JP2002298382A - オフセット測定方法 - Google Patents
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 対物レンズの光軸ずれ量に起因するＤＣオフ
セット量の測定に際して、ディスク上の半径位置による
影響を受ける。 【解決手段】 対物レンズを所定距離Ｘ1だけラジアル
方向に移動し第１のＤＣオフセット量Ｏ1を測定する。
続いて対物レンズを載置する移送台をラジアル方向に所
定距離Ｙ1だけ移動させ、その状態で対物レンズを所定
距離Ｘ2だけ移動し第２のオフセット両Ｏ2を測定する。
Ｘ1、Ｙ1及びＸ2を選択することにより、ディスク半径
位置の影響を抑制できる。
セット量の測定に際して、ディスク上の半径位置による
影響を受ける。 【解決手段】 対物レンズを所定距離Ｘ1だけラジアル
方向に移動し第１のＤＣオフセット量Ｏ1を測定する。
続いて対物レンズを載置する移送台をラジアル方向に所
定距離Ｙ1だけ移動させ、その状態で対物レンズを所定
距離Ｘ2だけ移動し第２のオフセット両Ｏ2を測定する。
Ｘ1、Ｙ1及びＸ2を選択することにより、ディスク半径
位置の影響を抑制できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、情報媒体の情報層
に情報信号を記録あるいは情報層に記録された情報を再
生する際に、レンズが光軸よりずれたときに生じるオフ
セットを測定するオフセット測定方法に関する。
に情報信号を記録あるいは情報層に記録された情報を再
生する際に、レンズが光軸よりずれたときに生じるオフ
セットを測定するオフセット測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年光ビームを照射することにより情報
層に記録された情報を再生する情報媒体、光ビームを照
射することにより所定の情報信号を情報層に記録する情
報媒体が、基板厚の相違及び／または情報層の材料の相
違及び／または情報層の構造の相違等多様化されている
が、これらの情報媒体は記録再生装置に対して可換の円
盤状情報媒体（以下、ディスクと称する）である。その
中で、例えばＤＶＤ−ＲディスクやＤＶＤ−ＲＡＭディ
スクに代表される情報の記録再生が可能なディスクに情
報信号を記録する、あるいは記録された情報を再生する
ために、または例えばＤＶＤ−ＲＯＭに代表されるディ
スクに予め記録された情報を再生するためには、予めデ
ィスクに備えたトラックの中心に光ビームを位置決めす
るトラッキング制御が必要である。
層に記録された情報を再生する情報媒体、光ビームを照
射することにより所定の情報信号を情報層に記録する情
報媒体が、基板厚の相違及び／または情報層の材料の相
違及び／または情報層の構造の相違等多様化されている
が、これらの情報媒体は記録再生装置に対して可換の円
盤状情報媒体（以下、ディスクと称する）である。その
中で、例えばＤＶＤ−ＲディスクやＤＶＤ−ＲＡＭディ
スクに代表される情報の記録再生が可能なディスクに情
報信号を記録する、あるいは記録された情報を再生する
ために、または例えばＤＶＤ−ＲＯＭに代表されるディ
スクに予め記録された情報を再生するためには、予めデ
ィスクに備えたトラックの中心に光ビームを位置決めす
るトラッキング制御が必要である。
【０００３】従来提案されているトラッキング制御のブ
ロック構成を中心として、記録再生装置を図１３に示
す。同図において、ディスク１の情報層１０１に光ビー
ムを照射し、当該情報層１０１で反射した反射光を光ピ
ックアップ２が受光し、電気信号に変換する。電気信号
に変換された信号は、トラッキングエラー検出回路３に
入力し、情報層１０１に集光した光ビームとトラック中
心との位置誤差をトラッキングエラー信号として検出
し、トラッキング制御回路４に出力する。トラッキング
制御回路４は、情報層１０１に集光した光ビームが照射
する位置（以下、光ビーム位置と称す）を、トラッキン
グエラー信号の値に基づき任意の制御目標位置に追従す
るように位相補償する。トラッキング制御回路４は、ト
ラッキング駆動回路５にトラッキング駆動信号を出力
し、トラッキング駆動回路５は、トラッキング駆動信号
に基づいて、情報層１０１に集光した光ビーム位置を制
御するように構成されている。
ロック構成を中心として、記録再生装置を図１３に示
す。同図において、ディスク１の情報層１０１に光ビー
ムを照射し、当該情報層１０１で反射した反射光を光ピ
ックアップ２が受光し、電気信号に変換する。電気信号
に変換された信号は、トラッキングエラー検出回路３に
入力し、情報層１０１に集光した光ビームとトラック中
心との位置誤差をトラッキングエラー信号として検出
し、トラッキング制御回路４に出力する。トラッキング
制御回路４は、情報層１０１に集光した光ビームが照射
する位置（以下、光ビーム位置と称す）を、トラッキン
グエラー信号の値に基づき任意の制御目標位置に追従す
るように位相補償する。トラッキング制御回路４は、ト
ラッキング駆動回路５にトラッキング駆動信号を出力
し、トラッキング駆動回路５は、トラッキング駆動信号
に基づいて、情報層１０１に集光した光ビーム位置を制
御するように構成されている。
【０００４】また、トラッキングエラー信号の検出方式
については多くの方式が提案および実用化されている
が、記録可能なディスクのトラッキングエラー信号検出
方式としてはプッシュプル方式が代表的である。
については多くの方式が提案および実用化されている
が、記録可能なディスクのトラッキングエラー信号検出
方式としてはプッシュプル方式が代表的である。
【０００５】プッシュプル方式は、ディスク上のトラッ
クで反射回折された光を検出する光検出器を、ディスク
上のトラック中心に関して対称に一対配置し、光検出器
の２つの受光部で検出した反射回折光の光強度の差をト
ラッキングエラー信号として検出する方式である。ま
た、プッシュプル方式では入射光の反射回折光強度を検
知するため、トラックの溝深さや情報層のピット深さに
も大きく依存する。すなわち、溝が形成された面（一般
にランド部と称される）での反射光に比べ、溝の底（一
般にグルーブ部と称される）での反射光は、溝深さの往
復だけ光路長が長くなり、光路長の有無は光の位相差と
なって現れる。一方、受光部で検出する反射光は、光路
長の有無を含めた和であり、ランド部で反射したサイン
波とグルーブ部で反射したサイン波とは光路長分だけ位
相差を生じる。従って、図２０に示すように、例えば、
溝深さがλ／４（λは入射光の波長）とすると、グルー
ブ部での反射光はランド部での反射光よりλ／２だけの
光路長差ができ、位相に換算するとπ／２だけのずれが
生じ、ランド部とグルーブ部からの反射光は互いに打ち
消しあい、光強度は最低となる。また、例えば、溝深さ
がλ／８の場合では、光路長差はλ／４で位相差はπ／
４となり、受光部で受講する反射光強度は最大となる。
また、同図に示すように、λ／６まではトラッキング信
号の低下が少ない。以上のことから、記録可能なディス
クであるＤＶＤ−Ｒの溝深さはλ／８以上λ／６以下に
設定される。
クで反射回折された光を検出する光検出器を、ディスク
上のトラック中心に関して対称に一対配置し、光検出器
の２つの受光部で検出した反射回折光の光強度の差をト
ラッキングエラー信号として検出する方式である。ま
た、プッシュプル方式では入射光の反射回折光強度を検
知するため、トラックの溝深さや情報層のピット深さに
も大きく依存する。すなわち、溝が形成された面（一般
にランド部と称される）での反射光に比べ、溝の底（一
般にグルーブ部と称される）での反射光は、溝深さの往
復だけ光路長が長くなり、光路長の有無は光の位相差と
なって現れる。一方、受光部で検出する反射光は、光路
長の有無を含めた和であり、ランド部で反射したサイン
波とグルーブ部で反射したサイン波とは光路長分だけ位
相差を生じる。従って、図２０に示すように、例えば、
溝深さがλ／４（λは入射光の波長）とすると、グルー
ブ部での反射光はランド部での反射光よりλ／２だけの
光路長差ができ、位相に換算するとπ／２だけのずれが
生じ、ランド部とグルーブ部からの反射光は互いに打ち
消しあい、光強度は最低となる。また、例えば、溝深さ
がλ／８の場合では、光路長差はλ／４で位相差はπ／
４となり、受光部で受講する反射光強度は最大となる。
また、同図に示すように、λ／６まではトラッキング信
号の低下が少ない。以上のことから、記録可能なディス
クであるＤＶＤ−Ｒの溝深さはλ／８以上λ／６以下に
設定される。
【０００６】しかしながら、トラッキングエラー信号を
プッシュプル方式で検出する際に、例えば光ビームの光
軸に対しディスクが傾くいわゆる、チルトが発生した場
合、あるいは情報層に光ビームを集光する対物レンズの
光軸中心と光ビームの光軸中心とにずれ（以下、レンズ
光軸ずれと称す）が発生した場合に、トラッキングエラ
ー信号にＤＣオフセットが重畳するという課題が発生す
る。レンズ光軸ずれが発生すると、光検出器の２つの受
光部で検出する光強度は光軸から対物レンズが近づく方
にずれた側の受光部の方が強くなり、他方の受光部は弱
くなる。その結果トラッキングエラー信号にＤＣオフセ
ットが重畳する。
プッシュプル方式で検出する際に、例えば光ビームの光
軸に対しディスクが傾くいわゆる、チルトが発生した場
合、あるいは情報層に光ビームを集光する対物レンズの
光軸中心と光ビームの光軸中心とにずれ（以下、レンズ
光軸ずれと称す）が発生した場合に、トラッキングエラ
ー信号にＤＣオフセットが重畳するという課題が発生す
る。レンズ光軸ずれが発生すると、光検出器の２つの受
光部で検出する光強度は光軸から対物レンズが近づく方
にずれた側の受光部の方が強くなり、他方の受光部は弱
くなる。その結果トラッキングエラー信号にＤＣオフセ
ットが重畳する。
【０００７】図２１は、図１３中の光ピックアップ２に
内包される対物レンズ１１、及びディスク上のトラック
で反射回折された光を検出する光検出器の２つの受光部
１２の位置関係を示す。対物レンズ１１が実線で示す位
置から二点鎖線で示す位置にずれて、光ビームの中心位
置がＡがＢまでずれると、ディスク上のトラックで反射
回折されて２つの受光部１２に入る光ビームの中心が距
離ｄだけずれる。従って、２つの受光部１２の検出領域
ａとｂに入射する入射光量は、検出領域ａのものがｂの
ものより減少して両者間にアンバランスが発生する。プ
ッシュプル方式は、上述したように検出領域ａとｂの光
強度差を算出することによりトラッキングエラー信号を
検出する。そのため、２つの受光部１２の検出領域ａと
ｂ間に光強度のアンバランスが発生すると、トラッキン
グエラー信号にＤＣオフセットが重畳する。また、記録
可能なディスクであるＤＶＤ−Ｒのように、プッシュプ
ル方式の検出強度が大きいとこのＤＣオフセット量も大
きくなる。
内包される対物レンズ１１、及びディスク上のトラック
で反射回折された光を検出する光検出器の２つの受光部
１２の位置関係を示す。対物レンズ１１が実線で示す位
置から二点鎖線で示す位置にずれて、光ビームの中心位
置がＡがＢまでずれると、ディスク上のトラックで反射
回折されて２つの受光部１２に入る光ビームの中心が距
離ｄだけずれる。従って、２つの受光部１２の検出領域
ａとｂに入射する入射光量は、検出領域ａのものがｂの
ものより減少して両者間にアンバランスが発生する。プ
ッシュプル方式は、上述したように検出領域ａとｂの光
強度差を算出することによりトラッキングエラー信号を
検出する。そのため、２つの受光部１２の検出領域ａと
ｂ間に光強度のアンバランスが発生すると、トラッキン
グエラー信号にＤＣオフセットが重畳する。また、記録
可能なディスクであるＤＶＤ−Ｒのように、プッシュプ
ル方式の検出強度が大きいとこのＤＣオフセット量も大
きくなる。
【０００８】このようにトラッキングエラー信号にＤＣ
オフセットが重畳すると、トラッキング制御の制御目標
位置をトラッキングエラー信号ゼロ、即ちトラック中心
として光ビーム位置を制御したとしても、実際の光ビー
ム位置はトラック中心に制御されない。その結果、ディ
スクに情報信号を情報層に記録できない、あるいは情報
層に記録された情報を再生できなくなるという課題が発
生する。
オフセットが重畳すると、トラッキング制御の制御目標
位置をトラッキングエラー信号ゼロ、即ちトラック中心
として光ビーム位置を制御したとしても、実際の光ビー
ム位置はトラック中心に制御されない。その結果、ディ
スクに情報信号を情報層に記録できない、あるいは情報
層に記録された情報を再生できなくなるという課題が発
生する。
【０００９】上記課題に対して、レンズ光軸ずれが発生
したときに、トラッキングエラー信号に重畳するＤＣオ
フセットを補正する方式がすでに提案されている。ＤＣ
オフセットを補正する機能を備えたトラッキング制御の
従来構成を、図１４のブロック図に示す。なお、図１４
において、図１３に示したトラッキング制御の構成と同
じ要素については同一符号を付与し、説明は省略する。
したときに、トラッキングエラー信号に重畳するＤＣオ
フセットを補正する方式がすでに提案されている。ＤＣ
オフセットを補正する機能を備えたトラッキング制御の
従来構成を、図１４のブロック図に示す。なお、図１４
において、図１３に示したトラッキング制御の構成と同
じ要素については同一符号を付与し、説明は省略する。
【００１０】図１４に示したＤＣオフセットを補正でき
る機能を備えた従来のトラッキング制御の構成は、図１
３のトラッキング制御の構成に以下の機能が付加されて
いる。光軸ずれ量推定回路６はトラッキング制御回路４
の出力に基づき、レンズ光軸ずれ量を光軸ずれ量推定値
として推定し、当該光軸ずれ量推定値を乗算回路７に出
力する。乗算回路７は、光軸ずれ量推定値に補正ゲイン
を乗算して得られたＤＣオフセット推定量を、トラッキ
ングエラー信号に負帰還するように構成されている。
る機能を備えた従来のトラッキング制御の構成は、図１
３のトラッキング制御の構成に以下の機能が付加されて
いる。光軸ずれ量推定回路６はトラッキング制御回路４
の出力に基づき、レンズ光軸ずれ量を光軸ずれ量推定値
として推定し、当該光軸ずれ量推定値を乗算回路７に出
力する。乗算回路７は、光軸ずれ量推定値に補正ゲイン
を乗算して得られたＤＣオフセット推定量を、トラッキ
ングエラー信号に負帰還するように構成されている。
【００１１】また、ＤＣオフセット推定量は、第２のス
イッチ回路３０１により、負帰還をＯＮ／ＯＦＦできる
ように構成されている。このことにより、トラッキング
エラー信号に重畳するＤＣオフセット量を、ＤＣオフセ
ット推定量で補正する機能を持たせ、任意にＯＮ／ＯＦ
Ｆすることができる。
イッチ回路３０１により、負帰還をＯＮ／ＯＦＦできる
ように構成されている。このことにより、トラッキング
エラー信号に重畳するＤＣオフセット量を、ＤＣオフセ
ット推定量で補正する機能を持たせ、任意にＯＮ／ＯＦ
Ｆすることができる。
【００１２】補正ゲインは、対物レンズを光ビームの光
軸に対して直交するディスク１の半径方向（以下、ラジ
アル方向と称す）に移動させたとき、移動距離に対する
トラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフセット量を
測定し、移動距離に対するＤＣオフセット量の割合を算
出して決定される。
軸に対して直交するディスク１の半径方向（以下、ラジ
アル方向と称す）に移動させたとき、移動距離に対する
トラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフセット量を
測定し、移動距離に対するＤＣオフセット量の割合を算
出して決定される。
【００１３】以下に、上記トラッキングエラー信号に重
畳する従来のＤＣオフセット量の測定方法、および補正
ゲイン決定方法について、図１５〜図１９を用いて詳細
に説明する。
畳する従来のＤＣオフセット量の測定方法、および補正
ゲイン決定方法について、図１５〜図１９を用いて詳細
に説明する。
【００１４】図１５は、図１４に示した従来の記録再生
装置の構成において、対物レンズがラジアル方向に移動
したときに生じるトラッキングエラー信号に重畳するＤ
Ｃオフセット量を補正するトラッキング制御を中心とし
たブロック図である。
装置の構成において、対物レンズがラジアル方向に移動
したときに生じるトラッキングエラー信号に重畳するＤ
Ｃオフセット量を補正するトラッキング制御を中心とし
たブロック図である。
【００１５】光源８は、波長６５０ｎｍの光ビームを発
振する赤色半導体レーザーである。光源８から出射され
た波長６５０ｎｍの光ビーム（以下、出射光と称す）
は、コリメータレンズ９で出射光を平行光にし、ビーム
スプリッタ１０を通り、対物レンズ１１により集束して
ディスク１の情報層１０１に照射される。情報層１０１
からの反射光は対物レンズ１１を通り、ビームスプリッ
タ１０で反射することで出射光の光路から分離し、２分
割光検出器１２に入射する。２分割光検出器１２の出力
信号は、トラッキングエラー検出回路３に入力される。
なお、光ピックアップ２は、光源８、コリメータレンズ
９、ビームスプリッタ１０、対物レンズ１１、及び２分
割光検出器１２の光学部品を内包している。
振する赤色半導体レーザーである。光源８から出射され
た波長６５０ｎｍの光ビーム（以下、出射光と称す）
は、コリメータレンズ９で出射光を平行光にし、ビーム
スプリッタ１０を通り、対物レンズ１１により集束して
ディスク１の情報層１０１に照射される。情報層１０１
からの反射光は対物レンズ１１を通り、ビームスプリッ
タ１０で反射することで出射光の光路から分離し、２分
割光検出器１２に入射する。２分割光検出器１２の出力
信号は、トラッキングエラー検出回路３に入力される。
なお、光ピックアップ２は、光源８、コリメータレンズ
９、ビームスプリッタ１０、対物レンズ１１、及び２分
割光検出器１２の光学部品を内包している。
【００１６】また、移送台１３は、システムコントロー
ラー１４からの指令により、光ピックアップ２をラジア
ル方向の任意の位置に移動させる機能を備える。光ピッ
クアップ２は、移送台１３によって任意のラジアル方向
に移動することができ、ディスク１の情報層１０１に情
報信号を記録する、あるいは情報を再生することができ
る。
ラー１４からの指令により、光ピックアップ２をラジア
ル方向の任意の位置に移動させる機能を備える。光ピッ
クアップ２は、移送台１３によって任意のラジアル方向
に移動することができ、ディスク１の情報層１０１に情
報信号を記録する、あるいは情報を再生することができ
る。
【００１７】トラッキングエラー検出回路３は、プッシ
ュプル方式でトラッキングエラー信号を検出し、オフセ
ット減算回路１５及びオフセット検出回路１６に出力す
る。オフセット減算回路１５は、トラッキングエラー信
号をＤＣオフセット推定量で減算するように構成され、
減算結果を補正トラッキングエラー信号としてトラッキ
ング制御回路４に出力する。なお、ＤＣオフセット推定
量については後で詳述する。
ュプル方式でトラッキングエラー信号を検出し、オフセ
ット減算回路１５及びオフセット検出回路１６に出力す
る。オフセット減算回路１５は、トラッキングエラー信
号をＤＣオフセット推定量で減算するように構成され、
減算結果を補正トラッキングエラー信号としてトラッキ
ング制御回路４に出力する。なお、ＤＣオフセット推定
量については後で詳述する。
【００１８】トラッキング制御回路４は、補正トラッキ
ングエラー信号に応じ、対物レンズ１１により情報層１
０１に集光した出射光を、所望のトラック中心に位置決
め制御する位相補償処理を行い、トラッキング駆動信号
として第１のスイッチ回路３０２に出力する。
ングエラー信号に応じ、対物レンズ１１により情報層１
０１に集光した出射光を、所望のトラック中心に位置決
め制御する位相補償処理を行い、トラッキング駆動信号
として第１のスイッチ回路３０２に出力する。
【００１９】第１のスイッチ回路３０２は２入力１出力
で構成され、システムコントローラー１４からの指令に
より、トラッキング駆動信号とレンズ駆動信号とのどち
らかを選択し、トラッキング駆動回路５に出力するよう
に構成されている。例えば出射光を所望のトラック中心
に追従するようにトラッキング制御を閉じる場合は、第
１のスイッチ回路３０２がトラッキング駆動信号を選択
して出力し、対物レンズ１１がレンズ光軸ずれを生じる
ことによりトラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフ
セット量を測定する場合、あるいは光ピックアップが移
送台１３によってディスク１の任意の半径位置に移動す
る場合等は、第１のスイッチ回路３０２がレンズシフト
駆動信号を選択してトラッキング駆動回路５に出力す
る。なお、レンズシフト駆動回路１９が出力するレンズ
シフト駆動信号は、補正ゲイン決定方法の説明に併せて
図１８および図１９を用いて後述する。
で構成され、システムコントローラー１４からの指令に
より、トラッキング駆動信号とレンズ駆動信号とのどち
らかを選択し、トラッキング駆動回路５に出力するよう
に構成されている。例えば出射光を所望のトラック中心
に追従するようにトラッキング制御を閉じる場合は、第
１のスイッチ回路３０２がトラッキング駆動信号を選択
して出力し、対物レンズ１１がレンズ光軸ずれを生じる
ことによりトラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフ
セット量を測定する場合、あるいは光ピックアップが移
送台１３によってディスク１の任意の半径位置に移動す
る場合等は、第１のスイッチ回路３０２がレンズシフト
駆動信号を選択してトラッキング駆動回路５に出力す
る。なお、レンズシフト駆動回路１９が出力するレンズ
シフト駆動信号は、補正ゲイン決定方法の説明に併せて
図１８および図１９を用いて後述する。
【００２０】第１のスイッチ回路３０２はトラッキング
駆動回路５に出力し、トラッキング駆動回路５は第１の
スイッチ回路３０２の出力に応じ、対物レンズ１１をラ
ジアル方向に駆動する電流をトラッキングアクチュエー
タ１７に出力する。トラッキングアクチュエータ１７
は、トラッキング駆動回路５から出力された電流出力に
応じ、対物レンズ１１の位置を移動させる。
駆動回路５に出力し、トラッキング駆動回路５は第１の
スイッチ回路３０２の出力に応じ、対物レンズ１１をラ
ジアル方向に駆動する電流をトラッキングアクチュエー
タ１７に出力する。トラッキングアクチュエータ１７
は、トラッキング駆動回路５から出力された電流出力に
応じ、対物レンズ１１の位置を移動させる。
【００２１】次に、ＤＣオフセット推定量について詳細
に説明する。ＤＣオフセット推定量は、対物レンズ１１
がレンズ光軸ずれを生じたときに、トラッキングエラー
信号に重畳されるＤＣオフセットの推定量である。ＤＣ
オフセット推定量は、以下のように求められる。まず、
対物レンズ１１のレンズ光軸ずれ量に起因してトラッキ
ングエラー信号に重畳するＤＣオフセット量の割合を補
正ゲインとして求める。次に、対物レンズ１１による光
ビームの光軸からのずれ量の推定値を乗算回路７で補正
ゲインに乗算する。
に説明する。ＤＣオフセット推定量は、対物レンズ１１
がレンズ光軸ずれを生じたときに、トラッキングエラー
信号に重畳されるＤＣオフセットの推定量である。ＤＣ
オフセット推定量は、以下のように求められる。まず、
対物レンズ１１のレンズ光軸ずれ量に起因してトラッキ
ングエラー信号に重畳するＤＣオフセット量の割合を補
正ゲインとして求める。次に、対物レンズ１１による光
ビームの光軸からのずれ量の推定値を乗算回路７で補正
ゲインに乗算する。
【００２２】また、トラッキング制御回路４は、トラッ
キング駆動信号の低周波成分を、トラッキング校正信号
として光軸ずれ量推定回路６に出力する。光軸ずれ量推
定回路６は、トラッキングアクチュエータ１７、換言す
るとトラッキングアクチュエータ１７の出力に応じて動
作する対物レンズ１１の変位量に等しい動特性を備えて
おり、トラッキングアクチュエータ１７による対物レン
ズ１１の変位にほぼ等しい信号を、トラッキング校正信
号入力により生成することができる。
キング駆動信号の低周波成分を、トラッキング校正信号
として光軸ずれ量推定回路６に出力する。光軸ずれ量推
定回路６は、トラッキングアクチュエータ１７、換言す
るとトラッキングアクチュエータ１７の出力に応じて動
作する対物レンズ１１の変位量に等しい動特性を備えて
おり、トラッキングアクチュエータ１７による対物レン
ズ１１の変位にほぼ等しい信号を、トラッキング校正信
号入力により生成することができる。
【００２３】また、トラッキングエラー信号は、オフセ
ット検出回路１６に入力される。オフセット検出回路１
６は、レンズ駆動回路１９の出力に応じ、対物レンズ１
１がラジアル方向に駆動した結果、トラッキングエラー
信号に重畳されるＤＣオフセット量を検出する。トラッ
キングエラー信号に重畳されるＤＣオフセット量は、ト
ラッキングエラー信号の最大値および最小値を検出し、
それらの差を演算することによって検出する。オフセッ
ト検出回路１６で検出したＤＣオフセット量は、補正ゲ
イン決定回路１８に出力される。補正ゲイン決定回路１
８は、レンズ光軸ずれ量に対するトラッキングエラー信
号に重畳するＤＣオフセット量の割合を補正ゲインとし
て決定し、乗算回路７に当該補正ゲインを出力する。
ット検出回路１６に入力される。オフセット検出回路１
６は、レンズ駆動回路１９の出力に応じ、対物レンズ１
１がラジアル方向に駆動した結果、トラッキングエラー
信号に重畳されるＤＣオフセット量を検出する。トラッ
キングエラー信号に重畳されるＤＣオフセット量は、ト
ラッキングエラー信号の最大値および最小値を検出し、
それらの差を演算することによって検出する。オフセッ
ト検出回路１６で検出したＤＣオフセット量は、補正ゲ
イン決定回路１８に出力される。補正ゲイン決定回路１
８は、レンズ光軸ずれ量に対するトラッキングエラー信
号に重畳するＤＣオフセット量の割合を補正ゲインとし
て決定し、乗算回路７に当該補正ゲインを出力する。
【００２４】続いて、従来のトラッキングエラー信号に
重畳するＤＣオフセット量の測定方法（以下、オフセッ
ト測定方法と称す）、および補正ゲイン決定回路１８に
おける補正ゲインの決定方法について説明する。
重畳するＤＣオフセット量の測定方法（以下、オフセッ
ト測定方法と称す）、および補正ゲイン決定回路１８に
おける補正ゲインの決定方法について説明する。
【００２５】先ず、従来のオフセット測定方法を図１６
および図１７を用いて詳細に説明する。図１６は、オフ
セット測定方法を示すフローチャートである。また、図
１７は、図１６に示した各ステップにおける対物レンズ
の動作を示す図である。但し、図１７において、ステッ
プ１、３及び５には情報層１０１及びディスク１の配置
は省略したが、情報層１０１及びディスク１と、光ピッ
クアップ２とが対向している関係は同一である。
および図１７を用いて詳細に説明する。図１６は、オフ
セット測定方法を示すフローチャートである。また、図
１７は、図１６に示した各ステップにおける対物レンズ
の動作を示す図である。但し、図１７において、ステッ
プ１、３及び５には情報層１０１及びディスク１の配置
は省略したが、情報層１０１及びディスク１と、光ピッ
クアップ２とが対向している関係は同一である。
【００２６】従来のオフセット測定方法は、図１６に示
すように、ラジアル方向の任意の位置で移送台１３を固
定したまま、入力されたレンズ駆動信号に基づきトラッ
キング駆動回路５がトラッキングアクチュエータ１７に
作用し、対物レンズ１１を一方のラジアル方向（例え
ば、ディスク１の外周方向）に所定距離Ｘ1だけ移動す
る＜ステップ１＞。
すように、ラジアル方向の任意の位置で移送台１３を固
定したまま、入力されたレンズ駆動信号に基づきトラッ
キング駆動回路５がトラッキングアクチュエータ１７に
作用し、対物レンズ１１を一方のラジアル方向（例え
ば、ディスク１の外周方向）に所定距離Ｘ1だけ移動す
る＜ステップ１＞。
【００２７】次に、移送台１３はそのままの状態で、＜
ステップ１＞と同様の信号系統により対物レンズ１１を
他方のラジアル方向（上述の例ではディスク１の内周方
向）に所定距離Ｘ1だけ移動する＜ステップ３＞。な
お、＜ステップ１＞における移動方向を正とすると、＜
ステップ３＞では対物レンズの移動距離は（−Ｘ1）と
なる。
ステップ１＞と同様の信号系統により対物レンズ１１を
他方のラジアル方向（上述の例ではディスク１の内周方
向）に所定距離Ｘ1だけ移動する＜ステップ３＞。な
お、＜ステップ１＞における移動方向を正とすると、＜
ステップ３＞では対物レンズの移動距離は（−Ｘ1）と
なる。
【００２８】次に、対物レンズ１１を＜ステップ１＞を
実行する以前の初期位置に移動する＜ステップ５＞。
実行する以前の初期位置に移動する＜ステップ５＞。
【００２９】以上の３ステップの対物レンズの動作を図
１７に示す。図１７から明らかなように、ＤＣオフセッ
トを測定する２地点は、＜ステップ１＞を実行する以前
の初期位置に関して対称な点となる。
１７に示す。図１７から明らかなように、ＤＣオフセッ
トを測定する２地点は、＜ステップ１＞を実行する以前
の初期位置に関して対称な点となる。
【００３０】図１６及び図１７で示したオフセット測定
方法を用いた補正ゲイン決定方法を、図１８及び図１９
を引用して説明する。図１８は、従来の補正ゲイン決定
方法のフローチャートであり、図１９は、図１５にブロ
ックで示した各構成要素の出力信号の時間的推移を示し
た図であり、（ａ）はレンズシフト駆動回路１９が出力
するレンズシフト駆動信号、（ｂ）はレンズシフト駆動
信号による光ビームの光軸に対して直交するディスク１
のラジアル方向の位置、（ｃ）はトラッキングエラー信
号である。
方法を用いた補正ゲイン決定方法を、図１８及び図１９
を引用して説明する。図１８は、従来の補正ゲイン決定
方法のフローチャートであり、図１９は、図１５にブロ
ックで示した各構成要素の出力信号の時間的推移を示し
た図であり、（ａ）はレンズシフト駆動回路１９が出力
するレンズシフト駆動信号、（ｂ）はレンズシフト駆動
信号による光ビームの光軸に対して直交するディスク１
のラジアル方向の位置、（ｃ）はトラッキングエラー信
号である。
【００３１】オフセット測定を行う際の前提条件とし
て、出射光がディスク１の情報層１０１に位置決めさ
れ、２分割光検出器１２は情報層１０１からの反射光を
検出できる状態であるものとする。また、第１のスイッ
チ回路３０２は、レンズシフト駆動回路１９側を選択
し、レンズシフト駆動信号をトラッキング駆動回路５に
出力する状態であるものとする。
て、出射光がディスク１の情報層１０１に位置決めさ
れ、２分割光検出器１２は情報層１０１からの反射光を
検出できる状態であるものとする。また、第１のスイッ
チ回路３０２は、レンズシフト駆動回路１９側を選択
し、レンズシフト駆動信号をトラッキング駆動回路５に
出力する状態であるものとする。
【００３２】最初に、レンズシフト駆動回路１９は、シ
ステムコントローラー１４からの指令により、図１９
（ａ）に示すように、対物レンズ１１をディスク１の一
方のラジアル方向（例えば、外周向き）に一定速度ａ1
で距離Ｘ1だけ移動するように、第１のスイッチ回路３
０２を介して、トラッキング駆動回路５にレンズ駆動信
号を出力する。トラッキング駆動回路５はトラッキング
アクチュエータ１７に駆動電流を出力する。トラッキン
グアクチュエータ１７は、トラッキング駆動回路５から
出力される駆動電流に応じて、図１９（ｂ）に示すよう
にディスク１の一方のラジアル方向（本例では外周向
き）に、速度ａ1で距離Ｘ1だけ対物レンズ１１を移動さ
せる＜ステップ１＞。
ステムコントローラー１４からの指令により、図１９
（ａ）に示すように、対物レンズ１１をディスク１の一
方のラジアル方向（例えば、外周向き）に一定速度ａ1
で距離Ｘ1だけ移動するように、第１のスイッチ回路３
０２を介して、トラッキング駆動回路５にレンズ駆動信
号を出力する。トラッキング駆動回路５はトラッキング
アクチュエータ１７に駆動電流を出力する。トラッキン
グアクチュエータ１７は、トラッキング駆動回路５から
出力される駆動電流に応じて、図１９（ｂ）に示すよう
にディスク１の一方のラジアル方向（本例では外周向
き）に、速度ａ1で距離Ｘ1だけ対物レンズ１１を移動さ
せる＜ステップ１＞。
【００３３】対物レンズ１１がラジアル方向（本例では
外周向き）に距離Ｘ1だけ移動した後のトラッキングエ
ラー信号は、図１９（ｃ）に示すようにＯ1のＤＣオフ
セットが重畳する。オフセット検出回路１６は、トラッ
キングエラー信号の最大値と最小値とを検出し、トラッ
キングエラー信号に重畳したＤＣオフセット量Ｏ1を検
出する＜ステップ２＞。
外周向き）に距離Ｘ1だけ移動した後のトラッキングエ
ラー信号は、図１９（ｃ）に示すようにＯ1のＤＣオフ
セットが重畳する。オフセット検出回路１６は、トラッ
キングエラー信号の最大値と最小値とを検出し、トラッ
キングエラー信号に重畳したＤＣオフセット量Ｏ1を検
出する＜ステップ２＞。
【００３４】次に、レンズシフト駆動回路１９は、シス
テムコントローラー１４からの指令により、図１９
（ａ）に示すように対物レンズ１１をディスク１の他方
のラジアル方向（本例では内周向き）に一定速度ａ
1で、＜ステップ１＞におけるシフト方向を正とすると
距離（−Ｘ1）だけ移動するように、第１のスイッチ回
路３０２を介してトラッキング駆動回路５にレンズ駆動
信号を出力する。トラッキング駆動回路５はトラッキン
グアクチュエータ１７に駆動電流を出力する。トラッキ
ングアクチュエータ１７はトラッキング駆動回路５から
出力される駆動電流に応じて、図１９（ｂ）に示すよう
にディスク１の他方のラジアル方向（本例では内周向
き）に、速度ａ1で距離（−Ｘ1）だけ対物レンズ１１を
移動させる＜ステップ３＞。
テムコントローラー１４からの指令により、図１９
（ａ）に示すように対物レンズ１１をディスク１の他方
のラジアル方向（本例では内周向き）に一定速度ａ
1で、＜ステップ１＞におけるシフト方向を正とすると
距離（−Ｘ1）だけ移動するように、第１のスイッチ回
路３０２を介してトラッキング駆動回路５にレンズ駆動
信号を出力する。トラッキング駆動回路５はトラッキン
グアクチュエータ１７に駆動電流を出力する。トラッキ
ングアクチュエータ１７はトラッキング駆動回路５から
出力される駆動電流に応じて、図１９（ｂ）に示すよう
にディスク１の他方のラジアル方向（本例では内周向
き）に、速度ａ1で距離（−Ｘ1）だけ対物レンズ１１を
移動させる＜ステップ３＞。
【００３５】対物レンズ１１がラジアル方向（本例では
内周向き）に距離（−Ｘ1）だけ移動した後のトラッキ
ングエラー信号は、図１９（ｃ）に示すように＜ステッ
プ２＞でオフセット検出回路１６が検出したＤＣオフセ
ット量Ｏ1と逆極性のＤＣオフセットが重畳する。オフ
セット検出回路１６は、トラッキングエラー信号の最大
値と最小値とを検出し、トラッキングエラー信号に重畳
したＤＣオフセット量（−Ｏ2）を検出する。＜ステッ
プ４＞。
内周向き）に距離（−Ｘ1）だけ移動した後のトラッキ
ングエラー信号は、図１９（ｃ）に示すように＜ステッ
プ２＞でオフセット検出回路１６が検出したＤＣオフセ
ット量Ｏ1と逆極性のＤＣオフセットが重畳する。オフ
セット検出回路１６は、トラッキングエラー信号の最大
値と最小値とを検出し、トラッキングエラー信号に重畳
したＤＣオフセット量（−Ｏ2）を検出する。＜ステッ
プ４＞。
【００３６】続いて、レンズシフト駆動回路１９は、シ
ステムコントローラー１４からの指令により、図１９
（ａ）に示すように対物レンズ１１を一定速度ａ1で＜
ステップ１＞を実行する以前の初期位置に移動するよう
に、第１のスイッチ回路３０２を介してレンズ駆動信号
をトラッキング駆動回路５に出力する。トラッキング駆
動回路５はトラッキングアクチュエータ１７に駆動電流
を出力（一般的には駆動電流を切断）し、図１９（ｂ）
に示すように対物レンズ１１を＜ステップ１＞実行前の
初期位置に移動させる＜ステップ５＞。
ステムコントローラー１４からの指令により、図１９
（ａ）に示すように対物レンズ１１を一定速度ａ1で＜
ステップ１＞を実行する以前の初期位置に移動するよう
に、第１のスイッチ回路３０２を介してレンズ駆動信号
をトラッキング駆動回路５に出力する。トラッキング駆
動回路５はトラッキングアクチュエータ１７に駆動電流
を出力（一般的には駆動電流を切断）し、図１９（ｂ）
に示すように対物レンズ１１を＜ステップ１＞実行前の
初期位置に移動させる＜ステップ５＞。
【００３７】そして補正ゲイン決定回路１８は、＜ステ
ップ２＞および＜ステップ４＞で検出したＤＣオフセッ
ト量Ｏ1および（−Ｏ2）と、＜ステップ１＞および＜ス
テップ３＞で対物レンズ１１に対して移動させた所望の
距離Ｘ1および（−Ｘ1）より （補正ゲイン）＝｛Ｏ1−（−Ｏ2）｝／｛Ｘ1−（−Ｘ1）｝ （１） の演算を行って補正ゲインを決定する＜ステップ６＞。
ップ２＞および＜ステップ４＞で検出したＤＣオフセッ
ト量Ｏ1および（−Ｏ2）と、＜ステップ１＞および＜ス
テップ３＞で対物レンズ１１に対して移動させた所望の
距離Ｘ1および（−Ｘ1）より （補正ゲイン）＝｛Ｏ1−（−Ｏ2）｝／｛Ｘ1−（−Ｘ1）｝ （１） の演算を行って補正ゲインを決定する＜ステップ６＞。
【００３８】上記オフセット測定、および上記（１）式
で得られた補正ゲインを決定した後に、システムコント
ローラー１４からの指令により、任意のタイミングで第
１のスイッチ回路３０２はトラッキング制御回路４出力
を選択して、トラッキング駆動回路５に出力する。その
結果として、光ビーム照射位置は、トラックの中心近傍
に位置決め制御される。
で得られた補正ゲインを決定した後に、システムコント
ローラー１４からの指令により、任意のタイミングで第
１のスイッチ回路３０２はトラッキング制御回路４出力
を選択して、トラッキング駆動回路５に出力する。その
結果として、光ビーム照射位置は、トラックの中心近傍
に位置決め制御される。
【００３９】続いて、システムコントローラー１４から
の指令により、第２のスイッチ回路３０１を閉じ、ＤＣ
オフセット推定量をオフセット減算回路１５に入力す
る。オフセット減算回路１５は、トラッキングエラー信
号をＤＣオフセット推定量で減算することによって、補
正トラッキングエラー信号をトラッキング制御回路４に
出力する。その結果として、トラッキング制御の制御目
標値は、トラッキングエラー信号に重畳したＤＣオフセ
ット量が減算補正された値となるため、対物レンズ１１
によって集光された出射光はディスク１のトラック中心
に位置決め制御される。
の指令により、第２のスイッチ回路３０１を閉じ、ＤＣ
オフセット推定量をオフセット減算回路１５に入力す
る。オフセット減算回路１５は、トラッキングエラー信
号をＤＣオフセット推定量で減算することによって、補
正トラッキングエラー信号をトラッキング制御回路４に
出力する。その結果として、トラッキング制御の制御目
標値は、トラッキングエラー信号に重畳したＤＣオフセ
ット量が減算補正された値となるため、対物レンズ１１
によって集光された出射光はディスク１のトラック中心
に位置決め制御される。
【００４０】また、対物レンズ１が何らかの原因によっ
てレンズ光軸ずれが発生した場合においても、第２のス
イッチ３０１が閉じている限り、対物レンズ１１により
集光された出射光とトラック中心との位置ずれはゼロに
することができる。したがって、安定に情報層１０１に
情報を記録あるいは再生することができる。
てレンズ光軸ずれが発生した場合においても、第２のス
イッチ３０１が閉じている限り、対物レンズ１１により
集光された出射光とトラック中心との位置ずれはゼロに
することができる。したがって、安定に情報層１０１に
情報を記録あるいは再生することができる。
【００４１】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のオフセット測定方法では、図１７に示したように補
正ゲイン決定の元となるオフセット測定が、情報層１０
１の相異なる２地点での光学的特性（具体的には、反射
または透過特性）に基づくため、対物レンズ１１を光軸
の中心から移動させて、トラッキングエラー信号に重畳
するＤＣオフセットを精度良く測定できないケースがあ
る。例えば、ディスク１にゴミ、埃が付着した場合が挙
げられる。図１６および図１８における＜ステップ１＞
あるいは＜ステップ３＞で、対物レンズ１１を光ビーム
の光軸の中心から移動させたときに、出射光が集光され
レンズ光軸ずれに起因するＤＣオフセット量を測定する
場合に、対物レンズ１１が位置する相異なる２地点の何
れか一方の情報層１０１にゴミ、埃または回復不可能な
欠陥（以下、欠陥と称す）が存在すると、当該情報層１
０１からの反射光が、レンズ光軸ずれ以外の影響によっ
て変動する。その結果、＜ステップ２＞あるいは＜ステ
ップ４＞で測定するトラッキングエラー信号に、レンズ
光軸ずれの要因によるＤＣオフセット量以外の信号が重
畳し、精度良くＤＣオフセットが測定できないという課
題を有していた。
来のオフセット測定方法では、図１７に示したように補
正ゲイン決定の元となるオフセット測定が、情報層１０
１の相異なる２地点での光学的特性（具体的には、反射
または透過特性）に基づくため、対物レンズ１１を光軸
の中心から移動させて、トラッキングエラー信号に重畳
するＤＣオフセットを精度良く測定できないケースがあ
る。例えば、ディスク１にゴミ、埃が付着した場合が挙
げられる。図１６および図１８における＜ステップ１＞
あるいは＜ステップ３＞で、対物レンズ１１を光ビーム
の光軸の中心から移動させたときに、出射光が集光され
レンズ光軸ずれに起因するＤＣオフセット量を測定する
場合に、対物レンズ１１が位置する相異なる２地点の何
れか一方の情報層１０１にゴミ、埃または回復不可能な
欠陥（以下、欠陥と称す）が存在すると、当該情報層１
０１からの反射光が、レンズ光軸ずれ以外の影響によっ
て変動する。その結果、＜ステップ２＞あるいは＜ステ
ップ４＞で測定するトラッキングエラー信号に、レンズ
光軸ずれの要因によるＤＣオフセット量以外の信号が重
畳し、精度良くＤＣオフセットが測定できないという課
題を有していた。
【００４２】また、記録再生装置が単一の装置で、複数
種類のディスクに情報を記録あるいは再生する場合に、
ディスクの情報を再生しなければオフセット測定を実行
する領域を決定することができない、また、レンズ光軸
ずれによりトラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフ
セットの補正を実行すべき領域を決定することができな
いという課題も有していた。
種類のディスクに情報を記録あるいは再生する場合に、
ディスクの情報を再生しなければオフセット測定を実行
する領域を決定することができない、また、レンズ光軸
ずれによりトラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフ
セットの補正を実行すべき領域を決定することができな
いという課題も有していた。
【００４３】本発明は上記課題を鑑み、対物レンズの光
軸ずれによるトラッキングエラー信号に重畳したＤＣオ
フセットを精度よく測定する方法、および上記ＤＣオフ
セットを測定する領域を決定する方法、及び上記ＤＣオ
フセットの補正を実行すべき領域を決定する方法を提供
することを目的とする。
軸ずれによるトラッキングエラー信号に重畳したＤＣオ
フセットを精度よく測定する方法、および上記ＤＣオフ
セットを測定する領域を決定する方法、及び上記ＤＣオ
フセットの補正を実行すべき領域を決定する方法を提供
することを目的とする。
【００４４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のオフセット測定方法は、情報媒体の情報層
に離隔対向し、光源から出射した光ビームを前記情報層
に集光するレンズと、前記情報層に集光した前記光ビー
ムを受け電気信号に変換する受光部と、前記レンズを前
記情報媒体のラジアル方向に駆動する駆動部と、前記ラ
ジアル方向に前記レンズ及び前記駆動部を移送する移送
部とを備え、前記駆動部で前記レンズを前記ラジアル方
向の一方向に第１の距離だけ駆動し、前記情報層に前記
光ビームの照射により第１のオフセット量を前記受光部
で検知し、前記移送部で前記ラジアル方向の一方向に、
第２の距離だけ前記レンズを移送し、前記駆動部で前記
レンズを前記ラジアル方向の一方向に、前記第１のオフ
セット量を検知した前記情報層の位置に相当する第３の
距離だけ駆動し、前記情報層に前記光ビームの照射によ
り前記受光部で第２のオフセット量を検知する構成を備
える。
め、本発明のオフセット測定方法は、情報媒体の情報層
に離隔対向し、光源から出射した光ビームを前記情報層
に集光するレンズと、前記情報層に集光した前記光ビー
ムを受け電気信号に変換する受光部と、前記レンズを前
記情報媒体のラジアル方向に駆動する駆動部と、前記ラ
ジアル方向に前記レンズ及び前記駆動部を移送する移送
部とを備え、前記駆動部で前記レンズを前記ラジアル方
向の一方向に第１の距離だけ駆動し、前記情報層に前記
光ビームの照射により第１のオフセット量を前記受光部
で検知し、前記移送部で前記ラジアル方向の一方向に、
第２の距離だけ前記レンズを移送し、前記駆動部で前記
レンズを前記ラジアル方向の一方向に、前記第１のオフ
セット量を検知した前記情報層の位置に相当する第３の
距離だけ駆動し、前記情報層に前記光ビームの照射によ
り前記受光部で第２のオフセット量を検知する構成を備
える。
【００４５】また、上記オフセット測定方法における第
１の距離及び第３の距離それぞれが、前記レンズの前記
移送部における中立位置から計測した距離の構成を備え
る。
１の距離及び第３の距離それぞれが、前記レンズの前記
移送部における中立位置から計測した距離の構成を備え
る。
【００４６】また、上記何れかのオフセット測定方法に
おける第２の距離が、前記第１の距離と前記第３の距離
との和に等しい構成を備える。
おける第２の距離が、前記第１の距離と前記第３の距離
との和に等しい構成を備える。
【００４７】また、上記何れかのオフセット測定方法に
おける情報媒体に、前記レンズを追従させるトラックを
具備し、前記光ビームの波長をλとすると、前記受光部
で前記オフセット量を検知する前記トラックの深さが、
λ／８以上λ／６以下の構成を備える。
おける情報媒体に、前記レンズを追従させるトラックを
具備し、前記光ビームの波長をλとすると、前記受光部
で前記オフセット量を検知する前記トラックの深さが、
λ／８以上λ／６以下の構成を備える。
【００４８】また、上記何れかのオフセット測定方法に
おける受光部の出力信号を処理する処理部を２種類備
え、前記２種類の処理部を切り換える切換部により、前
記受光部で検知するオフセット量を測定したトラック領
域を判別する構成を備える。
おける受光部の出力信号を処理する処理部を２種類備
え、前記２種類の処理部を切り換える切換部により、前
記受光部で検知するオフセット量を測定したトラック領
域を判別する構成を備える。
【００４９】また、上記何れかのオフセット測定方法に
おける情報層が、情報信号を光・熱変換で記録できる構
成を備える。
おける情報層が、情報信号を光・熱変換で記録できる構
成を備える。
【００５０】また、上記何れかのオフセット測定方法に
おける第１のオフセット量及び第２のオフセット量を用
い、前記情報層の任意の位置における前記レンズを前記
駆動部で駆動した際のオフセット量を検知する構成を備
える。
おける第１のオフセット量及び第２のオフセット量を用
い、前記情報層の任意の位置における前記レンズを前記
駆動部で駆動した際のオフセット量を検知する構成を備
える。
【００５１】また、本発明の補正ゲイン決定方法は、上
記何れかのオフセット測定方法で得られた前記第１のオ
フセット量及び前記第２のオフセット量の差と、前記第
１の距離及び前記第３の距離の関係から補正ゲイン決定
部で、前記情報層の任意の位置における前記駆動部での
前記レンズのオフセット補正量を決定する構成を備え
る。
記何れかのオフセット測定方法で得られた前記第１のオ
フセット量及び前記第２のオフセット量の差と、前記第
１の距離及び前記第３の距離の関係から補正ゲイン決定
部で、前記情報層の任意の位置における前記駆動部での
前記レンズのオフセット補正量を決定する構成を備え
る。
【００５２】また、本発明の領域判別方法は、上記補正
ゲイン決定部で得られた前記オフセット補正量により、
前記光ビームを照射している前記情報層の領域を領域判
別部で判別する構成を備える。
ゲイン決定部で得られた前記オフセット補正量により、
前記光ビームを照射している前記情報層の領域を領域判
別部で判別する構成を備える。
【００５３】また、本発明の記録再生装置は、上記何れ
かのオフセット測定方法でオフセット量を測定するオフ
セット測定手段を備える構成を有する。
かのオフセット測定方法でオフセット量を測定するオフ
セット測定手段を備える構成を有する。
【００５４】
【発明の実施の形態】請求項１記載のオフセット測定方
法は、駆動部でレンズを駆動する第１の距離及び第３の
距離と、移送部でレンズを移送する第２の距離を制御す
ることで、情報層の第１のオフセット量測定位置と第２
のオフセット量測定位置とを同一にする構成を備えるた
め、従来技術の情報層の異なる箇所における光ビームの
反射光に基づくオフセット量測定に比べると測定したオ
フセット量の信頼性が飛躍的に向上することができる効
果がある。
法は、駆動部でレンズを駆動する第１の距離及び第３の
距離と、移送部でレンズを移送する第２の距離を制御す
ることで、情報層の第１のオフセット量測定位置と第２
のオフセット量測定位置とを同一にする構成を備えるた
め、従来技術の情報層の異なる箇所における光ビームの
反射光に基づくオフセット量測定に比べると測定したオ
フセット量の信頼性が飛躍的に向上することができる効
果がある。
【００５５】請求項２記載のオフセット測定方法は、第
１の距離及び第２の距離が移送部におけるレンズの中立
位置から計測した距離の構成を備えるため、レンズを駆
動する駆動部の制御及びレンズを移送する移送部の制御
のシーケンスが簡略化できると共に、制御の高精度化が
達成でき、安定したオフセット量を測定できる効果があ
る。
１の距離及び第２の距離が移送部におけるレンズの中立
位置から計測した距離の構成を備えるため、レンズを駆
動する駆動部の制御及びレンズを移送する移送部の制御
のシーケンスが簡略化できると共に、制御の高精度化が
達成でき、安定したオフセット量を測定できる効果があ
る。
【００５６】請求項３記載のオフセット測定方法は、第
２の距離が第１の距離と第３の距離との和である構成を
備えるため、第１のオフセット量の測定にレンズを駆動
する方向と、第２のオフセット量の測定にレンズを駆動
する方向とが逆方向になり、駆動部の駆動方向の駆動特
性も含んだオフセット量が測定でき、より正確なオフセ
ット測定ができる効果がある。
２の距離が第１の距離と第３の距離との和である構成を
備えるため、第１のオフセット量の測定にレンズを駆動
する方向と、第２のオフセット量の測定にレンズを駆動
する方向とが逆方向になり、駆動部の駆動方向の駆動特
性も含んだオフセット量が測定でき、より正確なオフセ
ット測定ができる効果がある。
【００５７】なお、上述の第１の距離と第３の距離とを
同一とすると、駆動部による駆動制御が簡略化できるた
め好ましく、さらに第１の距離及び第３の距離をレンズ
を駆動部により駆動できる限界の距離に設定すると、距
離を画一化できるため望ましい。
同一とすると、駆動部による駆動制御が簡略化できるた
め好ましく、さらに第１の距離及び第３の距離をレンズ
を駆動部により駆動できる限界の距離に設定すると、距
離を画一化できるため望ましい。
【００５８】請求項４記載のオフセット測定方法は、深
さがλ／８以上λ／６以下の範囲のトラックのオフセッ
ト量を受光部で検知する構成を備えるため、光ビームの
照射により情報信号の授受を行う情報層の特性を光学的
に検知でき、以て情報層に見合った最適な記録・再生を
可能となすとともに、トラック深さを検知することで情
報信号の授受を行う情報層の領域の種類または情報媒体
の種類を判別することができる効果がある。
さがλ／８以上λ／６以下の範囲のトラックのオフセッ
ト量を受光部で検知する構成を備えるため、光ビームの
照射により情報信号の授受を行う情報層の特性を光学的
に検知でき、以て情報層に見合った最適な記録・再生を
可能となすとともに、トラック深さを検知することで情
報信号の授受を行う情報層の領域の種類または情報媒体
の種類を判別することができる効果がある。
【００５９】請求項５記載のオフセット測定方法は、オ
フセット量を測定する情報層が光・熱変換で記録できる
記録型であるため、オフセット量を光学的に検知した光
学系を用いて当該情報層に対して最適状態で情報信号の
記録ができる効果がある。
フセット量を測定する情報層が光・熱変換で記録できる
記録型であるため、オフセット量を光学的に検知した光
学系を用いて当該情報層に対して最適状態で情報信号の
記録ができる効果がある。
【００６０】請求項６記載のオフセット測定方法は、受
光部の出力信号を処理する処理部を２種類備えるため、
情報層に合致した処理部を選択できることでオフセット
量の測定精度を向上できるとともに、合致していない処
理部を選択することにより情報層の種類を判別できる効
果がある。
光部の出力信号を処理する処理部を２種類備えるため、
情報層に合致した処理部を選択できることでオフセット
量の測定精度を向上できるとともに、合致していない処
理部を選択することにより情報層の種類を判別できる効
果がある。
【００６１】請求項７記載のオフセット測定方法は、第
１及び第２のオフセット量を用い任意の情報層の位置で
検知する構成を備えるため、情報層に適合した条件で光
ビームの授受を行え、記録・再生する情報層の位置に最
適な光ビームを照射することができる。
１及び第２のオフセット量を用い任意の情報層の位置で
検知する構成を備えるため、情報層に適合した条件で光
ビームの授受を行え、記録・再生する情報層の位置に最
適な光ビームを照射することができる。
【００６２】請求項８記載の補正ゲイン決定方法は、情
報層の同一箇所で計測した第１及び第２のオフセット量
の差と、第１の距離及び第３の距離相互の関係とからオ
フセット補正量を決定するため、オフセット補正量の精
度を向上でき、安定した記録・再生動作が確保できる効
果がある。
報層の同一箇所で計測した第１及び第２のオフセット量
の差と、第１の距離及び第３の距離相互の関係とからオ
フセット補正量を決定するため、オフセット補正量の精
度を向上でき、安定した記録・再生動作が確保できる効
果がある。
【００６３】請求項９記載の領域判別方法は、上記オフ
セット補正量に基づき光ビームが照射する情報層の領域
を判別するため、情報層に適応したオフセット補正が達
成でき、受光部で検知する信号の誤りを抑制することが
できる。
セット補正量に基づき光ビームが照射する情報層の領域
を判別するため、情報層に適応したオフセット補正が達
成でき、受光部で検知する信号の誤りを抑制することが
できる。
【００６４】請求項１０記載の記録再生装置は、上記何
れかに記載のオフセット測定方法を実施する手段を備え
るため、最適なオフセット補正が実現できる記録再生装
置を提供できるという効果がある。
れかに記載のオフセット測定方法を実施する手段を備え
るため、最適なオフセット補正が実現できる記録再生装
置を提供できるという効果がある。
【００６５】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照しなが
ら、詳細に説明する。
ら、詳細に説明する。
【００６６】（実施例１）図１は、本発明の一実施例に
おけるオフセット測定方法のフローチャートであり、図
２は、同フローチャートの要部における光ピックアップ
２の動作を説明する原理図である。
おけるオフセット測定方法のフローチャートであり、図
２は、同フローチャートの要部における光ピックアップ
２の動作を説明する原理図である。
【００６７】本実施例のオフセット測定方法は、情報層
１０１の任意の位置において、光ピックアップ２を一方
のラジアル方向（例えば、外周方向）に所定距離Ｘ1だ
け移動（以下、移送台の光ピックアップ載置主面に対し
略平行に対物レンズを移動することをシフトまたはレン
ズシフトと称す）させることにより、対物レンズ１１を
移送台１３上でシフトする＜ステップ１＞。
１０１の任意の位置において、光ピックアップ２を一方
のラジアル方向（例えば、外周方向）に所定距離Ｘ1だ
け移動（以下、移送台の光ピックアップ載置主面に対し
略平行に対物レンズを移動することをシフトまたはレン
ズシフトと称す）させることにより、対物レンズ１１を
移送台１３上でシフトする＜ステップ１＞。
【００６８】対物レンズ１１を所定距離Ｘ1だけシフト
した状態で、ＤＣオフセット量Ｏ1を測定する＜ステッ
プ２＞。
した状態で、ＤＣオフセット量Ｏ1を測定する＜ステッ
プ２＞。
【００６９】光ピックアップ２を載置し、当該光ピック
アップ２をラジアル方向に自由に移動する移送台１３を
ラジアル方向（図２ではＸ1と同方向の外周方向）に所
定距離Ｙ1だけ移動する＜ステップ３＞。
アップ２をラジアル方向に自由に移動する移送台１３を
ラジアル方向（図２ではＸ1と同方向の外周方向）に所
定距離Ｙ1だけ移動する＜ステップ３＞。
【００７０】所定距離Ｙ1だけ移送台１３を移動した状
態で、ラジアル方向（図２ではＸ1と逆方向の内周方
向）に所定距離Ｘ2、方向を加味すると距離（−Ｘ2）だ
け対物レンズ１１をシフトさせる＜ステップ４＞。
態で、ラジアル方向（図２ではＸ1と逆方向の内周方
向）に所定距離Ｘ2、方向を加味すると距離（−Ｘ2）だ
け対物レンズ１１をシフトさせる＜ステップ４＞。
【００７１】移送台１３を距離Ｙ1だけラジアル方向に
移動し、かつ対物レンズ１１を距離（−Ｘ2）だけシフ
トさせた状態で、ＤＣオフセット量Ｏ2を測定する＜ス
テップ５＞。
移動し、かつ対物レンズ１１を距離（−Ｘ2）だけシフ
トさせた状態で、ＤＣオフセット量Ｏ2を測定する＜ス
テップ５＞。
【００７２】対物レンズ１１を移送台１３の中立位置
（図２では方向を加味して（−Ｘ1＋Ｘ2）の距離だけ移
送台１３上をシフト）に戻し（通常は、トラッキングア
クチュエータに出力する駆動電流を遮断する）＜ステッ
プ６＞、方向を加味して移動距離（−Ｙ1）だけ移送台
１３を移動＜ステップ７＞し、移送台１３及び光ピック
アップ２（すなわち、対物レンズ１１）を情報層１０１
のオフセット量測定開始前の初期位置に戻す。
（図２では方向を加味して（−Ｘ1＋Ｘ2）の距離だけ移
送台１３上をシフト）に戻し（通常は、トラッキングア
クチュエータに出力する駆動電流を遮断する）＜ステッ
プ６＞、方向を加味して移動距離（−Ｙ1）だけ移送台
１３を移動＜ステップ７＞し、移送台１３及び光ピック
アップ２（すなわち、対物レンズ１１）を情報層１０１
のオフセット量測定開始前の初期位置に戻す。
【００７３】なお、図２では、＜ステップ１＞の対物レ
ンズ１１のシフト方向と＜ステップ３＞の移送台１３の
移動方向とが同方向で、＜ステップ４＞の対物レンズ１
１のシフト方向だけが逆方向の例を示したが、本発明の
オフセット測定方法における対物レンズ１１のシフト方
向と移送台１３の移動方向とは図２に限定されるもので
はなく、例えば図３または図４に示した方向であっても
適用できる。
ンズ１１のシフト方向と＜ステップ３＞の移送台１３の
移動方向とが同方向で、＜ステップ４＞の対物レンズ１
１のシフト方向だけが逆方向の例を示したが、本発明の
オフセット測定方法における対物レンズ１１のシフト方
向と移送台１３の移動方向とは図２に限定されるもので
はなく、例えば図３または図４に示した方向であっても
適用できる。
【００７４】図３は、オフセット測定方法におけるレン
ズシフト及び移送台の移動方向の別の例を示した原理図
である。なお、図３に示したオフセット測定方法のフロ
ーチャートは、基本的に図１と同じであるため、図１の
フローのステップを流用して説明する。
ズシフト及び移送台の移動方向の別の例を示した原理図
である。なお、図３に示したオフセット測定方法のフロ
ーチャートは、基本的に図１と同じであるため、図１の
フローのステップを流用して説明する。
【００７５】図３に示したオフセット測定方法は、情報
層１０１の任意の位置において、光ピックアップ２を一
方のラジアル方向（例えば、外周方向）に所定距離Ｘ1
だけシフトさせることにより、対物レンズ１１を移送台
１３上でシフトする＜ステップ１＞。
層１０１の任意の位置において、光ピックアップ２を一
方のラジアル方向（例えば、外周方向）に所定距離Ｘ1
だけシフトさせることにより、対物レンズ１１を移送台
１３上でシフトする＜ステップ１＞。
【００７６】光ピックアップ２を載置し、当該光ピック
アップ２をラジアル方向に自由に移動する移送台１３を
ラジアル方向（図３ではＸ1と逆方向の内周方向）に所
定距離Ｙ1、方向を加味すると（−Ｙ1）だけ移動する＜
ステップ３＞。
アップ２をラジアル方向に自由に移動する移送台１３を
ラジアル方向（図３ではＸ1と逆方向の内周方向）に所
定距離Ｙ1、方向を加味すると（−Ｙ1）だけ移動する＜
ステップ３＞。
【００７７】所定距離（−Ｙ1）だけ移送台１３を移動
した状態で、ラジアル方向（図３ではＸ1と同方向の外
周方向）に所定距離Ｘ2だけ対物レンズ１１をシフトさ
せる＜ステップ４＞。
した状態で、ラジアル方向（図３ではＸ1と同方向の外
周方向）に所定距離Ｘ2だけ対物レンズ１１をシフトさ
せる＜ステップ４＞。
【００７８】対物レンズ１１を、移送台１３の中立位置
（図３では方向を加味して（−Ｘ1−Ｘ2）の距離だけ移
送台１３上をシフト）に戻し＜ステップ６＞（図示は省
略）、距離Ｙ1だけ移送台１３を移動＜ステップ７＞
し、移送台１３及び光ピックアップ２（すなわち、対物
レンズ１１）をオフセット量測定開始前の初期位置に戻
す。
（図３では方向を加味して（−Ｘ1−Ｘ2）の距離だけ移
送台１３上をシフト）に戻し＜ステップ６＞（図示は省
略）、距離Ｙ1だけ移送台１３を移動＜ステップ７＞
し、移送台１３及び光ピックアップ２（すなわち、対物
レンズ１１）をオフセット量測定開始前の初期位置に戻
す。
【００７９】以上の図３に示した＜ステップ１＞と＜ス
テップ４＞との対物レンズ１１のシフト方向は同方向で
あり、＜ステップ３＞における移送台１３の移動方向は
レンズシフト方向と逆の場合で、図２に示した＜ステッ
プ３＞の移動方向と＜ステップ４＞のシフト方向とは逆
である。
テップ４＞との対物レンズ１１のシフト方向は同方向で
あり、＜ステップ３＞における移送台１３の移動方向は
レンズシフト方向と逆の場合で、図２に示した＜ステッ
プ３＞の移動方向と＜ステップ４＞のシフト方向とは逆
である。
【００８０】図４は、オフセット測定方法におけるレン
ズシフト及び移送台の移動方向の別の例を示した原理図
である。なお、図４に示したオフセット測定方法のフロ
ーチャートは、図３と同様に基本的に図１と同じである
ため、図１のフローのステップを流用して説明する。
ズシフト及び移送台の移動方向の別の例を示した原理図
である。なお、図４に示したオフセット測定方法のフロ
ーチャートは、図３と同様に基本的に図１と同じである
ため、図１のフローのステップを流用して説明する。
【００８１】図４に示したオフセット測定方法は、情報
層１０１の任意の位置において、光ピックアップ２を一
方のラジアル方向（例えば、外周方向）に、光ピックア
ップ２の移送台１３に対する中立位置から所定距離Ｘ1
だけシフトさせることにより、対物レンズ１１を移送台
１３上でシフトする＜ステップ１＞。
層１０１の任意の位置において、光ピックアップ２を一
方のラジアル方向（例えば、外周方向）に、光ピックア
ップ２の移送台１３に対する中立位置から所定距離Ｘ1
だけシフトさせることにより、対物レンズ１１を移送台
１３上でシフトする＜ステップ１＞。
【００８２】光ピックアップ２を載置し、当該光ピック
アップ２をラジアル方向に自由に移動する移送台１３を
ラジアル方向（図４ではＸ1と同方向の外周方向）に所
定距離Ｙ1だけ移動する＜ステップ３＞。
アップ２をラジアル方向に自由に移動する移送台１３を
ラジアル方向（図４ではＸ1と同方向の外周方向）に所
定距離Ｙ1だけ移動する＜ステップ３＞。
【００８３】所定距離Ｙ1だけ移送台１３を移動した状
態で、ラジアル方向（図４ではＸ1と逆方向の内周方
向）に移送台１３の中立位置を基準にして所定距離Ｘ2
（方向を加味して距離（Ｘ2））だけ対物レンズ１１を
シフトさせる＜ステップ４＞。
態で、ラジアル方向（図４ではＸ1と逆方向の内周方
向）に移送台１３の中立位置を基準にして所定距離Ｘ2
（方向を加味して距離（Ｘ2））だけ対物レンズ１１を
シフトさせる＜ステップ４＞。
【００８４】対物レンズ１１を移送台１３の中立位置
（図４では距離Ｘ2だけ移送台１３上をシフト）に戻し
＜ステップ６＞、方向を加味して移動距離（−Ｙ1）だ
け移送台１３を移動＜ステップ７＞し、移送台１３及び
光ピックアップ２（すなわち、対物レンズ１１）をオフ
セット量測定開始前の初期位置に戻す。
（図４では距離Ｘ2だけ移送台１３上をシフト）に戻し
＜ステップ６＞、方向を加味して移動距離（−Ｙ1）だ
け移送台１３を移動＜ステップ７＞し、移送台１３及び
光ピックアップ２（すなわち、対物レンズ１１）をオフ
セット量測定開始前の初期位置に戻す。
【００８５】図４の構成と図２の構成とはレンズシフト
方向及び移動方向は同一であるが、＜ステップ３＞の移
送台１３の移動距離が異なる。すなわち、＜ステップ１
＞でのレンズシフト距離Ｘ1と、＜ステップ３＞での移
動距離Ｙ1との関係が、図２ではＸ1＞Ｙ1であるのに対
し、図４ではＸ1＜Ｙ1である。図４ではＸ1＜Ｙ1の関係
であるがため、＜ステップ１＞における光ピックアップ
２のシフト方向と、＜ステップ４＞における光ピックア
ップ２のシフト方向は、移送台１３の中立位置を基準に
して反対向きとなる。その結果、図２ではレンズシフト
方向は一つの方向のみの構成であるのに対し、図４では
レンズシフト方向は双方向の構成となり、ＤＣオフセッ
ト量を測定すると同時にレンズシフト特性も合わせて測
定することができるため、測定したＤＣオフセット量は
図２の構成よりも図４の構成の方がより総合的な特性を
加味することができ好ましい。
方向及び移動方向は同一であるが、＜ステップ３＞の移
送台１３の移動距離が異なる。すなわち、＜ステップ１
＞でのレンズシフト距離Ｘ1と、＜ステップ３＞での移
動距離Ｙ1との関係が、図２ではＸ1＞Ｙ1であるのに対
し、図４ではＸ1＜Ｙ1である。図４ではＸ1＜Ｙ1の関係
であるがため、＜ステップ１＞における光ピックアップ
２のシフト方向と、＜ステップ４＞における光ピックア
ップ２のシフト方向は、移送台１３の中立位置を基準に
して反対向きとなる。その結果、図２ではレンズシフト
方向は一つの方向のみの構成であるのに対し、図４では
レンズシフト方向は双方向の構成となり、ＤＣオフセッ
ト量を測定すると同時にレンズシフト特性も合わせて測
定することができるため、測定したＤＣオフセット量は
図２の構成よりも図４の構成の方がより総合的な特性を
加味することができ好ましい。
【００８６】なお、図４に示した移送台１３に対する光
ピックアップ２（対物レンズ１１と同意）のシフト距離
Ｘ1及びＸ2とも、光ピックアップ２の移送台１３上の中
立位置を基準として計測しているため、シフト距離の制
御が図２及び図３に示した構成より簡略化できるため好
ましい。
ピックアップ２（対物レンズ１１と同意）のシフト距離
Ｘ1及びＸ2とも、光ピックアップ２の移送台１３上の中
立位置を基準として計測しているため、シフト距離の制
御が図２及び図３に示した構成より簡略化できるため好
ましい。
【００８７】また、図４の＜ステップ１＞のシフト量Ｘ
1と＜ステップ４＞のシフト量Ｘ2とは異なる場合を説明
したが、Ｘ1とＸ2とを等しくする構成を採用すると、シ
フト量が光ピックアップ２の移送台１３に対する中立位
置に関して対称となるため、測定したＤＣオフセット量
に加味されるレンズシフト特性に対する信頼性をさらに
向上することができるため好ましい。
1と＜ステップ４＞のシフト量Ｘ2とは異なる場合を説明
したが、Ｘ1とＸ2とを等しくする構成を採用すると、シ
フト量が光ピックアップ２の移送台１３に対する中立位
置に関して対称となるため、測定したＤＣオフセット量
に加味されるレンズシフト特性に対する信頼性をさらに
向上することができるため好ましい。
【００８８】なお、図５は、図４に示した構成とほぼ同
一であるが、図５の＜ステップ４＞におけるレンズシフ
ト距離を、対物レンズ１１のシフト限界位置に設定した
構成だけが相違する。図５に示した構成では、オフセッ
ト測定の過程で、少なくとも＜ステップ４＞におけるレ
ンズシフト位置を制御する必要性がないため、制御系の
構成が簡略化できる効果がある。このシフト限界位置に
設定する構成は、例えば図２における＜ステップ１＞の
シフト位置、図３における＜ステップ４＞のシフト位
置、及び図４（図５も同じ）における＜ステップ１＞ま
たは＜ステップ４＞のシフト位置に適用することができ
ること当然である。さらに、図４（図５も同じ）の＜ス
テップ１＞と＜ステップ４＞とのレンズシフト距離をシ
フト限界位置に設定すると、測定したＤＣオフセット量
の信頼性をより向上させながら、制御も簡略化できる構
成が実現でき好ましい。
一であるが、図５の＜ステップ４＞におけるレンズシフ
ト距離を、対物レンズ１１のシフト限界位置に設定した
構成だけが相違する。図５に示した構成では、オフセッ
ト測定の過程で、少なくとも＜ステップ４＞におけるレ
ンズシフト位置を制御する必要性がないため、制御系の
構成が簡略化できる効果がある。このシフト限界位置に
設定する構成は、例えば図２における＜ステップ１＞の
シフト位置、図３における＜ステップ４＞のシフト位
置、及び図４（図５も同じ）における＜ステップ１＞ま
たは＜ステップ４＞のシフト位置に適用することができ
ること当然である。さらに、図４（図５も同じ）の＜ス
テップ１＞と＜ステップ４＞とのレンズシフト距離をシ
フト限界位置に設定すると、測定したＤＣオフセット量
の信頼性をより向上させながら、制御も簡略化できる構
成が実現でき好ましい。
【００８９】以上、本発明のオフセット測定方法は、従
来技術と同様に任意の位置で対物レンズ１１をラジアル
方向にシフトさせる構成に、移送台１３もラジアル方向
に移動させる構成を付加したため、レンズシフト距離Ｘ
1及びＸ2と、移送台の移送距離Ｙ1とを設定すること
で、情報層１０１の同一場所でのＤＣオフセット量を測
定することができ、ＤＣオフセット量測定対象が離隔し
た２つの測定位置の場合に、一方の測定位置の情報層１
０１に存在する欠陥によってＤＣオフセット量の測定精
度が著しく損なわれる課題を、ＤＣオフセット測定対象
の情報層の位置を同一に成し得る構成とすることで解消
できる効果がある。また、オフセット測定の信頼性も向
上できる効果も奏する。さらに、対物レンズ１１のレン
ズシフト方向及び距離と、移送台１３の移動方向及び距
離とを最適に設定（例えば、Ｙ1＝Ｘ1＋Ｘ2等のように
レンズシフト方向が移送台１３の対物レンズ１１の中立
位置を跨ぐ）することにより、測定したＤＣオフセット
量にレンズシフトの影響も加味することができ、オフセ
ット測定の信頼性が向上できる。
来技術と同様に任意の位置で対物レンズ１１をラジアル
方向にシフトさせる構成に、移送台１３もラジアル方向
に移動させる構成を付加したため、レンズシフト距離Ｘ
1及びＸ2と、移送台の移送距離Ｙ1とを設定すること
で、情報層１０１の同一場所でのＤＣオフセット量を測
定することができ、ＤＣオフセット量測定対象が離隔し
た２つの測定位置の場合に、一方の測定位置の情報層１
０１に存在する欠陥によってＤＣオフセット量の測定精
度が著しく損なわれる課題を、ＤＣオフセット測定対象
の情報層の位置を同一に成し得る構成とすることで解消
できる効果がある。また、オフセット測定の信頼性も向
上できる効果も奏する。さらに、対物レンズ１１のレン
ズシフト方向及び距離と、移送台１３の移動方向及び距
離とを最適に設定（例えば、Ｙ1＝Ｘ1＋Ｘ2等のように
レンズシフト方向が移送台１３の対物レンズ１１の中立
位置を跨ぐ）することにより、測定したＤＣオフセット
量にレンズシフトの影響も加味することができ、オフセ
ット測定の信頼性が向上できる。
【００９０】なお、本発明のオフセット測定方法は、情
報層１０１の完全に同一位置で測定することが最も好ま
しいが、ＤＣオフセット量測定位置は完全同一でなくて
も、＜ステップ１＞の測定位置近傍で＜ステップ４＞で
の測定を行う構成とし、ＤＣオフセット量測定位置が２
つ存在する場合であっても、当該測定位置の相互の距離
は従来技術に比べると遥かに近接した位置で行えるた
め、測定精度及び信頼性は従来技術よりも格段に凌ぐこ
と当然である。
報層１０１の完全に同一位置で測定することが最も好ま
しいが、ＤＣオフセット量測定位置は完全同一でなくて
も、＜ステップ１＞の測定位置近傍で＜ステップ４＞で
の測定を行う構成とし、ＤＣオフセット量測定位置が２
つ存在する場合であっても、当該測定位置の相互の距離
は従来技術に比べると遥かに近接した位置で行えるた
め、測定精度及び信頼性は従来技術よりも格段に凌ぐこ
と当然である。
【００９１】また、上述の実施例では何れも対物レンズ
１１が移送台１３の光ピックアップ２の載置主面に略平
行にラジアル方向に移動する場合について説明したが、
本発明のオフセット測定方法は、ＤＣオフセット量を測
定する情報層１０１の２つの測定位置をできるだけ近接
することに技術思想があるため、対物レンズ１１の移動
はシフトに限るものではなく、移送台１３の光ピックア
ップ２の載置主面に対し、対物レンズ１１の光軸中心を
ラジアル方向に傾かせることによるＤＣオフセット量の
測定であっても適用できること勿論である。
１１が移送台１３の光ピックアップ２の載置主面に略平
行にラジアル方向に移動する場合について説明したが、
本発明のオフセット測定方法は、ＤＣオフセット量を測
定する情報層１０１の２つの測定位置をできるだけ近接
することに技術思想があるため、対物レンズ１１の移動
はシフトに限るものではなく、移送台１３の光ピックア
ップ２の載置主面に対し、対物レンズ１１の光軸中心を
ラジアル方向に傾かせることによるＤＣオフセット量の
測定であっても適用できること勿論である。
【００９２】（実施例２）次に、本発明の別の実施例に
ついて、図４、図６、図７及び図１５を参照しながら説
明する。なお、本実施例における対物レンズがラジアル
方向にシフトしたときに、トラッキングエラー信号に重
畳するＤＣオフセットを補正する記録再生装置の構成
は、基本的には従来技術で説明した図１５と同様であ
る。
ついて、図４、図６、図７及び図１５を参照しながら説
明する。なお、本実施例における対物レンズがラジアル
方向にシフトしたときに、トラッキングエラー信号に重
畳するＤＣオフセットを補正する記録再生装置の構成
は、基本的には従来技術で説明した図１５と同様であ
る。
【００９３】上述したように、対物レンズ１１がラジア
ル方向にシフトまたは所定角度の傾きを有した（以下、
総じてシフトと称す）ときに、トラッキングエラー信号
に重畳するＤＣオフセット推定量は、レンズ光軸ずれ量
（対物レンズ１１の光ビームの光軸からのずれ量）に対
し、トラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフセット
量の割合として定義する補正ゲインに、対物レンズ１１
の光ビームの光軸からのずれ量推定値を乗算して推定さ
れる。
ル方向にシフトまたは所定角度の傾きを有した（以下、
総じてシフトと称す）ときに、トラッキングエラー信号
に重畳するＤＣオフセット推定量は、レンズ光軸ずれ量
（対物レンズ１１の光ビームの光軸からのずれ量）に対
し、トラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフセット
量の割合として定義する補正ゲインに、対物レンズ１１
の光ビームの光軸からのずれ量推定値を乗算して推定さ
れる。
【００９４】この補正ゲインは、対物レンズ１１をラジ
アル方向における外周向きの所定位置または内周向きの
所定位置の何れか一方に一定距離の２測定位置だけシフ
トさせ、それぞれの測定位置において測定したトラッキ
ングエラー信号に重畳するＤＣオフセット量を、レンズ
シフト量（傾きの場合は傾き角度）で除して決定され
る。
アル方向における外周向きの所定位置または内周向きの
所定位置の何れか一方に一定距離の２測定位置だけシフ
トさせ、それぞれの測定位置において測定したトラッキ
ングエラー信号に重畳するＤＣオフセット量を、レンズ
シフト量（傾きの場合は傾き角度）で除して決定され
る。
【００９５】図６は、本実施例におけるトラッキングエ
ラー信号に重畳するＤＣオフセット量測定方法、及び当
該ＤＣオフセット量の値を用いた補正ゲイン決定方法の
フローチャートであり、対物レンズ１１（すなわち光ピ
ックアップ２）のシフトと、移送台１３の移動とについ
ては、図４の動作を前提とする。
ラー信号に重畳するＤＣオフセット量測定方法、及び当
該ＤＣオフセット量の値を用いた補正ゲイン決定方法の
フローチャートであり、対物レンズ１１（すなわち光ピ
ックアップ２）のシフトと、移送台１３の移動とについ
ては、図４の動作を前提とする。
【００９６】図７は、図１５にブロックで示した各構成
要素の出力信号の時間的推移を示した図であり、（ａ）
はレンズシフト駆動回路１９が出力するレンズシフト駆
動信号、（ｂ）はレンズシフト駆動信号による光ビーム
の光軸に対して直交するディスク１のラジアル方向の位
置、（ｃ）はトラッキングエラー信号である。
要素の出力信号の時間的推移を示した図であり、（ａ）
はレンズシフト駆動回路１９が出力するレンズシフト駆
動信号、（ｂ）はレンズシフト駆動信号による光ビーム
の光軸に対して直交するディスク１のラジアル方向の位
置、（ｃ）はトラッキングエラー信号である。
【００９７】ＤＣオフセット量を測定するときの前提条
件として、出射光がディスク１の情報層１０１に位置決
めされ、２分割光検出器１２は情報層１０１からの反射
光を検出できる状態であり、第１のスイッチ回路３０２
は、レンズシフト駆動信号の出力を選択し、レンズシフ
ト駆動信号をトラッキング駆動回路５に出力するもので
あることは、従来技術と同様である。
件として、出射光がディスク１の情報層１０１に位置決
めされ、２分割光検出器１２は情報層１０１からの反射
光を検出できる状態であり、第１のスイッチ回路３０２
は、レンズシフト駆動信号の出力を選択し、レンズシフ
ト駆動信号をトラッキング駆動回路５に出力するもので
あることは、従来技術と同様である。
【００９８】最初に、レンズシフト駆動回路１９は、シ
ステムコントローラー１４からの指令により、図７
（ａ）に示すように、対物レンズ１１を一方のラジアル
方向（例えば外周向き）に一定速度ａ1で所定距離Ｘ1だ
けシフトするように、第１のスイッチ回路３０２を介し
て、トラッキング駆動回路５にレンズシフト駆動信号を
出力し、トラッキング駆動回路５はトラッキングアクチ
ュエータ１７に駆動電流を出力する。トラッキングアク
チュエータ１７は、トラッキング駆動回路５から出力さ
れる駆動電流に応じて、図７（ｂ）に示すようにディス
ク１の一方のラジアル方向（本例では外周向き）に、速
度ａ1で距離Ｘ1だけ対物レンズ１１をシフトさせる＜ス
テップ１＞。
ステムコントローラー１４からの指令により、図７
（ａ）に示すように、対物レンズ１１を一方のラジアル
方向（例えば外周向き）に一定速度ａ1で所定距離Ｘ1だ
けシフトするように、第１のスイッチ回路３０２を介し
て、トラッキング駆動回路５にレンズシフト駆動信号を
出力し、トラッキング駆動回路５はトラッキングアクチ
ュエータ１７に駆動電流を出力する。トラッキングアク
チュエータ１７は、トラッキング駆動回路５から出力さ
れる駆動電流に応じて、図７（ｂ）に示すようにディス
ク１の一方のラジアル方向（本例では外周向き）に、速
度ａ1で距離Ｘ1だけ対物レンズ１１をシフトさせる＜ス
テップ１＞。
【００９９】対物レンズ１１がラジアル方向（本例では
外周向き）に距離Ｘ1だけシフトした後のトラッキング
エラー信号は、図７（ｃ）に示すようにＯ1のＤＣオフ
セットが重畳する。オフセット検出回路１６は、トラッ
キングエラー信号の最大値と最小値とを検出し、トラッ
キングエラー信号に重畳したＤＣオフセット量Ｏ1を検
出する＜ステップ２−１＞。
外周向き）に距離Ｘ1だけシフトした後のトラッキング
エラー信号は、図７（ｃ）に示すようにＯ1のＤＣオフ
セットが重畳する。オフセット検出回路１６は、トラッ
キングエラー信号の最大値と最小値とを検出し、トラッ
キングエラー信号に重畳したＤＣオフセット量Ｏ1を検
出する＜ステップ２−１＞。
【０１００】次に、対物レンズ１１のラジアル方向（本
例では外周向き）のシフト距離Ｘ1と、このときオフセ
ット検出回路１６で検出されたＤＣオフセット量Ｏ1と
をシステムコントローラー１４内のメモリで構成される
記憶回路である補正ゲイン決定回路１８に記憶する＜ス
テップ２−２＞。
例では外周向き）のシフト距離Ｘ1と、このときオフセ
ット検出回路１６で検出されたＤＣオフセット量Ｏ1と
をシステムコントローラー１４内のメモリで構成される
記憶回路である補正ゲイン決定回路１８に記憶する＜ス
テップ２−２＞。
【０１０１】次に、システムコントローラー１４は、移
送台１３をラジアル方向に一定速度ａ2で所定距離Ｙ1だ
け移動させるように、移送台１３に備える不図示の移送
台駆動部に駆動電流を出力する。移送台１３は、図４に
示すようにシステムコントローラー１４から出力される
駆動電流により移送台１３をディスク１のラジアル方向
（図４では＜ステップ１＞と同方向）に一定速度ａ2で
距離Ｙ1だけ移動する＜ステップ３＞。
送台１３をラジアル方向に一定速度ａ2で所定距離Ｙ1だ
け移動させるように、移送台１３に備える不図示の移送
台駆動部に駆動電流を出力する。移送台１３は、図４に
示すようにシステムコントローラー１４から出力される
駆動電流により移送台１３をディスク１のラジアル方向
（図４では＜ステップ１＞と同方向）に一定速度ａ2で
距離Ｙ1だけ移動する＜ステップ３＞。
【０１０２】次に、レンズシフト駆動回路１９は、シス
テムコントローラー１４からの指令により、図７（ａ）
に示すように対物レンズ１１を、ディスク１のラジアル
方向（図４では＜ステップ１＞と逆方向）に一定速度ａ
1で所定距離Ｘ2、方向を加味すると（−Ｘ2）だけシフ
トするように、第１のスイッチ回路３０２を介してトラ
ッキング駆動回路５にレンズ駆動信号を出力し、トラッ
キング駆動回路５はトラッキングアクチュエータ１７に
駆動電流を出力する。トラッキングアクチュエータ１７
は、トラッキング駆動回路５から出力される駆動電流に
応じて、図７（ｂ）に示すようにディスク１のラジアル
方向（図４では＜ステップ１＞と逆方向）に一定速度ａ
1で所定距離Ｘ2、方向を加味すると（−Ｘ2）だけ対物
レンズ１１をシフトさせる＜ステップ４＞。
テムコントローラー１４からの指令により、図７（ａ）
に示すように対物レンズ１１を、ディスク１のラジアル
方向（図４では＜ステップ１＞と逆方向）に一定速度ａ
1で所定距離Ｘ2、方向を加味すると（−Ｘ2）だけシフ
トするように、第１のスイッチ回路３０２を介してトラ
ッキング駆動回路５にレンズ駆動信号を出力し、トラッ
キング駆動回路５はトラッキングアクチュエータ１７に
駆動電流を出力する。トラッキングアクチュエータ１７
は、トラッキング駆動回路５から出力される駆動電流に
応じて、図７（ｂ）に示すようにディスク１のラジアル
方向（図４では＜ステップ１＞と逆方向）に一定速度ａ
1で所定距離Ｘ2、方向を加味すると（−Ｘ2）だけ対物
レンズ１１をシフトさせる＜ステップ４＞。
【０１０３】対物レンズ１１が、ラジアル方向（図４で
は＜ステップ１＞と逆方向）に距離（−Ｘ2）だけシフ
トした後のトラッキングエラー信号は、図７（ｃ）に示
すように＜ステップ２−１＞でオフセット検出回路１６
が検出したＤＣオフセット量Ｏ1と逆極性のＤＣオフセ
ットが重畳する。オフセット検出回路１６は、トラッキ
ングエラー信号の最大値と最小値とを検出し、トラッキ
ングエラー信号に重畳したＤＣオフセット量（−Ｏ2）
を検出する＜ステップ５−１＞。
は＜ステップ１＞と逆方向）に距離（−Ｘ2）だけシフ
トした後のトラッキングエラー信号は、図７（ｃ）に示
すように＜ステップ２−１＞でオフセット検出回路１６
が検出したＤＣオフセット量Ｏ1と逆極性のＤＣオフセ
ットが重畳する。オフセット検出回路１６は、トラッキ
ングエラー信号の最大値と最小値とを検出し、トラッキ
ングエラー信号に重畳したＤＣオフセット量（−Ｏ2）
を検出する＜ステップ５−１＞。
【０１０４】次に、対物レンズ１１のラジアル方向の移
動距離（−Ｘ2）と、このときオフセット検出回路１６
で検出されたＤＣオフセット量（−Ｏ2）とを、システ
ムコントローラー１４内のメモリで構成される記憶回路
である補正ゲイン決定回路１８に記憶する＜ステップ５
−２＞。
動距離（−Ｘ2）と、このときオフセット検出回路１６
で検出されたＤＣオフセット量（−Ｏ2）とを、システ
ムコントローラー１４内のメモリで構成される記憶回路
である補正ゲイン決定回路１８に記憶する＜ステップ５
−２＞。
【０１０５】続いて、レンズシフト駆動回路１９は、シ
ステムコントローラー１４からの指令により、図７
（ａ）に示すように対物レンズ１１を一定速度ａ1で＜
ステップ１＞を実行する以前の初期位置に移動するよう
に、第１のスイッチ回路３０２を介してレンズ駆動信号
をトラッキング駆動回路５に出力（一般的には駆動電流
を切断）し、図７（ｂ）に示すように対物レンズ１１を
＜ステップ１＞実行前の初期位置に戻し＜ステップ６
＞、方向を加味して移動距離（−Ｙ1）だけ移送台１３
を移動＜ステップ７＞し、移送台１３及び光ピックアッ
プ２（すなわち、対物レンズ１１）を情報層１０１のオ
フセット量測定開始前の初期位置に戻す。
ステムコントローラー１４からの指令により、図７
（ａ）に示すように対物レンズ１１を一定速度ａ1で＜
ステップ１＞を実行する以前の初期位置に移動するよう
に、第１のスイッチ回路３０２を介してレンズ駆動信号
をトラッキング駆動回路５に出力（一般的には駆動電流
を切断）し、図７（ｂ）に示すように対物レンズ１１を
＜ステップ１＞実行前の初期位置に戻し＜ステップ６
＞、方向を加味して移動距離（−Ｙ1）だけ移送台１３
を移動＜ステップ７＞し、移送台１３及び光ピックアッ
プ２（すなわち、対物レンズ１１）を情報層１０１のオ
フセット量測定開始前の初期位置に戻す。
【０１０６】補正ゲイン決定回路１８は、＜ステップ２
−２＞で記憶した対物レンズ１１のシフト距離Ｘ1、Ｄ
Ｃオフセット量Ｏ1、＜ステップ５−２＞で記憶した対
物レンズ１１のシフト距離（−Ｘ2）及びＤＣオフセッ
ト量（−Ｏ2）の各値から、 （補正ゲイン）＝｛Ｏ1−（−Ｏ2）｝／｛Ｘ1−（−Ｘ2）｝ （２） の演算を行い、補正ゲインを決定する＜ステップ７＞。
−２＞で記憶した対物レンズ１１のシフト距離Ｘ1、Ｄ
Ｃオフセット量Ｏ1、＜ステップ５−２＞で記憶した対
物レンズ１１のシフト距離（−Ｘ2）及びＤＣオフセッ
ト量（−Ｏ2）の各値から、 （補正ゲイン）＝｛Ｏ1−（−Ｏ2）｝／｛Ｘ1−（−Ｘ2）｝ （２） の演算を行い、補正ゲインを決定する＜ステップ７＞。
【０１０７】なお、本実施例における対物レンズ１１の
シフト距離及びシフト方向と、移送台１３の移動距離及
び移動方向との関係、すなわち移送台１３の光ピックア
ップ２の中立位置を跨って対物レンズ１１がシフトする
場合には、上述の式（２）の関係が適用できるが、実施
例１で述べたように本発明のオフセット測定方法は、中
立位置を跨って対物レンズ１１がシフトしない場合もあ
る。例えば、図２及び図３のように、オフセット量を測
定するためにレンズシフトした位置がともに中立位置に
関して同一方向である場合には、シフト距離の大きい方
からシフト距離の小さい方を減じた距離となる。また、
ＤＣオフセット量Ｏ1及びＯ2も同様であり、中立位置を
跨らない場合にはともに同符号になるため、やはりＤＣ
オフセット量の大きい方からＤＣオフセット量の小さい
方を減じた量となる。
シフト距離及びシフト方向と、移送台１３の移動距離及
び移動方向との関係、すなわち移送台１３の光ピックア
ップ２の中立位置を跨って対物レンズ１１がシフトする
場合には、上述の式（２）の関係が適用できるが、実施
例１で述べたように本発明のオフセット測定方法は、中
立位置を跨って対物レンズ１１がシフトしない場合もあ
る。例えば、図２及び図３のように、オフセット量を測
定するためにレンズシフトした位置がともに中立位置に
関して同一方向である場合には、シフト距離の大きい方
からシフト距離の小さい方を減じた距離となる。また、
ＤＣオフセット量Ｏ1及びＯ2も同様であり、中立位置を
跨らない場合にはともに同符号になるため、やはりＤＣ
オフセット量の大きい方からＤＣオフセット量の小さい
方を減じた量となる。
【０１０８】ここで対物レンズ１１のラジアル方向シフ
ト距離Ｘ1と（−Ｘ2）、及び移送台１３のラジアル方向
移動距離Ｙ1の関係が Ｙ1＝Ｘ1＋Ｘ2 （３） を満たすとき、上記ＤＣオフセット測定において情報層
１０１上の同一位置でＤＣオフセット量を測定すること
ができる。
ト距離Ｘ1と（−Ｘ2）、及び移送台１３のラジアル方向
移動距離Ｙ1の関係が Ｙ1＝Ｘ1＋Ｘ2 （３） を満たすとき、上記ＤＣオフセット測定において情報層
１０１上の同一位置でＤＣオフセット量を測定すること
ができる。
【０１０９】そのため、ＤＣオフセット量を測定する２
つの測定位置の何れかに欠陥が存在することにより出射
光の反射特性が変動するというレンズ光軸ずれ以外にＤ
Ｃオフセット量測定に際し影響を与える要因を抑制で
き、以てＤＣオフセット量の測定精度及び測定信頼性を
損ねる従来の課題を克服でき、精度の高いオフセット測
定が可能となる。
つの測定位置の何れかに欠陥が存在することにより出射
光の反射特性が変動するというレンズ光軸ずれ以外にＤ
Ｃオフセット量測定に際し影響を与える要因を抑制で
き、以てＤＣオフセット量の測定精度及び測定信頼性を
損ねる従来の課題を克服でき、精度の高いオフセット測
定が可能となる。
【０１１０】すなわち、本発明のオフセット測定方法
は、対物レンズをラジアル方向の２測定位置に移動さ
せ、トラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフセット
量をそれぞれの測定位置において測定する際に、対物レ
ンズを単にラジアル方向にシフトさせるだけでなく、対
物レンズを具備する光ピックアップを載置する移送台も
ラジアル方向に移動させることにより、ディスク１の情
報層上のほぼ同一位置でＤＣオフセットを測定すること
ができるため、上述の格別の効果を奏する。
は、対物レンズをラジアル方向の２測定位置に移動さ
せ、トラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフセット
量をそれぞれの測定位置において測定する際に、対物レ
ンズを単にラジアル方向にシフトさせるだけでなく、対
物レンズを具備する光ピックアップを載置する移送台も
ラジアル方向に移動させることにより、ディスク１の情
報層上のほぼ同一位置でＤＣオフセットを測定すること
ができるため、上述の格別の効果を奏する。
【０１１１】（実施例３）以下、本発明の他の実施例に
ついて図８〜図１０を参照しながら説明する。なお、実
施例１と同じ構成、機能を有する構成には同じ番号を付
与して、その説明は省略する。
ついて図８〜図１０を参照しながら説明する。なお、実
施例１と同じ構成、機能を有する構成には同じ番号を付
与して、その説明は省略する。
【０１１２】図８は、本発明のＤＣオフセット測定方法
の機能を備えることにより、ＤＣオフセット量を補正で
きる記録再生装置の構成を示したブロック図であり、上
述の図１５に示した構成に領域判別ブロック２０が追加
されている。
の機能を備えることにより、ＤＣオフセット量を補正で
きる記録再生装置の構成を示したブロック図であり、上
述の図１５に示した構成に領域判別ブロック２０が追加
されている。
【０１１３】図８に示すように、領域判別ブロック２０
は、基準電圧源２１、比較器２２及び領域判別回路２３
を含む。基準電圧源２１はシステムコントローラー１４
からの指令により、基準電圧をＶref1もしくはＶref2に
切り替えることができる。また、領域検出回路２３は、
抵抗ＲおよびコンデンサーＣを含む。
は、基準電圧源２１、比較器２２及び領域判別回路２３
を含む。基準電圧源２１はシステムコントローラー１４
からの指令により、基準電圧をＶref1もしくはＶref2に
切り替えることができる。また、領域検出回路２３は、
抵抗ＲおよびコンデンサーＣを含む。
【０１１４】また、情報層１０１からの反射光は光ピッ
クアップ２で電気信号に変換され、変換された電気信号
はトラッキングエラー検出回路３に入力されるが、トラ
ッキングエラー検出回路３は、システムコントローラー
１４からの指令によりトラッキングエラー信号検出方式
を切り換えてトラッキングエラー信号を検出できる機能
を備える。トラッキングエラー検出回路３が備えるトラ
ッキング信号検出方式として、例えばプッシュプル方式
と、位相差方式とがある。位相差検出方式については後
で説明する。本実施例では、トラッキングエラー検出回
路３のトラッキングエラー検出方式を切り換えて、各方
式により検出されるトラッキングエラー信号の振幅に基
づいてＤＣオフセット量を測定する領域を特定するとと
もに、特定した領域で最適なＤＣオフセット量を測定す
る。
クアップ２で電気信号に変換され、変換された電気信号
はトラッキングエラー検出回路３に入力されるが、トラ
ッキングエラー検出回路３は、システムコントローラー
１４からの指令によりトラッキングエラー信号検出方式
を切り換えてトラッキングエラー信号を検出できる機能
を備える。トラッキングエラー検出回路３が備えるトラ
ッキング信号検出方式として、例えばプッシュプル方式
と、位相差方式とがある。位相差検出方式については後
で説明する。本実施例では、トラッキングエラー検出回
路３のトラッキングエラー検出方式を切り換えて、各方
式により検出されるトラッキングエラー信号の振幅に基
づいてＤＣオフセット量を測定する領域を特定するとと
もに、特定した領域で最適なＤＣオフセット量を測定す
る。
【０１１５】ここで位相差方式によるトラッキングエラ
ー検出について説明する。位相差検出方式は、光ビーム
の集束点がトラック上を通過すると、ディスクからの反
射光の強度パターンが時間的に変化する現象を利用し、
トラッキングエラー信号を検出する方法である。
ー検出について説明する。位相差検出方式は、光ビーム
の集束点がトラック上を通過すると、ディスクからの反
射光の強度パターンが時間的に変化する現象を利用し、
トラッキングエラー信号を検出する方法である。
【０１１６】具体的には、光ビームの集束点がピットの
中心、すなわちトラックの中心を通過するときの４分割
光検出器の各出力は、左右に対照的にパターンが変化す
る。また、光ビームの集束点がトラックの右側を通過す
るときは反時計方向に回転するように変化し、トラック
の左側を通過するときは時計方向に回転するようにパタ
ーンが変化する。このパターンの回転変化は、光ビーム
の集束点がトラックの中心からずれるに従って鮮明にな
る。
中心、すなわちトラックの中心を通過するときの４分割
光検出器の各出力は、左右に対照的にパターンが変化す
る。また、光ビームの集束点がトラックの右側を通過す
るときは反時計方向に回転するように変化し、トラック
の左側を通過するときは時計方向に回転するようにパタ
ーンが変化する。このパターンの回転変化は、光ビーム
の集束点がトラックの中心からずれるに従って鮮明にな
る。
【０１１７】位相差検出方式によるのトラッキングエラ
ー信号検出は、この４分割光検出器の対角和から得られ
る２つの信号の位相を比較して、位相の進み量あるいは
遅れ量から光ビームの集束点とトラックとの位置ずれを
検出する。従って、情報層にピットが記録されていない
場合は、トラッキングエラー信号を検出することができ
ない。
ー信号検出は、この４分割光検出器の対角和から得られ
る２つの信号の位相を比較して、位相の進み量あるいは
遅れ量から光ビームの集束点とトラックとの位置ずれを
検出する。従って、情報層にピットが記録されていない
場合は、トラッキングエラー信号を検出することができ
ない。
【０１１８】ところで、一般的にＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶ
Ｄ−Ｒ／Ｗ及びＣＤ−Ｒ／Ｗ等の書換可能ディスク、及
びＣＤ−Ｒ及びＤＶＤ−Ｒ等の書換不可能な追記型ディ
スクのように、いわゆる記録型ディスクには溝状のトラ
ックが設けられているが、ＣＤ−ＲＯＭ及びＤＶＤ−Ｒ
ＯＭ等の記録不可能な再生専用ディスクには、トラック
が設けられず平面状の情報層にピットとして情報が記録
されている。また、追記型ディスクへの記録は、情報層
の形状を変化させた記録、いわゆるピット記録が施され
るのに対し、書換可能型ディスクでは情報層を構成する
元素の配列を変化させた記録、いわゆる記録マークが施
される。
Ｄ−Ｒ／Ｗ及びＣＤ−Ｒ／Ｗ等の書換可能ディスク、及
びＣＤ−Ｒ及びＤＶＤ−Ｒ等の書換不可能な追記型ディ
スクのように、いわゆる記録型ディスクには溝状のトラ
ックが設けられているが、ＣＤ−ＲＯＭ及びＤＶＤ−Ｒ
ＯＭ等の記録不可能な再生専用ディスクには、トラック
が設けられず平面状の情報層にピットとして情報が記録
されている。また、追記型ディスクへの記録は、情報層
の形状を変化させた記録、いわゆるピット記録が施され
るのに対し、書換可能型ディスクでは情報層を構成する
元素の配列を変化させた記録、いわゆる記録マークが施
される。
【０１１９】そこで、記録再生装置が書換可能型ディス
ク、あるいは追記型ディスクにおいて、記録あるいは再
生動作を行う際に、記録可能領域のトラッキングエラー
信号検出はプッシュプル方式で検出し、追記型ディスク
にピットが形成された領域は既に情報層にピットが記録
されている領域であるためトラッキングエラー信号検出
をプッシュプル方式ではなく位相差方式で行えばよい。
ク、あるいは追記型ディスクにおいて、記録あるいは再
生動作を行う際に、記録可能領域のトラッキングエラー
信号検出はプッシュプル方式で検出し、追記型ディスク
にピットが形成された領域は既に情報層にピットが記録
されている領域であるためトラッキングエラー信号検出
をプッシュプル方式ではなく位相差方式で行えばよい。
【０１２０】溝状のトラックが設けられている記録型デ
ィスク、あるいは再生専用ディスクにおける平面状の情
報層に、ある深さのピットが記録されている領域Ｂに光
ビームを照射し、トラッキングエラー検出回路３のトラ
ッキングエラー検出方式を、システムコントローラー１
４の指令により、プッシュプル方式を選択した場合のト
ラッキングエラー信号は図９（ａ）の領域Ｂのように鋸
歯状の信号となる。
ィスク、あるいは再生専用ディスクにおける平面状の情
報層に、ある深さのピットが記録されている領域Ｂに光
ビームを照射し、トラッキングエラー検出回路３のトラ
ッキングエラー検出方式を、システムコントローラー１
４の指令により、プッシュプル方式を選択した場合のト
ラッキングエラー信号は図９（ａ）の領域Ｂのように鋸
歯状の信号となる。
【０１２１】ただし、トラッキングエラー検出回路３で
検出するトラッキングエラー信号振幅は、ディスクの反
射率あるいは／及び溝構造、ピット構造により異なる。
検出するトラッキングエラー信号振幅は、ディスクの反
射率あるいは／及び溝構造、ピット構造により異なる。
【０１２２】また、光ビームが再生専用ディスクにおけ
る平面状の情報層にピットが記録されていない領域に照
射された場合のトラッキングエラー信号は、図９（ａ）
の領域Ａのように０レベルとなる。なお、領域Ａのトラ
ッキングエラー信号レベルと領域Ｂのトラッキングエラ
ー信号振幅レベルとの間に予め設定した基準電圧Ｖre f1
が、システムコントローラー１４の制御により、基準電
圧源２１から出力される。
る平面状の情報層にピットが記録されていない領域に照
射された場合のトラッキングエラー信号は、図９（ａ）
の領域Ａのように０レベルとなる。なお、領域Ａのトラ
ッキングエラー信号レベルと領域Ｂのトラッキングエラ
ー信号振幅レベルとの間に予め設定した基準電圧Ｖre f1
が、システムコントローラー１４の制御により、基準電
圧源２１から出力される。
【０１２３】次に、トラッキングエラー検出回路３のト
ラッキングエラー検出方式を、システムコントローラー
１４の指令により位相差方式を選択する。位相差検出方
式は前述したように情報層の形状変化（ピット）を検出
する方式であるため、溝状のトラックが設けられている
記録型ディスクにおいて、トラック上にマークあるいは
ピットが記録されていない領域、トラック上に記録マー
クが形成されている領域、あるいは再生専用ディスクに
おける平面状の情報層でピットが記録されていない領域
の何れかに光ビームを照射した場合のトラッキングエラ
ー信号は、図１０（ａ）の領域Ｃに示すように０レベル
となる。また、溝状のトラックが設けられている記録型
ディスクにおいて、トラック上にマークあるいはピット
が記録されている領域、あるいは再生専用ディスクにお
ける平面状の情報層にピットが記録されている領域に光
ビームを照射した場合、図１０（ａ）の領域Ｄに示すよ
うに鋸歯状のトラッキングエラー信号が得られる。
ラッキングエラー検出方式を、システムコントローラー
１４の指令により位相差方式を選択する。位相差検出方
式は前述したように情報層の形状変化（ピット）を検出
する方式であるため、溝状のトラックが設けられている
記録型ディスクにおいて、トラック上にマークあるいは
ピットが記録されていない領域、トラック上に記録マー
クが形成されている領域、あるいは再生専用ディスクに
おける平面状の情報層でピットが記録されていない領域
の何れかに光ビームを照射した場合のトラッキングエラ
ー信号は、図１０（ａ）の領域Ｃに示すように０レベル
となる。また、溝状のトラックが設けられている記録型
ディスクにおいて、トラック上にマークあるいはピット
が記録されている領域、あるいは再生専用ディスクにお
ける平面状の情報層にピットが記録されている領域に光
ビームを照射した場合、図１０（ａ）の領域Ｄに示すよ
うに鋸歯状のトラッキングエラー信号が得られる。
【０１２４】なお、領域Ｃのトラッキングエラー信号レ
ベルと、領域Ｄのトラッキングエラー信号振幅レベルと
の間に、予め設定した基準電圧Ｖref2がシステムコント
ローラー１４の制御により基準電圧源２１から出力され
る。
ベルと、領域Ｄのトラッキングエラー信号振幅レベルと
の間に、予め設定した基準電圧Ｖref2がシステムコント
ローラー１４の制御により基準電圧源２１から出力され
る。
【０１２５】そこで、記録動作を考慮する場合、書換可
能型ディスクあるいは追記型ディスクであり、記録可能
領域、すなわち上記図１０（ａ）の領域Ｃでしかも上記
図９（ａ）の領域Ｂを満たす領域を検出する。そのため
にまず、トラッキングエラー検出回路３において位相差
方式で得られたトラッキングエラー信号を比較器２２に
入力することにより、基準電圧Ｖref2とトラッキングエ
ラー信号とを比較し、比較器２２では図１０（ｂ）に示
すように、比較信号を基準電圧Ｖref2を閾値として領域
Ｄのトラッキングエラー信号を矩形のパルス列に２値化
する。２値化した比較信号を領域判別回路２３に入力
し、領域判別回路２３が具備するＲとＣとによりパルス
列の比較信号を矩形の領域判別信号に変換する。領域判
別信号をシステムコントローラー１４に帰還する。
能型ディスクあるいは追記型ディスクであり、記録可能
領域、すなわち上記図１０（ａ）の領域Ｃでしかも上記
図９（ａ）の領域Ｂを満たす領域を検出する。そのため
にまず、トラッキングエラー検出回路３において位相差
方式で得られたトラッキングエラー信号を比較器２２に
入力することにより、基準電圧Ｖref2とトラッキングエ
ラー信号とを比較し、比較器２２では図１０（ｂ）に示
すように、比較信号を基準電圧Ｖref2を閾値として領域
Ｄのトラッキングエラー信号を矩形のパルス列に２値化
する。２値化した比較信号を領域判別回路２３に入力
し、領域判別回路２３が具備するＲとＣとによりパルス
列の比較信号を矩形の領域判別信号に変換する。領域判
別信号をシステムコントローラー１４に帰還する。
【０１２６】次に、プッシュプル方式で得られたトラッ
キングエラー信号を比較器２２に入力することにより、
基準電圧Ｖref1とトラッキングエラー信号とを比較し、
比較器２２では図９（ｂ）に示すように、比較信号を基
準電圧Ｖref1を閾値として領域Ｂのトラッキングエラー
信号の以上を矩形のパルス列に２値化する。
キングエラー信号を比較器２２に入力することにより、
基準電圧Ｖref1とトラッキングエラー信号とを比較し、
比較器２２では図９（ｂ）に示すように、比較信号を基
準電圧Ｖref1を閾値として領域Ｂのトラッキングエラー
信号の以上を矩形のパルス列に２値化する。
【０１２７】この図１０（ａ）の領域Ｃを満たす図９
（ａ）の領域Ｂでの２値化した比較信号を領域判別回路
２３に入力し、領域判別回路２３が具備するＲとＣとに
よりパルス列の比較信号を矩形の領域判別信号に変換す
る。領域判別信号をシステムコントローラー１４に帰還
し、当該領域判別信号に基づきシステムコントローラー
１４は第２のスイッチ３０１の切り替えを制御する。
（ａ）の領域Ｂでの２値化した比較信号を領域判別回路
２３に入力し、領域判別回路２３が具備するＲとＣとに
よりパルス列の比較信号を矩形の領域判別信号に変換す
る。領域判別信号をシステムコントローラー１４に帰還
し、当該領域判別信号に基づきシステムコントローラー
１４は第２のスイッチ３０１の切り替えを制御する。
【０１２８】第２のスイッチ３０１は、システムコント
ローラー１４の指令により、領域判別信号がハイレベル
の間、ＤＣオフセット推定量をオフセット減算回路１５
に入力し、トラッキングエラー信号からＤＣオフセット
推定量を減算した補正トラッキングエラー信号をトラッ
キング制御回路４に入力する。システムコントローラー
１４からの指令により第１のスイッチ回路３０２はトラ
ッキング制御回路４側をＯＮ状態にし、トラッキング制
御回路４はトラッキング駆動信号を第１のスイッチ回路
３０２を介してトラッキング駆動回路５にトラッキング
駆動信号を入力し、トラッキングアクチュエータ１７は
駆動電流に応じて対物レンズ１１を駆動しＤＣオフセッ
ト量を抑制する。
ローラー１４の指令により、領域判別信号がハイレベル
の間、ＤＣオフセット推定量をオフセット減算回路１５
に入力し、トラッキングエラー信号からＤＣオフセット
推定量を減算した補正トラッキングエラー信号をトラッ
キング制御回路４に入力する。システムコントローラー
１４からの指令により第１のスイッチ回路３０２はトラ
ッキング制御回路４側をＯＮ状態にし、トラッキング制
御回路４はトラッキング駆動信号を第１のスイッチ回路
３０２を介してトラッキング駆動回路５にトラッキング
駆動信号を入力し、トラッキングアクチュエータ１７は
駆動電流に応じて対物レンズ１１を駆動しＤＣオフセッ
ト量を抑制する。
【０１２９】以上の構成により、記録型ディスクに所定
の情報信号を記録する際に、情報信号を再生することな
く、ＤＣオフセットを高精度に抑制した記録が達成でき
る。また、上記実施例では記録動作について説明した
が、再生動作であっても同様にＤＣオフセットを高精度
に抑制できること当然である。例えばＣＤ−ＲまたはＤ
ＶＤ−Ｒの再生動作の場合には、位相差方式によるトラ
ッキングエラー検出で図１０（ａ）の領域Ｄ（情報層の
形状変化（ピット）を有する領域）を満足するまで光ピ
ックアップ２をラジアル方向に移動させた後に、プッシ
ュプル方式により情報層のトラックが溝構造の領域であ
ることを検知する等で対応できる。また、追記型情報層
に記録したピットは、トラックのエッジに影響を及ぼす
ことが多々見受けられるが、ＤＣオフセット補正領域と
してピットが形成されてい領域に選択できるため、トラ
ックのエッジ形状変化に起因する影響も撲滅することが
でき、オフセット測定の精度を向上できる。
の情報信号を記録する際に、情報信号を再生することな
く、ＤＣオフセットを高精度に抑制した記録が達成でき
る。また、上記実施例では記録動作について説明した
が、再生動作であっても同様にＤＣオフセットを高精度
に抑制できること当然である。例えばＣＤ−ＲまたはＤ
ＶＤ−Ｒの再生動作の場合には、位相差方式によるトラ
ッキングエラー検出で図１０（ａ）の領域Ｄ（情報層の
形状変化（ピット）を有する領域）を満足するまで光ピ
ックアップ２をラジアル方向に移動させた後に、プッシ
ュプル方式により情報層のトラックが溝構造の領域であ
ることを検知する等で対応できる。また、追記型情報層
に記録したピットは、トラックのエッジに影響を及ぼす
ことが多々見受けられるが、ＤＣオフセット補正領域と
してピットが形成されてい領域に選択できるため、トラ
ックのエッジ形状変化に起因する影響も撲滅することが
でき、オフセット測定の精度を向上できる。
【０１３０】また、上記実施例ではディスク１の情報層
１０１が追記型の情報層と書換型の情報層の例で説明し
たが、一般に記録型ディスクの情報層には、ディスクの
内周部及び／またはディスクのラジアル方向に放射線状
に制御情報信号等のピットで形成されたいわゆるＲＯＭ
領域と、溝状のトラックを有し情報信号を記録できる記
録領域とが設けられているため、本実施例に示した技術
は当該ＲＯＭ領域と記録領域との判別も可能であり、従
っていわゆる一枚の記録型ディスク内でもＤＣオフセッ
トを補正できる領域か否かの判断を正確に行える。
１０１が追記型の情報層と書換型の情報層の例で説明し
たが、一般に記録型ディスクの情報層には、ディスクの
内周部及び／またはディスクのラジアル方向に放射線状
に制御情報信号等のピットで形成されたいわゆるＲＯＭ
領域と、溝状のトラックを有し情報信号を記録できる記
録領域とが設けられているため、本実施例に示した技術
は当該ＲＯＭ領域と記録領域との判別も可能であり、従
っていわゆる一枚の記録型ディスク内でもＤＣオフセッ
トを補正できる領域か否かの判断を正確に行える。
【０１３１】また、本実施例ではトラッキング検出回路
３の検出方式を、先ず情報層の形状変化（ピット）の有
無を検出するため、位相差方式を選択し、その後情報層
のトラックが溝構造であるのか、あるいは平面状である
のかを判別するため、プッシュプル方式を選択した場合
について説明したが、この順番は本実施例に限定される
ものではなく、適宜選択して適用できる。しかも、それ
ぞれの検出方式の繰り返し回数も適宜選択して適用でき
る。
３の検出方式を、先ず情報層の形状変化（ピット）の有
無を検出するため、位相差方式を選択し、その後情報層
のトラックが溝構造であるのか、あるいは平面状である
のかを判別するため、プッシュプル方式を選択した場合
について説明したが、この順番は本実施例に限定される
ものではなく、適宜選択して適用できる。しかも、それ
ぞれの検出方式の繰り返し回数も適宜選択して適用でき
る。
【０１３２】また、近年情報媒体は情報層を備える基板
厚の相違、情報層の材料の相違、情報層の構造の相違等
多様化していることは前述したとおりであり、情報媒体
の多様化に伴い情報層に適合した記録・再生方式が提案
されてきている。このような情報媒体の多様化、すなわ
ち情報層の構造の相違情報層の構造及び／または材料等
が異なる複数種の情報媒体に、単一の記録再生装置で、
情報信号を情報層に記録、あるいは情報層に予め記録さ
れた情報を再生をするいわゆる互換技術を備える要望が
ある。本実施例で述べた技術を応用すると、複数種の情
報媒体に対応できる互換記録再生装置を提供できる効果
もある。
厚の相違、情報層の材料の相違、情報層の構造の相違等
多様化していることは前述したとおりであり、情報媒体
の多様化に伴い情報層に適合した記録・再生方式が提案
されてきている。このような情報媒体の多様化、すなわ
ち情報層の構造の相違情報層の構造及び／または材料等
が異なる複数種の情報媒体に、単一の記録再生装置で、
情報信号を情報層に記録、あるいは情報層に予め記録さ
れた情報を再生をするいわゆる互換技術を備える要望が
ある。本実施例で述べた技術を応用すると、複数種の情
報媒体に対応できる互換記録再生装置を提供できる効果
もある。
【０１３３】また、上述の実施例によれば、トラッキン
グエラー信号に重畳したＤＣオフセット推定量に応じ
て、トラッキングエラー信号に重畳したＤＣオフセット
を補正する領域であるか否かの決定が正確にでき、情報
層の情報を再生することなく、レンズ光軸ずれに起因す
るＤＣオフセット量を測定する情報層の領域を決定し、
しかも情報層に存在する欠陥の影響を抑制したＤＣオフ
セット量が測定でき、ＤＣオフセット補正を最適に制御
した高精度のトラッキング制御を提供できる効果も奏す
る。
グエラー信号に重畳したＤＣオフセット推定量に応じ
て、トラッキングエラー信号に重畳したＤＣオフセット
を補正する領域であるか否かの決定が正確にでき、情報
層の情報を再生することなく、レンズ光軸ずれに起因す
るＤＣオフセット量を測定する情報層の領域を決定し、
しかも情報層に存在する欠陥の影響を抑制したＤＣオフ
セット量が測定でき、ＤＣオフセット補正を最適に制御
した高精度のトラッキング制御を提供できる効果も奏す
る。
【０１３４】（実施例４）以下、本発明の別の実施例に
ついて、図１１及び図１２を参照し説明する。なお、前
述の実施例１と同じ構成、機能を有する部品には同じ番
号を付与して、その説明は省略する。
ついて、図１１及び図１２を参照し説明する。なお、前
述の実施例１と同じ構成、機能を有する部品には同じ番
号を付与して、その説明は省略する。
【０１３５】図１１は、本発明のオフセット測定方法の
機能を備えることにより、情報層１０１の任意の位置に
おいてトラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフセッ
ト量を補正できる記録再生装置の構成を示したブロック
図であり、図１５に示した記録再生装置の構成に、ＤＣ
オフセット補正実行判定ブロック２３を追加した構成で
ある。ＤＣオフセット補正実行判定ブロック２３は、図
１１に示すように、基準電圧源２１及び比較器２２で構
成されている。
機能を備えることにより、情報層１０１の任意の位置に
おいてトラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフセッ
ト量を補正できる記録再生装置の構成を示したブロック
図であり、図１５に示した記録再生装置の構成に、ＤＣ
オフセット補正実行判定ブロック２３を追加した構成で
ある。ＤＣオフセット補正実行判定ブロック２３は、図
１１に示すように、基準電圧源２１及び比較器２２で構
成されている。
【０１３６】先ず、本実施例で追加された基準電圧源２
１と比較器２２の働きを説明する。対物レンズ１１をデ
ィスク１のラジアル方向の相異なる２つのシフト位置
で、かつ情報層上の略同一位置でそれぞれ測定したＤＣ
オフセット量に基づき、補正ゲイン決定回路１８で決定
された補正ゲインを比較器２２に出力する。基準電圧源
２１から出力される基準電圧Ｖref3は、システムコント
ローラー１４により初期値（例えば０ｍＶ等任意値）に
設定されている。比較器２２は、補正ゲイン決定回路１
８から出力される補正ゲインの電圧と、基準電圧源２１
から出力される基準電圧Ｖref3とを比較し、補正実行判
定信号をシステムコントローラー１４に出力する。
１と比較器２２の働きを説明する。対物レンズ１１をデ
ィスク１のラジアル方向の相異なる２つのシフト位置
で、かつ情報層上の略同一位置でそれぞれ測定したＤＣ
オフセット量に基づき、補正ゲイン決定回路１８で決定
された補正ゲインを比較器２２に出力する。基準電圧源
２１から出力される基準電圧Ｖref3は、システムコント
ローラー１４により初期値（例えば０ｍＶ等任意値）に
設定されている。比較器２２は、補正ゲイン決定回路１
８から出力される補正ゲインの電圧と、基準電圧源２１
から出力される基準電圧Ｖref3とを比較し、補正実行判
定信号をシステムコントローラー１４に出力する。
【０１３７】一方、補正ゲインは、光ビームの光軸から
対物レンズ１１の光軸ずれ量に対するＤＣオフセット量
の割合であるため、補正ゲインの値は光ビームの光軸か
ら対物レンズ１１のずれ量と、測定したトラッキングエ
ラー信号に重畳するＤＣオフセット量とに依存する。
対物レンズ１１の光軸ずれ量に対するＤＣオフセット量
の割合であるため、補正ゲインの値は光ビームの光軸か
ら対物レンズ１１のずれ量と、測定したトラッキングエ
ラー信号に重畳するＤＣオフセット量とに依存する。
【０１３８】従って、図１１に示すディスク１に照射さ
れた光ビームがトラックの溝深さλ／８以上λ／６以下
の場合は、対物レンズ１１の光軸ずれによるトラッキン
グエラー信号に重畳するＤＣオフセット量が大きいた
め、補正ゲインはＶref3よりも大きくなり、図１２
（ａ）の領域Ｆで示される。また、ディスク１に照射さ
れた光ビームがトラックの溝深さがλ／６以上の場合に
は、対物レンズ１１の光軸ずれによるトラッキングエラ
ー信号に重畳するＤＣオフセット量は小さいため、補正
ゲインはＶref3よりも小さくなり、図１２（ａ）の領域
Ｅで示される。
れた光ビームがトラックの溝深さλ／８以上λ／６以下
の場合は、対物レンズ１１の光軸ずれによるトラッキン
グエラー信号に重畳するＤＣオフセット量が大きいた
め、補正ゲインはＶref3よりも大きくなり、図１２
（ａ）の領域Ｆで示される。また、ディスク１に照射さ
れた光ビームがトラックの溝深さがλ／６以上の場合に
は、対物レンズ１１の光軸ずれによるトラッキングエラ
ー信号に重畳するＤＣオフセット量は小さいため、補正
ゲインはＶref3よりも小さくなり、図１２（ａ）の領域
Ｅで示される。
【０１３９】そこで、補正実行判定信号は図１２（ｂ）
に示すように補正ゲインと基準電圧Ｖref3との大小関係
により、情報領域Ｆではハイレベル、情報領域Ｅではロ
ーレベルを出力する。
に示すように補正ゲインと基準電圧Ｖref3との大小関係
により、情報領域Ｆではハイレベル、情報領域Ｅではロ
ーレベルを出力する。
【０１４０】実施例１あるいは実施例２に記載のオフセ
ット測定を実行し、決定された補正ゲインに基づいて検
出される補正実行判別信号は、システムコントローラー
１４に出力され、システムコントローラー１４は補正実
行判定信号がハイレベル時には第２のスイッチ回路３０
１をＯＮに切り替え、ローレベル時には第２のスイッチ
回路３０１をＯＦＦに切り替える。すなわち、対物レン
ズ１１による光軸からのずれ量に対するトラッキングエ
ラー信号に重畳するＤＣオフセット量が、所定値より大
きい場合はトラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフ
セットを補正する機能をＯＮにし、対物レンズ１１によ
る光軸からのずれ量に対するトラッキングエラー信号に
重畳するＤＣオフセット量が所定値より小さい場合はト
ラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフセットを補正
する機能をＯＦＦにする。
ット測定を実行し、決定された補正ゲインに基づいて検
出される補正実行判別信号は、システムコントローラー
１４に出力され、システムコントローラー１４は補正実
行判定信号がハイレベル時には第２のスイッチ回路３０
１をＯＮに切り替え、ローレベル時には第２のスイッチ
回路３０１をＯＦＦに切り替える。すなわち、対物レン
ズ１１による光軸からのずれ量に対するトラッキングエ
ラー信号に重畳するＤＣオフセット量が、所定値より大
きい場合はトラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフ
セットを補正する機能をＯＮにし、対物レンズ１１によ
る光軸からのずれ量に対するトラッキングエラー信号に
重畳するＤＣオフセット量が所定値より小さい場合はト
ラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフセットを補正
する機能をＯＦＦにする。
【０１４１】このようにして、本実施例では、トラッキ
ングエラー信号に重畳するＤＣオフセットを補正する機
能のＯＮ／ＯＦＦを、決定された補正ゲインの値により
判定し、ＤＣオフセット補正が必要な領域に対してのみ
ＤＣオフセット補正を実行することにより、対物レンズ
１１による光軸からのずれ量に対するトラッキングエラ
ー信号に重畳するＤＣオフセット量が小さく、ＤＣオフ
セット補正が不必要な領域のトラッキング制御の構成が
簡略化され、さらにＤＣオフセット補正が不必要な領域
においてＤＣオフセット補正を実行することによる不安
定なトラッキング制御を防ぐことができる。
ングエラー信号に重畳するＤＣオフセットを補正する機
能のＯＮ／ＯＦＦを、決定された補正ゲインの値により
判定し、ＤＣオフセット補正が必要な領域に対してのみ
ＤＣオフセット補正を実行することにより、対物レンズ
１１による光軸からのずれ量に対するトラッキングエラ
ー信号に重畳するＤＣオフセット量が小さく、ＤＣオフ
セット補正が不必要な領域のトラッキング制御の構成が
簡略化され、さらにＤＣオフセット補正が不必要な領域
においてＤＣオフセット補正を実行することによる不安
定なトラッキング制御を防ぐことができる。
【０１４２】
【発明の効果】本発明のオフセット測定方法によれば、
対物レンズの光軸ずれに起因し、トラッキングエラー信
号に重畳するＤＣオフセットを精度よく測定することが
できる。例えば、情報媒体の情報層にゴミ、埃等が付着
した場合においても、対物レンズをディスク半径方向の
一方向に第１の距離だけ移動させてトラッキングエラー
信号に重畳する第１のＤＣオフセット量を測定し、次に
移送台をディスク半径方向の一方向第２の距離だけ移動
させた後、その状態で対物レンズをディスク半径方向の
一方向に第３の距離だけ移動させてトラッキングエラー
信号に重畳する第２のＤＣオフセット量を測定する構成
で、上記第１の距離、第２の距離及び第３の距離を選択
することにより、情報層の同一半径位置でトラッキング
エラー信号に重畳するＤＣオフセット推定量を測定する
ことができる。従って、ディスクに付着したゴミ、埃等
の影響を受けることなく、精度の高いオフセット測定を
実現できる効果がある。
対物レンズの光軸ずれに起因し、トラッキングエラー信
号に重畳するＤＣオフセットを精度よく測定することが
できる。例えば、情報媒体の情報層にゴミ、埃等が付着
した場合においても、対物レンズをディスク半径方向の
一方向に第１の距離だけ移動させてトラッキングエラー
信号に重畳する第１のＤＣオフセット量を測定し、次に
移送台をディスク半径方向の一方向第２の距離だけ移動
させた後、その状態で対物レンズをディスク半径方向の
一方向に第３の距離だけ移動させてトラッキングエラー
信号に重畳する第２のＤＣオフセット量を測定する構成
で、上記第１の距離、第２の距離及び第３の距離を選択
することにより、情報層の同一半径位置でトラッキング
エラー信号に重畳するＤＣオフセット推定量を測定する
ことができる。従って、ディスクに付着したゴミ、埃等
の影響を受けることなく、精度の高いオフセット測定を
実現できる効果がある。
【０１４３】また、ディスク情報を再生することなく上
記オフセット測定を実行する領域を決定できる。例え
ば、トラッキングエラー信号検出方式であるプッシュプ
ル方式と位相差方式とを切り換え、各方式により検出し
たトラッキングエラー信号よりトラックの溝深さλ／８
以上λ／６以下の領域であり、かつ未記録である領域を
検出し、オフセット測定を実行する領域として決定する
ことができる。その結果、トラックの溝形状や情報ピッ
トの有無による影響を受けることのない精度の高いオフ
セット測定を実現することができる効果がある。
記オフセット測定を実行する領域を決定できる。例え
ば、トラッキングエラー信号検出方式であるプッシュプ
ル方式と位相差方式とを切り換え、各方式により検出し
たトラッキングエラー信号よりトラックの溝深さλ／８
以上λ／６以下の領域であり、かつ未記録である領域を
検出し、オフセット測定を実行する領域として決定する
ことができる。その結果、トラックの溝形状や情報ピッ
トの有無による影響を受けることのない精度の高いオフ
セット測定を実現することができる効果がある。
【０１４４】さらに、トラッキングエラー信号に重畳し
たＤＣオフセット推定値に応じて、トラッキングエラー
信号に重畳したＤＣオフセットを補正する領域であるか
否かを決定することもできる。例えば、対物レンズの光
軸中心と光ビームの光軸中心とのずれ量に対するトラッ
キングエラー信号に重畳するＤＣオフセット量として決
定された補正ゲインの値に応じ、ＤＣオフセット補正機
能をＯＮ／ＯＦＦすることによって、ＤＣオフセット補
正が必要な領域に対してのみＤＣオフセット補正を実行
することができる。従って、情報層の情報を再生するこ
となく、対物レンズの光軸ずれによるトラッキングエラ
ー信号に重畳したＤＣオフセットを測定するディスクの
領域を決定し、ディスクに付着したゴミ、埃等の影響を
受けないオフセット測定を実現し、さらにトラッキング
エラー信号に重畳したＤＣオフセット補正機能を適切に
ＯＮ／ＯＦＦさせることで、高精度な光ビームのトラッ
キング制御を実現することができる効果がある。
たＤＣオフセット推定値に応じて、トラッキングエラー
信号に重畳したＤＣオフセットを補正する領域であるか
否かを決定することもできる。例えば、対物レンズの光
軸中心と光ビームの光軸中心とのずれ量に対するトラッ
キングエラー信号に重畳するＤＣオフセット量として決
定された補正ゲインの値に応じ、ＤＣオフセット補正機
能をＯＮ／ＯＦＦすることによって、ＤＣオフセット補
正が必要な領域に対してのみＤＣオフセット補正を実行
することができる。従って、情報層の情報を再生するこ
となく、対物レンズの光軸ずれによるトラッキングエラ
ー信号に重畳したＤＣオフセットを測定するディスクの
領域を決定し、ディスクに付着したゴミ、埃等の影響を
受けないオフセット測定を実現し、さらにトラッキング
エラー信号に重畳したＤＣオフセット補正機能を適切に
ＯＮ／ＯＦＦさせることで、高精度な光ビームのトラッ
キング制御を実現することができる効果がある。
【図１】本発明の一実施例におけるオフセット測定方法
のフローチャート
のフローチャート
【図２】同実施例におけるオフセット測定方法の原理図
【図３】本発明の他の実施例におけるオフセット測定方
法の原理図
法の原理図
【図４】本発明の別の実施例におけるオフセット測定方
法の原理図
法の原理図
【図５】本発明の他の実施例におけるオフセット測定方
法の原理図
法の原理図
【図６】本発明の一実施例におけるオフセット測定方法
のフローチャート
のフローチャート
【図７】（ａ）は、同実施例のレンズシフト駆動信号と
時間との関係図 （ｂ）は、同実施例の対物レンズの位置と時間との関係
図 （ｃ）は、同実施例のトラッキングエラー信号と時間と
の関係図
時間との関係図 （ｂ）は、同実施例の対物レンズの位置と時間との関係
図 （ｃ）は、同実施例のトラッキングエラー信号と時間と
の関係図
【図８】同実施例のオフセット測定方法を備えた記録再
生装置の要部ブロック図
生装置の要部ブロック図
【図９】（ａ）は、同実施例におけるトラッキングエラ
ー信号と時間との関係図 （ｂ）は、同実施例における比較信号と時間との関係図 （ｃ）は、同実施例における領域判別信号と時間との関
係図
ー信号と時間との関係図 （ｂ）は、同実施例における比較信号と時間との関係図 （ｃ）は、同実施例における領域判別信号と時間との関
係図
【図１０】（ａ）は、同実施例におけるトラッキングエ
ラー信号と時間との関係図 （ｂ）は、同実施例における比較信号と時間との関係図 （ｃ）は、同実施例における領域判別信号と時間との関
係図
ラー信号と時間との関係図 （ｂ）は、同実施例における比較信号と時間との関係図 （ｃ）は、同実施例における領域判別信号と時間との関
係図
【図１１】本発明の他の実施例における記録再生装置の
要部ブロック図
要部ブロック図
【図１２】（ａ）は、同実施例における補正ゲインと時
間との関係図 （ｂ）は、同実施例における補正実行判定信号と時間と
の関係図
間との関係図 （ｂ）は、同実施例における補正実行判定信号と時間と
の関係図
【図１３】従来のトラッキングの原理を示す要部ブロッ
ク図
ク図
【図１４】他の従来のトラッキングの原理を示す要部ブ
ロック図
ロック図
【図１５】記録再生装置の一構成例を示す要部ブロック
図
図
【図１６】従来のオフセット測定方法のフローチャート
【図１７】図１０４のオフセット測定方法の原理図
【図１８】従来の補正ゲイン決定方法のフローチャート
【図１９】（ａ）は、従来のレンズシフト駆動信号と時
間との関係図 （ｂ）は、従来の対物レンズの位置と時間との関係図 （ｃ）は、従来のトラッキングエラー信号と時間との関
係図
間との関係図 （ｂ）は、従来の対物レンズの位置と時間との関係図 （ｃ）は、従来のトラッキングエラー信号と時間との関
係図
【図２０】プッシュプル検出信号とトラックの溝深さと
の関係図
の関係図
【図２１】トラッキングエラー信号にオフセットが重畳
する原理図
する原理図
１ 情報媒体(ディスク) ２ 光ピックアップ ３ トラッキングエラー検出回路 ４ トラッキング制御回路 ５ トラッキング駆動回路 ６ 光軸ずれ量推定回路 ７ 乗算回路 ８ 光源 １１ 対物レンズ １２ ２分割光検出器 １３ 移送台 １４ システムコントローラー １５ オフセット減算回路 １６ オフセット検出回路 １７ トラッキングアクチュエーター １８ 補正ゲイン決定回路 １９ レンズシフト駆動回路 ２０ 領域判別ブロック ２１ 基準電圧源 ２２ 比較器 ２３ 領域検出回路 １０１ 情報層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田井 康裕 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 5D117 AA02 CC07 EE29 FF21 GG05 5D118 AA18 BA01 BB02 BC13 CA13 CD03 CD11
Claims (10)
- 【請求項１】 情報媒体の情報層に離隔対向し、光源か
ら出射した光ビームを前記情報層に集光するレンズと、 前記情報層に集光した前記光ビームを受け電気信号に変
換する受光部と、 前記レンズを前記情報媒体のラジアル方向に駆動する駆
動部と、 前記ラジアル方向に前記レンズ及び前記駆動部を移送す
る移送部とを備え、 前記駆動部で前記レンズを前記ラジアル方向の一方向に
第１の距離だけ駆動し、前記情報層に前記光ビームの照
射により第１のオフセット量を前記受光部で検知し、 前記移送部で前記ラジアル方向の一方向に、第２の距離
だけ前記レンズを移送し、 前記駆動部で前記レンズを前記ラジアル方向の一方向
に、前記第１のオフセット量を検知した前記情報層の位
置に相当する第３の距離だけ駆動し、前記情報層に前記
光ビームの照射により前記受光部で第２のオフセット量
を検知することを特徴とするオフセット測定方法。 - 【請求項２】 前記第１の距離及び前記第３の距離それ
ぞれが、前記レンズの前記移送部における中立位置から
計測した距離であることを特徴とする請求項１記載のオ
フセット測定方法。 - 【請求項３】 前記第２の距離が、前記第１の距離と前
記第３の距離との和に等しいことを特徴とする請求項１
または２何れかに記載のオフセット測定方法。 - 【請求項４】 前記情報媒体に前記レンズを追従させる
トラックを具備し、前記光ビームの波長をλとすると、
前記受光部で前記オフセット量を検知する前記トラック
の深さが、λ／８以上λ／６以下であることを特徴とす
る請求項１〜３何れかに記載のオフセット測定方法。 - 【請求項５】 前記情報層に情報信号を光・熱変換で記
録できることを特徴とする請求項１〜４何れかに記載の
オフセット測定方法。 - 【請求項６】 前記受光部の出力信号を処理する処理部
を２種類備え、前記２種類の処理部を切り換える切換部
により、前記受光部で検知するオフセット量を測定した
トラック領域を判別することを特徴とする請求項１〜５
何れかに記載のオフセット測定方法。 - 【請求項７】 前記第１のオフセット量及び前記第２の
オフセット量を用い、前記情報層の任意の位置における
前記レンズを前記駆動部で駆動した際のオフセット量を
検知することを特徴とする請求項１〜６何れかに記載の
オフセット測定方法。 - 【請求項８】 請求項１〜７何れかに記載のオフセット
測定方法で得られた前記第１のオフセット量及び前記第
２のオフセット量の差と、前記第１の距離及び前記第３
の距離の関係から補正ゲイン決定部で、前記情報層の任
意の位置における前記駆動部での前記レンズのオフセッ
ト補正量を決定する補正ゲイン決定方法。 - 【請求項９】 請求項８記載の補正ゲイン決定部で得ら
れた前記オフセット補正量により、前記光ビームを照射
している前記情報層の領域を領域判別部で判別すること
を特徴とする領域判別方法。 - 【請求項１０】 請求項１〜７何れかに記載のオフセッ
ト測定方法でオフセット量を測定するオフセット測定手
段を備えることを特徴とする記録再生装置。
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