JP2006147016A - ディフェクト検出回路 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作へ、あるいは再生動作から記録動作へ切り替わるタイミングに存在するディフェクトを高精度に検出することが可能なディフェクト検出回路を提供する。
【解決手段】モノマルチ回路１０は光ディスク装置の動作が切り替わると積分回路３内のスイッチ６をオンにして積分回路３の時定数を小さくする信号ＭＭ１を出力する。論理回路１１は、コンパレータ８から出力されるディフェクト検出信号ＤＤとモノマルチ回路１０の出力信号ＭＭ１を入力し、ディフェクト検出信号ＤＤがディフェクトの存在を示す間は信号ＭＭ１を無効にする演算を実行して積分回路３内のスイッチ６へ信号ＣＰを出力する。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ディスク上のディフェクトを検出するディフェクト検出回路に関する。

近年、コンピュータシステムにおいては、情報量の大幅な増加に伴い、情報データの記録再生装置として、大容量で高速且つランダムアクセスが可能な光ディスク装置が広く使用されるようになっており、記録媒体としては、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の光ディスクが用いられている。

このような光ディスク装置には、光ディスク上の書き込みや読み出しが正常に行われない領域であるディフェクトを検出するためのディフェクト検出回路が搭載されている。ディフェクト検出回路は、光ディスクに収束照射された光ビームの反射光の強さに応じて得られる反射信号のエンベロープの変化を検出することによってディフェクトを検出し、ディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号を出力する（例えば、特許文献１参照。）。

ディフェクト検出信号は、例えば、光ディスクのトラック中央にレーザスポットを追従させるトラッキングサーボ回路及びディスク記録面にレーザスポットを合焦させるフォーカスサーボ回路において前値ホールド用の信号として利用されたり、各種制御用として光ディスク装置に組み込まれているＣＰＵにおいて光ディスクの記録不可領域を判断するための抽出信号を得るための信号として利用されたりする。

ここで、従来のディフェクト検出回路について図５を用いて説明する。図５は従来のディフェクト検出回路の構成を示すブロック図である。図５において、可変ゲインアンプ１は、光ディスクに照射された光ビームの反射光から生成される反射信号ＡＳを、当該ディフェクト検出回路が搭載されている光ディスク装置の動作が記録動作であるか再生動作であるかを示す記録ゲート信号ＷＴＧＴに応じた所定のゲインで増幅して出力する。なお、以下の説明では、記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルは、記録動作時にハイレベルとなり、再生動作時にローレベルとなるものとして説明する。

高速エンベロープ検波回路２は、可変ゲインアンプ１により増幅された反射信号ＡＳ（以下、アンプ出力信号ＡＰと称す。）のエンベロープを検出してエンベロープ信号を出力する。

積分回路３は、高速エンベロープ検波回路２からのエンベロープ信号ＥＭを可変可能な時定数で積分して出力する。図５に示すように、積分回路３は、抵抗４と容量５を備えており、さらに抵抗４に並列に接続されるスイッチ６を備えている。抵抗４の一端にはエンベロープ信号ＥＭが与えられ、他端はスライスレベル設定回路と容量５の一端に接続される。容量５の他端は接地される。

スイッチ６は、モノマルチ回路１０から出力される一定期間のパルス信号ＭＭ２により制御され、当該パルス信号ＭＭ２の信号レベルがハイレベルであればオンになり、ローレベルであればオフになるように設定されている。このスイッチ６のオン・オフによって積分回路３の時定数は可変となる。つまり、スイッチ６がオンの期間の積分回路３の時定数は、抵抗４と容量５によって決定する所定の時定数と比べて小さくなる。

スライスレベル設定回路７は、積分回路３の出力信号ＩＳを基準として、光ディスク上のディフェクトを検出するためのスライスレベルＳＤを設定する。コンパレータ８は、高速エンベロープ検波回路２から出力されるエンベロープ信号ＥＭの信号レベルとスライスレベルＳＤを比較してディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号ＤＤを生成する。

エッジ検出回路９は、光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替わり、あるいは再生動作から記録動作への切り替わりを記録ゲート信号ＷＴＧＴのレベル変化から検出して検出信号を出力する。モノマルチ回路１０は、エッジ検出回路９から出力される検出信号を受けて、一定期間のパルス信号ＭＭ２を積分回路３へ出力する。

続いて、このように構成された従来のディフェクト検出回路の動作について図５、６を用いて説明する。図６は、当該ディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を表している。

一般に、光ディスク装置は、データ記録時に、例えば光ディスク上に記録されているアドレス情報を読み出し目標のアドレス領域をサーチする等してデータを記録するため、データ記録時には再生動作と記録動作が繰り返される。記録動作時と再生動作時では光ディスクへ照射する光ビームの強度が異なるため、データ記録時の可変ゲインアンプ１には、図６に示すように、信号レベルが変化する反射信号ＡＳが入力される。

可変ゲインアンプ１は、記録ゲート信号ＷＴＧＴに基づき、光ディスク装置の動作に応じた所定のゲインで反射信号ＡＳを増幅して記録動作時と再生動作時のアンプ出力信号ＡＰの信号レベルを等しくし、反射信号ＡＳのレベル差がエンベロープの変化として検出されないようにする。

ここで、可変ゲインアンプ１のゲイン設定にバラツキ等があって適切なゲインが設定されない場合には、図６に示すように、アンプ出力信号ＡＰに記録動作時と再生動作時とでレベル差が生じる。

高速エンベロープ検波回路２は、入力されたアンプ出力信号ＡＰのエンベロープを検出し、積分回路３とコンパレータ８に出力する。積分回路３は、高速エンベロープ検波回路２からのエンベロープ信号ＥＭを積分して、スライスレベル設定回路７に出力する。

積分回路３は、光ディスク装置の動作が再生動作から記録動作へ切り替えられた後、あるいは記録動作から再生動作へ切り替えられた後の一定期間ｔ２には、以下の動作により時定数を小さくしてエンベロープ信号ＥＭを積分する。

すなわち、まず、エッジ検出回路９が、記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルがローレベルからハイレベルへ変化したこと、あるいはハイレベルからローレベルへ変化したことを受けてモノマルチ回路１０へ検出信号を出力する。

モノマルチ回路１０は、エッジ検出回路９からの検出信号を受け、一定期間ｔ２、信号レベルがハイレベルとなるパルス信号ＭＭ２を生成して、積分回路３内のスイッチ６に対して出力する。

スイッチ６は、モノマルチ回路１０からのパルス信号ＭＭ２の信号レベルがハイレベルになったことを受けてオンになる。スイッチ６がオンになると、抵抗４はショートするため、積分回路の時定数は小さくなる。したがって、積分回路３は、モノマルチ回路１０からのパルス信号ＭＭ２の信号レベルがハイレベルになっている一定期間ｔ２は、通常よりも小さい時定数でエンベロープ信号ＥＭを積分して、出力信号ＩＳを後段のスライスレベル設定回路７に対して出力する。

一方、上記の一定期間ｔ２以外では、モノマルチ回路１０からのパルス信号の信号レベルはローレベルとなり、積分回路３内のスイッチ６がオフとなるため、積分回路３は抵抗４と容量５で決まる所定の時定数でエンベロープ信号ＥＭを積分し、出力信号ＩＳを後段のスライスレベル設定回路７に対して出力する。

スライスレベル設定回路７は、積分回路３の出力信号ＩＳをレベル変換してスライスレベルＳＤとし、コンパレータ８へ出力する。コンパレータ８は、スライスレベルＳＤを基準として高速エンベロープ検波回路２から出力されるエンベロープ信号ＥＭを二値化し、これをディフェクト検出信号ＤＤとして出力する。

すなわち、上記の一定期間ｔ２以外においては、所定の時定数でエンベロープ信号ＥＭが積分され、積分回路３の出力信号ＩＳの波形変化がエンベロープ信号ＥＭの波形変化に遅れて追従し、ディフェクトにおいてエンベロープ信号ＥＭの信号レベルがスライスレベルＳＤを下回り、ディフェクト検出信号ＤＤとしてディフェクトの存在を示すディフェクト信号ＴＳ１（真ディフェクト信号）がディフェクトに対応する期間出力される。

一方、図６に示すように、可変ゲインアンプ１のゲイン設定のバラツキ等により再生動作時と記録動作時とでエンベロープ信号ＥＭの信号レベルが変化するような場合には、光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作へと切り替えられた後にも、エンベロープ信号ＥＭの信号レベルがスライスレベルＳＤを下回るが、当該ディフェクト検出回路では、記録動作から再生動作へと切り替えられた後の一定期間ｔ２において、積分回路３の時定数を小さくしてエンベロープ信号ＥＭを積分するので、積分回路３の出力信号ＩＳの波形変化がエンベロープ信号ＥＭの波形変化に素早く追従し、ディフェクト信号ＦＳ１（偽ディフェクト信号）の出力期間がディフェクト信号ＴＳ１と比べて短くなる。

したがって、トラッキングサーボ回路や、フォーカスサーボ回路、ＣＰＵにおいて、出力期間の短い偽ディフェクト信号については利用しないように設定することで、可変ゲインアンプ１のゲイン設定のバラツキ等により再生動作時と記録動作時でエンベロープ信号ＥＭの信号レベルが変化するような場合であっても、正確なトラッキングサーボ等を実現できるようになる。

しかしながら、従来のディフェクト検出回路では、図７に示すように、記録動作から再生動作へ切り替わるタイミングにディフェクトが存在する場合、ディフェクトの途中で積分回路３の時定数が小さくなって積分回路３の出力信号ＩＳがエンベロープ信号ＥＭの波形変化に素早く追従し、エンベロープ信号ＥＭの信号レベルがスライスレベルＳＤを下回る期間がディフェクトに対して短くなるため、つまりディフェクトの存在を示すディフェクト信号の出力期間が実際のディフェクトの領域に対して短くなるため、精度良くディフェクトを検出することができなくなる。この場合、例えばトラッキングサーボ回路およびフォーカスサーボ回路が、実際のディフェクトの領域に対応する期間、前値ホールドを出力できなくなるため、安定したデータアクセスが阻害される。この問題は、光ディスク装置の動作が再生動作から記録動作へ切り替わるタイミングにディフェクトが存在する場合であっても同様である。
特開２００３−１９６８５３号公報

本発明は、上記問題点に鑑み、ディフェクトが存在する間はスイッチ６をオンする信号（時定数を小さくする信号）を無効にすることにより、光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替わり、あるいは再生動作から記録動作への切り替わりのタイミングに存在するディフェクトを高精度に検出することが可能なディフェクト検出回路の提供を目的とする。

本発明の請求項１記載のディフェクト検出回路は、光ディスクに対しデータアクセスする光ディスク装置に搭載されるディフェクト検出回路であって、前記光ディスクへ照射された光ビームの反射光から生成される反射信号を、前記光ディスク装置の動作が記録動作であるか再生動作であるかを示す記録ゲート信号に応じたゲインで増幅して出力する増幅手段と、前記増幅手段により増幅された前記反射信号のエンベロープを検出してエンベロープ信号を出力するエンベロープ検出手段と、前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号を可変可能な時定数で積分して出力する積分手段と、前記積分手段の出力信号を基準として、前記光ディスク上のディフェクトを検出するためのスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号のレベルと前記スライスレベルを比較してディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号を生成するディフェクト検出信号生成手段と、前記光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替え、あるいは再生動作から記録動作への切り替えを前記記録ゲート信号から検出して検出信号を出力する動作切り替え検出手段と、前記動作切り替え検出手段からの検出信号を受けて、前記積分手段の時定数を小さくする信号を所定の期間出力するモノマルチ手段と、前記時定数を小さくする信号と前記ディフェクト検出信号を入力し、前記ディフェクト検出信号がディフェクトの存在を示す間は前記時定数を小さくする信号を無効にする演算を施して前記積分手段へ出力する演算手段と、を備えることを特徴とする。

また、本発明の請求項２記載のディフェクト検出回路は、光ディスクに対しデータアクセスする光ディスク装置に搭載されるディフェクト検出回路であって、前記光ディスクへ照射された光ビームの反射光から生成される反射信号を、前記光ディスク装置の動作が記録動作であるか再生動作であるかを示す記録ゲート信号に応じたゲインで増幅して出力する増幅手段と、前記増幅手段により増幅された前記反射信号のエンベロープを検出してエンベロープ信号を出力するエンベロープ検出手段と、前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号を可変可能な時定数で積分して出力する積分手段と、前記積分手段の出力信号を基準として、前記光ディスク上のディフェクトを検出するためのスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号のレベルと前記スライスレベルを比較してディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号を生成するディフェクト検出信号生成手段と、前記光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替え、あるいは再生動作から記録動作への切り替えを前記記録ゲート信号から検出して検出信号を出力する動作切り替え検出手段と、前記動作切り替え検出手段からの検出信号を受けて、前記積分手段の時定数を小さくする信号を所定の期間出力するモノマルチ手段と、前記光ディスク装置の動作が再生動作であるときの前記エンベロープ信号のレベルを保持する保持手段と、前記保持手段が保持するレベルを任意の一定値分シフトして出力するレベルシフト手段と、前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号のレベルと前記レベルシフト手段からのレベルを比較して前記光ディスク上のディフェクトの有無を示す比較結果信号を出力する比較手段と、前記時定数を小さくする信号と前記比較結果信号を入力し、前記比較結果信号がディフェクトの存在を示す間は前記時定数を小さくする信号を無効にする演算を施して前記積分手段へ出力する演算手段と、を備えることを特徴とする。

本発明によれば、ディフェクトが存在する間は積分手段の時定数を小さくする信号を無効にするので、光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替わり、あるいは再生動作から記録動作への切り替わりのタイミングに存在するディフェクトを高精度に検出することが可能となる。

以下、本発明の実施の形態におけるディフェクト検出回路について説明する。
（実施の形態１）
図１は本実施の形態１におけるディフェクト検出回路の構成を示すブロック図である。当該ディフェクト検出回路は、光ディスクに対して少なくともデータ記録を行う光ディスク装置に搭載される。

図１において、可変ゲインアンプ（増幅手段）１は、光ディスクに照射された光ビームの反射光から生成される反射信号ＡＳを、当該ディフェクト検出回路が搭載されている光ディスク装置の動作が記録動作であるか再生動作であるかを示す記録ゲート信号ＷＴＧＴに応じた所定のゲインで増幅して出力する。なお、以下の説明では、記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルは、記録動作時にハイレベルとなり、再生動作時にローレベルとなるものとして説明する。

高速エンベロープ検波回路（エンベロープ検出手段）２は、可変ゲインアンプ１により増幅された反射信号ＡＳ（アンプ出力信号ＡＰ）のエンベロープを検出してエンベロープ信号を出力する。高速エンベロープ検波回路は一般的な検波回路であって、可変ゲインアンプから出力されるアンプ出力信号ＡＰの上側エンベロープを求めて出力する。

積分回路（積分手段）３は、高速エンベロープ検波回路２からのエンベロープ信号ＥＭを可変可能な時定数で積分して出力する。図１に示すように、積分回路３は、抵抗４と容量５を備えており、さらに抵抗４に並列に接続されるスイッチ６を備えている。抵抗４の一端にはエンベロープ信号ＥＭが与えられ、他端はスライスレベル設定回路と容量５の一端に接続される。容量５の他端は接地される。

スイッチ６は、後述する論理回路１１から出力される演算出力信号ＣＰにより制御される。このスイッチ６のオン・オフによって積分回路３の時定数は可変となる。つまり、スイッチ６がオンの期間の積分回路３の時定数は、抵抗４と容量５によって決定する所定の時定数と比べて小さくなる。

スライスレベル設定回路（スライスレベル設定手段）７は、積分回路３の出力信号ＩＳを基準として、光ディスク上のディフェクトを検出するためのスライスレベルＳＤを設定する。

コンパレータ（ディフェクト検出信号生成手段）８は、高速エンベロープ検波回路２から出力されるエンベロープ信号ＥＭの信号レベルとスライスレベルＳＤを比較してディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号ＤＤを生成する。なお、以下の説明では、ディフェクト検出信号ＤＤの信号レベルは、ディフェクトが存在を示す間はハイレベルとなり、それ以外においてはローレベルとなるものとして説明する。

エッジ検出回路（動作切り替え検出手段）９は、光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替わり、あるいは再生動作から記録動作への切り替わりを記録ゲート信号ＷＴＧＴのレベル変化から検出して検出信号を出力する。

モノマルチ回路（モノマルチ手段）１０は、エッジ検出回路９から出力される検出信号を受けて、スイッチ６をオンにするモノマルチ信号ＭＭ１（積分回路３の時定数を小さくする信号）を所定の一定期間、積分回路３へ出力する。ここでは、モノマルチ信号ＭＭ１はパルス信号であり、当該パルス信号がハイレベルの間スイッチ６がオンになるものとして説明する。

論理回路（演算手段）１１は、モノマルチ回路１０からのモノマルチ信号ＭＭ１とコンパレータ８からのディフェクト検出信号ＤＤを入力し、ディフェクト検出信号ＤＤがディフェクトの存在を示す間はモノマルチ信号ＭＭ１を無効にする演算を施して演算出力信号ＣＰを積分回路３へ出力する。

具体的には、ディフェクト検出信号ＤＤの信号レベルがローレベルの場合には演算出力信号ＣＰとしてモノマルチ信号ＭＭ１を出力し、ハイレベルの場合（ディフェクトを示す間）は演算出力信号ＣＰの信号レベルはローレベルで固定される。

続いて、このように構成されたディフェクト検出回路の動作について図１、２を用いて説明する。図２は、当該ディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を表している。なお、以下の説明では、光ディスク装置の動作が再生動作から記録動作へと切り替わるタイミングにディフェクトが存在する場合について説明するが、記録動作から再生動作へ切り替わるタイミングにディフェクトが存在する場合も同様である。

まず、図示しない複数の受光素子が、光ディスクに収束照射された光ビームの反射光を受光し、その反射光量に応じてレベル変化する電気信号に変換して出力する。複数の受光素子から出力される電気信号は加算され、得られた全加算信号が反射信号ＡＳとして可変ゲインアンプ１に入力される。

一般に、光ディスク装置は、データ記録時に、例えば光ディスク上に記録されているアドレス情報を読み出し目標のアドレス領域をサーチする等してデータを記録するため、データ記録時には再生動作と記録動作が繰り返される。記録動作時と再生動作時では光ディスクへ照射する光ビームの強度が異なるため、データ記録時の可変ゲインアンプ１には、図２に示すように、信号レベルが変化する反射信号ＡＳが入力される。

可変ゲインアンプ１は、入力される記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルがローレベルである場合は、光ディスク装置が再生動作を行っているものとして、再生動作時用のゲインにより反射信号ＡＳを増幅してアンプ出力信号ＡＰを出力する。

一方、記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルがハイレベルである場合は、可変ゲインアンプ１は、再生動作時よりも小さいゲインを設定して反射信号ＡＳを増幅しアンプ出力信号ＡＰを出力する。

このように、可変ゲインアンプ１は、記録ゲート信号ＷＴＧＴに基づき、光ディスク装置の動作に応じた所定のゲインで反射信号ＡＳを増幅して記録動作時と再生動作時のアンプ出力信号ＡＰの信号レベルを等しくし、反射信号ＡＳのレベル差がエンベロープの変化として検出されないようにする。

ここで、可変ゲインアンプ１のゲイン設定にバラツキ等があって適切なゲインが設定されない場合には、図２に示すように、アンプ出力信号ＡＰに記録動作時と再生動作時とでレベル差が生じる。

高速エンベロープ検波回路２は、入力されたアンプ出力信号ＡＰの上側エンベロープを求め、エンベロープ信号ＥＭを積分回路３に出力する。積分回路３は、論理回路１１からの演算出力信号ＣＰの信号レベルがローレベルの場合、抵抗４と容量５で決まる所定の時定数でエンベロープ信号ＥＭを積分する。一方、演算出力信号ＣＰの信号レベルがハイレベルの場合には、スイッチ６がオンとなるので、所定の時定数よりも小さい時定数でエンベロープ信号ＥＭを積分して後段のスライスレベル設定回路７へ出力信号ＩＳを出力する。

スライスレベル設定回路７は、積分回路３の出力信号ＩＳを基準としてスライスレベルＳＤを設定しコンパレータ８へ出力する。ここでは、スライスレベルＳＤは、光ディスク上のディフェクト以外においてエンベロープ信号ＥＭの信号レベルを下回り、ディフェクトにおいて上回るように設定する。

コンパレータ８は、スライスレベルＳＤを基準として高速エンベロープ検波回路２から出力されるエンベロープ信号ＥＭを二値化し、これをディフェクト検出信号ＤＤとして出力する。

一方、モノマルチ回路１０は、光ディスク装置の動作が再生動作から記録動作へ切り替えられた後、あるいは記録動作から再生動作へ切り替えられた後の所定の一定期間ｔ１、スイッチ６をオンするモノマルチ信号ＭＭ１（信号レベルがハイレベルとなるパルス信号）を出力する。

すなわち、エッジ検出回路９が、記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルがローレベルからハイレベルへ変化したこと、あるいはハイレベルからローレベルへ変化したことを受けてモノマルチ回路１０へ検出信号を出力する。モノマルチ回路１０は、エッジ検出回路９からの検出信号を受けて、所定の一定期間ｔ１、スイッチ６をオンにするモノマルチ信号ＭＭ１を生成して、論理回路１１へ出力する。

論理回路１１は、モノマルチ信号ＭＭ１とディフェクト検出信号ＤＤを論理演算して、ディフェクト検出信号ＤＤがディフェクトの不存在を示す間、つまりディフェクト検出信号ＤＤの信号レベルがローレベルである期間は、演算出力信号ＣＰとしてモノマルチ信号ＭＭ１を出力する。

したがって、光ディスク装置の動作が切り替わるタイミングにディフェクトが存在しない場合には、スイッチ６をオンにするモノマルチ信号ＭＭ１が積分回路３内のスイッチ６に対して出力される。

スイッチ６は、論理回路１１からのモノマルチ信号ＭＭ１（演算出力信号ＣＰ）を受けてオンになる。スイッチ６がオンになると、抵抗４はショートするため、積分回路の時定数は小さくなる。したがって、積分回路３は、論理回路１１からスイッチ６をオンにする演算出力信号ＣＰ（信号レベルがハイレベルのパルス信号）が出力される間は、通常よりも小さい時定数でエンベロープ信号ＥＭを積分して、出力信号ＩＳを後段のスライスレベル設定回路７に対して出力する。

論理回路１１からの演算出力信号ＣＰの信号レベルがローレベルとなることなく所定の一定期間ｔ１が経過すると、モノマルチ回路１０からのモノマルチ信号ＭＭ１の信号レベルはローレベルとなり、論理回路１１からの演算出力信号ＣＰの信号レベルもローレベルとなって、積分回路３内のスイッチ６がオフとなるため、積分回路３は所定の時定数でエンベロープ信号ＥＭを積分し、出力信号ＩＳをスライスレベル設定回路７に対して出力する。

一方、論理回路１１は、ディフェクト検出信号ＤＤがディフェクトの存在を示す間、つまりディフェクト検出信号ＤＤの信号レベルがハイレベルとなる期間、演算出力信号ＣＰの信号レベルをローレベルに固定して出力する。

つまり、光ディスク装置の動作が切り替わりモノマルチ回路１０からスイッチ６をオンにするモノマルチ信号ＭＭ１（時定数を小さくする信号）が所定の一定期間ｔ１出力される場合であっても、信号レベルがローレベルの演算出力信号ＣＰが積分回路３内のスイッチ６に対して出力される。

したがって、光ディスク装置の動作が切り替わるタイミングにディフェクトが存在する場合には、スイッチ６は、論理回路１１からの演算出力信号ＣＰを受けてオフを維持するので、積分回路３は所定の時定数でエンベロープ信号ＥＭを積分して、出力信号ＩＳを後段のスライスレベル設定回路７に対して出力する。

そのため、図２に示すように、光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作に切り替わるタイミングにディフェクトが存在すると、時定数を小さくする所定の一定期間ｔ１においても所定の時定数でエンベロープ信号ＥＭが積分され、積分回路３の出力信号ＩＳの波形変化はエンベロープ信号ＥＭの波形変化に遅れて追従する。その結果、ディフェクトの存在を示すディフェクト信号の出力期間が実際のディフェクトの領域に対応し、再生動作から記録動作への切り替わりのタイミングに存在するディフェクトを高精度に検出することが可能となる。

以上のように、本実施の形態１におけるディフェクト検出回路は、ディフェクトが存在する間は、積分回路の時定数を小さくする信号を無効にするので、光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作へ、あるいは再生動作から記録動作へと切り替わるタイミングに存在するディフェクトの検出を高精度に行うことができる。

（実施の形態２）
図３は本実施の形態１におけるディフェクト検出回路の構成を示すブロック図である。但し、前述した実施の形態１で説明した部材に対応する部材には同一符号を付して、説明を省略する。

図３において、保持装置（保持手段）１２は、記録ゲート信号ＷＴＧＴを受け、光ディスク装置の動作が再生動作であるときのエンベロープ信号ＥＭの信号レベルを保持し、保持信号ＥＳを出力する。なお、保持装置としては例えばサンプルホールド回路等が利用可能である。

レベルシフト回路（レベルシフト手段）１３は、保持装置１２から出力される保持信号ＥＳ（保持装置１２が保持する信号レベル）を任意の一定値分レベルシフトさせた信号ＥＳＬを出力する。

比較器（比較手段）１４は、エンベロープ信号ＥＭとレベルシフト回路１３が出力する信号ＥＳの信号レベルを比較して、光ディスク上のディフェクトの有無を示す比較結果信号ＣＣを出力する。ここでは、比較結果信号ＣＣはパルス信号であり、ディフェクトが存在を示す間はハイレベルとなり、それ以外においてはローレベルとなるものとして説明する。

また、論理回路（演算手段）１１は、モノマルチ回路１０からのモノマルチ信号ＭＭ１と比較器１４からの比較結果信号ＣＣを入力し、比較結果信号ＣＣがディフェクトの存在を示す間はモノマルチ信号ＭＭ１を無効にする演算を施して演算出力信号ＣＰを積分回路３へ出力する。

具体的には、比較結果信号ＣＣがローレベルの場合には演算出力信号ＣＰとしてモノマルチ信号ＭＭ１を出力し、ハイレベルの場合（ディフェクトを示す間）は演算出力信号ＣＰの信号レベルはローレベルで固定される。

続いて、このように構成されたディフェクト検出回路の動作について図３、４を用いて説明する。図４は、当該ディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を表している。但し、前述した実施の形態１におけるディフェクト検出回路と同様の動作については、説明を省略する。なお、以下の説明では、光ディスク装置の動作が再生動作から記録動作へと切り替わるタイミングにディフェクトが存在する場合について説明するが、記録動作から再生動作へ切り替わるタイミングにディフェクトが存在する場合も同様である。

当該ディフェクト検出回路は、光ディスク装置の動作が再生動作から記録動作へ切り替わるタイミングにディフェクトが存在する場合に、スイッチ６をオンにするモノマルチ信号ＭＭ１を無効にする動作が前述した実施の形態１におけるディフェクト検出回路と異なる。

すなわち、保持装置１２は、記録ゲート信号ＷＴＧＴを受け、光ディスク装置の動作が再生動作であるときのエンベロープ信号ＥＭの信号レベルを保持し、保持信号ＥＳを後段のレベルシフト回路１３へ出力する。

レベルシフト回路１３は、保持信号ＥＳを任意の一定値分レベルシフトした信号ＥＳＬを出力する。具体的には、レベルシフト回路１３は、ディフェクトが存在するときにエンベロープ信号ＥＭが信号ＥＳＬの信号レベルを下回り、それ以外では上回るようにレベルシフトする。

比較器１４は、信号ＥＳＬとエンベロープ信号ＥＭの信号レベルを比較し、エンベロープ信号ＥＭが信号ＥＳＬの信号レベルを下回ると信号レベルがハイレベルとなり、上回るとローレベルとなるパルス信号（比較結果信号）ＣＣを後段の論理回路１１へと出力する。

論理回路１１は、モノマルチ回路１０からのモノマルチ信号ＭＭ１と比較器１４からのパルス信号ＣＣを論理演算して、パルス信号ＣＣがディフェクトの不存在を示す間、つまりパルス信号ＣＣの信号レベルがローレベルである期間は演算出力信号ＣＰとしてモノマルチ信号ＭＭ１を積分回路３内のスイッチ６に対して出力する。

一方、パルス信号ＣＣがディフェクトの存在を示す間、つまりパルス信号ＣＣの信号レベルがローレベルである期間は演算出力信号ＣＰの信号レベルをローレベルに固定して出力する。

したがって、実施の形態１と同様に、光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作に切り替わるタイミングにディフェクトが存在すると、時定数を小さくする所定の一定期間ｔ１においても所定の時定数でエンベロープ信号ＥＭが積分され、積分回路３の出力信号ＩＳの波形変化はエンベロープ信号ＥＭの波形変化に遅れて追従する。その結果、ディフェクトの存在を示すディフェクト信号の出力期間が実際のディフェクトの領域に対応し、再生動作から記録動作への切り替わりのタイミングに存在するディフェクトを高精度に検出することが可能となる（図４参照。）。

以上のように、本実施の形態２におけるディフェクト検出回路は、光ディスク装置の動作が再生動作時のエンベロープ信号ＥＭの信号レベルを保持しておき、その信号レベルをエンベロープ信号の信号レベルが下回るとディフェクトであると判断して、ディフェクトが存在する間は、積分回路の時定数を小さくする信号を無効にするので、光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作へ、あるいは再生動作から記録動作へと切り替わるタイミングに存在するディフェクトの検出を高精度に行うことができる。

また、実施の形態１、２によれば、光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作へ、あるいは再生動作から記録動作へと切り替わるタイミングに存在するディフェクトの検出を高精度に行うことができるので、例えば光ディスク装置のトラッキングサーボ回路およびフォーカスサーボ回路が、実際のディフェクトの領域に対応する期間、前値ホールドを出力でき、また、ＣＰＵが光ディスクの記録不可領域を精度良く判断できるようになり、光ディスク装置の光ディスクに対するデータアクセス動作を安定化できる。

本発明にかかるディフェクト検出回路は光ディスク上のディフェクトを高精度に検出できるので、光ディスク装置等においてデータ記録やデータ再生が安定化し、光ディスク装置等に有用である。

本発明の実施の形態１におけるディフェクト検出回路の構成を示すブロック図 同実施の形態のディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を示す図 本発明の実施の形態２におけるディフェクト検出回路の構成を示すブロック図 同実施の形態のディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を示す図 従来のディフェクト検出回路の構成を示すブロック図 従来のディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を示す図 従来のディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を示す図

符号の説明

１ 可変ゲインアンプ
２ 高速エンベロープ検波回路
３ 積分回路
４ 抵抗
５ 容量
６ スイッチ
７ スライスレベル設定回路
８ コンパレータ
９ エッジ検出回路
１０ モノマルチ回路
１１ 論理回路
１２ 保持装置
１３ レベルシフト回路
１４ 比較器

Claims (2)

1. 光ディスクに対しデータアクセスする光ディスク装置に搭載されるディフェクト検出回路であって、
   前記光ディスクへ照射された光ビームの反射光から生成される反射信号を、前記光ディスク装置の動作が記録動作であるか再生動作であるかを示す記録ゲート信号に応じたゲインで増幅して出力する増幅手段と、
   前記増幅手段により増幅された前記反射信号のエンベロープを検出してエンベロープ信号を出力するエンベロープ検出手段と、
   前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号を可変可能な時定数で積分して出力する積分手段と、
   前記積分手段の出力信号を基準として、前記光ディスク上のディフェクトを検出するためのスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、
   前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号のレベルと前記スライスレベルを比較してディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号を生成するディフェクト検出信号生成手段と、
   前記光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替え、あるいは再生動作から記録動作への切り替えを前記記録ゲート信号から検出して検出信号を出力する動作切り替え検出手段と、
   前記動作切り替え検出手段からの検出信号を受けて、前記積分手段の時定数を小さくする信号を所定の期間出力するモノマルチ手段と、
   前記時定数を小さくする信号と前記ディフェクト検出信号を入力し、前記ディフェクト検出信号がディフェクトの存在を示す間は前記時定数を小さくする信号を無効にする演算を施して前記積分手段へ出力する演算手段と、
   を備えることを特徴とするディフェクト検出回路。
2. 光ディスクに対しデータアクセスする光ディスク装置に搭載されるディフェクト検出回路であって、
   前記光ディスクへ照射された光ビームの反射光から生成される反射信号を、前記光ディスク装置の動作が記録動作であるか再生動作であるかを示す記録ゲート信号に応じたゲインで増幅して出力する増幅手段と、
   前記増幅手段により増幅された前記反射信号のエンベロープを検出してエンベロープ信号を出力するエンベロープ検出手段と、
   前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号を可変可能な時定数で積分して出力する積分手段と、
   前記積分手段の出力信号を基準として、前記光ディスク上のディフェクトを検出するためのスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、
   前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号のレベルと前記スライスレベルを比較してディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号を生成するディフェクト検出信号生成手段と、
   前記光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替え、あるいは再生動作から記録動作への切り替えを前記記録ゲート信号から検出して検出信号を出力する動作切り替え検出手段と、
   前記動作切り替え検出手段からの検出信号を受けて、前記積分手段の時定数を小さくする信号を所定の期間出力するモノマルチ手段と、
   前記光ディスク装置の動作が再生動作であるときの前記エンベロープ信号のレベルを保持する保持手段と、
   前記保持手段が保持するレベルを任意の一定値分シフトして出力するレベルシフト手段と、
   前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号のレベルと前記レベルシフト手段からのレベルを比較して前記光ディスク上のディフェクトの有無を示す比較結果信号を出力する比較手段と、
   前記時定数を小さくする信号と前記比較結果信号を入力し、前記比較結果信号がディフェクトの存在を示す間は前記時定数を小さくする信号を無効にする演算を施して前記積分手段へ出力する演算手段と、
   を備えることを特徴とするディフェクト検出回路。
   

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