CN101159143B - 光驱跨轨信号产生装置与方法 - Google Patents

Abstract

本发明揭示一种光驱跨轨信号产生装置与方法。该跨轨信号产生装置运用于光学读取头跨越光盘片的数据轨道，包括：一底包络检测单元用以接收一射频信号并产生一底包络信号；一缺陷检测器连接至该底包络检测单元用以接收该底包络信号并因应该数据轨道出现缺陷时产生一缺陷信号；一自动增益控制单元连接至该底包络检测单元用以接收该底包络信号并因应该底包络信号的大小动态地改变增益值；以及，一放大器连接至该底包络检测单元与该自动增益控制单元用以接收该底包络信号并因应该增益值而放大该底包络信号成为一跨轨信号且该跨轨信号介于一饱满范围之间；其中，当该缺陷信号产生时，该自动增益控制单元维持输出的该增益值保持不变直到该缺陷信号结束。

Description

光驱跨轨信号产生装置与方法

技术领域

本发明涉及一种光驱中的信号产生装置与方法，且特别是涉及光驱中跨轨信号产生装置与方法。

背景技术

众所周知，在光盘片上有大量的轨道(track)以螺旋状的方式紧密的排列，用以存储数据。当光学读取头(pick-up head)需要读取不同轨道上的数据时，就利用滑车马达(Sled Motor)来驱动配置有光学读取头的平台，进行跨轨(seeking)的动作并将光学读取头移到正确的轨道位置上进行数据的读取。

再者，光学读取头上的四象限光电二极管(photodiode)接收从光盘片上反射回来的镭射光，根据各象限接收到的镭射光强弱转换成相对应的电子信号，再组合成射频信号(radio frequency signal；RF signal)。射频信号再经过跨轨信号产生电路，产生跨轨信号(track-crossing signal)，并利用一适当的限幅电平(slice level)，产生一限幅后的跨轨信号(sliced track-crossing signal)。也就是说，根据射频信号(RF signal)在跨轨时的变化，可使得跨轨信号和限幅后的跨轨信号也作相对应的变化，借此可以让伺服处理器(servo processor)做跨轨(track crossing)和循轨(track following)的控制。

请参照图1，其所绘示为公知的限幅后的跨轨信号产生电路。该限幅后的跨轨信号产生电路包括：顶包络检测单元(top envelope detecting unit)10、底包络检测单元(bottom envelope detecting unit)20、跨轨信号产生器(track-crossing signal generator)30、限幅电平产生器(slice level generator)40、以及比较器50。将射频信号同时输入顶包络检测单元10、底包络检测单元20后，顶包络检测单元10可以输出该射频信号的一顶包络信号(top envelopesignal)而底包络检测单元20可以输出该射频信号的一底包络信号(bottomenvelope signal)，而跨轨信号产生器30将该顶包络信号减去该底包络信号后即成为一跨轨信号(track-crossing signal)。再者，一限幅电平产生器40接收该跨轨信号并产生一限幅电平；一比较器接收该跨轨信号与该限幅电平后产生一限幅后的跨轨信号(sliced track-crossing signal)。

请参照图2，其所绘示为光学读取头进行跨轨时的射频信号、顶包络信号、底包络信号、跨轨信号、限幅电平、限幅后的跨轨信号。一般来说，光学读取头在轨道之间移动时，射频信号的底包络信号会随着光学读取头的激光束聚焦点的位置而改变。如图2所示，当激光束的聚焦点位于轨道之间时，底包络信号会有相对最大值(local maximum)；当激光束的聚焦点位于轨道上时，底包络信号会有相对最小值(local minimum)。因此，当光学读取头在跨轨时，如图2所示，顶包络检测单元10所输出的该顶包络信号几乎为一定値；而底包络检测单元20输出的该底包络信号则随着激光束的聚焦点位置而变化。

再者，跨轨信号产生器30将该顶包络信号减去该底包络信号后即成为该跨轨信号。而限幅电平产生器40根据该跨轨信号产生该限幅电平以及利用该比较器50来比较该跨轨信号与该限幅电平并产生该限幅后的跨轨信号。

一般来说，光驱中的伺服控制系统可以根据限幅后的跨轨信号来确认该光学读取头的位置以及跨越的轨道数目。举例来说，当限幅后的跨轨信号产生一个脉冲(pulse)，则可确认光学读取头跨过一个轨道，而计算限幅后的跨轨信号产生的脉冲数目即可确认光学读取头跨过轨道的数目。再者，当限幅后的跨轨信号在高电平时，可确认光学读取头的激光束聚焦点在轨道上，反之，当限幅后的跨轨信号在低电平时，可确认光学读取头的激光束聚焦点并未在轨道上。

然而，当光驱读取劣质光盘片或者被污染的光盘片(指纹或灰尘污染)时，会造成射频信号的恶化(deteriorate)。而恶化的射频信号会造成顶包络信号的变化，此时，如果将恶化的射频信号输入至图1的限幅后的跨轨信号产生电路，则会产生错误的限幅后的跨轨信号，因此，光驱中的伺服控制系统无法确认该光学读取头的位置以及跨越的轨道数目并导致跨轨失败。

针对上述问题，美国专利US6967906提出一种使用于光驱中检测镜面信号的方法与电路(circuit and method for detecting mirror signal for optical discapparatus)。该方法并不参考顶包络信号而直接利用底包络信号来产生限幅后的跨轨信号，其中，该专利中的镜面信号(mirror signal)即可视为上述的限幅后的跨轨信号。

请参照图3，其绘示揭露在US6967906中限幅后的跨轨信号产生电路。该限幅后的跨轨信号产生电路包括：一底包络检测器(bottom envelopedetector)220、顶端维持单元(top holding unit)230、底端维持单元(bottomholding unit)240、中心电平检测器(center level detector)250、放大与低通滤波器(AMP&LPF)260、比较电压决定器(comparison voltage determiner)270、以及比较器280。将射频信号输入底包络检测器220即可输出该射频信号的一底包络信号。接着，将该底包络信号输入该顶端维持单元230、该底端维持单元240、以及该放大与低通滤波器260。根据该底包络信号，顶端维持单元230可输出一顶端维持信号(top holding signal)，该顶端维持信号会维持在该底包络信号的相对高値；同理，根据该底包络信号，底端维持单元240可输出一底端维持信号(bottom holding signal)，该底端维持信号会维持在该底包络信号的相对低値。

再者，中心电平检测器250可以输出一中心电平(center level)，该中心电平会维持在该顶端维持信号与该底端维持信号的中心値。同理，比较电压决定器270可以输出一比较电压(comparison voltage)，且该比较电压通过控制会介于该顶端维持信号与该底端维持信号之间。当放大与低通滤波器260接收该中心电平与该底包络信号后，该放大与低通滤波器260会根据该中心电平来放大该底包络信号成为一放大的底包络信号。最后，该比较器280比较该放大的底包络信号与该比较电压后输出一镜面信号(限幅后的跨轨信号)。使得伺服控制系统(未绘示)可以根据该镜面信号来确认该光学读取头的位置以及跨越的轨道数目。其中，该比较电压即可视为一限幅电平。

请参照图4A至4E，其绘示该专利所提出光学读取头进行跨轨时的射频信号、底包络信号、顶端维持信号、底端维持信号、放大的底包络信号、中心电平、比较电压、与镜面信号。当光驱读取劣质光盘片或者被污染的光盘片(指纹或灰尘污染)时，会造成射频信号的恶化。如图4A所示，恶化的射频信号会造成顶包络信号的变化，而底包络信号较不受到影响。再者，当激光束的聚焦点位于轨道上时，底包络信号会有最小值。因此，当光学读取头在轨道之间移动时，如图4B所示，底包络检测器220输出的该底包络信号则随着激光束的聚焦点位置而变化。

再者，如图4C所示，根据该底包络信号，顶端维持单元230可输出一顶端维持信号用以维持在该底包络信号的相对高値，而底端维持单元240可输出一底端维持信号用以维持在该底包络信号的相对低値。再者，中心电平则介于顶端维持信号与底端维持信号的中心位置。如图4D所示，比较器280比较该放大的底包络信号与该比较电压后输出如图4E所示的镜面信号(限幅后的跨轨信号)。

虽然美国专利US6967906所揭示的技术可以有效地运用在一般具有暗缺陷(dark defect)的劣质光盘片或者被污染的光盘片。然而，上述技术无法运用于具有深缺陷(deep defect)的光盘片或是具有光亮缺陷(bright defect)的光盘片。

请参照图5A至5D，其所绘示为遇到光盘片上的深缺陷时，美国专利US6967906所提出光学读取头进行跨轨时的射频信号、底包络信号、顶端维持信号、底端维持信号、中心电平与镜面信号。

当光学读取头所发射的激光束聚焦点移动到深缺陷时，由于此区域几乎不会反射激光束，因此，如图5A所示，射频信号会突然降低。也就是说，当激光束的聚焦点位于深缺陷时，射频信号会完全变形。而图5B则为底包络检测器220输出的该底包络信号。

因此，如图5C所示，顶端维持单元230可输出一顶端维持信号用以维持在该底包络信号的相对高値，而底端维持单元240可输出一底端维持信号用以维持在该底包络信号的相对低値。再者，中心电平则介于顶端维持信号与底端维持信号的中心位置。如图5D所示即为比较器280输出的的镜面信号。

因此，由图5C可知，当激光束的聚焦点通过深缺陷之后，由于底端维持信号受缺陷的影响而产生巨幅变化，且无法在短时间内回到正常的电平，使得中心电平偏移过多，造成中心电平与比较电压的大幅变化。而利用比较电压来作为限幅电平输入至比较器280后，如图5D所示，通过深缺陷之后镜面信号无法输出正确的脉冲，使得伺服控制系统无法得知光学读取头跨越轨道的数目，因而产生跨轨错误。

同理，当光学读取头所发射的激光束聚焦点移动到光亮缺陷时，由于此区域会反射大部分的激光束，因此，如图6A所示，射频信号会突然升高。也就是说，当激光束的聚焦点位于光亮缺陷时，射频信号会完全变形。而图6B则为底包络检测器220输出的该底包络信号。

因此，如图6C所示，顶端维持单元230可输出一顶端维持信号用以维持在该底包络信号的相对高値，而底端维持单元240可输出一底端维持信号用以维持在该底包络信号的相对低値。再者，中心电平则介于顶端维持信号与底端维持信号的中心位置。如图6D所示即为比较器280输出的镜面信号。

因此，由图6C可知，当激光束的聚焦点通过光亮缺陷之后，顶端维持信号受缺陷的影响而产生巨幅变化，且无法在短时间内回到正常的电平，使得中心电平偏移过多，造成中心电平与比较电压的大幅变化。而利用比较电压来作为限幅电平输入至比较器280后，如图6D所示，通过光亮缺陷之后镜面信号无法输出正确的脉冲，使得伺服控制系统无法得知光学读取头跨越轨道的数目，因而产生跨轨错误。

发明内容

由于在公知方法中，底端维持信号或顶端维持信号在遇到缺陷时产生巨大变化，使得中心电平错误，导致放大后的跨轨信号偏向一边，所以比较电压不易切到跨轨信号，而产生漏切或漏轨的情况。因此，如何针对光盘片上的缺陷来设计一光驱中跨轨信号产生装置与方法则为本发明最主要的目的。

进一步而言，本发明的目的是提出一种光驱中跨轨信号产生装置与方法，使得激光束的聚焦点跨过缺陷区域时能够正确的产生跨轨信号以及限幅后的跨轨信号。

因此，本发明提出一种跨轨信号产生装置，运用于光学读取头跨越光盘片的数据轨道，包括：一底包络检测单元用以接收一射频信号并产生一底包络信号；一缺陷检测器连接至该底包络检测单元用以接收该底包络信号并因应该数据轨道出现一缺陷时产生一缺陷信号；一自动增益控制单元连接至该底包络检测单元用以接收该底包络信号并因应该底包络信号的大小动态地改变一增益值；以及，一放大器连接至该底包络检测单元与该自动增益控制单元，以接收该底包络信号并因应该增益值而放大该底包络信号成为一跨轨信号，且该跨轨信号介于一饱满范围之间且趋近于整个范围；其中，当该缺陷信号产生时，该自动增益控制单元维持输出的该增益値保持不变直到该缺陷信号结束。

因此，本发明还提出一种跨轨信号产生方法，运用于光学读取头跨越光盘片的数据轨道，包括：接收一射频信号并产生该射频信号的一底包络信号；当该底包络信号高于或低于预设的临界值时产生一缺陷信号；以及，动态地放大该底包络信号用以产生一跨轨信号且该跨轨信号介于一饱满范围之间且趋近于整个范围；其中，当该缺陷信号产生时，该跨轨信号维持在该饱满范围之间且趋近于整个范围直到该缺陷信号结束。

因此，本发明还提出一种跨轨信号产生装置，运用于一光学读取头跨越一光盘片的数据轨道，包括：一底包络检测单元，用以接收一射频信号并输出一底包络信号；一缺陷检测器，用以接收该射频信号并在该数据轨道出现一缺陷时产生一缺陷信号；一自动增益控制单元，连接至该底包络检测单元以接收该底包络信号并根据该底包络信号的振幅大小而动态地改变一增益值；以及，一放大器，连接至该底包络检测单元与该自动增益控制单元以接收该底包络信号并根据该增益值而动态调整该底包络信号，接着将该底包络信号输出成为一跨轨信号。

为了使贵审查委员能进一步了解本发明特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明，并非用来对本发明加以限制。

附图说明

图1为公知的限幅后的跨轨信号产生电路。

图2为光学读取头进行跨轨时的射频信号、顶包络信号、底包络信号、跨轨信号、限幅电平、限幅后的跨轨信号。

图3为公知的限幅后的跨轨信号产生电路。

图4A至4E为公知光学读取头进行跨轨时的射频信号、底包络信号、顶端维持信号、底端维持信号、放大的底包络信号、中心电平、比较电压、与镜面信号图。

图5A至5D为遇到光盘片上的深缺陷时，公知方法的光学读取头进行跨轨时的射频信号、底包络信号、顶端维持信号、底端维持信号、中心电平与镜面信号图。

图6A至6D为遇到光盘片上的光亮缺陷时，公知方法的光学读取头进行跨轨时的射频信号、底包络信号、顶端维持信号、底端维持信号、中心电平与镜面信号图。

图7为本发明的跨轨信号产生电路的第一实施例。

图8为本发明的跨轨信号产生电路的第二实施例。

图9A至9D为本发明第一实施例与第二实施例的光学读取头进行跨轨时的射频信号、底包络信号、跨轨信号、限幅电平、与限幅后的跨轨信号图。

图10A至10E为本发明第一实施例与第二实施例的光学读取头进行跨轨经过深缺陷时的射频信号、底包络信号、跨轨信号、限幅电平、与限幅后的跨轨信号图。

图11A至11E为本发明第一实施例与第二实施例的光学读取头进行跨轨经过光亮缺陷时的射频信号、底包络信号、跨轨信号、限幅电平、与限幅后的跨轨信号图。

其中，附图标记说明如下：

10  顶包络检测单元        20  底包络检测单元

30  跨轨信号产生器        40  限幅电平产生器

50  比较器                220 底包络检测器

230 顶端维持单元          240 底端维持单元

250 中心电平检测器        260 放大与低通滤波器

270 比较电压决定器        280 比较器

310 底包络检测单元        320 缺陷检测器

330 自动增益控制单元      340 放大器

350 偏移量追踪单元

具体实施方式

请参照图7，其所绘示为本发明的跨轨信号产生电路的第一实施例。该跨轨信号产生电路包括：底包络检测单元(bottom envelope detectingunit)310、缺陷检测器(defect detector)320、自动增益控制单元(auto gaincontrol unit)330、放大器(amplifier)340、与偏移量追踪单元(bias trackingunit)350。射频信号输入底包络检测单元310用以产生一底包络信号至放大器340、缺陷检测器320、以及自动增益控制单元330。另外，射频信号输入偏移量追踪单元350用以产生一偏移量(bias)至该放大器340，其中，该偏移量追踪单元350所输出的该偏移量是射频信号的最小值与一参考电平(例如0电压电平)之间的差值。

自动增益控制单元330接收该底包络信号，并根据该底包络信号的峰对峰(peak to peak)値的大小动态的提供一增益値至该放大器340，使得该放大器可以根据该增益値动态的放大该底包络信号，并且使得该放大的底包络信号的峰値与谷値维持在一饱满范围(full range)之间，且趋近于整个范围。

缺陷检测器320接收该底包络信号，并根据该底包络信号判断该射频信号是否出现深缺陷或者光亮缺陷。根据本发明的实施例，缺陷检测器320提供二临界值，并利用该二临界值来判断该射频信号是否出现深缺陷或者光亮缺陷。举例来说，当该底包络信号大于一第一临界值时即可以判定出现光亮缺陷；反之，该底包络信号小于该第一临界值时即可以判定光亮缺陷结束。再者，当该底包络信号小于一第二临界值时即可以判定出现深缺陷；反之，该底包络信号大于该第二临界值时即可以判定深缺陷结束，而该第一临界值大于该第二临界值。当缺陷检测器320判断出该射频信号出现深缺陷或者光亮缺陷时，缺陷检测器320会输出一缺陷信号至自动增益控制单元330以及偏移量追踪单元350。当然，缺陷检测器320除了可以根据该底包络信号来检测深缺陷或者光亮缺陷之外，在光驱领域的技术人员也可以利用缺陷检测器320直接接收射频信号来检测深缺陷或者光亮缺陷。

当偏移量追踪单元350接收到缺陷信号时，偏移量追踪单元350输出的偏移量会保持不变直到光亮或深缺陷结束为止。如此可以保护偏移量在光亮(深)缺陷时不会突然大幅上升或者大幅下降而影响到跨轨信号的准确性。同理，当自动增益控制单元330接收到缺陷信号时，自动增益控制单元330输出的增益値会保持不变直到光亮或深缺陷结束为止。如此可以保护自动增益控制单元330在底包络信号突然高于或低于第一或第二临界值时，影响到增益値的改变进而影响跨轨信号的准确性。

再者，放大器340接收该底包络信号后会将该底包络信号减去该偏移量使得该底包络信号的最小值趋近该参考电平(例如0电压电平)，接着，根据接收的增益值动态的放大该底包络信号的峰对峰值，使得该底包络信号的峰值与谷値维持在该饱满范围之间，且趋近于整个范围。而由放大器340输出的放大后的底包络信号即可视为跨轨信号。

再者，本发明可利用一固定的限幅电平或一可随底包络信号而动态调整的限幅电平以将动态调整后的底包络信号(跨轨信号)进行限幅并产生限幅后的跨轨信号，其中该限幅电平的电压值可介于该饱满范围之间(例如，该饱满范围的中间值)。

请参照图8，其所绘示为本发明的跨轨信号产生电路的第二实施例。第二实施例与第一实施例的差别在于偏移量追踪单元350接收该底包络信号而非该射频信号，该偏移量追踪单元350根据该底包络信号产生一偏移量(bias)至该放大器340，其中，该偏移量追踪单元350所输出的该偏移量是底包络信号的最小值与一参考电平(例如0电压电平)之间的差值。

根据第一实施例与第二实施例的跨轨信号产生电路。如图9A所示，当光学读取头在跨轨时，底包络检测单元310输出的该底包络信号则随着激光束的聚焦点位置而变化。其中，该偏移量是射频信号(第一实施例)或者底包络信号(第二实施例)的最小值与一参考电平(例如0电压电平)之间的差值。

如图9B所示，放大器340会先将该底包络信号减去该偏移量，使得减去该偏移量的底包络信号最小值趋近该参考电平。再者，自动增益控制单元330会根据该底包络信号而动态的产生增益值至该放大器340使得该放大器340所输出的跨轨信号介于该饱满范围之间且趋近整个范围，如图9C所示。在本发明的一实施例中可以利用一固定的限幅电平，该限幅电平的电压值可介于该饱满范围之间，如图9C所示。再者，限幅电平即可以将该跨轨信号进行限幅并产生如图9D所示的限幅后的跨轨信号。

根据第一实施例与第二实施例的跨轨信号产生电路。当光学读取头在跨轨时遇到深缺陷时，如图10A所示，底包络检测单元310输出的该底包络信号则随着激光束的聚焦点位置而变化，在深缺陷出现时该底包络信号突然低于预设临界值。

如图10B所示，当光学读取头在跨轨遇到深缺陷时，会产生缺陷信号。此时，偏移量追踪单元350会保持输出的偏移量不变直到深缺陷结束为止；同时，自动增益控制单元330输出的增益値也会保持不变直到深缺陷结束为止。

如图10C所示，放大器340会先将该底包络信号减去该偏移量，使得减去该偏移量的底包络信号最小值(不包含深缺陷的部分)趋近该参考电平。

如图10D所示，自动增益控制单元330会根据该底包络信号而动态的产生增益值至该放大器340使得该放大器340所输出的跨轨信号介于该饱满范围之间且趋近整个范围。由于缺陷信号产生时，偏移量追踪单元350会保持输出的偏移量不变直到深缺陷结束为止；同时，自动增益控制单元330输出的增益値也会保持不变直到深缺陷结束为止。所以，在缺陷信号产生时，放大器输出的跨轨信号(不包含深缺陷的部分)并不会超出该饱满范围且在饱满范围内仍保持其跨轨信号的正确性。

如图10E所示，由于本发明可以利用一固定的限幅电平，该限幅电平的电压值可介于该饱满范围之间，因此，限幅电平即可以将该跨轨信号进行限幅并产生限幅后的跨轨信号。

根据第一实施例与第二实施例的跨轨信号产生电路。当光学读取头在跨轨遇到光亮缺陷时，如图11A所示，底包络检测单元310输出的该底包络信号则随着激光束的聚焦点位置而变化，在光亮缺陷出现时该底包络信号远高于参考电平。

如图11B所示，当光学读取头在跨轨时遇到光亮缺陷时，会产生缺陷信号。此时，偏移量追踪单元350会保持输出的偏移量不变直到光亮陷结束为止；同时，自动增益控制单元330输出的增益値也会保持不变直到光亮缺陷结束为止。

如图11C所示，放大器340会先将该底包络信号减去该偏移量，使得减去该偏移量的底包络信号最小值(不包含光亮缺陷的部分)趋近该参考电平。

如图11D所示，自动增益控制单元330会根据该底包络信号而动态的产生增益值至该放大器340，使得该放大器340所输出的跨轨信号介于该饱满范围之间且趋近整个范围。由于缺陷信号产生时，偏移量追踪单元350会保持输出的偏移量不变直到光亮缺陷结束为止；同时，自动增益控制单元330输出的增益値也会保持不变直到光亮缺陷结束为止。所以，在缺陷信号产生时，放大器输出的跨轨信号(不包含光亮缺陷的部分)并不会超出该饱满范围且在饱满范围内仍保持其跨轨信号的正确性。

如图11E显示的本发明实施例中，利用固定的限幅电平以将该跨轨信号进行限幅并产生限幅后的跨轨信号。

在本发明的其它实施例中，也可省略该偏移量追踪单元350，仅利用底包络检测单元310、放大器340、缺陷检测器320、以及自动增益控制单元330即可以实现本发明。而产生的该跨轨信号会包括一偏移(offset)但仍不会影响该跨轨信号的准确性。

再者，本发明的跨轨信号产生电路还可以利用数字电路来实现。举例来说，利用一模拟/数字转换器(ADC)将射频信号转换为数字的射频信号之后输入底包络检测单元310用以产生一数字的底包络信号至放大器340、缺陷检测器320、以及自动增益控制单元330。也就是说，底包络检测单元310、缺陷检测器320、自动增益控制单元330、放大器340、与偏移量追踪单元350都可以利用数字电路来实现。而利用数字电路来实现本发明的跨轨信号产生电路的优点在于可以大幅的减少IC芯片的布局面积进而达到降低成本的目的。

综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围当视后附的权利要求所界定者为准。

Claims (11)

1.一种跨轨信号产生装置，运用于一光学读取头跨越一光盘片的数据轨道，包括：

一底包络检测单元，用以接收一射频信号并输出一底包络信号；

一缺陷检测器，连接至该底包络检测单元以接收该底包络信号，并在该数据轨道出现一缺陷时产生一缺陷信号；

一自动增益控制单元，连接至该底包络检测单元与该缺陷检测器以接收该底包络信号，并根据该底包络信号的振幅大小而动态地改变一增益值，且于接收到该缺陷信号时使该增益值保持不变直到该缺陷信号结束；以及

一放大器，连接至该底包络检测单元与该自动增益控制单元以接收该底包络信号并根据该增益值而动态调整该底包络信号而成为一跨轨信号。

2.如权利要求1所述的跨轨信号产生装置，还包括一偏移量追踪单元，连接该缺陷检测器与该放大器，其中该偏移量追踪单元可根据该射频信号或该底包络信号与一参考电平而产生一偏移量，并输入该偏移量至该放大器，使得该放大器将该底包络信号减去该偏移量后再根据该增益值而动态调整该底包络信号，接着将该底包络信号输出成为该跨轨信号。

3.如权利要求2所述的跨轨信号产生装置，其中当该偏移量追踪单元接收该缺陷信号时，该偏移量追踪单元使该偏移量维持不变直到该缺陷信号结束。

4.如权利要求1所述的跨轨信号产生装置，其中该缺陷检测器中具有一第一临界值与一第二临界值，当该底包络信号大于该第一临界值或小于该第二临界值时，该缺陷检测器产生该缺陷信号，其中该第一临界值大于该第二临界值。

5.一种跨轨信号产生方法，运用于一光学读取头跨越一光盘片的数据轨道，包括：

接收一射频信号并产生该射频信号的一底包络信号；

当该底包络信号大于一第一临界值或小于一第二临界值时产生一缺陷信号；

根据该底包络信号的振幅大小动态地改变一增益值且于接收到该缺陷信号时使该增益值保持不变直到该缺陷信号结束；以及

根据该增益值动态地调整该底包络信号并输出成为一跨轨信号；

其中该第一临界值大于该第二临界值。

6.如权利要求5所述的跨轨信号产生方法，包括根据该射频信号或该射频信号的该底包络信号与一参考电平而产生一偏移量，并将该底包络信号减去该偏移量后再动态地调整该底包络信号，接着将该底包络信号输出成为该跨轨信号。

7.如权利要求6所述的跨轨信号产生方法，包括当该缺陷信号产生时，维持该偏移量的大小直到该缺陷信号结束，借此使该跨轨信号维持在一饱满范围之间且趋近整个范围。

8.如权利要求7所述的跨轨信号产生方法，还包括利用一限幅电平以进一步限幅该跨轨信号而产生一已限幅的跨轨信号，其中该限幅电平介于该饱满范围之间的一固定电平或一随着该底包络信号而动态调整的电平。

9.一种跨轨信号产生装置，运用于一光学读取头跨越一光盘片的数据轨道，包括：

一底包络检测单元，用以接收一射频信号并输出一底包络信号；

一缺陷检测器，用以接收该射频信号并在该数据轨道出现一缺陷时产生一缺陷信号；

一自动增益控制单元，连接至该底包络检测单元与该缺陷检测器以接收该底包络信号并根据该底包络信号的振幅大小而动态地改变一增益值，且于接收到该缺陷信号时使该增益值保持不变直到该缺陷信号结束；以及

一放大器，连接至该底包络检测单元与该自动增益控制单元以接收该底包络信号并根据该增益值而动态调整该底包络信号，接着将该底包络信号输出成为一跨轨信号。

10.如权利要求9所述的跨轨信号产生装置，包括一偏移量追踪单元，连接该缺陷检测器与该放大器，其中该偏移量追踪单元可根据该射频信号或该底包络信号与一参考电平而产生一偏移量并输入该偏移量至该放大器，使得该放大器将该底包络信号减去该偏移量后再根据该增益值而动态调整该底包络信号，接着将该底包络信号输出成为该跨轨信号。

11.如权利要求10所述的跨轨信号产生装置，其中当该自动增益控制单元与该偏移量追踪单元接收该缺陷信号时，该自动增益控制单元使该输出的增益值保持不变直到该缺陷信号结束，以及该偏移量追踪单元使该偏移量维持不变，直到该缺陷信号结束。

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