JP2003196853A - 光ディスク装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 記録媒体に対する安定なサーボを保持するこ
とができるとともに、記録媒体における記録領域の低下
を防止することができる光ディスク装置を提供する。 【解決手段】 当該ＳＤ信号に対する記録媒体１の傷な
どに起因するノイズ信号からの影響を抑制する機能によ
り、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生させることなく、記録
媒体１からＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤＤを検出することを可
能とする。
とができるとともに、記録媒体における記録領域の低下
を防止することができる光ディスク装置を提供する。 【解決手段】 当該ＳＤ信号に対する記録媒体１の傷な
どに起因するノイズ信号からの影響を抑制する機能によ
り、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生させることなく、記録
媒体１からＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤＤを検出することを可
能とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、記録媒体として各
種ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクを用い、大容量で高速か
つランダムアクセスが可能な光ディスク装置に関するも
のである。
種ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクを用い、大容量で高速か
つランダムアクセスが可能な光ディスク装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】近年では、コンピュータシステムにおい
ては、情報量の大幅な増加に伴って、情報データの記録
再生装置として、記録媒体にＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、
ＣＤ−Ｒ／ＷやＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の光
ディスクを用い、大容量で高速かつランダムアクセスが
可能な光ディスク装置が広く使用されるようになってき
ている。
ては、情報量の大幅な増加に伴って、情報データの記録
再生装置として、記録媒体にＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、
ＣＤ−Ｒ／ＷやＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の光
ディスクを用い、大容量で高速かつランダムアクセスが
可能な光ディスク装置が広く使用されるようになってき
ている。
【０００３】このような光ディスク装置内では、一般的
な構成として、記録媒体からの反射光の総和信号に基づ
いてＤＥＦＥＣＴ信号を検出しており、このＤＥＦＥＣ
Ｔ信号は、記録媒体に対するトラッキングおよびフォー
カスサーボを制御するサーボ回路の前置ホールド用の信
号として利用したり、また、光ディスク装置に各種制御
用として組み込まれたＣＰＵを介して、記録媒体の記録
不可領域を判断するための抽出信号を得るために利用し
ている。
な構成として、記録媒体からの反射光の総和信号に基づ
いてＤＥＦＥＣＴ信号を検出しており、このＤＥＦＥＣ
Ｔ信号は、記録媒体に対するトラッキングおよびフォー
カスサーボを制御するサーボ回路の前置ホールド用の信
号として利用したり、また、光ディスク装置に各種制御
用として組み込まれたＣＰＵを介して、記録媒体の記録
不可領域を判断するための抽出信号を得るために利用し
ている。
【０００４】以上のような従来の光ディスク装置におけ
るＤＥＦＥＣＴ信号の検出について、図面を用いて以下
に説明する。図１は従来の光ディスク装置によるＤＥＦ
ＥＣＴ信号検出に関し、後述する本発明の実施の形態の
光ディスク装置により信号再生される記録媒体１（図４
参照）の一構成例を示す概念図、図２は従来の光ディス
ク装置によるＤＥＦＥＣＴ信号検出に関し、後述する本
発明の実施の形態の光ディスク装置におけるピックアッ
プ１０（図４参照）のフォトデイテクタの一構成例を示
す概念図、図３は従来の光ディスク装置によるＤＥＦＥ
ＣＴ信号検出に関し、後述する本発明の実施の形態の光
ディスク装置のピックアップ１０（図４参照）における
フォトデイテクタの信号出力部の一例を示す構成図、図
４は従来の光ディスク装置によるＤＥＦＥＣＴ信号検出
に関し、後述する本発明の実施の形態の光ディスク装置
の構成を示すブロック図、図５は従来の光ディスク装置
の再生増幅器１１（図４参照）におけるＳＤ信号生成部
の構成を示すブロック図、図６は従来の光ディスク装置
におけるＤＥＦＥＣＴ検出器１３（図４参照）の構成を
示すブロック図、図７は図６の光ディスク装置における
ＤＥＦＥＣＴ検出器１３の検出動作を示す波形図であ
る。
るＤＥＦＥＣＴ信号の検出について、図面を用いて以下
に説明する。図１は従来の光ディスク装置によるＤＥＦ
ＥＣＴ信号検出に関し、後述する本発明の実施の形態の
光ディスク装置により信号再生される記録媒体１（図４
参照）の一構成例を示す概念図、図２は従来の光ディス
ク装置によるＤＥＦＥＣＴ信号検出に関し、後述する本
発明の実施の形態の光ディスク装置におけるピックアッ
プ１０（図４参照）のフォトデイテクタの一構成例を示
す概念図、図３は従来の光ディスク装置によるＤＥＦＥ
ＣＴ信号検出に関し、後述する本発明の実施の形態の光
ディスク装置のピックアップ１０（図４参照）における
フォトデイテクタの信号出力部の一例を示す構成図、図
４は従来の光ディスク装置によるＤＥＦＥＣＴ信号検出
に関し、後述する本発明の実施の形態の光ディスク装置
の構成を示すブロック図、図５は従来の光ディスク装置
の再生増幅器１１（図４参照）におけるＳＤ信号生成部
の構成を示すブロック図、図６は従来の光ディスク装置
におけるＤＥＦＥＣＴ検出器１３（図４参照）の構成を
示すブロック図、図７は図６の光ディスク装置における
ＤＥＦＥＣＴ検出器１３の検出動作を示す波形図であ
る。
【０００５】まず、記録媒体１から信号を再生する場合
であって、記録媒体１から信号を抽出する際には、図１
に示すように、記録媒体１に照射する光ビームとして
は、メインビームＢｍと、サブビーム（１）Ｂｓ１及び
サブビーム（２）Ｂｓ２等のように、分割されたビーム
を照射する。
であって、記録媒体１から信号を抽出する際には、図１
に示すように、記録媒体１に照射する光ビームとして
は、メインビームＢｍと、サブビーム（１）Ｂｓ１及び
サブビーム（２）Ｂｓ２等のように、分割されたビーム
を照射する。
【０００６】この場合、記録媒体１に照射する光ビーム
は、記録トラックであるグルーブトラック２に隣接する
ランドトラック３に、サブビーム（１）Ｂｓ１及びサブ
ビーム（２）Ｂｓ２を照射することにより発生する隣接
トラックの記録済みデータの誤消去、又は劣化を防ぐた
めに、サブビームＢｓ１、Ｂｓ２による照射光量は、メ
インビームＢｍに比べ小さく設定されている。
は、記録トラックであるグルーブトラック２に隣接する
ランドトラック３に、サブビーム（１）Ｂｓ１及びサブ
ビーム（２）Ｂｓ２を照射することにより発生する隣接
トラックの記録済みデータの誤消去、又は劣化を防ぐた
めに、サブビームＢｓ１、Ｂｓ２による照射光量は、メ
インビームＢｍに比べ小さく設定されている。
【０００７】記録媒体１からの反射光は、図２及び図３
に示すように、メイン反射光ＣｍはメインディテクタＰ
Ｄｍに照射し、ある量子化効率をもって電流に変換し、
トランスインピーダンスＴＩｍで電圧へ変換しメイン信
号ＳＤＭを生成する。また、サブ反射光（１）Ｃｓ１及
びサブ反射光（２）Ｃｓ２は、サブディテクタ（１）Ｐ
Ｄｓ１及びサブディテクタ（２）ＰＤｓ２に照射し、あ
る量子化効率をもって電流に変換し、トランスインピー
ダンスＴＩｓで電圧へ変換しサブ信号ＳＤＳを生成す
る。
に示すように、メイン反射光ＣｍはメインディテクタＰ
Ｄｍに照射し、ある量子化効率をもって電流に変換し、
トランスインピーダンスＴＩｍで電圧へ変換しメイン信
号ＳＤＭを生成する。また、サブ反射光（１）Ｃｓ１及
びサブ反射光（２）Ｃｓ２は、サブディテクタ（１）Ｐ
Ｄｓ１及びサブディテクタ（２）ＰＤｓ２に照射し、あ
る量子化効率をもって電流に変換し、トランスインピー
ダンスＴＩｓで電圧へ変換しサブ信号ＳＤＳを生成す
る。
【０００８】一般的に、前述の記録媒体１へ照射する光
ビームの関係と、メインディテクタＰＤｍとサブディテ
クタ（１）ＰＤｓ１及びサブディテクタ（２）ＰＤｓ２
の量子化効率とは、一定であることから、メイン信号Ｓ
ＤＭを生成するトランスインピーダンスＴＩｍに比べ、
サブ信号ＳＤＳを生成するトランスインピーダンスＴＩ
ｓが、より大きなトランスインピーダンスに設定されて
いる。
ビームの関係と、メインディテクタＰＤｍとサブディテ
クタ（１）ＰＤｓ１及びサブディテクタ（２）ＰＤｓ２
の量子化効率とは、一定であることから、メイン信号Ｓ
ＤＭを生成するトランスインピーダンスＴＩｍに比べ、
サブ信号ＳＤＳを生成するトランスインピーダンスＴＩ
ｓが、より大きなトランスインピーダンスに設定されて
いる。
【０００９】前述のメイン信号ＳＤＭとサブ信号ＳＤＳ
を基に、図５に示すように、再生増幅器１１内で加算器
９により加算信号ＳＤを生成する。この加算信号ＳＤを
基に、図６（ａ）または図６（ｂ）に示すように、ＤＥ
ＦＥＣＴ検出器１３を構成する高速ピークホールド回路
（又はエンベロープ回路）２２と低速ピークホールド回
路２３とスライスレベル設定部２４と２値化器２５とを
通じて、ＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤＤを抽出し、図４に示す
サーボ回路１４の前置ホールド用の信号、または当該信
号ＳＤＤを基に、ＣＰＵ１５を介して、記録不可領域を
判断するための抽出信号を得る。
を基に、図５に示すように、再生増幅器１１内で加算器
９により加算信号ＳＤを生成する。この加算信号ＳＤを
基に、図６（ａ）または図６（ｂ）に示すように、ＤＥ
ＦＥＣＴ検出器１３を構成する高速ピークホールド回路
（又はエンベロープ回路）２２と低速ピークホールド回
路２３とスライスレベル設定部２４と２値化器２５とを
通じて、ＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤＤを抽出し、図４に示す
サーボ回路１４の前置ホールド用の信号、または当該信
号ＳＤＤを基に、ＣＰＵ１５を介して、記録不可領域を
判断するための抽出信号を得る。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな従来の光ディスク装置では、記録媒体１に傷などが
あった場合には、その傷により、記録媒体１からのメイ
ン反射光Ｃｍがサブディテクタ（１）ＰＤｓ１及びサブ
ディテクタ（２）ＰＤｓ２に照射された場合において、
高トランスインピーダンスＴＩｓで生成されたサブ信号
ＳＤＳに大きなノイズ信号を発生させてしまう。
うな従来の光ディスク装置では、記録媒体１に傷などが
あった場合には、その傷により、記録媒体１からのメイ
ン反射光Ｃｍがサブディテクタ（１）ＰＤｓ１及びサブ
ディテクタ（２）ＰＤｓ２に照射された場合において、
高トランスインピーダンスＴＩｓで生成されたサブ信号
ＳＤＳに大きなノイズ信号を発生させてしまう。
【００１１】更に、前述のサブ信号ＳＤＳとメイン信号
ＳＤＭとより加算信号ＳＤを生成しているために、図７
に示すように、加算信号ＳＤにノイズ信号Ｎを含んでい
る場合には、この加算信号ＳＤから高速ピークホールド
回路又はエンベロープ回路２２から抽出した信号ＳＤ１
と、低速ピークホールド回路２３から抽出した信号ＳＤ
２とから得られるＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤＤに疑似ＤＥＦ
ＥＣＴ信号を発生させてしまう。
ＳＤＭとより加算信号ＳＤを生成しているために、図７
に示すように、加算信号ＳＤにノイズ信号Ｎを含んでい
る場合には、この加算信号ＳＤから高速ピークホールド
回路又はエンベロープ回路２２から抽出した信号ＳＤ１
と、低速ピークホールド回路２３から抽出した信号ＳＤ
２とから得られるＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤＤに疑似ＤＥＦ
ＥＣＴ信号を発生させてしまう。
【００１２】以上のような疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を含む
ＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤＤを基にサーボ回路１４をホール
ドすることにより、記録媒体１に照射している光ビーム
の位置例えばフォーカス位置及びトラッキング位置の制
御がホールドするための安定なサーボを得ることができ
ないという問題点を有していた。
ＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤＤを基にサーボ回路１４をホール
ドすることにより、記録媒体１に照射している光ビーム
の位置例えばフォーカス位置及びトラッキング位置の制
御がホールドするための安定なサーボを得ることができ
ないという問題点を有していた。
【００１３】また、ＤＥＦＥＣＴ信号と判定された記録
媒体の領域がＣＰＵ１５などを介して記録不可領域と判
断され、本来の記録容量を欠落させてしまうという問題
点も有していた。
媒体の領域がＣＰＵ１５などを介して記録不可領域と判
断され、本来の記録容量を欠落させてしまうという問題
点も有していた。
【００１４】本発明は、上記従来の問題点を解決するも
ので、記録媒体に対する安定なサーボを保持することが
できるとともに、記録媒体における記録領域の低下を防
止することができる光ディスク装置を提供する。
ので、記録媒体に対する安定なサーボを保持することが
できるとともに、記録媒体における記録領域の低下を防
止することができる光ディスク装置を提供する。
【００１５】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに本発明の光ディスク装置は、少なくとも高速ピーク
ホールド回路、又はエンベロープ回路およびＬＰＦ回路
を有し、記録媒体からＤＥＦＥＣＴ信号を検出する光デ
ィスク装置であって、前記記録媒体からの反射光の総和
信号ＳＤに基づいて、前記高速ピークホールド回路、又
はエンベロープ回路およびＬＰＦ回路により、当該ＳＤ
信号に対する前記記録媒体の傷などに起因するノイズ信
号からの影響を抑制して、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生
させることなく、前記ＤＥＦＥＣＴ信号を検出する手段
を備えた構成としたことを特徴とする。
めに本発明の光ディスク装置は、少なくとも高速ピーク
ホールド回路、又はエンベロープ回路およびＬＰＦ回路
を有し、記録媒体からＤＥＦＥＣＴ信号を検出する光デ
ィスク装置であって、前記記録媒体からの反射光の総和
信号ＳＤに基づいて、前記高速ピークホールド回路、又
はエンベロープ回路およびＬＰＦ回路により、当該ＳＤ
信号に対する前記記録媒体の傷などに起因するノイズ信
号からの影響を抑制して、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生
させることなく、前記ＤＥＦＥＣＴ信号を検出する手段
を備えた構成としたことを特徴とする。
【００１６】以上により、当該ＳＤ信号に対する記録媒
体の傷などに起因するノイズ信号からの影響を抑制する
機能により、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生させることな
く、記録媒体からＤＥＦＥＣＴ信号を検出することがで
きる。
体の傷などに起因するノイズ信号からの影響を抑制する
機能により、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生させることな
く、記録媒体からＤＥＦＥＣＴ信号を検出することがで
きる。
【００１７】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の光ディ
スク装置は、少なくとも高速ピークホールド回路、又は
エンベロープ回路およびＬＰＦ回路を有し、記録媒体か
らＤＥＦＥＣＴ信号を検出する光ディスク装置であっ
て、前記記録媒体からの反射光の総和信号ＳＤに基づい
て、前記高速ピークホールド回路、又はエンベロープ回
路およびＬＰＦ回路により、当該ＳＤ信号に対する前記
記録媒体の傷などに起因するノイズ信号からの影響を抑
制して、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生させることなく、
前記ＤＥＦＥＣＴ信号を検出する手段を備えた構成とす
る。
スク装置は、少なくとも高速ピークホールド回路、又は
エンベロープ回路およびＬＰＦ回路を有し、記録媒体か
らＤＥＦＥＣＴ信号を検出する光ディスク装置であっ
て、前記記録媒体からの反射光の総和信号ＳＤに基づい
て、前記高速ピークホールド回路、又はエンベロープ回
路およびＬＰＦ回路により、当該ＳＤ信号に対する前記
記録媒体の傷などに起因するノイズ信号からの影響を抑
制して、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生させることなく、
前記ＤＥＦＥＣＴ信号を検出する手段を備えた構成とす
る。
【００１８】請求項２に記載の光ディスク装置は、少な
くとも高速ピークホールド回路、又はエンベロープ回路
および低速ピークホールド回路を有し、記録媒体からＤ
ＥＦＥＣＴ信号を検出する光ディスク装置であって、前
記記録媒体からの反射光の総和信号ＳＤに基づいて、前
記高速ピークホールド回路、又はエンベロープ回路およ
び低速ピークホールド回路により、前記ＤＥＦＥＣＴ信
号を検出する手段と、前記ＤＥＦＥＣＴ信号の検出の際
に、当該ＳＤ信号に対する前記記録媒体の傷などに起因
するノイズ信号からの影響を抑制するリミッタ機能を有
し、そのリミッタ機能により疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発
生させない手段とを備えた構成とする。
くとも高速ピークホールド回路、又はエンベロープ回路
および低速ピークホールド回路を有し、記録媒体からＤ
ＥＦＥＣＴ信号を検出する光ディスク装置であって、前
記記録媒体からの反射光の総和信号ＳＤに基づいて、前
記高速ピークホールド回路、又はエンベロープ回路およ
び低速ピークホールド回路により、前記ＤＥＦＥＣＴ信
号を検出する手段と、前記ＤＥＦＥＣＴ信号の検出の際
に、当該ＳＤ信号に対する前記記録媒体の傷などに起因
するノイズ信号からの影響を抑制するリミッタ機能を有
し、そのリミッタ機能により疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発
生させない手段とを備えた構成とする。
【００１９】請求項３に記載の光ディスク装置は、少な
くとも高速ピークホールド回路、又はエンベロープ回路
および低速ピークホールド回路を有し、記録媒体からＤ
ＥＦＥＣＴ信号を検出する光ディスク装置であって、前
記記録媒体からの反射光の総和信号ＳＤに基づいて、前
記高速ピークホールド回路、又はエンベロープ回路およ
び低速ピークホールド回路により、前記ＤＥＦＥＣＴ信
号を検出する手段と、前記ＤＥＦＥＣＴ信号の検出の際
に、当該ＳＤ信号に対する前記記録媒体の傷などに起因
するノイズ信号からの影響を抑制する加算機能又はミュ
ート機能を有し、それら加算機能又はミュート機能によ
り疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生させない手段とを備えた
構成とする。
くとも高速ピークホールド回路、又はエンベロープ回路
および低速ピークホールド回路を有し、記録媒体からＤ
ＥＦＥＣＴ信号を検出する光ディスク装置であって、前
記記録媒体からの反射光の総和信号ＳＤに基づいて、前
記高速ピークホールド回路、又はエンベロープ回路およ
び低速ピークホールド回路により、前記ＤＥＦＥＣＴ信
号を検出する手段と、前記ＤＥＦＥＣＴ信号の検出の際
に、当該ＳＤ信号に対する前記記録媒体の傷などに起因
するノイズ信号からの影響を抑制する加算機能又はミュ
ート機能を有し、それら加算機能又はミュート機能によ
り疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生させない手段とを備えた
構成とする。
【００２０】これらの構成によると、当該ＳＤ信号に対
する記録媒体の傷などに起因するノイズ信号からの影響
を抑制する機能により、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生さ
せることなく、記録媒体からＤＥＦＥＣＴ信号を検出す
ることを可能とする。
する記録媒体の傷などに起因するノイズ信号からの影響
を抑制する機能により、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生さ
せることなく、記録媒体からＤＥＦＥＣＴ信号を検出す
ることを可能とする。
【００２１】以下、本発明の実施の形態を示す光ディス
ク装置について、図面を参照しながら具体的に説明す
る。 （実施の形態１）本発明の実施の形態１の光ディスク装
置を説明する。
ク装置について、図面を参照しながら具体的に説明す
る。 （実施の形態１）本発明の実施の形態１の光ディスク装
置を説明する。
【００２２】図８は本実施の形態１の光ディスク装置に
おけるＤＥＦＥＣＴ検出器の一構成例を示すブロック
図、図９は図８のＤＥＦＥＣＴ検出器によるＤＥＦＥＣ
Ｔ信号検出動作を示す波形図である。
おけるＤＥＦＥＣＴ検出器の一構成例を示すブロック
図、図９は図８のＤＥＦＥＣＴ検出器によるＤＥＦＥＣ
Ｔ信号検出動作を示す波形図である。
【００２３】図８において、記録媒体１からの反射光の
総和信号ＳＤに対して、記録媒体１の傷などに起因する
ノイズ信号Ｎの影響がある場合には、図９（ｄ）の波形
で示す当該信号ＳＤとなる。
総和信号ＳＤに対して、記録媒体１の傷などに起因する
ノイズ信号Ｎの影響がある場合には、図９（ｄ）の波形
で示す当該信号ＳＤとなる。
【００２４】この当該信号ＳＤを基に、図９（ｅ）に示
すように、高速ピークホールド回路（又はエンベロープ
回路）２２の信号ＳＤ１とノイズ信号Ｎを抑制するＬＰ
Ｆ回路８の信号ＳＤ２とにより生成するＤＥＦＥＣＴ信
号ＳＤＤが、図９（ｆ）に示すように、記録媒体１の傷
などに起因するノイズ信号Ｎの影響が抑制され、疑似Ｄ
ＥＦＥＣＴ信号を発生することなく、ＤＥＦＥＣＴ信号
ＳＤＤを抽出することができる。
すように、高速ピークホールド回路（又はエンベロープ
回路）２２の信号ＳＤ１とノイズ信号Ｎを抑制するＬＰ
Ｆ回路８の信号ＳＤ２とにより生成するＤＥＦＥＣＴ信
号ＳＤＤが、図９（ｆ）に示すように、記録媒体１の傷
などに起因するノイズ信号Ｎの影響が抑制され、疑似Ｄ
ＥＦＥＣＴ信号を発生することなく、ＤＥＦＥＣＴ信号
ＳＤＤを抽出することができる。
【００２５】これにより、記録媒体に対する安定なサー
ボを保持することができるとともに、記録媒体における
記録領域の低下を防止して、高い記録密度での記録容量
を確保することができる。 （実施の形態２）本発明の実施の形態２の光ディスク装
置を説明する。
ボを保持することができるとともに、記録媒体における
記録領域の低下を防止して、高い記録密度での記録容量
を確保することができる。 （実施の形態２）本発明の実施の形態２の光ディスク装
置を説明する。
【００２６】図１０は本実施の形態２の光ディスク装置
におけるＤＥＦＥＣＴ検出器の構成を示すブロック図で
あり、図１０（ａ）は本実施の形態２の光ディスク装置
におけるＤＥＦＥＣＴ検出器の全体構成を示すブロック
図であり、図１０（ｂ）は図１０（ａ）のＤＥＦＥＣＴ
検出器におけるリミッタの一構成例を示すブロック図、
図１１は図１０のＤＥＦＥＣＴ検出器によるＤＥＦＥＣ
Ｔ信号検出動作を示す波形図である。
におけるＤＥＦＥＣＴ検出器の構成を示すブロック図で
あり、図１０（ａ）は本実施の形態２の光ディスク装置
におけるＤＥＦＥＣＴ検出器の全体構成を示すブロック
図であり、図１０（ｂ）は図１０（ａ）のＤＥＦＥＣＴ
検出器におけるリミッタの一構成例を示すブロック図、
図１１は図１０のＤＥＦＥＣＴ検出器によるＤＥＦＥＣ
Ｔ信号検出動作を示す波形図である。
【００２７】図１０（ａ）において、記録媒体１からの
反射光の総和信号ＳＤに対して、記録媒体１の傷などに
起因するノイズ信号Ｎの影響がある場合には、図１１
（ｄ）の波形で示す当該信号ＳＤとなる。
反射光の総和信号ＳＤに対して、記録媒体１の傷などに
起因するノイズ信号Ｎの影響がある場合には、図１１
（ｄ）の波形で示す当該信号ＳＤとなる。
【００２８】この当該信号ＳＤを基に、図１０（ｂ）で
示したＬＰＦ２７とスライスレベルＬＶＬを設定するレ
ベル設定部２８とダイオード３３からなるリミッタ２６
において、当該信号ＳＤの記録媒体１の傷などに起因す
るノイズ信号Ｎを抑制することにより、ノイズ信号が抑
制された信号ＬＳＤを生成する。
示したＬＰＦ２７とスライスレベルＬＶＬを設定するレ
ベル設定部２８とダイオード３３からなるリミッタ２６
において、当該信号ＳＤの記録媒体１の傷などに起因す
るノイズ信号Ｎを抑制することにより、ノイズ信号が抑
制された信号ＬＳＤを生成する。
【００２９】信号ＬＳＤを基に、さらに図１１（ｅ）で
示すように、高速ピークホールド回路（又はエンベロー
プ回路）２２の信号ＳＤ１と低域ピークホールド回路２
３の信号ＳＤ２とにより生成するＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤ
Ｄが、図１１（ｆ）に示すように、記録媒体１の傷など
に起因するノイズ信号Ｎの影響が抑制され、疑似ＤＥＦ
ＥＣＴ信号を発生することなく、ＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤ
Ｄを抽出することができる。
示すように、高速ピークホールド回路（又はエンベロー
プ回路）２２の信号ＳＤ１と低域ピークホールド回路２
３の信号ＳＤ２とにより生成するＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤ
Ｄが、図１１（ｆ）に示すように、記録媒体１の傷など
に起因するノイズ信号Ｎの影響が抑制され、疑似ＤＥＦ
ＥＣＴ信号を発生することなく、ＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤ
Ｄを抽出することができる。
【００３０】これにより、記録媒体に対する安定なサー
ボを保持することができるとともに、記録媒体における
記録領域の低下を防止して、高い記録密度での記録容量
を確保することができる。 （実施の形態３）本発明の実施の形態３の光ディスク装
置を説明する。
ボを保持することができるとともに、記録媒体における
記録領域の低下を防止して、高い記録密度での記録容量
を確保することができる。 （実施の形態３）本発明の実施の形態３の光ディスク装
置を説明する。
【００３１】図１２は本実施の形態３の光ディスク装置
におけるＤＥＦＥＣＴ信号検出部の構成を示すブロック
図であり、図１２（ａ）は本実施の形態３の光ディスク
装置におけるＤＥＦＥＣＴ信号検出部の再生増幅器の一
構成例を示すブロック図であり、図１２（ｂ）は本実施
の形態３の光ディスク装置における再生増幅器の他の構
成例を示すブロック図、図１３は図１２のＤＥＦＥＣＴ
信号検出部のＤＥＦＥＣＴ信号検出動作を示す波形図で
ある。
におけるＤＥＦＥＣＴ信号検出部の構成を示すブロック
図であり、図１２（ａ）は本実施の形態３の光ディスク
装置におけるＤＥＦＥＣＴ信号検出部の再生増幅器の一
構成例を示すブロック図であり、図１２（ｂ）は本実施
の形態３の光ディスク装置における再生増幅器の他の構
成例を示すブロック図、図１３は図１２のＤＥＦＥＣＴ
信号検出部のＤＥＦＥＣＴ信号検出動作を示す波形図で
ある。
【００３２】図１２（ａ）に示す構成において、記録媒
体１からのメイン反射光Ｃｍが、サブサブディテクタ
（１）ＰＤｓ１及びサブディテクタ（２）ＰＤｓ２に照
射された場合に、高トランスインピーダンスＴＩｓで生
成されたサブ信号ＳＤＳに大きなノイズ信号を発生させ
る当該信号ＳＤＳを使用せず、信号ＳＤＭを使用するメ
イン加算器３０で生成した信号を、セレクタ３１で選択
する。
体１からのメイン反射光Ｃｍが、サブサブディテクタ
（１）ＰＤｓ１及びサブディテクタ（２）ＰＤｓ２に照
射された場合に、高トランスインピーダンスＴＩｓで生
成されたサブ信号ＳＤＳに大きなノイズ信号を発生させ
る当該信号ＳＤＳを使用せず、信号ＳＤＭを使用するメ
イン加算器３０で生成した信号を、セレクタ３１で選択
する。
【００３３】あるいは、図１２（ｂ）に示すように、記
録媒体１からのメイン反射光Ｃｍがサブサブディテクタ
（１）ＰＤｓ１及びサブディテクタ（２）ＰＤｓ２に照
射された場合に、高トランスインピーダンスＴＩｓで生
成されたサブ信号ＳＤＳに大きなノイズ信号を発生させ
る当該信号ＳＤＳをミュートする機能を設け、このミュ
ート機能により、当該信号ＳＤに対する記録媒体１の傷
などに起因するノイズ信号Ｎの影響が抑制された信号を
生成する。
録媒体１からのメイン反射光Ｃｍがサブサブディテクタ
（１）ＰＤｓ１及びサブディテクタ（２）ＰＤｓ２に照
射された場合に、高トランスインピーダンスＴＩｓで生
成されたサブ信号ＳＤＳに大きなノイズ信号を発生させ
る当該信号ＳＤＳをミュートする機能を設け、このミュ
ート機能により、当該信号ＳＤに対する記録媒体１の傷
などに起因するノイズ信号Ｎの影響が抑制された信号を
生成する。
【００３４】このようにして得られた図１３（ｄ）に示
すような当該信号ＳＤを基に、ＤＥＦＥＣＴ検出器１３
において、図１３（ｅ）に示すように、高速ピークホー
ルド回路（又はエンベロープ回路）２２の信号ＳＤ１と
低域ピークホールド回路２３の信号ＳＤ２とにより生成
するＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤＤが、図１３（ｆ）に示すよ
うに、記録媒体１の傷などに起因するノイズ信号Ｎの影
響が抑制され、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生することな
く、ＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤＤを抽出することができる。
すような当該信号ＳＤを基に、ＤＥＦＥＣＴ検出器１３
において、図１３（ｅ）に示すように、高速ピークホー
ルド回路（又はエンベロープ回路）２２の信号ＳＤ１と
低域ピークホールド回路２３の信号ＳＤ２とにより生成
するＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤＤが、図１３（ｆ）に示すよ
うに、記録媒体１の傷などに起因するノイズ信号Ｎの影
響が抑制され、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生することな
く、ＤＥＦＥＣＴ信号ＳＤＤを抽出することができる。
【００３５】これにより、記録媒体に対する安定なサー
ボを保持することができるとともに、記録媒体における
記録領域の低下を防止して、高い記録密度での記録容量
を確保することができる。
ボを保持することができるとともに、記録媒体における
記録領域の低下を防止して、高い記録密度での記録容量
を確保することができる。
【００３６】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、当該ＳＤ
信号に対する記録媒体の傷などに起因するノイズ信号か
らの影響を抑制する機能により、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号
を発生させることなく、記録媒体からＤＥＦＥＣＴ信号
を検出することができる。
信号に対する記録媒体の傷などに起因するノイズ信号か
らの影響を抑制する機能により、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号
を発生させることなく、記録媒体からＤＥＦＥＣＴ信号
を検出することができる。
【００３７】そのため、記録媒体に対する安定なサーボ
を保持することができるとともに、記録媒体における記
録領域の低下を防止して、高い記録密度での記録容量を
確保することができる。
を保持することができるとともに、記録媒体における記
録領域の低下を防止して、高い記録密度での記録容量を
確保することができる。
【００３８】また、上記の効果を簡単な構成で実現する
ことができるので、装置の小型化および低消費電力化を
実現することができ、地球環境への負荷をも低減するこ
とができる。
ことができるので、装置の小型化および低消費電力化を
実現することができ、地球環境への負荷をも低減するこ
とができる。
【図１】本発明の実施の形態の光ディスク装置により信
号再生される記録媒体の一構成例を示す概念図
号再生される記録媒体の一構成例を示す概念図
【図２】同実施の形態の光ディスク装置におけるピック
アップのフォトデイテクタの一構成例を示す概念図
アップのフォトデイテクタの一構成例を示す概念図
【図３】同実施の形態の光ディスク装置のピックアップ
におけるフォトデイテクタの信号出力部の一例を示す構
成図
におけるフォトデイテクタの信号出力部の一例を示す構
成図
【図４】同実施の形態の光ディスク装置の構成を示すブ
ロック図
ロック図
【図５】従来の光ディスク装置の再生増幅器におけるＳ
Ｄ信号生成部の構成を示すブロック図
Ｄ信号生成部の構成を示すブロック図
【図６】従来の光ディスク装置におけるＤＥＦＥＣＴ検
出器の構成を示すブロック図
出器の構成を示すブロック図
【図７】図６の光ディスク装置におけるＤＥＦＥＣＴ検
出器の検出動作を示す波形図
出器の検出動作を示す波形図
【図８】本発明の実施の形態１の光ディスク装置におけ
るＤＥＦＥＣＴ検出器の一構成例を示すブロック図
るＤＥＦＥＣＴ検出器の一構成例を示すブロック図
【図９】図８のＤＥＦＥＣＴ検出器によるＤＥＦＥＣＴ
信号検出動作を示す波形図
信号検出動作を示す波形図
【図１０】本発明の実施の形態２の光ディスク装置にお
けるＤＥＦＥＣＴ検出器の構成を示すブロック図
けるＤＥＦＥＣＴ検出器の構成を示すブロック図
【図１１】図１０のＤＥＦＥＣＴ検出器によるＤＥＦＥ
ＣＴ信号検出動作を示す波形図
ＣＴ信号検出動作を示す波形図
【図１２】本発明の実施の形態３の光ディスク装置にお
けるＤＥＦＥＣＴ信号検出部の構成を示すブロック図
けるＤＥＦＥＣＴ信号検出部の構成を示すブロック図
【図１３】図１２のＤＥＦＥＣＴ信号検出部のＤＥＦＥ
ＣＴ信号検出動作を示す波形図
ＣＴ信号検出動作を示す波形図
１ 記録媒体
２ グルーブトラック
３ ランドトラック
８ ＬＰＦ
９ 加算器
１０ ピックアップ
１１ 再生増幅器
１２ デコーダ
１３ ＤＥＦＥＣＴ検出器
１４ サーボ回路
１５ ＣＰＵ
１６ エンコーダ
１７ パワー制御回路
１８ レーザ駆動回路
１９ インターフェース
２０ ホストコンピュータ
２１ 検波器
２２ 高速ＰｅａｋＨｏｌｄ回路（又はエンベロープ
回路） ２３ 低速ＰｅａｋＨｏｌｄ回路 ２４ スライスレベル設定部 ２５ ２値化器 ２６ リミッタ ２７ ＬＰＦ ２８ レベル設定部 ２９ ＳＤ信号生成回路 ３０ メイン加算器 ３１ セレクタ ３２ ミュート回路 ３３ ダイオード Ｂｍ メインビーム Ｂｓ１ サブビーム（１） Ｂｓ２ サブビーム（２） ＳＰｍ 光スポットメイン ＳＰｓ１ 光スポットサブ（１） ＳＰｓ２ 光スポットサブ（２） Ｃｍ メイン反射光 Ｃｓ１ サブ反射光（１） Ｃｓ２ サブ反射光（２） ＰＤｍ メインディテクタ ＰＤｓ１ サブディテクタ（１） ＰＤｓ２ サブディテクタ（２） ＴＩｍ メイントランスインピーダンス ＴＩｓ サブトランスインピーダンス ＳＤＭ メイン信号 ＳＤＳ サブ信号 ＳＤ 加算信号 ＳＤＤ ＤＥＦＥＣＴ信号 ＳＤ１ エンベロープ信号 ＳＤ２ 低速ＰｅａｋＨｏｌｄ信号 Ｎ ノイズ信号 ＬＶＬ リミットレベル
回路） ２３ 低速ＰｅａｋＨｏｌｄ回路 ２４ スライスレベル設定部 ２５ ２値化器 ２６ リミッタ ２７ ＬＰＦ ２８ レベル設定部 ２９ ＳＤ信号生成回路 ３０ メイン加算器 ３１ セレクタ ３２ ミュート回路 ３３ ダイオード Ｂｍ メインビーム Ｂｓ１ サブビーム（１） Ｂｓ２ サブビーム（２） ＳＰｍ 光スポットメイン ＳＰｓ１ 光スポットサブ（１） ＳＰｓ２ 光スポットサブ（２） Ｃｍ メイン反射光 Ｃｓ１ サブ反射光（１） Ｃｓ２ サブ反射光（２） ＰＤｍ メインディテクタ ＰＤｓ１ サブディテクタ（１） ＰＤｓ２ サブディテクタ（２） ＴＩｍ メイントランスインピーダンス ＴＩｓ サブトランスインピーダンス ＳＤＭ メイン信号 ＳＤＳ サブ信号 ＳＤ 加算信号 ＳＤＤ ＤＥＦＥＣＴ信号 ＳＤ１ エンベロープ信号 ＳＤ２ 低速ＰｅａｋＨｏｌｄ信号 Ｎ ノイズ信号 ＬＶＬ リミットレベル
Claims (3)
- 【請求項１】 少なくとも高速ピークホールド回路、又
はエンベロープ回路およびＬＰＦ回路を有し、記録媒体
からＤＥＦＥＣＴ信号を検出する光ディスク装置であっ
て、前記記録媒体からの反射光の総和信号ＳＤに基づい
て、前記高速ピークホールド回路、又はエンベロープ回
路およびＬＰＦ回路により、当該ＳＤ信号に対する前記
記録媒体の傷などに起因するノイズ信号からの影響を抑
制して、疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生させることなく、
前記ＤＥＦＥＣＴ信号を検出する手段を備えたことを特
徴とする光ディスク装置。 - 【請求項２】 少なくとも高速ピークホールド回路、又
はエンベロープ回路および低速ピークホールド回路を有
し、記録媒体からＤＥＦＥＣＴ信号を検出する光ディス
ク装置であって、前記記録媒体からの反射光の総和信号
ＳＤに基づいて、前記高速ピークホールド回路、又はエ
ンベロープ回路および低速ピークホールド回路により、
前記ＤＥＦＥＣＴ信号を検出する手段と、前記ＤＥＦＥ
ＣＴ信号の検出の際に、当該ＳＤ信号に対する前記記録
媒体の傷などに起因するノイズ信号からの影響を抑制す
るリミッタ機能を有し、そのリミッタ機能により疑似Ｄ
ＥＦＥＣＴ信号を発生させない手段とを備えたことを特
徴とする光ディスク装置。 - 【請求項３】 少なくとも高速ピークホールド回路、又
はエンベロープ回路および低速ピークホールド回路を有
し、記録媒体からＤＥＦＥＣＴ信号を検出する光ディス
ク装置であって、前記記録媒体からの反射光の総和信号
ＳＤに基づいて、前記高速ピークホールド回路、又はエ
ンベロープ回路および低速ピークホールド回路により、
前記ＤＥＦＥＣＴ信号を検出する手段と、前記ＤＥＦＥ
ＣＴ信号の検出の際に、当該ＳＤ信号に対する前記記録
媒体の傷などに起因するノイズ信号からの影響を抑制す
る加算機能又はミュート機能を有し、それら加算機能又
はミュート機能により疑似ＤＥＦＥＣＴ信号を発生させ
ない手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001395520A JP2003196853A (ja) | 2001-12-27 | 2001-12-27 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001395520A JP2003196853A (ja) | 2001-12-27 | 2001-12-27 | 光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003196853A true JP2003196853A (ja) | 2003-07-11 |
Family
ID=27601873
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001395520A Pending JP2003196853A (ja) | 2001-12-27 | 2001-12-27 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003196853A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1295497C (zh) * | 2003-08-08 | 2007-01-17 | 松下电器产业株式会社 | 缺陷检测装置 |
| US7362674B2 (en) | 2003-11-18 | 2008-04-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd | Defect detection apparatus |
| CN100399435C (zh) * | 2004-03-15 | 2008-07-02 | 三星电子株式会社 | 具有不同的读取功率信息的信息存储介质 |
| US7639579B2 (en) | 2004-11-12 | 2009-12-29 | Panasonic Corporation | White dot out detecting device |
-
2001
- 2001-12-27 JP JP2001395520A patent/JP2003196853A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1295497C (zh) * | 2003-08-08 | 2007-01-17 | 松下电器产业株式会社 | 缺陷检测装置 |
| US7230897B2 (en) | 2003-08-08 | 2007-06-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Defect detection device |
| US7362674B2 (en) | 2003-11-18 | 2008-04-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd | Defect detection apparatus |
| CN100399435C (zh) * | 2004-03-15 | 2008-07-02 | 三星电子株式会社 | 具有不同的读取功率信息的信息存储介质 |
| US7639579B2 (en) | 2004-11-12 | 2009-12-29 | Panasonic Corporation | White dot out detecting device |
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