WO2002080156A1

WO2002080156A1 - Procede de mesure de decalage

Info

Publication number: WO2002080156A1
Application number: PCT/JP2002/002864
Authority: WO
Inventors: Machiko Kitayama; Masaya Kuwahara; Yasuhiro Tai
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Priority date: 2001-03-29
Filing date: 2002-03-25
Publication date: 2002-10-10
Also published as: EP1376555B1; US7035175B2; KR20030005402A; CN1214372C; US20030137907A1; JP2002298382A; CN1460255A; TW577065B; DE60229840D1; EP1376555B8; JP3698066B2; EP1376555A4; KR100465568B1; EP1376555A1

Description

明細書オフセッ卜測定方法技術分野

本発明は、情報媒体に光ビームを集光する対物レンズの光軸のずれによつて生じるオフセットを測定するオフセット測定方法およびオフセット測定方法を実行する記録再生装置に関する。背景技術

光ビームを照射することによって、所定の情報を情報層に記録し、および Zまたは情報層に記録された情報を再生するための情報媒体は、情報媒体の厚みの相違および/または情報層の材料の相違およびまたは情報層の構造の相違によつて多様化している。このように多様化した情報媒体は、いずれも、円板形状をした情報媒体（以下、「ディスク」という）であり、共通の記録再生装置に対して交換して使用することができる。

このようなディスクには、例えば、 D V D— R AM、 D V D— R等によって代表される情報の記録および再生が可能な記録型ディスク、および D V D— R OM によって代表される情報の再生のみが可能な再生専用ディスクが含まれる。記録型ディスクに情報を記録または再生し、再生専用ディスクから情報を再生するためには、ディスクに設けられたトラックの中心にトラッキング制御によって光ビームを位置決めする必要がある。

図 1 4は、従来の記録再生装置におけるトラッキング制御の原理を示すブロック図である。記録再生装置が情報を記録再生するディスク 3 1は、基板 3 2を有しており、基板 3 2の上には情報を記録再生するための情報層 3 3が形成されている。記録再生装置は、ディスク 3 1に形成された情報層 3 3に対向するように設けられた光ピックアップ 1を備えている。光ピックアップ 1には、対物レンズと、 2個の受光部を有する光検出器とが設けられている。光ピックアップ 1に設けられた対物レンズは、光ビームを情報層 3 3上に集光させる。光検出器は、情報層 3 3において反射された光ビームを受光し、受光した光ビームをトラツキング信号に変換して、トラッキングエラ一検出回路 1 1へ出力する。トラッキングエラー検出回路 1 1は、光ピックアップ 1に設けられた光変換器によって変換されたトラッキング信号に基づいて、情報層 3 3上に集光した光ビームの位置と情報層 3 3上に形成されたトラックの中心位置との間の情報媒体 3 1のラジアル方向に沿った誤差を表すトラッキングエラー信号を検出し、トラッキング制御回路 1 3へ出力する。トラッキング制御回路 1 3は、トラッキングエラ一検出回路 1 1によって検出されたトラッキングエラー信号に基づいて、情報層 3 3上に集光した光ビームの位置が情報層 3 3上に形成されたトラックの中心位置を示す制御目標位置に追従するように位相補償するためのトラッキング駆動信号を生成して、トラッキング駆動回路 1 6へ出力する。トラッキング駆動回路 1 6は、トラツキング制御回路 1 3によって生成されたトラッキング駆動信号に基づいて、情報層 3 3上に集光した光ビームの位置がトラックの中心位置に追従するように光ピックアップ 1に設けられた対物レンズの位置を制御する。

トラッキングエラー検出回路 1 1がトラッキングエラー信号を検出する方式については、多くの方式が提案され、実用化されている。情報の記録および再生が可能な記録型ディスクによって反射された光ビームからトラッキングエラ一信号を検出する方式としては、プッシュプル方式が代表的である。以下、プッシュプル方式を説明する。

プッシュプル方式は、情報層 3 3に形成されたトラックの中心位置に対して対称となるように配置された 2個の受光部がそれぞれ受光した光ビームの光強度の差をトラッキングエラ一信号として検出する方式である。

情報層 3 3上において反射される光ビームの光強度は、情報層 3 3に形成されたトラックの溝の深さ、または情報層 3 3に形成されたピッ卜の深さに大きく依存する。

情報層 3 3には、例えば渦巻き状に溝が形成された凹部（以下「グループ部」という）と凹部間に形成された凸部（以下「ランド部」という）とが設けられている。グループ部において反射された光ビームの光路長は、ランド部において反射された光ビームの光路長よりも、溝の深さの 2倍だけ長い。従って、グループ部において反射された光ビームの波形とランド部において反射された光ビームの波形との間には、溝の深さの 2倍の長さに対応する位相差が生じる。

図 1 5は、情報層 3 3に形成されたトラックの溝の深さと情報層 3 3において反射された光ビームから変換されたトラッキング信号の強度との間の関係を示すグラフである。横軸は、情報層 3 3に設けられたグループ部に形成された溝の深さを示しており、 λは光ピックアップ 1によつて情報層 3 3に照射される光ビ一ムの波長を示している。縦軸は、光ピックアップ 1に設けられた光検出器によつて検出されたトラッキング信号の強度を示している。

ディスク 3 1の情報層 3 3に設けられたグループ部に形成された溝の深さが λ

Ζ 4であると、グループ部において反射された光ビームの光路長は、ランド部において反射された光ビームの光路長よりも、溝の深さ Λ Ζ4の 2倍である λ Ζ 2 だけ長くなる。従って、グループ部において反射された光ビームの波形とランド部において反射された光ビームの波形との間には、溝の深さの 2倍である λ Ζ 2 に対応する ττΖ 2の位相差が生じるために、グループ部において反射された光ビームの波形とランド部において反射された光ビームの波形とは互いに打ち消しあう。このため、光ピックアップ 1に設けられた光検出器によって検出されるトラッキング信号の強度は図 1 5に示すように最低となる。

溝の深さが 8であると、グループ部において反射された光ビームの光路長は、ランド部において反射された光ビームの光路長よりも、溝の深さ λ Ζ 8の 2 倍である λ Ζ 4だけ長くなる。従って、溝の深さの 2倍である λ Ζ4に対応する π/ 4の位相差が生じる。このとき光ピックアップ 1に設けられた光検出器によつて検出されるトラッキング信号の強度は図 1 5に示すように最大となる。溝の深さが Λ Ζ 8から λ Ζ 6までは、溝の深さが λ Ζ 8において最大になっているトラッキング信号の強度の低下が少ない。このため、情報の記録および再生が可能な記録型ディスクである D V D— Rに設けられたグルーブ部に形成された溝の深さは、 λ Ζ 8以上 λ Ζ 6以下に設定されている。

光ピックアップ 1において、光ビームを情報層 3 3上に集光させる対物レンズの光軸中心が光検出器に設けられた 2偭の受光部の間の境界からずれると（以下「レンズ光軸ずれ」という）、光検出器に設けられた 2個の受光部の一方によつて受光される光ビームの強度が、 2個の受光部の他方によって受光される光ビームの強度よりも強くなり、トラッキングエラ一信号検出回路 1 1によって検出されるトラッキングエラ一信号に D Cオフセットが重畳する。

図 1 6は、光ビームの光軸中心と光検出器に設けられた 2個の受光部との位置関係を説明する図である。光ピックアップ 1 (図 1 4 ) に設けられた光検出器 1 0には、 2個の受光部 aおよび受光部 bが、情報層 3 3に形成されたトラックの中心位置に対して対称となるように互いに接して配置されている。光ピックアツプ 1 (図 1 4 ) に設けられた対物レンズ 5は、その光軸中心 Aが受光部 aと受光部 bとの間の境界と一致するように配置されている。

対物レンズ 5が、実線によって示される位置からディスク 3 1のラジアル方向に沿って破線によって示される位置までずれると、対物レンズ 5の光軸中心 Aが光軸中心 Bまで受光部 b側へ距離 dだけずれるために、ディスク 3 1の情報層 3 3によって反射回折されて光検出器 1 0へ入射する光ビームの光軸中心が受光部 b側へ距離 dだけずれる。このため、光検出器 1 0に設けられた受光部 aへ入射する光ビームの入射光量は、受光部 bへ入射する光ビームの入射光量よりも少なくなるので、受光部 aへの入射光量と受光部 bへの入射光量との間にアンバランスが発生する。プッシュプル方式は、前述したように、 2個の受光部がそれぞれ受光した光ビ一ムの光強度の差をトラッキングエラー信号として検出する方式であるために、光検出器 1 0へ入射する光ビームの光軸中心がずれることに起因して 2個の受光部への入射光量の間にアンパランスが発生すると、トラッキングエラー信号に D Cオフセットが重畳される。 D V D— R等の記録型ディスクではトラッキング信号の強度の低下が少なくなるように溝の深さが λノ 8以上 λ 6以下に設定されているので、記録型ディスクにおいてはトラッキングエラー信号に重畳される D Cオフセッ卜の量も大きくなる。

このように D Cオフセッ卜がトラッキングエラー信号に重畳されると、光ビームが照射される情報層 3 3上の位置がトラックの中心と一致するようにトラツキングエラー信号に基づいて光ビームを制御したとしても、光ビームが照射される情報層上の実際の位置はトラックの中心からずれる。このため、トラッキングェラー信号に重畳された D Cオフセットを補正する方式が提案されている。

図 1 7は、 D Cオフセットを補正する機能を備えた従来のトラッキング制御の原理を示すブロック図である。図 1 4を参照して前述した構成要素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略する。図 1 4において前述した記録再生装置と異なる点は、光軸ずれ量推定回路 1 4、乗算回路 1 5 およびスィツチ回路 S W 1をさらに備えている点である。

光軸ずれ量推定回路 1 4は、トラッキング制御回路 1 3によって生成された卜ラッキング駆動信号に基づいて、レンズ光軸ずれの量を推定する光軸ずれ量推定値を表す信号を生成し、乗算回路 1 5へ出力する。乗算回路 1 5は、光軸ずれ量推定回路 1 4から出力された光軸ずれ量推定値を表す信号に補正ゲインを乗算して得られた D Cオフセッ卜推定量を表す信号をスィッチ回路 S W 1へ出力する。スィッチ回路 S W 1がオンになると、乗算回路 1 5から出力された D Cオフセット推定量を表す信号は、トラッキングエラー検出回路 1 1によって検出されたトラッキングエラー信号に加えられ、トラッキングエラー信号に重畳された D Cォフセッ卜が D Cオフセット推定量を表す信号によって補正される。スィッチ回路 S W 1がオフになると、 D Cオフセット推定量を表す信号はトラッキングエラー信号に加えられない。このように、スィッチ回路 S W 1は、 D Cオフセット推定量に基づく負帰還をオンオフすることができるように構成されている。

乗算回路 1 5において光軸ずれ量推定値を表す信号に乗算される補正ゲインは、トラッキングエラ一信号に重畳された D Cオフセットを測定し、測定された D C オフセットに基づいて決定される。以下、補正ゲインを決定するための D Cオフセッ卜を測定する方法および測定された D Cオフセッ卜に基づいて補正ゲインを決定する方法を説明する。

図 1 8は、従来の記録再生装置 9 0の構成図である。図 1 7を参照して前述した記録再生装置の構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略する。記録再生装置 9 0は、光ピックアツプ 1を備えている。

光ピックアップ 1は、移送台 2の上に載置されている。光ピックアップ 1を載置した移送台 2は、システムコントローラ 1 7からの指令に基づいて情報媒体 3 1のラジアル方向に沿って光ピックアップ 1を移送する。このように、光ピックアップ 1は、移送台 2によって移送され、情報媒体 3 1のラジアル方向に沿った任意の位置へ移動して、情報層 3 3に対して情報信号を記録再生することができる。

光ピックアップ 1は、光源 7を有している。光源 7は、赤色半導体レーザによつて構成されており、波長 6 5 0ナノメータ（n m) の光ビームを発振して、コリメ一夕レンズ 8に向かって出射する。光源 7から出射された光ビーム（以下「出射光」ともいう）は、コリメ一夕レンズ 8によって平行光に変換され、ビームスプリッタ 9を通って、対物レンズ 5によって収束され、ディスク 3 1の情報層 3 3に照射される。

情報層 3 3において反射された光ビームは、対物レンズ 5およびビームスプリッ夕 9を通って 2個の受光部を有する光検出器 1 0へ入射する。光検出器 1 0は、 2個の受光部がそれぞれ受光した光ビームの強度の差をトラッキング信号としてトラッキングエラ一検出回路 1 1へ出力する。

光ピックアップ 1には、トラッキングァクチユエ一夕 6が設けられている。トラックングァクチユエ一夕 6は、トラッキング駆動回路 1 6からの駆動電流に基づいて、情報媒体 3 1のラジアル方向に沿って対物レンズ 5を移送台 2に対して移動させる。

トラッキングエラー検出回路 1 1は、光検出器 1 0から出力されたトラツキング信号から、前述したプッシュプル方式によってトラッキングエラー信号を検出し、オフセット測定回路 3およびオフセット減算回路 1 2へ出力する。オフセット減算回路 1 2は、トラッキングエラ一検出回路 1 1によって検出されたトラッキングエラー信号から D Cオフセット推定量を表す信号を減算して得られた補正トラッキングエラー信号をトラッキング制御回路 1 3へ出力する。 D Cオフセット推定量については後で詳述する。

トラッキング制御回路 1 3は、オフセット減算回路 1 2から出力された補正トラッキングエラー信号に基づいて、情報層 3 3上に集光した光ビームの位置が情報層 3 3上に形成されたトラックの中心位置を示す制御目標位置に追従するように位相補償するためのトラッキング駆動信号を生成して、スィッチ回路 SW 2へ出力する。

スィッチ回路 S W 2は、システムコントローラ 1 7からの指令に応じて、トラッキング制御回路 1 3から出力されたトラツキング駆動信号とレンズシフト駆動回路 1 8から出力されたレンズシフト駆動信号とのいずれかを選択し、トラツキング駆動回路 1 6へ出力する。トラッキング制御によって、情報層 3 3上に集光した光ビームの位置を情報層 3 3上に形成されたトラックの中心位置を示す制御目標位置に追従させるときは、スィッチ回路 S W 2はトラッキング制御回路 1 3 から出力されたトラッキング駆動信号を選択してトラッキング駆動回路 1 6へ出力する。補正ゲインを決定するための D Cオフセットを測定するとき、または、光ピックアップ 1を情報媒体 3 1のラジアル方向に沿った任意の位置へ移送台 2 によって移送するときは、スィッチ回路 S W 2はレンズシフト駆動回路 1 8から出力されたレンズシフト駆動信号を選択してトラッキング駆動回路 1 6へ出力する。レンズシフト駆動回路 1 8から出力されるレンズシフト駆動信号は、図 2 1 Aを参照して後述する。

トラッキング駆動回路 1 6は、スィッチ回路 S W 2から出力されるトラツキング駆動信号またはレンズシフト駆動信号に応じて、対物レンズ 5を移動させるための駆動電流をトラッキングァクチユエ一夕 6へ出力する。トラックングァクチユエ一夕 6は、トラッキング駆動回路 1 6からの駆動電流に基づいて、情報媒体 3 1のラジアル方向に沿って対物レンズ 5を移送台 2に対して移動させる。次に、 D Cオフセット推定量を詳細に説明する。 D Cオフセット推定量は、対物レンズ 5においてレンズ光軸ずれが生じたときにトラッキングエラー信号に重畳される D Cオフセットの量を推定した値である。 D Cオフセット推定量は、以下のようにして求められる。

オフセット測定回路 3は、トラッキングエラ一検出回路 1 1によって検出されたトラツキングェラー信号の最大値と最小値とを検出し、検出した最大値と最小値との差を演算することによって、トラッキングエラー信号に重畳された D Cォフセットを測定して、補正ゲイン決定回路 4へ出力する。補正ゲイン決定回路 4 は、オフセット測定回路 3によって測定された D Cオフセットに基づいて、補正ゲインを決定し、乗算回路 1 5へ出力する。

トラッキング制御回路 1 3は、トラッキング駆動信号の低周波成分をトラツキング校正信号として光軸ずれ量推定回路 1 4へ出力する。光軸ずれ量推定回路 1 4は、トラッキングァクチユエ一夕 6の出力に応じて動作する対物レンズ 5の動特性に等しい動特性を備えており、トラッキング制御回路 1 3から出力されたトラッキング校正信号に基づいて、トラッキングァクチユエ一夕 6によって駆動される対物レンズ 5のレンズ光軸ずれによる変位に実質的に等しい変位を表す光軸ずれ推定値を表す信号を生成し、乗算回路 1 5へ出力する。

乗算回路 1 5は、補正ゲイン決定回路 4によって決定された補正ゲインと光軸ずれ量推定回路 1 4によって生成された光軸ずれ推定値を表す信号とを乗算して得られた D Cオフセット推定量を表す信号をスィッチ回路 S W 1へ出力する。スイッチ回路 S W 1は、システムコントローラ 1 7による指令に応じてオンオフし、オンすることによって、乗算回路 1 5から出力された D Cオフセット推定量を表す信号をオフセット減算回路 1 2へ与える。

図 1 9および図 2 0を参照して、従来の D Cオフセットを測定する方法を説明する。図 1 9は、従来のオフセット測定方法の原理を説明するための図であり、図 2 0は、従来のオフセット測定方法の原理を説明するためのフローチャートである。図 1 9において、ステップ 9 1、 9 3および 9 5にそれぞれ対応する移送台 2に載置された光ピックアップ 1にそれぞれ対向するディスク 3 1は、図示を省略しているが、各光ピックアップ 1はディスク 3 1にそれぞれ対向している。スィッチ回路 S W 2はレンズシフト駆動回路 1 8から出力されるレンズシフト駆動信号を選択しており、トラッキング駆動回路 1 6にはレンズシフト駆動信号が入力されるものとする。

対物レンズ 5が設けられた光ピックアップ 1は、移送台 2における中立位置上に載置されている。対物レンズ 5が設けられた光ピックアップ 1は、レンズシフト駆動信号に応じてトラッキング駆動回路 1 6が駆動信号を出力するトラツキングァクチユエ一夕 6によって、ディスク 3 1の一方のラジアル方向（例えば、デイスク 1の外周方向）に向かって移送台 2に対して距離 X 1だけ移動する。そして、一方のラジアル方向に向かって距離 X 1だけ移動した光ピックアップ 1が照射し情報層 3 3において反射された光ビームを、光ピックアップ 1に設けられた光検出器 1 0はトラッキング信号に変換し、トラッキングエラー検出回路 1 1は、光検出器 1 0によつて変換されたトラツキング信号からトラッキングエラー信号を検出する。オフセット測定回路 3は、トラッキングエラ一検出回路 1 1によつて検出されたトラッキングエラー信号に基づいて D Cオフセットを測定する（ステツプ 9 1 ) 。

次に、対物レンズ 5が設けられた光ピックアップ 1は、トラッキングァクチュエー夕 6によって駆動されることにより、一方のラジアル方向に向かって中立位置から距離 X 1だけ離れた位置から、他方のラジアル方向（例えば、ディスク 3 1の内周方向）に向かって中立位置から距離 X 1だけ離れた位置までの距離 2 X X 1だけ他方のラジアル方向に向かって移動する。そして、他方のラジアル方向に向かつて距離 2 X X 1だけ移動した光ピックァップ 1が照射し情報層 3 3において反射した光ビームに基づいて、前述した方法と同一の方法によって D Cオフセットを測定する（ステップ 9 3 ) 。その後、対物レンズ 5が設けられた光ピックアップ 1を、中立位置まで移動させる（ステップ 9 5 ) 。このように、 D Cォフセットを測定するときの移送台 2上における光ピックアップ 1の 2つの位置は、中立位置に対して対称な位置になっている。

図 2 1 A〜図 2 1 Cおよび図 2 2を参照して、測定された D Cオフセットに基づいて補正ゲインを決定する方法を説明する。図 2 1 Aは、従来のレンズシフト駆動信号と時間との間の関係を示すグラフである。図 2 1 Bは、従来の対物レンズ 5の位置と時間との間の関係を示すグラフである。図 2 1 Cは、従来のトラッキングエラー信号と時間との間の関係を示すグラフである。図 2 2は、従来のォフセット測定方法の手順を示すフローチャートである。図 2 0を参照して前述したフローチャートの構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略する。

光ピックアップ 1が照射する光ビームは、ディスク 3 1の情報層 3 3に設けられたトラックの上に位置決めされており、光検出器 1 0は情報層 3 3において反射された光ビームを受光してトラッキング信号に変換することができる状態であるものとする。最初に、レンズシフト駆動回路 1 8は、システムコントローラ 1 7からの指令に応じて、図 2 1 Aに示すように、光ピックアップ 1に設けられた対物レンズ 5 を一方のラジアル方向に向かって一定の速度で距離 X 1だけ移動させるためのレンズシフト駆動信号をスィッチ回路 S W 2を介してトラッキング駆動回路 1 6へ出力する。トラッキング駆動回路 1 6は、レンズシフト駆動回路 1 8から出力されたレンズシフト駆動信号に基づいて、トラッキングァクチユエ一夕 6を駆動するための駆動電流を出力する。トラッキングァクチユエ一夕 6は、トラッキング駆動回路 1 6から出力された駆動電流に応じて、図 2 1 Bに示すように、一方のラジアル方向に向かって一定の速度で移送台 2上の中立位置から距離 X 1だけ対物レンズ 5を移動させる（ステップ 9 1 ) 。

このように対物レンズ 5がー方のラジアル方向に向かって移送台 2上の中立位置から距離 X 1だけ移動すると、図 2 1 Cに示すように、トラッキングエラー検出回路 1 1によって検出されるトラッキングエラー信号にレンズ光軸ずれに起因する D Cオフセット O S 1 1が重畳する。オフセット測定回路 3は、トラツキングエラー検出回路 1 1によって検出されたトラッキングエラー信号の最大値と最小値とを測定し、測定した最大値と最小値とに基づいて D Cオフセッ卜 O S 1 1 を得る（ステップ 9 2 ) 。

次に、レンズシフト駆動回路 1 8は、図 2 1 Aに示すように、対物レンズ 5を他方のラジアル方向に向かって一定の速度で距離 2 X X 1だけ移動させるためのレンズシフト駆動信号をスィッチ回路 S W 2を介してトラッキング駆動回路 1 6 へ出力する。トラッキング駆動回路 1 6は、レンズシフト駆動信号に基づいて、トラッキングァクチユエ一夕 6を駆動するための駆動電流を出力する。トラツキングァクチユエ一夕 6は、トラッキング駆動回路 1 6から出力された駆動電流に応じて、図 2 1 Bに示すように、他方のラジアル方向に向かって一定の速度で移送台 2上の中立位置から他方のラジアル方向に向かって距離 X 1だけ離れた位置へ対物レンズ 5を移動させる（ステップ 9 3 ) 。このように対物レンズ 5が移送台 2上の中立位置から他方のラジアル方向に向かって距離 X 1だけ離れた位置へ移動すると、図 21 Cに示すように、トラツキングエラー検出回路 1 1によって検出されるトラッキングエラー信号に DCオフセット OS 1 1とは逆特性の DCオフセット OS 12が重畳する。オフセッ卜測定回路 3は、トラッキングエラ一検出回路 1 1によって検出されたトラッキングエラー信号の最大値と最小値とを測定し、測定した最大値と最小値とに基づいて DCオフセット OS 12を得る（ステップ 94) 。

その後、レンズシフト駆動回路 18は、図 21 Aに示すように、対物レンズ 5 を一方のラジアル方向に向かって一定の速度でステップ 91を実行する以前の初期位置へ移動させるためのレンズシフト駆動信号をスィツチ回路 SW 2を介してトラッキング駆動回路 16へ出力する。トラッキング駆動回路 16は、レンズシフト駆動信号に基づいて、トラッキングァクチユエ一夕 6を駆動するための駆動電流を出力する。トラッキングァクチユエ一夕 6は、トラッキング駆動回路 16 から出力された駆動電流に応じて、図 21 Bに示すように、対物レンズ 5を初期位置へ移動させる（ステップ 95) 。

そして、補正ゲイン決定回路 4は、ステップ 92において測定した DCオフセット OS 1 1と、ステップ 94において測定した DCオフセット OS 12と、ステツプ 93において対物レンズ 5を移動させた距離 2 XX 1 (=X 1 +X 1) と、下記に示す（式 1) とに基づいて、補正ゲインを決定する（ステップ 96) 。

補正ゲイン ={OS 1 1 +OS 12}ノ {X 1 +X 1} · · · (式 1 )

その後、スィッチ回路 SW 2は、システムコントローラ 17からの指示によつて、トラッキング制御回路 13から出力されたトラッキング駆動信号を選択して、トラッキング駆動回路 16へ出力する。トラッキング駆動回路 16は、トラツキング駆動信号に基づいてトラッキングァクチユエ一夕 6を駆動するための駆動電流を出力し、トラッキングァクチユエ一夕 6は、トラッキング駆動回路 16から出力された駆動電流に応じて、対物レンズ 5を駆動する。その結果、対物レンズ 5によって収束されディスク 3 1の情報層 3 3に照射された光ビームは、情報層 3 3に設けられたトラックの中心の近傍に位置決めされる。

次に、システムコントローラ 1 7からの指示によって、スィッチ回路 S W 1がオンになり、乗算回路 1 5から出力された D Cオフセット推定量を表す信号がォフセット減算回路 1 2へ入力される。オフセット減算回路 1 2は、入力された D Cオフセット推定量を表す信号をトラッキングエラー信号から減算することによつて得られた補正トラッキング信号をトラッキング制御回路 1 3へ出力する。この結果、トラッキング制御における制御目標値は、トラッキングエラー信号に重畳した D Cオフセットを減算補正した値になるために、対物レンズ 5によって収束されディスク 3 1の情報層 3 3に照射された光ビームは、情報層 3 3に設けられたトラックの実質的な中心に位置決めされる。

このように、何らかの原因によって対物レンズ 5においてレンズ光軸ずれが発生して D Cオフセッ卜がトラッキングエラー信号に重畳したとしても、スィツチ回路 S W 1が閉じている限り、対物レンズ 5によって収束されディスク 3 1の情報層 3 3に照射された光ビームを、情報層 3 3に設けられたトラックの実質的な中心に位置決めすることができる。このため、情報層 3 3に対して情報信号を安定して記録再生することができる。

しかしながら、前述したような従来の D Cオフセットを測定する方法においては、図 1 9に示すように、ステップ 9 1における 1回目の D Cオフセット測定のために光ピックアップ 1から出射された光ビームが照射される情報層 3 3上の位置と、ステップ 9 3における 2回目の D Cオフセット測定のために光ピックアツプ 1から出射された光ビームが照射される情報層 3 3上の位置とが異なっているために、このような光ビームが照射される異なる 2個の位置の間において情報層 3 3の反射特性または透過特性が異なっていると、 D Cオフセットを精度良く測定することができないおそれがあるという問題がある。

例えば、ステップ 9 1における 1回目の D Cオフセット測定のために光ピックアップ 1から出射された光ビームが照射される情報層 3 3上の位置と、ステップ 9 3における 2回目の D Cオフセット測定のために光ピックアップ 1から出射された光ビームが照射される情報層 3 3上の位置とのいずれか一方の位置において、情報層 3 3の上にゴミ、埃または回復することが不可能な欠陥（以下「欠陥」という）が存在すると、欠陥が存在する位置において反射された光ビームが、レンズ光軸ずれの影響によって変動するのみならず、欠陥の影響によっても変動する。このため、トラッキングエラー検出回路 1 1によって検出されるトラッキングェラ一信号にレンズ光軸ずれの影響による D Cオフセッ卜以外の信号も重畳する。その結果、 D Cオフセットを精度良く測定することができない。

また、多様化した複数種類のディスクを共通の記録再生装置に対して交換して使用するときには、記録再生装置に装着されたディスクに記録された情報を再生してみなければ、トラッキングエラ一信号に重畳した D Cオフセットを D Cオフセット推定量を表す信号によって補正すべきディスク上の領域であるか否かを判断することができないという問題がある。

本発明はこのような問題を解決するために為されたものであり、その目的は、レンズ光軸ずれによってトラッキングエラー信号に重畳した D Cオフセットを精度よく測定することができるオフセット測定方法および記録再生装置を提供することにある。

本発明の他の目的は、トラッキングエラー信号に重畳した D Cオフセットを D Cオフセッ卜推定量を表す信号によって補正すべきディスク上の領域を決定することができるオフセット測定方法および記録再生装置を提供することにある。発明の開示

本発明に係るオフセット測定方法は、情報媒体のラジアル方向に沿って駆動自在に移送手段上に載置された光ピックアツプを備えた記録再生装置において該情報媒体によって反射された光ビームに基づいてトラッキングエラ一信号に重畳されたオフセットを測定するオフセット測定方法であって、該光ピックアップから該情報媒体上の第 1測定位置へ光ビームを照射して、該第 1測定位置において反射された該光ビームに基づいて第 1オフセット量を測定する第 1オフセット量測定工程と、該第 1オフセット量測定工程の後で、該光ピックアップを載置した該移送手段を該ラジアル方向に沿った第 1方向に向かって第 1距離だけ移動させる移送手段移動工程と、該第 1方向とは反対の第 2方向に向かつて該移送手段上において該光ピックアップを該第 1距離とは実質的に等しい第 2距離だけ駆動する第 1光ピックアツプ駆動工程と、該移送手段移動工程および該第 1光ピックアツプ駆動工程の後で、該光ピックアツプから該情報媒体上の第 2測定位置へ光ビームを照射して、該第 2測定位置において反射された該光ビームに基づいて第 2ォフセット量を測定する第 2オフセット量測定工程とを包含することを特徴とし、そのことにより上記目的が達成される。

前記移送手段移動工程は、前記第 1光ピックアツプ駆動工程の前に実行されてもよい。

前記第 1オフセット量測定工程の前に、前記ラジアル方向に沿った第 3方向に向かって前記移送手段上において該光ピックァップを第 3距離だけ駆動する第 2 光ピックアップ駆動工程をさらに包含してもよい。

前記第 3方向は、前記第 1方向と同一の方向であってもよい。

前記第 3方向は、前記第 1方向と反対の方向であってもよい。

前記第 2光ピックアップ駆動工程は、前記移送手段上の中立位置から前記第 3 距離だけ前記光ピックアツプを駆動してもよい。

前記情報媒体には、前記光ビームが照射されるための溝が形成されており、該光ビームは、波長 λを有しており、該溝の深さは、 λ Ζ 8以上 λΖ 6以下になつていてもよい。

前記情報媒体には、光熱変換によって情報信号が記録されてもよい。

前記第 1および前記第 2オフセット量測定工程によってそれぞれ測定された前記第 1および前記第 2オフセット量に基づいて、前記移送手段に対する前記光ピックアップのオフセット特性を表す補正ゲインを決定する補正ゲイン決定工程をさらに包含してもよい。

前記補正ゲイン決定工程によって決定された前記補正ゲインの値に応じて、前記移送手段に対する前記光ピックアップのオフセットを補正する工程をさらに包含してもよい。

前記光ピックアツプから前記情報媒体上の前記ラジアル方向に沿つた第 3媒体位置へ光ビームを照射して、該第 3媒体位置において反射された該光ビームに基づいて、プッシュプル方式によって第 1 トラッキングエラー信号を検出する第 1 トラッキングエラ一信号検出工程と、該第 3媒体位置において反射された該光ビ —ムに基づいて、位相差方式によって第 2トラッキングエラー信号を検出する第第 2トラッキングエラー信号検出工程と、該第 1 トラッキングエラー信号検出ェ程によって検出された該第 1 トラッキングエラー信号と該第 2トラッキングエラ —信号検出工程によって検出された該第 2トラッキングエラー信号とに基づいて、前記移送手段に対する前記光ピックアップの前記オフセットを該第 3媒体位置において補正すべきか否かを決定する工程とをさらに包含してもよい。

本発明に係る記録再生装置は、情報媒体のラジアル方向に沿って駆動自在に移送手段上に載置された光ピックアップと、該光ピックアップから該情報媒体上の第 1測定位置へ照射され、該第 1測定位置において反射された光ビームに基づいて第 1オフセット量を測定するオフセット量測定手段と、該オフセット量測定手段が該第 1オフセット量を測定した後で、該光ピックアップを載置した該移送手段を該ラジアル方向に沿った第 1方向に向かって第 1距離だけ移動させる制御手段と、該オフセット量測定手段が該第 1オフセット量を測定した後で、該第 1方向とは反対の第 2方向に向かって該移送手段上において該光ピックアツプを該第 1距離とは実質的に等しい第 2距離だけ駆動する駆動手段とを具備しており、該オフセット量測定手段は、該制御手段が該第 1方向に向かって該第 1距離だけ該移送手段を移動させた後であって、かつ、該駆動手段が該第 2方向に向かって該第 2距離だけ該光ピックァップを駆動した後で、該光ピックァップから該情報媒体上の第 2測定位置へ照射され、該第 2測定位置において反射された光ビームに基づいて第 2オフセット量を測定し、そのことにより上記目的が達成される。図面の簡単な説明

図 1は、実施の形態 1に係る記録再生装置の構成図である。

図 2は、実施の形態 1に係るオフセット測定方法の原理を説明するための図である。

図 3は、実施の形態 1に係るオフセット測定方法の原理を説明するためのフロ一チヤ一卜である。

図 4 Aは、実施の形態 1に係るレンズシフト駆動信号と時間との間の関係を示すグラフである。

図 4 Bは、実施の形態 1に係る対物レンズの位置と時間との間の関係を示すグラフである。

図 4 Cは、実施の形態 1に係るトラッキングエラ一信号と時間との間の関係を示すグラフである。

図 5は、実施の形態 1に係るオフセット測定方法の手順を示すフローチャートである。

図 6 Aは、実施の形態 1に係る他のオフセット測定方法の原理を説明するための図である。

図 6 Bは、実施の形態 1に係る他のオフセッ卜測定方法の原理を説明するためのフローチヤ一トである。

図 7 Aは、実施の形態 1に係るさらに他のオフセット測定方法の原理を説明するための図である。

図 7 Bは、実施の形態 1に係るさらに他のオフセット測定方法の原理を説明するためのフローチヤ一卜である。

図 8 Aは、実施の形態 1に係るさらに他のオフセット測定方法の原理を説明するための図である。

図 8 Bは、実施の形態 1に係るさらに他のオフセット測定方法の原理を説明するためのフローチャートである。

図 9は、実施の形態 2に係る記録再生装置の構成図である。

図 1 O Aは、実施の形態 2に係るトラッキングエラー信号と時間との間の関係を示すグラフである。

図 1 0 Bは、実施の形態 2に係る比較信号と時間との間の関係を示すグラフである。

図 1 0 Cは、実施の形態 2に係る領域判別信号と時間との間の関係を示すダラフである。

図 1 1 Aは、実施の形態 2に係る他のトラッキングエラー信号と時間との間の関係を示すグラフである。

図 1 1 Bは、実施の形態 2に係る他の比較信号と時間との間の関係を示すダラフである。

図 1 1 Cは、実施の形態 2に係る他の領域判別信号と時間との間の関係を示すグラフである。

図 1 2は、実施の形態 3に係る記録再生装置の構成図である。

図 1 3 Aは、実施の形態 3に係る補正ゲインと時間との間の関係を示すグラフである。

図 1 3 Bは、実施の形態 3に係る補正実行判定信号と時間との間の関係を示すグラフである。

図 1 4は、従来の記録再生装置におけるトラッキング制御の原理を示すブロック図である。

図 1 5は、トラックの溝の深さとトラッキング信号の強度との間の関係を示すグラフである。

図 1 6は、光ビームの中心位置と受光部との位置関係を説明する図である。図 1 7は、従来のオフセットを補正する機能を備えたトラッキング制御の原理を示すブロック図である。

図 1 8は、従来の記録再生装置の構成図である。

図 1 9は、従来のオフセット測定方法の原理を説明するための図である。

図 2 0は、従来のオフセット測定方法の原理を説明するためのフローチャートである。

図 2 1 Aは、従来のレンズシフト駆動信号と時間との間の関係を示すグラフである。

図 2 1 Bは、従来の対物レンズの位置と時間との間の関係を示すグラフである図 2 1 Cは、従来のトラッキングエラー信号と時間との間の関係を示すグラフである。

図 2 2は、従来のオフセット測定方法の手順を示すフローチャートである。発明を実施するための最良の形態

本実施の形態に係る記録再生装置は、ディスクによって反射された光ビームから検出されたトラッキングエラ一信号に重畳した D Cオフセットを測定する。

(実施の形態 1 )

図 1は、実施の形態 1に係る記録再生装置 5 0の構成図である。記録再生装置

5 0が情報を記録再生するディスク 3 1は、基板 3 2を有しており、基板 3 2の上には情報を記録再生するための情報層 3 3が形成されている。情報層 3 3には、光熱変換によって情報が記録される。記録再生装置 5 0は、ディスク 3 1に形成された情報層 3 3に対向するように設けられた光ピックアップ 1を備えている。光ピックアップ 1は、移送台 2の上に載置されている。光ピックアップ 1を載置した移送台 2は、システムコントローラ 1 7からの指令に基づいて情報媒体 3 1のラジアル方向に沿って光ピックアップ 1を移送する。このように、光ピックアップ 1は、移送台 2によって移送され、情報媒体 3 1のラジアル方向に沿った任意の位置へ移動して、情報層 3 3に対して光ビームを照射して情報信号を記録再生することができる。

光ピックアップ 1は、光源 7を有している。光源 7は、赤色半導体レーザによつて構成されており、波長 6 5 0ナノメータ（n m) の光ビームを発振して、コリメ一夕レンズ 8に向かって出射する。光源 7から出射された光ビーム（以下「出射光」ともいう）は、コリメ一夕レンズ 8によって平行光に変換され、ビームスプリッ夕 9を通って、対物レンズ 5によって収束され、ディスク 3 1の情報層 3 3に照射される。

トラッキングエラ一検出回路 1 1は、光検出器 1 0から出力されたトラツキング信号から、前述したプッシュプル方式によって、 D Cオフセットが重畳されたトラッキングエラー信号を検出し、オフセット測定回路 3およびオフセット減算回路 1 2へ出力する。オフセット減算回路 1 2は、トラッキングエラー検出回路 1 1によって検出されたトラッキングエラー信号から D Cオフセット推定量を表す信号を減算して得られた補正トラッキングエラー信号をトラッキング制御回路 1 3へ出力する。 D Cオフセット推定値を表す信号については、後述する。

トラッキング制御回路 1 3は、オフセッ卜減算回路 1 2から出力された補正卜ラッキングエラー信号に基づいて、情報層 3 3上に集光した光ビームの位置が情報層 3 3上に形成されたトラックの中心位置を示す制御目標位置に追従するように位相補償するためのトラッキング駆動信号を生成して、スィッチ回路 S W 2へ出力する。

スィッチ回路 S W 2は、システムコントローラ 1 7からの指令に応じて、トラッキング制御回路 1 3から出力されたトラツキング駆動信号とレンズシフト駆動回路 1 8から出力されたレンズシフト駆動信号とのいずれかを選択し、トラツキング駆動回路 1 6へ出力する。トラッキング制御によって、情報層 3 3上に集光した光ビームの位置を情報層 3 3上に形成されたトラックの中心位置を示す制御目標位置に追従させるときは、スィッチ回路 S W 2はトラッキング制御回路 1 3 から出力された卜ラッキング駆動信号を選択してトラツキング駆動回路 1 6へ出力する。補正ゲインを決定するための D Cオフセットを測定するとき、または、光ピックアップ 1を情報媒体 3 1のラジアル方向に沿った任意の位置へ移送台 2 によって移送するときは、スィッチ回路 S W 2はレンズシフト駆動回路 1 8から出力されたレンズシフト駆動信号を選択してトラッキング駆動回路 1 6へ出力する。

トラッキング駆動回路 1 6は、スィッチ回路 S W 2から出力されるトラツキング駆動信号またはレンズシフト駆動信号に応じて、対物レンズ 5を移動させるための駆動電流をトラッキングァクチユエ一夕 6へ出力する。トラックングァクチユエ一夕 6は、トラッキング駆動回路 1 6からの駆動電流に基づいて、情報媒体 3 1のラジアル方向に沿って対物レンズ 5を移送台 2に対して移動させる。オフセット測定回路 3は、トラッキングエラ一検出回路 1 1によって検出されたトラッキングエラー信号の最大値と最小値とを検出し、検出した最大値と最小値との差を演算することによって、トラッキングエラ一信号に重畳された D Cォフセットを測定して、補正ゲイン決定回路 4へ出力する。補正ゲイン決定回路 4 は、オフセット測定回路 3によって測定された D Cオフセットに基づいて、補正ゲインを決定し、乗算回路 1 5へ出力する。

トラッキング制御回路 1 3は、トラッキング駆動信号の低周波成分をトラツキング校正信号として光軸ずれ量推定回路 1 4へ出力する。光軸ずれ量推定回路 1 4は、トラッキングァクチユエ一夕 6の出力に応じて動作する対物レンズ 5の動特性に等しい動特性を備えており、トラッキング制御回路 1 3から出力されたトラッキング校正信号に基づいて、レンズ光軸ずれに起因する対物レンズ 5の変位に実質的に等しい変位を表す光軸ずれ推定値を表す信号を生成し、乗算回路 1 5 へ出力する。

乗算回路 1 5は、補正ゲイン決定回路 4によって決定された補正ゲインと光軸ずれ量推定回路 1 4によって生成された光軸ずれ推定値を表す信号とを乗算して得られた D Cオフセット推定量を表す信号をスィッチ回路 S W 1へ出力する。スィツチ回路 S W 1は、システムコントローラ 1 7による指令に応じてオンオフし、オンすることによって、乗算回路 1 5から出力された D Cオフセット推定量を表す信号をオフセット減算回路 1 2へ与える。

このように構成された実施の形態 1に係る記録再生装置 5 0が D Cオフセットを測定する方法を図 2および図 3を参照して説明する。図 2は、実施の形態 1に係るオフセット測定方法の原理を説明するための図であり、図 3は、実施の形態 1に係るオフセッ卜測定方法の原理を説明するためのフローチャートである。図 2において、ステップ 1 ~ 7にそれぞれ対応する移送台 2に載置された光ピックアップ 1にそれぞれ対向するディスク 3 1は、図示を省略しているが、各光ピックアップ 1はディスク 3 1にそれぞれ対向している。スィッチ回路 S W 2はレンズシフト駆動回路 1 8から出力されるレンズシフト駆動信号を選択しており、トラッキング駆動回路 1 6にはレンズシフト駆動信号が入力されているものとする。対物レンズ 5 (図 1 ) が設けられた光ピックアップ 1は、移送台 2における中立位置上に載置されている。対物レンズ 5が設けられた光ピックアップ 1は、レンズシフト駆動信号に応じてトラッキング駆動回路 1 6が駆動信号を出力するトラッキングァクチユエ一夕 6によって、ディスク 3 1の一方のラジアル方向（例えば、ディスク 1の外周方向）に向かって移送台 2に対して距離 X 1だけ移動する（ステップ 1 ) 。

そして、一方のラジアル方向に向かって距離 X 1だけ移動した光ピックアップ 1は、情報層 3 3上のラジアル方向に沿った第 1測定位置へ光ビームを照射する。光ピックアップ 1に設けられた光検出器 1 0 (図 1 ) は、情報層 3 3上の第 1測定位置において反射された光ビームをトラッキング信号に変換する。トラツキングエラー検出回路 1 1は、光検出器 1 0によって変換されたトラッキング信号からトラッキングエラ一信号を検出する。オフセット測定回路 3は、トラッキングエラ一検出回路 1 1によって検出されたトラッキングエラー信号に基づいて D C オフセットを測定する（ステップ 2 ) 。

次に、光ピックアップ 1を載置した移送台 2を、ディスク 3 1の一方のラジアル方向に向かって距離 Y 1だけ移動させる（ステップ 3 ) 。距離 Y 1は、ステツプ 1において光ピックアップ 1が移送台 2上を移動した距離 X 1よりも長くなるように設定されている。

その後、対物レンズ 5が設けられた光ピックアップ 1は、トラッキングァクチユエ一夕 6によって駆動されることにより、移送台 2上の中立位置から一方のラジアル方向に向かって距離 X 1だけ離れた位置から、他方のラジアル方向（例えば、ディスク 3 1の内周方向）に向かって中立位置から距離 X 2だけ離れた位置までの距離（X 1 + X 2 ) だけ他方のラジアル方向に向かって移送台 2上を移動する（ステップ 4 ) 。

そして、他方のラジアル方向に向かって距離（X 1 + X 2 ) だけ移送台 2上を移動した光ピックアップ 1は、情報層 3 3上のラジアル方向に沿った第 2測定位置へ光ビームを照射する。次に、情報層 3 3上の第 2測定位置において反射した光ビームに基づいて、ステップ 2において前述した方法と同一の方法によって D Cオフセット O S 2を測定する（ステップ 5 ) 。ここで、ステップ 3において光ピックアップ 1を載置した移送台 2がー方のラジアル方向に向かって移動する距離 Y 1とステップ 4において光ピックアップ 1 が他方のラジアル方向に向かって移送台 2上を移動する距離（X 1 + X 2 ) とは、互いに等しくなるように設定されている。従って、 D Cオフセットを測定するためにステップ 2において光ピックアップ 1が出射する光ビームが照射される情報層 3 3上のラジアル方向に沿った第 1測定位置と、ステップ 5において光ピックアップ 1が出射する光ビームが照射される情報層 3 3上のラジアル方向に沿った第 2測定位置とは、実質的に同じ位置になる。

このため、ステップ 2での 1回目の D Cオフセット測定における情報層 3 3の反射特性または透過特性は、ステップ 5での 2回目の D Cオフセット測定における情報層 3 3の反射特性または透過特性と実質的に同一になる。その結果、光ビームが照射される異なる 2個の位置の間において情報層 3 3の反射特性または透過特性が異なるという前述した問題が生じないために、レンズ光軸ずれによってトラッキングエラー信号に重畳する D Cオフセットを精度良く測定することができる。

その後、移送台 2上の中立位置まで一方のラジアル方向に向かって距離 X 2だけ移送台 2に対して光ピックアップ 1を移動させる（ステップ 6 ) 。そして、移送台 2上の中立位置まで移動した光ピックアップ 1を載置した移送台 2を、ディスク 3 1の他方のラジアル方向に向かって距離 Y 1だけ移動させて、光ピックァップ 1および移送台 2を初期位置に戻す（ステップ 7 ) 。

図 4 A〜図 4 Cおよび図 5を参照して、測定された D Cオフセッ卜に基づいて補正ゲインを決定する方法を説明する。図 4 Aは、実施の形態 1に係るレンズシフト駆動信号と時間との間の関係を示すグラフであり、図 4 Bは、実施の形態 1 に係る光ピックアップ 1の位置と時間との間の関係を示すグラフである。図 4 C は、実施の形態 1に係るトラッキングエラー信号と時間との間の関係を示すダラフである。図 5は、実施の形態 1に係る測定された D Cオフセットに基づいて補正ゲインを決定する方法の手順を示すフローチヤ一トである。図 3を参照して前述したオフセット測定方法の原理を説明するためのフローチャートの構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略する。光ピックアップ 1が照射する光ビームは、ディスク 3 1の情報層 3 3に設けられたトラックの上に位置決めされており、光ピックアップ 1に設けられた光検出器 1 0は情報層 3 3において反射された光ビームを受光してトラッキング信号に変換することができる状態であるものとする。

最初に、レンズシフト駆動回路 1 8は、システムコントローラ 1 7からの指令に応じて、図 4 Aに示すように、光ピックアップ 1に設けられた対物レンズ 5を一方のラジアル方向に向かって一定の速度で距離 X 1だけ移動させるためのレンズシフト駆動信号をスィッチ回路 S W 2を介してトラツキング駆動回路 1 6へ出力する。トラッキング駆動回路 1 6は、レンズシフト駆動回路 1 8から出力されたレンズシフト駆動信号に基づいて、トラッキングァクチユエ一夕 6を駆動するための駆動電流を出力する。トラッキングァクチユエ一夕 6は、トラッキング駆動回路 1 6から出力された駆動電流に応じて、図 2および図 4 Bに示すように、移送台 2上の中立位置から一方のラジアル方向に向かって距離 X 1だけ対物レンズ 5が設けられた光ピックアップ 1を移送台 2に対して一定の速度で移動させる (ステップ 1 ) 。

このように移送台 2上の中立位置から一方のラジアル方向に向かって距離 X 1 だけ移動した光ピックアップ 1は、情報層 3 3上のラジアル方向に沿った第 1測定位置へ光ビームを照射する。光ピックアップ 1に設けられた光検出器 1 0は、第 1測定位置において反射された光ビームをトラッキング信号に変換する。トラッキングエラ一検出回路 1 1は、トラッキング信号からトラッキングエラ一信号を検出する。トラッキングエラー検出回路 1 1によって検出されたトラッキングエラー信号には、図 4 Cに示すように、レンズ光軸ずれに起因して D Cオフセット O S 1が重畳している。オフセット測定回路 3は、トラッキングエラ一検出回路 1 1によつて検出されたトラツキングェラー信号の最大値と最小値とを測定し、測定した最大値と最小値とに基づいてトラッキングエラー信号に重畳した DCォフセット OS 1を得る（ステップ 2) 。

次に、ステップ 1において光ピックアップ 1が移送台 2上を移動した距離 X 1 とステップ 2においてオフセット測定回路 3が測定した DCオフセッ卜 OS 1とを補正ゲイン決定回路 4に設けられた図示しない記憶回路に記憶する（ステップ 2- 1) 。

その後、光ピックアップ 1を載置した移送台 2をディスク 31の一方のラジアル方向に向かって、距離 XIよりも長い距離 Y 1だけ移動させる（ステップ 3) 。次に、対物レンズ 5が設けられた光ピックアップ 1は、トラッキングァクチユエ —夕 6によって駆動されることにより、図 2および図 4 Bに示すように、移送台 2上の中立位置から一方のラジアル方向に向かって距離 X 1だけ離れた位置から、中立位置から他方のラジアル方向に向かって距離 X 2だけ離れた位置までの距離 (X 1 +X2) だけ他方のラジアル方向に向かって移送台 2上を移動する（ステップ 4) 。

そして、他方のラジアル方向に向かって距離（X 1 +X2) だけ移送台 2上を移動した光ピックアップ 1は、情報層 33上の第 1測定位置と実質的に同じ位置である第 2測定位置へ光ビームを照射する。次に、情報層 33上の第 2測定位置において反射した光ビームに基づいて、ステップ 2において前述した方法と同一の方法によって DCオフセット OS 2を測定する（ステップ 5) 。

次に、ステップ 4において光ピックアップ 1が移送台 2上を移動した距離（X 1 +X2) から距離 X 1を減算した距離 X 2とステップ 5においてオフセット測定回路 3が測定した DCオフセット OS 2とを補正ゲイン決定回路 4に設けられた図示しない記憶回路に記憶する（ステップ 5— 1) 。

その後、対物レンズ 5が設けられた光ピックアップ 1を、移送台 2上の中立位置まで一方のラジアル方向に向かって距離 X 2だけ移動させる（ステップ 6) 。そして、移送台 2上の中立位置まで移動した光ピックアップ 1を載置した移送台 2を、ディスク 31の他方のラジアル方向に向かって距離 Y 1だけ移動させて、光ピックアップ 1および移送台 2を初期位置に戻す（ステップ 7) 。

そして、補正ゲイン決定回路 4は、ステップ 2— 1において図示しない記憶回路に記憶した光ピックアップ 1の移動距離 X 1および DCオフセッ卜 OS 1と、ステップ 5 _ 1において記憶回路に記憶した光ピックアップ 1の移動距離 X 2および DCオフセット OS 2と、下記に示す（式 2) とに基づいて、補正ゲインを決定する（ステップ 8) 。

補正ゲイン ={OS 1 +OS 2}Z{X 1 +X2} · · · (式 2)

以上のように実施の形態 1によれば、ディスク 31のラジアル方向に沿って駆動自在に移送台 2上に載置された光ピックアップ 1から情報媒体 31上のラジアル方向に沿った第 1測定位置へ光ビームを照射して、第 1測定位置において反射された光ビームに基づいて DCオフセット OS 1を測定する第 1オフセット量測定工程（ステップ 2) と、第 1オフセット量測定工程の後で、光ピックアップ 1 を載置した移送台 2を」方のラジアル方向に向かって距離 Y 1だけ移動させる移送手段移動工程（ステップ 3) と、第 1オフセット量測定工程の後で、他方のラジアル方向に向かって移送台 2上において光ピックアップ 1を距離（X 1 +X 2) だけ駆動する第 1光ピックアップ駆動工程（ステップ 4) と、移送手段移動工程（ステップ 3) および第 1光ピックアップ駆動工程（ステップ 4) の後で、光ピックアップ 1からディスク 31上のラジアル方向に沿った第 2測定位置へ光ビームを照射して、第 2測定位置において反射された光ビームに基づいて DCォフセット OS 2を測定する第 2オフセット量測定工程（ステップ 5— 1) とを包含しており、距離（X1 +X2) は、距離 Y 1と実質的に等しくなつている。このため、ステップ 5において光ビームが照射される第 2測定位置は、ステツプ 2において光ビームが照射される第 1測定位置と実質的に同じ位置になる。従つて、ステップ 2における 1回目の DCオフセッ卜測定において光ビームが照射される情報層 33の反射特性または透過特性は、ステップ 5における 2回目の D Cオフセッ卜測定において光ビームが照射される情報層 33の反射特性または透過特性と実質的に同一になる。その結果、光ビームが照射される異なる 2個の位置の間において情報層 33の反射特性または透過特性が異なるという前述した問題が生じないために、レンズ光軸ずれによってトラッキングエラー信号に重畳する DCオフセットを精度良く測定することができる。

実施の形態 1においては、距離（X1 +X2) が距離 Y 1と実質的に等しい例を説明している。しかし、本発明は、これに限定されない。距離（X 1 +X2) は、第 2測定位置が第 1測定位置の近傍になる程度に、距離 Y 1とわずかに異なつていてもよい。その理由は、以下に述べるとおりである。ステップ 5において 2回目に DCオフセットを測定する第 2測定位置がステツプ 2において 1回目に D Cオフセットを測定した第 1測定位置の近傍であれば、 1回目の D Cオフセット測定での情報層 33の反射特性または透過特性と 2回目の DCオフセット測定での情報層 33の反射特性または透過特性との間の差異は、第 2測定位置が第 1 測定位置から離れている前述した従来技術の構成における反射特性または透過特性の差異よりもはるかに小さくなる。このため、レンズ光軸ずれによってトラッキングエラ一信号に重畳する DCオフセットを、前述した従来技術よりも格段に精度良く測定することができるからである。

実施の形態 1においては、第 1光ピックアップ駆動工程（ステップ 4) の前に移送手段移動工程（ステップ 3) を実行する例を示しているが、本発明はこれに限定されない。移送手段移動工程（ステップ 3) は第 1光ピックアップ駆動工程 (ステップ 4) の後で実行してもよい。

距離（X 1 +X2) は、距離 Y 1と完全に同一であることが最も好ましい。なぜなら、ステップ 5において光ビームが照射される第 2測定位置はステップ 2において光ビームが照射される第 1測定位置と完全に同一の位置になるために、ステツプ 2における 1回目の DCオフセット測定での情報層 33の反射特性または透過特性は、ステップ 5における 2回目の D Cオフセット測定での情報層 3 3の反射特性または透過特性と完全に同一になるからである。

ステップ 3において移送台 2が移動する距離 Y 1は、ステップ 1において光ピックアップ 1が移送台 2上を移動する距離 X 1よりも長くなるように設定されているので、ステップ 2において 1回目に D Cオフセットを測定するときは移送台 2の中立位置に対してディスク 3 1の外周側にシフトしている光ピックアップ 1 は、ステップ 5において 2回目に D Cオフセットを測定するときは移送台 2の中立位置に対してディスク 3 1の内周側にシフトしている。

このため、 D Cオフセットを測定するときの移送台 2上の光ピックアップ 1の 2つの位置が中立位置を挟んだより広い範囲をカバーするので、移送台 2上の光ピックアップ 1の位置に対する D Cオフセッ卜の特性を表すレンズシフト特性をより正確に測定することができる。

距離 X Iは、距離 X 2と等しくなるように設定することが好ましい。なぜなら、 1回目に D Cオフセットを測定するときのステップ 2における光ピックアップ 1 の移送台 2上の位置と 2回目に D Cオフセットを測定するときのステップ 5における光ピックアップ 1の移送台 2上の位置とが移送台 2の中立位置に関して対称になるために、測定したレンズシフト特性に対する信頼性を向上させることができるからである。

図 6 Aは、実施の形態 1に係る他のオフセット測定方法の原理を説明するための図である。図 6 Bは、他のオフセット測定方法の手順を示すフローチャートである。図 2および図 3を参照して前述したオフセット測定方法における構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略する。前述したオフセット測定方法と異なる点は、距離 Y 1が距離 X 1以下となっている点（ステップ 3 A) 、および距離 Y 1が距離 X 2と実質的に等しくなつている点（ステップ 4 A) である。

図 6 Aおよび図 6 Bを参照すると、対物レンズ 5が設けられた光ピックアップ 1は、移送台 2における中立位置上に載置されている。光ピックアップ 1は、トラッキングァクチユエ一夕 6によって、ディスク 3 1の一方のラジアル方向に向力て移送台 2に対して距離 X Iだけ移動する（ステップ 1 ) 。

そして、一方のラジアル方向に向かって距離 X 1だけ移動した光ピックアップ 1は、情報層 3 3上の第 1測定位置へ光ビームを照射する。光ピックアップ 1に設けられた光検出器 1 0は、情報層 3 3上の第 1測定位置において反射された光ビームをトラッキング信号に変換し、トラッキングエラー検出回路 1 1は、トラッキング信号からトラッキングエラ一信号を検出する。オフセット測定回路 3は、トラッキングエラー信号に基づいて D Cオフセットを測定する（ステップ 2 ) 。

次に、光ピックアップ 1を載置した移送台 2を、距離 Y 1だけディスク 3 1の一方のラジアル方向に向かって移動させる。距離 Y 1は、ステップ 1において光ピックアップ 1が移送台 2上を移動した距離 X 1以下になるように設定されている（ステップ 3 A) 。

その後、対物レンズ 5が設けられた光ピックアップ 1は、トラッキングァクチユエ一夕 6によって駆動されることにより、移送台 2上の中立位置から一方のラジアル方向に向かって距離 X 1だけ離れた位置から、他方のラジアル方向に向かつて距離 X 2だけ移送台 2上を移動する。距離 X 2は、ステップ 3 Aにおいて移送台 2がー方のラジアル方向に向かって移動した距離 Y 1と実質的に等しくなるように設定されている（ステップ 4 A) 。

そして、他方のラジアル方向に向かって距離 X 2だけ移送台 2上を移動した光ピックアップ 1は、情報層 3 3上の第 2測定位置へ光ビームを照射する。次に、情報層 3 3上の第 2測定位置において反射した光ビームに基づいて、ステップ 2 において前述した方法と同一の方法によって D Cオフセット O S 2を測定する (ステップ 5 ) 。

その後、移送台 2上の中立位置まで他方のラジアル方向に向かって距離（X I

- X 2 ) だけ移送台 2に対して光ピックアップ 1を移動させる（ステップ 6 ) 。そして、移送台 2上の中立位置まで移動した光ピックアップ 1を載置した移送台 2を、ディスク 3 1の他方のラジアル方向に向かって距離 Y 1だけ移動させて、光ピックアップ 1および移送台 2を初期位置に戻す（ステップ 7 )。

このように、ステップ 4 Aにおいて光ピックアップ 1が他方のラジアル方向に向かって移送台 2上を移動する距離 X 2は、ステップ 3 Aにおいて移送台 2がー方のラジアル方向に向かって移動する距離 Y 1と実質的に等しくなるように設定されている。従って、図 2を参照して前述したオフセット測定方法と同様に、 D Cオフセットを測定するためにステップ 2において光ピックアップ 1が出射する光ビームが照射されるラジアル方向に沿った情報層 3 3上の第 1測定位置は、ステツプ 5において光ピックアップ 1が出射する光ビームが照射されるラジアル方向に沿った情報層 3 3上の第 2測定位置と実質的に同じ位置になる。

このため、ステップ 2での 1回目の D Cオフセット測定における情報層 3 3の反射特性または透過特性は、ステップ 5での 2回目の D Cオフセット測定における情報層 3 3の反射特性または透過特性と実質的に同一になる。その結果、レンズ光軸ずれによってトラッキングエラ一信号に重畳する D Cオフセットを精度良く測定することができる。

図 7 Aは、実施の形態 1に係るさらに他のオフセット測定方法の原理を説明するための図である。図 7 Bは、さらに他のオフセット測定方法の手順を示すフロ一チャートである。図 2および図 3を参照して前述したオフセット測定方法における構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略する。前述したオフセット測定方法と異なる点は、移送台 2が距離 Y 1だけ移動する方向が一方のラジアル方向とは逆方向である他方のラジアル方向である点（ステップ 3 B) 、および光ピックアップ 1が移送台 2上を距離 X 2だけ移動する方向が他方のラジアル方向とは逆の方向である一方のラジアル方向である点（ステップ 4 B) である。

図 7 Aおよび図 7 Bを参照すると、対物レンズ 5が設けられた光ピックァップ 1は、移送台 2における中立位置上に載置されている。光ピックアップ 1は、卜ラッキングァクチユエ一夕 6によって、ディスク 3 1の一方のラジアル方向に向かって移送台 2に対して距離 X Iだけ移動する（ステップ 1 ) 。

そして、一方のラジアル方向に向かって距離 X 1だけ移動した光ピックアップ 1は、情報層 3 3上の第 1測定位置へ光ビームを照射する。光ピックアップ 1に設けられた光検出器 1 0は、第 1測定位置において反射された光ビームをトラッキング信号に変換し、トラッキングエラ一検出回路 1 1は、トラッキング信号からトラッキングエラー信号を検出する。オフセット測定回路 3は、トラッキングエラ一信号に基づいて D Cオフセットを測定する（ステップ 2 ) 。

次に、光ピックアップ 1を載置した移送台 2を、ディスク 3 1の一方のラジアル方向とは逆方向である他方のラジアル方向に向かって距離 Y 1だけ移動させる。

(ステップ 3 B) 。

その後、対物レンズ 5が設けられた光ピックアップ 1は、トラッキングァクチユエ一夕 6によって駆動されることにより、移送台 2上の中立位置から一方のラジアル方向に向かって距離 X 1だけ離れた位置から、一方のラジアル方向に向かつて距離 X 2だけ移送台 2上を移動する。距離 X 2は、ステップ 3 Bにおいて移送台 2が他方のラジアル方向に向かって移動した距離 Y 1と実質的に等しくなるように設定されている（ステップ 4 B ) 。

そして、ステップ 4 Bにおいて一方のラジアル方向に向かって距離 X 2だけ移送台 2上を移動した光ピックアップ 1は、情報層 3 3上の第 2測定位置へ光ビームを照射する。次に、情報層 3 3上の第 2測定位置において反射した光ビームに基づいて、ステップ 2において前述した方法と同一の方法によって D Cオフセット O S 2を測定する（ステップ 5 ) 。

その後、移送台 2上の中立位置まで他方のラジアル方向に向かって距離（X I + X 2 ) だけ移送台 2に対して光ピックアップ 1を移動させる（ステップ 6 ) 。そして、移送台 2上の中立位置まで移動した光ピックアップ 1を載置した移送台 2を、ディスク 3 1の一方のラジアル方向に向かって距離 Y 1だけ移動させて、光ピックアップ 1および移送台 2を初期位置に戻す（ステップ 7 ) 。

このように、ステップ 4 Βにおいて光ピックアップ 1がー方のラジアル方向に向かって移送台 2上を移動する距離 X 2は、ステップ 3 Βにおいて移送台 2が他方のラジアル方向に向かって移動する距離 Υ 1と実質的に等しくなるように設定されている。従って、図 2を参照して前述したオフセット測定方法と同様に、ステツプ 2において光ピックアップ 1が出射する光ビームが照射される情報層 3 3 上の第 1測定位置は、ステップ 5において光ピックアップ 1が出射する光ビームが照射される第 2測定位置と実質的に同じ位置になる。

このため、ステップ 2での 1回目の D Cオフセット測定における情報層 3 3の反射特性または透過特性は、ステップ 5での 2回目の D Cオフセット測定における情報層 3 3の反射特性または透過特性と実質的に同一になる。その結果、レンズ光軸ずれによつてトラッキングエラ一信号に重畳する D Cオフセットを精度良く測定することができる。

図 8 Aは、実施の形態 1に係るさらに他のオフセット測定方法の原理を説明するための図である。図 8 Bは、さらに他のオフセット測定方法の手順を示すフロ —チヤ一トである。図 2および図 3を参照して前述したオフセット測定方法における構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略する。前述したオフセット測定方法と異なる点は、光ピックアップ 1が、移送台 2上の中立位置から一方のラジアル方向に向かって距離 X 1だけ離れた位置から、他方のラジアル方向に向かって中立位置から最も離れた限界位置である距離 X 2 m a Xだけ離れた位置まで移動する点である（ステツプ 4 C) 。

このようにステップ 4 Cにおいて光ピックアップ 1が移動する位置は移動台 2 の中立位置から最も離れた限界位置であるために、ステップ 4 Cにおいて光ピックアップ 1が移動する位置を制御する必要がない。このため、光ピックアップ 1 の移送台 2上の位置を制御する制御系の構成を簡略にすることができる。

前述した図 2および図 3のステップ 1において中立位置から一方のラジアル方向に向かって最も離れた限界位置まで光ピックアップ 1を移動させてもよく、図 2および図 3のステツプ 4において中立位置から他方のラジアル方向に向かって最も離れた限界位置まで光ピックアップ 1を移動させてもよい。特に、ステップ 1において中立位置から一方のラジアル方向に向かって最も離れた限界位置まで光ピックアップ 1を移動させ、かつ、ステップ 4において中立位置から他方のラジアル方向に向かって最も離れた限界位置まで光ピックアップ 1を移動させることが好ましい。なぜなら、 D Cオフセットを測定する光ピックアップ 1の 2つの位置が中立位置に関して対称になるために測定したレンズシフト特性に対する信頼性を向上させることができるとともに、光ピックアップ 1の移送台 2上の位置を制御する制御系の構成を簡略にすることもできるからである。

また、前述した図 6 Aおよび図 6 Bのステップ 1において中立位置から一方のラジアル方向に向かって最も離れた限界位置まで光ピックアップ 1を移動させてもよい。さらに、前述した図 7 Aおよび図 7 Bのステップ 4において中立位置から一方のラジアル方向に向かつて最も離れた限界位置まで光ピックアップ 1を移動させてもよい。

前述した実施の形態 1においては、 D Cオフセットを測定するために光ピックアップ 1をディスク 3 1のラジアル方向に沿って移動させる例を説明したが、本発明はこれに限定されない。なぜなら、本発明の技術思想は、 D Cオフセットを測定するために光ビームを照射する第 1測定位置と第 2測定位置とを近接させることにあるからである。従って、光ピックアップに設けられた対物レンズの光軸中心をディスクのラジアル方向に沿つて傾けることによって D Cオフセットを測定するオフセッ卜測定方法に対しても本発明を適用することができる。

(実施の形態 2 )

図 9は、実施の形態 2に係る記録再生装置 6 0の構成図である。実施の形態 1 において前述した記録再生装置 5 0の構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略する。実施の形態 1に係る記録再生装置 5 0と異なる点は、領域判別ブロック 2 1をさらに備えている点および、トラッキングエラー検出回路 1 1の替わりにトラッキングエラー検出回路 1 1 Aを備えている点である。

領域判別プロック 2 1は、基準電圧源 2 2を備えている。基準電圧源 2 2は、システムコントローラ 1 7からの指令に応じて、基準電圧 V r e f 1と基準電圧 V r e f 2とを切り替えて比較器 2 3へ出力する。比較器 2 3は、トラッキングエラ一検出回路 1 1によって検出されたトラッキングエラー信号と比較器 2 3から出力された基準電圧 V r e f 1または基準電圧 V r e f 2との比較結果を表す比較信号を領域検出回路 2 4へ出力する。領域検出回路 2 4は、抵抗 Rおよびコンデンサ Cを有しており、比較器 2 3から出力された比較信号に基づいて領域判別信号を生成し、システムコントローラ 1 7へ出力する。

このように構成された記録再生装置 6 0においては、トラッキングエラー検出回路 1 1 Aは、システムコントローラ 1 7からの指令に応じて、トラッキング信号からトラッキングエラ一信号を検出する方式を前述したプッシュプル方式と、位相差方式との間で切り替えて、トラッキングエラー信号を検出する。

以下位相差方式を説明する。位相差方式においては、光ビームの収束点がディスクに設けられたトラック上を通過するときにディスクから反射された光ビームの強度パターンが時間的に変化する現象を利用してトラッキングエラー信号を検出する。

光ビームの収束点がトラックに記録されたピッ卜の中心、即ちトラックの中心を通過するときは、光ピックアップ 1に設けられた 4分割光検出器の各出力は左右対称にそのパターンが変化する。光ビームの収束点が卜ラックの右側を通過するときは、 4分割光検出器の各出力は反時計方向に回転するようにそのパターンが変化し、トラックの左側を通過するときは、 4分割光検出器の各出力は時計方向に回転するようにそのパターンが変化する。このような 4分割光検出器の各出力のパターンの回転変化は、光ビームの収束点がトラックの中心からずれるに従つて鮮明になる。

位相差方式においては、 4分割光検出器の各出力の対角和によって得られる 2 つの信号の位相を比較し、一方の位相の他の位相に対する進み量または遅れ量に基づいて光ビームの収束点とトラックの中心との位置ずれを表すトラッキングェラー信号を検出する。従って位相差方式においては、光ビームを照射したデイスクに設けられた情報層にピッ卜が記録されていないときは、トラッキングエラー信号を検出することができない。

書き換え可能ディスクと追記型ディスクとを含む記録型ディスクにおいては、溝状のトラックが情報層に設けられている。再生専用ディスクにおいては、溝状のトラックは設けられておらず、平面状に形成された情報層に情報層の形状を変化させたピットとして情報が記録されている。記録型ディスクのうち追記型ディスクにおいては、溝状のトラックが設けられた情報層に情報層の形状を変化させたピットとして情報が記録されている。記録型ディスクのうち書き換え可能ディスクにおいては、溝状のトラックが設けられた情報層に情報層を構成する元素の配列を変化させた記録マークとして情報が記録されている。

図 1 O Aは、実施の形態 2に係るトラッキングエラー信号と時間との間の関係を示すグラフである。縦軸は、トラッキングエラー検出回路 1 1 Aがプッシュプル方式によって検出したトラッキングエラー信号を示しており、横軸は時間を示している。

トラッキングエラー検出回路 1 1 Aは、システムコントローラ 1 7からの指令に応じて、トラッキングエラー信号の検出方式としてプッシュプル方式を選択しているものとする。溝状のトラックが設けられた追記型ディスクにおいて情報層の形状を変化させたピットとして情報が記録されている領域またはピッ卜が記録されていない領域に光ビームを照射し、反射された光ビームに基づいてプッシュプル方式によってトラッキングエラー検出回路 1 1 Aが検出したトラッキングェラー信号は、図 1 O Aにおける領域 Bに示すように鋸歯状の信号になる。ただし、鋸歯状のトラッキングエラー信号の振幅の大きさは、ディスクの反射率、溝の構造、ピットの構造により異なる。基準電圧源 2 2から出力される基準電圧 V r e f 1は、図 1 O Aに示すように、鋸歯状の信号の大きさよりも小さくなるように設定されている。

平面状に情報層が形成された再生専用ディスクにおいて情報層の形状を変化させたピットとして情報が記録されている領域またはピッ卜が記録されていない領域に光ビームを照射したときは、プッシュプル方式によってトラッキングエラ一検出回路 1 1 Aが検出したトラッキングエラー信号は、図 1 O Aにおける領域 A に示すようにゼロレベルの信号になる。

図 1 0 Bは、実施の形態 2に係る比較信号と時間との間の関係を示すグラフである。比較器 2 3は、図 1 1 Aに示すトラッキングエラー検出回路 1 1 Aによつて検出されたトラッキングエラー信号と基準電圧 V r e f 1とに基づいて、領域 Bにおけるトラッキングエラー信号を矩形のパルス列に 2値化された比較信号を生成し、領域検出回路 2 4へ出力する。

図 1 0 Cは、実施の形態 2に係る領域判別信号と時間との間の関係を示すダラフである。領域検出回路 2 4は、領域検出回路 2 4に設けられた抵抗 Rとコンデンサ Cとにより、比較器 2 3から出力された図 1 0 Bに示す比較信号を矩形の領域判別信号に変換し、システムコントローラ 1 7へ出力する。

図 1 1 Aは、実施の形態 2に係る他のトラッキングエラー信号と時間との間の関係を示すグラフである。縦軸は、トラッキングエラ一検出回路 1 1 Aが位相差方式によって検出したトラッキングエラ一信号を示しており、横軸は時間を示している。トラッキングエラ一検出回路 1 1 Aは、システムコントローラ 1 7からの指令に応じて、トラッキングエラー信号の検出方式として位相差方式を選択しているものとする。溝状のトラックが設けられた追記型ディスクにおいて情報層の形状を変化させたピットとして情報が記録されていない領域に光ビームを照射したときは、位相差方式によってトラッキングエラー検出回路 1 1 Aが検出したトラッキングエラ一信号は、図 1 1 Aにおける領域 Cに示すようにゼロレベルの信号になる。また、書き換え可能ディスクにおいて記録マークとして情報が記録されている領域、記録マークとして情報が記録されていない領域、および平面状に情報層が形成された再生専用ディスクにおいて情報層の形状を変化させたピットとして情報が記録されていない領域に光ビームを照射したときも、同様に、トラッキングエラ一信号は、図 1 1 Aにおける領域 Cに示すようにゼロレベルの信号になる。

追記型ディスクにおいて情報層の形状を変化させたピットとして情報が記録されている領域または、再生専用ディスクにおいて情報層の形状を変化させたピットとして情報が記録されている領域に光ビームを照射したときは、位相差方式によってトラッキングエラー検出回路 1 1 Aが検出したトラッキングエラ一信号は、図 1 1 Aにおける領域 Dに示すように鋸歯状の信号になる。基準電圧源 2 2から出力される基準電圧 V r e f 2は、図 1 1 Aに示すように、鋸歯状の信号の大きさよりも小さくなるように設定されている。

図 1 1 Bは、実施の形態 2に係る比較信号と時間との間の関係を示すグラフである。比較器 2 3は、図 1 1 Aに示すトラッキングエラー検出回路 1 1 Aによつて検出されたトラッキングエラ一信号と基準電圧 V r e f 2とに基づいて、領域 Dにおけるトラッキングエラー信号を矩形のパルス列に 2値化された比較信号を生成し、領域検出回路 2 4へ出力する。

図 1 1 Cは、実施の形態 2に係る領域判別信号と時間との間の関係を示すダラフである。領域検出回路 2 4は、領域検出回路 2 4に設けられた抵抗 Rとコンデンサ Cとにより、比較器 2 3から出力された比較信号を矩形の領域判別信号に変換し、システムコントローラ 1 7へ出力する。

記録再生装置 6 0の動作を記録動作を例に挙げて説明する。まず、トラツキングエラー検出回路 1 1 Aは、システムコントローラ 1 7からの指令に応じて、トラッキングエラー信号の検出方式として位相差方式を選択する。光ピックアップ 1は、ディスク 3 1の情報層 3 3に光ビームを照射する。トラッキングエラー検出回路 1 1 Aは、位相差方式によってトラッキングエラー信号を検出する。比較器 2 3は、トラッキングエラ一検出回路 1 1 Aが位相差方式によって検出したトラッキングエラー信号と基準電圧源 2 2から出力された基準電圧 V r e f 2とに基づいて、比較信号を生成し、領域検出回路 2 4へ出力する。領域検出回路 2 4 は、比較器 2 3から出力された比較信号に基づいて領域判別信号を生成し、システムコントローラ 1 7へ出力する。

次に、トラッキングエラ一検出回路 1 1 Aは、システムコントローラ 1 7からの指令に応じて、トラッキングエラ一信号の検出方式としてプッシュプル方式を選択する。トラッキングエラ一検出回路 1 1 Aは、プッシュプル方式によってトラッキングエラ一信号を検出する。比較器 2 3は、トラッキングエラー検出回路 1 1 Aがプッシュプル方式によって検出したトラッキングエラー信号と基準電圧源 2 2から出力された基準電圧 V r e f 1とに基づいて、比較信号を生成し、領域検出回路 2 4へ出力する。領域検出回路 2 4は、比較器 2 3から出力された比較信号に基づいて領域判別信号を生成し、システムコントローラ 1 7へ出力する。システムコントローラ 1 7は、位相差方式によって検出されたトラッキングェラー信号が図 1 1八〜図1 1 Cに示される領域 Cを表すゼロレベルであるために領域検出回路 2 4から出力された領域判別信号がゼロレベルであり、かつ、プッシュカレ方式によって検出されたトラッキングエラー信号が図 1 0 〜図1 0 C に示される領域 Bを表す鋸歯状の信号であるために領域判別信号がハイレベルであるときは、スィッチ回路 S W 1をオンにする。スィッチ回路 S W 1は、システムコントローラ 1 7からの指令に応じてオンになり、乗算回路 1 5から出力された D Cオフセット推定量を表す信号はオフセット減算回路 1 2へ与えられる。オフセット減算回路 1 2は、トラッキングエラー信号から D Cオフセット推定量を表す信号を減算して得られる補正トラッキングエラー信号をトラッキング制御回路 1 3へ出力する。スィッチ回路 S W 2は、システムコントローラ 1 7からの指令によって、トラッキング制御回路 1 3から出力されるトラッキング駆動信号を選択する。トラッキング駆動信号は、スィッチ回路 S W 2を介してトラツキング駆動回路 1 6へ与えられる。トラッキング駆動回路 1 6は、トラッキング駆動信号に基づいて駆動電流を光ピックアップ 1に設けられたトラッキングァクチユエ一夕 6へ出力する。トラッキングァクチユエ一夕 6は、駆動電流に基づいて光ピックアップ 1に設けられた対物レンズ 5を制御する。

このように、追記型ディスクに情報を記録するときに、記録された情報を再生することなく、 D Cオフセットを高精度に補正して情報を記録することができる。なお、前述した例では記録動作を説明したが、再生動作においても D Cオフセットを高精度に補正することができる。例えば、 C D— R、 D V D— R等の追記型ディスクの再生動作において、位相差方式によって検出されたトラッキングェラー信号が図 1 1 Aに示される領域 D (追記型ディスクにおいて溝状のトラックが設けられた情報層に情報層の形状を変化させたピットとして情報が記録されてレる領域）における鋸歯状のトラッキングエラ一信号になるまで光ピックアップ 1をラジアル方向に沿って移動させた後、溝状のトラックが設けられた情報層に情報層の形状を変化させたピッ卜が記録されている領域に光ビームを照射し、反射された光ビームに基づいてプッシュプル方式によってトラッキングエラー信号を検出すればよい。

追記型ディスクにおける情報層に設けられたトラックに記録されたピットは、トラックのエッジの変化によって影響を受けることが多いが、ピッ卜が記録されていない領域を D Cオフセッ卜を補正する領域として選択することができるので、トラックのエッジの変化による影響を撲滅することができ、 D Cオフセット測定の精度を向上させることができる。

実施の形態 2においては、まず、位相差方式を選択して情報層の形状変化（ピット）の有無を検出し、その後、プッシュプル方式を選択して溝状のトラックが情報層に形成されているのか、情報層が平面状に形成されているのかを判別する例を示したが、本発明はこれに限定されず、まず位相差方式を選択し、その後プッシュプル方式を選択してもよい。

以上のように実施の形態 2によれば、トラッキングエラー信号に重畳した D C オフセットを D Cオフセット推定量を表す信号によって補正すべき領域であるか否かを、情報層に記録された情報を再生することなく判断することができる。

(実施の形態 3 )

図 1 2は、実施の形態 3に係る記録再生装置の構成図である。実施の形態 1において前述した記録再生装置 5 0の構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略する。実施の形態 1に係る記録再生装置 5 0と異なる点は、 D Cオフセッ卜補正実行判定プロック 2 5をさらに備えている点である。

図 1 3 Aは、実施の形態 3に係る補正ゲインと時間との間の関係を示すグラフである。図 1 3 Bは、実施の形態 3に係る補正実行判定信号と時間との間の関係を示すグラフである。 D Cオフセット補正実行判定ブロック 2 5は、基準電圧源 2 2を備えている。基準電圧源 2 2は、システムコントローラ 1 7からの指令に応じて、基準電圧 V r e f 3を比較器 2 3へ出力する。基準電圧 V r e f 3は、システムコントローラ 1 7によって、例えば O mV等の初期値に設定されている。図 1 5を参照して前述したようにディスクに設けられたトラックに形成された溝の深さが 8以上 6以下であるときは、トラッキング信号の強度が強いため、トラッキングエラー信号に重畳する D Cオフセットは大きい。このため、図 1 3 Aにおける領域 Fに示すように、補正ゲインは基準電圧 V r e f 3よりも大きくなる。溝の深さが λ Ζ 6よりも大きくなると、トラッキング信号の強度が弱くなるために、トラッキングエラー信号に重畳する D Cオフセットは微小になる。このため、図 1 3 Aにおける領域 Eに示すように、補正ゲインは基準電圧 V r e f 3以下になる。

比較器 2 3は、図 1 3 Aに示す補正ゲイン決定回路 4から出力された補正ゲインを表す信号の電圧と電圧源 2 2から出力された基準電圧 V r e f 3とに基づいて、図 1 3 Bに示す補正実行判定信号を生成し、システムコントローラ 1 7へ出力する。補正実行判定信号は、補正ゲインを表す信号の電圧が基準電圧 V r e f 3よりも大きい領域 Fにおいてはハイレベルとなっており、補正ゲインを表す信号の電圧が基準電圧 V r e f 3以下である領域 Eにおいてはローレベルになっている。

システムコントローラ 1 7は、比較器 2 3から出力される補正実行判定信号がハイレベルであるときはスィッチ回路 S W 1をオンにし、補正実行判定信号が口一レベルであるときはスィツチ回路 S W 1をオフにする。

このように、レンズ光軸ずれに起因してトラッキングエラー信号に重畳する D Cオフセットを補正するための補正ゲインが所定の基準電圧よりも大きいときは D Cオフセットを補正する機能をオンにし、補正ゲインが所定の基準電圧以下であるときは D Cオフセットを補正する機能をオフにする。

以上のように実施の形態 3によれば、補正ゲイン決定回路 4によつて決定された補正ゲインの値に応じて D Cオフセットを補正する機能をオンオフするので、 D Cオフセットを補正することが必要な領域にのみ D Cオフセッ卜の補正を実行することができる。

このため、トラッキングエラー信号に重畳する D Cオフセッ卜が微小であるために D Cオフセットを補正する必要がない領域におけるトラッキング制御の構成を簡略にすることができるとともに、 D Cオフセッ卜を補正する必要がない領域において D Cオフセットを補正することによってトラッキング制御が不安定になることを防止することができる。産業上の利用可能性以上のように本発明によれば、レンズ光軸ずれによってトラッキングエラー信号に重畳した D Cオフセットを精度よく測定することができるオフセッ卜測定方法および記録再生装置を提供することができる。

また本発明によれば、トラッキングエラー信号に重畳した D Cオフセットを D Cオフセット推定量を表す信号によって補正すべきディスク上の領域を決定することができるオフセット測定方法および記録再生装置を提供することができる。

Claims

請求の範囲

1 . 情報媒体のラジアル方向に沿って駆動自在に移送手段上に載置された光ピックアップを備えた記録再生装置において該情報媒体によって反射された光ビームに基づいてトラッキングエラー信号に重畳されたオフセットを測定するオフセット測定方法であって、

該光ピックアツプから該情報媒体上の第 1測定位置へ光ビームを照射して、該第 1測定位置において反射された該光ビームに基づいて第 1オフセット量を測定する第 1オフセット量測定工程と、

該第 1オフセット量測定工程の後で、該光ピックアップを載置した該移送手段を該ラジアル方向に沿った第 1方向に向かって第 1距離だけ移動させる移送手段移動工程と、

該第 1方向とは反対の第 2方向に向かって該移送手段上において該光ピックァップを該第 1距離とは実質的に等しい第 2距離だけ駆動する第 1光ピックアップ駆動工程と、

該移送手段移動工程および該第 1光ピックアツプ駆動工程の後で、該光ピックァップから該情報媒体上の第 2測定位置へ光ビームを照射して、該第 2測定位置において反射された該光ビームに基づいて第 2オフセッ卜量を測定する第 2オフセット量測定工程とを包含することを特徴とするオフセット測定方法。

2 . 前記移送手段移動工程は、前記第 1光ピックアップ駆動工程の前に実行される、請求の範囲 1記載のオフセット測定方法。

3 . 前記第 1オフセット量測定工程の前に、前記ラジアル方向に沿った第 3方向に向かって前記移送手段上において該光ピックァップを第 3距離だけ駆動する第

2光ピックアツプ駆動工程をさらに包含する、請求の範囲 1記載のオフセット測定方法。

4. 前記第 3方向は、前記第 1方向と同一の方向である、請求の範囲 3記載のォフセット測定方法。

5 . 前記第 3方向は、前記第 1方向と反対の方向である、請求の範囲 3記載のォフセット測定方法。

6 . 前記第 2光ピックアップ駆動工程は、前記移送手段上の中立位置から前記第 3距離だけ前記光ピックアップを駆動する、請求の範囲 3記載のオフセッ卜測定方法。

7 . 前記情報媒体には、前記光ビームが照射されるための溝が形成されており、該光ビームは、波長 λを有しており、

該溝の深さは、人 8以上 λ Ζ 6以下になっている、請求の範囲 1記載のオフセッ卜測定方法。

8 . 前記情報媒体には、光熱変換によって情報信号が記録される、請求の範囲 1 記載のオフセッ卜測定方法。

9 . 前記第 1および前記第 2オフセッ卜量測定工程によってそれぞれ測定された前記第 1および前記第 2オフセット量に基づいて、前記移送手段に対する前記光ピックアツプのオフセット特性を表す補正ゲインを決定する補正ゲイン決定工程をさらに包含する、請求の範囲 1記載のオフセット測定方法。

1 0 . 前記補正ゲイン決定工程によって決定された前記補正ゲインの値に応じて、前記移送手段に対する前記光ピックアップのオフセットを補正する工程をさらに包含する、請求の範囲 9記載のオフセット測定方法。

1 1 . 前記光ピックアップから前記情報媒体上の前記ラジアル方向に沿った第 3 媒体位置へ光ビームを照射して、該第 3媒体位置において反射された該光ビームに基づいて、プッシュプル方式によって第 1 トラッキングエラ一信号を検出する第 1 トラッキングエラー信号検出工程と、

該第 3媒体位置において反射された該光ビームに基づいて、位相差方式によつて第 2トラッキングエラー信号を検出する第第 2トラッキングエラー信号検出ェ程と、

該第 1 トラッキングエラー信号検出工程によって検出された該第 1 トラツキングエラー信号と該第 2トラツキングェラー信号検出工程によって検出された該第 2トラッキングエラー信号とに基づいて、前記移送手段に対する前記光ピックァップの前記オフセットを該第 3媒体位置において補正すべきか否かを決定するェ程とをさらに包含する、請求の範囲 1 0記載のオフセッ卜測定方法。

1 2 . 情報媒体のラジアル方向に沿って駆動自在に移送手段上に載置された光ピックアップと、

該光ピックアツプから該情報媒体上の第 1測定位置へ照射され、該第 1測定位置において反射された光ビームに基づいて第 1オフセット量を測定するオフセット量測定手段と、

該オフセット量測定手段が該第 1オフセット量を測定した後で、該光ピックァップを載置した該移送手段を該ラジアル方向に沿った第 1方向に向かって第 1距離だけ移動させる制御手段と、

該オフセット量測定手段が該第 1オフセット量を測定した後で、該第 1方向とは反対の第 2方向に向かって該移送手段上において該光ピックアツプを該第 1距離とは実質的に等しい第 2距離だけ駆動する駆動手段とを具備しており、該オフセット量測定手段は、該制御手段が該第 1方向に向かって該第 1距離だけ該移送手段を移動させた後であって、かつ、該駆動手段が該第 2方向に向かつて該第 2距離だけ該光ピックァップを駆動した後で、該光ピックアツプから該情報媒体上の第 2測定位置へ照射され、該第 2測定位置において反射された光ビ一ムに基づいて第 2オフセット量を測定することを特徴とする記録再生装置。