JP2006139862A - ホワイトドットアウト検出装置 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスク上のホワイトドットアウトの偽検出信号の発生を抑制し、ホワイトドットアウトの検出精度を向上する。
【解決手段】光ディスクからの情報信号ＡＳを録再制御信号ＷＧに応じたゲインで増幅して出力する可変ゲインアンプ１１と、可変ゲインアンプの出力のエンベロープを求めて出力する高速エンベロープ検波回路１２と、高速エンベロープ検波回路からのエンベロープ信号ＥＭを積分して出力する積分回路１４と、積分回路の出力を基準にしてその基準より高レベル側にスライスレベルＳＤを設定するスライスレベル設定回路１５と、エンベロープ信号をスライスレベルを基準として判定しホワイトドットアウト検出信号ＤＤを生成出力するコンパレータ１７と、録再制御信号が変化したときにコンパレータに対して入力するスライスレベルＳＤを所定時間にわたって高レベル側にシフトさせるレベルシフト手段１８とを備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ディスク装置等において用いられ、光ディスク上の欠陥（書き込みや読み出しが正常にできない部分）のために、反射光量が増幅して明側の電位が一時的に飛び抜ける現象“ホワイトドットアウト（White Dot Out。White Drop Outともいう。）”を検出するホワイトドットアウト検出装置に関する。

近年、コンピュータシステムにおける情報データの記録再生装置としては、情報量の大幅な増加に伴って、大容量で高速且つランダムアクセスが可能な光ディスク装置が広く使用されるようになってきている。光ディスク装置は、例えばＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＢＬＵ−ＲＡＹ等の光ディスクを記録媒体として用いる。

光ディスク装置に搭載されるホワイトドットアウト検出装置は、一般的に、光ディスクに光ビームを収束照射して、光ディスクから反射された反射光の強さに応じた情報信号のエンベロープ変化を検出することによって光ディスク上のホワイトドットアウトを検出し、ホワイトドットアウトの有無を示すホワイトドットアウト検出信号を出力する。このホワイトドットアウト検出信号は、光ディスクに対するトラッキングサーボおよびフォーカスサーボを制御するサーボ回路によって前値ホールド用の信号として利用される。また、光ディスク装置に各種制御用として組み込まれたＣＰＵを用いて、光ディスクの記録不可領域を判断する抽出信号を得るために利用される。

図１１は従来のホワイトドットアウト検出装置の構成を示すブロック図である。図１１において、ＷＧは光ディスクへの記録時または光ディスクからの再生時であることを示す録再制御信号、１１は光ディスクから反射された光の強さに応じた情報信号ＡＳを録再制御信号ＷＧに応じたゲインで増幅して所定の振幅にする可変ゲインアンプ、１２は可変ゲインアンプ１１からのアンプ出力信号ＡＰのエンベロープを検出する高速エンベロープ検波回路、１３は高速エンベロープ検波回路１２からのエンベロープ信号ＥＭを所定のリミット電圧に抑える第１のリミット回路、１４は抵抗Ｒ１と容量Ｃ１からなり、高速エンベロープ検波回路１２から出力されるエンベロープ信号ＥＭを積分する積分回路、１５は積分回路１４からの積分信号ＩＳに基づいてスライスレベルＳＤを生成するスライスレベル設定回路、１６はスライスレベル設定回路１５からのスライスレベルＳＤを所定のリミット電圧に抑える第２のリミット回路、１７は第１のリミット回路１３の第１のリミット出力信号ＬＭ１と第２のリミット回路１６の第２のリミット出力信号ＬＭ２を比較し、前者が後者より大きいときにホワイトドットアウト検出信号ＤＤを有効にして出力するコンパレータである。

次に、上記のように構成された従来のホワイトドットアウト検出装置の動作を図１２の波形図を用いて説明する。

光ディスクに光ビームが収束照射され、光ディスクから反射された光の強さに応じた情報信号ＡＳが可変ゲインアンプ１１に入力される。可変ゲインアンプ１１は、録再制御信号ＷＧに応じたゲインで情報信号ＡＳを増幅して所定の振幅にし、高速エンベロープ検波回路１２に出力する。可変ゲインアンプ１１を用いると、記録時、再生時のいずれであるかによって変化する光ディスクの反射光のレベル差を減殺し、エンベロープの変化として検出しないようにすることができる。このとき、反射光量の明レベルがリミット電圧となっている。

次に、高速エンベロープ検波回路１２は、入力されたアンプ出力信号ＡＰのエンベロープを検出し、得られたエンベロープ信号ＥＭを第１のリミット回路１３および積分回路１４に出力する。反射光量が増幅し明側の電位が一時的に飛び抜ける現象ホワイトドットアウトが発生すると、エンベロープ信号ＥＭにホワイトドットアウト（ＷＤＯ）成分が含まれることになる。第１のリミット回路１３は、エンベロープ信号ＥＭに含まれるホワイトドットアウト成分が大きく、明側レベルに突き抜けるときに、リミット電圧に抑え、コンパレータ１７の入力ダイナミックレンジを超えないようにする。積分回路１４は、高速エンベロープ検波回路１２からのエンベロープ信号ＥＭを積分し、積分信号ＩＳをスライスレベル設定回路１５に出力する。スライスレベル設定回路１５は積分信号ＩＳをレベル変換してスライスレベルＳＤを生成する。第２のリミット回路１６はスライスレベルＳＤのレベルが大きく、明側レベルに突き抜けるときに、リミット電圧に抑え、コンパレータ１７の入力ダイナミックレンジを超えないようにする。コンパレータ１７は、第２のリミット回路１６からの第２のリミット出力信号ＬＭ２を基準として第１のリミット回路１３からの第１のリミット出力信号ＬＭ１を二値化することにより、ホワイトドットアウト検出信号ＤＤを生成出力する。

図１２において、例えば期間Ｔ２に示すように、光ディスクにホワイトドットアウト（ＷＤＯ）が存在することに起因して情報信号ＡＳのエンベロープが急激に変化しているとする。高速エンベロープ検波回路１２はその時定数が小さく、エンベロープ信号ＥＭを第１のリミット回路１３に通した第１のリミット出力信号ＬＭ１は、エンベロープの急激な変化に対応した波形となる。一方、エンベロープ信号ＥＭを積分回路１４に通した積分信号ＩＳは、情報信号ＡＳの急激な変化に追従せず、緩やかに変化する波形となる（Ｐ１参照）。第２のリミット回路１６からの第２のリミット出力信号ＬＭ２も同様に緩やかに変化する波形となる。その結果として、コンパレータ１７からはＴＳ１のように有効なホワイトドットアウト検出信号ＤＤが出力される（Ｐ２→Ｐ３参照）。
特開２００３−１９６８５３号公報

しかしながら、図１１のホワイトドットアウト検出装置によると、可変ゲインアンプ１１のゲインの設定にバラツキがあること等が要因となり、記録時と再生時とで反射光のレベル差を完全に無くすのは不可能である。このため、光ディスクに対する動作が記録から再生へ、または再生から記録へ移行した際に、可変ゲインアンプ１１のアンプ出力信号ＡＰにレベル差を生じてしまう。

特に、光ディスクに対する動作が再生から記録に切り替わったときに、エンベロープ信号ＥＭは情報信号ＡＳの変化に追従するが、積分信号ＩＳは追従に時間を要する（Ｐ３１参照）。このため、第２のリミット出力信号ＬＭ２が第１のリミット出力信号ＬＭ１を下回る期間が長くかかり、ＦＳ１のように誤ったホワイトドットアウト検出信号ＤＤが長時間にわたって出力されてしまう（Ｐ３２→Ｐ３３参照）。そのため、安定性の高い再生を行うことができなくなる。また、光ディスクに対する動作が記録から再生に切り替わったときには、誤ったホワイトドットアウト検出信号ＤＤは出力されないが、記録・再生切り替え直後のホワイトドットアウト検出の再開が遅いものとなり、ホワイトドットアウト検出の安定性が劣化することになる（Ｐ３４参照。ＴＦ３の期間）。

本発明は上記の問題点を解決するもので、安定性の高い記録および再生を行うために、光ディスク上のホワイトドットアウトをより正確に検出することを目的とする。

本発明によるホワイトドットアウト検出装置は、
光ディスクからの情報信号を録再制御信号に応じたゲインで増幅して出力する可変ゲインアンプと、
前記可変ゲインアンプの出力のエンベロープを求めて出力するエンベロープ検波手段と、
前記エンベロープ検波手段からのエンベロープ信号を積分して出力する積分手段と、
前記積分手段の出力を基準にしてその基準より高レベル側にスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、
前記エンベロープ検波手段からの前記エンベロープ信号を、前記スライスレベル設定手段による前記スライスレベルを基準として判定し、ホワイトドットアウト検出信号を生成出力する比較手段と、
前記録再制御信号が変化したときに前記比較手段に対して入力する基準側の前記スライスレベルを所定時間にわたって高レベル側にシフトさせるレベルシフト手段とを備えた構成とされている。

この構成によれば、光ディスクに対する動作が記録から再生へ、または再生から記録へ切り替わることを、録再制御信号の変化を通じてレベルシフト手段が検出し、その検出結果に基づいて、比較手段に対して入力する基準側のスライスレベルを、直接的または間接的に、所定時間にわたって高レベル側にシフトさせることにより、エンベロープ信号に対するスライスレベルの下回り量を低減して、ホワイトドットアウトの偽検出信号の発生を抑制する。これにより、ホワイトドットアウトの検出精度を向上することができる。なお、ここで、前記下回り量の低減については、通常の意味での減少（ゼロの場合を含む）のほか、スライスレベルの方がエンベロープ信号を上回る場合も含み得るものとする。そして、偽検出信号の抑制については、偽検出信号の時間幅を減少させることのほか、偽検出信号がまったく発生しない場合も含み得るものとする。

上記構成において、好ましい展開の態様として、前記エンベロープ検波手段と前記比較手段との間および前記スライスレベル設定手段と前記比較手段との間にそれぞれ、前記比較手段の各入力のダイナミックレンジを超える入力レベルを制限するリミット手段が介挿されている構成がある。

これによれば、情報信号の大きなレベル変化にかかわらず、ホワイトドットアウトの検出を正確に行うことができる。

上記の構成において、前記積分手段と前記レベルシフト手段については、次のような好ましいいくつかの態様がある。

１つ目の好ましい態様は、
前記積分手段は、信号ライン中の抵抗と、出力端子・接地間の容量とを備えるとともに、前記抵抗に並列接続の抵抗と、短絡用スイッチを備え、
前記レベルシフト手段は、前記録再制御信号が変化したときに前記積分手段の前記短絡用スイッチをオンにして前記積分手段の時定数を小さくすることで、前記比較手段に対して入力する基準側の前記スライスレベルを所定時間にわたって高レベル側にシフトさせるものである。

この構成においては、レベルシフト手段が録再制御信号の変化を検出して積分手段における抵抗に並列接続の抵抗に接続された短絡用スイッチをオンにして並列に接続された抵抗を短絡することにより、前記抵抗が並列接続され小さくなることで、所定時間にわたって積分時定数を低減しエンベロープ信号に対する積分信号の応答性を速め、その結果として、ホワイトドットアウトの偽検出信号の発生を抑制するとともに、記録・再生切り替え直後のホワイトドットアウト検出の再開を早めるものである。

また、上記の構成において、さらに、前記録再制御信号が変化したときに前記スライスレベル設定手段によるスライスレベルを可変するスライスレベル切り替え手段を備えた構成が好ましい。

２つ目の好ましい態様は、
前記積分手段は、信号ライン中の抵抗と、出力端子・接地間の容量とを備えるとともに、前記抵抗に並列接続の短絡用スイッチを備え、
前記レベルシフト手段は、前記録再制御信号が変化したときに前記積分手段の前記短絡用スイッチをオンにして前記積分手段の時定数を低減することを通じて、前記比較手段に対して入力する基準側の前記スライスレベルを所定時間にわたって高レベル側にシフトさせるものである。

この構成においては、レベルシフト手段が録再制御信号の変化を検出して積分手段における抵抗に並列接続の短絡用スイッチをオンにして、前記抵抗を短絡することにより、所定時間にわたって積分時定数を低減しエンベロープ信号に対する積分信号の応答性をさらに速め、その結果として、ホワイトドットアウトの偽検出信号の発生をさらに抑制するとともに、記録・再生切り替え直後のホワイトドットアウト検出の再開をさらに早めるものである。

また、上記の構成において、さらに、前記録再制御信号が変化したときに前記スライスレベル設定手段によるスライスレベルを可変するスライスレベル切り替え手段を備えた構成が好ましい。

この構成によれば、スライスレベル切り替え手段は録再制御信号の変化に基づいてスライスレベル設定手段のスライスレベルを持ち上げることにより、ホワイトドットアウトの偽検出信号発生を確実に防止することができる。

３つ目の好ましい態様は、
前記積分手段は、信号ライン中の抵抗と、出力端子・接地間の容量とを備えるとともに、前記容量をリミット電圧に接続する初期化用スイッチを備え、
前記レベルシフト手段は、前記録再制御信号が変化したときに前記積分手段の前記初期化用スイッチをオンにして前記積分手段の前記容量の電位を前記リミット電圧に初期化することを通じて、前記比較手段に対して入力する基準側の前記スライスレベルを所定時間にわたって高レベル側にシフトさせるものである。

この構成においては、レベルシフト手段が録再制御信号の変化を検出して積分手段における容量に接続のスイッチをオンにして、前記容量をリミット電圧に初期化して持ち上げることにより、ホワイトドットアウトの偽検出信号発生を確実に防止することができる。

さらに別の好ましい態様は、
前記積分手段は、信号ライン中の抵抗と、出力端子・接地間の容量とを備えるとともに、前記抵抗に並列接続の短絡用スイッチと、前記容量をリミット電圧に接続する初期化用スイッチとを備え、
前記レベルシフト手段は、前記録再制御信号が変化したときに、まず前記初期化用スイッチをオンにして前記積分手段の前記容量の電位を前記リミット電圧に初期化し、次いで前記短絡用スイッチをオンにして前記積分手段の時定数を低減するものである。

この構成においては、レベルシフト手段が録再制御信号の変化を検出して積分手段における容量に接続の初期化用スイッチをオンにして、前記容量をリミット電圧に初期化して持ち上げることにより、ホワイトドットアウトの偽検出信号発生を確実に防止するとともに、引き続いて、抵抗に並列接続の短絡用スイッチをオンにして、前記抵抗を短絡することにより、積分時定数を低減しエンベロープ信号に対する積分信号の応答性を速め、その結果として、記録・再生切り替え直後のホワイトドットアウト検出の再開を早めるものである。

以上のように本発明によれば、光ディスクに対する動作が記録から再生へ、または再生から記録へ切り替わることを、録再制御信号の変化を通じて検出し、その検出に基づいて、比較手段に対して入力する基準側のスライスレベルを、直接的または間接的に、所定時間にわたって高レベル側にシフトさせることにより、ホワイトドットアウトの偽検出信号の発生を抑制し、ホワイトドットアウトの検出精度を向上することができる。その結果として、光ディスク装置において、安定性の高い記録および再生を実現できる。

以下、本発明にかかわるホワイトドットアウト検出装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。

（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１におけるホワイトドットアウト検出装置の構成を示すブロック図である。図１において、１１は可変ゲインアンプとしての可変ゲインアンプ、１２はエンベロープ検波手段としての高速エンベロープ検波回路、１３は第１のリミット回路、１４は積分手段としての積分回路、１５は積分回路１４の出力を基準とし前記基準より高レベル側にスライスレベルを設定するスライスレベル設定回路、１６は第２のリミット回路、１７は比較手段としてのコンパレータであり、以上の構成要素は図９に示す従来技術の場合と同様である。新たな構成要素としての１８は録再制御信号ＷＧが変化したときに積分回路１４の時定数を所定時間ｔ１にわたって低減することを通じて、コンパレータ１７に対して入力する基準側のスライスレベルＳＤを所定時間にわたって高レベル側にシフトさせるレベルシフト手段である。このレベルシフト手段１８は、録再制御信号ＷＧの信号レベルの変化を検出してパルスを出力するエッジ検出回路１９と、エッジ検出回路１９からパルスを受け取ると、所定の長さの時間ｔ１にわたって“Ｈ”となるパルス状のワンショット信号ＭＭ１を生成出力するモノマルチ（単安定マルチバイブレータ）回路２０を備えている。

エンベロープ信号ＥＭを積分して得た積分信号ＩＳをスライスレベル設定回路１５に出力する積分回路１４は、抵抗Ｒ１と、容量Ｃ１と、抵抗Ｒ１に並列接続の抵抗Ｒ２と、短絡用スイッチＳ１とを備えている。容量Ｃ１の一端は接地され、抵抗Ｒ１と容量Ｃ１の接続点がスライスレベル設定回路１５の入力端子に接続されている。短絡用スイッチＳ１は、モノマルチ回路２０のワンショット信号ＭＭ１が“Ｌ”のときにオフで、積分回路１４の時定数は従来技術と同様に比較的に大きく、ワンショット信号ＭＭ１が“Ｈ”になると短絡用スイッチＳ１がオンされ、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２とが並列接続されるため、積分時定数が小さく設定される。

次に、上記のように構成された本実施の形態のホワイトドットアウト検出装置の動作を図２の波形図を用いて説明する。

＜一般的動作説明＞
光ディスクに光ビームが収束照射され、光ビームはこの光ディスクによって反射される。複数の受光素子（図示せず）が反射された光を受け取り、その強さに応じた電気信号に変換して出力する。これらの複数の受光素子の出力は加算され、得られた全加算信号が情報信号ＡＳとして可変ゲインアンプ１１に入力される。可変ゲインアンプ１１には、光ディスクに対して記録、再生のうち、いずれかを行うべきであるかを示す録再制御信号ＷＧが入力されている。録再制御信号ＷＧは、例えば、光ディスクへの記録時には“Ｈ”となり、光ディスクの再生時には“Ｌ”となる（“Ｈ”および“Ｌ”は、それぞれ高論理状態および低論理状態を示す）。

記録時には、光ディスクに照射される光ビームは、例えば最大１５ｍＷから最小０．５ｍＷまでパワーが変化するように変調される。また、再生時には、光ビームは比較的小さな一定のパワーで照射される。光ビームのパワーが大きく、明るいほど、情報信号ＡＳのレベルが大きくなる。したがって、再生時の情報信号ＡＳのレベルと記録時の情報信号ＡＳの平均レベルとの間に大きな差が生じる。可変ゲインアンプ１１は、この差を小さくするように、録再制御信号ＷＧに応じてゲイン変更をする。すなわち、可変ゲインアンプ１１は、記録時にはゲインを小さく、再生時には大きくして、情報信号ＡＳを増幅し、得られたアンプ出力信号ＡＰを高速エンベロープ検波回路１２に出力する。

高速エンベロープ検波回路１２は一般的な検波回路であって、アンプ出力信号ＡＰの上側（明側）のエンベロープを求めて出力する。求められたエンベロープ信号ＥＭは、第１のリミット回路１３と積分回路１４に出力される。第１のリミット回路１３からの第１のリミット出力信号ＬＭ１はコンパレータ１７の非反転入力端子（＋）に出力される。積分回路１４は、エンベロープ信号ＥＭを積分して得た積分信号ＩＳをスライスレベル設定回路１５に出力する。

エッジ検出回路１９は、録再制御信号ＷＧの信号レベルが変化すると、パルスをモノマルチ回路２０に出力する。モノマルチ回路２０は、エッジ検出回路１９からパルスを受け取ると、所定の長さの時間ｔ１において“Ｈ”となるワンショット信号ＭＭ１を生成して出力する。ワンショット信号ＭＭ１が“Ｌ”のときは、短絡用スイッチＳ１がオフで積分回路１４の時定数は大きく、ワンショット信号ＭＭ１が“Ｈ”であるときは、短絡用スイッチＳ１がオンして抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２とが並列接続されることで積分時定数を小さくし、エンベロープ信号ＥＭに対する積分信号ＩＳの応答性を速める。

スライスレベル設定回路１５は、積分回路１４からの積分信号ＩＳを与えられ、それを基準にその基準より高レベル側にスライスレベルＳＤを設定する。第２のリミット回路１６は、スライスレベルＳＤについてコンパレータ１７の入力ダイナミックレンジを超えて入力されるのを抑え、コンパレータ１７の反転入力端子（−）に出力する。

＜ホワイトドットアウト検出時＞
次に、ホワイトドットアウト検出時における動作を説明する（図２における期間Ｔ２参照）。

いま、例として再生時について説明するが、記録時についても同様である。再生を開始してからしばらく経過しているとすると、モノマルチ回路２０のワンショット信号ＭＭ１は“Ｌ”であり、積分回路１４の短絡用スイッチＳ１はオフとなっている。

光ディスク上にホワイトドットアウトが存在し、反射された光が強くなると、通常は情報信号ＡＳおよびアンプ出力信号ＡＰのレベルが上昇する。高速エンベロープ検波回路１２は、ホワイトドットアウトによりレベルが上昇するアンプ出力信号ＡＰに追従し、この信号とほぼ同じレベルのエンベロープ信号ＥＭを出力する。一方、積分回路１４は、その時定数が高速エンベロープ検波回路１２に比べて大きいので、ホワイトドットアウトによるエンベロープ信号ＥＭのレベル上昇に追従しない（Ｐ１参照）。すなわち、積分回路１４からの積分信号ＩＳ、スライスレベル設定回路１５からのスライスレベルＳＤは、ホワイトドットアウトに起因してエンベロープ信号ＥＭのレベルが上昇する期間において、ほとんどレベルが変化しない。

したがって、ホワイトドットアウトに起因してエンベロープ信号ＥＭが上昇してスライスレベルＳＤを上回り、第１のリミット出力信号ＬＭ１が第２のリミット出力信号ＬＭ２を上回ったとき（Ｐ２参照）、コンパレータ１７は、ホワイトドットアウトを検出したことを示すパルスＴＳ１をホワイトドットアウト検出信号ＤＤとして出力する（Ｐ３参照）。第１のリミット出力信号ＬＭ１と第２のリミット出力信号ＬＭ２はそれぞれ、第１のリミット回路１３と第２のリミット回路１６により、コンパレータ１７の入力ダイナミックレンジを超えて入力されることが回避される。仮に、その入力ダイナミックレンジを超えて入力された場合でも、リミット電圧以上になることなく、リミット電圧にリミットされる。

＜記録再生切り替え時＞
次に、記録から再生へ、または再生から記録へ切り替える際におけるホワイトドットアウト検出装置の動作を説明する（図２の期間Ｔ１参照）。

可変ゲインアンプ１１のゲイン設定にバラツキ等があってゲインが適切でない場合には、図示のように、記録時と再生時とでアンプ出力信号ＡＰのエンベロープ（上側のエンベロープ）のレベルに差が生じることがある。

光ディスクに対する動作が記録から再生へ、または再生から記録へ切り替わる際に、アンプ出力信号ＡＰの上側エンベロープのレベルが上昇すると、従来技術の場合には、ホワイトドットアウト検出時と同様の状態となるので、コンパレータ１７は、ホワイトドットアウト検出信号ＤＤとして時間幅の大きなパルスの偽検出信号ＦＳ１を出力してしまう（図１２のＰ３３参照）。

そこで、エッジ検出回路１９は録再制御信号ＷＧの信号レベルの変化を監視し、一定以上の変化を検出したときは、パルスを発生し、モノマルチ回路２０は時間ｔ１の間、ワンショット信号ＭＭ１を“Ｈ”にして、積分回路１４の短絡用スイッチＳ１をオンする。これにより、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２とが並列接続されることで、積分回路１４の時定数を小さくして応答性を速くする。その結果、積分回路１４からの積分信号ＩＳをエンベロープ信号ＥＭに速く追従させることができる（Ｐ４参照）。スライスレベル設定回路１５で積分信号ＩＳからスライスレベルＳＤを生成し、第２のリミット回路１６による第２のリミット出力信号ＬＭ２を基準に、第１のリミット出力信号ＬＭ１をコンパレータ１７で比較すると、偽検出信号ＦＳ１を短いものにすることができる（Ｐ５→Ｐ６参照）。

このように、本実施の形態のホワイトドットアウト検出装置によれば、光ディスクに対する動作が記録から再生へ、または再生から記録へ切り替わることの検出（ワンショット信号）を通じて、積分時定数を小さくすることにより、偽検出信号ＦＳ１が発生する時間を短くできるとともに、記録・再生切り替え直後のホワイトドットアウト検出の再開を早めることができる（Ｐ７参照）。

（実施の形態２）
図３は本発明の実施の形態２におけるホワイトドットアウト検出装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態のホワイトドットアウト装置は、図１の構成において、積分回路１４の抵抗Ｒ２を省いたものに相当する。すなわち、ライスレベル設定回路１５に出力する積分回路１４は、抵抗Ｒ１と、容量Ｃ１と、抵抗Ｒ１に並列接続の短絡用スイッチＳ１とを備えている。容量Ｃ１の一端は接地され、抵抗Ｒ１と容量Ｃ１の接続点がスライスレベル設定回路１５の入力端子に接続されている。録再制御信号ＷＧのエッジ検出により積分時定数を制御するものである。その他の構成については、実施の形態１と同様であるので同一部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。

次に、上記のように構成された本実施の形態のホワイトドットアウト検出装置の動作を図４の波形図を用いて説明する。

＜ホワイトドットアウト検出時＞
期間Ｔ２においては、モノマルチ回路２０のワンショット信号ＭＭ１が“Ｌ”であり、短絡用スイッチＳ１がオフであるので、スライスレベル設定回路１５は通常レベルにおいてスライスレベルＳＤを生成出力する。したがって、期間Ｔ２での動作は実施の形態１の場合と同様となる。

＜記録再生切り替え時＞
光ディスクに対する動作が記録から再生へ、または再生から記録へ切り替わると、エッジ検出回路１９は、録再制御信号ＷＧの信号レベルが変化し、パルスをモノマルチ回路２０に出力する。モノマルチ回路２０は、エッジ検出回路１９からパルスを受け取ると、所定の長さの時間ｔ１において“Ｈ”となるワンショット信号ＭＭ１を生成して出力する。ワンショット信号ＭＭ１が“Ｌ”のときは、短絡用スイッチＳ１がオフで積分回路１４の時定数は大きく、ワンショット信号ＭＭ１が“Ｈ”であるときは、短絡用スイッチＳ１がオンして抵抗Ｒ１をショートして積分時定数を小さくし、エンベロープ信号ＥＭに対する積分信号ＩＳの応答性を速める（Ｐ８参照）。スライスレベル設定回路１５で積分信号ＩＳからスライスレベルＳＤを生成し、第２のリミット回路１６による第２のリミット出力信号ＬＭ２を基準に、第１のリミット出力信号ＬＭ１をコンパレータ１７で比較すると、偽検出信号ＦＳ１を短いものにすることができる（Ｐ９→Ｐ１０参照）。
このように、本実施の形態のホワイトドットアウト検出装置によれば、光ディスクに対する動作が記録から再生へ、または再生から記録へ切り替わることの検出（ワンショット信号）を通じて、積分時定数を小さくすることにより、偽検出信号ＦＳ１が発生する時間を短くできるとともに、記録・再生切り替え直後のホワイトドットアウト検出の再開を早めることができる（Ｐ１１参照）。

（実施の形態３）
図５は本発明の実施の形態３におけるホワイトドットアウト検出装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態のホワイトドットアウト装置は、図１の構成において、レベルシフト手段１８にスライスレベル切り替え回路２１を追加したものに相当する。すなわち、録再制御信号ＷＧのエッジ検出により積分時定数とスライスレベルを同時に制御するものである。スライスレベル切り替え回路２１は、モノマルチ回路２０からのワンショット信号ＭＭ１を入力し、ワンショット信号ＭＭ１が“Ｌ”のときは、スライスレベル設定回路１５に対してそのスライスレベルＳＤを通常レベルにするように制御し、ワンショット信号ＭＭ１が“Ｈ”になったときは、スライスレベル設定回路１５に対してスライスレベルＳＤを通常レベルよりもリミット電圧側へシフトするように構成されている。その他の構成については、実施の形態１と同様であるので同一部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。

次に、上記のように構成された本実施の形態のホワイトドットアウト検出装置の動作を図６の波形図を用いて説明する。

＜ホワイトドットアウト検出時＞
期間Ｔ２においては、モノマルチ回路２０のワンショット信号ＭＭ１が“Ｌ”であり、短絡用スイッチＳ１がオフであるので、スライスレベル設定回路１５は通常レベルにおいてスライスレベルＳＤを生成出力する。したがって、期間Ｔ２での動作は実施の形態１の場合と同様となる。

＜記録再生切り替え時＞
光ディスクに対する動作が記録から再生へ、または再生から記録へ切り替わると、エッジ検出回路１９が録再制御信号ＷＧのレベル変化を検出し、モノマルチ回路２０がワンショット信号ＭＭ１を“Ｈ”にする。すると、積分回路１４の短絡用スイッチＳ１がオンになって、その時定数が小さくなり、高速応答状態になるとともに（Ｐ８参照）、スライスレベル切り替え回路２１がスライスレベル設定回路１５を制御して、そのスライスレベルを通常レベルよりも上昇させた状態に設定する（Ｐ１２参照）。その結果、時間ｔ１の間の応答が速くなると同時にスライスレベルＳＤをリミット電圧側に近づけ、偽検出信号の発生を無くすことができる（Ｐ１２→Ｐ１３参照）。

このように、本実施の形態のホワイトドットアウト検出装置によれば、光ディスクに対する動作が記録から再生へ、または再生から記録へ切り替わることの検出（ワンショット信号）を通じて、積分時定数を小さくし、且つスライスレベルを通常レベルよりも上昇させることによって、偽検出信号の発生を防止し、記録・再生切り替え直後のホワイトドットアウト検出の再開を早め（Ｐ１２，Ｐ１４参照）、ホワイトドットアウト検出の安定性を高めることができる。

（実施の形態４）
図７は本発明の実施の形態４におけるホワイトドットアウト検出装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態のホワイトドットアウト検出装置は、図１の構成において、積分回路１４に代えて積分回路１４ａを備えているものに相当する。積分回路１４ａは、抵抗Ｒ１と、容量Ｃ１と、初期化用スイッチＳ２を備え、抵抗Ｒ１と容量Ｃ１との接続点が初期化用スイッチＳ２を介してリミット電圧ＶＬに接続されている。初期化用スイッチＳ２は、モノマルチ回路２０のワンショット信号ＭＭ１が“Ｈ”のときにオンになり、そのとき容量Ｃ１がリミット電圧ＶＬにショートされるようになっている。その他の構成については、実施の形態１と同様であるので同一部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。

次に、上記のように構成された本実施の形態のホワイトドットアウト検出装置の動作を図８の波形図を用いて説明する。

＜ホワイトドットアウト検出時＞
期間Ｔ２においては、モノマルチ回路２０のワンショット信号ＭＭ１が“Ｌ”であり、初期化用スイッチＳ２がオフであるので、実施の形態１の場合と同様の動作となる。

＜記録再生切り替え時＞
光ディスクに対する動作が記録から再生へ、または再生から記録へ切り替わると、エッジ検出回路１９が録再制御信号ＷＧのレベル変化を検出し、モノマルチ回路２０がワンショット信号ＭＭ１を“Ｈ”にする。すると、積分回路１４ａの初期化用スイッチＳ２がオンになって、容量Ｃ１の電圧がリミット電圧ＶＬに初期化される。その結果、積分回路１４ａによる積分信号ＩＳは、時間ｔ１の間、リミット電圧ＶＬに固定される（Ｐ１５参照）。

このように、本実施の形態のホワイトドットアウト検出装置によれば、光ディスクに対する動作が記録から再生へ、または再生から記録へ切り替わることの検出（ワンショット信号）を通じて、積分信号ＩＳをリミット電圧ＶＬに初期化をすることにより、偽検出信号の発生を防止できる（Ｐ１６→Ｐ１７）。したがって、誤検出の無いホワイトドットアウト検出を行うことができる。

（実施の形態５）
ところで、上記の実施の形態４においては、期間ＴＦ１で積分信号ＩＳの立ち下がりが遅いことから（Ｐ１８，Ｐ１９参照）、ホワイトドットアウトの検出精度が低いという課題が残る。この点にも対応するのが本発明の実施の形態５である。

図９は本発明の実施の形態５におけるホワイトドットアウト検出装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態のホワイトドットアウト検出装置は、図１の構成において、そのモノマルチ回路２０を第１のモノマルチ回路２０ａとし、さらに第２のモノマルチ回路２０ｂを備え、積分回路１４に代えて積分回路１４ｂを備えている。

第１のモノマルチ回路２０ａは、そのワンショット信号ＭＭ１を第２のモノマルチ回路２０ｂおよび積分回路１４ｂの初期化用スイッチＳ２の制御に出力する。第２のモノマルチ回路２０ｂは、そのワンショット信号ＭＭ２を積分回路１４ｂの短絡用スイッチＳ１の制御に出力する。第２のモノマルチ回路２０ｂは、ワンショット信号ＭＭ１のレベルが“Ｈ”から“Ｌ”に変化すると、所定の長さｔ２において“Ｈ”となるワンショット信号ＭＭ２を生成出力する。積分回路１４ｂは、抵抗Ｒ１と、容量Ｃ１と、短絡用スイッチＳ１と、初期化用スイッチＳ２を備えている。短絡用スイッチＳ１は抵抗Ｒ１に並列接続されている。抵抗Ｒ１と容量Ｃ１との接続点が初期化用スイッチＳ２を介してリミット電圧ＶＬに接続されている。その他の構成については、実施の形態１と同様であるので同一部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。

次に、上記のように構成された本実施の形態のホワイトドットアウト検出装置の動作を図１０の波形図を用いて説明する。

＜ホワイトドットアウト検出時＞
期間Ｔ２においては、第１のモノマルチ回路２０ａのワンショット信号ＭＭ１が“Ｌ”で初期化用スイッチＳ２がオフであり、第２のモノマルチ回路２０ｂのワンショット信号ＭＭ２も“Ｌ”で短絡用スイッチＳ１がオフであるので、実施の形態１の場合と同様の動作となる。

＜記録再生切り替え時＞
光ディスクに対する動作が記録から再生へ、または再生から記録へ切り替わると、エッジ検出回路１９が録再制御信号ＷＧのレベル変化を検出し、第１のモノマルチ回路２０ａがワンショット信号ＭＭ１を“Ｈ”にする。すると、積分回路１４ｂの初期化用スイッチＳ２がオンになって（短絡用スイッチＳ１はオフのまま）、容量Ｃ１の電圧がリミット電圧ＶＬに初期化される。その結果、積分回路１４ｂによる積分信号ＩＳは、時間ｔ１の間、リミット電圧ＶＬに固定される（Ｐ２０参照）。

第１のモノマルチ回路２０ａからのワンショット信号ＭＭ１のパルスが終了すると、第２のモノマルチ回路２０ｂは、ワンショット信号ＭＭ２を時間ｔ２の間、“Ｈ”にする。すると、積分回路１４ｂの短絡用スイッチＳ１がオンとなり、積分回路１４ｂの時定数が小さくなる。その結果、積分信号ＩＳは急速にエンベロープ信号ＥＭに近づく（Ｐ２１参照）。そうすることで、偽検出信号の発生を防止し（Ｐ２２→Ｐ２３）、記録・再生切り替え直後のホワイトドットアウト検出の再開を早め（Ｐ２４，Ｐ２５参照）、ホワイトドットアウト検出の安定性を高めることができる。

以上説明したように、本発明におけるホワイトドットアウト検出装置は、光ディスク上のホワイトドットアウトをより正確に検出することができ、光ディスク装置等において用いられるホワイトドットアウト検出装置等に有用である。

本発明の実施の形態１におけるホワイトドットアウト検出装置の構成を示すブロック図 本発明の実施の形態１におけるホワイトドットアウト検出装置の動作を示す波形図 本発明の実施の形態２におけるホワイトドットアウト検出装置の構成を示すブロック図 本発明の実施の形態２におけるホワイトドットアウト検出装置の動作を示す波形図 本発明の実施の形態３におけるホワイトドットアウト検出装置の構成を示すブロック図 本発明の実施の形態３におけるホワイトドットアウト検出装置の動作を示す波形図 本発明の実施の形態４におけるホワイトドットアウト検出装置の構成を示すブロック図 本発明の実施の形態４におけるホワイトドットアウト検出装置の動作を示す波形図 本発明の実施の形態５におけるホワイトドットアウト検出装置の構成を示すブロック図 本発明の実施の形態５におけるホワイトドットアウト検出装置の動作を示す波形図 従来の技術におけるホワイトドットアウト検出装置の構成を示すブロック図 従来の技術におけるホワイトドットアウト検出装置の動作を示す波形図

符号の説明

１１ 可変ゲインアンプ
１２ 高速エンベロープ検波回路（エンベロープ検波手段）
１３ 第１のリミット回路
１４、１４ａ、１４ｂ 積分回路（積分手段）
１５ スライスレベル設定回路（スライスレベル設定手段）
１６ 第２のリミット回路
１７ コンパレータ(比較手段)
１８ レベルシフト手段
１９ エッジ検出回路
２０ モノマルチ回路
２０ａ 第１のモノマルチ回路
２０ｂ 第２のモノマルチ回路
２１ スライスレベル切り替え回路
ＡＳ 情報信号
ＡＰ アンプ出力信号
Ｃ１ 容量
ＤＤ ホワイトドットアウト検出信号
ＥＭ エンベロープ信号
ＩＳ 積分信号
ＬＭ１ 第１のリミット出力信号
ＬＭ２ 第２のリミット出力信号
ＭＭ１，ＭＭ２ ワンショット信号
Ｒ１ 抵抗
Ｒ２ 抵抗Ｒ１に並列接続の抵抗
Ｓ１ 短絡用スイッチ
Ｓ２ 初期化用スイッチ
ＳＤ スライスレベル
ＷＧ 録再制御信号

Claims (7)

1. 光ディスクからの情報信号を録再制御信号に応じたゲインで増幅して出力する可変ゲインアンプと、
   前記可変ゲインアンプの出力のエンベロープを求めて出力するエンベロープ検波手段と、
   前記エンベロープ検波手段からのエンベロープ信号を積分して出力する積分手段と、
   前記積分手段の出力を基準にしてその基準より高レベル側にスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、
   前記エンベロープ検波手段からの前記エンベロープ信号を、前記スライスレベル設定手段による前記スライスレベルを基準として判定し、ホワイトドットアウト検出信号を生成出力する比較手段と、
   前記録再制御信号が変化したときに前記比較手段に対して入力する基準側の前記スライスレベルを所定時間にわたって高レベル側にシフトさせるレベルシフト手段と
   を備えたホワイトドットアウト検出装置。
2. 前記エンベロープ検波手段と前記比較手段との間および前記スライスレベル設定手段と前記比較手段との間にそれぞれ、前記比較手段の各入力のダイナミックレンジを超える入力レベルを制限するリミット手段が介挿されている請求項１に記載のホワイトドットアウト検出装置。
3. 前記積分手段は、信号ライン中の抵抗と、出力端子・接地間の容量とを備えるとともに、前記抵抗に並列接続の抵抗と、短絡用スイッチを備え、
   前記レベルシフト手段は、前記録再制御信号が変化したときに前記積分手段の前記短絡用スイッチをオンにして前記積分手段の時定数を小さくすることで、前記比較手段に対して入力する基準側の前記スライスレベルを所定時間にわたって高レベル側にシフトさせる請求項１または請求項２に記載のホワイトドットアウト検出装置。
4. 前記積分手段は、信号ライン中の抵抗と、出力端子・接地間の容量とを備えるとともに、前記抵抗に並列接続の短絡用スイッチを備え、
   前記レベルシフト手段は、前記録再制御信号が変化したときに前記積分手段の前記短絡用スイッチをオンにして前記積分手段の時定数を低減することを通じて、前記比較手段に対して入力する基準側の前記スライスレベルを所定時間にわたって高レベル側にシフトさせる請求項１または請求項２に記載のホワイトドットアウト検出装置。
5. さらに、前記録再制御信号が変化したときに前記スライスレベル設定手段によるスライスレベルを可変するスライスレベル切り替え手段を備えた請求項４に記載のホワイトドットアウト検出装置。
6. 前記積分手段は、信号ライン中の抵抗と、出力端子・接地間の容量とを備えるとともに、前記容量をリミット電圧に接続する初期化用スイッチを備え、
   前記レベルシフト手段は、前記録再制御信号が変化したときに前記積分手段の前記初期化用スイッチをオンにして前記積分手段の前記容量の電位を前記リミット電圧に初期化することを通じて、前記比較手段に対して入力する基準側の前記スライスレベルを所定時間にわたって高レベル側にシフトさせる請求項１または請求項２に記載のホワイトドットアウト検出装置。
7. 前記積分手段は、信号ライン中の抵抗と、出力端子・接地間の容量とを備えるとともに、前記抵抗に並列接続の短絡用スイッチと、前記容量をリミット電圧に接続する初期化用スイッチとを備え、
   前記レベルシフト手段は、前記録再制御信号が変化したときに、まず前記初期化用スイッチをオンにして前記積分手段の前記容量の電位を前記リミット電圧に初期化し、次いで前記短絡用スイッチをオンにして前記積分手段の時定数を低減する請求項１または請求項２に記載のホワイトドットアウト検出装置。
   
   
   

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