JPS63183630A - 追記型光デイスク装置の補正装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、追記型光ディスク装置に係り、特に光ディス
クの記録面において、ビットが形成されていない領域と
ビットが形成されている領域とにおいてフォーカスエラ
ー信号やトラッキングエラー信号のレベルが変動しない
ようにした補正装置に関する。

〔発明の背景〕

第６図は追記型光ディスク装置における補正装置の構成
を示すものである。

符号りは光ディスクであり、ターンテーブルｌに保持さ
れて回転駆動される。光ディスクＤの記録面には対物レ
ンズ２が対向しており、半導体レーザ（図示せず）から
発せられたレーザビームが対物レンズ２にて集光され、
光ディスクＤの記録面にビームスポットが形成される。

光ディスクＤからの反射ビームはホトダイオード３にて
検知される。このホトダイオード３の受光信号により、
光ディスクＤに記録されたビットが検知される。このホ
トダイオード３の受光検知によってＲＦ倍信号出力され
、情報の再生が行なわれるとともに、ホトダイオード３
の受光検知によりフォーカスエラー信号とトラッキング
エラー信号が出力される。

第６図はフォーカスエラー信号の検出ならびに、対物レ
ンズ２をフォーカス補正動作させるための補正駆動装置
を回路構成によって示しているものである。この装置は
、フォーカスエラー検出回路と位相補償ドライブアンプ
とから構成されている。フォーカスエラー検出回路の具
体的な構成は第７図に示す通りである。第７図は、ホト
ダイオード３の２つの受光部３ａと３ｂとからの出力に
よってフォーカスエラー信号が検出される場合について
示している。このように２つの受光部３ａと３ｂからの
出力によってフォーカスエラー信号を得る例としては、
ホトダイオード３へ入射するビームに対してナイフェツ
ジを用いた場合がある。２つの受光部３ａと３ｂからの
出力は各々電流／電圧変換回路４ａ、４ｂによって電圧
値Ｖ１＋Ｖ２　として出力される。フォーカスエラー信
号はこの電圧の差（ＶＩ　　Ｖｌ）を算出することによ
って求められる。この（ＶＩ　　Ｖｌ）がプラスである
かマイナスであるかを知ることにより、対物レンズ２が
光ディスクＤめ記録面に対して接近しすぎであるか離れ
すぎであるかが検出される。この（Ｖｌ−Ｖｌ）に基づ
き、位相補償ドライブアンプによって、フォーカシング
コイル５に流れる電流が制御され、この電流とマグネッ
ト６とによって対物レンズ２が駆動され、対物レンズ２
の位置補正が行なわれて、フォーカス補正が行なわれる
。

このフォーカス補正のための他の例としては。

ホトダイオード３の４つの受光部からの出力信号のうち
対角位置にあるものどうしの和をそれぞれ求め、各相を
Ｖｌ　、Ｖｌ　とし、　そｆ）差（Ｖｌ−Ｖｌ）をフォ
ーカスエラー信号として使用する場合がある。いずれに
せよ、フォーカスエラー信号は電圧の差（ｖｌ−Ｖｌ）
を求めることによって出力される。また、トラッキング
エラー信号の検出も同様に複数の受光部からの出力の差
によって検出される。

〔発明が解決しようとする問題点〕

光ディスク装置のうち、コンパクトディスクプレーヤな
どのように、トラック上にビットが全域にわたって形成
されているものでは、ホトダイオード３の検知出力はビ
ットの有無によって変動する出力となる。したがって、
この場合にはフォーカスエラー信号（Ｖｓ　−Ｖｌ　）
もビットの有無に応じて変動するものになる。そのため
、コンパクトディスクプレーヤなどの光学装置では、変
動するエラー信号（Ｖｒ　−Ｖｌ　）の平均を求め、こ
の平均値によって位相補償ドライブアンプを動作させる
などの手段を用いており、サーボゲインがビットの有無
によって変動しないようにしている。

しかしながら、最近実用化されつつある追記型光ディス
ク装置では、トラック上に情報が記録されていない領域
（ビットの無い領域）と情報が記録されている領域（ビ
ットが形成されている領域）とがあるため、この円領域
の各々においてエラー信号（ＶＩ　　Ｖｌ）の変動が生
じ、サーボゲインの変動が生じることになる。この点に
ついて詳述する。第８図はフォーカスエラー信号（Ｖｌ
−Ｖｚ）のレベルの一例を示している。第８図では、フ
ォーカスエラー量がある一定の値になり続けている（例
えば、常に＋１ｇｍのフォーカスエラーがある状態）の
エラー信号（ＶＩ　　Ｖｌ）を示している。第８図にお
いて、Ａは情報の記録が無い領域で、Ｂは情報の記録の
宿る領域である。

Ａの領域では、ピー、トによる光度変調が生じないため
エラー信号のレベルが一定で、ある、しかしながら、Ｂ
の領域では、受光信号がビットによる光度変調を受ける
ため、エラー信号（Ｖｌ−Ｖ２　）はビットの有無に応
じて変動する電圧となる。したがって、何の処理も行な
わない場合には、Ａの領域からＢの領域へビーム走査し
たときにエラー信号の電圧に変動を生じることになり、
このエラー信号に基づいて行なわれるフォーカシング補
正動作のサーボゲインに変動を生じることになる。

このサーボゲインの変動に対処するためには。

このサーボゲインの変動を補償する複雑な回路を設けた
り、あるいはサーボゲインの変動に伴なうサーボ帯域の
広帯域化に対して、十分に安定した補正駆動装置を設け
るなどの必要があり、高価な装置を構成しなければなら
なくなる。

本発明は上記従来の問題点を解決するものであり、追記
型の光ディスクにおいて、情報が記録されていない部分
が走査されたときと、情報が記録されている領域が走査
されたときとで、エラー検出回路の出力の変動が生じな
いようにして、サーボゲインの変動が起きないようにし
、しかも簡単な回路によって構成できるようにした補正
装置を提供するものである。

〔問題点を解決するための具体的な手段〕本発明は、記
録面上にビットが形成されている領域とビットが形成さ
れていない領域が存在する光ディスクから反射されたレ
ーザビームを検知する複数の受光部と、この受光部の出
力の差を求めることによって記録面に対する対物レンズ
の対向位置の誤差を検出するエラー検出回路が設けられ
ている追記型光ディスク装置の補正装置において、記録
面上のビットが形成されている領域にて、ビットの無い
位置からの反射ビームの検出出力レベルを、次のビット
の無い位置からの反射ビームを検出するときまで維持さ
せるホールド回路が設けられているこζを特徴とするも
のである。

この装置では、記録面上のビットが形成されている領域
を走査するとき、ビットの無いときのエラー信号のピー
クレベルを保持し、ビットが有るときのエラー信号のレ
ベル低下が生じないようにして、安定したエラー信号の
レベルを得ることができるようにして、サーボゲインの
変動が生じないようにしたものである。

〔発明の実施例〕

以下１本発明の実施例を第１図〜第５図の図面によって
説明する。

第１図は本発明の第一実施例を示すものであり、フォー
カスエラー検出回路を示しているものである。

第６図において説明したように、フォーカシング補正の
ための回路は、ホトダイオード３の出力からフォーカス
エラー信号を求めるフォーカスエラー検出回路、このフ
ォーカスエラー検出回路からの出力によって動作する位
相補償ドライブアンプとから構成されている。この位相
補償ドライブアンプによって、フォーカシングコイル５
に流れる電流が制御され、この電流とマグネット６とに
よって対物レンズ２が駆動される。この対物レンズ２の
動作により、光ディスクＤの記録面に形成されるビーム
スポットの焦点が常に合うように補正される。

第１図に示すように、フォーカスエラー検出回路には、
ホトダイオード３の２つの受光部３ａ。

３ｂからの各々の出力を電圧に変換する電流／電圧変換
回路４ａと４ｂが設けられている。そして、この電流／
電圧変換回路４ａと４ｂからの出力がピークホールド回
路１１ａとｌｌｂを経て演算され、電圧差（Ｖｌ−Ｖ２
　）が求められるようになっている。

ピークホールド回路１１ａとｌｌｂは、例えばダイオー
ド、抵抗器ならびにコンデンサとから構成されており、
抵抗値とコンデンサ容量とを可変することにより、一定
の時定数において電圧のピークレベルが保持されるよう
になっている。

このフォーカスエラー検出回路では、ホトダイオードの
２つの受光部３ａと３ｂからの出力が各々電圧に変換さ
れる。追記型光ディスクのトラックのうち情報が記録さ
れている領域（ビットが形成されている領域）が走査さ
れると、受光信号がビットの有無によって変動する。各
受光部３ａ。

３ｂからの信号において、ビットの無い部分からビット
が有る部分に走査が移行したときのレベル低下が生じよ
うとした場合、ピークホールド回路１１ａ、ｆｌｂによ
って受光出力のピークレベルが次のビットが無い位置が
検知されるまで保持されるようになり、ビットからの反
射ビームの光度変調によるレベルの低下が生じなくなる
。よって、各受光部３ａ、３ｂからの最終的な電圧出力
■１とＶｌはビットの有無によるレベル変動のない電圧
となる。よって、この電圧の差（Ｖｔ　−Ｖｌ）すなわ
ちフォーカスエラー信号はビットの有無にかかわらず、
常に安定したレベルの信号として得ることができるよう
になる。

第２図は上記エラー信号（Ｖｌ−Ｖｌ　）の−例を示し
ている。第８図に示したものと同様に、第２図では、対
物レンズ２と光ディスクＤの記録面との距離が一定で同
じ状態のフォーカスエラーが続いていると仮定したとき
の、エラー信号（Ｖｌ−Ｖｌ）が示されている。Ａは対
物レンズ２によって情報の記録の無い領域（ビットが形
成されていない領域）が走査された場合を示しており、
Ｂは対物レンズ２によって情報が記録されている領域（
ビットが形成されている領域）が走査された場合を示し
ている。第８図で示したように、従来はＢの領域におい
て、Ｖｌとｖ２がビットの有無によってレベル変動を起
し、その結果、エラー信号（Ｖｌ−Ｖｌ）も変動する電
圧として出力されていた。ところが第１図の実施例では
、ビットの無い位置からビットが有る位置に走査移行し
たときに各受光部３ａと３ｂからの出力電圧Ｖ１ならび
にｖ２が一定の時定数に応じて次のビットの無い位置が
検知されるまでピーク値に保持されるようになり、ビッ
トが有るときの光度変調による電圧レベルの低下が生じ
なくなる。よって、第２図に示すようにビットの形成さ
れている領域が走査されても、Ｂで示すようにエラー信
号のビットの有無によるレベル変動が生じなくなる。そ
の結果、安定したレベルのフォーカスエラー信号（ＶＩ
　　Ｖｌ）を得ることができ、サーボゲインの変動が生
じなくなる。したがって位相補償ドライブアンプによっ
て対物レンズ２を正確に補正動作させることができるよ
うになる。

第３図は本発明の第二実施例を示している。

この実施例では、フォーカスエラー検出装置において、
各受光部３ａと３ｂからの電圧Ｖ１　、Ｖｌの差（Ｖｌ
−Ｖｌ）がサンプル＆ホールド回路１２八入力され、こ
のサンプル＆ホールド回路１２からの出力Ｖｅがフォー
カスエラー信号として使用されている。このサンプル＆
ホールド回路１２はＲＦ倍信号レベル変動に応じて（Ｖ
ｌ−Ｖｌ）のレベルをサンプリングし、あるいは保持す
るように構成されているものである。ＲＦ倍信号分割さ
れた複数の受光部３ａ、３ｂからの出力電圧の和によっ
て求められるものであり、光ディスクＤに記録された情
報の読取り信号として処理されるものである。

第４図はサンプル＆ホールド回路１２からの出力を第２
図と同様にして示したものであり、第５図はＲＦ倍信号
波形成形した状態で示したものである。サンプル＆ホー
ルド回路１２では、ＲＦ倍信号出力レベルがビットによ
る光度変調によって低下したときに、例えばスイッチＳ
Ｗを切り、コンデンサＣの容量によってサンプル＆ホー
ルド回路１２の出力レベルＶｅをその直前の値に保持さ
せる。また、ＲＦ倍信号うちビットが無い位置の走査に
よって出力レベルが高くなっているときには、スイッチ
ＳＷを入れ、信号（Ｖｌ−Ｖｌ　）をそのまま通過させ
Ｖｅ＝　（Ｖｌ−Ｖｌ　）となるようにしている、これ
により、第４図に示すＢの領域においてｖｅの値がビッ
トの有無によって変動しなくなる。よって、情報が記録
されていない領域Ａと情報が記録されている領域Ｂとで
フォーカスエラー信号の変動が生じなくなり、サーボゲ
インを安定させることができるようになる。

なお１図の実施例は、ビーム光路にナイフェツジを設け
るなどして２つの受光部によってフォーカスエラー信号
が得られる場合について示したが、４つの受光部によっ
てフォーカスエラー信号が得られる場合においても実施
可能である。この場合には、４つの受光部のうち対角位
置にある２つずつの受光部からの出力電圧が加算され、
加算された２つの電圧の差が求められる。第１１ｉＵの
実施例では、加算された信号の各々にピークホールド回
路１１ａ、ｌｌｂが設けられることになり。

第３図の実施例では、加算された出力の差を求めたもの
にサンプル＆ホールド回路１２が接続されることになる
。

また、本発明はフォーカスエラーの検出だけでなく、ト
ラッキングエラーの検出装置にも実施可能である。トラ
ッキングエラーの検出も基本的には２つの出力レベルの
差を算出することになるため、この出力レベルに対し第
２図または第３図の回路を付加すればよいことになる。

〔発明の効果〕

以上のように本発明によれば、追記型光ディスク装置に
おいて、情報の記録されていない領域と情報の記録され
ている領域とでエラー信号の変動が生じるのを防止でき
、サーボゲインの変動が生じるのを防止できる。しかも
エラー検出回路内にて処理できるため、エラー検出回路
の出力自体をビットの有無による変動のないものにでき
る。

よって、エラー検出回路の後に複雑な補正回路を設けた
り、必要以上に高精度な補正駆動装置を設ける必要がな
くなり、低コストに製作できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第一実施例を示すものであり、フォー
カスエラー検出回路を示す回路構成図、第２図は第１図
の実施例におけるエラー信号の出力を示す線図、第３図
は本発明の第二実施例を示すものであり、フォーカスエ
ラー検出回路を示す回路構成図、第４図は第３図の実施
例におけるエラー信号の出力を示す線図、第５図はＲＦ
倍信号示す線図、第６図は追記型光ディスク装置の補正
装置を示す構成図、第７図は従来のフォーカスエラー検
出装置を示す回路構成図、第８図は第７図の回路からの
エラー信号を示す線図である。 Ｄ・・・光ディスク、２・・・対物レンズ、３・・・ホ
トダイオード、３ｈ、３ｂ・−・受光部、１１ａ、１１
ｂ・・・ピークホールド回路、１２・・・サンプル＆ホ
ールド回路。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）記録面上にビットが形成されている領域とビット
   が形成されていない領域が存在する光ディスクから反射
   されたレーザビームを検知する複数の受光部と、この受
   光部の出力の差を求めることによって記録面に対する対
   物レンズの対向位置の誤差を検出するエラー検出回路が
   設けられている追記型光ディスク装置の補正装置におい
   て、記録面上のビットが形成されている領域にて、ビッ
   トの無い位置からの反射ビームの検出出力レベルを、次
   のビットの無い位置からの反射ビームを検出するときま
   で維持させるホールド回路が設けられていることを特徴
   とする追記型光ディスク装置の補正装置。
2. （２）ホールド回路は、複数の受光部の各々からの出力
   電圧のレベルのピークを一定の時定数にしたがって保持
   するピークホールド回路である特許請求の範囲第１項記
   載の追記型光ディスク装置の補正装置。
3. （３）ホールド回路は、受光部からのＲＦ信号出力が、
   ビットの無い位置を走査していることを示すときに、エ
   ラー検出回路における複数の受光部からの出力の差のレ
   ベルをサンプリングし、ＲＦ信号がビットの有る位置を
   走査していることを示すときに、直前にサンプリングさ
   れた複数の受光部からの出力の差のレベルをそのまま保
   持させるサンプル＆ホールド回路である特許請求の範囲
   第１項記載の追記型光ディスク装置の補正装置。