JPS62167628A - 光学的記録再生装置におけるトラツキング誤差検出装置 - Google Patents
光学的記録再生装置におけるトラツキング誤差検出装置Info
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- JPS62167628A JPS62167628A JP1044586A JP1044586A JPS62167628A JP S62167628 A JPS62167628 A JP S62167628A JP 1044586 A JP1044586 A JP 1044586A JP 1044586 A JP1044586 A JP 1044586A JP S62167628 A JPS62167628 A JP S62167628A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光学的情報記録再生装置に関し、具体的には、
光デイスク装置等における集束光スポットの情報記録ト
ラックに対する位置ずれを検出するトラッキング哄差検
出装置に関する。
光デイスク装置等における集束光スポットの情報記録ト
ラックに対する位置ずれを検出するトラッキング哄差検
出装置に関する。
光学的に情報が記録される担体にレーザ光束を集束して
照射し、情報を記録するとともに、反射光量の変化によ
り記録された情報を再生する光デイスクツアイル装置で
は、レーザ光束をレンズにより極めて小さな元スポット
に集果して記録担体に照射することにより、極めて高密
度の情報の記録、再生を実現している。このような動作
を実現するためには、光スポットが記録担体面上の所定
の位置に正確に照射されることが必要でめり、dd録前
あるいは記録後において情報が記録されるべきあるいは
記録されたトラック位置を案内するために、記録担体の
情報記録面に光の波長万一グーの細い溝を形成し、この
溝による反射光の変化により、情報トラックか1の集束
光の位置すれを捕える方法が一般に使用されている。こ
のような方法によれば、案内溝か形成され友情報記録面
に元か照射されると、案内溝による回折効果により反射
光のファーフィールドに光強度の変動を生じ、集束光の
案内溝に対して横方向の変位にメゴ応じて、反射光のフ
ァーフィールドの案内溝に対して左右の光強度の差が変
化するため、集束光の微小な横ずれを捕えることができ
る。このように検出さnたトラッキング−走侶号をもと
に果未元の位置全集束レンズを動かす吟の手段によシ修
正することによシ、情報トラックに対する集束光の位置
が極めて正確に保たれる。
照射し、情報を記録するとともに、反射光量の変化によ
り記録された情報を再生する光デイスクツアイル装置で
は、レーザ光束をレンズにより極めて小さな元スポット
に集果して記録担体に照射することにより、極めて高密
度の情報の記録、再生を実現している。このような動作
を実現するためには、光スポットが記録担体面上の所定
の位置に正確に照射されることが必要でめり、dd録前
あるいは記録後において情報が記録されるべきあるいは
記録されたトラック位置を案内するために、記録担体の
情報記録面に光の波長万一グーの細い溝を形成し、この
溝による反射光の変化により、情報トラックか1の集束
光の位置すれを捕える方法が一般に使用されている。こ
のような方法によれば、案内溝か形成され友情報記録面
に元か照射されると、案内溝による回折効果により反射
光のファーフィールドに光強度の変動を生じ、集束光の
案内溝に対して横方向の変位にメゴ応じて、反射光のフ
ァーフィールドの案内溝に対して左右の光強度の差が変
化するため、集束光の微小な横ずれを捕えることができ
る。このように検出さnたトラッキング−走侶号をもと
に果未元の位置全集束レンズを動かす吟の手段によシ修
正することによシ、情報トラックに対する集束光の位置
が極めて正確に保たれる。
しかしながら、上述した従来のトラッキング誤差検出法
は、情報が記録される前あるいは記録された後の別にか
かわらず反射光のファーフィールドにおける左右の光強
度の差を比較的低周波帯域でのみ単に増幅してトラッキ
ング誤差信号を得ていたため、記録担体に情報が記録さ
れた領域においては、トラッキング誤差信号のレベルか
小さく(または大きく)なる、あるいは誤差信号に検出
ずれ(オフセット)を生じやすい等の欠点がある。
は、情報が記録される前あるいは記録された後の別にか
かわらず反射光のファーフィールドにおける左右の光強
度の差を比較的低周波帯域でのみ単に増幅してトラッキ
ング誤差信号を得ていたため、記録担体に情報が記録さ
れた領域においては、トラッキング誤差信号のレベルか
小さく(または大きく)なる、あるいは誤差信号に検出
ずれ(オフセット)を生じやすい等の欠点がある。
即ち、光学的な情報の記録は、一般に、記録担体の情報
記録面に穴(ピット)が形成される形で行なわれ、穴が
形成された部分では反射率が低下する(一部の記録媒体
では反射率が増加するものもある)ため、反射光量の差
で求めているトラッキング誤差信号のレベルが低下する
。更にピットが形成されたところでは反射層が途切れる
ため、案内溝による回折が正常な形で起らなくなり、ま
たピットの縁で尤の散乱も起るため、トラッキング誤差
信号のレベルが変動し、信号の乱れ、検出すれ等を生じ
る。このような現象のため、従来のトラッキング誤差検
出法では情報が記録された領域でのトラッキング誤差信
号は変動、乱れ、誤差(オフセット)等が大きくなると
いう欠点を有していた。
記録面に穴(ピット)が形成される形で行なわれ、穴が
形成された部分では反射率が低下する(一部の記録媒体
では反射率が増加するものもある)ため、反射光量の差
で求めているトラッキング誤差信号のレベルが低下する
。更にピットが形成されたところでは反射層が途切れる
ため、案内溝による回折が正常な形で起らなくなり、ま
たピットの縁で尤の散乱も起るため、トラッキング誤差
信号のレベルが変動し、信号の乱れ、検出すれ等を生じ
る。このような現象のため、従来のトラッキング誤差検
出法では情報が記録された領域でのトラッキング誤差信
号は変動、乱れ、誤差(オフセット)等が大きくなると
いう欠点を有していた。
本発明のトラッキング誤差検出装置は、案内啓が形成さ
れ、情報の記録により反射率が低下する性質を有する記
録担体からの反射光のファーフィールドにおけるトラッ
ク方向に対して左右の光強度の差を検出するように配置
された光検出器と、前記光検出器内の反射光ファーフィ
ールドの右i+++の光を受光する光検出素子の出力の
ピーク値をサンプルし、平滑する第1のピーク検出回路
と、前記光検出器内の左側の光検出素子のピーク値をサ
ンプルする第2のピーク検出回路と前記第1のピーク検
出回路と、第2のピーク検出回路の出力の差をとる差動
増幅器とを有しておシ、記録された情報(ピット)によ
って、レベルが変動する反射光の強度が最大となるとこ
ろでの反射光ファーフィールドの左右の強度差をそろえ
てトラッキング誤差信号とすることにより、記録された
情報(ピット)によって乱されることのない正確かつ安
定なトラッキング誤差信号を得ることができる。
れ、情報の記録により反射率が低下する性質を有する記
録担体からの反射光のファーフィールドにおけるトラッ
ク方向に対して左右の光強度の差を検出するように配置
された光検出器と、前記光検出器内の反射光ファーフィ
ールドの右i+++の光を受光する光検出素子の出力の
ピーク値をサンプルし、平滑する第1のピーク検出回路
と、前記光検出器内の左側の光検出素子のピーク値をサ
ンプルする第2のピーク検出回路と前記第1のピーク検
出回路と、第2のピーク検出回路の出力の差をとる差動
増幅器とを有しておシ、記録された情報(ピット)によ
って、レベルが変動する反射光の強度が最大となるとこ
ろでの反射光ファーフィールドの左右の強度差をそろえ
てトラッキング誤差信号とすることにより、記録された
情報(ピット)によって乱されることのない正確かつ安
定なトラッキング誤差信号を得ることができる。
以下、本発明につき図面を参照して詳しく説明する。
第1図は本発明のトラッキング誤差検出装置の一実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
半導体レーザ2はレーザ駆動回路1よす電流を供給され
て、情報の記録及び読み出しのためのレーザ光を出射す
る。コリメータレンズ3は半導体レーザ2から出射され
た発散性のレーザ光を平行なレーザ光束に変える。偏光
ビームスプリッタ4は記録押体7に入射する光束と、記
録押体7から反射される光束を分離するためのものであ
シ、入射する光束は光路を曲けられずVC直進する。↓
イ波長板5はレーザ光束の偏光状態を直KM偏光から円
偏光に変える。集束レンズ6は平行なレーザ光束を集束
させて記録担体7の情報記録面8に光の微小スポットを
形成する。情報記録面9には倣細なピッチで情報トラッ
クの案内溝が形成されており、案内溝に沿って情報が記
録される。尚、ここで用いる記録担体7は情報の記録に
よシ反射率が低下するものとする。
て、情報の記録及び読み出しのためのレーザ光を出射す
る。コリメータレンズ3は半導体レーザ2から出射され
た発散性のレーザ光を平行なレーザ光束に変える。偏光
ビームスプリッタ4は記録押体7に入射する光束と、記
録押体7から反射される光束を分離するためのものであ
シ、入射する光束は光路を曲けられずVC直進する。↓
イ波長板5はレーザ光束の偏光状態を直KM偏光から円
偏光に変える。集束レンズ6は平行なレーザ光束を集束
させて記録担体7の情報記録面8に光の微小スポットを
形成する。情報記録面9には倣細なピッチで情報トラッ
クの案内溝が形成されており、案内溝に沿って情報が記
録される。尚、ここで用いる記録担体7は情報の記録に
よシ反射率が低下するものとする。
案内溝による光の回折、散乱によシ情報記録面8上に集
束された光スポットの位置か情報トラックの中心からず
れると、情報記録面8から反射された元のファーフィー
ルドにおける光強度はトラック方向に対して左右で強度
の差を生じるから、この強度差を左右方向に分離して配
置された少くとも2つの光検出素子でとらえることによ
り光スポットのトラック中心に対する位置ずれ即ちトラ
ッキング誤差を検出することができる。
束された光スポットの位置か情報トラックの中心からず
れると、情報記録面8から反射された元のファーフィー
ルドにおける光強度はトラック方向に対して左右で強度
の差を生じるから、この強度差を左右方向に分離して配
置された少くとも2つの光検出素子でとらえることによ
り光スポットのトラック中心に対する位置ずれ即ちトラ
ッキング誤差を検出することができる。
情報記録面9で反射された光は果末レンズ6によって再
び平行な光束に交され、K波長板5を通過して、その円
偏光を直線偏光に交される。偏光ビームスプリッタ4は
この反射光の光路を曲げ、光検出器8に向わせる。光検
出器8に入射する光は概ね平行光であり、光検出器8は
反射光のファーフィールドに配置されることになる。光
検出器8は情報トラック方向に対して左右に分離して配
置され光検出索子81及び82t−有しておシ、反射光
のファーフィールドにおける左右の光強度を分離して検
出する。
び平行な光束に交され、K波長板5を通過して、その円
偏光を直線偏光に交される。偏光ビームスプリッタ4は
この反射光の光路を曲げ、光検出器8に向わせる。光検
出器8に入射する光は概ね平行光であり、光検出器8は
反射光のファーフィールドに配置されることになる。光
検出器8は情報トラック方向に対して左右に分離して配
置され光検出索子81及び82t−有しておシ、反射光
のファーフィールドにおける左右の光強度を分離して検
出する。
増1liliI器91および92はそれぞれ光検出素子
81および82の出力電流を受けて直流成分から記録さ
れた情報に対応する高周波成分まで平坦に増幅し、それ
ぞれ光強度信号111及び112として出力する。
81および82の出力電流を受けて直流成分から記録さ
れた情報に対応する高周波成分まで平坦に増幅し、それ
ぞれ光強度信号111及び112として出力する。
ピーク検出回路11及び12は、それぞれ光強度信号1
11及び112を入力し、記録された情報により変調を
受けた光強度信号111及び112のピークレベル(F
I:#間最大値)をサンプルし平滑する。記録担体7に
情報が記録されていないところでI/i情報記録面9に
は案内溝のみが形成されておシ反射光のファーフィール
ドの左右の強度差は集束光スポットの情報トラック中心
に対する位置ずれに概ね対応して変化するが、情報が記
録されているところでは情報記録面8には穴(ビット)
が形成されておシ、ビットにおける反射率の低下。
11及び112を入力し、記録された情報により変調を
受けた光強度信号111及び112のピークレベル(F
I:#間最大値)をサンプルし平滑する。記録担体7に
情報が記録されていないところでI/i情報記録面9に
は案内溝のみが形成されておシ反射光のファーフィール
ドの左右の強度差は集束光スポットの情報トラック中心
に対する位置ずれに概ね対応して変化するが、情報が記
録されているところでは情報記録面8には穴(ビット)
が形成されておシ、ビットにおける反射率の低下。
反射光の散乱により1反射光のファーフィールドの光強
度はレベル変動、左右強度のアンバランス等を生じ左右
の光強度の差をとっても集束光スポットのトラッキング
ずれ奮を正確にとらえることができなくなる。
度はレベル変動、左右強度のアンバランス等を生じ左右
の光強度の差をとっても集束光スポットのトラッキング
ずれ奮を正確にとらえることができなくなる。
しかしこのような反射光の光強囲分布の乱れが生じるの
は、光スポットがビットに照射された場合でありビット
からはずれた部分、すなわち情報的にはオフの部分に元
スポットが当った場合は反射光の強度分布は、情報が記
録されていないところと同様の形になる。ビットからは
ずれた部分の反射率はビット部に比べて高いため、ビッ
トからはずれた部分に元が当った場合は反射光の強度は
大きくなる。従って、光強度信号111及び112のピ
ークレベルは、元スポットがビットからはずれた際の反
射光の左右それぞれの強度を示すことになシ、ピーク検
出回路11及び12でこれらのピークレベルをサンプル
することにより、ビットの影響が除かれた反射光がとら
えられる。
は、光スポットがビットに照射された場合でありビット
からはずれた部分、すなわち情報的にはオフの部分に元
スポットが当った場合は反射光の強度分布は、情報が記
録されていないところと同様の形になる。ビットからは
ずれた部分の反射率はビット部に比べて高いため、ビッ
トからはずれた部分に元が当った場合は反射光の強度は
大きくなる。従って、光強度信号111及び112のピ
ークレベルは、元スポットがビットからはずれた際の反
射光の左右それぞれの強度を示すことになシ、ピーク検
出回路11及び12でこれらのピークレベルをサンプル
することにより、ビットの影響が除かれた反射光がとら
えられる。
差動増幅器13は、ピーク検出回路11および12よ勺
それぞれ出力されるピーク信号121とピーク信号12
2のレベルの差をとり増幅してトラッキング誤差信号1
01として出力する。ピーク信号121および122は
ビットによる反射光のレベル変動の反射光分布のアンバ
ランスなどの影響が除かれた、情報が記録されていない
領域におけるのとP1様の反射光強度を示すから、トラ
ッキング誤差信号101は記録された情報による悪影響
が除かれた、情報トラックに対する集束光スポットの位
置ずれを概ね正確に示す信号となる。
それぞれ出力されるピーク信号121とピーク信号12
2のレベルの差をとり増幅してトラッキング誤差信号1
01として出力する。ピーク信号121および122は
ビットによる反射光のレベル変動の反射光分布のアンバ
ランスなどの影響が除かれた、情報が記録されていない
領域におけるのとP1様の反射光強度を示すから、トラ
ッキング誤差信号101は記録された情報による悪影響
が除かれた、情報トラックに対する集束光スポットの位
置ずれを概ね正確に示す信号となる。
このトラッキング誤差信号101をもとに集束光スポッ
トの位rRを修正することにより、集束光スポットの位
置を状報トラックの中心に正確に合わせることが可能と
なる。
トの位rRを修正することにより、集束光スポットの位
置を状報トラックの中心に正確に合わせることが可能と
なる。
第2図は本実施例に用いられるピーク検出回路11およ
び12の詳細を示す。
び12の詳細を示す。
ダイオード21および22と抵抗23により構成される
ゲート回路はピーク検出機能を有し、入力する光強度信
号111又は112のレベル(i!!圧)カコンデンサ
24の端子電圧よシ高くなった時のみ導通して、光強度
信号111又は112の電圧をコンデンサ24の端子に
印加する。コンデンサ24の端子には比較的高い値の抵
抗25が接続されておシコンデンサ24の電荷を除々に
放電させ、光強度信号111又は112のピークレベル
の低下に応じてコンデンサ24の端子電圧を除々に低下
させる。バッファアンプ26はコンデンサ24の端子電
圧を高インピーダンスで受け、後続する回路を十分ドラ
イブできる低インピーダンスのピーク信号121又は1
22に変換して出力する。このような構成によシ、光強
度信号111又は112のピークレベルがコンデンサ2
4の端子電圧としてサンプルされ、コンデンサ24及び
抵抗25の働きによって平滑化されてピーク信号121
又は122として出力される。
ゲート回路はピーク検出機能を有し、入力する光強度信
号111又は112のレベル(i!!圧)カコンデンサ
24の端子電圧よシ高くなった時のみ導通して、光強度
信号111又は112の電圧をコンデンサ24の端子に
印加する。コンデンサ24の端子には比較的高い値の抵
抗25が接続されておシコンデンサ24の電荷を除々に
放電させ、光強度信号111又は112のピークレベル
の低下に応じてコンデンサ24の端子電圧を除々に低下
させる。バッファアンプ26はコンデンサ24の端子電
圧を高インピーダンスで受け、後続する回路を十分ドラ
イブできる低インピーダンスのピーク信号121又は1
22に変換して出力する。このような構成によシ、光強
度信号111又は112のピークレベルがコンデンサ2
4の端子電圧としてサンプルされ、コンデンサ24及び
抵抗25の働きによって平滑化されてピーク信号121
又は122として出力される。
第3図は本実施例の装置における各部の信号波形の例を
示す図である。
示す図である。
波形Aは増幅器91よシ出力される光強度信号111の
波形を示す。集束光スポットが情報記録面9の情報が記
録されている領域に当っているときピットが形成されて
いる部分では反射光強度が低くなシ、ピットからはずれ
た部分では反射光強度が大きい。
波形を示す。集束光スポットが情報記録面9の情報が記
録されている領域に当っているときピットが形成されて
いる部分では反射光強度が低くなシ、ピットからはずれ
た部分では反射光強度が大きい。
ピットからはずれた部分に光スポットが当っている部分
は、情報記録面9に形成されている案内溝の働きによシ
、光スポットの情報トラックに対する位置ずれに応じて
反射光ファーフィールドにおける左右の光強度に差を生
じるため、光強度信号111のピークレベルは光スポッ
トの位置ずれに応じた変化をする。一方、ピットに光ス
ポットが当っている場合は反射光の強度には光スポット
の位置ずれに応じた変化分も含まれるがピットにおける
反射率低下、光の散乱等の影譬を受けるため、光強度信
号111のボトムレベル(最低レベル)は光スポットの
位置ずれを正確に示すものとならない。このため光強度
信号111の平均値をとっだのでは光スポットの情報ト
ラックに対する位置ずれを正確にとらえることはできな
いが、光強度信号111のピークレベルのみをサンプル
することにより概ね正確な位置ずれをとらえることがで
きる。
は、情報記録面9に形成されている案内溝の働きによシ
、光スポットの情報トラックに対する位置ずれに応じて
反射光ファーフィールドにおける左右の光強度に差を生
じるため、光強度信号111のピークレベルは光スポッ
トの位置ずれに応じた変化をする。一方、ピットに光ス
ポットが当っている場合は反射光の強度には光スポット
の位置ずれに応じた変化分も含まれるがピットにおける
反射率低下、光の散乱等の影譬を受けるため、光強度信
号111のボトムレベル(最低レベル)は光スポットの
位置ずれを正確に示すものとならない。このため光強度
信号111の平均値をとっだのでは光スポットの情報ト
ラックに対する位置ずれを正確にとらえることはできな
いが、光強度信号111のピークレベルのみをサンプル
することにより概ね正確な位置ずれをとらえることがで
きる。
波形Bは増幅器92よシ出力される光強度信号112の
波形を示す。光強度信号111と同様光強度信号112
のボトムレベルは光スポットの位置ずれを正確に示すも
のとならないが、ピークレベルは位置ずれに応じた変化
をする。なお光強度信号112のピークレベルは光スポ
ットの位置ずれに対し、光強#信号111とは逆の変化
をする。
波形を示す。光強度信号111と同様光強度信号112
のボトムレベルは光スポットの位置ずれを正確に示すも
のとならないが、ピークレベルは位置ずれに応じた変化
をする。なお光強度信号112のピークレベルは光スポ
ットの位置ずれに対し、光強#信号111とは逆の変化
をする。
波形CおよびDはそれぞれ光強度信号111および11
2のピークレベルをサンプルしたピーク信号121およ
び122の波形を示す。ピットによる光の散乱の影譬が
除かれた光強度信号111及び112のピークレベルの
みをサンプルするためピーク信号121および122は
光スポットの情報トラックに対する位置すれに概ね正確
に対応した変化をする。波形Eはピーク信号121とピ
ーり信号122の差をとることによって得られるトラッ
キング誤差信号101の波形を示す。ピットが無い部分
における反射光強度のみをサンプルしたピーク信号12
1とピーク信号122の差をとって増幅したトラッキン
グ誤差信号101は情報トラックに対する集束光スポッ
トの位置ずれを概ね正確に示すものとなる。またピット
部における反射率低下の影譬も受けないため、記録担体
7の情報が記録されている領域と情報が記録されていな
い領域とでトラッキング供差信号101のレベルが大き
く異なることも無くhる。
2のピークレベルをサンプルしたピーク信号121およ
び122の波形を示す。ピットによる光の散乱の影譬が
除かれた光強度信号111及び112のピークレベルの
みをサンプルするためピーク信号121および122は
光スポットの情報トラックに対する位置すれに概ね正確
に対応した変化をする。波形Eはピーク信号121とピ
ーり信号122の差をとることによって得られるトラッ
キング誤差信号101の波形を示す。ピットが無い部分
における反射光強度のみをサンプルしたピーク信号12
1とピーク信号122の差をとって増幅したトラッキン
グ誤差信号101は情報トラックに対する集束光スポッ
トの位置ずれを概ね正確に示すものとなる。またピット
部における反射率低下の影譬も受けないため、記録担体
7の情報が記録されている領域と情報が記録されていな
い領域とでトラッキング供差信号101のレベルが大き
く異なることも無くhる。
以上説明したように本発明は記録された情報ピットによ
り強度が低下する反射光の強度がピークとなるところで
サンプルした反射光ファーフィールドにおける光強度の
差をとらえることにより、情報ピットによる反射率低下
、光の散乱等の悪影谷を除き、情報トラックに対する集
束光スポットの位置ずれを正確に示すトラッキング誤差
信号が得られる効果がある。また本発明例よれは記録担
体7上の情報ビットが形成された領域でトラッキング誤
差信号のレベルが著しく低下するという問題もなくな夛
、情報の記録前記録後にかかわらず、概ね一定レベルの
安定したトラッキング誤差信号が得られるという効果も
ある。
り強度が低下する反射光の強度がピークとなるところで
サンプルした反射光ファーフィールドにおける光強度の
差をとらえることにより、情報ピットによる反射率低下
、光の散乱等の悪影谷を除き、情報トラックに対する集
束光スポットの位置ずれを正確に示すトラッキング誤差
信号が得られる効果がある。また本発明例よれは記録担
体7上の情報ビットが形成された領域でトラッキング誤
差信号のレベルが著しく低下するという問題もなくな夛
、情報の記録前記録後にかかわらず、概ね一定レベルの
安定したトラッキング誤差信号が得られるという効果も
ある。
第1図は本発明のトップキング誤差検出装置の一実施例
を示すブロック図、第2図は第1図の実施例に用いられ
るピーク検出回路11および12の詳細を示す図、第3
図は第1図に示す装置における各部の信号波形の例を示
す図である。
を示すブロック図、第2図は第1図の実施例に用いられ
るピーク検出回路11および12の詳細を示す図、第3
図は第1図に示す装置における各部の信号波形の例を示
す図である。
Claims (1)
- レーザ光束を集束して記録担体面上に照射し該記録担体
への情報の記録および記録された情報の再生を行なう光
学的情報記録再生装置において、前記記録担体として情
報記録面にトラッキングずれにより反射光のファーフィ
ールドにおける強度分布に差を生じるような案内溝が形
成されかつ情報の記録により反射率が低下する性質を有
する材質を使用し前記記録担体からの反射光のファーフ
ィールドにおけるトラック方向に対して左右の光強度の
差を検出するように配置された少くとも2つの光検出素
子より成る光検出器と、前記光検出器内の反射光ファー
フィールドにおける右側の光を受光する光検出素子の出
力のピーク値をサンプルし平滑する第1のピーク検出回
路と、前記光検出器内の左側の光検出素子の出力のピー
ク値をサンプルし平滑する第2のピーク検出回路と、前
記第1のピーク検出回路と第2のピーク検出回路の出力
の差をとる差動増幅器とを備え、前記差動増幅器の出力
を前記記録担体の情報トラックに対する集束された光の
トラッキングずれ信号として出力することを特徴とする
光学的情報記録再生装置におけるトラッキング誤差検出
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1044586A JPS62167628A (ja) | 1986-01-20 | 1986-01-20 | 光学的記録再生装置におけるトラツキング誤差検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1044586A JPS62167628A (ja) | 1986-01-20 | 1986-01-20 | 光学的記録再生装置におけるトラツキング誤差検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62167628A true JPS62167628A (ja) | 1987-07-24 |
Family
ID=11750346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1044586A Pending JPS62167628A (ja) | 1986-01-20 | 1986-01-20 | 光学的記録再生装置におけるトラツキング誤差検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62167628A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009289366A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Sony Corp | 光ディスク装置及び補正サーボ制御信号生成方法 |
US7995439B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-08-09 | Sony Corporation | Optical disc apparatus and optical disc replay method |
US8274875B2 (en) | 2008-05-26 | 2012-09-25 | Sony Corporation | Optical disc device and focus control method |
-
1986
- 1986-01-20 JP JP1044586A patent/JPS62167628A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7995439B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-08-09 | Sony Corporation | Optical disc apparatus and optical disc replay method |
US8274875B2 (en) | 2008-05-26 | 2012-09-25 | Sony Corporation | Optical disc device and focus control method |
JP2009289366A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Sony Corp | 光ディスク装置及び補正サーボ制御信号生成方法 |
US8040764B2 (en) | 2008-05-30 | 2011-10-18 | Sony Corporation | Optical disc apparatus and correction servo control signal generation method |
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