KR100465568B1 - 오프셋 측정 방법 - Google Patents

Abstract

오프셋 측정 방법은 정보 매체의 반경 방향을 따라서 구동 가능하게 이송 수단 상에 배치된 광 픽업을 구비한 기록 재생 장치에서 상기 정보 매체에 의해서 반사된 광빔에 기초하여 트랙킹 에러 신호에 중첩된 오프셋을 측정하는 오프셋 측정 방법으로서, 상기 광 픽업으로부터 상기 정보 매체 상의 제 1 측정 위치에 광빔을 조사하여, 상기 제 1 측정 위치에서 반사된 상기 광빔에 기초하여 제 1 오프셋량을 측정하는 제 1 오프셋량 측정 공정과, 상기 제 1 오프셋량 측정 공정 이후에, 상기 광 픽업을 배치한 상기 이송 수단을 상기 반경 방향에 따른 제 1 방향을 향하여 제 1 거리 만큼 이동시키는 이송 수단 이동 공정과, 상기 제 1 방향과는 반대의 제 2 방향을 향하여 상기 이송 수단상에서 상기 광 픽업을 상기 제 1 거리와는 실질적으로 동일한 제 2 거리 만큼 구동하는 제 1 광 픽업 구동 공정과, 상기 이송 수단 이동 공정 및상기 제 1 광 픽업 구동 공정 이후에, 상기 광 픽업으로부터 상기 정보 매체상의 제 2 측정 위치에 광빔을 조사하여, 상기 제 2 측정 위치에서 반사된 상기 광빔에 기초하여 제 2 오프셋량을 측정하는 제 2 오프셋량 측정 공정을 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

오프셋 측정 방법{Offset measuring method}

광빔을 조사함으로써, 소정의 정보를 정보층에 기록하고, 및/또는 정보층에 기록된 정보를 재생하기 위한 정보 매체는 정보 매체의 두께의 상위 및/또는 정보층의 재료의 상위 및/또는 정보층의 구조의 상위에 따라서 다양화하고 있다. 이와 같이 다양화한 정보 매체는 어느 것이나, 원판 형상을 한 정보 매체(이하, 「디스크」라고 한다)이고, 공통의 기록 재생 장치에 대하여 교환하여 사용할 수 있다.

이러한 디스크에는 예를 들면, DVD-RAM, DVD-R 등에 의해서 대표되는 정보의 기록 및 재생이 가능한 기록형 디스크, 및 DVD-ROM에 의해서 대표되는 정보의 재생만이 가능한 재생 전용 디스크가 포함된다. 기록형 디스크에 정보를 기록 또는 재생하고, 재생 전용 디스크로부터 정보를 재생하기 위해서는 디스크에 설치된 트랙의 중심에 트랙킹 제어에 의해서 광빔을 위치 결정할 필요가 있다.

도 14는 종래의 기록 재생 장치에서의 트랙킹 제어의 원리를 도시하는 블록도이다. 기록 재생 장치가 정보를 기록 재생하는 디스크(31)는 기판(32)을 갖고있고, 기판(32) 상에는 정보를 기록 재생하기 위한 정보층(33)이 형성되어 있다. 기록 재생 장치는 디스크(31)에 형성된 정보층(33)에 대향하도록 설치된 광 픽업(1)을 구비하고 있다. 광 픽업(1)에는 대물 렌즈와, 2개의 수광부를 갖는 광 검출기가 설치되어 있다. 광 픽업(1)에 설치된 대물 렌즈는 광빔을 정보층(33) 상에 집광시킨다. 광 검출기는 정보층(33)에서 반사된 광빔을 수광하며, 수광한 광빔을 트랙킹 신호로 변환하여, 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 출력한다. 트랙킹 에러 검출 회로(11)는 광 픽업(1)에 설치된 광 변환기에 의해서 변환된 트랙킹 신호에 기초하여, 정보층(33) 상에 집광한 광빔의 위치와 정보층(33)상에 형성된 트랙의 중심 위치 사이의 정보 매체(31)의 반경 방향에 따른 오차를 나타내는 트랙킹 에러 신호를 검출하고, 트랙킹 제어 회로(13)에 출력한다. 트랙킹 제어 회로(13)는 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호에 기초하여, 정보층(33) 상에 집광한 광빔의 위치가 정보층(33) 상에 형성된 트랙의 중심 위치를 나타내는 제어 목표 위치에 추종하도록 위상 보상하기 위한 트랙킹 구동 신호를 생성하여, 트랙킹 구동 회로(16)에 출력한다. 트랙킹 구동 회로(16)는 트랙킹 제어 회로(13)에 의해서 생성된 트랙킹 구동 신호에 기초하여, 정보층(33) 상에 집광한 광빔의 위치가 트랙의 중심 위치에 추종하도록 광 픽업(1)에 설치된 대물 렌즈의 위치를 제어한다.

트랙킹 에러 검출 회로(11)가 트랙킹 에러 신호를 검출하는 방식에 관해서는 많은 방식이 제안되어, 실용화되어 있다. 정보의 기록 및 재생이 가능한 기록형 디스크에 의해서 반사된 광빔으로부터 트랙킹 에러 신호를 검출하는 방식으로서는푸쉬-풀(push-pull) 방식이 대표적이다. 이하, 푸쉬-풀 방식을 설명한다.

푸쉬-풀 방식은 정보층(33)에 형성된 트랙의 중심 위치에 대하여 대칭이 되도록 배치된 2개의 수광부가 각각 수광한 광빔의 광 강도의 차를 트랙킹 에러 신호로서 검출하는 방식이다.

정보층(33) 상에서 반사되는 광빔의 광 강도는 정보층(33)에 형성된 트랙의 홈의 깊이, 또는 정보층(33)에 형성된 피트(pit)의 깊이에 크게 의존한다.

정보층(33)에는 예를 들면 소용돌이 형상으로 홈이 형성된 오목부(이하 「그루브부(groove portion」라고 한다)와 오목부 사이에 형성된 볼록부 (이하「랜드부(land portion)」라고 한다)가 설치되어 있다. 그루브부에서 반사된 광빔의 광로 길이는 랜드부에서 반사된 광빔의 광로 길이보다도, 홈의 깊이의 2배 만큼 길다. 따라서, 그루브부에서 반사된 광빔의 파형과 랜드부에서 반사된 광빔의 파형의 사이에는 홈의 깊이의 2배의 길이에 대응하는 위상차가 발생한다.

도 15는 정보층(33)에 형성된 트랙의 홈의 깊이와 정보층(33)에서 반사된 광빔으로부터 변환된 트랙킹 신호의 강도의 사이의 관계를 도시하는 그래프이다. 횡축은 정보층(33)에 설치된 그루브부에 형성된 홈의 깊이를 도시하고 있고, λ는 광 픽업(1)에 의해서 정보층(33)에 조사된 광빔의 파장을 도시하고 있다. 종축은 광 픽업(1)에 설치된 광 검출기에 의해서 검출된 트랙킹 신호의 강도를 도시하고 있다.

디스크(31)의 정보층(33)에 설치된 그루브부에 형성된 홈의 깊이가 λ/4이면, 그루브부에서 반사된 광빔의 광로 길이는 랜드부에서 반사된 광빔의 광로 길이보다도, 홈의 깊이 λ/4의 2배인 λ/2 만큼 길게 된다. 따라서, 그루브부에서 반사된 광빔의 파형과 랜드부에서 반사된 광빔의 파형의 사이에는 홈의 깊이의 2배인 λ/2에 대응하는 π/2의 위상차가 발생하기 때문에, 그루브부에서 반사된 광빔의 파형과 랜드부에서 반사된 광빔의 파형은 서로 상쇄된다. 이 때문에, 광 픽업(1)에 설치된 광 검출기에 의해서 검출되는 트랙킹 신호의 강도는 도 15에 도시하는 바와 같이 최저가 된다.

홈의 깊이가 λ/8이면, 그루브부에서 반사된 광빔의 광로 길이는 랜드부에서 반사된 광빔의 광로 길이보다도, 홈의 깊이 λ/8의 2배인 λ/4만큼 길게 된다. 따라서, 홈의 깊이의 2배인 λ/4에 대응하는 π/4의 위상차가 발생한다. 이 때 광 픽업(1)에 설치된 광 검출기에 의해서 검출되는 트랙킹 신호의 강도는 도 15에 도시하는 바와 같이 최대가 된다. 홈의 깊이가 λ/8 내지 λ/6 까지는 홈의 깊이가 λ/8에서 최대로 되어 있는 트랙킹 신호의 강도의 저하가 적다. 이 때문에, 정보의 기록 및 재생이 가능한 기록형 디스크인 DVD-R에 설치된 그루브부에 형성된 홈의 깊이는 λ/8 이상 λ/6 이하로 설정되어 있다.

광 픽업(1)에 있어서, 광빔을 정보층(33) 상에 집광시키는 대물 렌즈의 광축 중심이 광 검출기에 설치된 2개의 수광부 사이의 경계에서 어긋나면(이하 「렌즈 광축 어긋남」이라고 한다), 광 검출기에 설치된 2개의 수광부의 한쪽에 의해 수광되는 광빔의 강도가, 2개의 수광부의 다른쪽에 의해 수광되는 광빔의 강도보다도 높게 되어, 트랙킹 에러 신호 검출 회로(11)에 의해서 검출되는 트랙킹 에러 신호에 DC 오프셋이 중첩한다.

도 16은 광빔의 광축 중심과 광 검출기에 설치된 2개의 수광부의 위치 관계를 설명하는 도면이다. 광 픽업(1)(도 14)에 설치된 광 검출기(10)에는 2개의 수광부(a) 및 수광부(b)가, 정보층(33)에 형성된 트랙의 중심 위치에 대하여 대칭이 되도록 서로 접하여 배치되어 있다. 광 픽업(1)(도 14)에 설치된 대물 렌즈(5)는 그 광축 중심(A)이 수광부(a)와 수광부(b)의 사이의 경계와 일치하도록 배치되어 있다.

대물 렌즈(5)가, 실선에 의해서 도시되는 위치로부터 디스크(31)의 반경 방향을 따라서 파선에 의해서 도시되는 위치까지 어긋나면, 대물 렌즈(5)의 광축 중심(A)이 광축 중심(B)까지 수광부(b)측으로 거리(d) 만큼 어긋나기 때문에, 디스크(31)의 정보층(33)에 의해서 반사 회절되어 광 검출기(10)에 입사하는 광빔의 광축 중심이 수광부(b) 측으로 거리(d) 만큼 어긋난다. 이 때문에, 광 검출기(10)에 설치된 수광부(a)에 입사하는 광빔의 입사광량은 수광부(b)에 입사하는 광빔의 입사광량보다도 적어지기 때문에, 수광부(a)로의 입사광량과 수광부(b)로의 입사광량과의 사이에 불균형이 발생한다.

푸쉬-풀 방식은 상술한 바와 같이, 2개의 수광부가 각각 수광한 광빔의 광 강도의 차를 트랙킹 에러 신호로서 검출하는 방식이기 때문에, 광 검출기(10)에 입사하는 광빔의 광축 중심이 어긋나는 것에 기인하여 2개의 수광부로의 입사광량의 사이에 불균형이 발생하면, 트랙킹 에러 신호에 DC 오프셋이 중첩된다. DVD-R 등의 기록형 디스크에서는 트랙킹 신호의 강도의 저하가 적어지도록 홈의 깊이가 λ/8 이상 λ/6 이하로 설정되어 있기 때문에, 기록형 디스크에서는 트랙킹 에러신호에 중첩되는 DC 오프셋의 량도 커진다.

이와 같이 DC 오프셋이 트랙킹 에러 신호에 중첩되면, 광빔이 조사되는 정보층(33) 상의 위치가 트랙의 중심과 일치하도록 트랙킹 에러 신호에 기초하여 광빔을 제어하였다고 해도, 광빔이 조사되는 정보층 상의 실제 위치는 트랙의 중심에서 벗어난다. 이 때문에, 트랙킹 에러 신호에 중첩된 DC 오프셋을 보정하는 방식이 제안되어 있다.

도 17은 DC 오프셋을 보정하는 기능을 구비한 종래의 트랙킹 제어의 원리를 도시하는 블록도이다. 도 14를 참조하여 상술한 구성 요소에는 동일의 참조 부호를 붙이고 있다. 이들의 구성 요소의 상세한 설명은 생략한다. 도 14에서 상술한 기록 재생 장치와 다른 점은 광축 어긋남량 추정 회로(14), 승산 회로(15) 및 스위치 회로(SW1)를 또한 구비하고 있는 점이다.

광축 어긋남량 추정 회로(14)는 트랙킹 제어 회로(13)에 의해서 생성된 트랙킹 구동 신호에 기초하여, 렌즈 광축 어긋남의 량을 추정하는 광축 어긋남량 추정치를 나타내는 신호를 생성하고, 승산 회로(15)에 출력한다. 승산 회로(15)는 광축 어긋남량 추정 회로(14)로부터 출력된 광축 어긋남량 추정치를 나타내는 신호에 보정 이득을 승산하여 얻어진 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호를 스위치 회로(SW1)에 출력한다. 스위치 회로(SW1)가 온이 되면, 승산 회로(15)로부터 출력된 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호는 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호에 부가되고, 트랙킹 에러 신호에 중첩된 DC 오프셋이 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호에 의해서 보정된다. 스위치 회로(SW1)가 오프가 되면,DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호는 트랙킹 에러 신호에 부가되지 않는다. 이와 같이, 스위치 회로(SW1)는 DC 오프셋 추정량에 기초한 네가티브 귀환(negative feedback)을 온 오프할 수 있도록 구성되어 있다.

승산 회로(15)에 있어서 광축 어긋남량 추정치를 나타내는 신호에 승산되는 보정 이득(gain)은 트랙킹 에러 신호에 중첩된 DC 오프셋을 측정하여, 측정된 DC 오프셋에 기초하여 결정된다. 이하, 보정 이득을 결정하기 위한 DC 오프셋을 측정하는 방법 및 측정된 DC 오프셋에 기초하여 보정 이득을 결정하는 방법을 설명한다.

도 18은 종래의 기록 재생 장치(90)의 구성도이다. 도 17을 참조하여 상술한 기록 재생 장치의 구성 요소와 동일한 구성 요소에는 동일한 참조 부호를 붙이고 있다. 이들의 구성 요소의 상세한 설명은 생략한다. 기록 재생 장치(90)는 광 픽업(1)을 구비하고 있다.

광 픽업(1)은 이송대(2) 상에 배치되어 있다. 광 픽업(1)이 상부에 배치된 이송대(2)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 기초하여 정보 매체(31)의 반경 방향을 따라서 광 픽업(1)을 이송한다. 이와 같이, 광 픽업(1)은 이송대(2)에 의해서 이송되어, 정보 매체(31)의 반경 방향을 따른 임의의 위치로 이동하여, 정보층(33)에 대하여 정보 신호를 기록 재생할 수 있다.

광 픽업(1)은 광원(7)을 갖고 있다. 광원(7)은 적색 반도체 레이저에 의해서 구성되어 있고, 파장 650나노미터(nm)의 광빔을 발진하여, 콜리메이터 렌즈(8)를 향하여 출사한다. 광원(7)으로부터 출사된 광빔(이하「출사광」이라고도 한다)은 콜리메이터 렌즈(8)에 의해서 평행광으로 변환되고, 빔 스플리터(9)를 통하여, 대물 렌즈(5)에 의해서 수속(收束; converge)되어, 디스크(31)의 정보층(33)에 조사된다.

정보층(33)에서 반사된 광빔은 대물 렌즈(5) 및 빔 스플리터(9)를 통하여 2개의 수광부를 갖는 광 검출기(10)에 입사한다. 광 검출기(10)는 2개의 수광부가 각각 수광한 광빔의 강도의 차를 트랙킹 신호로서 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 출력한다.

광 픽업(1)에는 트랙킹 액추에이터(6)가 설치되어 있다. 상기 트랙킹 액추에이터(6)는 트랙킹 구동 회로(16)로부터의 구동 전류에 기초하여, 정보 매체(31)의 반경 방향을 따라서 대물 렌즈(5)를 이송대(2)에 대하여 이동시킨다.

트랙킹 에러 검출 회로(11)는 광 검출기(10)로부터 출력된 트랙킹 신호로부터, 상술한 푸쉬-풀 방식에 의해서 트랙킹 에러 신호를 검출하고, 오프셋 측정 회로(3) 및 오프셋 감산 회로(12)에 출력한다. 오프셋 감산 회로(12)는 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호로부터 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호를 감산하여 얻어진 보정 트랙킹 에러 신호를 트랙킹 제어 회로(13)에 출력한다. DC 오프셋 추정량에 관해서는 이후에 상술한다.

트랙킹 제어 회로(13)는 오프셋 감산 회로(12)로부터 출력된 보정 트랙킹 에러 신호에 기초하여, 정보층(33) 상에 집광한 광빔의 위치가 정보층(33) 상에 형성된 트랙의 중심 위치를 나타내는 제어 목표 위치에 추종하도록 위상 보상하기 위한 트랙킹 구동 신호를 생성하여, 스위치 회로(SW2)에 출력한다.

스위치 회로(SW2)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 따라서, 트랙킹 제어 회로(13)로부터 출력된 트랙킹 구동 신호와 렌즈 시프트 구동 회로(18)로부터 출력된 렌즈 시프트 구동 신호 중 어느 하나를 선택하고, 트랙킹 구동 회로(16)에 출력한다. 트랙킹 제어에 의해서, 정보층(33)상에 집광한 광빔 위치를 정보층(33) 상에 형성된 트랙의 중심 위치를 나타내는 제어 목표 위치에 추종시킬 때는, 스위치 회로(SW2)는 트랙킹 제어 회로(13)로부터 출력된 트랙킹 구동 신호를 선택하여 트랙킹 구동 회로(16)에 출력한다. 보정 이득을 결정하기 위한 DC 오프셋을 측정할 때, 또는 광 픽업(1)을 정보 매체(31)의 반경 방향을 따른 임의의 위치로 이송대(2)에 의해서 이송할 때는, 스위치 회로(SW2)는 렌즈 시프트 구동 회로(18)로부터 출력된 렌즈 시프트 구동 신호를 선택하여 트랙킹 구동 회로(16)에 출력한다. 렌즈 시프트 구동 회로(18)로부터 출력되는 렌즈 시프트 구동 신호는 도 21a를 참조하여 후술한다.

트랙킹 구동 회로(16)는 스위치 회로(SW2)로부터 출력되는 트랙킹 구동 신호 또는 렌즈 시프트 구동 신호에 따라서, 대물 렌즈(5)를 이동시키기 위한 구동 전류를 트랙킹 액추에이터(6)에 출력한다. 트랙킹 액추에이터(6)는 트랙킹 구동 회로(16)로부터의 구동 전류에 기초하여, 정보 매체(31)의 반경 방향을 따라서 대물 렌즈(5)를 이송대(2)에 대하여 이동시킨다.

다음에, DC 오프셋 추정량을 상세하게 설명한다. DC 오프셋 추정량은 대물 렌즈(5)에서 렌즈 광축 어긋남이 발생하였을 때에 트랙킹 에러 신호에 중첩되는 DC 오프셋의 량을 추정한 값이다. DC 오프셋 추정량은 이하와 같이 하여 구할 수 있다.

오프셋 측정 회로(3)는 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호의 최대치와 최소치를 검출하고, 검출한 최대치와 최소치의 차를 연산함으로써, 트랙킹 에러 신호에 중첩된 DC 오프셋을 측정하여, 보정 이득 결정 회로(4)에 출력한다. 보정 이득 결정 회로(4)는 오프셋 측정 회로(3)에 의해서 측정된 DC 오프셋에 기초하여, 보정 이득을 결정하고, 승산 회로(15)에 출력한다.

트랙킹 제어 회로(13)는 트랙킹 구동 신호의 저주파 성분을 트랙킹 교정 신호로서 광축 어긋남량 추정 회로(14)에 출력한다. 광축 어긋남량 추정 회로(14)는 트랙킹 액추에이터(6)의 출력에 따라서 동작하는 대물 렌즈(5)의 동적 특성과 동일한 동적 특성을 구비하고 있고, 트랙킹 제어 회로(13)로부터 출력된 트랙킹 교정 신호에 기초하여, 트랙킹 액추에이터(6)에 의해서 구동되는 대물 렌즈(5)의 렌즈 광축 어긋남에 의한 변위와 실질적으로 동일한 변위를 나타내는 광축 어긋남 추정치를 나타내는 신호를 생성하고, 승산 회로(15)에 출력한다.

승산 회로(15)는 보정 이득 결정 회로(4)에 의해서 결정된 보정 이득과 광축 어긋남량 추정 회로(14)에 의해서 생성된 광축 어긋남 추정치를 나타내는 신호를 승산하여 얻어진 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호를 스위치 회로(SW1)에 출력한다. 스위치 회로(SW1)는 시스템 컨트롤러(17)에 의한 지령에 따라서 온 오프하고, 온 함으로써, 승산 회로(15)로부터 출력된 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호를 오프셋 감산 회로(12)에 부여한다.

도 19 및 도 20을 참조하여, 종래의 DC 오프셋을 측정하는 방법을 설명한다.도 19는 종래의 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 도면이고, 도 20은 종래의 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 플로차트이다. 도 19에서, 스텝 91, 93 및 95에 각각 대응하는 이송대(2)에 배치된 광 픽업(1)에 각각 대향하는 디스크(31)는 도시를 생략하고 있지만, 각 광 픽업(1)은 디스크(31)에 각각 대향하고 있다.

스위치 회로(SW2)는 렌즈 시프트 구동 회로(18)로부터 출력되는 렌즈 시프트 구동 신호를 선택하고 있고, 트랙킹 구동 회로(16)에는 렌즈 시프트 구동 신호가 입력되는 것으로 한다.

대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업(1)은 이송대(2)에서의 중립 위치 상에 배치되어 있다. 대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업(1)은 렌즈 시프트 구동 신호에 따라서 트랙킹 구동 회로(16)가 구동 신호를 출력하는 트랙킹 액추에이터(6)에 의해서, 디스크(31)의 한쪽의 반경 방향{예를 들면, 디스크(1)의 외주 방향}을 향하여 이송대(2)에 대하여 거리 X1 만큼 이동한다. 그리고, 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 이동한 광 픽업(1)이 조사하여 정보층(33)에서 반사된 광빔을, 광 픽업(1)에 설치된 광 검출기(10)는 트랙킹 신호로 변환하고, 트랙킹 에러 검출 회로(11)는 광 검출기(10)에 의해서 변환된 트랙킹 신호로부터 트랙킹 에러 신호를 검출한다. 오프셋 측정 회로(3)는 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호에 기초하여 DC 오프셋을 측정한다(스텝 91).

다음에, 대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업(1)은 트랙킹 액추에이터(6)에 의해서 구동됨으로써, 한쪽의 반경 방향을 향하여 중립 위치로부터 거리 X1 만큼 이격된 위치, 다른쪽의 반경 방향{예를 들면, 디스크(31)의 내주 방향}을 향하여 중립 위치로부터 거리 X1 만큼 이격된 위치까지의 거리 2×X1 만큼 다른쪽의 반경 방향을 향하여 이동한다. 그리고, 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 2×X1 만큼 이동한 광 픽업(1)이 조사하여 정보층(33)에서 반사한 광빔에 기초하여, 상술한 방법과 동일 방법에 의해서 DC 오프셋을 측정한다(스텝 93). 그 후, 대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업(1)을 중립 위치까지 이동시킨다(스텝 95). 이와 같이, DC 오프셋을 측정할 때의 이송대(2) 상에서의 광 픽업(1)의 2개의 위치는 중립 위치에 대하여 대칭인 위치로 되어 있다.

도 21a 내지 도 21c 및 도 22를 참조하여, 측정된 DC 오프셋에 기초하여 보정 이득을 결정하는 방법을 설명한다. 도 21a는 종래의 렌즈 시프트 구동 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프이다. 도 21b는 종래의 대물 렌즈(5)의 위치와 시간과의 관계를 도시하는 그래프이다. 도 21c는 종래의 트랙킹 에러 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프이다. 도 22는 종래의 오프셋 측정 방법의 순서를 도시하는 플로차트이다. 도 20을 참조하여 상술한 플로차트의 구성 요소와 동일한 구성 요소에는 동일한 참조 부호를 붙이고 있다. 이들의 구성 요소의 상세한 설명은 생략한다.

광 픽업(1)이 조사하는 광빔은 디스크(31)의 정보층(33)에 설치된 트랙 상에 위치 결정되어 있고, 광 검출기(10)는 정보층(33)에서 반사된 광빔을 수광하여 트랙킹 신호로 변환할 수 있는 상태인 것으로 한다.

최초에, 렌즈 시프트 구동 회로(18)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에따라서, 도 21a에 도시하는 바와 같이, 광 픽업(1)에 설치된 대물 렌즈(5)를 한쪽의 반경 방향을 향하여 일정한 속도로 거리 X1 만큼 이동시키기 위한 렌즈 시프트 구동 신호를 스위치 회로(SW2)를 통해 트랙킹 구동 회로(16)에 출력한다. 트랙킹 구동 회로(16)는 렌즈 시프트 구동 회로(18)로부터 출력된 렌즈 시프트 구동 신호에 기초하여, 트랙킹 액추에이터(6)를 구동하기 위한 구동 전류를 출력한다. 트랙킹 액추에이터(6)는 트랙킹 구동 회로(16)로부터 출력된 구동 전류에 따라서, 도 21b에 도시하는 바와 같이, 한쪽의 반경 방향을 향하여 일정한 속도로 이송대(2) 상의 중립 위치로부터 거리 X1 만큼 대물 렌즈(5)를 이동시킨다(스텝 91).

이와 같이 대물 렌즈(5)가 한쪽의 반경 방향을 향하여 이송대(2) 상의 중립 위치로부터 거리 X1 만큼 이동하면, 도 21c에 도시하는 바와 같이, 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출되는 트랙킹 에러 신호에 렌즈 광축 어긋남에 기인하는 DC 오프셋(OS11)이 중첩한다. 오프셋 측정 회로(3)는 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호의 최대치와 최소치를 측정하고, 측정한 최대치와 최소치에 기초하여 DC 오프셋(OS11)을 얻는다(스텝 92).

다음에, 렌즈 시프트 구동 회로(18)는 도 21a에 도시하는 바와 같이, 대물 렌즈(5)를 다른쪽의 반경 방향을 향하여 일정한 속도로 거리 2×X1 만큼 이동시키기 위한 렌즈 시프트 구동 신호를 스위치 회로(SW2)를 통해 트랙킹 구동 회로(16)에 출력한다. 트랙킹 구동 회로(16)는 렌즈 시프트 구동 신호에 기초하여, 트랙킹 액추에이터(6)를 구동하기 위한 구동 전류를 출력한다. 트랙킹 액추에이터(6)는 트랙킹 구동 회로(16)로부터 출력된 구동 전류에 따라서, 도 21b에 도시하는 바와같이, 다른쪽의 반경 방향을 향하여 일정한 속도로 이송대(2) 상의 중립 위치로부터 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 이격된 위치에 대물 렌즈(5)를 이동시킨다(스텝 93).

이와 같이 대물 렌즈(5)가 이송대(2) 상의 중립 위치로부터 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 이격된 위치로 이동하면, 도 21c에 도시하는 바와 같이, 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출되는 트랙킹 에러 신호에 DC 오프셋(OS11)과는 역특성의 DC 오프셋(OS12)이 중첩한다. 오프셋 측정 회로(3)는 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호의 최대치와 최소치를 측정하고, 측정한 최대치와 최소치에 기초하여 DC 오프셋(OS12)을 얻는다(스텝 94).

그 후, 렌즈 시프트 구동 회로(18)는 도 21a에 도시하는 바와 같이, 대물 렌즈(5)를 한쪽의 반경 방향을 향하여 일정한 속도로 스텝 91을 실행하기 이전의 초기 위치로 이동시키기 위한 렌즈 시프트 구동 신호를 스위치 회로(SW2)를 통해 트랙킹 구동 회로(16)에 출력한다. 트랙킹 구동 회로(16)는 렌즈 시프트 구동 신호에 기초하여, 트랙킹 액추에이터(6)를 구동하기 위한 구동 전류를 출력한다. 트랙킹 액추에이터(6)는 트랙킹 구동 회로(16)로부터 출력된 구동 전류에 따라서, 도 21b에 도시하는 바와 같이, 대물 렌즈(5)를 초기 위치로 이동시킨다(스텝 95).

그리고, 보정 이득 결정 회로(4)는 스텝 92에서 측정한 DC 오프셋(OS11)과, 스텝 94에서 측정한 DC 오프셋(OS12)과, 스텝 93에서 대물 렌즈(5)를 이동시킨 거리 2×X1(=X1+X1)와, 하기에 나타내는 수학식 1에 기초하여, 보정 이득을결정한다(스텝 96).

그 후, 스위치 회로(SW2)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지시에 따라서, 트랙킹 제어 회로(13)로부터 출력된 트랙킹 구동 신호를 선택하여, 트랙킹 구동 회로(16)에 출력한다. 트랙킹 구동 회로(16)는 트랙킹 구동 신호에 기초하여 트랙킹 액추에이터(6)를 구동하기 위한 구동 전류를 출력하고, 트랙킹 액추에이터(6)는 트랙킹 구동 회로(16)로부터 출력된 구동 전류에 따라서, 대물 렌즈(5)를 구동한다. 그 결과, 대물 렌즈(5)에 의해서 수속되어 디스크(31)의 정보층(33)에 조사된 광빔은 정보층(33)에 설치된 트랙의 중심의 근방에 위치 결정된다.

다음에, 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지시에 따라서, 스위치 회로(SW1)가 온이 되어, 승산 회로(15)로부터 출력된 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호가 오프셋 감산 회로(12)에 입력된다. 오프셋 감산 회로(12)는 입력된 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호를 트랙킹 에러 신호로부터 감산함으로써 얻어진 보정 트랙킹 신호를 트랙킹 제어 회로(13)에 출력한다. 이 결과, 트랙킹 제어에서의 제어 목표치는 트랙킹 에러 신호에 중첩한 DC 오프셋을 감산 보정한 값이 되기 때문에, 대물 렌즈(5)에 의해서 수속되어 디스크(31)의 정보층(33)에 조사된 광빔은 정보층(33)에 설치된 트랙이 실질적인 중심에 위치 결정된다.

이와 같이, 어떠한 원인에 의해서 대물 렌즈(5)에 있어서 렌즈 광축 어긋남이 발생하여 DC 오프셋이 트랙킹 에러 신호에 중첩하였더라도, 스위치 회로(SW1)가폐쇄되어 있는 한, 대물 렌즈(5)에 의해서 수속되어 디스크(31)의 정보층(33)에 조사된 광빔을, 정보층(33)에 설치된 트랙의 실질적인 중심에 위치 결정할 수 있다. 이 때문에, 정보층(33)에 대하여 정보 신호를 안정하여 기록 재생할 수 있다.

그러나, 상술한 바와 같은 종래의 DC 오프셋을 측정하는 방법에 있어서는, 도 19에 도시하는 바와 같이, 스텝 91에서의 1회째의 DC 오프셋 측정을 위해 광 픽업(1)으로부터 출사된 광빔이 조사되는 정보층(33) 상의 위치와, 스텝 93에서의 2회째의 DC 오프셋 측정을 위해 광 픽업(1)으로부터 출사된 광빔이 조사되는 정보층(33) 상의 위치가 다르기 때문에, 이러한 광빔이 조사되는 다른 2개의 위치 사이에서 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성이 다르면, DC 오프셋을 정밀도 양호하게 측정할 수 없는 우려가 있는 문제가 있다.

예를 들면, 스텝 91에서의 1회째의 DC 오프셋 측정을 위해 광 픽업(1)으로부터 출사된 광빔이 조사되는 정보층(33) 상의 위치와, 스텝 93에서의 2회째의 DC 오프셋 측정을 위해 광 픽업(1)으로부터 출사된 광빔이 조사되는 정보층(33) 상의 위치 중 어느 한쪽의 위치에서, 정보층(33) 상에 먼지, 티끌 또는 회복하는 것이 불가능한 결함(이하 「결함」이라고 한다)이 존재하면, 결함이 존재하는 위치에서 반사된 광빔이, 렌즈 광축 어긋남의 영향에 의해서 변동할 뿐만 아니라, 결함의 영향에 의해서도 변동한다. 이 때문에, 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출되는 트랙킹 에러 신호에 렌즈 광축 어긋남의 영향에 의한 DC 오프셋 이외의 신호도 중첩한다. 그 결과, DC 오프셋을 정밀도 양호하게 측정할 수 없다.

또한, 다양화한 복수 종류의 디스크를 공통의 기록 재생 장치에 대하여 교환하여 사용할 때에는, 기록 재생 장치에 장착된 디스크에 기록된 정보를 재생해 보지 않으면, 트랙킹 에러 신호에 중첩한 DC 오프셋을 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호에 의해서 보정해야 할 디스크 상의 영역인지 여부를 판단할 수 없는 문제가 있다.

본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위해서 이루어진 것으로, 그 목적은 렌즈 광축 어긋남에 의해서 트랙킹 에러 신호에 중첩한 DC 오프셋을 정밀도 양호하게 측정할 수 있는 오프셋 측정 방법 및 기록 재생 장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 트랙킹 에러 신호에 중첩한 DC 오프셋을 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호에 의해서 보정해야 할 디스크 상의 영역을 결정할 수 있는 오프셋 측정 방법 및 기록 재생 장치를 제공하는 것이다.

본 발명은 정보 매체에 광빔을 집광하는 대물 렌즈의 광축의 어긋남에 의해서 발생하는 오프셋을 측정하는 오프셋 측정 방법 및 오프셋 측정 방법을 실행하는 기록 재생 장치에 관한 것이다.

도 1은 제 1 실시예에 따른 기록 재생 장치의 구성도.

도 2는 제 1 실시예에 따른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 도면.

도 3은 제 1 실시예에 따른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 플로차트.

도 4a는 제 1 실시예에 따른 렌즈 시프트 구동 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프.

도 4b는 제 1 실시예에 따른 대물 렌즈 위치와 시간과의 관계를 도시하는 그래프.

도 4c는 제 1 실시예에 따른 트랙킹 에러 신호와 시간과의 관계를 도시하는그래프.

도 5는 제 1 실시예에 따른 오프셋 측정 방법의 순서를 도시하는 플로차트.

도 6a는 제 1 실시예에 따른 다른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 도면.

도 6b는 제 1 실시예에 따른 다른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 플로차트.

도 7a는 제 1 실시예에 따른 또다른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 도면.

도 7b는 제 1 실시예에 따른 또다른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 플로챠트.

도 8a는 제 1 실시예에 따른 또다른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 도면.

도 8b는 제 1 실시예에 따른 또다른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 플로차트.

도 9는 제 2 실시예에 따른 기록 재생 장치의 구성도.

도 10a는 제 2 실시예에 따른 트랙킹 에러 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프.

도 10b는 제 2 실시예에 따른 비교 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프.

도 10c는 제 2 실시예에 따른 영역 판별 신호와 시간과의 관계를 도시하는그래프.

도 11a는 제 2 실시예에 따른 다른 트랙킹 에러 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프.

도 11b는 제 2 실시예에 따른 다른 비교 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프.

도 11c는 제 2 실시예에 따른 다른 영역 판별 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프.

도 12는 제 3 실시예에 따른 기록 재생 장치의 구성도.

도 13a는 제 3 실시예에 따른 보정 이득과 시간과의 관계를 도시하는 그래프.

도 13b는 제 3 실시예에 따른 보정 실행 판정 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프.

도 14는 종래의 기록 재생 장치에서의 트랙킹 제어의 원리를 도시하는 블록도.

도 15는 트랙의 홈의 깊이와 트랙킹 신호의 강도의 관계를 도시하는 그래프.

도 16은 광빔의 중심 위치와 수광부의 위치 관계를 설명하는 도면.

도 17은 종래의 오프셋을 보정하는 기능을 구비한 트랙킹 제어의 원리를 도시하는 블록도.

도 18은 종래의 기록 재생 장치의 구성도.

도 19는 종래의 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 도면.

도 20은 종래의 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 플로차트.

도 21a는 종래의 렌즈 시프트 구동 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프.

도 21b는 종래의 대물 렌즈 위치와 시간과의 관계를 도시하는 그래프.

도 21c는 종래의 트랙킹 에러 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프.

도 22는 종래의 오프셋 측정 방법의 순서를 도시하는 플로차트.

본 발명에 따른 오프셋 측정 방법은 정보 매체의 반경 방향을 따라서 구동 가능하게 이송 수단 상에 배치된 광 픽업을 구비한 기록 재생 장치에서, 상기 정보 매체에 의해서 반사된 광빔에 기초하여 트랙킹 에러 신호에 중첩된 오프셋을 측정하는 오프셋 측정 방법으로서, 상기 광 픽업으로부터 상기 정보 매체상의 제 1 측정 위치에 광빔을 조사하여, 상기 제 1 측정 위치에서 반사된 상기 광빔에 기초하여 제 1 오프셋량을 측정하는 제 1 오프셋량 측정 공정과, 상기 제 1 오프셋량 측정 공정 이후에, 상기 광 픽업을 배치한 상기 이송 수단을 상기 반경 방향에 따른 제 1 방향을 향하여 제 1 거리 만큼 이동시키는 이송 수단 이동 공정과, 상기 제 1 방향과는 반대의 제 2 방향을 향하여 상기 이송 수단 상에서 상기 광 픽업을 상기제 1 거리와는 실질적으로 동일한 제 2 거리 만큼 구동하는 제 1 광 픽업 구동 공정과, 상기 이송 수단 이동 공정 및 상기 제 1 광 픽업 구동 공정 이후에, 상기 광 픽업으로부터 상기 정보 매체 상의 제 2 측정 위치에 광빔을 조사하여, 상기 제 2 측정 위치에서 반사된 상기 광빔에 기초하여 제 2 오프셋량을 측정하는 제 2 오프셋량 측정 공정을 포함하는 것을 특징으로 하며, 그로 인해 상기 목적이 달성된다.

상기 이송 수단 이동 공정은 상기 제 1 광 픽업 구동 공정 이전에 실행되어도 된다.

상기 제 1 오프셋량 측정 공정 전에, 상기 반경 방향에 따른 제 3 방향을 향하여 상기 이송 수단 상에서 상기 광 픽업을 제 3 거리 만큼 구동하는 제 2 광 픽업 구동 공정을 또한 포함하여도 된다.

상기 제 3 방향은 상기 제 1 방향과 동일한 방향이어도 된다.

상기 제 3 방향은 상기 제 1 방향과 반대의 방향이어도 된다.

상기 제 2 광 픽업 구동 공정은 상기 이송 수단 상의 중립 위치로부터 상기 제 3 거리 만큼 상기 광 픽업을 구동하여도 된다.

상기 정보 매체에는 상기 광빔이 조사되기 위한 홈이 형성되어 있고, 상기 광빔은 파장 λ를 갖고 있고, 상기 홈의 깊이는 λ/8 이상 λ/6 이하로 되어도 된다.

상기 정보 매체에는 광열 변환에 의해서 정보 신호가 기록되어도 된다.

상기 제 1 및 상기 제 2 오프셋량 측정 공정에 의해서 각각 측정된 상기 제 1 및 상기 제 2 오프셋량에 기초하여, 상기 이송 수단에 대한 상기 광 픽업의 오프셋 특성을 나타내는 보정 이득을 결정하는 보정 이득 결정 공정을 또한 포함하여도 된다.

상기 보정 이득 결정 공정에 의해서 결정된 상기 보정 이득의 값에 따라서, 상기 이송 수단에 대한 상기 광 픽업의 오프셋을 보정하는 공정을 또한 포함하여도 된다.

상기 광 픽업으로부터 상기 정보 매체 상의 상기 반경 방향에 따른 제 3 매체 위치에 광빔을 조사하여, 상기 제 3 매체 위치에서 반사된 상기 광빔에 기초하여, 푸쉬-풀 방식에 의해서 제 1 트랙킹 에러 신호를 검출하는 제 1 트랙킹 에러 신호 검출 공정과, 상기 제 3 매체 위치에서 반사된 상기 광빔에 기초하여, 위상차 방식에 의해서 제 2 트랙킹 에러 신호를 검출하는 제 2 트랙킹 에러 신호 검출 공정과, 상기 제 1 트랙킹 에러 신호 검출 공정에 의해서 검출된 상기 제 1 트랙킹 에러 신호와 상기 제 2 트랙킹 에러 신호 검출 공정에 의해서 검출된 상기 제 2 트랙킹 에러 신호에 기초하여, 상기 이송 수단에 대한 상기 광 픽업의 상기 오프셋을 상기 제 3 매체 위치에서 보정해야할 것인지 여부를 결정하는 공정을 또한 포함하여도 된다.

본 발명에 따른 기록 재생 장치는 정보 매체의 반경 방향을 따라서 구동 가능하게 이송 수단 상에 배치된 광 픽업과, 상기 광 픽업으로부터 상기 정보 매체상의 제 1 측정 위치에 조사되며 상기 제 1 측정 위치에서 반사된 광빔에 기초하여 제 1 오프셋량을 측정하는 오프셋량 측정 수단과, 상기 오프셋량 측정 수단이 상기 제 1 오프셋량을 측정한 후에, 상기 광 픽업이 상부에 배치된 상기 이송 수단을상기 반경 방향에 따른 제 1 방향을 향하여 제 1 거리 만큼 이동시키는 제어 수단과, 상기 오프셋량 측정 수단이 상기 제 1 오프셋량을 측정한 후에, 상기 제 1 방향과는 반대의 제 2 방향을 향하여 상기 이송 수단 상에서 상기 광 픽업을 상기 제 1 거리와는 실질적으로 동일한 제 2 거리 만큼 구동하는 구동 수단을 구비하고 있고, 상기 오프셋량 측정 수단은 상기 제어 수단이 상기 제 1 방향을 향하여 상기 제 1 거리 만큼 상기 이송 수단을 이동시킨 후에, 또한, 상기 구동 수단이 상기 제 2 방향을 향하여 상기 제 2 거리 만큼 상기 광 픽업을 구동한 후에, 상기 광 픽업으로부터 상기 정보 매체 상의 제 2 측정 위치에 조사되고 상기 제 2 측정 위치에서 반사된 광빔에 기초하여 제 2 오프셋량을 측정하며, 그것에 의해 상기 목적이 달성된다.

본 실시예에 따른 기록 재생 장치는 디스크에 의해서 반사된 광빔으로부터 검출된 트랙킹 에러 신호에 중첩한 DC 오프셋을 측정한다.

(제 1 실시예)

도 1은 제 1 실시예에 따른 기록 재생 장치(50)의 구성도이다. 기록 재생 장치(50)가 정보를 기록 재생하는 디스크(31)는 기판(32)을 갖고 있고, 기판(32) 상에는 정보를 기록 재생하기 위한 정보층(33)이 형성되어 있다. 정보층(33)에는 광열 변환에 의해서 정보가 기록된다. 기록 재생 장치(50)는 디스크(31)에 형성된 정보층(33)에 대향하도록 설치된 광 픽업(1)을 구비하고 있다.

광 픽업(1)은 이송대(2) 상에 배치되어 있다. 광 픽업(1)이 상부에 배치된 이송대(2)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 기초하여 정보 매체(31)의 반경 방향을 따라서 광 픽업(1)을 이송한다. 이와 같이, 광 픽업(1)은 이송대(2)에 의해서 이송되고, 정보 매체(31)의 반경 방향에 따른 임의의 위치로 이동하여, 정보층(33)에 대하여 광빔을 조사하여 정보 신호를 기록 재생할 수 있다.

광 픽업(1)은 광원(7)을 갖고 있다. 광원(7)은 적색 반도체 레이저에 의해서 구성되어 있고, 파장 650나노미터(nm)의 광빔을 발진하여, 콜리메이터 렌즈(8)를 향하여 출사한다. 광원(7)으로부터 출사된 광빔(이하 「출사광」이라고도 한다)은 콜리메이터 렌즈(8)에 의해서 평행광으로 변환되고, 빔 스플리터(9)를 통하여, 대물 렌즈(5)에 의해서 수속되어, 디스크(31)의 정보층(33)에 조사된다.

정보층(33)에서 반사된 광빔은 대물 렌즈(5) 및 빔 스플리터(9)를 통하여 2개의 수광부를 갖는 광 검출기(10)에 입사한다. 광 검출기(10)는 2개의 수광부가 각각 수광한 광빔의 강도의 차를 트랙킹 신호로서 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 출력한다.

광 픽업(1)에는 트랙킹 액추에이터(6)가 설치되어 있다. 상기 트랙킹 액추에이터(6)는 트랙킹 구동 회로(16)로부터의 구동 전류에 기초하여, 정보 매체(31)의 반경 방향을 따라서 대물 렌즈(5)를 이송대(2)에 대하여 이동시킨다.

트랙킹 에러 검출 회로(11)는 광 검출기(10)로부터 출력된 트랙킹 신호로부터, 상술한 푸쉬-풀 방식에 의해서, DC 오프셋이 중첩된 트랙킹 에러 신호를 검출하고, 오프셋 측정 회로(3) 및 오프셋 감산 회로(12)에 출력한다. 오프셋 감산 회로(12)는 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호로부터 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호를 감산하여 얻어진 보정 트랙킹 에러 신호를 트랙킹 제어 회로(13)에 출력한다. DC 오프셋 추정치를 나타내는 신호에 관해서는 후술한다.

트랙킹 제어 회로(13)는 오프셋 감산 회로(12)로부터 출력된 보정 트랙킹 에러 신호에 기초하여, 정보층(33) 상에 집광한 광빔의 위치가 정보층(33) 상에 형성된 트랙의 중심 위치를 나타내는 제어 목표 위치에 추종하도록 위상 보상하기 위한 트랙킹 구동 신호를 생성하여, 스위치 회로(SW2)에 출력한다.

스위치 회로(SW2)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 따라서, 트랙킹 제어 회로(13)로부터 출력된 트랙킹 구동 신호와 렌즈 시프트 구동 회로(18)로부터 출력된 렌즈 시프트 구동 신호 중 어느 하나를 선택하여, 트랙킹 구동 회로(16)에 출력한다. 트랙킹 제어에 의해서, 정보층(33) 상에 집광한 광빔의 위치를 정보층(33)상에 형성된 트랙의 중심 위치를 나타내는 제어 목표 위치에 추종시킬 때는, 스위치 회로(SW2)는 트랙킹 제어 회로(13)로부터 출력된 트랙킹 구동 신호를 선택하여 트랙킹 구동 회로(16)에 출력한다. 보정 이득을 결정하기 위한 DC 오프셋을 측정할 때, 또는 광 픽업(1)을 정보 매체(31)의 반경 방향에 따른 임의의 위치로 이송대(2)에 의해서 이송할 때는, 스위치 회로(SW2)는 렌즈 시프트 구동 회로(18)로부터 출력된 렌즈 시프트 구동 신호를 선택하여 트랙킹 구동 회로(16)에 출력한다.

트랙킹 구동 회로(16)는 스위치 회로(SW2)로부터 출력되는 트랙킹 구동 신호 또는 렌즈 시프트 구동 신호에 따라서, 대물 렌즈(5)를 이동시키기 위한 구동 전류를 트랙킹 액추에이터(6)에 출력한다. 트랙 액추에이터(6)는 트랙킹 구동 회로(16)로부터의 구동 전류에 기초하여, 정보 매체(31)의 반경 방향을 따라서 대물 렌즈(5)를 이송대(2)에 대하여 이동시킨다.

오프셋 측정 회로(3)는 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹에러 신호의 최대치와 최소치를 검출하고, 검출한 최대치와 최소치의 차를 연산함으로써, 트랙킹 에러 신호에 중첩된 DC 오프셋을 측정하여, 보정 이득 결정 회로(4)에 출력한다. 보정 이득 결정 회로(4)는 오프셋 측정 회로(3)에 의해서 측정된 DC 오프셋에 기초하여, 보정 이득을 결정하여, 승산 회로(15)에 출력한다.

트랙킹 제어 회로(13)는 트랙킹 구동 신호의 저주파 성분을 트랙킹 교정 신호로서 광축 어긋남량 추정 회로(14)에 출력한다. 광축 어긋남량 추정 회로(14)는 트랙킹 액추에이터(6)의 출력에 따라서 동작하는 대물 렌즈(5)의 동적 특성과 동일한 동적 특성을 구비하고 있고, 트랙킹 제어 회로(13)로부터 출력된 트랙킹 교정 신호에 기초하여, 렌즈 광축 어긋남에 기인하는 대물 렌즈(5)의 변위와 실질적으로 동일한 변위를 나타내는 광축 어긋남 추정치를 나타내는 신호를 생성하고, 승산 회로(15)에 출력한다.

승산 회로(15)는 보정 이득 결정 회로(4)에 의해서 결정된 보정 이득과 광축 어긋남량 추정 회로(14)에 의해서 생성된 광축 어긋남 추정치를 나타내는 신호를 승산하여 얻어진 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호를 스위치 회로(SW1)에 출력한다. 스위치 회로(SW1)는 시스템 컨트롤러(17)에 의한 지령에 따라서 온 오프하고, 온 함으로써, 승산 회로(15)로부터 출력된 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호를 오프셋 감산 회로(12)에 부여한다.

이와 같이 구성된 제 1 실시예에 따른 기록 재생 장치(50)가 DC 오프셋을 측정하는 방법을 도 2 및 도 3을 참조하여 설명한다. 도 2는 제 1 실시예에 따른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 도면이고, 도 3은 제 1 실시예에 따른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 플로차트이다. 도 2에서, 스텝 1 내지 7에 각각 대응하는 이송대(2)에 배치된 광 픽업(1)에 각각 대향하는 디스크(31)는 도시를 생략하고 있지만, 각 광 픽업(1)은 디스크(31)에 각각 대향하고 있다. 스위치 회로(SW2)는 렌즈 시프트 구동 회로(18)로부터 출력되는 렌즈 시프트 구동 신호를 선택하고 있으며, 트랙킹 구동 회로(16)에는 렌즈 시프트 구동 신호가 입력되어 있는 것으로 한다.

대물 렌즈(5)(도 1)가 설치된 광 픽업(1)은 이송대(2)에서의 중립 위치 상에 배치되어 있다. 대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업(1)은 렌즈 시프트 구동 신호에 따라서 트랙킹 구동 회로(16)가 구동 신호를 출력하는 트랙킹 액추에이터(6)에 의해서, 디스크(31)의 한쪽의 반경 방향{예를 들면, 디스크(1)의 외주 방향}을 향하여 이송대(2)에 대하여 거리 X1 만큼 이동한다(스텝 1).

그리고, 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 이동한 광 픽업(1)은 정보층(33) 상의 반경 방향에 따른 제 1 측정 위치에 광빔을 조사한다. 광 픽업(1)에 설치된 광 검출기(10)(도 1)는 정보층(33) 상의 제 1 측정 위치에서 반사된 광빔을 트랙킹 신호로 변환한다. 트랙킹 에러 검출 회로(11)는 광 검출기(10)에 의해서 변환된 트랙킹 신호로부터 트랙킹 에러 신호를 검출한다. 오프셋 측정 회로(3)는 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호에 기초하여 DC 오프셋을 측정한다(스텝 2).

다음에, 광 픽업(1)이 상부에 배치된 이송대(2)를, 디스크(31)의 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 Y1 만큼 이동시킨다(스텝3). 거리 Y1은 스텝 1에서 광 픽업(1)이 이송대(2) 상을 이동한 거리 X1 보다도 길게 되도록 설정되어 있다.

그 후, 대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업(1)은 트랙킹 액추에이터(6)에 의해서 구동됨으로써, 이송대(2) 상의 중립 위치로부터 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 이격된 위치로부터, 다른쪽의 반경 방향{예를 들면, 디스크(31)의 내주 방향}을 향하여 중립 위치로부터 거리 X2 만큼 이격된 위치까지의 거리 (X1+ X2) 만큼 다른쪽의 반경 방향을 향하여 이송대(2) 상을 이동한다(스텝 4).

그리고, 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 (X1+ X2) 만큼 이송대(2) 상을 이동한 광 픽업(1)은 정보층(33) 상의 반경 방향에 따른 제 2 측정 위치에 광빔을 조사한다. 다음에, 정보층(33) 상의 제 2 측정 위치에서 반사한 광빔에 기초하여, 스텝 2에서 상술한 방법과 동일 방법에 의해서 DC 오프셋(OS2)을 측정한다(스텝 5).

여기서, 스텝 3에서 광 픽업(1)이 상부에 배치된 이송대(2)가 한쪽의 반경 방향을 향하여 이동하는 거리 Y1과 스텝 4에서 광 픽업(1)이 다른쪽의 반경 방향을 향하여 이송대(2) 상을 이동하는 거리 (X1+ X2)와는, 서로 동일하게 되도록 설정되어 있다. 따라서, DC 오프셋을 측정하기 위해서 스텝 2에서 광 픽업(1)이 출사하는 광빔이 조사되는 정보층(33) 상의 반경 방향에 따른 제 1 측정 위치와, 스텝 5에서 광 픽업(1)이 출사하는 광빔이 조사되는 정보층(33) 상의 반경 방향에 따른 제 2 측정 위치는 실질적으로 동일한 위치가 된다.

이 때문에, 스텝 2에서의 1회째의 DC 오프셋 측정에서의 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성은, 스텝 5에서의 2회째의 DC 오프셋 측정에서의 정보층(33)의반사 특성 또는 투과 특성과 실질적으로 동일하게 된다. 그 결과, 광빔이 조사되는 다른 2개의 위치 사이에서 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성이 다르다고 하는 상술한 문제가 발생하지 않기 때문에, 렌즈 광축 어긋남에 의해서 트랙킹 에러 신호에 중첩하는 DC 오프셋을 정밀도 양호하게 측정할 수 있다.

그 후, 이송대(2) 상의 중립 위치까지 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X2 만큼 이송대(2)에 대하여 광 픽업(1)을 이동시킨다(스텝 6). 그리고, 이송대(2) 상의 중립 위치까지 이동한 광 픽업(1)이 배치된 이송대(2)를, 디스크(31)의 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 Y1 만큼 이동시켜, 광 픽업(1) 및 이송대(2)를 초기 위치로 되돌린다(스텝 7).

도 4a 내지 도 4c 및 도 5를 참조하여, 측정된 DC 오프셋에 기초하여 보정 이득을 결정하는 방법을 설명한다. 도 4a는 제 1 실시예에 따른 렌즈 시프트 구동 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프이고, 도 4b는 제 1 실시예에 따른 광 픽업(1) 위치와 시간과의 관계를 도시하는 그래프이다. 도 4c는 제 1 실시예에 따른 트랙킹 에러 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프이다. 도 5는 제 1 실시예에 따른 측정된 DC 오프셋에 기초하여 보정 이득을 결정하는 방법의 순서를 도시하는 플로차트이다. 도 3을 참조하여 상술한 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 플로차트의 구성 요소와 동일한 구성 요소에는 동일한 참조 부호를 붙이고 있다. 이들의 구성 요소의 상세한 설명은 생략한다. 광 픽업(1)이 조사하는 광빔은 디스크(31)의 정보층(33)에 설치된 트랙 상에 위치 결정되어 있고, 광 픽업(1)에 설치된 광 검출기(10)는 정보층(33)에서 반사된 광빔을 수광하여 트랙킹 신호로 변환할수 있는 상태인 것으로 한다.

최초에, 렌즈 시프트 구동 회로(18)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 따라서, 도 4a에 도시하는 바와 같이, 광 픽업(1)에 설치된 대물 렌즈(5)를 한쪽의 반경 방향을 향하여 일정한 속도로 거리 X1 만큼 이동시키기 위한 렌즈 시프트 구동 신호를 스위치 회로(SW2)를 통해 트랙킹 구동 회로(16)에 출력한다. 트랙킹 구동 회로(16)는 렌즈 시프트 구동 회로(18)로부터 출력된 렌즈 시프트 구동 신호에 기초하여, 트랙킹 액추에이터(6)를 구동하기 위한 구동 전류를 출력한다. 트랙킹 액추에이터(6)는 트랙킹 구동 회로(16)로부터 출력된 구동 전류에 따라서, 도 2 및 도 4b에 도시하는 바와 같이, 이송대(2) 상의 중립 위치로부터 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업(1)을 이송대(2)에 대하여 일정한 속도로 이동시킨다(스텝 1).

이와 같이 이송대(2) 상의 중립 위치로부터 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 이동한 광 픽업(1)은 정보층(33) 상의 반경 방향에 따른 제 1 측정 위치에 광빔을 조사한다. 광 픽업(1)에 설치된 광 검출기(10)는 제 1 측정 위치에서 반사된 광빔을 트랙킹 신호로 변환한다. 트랙킹 에러 검출 회로(11)는 트랙킹 신호로부터 트랙킹 에러 신호를 검출한다. 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호에는 도 4c에 도시하는 바와 같이, 렌즈 광축 어긋남에 기인하여 DC 오프셋(OS1)이 중첩하고 있다. 오프셋 측정 회로(3)는 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호의 최대치와 최소치를 측정하고, 측정한 최대치와 최소치에 기초하여 트랙킹 에러 신호에 중첩한 DC 오프셋(OS1)을 얻는다(스텝 2).

다음에, 스텝 1에서 광 픽업(1)이 이송대(2) 상을 이동한 거리 X1과 스텝 2에서 오프셋 측정 회로(3)가 측정한 DC 오프셋(OS1)을 보정 이득 결정 회로(4)에 설치된 도시하지 않은 기억 회로에 기억한다(스텝 2-1).

그 후, 광 픽업(1)이 배치된 이송대(2)를 디스크(31)의 한쪽의 반경 방향을 향하여, 거리 X1 보다도 긴 거리 Y1 만큼 이동시킨다(스텝 3). 다음에, 대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업(1)은 트랙킹 액추에이터(6)에 의해서 구동됨으로써, 도 2 및 도 4b에 도시하는 바와 같이, 이송대(2) 상의 중립 위치로부터 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 이격된 위치로부터, 중립 위치로부터 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X2 만큼 이격된 위치까지의 거리 (X1+ X2) 만큼 다른쪽의 반경 방향을 향하여 이송대(2) 상을 이동한다(스텝 4).

그리고, 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 (X1+ X2) 만큼 이송대(2) 상을 이동한 광 픽업(1)은 정보층(33) 상의 제 1 측정 위치와 실질적으로 동일한 위치인 제 2 측정 위치에 광빔을 조사한다. 다음에, 정보층(33) 상의 제 2 측정 위치에서 반사한 광빔에 기초하여, 스텝 2에서 상술한 방법과 동일 방법에 의해서 DC 오프셋(OS2)을 측정한다(스텝 5).

다음에, 스텝 4에서 광 픽업(1)이 이송대(2) 상을 이동한 거리 (X1+ X2)로부터 거리 X1을 감산한 거리 X2와 스텝 5에서 오프셋 측정 회로(3)가 측정한 DC 오프셋(OS2)을 보정 이득 결정 회로(4)에 설치된 도시하지 않은 기억 회로에 기억한다(스텝 5-1).

그 후, 대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업(1)을, 이송대(2) 상의 중립 위치까지 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X2 만큼 이동시킨다(스텝 6). 그리고, 이송대(2) 상의 중립 위치까지 이동한 광 픽업(1)이 배치된 이송대(2)를, 디스크(31)의 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 Y1 만큼 이동시켜, 광 픽업(1) 및 이송대(2)를 초기 위치로 되돌린다(스텝 7).

그리고, 보정 이득 결정 회로(4)는 스텝 2-1에서 도시하지 않은 기억 회로에 기억한 광 픽업(1)의 이동 거리 X1 및 DC 오프셋(OS1)과, 스텝 5-1에서 기억 회로에 기억한 광 픽업(1)의 이동 거리 X2 및 DC 오프셋(OS2)과, 하기에 나타내는 수학식 2에 기초하여, 보정 이득을 결정한다(스텝 8).

이상과 같이 제 1 실시예에 의하면, 디스크(31)의 반경 방향을 따라서 구동 가능하게 이송대(2) 상에 배치된 광 픽업(1)으로부터 정보 매체(31) 상의 반경 방향에 따른 제 1 측정 위치에 광빔을 조사하여, 제 1 측정 위치에서 반사된 광빔에 기초하여 DC 오프셋(OS1)을 측정하는 제 1 오프셋량 측정 공정(스텝 2)과, 제 1 오프셋량 측정 공정 이후에, 광 픽업(1)을 배치한 이송대(2)를 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 Y1 만큼 이동시키는 이송 수단 이동 공정(스텝 3)과, 제 1 오프셋량 측정 공정 이후에, 다른쪽의 반경 방향을 향하여 이송대(2) 상에서 광 픽업(1)을 거리 (X1+ X2) 만큼 구동하는 제 1 광 픽업 구동 공정(스텝 4)과, 이송 수단 이동공정(스텝 3) 및 제 1 광 픽업 구동 공정(스텝 4) 이후에, 광 픽업(1)으로부터 디스크(31) 상의 반경 방향에 따른 제 2 측정 위치에 광빔을 조사하여, 제 2 측정 위치에서 반사된 광빔에 기초하여 DC 오프셋(OS2)을 측정하는 제 2 오프셋량 측정 공정(스텝 5-1)을 포함하고 있고, 거리 (X1+ X2)는 거리 Y1과 실질적으로 동일하게 되어 있다.

이 때문에, 스텝 5에서 광빔이 조사되는 제 2 측정 위치는 스텝 2에서 광빔이 조사되는 제 1 측정 위치와 실질적으로 동일한 위치가 된다. 따라서, 스텝 2에서의 1회째의 DC 오프셋 측정에서 광빔이 조사되는 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성은, 스텝 5에서의 2회째의 DC 오프셋 측정에서 광빔이 조사되는 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성과 실질적으로 동일하게 된다. 그 결과, 광빔이 조사되는 다른 2개의 위치 사이에서 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성이 다르다고 하는 상술한 문제가 발생하지 않기 때문에, 렌즈 광축 어긋남에 의해서 트랙킹 에러 신호에 중첩하는 DC 오프셋을 정밀도 양호하게 측정할 수 있다.

제 1 실시예에서는 거리 (X1+ X2)가 거리 Y1과 실질적으로 동일한 예를 설명하고 있다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 거리 (X1+ X2)는 제 2 측정 위치가 제 1 측정 위치의 근방이 되는 정도로, 거리 Y1과 약간 상이해도 된다. 그 이유는 이하에 설명하는 바와 같다. 스텝 5에서 2회째에 DC 오프셋을 측정하는 제 2 측정 위치가 스텝 2에서 1회째에 DC 오프셋을 측정한 제 1 측정 위치의 근방이면, 1회째의 DC 오프셋 측정에서의 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성과 2회째의 DC 오프셋 측정에서의 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성의 사이의 차이는 제 2 측정 위치가 제 1 측정 위치로부터 이격되어 있는 상술한 종래 기술의 구성에서의 반사 특성 또는 투과 특성의 차이보다도 훨씬 작게 된다. 이 때문에, 렌즈 광축 어긋남에 의해서 트랙킹 에러 신호에 중첩하는 DC 오프셋을, 상술한 종래 기술보다도 상당히 정밀도 양호하게 측정할 수 있기 때문이다.

제 1 실시예에서는, 제 1 광 픽업 구동 공정(스텝 4) 이전에 이송 수단 이동 공정(스텝3)을 실행하는 예를 예시하고 있지만, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 이송 수단 이동 공정(스텝 3)은 제 1 광 픽업 구동 공정(스텝 4) 이후에 실행하여도 된다.

거리 (X1+ X2)는 거리 Y1과 완전히 동일한 것이 가장 바람직하다. 왜냐하면, 스텝 5에서 광빔이 조사되는 제 2 측정 위치는 스텝 2에서 광빔이 조사되는 제 1 측정 위치와 완전히 동일한 위치가 되기 때문에, 스텝 2에서의 1회째의 DC 오프셋 측정에서의 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성은 스텝 5에서의 2회째의 DC 오프셋 측정에서의 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성과 완전히 동일하게 되기 때문이다.

스텝 3에서 이송대(2)가 이동하는 거리 Y1은 스텝 1에서 광 픽업(1)이 이송대(2) 상을 이동하는 거리 X1 보다도 길게 되도록 설정되어 있기 때문에, 스텝 2에서 1회째에 DC 오프셋을 측정할 때는 이송대(2)의 중립 위치에 대하여 디스크(31)의 외주측에 시프트되어 있는 광 픽업(1)은, 스텝 5에서 2회째에 DC 오프셋을 측정할 때는 이송대(2)의 중립 위치에 대하여 디스크(31)의 내주측에 시프트되어 있다.

이 때문에, DC 오프셋을 측정할 때의 이송대(2) 상의 광 픽업(1)의 2개의 위치가 중립 위치를 포함하는 보다 넓은 범위를 커버하기 때문에, 이송대(2) 상의 광 픽업(1)의 위치에 대한 DC 오프셋의 특성을 나타내는 렌즈 시프트 특성을 보다 정확하게 측정할 수 있다.

거리 X1은 거리 X2와 동일하게 되도록 설정하는 것이 바람직하다. 왜냐하면, 1회째에 DC 오프셋을 측정할 때의 스텝 2에서의 광 픽업(1)의 이송대(2) 상의 위치와 2회째에 DC 오프셋을 측정할 때의 스텝 5에서의 광 픽업(1)의 이송대(2) 상의 위치가 이송대(2)의 중립 위치에 대해서 대칭이 되기 때문에, 측정한 렌즈 시프트 특성에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있기 때문이다.

도 6a는 제 1 실시예에 따른 다른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 도면이다. 도 6b는 다른 오프셋 측정 방법의 순서를 도시하는 플로차트이다. 도 2 및 도 3을 참조하여 상술한 오프셋 측정 방법에서의 구성 요소와 동일한 구성 요소에는 동일한 참조 부호를 붙이고 있다. 이들의 구성 요소의 상세한 설명은 생략한다. 상술한 오프셋 측정 방법과 다른점은 거리 Y1이 거리 X1 이하로 되어 있는 점(스텝 3A), 및 거리 Y1이 거리 X2와 실질적으로 동일하게 되어 있는 점(스텝 4A)이다.

도 6a 및 도 6b를 참조하면, 대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업은 이송대(2)에서의 중립 위치 상에 배치되어 있다. 광 픽업(1)은 트랙킹 액추에이터(6)에 의해서, 디스크(31)의 한쪽의 반경 방향을 향하여 이송대(2)에 대하여 거리 X1 만큼 이동한다(스텝 1).

그리고, 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 이동한 광 픽업(1)은 정보층(33) 상의 제 1 측정 위치에 광빔을 조사한다. 광 픽업(1)에 설치된 광 검출기(10)는 정보층(33) 상의 제 1 측정 위치에서 반사된 광빔을 트랙킹 신호로 변환하고, 트랙킹 에러 검출 회로(11)는 트랙킹 신호로부터 트랙킹 에러 신호를 검출한다. 오프셋 측정 회로(3)는 트랙킹 에러 신호에 기초하여 DC 오프셋을 측정한다(스텝 2).

다음에, 광 픽업(1)을 배치한 이송대(2)를, 거리 Y1 만큼 디스크(31)의 한쪽의 반경 방향을 향하여 이동시킨다. 거리 Y1은 스텝 1에서 광 픽업(1)이 이송대(2) 상을 이동한 거리 X1 이하가 되도록 설정되어 있다(스텝 3A).

그 후, 대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업(1)은 트랙킹 액추에이터(6)에 의해서 구동됨으로써, 이송대(2) 상의 중립 위치로부터 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 이격된 위치로부터, 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X2 만큼 이송대(2) 상을 이동한다. 거리 X2는 스텝 3A에서 이송대(2)가 한쪽의 반경 방향을 향하여 이동한 거리 Y1과 실질적으로 동일하게 되도록 설정되어 있다(스텝 4A).

그리고, 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X2 만큼 이송대(2) 상을 이동한 광 픽업(1)은 정보층(33) 상의 제 2 측정 위치에 광빔을 조사한다. 다음에, 정보층(33) 상의 제 2 측정 위치에서 반사한 광빔에 기초하여, 스텝 2에서 상술한 방법과 동일한 방법에 의해서 DC 오프셋(OS2)을 측정한다(스텝 5).

그 후, 이송대(2) 상의 중립 위치까지 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 (X1-X2) 만큼 이송대(2)에 대하여 광 픽업(1)을 이동시킨다(스텝 6). 그리고, 이송대(2) 상의 중립 위치까지 이동한 광 픽업(1)을 배치한 이송대(2)를, 디스크(31)의 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 Y1 만큼 이동시켜, 광 픽업(1) 및 이송대(2)를 초기 위치로 되돌린다(스텝 7).

이와 같이, 스텝 4A에서 광 픽업(1)이 다른쪽의 반경 방향을 향하여 이송대(2) 상을 이동하는 거리 X2는 스텝 3A에서 이송대(2)가 한쪽의 반경 방향을 향하여 이동하는 거리 Y1과 실질적으로 동일하게 되도록 설정되어 있다. 따라서, 도 2를 참조하여 상술한 오프셋 측정 방법과 마찬가지로, DC 오프셋을 측정하기 위해서 스텝 2에서 광 픽업(1)이 출사하는 광빔이 조사되는 반경 방향에 따른 정보층(33) 상의 제 1 측정 위치는 스텝 5에서 광 픽업(1)이 출사하는 광빔이 조사되는 반경 방향에 따른 정보층(33) 상의 제 2 측정 위치와 실질적으로 동일한 위치가 된다.

이 때문에, 스텝 2에서의 1회째의 DC 오프셋 측정에서의 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성은 스텝 5에서의 2회째의 DC 오프셋 측정에서의 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성과 실질적으로 동일하게 된다. 그 결과, 렌즈 광축 어긋남에 의해서 트랙킹 에러 신호에 중첩하는 DC 오프셋을 정밀도 양호하게 측정할 수 있다.

도 7a는 제 1 실시예에 따른 또다른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 도면이다. 도 7b는 또다른 오프셋 측정 방법의 순서를 도시하는 플로차트이다. 도 2 및 도 3을 참조하여 상술한 오프셋 측정 방법에서의 구성 요소와 동일한 구성 요소에는 동일한 참조 부호를 붙이고 있다. 이들의 구성 요소의 상세한 설명은 생략한다. 상술한 오프셋 측정 방법과 다른점은 이송대(2)가 거리 Y1 만큼 이동하는방향이 한쪽의 반경 방향과는 역방향인 다른쪽의 반경 방향인 점(스텝 3B), 및 광 픽업(1)이 이송대(2) 상을 거리 X2 만큼 이동하는 방향이 다른쪽의 반경 방향과는 반대의 방향인 한쪽의 반경 방향인 점(스텝 4B)이다.

도 7a 및 도 7b를 참조하면, 대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업(1)은 이송대(2)에서의 중립 위치상에 배치되어 있다. 광 픽업(1)은 트랙킹 액추에이터(6)에 의해서, 디스크(31)의 한쪽의 반경 방향을 향하여 이송대(2)에 대하여 거리 X1 만큼 이동한다(스텝 1).

그리고, 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 이동한 광 픽업(1)은 정보층(33) 상의 제 1 측정 위치에 광빔을 조사한다. 광 픽업(1)에 설치된 광 검출기(10)는 제 1 측정 위치에서 반사된 광빔을 트랙킹 신호로 변환하고, 트랙킹 에러 검출 회로(11)는 트랙킹 신호로부터 트랙킹 에러 신호를 검출한다. 오프셋 측정 회로(3)는 트랙킹 에러 신호에 기초하여 DC 오프셋을 측정한다(스텝 2).

다음에, 광 픽업(1)을 배치한 이송대(2)를, 디스크(31)의 한쪽의 반경 방향과는 역방향인 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 Y1 만큼 이동시킨다(스텝 3B).

그 후, 대물 렌즈(5)가 설치된 광 픽업(1)은 트랙킹 액추에이터(6)에 의해서 구동됨으로써, 이송대(2) 상의 중립 위치로부터 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 이격된 위치로부터, 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X2 만큼 이송대(2) 상을 이동한다. 거리 X2는 스텝 3B에서 이송대(2)가 다른쪽의 반경 방향을 향하여 이동한 거리 Y1과 실질적으로 동일하게 되도록 설정되어 있다(스텝 4B).

그리고, 스텝 4B에서 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X2 만큼 이송대(2) 상을 이동한 광 픽업(1)은 정보층(33) 상의 제 2 측정 위치에 광빔을 조사한다. 다음에, 정보층(33) 상의 제 2 측정 위치에서 반사한 광빔에 기초하여, 스텝 2에서 상술한 방법과 동일한 방법에 의해서 DC 오프셋(OS2)을 측정한다(스텝 5).

그 후, 이송대(2) 상의 중립 위치까지 다른쪽의 반경 방향을 향하여 거리 (X1+ X2) 만큼 이송대(2)에 대하여 광 픽업(1)을 이동시킨다(스텝 6). 그리고, 이송대(2) 상의 중립 위치까지 이동한 광 픽업(1)을 배치한 이송대(2)를, 디스크(31)의 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 Y1 만큼 이동시켜, 광 픽업(1) 및 이송대(2)를 초기 위치로 되돌린다(스텝 7).

이와 같이, 스텝 4B에서 광 픽업(1)이 한쪽의 반경 방향을 향하여 이송대(2) 상을 이동하는 거리 X2는 스텝 3B에서 이송대(2)가 다른쪽의 반경 방향을 향하여 이동하는 거리 Y1과 실질적으로 동일하게 되도록 설정되어 있다. 따라서, 도 2를 참조하여 상술한 오프셋 측정 방법과 마찬가지로, 스텝 2에서 광 픽업(1)이 출사하는 광빔이 조사되는 정보층(33) 상의 제 1 측정 위치는 스텝 5에서 광 픽업(1)이 출사하는 광빔이 조사되는 제 2 측정 위치와 실질적으로 동일한 위치가 된다.

이 때문에, 스텝 2에서의 1회째의 DC 오프셋 측정에서의 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성은 스텝 5에서의 2회째의 DC 오프셋 측정에서의 정보층(33)의 반사 특성 또는 투과 특성과 실질적으로 동일하게 된다. 그 결과, 렌즈 광축 어긋남에 의해서 트랙킹 에러 신호에 중첩하는 DC 오프셋을 정밀도 양호하게 측정할 수 있다.

도 8a는 제 1 실시예에 따른 또다른 오프셋 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 도면이다. 도 8b는 또다른 오프셋 측정 방법의 순서를 도시하는 플로차트이다. 도 2 및 도 3을 참조하여 상술한 오프셋 측정 방법에서의 구성 요소와 동일한 구성 요소에는 동일한 참조 부호를 붙이고 있다. 이들의 구성 요소의 상세한 설명은 생략한다. 상술한 오프셋 측정 방법과 다른점은 광 픽업(1)이, 이송대(2) 상의 중립 위치로부터 한쪽의 반경 방향을 향하여 거리 X1 만큼 이격된 위치로부터, 다른쪽의 반경 방향을 향하여 중립 위치로부터 가장 이격된 한계 위치인 거리 X2max 만큼 이격된 위치까지 이동하는 점이다(스텝 4C).

이와 같이 스텝 4C에서 광 픽업(1)이 이동하는 위치는 이송대(2)의 중립 위치로부터 가장 이격된 한계 위치이기 때문에, 스텝 4C에서 광 픽업(1)이 이동하는 위치를 제어할 필요가 없다. 이 때문에, 광 픽업(1)의 이송대(2) 상의 위치를 제어하는 제어계의 구성을 간략하게 할 수 있다.

상술한 도 2 및 도 3의 스텝 1에서 중립 위치로부터 한쪽의 반경 방향을 향하여 가장 이격된 한계 위치까지 광 픽업(1)을 이동시켜도 되고, 도 2 및 도 3의 스텝 4에서 중립 위치로부터 다른쪽의 반경 방향을 향하여 가장 이격된 한계 위치까지 광 픽업(1)을 이동시켜도 된다. 특히, 스텝 1에서 중립 위치로부터 한쪽의 반경 방향을 향하여 가장 이격된 한계 위치까지 광 픽업(1)을 이동시키며, 또한, 스텝 4에서 중립 위치로부터 다른쪽의 반경 방향을 향하여 가장 이격된 한계 위치까지 광 픽업(1)을 이동시키는 것이 바람직하다. 왜냐하면, DC 오프셋을 측정하는 광 픽업(1)의 2개의 위치가 중립 위치에 대해서 대칭이 되기 때문에 측정한 렌즈 시프트 특성에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있음과 동시에, 광 픽업(1)의 이송대(2)상의 위치를 제어하는 제어계의 구성을 간략하게 할 수 있기 때문이다.

또한, 상술한 도 6a 및 도 6b의 스텝 1에서 중립 위치로부터 한쪽의 반경 방향을 향하여 가장 이격된 한계 위치까지 광 픽업(1)을 이동시켜도 된다. 또한, 상술한 도 7a 및 도 7b의 스텝 4에서 중립 위치로부터 한쪽의 반경 방향을 향하여 가장 이격된 한계 위치까지 광 픽업(1)을 이동시켜도 된다.

상술한 제 1 실시예에서는 DC 오프셋을 측정하기 위해서 광 픽업(1)을 디스크(31)의 반경 방향을 따라서 이동시키는 예를 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 왜냐하면, 본 발명의 기술 사상은 DC 오프셋을 측정하기 위해서 광빔을 조사하는 제 1 측정 위치와 제 2 측정 위치를 근접시키는 것에 있기 때문이다. 따라서, 광 픽업에 설치된 대물 렌즈의 광축 중심을 디스크의 반경 방향을 따라서 경사지게함으로써 DC 오프셋을 측정하는 오프셋 측정 방법에 대하여도 본 발명을 적용할 수 있다.

(제 2 실시예)

도 9는 제 2 실시예에 따른 기록 재생 장치(60)의 구성도이다. 제 1 실시예에서 상술한 기록 재생 장치(50)의 구성 요소와 동일한 구성 요소에는 동일의 참조 부호를 붙이고 있다. 이들의 구성 요소의 상세한 설명은 생략한다. 제 1 실시예에 따른 기록 재생 장치(50)와 다른점은 영역 판별 블록(21)을 또한 구비하고 있는 점 및, 트랙킹 에러 검출 회로(11) 대신에 트랙킹 에러 검출 회로(11A)를 구비하고 있는 점이다.

영역 판별 블록(21)은 기준 전압원(22)을 구비하고 있다. 기준 전압원(22)은 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 따라서, 기준 전압(Vref1)과 기준 전압(Vref2)을 전환하여 비교기(23)에 출력한다. 비교기(23)는 트랙킹 에러 검출 회로(11)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호와 비교기(23)로부터 출력된 기준 전압(Vref1) 또는 기준 전압(Vref2)과의 비교 결과를 나타내는 비교 신호를 영역 검출 회로(24)에 출력한다. 영역 검출 회로(24)는 저항(R) 및 콘덴서(C)를 갖고 있고, 비교기(23)로부터 출력된 비교 신호에 기초하여 영역 판별 신호를 생성하고, 시스템 컨트롤러(17)에 출력한다.

이와 같이 구성된 기록 재생 장치(60)에 있어서는, 트랙킹 에러 검출 회로(11A)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 따라서, 트랙킹 신호로부터 트랙킹 에러 신호를 검출하는 방식을 상술한 푸쉬-풀 방식과 위상차 방식 사이에서 전환하여, 트랙킹 에러 신호를 검출한다.

이하 위상차 방식을 설명한다. 위상차 방식에 있어서는 광빔의 수속점이 디스크에 설치된 트랙 상을 통과할 때에 디스크로부터 반사된 광빔의 강도 패턴이 시간적으로 변화하는 현상을 이용하여 트랙킹 에러 신호를 검출한다.

광빔의 수속점이 트랙에 기록된 피트의 중심, 즉 트랙의 중심을 통과할 때는 광 픽업(1)에 설치된 4분할 광 검출기의 각 출력은 좌우 대칭으로 그 패턴이 변화한다. 광빔의 수속점이 트랙의 우측을 통과할 때는 4분할 광 검출기의 각 출력은 반시계 방향으로 회전하도록 그 패턴이 변화하고, 트랙의 좌측을 통과할 때는 4분할 광 검출기의 각 출력은 시계 방향으로 회전하도록 그 패턴이 변화한다. 이러한4분할 광 검출기의 각 출력의 패턴의 회전 변화는 광빔의 수속점이 트랙의 중심에서 어긋남에 따라서 선명하게 된다.

위상차 방식에 있어서는 4분할 광 검출기의 각 출력의 대각 합에 의해서 얻어지는 2개의 신호 위상을 비교하고, 한쪽의 위상의 다른 위상에 대한 진행량 또는 지연량에 기초하여 광빔의 수속점과 트랙의 중심과의 위치 어긋남을 나타내는 트랙킹 에러 신호를 검출한다. 따라서 위상차 방식에 있어서는 광빔을 조사한 디스크에 설치된 정보층에 피트가 기록되어 있을 때는 트랙킹 에러 신호를 검출할 수 없다.

재기록 가능 디스크와 추기형 디스크를 포함하는 기록형 디스크에 있어서는 홈 형상의 트랙이 정보층에 설치되어 있다. 재생 전용 디스크에 있어서는 홈 형상의 트랙은 설치되어 있지 않고, 평면 형상으로 형성된 정보층에 정보층의 형상을 변화시킨 피트로서 정보가 기록되어 있다. 기록형 디스크 중 추기형 디스크에 있어서는 홈 형상의 트랙이 설치된 정보층에 정보층의 형상을 변화시킨 피트로서 정보가 기록되어 있다. 기록형 디스크 중 재기록 가능 디스크에 있어서는 홈 형상의 트랙이 설치된 정보층에 정보층을 구성하는 원소의 배열을 변화시킨 기록 마크로서 정보가 기록되어 있다.

도 10a는 제 2 실시예에 따른 트랙킹 에러 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프이다. 종축은 트랙킹 에러 검출 회로(11A)가 푸쉬-풀 방식에 의해서 검출한 트랙킹 에러 신호를 나타내고 있고, 횡축은 시간을 나타내고 있다.

트랙킹 에러 검출 회로(11A)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 따라서,트랙킹 에러 신호의 검출 방식으로서 푸쉬-풀 방식을 선택하고 있는 것으로 한다. 홈 형상의 트랙이 설치된 추기형 디스크에 있어서 정보층의 형상을 변화시킨 피트로서 정보가 기록되어 있는 영역 또는 피트가 기록되어 있지 않은 영역에 광빔을 조사하고, 반사된 광빔에 기초하여 푸쉬-풀 방식에 의해서 트랙킹 에러 검출 회로(11A)가 검출한 트랙킹 에러 신호는 도 10a에서의 영역 B에 도시하는 바와 같이 톱니 형상의 신호가 된다. 단지, 톱니 형상의 트랙킹 에러 신호의 진폭의 크기는 디스크의 반사율, 홈의 구조, 피트의 구조에 따라 다르다. 기준 전압원(22)으로부터 출력되는 기준 전압(Vref1)은 도 10a에 도시하는 바와 같이, 톱니 형상의 신호의 크기보다도 작게 되도록 설정되어 있다.

평면 형상으로 정보층이 형성된 재생 전용 디스크에 있어서 정보층의 형상을 변화시킨 피트로서 정보가 기록되어 있는 영역 또는 피트가 기록되어 있지 않은 영역에 광빔을 조사하였을 때는 푸쉬-풀 방식에 의해서 트랙킹 에러 검출 회로(11A)가 검출한 트랙킹 에러 신호는 도 10a에서의 영역 A에 도시하는 바와 같이 제로 레벨의 신호가 된다.

도 10b는 제 2 실시예에 따른 비교 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프이다. 비교기(23)는 도 11a에 도시하는 트랙킹 에러 검출 회로(11A)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호와 기준 전압(Vref1)에 기초하여, 영역 B에서의 트랙킹 에러 신호를 직사각형의 펄스열에 2치화된 비교 신호를 생성하고, 영역 검출 회로(24)에 출력한다.

도 10c는 제 2 실시예에 따른 영역 판별 신호와 시간과의 관계를 도시하는그래프이다. 영역 검출 회로(24)는 영역 검출 회로(24)에 설치된 저항(R)과 콘덴서(C)에 의해, 비교기(23)로부터 출력된 도 10b에 도시하는 비교 신호를 직사각형의 영역 판별 신호로 변환하고, 시스템 컨트롤러(17)에 출력한다.

도 11a는 제 2 실시예에 따른 다른 트랙킹 에러 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프이다. 종축은 트랙킹 에러 검출 회로(11A)가 위상차 방식에 의해서 검출한 트랙킹 에러 신호를 도시하고 있고, 횡축은 시간을 도시하고 있다. 트랙킹 에러 검출 회로(11A)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 따라서, 트랙킹 에러 신호의 검출 방식으로서 위상차 방식을 선택하고 있는 것으로 한다.

홈 형상의 트랙이 설치된 추기형 디스크에 있어서 정보층의 형상을 변화시킨 피트로서 정보가 기록되어 있지 않은 영역에 광빔을 조사하였을 때는, 위상차 방식에 의해서 트랙킹 에러 검출 회로(11A)가 검출한 트랙킹 에러 신호는 도 11a에서의 영역 C에 도시하는 바와 같이 제로 레벨의 신호가 된다. 또한, 재기록 가능 디스크에서 기록 마크로서 정보가 기록되어 있는 영역, 기록 마크로서 정보가 기록되어 있지 않은 영역, 및 평면 형상으로 정보층이 형성된 재생 전용 디스크에 있어서 정보층의 형상을 변화시킨 피트로서 정보가 기록되어 있지 않은 영역에 광빔을 조사하였을 때도, 마찬가지로, 트랙킹 에러 신호는 도 11a에서의 영역 C에 도시하는 바와 같이 제로 레벨의 신호가 된다.

추기형 디스크에 있어서 정보층의 형상을 변화시킨 피트로서 정보가 기록되어 있는 영역 또는 재생 전용 디스크에 있어서 정보층의 형상을 변화시킨 피트로서 정보가 기록되어 있는 영역에 광빔을 조사하였을 때는 위상차 방식에 의해서 트랙킹 에러 검출 회로(11A)가 검출한 트랙킹 에러 신호는 도 11a에서의 영역 D에 도시하는 바와 같이 톱니 형상의 신호가 된다. 기준 전압원(22)으로부터 출력되는 기준 전압(Vref2)은 도 11a에 도시하는 바와 같이, 톱니 형상의 신호의 크기보다도 작게 되도록 설정되어 있다.

도 11b는 제 2 실시예에 따른 비교 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프이다. 비교기(23)는 도 11a에 도시하는 트랙킹 에러 검출 회로(11A)에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호와 기준 전압(Vref2)에 기초하여, 영역 D에서의 트랙킹 에러 신호를 직사각형의 펄스열에 2치화된 비교 신호를 생성하고, 영역 검출 회로(24)에 출력한다.

도 11c는 제 2 실시예에 따른 영역 판별 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프이다. 영역 검출 회로(24)는 영역 검출 회로(24)에 설치된 저항(R)과 콘덴서(C)에 의해, 비교기(23)로부터 출력된 비교 신호를 직사각형의 영역 판별 신호로 변환하고, 시스템 컨트롤러(17)에 출력한다.

기록 재생 장치(60)의 동작을 기록 동작을 예로 들어 설명한다. 우선, 트랙킹 에러 검출 회로(11A)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 따라서, 트랙킹 에러 신호의 검출 방식으로서 위상차 방식을 선택한다. 광 픽업(1)은 디스크(31)의 정보층(33)에 광빔을 조사한다. 트랙킹 에러 검출 회로(11A)는 위상차 방식에 의해서 트랙킹 에러 신호를 검출한다. 비교기(23)는 트랙킹 에러 검출 회로(11A)가 위상차 방식에 의해서 검출한 트랙킹 에러 신호와 기준 전압원(22)으로부터 출력된 기준 전압(Vref2)에 기초하여, 비교 신호를 생성하고, 영역 검출 회로(24)에 출력한다. 영역 검출 회로(24)는 비교기(23)로부터 출력된 비교 신호에 기초하여 영역 판별 신호를 생성하고, 시스템 컨트롤러(17)에 출력한다.

다음에, 트랙킹 에러 검출 회로(11A)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 따라서, 트랙킹 에러 신호의 검출 방식으로서 푸쉬-풀 방식을 선택한다. 트랙킹 에러 검출 회로(11A)는 푸쉬-풀 방식에 의해서 트랙킹 에러 신호를 검출한다. 비교기(23)는 트랙킹 에러 검출 회로(11A)가 푸쉬-풀 방식에 의해서 검출한 트랙킹 에러 신호와 기준 전압원(22)으로부터 출력된 기준 전압(Vref1)에 기초하여, 비교 신호를 생성하고, 영역 검출 회로(24)에 출력한다. 영역 검출 회로(24)는 비교기(23)로부터 출력된 비교 신호에 기초하여 영역 판별 신호를 생성하고, 시스템 컨트롤러(17)에 출력한다.

시스템 컨트롤러(17)는 위상차 방식에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호가 도 11a 내지 도 11c에 도시되는 영역 C를 나타내는 제로 레벨이기 때문에 영역 검출 회로(24)로부터 출력된 영역 판별 신호가 제로 레벨이고, 또한, 푸쉬-풀 방식에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호가 도 10a 내지 도 10c에 도시되는 영역 B를 나타내는 톱니 형상의 신호이기 때문에 영역 판별 신호가 고레벨일 때는 스위치 회로(SW1)를 온으로 한다. 스위치 회로(SW1)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 따라서 온이 되고, 승산 회로(15)로부터 출력된 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호는 오프셋 감산 회로(12)에 부여된다.

오프셋 감산 회로(12)는 트랙킹 에러 신호로부터 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호를 감산하여 얻어지는 보정 트랙킹 에러 신호를 트랙킹 제어 회로(13)에 출력한다. 스위치 회로(SW2)는 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 따라서, 트랙킹 제어 회로(13)로부터 출력되는 트랙킹 구동 신호를 선택한다. 트랙킹 구동 신호는 스위치 회로(SW2)를 통해 트랙킹 구동 회로(16)에 부여된다. 트랙킹 구동 회로(16)는 트랙킹 구동 신호에 기초하여 구동 전류를 광 픽업(1)에 설치된 트랙킹 액추에이터(6)에 출력한다. 트랙킹 액추에이터(6)는 구동 전류에 기초하여 광 픽업(1)에 설치된 대물 렌즈(5)를 제어한다.

이와 같이, 추기형 디스크에 정보를 기록할 때에, 기록된 정보를 재생하지 않고, DC 오프셋을 고정밀도로 보정하여 정보를 기록할 수 있다.

또한, 상술한 예에서는 기록 동작을 설명하였지만, 재생 동작에 있어서도 DC 오프셋을 고정밀도로 보정할 수 있다. 예를 들면, CD-R, DVD-R 등의 추기형 디스크의 재생 동작에 있어서, 위상차 방식에 의해서 검출된 트랙킹 에러 신호가 도 11a에 도시되는 영역 D(추기형 디스크에 있어서 홈 형상의 트랙이 설치된 정보층에 정보층의 형상을 변화시킨 피트로서 정보가 기록되어 있는 영역)에서의 톱니 형상의 트랙킹 에러 신호가 될 때까지 광 픽업(1)을 반경 방향을 따라서 이동시킨 후, 홈 형상의 트랙이 설치된 정보층에 정보층의 형상을 변화시킨 피트가 기록되어 있는 영역에 광빔을 조사하고, 반사된 광빔에 기초하여 푸쉬-풀 방식에 의해서 트랙킹 에러 신호를 검출하면 된다.

추기형 디스크에서의 정보층에 설치된 트랙에 기록된 피트는 트랙의 에지의 변화에 의해서 영향을 받는 것이 많지만, 피트가 기록되어 있지 않은 영역을 DC 오프셋을 보정하는 영역으로서 선택할 수 있기 때문에, 트랙의 에지의 변화에 의한영향을 제거할 수 있어, DC 오프셋 측정의 정밀도를 향상시킬 수 있다.

제 2 실시예에서는 우선, 위상차 방식을 선택하여 정보층의 형상 변화(피트)의 유무를 검출하고, 그 후, 푸쉬-풀 방식을 선택하여 홈 형상의 트랙이 정보층에 형성되어 있는 것인지, 정보층이 평면 형상으로 형성되어 있는 것인지를 판별하는 예를 나타냈지만, 본 발명은 이에 한정되지 않고, 우선 위상차 방식을 선택하고, 그 후 푸쉬-풀 방식을 선택하여도 된다.

이상과 같이 제 2 실시예에 의하면, 트랙킹 에러 신호에 중첩한 DC 오프셋을 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호에 의해서 보정해야 할 영역인지 여부를, 정보층에 기록된 정보를 재생하지 않고 판단할 수 있다.

(제 3 실시예)

도 12는 제 3 실시예에 따른 기록 재생 장치의 구성도이다. 제 1 실시예에서 상술한 기록 재생 장치(50)의 구성 요소와 동일한 구성 요소에는 동일한 참조 부호를 붙이고 있다. 이들의 구성 요소의 상세한 설명은 생략한다. 제 1 실시예에 따른 기록 재생 장치(50)와 다른 점은 DC 오프셋 보정 실행 판정 블록(25)을 또한 구비하고 있는 점이다.

도 13a는 제 3 실시예에 따른 보정 이득과 시간과의 관계를 도시하는 그래프이다. 도 13b는 제 3 실시예에 따른 보정 실행 판정 신호와 시간과의 관계를 도시하는 그래프이다. DC 오프셋 보정 실행 판정 블록(25)은 기준 전압원(22)을 구비하고 있다. 기준 전압원(22)은 시스템 컨트롤러(17)로부터의 지령에 따라서, 기준전압(Vref3)을 비교기(23)에 출력한다. 기준 전압(Vref3)은 시스템 컨트롤러(17)에 의해서, 예를 들면 0 mV 등의 초기치로 설정되어 있다.

도 15를 참조하여 상술한 바와 같이 디스크에 설치된 트랙에 형성된 홈의 깊이가 λ/8 이상 λ/6 이하일때는 트랙킹 신호의 강도가 강하기 때문에, 트랙킹 에러 신호에 중첩하는 DC 오프셋은 크다. 이 때문에, 도 13a에서의 영역 F에 도시하는 바와 같이, 보정 이득은 기준 전압(Vref3)보다도 커진다. 홈의 깊이가 λ/6보다도 크게 되면, 트랙킹 신호의 강도가 약해지기 때문에, 트랙킹 에러 신호에 중첩하는 DC 오프셋은 미소하게 된다. 이 때문에, 도 13a에서의 영역 E에 도시하는 바와 같이, 보정 이득은 기준 전압(Vref3) 이하가 된다.

비교기(23)는 도 13a에 도시하는 보정 이득 결정 회로(4)로부터 출력된 보정 이득을 나타내는 신호의 전압과 전압원(22)으로부터 출력된 기준 전압(Vref3)에 기초하여, 도 13b에 도시하는 보정 실행 판정 신호를 생성하고, 시스템 컨트롤러(17)에 출력한다. 보정 실행 판정 신호는 보정 이득을 나타내는 신호의 전압이 기준 전압(Vref3)보다도 큰 영역 F에서는 고레벨로 되어 있고, 보정 이득을 나타내는 신호의 전압이 기준 전압(Vref3) 이하인 영역 E에서는 저레벨로 되어 있다.

시스템 컨트롤러(17)는 비교기(23)로부터 출력되는 보정 실행 판정 신호가 고레벨일 때는 스위치 회로(SW1)를 온으로 하고, 보정 실행 판정 신호가 저레벨일 때는 스위치 회로(SW1)를 오프로 한다.

이와 같이, 렌즈 광축 어긋남에 기인하여 트랙킹 에러 신호에 중첩하는 DC 오프셋을 보정하기 위한 보정 이득이 소정의 기준 전압보다도 클 때는 DC 오프셋을보정하는 기능을 온으로 하고, 보정 이득이 소정의 기준 전압 이하일 때는 DC 오프셋을 보정하는 기능을 오프로 한다.

이상과 같이 제 3 실시예에 의하면, 보정 이득 결정 회로(4)에 의해서 결정된 보정 이득의 값에 따라서 DC 오프셋을 보정하는 기능을 온 오프하기 때문에, DC 오프셋을 보정하는 것이 필요한 영역에만 DC 오프셋의 보정을 실행할 수 있다.

이 때문에, 트랙킹 에러 신호에 중첩하는 DC 오프셋이 미소하기 때문에 DC 오프셋을 보정할 필요가 없는 영역에서의 트랙킹 제어의 구성을 간략하게 할 수 있음과 동시에, DC 오프셋을 보정할 필요가 없는 영역에서 DC 오프셋을 보정함으로써 트랙킹 제어가 불안정하게 되는 것을 방지할 수 있다.

이상과 같이 본 발명에 의하면, 렌즈 광축 어긋남에 의해서 트랙킹 에러 신호에 중첩한 DC 오프셋을 정밀도 양호하게 측정할 수 있는 오프셋 측정 방법 및 기록 재생 장치를 제공할 수 있다.

또한 본 발명에 의하면, 트랙킹 에러 신호에 중첩한 DC 오프셋을 DC 오프셋 추정량을 나타내는 신호에 의해서 보정해야 할 디스크상의 영역을 결정할 수 있는 오프셋 측정 방법 및 기록 재생 장치를 제공할 수 있다.

Claims (12)

1. 정보 매체의 반경 방향을 따라서 구동 가능하게 이송 수단 상에 배치된 광 픽업을 구비한 기록 재생 장치에서 상기 정보 매체에 의해서 반사된 광빔에 기초하여 트랙킹 에러 신호에 중첩된 오프셋을 측정하는 오프셋 측정 방법으로서,

   상기 광 픽업으로부터 상기 정보 매체 상의 제 1 측정 위치에 광빔을 조사하여, 상기 제 1 측정 위치에서 반사된 상기 광빔에 기초하여 제 1 오프셋량을 측정하는 제 1 오프셋량 측정 공정과,

   상기 제 1 오프셋량 측정 공정 이후에, 상기 광 픽업을 배치한 상기 이송 수단을 상기 반경 방향에 따른 제 1 방향을 향하여 제 1 거리 만큼 이동시키는 이송 수단 이동 공정과,

   상기 제 1 방향과는 반대의 제 2 방향을 향하여 상기 이송 수단 상에서 상기 광 픽업을 상기 제 1 거리와 동일한 제 2 거리 만큼 구동하는 제 1 광 픽업 구동 공정과,

   상기 이송 수단 이동 공정 및 상기 제 1 광 픽업 구동 공정 이후에, 상기 광 픽업으로부터 상기 정보 매체 상의 제 2 측정 위치에 광빔을 조사하여, 상기 제 2 측정 위치에서 반사된 상기 광빔에 기초하여 제 2 오프셋량을 측정하는 제 2 오프셋량 측정 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 오프셋 측정 방법.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 이송 수단 이동 공정은 상기 제 1 광 픽업 구동 공정 이전에 실행되는 것을 특징으로 하는 오프셋 측정 방법.
3. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 오프셋량 측정 공정 이전에, 상기 반경 방향에 따른 제 3 방향을 향하여 상기 이송 수단 상에서 상기 광 픽업을 제 3 거리 만큼 구동하는 제 2 광 픽업 구동 공정을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 오프셋 측정 방법.
4. 제 3 항에 있어서, 상기 제 3 방향은 상기 제 1 방향과 동일한 방향인 것을 특징으로 하는 오프셋 측정 방법.
5. 제 3 항에 있어서, 상기 제 3 방향은 상기 제 1 방향과 반대의 방향인 것을 특징으로 하는 오프셋 측정 방법.
6. 제 3 항에 있어서, 상기 제 2 광 픽업 구동 공정은 상기 이송 수단 상의 중립 위치로부터 상기 제 3 거리 만큼 상기 광 픽업을 구동하는 것을 특징으로 하는 오프셋 측정 방법.
7. 제 1 항에 있어서, 상기 정보 매체에는 상기 광빔이 조사되기 위한 홈이 형성되어 있고,

   상기 광빔은 파장 λ를 갖고 있고,

   상기 홈의 깊이는 λ/8 이상 λ/6 이하로 되어 있는 것을 특징으로 하는 오프셋 측정 방법.
8. 제 1 항에 있어서, 상기 정보 매체에는 광열 변환에 의해서 정보 신호가 기록되는 것을 특징으로 하는 오프셋 측정 방법.
9. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 및 상기 제 2 오프셋량 측정 공정에 의해서 각각 측정된 상기 제 l 및 상기 제 2 오프셋량에 기초하여, 상기 이송 수단에 대한 상기 광 픽업의 오프셋 특성을 나타내는 보정 이득을 결정하는 보정 이득 결정 공정을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 오프셋 측정 방법.
10. 제 9 항에 있어서, 상기 보정 이득 결정 공정에 의해서 결정된 상기 보정 이득의 값에 따라서, 상기 이송 수단에 대한 상기 광 픽업의 오프셋을 보정하는 공정을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 오프셋 측정 방법.
11. 제 10 항에 있어서, 상기 광 픽업으로부터 상기 정보 매체 상의 상기 반경 방향에 따른 제 3 매체 위치에 광빔을 조사하여, 상기 제 3 매체 위치에서 반사된 상기 광빔에 기초하여, 푸쉬-풀 방식에 의해서 제 1 트랙킹 에러 신호를 검출하는 제 1 트랙킹 에러 신호 검출 공정과,

    상기 제 3 매체 위치에서 반사된 상기 광빔에 기초하여, 위상차 방식에 의해서 제 2 트랙킹 에러 신호를 검출하는 제 2 트랙킹 에러 신호 검출 공정과,

    상기 제 1 트랙킹 에러 신호 검출 공정에 의해서 검출된 상기 제 1 트랙킹 에러 신호와 상기 제 2 트랙킹 에러 신호 검출 공정에 의해서 검출된 상기 제 2 트랙킹 에러 신호에 기초하여, 상기 이송 수단에 대한 상기 광 픽업의 상기 오프셋을 상기 제 3 매체 위치에서 보정해야 할 것인지 여부를 결정하는 공정을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 오프셋 측정 방법.
12. 정보 매체의 반경 방향을 따라서 구동 가능하게 이송 수단 상에 배치된 광 픽업과,

    상기 광 픽업으로부터 상기 정보 매체 상의 제 1 측정 위치에 조사되고, 상기 제 1 측정 위치에서 반사된 광빔에 기초하여 제 1 오프셋량을 측정하는 오프셋량 측정 수단과,

    상기 오프셋량 측정 수단이 상기 제 1 오프셋량을 측정한 후에, 상기 광 픽업을 배치한 상기 이송 수단을 상기 반경 방향에 따른 제 1 방향을 향하여 제 1 거리 만큼 이동시키는 제어 수단과,

    상기 오프셋량 측정 수단이 상기 제 1 오프셋량을 측정한 후에, 상기 제 1 방향과는 반대의 제 2 방향을 향하여 상기 이송 수단 상에서 상기 광 픽업을 상기 제 1 거리와 동일한 제 2 거리 만큼 구동하는 구동 수단을 구비하고 있으며,

    상기 오프셋량 측정 수단은 상기 제어 수단이 상기 제 1 방향을 향하여 상기 제 1 거리 만큼 상기 이송 수단을 이동시킨 후에, 또한, 상기 구동 수단이 상기 제2 방향을 향하여 상기 제 2 거리 만큼 상기 광 픽업을 구동한 후에, 상기 광 픽업으로부터 상기 정보 매체 상의 제 2 측정 위치에 조사되고, 상기 제 2 측정 위치에서 반사된 광빔에 기초하여 제 2 오프셋량을 측정하는 것을 특징으로 하는 기록 재생 장치.