KR100846777B1 - 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 회로 및 그 방법 - Google Patents

광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 회로 및 그 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명에는 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 회로 및 그 방법이 개시되어 있다. 본 발명은 픽업된 재생 신호로부터 바텀 엔벨로프를 검출해서 바텀 엔벨로프 신호를 제공하고, 바텀 엔벨로프 신호를 그의 센터 레벨을 기준으로 하여 증폭해서 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 소정의 비교 전압과 비교해서 미러 신호를 검출함으로써 광 디스크에 기록된 데이터를 고속 탐색시 미러 신호를 정확히 검출할 수 있으며, 또한 고밀도 디스크 및 기타 불량 디스크(편심, 편향, 틸트, 디펙트) 또는 디포커스와 디스크내 열화에 대응하여 탐색시 정확한 미러 신호를 검출할 수 있다.

Description

광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 회로 및 그 방법{Circuit of detecting mirror signal for optical disc apparatus and method thereof}
도 1은 종래의 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 회로의 블록도,
도 2는 도 1에 도시된 미러 신호 검출 회로의 출력 파형도,
도 3a 내지 도 3d는 열악한 RFSUM 신호의 실제 파형의 예들,
도 4는 열악한 RFSUM 신호 입력시 도 1에 도시된 미러 신호 검출 회로의 출력 파형도,
도 5는 본 발명에 의한 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 회로의 블록도,
도 6은 도 5에 도시된 미러 신호 검출 회로의 출력 파형도이다.
본 발명은 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 회로 및 그 방법에 관한 것으로, 특히 고속 탐색시 또는 고밀도 디스크 및 기타 불량 디스크에 대응한 탐색시 정확한 미러 신호를 검출하는 회로 및 그 방법에 관한 것이다.
광 디스크에 기록되어 있는 데이터를 재생하는 광 디스크 장치에서 서보(servo)가 임의의 위치를 찾아갈 때, 트랙을 점프하는 동작에 의해 나타나는 신호는 트랙 크로스 신호와 미러 신호가 있다. 이 두 신호를 이용하여 트랙수를 카운팅하며, 또한 두 신호의 위상차를 이용하여 속도 제어 및 정확한 위치를 찾아낸다.
도 1은 종래의 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 회로의 블록도이다.
도 1을 참조하면, 미러 신호 검출 회로(20)는 픽업부(10)에 의해 픽업된 신호로부터 RFSUM 신호를 선택해서 이 RFSUM신호를 이용하여 미러 신호를 검출하고, 검출된 미러 신호를 서보 프로세서(30)에 제공한다.
미러 신호 검출 회로(20)의 구성은 RFSUM 신호를 선택하는 RFSUM 신호 선택부(21), RFSUM 신호의 탑 엔벨로프를 검출하는 탑 엔벨로프 검출기(22), RFSUM 신호의 바텀 엔벨로프를 검출하는 바텀 엔벨로프 검출기(23), 탑 엔벨로프 신호의 탑 레벨을 검출하는 탑 홀드부(24), 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 레벨을 검출하는 바텀 홀드부(25), 바텀 엔벨로프 신호의 증폭 및 저역 필터링을 위한 증폭기와 저역통과필터(AMP & LPF: 26), 비교 전압을 결정하는 비교 전압 결정부(27), 및 AMP & LPF(26)의 출력과 비교 전압을 비교해서 미러 신호(MIRR)를 출력하는 비교기(28)로 구성된다.
도 1에 도시된 미러 신호 검출 회로의 동작을 도 2에 도시된 파형도를 결부시켜 설명하기로 한다.
RFSUM 신호 선택부(21)는 픽업부(10)에 의해 픽업된 신호를 입력하여 RFSUM 신호(도2의 (a)) 형태로 탑 엔벨로프 검출기(22)와 바텀 엔벨로프 검출기(23)에 제 공한다. 탑 엔벨로프 검출기(22)는 RFSUM 신호의 탑 엔벨로프를 검출해서 도 2의 (b)에 도시된 바와 같은 탑 엔벨로프 신호를 출력하고, 바텀 엔벨로프 검출기(23)는 RFSUM 신호의 바텀 엔벨로프를 검출해서 도 2의 (c)에 도시된 바와 같은 바텀 엔벨로프 신호를 출력한다. 탑 홀드부(24)는 탑 엔벨로프 신호를 홀드시켜 탑 레벨을 검출하여 도 2의 (d)에 도시된 바와 같은 탑 홀드 신호를 출력하고, 바텀 홀드부(25)는 바텀 엔벨로프 신호를 홀드시켜 바텀 레벨을 검출하여 도 2의 (e)에 도시된 바와 같은 바텀 홀드 신호를 출력한다.
바텀 엔벨로프 검출기(23)로부터 출력되는 바텀 엔벨로프 신호(도 2의 (c))는 AMP & LPF(26)의 입력 신호가 되며, 바텀 홀드부(25)로부터 출력되는 바텀 홀드 신호(도 2의 (e))는 AMP & LPF(26)의 기준(reference) 전압 레벨로 입력된다. AMP & LPF(26)는 바텀 엔벨로프 신호에 대해 바텀 홀드 신호를 기준으로하여 증폭 및 저역 필터링한다. 동시에 비교 전압 결정부(27)는 탑 홀드부(24)와 바텀 홀드부(25)로부터 각각 출력되는 탑 홀드 신호와 바텀 홀드 신호, 이 두 신호를 각각 소정 레벨(level)로 조정하여 비교기(28)의 비교 전압 즉, 슬라이스 레벨(slice level)로 제공한다. 비교기(28)는 AMP & LPF(26)의 출력 전압 신호와 비교 전압 결정부(27)에서 결정된 비교 전압을 비교하여 도 2의 (f)에 도시된 바와 같은 디지털 신호의 미러 신호(MIRR)를 서보 프로세서(30)에 제공한다.
한편, 고밀도 및 불량(편향, 편심, 틸트, 결함 등) 디스크를 사용할 경우, 또는 디스크가 디포커스되거나 디스크내 열화(degradation)가 존재할 경우, 탐색(seek)을 수행하게 되면 도 3a 내지 도 3d에 도시된 바와 같이 열악한 RFSUM 신호가 나타나게 된다. 도 3a 및 도 3b는 디스크가 편향되고 틸트된 경우 열악해진 RFSUM 신호의 실제 파형을 나타내고 있으며, 도 3c는 지문(fingerprints)에 의해 열악해진 RFSUM 신호의 실제 파형을 나타내고 있으며, 도 3d는 디스크의 결함에 의해 열악해진 RFSUM 신호의 실제 파형을 나타내고 있다.
이러한 열악한 RFSUM 신호에 의해, 바텀 엔벨로프 신호 또한 열악(신호 크기가 작아지고 일정치 않음)해진다. 이것은 비교기(28)에서 디지털 신호(로직 "하이" 또는 로직 "로우")로 만들 때 글리치(glitch)를 발생시키며, 또한 듀티 싸이클(duty cycle)이 틀어지게 만들어 결국 정밀한 탐색을 어렵게 만든다. 이러한 문제를 해결하기 위해서는 AMP & LPF(26)에서 적절한 신호 증폭 및 저역 필터링이 필요하게 된다. 그러나, 저역 필터링만으로는 글리치를 완전히 제거할 수 없으므로 비교기(28)에서 적절한 히스테리시스(hysteresis) 및 비교 전압 조정이 필요하게 된다.
즉, 도 4의 (a)에 도시된 바와 같은 열악한 RFSUM 신호가 탑 엔벨로프 검출기(22)와 탑 홀드부(24)를 거치게 되면 탑 엔벨로프 신호와 탑 홀드 신호는 도 4의 (b)에 도시된 바와 같고, 열악한 RFSUM 신호가 바텀 엔벨로프 검출기(23)와 바텀 홀드부(25)를 거치게 되면 바텀 엔벨로프 신호와 바텀 홀드 신호는 도 4의 (c)에 도시된 바와 같다. AMP & LPF(26)는 바텀 홀드된 전압 레벨을 기준으로하여 바텀 엔벨로프 신호를 증폭하고, 증폭된 바텀 엔벨로프 신호는 비교 전압 결정부(27)에서 결정된 적절한 기준 전압(슬라이스 레벨)으로 슬라이스하여 미러 신호를 검출한다.
그런데, 바텀 엔벨로프 신호가 작은 경우 큰 증폭도로 증폭을 해야 하고, 디스크 종류에 따른 반사율의 편차에 의해 바텀 엔벨로프 신호의 차이가 생기는 경우 임의의 한 값으로 AMP & LPF(26)의 증폭도 및 비교기(28)의 기준 레벨을 정해야 한다. 전자의 경우 포화(saturation)가 일어날 가능성이 높아지며, 후자의 경우는 소정의 임의값으로 증폭도 및 기준 레벨을 고정해야 한다.
신호 증폭시 기준은 신호의 센터(center) 값을 사용해야만 포화가 안 일어나고 증폭을 크게 시킬 수 있지만 도 1에 도시된 미러 신호 검출 회로(20)에서는 바텀 홀드된 전압 레벨을 기준으로 바텀 엔벨로프 신호를 증폭하고 있기 때문에 증폭된 바텀 엔벨로프 신호의 센터 레벨(center level)은 비교기(28)의 비교 전압(슬라이스 레벨)과 너무 큰 차이가 생기게 되어 도 4의 (d)에 도시된 바와 같이 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 제대로 슬라이스를 할 수 없게 된다. 따라서, 비교기(28)는 도 4의 (e)에 도시된 바와 같이 제대로 된 미러 신호를 검출할 수 없게 된다. 또한, 이런 현상을 방지하기 위해 AMP & LPF(26)에서 신호 증폭을 안 시키고 비교기(28)에서 히스테리시스를 주지 않을 경우에는 잡음의 영향을 받아 부정확한 미러 신호가 검출되는 문제점이 있었다.
상기한 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명의 목적은 고속 탐색시 미러 신호를 정확하게 검출하는 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 회로 및 그 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명의 다른 목적은 고밀도 디스크나 기타 불량 디스크에 대응하여 탐색 시 미러 신호를 정확하게 검출하는 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 회로 및 그 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 픽업된 재생 신호로부터 바텀 엔벨로프 신호를 그 신호의 센터 레벨을 이용하여 증폭해서 미러 신호를 정확하게 검출하는 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 회로 및 그 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명에 따르면, 상기 목적은 디스크의 트랙 탐색 또는 점프시에 픽업부에 의해 픽업된 재생 신호로부터 검출된 미러 신호를 이용하여 상기 픽업부를 목표 트랙으로 이동시키는 서보를 포함하는 광 디스크 장치에 있어서: 상기 픽업된 재생 신호로부터 바텀 엔벨로프를 검출해서 바텀 엔벨로프 신호를 제공하는 제1 검출기; 상기 바텀 엔벨로프 신호를 그의 센터 레벨을 기준으로 하여 증폭해서 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 제공하는 처리기; 및 상기 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 소정의 비교 전압과 비교해서 미러 신호를 검출하는 제2 검출기를 포함하는 미러 신호 검출 회로에 의해 달성된다.
상기 픽업된 재생 신호는 RFSUM 신호 형태인 것이 바람직하고, 상기 소정의 비교 전압의 레벨은 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨과 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 레벨내의 적정 레벨로 설정되는 것이 바람직하다.
본 발명의 다른 분야에 따르면, 상기 목적은 디스크의 고속 탐색 또는 점프시, 픽업부를 목표 트랙으로 이동시키기 위해 사용되는 미러 신호를 상기 픽업부에 의해 픽업된 재생 신호로부터 검출하는 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 방 법에 있어서: (a) 상기 픽업된 재생 신호로부터 바텀 엔벨로프를 검출해서 바텀 엔벨로프 신호를 제공하는 단계; (b) 상기 바텀 엔벨로프 신호를 그의 센터 레벨을 기준으로 하여 증폭해서 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 제공하는 단계; 및 (c) 상기 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 소정의 비교 전압과 비교해서 미러 신호를 검출하는 단계를 포함하는 미러 신호 검출 방법에 의해 달성된다.
상기 픽업된 재생 신호는 RFSUM 신호 형태인 것이 바람직하고, 상기 소정의 비교 전압의 레벨은 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨과 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 레벨내의 적정 레벨로 설정되는 것이 바람직하다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명하기로 한다.
도 5는 본 발명에 의한 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 회로의 블록도이다.
도 5를 참조하면, 픽업부(100)에 의해 일 예로 그루브에만 데이터가 기록된 광 디스크에서 픽업된 신호를 입력하는 미러 신호 검출 회로(200)에서 미러 신호를 검출하고, 검출된 미러 신호를 서보 프로세서(300)에 제공한다.
미러 신호 검출 회로(200)는 RFSUM 신호를 선택하는 RFSUM 신호 선택부(210), RFSUM 신호의 바텀 엔벨로프를 검출해서 바텀 엔벨로프 신호를 출력하는 바텀 엔벨로프 검출기(220), 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨을 검출하는 탑 홀드부(230), 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 레벨을 검출하는 바텀 홀드부(240), 탑 레벨과 바텀 레벨과의 센터 레벨을 검출하는 센터 레벨 검출부(250), 센터 레벨을 기준으로하여 바텀 엔벨로프 신호의 증폭 및 저역 필터링하는 AMP & LPF(260), 비교 전압을 결정하는 비교 전압 결정부(270), 및 AMP & LPF(260)의 출력 전압과 비교 전압을 비교해서 디지털 신호의 미러 신호(MIRR)를 출력하는 비교기(280)로 구성된다.
도 5에 도시된 미러 신호 검출 회로의 동작을 도 6에 도시된 파형도와 결부시켜 설명하기로 한다.
RFSUM 신호 선택부(210)는 픽업부(100)에 의해 픽업된 신호로부터 RFSUM 신호(도 6의 (a): RFSUM 신호가 열악한 경우임)형태로 바텀 엔벨로프 검출기(220)에 제공한다. 픽업부(100)에 의해 픽업된 신호는 픽업부(100)의 4분할 포토다이오드(도시되지 않음)로부터 출력되는 A(좌측의 상단),B(우측의 상단),C(우측의 하단),D(좌측의 하단)로 표현되는 각각의 신호일 수도 있거나 두 채널의 차동 출력 신호(RFIN(+):(A+D)-(B+C);좌측의 두 전기적 신호들의 합신호에서 우측의 두 전기적 신호들의 합신호와의 차신호, RFIN(-):(B+C)-(A+D); 우측의 두 전기적 신호들의 합신호와 좌측의 두 전기적 신호들의 합신호와의 차신호)일 수도 있거나, 4채널의 합신호(A+B+C+D)인 RFSUM 신호일 수 도 있다.
바텀 엔벨로프 검출기(220)는 RFSUM 신호(도 6의 (a))의 바텀 엔벨로프를 검출해서 도 6의 (b)에 도시된 바와 같은 바텀 엔벨로프 신호를 출력한다. 이 바텀 엔벨로프 신호는 탑 홀드부(230)와 바텀 홀드부(240)를 거치면 도 6의 (c)에 도시된 바와 같이 탑 홀드 신호와 바텀 홀드 신호로 출력된다. 센터 레벨 검출기(250)는 탑 홀드부(230)로부터 출력되는 바텀 엔벨로프 신호의 탑 홀드 신호와 바텀 홀 드부(240)로부터 출력되는 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 홀드 신호와의 센터 레벨을 검출하고, 검출된 센터 레벨은 도 6의 (c)에 도시되어 있다. 여기서, AMP & LPF(260)에서 신호 증폭시 기준은 신호의 센터(center) 값을 사용해야만 포화가 안 일어나고 증폭을 크게 시킬 수 있기 때문에 본 발명에서는 센터 레벨 검출기(250)에 의해 검출된 바텀 엔벨로프 신호의 센터 레벨을 기준으로 하여 바텀 엔벨로프 신호를 증폭한다.
즉, 바텀 엔벨로프 검출기(220)에서 검출된 바텀 엔벨로프 신호(도 6의 (b))는 AMP & LPF(260)의 입력 신호가 되며, AMP & LPF(260)의 기준 전압 레벨은 센터 레벨 검출기(250)로부터 출력되는 도 6의 (c)에 도시된 바와 같은 탑 홀드 신호와 바텀 홀드 신호와의 센터 레벨을 사용한다. AMP & LPF(260)는 이 센터 레벨을 기준으로 하여 바텀 엔벨로프된 신호를 증폭 및 저역 필터링하여 도 6의 (d)에 도시된 바와 같이 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 출력한다.
비교 전압 결정부(270)는 탑 홀드부(230)로부터 출력되는 바텀 엔벨로프 신호의 탑 홀드 신호와 바텀 홀드부(240)로부터 출력되는 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 홀드 신호, 이 두 신호의 레벨을 각각 소정 레벨로 조정해서 비교기(280)의 비교 전압 즉, 도 6의 (d)에 도시된 바와 같은 슬라이스 레벨로 제공한다. 이 비교 전압의 레벨은 탑 홀드 레벨과 바텀 홀드 레벨 내의 적정 레벨로 설정된다. 비교기(280)는 AMP & LPF(260)로부터 출력되는 증폭된 바텀 엔벨로프 신호와 비교 전압 결정부(270)부터 제공되는 비교 전압을 비교해서 도 6의 (e)에 도시된 바와 같은 디지털 신호의 미러 신호(MIRR)로 서보 프로세서(300)에 출력한다.
서보 프로세서(300)는 디스크의 트랙 탐색 또는 점프시에 미러 신호 검출 회로(200)로부터 출력되는 미러 신호(MIRR)에 따라 점프한 트랙 수를 계수하고 목표 트랙까지 픽업부(100)가 이동시키기 위한 서보 제어 신호를 생성하고, 서보 구동부(도시되지 않음)는 서보 프로세서(300)의 서보 제어 신호에 근거하여 구동되어 픽업부(100)를 목표 트랙으로 이동시킨다. 여기서, 서보 프로세서(300)와 서보 구동부를 서보라고 지칭될 수 있다.
본 발명은 광 디스크의 기록 및/또는 재생 시스템의 서보 신호 처리 분야에 널리 적용되어질 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 광 디스크에 기록된 데이터를 고속 탐색시 미러 신호를 정확히 검출할 수 있으며, 노이즈에 의한 미러 신호의 오검출을 줄일 수 있으며, 또한 고밀도 디스크 및 기타 불량 디스크(편심, 편향, 틸트, 디펙트) 또는 디포커스와 디스크내 열화에 대응하여 탐색시 정확한 미러 신호를 검출할 수 있으며, 이로 인하여 탐색 성능을 향상시켜 전체 시스템 성능을 향상시킨다.

Claims (18)

  1. 디스크의 트랙 탐색 또는 점프시에 픽업부에 의해 픽업된 재생 신호로부터 검출된 미러 신호를 이용하여 상기 픽업부를 목표 트랙으로 이동시키는 서보를 포함하는 광 디스크 장치에 있어서:
    상기 픽업된 재생 신호로부터 바텀 엔벨로프를 검출해서 바텀 엔벨로프 신호 를 제공하는 제1 검출기;
    상기 바텀 엔벨로프 신호를 그의 센터 레벨을 기준으로 하여 증폭해서 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 제공하는 처리기; 및
    상기 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 소정의 비교 전압과 비교해서 미러 신호를 검출하는 제2 검출기를 포함하는 미러 신호 검출 회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 픽업된 재생 신호는 RFSUM 신호 형태인 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 처리기는
    상기 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨을 검출하는 제3 검출기;
    상기 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 레벨을 검출하는 제4 검출기;
    상기 탑 레벨과 바텀 레벨과의 센터 레벨을 검출하는 제5 검출기; 및
    상기 센터 레벨을 기준으로 하여 상기 바텀 엔벨로프 신호를 증폭하고 저역 필터링하는 증폭기 & 저역통과필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 회로.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제2 검출기는
    상기 제3 검출기로부터 출력되는 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨과 상기 제4 검출기로부터 출력되는 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 레벨, 이 두 레벨을 조정해서 비교 전압을 결정하는 비교 전압 결정부; 및
    상기 증폭된 바텀 엔벨로프 신호와 상기 비교 전압을 비교해서 디지털 신호의 미러 신호를 제공하는 비교기를 포함하는 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 회로.
  5. 제4항에 있어서, 상기 비교 전압의 레벨은 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨과 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 레벨내의 적정 레벨로 설정되는 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 회로.
  6. 디스크의 고속 탐색 또는 점프시, 픽업부에 의해 픽업된 재생 신호로부터 검출된 미러 신호를 이용하여 상기 픽업부를 목표 트랙으로 이동시키는 서보를 포함하는 광 디스크 장치에 있어서:
    상기 픽업된 재생 신호로부터 바텀 엔벨로프를 검출해서 바텀 엔벨로프 신호를 제공하는 바텀 엔벨로프 검출기;
    상기 바텀 엔벨로프 신호를 홀드시켜 탑 레벨을 검출하는 탑 홀드부;
    상기 바텀 엔벨로프 신호를 홀드시켜 바텀 레벨을 검출하는 바텀 홀드부;
    상기 탑 레벨과 바텀 레벨과의 센터 레벨을 검출하는 센터 레벨 검출기;
    상기 센터 레벨을 기준으로 하여 상기 바텀 엔벨로프 신호를 증폭하는 증폭기;
    상기 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨과 바텀 레벨, 이 두 레벨을 조정해서 비 교 전압을 결정하는 비교 전압 결정부; 및
    상기 증폭된 바텀 엔벨로프 신호와 상기 비교 전압을 비교해서 디지털 신호의 미러 신호를 제공하는 비교기를 포함하는 미러 신호 검출 회로.
  7. 제6항에 있어서, 상기 픽업된 재생 신호는 RFSUM 신호 형태인 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 회로.
  8. 제6항에 있어서, 상기 비교 전압의 레벨은 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨과 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 레벨내의 적정 레벨로 설정되는 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 회로.
  9. 제6항에 있어서, 상기 증폭기의 출력을 저역 필터링해서 그 결과를 상기 비교기에 제공하는 저역통과필터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 회로.
  10. 디스크의 고속 탐색 또는 점프시, 픽업부를 목표 트랙으로 이동시키기 위해 사용되는 미러 신호를 상기 픽업부에 의해 픽업된 재생 신호로부터 검출하는 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 방법에 있어서:
    (a) 상기 픽업된 재생 신호로부터 바텀 엔벨로프를 검출해서 바텀 엔벨로프 신호를 제공하는 단계;
    (b) 상기 바텀 엔벨로프 신호를 그의 센터 레벨을 기준으로 하여 증폭해서 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 제공하는 단계; 및
    (c) 상기 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 소정의 비교 전압과 비교해서 미러 신호를 검출하는 단계를 포함하는 미러 신호 검출 방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 픽업된 재생 신호는 RFSUM 신호 형태인 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 방법.
  12. 제10항에 있어서, 상기 (b)단계는
    (b1) 상기 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨을 검출하는 단계;
    (b2) 상기 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 레벨을 검출하는 단계;
    (b3) 상기 탑 레벨과 바텀 레벨과의 센터 레벨을 검출하는 단계; 및
    (b4) 상기 센터 레벨을 기준으로 하여 상기 바텀 엔벨로프 신호를 증폭하고 저역 필터링하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 (c)단계는
    (c1) 상기 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨과 상기 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 레벨, 이 두 레벨을 조정해서 비교 전압을 결정하는 단계; 및
    (c2) 상기 증폭된 바텀 엔벨로프 신호와 상기 비교 전압을 비교해서 디지털 신호의 미러 신호를 제공하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 방법.
  14. 제13항에 있어서, 상기 비교 전압의 레벨은 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨과 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 레벨내의 적정 레벨로 설정되는 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 방법.
  15. 디스크의 고속 탐색 또는 점프시, 픽업부를 목표 트랙으로 이동시키기 위해 사용되는 미러 신호를 상기 픽업부에 의해 픽업된 재생 신호로부터 검출하는 광 디스크 장치를 위한 미러 신호 검출 방법에 있어서:
    (a) 상기 픽업된 재생 신호로부터 바텀 엔벨로프를 검출해서 바텀 엔벨로프 신호를 제공하는 단계;
    (b) 상기 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨과 바텀 레벨을 검출하는 단계;
    (c) 상기 탑 레벨과 바텀 레벨과의 센터 레벨을 검출하는 단계;
    (d) 상기 센터 레벨을 기준으로 하여 상기 바텀 엔벨로프 신호를 증폭해서 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 제공하는 단계;
    (e) 상기 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨과 바텀 레벨, 이 두 레벨을 조정해서 슬라이스 레벨로 사용되는 비교 전압을 제공하는 단계; 및
    (f) 상기 증폭된 바텀 엔벨로프 신호와 상기 비교 전압을 비교하여 디지털 신호의 미러 신호를 제공하는 단계를 포함하는 미러 신호 검출 방법.
  16. 제15항에 있어서, 상기 픽업된 재생 신호는 RFSUM 신호 형태인 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 방법.
  17. 제15항에 있어서, 상기 비교 전압의 레벨은 바텀 엔벨로프 신호의 탑 레벨과 바텀 엔벨로프 신호의 바텀 레벨내의 적정 레벨로 설정되는 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 방법.
  18. 제15항에 있어서, 상기 증폭된 바텀 엔벨로프 신호를 저역 필터링해서 그 결과를 상기 (f)단계에 제공하는 단계(g)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 미러 신호 검출 방법.
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