方向上移动。 
(第一实施例) 
图1显示了根据本发明的第一实施例的光盘装置的结构，在所述光盘装置内构建有循轨误差控制装置。在所述光盘装置中，各个组件可以分为两块。具体地说，所述光盘装置包括光盘/头块100和循轨控制块200，其中所述光盘/头块100用于发射光盘上的光束和接收来自光盘的光束。循轨控制块200由用于数字化地实现循轨控制操作的电路和用于读取地址的电路组成。下文对各个块100、200的结构和操作进行解释。 
(光盘/头块100) 
如图2所示的光盘/头块100，包括：诸如主轴马达的光盘马达4，该光盘马达4用于旋转作为信息记录介质的光盘3；光学头单元9，其用于发射光盘3上的光束的；以及转移马达13，该转移马达构成了用于移动光学头单元9的转移单元的示例。 
光学头单元9可以形成用于沿光盘径向方向移动光束的移动单元，光束所位于的区域可以由光学头单元9的位置来确定。光学头单元9包括诸如半导体激光器的光源5、从光源5产生的光束连续进入的连接透镜6、光束极化分光器7、1/4波盘9、聚焦透镜10、循轨致动器11和由来自光盘3的光束进入的二分光检测器12。光学头单元9不需要将这些组件作为必需件进行包括，但是这里以一个示例结构进行了显示。根据这个实施例，循轨致动器11和转移马达13形成了扫描器，并且复制信号检测器由二分光检测器12组成。 
循轨致动器11由例如具有用于循轨的循轨线圈的移动部和具有永久磁铁的固定部组成。聚焦透镜10安装在循轨致动器11的移动部分上。二分光检测器12具有一个被分为两部分的光束接收区域，其中划分线的方向对应光接收表面上的循轨方向。 
下面对具有这种组成的光盘/头块100的操作进行解释。光盘3由光盘马达4以预定的旋转数(旋转速度)旋转。从光源5产生的光束被连接透镜6转变为平行光，并依次经过光束极化分光器7和1/4波盘8，之后光束被聚焦透镜10会聚在光盘3上并被发射。 
在光盘3上被发射的光束的反射光依次经过聚焦透镜10和1/4波盘8，在被极化分光器7反射后，光束被发射到二分光检测器12上。二分光检测器12的两个光接收区域将被发射的光分别转换为电信号TEP、TEN，它们被输出给循轨控制块200。 
射往光盘3的光束的发射位置由转移马达13和循轨致动器11来调整。转移马达13沿光盘3的径向方向移动整个光学头单元9。循轨致动器11通过使用根据在移动部分的线圈中流动的电流产生的电磁力，来改变固定部相对于永久磁铁的位置，以便光束沿光盘的径向方向移动，即，在与横跨光轨的方向上移动。 
转移马达13用于沿光盘的径向方向移动整个光学头单元9，循轨致动器11用于移动每条光轨的光束。循轨致动器11构成了移动单元，其通过移动聚焦透镜10将光束移动到预定光轨上，其中聚焦透镜10作为用来会聚光束的会聚装置的一种示例。这种移动单元不限于为循轨致动器11。 
(循轨控制块200) 
循轨控制块200包括第一TE检测电路21、第一加法电路22、第二加法电路23、第一循轨控制开关24、第一循轨控制电路25、第二TE检测电路26、第二循轨控制电路27、第二循轨控制开关28、第二循轨控制信号测量电路29、驱动器30和微电脑31。 
第一TE检测电路21构成了第一循轨误差检测器，并且如图3所示， 该电路包括第一微分电路40、第一岸台-沟槽转换开关41和第一反向放大器42。第一微分电路40计算从二分光检测器12输出的电信号TEP和TEN之间的差值，并将计算出来的差值输出到第一岸台-沟槽转换开关41。第一岸台-沟槽转换开关41基于从微电脑31提供的TRPOL信号，对第一微分电路40的输出进行切换和输出。 
TRPOL信号是用于辨别来自岸台和沟槽的输出的信号，并产生在微电脑31中。第一岸台-沟槽转换开关41基于TRPOL信号执行下一个输出的切换。换句话说，第一岸台-沟槽转换开关41输出第一微分电路40对应于沟槽光轨G的输出(差值)到第一反向放大器42，另一方面，第一岸台-沟槽转换开关41将第一微分电路40对应于岸台光轨L的输出(差值)作为第一TE信号TE1直接输出到第一加法电路22，而不用经过第一反向放大器42。 
第一反向放大器42将通过第一岸台-沟槽转换开关41提供的第一微分电路40的输出(对应于沟槽光轨G的差值)进行反向，并将作为结果的反向信号作为第一TE信号TE1输出到第一加法电路22。第一TE信号TE1对应着第一移位检测结果。 
第二TE检测电路26构成了第二循轨误差检测器，并且如图4所示，该电路包括高通滤波器(下文中称为HPF)50、消隐电路51、包络检测电路52、第一采样-保持电路53、第二采样-保持电路54和第二微分电路55。 
HDF50移除了二分光检测器12提供的电信号RF中的DC成分，并将作为结果的信号输出到消隐电路51。电信号RF，举例而言，代表二分光检测器12的两个输出(电信号TEP、TEN)之和。 
消隐电路51基于微电脑31提供的CAPA检测信号C(CAPA)，在电信号RF中提取出对应于头区域“α”(参照图41)的信号区域RFc，并将信号区域RFc输出给包络检测电路52。CAPA检测信号C(CAPA)用于辨别在电信号RF中的头区域“α”(参照图41)，并且该信号是产生在微电 脑31中的。 
包络检测电路52检测信号区域RFc的幅度RFc′，并将该幅度输出到第一采样-保持电路53、第二采样-保持电路54。第一采样-保持电路53基于由微电脑31提供的VFO1检测信号C(VFO1)，从幅度RFc′中提取出对应于VFO1的信号区域的幅度RFc′1，并将幅度RFc′1输出到第二微分电路55。VFO1检测信号C(VFO1)用于辨别在电信号RF中的对应于VFO1的信号区域，并且该信号是产生在微电脑31中的。 
第二采样-保持电路54基于由微电脑31提供的VFO2检测信号C(VFO2)，从幅度RFc′中提取出对应于VFO2的信号区域的幅度RFc′2，并将幅度RFc′2输出到第二微分电路55。这里，VFO2检测信号C(VFO2)用于辨别在电信号RF中的VFO2(图41)，并且该信号是产生在微电脑31中的。 
第二微分电路55产生幅度RFc′1和幅度RFc′2之间的差值，并将该差值作为第二TE信号TC输出到第二循轨控制电路27中。第二TE信号TC对应第二移位检测结果。 
如图5所示，第二循轨控制电路27包括第二岸台-沟槽转换开关60、第二反向放大器61、增益放大器62和低通滤波器(下文中称为LPF)63。第二岸台-沟槽转换开关60基于从微电脑31提供的TRPOL信号，切换和输出第二TE信号TC。这里，所述TRPOL信号与在第一TE检测电路21中解释过的TRPOL信号相同。第二岸台-沟槽转换开关60基于TRPOL信号切换下一个输出。也就是说，第二岸台-沟槽转换开关60输出对应于岸台光轨L的第二TE信号TC的信号区域到第二反向放大器61，另一方面，第二岸台-沟槽转换开关60将对应于沟槽光轨G的第二TE信号TC的信号区域直接输出到增益放大器62，而不用经过第二反向放大器61。第二反向放大器61将通过第二岸台-沟槽转换开关60提供的对应于沟槽光轨G的第二TE信号TC的信号区域进行反向，并将产生的反向信号输出到增益放大器62。增益放大器62调制从第二岸台-沟槽转换开关60或第二反向放 大器61提供的第二TE信号TC的增益，并将作为结果的信号输出到LPF63。LPF63在移除掉增益放大器62的输出(增益得到调制的第二TE信号TC)的高频成分后，将作为结果的信号作为第二TE控制信号TCOUT输出到第二循轨控制开关28。第二TE控制信号TCOUT对应在光束光轨上的目标位置的校正量。 
第二循轨控制开关28基于来自微电脑31的指令，执行控制操作以确定由第二循轨控制电路27提供的第二TE控制信号TCOUT是否被输出给第二加法电路23和第二循轨控制信号测量电路29。 
第二循轨控制信号测量电路29测量从第二循轨控制开关28输出的第二TE控制信号TCOUT的电平，并将测量结果输出到微电脑31。 
基于由第二循轨控制信号测量电路29提供的第二TE控制信号TCOUT的电平测量，微电脑31计算并存储相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)，并进一步地在一个预置的定时处，将存储的相加数据(TCOFS_L TCOFS_G)输出到第一加法电路22。相加数据(TCOFS_L)是对应岸台光轨的相加数据，而相加数据(TCOFS_G)是对应沟槽光轨的相加数据。相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)对应第一移位检测结果的校正数据。 
第一加法电路22将从微电脑31提供的相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)与第一TE检测电路21的输出(第一TE信号TE1)相加，从而产生第一TE相加信号TE11，并将由此产生的第一TE相加信号TE11输出到第二加法电路23。 
第二加法电路23将通过第二循轨控制开关28提供的第二TE控制信号TCOUT与从第一加法电路22提供的第一TE相加信号TE11相加，从而产生第二TE相加信号TE12，并将该产生的第二TE相加信号TE12输出到第一循轨控制开关24。 
第一循轨控制开关24执行控制操，从而基于来自微电脑31的指令确定从第二加法电路23提供的第二TE相加信号TE12是否被输出给第一循轨控制电路25。 
构成了第一循轨误差控制器的第一循轨控制电路25，基于从第二加法电路23通过第一循轨控制开关24提供的第二TE相加信号TE12，产生第一TE控制信号TEOUT，并将该TEOUT输出给驱动器30。第一TE控制信号TEOUT对应在光束光轨上的目标位置。 
驱动器30基于第一TE控制信号TEOUT驱动和控制循轨致动器11，从而执行光学头单元9的TE控制操作(聚焦透镜10的位置控制)。第一循轨控制电路25具体而言由用于相位补偿的数字滤波器组成。 
根据这个实施例，第二循轨误差控制器由第二循轨控制电路27和第二加法电路23组成，而第三循轨误差控制器由第二循轨控制信号测量电路29、微电脑31和第一加法电路22组成。 
接着，参照图6到图9对电信号RF和第二TE相加信号TE12中的信号波形的外形变化进行解释。为了简化对图6到图9的解释，假设除了在头区域“α”之外，未形成关于岸台光轨L和沟槽光轨G的记录标记，即，处于未记录状态。这个信号波形变化由聚焦透镜10和岸台光轨L、沟槽光轨G的光束凹坑“sp”之间的位置连贯性导致的。只要凹坑“sp”位于岸台光轨L和沟槽光轨G的光轨中心，如图6所示，电信号RF的VFO1中的幅度RFc′1与VFO2中的幅度RFc′2彼此大致相等(RFc′1＝RFc′2)。这样的幅度差异还出现在第二TE相加信号TE12中。 
在凹坑“sp”从光轨L、G的光轨中心移向光盘的外周界的情况下，如图7所示，电信号RF的VFO1中的幅度RFc′1大于VFO2中的幅度RFc′2(RFc′1-RFc′2＞0)。相似的幅度差异还出现在第二TE相加信号TE12中。 
在凹坑“sp”从光轨L、G的光轨中心移向光盘的内周界的情况下，如图8所示，电信号RF的VFO1中的幅度RFc′1小于VFO2中的幅度RFc′2(RFc′1-RFc′2＜0)。相似的幅度差异还出现在第二TE相加信号TE12中。 
接着，参照图9到图12的波形图对第二TE检测电路26的具体运行进行解释。为了简化解释，假设在头区域“α”之外未形成关于岸台光轨L和沟槽光轨G的记录标记，即，处于未记录状态。如图9所示，微电脑31输出 CAPA检测信号C(CAPA)到消隐电路51，其中CAPA检测信号C(CAPA)在凹坑“sp”经过头区域“α”的扇区中变成“H”。在所提供的CAPA检测信号C(CAPA)为“H”时的时期期间，消隐电路51提取CAPA，并将提取结果RFc输出到包络检测电路52。包络检测电路52计算向其提供的CAPA提取结果RFc的幅度RFc′，并将计算结果(幅度RFc′)输出给第一采样-保持电路53和第二采样-保持电路54。 
如图9所示，微电脑31产生VFO1检测信号C(VFO1)，该信号在VFO1输出结束后的即刻的定时处上升，微电脑31并将该信号输出给第一采样-保持电路53，另一方面，微电脑31产生了VFO2检测信号C(VFO2)，该信号在VFO2输出结束后的即刻的定时处上升，微电脑31并将该信号输出给第二采样-保持电路54。 
在所提供的VFO1检测信号C(VFO1)上升时的时间处，第一采样-保持电路53提取幅度RFc′，接着提取VFO1的幅度RFc′1。 
在所提供的VFO2检测信号C(VFO2)上升时的时间点处，第二采样-保持电路54提取幅度RFc′，接着提取VFO2的幅度RFc′2。第二微分电路55计算VFO1的幅度RFc′1和VFO2的幅度RFc′2之间的差值，并将所计算的差值作为第二TE信号TC输出给第二循轨控制电路27。具体而言，在RFc′1＝RFc′2的情况下，如图10所示，第二微分电路55输出零电平的第二TE信号TC。另一方面，在RFc′1＞RFc′2的情况下，如图11所示，第二微分电路55输出一种极性(例如，正极性)的第二TE信号TC，其具有对应于幅度RFc′1和幅度RFc′2之间的差值的电平。进一步地，在RFc′1＜RFc′2的情况下，如图12所示，第二微分电路55输出另一种极性(例如，负极性)的第二TE信号TC，其中所述第二TE信号TC的一极具有对应于幅度RFc′1和幅度RFc′2之间的差值的电平。 
在下文中，将参照图13的流程图对根据本发明的光盘装置的TE校正操作进行具体的解释。下文所描述的TE控制操作基于来自微电脑31的指令，被基本地执行。 
首先，启动光盘马达4、光源(激光器)5和光学头单元9的聚焦操作(步骤S101)。在这种环境下的第二加法电路23的输出(第二TE相加信号TE12)被显示于图14。如图14所示，采用这种时序，基于第一TE信号TE1的第一TE控制操作和基于第二TE信号TC的第二TE控制操作都不会执行，并且处于低频带中的干扰被叠置于第二TE相加信号TE12上。进一步地，高频成分也被叠置于第二TE相加信号TE12上。处于低频带中的干扰来源于检测到的循轨误差(TE)量，其中该误差量是由于凹坑“sp”横跨地经过光盘1上的光轨。这种频率与光盘3的离心率大小以及马达10的转速大致成比例。高频成分是一种用于第二TE控制操作的信号成分，并将在下面进行详细的说明。 
在这种状态下，第一循轨控制开关24被关闭，并且基于第一TE控制信号TEOUT的第一TE控制操作(步骤S102)被启动。在这个过程中，第二循轨控制开关28未被关闭(打开)，并且第二TE控制信号TCOUT没有被提供到第二加法电路23。因此，第一循轨控制电路25仅基于第一TE控制信号TEOUT执行第一TE控制操作，其中第一TE控制信号TEOUT没有被第二TE控制信号TCOUT校正。 
在图15中，显示了步骤S102中的第二加法电路23(第二TE相加信号TE12)中的输出状态。如图15所示，采用这种时序，第一TE控制操作基于第一TE信号TE1被执行，但是基于第二TE信号TC的第二TE控制操作未被执行。具体地说，凹坑“sp”尽管在光盘3的光轨上被扫描，但是未被控制来扫描光轨中心。结果，尽管低频干扰被基本从第二TE相加信号TE12移除，但是高频成分被叠置于其上，其中高频成分伴随着幅度变化。 
另外，在图16中，显示了步骤S102中的电信号RF的输出状态。如图16所示，采用该时序，高频成分以和第二TE相加信号TE12相同的时序被叠置于电信号RF上，其中所述高频成分伴随着幅度变化。 
另外，在图17中，显示了步骤S102中的第二TE信号TC的输出状态。采用该时序，第二循轨控制开关28被打开，并且基于第二TE信号TC的第 二TE控制操作(用于将第二TE信号TC和第一TE信号TE1相加的控制操作)未被执行。结果，如图17所示，第二TE信号TC没有会聚到零电平，而是保持在岸台光轨和沟槽光轨上的相应的值(TC level2_G，TC level2_L)。 
应该注意的是，高频成分被叠置于第二TE相加信号TE12和电信号RF上的时序，与聚焦透镜10的光束经过头区域“α”的时序相一致。进一步地，根据光束从光轨上移位的程度，光束经过CAPA1区域之时的高频成分的幅度RFc′1和光束经过CAPA2区域之时的高频成分的幅度RFc′2之间，产生细微的差值。 
这是因为，在光束不从每条光轨移位的情况下，光束均匀放射于CAPA1区域和CAPA2区域上，然而，在光束从每个光轨进行偏移的情况下，光束并不均匀放射于CAPA1区域和CAPA2区域上。 
在根据本实施例的TE控制装置和成为实施本发明的目标的TE控制装置中，产生对应于高频分量的幅度非一致性的第二TE信号TC，并且因而产生的第二TE信号TC被加到第一TE信号TE1。结果，高频幅度的不均匀性被校正，以提高TE的准确性。这就是第二TE控制操作。但是，在步骤S102中所示的定时处，第二TE控制操作未被启动。 
接下来，第二循轨控制开关28在这种状态(步骤S103)中被关闭。结果，第二循轨控制开关28输出第二TE控制信号TCOUT到第二加法电路23，该第二加法电路23接着将所提供的第二TE控制信号TCOUT和第一TE信号TE1相加。因此，第二TE控制操作在步骤S103的定时处开始。 
在步骤S103被启动的定时处，微电脑31将相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)清零，并且零电平的相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)与从第一加法电路22输出的第一TE相加信号TE11相加。 
分别地，在图18中，显示了采用步骤S103的时序的第二加法电路23的输出状态(第二TE相加信号TE12)；在图19中，显示了采用步骤S103的时序的电信号RF的输出状态；在图20中，显示了采用步骤S103的时序的第二TE信号TC的输出状态；在图21中，显示了采用步骤S103的时序 的第二TE控制信号TCOUT的输出状态；在图22中，显示了采用步骤S103的时序中对相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的输出状态。 
采用这种时序，基于第一TE信号TE1的第一TE控制操作和基于第二TE信号TC的第二TE控制操作被一起执行。具体地说，凹坑“sp”扫描光盘3上的光轨，并且进一步在头区域“α”的CAPA1区域的CAPA2区域的中心(光轨中心)处被控制。结果，低频干扰基本从第二TE相加信号TE12移除，并且进一步，高频干扰(幅度变化)被会聚在每条岸台光轨和沟槽光轨中。具体地说，尽管在每条光轨的时序开始边缘(starting edge)的邻近处，电信号RF的幅度RFc′1和幅度RFc′2之间的差值比较大，然而在每条光轨的时序的终止端(dead end)的邻近处，该幅度的差值接近会聚于零。 
然而，幅度差值如果不位于岸台光轨和沟槽光轨的时序的终止端的邻近处，是不会会聚的。这种幅度差值的延迟会聚就是本发明要解决的问题，因为其中的原因已经在上文中本发明要解决的问题的部分进行了说明。 
上文谈及的幅度差值的会聚特性还出现在图19所示的电信号RF中，而且进一步出现在图20所示的第二TE信号TC的信号电平以及图21所示的第二TE控制信号TCOUT的信号电平中。具体地说，在达到光轨开始边缘的邻近处的最大值(TC level2_G，TC level2_L)后，第二TE信号TC会聚于零电平(或电平几乎为零)，该零电平是目标值，该目标值只有在该信号位于目标光轨终止端的邻近处后才会产生。为响应这种情况，第二TE控制信号TCOUT只有在该信号位于光轨死角的邻近处后才会最终达到目标值(TCOUT level T_G)和目标值(TCOUT level T_L)。 
更进一步，在这一刻，微电脑31已经将相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)清零。因此，如图22所示，从微电脑31输出到第一加法电路22的相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)处于零电平。 
接着，在这种状态下，静态跳跃(still jump)开始，聚焦透镜10的光束被保持在沟槽光轨G中。具体地说，从微电脑31输出到光学头单元9的静态跳跃指令JMP，在每次旋转时将被设为“H”。通过这么做，聚集透镜 10的光束通过向沟槽光轨的静态跳跃而被保持静态跳跃。在执行静态跳跃(沟槽)时，在第二循轨控制信号测量电路29被清零后，执行测量操作。具体地说，微电脑31输出清零指令CLR和测量指令START到第二循轨控制信号测量电路29。第二循轨控制信号测量电路29为响应这些指令，执行测量(步骤S104)。 
分别地，在图23中，显示了采用步骤S 104的时序的第二加法电路23的输出状态(第二TE相加信号TE12)；在图24中，显示了采用步骤S104的时序的电信号RF的输出状态；在图25中，显示了采用步骤S104的时序的第二TE信号TC的输出状态；在图26中，显示了采用步骤S104的时序的第二TE控制信号TCOUT的输出状态；在图27中，显示了采用步骤S104的时序的相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的输出状态。 
为了使聚焦透镜10的光束可以采用这种时序在单一沟槽光轨G上追踪，叠置于第一TE信号TE1上的高频成分的幅度RFc′1和幅度RFc′2，在步骤S104的过程开始之后，彼此快速会聚于相同值。在这个时刻，第二TE信号TC在步骤S104开始后的即刻处达到最大值TC电平2之后，快速会聚到零电平(或电平几乎为零)。为了响应，第二TE控制信号TCOUT通过在步骤S104开始后的即刻处达到目标值(TCOUT level T_G)而被稳定。第二循轨控制信号测量电路29测量这个被稳定的目标值(TCOUT level T_G)，并将测量结果输出给微电脑31。微电脑31基于提供的目标值(TCOUT levelT_G)(步骤S105)，计算并存储相加数据(TCOF_G)。 
计算相加数据(TCOF_G)的方法，例如，将目标值(TCOUT level T_G)乘以k(0＜k＜1)倍，作为示例而被显示，以在抑制了过控制(over-control)之后提高控制速度，其中k被任意设置。而且，各种测量测量结果目标值(TCOUT level T_G)和计算相加数据(TCOF_G)的方法是可以想见的，在下文中将对这些方法进行说明。 
另外，在这个时刻，尽管微电脑31基于目标值(TCOUT level T_G)计算并存储相加数据(TCOF_G)，但是却将相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G) 保持在在步骤S103中的清零状态。结果，如图27所示，从微电脑31输出到第一加法电路22的相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)保持在零电平。 
接着，在这种状态下，开始了静态跳跃，聚焦透镜10的光束保持在岸台光轨L中。具体地说，从微电脑31输出到光学头单元9的静态跳跃指令JMP，在每次旋转时被设为“H”电平。通过这么做，聚集透镜10的光束通过向沟槽光轨的静态跳跃而被保持。在执行静态跳跃(岸台)时，在第二循轨控制信号测量电路29被清零后，执行测量操作。具体地说，微电脑31输出清零指令CLR和测量指令START到第二循轨控制信号测量电路29，第二循轨控制信号测量电路29为响应这些指令而进行测量(步骤S106)。 
分别地，在图28中，显示了采用步骤S106的时序的第二加法电路23的输出状态(第二TE相加信号TE12)；在图29中，显示了采用步骤S106的时序的电信号RF的输出状态；在图30中，显示了采用步骤S106的时序的第二TE信号TC的输出状态；在图31中，显示了采用步骤S106的时序的第二TE控制信号TCOUT的输出状态；在图32中，显示了采用步骤S106的时序的相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的输出状态。 
为了使聚焦透镜10的光束采用这种时序在单一岸台光轨L上追踪，叠置于第一TE信号TE1上的高频成分的幅度RFc′1和幅度RFc′2，在测量开始后的即刻处，快速彼此会聚于相同值。在这个时刻，第二TE信号TC在开始测量后的即刻处达到最大值(TC level2)之后，快速会聚到零电平(或电平几乎为零)。为了对其进行响应，第二TE控制信号TCOUT通过在测量开始后的即刻处达到目标值(TCOUT level T_L)而被稳定。第二循轨控制信号测量电路29测量这个被稳定的目标值(TCOUT level T_L)，并将测量结果输出到微电脑31(步骤S107)。 
微电脑31基于提供的目标值(TCOUT level T_L)，计算并存储相加数据(TCOF_L)。计算相加数据(TCOF_L)的方法和测量目标值(TCOUT levelT_L)的方法类似于针对沟槽光轨G的那些方法(步骤S108)。 
另外，在这个时刻，尽管微电脑31基于目标值(TCOUT level T_L)计 算并存储相加数据(TCOF_L)，但是使相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)在步骤S103中保持处于清零状态。结果，如图32所示，从微电脑31输出到第一加法电路22的相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)保持在零电平。 
通过执行上述的S101到S108的步骤，微电脑31计算并存储相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)。在这种状态下，循轨控制块200持续地停止静态跳跃控制，并且然后开始正常的TE控制操作。但是，在接下来的TE控制中，第一TE信号TE1基于保存在微电脑31中的相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)而被校正，从而提高了TE控制的准确性(步骤S109)。 
分别地，在图33中，显示了采用步骤S109的时序的第二加法电路23的输出状态(第二TE相加信号TE12)；在图34中，显示了采用步骤S108的时序的电信号RF的输出状态；在图35中，显示了采用步骤S109的时序的第二TE信号TC的输出状态；在图36中，显示了采用步骤S109的时序的第二TE控制信号TCOUT的输出状态；在图37中，显示了采用步骤S109的时序的相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的输出状态。 
一旦步骤S109被启动，微电脑31一起执行基于第一TE信号TE1的第一TE控制操作和基于第二TE信号TC的第二TE控制操作，同时在同一时间输出相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)到第一加法电路22。结果，如图37所示，第一加法电路22启动以下过程，即，将相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)和第一TE信号TE1相加，在此之后，继续进行同样的相加处理。 
结果，基于被添加了相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的第二TE控制信号TCOUT，光学头单元9的TE控制被执行。如图35所示，基于由接受TE控制的光学头单元9输出的电信号RF而由第二TE检测电路26产生的第二TE信号TC，在光轨的开始边缘的邻近处快速地会聚到零电平(电平几乎为零)。因此，如图36所示，第二TE控制信号TCOUT在光轨的开始边缘的邻近处，也被快速地会聚到目标值(TCOUT level T_G，TCOUT levelT_L)。 
这种快速控制操作是通过将相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)添加到第 一TE信号TE1而实现的。这是因为如下事实，即，即使是在凹坑“sp”扫描岸台光轨和沟槽光轨的切换点的情况下，通过添加相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)，针对第二TE控制的初始值被控制在接近目标值(TCOUT levelT_G，TCOUT level T_L)处。因此，不用改变第二TE控制的特性，凹坑“sp”可以一直控制在头区域“α”上的CAPA1和CAPA2的中心(光轨中心)处。 
关于目标值(TCOUT level T_G，TCOUT level T_L)的测量方法和微电脑31的相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的计算方法，下文描述了七种方法。 
(1)在岸台光轨或沟槽光轨中，光盘的任意光轨位置(径向位置)的单一点处，第二TE控制信号TCOUT(TCOUT_G或者TCOUT_L)被测量，并基于这个测量结果，计算由岸台光轨和沟槽光轨共享的相加数据(TCOFS)。但是为了共享相加数据(TCOFS)，相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)中的一个的极性要被反相。 
(2)尽管该方法与上述的方法(1)相似，然而第二TE控制信号TCOUT是在多个点处被测量，并且其平均值使用作为测量值。 
(3)尽管该方法与上述的方法(2)相似，然而基于图38所示的公式1或公式2，测量值被乘以一个变量，并且乘积被使用作为测量值。 
(4)在岸台光轨和沟槽光轨中，在任意光轨位置(径向位置)的单一点处，第二TE控制信号TCOUT_G和第二TE控制信号TCOUT_L被测量，并基于测量结果，针对岸台光轨的相加数据(TCOFS_L)和针对沟槽光轨的相加数据(TCOFS_G)被测量。 
(5)尽管该方法与上述的方法(4)相似，第二TE控制信号(TCOUT_G，TCOUT_L)在多个点处被测量，并且其平均值被使用作为测量值。 
(6)尽管该方法与上述的方法(5)相似，然而测量值基于图38所示的公式1或公式2被乘以一个变量，并且其乘积被使用作为测量值。 
(7)在岸台光轨或沟槽光轨中，在光盘的任意光轨位置(径向位置) 的多个点处，第二TE控制信号TCOUT_G和第二TE控制信号TCOUT_L被测量，并基于测量结果，在每个测量点中计算针对岸台光轨的相加数据(TCOFS_L)和针对沟槽光轨的相加数据(TCOFS_G)。 
在执行方法(7)时，需要根据第二TE控制信号TCOUT_G和第二TE控制信号TCOUT_L的测量点，将光盘的记录区域分为各个相加目标区域(环带)。而且，当相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)被添加时，那些对应着分好的相加目标区域的数据被要求添加。在图39中，目标值(TCOUT levelT_G，TCOUT level T_L)在光盘上的七个点(径向位置0，径向位置6，径向位置11，径向位置17，径向位置23，径向位置30，径向位置34)处得到测量，从而根据径向位置设置相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)。在所述多个设置点(图中所示的七个点)之间的区域中，可以使用位于两个端点中的任何一点处的相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)，或者通过线性插值分别地计算位于两个端点处的相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)。线性插值更优选地用于提高控制准确性。 
在前面所述的计算相加数据的方法(1)到方法(7)中，方法(1)和方法(4)可以大致根据前述的图13的流程图进行实施。方法(2)、方法(3)、方法(5)、方法(6)和方法(7)需要基于图40的流程图进行实施，其中图40的流程图是通过对前述的图13的流程图进行改动而获得的。 
这里对图40所示的流程图的流程进行解释。在图13所示的流程图中，该流程是通过对步骤S103和步骤S104之间的流程“β”和步骤S107和步骤S108之间的流程“γ”进行合并来实施的。 
流程“β”包括：流程(步骤Sβ1)，设置第二TE控制信号TCOUT的测量点的数目，接着将该测量点的数目n清零；和流程(步骤Sβ2)，将清零的测量点的数目n(步骤Sβ1)加1；和流程(步骤Sβ3)，将聚焦透镜10的光束移动到接受相加流程的光盘上的第n个(＝n+1)测量点。 
流程“γ”包括流程(步骤Sγ1)，在通过微电脑31完成了在第n′个测量点处的目标值(TCOUT level T_G，TCOUT level T_L)的测量流程(步 骤S107)之后，判断测量点n是否已经达到了测量点的预设数目(n)；和流程(步骤Sγ2)，在判断出步骤Sγ1中没有达到测量点的预设数目(n)的情况下，将光学头单元9移到下一个测量点“n+1”后，返回步骤Sβ2。 
当判断出在步骤Sγ1中达到了测量点的预设数目(n)时，流程跳转到步骤S108，基于第二TE控制信号TCOUT在所有测量点的测量已经完成的判断，计算相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)。 
进一步，在步骤S108中，相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)基于多个测量测量结果(第二TE控制信号TCOUT)使用方法(2)、方法(3)、方法(5)、方法(6)、方法(7)进行计算。在方法(2)和方法(5)中，引入对测量结果进行的平均处理，作为在步骤S108中用于计算相加数据(TCOFS_L，TCOFS_G)的预备处理。 
本发明的最优选的具体实施例在上文中得到详细描述，在这些优选实施例中的各部件的组合和布置可以进行各种不同的改动，只要不脱离本发明的附加权利要求书的范围和精神。 

Claims (49)

1.一种循轨误差控制装置，其包括：
复制信号检测器，其用于发射光束于光盘上并将记录于所述光盘中的信息作为复制信号而进行检测，所述光盘具有：凸起的岸台光轨和凹下的沟槽光轨；第一凹坑串，其被设置来从光轨的中心沿所述盘的径向方向的一侧被移位，其中所述光轨沿着所述盘的圆周；和第二凹坑串，其被设置来从所述光轨的中心沿所述盘的径向方向的另一侧被移位；
扫描器，其用于沿所述光轨扫描所述光束；
第一循轨误差检测器，其用于通过推拉方法检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出第一移位检测结果；
第一循轨误差控制器，其用来基于所述第一移位检测结果设置所述光束在所述光轨上的目标位置，从而以如下方式控制所述扫描器，该方式使所述光束跟随所述目标位置；
第二循轨误差检测器，其用来基于在所述第一和第二凹坑串中的相应的复制信号的比较检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出第二移位检测结果；
第二循轨误差控制器，其用来基于所述第二移位检测结果校正所述第一循轨误差控制器的目标位置；和
第三循轨误差控制器，其用来基于所述第二循轨误差控制器对所述目标位置的校正量，计算所述第一移位检测结果的校正数据，并基于所计算的校正数据校正所述第一移位检测结果。
2.根据权利要求1所述的循轨误差控制装置，
其中所述岸台光轨和所述沟槽光轨沿所述盘的径向方向交替布置。
3.根据权利要求1所述的循轨误差控制装置，
其中所述第二循轨误差检测器基于在所述第一凹坑串中的复制信号的幅度和所述第二凹坑串中的复制信号的幅度之间的比较，检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出第二移位检测结果。
4.根据权利要求3所述的循轨误差控制装置，
其中所述第二循轨误差检测器基于在所述第一凹坑串中的复制信号的幅度和所述第二凹坑串中的复制信号的幅度之间的差值，检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出所述第二移位检测结果。
5.根据权利要求1所述的循轨误差控制装置，
其中所述第二循轨误差控制器基于所述第二移位检测结果，产生所述第一循轨误差控制器的目标位置的校正数据，并将所产生的校正数据添加到所述第一移位检测结果。
6.根据权利要求1所述的循轨误差控制装置，
其中所述第三循轨误差控制器将第一位置检测结果的校正数据添加到所述第一移位检测结果中。
7.根据权利要求2所述的循轨误差控制装置，
其中所述第三循轨误差控制器基于所述第二移位检测结果，计算由所述岸台光轨和所述沟槽光轨共享的所述第一位置检测结果的校正数据。
8.根据权利要求2所述的循轨误差控制装置，
其中所述第三循轨误差控制器基于所述第二移位检测结果，分别计算针对所述沟槽光轨使用的所述第一位置检测结果的校正数据和针对所述岸台光轨使用的所述第一位置检测结果的校正数据。
9.根据权利要求7所述的循轨误差控制装置，
其中所述第三循轨误差控制器基于由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的任意单一位置处的所述第二移位检测结果，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
10.根据权利要求8所述的循轨误差控制装置，
其中所述第三循轨误差控制器基于由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的任意单一位置处的第二移位检测结果，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
11.根据权利要求7所述的循轨误差控制装置，
其中所述第三循轨误差控制器基于由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
12.根据权利要求8所述的循轨误差控制装置，
其中所述第三循轨误差控制器基于由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
13.根据权利要求7所述的循轨误差控制装置，
其中所述第三循轨误差控制器通过将所述测量结果中的变量，乘以在由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果的平均值，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
14.根据权利要求8所述的循轨误差控制装置，
其中所述第三循轨误差控制器通过将所述测量结果中的变量乘以由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果的平均值，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
15.根据权利要求7所述的循轨误差控制装置，
其中所述第三循轨误差控制器计算所述第一位置检测结果的校正数据，该校正数据对应由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的多个位置处的每个所述第二移位检测结果，并且所述第三循轨误差控制器基于对应于相应位置的校正数据，校正在所述多个位置中的每一个及其临近处的第一移位检测结果。
16.根据权利要求8所述的循轨误差控制装置，
其中所述第三循轨误差控制器计算所述第一位置检测结果的校正数据，该校正数据对应由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的所述多个位置处的第二移位检测结果中的每一个，并且所述第三循轨误差控制器基于对应特定位置的校正数据，校正所述多个位置中的每一个及其邻近处的第一移位检测结果。
17.一种循轨误差控制电路，其包括：
第一循轨误差检测器，其用来通过推拉方法检测光轨和发射于光盘上的光束之间的移位并输出第一移位检测结果，其中所述光盘具有：凸起的岸台光轨和凹下的沟槽光轨；第一凹坑串，其被设置来从光轨的中心沿所述盘的径向方向的一侧被移位，其中所述光轨沿着所述盘的圆周布置；和第二凹坑串，其被设置来从所述光轨的中心沿所述盘的径向方向的另一侧被移位；
第一循轨误差控制器，其用来基于所述第一移位检测结果设置所述光轨上的所述光束的目标位置，并输出控制信号使所述光束跟随所述目标位置；
第二循轨误差检测器，其用来基于通过发射所述光束于所述第一和第二凹坑串上而获得的复制信号之间的比较，检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出第二移位检测结果；
第二循轨误差控制器，其用来基于所述第二移位检测结果，校正所述第一循轨误差控制器的目标位置；并且
第三循轨误差控制器，其用来基于由所述第二循轨误差控制器对所述目标位置的校正量，计算所述第一移位检测结果的校正数据，并基于所计算的校正数据校正所述第一移位检测结果。
18.根据权利要求17所述的循轨误差控制电路，
其中所述岸台光轨和所述沟槽光轨沿所述盘的径向方向交替布置。
19.根据权利要求17所述的循轨误差控制电路，
其中所述第二循轨误差检测器基于所述第一凹坑串中的复制信号的幅度和所述第二凹坑串中的复制信号的幅度之间的比较，检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出所述第二移位检测结果。
20.根据权利要求19所述的循轨误差控制电路，
其中所述第二循轨误差检测器基于所述第一凹坑串中的复制信号的幅度和所述第二凹坑串中的复制信号的幅度之间的差值，检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出所述第二移位检测结果。
21.根据权利要求17所述的循轨误差控制电路，
其中所述第二循轨误差控制器基于所述第二移位检测结果产生所述第一循轨误差控制器的目标位置的校正数据，并将所产生的校正数据添加到所述第一移位检测结果中。
22.根据权利要求17所述的循轨误差控制电路，
其中所述第三循轨误差控制器将所述第一位置检测结果的校正数据添加到所述第一移位检测结果。
23.根据权利要求17所述的循轨误差控制电路，
其中所述第三循轨误差控制器基于所述第二移位检测结果，计算由所述岸台光轨和所述沟槽光轨共享的第一位置检测结果的校正数据。
24.根据权利要求18所述的循轨误差控制电路，
其中所述第三循轨误差控制器基于所述第二移位检测结果，计算针对所述沟槽使用的所述第一位置检测结果的校正数据和针对所述岸台光轨使用的第一位置检测结果的校正数据。
25.根据权利要求23所述的循轨误差控制电路，
其中所述第三循轨误差控制器基于由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的任意单一位置处的第二移位检测结果，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
26.根据权利要求24所述的循轨误差控制电路，
其中所述第三循轨误差控制器基于由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的任意单一位置处的第二移位检测结果，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
27.根据权利要求23所述的循轨误差控制电路，
其中所述第三循轨误差控制器基于由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
28.根据权利要求24所述的循轨误差控制电路，
其中所述第三循轨误差控制器基于由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
29.根据权利要求23所述的循轨误差控制电路，
其中所述第三循轨误差控制器通过将所述测量结果中的变量乘以由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果的平均值，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
30.根据权利要求24所述的循轨误差控制电路，
其中所述第三循轨误差控制器通过将所述测量结果中的变量乘以由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果的平均值，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
31.根据权利要求23所述的循轨误差控制电路，
其中所述第三循轨误差控制器计算所述第一位置检测结果的校正数据，该校正数据对应由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果中的每一个，并且所述第三循轨误差控制器基于对应相应位置的校正数据，校正在所述多个位置中的每一个及其邻近处的第一移位检测结果。
32.根据权利要求24所述的循轨误差控制电路，
其中所述第三循轨误差控制器计算所述第一位置检测结果的校正数据，该校正数据对应由所述第二循轨误差检测器检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果中的每一个，并且所述第三循轨误差控制器基于对应相应位置的校正数据，校正在所述多个位置中的每一个及其邻近处的第一移位检测结果。
33.一种循轨误差控制方法，其用于沿光轨发射并同时扫描光束并且校正所述光轨和所述光束之间的移位，所述光轨沿着光盘的周界形成，所述光盘具有：凸起的岸台光轨和凹下的沟槽光轨；第一凹坑串，其被设置来沿所述盘的径向方向的一侧被移位；和第二凹坑串，其被设置来从所述光轨的中心沿所述盘的径向方向的另一侧被移位，所述方法同时包括将记录于所述光盘中的信息作为复制信号进行检测，并且所述方法包括以下步骤：
第一循轨误差检测步骤，其用于通过推拉方法检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出第一移位检测结果；
第一循轨误差控制步骤，其用来基于所述第一移位检测结果设置所述光束在所述光轨上的目标位置，并控制所述光束的扫描使所述光束跟随所述目标位置；
第二循轨误差检测步骤，其用来基于所述第一和第二凹坑串的相应的复制信号之间的比较检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出第二移位检测结果；
第二循轨误差控制步骤，其用来基于所述第二移位检测结果，校正所述第一循轨误差控制步骤的目标位置；和
第三循轨误差控制步骤，其用来基于所述第二循轨误差控制步骤对所述目标位置的校正量，计算所述第一移位检测结果的校正数据，并基于所计算的校正数据校正所述第一移位检测结果。
34.根据权利要求33所述的循轨误差控制方法，
其中所述岸台光轨和所述沟槽光轨沿所述盘的径向方向被交替布置。
35.根据权利要求33所述的循轨误差控制方法，
其中所述第二循轨误差检测步骤包括如下步骤：基于在所述第一凹坑串中的复制信号的幅度和所述第二凹坑串中的复制信号的幅度之间的比较，检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出所述第二移位检测结果。
36.根据权利要求35所述的循轨误差控制方法，
其中所述第二循轨误差检测步骤包括如下步骤：基于针对所述第一凹坑串的复制信号的幅度和针对所述第二凹坑串的复制信号的幅度的差值，检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出所述第二移位检测结果。
37.根据权利要求33所述的循轨误差控制方法，
其中所述第二循轨误差控制步骤包括如下步骤：基于所述第二移位检测结果，产生所述第一循轨误差控制步骤中的目标位置的校正数据，并将所产生的校正数据添加到所述第一移位检测结果。
38.根据权利要求33所述的循轨误差控制方法，
其中所述第三循轨误差控制步骤包括如下步骤：将第一位置检测结果的校正数据添加到所述第一移位检测结果中。
39.根据权利要求34所述的循轨误差控制方法，
其中所述第三循轨误差控制步骤包括如下步骤：基于所述第二移位检测结果，计算由所述岸台光轨和所述沟槽光轨共享的第一位置检测结果的校正数据。
40.根据权利要求34所述的循轨误差控制方法，
其中所述第三循轨误差控制步骤包括如下步骤：基于所述第二移位检测结果，分别计算针对所述沟槽光轨所使用的第一位置检测结果的校正数据和针对所述岸台光轨所使用的第一位置检测结果的校正数据。
41.根据权利要求39所述的循轨误差控制方法，
其中所述第三循轨误差控制步骤包括如下步骤：基于在所述第二循轨误差检测步骤中检测的在所述光轨上的任意单一位置处的所述第二移位检测结果，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
42.根据权利要求40所述的循轨误差控制方法，
其中所述第三循轨误差控制步骤包括如下步骤：基于在所述第二循轨误差检测步骤中检测的在所述光轨上的任意单一位置处的所述第二移位检测结果，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
43.根据权利要求39所述的循轨误差控制方法，
其中所述第三循轨误差控制步骤包括如下步骤：基于在所述第二循轨误差检测步骤中检测的在所述光轨上的多个位置处的所述第二移位检测结果，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
44.根据权利要求40所述的循轨误差控制方法，
其中所述第三循轨误差控制步骤包括如下步骤：基于在所述第二循轨误差检测步骤中检测的在所述光轨上的多个位置处的所述第二移位检测结果，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
45.根据权利要求39所述的循轨误差控制方法，
其中所述第三循轨误差控制步骤包括如下步骤：通过将所述测量结果中的变量乘以在所述第二循轨误差检测步骤中检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果的平均值，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
46.根据权利要求40所述的循轨误差控制方法，
其中所述第三循轨误差控制步骤包括如下步骤：通过将所述测量结果中的变量乘以在所述第二循轨误差检测步骤中检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果的平均值，计算所述第一位置检测结果的校正数据。
47.根据权利要求39所述的循轨误差控制方法，
其中所述第三循轨误差控制步骤包括如下步骤：计算所述第一位置检测结果的校正数据，该校正数据对应所述第二循轨误差检测步骤中检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果中的每一个；并基于对应相应位置的校正数据，校正在所述多个位置中的每一个及其邻近处的第一移位检测结果。
48.根据权利要求40所述的循轨误差控制方法，
其中所述第三循轨误差控制步骤包括如下步骤：计算所述第一位置检测结果的校正数据，该校正数据对应所述第二循轨误差检测步骤中检测的在所述光轨上的多个位置处的第二移位检测结果中的每一个；并基于对应特定位置的校正数据，校正在所述多个位置中的每一个及其邻近处的第一移位检测结果。
49.一种光盘装置，其包括：
复制信号检测器，其用于发射光束于光盘上并将记录于所述光盘中的信息作为复制信号而进行检测，所述光盘具有：凸起的岸台光轨和凹下的沟槽光轨；第一凹坑串，其被设置来从光轨的中心沿所述盘的径向方向的一侧被移位，其中所述光轨沿着所述盘的圆周；和第二凹坑串，其被设置来从所述光轨的中心沿所述盘的径向方向的另一侧被移位；
扫描器，其用于沿所述光轨扫描所述光束；
第一循轨误差检测器，其用于通过推拉方法检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出第一移位检测结果；
第一循轨误差控制器，其用来基于所述第一移位检测结果设置所述光束在所述光轨上的目标位置，从而以如下方式控制所述扫描器，该方式使所述光束跟随所述目标位置；
第二循轨误差检测器，其用来基于在所述第一和第二凹坑串中的相应的复制信号的比较检测所述光轨和所述光束之间的移位，并输出第二移位检测结果；
第二循轨误差控制器，其用来基于所述第二移位检测结果校正所述第一循轨误差控制器的目标位置；和
第三循轨误差控制器，其用来基于所述第二循轨误差控制器对所述目标位置的校正量，计算所述第一移位检测结果的校正数据，并基于所计算的校正数据校正所述第一移位检测结果。
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