KR100582311B1 - 결함 검출 장치 - Google Patents

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KR100582311B1
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이즈미데루히코
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마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤
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Abstract

광디스크의 동작이 기록으로부터 재생, 또는 재생으로부터 기록으로 전환된 직후이어도 광디스크상의 결함을 정확하고 또한 신속히 검출하는 것이 가능한 결함 검출 장치를 제공한다.
광디스크 장치의 동작이 기록으로부터 재생, 또는 재생으로부터 기록으로 전환된 후의 일정 기간, 상기 광디스크 장치의 동작 전환에 따라서 제 1 모노 멀티 회로(33)가 출력하는 펄스 신호를 계기로 하여 적분 회로(35)내의 용량(402)을 소정의 기준 전압 VREF로 단락시켜 적분 회로(35)의 출력값을 기준 전압 VREF로 고정하고, 당해 기간의 경과 후는, 제 2 모노 멀티 회로(34)가 출력하는 펄스 신호를 계기로 하여 적분 회로(35)내의 저항(401)을 단락시키고, 시정수를 빠르게 하여 포락선 신호 EM을 적분하는 것에 의해, 거짓 결함 신호의 검출을 방지하여 빠른 결함 검출의 재개를 가능하게 하는 것으로 하였다.

Description

결함 검출 장치{APPARATUS FOR DETECTING DEFECT}
도 1은 본 발명의 실시예 1에 따른 결함 검출 장치를 나타내는 블록도,
도 2는 본 발명의 실시예 1에 따른 결함 검출 장치에서 출력되는 각 신호의 파형을 나타내는 도면,
도 3은 본 발명의 실시예 2에 따른 결함 검출 장치를 나타내는 블록도,
도 4는 본 발명의 실시예 2에 따른 결함 검출 장치에서 출력되는 각 신호의 파형을 나타내는 도면,
도 5는 본 발명의 실시예 3에 따른 결함 검출 장치를 나타내는 블록도,
도 6은 본 발명의 실시예 3에 따른 결함 검출 장치에서 출력되는 각 신호의 파형을 나타내는 도면,
도 7은 본 발명의 실시예 4에 따른 결함 검출 장치를 나타내는 블록도,
도 8은 본 발명의 실시예 4에 따른 결함 검출 장치에서 출력되는 각 신호의 파형을 나타내는 도면,
도 9는 종래의 결함 검출 장치를 나타내는 블럭도,
도 10은 종래의 결함 검출 장치에 따른 결함 검출 장치에서 출력되는 각 신호의 파형을 나타내는 도면이다.
도면의 주요 부분에 대한 부호 설명
1, 10, 20, 30, 1000 : 가변 이득 증폭기
2, 11, 21, 31, 1001 : 고속 포락선 검파 회로
5, 14, 24, 35, 1002 : 적분 회로
101, 201, 301, 401 : 저항
102, 202, 302, 402 : 용량
103, 203, 303, 403, 404 : 스위치
6, 16, 25, 36, 1003 : 슬라이스 레벨 설정 회로
7, 17, 26, 37, 1004 : 비교기
3, 12, 22, 32 : 에지 검출 회로
4, 13, 23, 33 : 모노 멀티 회로(제 1 모노 멀티 회로)
15 : 슬라이스 레벨 전환 회로
34 : 제 2 모노 멀티 회로
본 발명은 광디스크 장치 등에서 이용되는 결함(defect) 검출 장치에 관한 것으로, 특히 광디스크 장치의 동작이 기록으로부터 재생으로, 또는 재생으로부터 기록으로 전환된 직후의 결함 검출을 고정밀도로 실행하는 결함 검출 회로에 관한 것이다.
최근, 컴퓨터 시스템에서는 정보량의 대폭적인 증가에 따른 정보 데이터의 기록 재생 장치로서, 대용량이며 고속이고 또한 랜덤 액세스가 가능한 광디스크 장치가 널리 사용되도록 되고 있으며, 기록 매체로서는 CD-R, CD-RW, DVD-R/RW, DVD-RAM 등의 광디스크가 이용되고 있다.
이러한 광디스크 장치에서, 광디스크상의 기입이나 판독이 정상적으로 실행되지 않는 영역인 결함을 검출하기 위한 결함 검출 장치는, 광디스크에 광 빔을 수속 조사하여 광디스크로부터 반사된 반사광의 강도에 따라서 얻어지는 반사 신호의 포락선(envelope)의 변화를 검출하는 것에 의해서 광디스크상의 결함을 검출하고, 결함의 유무를 나타내는 결함 검출 신호를 출력하고 있다. 결함 검출 신호는 광디스크에 대한 트랙킹 및 포커스 서보(servo)를 제어하는 서보 회로에 의해서 전치(前値) 홀드용의 신호로서 이용되거나, 각종 제어용으로서 광디스크 장치에 내장된 CPU를 이용하여 광디스크의 기록 불가 영역을 판단하기 위한 추출 신호를 얻기 위해서 이용된다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조).
여기서, 종래의 결함 검출 장치를 도 9를 이용하여 설명한다. 도 9는 종래의 결함 검출 장치의 구성을 나타내는 블럭도이다. 도 9에서, 1000은 광디스크에 광 빔을 수속 조사했을 때의 광디스크로부터의 반사광의 강도에 따른 반사 신호 AS를 소정의 이득으로 증폭하는 가변 이득 증폭기이다. 가변 이득 증폭기(1000)는 광디스크 장치가 기록 또는 재생 중 어느 하나를 실행하고 있는지를 나타내는 기록 게이트 신호 WTG가 입력되고 있다. 1001은 가변 이득 증폭기(1000)의 출력 신호( 이하, 증폭기 출력 신호라고 칭함) AP의 포락선을 검출하는 고속 포락선 검파 회로이다. 1002는 고속 포락선 검파 회로(1001)의 출력 신호 EM을 적분하는 적분 회로이다. 1003은 후술하는 비교기(1004)에서의 기준 신호로서의 슬라이스 레벨 SD를 적분 회로(1002)의 출력 신호에 근거하여 설정하기 위한 슬라이스 레벨 설정 회로이다. 1004는 고속 포락선 검파 회로(1001)의 출력 신호 EM과 슬라이스 레벨 SD를 비교하는 것에 의해 결함 검출 신호 DD를 출력하는 비교기이다.
다음에, 이상과 같이 구성된 종래의 결함 검출 장치의 동작에 대해서 도 9 및 도 10을 이용하여 설명한다. 도 10은 도 9의 결함 검출 장치에서 출력되는 각 신호의 파형을 나타내고 있다.
먼저, 반사 신호 AS가 가변 이득 증폭기(1000)에 입력된다. 반사 신호 AS의 레벨은 광디스크가 기록시인지 또는 재생시인지에 따라서 상이하기 때문에, 가변 이득 증폭기(1000)는 당해 레벨차를 포락선의 변화로서 검출하지 않도록 하기 위해서, 기록 게이트 신호 WTGT에 근거해서 광디스크 장치의 동작에 따른 소정의 이득으로 반사 신호 AS를 증폭하여 소정의 진폭으로 하고, 고속 포락선 검파 회로(1001)에 출력한다.
다음에, 고속 포락선 검파 회로(1001)는 입력된 증폭기 출력 신호 AP의 포락선을 검출하여, 적분 회로(1002) 및 비교기(1004)에 출력한다. 적분 회로(1002)는 고속 포락선 검파 회로(1001)의 출력 신호 EM을 적분하여, 슬라이스 레벨 설정 회로(1003)에 출력한다.
다음에, 슬라이스 레벨 설정 회로(1003)는 적분 회로(1002)의 출력 신호 IS 를 레벨 변환하여 슬라이스 레벨 SD로 하여 비교기(1004)에 출력한다.
여기서, 광디스크상에 결함이 존재하는 경우, 도 10에 나타내는 바와 같이, 반사 신호 AS 및 증폭기 출력 신호 AP의 레벨은 통상 급격히 저하한다. 고속 포락선 검파 회로(1001)가 출력하는 포락선 신호 EM은 증폭기 출력 신호 AP의 파형에 따르기 때문에, 그 파형은 도 10에 나타내는 바와 같이 증폭기 출력 신호 AP와 거의 동일한 레벨로 된다. 한편, 적분 회로(1002)는 그 시정수가 고속 포락선 검파 회로(1001)에 비해서 느리기 때문에, 그 파형은 도 10에 나타내는 바와 같이 포락선 신호 EM이 급격한 레벨 저하를 추종하지 않고, 완만하게 변화된다.
다음에, 비교기(1004)는 포락선 신호 EM과 슬라이스 레벨 SD를 비교하여, 포락선 신호 EM이 슬라이스 레벨 SD를 하회했을 때에, 결함을 검출한 것을 나타내는 펄스 TS를 결함 검출 신호 DD로서 출력한다.
[특허 문헌 1] 일본 특허 공개 제2003-196853호 공보
그러나, 가변 이득 증폭기(1000)의 이득 설정값에는 어느 정도의 격차 등이 존재하기 때문에, 가변 이득 증폭기(1000)에서 반사 신호 AS의 기록시와 재생시와의 반사광의 레벨차를 완전히 제거하는 것은 곤란하다. 이 때문에, 광디스크에 대한 동작이 기록으로부터 재생으로, 또는 재생으로부터 기록으로 이행했을 때는, 도 10에 나타내는 가변 이득 증폭기(1000)의 출력값 AP와 같이 레벨차가 발생해 버리는 경우가 있다. 종래의 결함 검출 회로에서는 이러한 레벨차가 발생한 경우에는 이하와 같은 문제가 발생하고 있었다.
즉, 광디스크에 대한 동작이 기록으로부터 재생으로 전환한 경우, 고속 포락선 검파 회로(1001)가 출력하는 포락선 신호 EM은 반사 신호 AS의 레벨차를 추종하지만, 이것이 적분된 신호인 적분 회로(1002)의 출력 신호 IS는, 도 10에 나타내는 바와 같이, 완만하게 변화되는 파형으로 되어 추종에 시간을 필요로 한다. 이 때문에, 슬라이스 레벨 설정 회로(1003)의 출력 신호 SD가 고속 포락선 검파 회로(1001)의 출력 신호 EM을 상회하는 것으로 되어, 비교기(1004)는 광디스크 장치의 동작이 기록으로부터 재생으로 전환한 직후, 광기스크상에 결함이 존재하지 않음에도 불구하고, 잘못된 결함 검출 신호 FS(이하, 「거짓 디스크 신호」라고 함)를 출력해 버린다.
또한, 광디스크에 대한 동작이 재생으로부터 기록으로 전환한 경우에는, 거짓 디스크 신호 FS는 출력되지 않지만, 도 10의 결함 검출 신호 DD상에 나타내는 tF의 기간 동안은 정확한 결함 검출을 실행하는 것이 곤란해진다.
본 발명은 상기 과제를 해결하기 위해서 이루어진 것으로서, 광디스크 장치의 기록, 재생의 동작이 전환된 직후의 결함을 고밀도로 또한 신속히 검출하는 것이 가능한 결함 검출 장치의 제공을 목적으로 한다.
상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명의 청구항 1에 따른 결함 검출 장치는, 광디스크에 대하여 조사한 광 빔의 반사광의 강도에 따라서 얻어지는 반사 신 호를 광디스크 장치가 기록 동작인지 또는 재생 동작인지를 나타내는 제어 신호에 따라서 각각의 동작에 따른 이득으로 증폭하는 증폭 회로와, 상기 증폭 회로의 출력 신호의 포락선을 구하는 포락선 검출 회로와, 상기 제어 신호가 전환될 때마다 소정 길이의 펄스를 출력하는 제 1 펄스 생성 회로와, 상기 포락선 검출 회로의 출력 신호를 소정의 시정수로 적분하여, 상기 제 1 펄스 생성 회로부터의 펄스의 출력을 받고 있는 기간 동안은 출력값을 변화시키는 적분 회로와, 상기 적분 회로의 출력 신호를 기준으로 하여 광디스크상의 결함의 존재를 나타내는 결함 검출 신호를 검출할 때의 슬라이스 레벨을 설정하는 슬라이스 레벨 설정 회로와, 상기 포락선 검출 회로의 출력 신호와 상기 슬라이스 레벨을 비교하는 것에 의해 상기 결함 검출 신호를 출력하는 비교기를 구비하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 청구항 2에 따른 결함 검출 회로는, 청구항 1에 기재된 결함 검출 장치에 있어서, 상기 적분 회로는 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터의 출력을 받고 있는 기간 동안은, 당해 적분 회로내의 저항을 단락시키는 것에 의해 시정수를 변화시키고, 상기 포락선 검출 회로의 출력 신호를 적분하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 청구항 3에 따른 결함 검출 회로는, 청구항 2에 기재된 결함 검출 장치에 있어서, 상기 적분 회로는, 당해 적분 회로내의 저항과 병렬로 접속되어 있고, 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터 출력되는 펄스에 의해 제어되는 스위치를 구비하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 청구항 4에 따른 결함 검출 회로는, 청구항 3에 기재된 결 함 검출 장치에 있어서, 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터의 펄스의 출력을 받는 기간 동안은, 상기 슬라이스 레벨 설정 회로가 설정하는 슬라이스 레벨을 소정의 슬라이스 레벨로 전환하는 슬라이스 레벨 전환 회로를 더 구비하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 청구항 5에 따른 결함 검출 회로는, 청구항 1에 기재된 결함 검출 장치에 있어서, 상기 적분 회로는 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터의 펄스의 출력을 받고 있는 기간 동안은, 당해 적분 회로내의 용량을 단락시키는 것에 의해 소정의 기준 전압을 출력하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 청구항 6에 따른 결함 검출 회로는, 청구항 5에 기재된 결함 검출 장치에 있어서, 상기 적분 회로는, 당해 적분 회로내의 용량과 소정의 기준 전압 사이에 개재되고, 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터 출력되는 펄스에 의해 제어되는 스위치를 구비하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 청구항 7에 따른 결함 검출 회로는, 청구항 1에 기재된 결함 검출 장치에 있어서, 상기 제 1 펄스 생성 회로의 펄스의 출력이 종료되면, 소정 길이의 펄스를 출력하는 제 2 펄스 생성 회로를 더 구비하되, 상기 적분 회로는 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터 출력되는 펄스를 받고 있는 기간 동안은, 당해 적분 회로내의 용량을 단락시키는 것에 의해 소정의 기준 전압을 출력하고, 상기 제 2 펄스 생성 회로로부터 펄스의 출력을 받고 있는 기간 동안은, 당해 적분 회로내의 저항을 단락시키는 것에 의해 시정수를 변화시켜 상기 포락선 신호를 적분하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 청구항 8에 따른 결함 검출 회로는, 청구항 7에 기재된 결함 검출 장치에 있어서, 상기 적분 회로는, 당해 적분 회로내의 용량과 소정의 기준 전압 사이에 개재되고, 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터 출력되는 펄스에 의해 제어되는 스위치와, 당해 적분 회로내의 저항과 병렬로 접속되어 있으며, 상기 제 2 펄스 생성 회로로부터 출력되는 펄스에 의해 제어되는 스위치를 구비하는 것을 특징으로 한다.
(실시예 1)
도 1은 본 발명의 실시예 1에서의 결함 검출 장치의 구성을 나타내는 블럭도이다. 도 1에서, 1은 광디스크에 대하여 조사한 광 빔의 반사광의 강도에 따라서 얻어지는 반사 신호 AS를 증폭하는 증폭 회로로서의 가변 이득 증폭기이다. 가변 이득 증폭기(1)에는 광디스크 장치의 동작이 기록 동작인지 재생 동작인지를 나타내는 기록 게이트 신호 WTGT가 입력되어 있다. 또한, 이하에서는 기록 게이트 신호 WTGT는 광디스크로의 기록시에는 H로 되고, 재생시에는 L로 되는 것으로서 설명한다. 2는 가변 이득 증폭기(1)의 출력 신호 AP의 포락선을 검출하는 포락선 검출 회로로서의 고속 포락선 검파 회로이다. 고속 포락선 검파 회로(2)는 일반적인 검파 회로로서, 가변 이득 증폭기(1)의 출력 신호(이하, 증폭기 출력 신호라고 칭함) AP의 상측 포락선을 구하여 출력한다. 3은 기록 게이트 신호 WTGT의 신호 레벨의 변화에 따라서 후단의 모노 멀티 회로(4)에 펄스를 출력하는 에지 검출 회로이다. 4는 에지 검출 회로(3)로부터 출력되는 펄스를 받아서 소정 길이의 펄스를 생성하 여 후술하는 적분 회로(5)에 대해서 출력하는 제 1 펄스 생성 회로로서의 모노 멀티 회로이다. 5는 고속 포락선 검파 회로(2)의 출력 신호 EM을 적분하는 적분 회로이다. 적분 회로(5)는 저항(101)과 용량(102)을 구비하고 있으며, 저항(101)에 병렬로 접속되는 스위치(103)를 더 구비하고 있다. 저항(101)의 일단에는 포락선 신호 EM이 인가되어 있고, 타단은 후술하는 슬라이스 레벨 설정 회로(6)와 용량(102)의 일단에 접속되어 있다. 용량(102)의 타단은 접지되어 있다. 스위치(103)는 모노 멀티 회로(4)로부터 출력되는 펄스 신호 MM1에 의해 제어되고 있으며, 당해 펄스 신호 MM1의 레벨이 H이면 온이 되고, 펄스 신호 MM1의 레벨이 L이면 오프가 되도록 설정되어 있다. 6은 적분 회로(5)의 출력 신호 IS에 근거하여, 후술하는 비교기(7)에서의 기준 신호인 슬라이스 레벨 SD를 설정하기 위한 슬라이스 레벨 설정 회로이다. 7은 고속 포락선 검파 회로(2)의 출력 신호 EM과 슬라이스 레벨 SD를 비교하는 것에 의해 결함 검출 신호 DD를 출력하는 비교기이다.
다음에, 이상과 같이 구성된 결함 검출 장치의 동작에 대해서 도 1 및 도 2를 이용하여 설명한다. 도 2는 도 1의 결함 검출 장치에서 출력되는 각 신호의 파형을 나타내고 있다. 또한, 이하의 설명은 광디스크 장치의 동작이 재생으로부터 기록으로 전환되었을 때에 대해서 설명하지만, 기록으로부터 재생으로 전환되었을 때의 동작에 대해서도 마찬가지이다.
먼저, 광디스크의 재생을 위해서, 당해 광디스크에 광 빔이 수속 조사되고, 당해 광 빔은 이 광디스크에 의해서 반사한다. 도면상에 묘화하지 않은 복수의 수광 소자는 반사된 광을 받아서, 당해 반사광을 그 강도에 따른 전기 신호로 변환하 여 출력한다. 이들 복수의 수광 소자의 출력은 가산되고, 얻어진 전가산 신호가 반사 신호 AS로서 가변 이득 증폭기(1)에 입력된다.
가변 이득 증폭기(1)는 당해 가변 이득 증폭기(1)에 입력하고 있는 기록 게이트 신호 WTGT가 L인 경우는, 광디스크 장치가 재생을 실행하고 있는 것으로서 이득을 증가시켜 반사 신호 AS를 증폭하고, 광디스크가 그 동작을 기록으로 전환한 경우, 즉 입력하는 기록 게이트 신호 WTGT가 H로 전환하면, 이득을 감소시켜 반사 신호 AS를 증폭하여 후단의 고속 포락선 검파 회로(2)에 출력한다. 여기서, 가변 이득 증폭기(1)의 이득 설정에 편차 등이 있어서 이득이 적절하지 않은 경우에는, 도 2의 증폭기 출력 신호 AP가 나타내는 바와 같이, 기록시와 재생시에서 레벨에 차가 발생한다.
고속 포락선 검파 회로(2)는 증폭기 출력 신호 AP의 상측 포락선을 구하여, 포락선 신호 EM을 적분 회로(5)에 출력한다.
적분 회로(5)는 광디스크의 재생시에는 소정의 시정수로 포락선 신호 EM을 적분하여 후단의 슬라이스 레벨 설정 회로(6)에 출력하지만, 광디스크의 동작이 재생으로부터 기록으로 전환된 후의 소정의 기간 동안은, 이하의 동작에 의해 시정수를 빠르게 하여 포락선 신호 EM을 적분한다.
즉, 먼저, 에지 검출 회로(3)는 기록 게이트 신호 WTGT가 L로부터 H로 변화된 것을 받아서 펄스를 모노 멀티 회로(4)에 출력한다. 모노 멀티 회로(4)는 에지 검출 회로(3)로부터의 펄스를 받으면, 시간 t1의 기간 H로 되는 펄스 신호 MM1을 생성하여 적분 회로(5)내의 스위치(103)에 대하여 출력한다.
스위치(103)는 모노 멀티 회로(4)로부터의 출력 펄스 MM1이 H로 된 것을 받아서 온으로 된다. 스위치(103)가 온이 되면, 저항(101)은 단락되기 때문에, 적분 회로의 시정수는 빠르게 된다. 이 결과, 모노 멀티 회로(4)로부터의 출력 펄스 MM1이 H로 되고 있는 시간 t1의 기간 동안은, 적분 회로(5)는 통상보다도 빠른 시정수로 포락선 신호 EM을 적분한다.
시간 t1이 경과하면, 모노 멀티 회로(4)로부터의 출력 펄스 MM1은 L로 되고, 적분 회로(5)내의 스위치(103)는 오프로 되기 때문에, 적분 회로(5)는 재차 소정의 시정수로 포락선 신호 EM을 적분하고, 출력 신호 IS를 슬라이스 레벨 설정 회로(6)에 대하여 출력한다.
슬라이스 레벨 설정 회로(6)는 적분 회로(5)의 출력 신호 IS를 기준으로 하여 슬라이스 레벨 SD를 설정하여 비교기(7)로 출력한다. 비교기(7)는 슬라이스 레벨 SD를 기준으로 하여 고속 포락선 검파 회로(2)의 출력 신호 EM을 이치화하고, 이를 결함 검출 신호 DD로서 출력한다.
이상과 같이, 본 실시예 1의 결함 검출 회로에 의하면, 광디스크 장치의 동작이 재생으로부터 기록으로, 또는 기록으로부터 재생으로 전환된 후의 일정 기간, 적분 회로(5)의 시정수를 빠르게 하여 포락선 신호 EM을 적분하고, 적분 회로(5)의 출력 신호 IS의 파형 변화를 포락선 신호 EM의 파형 변화에 재빠르게 추종시키는 것으로 했기 때문에, 거짓 결함 신호의 출력 기간을 짧게 할 수 있어, 광디스크 장치의 동작 전환 직후의 결함 검출을 재빠르게 재개하는 것이 가능해진다.
(실시예 2)
도 3은 본 발명의 실시예 2의 결함 검출 장치를 나타내는 블럭도이다. 도 3에서, 가변 이득 증폭기(10), 고속 포락선 검파 회로(11), 에지 검출 회로(12), 모노 멀티 회로(13), 적분 회로(14), 슬라이스 레벨 설정 회로(16) 및 비교기(17)에서는, 실시예 1의 결함 검출 장치에서 설명한 회로에 각각 대응하는 것이기 때문에 그 설명을 생략한다. 슬라이스 레벨 전환 회로(15)는 모노 멀티 회로(13)로부터 출력되는 펄스 신호 MM1을 받고 있는 기간 동안은, 슬라이스 레벨 설정 회로(16)가 통상에 비해서 기준 전압 VREF측으로 시프트한 슬라이스 레벨을 설정하도록 지시하는 것이다.
다음에, 이상과 같이 구성된 결함 검출 장치의 동작에 대해서 도 3 및 도 4를 이용하여 설명한다. 도 4는 도 3의 결함 검출 장치에서 출력되는 각 신호의 파형을 나타낸다.
먼저, 반사 신호 AS가 가변 이득 증폭기(10)에 입력하고, 기록 게이트 신호 WTGT에 따른 소정량의 증폭을 받아서 고속 포락선 검파 회로(11)에서 포락선 신호 EM이 검출된 후, 당해 포락선 신호 EM이 적분 회로(14)에 출력된다. 적분 회로(14)는 소정의 시정수로 포락선 신호 EM을 적분한다. 여기서, 광디스크 장치의 동작이 재생으로부터 기록으로, 또는 기록으로부터 재생으로 전환되면, 기록 게이트 신호 WTGT의 레벨이 전환되고, 적분 회로(14)는 실시예 1과 마찬가지로 소정 시간 t1 동안 시정수를 빠르게 하여 포락선 신호 EM을 적분하고, 슬라이스 레벨 설정 회로(16)에 출력한다.
한편, 슬라이스 레벨 전환 회로(15)는 기록 게이트 신호 WTGT가 전환된 때에 모노 멀티 회로(13)가 출력하는 펄스 신호 MM1의 출력을 받아서, 당해 펄스 신호가 H의 기간, 즉 도 4의 t1의 기간, 슬라이스 레벨 설정 회로(16)에 대하여 슬라이스 레벨을 기준 전압 VREF측으로 시프트시키도록 지시한다. 이에 의해, 슬라이스 레벨 설정 회로(16)는, t1의 기간 동안은 슬라이스 레벨을 통상보다도 기준 전압 VREF측으로 시프트시키고, 당해 슬라이스 레벨 설정값을 비교기(17)에 출력한다. 시간 t1이 경과하면 스위치(203)는 오프로 되기 때문에, 적분 회로(14)는 다시 소정의 시정수로 포락선 신호 EM을 적분하여 슬라이스 레벨 설정 회로(16)에 출력하고, 슬라이스 레벨 설정 회로(16)는 통상의 기록시의 슬라이스 레벨 SD를 설정하여 비교기(17)에 대하여 출력한다.
비교기(17)는 통상의 동작시에는 슬라이스 레벨 설정 회로(16)가 출력하는 소정의 슬라이스 레벨을 기준으로 하여 고속 포락선 검파 회로(11)로부터 출력되는 포락선 신호 EM을 이치화한다. 또한, 광디스크의 동작이 전환한 후의 t1의 기간 동안은, 통상보다도 기준 전압 VREF측으로 시프트시킨 슬라이스 레벨을 기준으로 하여 포락선 신호 EM을 이치화하여 결함 검출 신호 DD를 출력한다.
이상과 같이, 본 실시예 2의 결함 검출 회로에 의하면, 광디스크 장치의 동작이 재생으로부터 기록으로, 또는 기록으로부터 재생으로 전환된 후의 일정 기간, 적분 회로(14)의 시정수를 빠르게 하여 포락선 신호 EM을 적분하고, 또한, 당해 기간에서는 상기 적분 회로(14)의 출력 신호 IS에 근거하여 설정되는 슬라이스 레벨 SD를 기준 전압 VREF측으로 시프트시키는 것으로 했기 때문에, 광디스크 장치의 동 작이 전환된 후의 일정 기간 동안은, 포락선 신호 EM의 레벨이 슬라이스 레벨 SD를 하회하는 일은 없고, 당해 기간에서의 거짓 결함 신호의 발생을 억제하는 것이 가능해진다.
(실시예 3)
도 5는 본 발명의 실시예 3의 결함 검출 장치의 구성을 나타내는 블럭도이다. 도 3에서, 가변 이득 증폭기(20), 고속 포락선 검파 회로(21), 에지 검출 회로(22), 슬라이스 레벨 설정 회로(25), 및 비교기(26)에 대해서는 실시예 1의 결함 검출 장치에서 설명한 회로에 각각 대응하는 것이기 때문에 그 설명을 생략한다. 24는 고속 포락선 검파 회로(21)가 출력하는 포락선 신호 EM을 적분하는 적분 회로이다. 적분 회로(24)는 저항(301)과 용량(302)과 스위치(303)를 구비하고 있다. 저항(301)의 일단에는 포락선 신호 EM이 인가되어 있고, 타단은 슬라이스 레벨 설정 회로(25), 용량(302) 및 스위치(303)에 접속된다. 스위치(303)의 일단은 기준 전압 VREF에 접속되어 있고, 스위치(303)가 온으로 되었을 때는 용량(302)은 기준 전압 VREF로 단락된다. 또한, 기준 전압 VREF는 결함 검출시에 포락선 신호 EM이 레벨 변화되는 측에 있는 전압으로서, 결함 검출시에 포락선 신호 EM이 나타내는 전압보다도 낮은 전압으로 설정한다. 모노 멀티 회로(23)는 기록 게이트 신호 WTGT의 출력이 변화될 때마다 소정의 기간 H로 되는 펄스 신호 MM1을 스위치(303)에 대하여 출력한다. 여기서, 스위치(303)는 모노 멀티 회로(23)의 출력 펄스 MM1이 H일 경우에 온으로 되고, L일 때에는 오프로 되도록 제어되고 있다.
다음에, 이상과 같이 구성된 결함 검출 회로의 동작에 대해서 도 5 및 도 6을 이용하여 설명한다. 도 6은 도 5의 결함 검출 장치에서 출력되는 각 신호의 파형을 나타낸다.
먼저, 실시예 1과 마찬가지로, 반사 신호 AS가 가변 이득 증폭기(20)에 입력하고, 기록 게이트 신호 WTGT에 따른 소정량의 증폭을 받아서 고속 포락선 검파 회로(21)에서 포락선 신호 EM이 검출된 후, 당해 포락선 신호 EM이 적분 회로(24)에 출력된다.
여기서 광디스크 장치의 동작이 재생으로부터 기록으로, 또는 기록으로부터 재생으로 전환하면, 기록 게이트 신호 WTGT의 레벨이 전환된다. 모노 멀티 회로(23)는 기록 게이트 신호 WTGT의 레벨의 변화를 받아서 시간 t1의 동안 H로 되는 펄스를 생성하여 적분 회로(24)내의 스위치(303)에 대하여 출력한다.
적분 회로(24)는 광디스크의 재생시는 소정의 시정수로 포락선 신호 EM을 적분하지만, 모노 멀티 회로(23)로부터 출력 펄스 MM1을 받고 있는 시간 t1의 기간 동안은, 적분 회로(24)의 스위치(303)가 온이 되어, 용량(302)이 기준 전압 VREF로 단락되기 때문에, 적분 회로(24)의 출력값은 도 6의 적분 회로 출력 신호 IS가 나타내는 바와 같이 기준 전압 VREF로 고정된다. 시간 t1이 경과하면 스위치(303)는 오프로 되기 때문에, 적분 회로(24)는 다시 소정의 시정수로 포락선 신호 EM을 적분한다. 적분 회로(24)가 적분 회로 출력 신호 IS를 슬라이스 레벨 설정 회로(25)에 대하여 출력한 후의 동작에 대해서는 실시예 1과 마찬가지이기 때문에 그 설명을 생략한다.
이상과 같이, 본 실시예 3의 결함 검출 회로에 의하면, 광디스크 장치의 동작이 재생으로부터 기록으로, 또는 기록으로부터 재생으로 전환한 후의 일정 기간, 적분 회로(24)의 출력을 기준 전압 VREF로 고정하고, 당해 출력값을 기준으로 하여 슬라이스 레벨 SD를 설정하는 것으로 했기 때문에, 포락선 신호 EM이 잘 못하여 슬라이스 레벨 SD를 하회하는 일은 없어, 상기 기간에서의 거짓 결함 신호의 발생을 억제하는 것이 가능해진다.
(실시예 4)
도 7은 본 발명의 실시예 4의 결함 검출 장치의 구성을 나타내는 블럭도이다. 도 7에서, 가변 이득 증폭기(30), 고속 포락선 검파 회로(31), 에지 검출 회로(32), 슬라이스 레벨 설정 회로(36) 및 비교기(37)에 대해서는 실시예 1의 결함 검출 장치에서 설명한 회로에 각각 대응하는 것이기 때문에 그 설명을 생략한다.
33은 에지 검출 회로(32)로부터 출력되는 펄스를 받으면, 시간 t1의 동안 H로 되는 펄스 신호 MM1을 생성하여, 후술하는 제 2 모노 멀티 회로(34) 및 적분 회로(35)에 대하여 출력하는 제 1 모노 멀티 회로이다. 34는 제 1 모노 멀티 회로(33)가 출력하는 펄스 신호 MM1의 레벨의 변화를 받아서, 시간 t2의 동안 H로 되는 펄스 신호 MM2를 생성하여, 적분 회로(35)내의 스위치(404)에 대하여 출력하는 제 2 모노 멀티 회로이다. 즉, 제 2 모노 멀티 회로(34)는 제 1 모노 멀티 회로(33)가 펄스 신호 MM1의 출력을 정지하는 동시에, 펄스 신호 MM2를 적분 회로(35)내의 스위치(404)에 대하여 출력한다. 35는 고속 포락선 검파 회로(31)가 출력하는 포 락선 신호 EM을 적분하는 적분 회로이다. 적분 회로(35)는 저항(401)과, 용량(402)과, 스위치(403, 404)를 구비하고 있다. 저항(401)의 일단은 포락선 신호 EM이 인가되어 있고, 타단은 슬라이스 레벨 설정 회로(36), 용량(402)의 일단, 및 스위치(404)에 접속되어 있다. 스위치(403)는 저항(401)과 병렬 접속되어 있으며, 온이 되면 저항(401)을 단락시킨다. 스위치(404)의 일단은 저항(401)과 용량(402)에 접속되어 있고, 타단은 기준 전압 VREF에 접속되어 있다. 스위치(403)가 온이 되면, 용량(402)은 기준 전압 VREF로 단락된다. 또한, 기준 전압 VREF는 결함 걸출시에 포락선 신호 EM이 레벨 변화되는 측에 있는 전압으로서, 결함 검출시에 포락선 신호 EM이 나타내는 전압보다도 낮은 전압으로 설정한다. 또한, 스위치(403)는 제 2 모노 멀티 회로(34)로부터 출력되는 펄스 신호 MM2가 H일 때는 온으로 되고, L일 때는 오프로 되도록 제어되고 있으며, 스위치(404)는 제 1 모노 멀티 회로(33)로부터 출력되는 펄스 신호 MM1이 H일 때는 온으로 되고, L일 때는 오프로 되도록 제어되고 있다.
다음에, 이상과 같이 구성된 결함 검출 장치의 동작에 대해서 도 7 및 도 8을 이용하여 설명한다. 도 8은 도 7의 결함 검출 장치에서 출력되는 각 신호의 파형을 나타낸다.
먼저, 실시예 1과 마찬가지로, 반사 신호 AS가 가변 이득 증폭기(30)에 입력하고, 기록 게이트 신호 WTGT에 따른 소정량의 증폭을 받아서 고속 포락선 검파 회로(31)에서 포락선 신호 EM이 검출된 후, 적분 회로(35)에 출력된다.
여기서 광디스크 장치의 동작이 재생으로부터 기록으로, 또는 기록으로부터 재생으로 전환하면, 기록 게이트 신호 WTGT의 레벨이 전환한다. 제 1 모노 멀티 회로(33)는 기록 게이트 신호 WTGT의 레벨의 변화를 받아서, 시간 t1의 동안 H로 되는 펄스 신호 MM1을 생성하여, 제 2 모노 멀티 회로(34) 및 적분 회로(35)내의 스위치(404)에 대하여 출력한다.
제 2 모노 멀티 회로(34)는 펄스 신호 MM1의 출력을 받아도 당해 펄스 신호가 출력되고 있는 동안은 동작을 하지 않는다. 한편, 적분 회로(35)내의 스위치(404)는 펄스 신호 MM1의 출력을 받아서 온으로 된다. 이에 의해, 적분 회로(35)내의 용량(402)이 기준 전압 VREF로 단락되기 때문에, 적분 회로(35)의 출력값은 t1의 기간에서는 도 8의 적분 회로 출력 신호 IS가 나타내는 바와 같이 기준 전압 VREF로 고정된다. t1의 기간이 경과하면, 제 1 모노 멀티 회로(33)의 펄스 신호 MM1의 출력이 정지한다. 이에 의해, 적분 회로(35)내의 스위치(404)는 오프로 되고, 적분 회로(35)는 기준 전압 VREF의 출력을 정지한다.
한편, 제 2 모노 멀티 회로(34)는 펄스 신호 MM1의 출력 정지를 받아, 적분 회로(35)내의 스위치(403)에 대하여 시간 t2의 동안 H로 되는 펄스 신호 MM2를 출력하고, 이 결과 스위치(403)는 온으로 된다. 이에 의해, 저항(401)은 단락하기 때문에, 적분 회로(352)의 시정수는 작아지고, 그 결과, 적분 회로(35)의 출력 신호 IS는 급속히 포락선 신호 EM에 가까워진다. t2의 기간이 경과하면, 제 2 모노 멀티 회로(34)는 펄스 신호 MM2의 출력을 정지하고, 스위치(403)는 오프로 된다. 이에 의해, 적분 회로(35)는 다시 소정의 시정수로 포락선 신호 EM을 적분한다. 적분 회로(35)가 적분 회로 출력 신호 IS를 슬라이스 레벨 설정 회로(36)에 대하여 출력한 후의 동작에 대해서는 실시예 1과 마찬가지이기 때문에 그 설명을 생략한다.
이상과 같이, 본 실시예 4의 결함 검출 회로에 의하면, 광디스크 장치의 동작이 재생으로부터 기록으로, 또는 기록으로부터 재생으로 전환한 후의 일정 기간, 적분 회로(35)의 출력을 기준 전압 VREF로 고정하고, 당해 출력값을 기준으로 하여 슬라이스 레벨 SD를 설정하는 것으로 했기 때문에, 포락선 신호 EM이 잘못하여 슬라이스 레벨 SD를 하회하는 일은 없어, 상기 기간에서의 거짓 결함 신호의 발생을 억제하는 것이 가능해진다.
또한, 상기 기간 종료 후의 일정한 기간 동안은 적분 회로(35)의 시정수를 작게 하고, 적분 회로(35)의 출력 신호 IS의 파형 변화를 포락선 신호 EM의 파형 변화에 재빠르게 추종시키는 것으로 했기 때문에, 결함 검출을 신속히 재개하는 것이 가능해진다.
본 발명에 따른 결함 검출 회로에 의하면, 광디스크 장치의 동작이 재생으로부터 기록으로, 또는 기록으로부터 재생으로 전환한 후의 일정 기간, 적분 회로의 출력을 기준 전압으로 고정하고, 당해 출력값을 기준으로 하여 설정되는 슬라이스 레벨과 포락선 신호와의 레벨의 비교를 실행하는 것에 의해 결함 검출 신호를 출력하는 것으로 했기 때문에, 포락선 신호가 잘못하여 슬라이스 레벨을 하회하는 일은 없어, 상기 기간에서의 거짓 결함 신호의 발생을 억제하는 것이 가능해진다. 또 한, 상기 기간 종료 후의 일정한 기간 동안은 적분 회로의 시정수를 빠르게 하여 포락선 신호를 적분하고, 적분 회로의 출력 신호 IS의 파형 변화를 포락선 신호 EM의 파형 변화에 재빠르게 추종시키는 것으로 했기 때문에, 결함 검출을 신속히 재개하는 것이 가능해진다.
본 발명에 따른 결함 검출 장치를 광디스크 장치에 이용하는 것에 의해, 안정한 기록 및 재생이 가능한 광디스크 장치의 제공이 가능해지는 점에서 유용하다.

Claims (8)

  1. 광디스크에 대하여 조사한 광 빔의 반사광의 강도에 따라서 얻어지는 반사 신호를, 광디스크 장치가 기록 동작인지 또는 재생 동작인지를 나타내는 제어 신호에 따라서, 각각의 동작에 따른 이득으로 증폭하는 증폭 회로와,
    상기 증폭 회로의 출력 신호의 포락선을 구하는 포락선 검출 회로와,
    상기 제어 신호가 전환될 때마다 소정 길이의 펄스를 출력하는 제 1 펄스 생성 회로와,
    상기 포락선 검출 회로의 출력 신호를 소정의 시정수로 적분하여, 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터의 펄스의 출력을 받고 있는 기간 동안은 출력값을 변화시키는 적분 회로와,
    상기 적분 회로의 출력 신호를 기준으로 하여, 광디스크상의 결함의 존재를 나타내는 결함 검출 신호를 검출할 때의 슬라이스 레벨을 설정하는 슬라이스 레벨 설정 회로와,
    상기 포락선 검출 회로의 출력 신호와 상기 슬라이스 레벨을 비교하는 것에 의해 상기 결함 검출 신호를 출력하는 비교기
    를 구비한 것을 특징으로 하는 결함 검출 회로.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 적분 회로는, 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터의 출력을 받고 있는 기간 동안은, 당해 적분 회로내의 저항을 단락시키는 것에 의해 시정수를 변화시켜 상기 포락선 검출 회로의 출력 신호를 적분하는 것
    인 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 적분 회로는, 당해 적분 회로내의 저항과 병렬로 접속되어 있고, 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터 출력되는 펄스에 의해 제어되는 스위치를 구비한 것
    을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 제 1 펄스 생성 회로로부터의 펄스의 출력을 받는 기간 동안은, 상기 슬라이스 레벨 설정 회로가 설정하는 슬라이스 레벨을 소정의 슬라이스 레벨로 전환하는 슬라이스 레벨 전환 회로를 더 구비한 것
    을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 적분 회로는, 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터의 펄스의 출력을 받고 있는 기간 동안은, 당해 적분 회로내의 용량을 단락시키는 것에 의해 소정의 기준 전압을 출력하는 것
    인 것을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 적분 회로는, 당해 적분 회로내의 용량과 소정의 기준 전압 사이에 개재되고, 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터 출력되는 펄스에 의해 제어되는 스위치를 구비하는 것
    을 특징으로 하는 결함 검출 회로.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 펄스 생성 회로의 펄스의 출력이 종료되면, 소정 길이의 펄스를 출력하는 제 2 펄스 생성 회로를 더 구비하고,
    상기 적분 회로는, 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터 출력되는 펄스를 받고 있는 기간 동안은, 당해 적분 회로내의 용량을 단락시키는 것에 의해 소정의 기준 전압을 출력하고, 상기 제 2 펄스 생성 회로로부터 펄스의 출력을 받고 있는 기간 동안은, 당해 적분 회로내의 저항을 단락시키는 것에 의해 시정수를 변화시켜 상기 포락선 신호를 적분하는 것
    인 것을 특징으로 하는 결함 검출 회로.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 적분 회로는, 당해 적분 회로내의 용량과 소정의 기준 전압 사이에 개재되고, 상기 제 1 펄스 생성 회로로부터 출력되는 펄스에 의해 제어되는 스위치와,
    당해 적분 회로내의 저항과 병렬로 접속되어 있고, 상기 제 2 펄스 생성 회로로부터 출력되는 펄스에 의해 제어되는 스위치를 구비한 것
    을 특징으로 하는 결함 검출 장치.
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