TW577065B - Offset measuring method - Google Patents

Description

發明領域 一 種偏移測定方法，用以測定在用以收集 偏移旦及媒體上的物鏡之光學軸上偏位所產生的-偏移1，及用以執行該偏移測定方法的記錄及再生裝置。 背景技藝 現7有卉多種資訊媒體具有一資訊層，其用 ，所以可記錄一預宗沾次％ Α斗一 不…、町 頁疋的貝汛在该貧訊層±，及/或再生記錄 貝層上的資訊。不同形式的資訊媒體在其厚度，及/ 或該貧訊層的㈣，及/或該資訊層的結構有所不同。這許 多種貢訊媒體皆為碟型（以下這些資訊媒體將稱之為”碟片") ’其可在共用的記錄及再生裝置中互換地使用。 這些碟片包含可用於資訊記錄及再生的可記錄碟片，其 由例如DVD-RAM碟片及DVD_R碟片所代表及僅有用於資 訊再生的僅可再生碟片，由DVD_R〇M碟片所代表。為了記 錄資訊到-可記錄碟片上’或為了由一僅可再生碟片來再 生資訊，其必須藉由尋軌控制來定位—光束到一碟片上所 提供的一軌跡的中心。 圖Μ所示為一習用記錄及再生裝置的尋軌控制之原理的 方塊圖。一碟片31包含一基底32，在其上該記錄及再生裝 置會記錄資訊，或者該記錄及再生裝置可由其再生資訊。 用於資訊記錄及再生的一資訊層33即形成在該基底32上。 該記錄及再生裝置包含一光學讀取頭丨，其用來面對在該碟 片3 1中形成的該資訊層3 3。該光學讀取頭1包含一物鏡，及 具有兩個光線接收段落的一光感測器。在該光學讀取頭1 -4- 577065 A7 B7 五、發明説明（2 中所提供的該物鏡收集到該資訊層33上的一光束。該光感 測器接收由該資訊層3 3所反射的該光束，轉換該接收的光 束到一尋執信號，並輸出該尋執信號到一尋執誤差偵測電 路11。基於在該光學讀取頭1中所提供的該光感測器所轉換 的該尋軌信號，該尋軌誤差偵測電路11偵測代表一誤差的 一尋執誤差信號，其係沿著該資訊媒體3 1的一徑向方向， 並位在收集到該資訊層33上的該光束的位置與在該資訊層 3 3上形成的該執跡的中心位置之間。然後，該尋執誤差偵 測電路11輸出該尋執誤差信號到一尋執控制電路丨3。基於 由該尋軌誤差偵測電路11所偵測到的該尋執誤差信號，該 尋軌控制電路13產生一尋軌驅動信號，以執行相位補償， 使得收集到該資訊層33上的該光束之位置可尋軌到代表在 該資訊層3 3上形成的該執跡之中心位置之一控制目標位置 。然後’該尋執控制電路1 3輸出該尋軌驅動信號到一尋軌 驅動電路1 6。基於由該尋執控制電路1 3所產生的該尋執驅 動信號，該尋軌驅動電路1 6控制在該光學讀取頭丨中所提供 的該物鏡之位置，使得收集到該資訊層33上的該光束的位 置可尋軌到該執跡的中心位置。 由该哥執誤差偵測電路11偵測一尋軌誤差信號之許多系 統已經提出，並付諸實施。一用於由一可記錄碟片所反射 的一光束來偵測一尋執誤差信號做為資訊記錄及再生的代 表性系統為一推挽系統。接下來，將說明該推挽系統。 根據該推挽系統，由該兩個光線接收段落接收的一光束 之光線強度中的差異係偵測做為一尋執誤差信號，其位置 -5- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公愛)

裝 訂 577065 A7 B7 五、發明説明（3 ) 係相對於在該資訊層3 3上形成的該軌跡之中心位置為對 稱。 由該資訊層33所反射的光束之光線強度明顯地依據在該 資訊層33中形成的該執跡的一溝槽深度，或在該資訊層33 上形成的一坑洞之深度。 例如，該資訊層3 3具有一凹下部份（以下稱之為一，，溝槽 部份"），其在其中形成一螺旋溝槽，及在該凹下部份之間 的一凸出部份（以下稱之為一”地面部份”）。由該溝槽部份 反射的該光束之光學路徑長度係比由該地面部份所反射的 該光束之光學路徑長度要多出該溝槽的深度之兩倍。因此 ，由該溝槽部份所反射的該光束之波形與由該地面部份所 反射的該光束之波形具有相對應於為該溝槽深度兩倍之長 度的相位差。 圖1 5所示為在該資訊層33中形成的該執跡之溝槽深度與 由该賓層3 3反射的該光束所轉換的該尋執信號的強度之 間的關係。該水平軸代表在該資訊層33中提供的該溝槽部 份之深度，而λ代表該光束的波長，其係由該光學讀取頭1 導引到該資訊層3 3 (或用來由該光學讀取頭1照射該資訊層 3 3)。該垂直軸代表由該光學讀取頭1中提供的該光感測器 所偵測的該尋軌信號之強度。 當在該碟片3 1的資訊層33中提供的該溝槽部份之深度為 λ /4，由該溝槽部份所反射的該光束之光學路徑長度係比 由該地面部份所反射的該光束之光學路徑長度要長λ /2， 其係為該溝槽深度的兩倍長，即λ /4。因此，由該溝槽部 -6 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X297公釐) 577065 A7 ______B7 五、發明説明（4 ) 份所反射的該光束之波形及由該地面部份所反射的該光束 具有對應於λ /2之相位差為ττ/2。因此，由該溝槽部份反射 的該光束之波形與由該地面部份反射的該光束之波形彼此 抵消。因此，由該光學讀取頭1中提供的該光感測器所偵測 的該尋軌信號之強度為最小，如圖1 5所示。 當該溝槽深度為λ /8，由該溝槽部份所反射的該光束之 光學路徑長度係比由該地面部份所反射的該光束之光學路 徑長度要長λ /4，其為該溝槽深度的兩倍長，即^ /8。因此 ，即造成對應於λ /4的一相位差ΤΓ/4，其為該溝槽深度的兩 倍。此時，由該光學讀取頭1中所提供的該光感測器所偵測 的該尋軌信號之強度為最大如圖1 5所示。當該溝槽深度 為λ /8到；I /6，該尋執信號的強度不會由當該溝槽的深度 為；I /8所得到的該最大強度明顯地降低。此即為何在一 DVD-R碟片中提供的該溝槽部份之深度，其為可用於資訊 記錄及再生的一可記錄碟片，可設定來等於或大於λ /8及 等於或小於λ /6。 當該光學讀取頭1的該物鏡之光學軸的中心，用於收集該 光束到該資訊層33上，其由在該光感測器中提供的該兩個 光線接收段落之間的邊界所偏移（以下此偏移將稱之為一 ”鏡片光學軸偏移”），由該兩個光線接收段落之一所接收的 該光束之強度係高於由該兩個光線接收段落的另一個所接 收的該光束之強度。因此，一DC偏移可重疊在由該尋執誤 差偵測電路11所偵測的一尋軌誤差信號上。 圖1 6所示為一光束的該光學軸的中間與在該光感測器中 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 577065 A7 ____B7 五、發明説明（5 ) 提供的該兩個光線接收段落之間的位置關係。在該光學讀 取頭1中提供的該光感測器10中（圖14)，該兩個光線接收段 落a及b之位置使其彼此接觸，藉此相對於在該資訊層3 3上 开> 成的該軌跡之中心位置為對稱。在該光學讀取頭1中所提 供的該物鏡5 (圖14)之位置使得其光學軸中心a可相配於該 光線接收段落a及b之間的邊界。 當該物鏡5由實線代表的該位置沿著該碟片3 1的一徑向 方向而偏移到由該虛線所代表的該位置，該物鏡5的光學軸 中心A係偏移朝向該光線接收段落b距離d而到達一光學軸 中心B。因此，該光束的光學軸之中心，其係在由該碟片3 i 的資訊層3 3反射及繞射之後而入射在該光感測器1 〇，其係 偏移朝向該光線接收段落b距離d。因此，該光束入射在於 該光感測器1 0所提供的該光線接收段落上之光線量係小於 該光束入射在該光線接收段落b之上的該光線量。因此，入 射在該光線接收段落a上的光線量與入射在該光線接收段 落b上的光線量成為不平衡。 如上所述，根據該推挽系統，在由該兩個光線接收段落 所分別接收的光束之間的光線強度中的差異係偵測為一尋 執誤差信號。因此，當入射在該兩個光線接收段落上的該 光線量成為不平衡，其係由於入射在該光感測器1 〇上的該 光束之光學軸的中心偏移，重疊一 DC偏移量在該尋軌誤差 4吕號上。在一可記錄碟片中，例如一 DVD-R碟片或類似者 ，該溝槽的深度係設定等於或大於λ/8，及等於或小於入/6 ，使得該尋軌信號的強度不會顯著地降低。因此，重疊在 -8 _ I紙張尺度適财S ®家鮮(CNS) Α4規格(21GX 297公釐） ""— 該尋軌誤差信號上的該DC偏移量在該可記錄碟片中可增 加。 當該DC偏移如上述地重疊在該尋軌誤差信號上，即使當 該光f基於該尋軌誤差信號來控制，使得該光束所導向的 在5亥貝訊層33上的位置可符合該執跡的中心，在該資訊層 33上該光束所導向的實際位置係由該軌跡的中心所偏移。 因此，已經有提出補償重疊在該尋執誤差信號上的DC偏移 之系統。 圖17所示為說明習用具有補償DC偏移之功能的尋軌控 制之原理的方塊圖。前述關於圖14之相同元件具有相同的 參考編號，而其詳細的說明將會省略。圖17所示的該裝置 係不同於先前參考圖14所述的該記錄及 17所示的該裝置進一步包含一光學轴偏移量=電路二 一乘法電路15及一切換電路SW1。 ▲該光學軸偏移量估計電路14產生代表一光學轴偏移量估 =值的一彳S號，其為基於由該尋軌控制電路13所產生的該 尋軌、驅動信號的該鏡片光學軸偏移量之估計值。然後， 該光學軸偏移量估計電路14輸出該產生的信號到該乘法電 路15。該乘法電路15將代表該光學軸偏移量估計值的信號 ，其係由該光學軸偏移量估計電路14輸出；與一補償增益 ’然後輸出代表-DC偏移估計量的所得到信號到該切換電 路sw卜當開啟該切換電路SW1時，代表㈣偏移估計量 的信號，其係由該乘法電路15輸出，其係加入到由該尋軌 誤差债測電路U所制的該尋軌誤差信號。重疊在該尋軌 -9 - 本紙張尺度制中國國家標準(CNS) M規格(210 X 297公$ 577065 A7

決差信號上的該d c偏移係由代表該D c偏移估計量的作號 所補償。當關閉該切換電路SW1時’代表該沉偏移估古十^ 的信號不會加人到該尋軌誤差信號。因此，該切換電路綱 的結構能夠基於該DC偏移估計量來開啟或關閉_負反饋。 該補償增S，由該乘法電路15乘上代表該光學轴偏移量 估计值的該信號，其係機於重疊在該尋軌誤差信號上的一 測定的DC偏移來決定，下來，將說明—種敎_DC偏移 Ψ 裝 來決定該補償增益的方法，及基於該測定的沉偏移來決定 該補償增益的方法。 圖18所示為一習用記錄及再生裝置卯之結構。前述相對 於圖η之記錄與再生裝置的才目同元件具有相同的參考編號 ，亚將省略其詳細的說明。該記錄及再生裝置9〇包含一光 學讀取頭1。 該光學讀取頭1係置於一輸送台2上。該輸送台2具有放置 在其上的該光學讀取頭丨，其基於來自一系統控制器17的指 令，沿著一資訊媒體3 1的徑向方向輸送該光學讀取頭i。依 此方式，該光學讀取頭1係由該輸送台2輸送，並藉此沿著 5亥資rfl媒體3 1的徑向方向移動到一任意的位置，其中該光 學讀取頭1可用來記錄資訊在該資訊層33上，或由該資訊層 33再生資訊。 該光學讀取頭1具有一光源7。該光源7係由一紅色半導體 射’置所形成。該光源7振鹽;一具有波長650 nm之光束， 並放射該光束朝向一準直鏡8。由該光源7放射的該光束（ 以下稱之為”放射的光線，，）即由該準直鏡8轉換成平行的光 -10- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 577〇65 A7 j— -----—___— B7 ___ 立、發明説明（8 ) 線’傳送通過一光束分離器9，其由一物鏡5所聚光，並導 向到該碟片31的資訊層33。 由該資訊層33所反射的該光束傳送通過該物鏡5及該光 束分離器9，並入射到具有兩個光線接收段落的一光感測器 1 〇上。該光感測器1 〇以一尋軌信號，輸出分別由該兩個光 線接收段落所接收的該光束之間的光線強度中的差異到一 尋執誤差偵測電路11。 該光學讀取頭1包含一尋軌致動器6。基於來自一尋執驅 動電路1 6的驅動電流，該尋軌致動器6沿著該資訊媒體3 1 的徑向方向相對於該輸送台2來移動該物鏡5。 該尋軌誤差偵測電路11由前述的推挽系統偵測來自該光 感測器10輸出的尋執信號之一尋軌誤差信號，並輸出該尋 執誤差信號到一偏移測定電路3及一偏移減法電路12。該偏 移減法電路12由該尋軌誤差偵測電路丨丨所偵測的該尋軌 誤差信號減去代表一 D C偏移估際量的一信號，並輸出該得 到的補償尋執誤差信號到一尋執控制電路13。該DC偏移估 計量將在以下詳細說明。 基於來自該偏移減法電路12之補償的尋軌誤差信號，該 尋執控制電路13產生一尋軌驅動信號來執行相位補償，使 得收集在該資訊層3 3上的該光束的位置尋軌一代表在該資 訊層3 3上形成的該軌跡之中心位置的一控制目標位置。然 後’该哥軌控制電路1 3輸出該尋軌驅動信號到一切換電路 SW2。 回應於來自該系統控制器17的指令，該切換電路SW2選 -11 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 577065 A7

擇自該尋執控制電路1 3輸出的一尋軌驅動信號，或來自_ 鏡片偏位驅動電路1 8的一鏡片偏位驅動信號，並輸出該選 擇的信號到該尋執驅動電路1 6。為了使得收集到該資訊層 33上的該光束位置來尋軌該控制目標位置，其代表由該尋 執控制形成在該資訊層3 3上的該執跡的中心位置，該切換 電路SW2選擇來自該尋軌控制電路13之尋軌驅動信號，並 輸出該尋執驅動信號到該尋執驅動電路1 6。為了測定一 Dc 偏移來決定該補償增益，或為了由該輸送台2沿著該資訊媒 體3 1的該徑向方向來輸送該光學讀取頭1到一任意的位置 ’該切換電路SW2選擇來自該鏡片偏位驅動電路丨8的該鏡 片偏位驅動信號，並輸出該鏡片偏位驅動信號到該尋軌驅 動電路1 6。來自該鏡片偏位驅動電路！ 8的該鏡片偏位驅動 信號將在以下參考圖21A來說明。 根據由該切換電路SW2輸出的該尋執驅動信號或該鏡片 偏位驅動信號，該尋執驅動電路丨6輸出一驅動電流，用於 移動該物鏡5到該尋軌致動器6。基於來自該尋執驅動電路 1 6的驅動電流，該尋執致動器6沿著該資訊媒體3丨的該徑向 方向相對於該輸送台2來移動該物鏡5。 接著’该DC偏移估計量將詳細說明。該dc偏移估計量為 3 D C偏移的估计值，其係在當鏡片光學軸偏位發生於該物 鏡5時重疊在該尋執誤差信號。該DC偏移估計量即如下述 來得到。 忒偏移測定電路3偵測由該尋執誤差偵測電路丨丨所偵測 的該尋軌誤差信號之一最大值與一最小值。該偏移測定電

577065 A7 B7 五、發明説明（1〇 ) 路3計算該偵測的最大及最小值之間的差異，藉以測定重疊 在該尋執誤差信號上的該DC偏移。然後，該偏移測定電路 3+輸出該DC偏移到一補償增益決定電路4。基於由該偏移測 =電路3測定的該0(：:偏移，該補償增益決定電路4決定該補 领增贫’並輸出該補償增益到一乘法電路1 5。 。該尋執控制電路13以一尋軌修正信號輸出該尋軌驅動信 號的低頻成分到一光學軸偏移量估計電路丨4。該光學軸 ，位里估汁電路14具有一動態特性，其係等於該物鏡5的一 恶特性，其係根據來自該尋執致動器6的輸出來運作。基於 由T尋軌控制電路13輸出的該尋執修正信號，該光學軸偏 位量估計電路14產生代表一光學軸偏位估計值的一信號， 其代表一位移，其實質上等於由該尋執致動器6驅動的該物 鏡5的該鏡片光學軸偏位所造成的一位移。然後，該光學軸 偏位量估計電路14輸出該產生的信號到該乘法電路15。 、該乘法電路15將由該補償增益決定電路4決定的該補償 增益乘以代表由該光學軸偏位量估計電路14所產生的該光 學軸偏位估計值的該信號。然後，該乘法電路15輸出^表 一DC偏移估計量的該得到的信號到該切換電路swi。該切 換電路SW1係回應於來自該系統控制器丨7的一指令來開啟 或關閉。當開啟該切換電路SW1時，該切換電路swi供應 代表該DC偏移估計量的該信號，其由該乘法電路^輸/出二 到該偏移減法電路12。 請參考圖19及20，將說明用以測定_DC偏移量之習用方 法。圖19所示為一習用偏移測定方法的原理，而圖2〇所示 -13- 577065

為說明該習用偏移測定方法的原理。在圖19中，其並未顯 示出在每個步驟91，93及95中放置在該輸送台2上面對該光 學讀取頭1之碟片31。但該光學讀取頭丨實際上面對該碟片 31 〇 其可假設該切換電路SW2選擇自該鏡片偏位驅動電路18 輸出的該鏡片偏位驅動信號，而該鏡片偏位驅動信號輸入 到該尋執驅動電路1 6。 具有物鏡5之光學讀取頭1係放置在該輸送台2的一中性 位置上。具有該物鏡5的該光學讀取頭！係在該碟片31的一 捏向方向上（例如朝向該碟片3 1的外部周圍）由該尋軌致動 mr 6相對於该輸送台2移動距離X1 ’該尋執致動器6根據該 鏡片偏位驅動信號接收來自該尋執驅動電路丨6的該驅動信 號。該光束，由該光學讀取頭1導引，其在該徑向方向上移 動距離XI，並由該資訊層33反射，其由在該光學讀取頭1 中提供的該光感測器1 0轉換到一尋軌信號。該尋執誤差偵 測電路1 1 貞測來自由該光感測器1 0所轉換的該尋執信號之 一尋執誤差信號。該偏移測定電路3基於由該尋執誤差债測 電路11彳貞測的該尋軌誤差信號來測定一 D C偏移（步驟9 1)。 接著，具有該物鏡5的光學讀取頭1係由該尋軌致動器6 來驅動’藉以在另一個徑向方向上移動距離2 X X1 (例如朝 向該碟片3 1的一内部周邊）。該光學讀取頭1由在一個徑向 方向上距離該中性位置距離X1之位置，到在另一個徑向方 向上距離該中性位置距離XI之位置。該DC偏移係基於由該 光學讀取頭1導引的一光束來以上述的方式測定，其已在另 -14- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) A7 B7 577065 五、發明説明（12 ^~ ~~-- 一個徑向方向上移動2x距離X卜並由該資訊層33所反射 (步驟93)。然後，該具有物鏡5之光學讀取頭i係移動到該 中性位置（步驟95)。如上所述，在該輸送台2上該光學讀取 頭1測定該DC偏移的兩個位置係相對於該中性位置為對 稱。 凊參考圖2 1A到2 1 C及22，將說明一種基於測定的DC偏移 來決疋一補償增盈的方法。圖2 1A所示為說明根據該習用 方法之鏡片偏位驅動信號及時間之間的關係圖。圖2 1 b所示 為說明根據該習用方法之物鏡5之位置及時間之間的關係 圖。圖2 1 C所示為說明根據該習用方法之尋執誤差信號及時 間之間的關係圖。圖22所示為該習用偏移測定方法的程序 之流程圖。對於先前關於圖20所述的該流程圖之相同的元 件將具有相同的參考編號，而將省略其詳細說明。 由該光學讀取頭1所導引的光束係定位在該碟片3丨的該 資訊層33上的該軌跡上。該光感測器1 〇係假設在一狀態中 ’其能夠接收由該資訊層3 3所反射的該光束，並轉換該光 束到一尋軌信號。 首先，如圖21A所示，回應於來自該系統控制器17之指 令，該鏡片偏位驅動電路1 8輸出一鏡片偏位驅動信號，用 以在一徑向方向上經由該切換電路SW2以一固定的速率移 動在該光學讀取頭1中提供的該物鏡5距離XI，到該尋軌驅 動電路1 6。基於自該鏡片偏位驅動電路1 8輸出的該鏡片偏 位驅動信號，該尋執驅動電路1 6輸出一驅動電流來驅動該 尋軌致動器6。如圖2 1B所示，根據由該尋軌驅動電路1 6輸 -15- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐）

裝 f 577065 A7 B7 五、發明説明（13 ) 出的該驅動電流，該尋執致動器6在一徑向方向上，以一固 定的速率在該輸送台2上由該中性位置移動該物鏡$距離 X1 (步驟 9 1)。 當5亥物鏡5在一控向方向上在該輸送台2上由該中性位置 移動距離XI，如上所述，由一鏡片光學軸偏位造成的一 DC 偏移OS 11係重疊在由該尋執誤差偵測電路丨丨所偵測的該 哥執誤差k號上，如圖2 1C所示。該偏移測定電路3測定由 該尋軌誤差偵測電路11所偵測的該尋執誤差信號之最大值 及最小值，並基於該測定的最大值及最小值來得到該DC偏 移0S11(步驟92)。 接下來，如圖2 1A所示，該鏡片偏位驅動電路丨8輸出一 鏡片偏位驅動信號，用於在另一個徑向方向上以固定的速 率移動该物鏡5距離2 X距離X1，經由該切換電路sW2到達該 尋執驅動電路1 6。基於該鏡片偏位驅動信號，該尋執驅動 電路1 6輸出一驅動電流來驅動該尋執致動器6。根據由該尋 執驅動電路1 6輸出的該驅動電流，如圖2丨b所示，該尋軌致 動器6在另一個徑向方向上以固定的速率移動該物鏡5，到 達在另一個徑向方向上距離該輸送台2上的中性位置X1的 位置（步驟93)。 當該物鏡5在另一個徑向方向上移動到距離該輸送台2上 «亥中性位置X1的位置時，如上所述，一具有與該DC偏移 osu相反特性的一 DC偏移〇sl2即重疊在由該尋軌誤差偵 測電路11所偵測的該尋軌誤差信號上，如圖2丨C所示。該偏 移測定電路3測定由該尋執誤差偵測電路丨丨所偵測的該尋

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執。吳差h號之最大值及最小值，並基於該測定的最大值及 最小值來得到該DC偏移0S12(步驟94)。 然後，如圖21A所示，該鏡片偏位驅動電路18輸出一鏡 片偏位驅動信號，用於在執行步驟91之前，在一徑向方向 上以固定的速率移動該物鏡5到該初始位置，而經由該切換 電路SW2到達該尋執驅動電路丨6。基於該鏡片偏位驅動信 號，该哥執驅動電路16輸出一驅動電流來驅動該尋軌致動 器6。根據自該尋執驅動電路1 6所輸出的該驅動電流，如圖 21B所示，該尋軌致動器6移動該物鏡5到該初始位置（步驟 95) 〇 遠補償增益決定電路4基於在步驟92中測定的該DC偏移 OS11、在步驟94中測定的該dc偏移〇sl2、在步驟93中該 物鏡5移動的距離2 X Χ1 (=χι + χι)，及以下所示的公式 (1)來決定一補償增益（步驟96)。 補償增益={OS11 + OS12} / {Χ1 + XI} ··.··式⑴ 然後，回應於來自該系統控制器1 7的一指令，該切換電 路SW2選擇由該尋軌控制電路丨3輸出的該尋軌驅動信號， 並輸出該尋執驅動信號到該尋執驅動電路丨6。基於該尋執 驅動k號’該尋軌驅動電路丨6輸出一驅動電流來驅動該尋 執致動器6。根據自該尋軌驅動電路丨6輸出的該驅動電流， 该哥軌致動器6驅動該物鏡5。因此，由該物鏡5所聚集，及 導引到該碟片3 1的該資訊層3 3之光束，即定位在該資訊層 __ -17- U張尺度適财國s家鮮(CNS) A4規格(21G X 297公羡) 577065 A7 B7 五、發明説明（15 3 3上所提供的該軌跡的中心附近。 接著’藉由來自該系統控制器17的指令，該切換電路SW1 即開啟，而代表該Dc偏移估計量的信號，其係由該乘法電 路1 5輸出，即輸入到該偏移減法電路12。該偏移減法電路 12由該尋執誤差信號減去代表該dc偏移估計量的該信號 ’並輸出所得到的補償尋執信號到該尋軌控制電路13。因 此’在哥執控制中的該控制目標值即成為一修正值，其係 由減去重疊在該尋軌誤差信號上的該DC偏移來得到。因此 ，由該物鏡5聚集及導引到該資訊層33的該光束即定位在該 資訊層3 3上所提供的該執跡的實質中心上。 因此’即使當該鏡片光學軸偏位因為某個原因而發生在 該物鏡5 ’且因此一 DC偏移即重疊在該尋軌誤差信號上， 由該物鏡5所聚集及導引到該碟片3丨的該資訊層33之光束 可疋位到在该資訊層3 3上提供的該執跡之實質中心，只要 該切換電路SW1為關閉。因此，記錄一資訊信號在該資訊 層33，或由其再生一資訊信號，皆可穩定地執行。 但是，上述的習用測定該DC偏移的方法具有以下的問題 。如圖19所示，該光束在由該光學讀取頭1放射之後所導引 到該資訊層33上的位置，為了在步驟9丨中第一次測定一 dc 偏移，其會不同於該光束在由該光學讀取頭1放射之後導引 到該資訊層33上的位置來為了在步驟93中第二次測定一 DC偏移。因此，當該資訊層33在這兩個不同的位置處具有 不同的反射特性或不同的穿透特性時，該DC偏移即不能以 高精度來測定。 -18- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 577065

舉例而言，當該資訊層33具有沙粒、灰塵或一不可復原 的缺陷（以下稱之為”缺陷”）在該資訊層33上的任一位置，其 為在違光束由該光學讀取頭1放射之後為了在步驟91第一 -人測定一 DC偏移所導引的位置，或是在該光束由該光學讀 取頭1放射之後為了在步驟93第二次測定一 DC偏移所導引 的位置’在具有缺陷的位置處所反射的光束即會受到該缺 fe的衫響而變動，以及受到該鏡片光學軸偏位的影響。因 此，除了一DC偏移信號之外的信號，其係受到該鏡片軸偏 勺P 9所產生，即重疊在由該尋軌誤差偵測電路1 1所偵 測的4尋執块差信號上。因此，該Dc偏移即不能以高精度 來測定。 當對於一常用白勺記錄及再生裝置可互換性地使用複數与 f =的業片k ’亦會產生下述的另-個問題。直到記錄>1 該安裝於該記錄及再生裝置上的該碟片上的資訊被再生日 ，其不能夠決定該碟片上要用於資訊記錄或再生的區幻 =DC偏移必須由代表一 DC偏移估計量 償的區域。 二：決這些問題’本發明的目的即在於提供-⑽ 片及二種記錄及再生裝置’用於以高精度測定1 二由鏡片光學軸偏位所造成的—尋執誤差信號上的- 本發明的另一個目的在於提供一 锸$棘s $ L # 屏移測定方法，及 種5己錄及再生叙置，用於決定在一 « , 示片上的區域，1中 豐在一哥軌誤差信號上的一 DC偏 ’、

的偏移必須對於代表一 DC 裝 訂 t

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五、發明説明（17 移估計量的信號來補償。 發明概要 根據本發明提供一種偏移測定方法，用於基於在包含有 一放置在輸送裝置上的光學讀取頭的一記錄及再生裝置中 ’由一資訊媒體所反射的一光束，來測定重疊在_尋執誤 差信號上的一偏移，藉以沿著該資訊媒體的一徑向方向來 驅動’其包含一第一偏移測定步驟，其由該光學讀取頭導 引一光束朝向在該資訊媒體上的一第一測定位置，藉此基 於在該第一測定位置處所反射的該光束來測定一第一偏移 量；一輸送裝置移動步驟，其係在該第一偏移量測定步驟 之後’在沿著該徑向方向的第一方向上，移動在其上放置 有該光學讀取頭的該輸送裝置一第一距離；一第一光學讀 取頭驅動步驟，其驅動在該輸送裝置上的該光學讀取頭一 第二距離，其實質上等於該第一距離，其係在相反於該第 一方向的第二方向上；及一第二偏移量測定步驟，其係在 4輸送裝置移動步驟及該第一光學讀取頭驅動步驟之後， 由该光學讀取頭導引一光束朝向在該資訊媒體上的一第二 測定位置’藉此基於在該第二測定位置處所反射的該光束 來測定一第二偏移量。因此，即可達到上述的目的。 a亥輸送裝置移動步驟可在該第一光學讀取頭驅動步驟之 前來執行。 該偏移測定方法可進一步包含一第二光學讀取頭驅動步 驟，其係在該第一偏移量測定步驟之前，在沿著該徑向方 向的一第三方向上驅動在該輸送裝置上的該光學讀取頭一 -20 -

本紙張尺度i用中國國家標準(CNS) A4規格(2ΐ〇χϋ公D 577065 A7 B7

五、發明説明（18 第三距離。 該第三方向可相同於該第一方向。 該第三方向可相反於該第一方向。 該第二光學讀取頭驅動步驟可由該輸送裝置上的一 位置驅動該光學讀取頭該第三距離。 該資訊媒體可在其中形成一溝槽，其為導？丨該光束到達 的地方，該光束之波長可為λ，而該溝槽深度可為等於或大 於λ/8，及等於或小於λ/6。 … 一資訊信號可由光-熱轉換來記錄在該資訊媒體上。 該偏移測定方法可進一步包含一補償增益決^步驟，其 決定代表該光學讀取頭相對於該輪送裝置的一偏移特性之 補償增盈，其係基於由該第一偏移量測定步驟所測定的該 第一偏移量，及由該第二偏移量測定步驟所測定的該第二 偏移量。 該偏移測定方法可進一步包含補償該光學讀取頭相對於 该輸送裝置之偏移的步驟’其係根據由該補償增益決定步 驟所決定的該補償增益值。 該偏移測定方法可進一步包含一第一尋執誤差信號偵測 步驟’由該光學讀取頭沿著該徑向方向導引一光束朝向在 該資訊媒體上的一第三測定位置，藉此由一推挽系統基於 在該第三測定位置處反射的該光束來偵測一第一尋執誤差 信號；一第二尋執誤差信號偵測步驟，其基於在該第三測 定位置所反射的該光束來由一相位差系統偵測一第二尋軌 誤差信號；及一決定是否要補償該光學讀取頭相對於該輸 -21 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X297公釐)

裝 訂 577065 A7 ____ _— B7 五、發明説明（彳9 ) 送裝置的偏移之步驟’其係基於在該第一尋軌誤差信號债 測步驟所偵測的該第一尋執誤差信號，及由該第二尋軌誤 差信號偵測步驟所偵測的該第二尋軌誤差信號。 根據本發明的一記錄及再生裝置，其包含一放置在輸送 裝置上的一光學讀取頭，藉以沿著一資訊媒體的徑向方向 來驅動；偏移量測定裝置’用以基於由該光學讀取頭導引 朝向在該資訊媒體上的一第一測定位置及在該第一測定位 置所反射之光束來測定一第一偏移量；控制裝置，用以在 該偏移量測定裝置測定該第一偏移量之後，在沿著該徑向 方向的一第一方向上，移動其上放置有該光學讀取頭的該 輸送裝置一第一距離；及驅動裝置，用以在該偏移量測定 裝置測定該第一偏移量之後，驅動在該輸送裝置上的該光 學讀取頭一第二距離，其實質上等於該第一距離，而在相 反於該第一方向的一第二方向上。該偏移量測定裝置基於 一光束來測定一第二偏移量，其係在該控制裝置於該第一 方向上移動該輸送裝置該第一距離之後，由該光學讀取頭 導引到该資訊媒體上的一第二測定位置，並另在該驅動裝 置在該第二方向上驅動該光學讀取頭該第二距離之後，然 後在该第二測定位置處反射。因此，即可達到上述的目 的。 圖式簡單說明 圖1所示為根據一第一範例的記錄及再生裝置。 圖2所不為根據該第一範例之偏移測定方法之原理。 圖3所示為說明根據該第一範例的該偏移測定方法之原 -22-

57706f 五、發明説明（2〇 ) 理的流程圖。 時所不為根據該第—範例的該鏡片偏位驅動信號及 圖4B所：為根據該第一範例的該物鏡的位置及時間。 =4C所不為根據該第一範例的該尋執誤差信號及時間。 圖5所不為說明根據該第一範例的該偏移測定方 序的流程圖。 & 圖6A所不為根據該第一範例之另一個偏移測定方法 原理。 义 圖6B所示為說明根據該第一範例的該另一個偏移測定 法之原理的流程圖。 圖7 A所示為根據該第一範例之又另一個偏移測定方法 之原理。 圖7B所不為說明根據該第一範例的該又另一個偏移測定 方法之原理的流程圖。 圖8 A所不為根據該第一範例之又另一個偏移測定方法 之原理。 / 定 圖8B所示為說明根據該第一範例的該又另一個偏移測 方法之原理的流程圖。 圖9所示為根據一第二範例的記錄及再生裝置。 圖10 A所示為根據該第二範例的該尋軌誤差信號及時間 圖10B所示為根據該第二範例的該比較信號及時間。 間 圖10 C所示為根據該第二範例的該區域區別信號及時 及 圖11A所示為根據該第二範例的另一個尋軌誤差作發 577065 A7

時間。 圖11B所示為根據該第二範例的另一個比較信號及 圖lie所示為根據該第：範例㈣_ β 時間。 π 琥及 圖12所示為根據一第三範例的記錄及再生裝置。 圖13 Α所不為根據該第三範例的該補償增益及時間。 圖13B所不為根據該第三範例㈣㈣ 時間。 丨口現及

裝 圖14所不為在一習用記錄及再生裝置中尋 之方塊圖。 幻原理 圖:5所示為在一執跡的溝槽深度與一尋軌誤 度之間的關係。 W強 圖16所示為一光束的中心位置與該光線接收 位置關係。 心间的

_示為說明習用具有補償一偏移之功能 之原理的方塊圖。 t f J t 圖18所示為一習用記錄及再生裝置的結構。 圖19所示為一習用偏移測定方法的原理。 圖20所不為$亥習用偏移測定方法的原理之流程圖。 圖2 1A所示為習用技藝中該鏡片偏位驅動信 間的關係。 间之 圖21B所示為在該習用技藝中該物鏡的位置與時 的關係。 圖21C所示為在該習用技藝中該尋軌誤差信號及時間之 -24- 本紙張尺度適财® A4規格(21G X 297公釐）

577065 A7 B7 五、發明説明（22 ) 間的關係。 圖22所示為該習用偏移測定方法之程序的流程圖。 執行本發明的最佳模式 根據本發明一記錄及再生裝置，其：定重疊在 一光束所偵測的一尋軌誤差信號上的一 DC偏移。、 圖1所示為根據該第-範例之記錄與再生裝置5〇之社構 。一碟片，該記錄及再生裝置5〇記錄資訊於其上，= 記錄與再生裝置50由其再生資訊，其包含—基底&二 於資訊記錄及再生的資訊層33形成在該基底以，資訊係 由光-熱轉換來記錄在該資訊層33上。該記錄及再生裝置％ 包含-光學讀取頭i，其提供成面向於在該碟片31中开;成的 該資訊層33。 該光學讀取頭1係置於一輸送台2上。該具有該光學讀取 頭1放置於其上的該輸送台2基於來自一系統控制器17的指 令，沿著該貧訊媒體3 1的一徑向方向輸送該光學讀取頭i 。依此方式，該光學讀取頭1係由該輸送台2所輸送，藉此 沿著該資訊媒體3 1的徑向方向移動到一任意的位置，其中 該光學讀取頭1可導引一光束朝向該資訊層3 3，藉以記錄資 訊在該資訊層3 3上，會由其再生資訊。 該光學讀取頭1具有一光源7。該光源7係由一紅色半導體 雷射I置所形成。4光源7振盈一具有波長650 nm之光束， 並放射該光束朝向一準直鏡8。由該光源7放射的該光束 (以下稱之為射的光線即由該準直鏡8轉換成一準直的光 -25- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)

裝 訂 577065 A7 _ B7 _ 五、發明説明（23 ) 束，傳送通過一光束分離器9，其由一物鏡5所聚光，並導 向到該碟片31的資訊層33。 由該資訊層3 3所反射的該光束傳送通過該物鏡5及該光 束分離器9，並入射到具有兩個光線接收段落的一光感測器 10上。該光感測器10以一尋執信號，輸出分別由該兩個光 線接收段落所接收的該光束之間的光線強度中的差異到一 尋軌誤差偵測電路11。 該光學讀取頭1包含一尋軌致動器6。基於來自一尋執驅 動電路1 6的驅動電流，該尋軌致動器6沿著該資訊媒體3 1 的徑向方向相對於該輸送台2來移動該物鏡5。 該尋執誤差偵測電路11偵測一尋軌誤差信號，其上重疊 一 DC偏移，藉由該光感測器1 〇所輸出的該尋執信號的上述 推挽糸統，並輸出該尋執誤差信號到一偏移測定電路3及一 偏移減法電路12。該偏移減法電路12由該尋執誤差偵測電 路11所偵測的該尋執誤差信號減去一代表一 DC偏移估計 量的信號，並輸出所得到的補償尋軌誤差信號到一尋執控 制電路1 3。代表該DC偏移估計量的該信號將在以下詳細說 明。 基於來自該偏移減法電路12之補償的尋執誤差信號，該 尋軌控制電路13產生一尋執驅動信號來執行相位補償，使 得收集在該資訊層33上的該光束的位置尋軌一代表在該資 訊層33上形成的該軌跡之中心位置的一控制目標位置。然 後，該尋軌控制電路13輸出該尋軌驅動信號到一切換電路 SW2。 -26-

回應於來自該系統控制器17的指令，該切換電路SW2選 擇自该尋軌控制電路13輸出的一尋軌驅動信號，或來自一 鏡片偏位驅動電路i 8的一鏡片偏位驅動信號，並輸出該選 擇的信號到該尋軌驅動電路16。為了使得收集到該資訊層 33上的該光束位置來尋執該控制目標位置，其代表由該尋 執控制形成在該資訊層33上的該軌跡的中心位置，該切換 電路SW2選擇來自該尋軌控制電路1 3之尋執驅動信號，並 輸出該尋執驅動信號到該尋執驅動電路1 6。為了測定一 DC 偏移來決定該補償增益，或為了由該輸送台2沿著該資訊媒 體3 1的該徑向方向來輸送該光學讀取頭i到一任意的位置 ’該切換電路SW2選擇來自該鏡片偏位驅動電路丨8的該鏡 片偏位驅動信號，並輸出該鏡片偏位驅動信號到該尋軌驅 動電路16。 根據由該切換電路SW2輸出的該尋執驅動信或該鏡片偏 位驅動信號’該尋執驅動電路丨6輸出一驅動電流，用於移 動該物鏡5到該尋執致動器6。基於來自該尋軌驅動電路i 6 的驅動電流，該尋執致動器6沿著該資訊媒體3丨的該徑向方 向相對於該輸送台2來移動該物鏡5。 该偏移測定電路3偵測由該尋執誤差偵測電路1 1所侦測 的该尋軌誤差信號之一最大值與一最小值。該偏移測定電 路3计异该偵測的最大及最小值之間的差異，藉以測定重最 在該尋軌誤差信號上的該DC偏移。然後，該偏移測定電路 3輪出該DC偏移到一補償增益決定電路4。基於由該偏移測 定電路3測定的該DC偏移，該補償增益決定電路4決定該補 577065

償增益，並輸出該補償增益到一乘法電路15。 該尋軌控制電路13以一尋執修正信號輸出該尋執驅動信 號的一低頻成分到一光學軸偏移量估計電路14。該光學軸 偏位量估計電路14具有一動態特性，其係等於該物鏡5的一 悲特性，其係根據來自該尋軌致動器6的輸出來運作。基於 由4尋軌控制電路1 3輸出的該尋執修正信號，該光學軸偏 位篁估計電路14產生代表一光學軸偏位估計值的一信號， ，、代表位移，其貫質上等於由該尋軌致動器6驅動的該物 鏡5的該鏡片光學軸偏位所造成的一位移。然後，該光學軸 偏位量估計電路14輸出該產生的信號到該乘法電路15。 該乘法電路15將由該補償增益決定電路4決定的該補償 增盈乘以代表由該光學軸偏位量估計電路14所產生的該光 學軸偏位估計值的該信號。然後，該乘法電路15輸出代表 一DC偏移估計量的該得到的信號到該切換電路swi。該切 換電路swi係回應於來自該系統控制器17的一指令來開啟

裝 訂 或關閉。當開啟該切換電路SW1時，該切換電路swi供應 代表該DC偏移估計量的該信號，其由該乘法電路15輸出， 到該偏移減法電路12。 請參考圖2及3，將說明用於根據該第一範例中具有上述 結構的該記錄及再生裝置50來測定_DC偏移的方法。圖2 所示為根據該第一範例之偏移測定方法之原理，而圖3所示 為根據該第一範例的該偏移測定方法之原理的流程圖。在 圖2中，並未顯示出在每個步驟丨到7中，面對放置在該輸送 台2上的該光學讀取頭丨之碟片3丨，但該光學讀取頭丨實際上 -28-

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面對該碟片3 1。其係假設該切換電路SW2選擇由該鏡片偏 位驅動電路1 8輸出的該鏡片偏位驅動信號，而該鏡片偏位 驅動乜號輸入到該尋執驅動電路丨6。 具有物鏡5之光學讀取頭1(圖1)係放置在該輸送台2的一 中性位置上。具有該物鏡5的該光學讀取頭1係在該碟片3 i 的一徑向方向上（例如朝向該碟片3丨的外部周圍）由該尋軌 致動器6相對於該輸送台2移動距離χι，該尋軌致動器6根 據该鏡片偏位驅動信號接收來自該尋執驅動電路丨6的該驅 動信號。 该光學讀取頭1，其係在該徑向方向上移動了距離XI , 沿著该資訊層33的該徑向方向導引一光束朝向一第一測定 位置。在該光學讀取頭丨中提供的該光感測器1〇(圖丨）轉換 在該貧訊層33上的該第一測定位置處反射的該光束成為一 哥軌信號。該尋軌誤差偵測電路丨丨偵測來自由該光感測器 1 0所轉換的該尋執信號之尋軌誤差信號。該偏移測定電路3 基於由該尋執誤差偵測電路丨丨所偵測的該尋執誤差信號來 測定一 DC偏移（步驟2)。 接著’具有該光學讀取頭1放置於其上的該輸送台2係在 該碟片31的該徑向方向上移動距離γ1(步驟3)。距離γι係設 疋長於距離XI ’在步驟1中該光學讀取頭1在該輸送台2上 移動。 然後’具有邊物鏡5之光學讀取頭1由該尋執致動器6驅動 ’藉以在另一個方向上在該輸送台2上移動距離（χι+χ2)。 该光學讀取頭1由在一個徑向方向上距離該輸送台2上的該 -29 - 577065

中性位置xi之位置，移動到在另一個徑向方向上（例如朝向 該碟片31的一内部周界）距離該中性位置X2之位置（步驟4)。 該光學讀取頭1，其已在另一個徑向方向上於該輸送台2 上移動距離（XI+X2)，沿著該資訊層33的該徑向方向導引一 光束朝向一第二測定位置。接著，基於在該資訊層33上的 該第二測定位置處反射的該光束，一 DC偏移OS2依步驟2 中所述的方式來測定（步驟5)。 距離Y1 ’其為在其上放置有該光學讀取頭1之輸送台2在 步驟3中於該徑向方向上移動，其設定為等於距離（χι+χ2) ，其為該光學讀取頭1在步驟4中於另一個徑向方向上在該 輸送台2上移動。因此，沿著該資訊層33的該徑向方向之第 一測定位置，由該光學讀取頭1所放射的該光束係在步驟2 中導引，用以測定該DC偏移，其實質上相同於沿著該資訊 層33的該徑向方向之第二測定位置，其為由該光學讀取頭1 在步驟5中導引該光束。 因此，在步驟2的位置中，用於該DC偏移的該第一測定 之資訊層33的反射特性或穿透特性係實質上相等於該資訊 層33的該反射特性或該穿透特性，其係用於在步驟5的位置 中該DC偏移的第二測定。因此，前述該資訊層33在該光束 所導引的兩個不同位置處具有不同的反射特性或不同穿透 特性之問題不會發生。因此，由於該鏡片光學軸偏位，重 疊在該尋軌誤差信號上的該DC偏移可用高精度來測定。 然後，該光學讀取頭1係在該徑向方向上相對於該輸送台 2移動距離X2，最多到該輸送台2上的該中性位置（步驟6) -30- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐) 57706f

。在其上放置有該光學讀取頭1 蛉 之輸迗台2，其已經移動到 在該輸送台2上的該中性位置，其係在該碟片31的另一個捏 向方向上移動距離Y1。因此’該光學讀取則及該輸送台2 即移動回到該初始位置（步驟7)。 請參考圖4A到4C及圖5,將說明一種基於測定的dc偏移 來決定-補償增益的方法。圖4A所示為說明根據該第一範 例之鏡片偏位驅動信號及時間之間的關係圖。圖4B所示為 說明根據該第^範例之光學讀取頭丨之位置及時間之間的 關係圖。圖4C所示為根據該第一範例的該尋執誤差信號及 時間的關係圖。圖5所示為根據該第一範例，基於該測定的 DC偏移來決定一補償增益之方法程序的流程圖。相同於先 前參考圖3所述之該偏移測定方法的原理之流程圖中相同 的元件，將具有相同的參考編號，並將省略其詳細的說明 。由該光學讀取頭1所導引的該光束係定位在由該碟片3 i 的違為机層3 3上所提供的該執跡。在該光學讀取頭1中提供 的该光感測裔10係假設在一狀態中，其能夠接收由該資訊 層33所反射的該光束，並轉換該光束到一尋軌信號。 首先，如圖4A所示，回應於來自該系統控制器17之指令 ’該鏡片偏位驅動電路1 8輸出一鏡片偏位驅動信號，用以 在一徑向方向上經由該切換電路SW2以一固定的速率移動 在該光學讀取頭1中提供的該物鏡5距離XI，到該尋軌驅動 電路1 6。基於由該鏡片偏位驅動電路i 8之鏡片偏位驅動信 號，該尋軌驅動電路16輸出一驅動電流來驅動該尋軌致動 器6。如圖2及4B所示，根據自該尋軌驅動電路16輸出的該 -31 - I紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公董) 577065 A7

驅動電流，該尋軌致動器6在該徑向方向±，藉距離幻由 在該輸送台2上的該中性位置，以—固定的速率移動具有該 物鏡5之光學讀取頭丨（步驟丨）。 該光學讀取頭1，其由在該輸送台2上的該中性位置於該 ，向方向上移動了距離X1，沿著該資訊層33的該徑向方向 導引一光束朝向一第一測定位置。在該光學讀取頭丨中提供 的該光感測器10轉換在該第一測定位置處反射的該光束成 為一尋軌信號。該尋執誤差偵測電路丨丨偵測來自該尋執信 唬之尋執誤差信號。在由該尋執誤差偵測電路丨1所偵測的 该尋軌誤差信號中，一 DC偏移0S1由於該鏡片光學軸偏位 而重璺’如圖4C中所示。該偏移測定電路3測定由該尋執誤 差谓測電路11所偵測的該尋執誤差信號之最大值及最小值 ’並基於戎測定的最大值及最小值來得到該D c偏移〇 § 1 ( 步驟2)。 接著，距離XI，其係在步驟1中該光學讀取頭1在該輸送 台2上的移動距離，及由該偏移測定電路3在步驟2中測定的 該DC偏移OS1，係儲存在該補償增益決定電路4所提供的一 記憶體電路（未示出）中（步驟2-1)。 然後，具有該光學讀取頭1放置於其上的該輸送台2係在 該碟片3 1的該徑向方向上移動距離γ 1，其比距離X1要長 (步驟3)。如圖2及4B所示，具有該物鏡5之光學讀取頭1由 該尋軌致動器6驅動，藉以在另一個徑向方向上在該輸送台 2上移動距離（XI+X2)。該光學讀取頭1由在一個徑向方向上 距離該輸送台2上的該中性位置XI之位置，到在另一個徑 -32- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 577065 A7 --------— ____Β7 五、發明説明（30—) ~一 — --- 向方向上距離該中性位置X2之位置（步驟4)。 該光學讀取頭i，其已在另一個徑向方向上於該輸送台2 上移動距離ΟΠ+Χ2)，導引一光束朝向一第二測定位置，口其 係實質上相同於在該資訊層33上的該第一測定位置。接著 ，基於在該資訊層33上的該第二測定位置處反射的該光束 ，该DC偏移OS2依步驟2中所述的方式來測定（步驟5)。 接著，距離X2，其係由距離（χ1+Χ2)減去距離幻得到， 其為在步驟4中該光學讀取頭1在該輸送台2上的移動距離 ’及由該偏移測定電路3在步驟5中測定的該DC偏移〇S2， 係儲存在5亥補償增盈決定電路4所提供的一記憶體電路（未 示出）中（步驟5-1)。 然後，具有該物鏡5之光學讀取頭丨即在該徑向方向上移 動距離X2 ’最多到達該輸送台2上的該中性位置（步驟6)。 具有§亥光學讀取頭1之輸送台2，其已經移動到該輸送台2 上的3亥中性位置’其係在该碟片3 1的另一個徑向方向上移 動距離Y1。因此，該光學讀取頭丨及該輸送台2係移動回到 該初始位置（步驟7)。 該補償增盈決定電路4基於該光學讀取頭1的移動距離 X1及該D C偏移0 S 1來決定一補償增益，其係在步驟2 -1中儲 存在該記憶體電路（未示出），移動該光學讀取頭1及該DC 偏移OS2距離X2，其係在步驟5-1中儲存在該記憶體電路（ 未示出），公式（2)如下所示（步驟8)。 補償增益={OS1 + 〇S2}/{Xl + X2} ……式（2) -33· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 577065 A7 B7 五、發明説明（31 ) 如上所述，根據本發明的該偏移測定方法包含：一第一 偏移量測定步驟（步驟2)，其由放置在該輸送台2上的該光 學讀取頭1沿著該資訊媒體3 1的一徑向方向導引一光束朝 向一第一測定位置，藉以可沿著該碟片3 1的該徑向方向驅 動，藉此基於在該第一測定位置處反射的該光束來測定一 DC偏移OS1 ; —輸送裝置移動步驟（步驟3)，在該第一偏移 量測定步驟之後，在一徑向方向上，移動在其上具有該光 學讀取頭1的該輸送台2距離Y1 ; —第一光學讀取頭驅動步 驟（步驟4)，其在該第一偏移量測定步驟之後，在另一個徑 向方向上驅動在該輸送台2上的該光學讀取頭1距離 (X1+X2) ’及一第 >一偏移里測疋步驟（步驟5-1 )，其在該輸 送裝置移動步驟（步驟3)及該第一光學拾取驅動步驟（步驟 4)之後’導引來自該光學項取頭1的光束沿著該碟片31的該 徑向方向到一第二測定位置，藉此基於在該第二測定位置 處反射的該光束來測定一 DC偏移OS2。距離（XI + χ2)實質 上等於距離Y1。 因此，在步驟5中該光束所導引到的該第二測定位置係實 質上相同於在步驟2中該光束所導引到的該第一測定位置 。因此，該資訊層33的該反射特性或該穿透特性，其係在 步驟2的位置中，於一第一 D C偏移測定中導引該光束，其 實質上相等於該資訊層33的該反射特性或該穿透特性，其 係在步驟5的位置中，於一第二DC偏移測定中導引該光束 。因此，前述在該光束所導引到的該資訊層3 3中，在兩個 不同位置處具有不同反射特性或不同穿透特性之問題即不 -34- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 577065

五、 發明説明（32 =生□此，由於該鏡片光學軸偏位，重叠在該尋執誤 是信號上的該DC偏移可用高精度來測定。 在該第一範例中，距離（χι + χ2)實質上等於距離…。本 發明並不限於此。距離（χι + χ2)可某種程度地略為不同於 巨離Υ1 ’而该第二測定位置係接近於該第一測定位置。其 ，由將說明於下。當在步驟5中第二次敎該沉偏移的該 弟二測2位置係接近於在步驟2中第一次測定該DC偏移的 第測定位置，用於該第一及第二DC偏移測定之資訊層33 的該反射特性或該穿透特性之間的差異，係明顯地小於習 用技‘中其中δ亥第二測定位置係遠離該第一測定位置。 因*，由於該鏡片光學軸偏位，重疊在該尋執誤差信號上 的該DC偏移可用相較於該習用技藝為明顯較高的精度來 測定。 在省第一範例中，該輸送裝置移動步驟（步驟3)係在該第 一光學讀取頭驅動步驟之前來執行（步驟4)。本發明並不限 於此。該輸送裝置移動步驟（步驟3)可在該第一光學讀取頭 驅動步驟（步驟4)之後來執行。 其最佳地是，距離（Xi + Χ2)為了以下的原因而完全等於 距離γι。利用這種設定，用於在步驟2的位置之第一 DC偏 移測定之貧訊層33的該反射特性或該穿透特性係完全相同 於在步驟5的位置之第二0(：偏移測定之資訊層33的該反射 特性或該穿透特性。因此，在步驟5中該光束導引到的該第 二測定位置係完全等於在步驟2中該光束所導引到的該第 一測定位置。 -35- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公愛) 577〇65 A7 —_______B7 五、發明説明（33 ) 距離Y1，在步驟3中該輪送台2的移動係設定長於距㈣ ’其為在步驟1中該光學讀取頭！在該輪送台2上的移動。因 此，該光學讀取頭iλ係在步驟2中該第_dc偏移測定時 ’相對於該輸送台2的該中性位置朝向該碟片31的外部周圍 偏位，而纟步驟5中㈣二DC偏移測定_，相料該輸送 台2的該中性位置朝向該碟片31的内部周圍偏位。 因此，當測定該DC偏移時，在該輸送台2上的該光學讀 取頭i之兩個位置係涵蓋容納該中性位置之較廣區域。因此 ，該鏡片偏位特性，其代表相對於在該輪送台2上的該光學 讀取頭1的位置之DC偏移特性，其可更為精確地測定。 距離XI較佳地是為了以下的原因設定等於距離Χ2。藉由 這種設定，在步驟2中於第一DC測定時在該輸送台2上的該 光學讀取頭1之位置，及在步驟5中於該第二DC測定時在該 輸送台2上的該光學讀取頭丨之位置，其係相對於該輸送台2 上的中性位置而彼此對稱。因此，其可改進該測定的鏡片 偏位特性之可靠度。 圖6A所示為根據該第一範例之另一個偏移測定方法之 原理。圖6B所示為在圖6A中所示的該方法程序之流程圖。 對於先前關於圖2及3所述的該偏移測定方法之相同的元件 將具有相同的參考編號，而將省略其詳細說明。不像是在 月’J述第一範例中的偏移測定方法，在圖6A及6B中所示的該 偏移測定方法中，距離γ 1係等於或小於距離X丨（步驟3 A)， 而距離Y1實質上等於距離X2(步驟4a)。 睛參考圖6A及6B，具有該物鏡5之光學讀取頭1係置於該 -36-

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輸送台2上的該中性位置上。該光學讀取頭1係由該尋執致 動器6相對於該輸送台2在該碟片31的一徑向方向上移動距 離X1 (步驟1)。 该光學讀取頭1，其係在該徑向方向上移動了距離X 1， 其導引一光束朝向在該資訊層33上的一第一測定位置。在 該光學讀取頭1中提供的該光感測器10轉換在該資訊層33 上的5亥弟一測疋位置處反射的該光束成為一尋執信號。該 尋軌誤差偵測電路1 1偵測來自該尋執信號之尋執誤差信號 。該偏移測定電路3基於該尋軌誤差信號測定一 DC偏移（步 驟2)。 接著，具有該光學讀取頭1放置於其上的該輸送台2係在 該碟片31的該徑向方向上移動距離γ卜距離γι係設定等於 或小於距離XI，在步驟1中該光學讀取頭1在該輸送台2上 移動（步驟3A)。 然後，具有該物鏡5之光學讀取頭1係由該尋軌致動器6 驅動’藉以在另一個徑向方向上在該輸送台2上移動距離 X2，其位置係在該徑向方向上距離該輸送台2上該中性位 置為XI。距離X2係設定實質等於距離γι，其為在步驟3A 中於該徑向方向上該輸送台2移動的距離（步驟4A)。 该光學讀取頭1’其已在另一個徑向方向上於該輸送台2 上移動距離X2，其導引一光束朝向在該資訊層33上的一第 二測定位置。接著，基於在該資訊層33上的該第二測定位 置處反射的該光束，一 DC偏移OS2依步驟2中所述的方式來 測定（步驟5)。 -37-

577065 A7 ____ B7 發明説明fgg ) 一 然後’該光學讀取頭1係在該徑向方向上相對於該輸送台 2的該中性位置移動距離（X1-X2)，最多到該輸送台2上的該 中性位置（步驟6)。具有該光學讀取頭1之輸送台2，其已經 移動到該輸送台2上的該中性位置，其係在該碟片3丨的另一 個徑向方向上移動距離Y1。因此，該光學讀取頭丨及該輸 送台2係移動回到該初始位置（步驟7)。 如上所述，在步驟4 A中於另一個徑向方向上該光學讀取 頭1於該輸送台2上移動距離X2，其設定為實質上等於距離 Y1 ’其為在步驟3A中該輸送台2在一徑向方向上移動的距 離。因此，類似於先前參考圖2所述的該偏移測定方法，該 第一測定位置，沿著該資訊層33的該徑向方向，在步驟2 中用於測定該DC偏移而導引由該光學讀取頭1放射的該光 束到的位置，係實質上相等於該第二測定位置，其係沿著 該資訊層33的該徑向方向，其為在步驟5中導引由該光學讀 取頭1放射之光束到的位置。 因此，用於在步驟2的位置用於DC偏移的該第一測定之 資訊層3 3的該反射特性或該穿透特性，其係實質上相同於 在步驟5的位置用於DC偏移的該第二測定之資訊層33之該 反射特性或該穿透特性。藉此，由於該鏡片光學軸偏位而 重疊在該尋執誤差信號上的該DC偏移可用高精度測定。 圖7A所示為根據該第一範例之又另一個偏移測定方法 之原理。圖7B所示為在圖7A中所示的該方法程序之流程圖 。對於先前關於圖2及3所述的該偏移測定方法之相同的元 件將具有相同的參考編號，而將省略其詳細說明。不像是 -38- --- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 577065 A7

前述的該偏移測定方法，在圖7A&7B中所示的該偏移測定 方法，忒輸送台2在另一個控向方向上移動距離γι’其係 相反於該方向（步驟3B)，而該光學讀取頭1在該徑向方向上 在該輸送台2上移動距離X2，其係相反於另一個方向（步驟 4B) 〇 凊參考圖7A及7B，具有該物鏡5之光學讀取頭1係置於該 輸送台2上的該中性位置上。該光學讀取頭丨係由該尋軌致 動器6相對於該輸送台2在該碟片3 1的一徑向方向上移動距 離X1 (步驟1)。 δ亥光學讀取頭1，其係在該徑向方向上移動了距離X1 , 其導引一光束朝向在該資訊層3 3上的一第一測定位置。在 該光學讀取頭1中提供的該光感測器1〇轉換在該第一測定 位置處反射的該光束成為一尋執信號。該尋執誤差偵測電 路11偵測來自該尋軌信號之尋軌誤差信號。該偏移測定電 路3基於該尋執誤差信號測定一 DC偏移（步驟2)。 接著，具有該光學讀取頭1放置於其上的該輸送台2係在 該碟片31的該另一個徑向方向上移動距離γι(步驟3 b)，其 係相反於該一方向。 然後，具有該物鏡5之光學讀取頭1係由該尋軌致動器6 驅動，藉以在該徑向方向上在該輸送台2上移動距離X2， 其位置係在該桎向方向上距離該輸送台2上該中性位置為 XI。距離X2係設定實質等於距離γΐ，其為在步驟3b中於該 另一個徑向方向上該輸送台2移動的距離（步驟4B)。 該光學讀取頭1 ’其已在步驟4B中於另一個徑向方向上於 -39- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 577065 A7 —_ B7 五、發明説明（37 ) 該輸送台2上移動距離X2，其導引一光束朝向在該資訊層 33上的一第二測定位置。接著，基於在該資訊層33上的該 第二測定位置處反射的該光束，一 DC偏移〇S2依步驟2中所 述的方式來測定（步驟5)。 然後’該光學頃取頭1係在該徑向方向上相對於該輸送台 2的該中性位置移動距離（X1+X2)，最多到該輸送台2上的該 中性位置（步驟6)。具有該光學讀取頭1之輸送台2，其已經 移動到該輸送台2上的該中性位置，其係在該碟片31的該一 個徑向方向上移動距離Y1。因此，該光學讀取頭1及該輸 送台2係移動回到該初始位置（步驟7)。 如上所述，在步驟4B中於該一個徑向方向上該光學讀取 頭1於該輸送台2上移動距離X2，其設定為實質上等於距離 Y1，其為在步驟3B中該輸送台2在另一個徑向方向上移動 的距離。因此，類似於先前參考圖2所述的該偏移測定方法 ，該第一測定位置，在該資訊層33上，在步驟2中用導引由 該光學讀取頭1放射的該光束到的位置，係實質上相等於該 第二測定位置，其係在步驟5中導引由該光學讀取頭1放射 之光束到的位置。 因此，用於在步驟2的位置用於DC偏移的該第一測定之 資訊層33的該反射特性或該穿透特性，其係實質上相同於 在步驟5的位置用於DC偏移的該第二測定之資訊層33之該 反射特性或該穿透特性。藉此，由於該鏡片光學軸偏位而 重疊在該尋執誤差信號上的該DC偏移可用高精度測定。 圖8 A所示為根據該第一範例之又另一個偏移測定方法 -40- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 577065 A7

之原理。圖8B所示為在圖8A中所示的該方法程序之流程圖 。對於先前關於圖2及3所述的該偏移測定方法之相同的元 件將具有相同的參考編號，而將省略其詳細說明。不像是 前述的該偏移測定方法，在圖8A及8B中所示的該偏移測定 方去’该光學頃取頭1係由在該一個控向方向上距離在兮幹 送台2上的中性位置XI之位置移動到在另一個徑向方向上 距離該中性位置最遠的位置，即一限制位置，其係距離該 中性位置X2max(步驟4C)。 如上所述，於步驟4C中，該光學讀取頭1移動到該輸送台 2上的該限制位置，其距離該中性位置最遠。因此，其不需 要控制该光學項取頭1在步驟4 C中移動的位置。此可簡化該 4工制糸統的結構’用以控制在該輸送台2上該光學讀取頭1 的位置。 在圖2及3所示的步驟1中，該光學讀取頭1可移動到一限 制位置，其在該徑向方向上距離該中性位置最遠。在圖2 及3所示的步驟1中，該光學讀取頭4可移動到一限制位置， 其在該另一個徑向方向上距離該中性位置最遠。其尤其較 佳地是在步驟1中移動該光學讀取頭1到該限置位置，其為 在該徑向方向上距離該中性位置為最遠，然後在步驟4中， 移動该光學讀取頭1到該限制位置，其為在該另一個徑向方 向上距離該中性位置最遠。其理由如下。利用這種設定， 該光學讀取頭1在測定該DC偏移時的兩個位置，其係相對 於該中性位置為對稱。因此，其可改進該測定的鏡片偏位 特性之可罪度。此外’其可簡化該控制系統的結構來控制

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在該輸送台2上該光學讀取頭1的位置。 在圖6A及6B所示的步驟！中，該光學讀取頭1可移動到一 限制位置’其在該徑向方向上距離該中性位置最遠。在圖 7A及7B所示的步驟4中，該光學讀取頭1可移動到一限制位 置’其在該另一個徑向方向上距離該中性位置最遠。 在該第一範例中，該光學讀取頭丨係沿著該碟片31的該控 向方向移動，藉以測定一 DC偏移。本發明並不限於此。本 發明的技術性想法在於造成一第一測定位置及一第二測定 位置’其為導引一光束來用於測定一 DC偏移之位置，其彼 此靠近。因此，本發明可應用到一偏移測定方法，用以藉 由沿著該碟片的該徑向方向傾斜在該光學讀取頭中提供的 該物鏡之光學軸來測定一 DC偏移。 (範例2) 圖9所示為根據該第二範例之記錄與再生裝置6〇之結構 。對於先前在該第一範例中所述的該記錄及再生裝置5〇中 相同的元件具有相同的參考編號，並將省略其詳細說明。 不像是在該第一範例中該記錄及再生裝置50，該記錄及再 生裝置60進一步包含一區域區別方塊21，並包含一尋軌誤 差偵測電路11A，而取代該尋軌誤差偵測電路11。 該區域區別方塊2 1包含一參考電壓源22。回應於來自該 系統控制器17之指令，該參考電壓源22選擇及輸出一參考 電壓Vrefl或Vref2到一比較器23。該比較器23比較由該尋 執誤差偵測電路11A所偵測的該尋軌誤差信號與自該比較 器23輸出的該參考電壓Vrefl或Vref2，並輸出代表該比較 ___ -42- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐)

裝 訂 577065 A7 _ _ B7 五、發明説明（40 ) 結果的一信號到一區域偵測電路24。該區域偵測電路24包 含一電阻R及一電容C。該區域偵測電路24基於自該比較器 23輸出的該比較信號來產生一區域區別信號，並產生該區 域區別信號到該系統控制器1 7。 具有上述結構的該記錄及再生裝置6 0如下述來運作。回 應於來自該系統控制器17之指令，做為用於谓測來自該尋 執信號之尋執誤差信號之系統，該尋執誤差偵測電路11A 選擇上述的推挽系統或一相位差，並彳貞測一尋執誤差信 號。 接下來，將說明該相位差系統。根據該相位差系統，一 尋執誤差信號係利用一現象來偵測，當一光束的聚集點通 過在一碟片上的一執跡上時，由該碟片所反射的該光束之 強度樣式會隨時間改變。 當該光束的聚集點通過記錄在該執跡上一坑洞的中心時 ，即該軌跡的中心，來自在該光學讀取頭丨中提供的一光感 測器的每個四個光線偵測段落之輸出可改變其樣式，使得 该波形的左半部及右半部彼此對稱。該四個光線接收段落 係為該光感測器的相等區分的段落。當該光束的該聚集點 通過在該執跡的右半部中的一點時，來自每個該四個光線 偵測段洛之輸出改變其樣式’使其逆時針旋轉。當該光束 的該聚集點通過在該軌跡的左半部中的一點時，來自每個 該四個光線偵測段落之輸出改變其樣式，使其順時針旋轉 。來自每個該四個光線偵測段落之輸出樣式的這種改變造 成的旋轉會成為更顯著’因為該光束的該聚集點成為遠離 _____ -43- 本紙張尺度適用巾g g家標準(CNS) Μ規格㈣X 297公茇) — -- 577065 A7

該執跡的中心。 根據該相位差系統，該兩個信號的相位，其每個係藉由 加入來自該光感測器的對角線上兩個光線偵測段落的二 來得到，其彼此比較。基於_相位相對於另_個相位之寸 進量或延遲量，可摘測到在該光束的該聚集點與該軌跡: 中：之間的位置偏移之尋軌誤差信號。因&，藉由該相位 差系統，當在照射有該光束的碟片上提供的資訊層上沒有 坑洞記錄在其上，其不會偵測到尋執誤差信號。 在包含T覆寫碟片及一次寫入形式碟片之可記錄碟片中 ，在該資訊層中提供-溝槽狀的執跡。在僅可再生的碟片 中，未提供溝槽狀的軌跡，而該資訊記錄成坑洞的形式， 其係藉由改變提供為平面的該資訊層的形狀來形成。在、言 些可記錄碟片巾，一次寫入形式的碟片將資訊記錄在具二 訂 一溝槽狀軌跡之資訊層中，其為坑洞的形式，由改變該資 訊層的形狀所形成。在該可記錄碟片當中，可覆寫碟片： 資訊記錄在具有一溝槽狀執跡的該資訊層中，其為記錄標

記的形式，而由改變形成該資訊層之化學元素之配置所^ 成。 圖10A所示為根據該第二範例的該尋軌誤差信號及時間 的關係圖。該垂直軸代表由該推挽系統中該尋執誤差偵測 電路11A所偵測到的一尋執誤差信號，而該水平軸代表 間。 守 其可假設該尋執誤差偵測電路11A選擇該推挽系統做為 偵測一尋軌誤差信號之系統，其係回應來自該系統控制器

577065 A7 B7 五、發明説明（42 17之指令。在一種具有溝槽狀執跡的一次寫入式的碟片中 ，資訊係記錄在該坑洞的形式中，其係由改變該資訊層的 形狀來形成。一光束導引到將資訊依此方式記錄的一區域 ，或導引到不具有坑洞的區域，而該軌跡誤差偵測電路11A 基於該反射的光束來由該推挽系統偵測一尋軌誤差信號。 依此方式偵測，的該尋執誤差信號具有一鋸齒狀的波形，如 圖10A中的區域B所示。該鋸齒狀尋軌誤差信號的振幅係根 據該碟片的反射率、該溝槽的結構，及該坑洞的結構。自 該參考電壓源22輸出的該參考電壓vrefl係設定成具有比 該鑛齒狀信號要小的振幅，如圖1 〇 A所示。 在具有一平面資訊層的僅可再生的碟片中，資訊係以坑 洞形式記錄，其係由改變該資訊層的形狀來形成。一光束 導引到將資訊依此方式記錄的一區域，或導引到不具有坑 洞的區域，而該軌跡誤差偵測電路丨丨A基於該反射的光束 來由該推挽系統偵測一尋執誤差信號。依此方式偵測的該 尋執誤差信號具有一零位準振幅，如圖丨〇 A中的區域a所 示。 圖1 0B所示為根據該第二範例的該比較信號及時間之間 的關係圖。基於由該尋執誤差偵測電路丨丨A及該參考電壓 Vrefl所偵測的該尋執誤差信號（圖丨1A),該比較器23產生 一比較信號。該比較信號係由於位準切分該尋執誤差信號 的結果來得到，並為如同區域B中的一長方形脈衝流的形式 。該比較器23輸出該比較信號到該區域偵測電路24。 圖1 0C所不為根據該第二範例的該區域區別信號及時間 -45-

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之間的關係圖。該區域偵測電路24轉換自該比較器23輸出 的該比較信號，並顯示在圖10B中，其使用在該區域偵測電 路24中所包含的該電阻μ該電容c，成為具有長方形脈衝 的區域區別#號。然後，該區域偵測電路24輸出該長方 形區域區別信號到系統控制器丨7。 圖11A所示為根據該第二範例的另一個尋軌誤差信號及 時間之間的關係圖。該垂直軸代表由該相位差系統中該尋 軌誤差债測電路11A所谓測到的一尋軌誤差信號，而該水 平軸代表時間。其係假設該尋執誤差偵測電路丨丨A選擇該 相位差系統做為回應於來自該系統控制器17之指令的一追 跡誤差信號的系統。 在一具有一溝槽狀軌跡的一次寫入式碟片中，一光束可 導引到未記錄有資訊的區域，其為坑洞的型式，而由改變 該資訊層的該形狀來形成。在這種例子中，由該尋執誤差 偵測電路11A所偵測的該尋執誤差信號具有一零位準振幅 、’，如圖1 1A中所示的區域c。在一可覆寫碟片的例子中，一 光束可導引到以記錄標記形式記錄資訊的 記錄標記形式記錄資訊的區域中。在一具有=資= 二一僅可再生碟片的例子中，—光束可導引到不以坑洞形式 記：資訊的區域中，其係由改變該資訊層的形狀所形成。 同時在所有這些例子中，所得到的尋執誤差信號具有一零 位準振幅，如同在圖丨i A中所示的區域C中。 、 文 、在-次寫人式碟片中，—光束可導引到記錄有資訊的區 域’其為坑洞的型式，而由改變該資訊層的該形狀來形成 -46 - 297^17 577065 A7 ______B7 五、發明説明（44 ) 。在一僅可再生的碟片中，一光束可導引到記錄有資訊的 區域，其為坑洞的型式，而由改變該資訊層的該形狀來形 成。在這些例子中，由該相位差系統中該尋軌誤差偵測電 路11A所偵測的該尋軌誤差信號具有一鋸齒狀波形，如同 在圖11A中所示的區域D。自該參考電壓源22輸出的該參考 電壓Vref2係設定成具有比該鋸齒狀信號要小的振幅，如圖 11A所示。 圖11B所不為根據該第二範例的該比較信號及時間之間 的關係圖。基於由該尋執誤差偵測電路丨丨A及該參考電壓 Vref2所偵測的該尋軌誤差信號（圖11A)，該比較器23產生 一比較k唬。该比較信號係由於位準切分該尋執誤差信號 的結果來得到，並為如同區域D中的一長方形脈衝流的形 式。該比較器23輸出該比較信號到該區域偵測電路24。 圖11C所示為根據該第二範例的該區域區別信號及時間 之間的關係圖。該區域偵測電路24轉換自該比較器23輸出 的該比較信號，其使用在該區域偵測電路24中所包含的該 電阻R及该電容C，成為具有長方形脈衝的一區域區別信號 。然後，該區域偵測電路24輸出該長方形區域區別信號到 系統控制器17。 將說明該記錄及再生裝置60之運作。例如，將說明一記 錄運作。首先，回應於來自該系統控制器的指令，該尋執 誤差债測電路1 1A選擇該相位差系統做為偵測一尋執誤差 仏號之系統。该光學讀取頭1以一光束照射該碟片3丨的該資 訊層33。該尋軌誤差偵測電路丨1A由該.相位差系統偵測一 -47- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐) 577065

尋轨誤差信號。該比較器23基於由該相位差系統之尋軌誤 差偵測電路11A所偵測的該尋執誤差信號，及自該參考電 壓源22輸出的該參考電壓Vref2而產生一比較信號，並輪出 该比較彳§號到該區域彳貞測電路2 4。該區域彳貞測電路2 4美於 自該比較器23輸出的該比較信號產生一區域區別信號，並 輸出該區域區別信號到該系統控制器17。 接著，回應於來自該系統控制器1 7的指令，該尋軌誤差 债測電路11A選擇該推挽系統系統做為偵測一尋軌誤差信 號之系統。該尋執誤差偵測電路丨丨A由該推挽系統來偵測 一尋軌誤差信號。該比較器23基於由該推挽系統之尋執誤 差偵測電路11A所偵測的該尋執誤差信號，及自該參考電 壓源22輸出的該參考電壓Vrefl而產生一比較信號，並輸出 邊比較信號到該區域偵測電路24。該區域偵測電路24基於 自該比較器23輸出的該比較信號產生一區域區別信號，並 輸出該區域區別信號到該系統控制器1 7。 該系統控制器1 7開啟該切換電路SW1，其在當⑴該尋軌 誤差信號，由該相位差系統偵測，其具有一零位準振幅， 代表圖11A到11C中所示的區域C ,因此自該區域偵測電路 24輸出的該區域區別信號具有一零位準振幅，同時由該 推挽系統所偵測的該尋執誤差信號具有一鋸齒狀波形，其 代表圖1 0 A到1 0C中所示的區域B，因此該區域區別信號具 有一高位準振幅。該切換電路SW1係回應於該系統控制器 17之指令來開啟。一信號代表由該乘法電路15輸出的 移估計量，其係供應到該偏移減法電路12。 -48-

577065 A7 B7 五、發明説明（46 ) A偏移減法電路12由該尋軌誤差信號減去代表該dc偏 移=計量的一信號，並輸出所得到的補償尋執誤差信號到 該尋軌控制電路13。回應於來自該系統控制器口的指令， 4切換電路SW2選擇由該尋執控制電路13輸出的該尋軌驅 動‘说孩尋執驅動信號係透過該切換電路SW2供應到該 哥執驅動電路1 6。基於該寻執驅動信號，該尋執驅動電路 16輸出一驅動電流到該光學讀取頭丨中提供的該尋軌致動 器6。該尋執致動器6基於該驅動電流控制在該光學讀取頭1 提供的該物鏡5。 如上所述，資訊可利用以高精度補償該DC偏移來 -次寫人形式的碟片上，而不需要再生該記錄的資訊。 一以上說明了該記錄運作。該Dc偏移可在-再生運作中 高精度來補償。此可在以下之_次寫人式碟片之再生運 的例子中來實現，例如像是CD_R碟片及dvd_r碟片。一 學讀取mm其徑向方向㈣，直到由該相位差系統 偵測的该哥軌誤差信號得到如圖UA中所示的區域D之 齒狀波形（-區域將資訊以坑洞的形式來記錄，其係藉由 變具有-溝槽狀軌跡的資訊層之形狀)。然後，一光束即 引到具有由改變該資訊層的形狀所形成的坑洞之區域。 於該反射的光束，一尋軌箏罢卢 哥軏决差^唬由该推挽系統所偵測< 二坑洞’其形成在於一次寫入式碟片的資訊層上所心 的一軌跡上，其通常受到兮勒时·、直 口只執跡邊緣中的改變所影響。1 由於该軌跡的邊緣中的改變寻彡塑 # 殳〜專，可由使用不具有坑洞」 ”員績偏移之區域來消除。因此，其可改進該％偏移丨

577065 A7 B7 定的精度。 在該第二範例中，該相位差系統首先選擇來偵測該資訊 層的形狀是否已經改變（是否有形成坑洞）。然後，該推挽 系統係選擇來區別一溝槽狀執跡係形成在該資訊層中，或 形成一平面資訊層。本發明並不限於此。首先選擇該推挽 系統，然後可選擇該相位差系統。 如上所述，在該第二範例中，其可決定又用於資訊記錄 或再生的該區域是否為一區域，其中重疊在該尋軌誤差信 號上.的該DC偏移必須由一代表一 DC偏移估計量的信號來 補償，而不用再生記錄在該資訊層上的資訊。 (範例3) 圖1 2所示為根據本發明的一第三範例之記錄與再生裝置 7 0之結構。對於先前在該第一範例中所述的該記錄及再生 裝置50中相同的元件具有相同的參考編號，並將省略其詳 細說明。不像是在該第一範例中的該記錄及再生裝置5 〇， 該記錄及再生裝置70進一步包含一 DC偏移補償執行區別 方塊25。 圖1 3 A所示為根據該第三範例的該補償增益及時間之間 的關係。圖13 B所不為根據該第三範例的該補償執行區別信 號及時間之間的關係圖。該DC偏移補償執行區別方塊25包 含一參考電壓源22。該參考電壓源22回應於來自該系統控 制器1 7的一指令而輸出一參考電壓Vref3到該比較器23。該 參考電壓Vref3係由該系統控制器1 7設定初始值，例如為 0 mV。 -50- t紙張尺度適财H S家鮮(CNS) A4規格(210X 297公爱) 577065 五、發明説明（明） 、如先前參考圖15所述，當在該碟片的執跡中所形成的該 溝槽深度係等於或大於λ/8，&等於或小於λ/6，該尋軌信 就的強度為问。因此，重疊在該尋執誤差信號上的該dc偏 移為大。因此，如圖13A的區域F中所*，該補償增益係大 於該參考電壓Vref3。當該溝槽深度超過λ/6，即降低該尋 執信號的強度，。因此，重疊在該尋執誤差信號上的該〇〇偏 移即成為更小。藉此，如圖13Α之區域Ε所示，該補償增益 成為等於或小於該參考電壓Vref3。 該比較器23係基於代表由該補償增益決定電路4輸出的 該補償增益之信號的電壓（圖13A)，及由該參考電壓源以所 輸出的該參考電壓Vref3而產生圖13B中所示的一補償執行 區別信號。然後，該比較器23輸出該補償執行區別信號到 該系統控制器1 7。該補償執行區別信號在區域F中具有一高 位準，其中代表該補償增益的該信號電壓係大於該參考2 壓Vref3。該補償執行區別信號在區域E中具有一低位準， 其中代表該補償增益的該信號電壓係等於或小於該參考 壓Vref3。 夕 該系統控制器1 7在當由該比較器23輸出的該補償執行區 別信號具有一高位準時，即開啟該切換電路SWi，並在冬 該補償執行區別信號具有一低位準時，即關閉該切換電^ SW1。 " 依此方式，當用於由於該鏡片光學軸偏位而補償重聂在 該尋執誤差信號上的一 DC偏移之補償增益大於_ = 了貝天的 參考電壓時，即開啟補償該DC偏移之功能。當該補償增尹 -51 - 本紙痕尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐） 577065 A7 B7 49 五、發明説明（ 等於或小於該預定的參考電壓時，即關閉補償該DC偏移之 功能。 如上所述，在該第三範例中，補償該Dc偏移的功能係開 啟或關閉，係根據由該補償增益決定電路4所決定的該補償 增盈值。因此，補償該DC偏移可僅在需要補償該Dc偏移的 區域來執行。 因此’對於一區域的尋執控制之結構即可簡化，其中重 疊在該尋執誤差信號上的DC偏移為小，因此不需要補償。 此外，其可防止尋執控制的不穩定性，其係由在不需要補 償的區域中來補償該DC偏移所造成。 產業應用性 如上所述，本發明提供一種高精度偏移測定方法，及一 記錄及再生裝置，用於測定由於鏡片光學軸偏位而重疊在 一尋執誤差信號上的一 DC偏移。 本發明的亦提供一種偏移測定方法，及一種記錄及再生 裝置’用於決定在一碟片上的區域，其中重疊在一尋軌誤 差信號上的一 DC偏移必須對於代表一 DC偏移估計量的信 號來補償。 元件符號表 1 光學拾取頭 2 輸送台 3 偏移測定電路 4 補償增益決定電路 5 物鏡 __ -52- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(21〇X297公釐) 577065 A7 B7 五、發明説明< :50 ) 6 尋軌致動器 7 光源 8 準直鏡 9 光束分離器 10 光感測器 11，11A 尋軌誤差偵測電路 12 偏移減法電路 13 尋軌控制電路 14 光學軸偏位量估計電路 15 乘法電路 16 尋軌驅動電路 17 系統控制器 18 鏡片偏位驅動電路 21 區域區別方塊 22 參考電壓源 23 比較器 24 區域偵測電路 31 資訊媒體 32 基底 33 資訊層 50, 60, 70, 90 記錄及再生裝置 R 電阻 C 電容 XhX2，Y，d 距離 -53· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 577065 A7 B7 五、發明説明（51 )swb sw2 切換電路 A〜F 區域a，b 光 -54- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)

Claims (1)

1. •一種偏移測定方法，用以測定重疊在一尋執誤差信號上 的一偏移，其係基於由一資訊媒體所反射的一光束，在 一包含放置在輸送裝置上的一光學讀取頭之記錄及再 生裝置中，藉以沿著該資訊媒體的一徑向方向而驅動， 該方法包含： 一第一偏移量測定步驟，其導引一光束由該光學讀取 頭朝向在該資訊媒體上的一第一測定位置，藉此基於在 该第一測定位置處反射的該光束來測定一第一偏移量； 一輸送裝置移動步驟，其係在該第一偏移量測定步驟 之後’在沿著該徑向方向的第一方向上移動在其上放置 有該光學讀取頭之輸送裝置一第一距離； 一第一光學讀取頭驅動步驟，其驅動在該輸送裝置上 的該光學讀取頭一第二距離，其係實質上等於該第一距 離，且在相反為該第一方向的一第二方向上；及 一第二偏移量測定步驟，其係在該輸送裝置移動步驟 及該第一光學讀取頭驅動步驟之後，導引一光束由該光 學讀取頭朝向在該資訊媒體上的一第二測定位置，藉此 基於在該第二測定位置處反射的該光束來測定一第二 偏移量。 2·如申請專利範圍第1項之偏移測定方法，其中該輸送裝 置移動步驟係在該第一光學讀取頭驅動步驟之前執行。 3·如申請專利範圍第1項之偏移測定方法，進一步包含一 第二光學讀取頭驅動步驟，其係在該第一偏移量測定步 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公爱) A8

   4· 5· 6. 鄉之前，在沿著該徑向方向的一第… ^衣置上的該光學讀取頭-第三距離。 申明專利耗圍第3項之偏移測定方法，1中該第 向係相同於該第—方向。 八 贫 力向上驅動在該I 如申請專利範圍第3項之偏移測定方法 向係相反於該第一方向。 士申w專利.a圍第3項之偏矛多測定方法 學讀取頭驅動步驟由在該輸送裝置上 該光學讀取頭該第三距離。 士申。月專利範圍第丨項之偏移測定方法 ，其中該第三方 ，其中該第二光 一中性位置移動 ，其中

   裝 該資訊媒體在其中形成一溝槽 中， 而導引該光束至其 玎 該光束之波長為λ，及 '亥溝槽的深度係等於或大於λ/8，並等於或小於λ/6。 •如申凊專利|έ圍第}項之偏移測定方法，其中一資訊信 號係由光-熱轉換來記錄在該資訊媒體上。 9·如申請專利範圍第1項之偏移測定方法，進一步包含一 補償增益決定步驟，其決定代表該光學讀取頭相對於該 輸送裝置的一偏移特性之補償增益，其係基於由該第一 偏，量測定步驟所測定的該第一偏移量，及由該第二偏 移i測定步驟所測定的該第二偏移量。 10·如申請專利範圍第9項之偏移測定方法，進一步包含補 償該光學讀取頭相對於該輸送裝置之偏移的步驟，其係 根據由該補償增益決定步驟所決定的該補償增益值。

   C8 D8 六、申請專利範圍 11·如申請專利範圍第丨〇項之偏移測定方法，進一步包含·· 一第一尋軌誤差信號偵測步驟，其導引一光束由該光 學頃取頭沿著該徑向方向朝向在該資訊媒體上的一第 二測疋位置’藉此由一推挽系統基於在該第三測定位置 處所反射的該光束來偵測一第一尋執誤差信號； 一第二尋軌誤差信號偵測步驟，其由一相位差系統基 於在该第二測定位置處所反射的該光束來偵測一第二 尋執誤差信號；及 一決定是否要補償相對於該輸送裝置的該光學讀取 頭的偏移之步驟，其係基於由該第一尋軌誤差信號偵測 步驟所偵測的該第一尋軌誤差信號，及由該第二尋軌誤 差#號彳貞測步驟所偵測的該第二尋軌誤差信號。 12· —種記錄及再生裝置，其包含： 一放置在輸送裝置上的光學讀取頭，藉以沿著一資訊 媒體的一徑向方向來驅動； 偏移量測疋裝置，用以基於導引由該光學讀取頭朝向 在該貪訊媒體上的一第一測定位置，及在該第一測定位 置處所反射之光束，來測定一第一偏移量； 控制裝置，用以在該偏移量測定裝置測定該第一偏移 置之後，在沿著該徑向方向的第一方向上移動在其上放 置有該光學讀取頭之輸送裝置一第一距離；及 驅動裝置’用以在該偏移量測定裝置測定該第一偏移 量之後，驅動在該輸送裝置上的該光學讀取頭一第二距 離，其實質上等於該第一距離，而在一相反於該第一方 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 577065 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 向之第二方向上， 其中該偏移量測定裝置基於一光束來測定一第二偏 移量，其係在該控制裝置於該第一方向上移動該輸送裝 置該第一距離之後，由該光學讀取頭導引到該資訊媒體 上的一第二測定位置，並另在該驅動裝置在該第二方向 上驅動該光學讀取頭該第二距離之後，然後在該第二測 定位置處反射。 -4- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 公告本 卜 案 號 091106156 類 別 以上各櫊由本局填註） 修正 補充 η Α4 C4 中文說明書替換本(92年12月） 577065 發明 專利説明書 中 文 偏移測定方法 名稱 英 文 OFFSET MEASURING METHOD 姓 名 國 %發明 人 住、居所 1. 北山真智子 MACHIKO KITAYAMA 2. 桑原雅彌 MAS AYA KUWAHARA 3·田井康裕 YASUHIRO TAI 1.-3.均曰本 JAPAN 1.曰本國奈良縣奈良市百樂園5-3-6 5-3-6, HYAKURAKUEN，NARA-Sm，NARA 034-0024, JAPAN 2·曰本國大阪府吹田市山田東3-18-30-404 3-18-30-404, YAMADAHIGASHI, SUITA-SHI, OSAKA 565-0821，JAPAN 3·曰本國大阪府門真市古川町5-30-102 5-30-102, FURUKAWACHO, KADOMA-SHI，OSAKA 571-0031，JAPAN 裝 訂 姓 名 (名稱） 國 曰商松下電器產業股份有限公司 MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. 日本JAPAN 三、申請人 住、居所 (事務所^ 代表人 姓 名 曰本國大阪府門真市大字門真1006番地 1006, OAZA KADOMA，KADOMA-SHI，OSAKA 571-8501， JAPAN 中村邦夫 KUNIO NAKAMURA 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(21〇x 297公釐)