CN1619685A - 缺陷检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种在光盘的动作从记录向再生、或者从再生向记录切换之后也可以正确并且迅速地检测光盘上的缺陷的缺陷检测装置。在光盘装置的动作从记录向再生，或者从再生向记录切换后的一定期间，依照上述光盘装置的动作切换以第1单稳态多谐振荡器电路(33)输出的脉冲信号为契机，使积分电路(35)内的电容(402)与规定的基准电压VREF短路，并把积分电路(35)的输出值固定于基准电压VREF上，在经过该期间后，以第2单稳态多谐振荡器电路(34)输出的脉冲信号为契机，使积分电路(35)内的电阻(401)短路，加快时间常数来积分包络线信号EM，由此就可防止伪缺陷信号的检测，并快速再次开始缺陷检测。

Description

缺陷检测装置

技术领域

本发明涉及在光盘装置等中使用的缺陷检测装置，特别涉及高精度地进行光盘装置的动作从记录向再生、或者从再生向记录切换之后的缺陷检测的缺陷检测电路。

背景技术

近年，在计算机系统中，随着信息量的大幅度增加，作为信息数据的记录再生装置，广泛使用大电容高速并且可以随机存取的光盘装置，作为记录介质，使用了CD-R、CD-RW、DVD-R/RW、DVD-RAM等光盘。

在这样的光盘装置中，用于检测作为不能正常进行光盘上的写入或读出的区域的缺陷的缺陷检测装置，通过对光盘聚光照射光束，检测根据从光盘反射的反射光强度而得到的反射信号的包络线变化，检测出光盘上的缺陷，并输出表示有无缺陷的缺陷检测信号。缺陷检测信号由控制对于光盘的跟踪以及聚焦伺服的伺服电路作为前值保持用的信号加以利用，或者作为各种控制用而使用组装在光盘装置上的CPU，得到用于判断光盘的不可记录区域的抽出信号中得以利用(例如，参照专利文献1(日本专利公开特开2003-196853号公报))。

在此，用图9来说明以往的缺陷检测装置。图9是表示以往的缺陷检测装置构成的方框图。在图9中，1000是用规定的增益放大对光盘聚光照射光束时的、与来自光盘的反射光强度相应的反射信号AS的可变增益放大器。可变增益放大器1000被输入表示光盘装置进行记录、或者再生之一的记录选通信号WTGT。1001是检测可变增益放大器1000的输出信号(以下，称为放大输出信号)的AP包络线的高速包络线检波电路。1002是积分高速包络线检波电路1001的输出信号EM的积分电路。1003是用于根据积分电路1002的输出信号来设定作为在后述计算机1004中的基准信号限幅电平SD的限幅电平设定电路。1004是通过比较高速包络线检波电路1001的输出信号EM与限幅电平SD而输出缺陷检测信号DD的比较器。

接着，用图9以及图10说明如以上那样构成的以往的缺陷检测装置的动作。图10表示在图9的缺陷检测装置中输出的各信号的波形。

首先，把反射信号AS输入到可变增益放大器1000。反射信号AS的电平因光盘在记录时或者再生时而异，所以可变增益放大器1000为了不把该电平差作为包络线的变化进行检测，而根据记录选通信号WTGT用与光盘装置动作相应的规定增益放大反射信号AS成为规定的振幅，并输出到高速包络线检波电路1001。

接着，高速包络线检波电路1001检测被输入的放大输出信号AP的包络线，并输出到积分电路1002以及比较器1004。积分电路1002积分高速包络线检波电路1001的输出信号EM，并输出到限幅电平设定电路1003。

接着，限幅电平设定电路1003电平变换积分电路1002的输出信号IS并作为限幅电平SD输出到比较器1004。

在此，当在光盘上存在缺陷的情况下，如图10所示，通常反射信号AS以及放大输出信号AP的电平急剧下降。由于高速包络线检波电路1001输出的包络线信号EM跟踪放大输出信号AP的波形，所以其波形如图10所示与放大输出信号AP大致同电平。另一方面，由于积分电路1002其时间常数与高速包络线检波电路1001相比慢，所以其波形如图10所示不跟踪包络线信号EM的急剧的电平下降而缓慢地进行变化。

接着，比较器1004比较包络线信号EM和限幅电平SD，在包络线信号EM下降到限幅电平SD以下时，把表示检测出缺陷的脉冲TS1作为缺陷检测信号DD输出。

发明内容

但是，由于在可变增益放大器1000的增益设定值中，存在某种程度的波动等，所以在可变增益放大器1000中完全除去反射信号AS在记录时和再生时的反射光的电平差是困难的。因此，在对光盘的动作从记录向再生、或者从再生向记录转移时，如图10所示的可变增益放大器1000的输出值AP那样，有时会产生电平差。在以往的缺陷检测电路中，当产生了这样的电平缺陷的情况下，就产生以下那样的问题。

即，当对光盘的动作从记录切换到再生的情况下，高速包络线检波电路1001输出的包络线信号EM跟踪反射信号AS的电平差，但作为对其进行了积分的信号的积分电路1002的输出信号IS如图10所示，成为缓慢地进行变化的波形而在跟踪上需要时间。因此，限幅电平设定电路1003的输出信号SD上升到高速包络线检波电路1001的输出信号EM以上，比较器1004在光盘装置的动作从记录切换到再生之后，尽管在光盘上不存在缺陷，即输出错误的缺陷检测信号FS(以下，设为“伪缺陷信号”)。

另外，当对光盘的动作从再生切换到记录的情况下，虽然不输出伪缺陷信号FS，但在图10的缺陷检测信号DD上表示的tF的期间难以进行正确的缺陷检测。

本发明就是为了解决上述问题而提出的，其目的在于提供可以高精度并且迅速地检测光盘装置的记录、再生动作切换之后的缺陷的缺陷检测装置。

为了实现上述目的，本发明的实施方式1的一种缺陷检测电路，其特征在于包含：根据表示光盘装置是记录动作，还是再生动作的控制信号，以与各个动作相应的增益放大依照对光盘照射光束的反射光的强度而得到的反射光的放大电路；求上述放大电路输出信号的包络线的包络线检测电路；每当切换上述控制信号时，就输出规定长度的脉冲的第1脉冲生成电路；以规定的时间常数来积分上述包络线检测电路的输出信号，并在接收来自上述第1脉冲生成电路的脉冲输出的期间使输出值变化的积分电路；把上述积分电路的输出信号作为基准，设定在检测表示光盘上存在缺陷的缺陷检测信号时的限幅电平的限幅电平设定电路；以及通过比较上述包络线检测电路的输出信号和上述限幅电平来输出上述缺陷检测信号的比较器。

另外，本发明的第2技术方案的缺陷检测电路，其特征在于：上述积分电路在接收来自上述第1脉冲生成电路的输出的期间，通过短路该积分电路内的电阻使时间常数变化，积分上述包络线检测电路的输出信号。

另外，本发明第3技术方案的缺陷检测电路，其特征在于：上述积分电路包含，与该积分电路内的电阻并联连接，由从上述第1脉冲生成电路输出的脉冲进行控制的开关。

另外，本发明第4技术方案的缺陷检测电路，其特征在于：在接收来自上述第1脉冲生成电路的脉冲输出的期间，把上述限幅电平设定电路设定的限幅电平切换成规定的限幅电平的限幅电平切换电路。

另外，本发明第5技术方案的缺陷检测电路，其特征在于：上述积分电路在接收来自上述第1脉冲生成电路的脉冲输出的期间，通过短路该积分电路内的电容来输出规定的基准电压。

另外，本发明第6技术方案的缺陷检测电路，其特征在于：上述积分电路饱含，介于该积分电路内的电容和规定的基准电压之间，由从上述第1脉冲生成电路输出的脉冲进行控制的开关。

另外，本发明第7技术方案的缺陷检测电路，其特征在于：若上述第1脉冲生成电路的脉冲输出结束，则输出规定长度的脉冲的第2脉冲生成电路，上述积分电路在接收从上述第1脉冲生成电路输出的脉冲的期间，通过短路该积分电路内的电容来输出规定的基准电压，在从上述第2脉冲生成电路接收脉冲输出的期间，通过短路该积分电路内的电阻使时间常数变化并积分上述包络线信号。

另外，本发明第8技术方案的缺陷检测电路，其特征在于：上述积分电路包含，介于该积分电路内的电容和规定的基准电压之间，由从上述第1脉冲生成电路输出的脉冲进行控制的开关；以及与该积分电路内的电阻并联连接，由从上述第2脉冲生成电路输出的脉冲进行控制的开关。

如果采用本发明的缺陷检测电路，由于在光盘装置的动作从再生向记录切换、或者从记录向再生切换后的一定期间，把积分电路的输出固定于基准电压，进行把该输出值作为基准所设定的限幅电平与包络线信号的电平的比较由此输出缺陷检测信号，所以不会因缺陷信号出错而使限幅电平下降，可以抑制在上述期间中的伪缺陷信号的发生。另外，因为在上述期间结束后的一定期间，加快积分电路的时间常数来积分包络线信号，使积分电路的输出信号IS的波形变化快速跟踪包络线信号EM的波形变化，所以可以迅速重新开始缺陷检测。

具体实施方式

图1是表示本发明实施方式1的缺陷检测装置的方框图。

图2是表示在本发明实施方式1的缺陷检测装置中输出的各信号波形的图。

图3是表示本发明实施方式2的缺陷检测装置的方框图。

图4是表示在本发明实施方式2的缺陷检测装置中输出的各信号波形的图。

图5是表示本发明实施方式3的缺陷检测装置的方框图。

图6是表示在本发明实施方式3的缺陷检测装置中输出的各信号波形的图。

图7是表示本发明实施方式4的缺陷检测装置的方框图。

图8是表示在本发明实施方式4的缺陷检测装置中输出的各信号波形的图。

图9是表示以往的缺陷检测装置的方框图。

图10是表示以往缺陷检测装置的缺陷检测装置中输出的各信号波形的图。

具体实施方式

(实施方式1)

图1是表示本发明实施方式1中的缺陷检测装置构成的方框图。在图1中，1是作为放大依照对光盘照射的光束的反射光强度而得到的反射信号AS的放大电路的可变增益放大器。在可变增益放大器1中，输入表示光盘装置的动作是记录动作还是再生动作的记录选通信号WTGT。此外，在下面设记录选通信号WTGT在向光盘记录时为H，在再生时为L来进行说明。2是作为检测可变增益放大器1的输出信号AP的包络线的包络线检测电路的高速包络线检波电路。高速包络线检波电路2是一般的检波电路，求解可变增益放大器1的输出信号(以下，称为放大输出信号)AP的上侧包络线并输出。3是根据记录选通信号WTGT的信号电平变化向后级的单稳态多谐振荡器电路4输出脉冲的边缘检测电路。4是作为接收从边缘检测电路3输出的脉冲，生成规定长度脉冲对后述的积分电路5输出的第1脉冲生成电路的单稳态多谐振荡器电路。5是积分高速包络线检波电路2的输出信号EM的积分电路。积分电路5具备电阻101和电容102，进一步具备与电阻101并联连接的开关103。在电阻101的一端上给予包络线信号EM，另一端连接到后述的限幅电平设定电路6和电容102的一端。电容102的另一端接地。开关103由从单稳态多谐振荡器电路4输出的脉冲信号MM1进行控制，被设定成如果该脉冲信号MM1的电平为“高”(H)则接通，如果脉冲信号MM1的电平为“低”(L)则切断。6是用于根据积分电路5的输出信号IS设定在后述的比较器7中作为基准信号的限幅电平SD的限幅电平设定电路。7是通过比较高速包络线检波电路2的输出信号EM与限幅电平SD来输出缺陷检测信号DD的比较器。

下面，用图1以及图2说明如上所述构成的缺陷检测装置的动作。图2表示在图1的缺陷检测装置中输出的各信号的波形。此外，以下说明的是光盘装置的动作从再生向记录切换时的情况，但从记录向再生切换时的动作也一样。

首先，为了再生光盘，使光束聚光照射到该光盘，该光束通过此光盘进行反射。在图上未描绘的多个受光元件接受所反射的光，并把该反射光变换为与其强度相应的电信号后输出。这些多个受光元件的输出被加算，所得到的全部相加信号作为反射信号AS被输入到可变增益放大器1。

可变增益放大器1当被输入到该可变增益放大器1的记录选通信号WTGT是L的情况下，认为光盘装置进行再生，增加增益并放大反射信号AS，当光盘的动作被切换为记录的情况下，即，如果输入的记录选通信号WTGT被切换为H，则减少增益并放大反射信号AS后输出到后级的高速包络线检波电路2。在此在可变增益放大器1的增益设定上有波动等，当增益不适宜的情况下，如图2的放大输出信号AP所示，在记录时和再生时就在电平上产生差异。

高速包络线检波电路2求解放大输出信号AP的上侧包络线，把包络线信号EM输出到积分电路5。

积分电路5在光盘的再生时以规定的时间常数积分包络线信号EM，输出到后级的限幅电平设定电路6，而在光盘的动作从再生切换到记录后的规定期间，通过以下的动作加快时间常数来积分包络线信号EM。

即，首先，边缘检测电路3接收记录选通信号WTGT从L变化到H的信息，把脉冲输出到单稳态多谐振荡器电路4。若单稳态多谐振荡器电路4接收来自边缘检测电路3的脉冲，则生成时间t1的期间成为H的脉冲信号MM1并对积分电路5内的开关103输出。

开关103接收来自单稳态多谐振荡器电路4的输出脉冲MM1变为H的信息后接通。如果开关103接通，则电阻101短路，所以积分电路的时间常数变快。其结果，来自单稳态多谐振荡器电路4的输出脉冲MM1变为H的时间t1的期间，积分电路5以比通常快的时间常数积分包络线信号EM。

如果经过时间t1，则来自单稳态多谐振荡器电路4的输出脉冲MM1变为L，积分电路5内的开关103切断，所以积分电路5再次以规定的时间常数积分包络线信号EM，把输出信号IS对限幅电平设定电路6输出。

限幅电平设定电路6把积分电路5的输出信号IS作为基准来设定限幅电平SD并输出到比较器7。比较器7以限幅电平SD为基准两值化高速包络线检波电路2的输出信号EM，并把它作为缺陷检测信号DD输出。

如上所述，根据本实施方式1的缺陷检测电路，由于在光盘装置的动作从再生向记录、或者从记录向再生切换后的一定期间，加快积分电路5的时间常数来积分包络线信号EM，使积分电路5的输出信号IS的波形变化迅速跟踪包络线信号EM的波形变化，所以能够缩短伪缺陷信号的输出期间，并可迅速重新开始光盘装置的动作切换之后的缺陷检测。

(实施方式2)

图3是表示本发明实施方式2的缺陷检测装置的方框图。在图3中，关于可变增益放大器10、高速包络线检波电路11、边缘检测电路12、单稳态多谐振荡器电路13、积分电路14、限幅电平设定电路16以及比较器17分别与在实施方式1的缺陷检测装置中说明过的电路相对应，所以省略其说明。限幅电平切换电路15，在接收从单稳态多谐振荡器电路13输出的脉冲信号MM1期间，指示限幅电平设定电路16设定与通常相比向基准电压VREF一侧进行了移位的限幅电平。

下面，用图3、图4说明如上所述那样构成的缺陷检测装置的动作。图4表示在图3的缺陷检测装置中输出的各信号的波形。

首先，反射信号AS输入到可变增益放大器10，接受与记录选通信号WTGT相应的规定量的放大，当在高速包络线检波电路11中检测出包络线信号EM后，把该包络线信号EM输出到积分电路14。积分电路14以规定的时间常数来积分包络线信号EM。在此，如果光盘装置的动作从再生向记录，或者从记录向再生切换，则切换记录选通信号WTGT的电平，积分电路14和实施方式1同样在规定时间t1期间，加快时间常数来积分包络线信号EM，并输出到限幅电平设定电路16。

另一方面，限幅电平切换电路15在切换记录选通信号WTGT时接收单稳态多谐振荡器电路13输出的脉冲信号MM1的输出，在该脉冲信号为H期间，即图4的t1期间，对限幅电平设定电路16指示把限幅电平移位到基准电压VREF一侧。由此限幅电平设定电路16在t1期间使限幅电平与通常相比还向基准电压VREF一侧移位，并把该限幅电平设定值输出到比较器17。如果经过时间t1，则开关203切断，所以积分电路14再次以规定的时间常数积分包络线信号EM后输出到限幅电平设定电路16，限幅电平设定电路16设定通常记录时的限幅电平SD，并对比较器17输出。

比较器17在通常动作时，以限幅电平设定电路16输出的规定的限幅电平为基准两值化从高速包络线检波电路11输出的包络线信号EM。另外，在光盘动作切换后的t1期间，以和通常相比向基准电压VREF一侧移位的限幅电平为基准两值化包络线信号EM并输出缺陷检测信号DD。

如上所述，根据本实施方式2的缺陷检测电路，由于在光盘装置的动作从再生向记录、或者从记录向再生切换后的一定期间，在加快积分电路14的时间常数来积分包络线信号EM的同时，在该期间中，把根据上述积分电路14的输出信号IS所设定的限幅电平SD向基准电压VREF一侧移位，所以在切换光盘装置的动作后的一定期间，包络线信号EM的电平不会下降到限幅电平SD以下，可以抑制在该期间中的伪缺陷信号的发生。

(实施方式3)

图5是表示本发明实施方式3的缺陷检测装置构成的方框图。在图3中，关于可变增益放大器20、高速包络线检波电路21、边缘检测电路22、限幅电平设定电路25以及比较器26分别与在实施方式1的缺陷检测装置中说明过的电路相对应，所以省略其说明。24是积分高速包络线检波电路21输出的包络线信号EM的积分电路。积分电路24具备电阻301和电容302以及开关303。对电阻301的一端给予包络线信号EM，另一端与限幅电平设定电路25、电容302以及开关303连接。开关303的一端与基准电压VREF连接，在开关303接通时，电容302与基准电压VREF短路。此外，基准电压VREF是在缺陷检测时处于包络线信号EM电平变化一侧的电压，在缺陷检测时设定成比包络线信号EM表示的电压还低的电压。单稳态多谐振荡器电路23，每当在记录选通信号WTGT输出变化时都对开关303输出规定期间成为H的脉冲信号MM1。在此，开关303被控制成当单稳态多谐振荡器电路23的输出脉冲MM1为H的情况下接通，为L时切断。

下面，用图5、图6说明如上所述那样构成的缺陷检测电路的动作。图6表示在图5的缺陷检测装置中输出的各信号的波形。

首先，和实施方式1一样，反射信号AS输入可变增益放大器20，接受与记录选通信号WTGT相应的规定量的放大，当在高速包络线检波电路21中检测出包络线信号EM后，把该包络线信号EM输出到积分电24。

在此如果光盘装置的动作从再生向记录、或者从记录向再生切换，则切换记录选通信号WTGT的电平。单稳态多谐振荡器电路23接收记录选通信号WTGT的电平变化，生成时间t1的期间成为H的脉冲并对积分电路24内的开关303输出。

积分电路24在光盘再生时以规定的时间常数积分包络线信号EM，但从单稳态多谐振荡器电路23接收输出脉冲MM1的时间t1期间，积分电路24的开关303变成接通，电容302与基准电压VREF短路，所以积分电路24的输出值如图6的积分电路输出信号IS所示那样被固定于基准电压VREF。如果经过时间t1，则开关303切断，所以积分电路24再次以规定的时间常数来积分包络线信号EM。有关积分电路24把积分电路输出信号IS对包络线设定电路25输出后的动作和实施方式1一样，所以省略其说明。

如上所述，根据本实施方式3的缺陷检测电路，由于在光盘装置的动作从再生向记录，或者从记录向再生切换后的一定期间，把积分电路24的输出固定于基准电压VREF，并把该输出值作为基准来设定限幅电平SD，所以不会因包络线信号EM出错而下降到限幅电平SD以下，可以抑制在上述期间中的伪缺陷信号的发生。

(实施方式4)

图7是表示本发明的实施方式4的缺陷检测装置构成的方框图。在图7中，关于可变增益放大器30、高速包络线检波电路31、边缘检测电路32、限幅电平设定电路36以及比较器37，分别与在实施方式1的缺陷检测装置中说明的电路相对应，所以省略其说明。

33是如果接收从边缘检测电路32输出的脉冲，则在时间t1期间，生成成为H的脉冲信号MM1，并对后述的第2单稳态多谐振荡器电路34以及积分电路35输出的第1单稳态多谐振荡器电路。34是接收第1单稳态多谐振荡器电路33输出的脉冲信号MM1的电平变化，在时间t2期间生成成为H的脉冲信号MM2并对积分电路35内的开关404输出的第2单稳态多谐振荡器电路。即，第2单稳态多谐振荡器电路34在第1单稳态多谐振荡器电路33停止脉冲信号MM1输出的同时，对积分电路35内的开关404输出脉冲信号MM2。35是积分高速包络线检波电路31输出的包络线信号EM的积分电路。积分电路35具备电阻401、电容402、开关403及404。电阻401的一端被给予包络线信号EM，另一端与限幅电平设定电路36、电容402的一端以及开关404连接。开关403和电阻401并联连接，如果接通则使电阻401短路。开关404的一端与电阻401和电容402连接，另一端与基准电压VREF连接。如果开关403接通，则电容402与基准电压VREF短路。此外，基准电压VREF是在缺陷检测时位于包络线信号EM电平变化一侧的电压，在缺陷检测时设定成比包络线信号EM表示的电压还低的电压。另外，开关403被控制成在从第2单稳态多谐振荡器电路34输出的脉冲信号MM2为H时接通，为L时为切断，开关404被控制成在从第1单稳态多谐振荡器电路33输出的脉冲信号MM1为H时接通，为L时切断。

以下，用图7以及图8说明如上所述那样构成的期限检测装置的动作。图8表示在图7的缺陷检测装置中输出的各信号的波形。

首先，和实施方式1一样，反射信号AS输入可变增益放大器30，接受与记录选通信号WTGT相应的规定量的放大，当在高速包络线检波电路31中检测出包络线信号EM后，输出到积分电路35。

在此如果光盘装置的动作从再生向记录、或者从记录向再生切换，则记录选通信号WTGT的电平就进行切换。第1单稳态多谐振荡器电路33接收记录选通信号WTGT的电平变化，生成时间t1的期间成为H的脉冲信号MM1并对第2单稳态多谐振荡器电路34以及积分电路35内的开关404输出。

第2单稳态多谐振荡器电路34即使接收脉冲信号MM1的输出，在该脉冲信号被输出期间也不进行动作。另一方面，积分电路35内的开关404接收脉冲信号MM1的输出后接通。由此积分电路35内的电容402与基准电压VREF短路，所以积分电路35的输出值在t1期间如图8的积分电路输出信号IS所示那样被固定于基准电压VREF。如果经过t1期间，则第1单稳态多谐振荡器电路33的脉冲信号MM1的输出停止。由此积分电路35内的开关404切断，积分电路35停止基准电压VREF的输出。

另一方面，第2单稳态多谐振荡器电路34接收脉冲信号MM1的输出停止，对积分电路35内的开关403输出时间t2的期间成为H的脉冲信号MM2，其结果开关403接通。由此，电阻401短路，所以积分电路35的时间常数变小，其结果，积分电路35的输出信号IS迅速接近包络线信号EM。如果经过t2的时间，则第2单稳态多谐振荡器电路34停止脉冲信号MM2的输出，开关403切断。由此积分电路35再次以规定的时间常数来积分包络线信号EM。关于积分电路35把积分电路输出信号IS对限幅电平设定电路36输出后的动作，和实施方式1相同所以省略其说明。

如上所述，根据本实施方式4的缺陷检测电路，由于在光盘装置的动作从再生向记录、或者从记录向再生切换后的一定期间，把积分电路35的输出固定于基准电压VREF，并以该输出值为基准来设定限幅电平SD，所以不会因包络线信号EM出错而下降到限幅电平SD以下，可以抑制在上述期间中的伪缺陷信号的发生。

另外，由于在上述期间结束后的一定期间，减小积分电路35的时间常数，使积分电路35的输出信号IS的波形变化快速跟踪包络线信号EM的波形变化，所以可以迅速重新开始缺陷检测。

通过在光盘装置中使用本发明的缺陷检测装置，从而在可以提供能够进行稳定的记录以及再生的光盘装置这一点上有用。

Claims (8)

1、一种缺陷检测电路，其特征在于包括：

根据表示光盘装置是记录动作，还是再生动作的控制信号，以与各个动作相应的增益放大依照对光盘照射光束的反射光的强度而得到的反射信号的放大电路；

求上述放大电路输出信号的包络线的包络线检测电路；

每当切换上述控制信号时，就输出规定长度的脉冲的第1脉冲生成电路；

以规定的时间常数来积分上述包络线检测电路的输出信号，并在接收来自上述第1脉冲生成电路的脉冲输出的期间使输出值变化的积分电路；

把上述积分电路的输出信号作为基准，设定在检测表示光盘上存在缺陷的缺陷检测信号时的限幅电平的限幅电平设定电路；以及

通过比较上述包络线检测电路的输出信号和上述限幅电平来输出上述缺陷检测信号的比较器。

2、根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于：

上述积分电路在接收来自上述第1脉冲生成电路的输出的期间，通过短路该积分电路内的电阻使时间常数变化，积分上述包络线检测电路的输出信号。

3、根据权利要求2所述的缺陷检测装置，其特征在于：

上述积分电路与该积分电路内的电阻并联连接，并具有由从上述第1脉冲生成电路输出的脉冲所控制的开关。

4、根据权利要求3所述的缺陷检测装置，其特征在于还包括：

在接收来自上述第1脉冲生成电路的脉冲输出的期间，把上述限幅电平设定电路设定的限幅电平切换成规定的限幅电平的限幅电平切换电路。

5、根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于：

上述积分电路在接收来自上述第1脉冲生成电路的脉冲输出的期间，通过短路该积分电路内的电容来输出规定的基准电压。

6、根据权利要求5所述的缺陷检测装置，其特征在于：

上述积分电路介于该积分电路内的电容和规定的基准电压之间，并具有由从上述第1脉冲生成电路输出的脉冲所控制的开关。

7、根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于还包括：

若上述第1脉冲生成电路的脉冲输出结束，则输出规定长度的脉冲的第2脉冲生成电路，

上述积分电路在接收从上述第1脉冲生成电路输出的脉冲的期间，通过短路该积分电路内的电容来输出规定的基准电压，在从上述第2脉冲生成电路接收脉冲输出的期间，通过短路该积分电路内的电阻使时间常数变化并积分上述包络线信号。

8、根据权利要求7所述的缺陷检测装置，其特征在于：

上述积分电路包含，介于该积分电路内的电容和规定的基准电压之间，由从上述第1脉冲生成电路输出的脉冲进行控制的开关；以及

与该积分电路内的电阻并联连接，由从上述第2脉冲生成电路输出的脉冲进行控制的开关。

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