JP4151957B2 - チルト制御方法、プログラム及び記録媒体、並びに光ディスク装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、チルト制御方法、プログラム及び記録媒体、並びに光ディスク装置に係り、更に詳しくは、光ディスクに対する対物レンズの傾きを制御するチルト制御方法、光ディスク装置で用いられるプログラム及び該プログラムが記録された記録媒体、並びに光ディスクをアクセス対象とする光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
パーソナルコンピュータ（以下「パソコン」と略述する）は、その機能が向上するに伴い、音楽や映像といったＡＶ（Audio-Visual）情報を取り扱うことが可能となってきた。これらＡＶ情報の情報量は非常に大きいために、情報記録媒体としてＣＤ（compact disc）や、ＣＤの約７倍相当のデータをＣＤと同じ直径のディスクに記録可能としたＤＶＤ（digital versatile disc）などの光ディスクが注目されるようになり、その低価格化とともに、光ディスクをアクセス対象とする光ディスク装置が普及するようになった。
【０００３】
光ディスク装置では、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクの記録面にレーザ光を照射することにより情報の記録及び消去を行い、前記記録面からの反射光に基づいて情報の再生などを行っている。そして、光ディスク装置は、情報記録媒体の記録面にレーザ光を照射して光スポットを形成するとともに記録面からの反射光を受光するための装置として、光ピックアップ装置を備えている。
【０００４】
通常、光ピックアップ装置は、対物レンズを含み、光源から出射されるレーザ光を光ディスクの記録面に導くとともに、記録面からの反射光（戻り光束）を所定の受光位置まで導く光学系、及び受光位置に配置され戻り光束を受光する受光素子などを備えている。この受光素子からは、記録面に記録されているデータの再生情報だけでなく、光ピックアップ装置自体及び対物レンズの位置制御に必要な情報（サーボ情報）などを含む信号が出力される。
【０００５】
しかしながら、対物レンズの光軸方向と記録面に垂直な方向とにずれ（以下、便宜上「チルト」ともいう）があると、そのチルトに起因して波面収差が生じ、光スポットの形状の劣化、上記受光素子から出力される再生情報及びサーボ情報などを含む信号の劣化を引き起こすおそれがあった。
【０００６】
そこで、チルトを補正するための方法及び装置が種々提案された（例えば、特許文献１及び特許文献２参照）。
【０００７】
【特許文献１】
特開２００１−５２３６２号公報
【特許文献２】
特開２００２−２５０９０号公報
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
近年、情報記録媒体の記録容量の増加要求に伴い記録密度の高密度化が図られてきた。記録密度を高くするには記録面に形成される光スポットのスポット径を小さくする必要があり、開口数の大きな対物レンズが用いられる傾向にある。しかしながら、対物レンズの開口数が大きくなると、チルトに起因する波面収差の影響が大きくなり、上記特許文献１及び特許文献２に開示されている装置では、十分に対応できないおそれがあった。
【０００９】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第１の目的は、パフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く制御することができるチルト制御方法を提供することにある。
【００１０】
また、本発明の第２の目的は、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、パフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く制御することができるプログラム及び該プログラムが記録された記録媒体を提供することにある。
【００１１】
また、本発明の第３の目的は、応答性に優れた光ディスクへのアクセスを安定して行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明は、第１の観点からすると、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクに対する対物レンズの傾きを制御するチルト制御方法であって、光ディスクにデータを記録する際に、前記光ディスクの前記データが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた前記既記録領域における、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きとトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きとの差に関する情報である既知の補正情報と、前記データが記録される記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに関する情報とに基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報を取得する制御情報取得工程を含むチルト制御方法である。
【００１３】
なお、本明細書では、「傾きに関する情報」は傾きそのものだけでなく、傾きの変化に対応して変化する情報、傾きに換算することができる情報及び傾きを制御する信号情報などを含む。
【００１４】
これによれば、光ディスクにデータを記録する際に、光ディスクのデータが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた既記録領域における、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの対物レンズの傾きとトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きとの差に関する情報である既知の補正情報と、データが記録される記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きに関する情報とに基づいて、対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報が取得される。この場合、例えば記録対象領域におけるトラックエラー信号のみに基づいて取得されたチルト制御情報に比べて、精度の良いチルト制御情報を取得することができる。また、短時間で最適なチルト駆動量を取得することができる。従って、結果としてパフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く制御することができる。
【００４２】
本発明は、第２の観点からすると、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクを情報記録の対象媒体とする光ディスク装置に用いられるプログラムであって、光ディスクにデータを記録する際に、前記光ディスクの前記データが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた前記既記録領域におけるトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに関する第１傾き情報と、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きに関する第２傾き情報とを取得し、前記第１、第２傾き情報に基づいて補正情報を取得する手順と；前記記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きに関する情報と前記補正情報とに基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報を取得する手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラムである。
【００４３】
これによれば、本発明のプログラムが所定のメモリにロードされ、その先頭アドレスがプログラムカウンタにセットされると、光ディスク装置の制御用コンピュータは、光ディスクにデータを記録する際に、光ディスクのデータが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた既記録領域におけるトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに関する第１傾き情報と、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きに関する第２傾き情報とを取得し、前記第１、第２傾き情報に基づいて補正情報を取得し、記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きに関する情報と前記補正情報とに基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報を取得する。すなわち、本発明のプログラムによれば、光ディスク装置の制御用コンピュータに本発明のチルト制御方法を実行させることができ、これにより、パフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く制御することが可能となる。
【００５８】
本発明は、第３の観点からすると、本発明のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
【００５９】
これによれば、本発明のプログラムが記録されているために、コンピュータに実行させることにより、パフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く制御することができる。
【００６０】
本発明は、第４の観点からすると、スパイラル状又は同心円状のトラックが記録面に形成された光ディスクを情報記録の対象媒体とする光ディスク装置であって、光ディスクにデータを記録する際に、前記光ディスクの前記データが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた前記既記録領域における、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きとトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きとの差に関する情報である既知の補正情報と、前記データが記録される記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きに関する情報とに基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報を取得する制御情報取得手段と；前記光ディスクの記録面に光ビームを照射し、前記記録面からの反射光を受光する光ピックアップ装置と；前記光ピックアップ装置の出力信号を用いて、データの記録、再生及び消去のうち少なくとも記録を行なう処理装置と；を備える光ディスク装置である。
【００６１】
これによれば、光ディスクにデータを記録する際に、制御情報取得手段により、光ディスクのデータが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた既記録領域における、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの対物レンズの傾きとトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きとの差に関する情報である既知の補正情報と、データが記録される記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きに関する情報とに基づいて、対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報が取得される。この場合、例えば記録対象領域におけるトラックエラー信号のみに基づいて取得されたチルト制御情報に比べて、精度の良いチルト制御情報を取得することができる。また、短時間でチルト制御情報を取得することができる。従って、結果として応答性に優れた光ディスクへのアクセスを安定して行うことができる。
【００８０】
なお、本明細書では、「温度情報」は温度そのものだけでなく、温度変化に対応して変化する情報、及び温度に換算することができる情報などを含む。
【００８１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を図１〜図１５に基づいて説明する。図１には、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の概略構成が示されている。
【００８２】
この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するためのスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、レーザコントロール回路２４、エンコーダ２５、ドライバ２７、再生信号処理回路２８、サーボコントローラ３３、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、フラッシュメモリ３９、ＣＰＵ４０、メモリとしてのＲＡＭ４１及び温度検知手段としての温度センサ４２などを備えている。なお、図１における接続線は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。また、本実施形態では、一例としてＤＶＤ系の規格に準拠した光ディスクが用いられるものとする。
【００８３】
前記光ピックアップ装置２３は、光ディスク１５のスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面の所定位置にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するための装置である。なお、この光ピックアップ装置２３の構成などについては後に詳述する。
【００８４】
前記再生信号処理回路２８は、図２に示されるように、Ｉ／Ｖアンプ２８ａ、サーボ信号検出回路２８ｂ、ウォブル信号検出回路２８ｃ、ＲＦ信号検出回路２８ｄ、デコーダ２８ｅ、ＴＥ振幅検出回路２８ｆ、ＲＦ振幅検出回路２８ｇ、ピーク値検出回路２８ｈ、及びボトム値検出回路２８ｉなどから構成されている。
【００８５】
Ｉ／Ｖアンプ２８ａは、光ピックアップ装置２３の出力信号である電流信号を電圧信号に変換するとともに、所定のゲインで増幅する。サーボ信号検出回路２８ｂは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてサーボ信号（フォーカスエラー信号及びトラックエラー信号など）を検出する。ここで検出されたサーボ信号はサーボコントローラ３３に出力される。ウォブル信号検出回路２８ｃは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてウォブル信号を検出する。ＲＦ信号検出回路２８ｄは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてＲＦ信号を検出する。デコーダ２８ｅは、ウォブル信号検出回路２８ｃで検出されたウォブル信号からＡＤＩＰ（Address In Pregroove）情報及び同期信号などを抽出する。ここで抽出されたＡＤＩＰ情報はＣＰＵ４０に出力され、同期信号はエンコーダ２５に出力される。また、デコーダ２８ｅは、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号に対して復号処理及び誤り訂正処理等を行なった後、再生データとしてバッファマネージャ３７を介してバッファＲＡＭ３４に格納する。なお、再生データが音楽データの場合には、再生データはＤ／Ａ変換された後、外部のオーディオ機器などに出力される。
【００８６】
ＴＥ振幅検出回路２８ｆは、サーボ信号検出回路２８ｂで検出されたトラックエラー信号の振幅（以下「ＴＥ振幅」ともいう）を検出する。ここで検出されたＴＥ振幅は、ＣＰＵ４０に出力される。ＲＦ振幅検出回路２８ｇは、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号の振幅（以下「ＲＦ振幅」ともいう）を検出する。ここで検出されたＲＦ振幅は、ＣＰＵ４０に出力される。
【００８７】
ピーク値検出回路２８ｈは、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号のピークレベルを検出し、ＣＰＵ４０に出力する。ボトム値検出回路２８ｉは、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号のボトムレベルを検出し、ＣＰＵ４０に出力する。
【００８８】
図１に戻り、前記サーボコントローラ３３は、再生信号処理回路２８からのフォーカスエラー信号に基づいてフォーカスずれを補正するための制御信号（以下「フォーカス制御信号」ともいう）を生成し、トラックエラー信号に基づいてトラックずれを補正するための制御信号（以下「トラッキング制御信号」ともいう）を生成する。ここで生成された各制御信号は、サーボオンのときにのみドライバ２７に出力され、サーボオフのときにはドライバ２７に出力されない。サーボオン及びサーボオフはＣＰＵ４０によって制御信号毎に設定される。
【００８９】
前記ドライバ２７は、サーボコントローラ３３からのフォーカス制御信号に応じた駆動電流（以下「フォーカス駆動電流」ともいう）、及びトラッキング制御信号に応じた駆動電流（以下「トラッキング駆動電流」ともいう）を光ピックアップ装置２３に出力する。
【００９０】
また、ドライバ２７は、ＣＰＵ４０からの後述するチルト制御信号に応じた駆動電流（以下「チルト駆動電流」ともいう）、及びシーク制御信号に応じた駆動信号（以下「シーク駆動信号」ともいう）を光ピックアップ装置２３に出力する。さらに、ドライバ２７は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてスピンドルモータ２２に駆動信号を出力する。
【００９１】
前記バッファＲＡＭ３４は、光ディスクに記録するデータ（記録用データ）、及び光ディスクから再生したデータ（再生データ）などが一時的に格納されるバッファ領域と、各種プログラム変数などが格納される変数領域とを有している。
【００９２】
前記バッファマネージャ３７は、バッファＲＡＭ３４へのデータの入出力を管理する。そして、バッファ領域に蓄積されたデータ量が所定量になるとＣＰＵ４０に通知する。
【００９３】
前記エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてバッファＲＡＭ３４のバッファ領域に蓄積されている記録用データをバッファマネージャ３７を介して取り出し、所定のデータ変調処理及びエラー訂正コードの付加処理などを行ない、光ディスク１５への書き込み信号を生成するとともに、再生信号処理回路２８からの同期信号に同期して書き込み信号をレーザコントロール回路２４に出力する。
【００９４】
前記レーザコントロール回路２４は、エンコーダ２５からの書き込み信号及びＣＰＵ４０の指示に基づいて、光ディスク１５に照射するレーザ光の出力を制御する制御信号（以下「ＬＤ制御信号」ともいう）を光ピックアップ装置２３に出力する。
【００９５】
前記温度センサ４２は、光ピックアップ装置２３の近傍に配置され、光ピックアップ装置２３の近傍における温度情報を検出し、その検出結果をＣＰＵ４０に出力する。
【００９６】
前記インターフェース３８は、ホスト（例えばパソコン）との双方向の通信インターフェースであり、一例としてＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）の規格に準拠している。
【００９７】
前記フラッシュメモリ３９は、プログラム領域及びデータ領域を含んで構成されている。このフラッシュメモリ３９は不揮発性メモリであり、電源供給が停止されても格納されている内容は保持される。
【００９８】
フラッシュメモリ３９のプログラム領域には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述された後述するチルト制御を行なう際に用いられる本発明に係るプログラム（以下、「チルト制御プログラム」という）を含むプログラムが格納されている。
【００９９】
フラッシュメモリ３９のデータ領域には、チルト制御を行なうときのトラックの分割方法がトラック分割情報として格納されている。トラック分割情報は、記録時の分割情報と再生時の分割情報とをそれぞれ含んでいる。ここでは、一例として図３（Ａ）に示されるように、記録時には６つの領域（以下「ライトゾーン」という）に分割してチルト制御を行なうものとする。光ディスクの回転中心からの距離PがP0≦P＜P1の領域をライトゾーンWZ1、P1≦P＜P2の領域をライトゾーンWZ2、P2≦P＜P3の領域をライトゾーンWZ3、P3≦P＜P4の領域をライトゾーンWZ4、P4≦P＜P5の領域をライトゾーンWZ5、P5≦P＜P6の領域をライトゾーンWZ6、とする。例えばノート型パソコンに内蔵されている光ディスク装置などでは、ユーザの押し込み動作によって光ディスクがターンテーブル上にチャッキングされるため、光ディスクの回転中心近傍ではそりが大きくなる。また、光ディスクの外周近傍では自重により垂れ下がる傾向にある。そこで、光ディスクの回転中心に近いライトゾーン及び外周に近いライトゾーンが狭くなるように設定されている。なお、P0＜P1＜P2＜P3＜P4＜P5＜P6の関係にある。また、一例として図３（Ｂ）に示されるように、再生時には２つの領域（以下「リードゾーン」という）に分割してチルト制御を行なうものとする。P0≦P＜P7の領域をリードゾーンRZ1、P7≦P＜P6の領域をリードゾーンRZ2とする。光ディスクの回転中心近傍ではそりが大きいため、リードゾーンRZ1はリードゾーンRZ2よりも狭くなるように設定されている。
【０１００】
また、フラッシュメモリ３９のデータ領域には、予め実験などで得られた、再生時における対物レンズの最適な傾きと記録時における対物レンズの最適な傾きとの差がリードオフセット値として格納されている。
【０１０１】
前記ＣＰＵ４０は、フラッシュメモリ３９のプログラム領域に格納されている上記プログラムに従って前記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータなどをＲＡＭ４１及びバッファＲＡＭ３４に保存する。
【０１０２】
次に、前記光ピックアップ装置２３の構成等について図４〜図８（Ｂ）を用いて説明する。この光ピックアップ装置２３は、図４に示されるように、スピンドルモータ２２によって回転している光ディスク１５の記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するピックアップ本体１０１、このピックアップ本体１０１を保持するとともに、ピックアップ本体１０１のＸ軸方向（紙面左右方向）への移動をガイドする２本のシークレール１０２、及びピックアップ本体１０１をＸ軸方向に駆動するためのシークモータ（図示省略）などを含んで構成されている。
【０１０３】
上記ピックアップ本体１０１は、ハウジング７１と、このハウジング７１の内部に格納され、光ディスク１５の記録面に照射する光束を出射する光束出射系１２と、ハウジング７１上に配置され、光束出射系１２からの光束を光ディスク１５の記録面の所定位置に集光する集光系１１とから構成されている。
【０１０４】
上記光束出射系１２は、図５に示されるように、光源ユニット５１、カップリングレンズ５２、ビームスプリッタ５４、立ち上げミラー５６、検出レンズ５８、シリンドリカルレンズ５７及び受光器５９などを備えている。
【０１０５】
上記光源ユニット５１は、波長が６６０ｎｍの光束を発光する光源としての半導体レーザ（図示省略）を備えており、光源ユニット５１から出射される光束（以下「出射光束」ともいう）の最大強度出射方向が＋Ｘ方向となるようにハウジング７１に固定されている。
【０１０６】
前記カップリングレンズ５２は、光源ユニット５１の＋Ｘ側に配置され、出射光束を略平行光とする。前記ビームスプリッタ５４は、カップリングレンズ５２の＋Ｘ側に配置され、光ディスク１５の記録面からの反射光（戻り光束）を−Ｙ方向に分岐する。前記立ち上げミラー５６は、ビームスプリッタ５４の＋Ｘ側に配置され、ビームスプリッタ５４を透過した出射光束の最大強度出射方向を＋Ｚ方向に変更する。立ち上げミラー５６で最大強度出射方向が＋Ｚ方向に変更された出射光束は、ハウジング７１に設けられた開口部５３を介して前記集光系１１に入射する。
【０１０７】
前記検出レンズ５８は、ビームスプリッタ５４の−Ｙ側に配置され、ビームスプリッタ５４で−Ｙ方向に分岐された戻り光束を集光する。前記シリンドリカルレンズ５７は、検出レンズ５８の−Ｙ側に配置され、検出レンズ５８で集光された戻り光束を整形する。前記受光器５９は、シリンドリカルレンズ５７の−Ｙ側に配置され、シリンドリカルレンズ５７で整形された戻り光束を受光面で受光する。この受光器５９には、通常の光ディスク装置と同様に４分割受光素子が用いられており、各分割領域（以下、便宜上「部分受光素子」という）からは、それぞれ受光量に応じた信号（電流信号）が再生信号処理回路２８に出力される。すなわち、ハウジング７１の内部には、光源ユニット５１から出射された光束を集光系１１に導くとともに、戻り光束を受光器５９に導くための光路が形成されている。
【０１０８】
前記集光系１１は、図６及び図６におけるＡ−Ａ線断面図である図７に示されるように、対物レンズ６０、対物レンズ６０を保持するレンズホルダ８１、２つのトラッキング用コイル（８２ａ，８２ｂ）、フォーカス用コイル８４、ヨーク８６、２つのチルト用コイル（８８ａ，８８ｂ）、４つの永久磁石（９１ａ，９１ｂ，９１ｃ，９１ｄ）、導電性を有する４本の線ばね（９２ａ1，９２ａ2，９２ｂ1，９２ｂ2）、線ばね固定部８７、ガイド軸９４、及びガイド軸固定部９３などから構成されている。
【０１０９】
前記ガイド軸固定部９３は、図８（Ａ）に示されるように、底壁及該底壁からＺ軸方向に立ち上がった３方（＋Ｙ側、−Ｘ側及び＋Ｘ側）の側壁を有する部材である。底壁はハウジング７１上の所定位置に固定されている。なお、以下では、＋Ｙ側の側壁を第１固定側壁、−Ｘ側の側壁を第２固定側壁、＋Ｘ側の側壁を第３固定側壁と呼ぶこととする。第１固定側壁の−Ｙ側の面には、円柱形状の前記ガイド軸９４が、その長手方向とＹ軸方向とがほぼ一致するように配置されている。また、第２固定側壁の＋Ｘ側の面には、前記永久磁石９１ｃが配置され、第３固定側壁の−Ｘ側の面には、前記永久磁石９１ｄが配置されている。なお、永久磁石９１ｃ及び永久磁石９１ｄは互いにほぼ同一の形状及び磁石特性を有している。
【０１１０】
上記線ばね固定部８７は、複数の入力端子及び出力端子（いずれも図示省略）を備えている。各入力端子には、ドライバ２７からの複数の信号線がそれぞれ接続され、前記フォーカス駆動電流、トラッキング駆動電流及びチルト駆動電流などが入力される。また、線ばね固定部８７の中央部には図８（Ｂ）に示されるようにＹ軸方向に延びる円筒形状の開口部８７ａが形成されている。そして、この開口部８７ａには、ガイド軸９４が挿入されている。さらに、線ばね固定部８７には２つのチルト用コイル（８８ａ，８８ｂ）がそれぞれ所定位置に配置されている。各チルト用コイルは互いにほぼ同一の形状を有し、各チルト用コイルに駆動電流が供給されると、線ばね固定部８７をガイド軸９４回りに回動させるための回転力が発生するように、チルト用コイル８８ａが永久磁石９１ｃに対向する位置に配置され、チルト用コイル８８ｂが永久磁石９１ｄに対向する位置に配置されている。なお、回動方向は各チルト用コイルに流れる駆動電流の向きによって制御することができる。また、各チルト用コイルは、必要とされる回転力に応じた大きさ及び形状をそれぞれ有している。
【０１１１】
前記レンズホルダ８１は、光束出射系１２からの出射光束の最大強度出射方向と対物レンズ６０の光軸とがほぼ一致する位置に配置されている。このレンズホルダ８１には、２つのトラッキング用コイル（８２ａ，８２ｂ）及びフォーカス用コイル８４がそれぞれ所定位置に固定されている。なお、対物レンズ６０、レンズホルダ８１、各トラッキング用コイル及びフォーカス用コイル８４は一体となって移動するので、以下では、便宜上これらが一体化したものを「可動部」と呼ぶこととする。なお、図８（Ｂ）では各トラッキング用コイル及びフォーカス用コイル８４の図示を省略している。
【０１１２】
また、レンズホルダ８１には、各トラッキング用コイルに駆動電流を供給するための端子（Ｔａ1、Ｔｂ1とする）、及びフォーカス用コイルに駆動電流を供給するための端子（Ｔａ2、Ｔｂ2とする）が設けられている。ここでは、レンズホルダ８１の−Ｘ側の面に端子Ｔａ1及びＴａ2が、レンズホルダ８１の＋Ｘ側の面に端子Ｔｂ1及びＴｂ2が設けられている。そして、端子Ｔａ1には線ばね９２ａ1の一端が接続され、端子Ｔａ2には線ばね９２ａ2の一端が接続されている。また、端子Ｔｂ1には線ばね９２ｂ1の一端が接続され、端子Ｔｂ2には線ばね９２ｂ2の一端が接続されている。
【０１１３】
各線ばねはＹ軸方向に延び、それらの他端は線ばね固定部８７の所定の出力端子に、はんだ付けなどによってそれぞれ接続されている。すなわち、可動部は、４本の線ばねを介して線ばね固定部８７に弾性的に支持されている。従って、線ばね固定部８７が、ガイド軸９４回りに回動すると可動部も一体となって回動することとなる。
【０１１４】
図７に戻り、前記ヨーク８６は、底壁及該底壁からＺ軸方向に立ち上がった２方（−Ｙ側及び＋Ｙ側）の側壁を有する部材である。底壁はハウジング７１上の所定位置に固定されている。なお、以下では、−Ｙ側の側壁を第１ヨーク側壁、＋Ｙ側の側壁を第２ヨーク側壁と呼ぶこととする。第１ヨーク側壁の＋Ｙ側の面には永久磁石９１ａが配置され、第２ヨーク側壁の−Ｙ側の面には永久磁石９１ｂが配置されている。
【０１１５】
フォーカス用コイル８４は、駆動電流が供給されると＋Ｚ方向（又は−Ｚ方向）に可動部を駆動するための駆動力が発生するように、永久磁石９１ｂ及び第２ヨーク側壁を巻回する位置に配置されている。なお、駆動方向（＋Ｚ方向又は−Ｚ方向）はフォーカス用コイル８４を流れる駆動電流の向きによって制御することができる。また、フォーカス用コイル８４は、必要とされる駆動力に応じた大きさ及び形状を有している。
【０１１６】
２つのトラッキング用コイル（８２ａ，８２ｂ）は、駆動電流が供給されると＋Ｘ方向（又は−Ｘ方向）に可動部を駆動するための駆動力が発生するように、それぞれ永久磁石９１ａに対向する位置に配置されている。なお、駆動方向（＋Ｘ方向又は−Ｘ方向）は各トラッキング用コイルに流れる駆動電流の向きによって制御することができる。また、各トラッキング用コイルは、必要とされる駆動力に応じた大きさ及び形状を有している。
【０１１７】
ここで、前記ＬＤ制御信号、フォーカス駆動電流、トラッキング駆動電流、チルト駆動電流、及びシーク駆動信号が、前述のようにして構成された光ピックアップ装置２３に供給されたときの作用についてそれぞれ簡単に説明する。なお、光ピックアップ装置２３は、光ディスク１５の記録面に垂直な方向がＺ軸方向、トラックの接線方向がＹ軸方向と一致するように光ディスク装置２０に搭載されているものとする。すなわち、Ｘ軸方向がトラッキング方向、Ｚ軸方向がフォーカス方向となる。
【０１１８】
《ＬＤ制御信号》
レーザコントロール回路２４からのＬＤ制御信号は光源ユニット５１に入力され、光源ユニット５１から＋Ｘ方向にＬＤ制御信号に応じたパワーの光束が出射される。この光束（出射光束）は、カップリングレンズ５２で略平行光となった後、ビームスプリッタ５４に入射する。ビームスプリッタ５４を透過した出射光束は、立ち上げミラー５６で＋Ｚ方向に反射され、ハウジング７１の開口部５３を介して集光系１１に入射する。集光系１１に入射した出射光束は、対物レンズ６０によって光ディスク１５の記録面に微小スポットとして集光される。光ディスク１５の記録面での反射光は、戻り光束として対物レンズ６０で再び略平行光とされ、ハウジング７１の開口部５３を介して立ち上げミラー５６に入射する。立ち上げミラー５６に入射した戻り光束は−Ｘ方向に反射され、ビームスプリッタ５４に入射する。ビームスプリッタ５４で−Ｙ方向に分岐された戻り光束は、検出レンズ５８及びシリンドリカルレンズ５７を介して受光器５９で受光される。受光器５９を構成する各部分受光素子は、受光量に応じた電流信号をそれぞれ再生信号処理回路２８に出力する。
【０１１９】
《フォーカス駆動電流》
ドライバ２７からのフォーカス駆動電流は、線ばね固定部８７の所定の入力端子に入力され、線ばね９２ａ2及び線ばね９２ｂ2を介してフォーカス用コイル８４に供給される。そして、フォーカス駆動電流の大きさ及び向きに応じて可動部がフォーカス方向に駆動される。これにより、対物レンズ６０はフォーカス方向にシフトし、フォーカスずれが補正される。なお、フォーカス駆動電流の供給が停止されると、可動部はフォーカス方向に関する所定の基準位置（フォーカス基準位置）に戻る。
【０１２０】
《トラッキング駆動電流》
ドライバ２７からのトラッキング駆動電流は、線ばね固定部８７の所定の入力端子に入力され、線ばね９２ａ1及び線ばね９２ｂ1を介して各トラッキング用コイルに供給される。そして、トラッキング駆動電流の大きさ及び向きに応じて可動部がトラッキング方向に駆動される。これにより、対物レンズ６０はトラッキング方向にシフトし、トラックずれが補正される。なお、トラッキング駆動電流の供給が停止されると、可動部はトラッキング方向に関する所定の基準位置（トラッキング基準位置）に戻る。
【０１２１】
《チルト駆動電流》
ドライバ２７からのチルト駆動電流は、線ばね固定部８７の所定の入力端子に入力され、所定の出力端子を介して各チルト用コイルに供給される。そして、チルト駆動電流の大きさ及び向きに応じて線ばね固定部８７とともに可動部がガイド軸９４まわりに回動する。これにより、対物レンズ６０はＸＺ面内で回動し、チルトが補正される。なお、チルト駆動電流の供給が停止されると、線ばね固定部８７及び可動部はＸＺ面内に関する所定の基準位置（チルト基準位置）に戻る。また、以下では、チルト基準位置に対する対物レンズ６０のＸＺ面内における傾斜角を「チルト駆動量」ともいう。
【０１２２】
《シーク駆動信号》
ドライバ２７からのシーク駆動信号は、不図示のシークモータに供給される。これにより、ピックアップ本体１０１はシークレール１０２にガイドされながらＸ軸方向に移動する。なお、シーク駆動信号の供給が停止されると、ピックアップ本体１０１は停止時の位置を維持する。
【０１２３】
次に、前述のように構成される光ディスク装置２０に光ディスク１５がローディングされたときに実施される、ゾーン毎にＴＥ振幅がほぼ最大となる時のチルト駆動量（以下、便宜上「最大ＴＥチルト駆動量」ともいう）の取得処理について図９及び図１０を用いて説明する。図９及び図１０のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。光ディスク１５のローディングが検知されると、図９及び図１０のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、最大ＴＥチルト駆動量の取得処理がスタートする。
【０１２４】
最初のステップ３０１では、フラッシュメモリ３９のデータ領域に格納されている前記トラック分割情報を参照し、ライトゾーン数Ｚwを取得する。ここではＺw＝６である。
【０１２５】
次のステップ３０３では、取得処理の対象となるライトゾーン（以下では、便宜上「対象ライトゾーン」という）を示す対象ライトゾーン番号Ｎwzに１をセットし、初期化する。
【０１２６】
次のステップ３０５では、対象ライトゾーンの所定位置にピックアップ本体１０１が位置するようにシーク制御信号を出力する。所定位置として例えば対象ライトゾーンの中央近傍の位置を用いても良い。ピックアップ本体１０１が所定位置に到達すると、ステップ３０７に移行する。
【０１２７】
このステップ３０７では、チルト駆動量Ｍtltとして、予め設定されている初期値t0をセットする。
【０１２８】
次のステップ３０９では、チルト駆動量Ｍtltに対応するチルト制御信号をドライバ２７に出力する。
【０１２９】
次のステップ３１１では、前記ＴＥ振幅検出回路２８ｆを介してＴＥ振幅を取得し、このときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けてライトゾーンＴＥ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１３０】
次のステップ３１３では、チルト駆動量Ｍtltが予め設定されている値ｔm（＞t0）以上であるか否かを判断する。ここではＭtlt＝t0であるため、ここでの判断は否定され、ステップ３１５に移行する。
【０１３１】
このステップ３１５では、チルト駆動量Ｍtltに予め設定されている増分Δtを加算し、前記ステップ３０９に戻る。
【０１３２】
以下、ステップ３１３での判断が肯定されるまで、上記ステップ３０９〜３１５の処理を繰り返し行う。
【０１３３】
チルト駆動量Ｍtltがｔm以上になると、上記ステップ３１３での判断は肯定され、ステップ３１７に移行する。
【０１３４】
このステップ３１７では、ＲＡＭ４１に保存されている前記ライトゾーンＴＥ振幅情報に基づいて、最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを求める。ここでは、例えば最小自乗法を用いてチルト駆動量とＴＥ振幅との関係を示す回帰式を求め、その回帰式から最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを求めても良い（図１４参照）。
【０１３５】
次のステップ３１９では、得られた最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを対象ライトゾーンと対応付けてライトゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１３６】
次のステップ３２１では、対象ライトゾーン番号Ｎwzに１を加算し、次のライトゾーンを対象ライトゾーンとする。
【０１３７】
次のステップ３２３では、対象ライトゾーン番号Ｎwzがライトゾーン数Ｚwを超えているか否かを判断する。ここではＮwz＝２であるため、ここでの判断は否定され前記ステップ３０５に戻る。
【０１３８】
なお、ＮwzがＺwを超えると、上記ステップ３２３での判断は肯定され図１０のステップ３３１に移行する。このときには、Ｚw個のライトゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報がＲＡＭ４１に保存されていることとなる。
【０１３９】
このステップ３３１では、フラッシュメモリ３９のデータ領域に格納されている前記トラック分割情報を参照し、リードゾーン数Ｚrを取得する。ここではＺr＝２である。
【０１４０】
次のステップ３３３では、取得処理の対象となるリードゾーン（以下では、便宜上「対象リードゾーン」という）を示す対象リードゾーン番号Ｎrzに１をセットし、初期化する。
【０１４１】
次のステップ３３５では、対象リードゾーンの所定位置にピックアップ本体１０１が位置するようにシーク制御信号を出力する。所定位置として例えば対象リードゾーンの中央付近の位置を用いても良い。ピックアップ本体１０１が所定位置に到達すると、ステップ３３７に移行する。
【０１４２】
このステップ３３７では、チルト駆動量Ｍtltに初期値t0をセットする。
【０１４３】
次のステップ３３９では、チルト駆動量Ｍtltに対応するチルト制御信号をドライバ２７に出力する。
【０１４４】
次のステップ３４１では、ＴＥ振幅検出回路２８ｆを介してＴＥ振幅を取得し、このときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けてリードゾーンＴＥ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１４５】
次のステップ３４３では、チルト駆動量Ｍtltがｔm以上であるか否かを判断する。ここではＭtlt＝t0であるため、ここでの判断は否定されステップ３４５に移行する。
【０１４６】
このステップ３４５では、チルト駆動量Ｍtltに増分Δtを加算し、前記ステップ３３９に戻る。
【０１４７】
以下、ステップ３４３での判断が肯定されるまで、上記ステップ３３９〜３４５の処理を繰り返し行う。
【０１４８】
チルト駆動量Ｍtltがｔm以上になると、上記ステップ３４３での判断は肯定されステップ３４７に移行する。
【０１４９】
このステップ３４７では、ＲＡＭ４１に保存されている前記リードゾーンＴＥ振幅情報に基づいて、前記ステップ３１７と同様にして、最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを求める。
【０１５０】
次のステップ３４９では、得られた最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを対象リードゾーンと対応付けてリードゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１５１】
次のステップ３５１では、対象リードゾーン番号Ｎrzに１を加算し、次のリードゾーンを対象リードゾーンとする。
【０１５２】
次のステップ３５３では、対象リードゾーン番号Ｎrzがリードゾーン数Ｚrを超えているか否かを判断する。ここではＮrz＝２であるため、ここでの判断は否定され前記ステップ３３５に戻る。
【０１５３】
一方、前記ステップ３５３において、ＮrzがＺrを超えていれば、ステップ３５３での判断は肯定されステップ３５５に移行する。なお、このときにはＺr個のリードゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報がＲＡＭ４１に保存されていることとなる。
【０１５４】
このステップ３５５では、前記温度センサ４２を介して、このときの光ピックアップ装置２３の近傍における温度情報を検出する。
【０１５５】
次のステップ３５７では、検出された温度情報を前記各ライトゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報及び各リードゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報にそれぞれ最大ＴＥチルト駆動量Ｍteが得られたときの温度情報として付加する。そして、最大ＴＥチルト駆動量の取得処理を終了する。
【０１５６】
次に、前記光ディスク装置２０を用いて、光ディスク１５にデータを記録するときの処理動作について図１１〜図１４を用いて説明する。図１１〜図１３のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。ホストからの記録要求コマンドを受信すると、図１１〜図１３のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、処理（以下では「記録要求受信処理」という）がスタートする。なお、ここでは便宜上、データが記録される領域（記録対象領域）は１つのライトゾーンに含まれるものとする。
【０１５７】
最初のステップ４０１では、フラッシュメモリ３９に格納されている前記トラック分割情報を参照し、記録対象領域が含まれるライトゾーンを特定する。
【０１５８】
次のステップ４０３では、特定されたライトゾーン（以下「特定ライトゾーン」と略述する）における、ＲＦ振幅がほぼ最大となるときのチルト駆動量（以下、便宜上「最大ＲＦチルト駆動量」ともいう）と最大ＴＥチルト駆動量との差（以下、便宜上「補正オフセット値」ともいう）ΔＭがＲＡＭ４１に保存されているか否かを判断する。特定ライトゾーンにおける補正オフセット値ΔＭがＲＡＭ４１に保存されていなければ、ここでの判断は否定されステップ４０５に移行する。
【０１５９】
このステップ４０５では、後述する最適なチルト駆動量の取得リトライ回数が格納されるリトライカウンタＣ2に初期値０をセットする。
【０１６０】
次のステップ４０９では、記録対象領域の近傍に位置し、すでにデータが記録されている領域（既記録領域）を決定する。
【０１６１】
次のステップ４１１では、上記決定された既記録領域の先頭位置にピックアップ本体１０１が位置するようにシーク制御信号を出力する。ピックアップ本体１０１が既記録領域の先頭位置に到達すると、ステップ４１３に移行する。
【０１６２】
このステップ４１３では、チルト駆動量Ｍtltに初期値t0をセットする。
【０１６３】
次のステップ４１５では、ＴＥ振幅及びＲＦ振幅の取得リトライ回数が格納されるリトライカウンタＣ1に初期値０をセットする。
【０１６４】
次のステップ４１７では、チルト駆動量Ｍtltに対応するチルト制御信号をドライバ２７に出力する。
【０１６５】
次のステップ４１９では、前記ＴＥ振幅検出回路２８ｆを介してＴＥ振幅を取得し、このときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けて既記録領域ＴＥ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１６６】
次のステップ４２１では、前記ＲＦ振幅検出回路２８ｇを介してＲＦ振幅を取得する。
【０１６７】
次のステップ４２３では、取得されたＲＦ振幅が予め設定されている値Ｌrf未満であるか否かを判断する。ＲＦ振幅がＬrf未満であれば、このときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けてＲＦ振幅を既記録領域ＲＦ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存する。そして、ここでの判断は肯定されステップ４２７に移行する。
【０１６８】
このステップ４２７では、チルト駆動量Ｍtltがｔm以上であるか否かを判断する。ここではＭtlt＝t0であるため、ここでの判断は否定されステップ４２９に移行する。
【０１６９】
このステップ４２９では、チルト駆動量Ｍtltに増分Δtを加算し、前記ステップ４１５に戻る。
【０１７０】
一方、上記ステップ４２３において、ＲＦ振幅がＬrf以上であれば、ステップ４２３での判断は否定されステップ４３１に移行する。
【０１７１】
このステップ４３１では、リトライカウンタＣ1に１を加算する。
【０１７２】
次のステップ４３３では、リトライカウンタＣ1の値が予め設定されている値Ｎ1（Ｎ1は２以上の整数）未満であるか否かを判断する。リトライカウンタＣ1の値がＮ1未満であれば、ここでの判断は肯定されステップ４３５に移行する。
【０１７３】
このステップ４３５では、前記決定された既記録領域とは別の既記録領域を設定し、該既記録領域の先頭位置にピックアップ本体１０１が位置するようにシーク制御信号を出力する。ピックアップ本体１０１が該既記録領域の先頭位置に到達すると、前記ステップ４１９に戻る。すなわち、ＴＥ振幅及びＲＦ振幅を破棄し、ＴＥ振幅及びＲＦ振幅の取得リトライを行なう。
【０１７４】
なお、上記ステップ４３３において、リトライカウンタＣ1の値がＮ1以上であれば、リトライオーバとなり、ステップ４３３での判断は否定されステップ４３７に移行する。
【０１７５】
このステップ４３７では、ＲＦ振幅を破棄し、上記ステップ４１９で得られたＴＥ振幅に予め実験などにより得られている係数αを乗じた値をＲＦ振幅とする。そして、このＲＦ振幅をこのときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けて既記録領域ＲＦ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存したのち、前記ステップ４２７に移行する。
【０１７６】
前記ステップ４２７において、チルト駆動量Ｍtltがｔm以上であれば、ここでの判断は肯定され、図１２のステップ４５１に移行する。
【０１７７】
このステップ４５１では、ＲＡＭ４１に保存されている前記既記録領域ＴＥ振幅情報に基づいて、最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを求める（図１４参照）。
【０１７８】
次のステップ４５３では、ＲＡＭ４１に保存されている前記既記録領域ＲＦ振幅情報に基づいて、最大ＲＦチルト駆動量Ｍrfを求める（図１４参照）。
【０１７９】
ステップ４５５では、次の（１）式に基づいて、補正オフセット値ΔＭを算出する。
【０１８０】
ΔＭ＝Ｍrf−Ｍte ……（１）
【０１８１】
次のステップ４５７では、温度センサ４２を介して、このときの光ピックアップ装置２３の近傍における温度情報を検出する。
【０１８２】
次のステップ４５９では、上記ステップ４５５で得られた補正オフセット値ΔＭ、上記ステップ４５７で得られた温度情報及び特定ライトゾーンをそれぞれ関連付けて補正オフセット値情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１８３】
次のステップ４６１では、記録対象領域の先頭位置にピックアップ本体１０１が位置するようにシーク制御信号を出力する。ピックアップ本体１０１が記録対象領域の先頭位置に到達すると、ステップ４６３に移行する。
【０１８４】
このステップ４６３では、ＲＡＭ４１に保存されている複数のライトゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報のなかから特定ライトゾーンにおけるライトゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報を抽出する。
【０１８５】
このステップ４６５では、特定ライトゾーンにおける最大ＴＥチルト駆動量Ｍteが得られたときの温度と現在の温度との差が予め設定されている値ΔＴ以上であるか否かを判断する。温度差がΔＴ以上であれば、ここでの判断は肯定されステップ４６７に移行する。
【０１８６】
このステップ４６７では、チルト駆動量Ｍtltに初期値t0をセットする。
【０１８７】
次のステップ４６９では、チルト駆動量Ｍtltに対応するチルト制御信号をドライバ２７に出力する。
【０１８８】
次のステップ４７１では、ＴＥ振幅検出回路２８ｆを介してＴＥ振幅を取得し、このときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けて特定ライトゾーンＴＥ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１８９】
次のステップ４７３では、チルト駆動量Ｍtltがｔm以上であるか否かを判断する。ここではＭtlt＝t0であるため、ここでの判断は否定されステップ４７５に移行する。
【０１９０】
このステップ４７５では、チルト駆動量Ｍtltに増分Δtを加算し、前記ステップ４６７に戻る。
【０１９１】
以下、ステップ４７３での判断が肯定されるまで、上記ステップ４６７〜４７５の処理を繰り返し行う。
【０１９２】
チルト駆動量Ｍtltがｔm以上になると、前記ステップ４７３での判断が肯定されステップ４７７に移行する。
【０１９３】
このステップ４７７では、ＲＡＭ４１に保存されている前記特定ライトゾーンＴＥ振幅情報に基づいて、最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを求める。
【０１９４】
次のステップ４７９では、上記ステップ４７７で得られた最大ＴＥチルト駆動量Ｍte、上記ステップ４５７で得られた温度情報及び特定ライトゾーンをそれぞれ関連付けてライトゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報としてＲＡＭ４１に保存する。そして、ステップ５０１に移行する。
【０１９５】
一方、上記ステップ４６５において、温度差が所定値未満であれば、ステップ４６５での判断は否定されステップ５０１に移行する。
【０１９６】
ステップ５０１では、次の（２）式に基づいて、最適なチルト駆動量Ｍを算出する。そして、図１３のステップ５０３に移行する。
【０１９７】
Ｍ＝Ｍte＋ΔＭ ……（２）
【０１９８】
このステップ５０３では、特定ライトゾーンの前後のライトゾーンにおける最適なチルト駆動量がそれぞれＲＡＭ４１に保存されているか否かを判断する。各最適なチルト駆動量がＲＡＭ４１に保存されていれば、ここでの判断は肯定されステップ５０５に移行する。
【０１９９】
このステップ５０５では、特定ライトゾーンの前後のライトゾーンにおける各最適なチルト駆動量を参照し、特定ライトゾーンにおける最適なチルト駆動量の推定値ΔＭsを求める。ここでは、一例として各最適なチルト駆動量の一次補間から推定値ΔＭsを求める。
【０２００】
次のステップ５０７では、前記ステップ５０１で算出された最適なチルト駆動量Ｍと推定値ΔＭsとの差分が、予め設定されている値ｍ以下であるか否かを判断する。すなわち、前記ステップ５０１で算出された最適なチルト駆動量Ｍが有効であるか否かを判断する。上記差分がｍを超えていれば、ここでの判断は否定されステップ５０９に移行する。
【０２０１】
このステップ５０９では、リトライカウンタＣ2に１を加算する。
【０２０２】
次のステップ５１１では、リトライカウンタＣ2の値が予め設定されている値Ｎ2（Ｎ2は２以上の整数）未満であるか否かを判断する。リトライカウンタＣ2の値がＮ2未満であれば、ここでの判断は肯定され前記ステップ４０９に戻る。すなわち、最適なチルト駆動量の取得リトライを行なう。一方、リトライカウンタＣ2の値がＮ2以上であれば、リトライオーバとなり、ここでの判断は否定されステップ５１３に移行する。
【０２０３】
このステップ５１３では、推定値ΔＭsの値を最適なチルト駆動量Ｍとする。
【０２０４】
次のステップ５１９では、最適なチルト駆動量Ｍ、温度情報及び特定ライトゾーンをそれぞれ関連付けてＲＡＭ４１に保存する。
【０２０５】
次のステップ５２１では、記録速度に基づいてＯＰＣ（Optimum Power Control）を行い、最適な記録パワーを取得する。すなわち、記録パワーを段階的に変化させつつ、ＰＣＡ（Power Calibration Area）と呼ばれる試し書き領域に所定のデータを試し書きした後、それらのデータを順次再生し、例えばＲＦ信号から検出されたアシンメトリの値が予め実験等で求めた目標値とほぼ一致する場合を最も高い記録品質であると判断し、そのときの記録パワーを最適な記録パワーとする。このとき、前記ピーク値検出回路２８ｈを介して最も高い記録品質でのＲＦ信号のピークレベル（Ｌpとする）、前記ボトム値検出回路２８ｉを介して最も高い記録品質でのＲＦ信号のボトムレベル（Ｌbとする）を取得し、次の（３）式に基づいてβ値を算出する。
【０２０６】
β＝（Ｌｐ＋Ｌｂ）／（Ｌｐ−Ｌｂ） ……（３）
【０２０７】
そして、算出されたβ値に基づいて各ライトゾーンにおけるβ値の目標値（以下「目標β値」という）を求める。
【０２０８】
次のステップ５２３では、ホストからのデータの記録処理を行う。そして、ホストからのデータの記録が完了すると記録要求受信処理を終了する。なお、ここでの記録処理については後述する。
【０２０９】
なお、上記ステップ５０３において、特定ライトゾーンの前後のライトゾーンにおける最適なチルト駆動量の少なくとも一方がＲＡＭ４１に保存されていなければ、ステップ５０３での判断は否定され前記ステップ５１９に移行する。すなわち、最適なチルト駆動量Ｍの有効性チェックは行なわれない。また、上記ステップ５０７において、差分がｍ以下であれば、最適なチルト駆動量Ｍは有効であり、ステップ５０７での判断は肯定され前記ステップ５１９に移行する。
【０２１０】
さらに、前記ステップ４０３において、特定ライトゾーンの補正オフセット値ΔＭがＲＡＭ４１にすでに保存されていれば、ステップ４０３での判断は肯定されステップ４４１に移行する。
【０２１１】
このステップ４４１では、前記温度センサ４２を介して、このときの光ピックアップ装置２３の近傍における温度情報を検出する。
【０２１２】
次のステップ４４３では、ＲＡＭ４１に保存されている特定ライトゾーンの補正オフセット値情報を参照し、補正オフセット値ΔＭを求めたときの温度と現在の温度との差がΔＴ以上であるか否かを判断する。温度差がΔＴ以上であれば、ここでの判断は肯定され前記ステップ４０５に移行する。すなわち、特定ライトゾーンにおける補正オフセット値ΔＭを新たに求める。一方、温度差が所定値未満であれば、ステップ４４３での判断は否定されステップ４６１に移行する。すなわち、ＲＡＭ４１に格納されている特定ライトゾーンの補正オフセット値ΔＭが用いられる。
【０２１３】
ここで、上記ステップ５２３でのデータの記録処理について説明する。
【０２１４】
先ず、記録速度に基づいてスピンドルモータ２２の回転を制御するための制御信号をドライバ２７に出力するとともに、記録要求コマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。また、ホストから受信したデータのバッファＲＡＭ３４への蓄積をバッファマネージャ３７に指示する。
【０２１５】
光ディスク１５の回転が所定の線速度に達すると、サーボコントローラ３３に対してサーボオンを指示する。これにより、前述の如くしてトラックずれ及びフォーカスずれが補正される。なお、フォーカスずれ及びトラックずれの補正は記録処理が終了するまで随時行われる。
【０２１６】
再生信号処理回路２８から所定のタイミング毎に出力されるＡＤＩＰ情報に基づいて書き込み開始地点に光ピックアップ装置２３が位置するようにシークモータを制御するシーク制御信号をドライバ２７に出力する。
【０２１７】
バッファマネージャ３７からバッファＲＡＭ３４に蓄積されたデータのデータ量が所定の量を超えたとの通知を受けると、エンコーダ２５に書き込み信号の生成を指示する。
【０２１８】
光ピックアップ装置２３が書き込み開始地点に到達すると、上記最適なチルト駆動量Ｍに対応したチルト制御信号をドライバ２７に出力する。これにより、チルト制御信号に応じたチルト駆動電流がドライバ２７から光ピックアップ装置２３に出力される。
【０２１９】
チルト制御信号の出力前後におけるトラックエラー信号の振幅変化量を求め、最適なチルト駆動量Ｍから推定される予定振幅変化量とほぼ一致していれば、エンコーダ２５に対して書き込みを許可する。なお、振幅変化量が予定振幅変化量と大きく異なっていれば、チルト制御が正常に行なわれていないと判断し、一旦所定の大きなチルト制御信号をドライバ２７に出力して可動部を故意に大きく回動させた後、チルト制御信号を徐々に最適なチルト駆動量Ｍに対応したチルト制御信号とする。そして、振幅変化量が予定振幅変化量とほぼ一致したことを確認すると、エンコーダ２５に対して書き込みを許可する。
【０２２０】
これにより、ホストからのデータは、エンコーダ２５、レーザコントロール回路２４及び光ピックアップ装置２３を介して光ディスク１５に書き込まれる。
【０２２１】
なお、データの記録中には、前記ピーク値検出回路２８ｈ及び前記ボトム値検出回路２８ｉの出力信号に基づいてβ値を算出し、ＲＡＭ４１に格納されている特定ライトゾーンに対応する目標β値とを比較し、それらの差に基づいて記録パワーを修正する、いわゆるランニングＯＰＣを随時行なう。
【０２２２】
また、前記光ディスク装置２０を用いて、光ディスク１５に記録されているデータを再生するときの処理動作について図１５を用いて説明する。図１５のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。ホストからの再生要求コマンドを受信すると、図１５のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、処理（以下では「再生要求受信処理」という）がスタートする。なお、ここでは便宜上、データが再生される領域（再生領域）は１つのリードゾーンに含まれるものとする。
【０２２３】
最初のステップ６０１では、フラッシュメモリ３９に格納されている前記トラック分割情報を参照し、再生領域が含まれるリードゾーンを特定する。ここで特定されたリードゾーンを、以下では「特定リードゾーン」という。
【０２２４】
次のステップ６０３では、ＲＡＭ４１に保存されている複数のリードゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報のなかから、特定リードゾーンにおけるリードゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報を抽出する。
【０２２５】
次のステップ６０５では、温度センサ４２を介して、このときの光ピックアップ装置２３の近傍における温度情報を検出する。
【０２２６】
次のステップ６０７では、特定リードゾーンにおける最大ＴＥチルト駆動量を求めたときの温度と現在の温度との差がΔＴ以上であるか否かを判断する。温度差がΔＴ以上であれば、ここでの判断は肯定されステップ６０９に移行する。
【０２２７】
このステップ６０９では、再生領域の先頭位置にピックアップ本体１０１が位置するようにシーク制御信号を出力する。ピックアップ本体１０１が再生領域の先頭位置に到達すると、ステップ６１１に移行する。
【０２２８】
このステップ６１１では、チルト駆動量Ｍtltに初期値t0をセットする。
【０２２９】
次のステップ６１３では、チルト駆動量Ｍtltに対応するチルト制御信号をドライバ２７に出力する。
【０２３０】
次のステップ６１５では、ＴＥ振幅検出回路２８ｆを介してＴＥ振幅を取得し、このときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けて特定リードゾーンＴＥ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０２３１】
次のステップ６１７では、チルト駆動量Ｍtltがｔm以上であるか否かを判断する。ここではＭtlt＝t0であるため、ここでの判断は否定され、ステップ６１９に移行する。
【０２３２】
このステップ６１９では、チルト駆動量Ｍtltに増分Δtを加算し、前記ステップ６１３に戻る。
【０２３３】
以下、前記ステップ６１７での判断が肯定されるまで、上記ステップ６１３〜６１９の処理を繰り返し行う。
【０２３４】
チルト駆動量Ｍtltがｔm以上になると、前記ステップ６１７での判断が肯定されステップ６２１に移行する。
【０２３５】
このステップ６２１では、ＲＡＭ４１に保存されている前記特定リードゾーンＴＥ振幅情報に基づいて、最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを求める。
【０２３６】
次のステップ６２３では、上記ステップ６２１で得られた最大ＴＥチルト駆動量Ｍte、上記ステップ６０５で得られた温度情報及び特定リードゾーンをそれぞれ関連付けてリードゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報としてＲＡＭ４１に保存する。そして、ステップ６２５に移行する。
【０２３７】
一方、上記ステップ６０７において、温度差がΔＴ未満であれば、ステップ６０７での判断は否定されステップ６２５に移行する。
【０２３８】
ステップ６２５では、フラッシュメモリ３９から前記リードオフセット値を読み出す。
【０２３９】
ステップ６２７では、特定リードゾーンにおける最大ＴＥチルト駆動量Ｍteにリードオフセット値を付加して最適なチルト駆動量を算出する。
【０２４０】
次のステップ６２９では、データの再生処理を行う。そして、ホストから要求されたデータの再生が完了すると処理を終了する。
【０２４１】
ここで、上記ステップ６２９でのデータの再生処理について説明する。
【０２４２】
先ず再生速度に基づいてスピンドルモータ２２の回転を制御するための制御信号をドライバ２７に出力するとともに、再生要求コマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。
【０２４３】
光ディスク１５の回転が所定の線速度に達すると、サーボコントローラ３３に対してサーボオンを指示する。これにより、前述の如くしてトラックずれ及びフォーカスずれが補正される。なお、フォーカスずれ及びトラックずれの補正は再生処理が終了するまで随時行われる。
【０２４４】
次に、読み出し開始地点に光ピックアップ装置２３が位置していなければ、再生信号処理回路２８から所定のタイミング毎に出力されるＡＤＩＰ情報に基づいて、読み出し開始地点に光ピックアップ装置２３が位置するようにシーク制御信号をドライバ２７に出力する。
【０２４５】
そして、光ピックアップ装置２３が読み出し開始地点に到達すると、上記ステップ６２７で算出した最適なチルト駆動量に対応するチルト制御信号をドライバ２７に出力する。これにより、チルト制御信号に応じたチルト駆動電流がドライバ２７から光ピックアップ装置２３に出力される。
【０２４６】
チルト制御信号の出力前後におけるトラックエラー信号（又はＲＦ信号）の振幅変化量を求め、最適なチルト駆動量から推定される予定振幅変化量とほぼ一致していれば、再生信号処理回路２８にチルト制御の終了を通知する。なお、振幅変化量が予定振幅変化量と大きく異なっていれば、チルト制御が正常に行なわれていないと判断し、一旦所定の大きなチルト制御信号をドライバ２７に出力して可動部を故意に大きく回動させた後、チルト制御信号を徐々に最適なチルト駆動量に対応したチルト制御信号とする。そして、振幅変化量が予定振幅変化量とほぼ一致したことを確認すると、再生信号処理回路２８にチルト制御の終了を通知する。
【０２４７】
これにより、ＲＦ信号検出回路２８ｄ及びデコーダ２８ｅを介して再生されたデータはバッファＲＡＭ３４に蓄積される。再生データはセクタデータとして揃うと、バッファマネージャ３７及びインターフェース３８を介してホストに転送される。
【０２４８】
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る光ディスク装置では、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０にて実行されるプログラムとによって、制御情報取得手段、補正情報取得手段、エラー処理手段、無効処理手段、目標β値設定手段、チルト制御手段、補正手段、振幅変化取得手段、格納手段、及び処理装置が実現されている。すなわち、図１２のステップ５０１の処理によって制御情報取得手段が実現されている。図１２のステップ４５５の処理によって補正情報取得手段が実現されている。図１１のステップ４２３、４３１、４３３、４３５、及び４３７の処理によってエラー処理手段が実現されている。図１３のステップ５０７、５０９、５１１、及び５１３の処理によって無効処理手段が実現されている。図１３のステップ５１９の処理によって格納手段が実現されている。なお、目標β値設定手段は図１３のステップ５２１での処理において実現され、振幅変化取得手段及び処理装置は図１３のステップ５２３及び図１５のステップ６２９の処理においてそれぞれ実現されている。また、図１５のステップ６２７の処理によって補正手段が実現されている。チルト制御手段は図１５のステップ６２９での処理において実現されている。しかしながら、本発明がこれに限定されるものではないことは勿論である。すなわち、上記実施形態は一例に過ぎず、ＣＰＵ４０によるプログラムに従う上記処理によって実現した各手段及び処理装置の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全てをハードウェアによって構成することとしても良い。
【０２４９】
また、本実施形態では、フラッシュメモリ３９のプログラム領域にインストールされているプログラムのうち、図１１〜図１３、及び図１５に示されるフローチャートに対応するプログラムによって前記チルト制御プログラムが構成されている。
【０２５０】
そして、図１２のステップ５０１での処理によって本発明に係るチルト制御方法の制御情報取得工程が実施されている。図１２のステップ４５５での処理によって補正情報取得工程が実施されている。図１１のステップ４２３での処理によって第３副工程が実施され、図１１のステップ４３１、４３３、４３５、及び４３７の処理によって第４副工程が実施されている。図１３のステップ５０７の処理によって判断工程が実施され、図１３のステップ５０９、５１１、及び５１３の処理によってエラー処理工程が実施されている。なお、目標β値設定工程は図１３のステップ５２１での処理において実施されている。また、チルト制御工程は図１５のステップ６２７及び６２９での処理において実施されている。さらに、振幅変化取得工程は図１３のステップ５２３及び図１５のステップ６２９の処理においてそれぞれ実施されている。
【０２５１】
以上説明したように、本実施形態に係る光ディスク装置によると、ホストから記録要求コマンドを受信すると、光ディスクの既記録領域における最大ＲＦチルト駆動量と最大ＴＥチルト駆動量との差を示す補正オフセット値（補正情報）と、記録対象領域での最大ＴＥチルト駆動量とに基づいて、対物レンズの傾きを制御するための最適なチルト駆動量（チルト制御情報）を求め、その最適なチルト駆動量に基づいて生成されたチルト制御信号によってチルト制御を行なっている。これにより、記録対象領域での最大ＴＥチルト駆動量のみに基づいて生成されたチルト制御信号によってチルト制御を行なう場合に比べて、対物レンズを介して記録対象領域に形成される光スポットにおける波面収差を抑制することが可能となる。すなわち、記録品質を向上させることができる。また、短時間で最適なチルト駆動量を取得することができる。従って、結果としてパフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く制御することができる。
【０２５２】
また、本実施形態によると、記録時には、記録対象領域の近傍にある既記録領域において補正オフセット値を求めているために、誤差の小さいチルト制御信号を生成することができる。
【０２５３】
また、本実施形態によると、光ディスクがローディングされたときにライトゾーン（記録制御用領域）及びリードゾーン（再生制御用領域）において、それぞれゾーン毎に最大ＴＥチルト駆動量が取得され、そのときの温度情報とともにＲＡＭ４１に保存されている。従って、例えば温度変化が小さい場合には、記録時及び再生時に新たに最大ＴＥチルト駆動量を取得することなく最適なチルト駆動量を求めることが可能となる。すなわち、ホストからの記録要求及び再生要求に対してパフォーマンスを低下させることなく、精度良くチルト制御を行なうことができる。
【０２５４】
また、本実施形態によると、記録及び再生の際に、そのときの温度と、ＲＡＭに保存されている最大ＴＥチルト駆動量を求めたときの温度との差が大きい場合には、ＲＡＭに保存されている最大ＴＥチルト駆動量を用いずに、新たに最大ＴＥチルト駆動量を取得している。これにより、例えば半導体レーザの発光パワーが大きくて、チルトに対する温度変化の影響が無視できない場合であっても、精度良くチルト制御を行なうことができる。
【０２５５】
また、本実施形態によると、ライトゾーン毎に目標β値が設定されているために、ランニングＯＰＣにおけるライトゾーン間のチルト差に起因する誤差が抑制され、最適な発光パワーを維持することができる。すなわち、良好な記録品質を維持することができる。
【０２５６】
また、本実施形態によると、リードゾーンの数がライトゾーンの数に比べて少なく設定されているために、必要な精度のチルト制御を行ないつつ、ホストからの再生要求に対するパフォーマンスを向上させることができる。
【０２５７】
また、本実施形態によると、再生時には、再生時における対物レンズの最適な傾きと記録時における対物レンズの最適な傾きとの差を考慮して、チルト制御信号を生成しているために、精度良くチルト制御を行なうことができる。
【０２５８】
また、本実施形態によると、取得されたＲＦ振幅が所定値以上のときには、そのときのＴＥ振幅及びＲＦ振幅を破棄し、別の既記録領域においてＴＥ振幅及びＲＦ振幅の取得リトライを行なっているために、例えば既記録領域と未記録領域との境界近傍であっても、精度の高い補正オフセット値を求めることができる。そして、リトライオーバになると、ＴＥ振幅に所定の係数を乗じた値をＲＦ振幅としているために、パフォーマンスの低下を抑制することができる。
【０２５９】
また、本実施形態によると、取得された補正オフセット値を所定の情報とともにＲＡＭに保存しているために、同一条件のときに補正オフセット値を取得する処理を新たに行う必要がなく、パフォーマンスを向上させることができる。
【０２６０】
また、本実施形態によると、特定ライトゾーンの前後のライトゾーンにおける既知の最適なチルト駆動量に基づいて、特定ライトゾーンにおいて取得された最適なチルト駆動量が有効であるか否かを判断し、有効でないときには、最適なチルト駆動量の取得リトライを行なっているために、例えば突発的な事情による計測誤差を排除することが可能となり、精度の高い最適なチルト駆動量を求めることができる。そして、リトライオーバになると、既知の最適なチルト駆動量に基づいて特定ライトゾーンにおける最適なチルト駆動量を推定しているために、パフォーマンスの低下を抑制することができる。
【０２６１】
また、本実施形態によると、リードゾーンの中央部近傍における最大ＴＥチルト駆動量を用いて最適なチルト制御量を求めているために、従来よりも短時間で必要な精度のチルト制御を行うことが可能となる。
【０２６２】
また、本実施形態によると、データの記録及び再生に先だって対物レンズの傾きが精度良く補正されるため、応答性に優れた光ディスクへのアクセスを安定して行うことが可能となる。
【０２６３】
また、本実施形態によると、記録時に、チルト制御信号の出力前後におけるトラックエラー信号の振幅変化量を求め、最適なチルト駆動量から推定される予定振幅変化量と比較している。これにより、チルト制御が正しく行われたか否かを確認することができる。
【０２６４】
また、本実施形態によると、再生時に、チルト制御信号の出力前後におけるトラックエラー信号又はＲＦ信号の振幅変化量を求め、最適なチルト駆動量から推定される予定振幅変化量と比較している。これにより、チルト制御が正しく行われたか否かを確認することができる。
【０２６５】
なお、上記実施形態では、記録対象領域が１つのライトゾーンに含まれる場合について説明したが、これに限らず複数のライトゾーンにまたがっていても良い。この場合には、特定ライトゾーンが複数存在することとなり、前記最適なチルト制御量は特定ライトゾーン毎に算出される。一例として図１６（Ａ）に示されるように、データが記録される領域がライトゾーンＡとライトゾーンＢとにまたがる場合には、ライトゾーンＡでの最適なチルト制御量（ＭtltＡとする）と、ライトゾーンＢでの最適なチルト制御量（ＭtltＢとする）とが算出され、ライトゾーンＡに記録する際には、チルト制御量ＭtltＡに対応するチルト制御信号ＳtltＡがドライバに出力され、ライトゾーンＢに記録する際には、チルト制御量ＭtltＢに対応するチルト制御信号ＳtltＢがドライバ出力される。なお、チルト制御量ＭtltＡとチルト制御量ＭtltＢとの差が所定値以上のときに、一例として図１６（Ｂ）、図１６（Ｃ）、図１７（Ａ）及び図１７（Ｂ）に示されるように、チルト制御信号をＳtltＡからＳtltＢに徐々に変化させても良い。これにより、ライトゾーンが切り換わっても、最適な記録パワーを維持することができる。
【０２６６】
さらに、上記実施形態では、データの記録処理において、光ピックアップ装置２３が書き込み開始地点に到達したときに、チルト制御信号をドライバ２７に出力する場合について説明したが、これに限らず、例えば光ピックアップ装置２３が書き込み開始地点近傍に到達したときに、チルト制御信号をドライバ２７に出力しても良い。この場合に、シークモータが停止したときの慣性力によるレンズホルダの回転に起因してチルト駆動量がチルト制御信号に対応していないことがある。そこで、シークモータの停止前後のＴＥ振幅を求め、それらの差が所定値以上の場合には、一旦大きなチルト制御信号をドライバに出力した後、徐々に所定のチルト制御信号にしても良い。これにより、精度良くチルト制御を行うことができる。
【０２６７】
同様に、再生処理においても、例えば光ピックアップ装置２３が読み出し開始地点近傍に到達したときに、チルト制御信号をドライバ２７に出力しても良い。この場合にも、シークモータの停止前後のＴＥ振幅あるいはＲＦ振幅を求め、それらの差が所定値以上の場合には、一旦大きなチルト制御信号をドライバに出力した後、徐々に所定のチルト制御信号にしても良い。これにより、精度良くチルト制御を行うことができる。
【０２６８】
また、上記実施形態において、ＲＦ振幅に代えてジッタを用いても良い。この場合には、一例として図１８に示されるように、ＲＦ振幅検出回路２８ｇの代わりに、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号に基づいてジッタを検出するためのジッタ検出回路２８ｇ’を備えた再生信号処理回路２８’を用いると良い。そして、一例として図１９に示されるように、最大ＲＦチルト駆動量Ｍrfの代わりに、ジッタが最小となるときのチルト駆動量Ｍjtが用いられる。
【０２６９】
また、上記実施形態において、ゾーンによってＲＦ振幅が大きく変動する場合には、例えば３ＴのＲＦ振幅がどのゾーンにおいてもほぼ同じとなるように、ＲＦ信号検出回路２８ｄを構成する不図示のＲＦイコライザの特性をゾーン毎に変更しても良い。これにより、最大ＲＦチルト駆動量を更に精度良く求めることが可能となる。
【０２７０】
また、上記実施形態では、記録及び再生の際に、そのときの温度を求め、ＲＡＭに保存されている最大ＴＥチルト駆動量を求めたときの温度との差が大きい場合には、ＲＡＭに保存されている最大ＴＥチルト駆動量を用いずに、新たに最大ＴＥチルト駆動量を求める場合について説明したが、これに限らず、例えば光ディスクがローディングされてから、記録処理が一度も行なわれていない場合のように、それほど温度差が大きくないことが明らかなときには、温度チェックを行なうことなく、ＲＡＭに保存されている最大ＴＥチルト駆動量を用いても良い。また、半導体レーザを記録パワーで発光させた積算時間が所定時間を超えたときに新たに最大ＴＥチルト駆動量を求めても良い。
【０２７１】
また、上記実施形態において、互いに異なる温度のときに得られた複数の最大ＴＥチルト駆動量がＲＡＭ４１に保存されている場合には、記録及び再生の際に、そのときの温度を求め、その温度に最も近い温度のときに得られた最大ＴＥチルト駆動量をＲＡＭ４１から抽出し、その最大ＴＥチルト駆動量を用いて最適なチルト駆動量を求めても良い。これにより、過去に取得されたデータを有効に活用することができ、記録及び再生のパフォーマンスを向上させることが可能となる。
【０２７２】
また、上記実施形態において、互いに異なる温度のときに得られた複数の補正オフセット値がＲＡＭ４１に保存されている場合には、記録の際に、そのときの温度を求め、その温度に最も近い温度のときに得られた補正オフセット値をＲＡＭ４１から抽出し、その補正オフセット値を用いて最適なチルト駆動量を求めても良い。これにより、過去に取得されたデータを有効に活用することができ、記録のパフォーマンスを向上させることが可能となる。
【０２７３】
また、上記実施形態において、互いに異なる温度のときに得られた複数の最適なチルト駆動量がＲＡＭ４１に保存されている場合には、記録及び再生の際に、そのときの温度を求め、その温度に最も近い温度のときに得られた最適なチルト駆動量をＲＡＭ４１から抽出し、その最適なチルト駆動量に応じたチルト制御信号を生成しても良い。これにより、過去に取得されたデータを有効に活用することができ、記録のパフォーマンスを更に向上させることが可能となる。
【０２７４】
また、上記実施形態では、ステップ５０５において、各最適なチルト駆動量の一次補間から推定値Ｍsを求める場合について説明したが、これに限定されるものではなく、一次補間以外の方法を用いて推定値Ｍsを求めても良い。
【０２７５】
また、上記実施形態では、特定ライトゾーンの前後に位置するライトゾーンの最適なチルト駆動量に基づいて、特定ライトゾーンの最適なチルト駆動量を推定する場合について説明したが、これに限定されるものではなく、特定ライトゾーンの前後いずれかに位置するライトゾーンの最適なチルト駆動量に基づいて、推定値Ｍsを求めても良い。
【０２７６】
また、上記実施形態では、ライトゾーン数が６の場合について説明したが、これに限定されるものではない。光ディスクにおけるそりの状況に応じてライトゾーン数を変更しても良い。また、各ライトゾーンの大きさについても、光ディスクにおけるそりの状況に応じて設定すれば良い。また、光ディスクのベンダ毎に記録時の分割情報を持っていても良い。
【０２７７】
また、上記実施形態では、リードゾーン数が２の場合について説明したが、これに限定されるものではない。要するに、再生処理のパフォーマンスをあまり低下させることなく、正常な再生データを得ることができる程度にチルト制御ができれば良い。また、各リードゾーンの大きさについても、効率良くチルト制御ができるように光ディスクにおけるそりの状況に応じて設定すれば良い。また、光ディスクのベンダ毎に再生時の分割情報を持っていても良い。
【０２７８】
また、上記実施形態において、そりの程度が小さくほぼ一様であると予想できる場合には、リードゾーン数を１としても良い。この場合には、リードゾーンの中央部近傍で最大ＴＥチルト駆動量を求めても良い。これにより、チルト制御による再生処理のパフォーマンスの低下を極めて低く抑えることが可能となる。
【０２７９】
また、上記実施形態では、ランニングＯＰＣにおいて、算出されたβ値と目標β値との差に基づいて記録パワーを修正する場合について説明したが、これに限らず、例えば、いわゆるＢ値の目標値（目標Ｂ値）をライトゾーン毎に予め設定しておき、ランニングＯＰＣにおいて、検出されたＢ値と目標Ｂ値との差に基づいて記録パワーを修正しても良い。この場合には、一例として図２０に示されるように、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号に基づいてＢ値を検出するためのＢ値検出回路２８ｊを備えた再生信号処理回路２８”を用いると良い。
【０２８０】
また、上記実施形態では、ＯＰＣにおいて、ＰＣＡに試し書きを行なう場合について説明したが、例えばＤＶＤ＋ＲＷのようにランダムに書き込みができるときには、ライトゾーン毎にＯＰＣを行なっても良い。これにより、更に精度良く最適な記録パワーを得ることができるとともに、ランニングＯＰＣにおいて、精度良く記録パワーを修正することが可能となる。
【０２８１】
また、上記実施形態では、記録速度に関係なく最適なチルト駆動量を求める場合について説明したが、例えば可能な記録速度の範囲が広いときには、記録速度毎に最適なチルト駆動量を求めても良い。また、例えば記録速度が低速のとき、及び高速のときとでそれぞれ最適なチルト駆動量を求めても良い。
【０２８２】
また、上記実施形態では、光ディスクがローディングされたときに、ライトゾーンとリードゾーンにおいて、それぞれゾーン毎の最大ＴＥチルト駆動量の取得処理が行なわれる場合について説明したが、これに限らず、例えばライトゾーン及びリードゾーンのいずれかのみにおいて、ゾーン毎の最大ＴＥチルト駆動量の取得処理が行なわれても良い。また、光ディスクがローディングされたときに、ゾーン毎の最大ＴＥチルト駆動量の取得処理が行なわれなくても良い。そして、記録時に特定ライトゾーンの最大ＴＥチルト駆動量がＲＡＭ４１に保存されていなければ、そのときに求めれば良い。同様に、再生時に特定リードゾーンの最大ＴＥチルト駆動量がＲＡＭ４１に保存されていなければ、そのときに求めれば良い。
【０２８３】
また、上記実施形態では、ステップ４２１で取得されたＲＦ振幅がＬrf以上のときに、リトライオーバとなるまで、別の既記録領域でＴＥ振幅及びＲＦ振幅を求める場合について説明したが、これに限らず、ＲＦ振幅がＬrf以上のときに、リトライせずに直ちにステップ４３７に移行しても良い。すなわち、ステップ４３１、４３３及び４３５はなくても良い。
【０２８４】
また、上記実施形態では、特定ライトゾーンにおいて取得された最適なチルト駆動量が有効でないときに、リトライオーバとなるまで、最適なチルト駆動量の取得リトライを行なう場合について説明したが、これに限らず、有効でないと判断すると、リトライせずに直ちにステップ５１３に移行しても良い。すなわち、ステップ５０９及び５１１はなくても良い。
【０２８５】
また、上記実施形態では、補正情報として、補正オフセット値が用いられる場合について説明したが、これに限定されるものではない。既記録領域を再生したときに得られる複数種類の信号によって定まる補正情報であれば良い。
【０２８６】
なお、上記実施形態において、記録対象領域での最大ＴＥチルト駆動量を求める際に、例えば検出されたＴＥ振幅のばらつきが大きいときには、記録対象領域近傍の既記録領域での記録前後におけるＴＥ振幅の比を用いて、記録対象領域で検出されたＴＥ振幅を補正しても良い。これにより、最大ＴＥチルト駆動量を精度良く求めることができる。
【０２８７】
また、上記実施形態では、２つのチルト用コイルを用いて対物レンズ６０をＸＺ面内で回動する場合について説明したが、これに限定されるものではない。
【０２８８】
また、上記実施形態では、２つのトラッキング用コイルを用いて対物レンズ６０をトラッキング方向に駆動する場合について説明したが、これに限定されるものではない。
【０２８９】
また、上記実施形態では、１つのフォーカス用コイルを用いて対物レンズ６０をフォーカス方向に駆動する場合について説明したが、これに限定されるものではない。
【０２９０】
また、上記実施形態では、光ディスクのトラックの接線方向に直交する方向（ラジアル方向）に対する対物レンズの傾き（ラジアルチルト）を補正する場合について説明したが、光ディスクのトラックの接線方向（タンジェンシャル方向）に対する対物レンズの傾き（タンジェンシャルチルト）を補正する場合にも本発明を適用することができる。この場合には、対物レンズはＹＺ面内で回動することとなる。
【０２９１】
また、上記実施形態では、前記チルト制御プログラムはフラッシュメモリ３９に記録されているが、他の記録媒体（ＣＤ系光ディスク、ＤＶＤ系光ディスク、光磁気ディスク、メモリカード、フレキシブルディスク等）に記録されていても良い。この場合には、記録媒体に対応するドライブ装置を付加し、そのドライブ装置からチルト制御プログラムをフラッシュメモリ３９に転送することとなる。また、ネットワーク（ＬＡＮ、イントラネット、インターネットなど）を介してチルト制御プログラムをフラッシュメモリ３９に転送しても良い。
【０２９２】
また、上記実施形態では、チルトを補正するための駆動機構として、可動部をガイド軸回りに回動する場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではない。
【０２９３】
また、上記実施形態では、光ディスク装置がＤＶＤ系の規格に準拠した光ディスクに対応する場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではなく、例えばＣＤ系の規格に準拠した光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。さらに、互いに異なる規格に準拠した複数種類の光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。この場合に、波長が約４０５ｎｍ、約６５０ｎｍ及び約７８０ｎｍの少なくともいずれかのレーザ光が用いられる光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。
【０２９４】
また、上記実施形態では、光ピックアップ装置が１つの半導体レーザを備える場合について説明したが、これに限らず、例えば互いに異なる波長の光束を発光する複数の半導体レーザを備えていても良い。この場合に、例えば波長が４０５ｎｍの光束を発光する半導体レーザ、波長が６６０ｎｍの光束を発光する半導体レーザ及び波長が７８０ｎｍの光束を発光する半導体レーザの少なくとも１つを含んでいても良い。
【０２９５】
また、上記実施形態では、インターフェース３８がＡＴＡＰＩの規格に準拠する場合について説明したが、これに限らず、例えばＡＴＡ（AT Attachment）、ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）１．０、ＵＳＢ２．０、ＩＥＥＥ１３９４、ＩＥＥＥ８０２．３、シリアルＡＴＡ及びシリアルＡＴＡＰＩのうちのいずれかの規格に準拠しても良い。
【０２９６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係るチルト制御方法によれば、パフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く補正することができるという効果がある。
【０２９７】
また、本発明に係るプログラム及び記録媒体によれば、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、パフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く補正することができるという効果がある。
【０２９８】
また、本発明に係る光ディスク装置によれば、応答性に優れた光ディスクへのアクセスを安定して行うことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１における再生信号処理回路の構成を説明するためのブロック図である。
【図３】図３（Ａ）は記録時のチルト制御用のゾーン分割を説明するための図であり、図３（Ｂ）は再生時のチルト制御用のゾーン分割を説明するための図である。
【図４】図１における光ピックアップ装置の構成を説明するための図である。
【図５】図４における光束出射系の詳細構成を説明するための図である。
【図６】図４における集光系の詳細構成を説明するための図である。
【図７】図６のＡ−Ａ線断面図である。
【図８】図８（Ａ）は図６におけるガイド軸固定部を示す概略斜視図であり、図８（Ｂ）は図６におけるレンズホルダ及び線ばね固定部を示す概略斜視図である。
【図９】光ディスクがローディングされたときに実施される、ＴＥ振幅がほぼ最大となるときのチルト駆動量をゾーン毎に取得する処理動作を説明するためのフローチャート（その１）である。
【図１０】光ディスクがローディングされたときに実施される、ＴＥ振幅がほぼ最大となるときのチルト駆動量をゾーン毎に取得する処理動作を説明するためのフローチャート（その２）である。
【図１１】記録要求コマンドを受信したときの本発明に係る処理動作を説明するためのフローチャート（その１）である。
【図１２】記録要求コマンドを受信したときの本発明に係る処理動作を説明するためのフローチャート（その２）である。
【図１３】記録要求コマンドを受信したときの本発明に係る処理動作を説明するためのフローチャート（その３）である。
【図１４】ＴＥ振幅がほぼ最大となるときのチルト駆動量及びＲＦ振幅がほぼ最大となるときのチルト駆動量を説明するための図である。
【図１５】再生要求コマンドを受信したときの本発明に係る処理動作を説明するためのフローチャートである。
【図１６】図１６（Ａ）〜図１６（Ｃ）は、それぞれデータを記録する領域が複数のライトゾーンにまたがっているときのチルト制御信号を説明するための図（その１）である。
【図１７】図１７（Ａ）及び図１７（Ｂ）は、それぞれデータを記録する領域が複数のライトゾーンにまたがっているときのチルト制御信号を説明するための図（その２）である。
【図１８】ＲＦ振幅に代えてジッタを用いるときの再生信号処理回路の構成を説明するためのブロック図である。
【図１９】ＴＥ振幅がほぼ最大となるときのチルト駆動量及びジッタがほぼ最小となるときのチルト駆動量を説明するための図である。
【図２０】β値に代えてＢ値を用いるときの再生信号処理回路の構成を説明するためのブロック図である。
【符号の説明】
１５…光ディスク、２０…光ディスク装置、２３…光ピックアップ装置、３９…フラッシュメモリ（記録媒体）、４０…ＣＰＵ（制御情報取得手段、補正情報取得手段、エラー処理手段、無効処理手段、目標β値設定手段、チルト制御手段、補正手段、振幅変化取得手段、格納手段、処理装置）、４１…ＲＡＭ（メモリ）、４２…温度センサ（温度検知手段）。
【発明の属する技術分野】
本発明は、チルト制御方法、プログラム及び記録媒体、並びに光ディスク装置に係り、更に詳しくは、光ディスクに対する対物レンズの傾きを制御するチルト制御方法、光ディスク装置で用いられるプログラム及び該プログラムが記録された記録媒体、並びに光ディスクをアクセス対象とする光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
パーソナルコンピュータ（以下「パソコン」と略述する）は、その機能が向上するに伴い、音楽や映像といったＡＶ（Audio-Visual）情報を取り扱うことが可能となってきた。これらＡＶ情報の情報量は非常に大きいために、情報記録媒体としてＣＤ（compact disc）や、ＣＤの約７倍相当のデータをＣＤと同じ直径のディスクに記録可能としたＤＶＤ（digital versatile disc）などの光ディスクが注目されるようになり、その低価格化とともに、光ディスクをアクセス対象とする光ディスク装置が普及するようになった。
【０００３】
光ディスク装置では、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクの記録面にレーザ光を照射することにより情報の記録及び消去を行い、前記記録面からの反射光に基づいて情報の再生などを行っている。そして、光ディスク装置は、情報記録媒体の記録面にレーザ光を照射して光スポットを形成するとともに記録面からの反射光を受光するための装置として、光ピックアップ装置を備えている。
【０００４】
通常、光ピックアップ装置は、対物レンズを含み、光源から出射されるレーザ光を光ディスクの記録面に導くとともに、記録面からの反射光（戻り光束）を所定の受光位置まで導く光学系、及び受光位置に配置され戻り光束を受光する受光素子などを備えている。この受光素子からは、記録面に記録されているデータの再生情報だけでなく、光ピックアップ装置自体及び対物レンズの位置制御に必要な情報（サーボ情報）などを含む信号が出力される。
【０００５】
しかしながら、対物レンズの光軸方向と記録面に垂直な方向とにずれ（以下、便宜上「チルト」ともいう）があると、そのチルトに起因して波面収差が生じ、光スポットの形状の劣化、上記受光素子から出力される再生情報及びサーボ情報などを含む信号の劣化を引き起こすおそれがあった。
【０００６】
そこで、チルトを補正するための方法及び装置が種々提案された（例えば、特許文献１及び特許文献２参照）。
【０００７】
【特許文献１】
特開２００１−５２３６２号公報
【特許文献２】
特開２００２−２５０９０号公報
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
近年、情報記録媒体の記録容量の増加要求に伴い記録密度の高密度化が図られてきた。記録密度を高くするには記録面に形成される光スポットのスポット径を小さくする必要があり、開口数の大きな対物レンズが用いられる傾向にある。しかしながら、対物レンズの開口数が大きくなると、チルトに起因する波面収差の影響が大きくなり、上記特許文献１及び特許文献２に開示されている装置では、十分に対応できないおそれがあった。
【０００９】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第１の目的は、パフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く制御することができるチルト制御方法を提供することにある。
【００１０】
また、本発明の第２の目的は、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、パフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く制御することができるプログラム及び該プログラムが記録された記録媒体を提供することにある。
【００１１】
また、本発明の第３の目的は、応答性に優れた光ディスクへのアクセスを安定して行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明は、第１の観点からすると、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクに対する対物レンズの傾きを制御するチルト制御方法であって、光ディスクにデータを記録する際に、前記光ディスクの前記データが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた前記既記録領域における、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きとトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きとの差に関する情報である既知の補正情報と、前記データが記録される記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに関する情報とに基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報を取得する制御情報取得工程を含むチルト制御方法である。
【００１３】
なお、本明細書では、「傾きに関する情報」は傾きそのものだけでなく、傾きの変化に対応して変化する情報、傾きに換算することができる情報及び傾きを制御する信号情報などを含む。
【００１４】
これによれば、光ディスクにデータを記録する際に、光ディスクのデータが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた既記録領域における、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの対物レンズの傾きとトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きとの差に関する情報である既知の補正情報と、データが記録される記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きに関する情報とに基づいて、対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報が取得される。この場合、例えば記録対象領域におけるトラックエラー信号のみに基づいて取得されたチルト制御情報に比べて、精度の良いチルト制御情報を取得することができる。また、短時間で最適なチルト駆動量を取得することができる。従って、結果としてパフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く制御することができる。
【００４２】
本発明は、第２の観点からすると、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクを情報記録の対象媒体とする光ディスク装置に用いられるプログラムであって、光ディスクにデータを記録する際に、前記光ディスクの前記データが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた前記既記録領域におけるトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに関する第１傾き情報と、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きに関する第２傾き情報とを取得し、前記第１、第２傾き情報に基づいて補正情報を取得する手順と；前記記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きに関する情報と前記補正情報とに基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報を取得する手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラムである。
【００４３】
これによれば、本発明のプログラムが所定のメモリにロードされ、その先頭アドレスがプログラムカウンタにセットされると、光ディスク装置の制御用コンピュータは、光ディスクにデータを記録する際に、光ディスクのデータが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた既記録領域におけるトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに関する第１傾き情報と、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きに関する第２傾き情報とを取得し、前記第１、第２傾き情報に基づいて補正情報を取得し、記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きに関する情報と前記補正情報とに基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報を取得する。すなわち、本発明のプログラムによれば、光ディスク装置の制御用コンピュータに本発明のチルト制御方法を実行させることができ、これにより、パフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く制御することが可能となる。
【００５８】
本発明は、第３の観点からすると、本発明のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
【００５９】
これによれば、本発明のプログラムが記録されているために、コンピュータに実行させることにより、パフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く制御することができる。
【００６０】
本発明は、第４の観点からすると、スパイラル状又は同心円状のトラックが記録面に形成された光ディスクを情報記録の対象媒体とする光ディスク装置であって、光ディスクにデータを記録する際に、前記光ディスクの前記データが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた前記既記録領域における、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きとトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きとの差に関する情報である既知の補正情報と、前記データが記録される記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きに関する情報とに基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報を取得する制御情報取得手段と；前記光ディスクの記録面に光ビームを照射し、前記記録面からの反射光を受光する光ピックアップ装置と；前記光ピックアップ装置の出力信号を用いて、データの記録、再生及び消去のうち少なくとも記録を行なう処理装置と；を備える光ディスク装置である。
【００６１】
これによれば、光ディスクにデータを記録する際に、制御情報取得手段により、光ディスクのデータが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた既記録領域における、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの対物レンズの傾きとトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きとの差に関する情報である既知の補正情報と、データが記録される記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きに関する情報とに基づいて、対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報が取得される。この場合、例えば記録対象領域におけるトラックエラー信号のみに基づいて取得されたチルト制御情報に比べて、精度の良いチルト制御情報を取得することができる。また、短時間でチルト制御情報を取得することができる。従って、結果として応答性に優れた光ディスクへのアクセスを安定して行うことができる。
【００８０】
なお、本明細書では、「温度情報」は温度そのものだけでなく、温度変化に対応して変化する情報、及び温度に換算することができる情報などを含む。
【００８１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を図１〜図１５に基づいて説明する。図１には、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の概略構成が示されている。
【００８２】
この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するためのスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、レーザコントロール回路２４、エンコーダ２５、ドライバ２７、再生信号処理回路２８、サーボコントローラ３３、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、フラッシュメモリ３９、ＣＰＵ４０、メモリとしてのＲＡＭ４１及び温度検知手段としての温度センサ４２などを備えている。なお、図１における接続線は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。また、本実施形態では、一例としてＤＶＤ系の規格に準拠した光ディスクが用いられるものとする。
【００８３】
前記光ピックアップ装置２３は、光ディスク１５のスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面の所定位置にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するための装置である。なお、この光ピックアップ装置２３の構成などについては後に詳述する。
【００８４】
前記再生信号処理回路２８は、図２に示されるように、Ｉ／Ｖアンプ２８ａ、サーボ信号検出回路２８ｂ、ウォブル信号検出回路２８ｃ、ＲＦ信号検出回路２８ｄ、デコーダ２８ｅ、ＴＥ振幅検出回路２８ｆ、ＲＦ振幅検出回路２８ｇ、ピーク値検出回路２８ｈ、及びボトム値検出回路２８ｉなどから構成されている。
【００８５】
Ｉ／Ｖアンプ２８ａは、光ピックアップ装置２３の出力信号である電流信号を電圧信号に変換するとともに、所定のゲインで増幅する。サーボ信号検出回路２８ｂは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてサーボ信号（フォーカスエラー信号及びトラックエラー信号など）を検出する。ここで検出されたサーボ信号はサーボコントローラ３３に出力される。ウォブル信号検出回路２８ｃは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてウォブル信号を検出する。ＲＦ信号検出回路２８ｄは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてＲＦ信号を検出する。デコーダ２８ｅは、ウォブル信号検出回路２８ｃで検出されたウォブル信号からＡＤＩＰ（Address In Pregroove）情報及び同期信号などを抽出する。ここで抽出されたＡＤＩＰ情報はＣＰＵ４０に出力され、同期信号はエンコーダ２５に出力される。また、デコーダ２８ｅは、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号に対して復号処理及び誤り訂正処理等を行なった後、再生データとしてバッファマネージャ３７を介してバッファＲＡＭ３４に格納する。なお、再生データが音楽データの場合には、再生データはＤ／Ａ変換された後、外部のオーディオ機器などに出力される。
【００８６】
ＴＥ振幅検出回路２８ｆは、サーボ信号検出回路２８ｂで検出されたトラックエラー信号の振幅（以下「ＴＥ振幅」ともいう）を検出する。ここで検出されたＴＥ振幅は、ＣＰＵ４０に出力される。ＲＦ振幅検出回路２８ｇは、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号の振幅（以下「ＲＦ振幅」ともいう）を検出する。ここで検出されたＲＦ振幅は、ＣＰＵ４０に出力される。
【００８７】
ピーク値検出回路２８ｈは、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号のピークレベルを検出し、ＣＰＵ４０に出力する。ボトム値検出回路２８ｉは、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号のボトムレベルを検出し、ＣＰＵ４０に出力する。
【００８８】
図１に戻り、前記サーボコントローラ３３は、再生信号処理回路２８からのフォーカスエラー信号に基づいてフォーカスずれを補正するための制御信号（以下「フォーカス制御信号」ともいう）を生成し、トラックエラー信号に基づいてトラックずれを補正するための制御信号（以下「トラッキング制御信号」ともいう）を生成する。ここで生成された各制御信号は、サーボオンのときにのみドライバ２７に出力され、サーボオフのときにはドライバ２７に出力されない。サーボオン及びサーボオフはＣＰＵ４０によって制御信号毎に設定される。
【００８９】
前記ドライバ２７は、サーボコントローラ３３からのフォーカス制御信号に応じた駆動電流（以下「フォーカス駆動電流」ともいう）、及びトラッキング制御信号に応じた駆動電流（以下「トラッキング駆動電流」ともいう）を光ピックアップ装置２３に出力する。
【００９０】
また、ドライバ２７は、ＣＰＵ４０からの後述するチルト制御信号に応じた駆動電流（以下「チルト駆動電流」ともいう）、及びシーク制御信号に応じた駆動信号（以下「シーク駆動信号」ともいう）を光ピックアップ装置２３に出力する。さらに、ドライバ２７は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてスピンドルモータ２２に駆動信号を出力する。
【００９１】
前記バッファＲＡＭ３４は、光ディスクに記録するデータ（記録用データ）、及び光ディスクから再生したデータ（再生データ）などが一時的に格納されるバッファ領域と、各種プログラム変数などが格納される変数領域とを有している。
【００９２】
前記バッファマネージャ３７は、バッファＲＡＭ３４へのデータの入出力を管理する。そして、バッファ領域に蓄積されたデータ量が所定量になるとＣＰＵ４０に通知する。
【００９３】
前記エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてバッファＲＡＭ３４のバッファ領域に蓄積されている記録用データをバッファマネージャ３７を介して取り出し、所定のデータ変調処理及びエラー訂正コードの付加処理などを行ない、光ディスク１５への書き込み信号を生成するとともに、再生信号処理回路２８からの同期信号に同期して書き込み信号をレーザコントロール回路２４に出力する。
【００９４】
前記レーザコントロール回路２４は、エンコーダ２５からの書き込み信号及びＣＰＵ４０の指示に基づいて、光ディスク１５に照射するレーザ光の出力を制御する制御信号（以下「ＬＤ制御信号」ともいう）を光ピックアップ装置２３に出力する。
【００９５】
前記温度センサ４２は、光ピックアップ装置２３の近傍に配置され、光ピックアップ装置２３の近傍における温度情報を検出し、その検出結果をＣＰＵ４０に出力する。
【００９６】
前記インターフェース３８は、ホスト（例えばパソコン）との双方向の通信インターフェースであり、一例としてＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）の規格に準拠している。
【００９７】
前記フラッシュメモリ３９は、プログラム領域及びデータ領域を含んで構成されている。このフラッシュメモリ３９は不揮発性メモリであり、電源供給が停止されても格納されている内容は保持される。
【００９８】
フラッシュメモリ３９のプログラム領域には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述された後述するチルト制御を行なう際に用いられる本発明に係るプログラム（以下、「チルト制御プログラム」という）を含むプログラムが格納されている。
【００９９】
フラッシュメモリ３９のデータ領域には、チルト制御を行なうときのトラックの分割方法がトラック分割情報として格納されている。トラック分割情報は、記録時の分割情報と再生時の分割情報とをそれぞれ含んでいる。ここでは、一例として図３（Ａ）に示されるように、記録時には６つの領域（以下「ライトゾーン」という）に分割してチルト制御を行なうものとする。光ディスクの回転中心からの距離PがP0≦P＜P1の領域をライトゾーンWZ1、P1≦P＜P2の領域をライトゾーンWZ2、P2≦P＜P3の領域をライトゾーンWZ3、P3≦P＜P4の領域をライトゾーンWZ4、P4≦P＜P5の領域をライトゾーンWZ5、P5≦P＜P6の領域をライトゾーンWZ6、とする。例えばノート型パソコンに内蔵されている光ディスク装置などでは、ユーザの押し込み動作によって光ディスクがターンテーブル上にチャッキングされるため、光ディスクの回転中心近傍ではそりが大きくなる。また、光ディスクの外周近傍では自重により垂れ下がる傾向にある。そこで、光ディスクの回転中心に近いライトゾーン及び外周に近いライトゾーンが狭くなるように設定されている。なお、P0＜P1＜P2＜P3＜P4＜P5＜P6の関係にある。また、一例として図３（Ｂ）に示されるように、再生時には２つの領域（以下「リードゾーン」という）に分割してチルト制御を行なうものとする。P0≦P＜P7の領域をリードゾーンRZ1、P7≦P＜P6の領域をリードゾーンRZ2とする。光ディスクの回転中心近傍ではそりが大きいため、リードゾーンRZ1はリードゾーンRZ2よりも狭くなるように設定されている。
【０１００】
また、フラッシュメモリ３９のデータ領域には、予め実験などで得られた、再生時における対物レンズの最適な傾きと記録時における対物レンズの最適な傾きとの差がリードオフセット値として格納されている。
【０１０１】
前記ＣＰＵ４０は、フラッシュメモリ３９のプログラム領域に格納されている上記プログラムに従って前記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータなどをＲＡＭ４１及びバッファＲＡＭ３４に保存する。
【０１０２】
次に、前記光ピックアップ装置２３の構成等について図４〜図８（Ｂ）を用いて説明する。この光ピックアップ装置２３は、図４に示されるように、スピンドルモータ２２によって回転している光ディスク１５の記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するピックアップ本体１０１、このピックアップ本体１０１を保持するとともに、ピックアップ本体１０１のＸ軸方向（紙面左右方向）への移動をガイドする２本のシークレール１０２、及びピックアップ本体１０１をＸ軸方向に駆動するためのシークモータ（図示省略）などを含んで構成されている。
【０１０３】
上記ピックアップ本体１０１は、ハウジング７１と、このハウジング７１の内部に格納され、光ディスク１５の記録面に照射する光束を出射する光束出射系１２と、ハウジング７１上に配置され、光束出射系１２からの光束を光ディスク１５の記録面の所定位置に集光する集光系１１とから構成されている。
【０１０４】
上記光束出射系１２は、図５に示されるように、光源ユニット５１、カップリングレンズ５２、ビームスプリッタ５４、立ち上げミラー５６、検出レンズ５８、シリンドリカルレンズ５７及び受光器５９などを備えている。
【０１０５】
上記光源ユニット５１は、波長が６６０ｎｍの光束を発光する光源としての半導体レーザ（図示省略）を備えており、光源ユニット５１から出射される光束（以下「出射光束」ともいう）の最大強度出射方向が＋Ｘ方向となるようにハウジング７１に固定されている。
【０１０６】
前記カップリングレンズ５２は、光源ユニット５１の＋Ｘ側に配置され、出射光束を略平行光とする。前記ビームスプリッタ５４は、カップリングレンズ５２の＋Ｘ側に配置され、光ディスク１５の記録面からの反射光（戻り光束）を−Ｙ方向に分岐する。前記立ち上げミラー５６は、ビームスプリッタ５４の＋Ｘ側に配置され、ビームスプリッタ５４を透過した出射光束の最大強度出射方向を＋Ｚ方向に変更する。立ち上げミラー５６で最大強度出射方向が＋Ｚ方向に変更された出射光束は、ハウジング７１に設けられた開口部５３を介して前記集光系１１に入射する。
【０１０７】
前記検出レンズ５８は、ビームスプリッタ５４の−Ｙ側に配置され、ビームスプリッタ５４で−Ｙ方向に分岐された戻り光束を集光する。前記シリンドリカルレンズ５７は、検出レンズ５８の−Ｙ側に配置され、検出レンズ５８で集光された戻り光束を整形する。前記受光器５９は、シリンドリカルレンズ５７の−Ｙ側に配置され、シリンドリカルレンズ５７で整形された戻り光束を受光面で受光する。この受光器５９には、通常の光ディスク装置と同様に４分割受光素子が用いられており、各分割領域（以下、便宜上「部分受光素子」という）からは、それぞれ受光量に応じた信号（電流信号）が再生信号処理回路２８に出力される。すなわち、ハウジング７１の内部には、光源ユニット５１から出射された光束を集光系１１に導くとともに、戻り光束を受光器５９に導くための光路が形成されている。
【０１０８】
前記集光系１１は、図６及び図６におけるＡ−Ａ線断面図である図７に示されるように、対物レンズ６０、対物レンズ６０を保持するレンズホルダ８１、２つのトラッキング用コイル（８２ａ，８２ｂ）、フォーカス用コイル８４、ヨーク８６、２つのチルト用コイル（８８ａ，８８ｂ）、４つの永久磁石（９１ａ，９１ｂ，９１ｃ，９１ｄ）、導電性を有する４本の線ばね（９２ａ1，９２ａ2，９２ｂ1，９２ｂ2）、線ばね固定部８７、ガイド軸９４、及びガイド軸固定部９３などから構成されている。
【０１０９】
前記ガイド軸固定部９３は、図８（Ａ）に示されるように、底壁及該底壁からＺ軸方向に立ち上がった３方（＋Ｙ側、−Ｘ側及び＋Ｘ側）の側壁を有する部材である。底壁はハウジング７１上の所定位置に固定されている。なお、以下では、＋Ｙ側の側壁を第１固定側壁、−Ｘ側の側壁を第２固定側壁、＋Ｘ側の側壁を第３固定側壁と呼ぶこととする。第１固定側壁の−Ｙ側の面には、円柱形状の前記ガイド軸９４が、その長手方向とＹ軸方向とがほぼ一致するように配置されている。また、第２固定側壁の＋Ｘ側の面には、前記永久磁石９１ｃが配置され、第３固定側壁の−Ｘ側の面には、前記永久磁石９１ｄが配置されている。なお、永久磁石９１ｃ及び永久磁石９１ｄは互いにほぼ同一の形状及び磁石特性を有している。
【０１１０】
上記線ばね固定部８７は、複数の入力端子及び出力端子（いずれも図示省略）を備えている。各入力端子には、ドライバ２７からの複数の信号線がそれぞれ接続され、前記フォーカス駆動電流、トラッキング駆動電流及びチルト駆動電流などが入力される。また、線ばね固定部８７の中央部には図８（Ｂ）に示されるようにＹ軸方向に延びる円筒形状の開口部８７ａが形成されている。そして、この開口部８７ａには、ガイド軸９４が挿入されている。さらに、線ばね固定部８７には２つのチルト用コイル（８８ａ，８８ｂ）がそれぞれ所定位置に配置されている。各チルト用コイルは互いにほぼ同一の形状を有し、各チルト用コイルに駆動電流が供給されると、線ばね固定部８７をガイド軸９４回りに回動させるための回転力が発生するように、チルト用コイル８８ａが永久磁石９１ｃに対向する位置に配置され、チルト用コイル８８ｂが永久磁石９１ｄに対向する位置に配置されている。なお、回動方向は各チルト用コイルに流れる駆動電流の向きによって制御することができる。また、各チルト用コイルは、必要とされる回転力に応じた大きさ及び形状をそれぞれ有している。
【０１１１】
前記レンズホルダ８１は、光束出射系１２からの出射光束の最大強度出射方向と対物レンズ６０の光軸とがほぼ一致する位置に配置されている。このレンズホルダ８１には、２つのトラッキング用コイル（８２ａ，８２ｂ）及びフォーカス用コイル８４がそれぞれ所定位置に固定されている。なお、対物レンズ６０、レンズホルダ８１、各トラッキング用コイル及びフォーカス用コイル８４は一体となって移動するので、以下では、便宜上これらが一体化したものを「可動部」と呼ぶこととする。なお、図８（Ｂ）では各トラッキング用コイル及びフォーカス用コイル８４の図示を省略している。
【０１１２】
また、レンズホルダ８１には、各トラッキング用コイルに駆動電流を供給するための端子（Ｔａ1、Ｔｂ1とする）、及びフォーカス用コイルに駆動電流を供給するための端子（Ｔａ2、Ｔｂ2とする）が設けられている。ここでは、レンズホルダ８１の−Ｘ側の面に端子Ｔａ1及びＴａ2が、レンズホルダ８１の＋Ｘ側の面に端子Ｔｂ1及びＴｂ2が設けられている。そして、端子Ｔａ1には線ばね９２ａ1の一端が接続され、端子Ｔａ2には線ばね９２ａ2の一端が接続されている。また、端子Ｔｂ1には線ばね９２ｂ1の一端が接続され、端子Ｔｂ2には線ばね９２ｂ2の一端が接続されている。
【０１１３】
各線ばねはＹ軸方向に延び、それらの他端は線ばね固定部８７の所定の出力端子に、はんだ付けなどによってそれぞれ接続されている。すなわち、可動部は、４本の線ばねを介して線ばね固定部８７に弾性的に支持されている。従って、線ばね固定部８７が、ガイド軸９４回りに回動すると可動部も一体となって回動することとなる。
【０１１４】
図７に戻り、前記ヨーク８６は、底壁及該底壁からＺ軸方向に立ち上がった２方（−Ｙ側及び＋Ｙ側）の側壁を有する部材である。底壁はハウジング７１上の所定位置に固定されている。なお、以下では、−Ｙ側の側壁を第１ヨーク側壁、＋Ｙ側の側壁を第２ヨーク側壁と呼ぶこととする。第１ヨーク側壁の＋Ｙ側の面には永久磁石９１ａが配置され、第２ヨーク側壁の−Ｙ側の面には永久磁石９１ｂが配置されている。
【０１１５】
フォーカス用コイル８４は、駆動電流が供給されると＋Ｚ方向（又は−Ｚ方向）に可動部を駆動するための駆動力が発生するように、永久磁石９１ｂ及び第２ヨーク側壁を巻回する位置に配置されている。なお、駆動方向（＋Ｚ方向又は−Ｚ方向）はフォーカス用コイル８４を流れる駆動電流の向きによって制御することができる。また、フォーカス用コイル８４は、必要とされる駆動力に応じた大きさ及び形状を有している。
【０１１６】
２つのトラッキング用コイル（８２ａ，８２ｂ）は、駆動電流が供給されると＋Ｘ方向（又は−Ｘ方向）に可動部を駆動するための駆動力が発生するように、それぞれ永久磁石９１ａに対向する位置に配置されている。なお、駆動方向（＋Ｘ方向又は−Ｘ方向）は各トラッキング用コイルに流れる駆動電流の向きによって制御することができる。また、各トラッキング用コイルは、必要とされる駆動力に応じた大きさ及び形状を有している。
【０１１７】
ここで、前記ＬＤ制御信号、フォーカス駆動電流、トラッキング駆動電流、チルト駆動電流、及びシーク駆動信号が、前述のようにして構成された光ピックアップ装置２３に供給されたときの作用についてそれぞれ簡単に説明する。なお、光ピックアップ装置２３は、光ディスク１５の記録面に垂直な方向がＺ軸方向、トラックの接線方向がＹ軸方向と一致するように光ディスク装置２０に搭載されているものとする。すなわち、Ｘ軸方向がトラッキング方向、Ｚ軸方向がフォーカス方向となる。
【０１１８】
《ＬＤ制御信号》
レーザコントロール回路２４からのＬＤ制御信号は光源ユニット５１に入力され、光源ユニット５１から＋Ｘ方向にＬＤ制御信号に応じたパワーの光束が出射される。この光束（出射光束）は、カップリングレンズ５２で略平行光となった後、ビームスプリッタ５４に入射する。ビームスプリッタ５４を透過した出射光束は、立ち上げミラー５６で＋Ｚ方向に反射され、ハウジング７１の開口部５３を介して集光系１１に入射する。集光系１１に入射した出射光束は、対物レンズ６０によって光ディスク１５の記録面に微小スポットとして集光される。光ディスク１５の記録面での反射光は、戻り光束として対物レンズ６０で再び略平行光とされ、ハウジング７１の開口部５３を介して立ち上げミラー５６に入射する。立ち上げミラー５６に入射した戻り光束は−Ｘ方向に反射され、ビームスプリッタ５４に入射する。ビームスプリッタ５４で−Ｙ方向に分岐された戻り光束は、検出レンズ５８及びシリンドリカルレンズ５７を介して受光器５９で受光される。受光器５９を構成する各部分受光素子は、受光量に応じた電流信号をそれぞれ再生信号処理回路２８に出力する。
【０１１９】
《フォーカス駆動電流》
ドライバ２７からのフォーカス駆動電流は、線ばね固定部８７の所定の入力端子に入力され、線ばね９２ａ2及び線ばね９２ｂ2を介してフォーカス用コイル８４に供給される。そして、フォーカス駆動電流の大きさ及び向きに応じて可動部がフォーカス方向に駆動される。これにより、対物レンズ６０はフォーカス方向にシフトし、フォーカスずれが補正される。なお、フォーカス駆動電流の供給が停止されると、可動部はフォーカス方向に関する所定の基準位置（フォーカス基準位置）に戻る。
【０１２０】
《トラッキング駆動電流》
ドライバ２７からのトラッキング駆動電流は、線ばね固定部８７の所定の入力端子に入力され、線ばね９２ａ1及び線ばね９２ｂ1を介して各トラッキング用コイルに供給される。そして、トラッキング駆動電流の大きさ及び向きに応じて可動部がトラッキング方向に駆動される。これにより、対物レンズ６０はトラッキング方向にシフトし、トラックずれが補正される。なお、トラッキング駆動電流の供給が停止されると、可動部はトラッキング方向に関する所定の基準位置（トラッキング基準位置）に戻る。
【０１２１】
《チルト駆動電流》
ドライバ２７からのチルト駆動電流は、線ばね固定部８７の所定の入力端子に入力され、所定の出力端子を介して各チルト用コイルに供給される。そして、チルト駆動電流の大きさ及び向きに応じて線ばね固定部８７とともに可動部がガイド軸９４まわりに回動する。これにより、対物レンズ６０はＸＺ面内で回動し、チルトが補正される。なお、チルト駆動電流の供給が停止されると、線ばね固定部８７及び可動部はＸＺ面内に関する所定の基準位置（チルト基準位置）に戻る。また、以下では、チルト基準位置に対する対物レンズ６０のＸＺ面内における傾斜角を「チルト駆動量」ともいう。
【０１２２】
《シーク駆動信号》
ドライバ２７からのシーク駆動信号は、不図示のシークモータに供給される。これにより、ピックアップ本体１０１はシークレール１０２にガイドされながらＸ軸方向に移動する。なお、シーク駆動信号の供給が停止されると、ピックアップ本体１０１は停止時の位置を維持する。
【０１２３】
次に、前述のように構成される光ディスク装置２０に光ディスク１５がローディングされたときに実施される、ゾーン毎にＴＥ振幅がほぼ最大となる時のチルト駆動量（以下、便宜上「最大ＴＥチルト駆動量」ともいう）の取得処理について図９及び図１０を用いて説明する。図９及び図１０のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。光ディスク１５のローディングが検知されると、図９及び図１０のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、最大ＴＥチルト駆動量の取得処理がスタートする。
【０１２４】
最初のステップ３０１では、フラッシュメモリ３９のデータ領域に格納されている前記トラック分割情報を参照し、ライトゾーン数Ｚwを取得する。ここではＺw＝６である。
【０１２５】
次のステップ３０３では、取得処理の対象となるライトゾーン（以下では、便宜上「対象ライトゾーン」という）を示す対象ライトゾーン番号Ｎwzに１をセットし、初期化する。
【０１２６】
次のステップ３０５では、対象ライトゾーンの所定位置にピックアップ本体１０１が位置するようにシーク制御信号を出力する。所定位置として例えば対象ライトゾーンの中央近傍の位置を用いても良い。ピックアップ本体１０１が所定位置に到達すると、ステップ３０７に移行する。
【０１２７】
このステップ３０７では、チルト駆動量Ｍtltとして、予め設定されている初期値t0をセットする。
【０１２８】
次のステップ３０９では、チルト駆動量Ｍtltに対応するチルト制御信号をドライバ２７に出力する。
【０１２９】
次のステップ３１１では、前記ＴＥ振幅検出回路２８ｆを介してＴＥ振幅を取得し、このときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けてライトゾーンＴＥ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１３０】
次のステップ３１３では、チルト駆動量Ｍtltが予め設定されている値ｔm（＞t0）以上であるか否かを判断する。ここではＭtlt＝t0であるため、ここでの判断は否定され、ステップ３１５に移行する。
【０１３１】
このステップ３１５では、チルト駆動量Ｍtltに予め設定されている増分Δtを加算し、前記ステップ３０９に戻る。
【０１３２】
以下、ステップ３１３での判断が肯定されるまで、上記ステップ３０９〜３１５の処理を繰り返し行う。
【０１３３】
チルト駆動量Ｍtltがｔm以上になると、上記ステップ３１３での判断は肯定され、ステップ３１７に移行する。
【０１３４】
このステップ３１７では、ＲＡＭ４１に保存されている前記ライトゾーンＴＥ振幅情報に基づいて、最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを求める。ここでは、例えば最小自乗法を用いてチルト駆動量とＴＥ振幅との関係を示す回帰式を求め、その回帰式から最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを求めても良い（図１４参照）。
【０１３５】
次のステップ３１９では、得られた最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを対象ライトゾーンと対応付けてライトゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１３６】
次のステップ３２１では、対象ライトゾーン番号Ｎwzに１を加算し、次のライトゾーンを対象ライトゾーンとする。
【０１３７】
次のステップ３２３では、対象ライトゾーン番号Ｎwzがライトゾーン数Ｚwを超えているか否かを判断する。ここではＮwz＝２であるため、ここでの判断は否定され前記ステップ３０５に戻る。
【０１３８】
なお、ＮwzがＺwを超えると、上記ステップ３２３での判断は肯定され図１０のステップ３３１に移行する。このときには、Ｚw個のライトゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報がＲＡＭ４１に保存されていることとなる。
【０１３９】
このステップ３３１では、フラッシュメモリ３９のデータ領域に格納されている前記トラック分割情報を参照し、リードゾーン数Ｚrを取得する。ここではＺr＝２である。
【０１４０】
次のステップ３３３では、取得処理の対象となるリードゾーン（以下では、便宜上「対象リードゾーン」という）を示す対象リードゾーン番号Ｎrzに１をセットし、初期化する。
【０１４１】
次のステップ３３５では、対象リードゾーンの所定位置にピックアップ本体１０１が位置するようにシーク制御信号を出力する。所定位置として例えば対象リードゾーンの中央付近の位置を用いても良い。ピックアップ本体１０１が所定位置に到達すると、ステップ３３７に移行する。
【０１４２】
このステップ３３７では、チルト駆動量Ｍtltに初期値t0をセットする。
【０１４３】
次のステップ３３９では、チルト駆動量Ｍtltに対応するチルト制御信号をドライバ２７に出力する。
【０１４４】
次のステップ３４１では、ＴＥ振幅検出回路２８ｆを介してＴＥ振幅を取得し、このときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けてリードゾーンＴＥ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１４５】
次のステップ３４３では、チルト駆動量Ｍtltがｔm以上であるか否かを判断する。ここではＭtlt＝t0であるため、ここでの判断は否定されステップ３４５に移行する。
【０１４６】
このステップ３４５では、チルト駆動量Ｍtltに増分Δtを加算し、前記ステップ３３９に戻る。
【０１４７】
以下、ステップ３４３での判断が肯定されるまで、上記ステップ３３９〜３４５の処理を繰り返し行う。
【０１４８】
チルト駆動量Ｍtltがｔm以上になると、上記ステップ３４３での判断は肯定されステップ３４７に移行する。
【０１４９】
このステップ３４７では、ＲＡＭ４１に保存されている前記リードゾーンＴＥ振幅情報に基づいて、前記ステップ３１７と同様にして、最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを求める。
【０１５０】
次のステップ３４９では、得られた最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを対象リードゾーンと対応付けてリードゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１５１】
次のステップ３５１では、対象リードゾーン番号Ｎrzに１を加算し、次のリードゾーンを対象リードゾーンとする。
【０１５２】
次のステップ３５３では、対象リードゾーン番号Ｎrzがリードゾーン数Ｚrを超えているか否かを判断する。ここではＮrz＝２であるため、ここでの判断は否定され前記ステップ３３５に戻る。
【０１５３】
一方、前記ステップ３５３において、ＮrzがＺrを超えていれば、ステップ３５３での判断は肯定されステップ３５５に移行する。なお、このときにはＺr個のリードゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報がＲＡＭ４１に保存されていることとなる。
【０１５４】
このステップ３５５では、前記温度センサ４２を介して、このときの光ピックアップ装置２３の近傍における温度情報を検出する。
【０１５５】
次のステップ３５７では、検出された温度情報を前記各ライトゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報及び各リードゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報にそれぞれ最大ＴＥチルト駆動量Ｍteが得られたときの温度情報として付加する。そして、最大ＴＥチルト駆動量の取得処理を終了する。
【０１５６】
次に、前記光ディスク装置２０を用いて、光ディスク１５にデータを記録するときの処理動作について図１１〜図１４を用いて説明する。図１１〜図１３のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。ホストからの記録要求コマンドを受信すると、図１１〜図１３のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、処理（以下では「記録要求受信処理」という）がスタートする。なお、ここでは便宜上、データが記録される領域（記録対象領域）は１つのライトゾーンに含まれるものとする。
【０１５７】
最初のステップ４０１では、フラッシュメモリ３９に格納されている前記トラック分割情報を参照し、記録対象領域が含まれるライトゾーンを特定する。
【０１５８】
次のステップ４０３では、特定されたライトゾーン（以下「特定ライトゾーン」と略述する）における、ＲＦ振幅がほぼ最大となるときのチルト駆動量（以下、便宜上「最大ＲＦチルト駆動量」ともいう）と最大ＴＥチルト駆動量との差（以下、便宜上「補正オフセット値」ともいう）ΔＭがＲＡＭ４１に保存されているか否かを判断する。特定ライトゾーンにおける補正オフセット値ΔＭがＲＡＭ４１に保存されていなければ、ここでの判断は否定されステップ４０５に移行する。
【０１５９】
このステップ４０５では、後述する最適なチルト駆動量の取得リトライ回数が格納されるリトライカウンタＣ2に初期値０をセットする。
【０１６０】
次のステップ４０９では、記録対象領域の近傍に位置し、すでにデータが記録されている領域（既記録領域）を決定する。
【０１６１】
次のステップ４１１では、上記決定された既記録領域の先頭位置にピックアップ本体１０１が位置するようにシーク制御信号を出力する。ピックアップ本体１０１が既記録領域の先頭位置に到達すると、ステップ４１３に移行する。
【０１６２】
このステップ４１３では、チルト駆動量Ｍtltに初期値t0をセットする。
【０１６３】
次のステップ４１５では、ＴＥ振幅及びＲＦ振幅の取得リトライ回数が格納されるリトライカウンタＣ1に初期値０をセットする。
【０１６４】
次のステップ４１７では、チルト駆動量Ｍtltに対応するチルト制御信号をドライバ２７に出力する。
【０１６５】
次のステップ４１９では、前記ＴＥ振幅検出回路２８ｆを介してＴＥ振幅を取得し、このときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けて既記録領域ＴＥ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１６６】
次のステップ４２１では、前記ＲＦ振幅検出回路２８ｇを介してＲＦ振幅を取得する。
【０１６７】
次のステップ４２３では、取得されたＲＦ振幅が予め設定されている値Ｌrf未満であるか否かを判断する。ＲＦ振幅がＬrf未満であれば、このときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けてＲＦ振幅を既記録領域ＲＦ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存する。そして、ここでの判断は肯定されステップ４２７に移行する。
【０１６８】
このステップ４２７では、チルト駆動量Ｍtltがｔm以上であるか否かを判断する。ここではＭtlt＝t0であるため、ここでの判断は否定されステップ４２９に移行する。
【０１６９】
このステップ４２９では、チルト駆動量Ｍtltに増分Δtを加算し、前記ステップ４１５に戻る。
【０１７０】
一方、上記ステップ４２３において、ＲＦ振幅がＬrf以上であれば、ステップ４２３での判断は否定されステップ４３１に移行する。
【０１７１】
このステップ４３１では、リトライカウンタＣ1に１を加算する。
【０１７２】
次のステップ４３３では、リトライカウンタＣ1の値が予め設定されている値Ｎ1（Ｎ1は２以上の整数）未満であるか否かを判断する。リトライカウンタＣ1の値がＮ1未満であれば、ここでの判断は肯定されステップ４３５に移行する。
【０１７３】
このステップ４３５では、前記決定された既記録領域とは別の既記録領域を設定し、該既記録領域の先頭位置にピックアップ本体１０１が位置するようにシーク制御信号を出力する。ピックアップ本体１０１が該既記録領域の先頭位置に到達すると、前記ステップ４１９に戻る。すなわち、ＴＥ振幅及びＲＦ振幅を破棄し、ＴＥ振幅及びＲＦ振幅の取得リトライを行なう。
【０１７４】
なお、上記ステップ４３３において、リトライカウンタＣ1の値がＮ1以上であれば、リトライオーバとなり、ステップ４３３での判断は否定されステップ４３７に移行する。
【０１７５】
このステップ４３７では、ＲＦ振幅を破棄し、上記ステップ４１９で得られたＴＥ振幅に予め実験などにより得られている係数αを乗じた値をＲＦ振幅とする。そして、このＲＦ振幅をこのときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けて既記録領域ＲＦ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存したのち、前記ステップ４２７に移行する。
【０１７６】
前記ステップ４２７において、チルト駆動量Ｍtltがｔm以上であれば、ここでの判断は肯定され、図１２のステップ４５１に移行する。
【０１７７】
このステップ４５１では、ＲＡＭ４１に保存されている前記既記録領域ＴＥ振幅情報に基づいて、最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを求める（図１４参照）。
【０１７８】
次のステップ４５３では、ＲＡＭ４１に保存されている前記既記録領域ＲＦ振幅情報に基づいて、最大ＲＦチルト駆動量Ｍrfを求める（図１４参照）。
【０１７９】
ステップ４５５では、次の（１）式に基づいて、補正オフセット値ΔＭを算出する。
【０１８０】
ΔＭ＝Ｍrf−Ｍte ……（１）
【０１８１】
次のステップ４５７では、温度センサ４２を介して、このときの光ピックアップ装置２３の近傍における温度情報を検出する。
【０１８２】
次のステップ４５９では、上記ステップ４５５で得られた補正オフセット値ΔＭ、上記ステップ４５７で得られた温度情報及び特定ライトゾーンをそれぞれ関連付けて補正オフセット値情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１８３】
次のステップ４６１では、記録対象領域の先頭位置にピックアップ本体１０１が位置するようにシーク制御信号を出力する。ピックアップ本体１０１が記録対象領域の先頭位置に到達すると、ステップ４６３に移行する。
【０１８４】
このステップ４６３では、ＲＡＭ４１に保存されている複数のライトゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報のなかから特定ライトゾーンにおけるライトゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報を抽出する。
【０１８５】
このステップ４６５では、特定ライトゾーンにおける最大ＴＥチルト駆動量Ｍteが得られたときの温度と現在の温度との差が予め設定されている値ΔＴ以上であるか否かを判断する。温度差がΔＴ以上であれば、ここでの判断は肯定されステップ４６７に移行する。
【０１８６】
このステップ４６７では、チルト駆動量Ｍtltに初期値t0をセットする。
【０１８７】
次のステップ４６９では、チルト駆動量Ｍtltに対応するチルト制御信号をドライバ２７に出力する。
【０１８８】
次のステップ４７１では、ＴＥ振幅検出回路２８ｆを介してＴＥ振幅を取得し、このときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けて特定ライトゾーンＴＥ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０１８９】
次のステップ４７３では、チルト駆動量Ｍtltがｔm以上であるか否かを判断する。ここではＭtlt＝t0であるため、ここでの判断は否定されステップ４７５に移行する。
【０１９０】
このステップ４７５では、チルト駆動量Ｍtltに増分Δtを加算し、前記ステップ４６７に戻る。
【０１９１】
以下、ステップ４７３での判断が肯定されるまで、上記ステップ４６７〜４７５の処理を繰り返し行う。
【０１９２】
チルト駆動量Ｍtltがｔm以上になると、前記ステップ４７３での判断が肯定されステップ４７７に移行する。
【０１９３】
このステップ４７７では、ＲＡＭ４１に保存されている前記特定ライトゾーンＴＥ振幅情報に基づいて、最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを求める。
【０１９４】
次のステップ４７９では、上記ステップ４７７で得られた最大ＴＥチルト駆動量Ｍte、上記ステップ４５７で得られた温度情報及び特定ライトゾーンをそれぞれ関連付けてライトゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報としてＲＡＭ４１に保存する。そして、ステップ５０１に移行する。
【０１９５】
一方、上記ステップ４６５において、温度差が所定値未満であれば、ステップ４６５での判断は否定されステップ５０１に移行する。
【０１９６】
ステップ５０１では、次の（２）式に基づいて、最適なチルト駆動量Ｍを算出する。そして、図１３のステップ５０３に移行する。
【０１９７】
Ｍ＝Ｍte＋ΔＭ ……（２）
【０１９８】
このステップ５０３では、特定ライトゾーンの前後のライトゾーンにおける最適なチルト駆動量がそれぞれＲＡＭ４１に保存されているか否かを判断する。各最適なチルト駆動量がＲＡＭ４１に保存されていれば、ここでの判断は肯定されステップ５０５に移行する。
【０１９９】
このステップ５０５では、特定ライトゾーンの前後のライトゾーンにおける各最適なチルト駆動量を参照し、特定ライトゾーンにおける最適なチルト駆動量の推定値ΔＭsを求める。ここでは、一例として各最適なチルト駆動量の一次補間から推定値ΔＭsを求める。
【０２００】
次のステップ５０７では、前記ステップ５０１で算出された最適なチルト駆動量Ｍと推定値ΔＭsとの差分が、予め設定されている値ｍ以下であるか否かを判断する。すなわち、前記ステップ５０１で算出された最適なチルト駆動量Ｍが有効であるか否かを判断する。上記差分がｍを超えていれば、ここでの判断は否定されステップ５０９に移行する。
【０２０１】
このステップ５０９では、リトライカウンタＣ2に１を加算する。
【０２０２】
次のステップ５１１では、リトライカウンタＣ2の値が予め設定されている値Ｎ2（Ｎ2は２以上の整数）未満であるか否かを判断する。リトライカウンタＣ2の値がＮ2未満であれば、ここでの判断は肯定され前記ステップ４０９に戻る。すなわち、最適なチルト駆動量の取得リトライを行なう。一方、リトライカウンタＣ2の値がＮ2以上であれば、リトライオーバとなり、ここでの判断は否定されステップ５１３に移行する。
【０２０３】
このステップ５１３では、推定値ΔＭsの値を最適なチルト駆動量Ｍとする。
【０２０４】
次のステップ５１９では、最適なチルト駆動量Ｍ、温度情報及び特定ライトゾーンをそれぞれ関連付けてＲＡＭ４１に保存する。
【０２０５】
次のステップ５２１では、記録速度に基づいてＯＰＣ（Optimum Power Control）を行い、最適な記録パワーを取得する。すなわち、記録パワーを段階的に変化させつつ、ＰＣＡ（Power Calibration Area）と呼ばれる試し書き領域に所定のデータを試し書きした後、それらのデータを順次再生し、例えばＲＦ信号から検出されたアシンメトリの値が予め実験等で求めた目標値とほぼ一致する場合を最も高い記録品質であると判断し、そのときの記録パワーを最適な記録パワーとする。このとき、前記ピーク値検出回路２８ｈを介して最も高い記録品質でのＲＦ信号のピークレベル（Ｌpとする）、前記ボトム値検出回路２８ｉを介して最も高い記録品質でのＲＦ信号のボトムレベル（Ｌbとする）を取得し、次の（３）式に基づいてβ値を算出する。
【０２０６】
β＝（Ｌｐ＋Ｌｂ）／（Ｌｐ−Ｌｂ） ……（３）
【０２０７】
そして、算出されたβ値に基づいて各ライトゾーンにおけるβ値の目標値（以下「目標β値」という）を求める。
【０２０８】
次のステップ５２３では、ホストからのデータの記録処理を行う。そして、ホストからのデータの記録が完了すると記録要求受信処理を終了する。なお、ここでの記録処理については後述する。
【０２０９】
なお、上記ステップ５０３において、特定ライトゾーンの前後のライトゾーンにおける最適なチルト駆動量の少なくとも一方がＲＡＭ４１に保存されていなければ、ステップ５０３での判断は否定され前記ステップ５１９に移行する。すなわち、最適なチルト駆動量Ｍの有効性チェックは行なわれない。また、上記ステップ５０７において、差分がｍ以下であれば、最適なチルト駆動量Ｍは有効であり、ステップ５０７での判断は肯定され前記ステップ５１９に移行する。
【０２１０】
さらに、前記ステップ４０３において、特定ライトゾーンの補正オフセット値ΔＭがＲＡＭ４１にすでに保存されていれば、ステップ４０３での判断は肯定されステップ４４１に移行する。
【０２１１】
このステップ４４１では、前記温度センサ４２を介して、このときの光ピックアップ装置２３の近傍における温度情報を検出する。
【０２１２】
次のステップ４４３では、ＲＡＭ４１に保存されている特定ライトゾーンの補正オフセット値情報を参照し、補正オフセット値ΔＭを求めたときの温度と現在の温度との差がΔＴ以上であるか否かを判断する。温度差がΔＴ以上であれば、ここでの判断は肯定され前記ステップ４０５に移行する。すなわち、特定ライトゾーンにおける補正オフセット値ΔＭを新たに求める。一方、温度差が所定値未満であれば、ステップ４４３での判断は否定されステップ４６１に移行する。すなわち、ＲＡＭ４１に格納されている特定ライトゾーンの補正オフセット値ΔＭが用いられる。
【０２１３】
ここで、上記ステップ５２３でのデータの記録処理について説明する。
【０２１４】
先ず、記録速度に基づいてスピンドルモータ２２の回転を制御するための制御信号をドライバ２７に出力するとともに、記録要求コマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。また、ホストから受信したデータのバッファＲＡＭ３４への蓄積をバッファマネージャ３７に指示する。
【０２１５】
光ディスク１５の回転が所定の線速度に達すると、サーボコントローラ３３に対してサーボオンを指示する。これにより、前述の如くしてトラックずれ及びフォーカスずれが補正される。なお、フォーカスずれ及びトラックずれの補正は記録処理が終了するまで随時行われる。
【０２１６】
再生信号処理回路２８から所定のタイミング毎に出力されるＡＤＩＰ情報に基づいて書き込み開始地点に光ピックアップ装置２３が位置するようにシークモータを制御するシーク制御信号をドライバ２７に出力する。
【０２１７】
バッファマネージャ３７からバッファＲＡＭ３４に蓄積されたデータのデータ量が所定の量を超えたとの通知を受けると、エンコーダ２５に書き込み信号の生成を指示する。
【０２１８】
光ピックアップ装置２３が書き込み開始地点に到達すると、上記最適なチルト駆動量Ｍに対応したチルト制御信号をドライバ２７に出力する。これにより、チルト制御信号に応じたチルト駆動電流がドライバ２７から光ピックアップ装置２３に出力される。
【０２１９】
チルト制御信号の出力前後におけるトラックエラー信号の振幅変化量を求め、最適なチルト駆動量Ｍから推定される予定振幅変化量とほぼ一致していれば、エンコーダ２５に対して書き込みを許可する。なお、振幅変化量が予定振幅変化量と大きく異なっていれば、チルト制御が正常に行なわれていないと判断し、一旦所定の大きなチルト制御信号をドライバ２７に出力して可動部を故意に大きく回動させた後、チルト制御信号を徐々に最適なチルト駆動量Ｍに対応したチルト制御信号とする。そして、振幅変化量が予定振幅変化量とほぼ一致したことを確認すると、エンコーダ２５に対して書き込みを許可する。
【０２２０】
これにより、ホストからのデータは、エンコーダ２５、レーザコントロール回路２４及び光ピックアップ装置２３を介して光ディスク１５に書き込まれる。
【０２２１】
なお、データの記録中には、前記ピーク値検出回路２８ｈ及び前記ボトム値検出回路２８ｉの出力信号に基づいてβ値を算出し、ＲＡＭ４１に格納されている特定ライトゾーンに対応する目標β値とを比較し、それらの差に基づいて記録パワーを修正する、いわゆるランニングＯＰＣを随時行なう。
【０２２２】
また、前記光ディスク装置２０を用いて、光ディスク１５に記録されているデータを再生するときの処理動作について図１５を用いて説明する。図１５のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。ホストからの再生要求コマンドを受信すると、図１５のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、処理（以下では「再生要求受信処理」という）がスタートする。なお、ここでは便宜上、データが再生される領域（再生領域）は１つのリードゾーンに含まれるものとする。
【０２２３】
最初のステップ６０１では、フラッシュメモリ３９に格納されている前記トラック分割情報を参照し、再生領域が含まれるリードゾーンを特定する。ここで特定されたリードゾーンを、以下では「特定リードゾーン」という。
【０２２４】
次のステップ６０３では、ＲＡＭ４１に保存されている複数のリードゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報のなかから、特定リードゾーンにおけるリードゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報を抽出する。
【０２２５】
次のステップ６０５では、温度センサ４２を介して、このときの光ピックアップ装置２３の近傍における温度情報を検出する。
【０２２６】
次のステップ６０７では、特定リードゾーンにおける最大ＴＥチルト駆動量を求めたときの温度と現在の温度との差がΔＴ以上であるか否かを判断する。温度差がΔＴ以上であれば、ここでの判断は肯定されステップ６０９に移行する。
【０２２７】
このステップ６０９では、再生領域の先頭位置にピックアップ本体１０１が位置するようにシーク制御信号を出力する。ピックアップ本体１０１が再生領域の先頭位置に到達すると、ステップ６１１に移行する。
【０２２８】
このステップ６１１では、チルト駆動量Ｍtltに初期値t0をセットする。
【０２２９】
次のステップ６１３では、チルト駆動量Ｍtltに対応するチルト制御信号をドライバ２７に出力する。
【０２３０】
次のステップ６１５では、ＴＥ振幅検出回路２８ｆを介してＴＥ振幅を取得し、このときのチルト駆動量Ｍtltと対応付けて特定リードゾーンＴＥ振幅情報としてＲＡＭ４１に保存する。
【０２３１】
次のステップ６１７では、チルト駆動量Ｍtltがｔm以上であるか否かを判断する。ここではＭtlt＝t0であるため、ここでの判断は否定され、ステップ６１９に移行する。
【０２３２】
このステップ６１９では、チルト駆動量Ｍtltに増分Δtを加算し、前記ステップ６１３に戻る。
【０２３３】
以下、前記ステップ６１７での判断が肯定されるまで、上記ステップ６１３〜６１９の処理を繰り返し行う。
【０２３４】
チルト駆動量Ｍtltがｔm以上になると、前記ステップ６１７での判断が肯定されステップ６２１に移行する。
【０２３５】
このステップ６２１では、ＲＡＭ４１に保存されている前記特定リードゾーンＴＥ振幅情報に基づいて、最大ＴＥチルト駆動量Ｍteを求める。
【０２３６】
次のステップ６２３では、上記ステップ６２１で得られた最大ＴＥチルト駆動量Ｍte、上記ステップ６０５で得られた温度情報及び特定リードゾーンをそれぞれ関連付けてリードゾーン最大ＴＥチルト駆動量情報としてＲＡＭ４１に保存する。そして、ステップ６２５に移行する。
【０２３７】
一方、上記ステップ６０７において、温度差がΔＴ未満であれば、ステップ６０７での判断は否定されステップ６２５に移行する。
【０２３８】
ステップ６２５では、フラッシュメモリ３９から前記リードオフセット値を読み出す。
【０２３９】
ステップ６２７では、特定リードゾーンにおける最大ＴＥチルト駆動量Ｍteにリードオフセット値を付加して最適なチルト駆動量を算出する。
【０２４０】
次のステップ６２９では、データの再生処理を行う。そして、ホストから要求されたデータの再生が完了すると処理を終了する。
【０２４１】
ここで、上記ステップ６２９でのデータの再生処理について説明する。
【０２４２】
先ず再生速度に基づいてスピンドルモータ２２の回転を制御するための制御信号をドライバ２７に出力するとともに、再生要求コマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。
【０２４３】
光ディスク１５の回転が所定の線速度に達すると、サーボコントローラ３３に対してサーボオンを指示する。これにより、前述の如くしてトラックずれ及びフォーカスずれが補正される。なお、フォーカスずれ及びトラックずれの補正は再生処理が終了するまで随時行われる。
【０２４４】
次に、読み出し開始地点に光ピックアップ装置２３が位置していなければ、再生信号処理回路２８から所定のタイミング毎に出力されるＡＤＩＰ情報に基づいて、読み出し開始地点に光ピックアップ装置２３が位置するようにシーク制御信号をドライバ２７に出力する。
【０２４５】
そして、光ピックアップ装置２３が読み出し開始地点に到達すると、上記ステップ６２７で算出した最適なチルト駆動量に対応するチルト制御信号をドライバ２７に出力する。これにより、チルト制御信号に応じたチルト駆動電流がドライバ２７から光ピックアップ装置２３に出力される。
【０２４６】
チルト制御信号の出力前後におけるトラックエラー信号（又はＲＦ信号）の振幅変化量を求め、最適なチルト駆動量から推定される予定振幅変化量とほぼ一致していれば、再生信号処理回路２８にチルト制御の終了を通知する。なお、振幅変化量が予定振幅変化量と大きく異なっていれば、チルト制御が正常に行なわれていないと判断し、一旦所定の大きなチルト制御信号をドライバ２７に出力して可動部を故意に大きく回動させた後、チルト制御信号を徐々に最適なチルト駆動量に対応したチルト制御信号とする。そして、振幅変化量が予定振幅変化量とほぼ一致したことを確認すると、再生信号処理回路２８にチルト制御の終了を通知する。
【０２４７】
これにより、ＲＦ信号検出回路２８ｄ及びデコーダ２８ｅを介して再生されたデータはバッファＲＡＭ３４に蓄積される。再生データはセクタデータとして揃うと、バッファマネージャ３７及びインターフェース３８を介してホストに転送される。
【０２４８】
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る光ディスク装置では、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０にて実行されるプログラムとによって、制御情報取得手段、補正情報取得手段、エラー処理手段、無効処理手段、目標β値設定手段、チルト制御手段、補正手段、振幅変化取得手段、格納手段、及び処理装置が実現されている。すなわち、図１２のステップ５０１の処理によって制御情報取得手段が実現されている。図１２のステップ４５５の処理によって補正情報取得手段が実現されている。図１１のステップ４２３、４３１、４３３、４３５、及び４３７の処理によってエラー処理手段が実現されている。図１３のステップ５０７、５０９、５１１、及び５１３の処理によって無効処理手段が実現されている。図１３のステップ５１９の処理によって格納手段が実現されている。なお、目標β値設定手段は図１３のステップ５２１での処理において実現され、振幅変化取得手段及び処理装置は図１３のステップ５２３及び図１５のステップ６２９の処理においてそれぞれ実現されている。また、図１５のステップ６２７の処理によって補正手段が実現されている。チルト制御手段は図１５のステップ６２９での処理において実現されている。しかしながら、本発明がこれに限定されるものではないことは勿論である。すなわち、上記実施形態は一例に過ぎず、ＣＰＵ４０によるプログラムに従う上記処理によって実現した各手段及び処理装置の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全てをハードウェアによって構成することとしても良い。
【０２４９】
また、本実施形態では、フラッシュメモリ３９のプログラム領域にインストールされているプログラムのうち、図１１〜図１３、及び図１５に示されるフローチャートに対応するプログラムによって前記チルト制御プログラムが構成されている。
【０２５０】
そして、図１２のステップ５０１での処理によって本発明に係るチルト制御方法の制御情報取得工程が実施されている。図１２のステップ４５５での処理によって補正情報取得工程が実施されている。図１１のステップ４２３での処理によって第３副工程が実施され、図１１のステップ４３１、４３３、４３５、及び４３７の処理によって第４副工程が実施されている。図１３のステップ５０７の処理によって判断工程が実施され、図１３のステップ５０９、５１１、及び５１３の処理によってエラー処理工程が実施されている。なお、目標β値設定工程は図１３のステップ５２１での処理において実施されている。また、チルト制御工程は図１５のステップ６２７及び６２９での処理において実施されている。さらに、振幅変化取得工程は図１３のステップ５２３及び図１５のステップ６２９の処理においてそれぞれ実施されている。
【０２５１】
以上説明したように、本実施形態に係る光ディスク装置によると、ホストから記録要求コマンドを受信すると、光ディスクの既記録領域における最大ＲＦチルト駆動量と最大ＴＥチルト駆動量との差を示す補正オフセット値（補正情報）と、記録対象領域での最大ＴＥチルト駆動量とに基づいて、対物レンズの傾きを制御するための最適なチルト駆動量（チルト制御情報）を求め、その最適なチルト駆動量に基づいて生成されたチルト制御信号によってチルト制御を行なっている。これにより、記録対象領域での最大ＴＥチルト駆動量のみに基づいて生成されたチルト制御信号によってチルト制御を行なう場合に比べて、対物レンズを介して記録対象領域に形成される光スポットにおける波面収差を抑制することが可能となる。すなわち、記録品質を向上させることができる。また、短時間で最適なチルト駆動量を取得することができる。従って、結果としてパフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く制御することができる。
【０２５２】
また、本実施形態によると、記録時には、記録対象領域の近傍にある既記録領域において補正オフセット値を求めているために、誤差の小さいチルト制御信号を生成することができる。
【０２５３】
また、本実施形態によると、光ディスクがローディングされたときにライトゾーン（記録制御用領域）及びリードゾーン（再生制御用領域）において、それぞれゾーン毎に最大ＴＥチルト駆動量が取得され、そのときの温度情報とともにＲＡＭ４１に保存されている。従って、例えば温度変化が小さい場合には、記録時及び再生時に新たに最大ＴＥチルト駆動量を取得することなく最適なチルト駆動量を求めることが可能となる。すなわち、ホストからの記録要求及び再生要求に対してパフォーマンスを低下させることなく、精度良くチルト制御を行なうことができる。
【０２５４】
また、本実施形態によると、記録及び再生の際に、そのときの温度と、ＲＡＭに保存されている最大ＴＥチルト駆動量を求めたときの温度との差が大きい場合には、ＲＡＭに保存されている最大ＴＥチルト駆動量を用いずに、新たに最大ＴＥチルト駆動量を取得している。これにより、例えば半導体レーザの発光パワーが大きくて、チルトに対する温度変化の影響が無視できない場合であっても、精度良くチルト制御を行なうことができる。
【０２５５】
また、本実施形態によると、ライトゾーン毎に目標β値が設定されているために、ランニングＯＰＣにおけるライトゾーン間のチルト差に起因する誤差が抑制され、最適な発光パワーを維持することができる。すなわち、良好な記録品質を維持することができる。
【０２５６】
また、本実施形態によると、リードゾーンの数がライトゾーンの数に比べて少なく設定されているために、必要な精度のチルト制御を行ないつつ、ホストからの再生要求に対するパフォーマンスを向上させることができる。
【０２５７】
また、本実施形態によると、再生時には、再生時における対物レンズの最適な傾きと記録時における対物レンズの最適な傾きとの差を考慮して、チルト制御信号を生成しているために、精度良くチルト制御を行なうことができる。
【０２５８】
また、本実施形態によると、取得されたＲＦ振幅が所定値以上のときには、そのときのＴＥ振幅及びＲＦ振幅を破棄し、別の既記録領域においてＴＥ振幅及びＲＦ振幅の取得リトライを行なっているために、例えば既記録領域と未記録領域との境界近傍であっても、精度の高い補正オフセット値を求めることができる。そして、リトライオーバになると、ＴＥ振幅に所定の係数を乗じた値をＲＦ振幅としているために、パフォーマンスの低下を抑制することができる。
【０２５９】
また、本実施形態によると、取得された補正オフセット値を所定の情報とともにＲＡＭに保存しているために、同一条件のときに補正オフセット値を取得する処理を新たに行う必要がなく、パフォーマンスを向上させることができる。
【０２６０】
また、本実施形態によると、特定ライトゾーンの前後のライトゾーンにおける既知の最適なチルト駆動量に基づいて、特定ライトゾーンにおいて取得された最適なチルト駆動量が有効であるか否かを判断し、有効でないときには、最適なチルト駆動量の取得リトライを行なっているために、例えば突発的な事情による計測誤差を排除することが可能となり、精度の高い最適なチルト駆動量を求めることができる。そして、リトライオーバになると、既知の最適なチルト駆動量に基づいて特定ライトゾーンにおける最適なチルト駆動量を推定しているために、パフォーマンスの低下を抑制することができる。
【０２６１】
また、本実施形態によると、リードゾーンの中央部近傍における最大ＴＥチルト駆動量を用いて最適なチルト制御量を求めているために、従来よりも短時間で必要な精度のチルト制御を行うことが可能となる。
【０２６２】
また、本実施形態によると、データの記録及び再生に先だって対物レンズの傾きが精度良く補正されるため、応答性に優れた光ディスクへのアクセスを安定して行うことが可能となる。
【０２６３】
また、本実施形態によると、記録時に、チルト制御信号の出力前後におけるトラックエラー信号の振幅変化量を求め、最適なチルト駆動量から推定される予定振幅変化量と比較している。これにより、チルト制御が正しく行われたか否かを確認することができる。
【０２６４】
また、本実施形態によると、再生時に、チルト制御信号の出力前後におけるトラックエラー信号又はＲＦ信号の振幅変化量を求め、最適なチルト駆動量から推定される予定振幅変化量と比較している。これにより、チルト制御が正しく行われたか否かを確認することができる。
【０２６５】
なお、上記実施形態では、記録対象領域が１つのライトゾーンに含まれる場合について説明したが、これに限らず複数のライトゾーンにまたがっていても良い。この場合には、特定ライトゾーンが複数存在することとなり、前記最適なチルト制御量は特定ライトゾーン毎に算出される。一例として図１６（Ａ）に示されるように、データが記録される領域がライトゾーンＡとライトゾーンＢとにまたがる場合には、ライトゾーンＡでの最適なチルト制御量（ＭtltＡとする）と、ライトゾーンＢでの最適なチルト制御量（ＭtltＢとする）とが算出され、ライトゾーンＡに記録する際には、チルト制御量ＭtltＡに対応するチルト制御信号ＳtltＡがドライバに出力され、ライトゾーンＢに記録する際には、チルト制御量ＭtltＢに対応するチルト制御信号ＳtltＢがドライバ出力される。なお、チルト制御量ＭtltＡとチルト制御量ＭtltＢとの差が所定値以上のときに、一例として図１６（Ｂ）、図１６（Ｃ）、図１７（Ａ）及び図１７（Ｂ）に示されるように、チルト制御信号をＳtltＡからＳtltＢに徐々に変化させても良い。これにより、ライトゾーンが切り換わっても、最適な記録パワーを維持することができる。
【０２６６】
さらに、上記実施形態では、データの記録処理において、光ピックアップ装置２３が書き込み開始地点に到達したときに、チルト制御信号をドライバ２７に出力する場合について説明したが、これに限らず、例えば光ピックアップ装置２３が書き込み開始地点近傍に到達したときに、チルト制御信号をドライバ２７に出力しても良い。この場合に、シークモータが停止したときの慣性力によるレンズホルダの回転に起因してチルト駆動量がチルト制御信号に対応していないことがある。そこで、シークモータの停止前後のＴＥ振幅を求め、それらの差が所定値以上の場合には、一旦大きなチルト制御信号をドライバに出力した後、徐々に所定のチルト制御信号にしても良い。これにより、精度良くチルト制御を行うことができる。
【０２６７】
同様に、再生処理においても、例えば光ピックアップ装置２３が読み出し開始地点近傍に到達したときに、チルト制御信号をドライバ２７に出力しても良い。この場合にも、シークモータの停止前後のＴＥ振幅あるいはＲＦ振幅を求め、それらの差が所定値以上の場合には、一旦大きなチルト制御信号をドライバに出力した後、徐々に所定のチルト制御信号にしても良い。これにより、精度良くチルト制御を行うことができる。
【０２６８】
また、上記実施形態において、ＲＦ振幅に代えてジッタを用いても良い。この場合には、一例として図１８に示されるように、ＲＦ振幅検出回路２８ｇの代わりに、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号に基づいてジッタを検出するためのジッタ検出回路２８ｇ’を備えた再生信号処理回路２８’を用いると良い。そして、一例として図１９に示されるように、最大ＲＦチルト駆動量Ｍrfの代わりに、ジッタが最小となるときのチルト駆動量Ｍjtが用いられる。
【０２６９】
また、上記実施形態において、ゾーンによってＲＦ振幅が大きく変動する場合には、例えば３ＴのＲＦ振幅がどのゾーンにおいてもほぼ同じとなるように、ＲＦ信号検出回路２８ｄを構成する不図示のＲＦイコライザの特性をゾーン毎に変更しても良い。これにより、最大ＲＦチルト駆動量を更に精度良く求めることが可能となる。
【０２７０】
また、上記実施形態では、記録及び再生の際に、そのときの温度を求め、ＲＡＭに保存されている最大ＴＥチルト駆動量を求めたときの温度との差が大きい場合には、ＲＡＭに保存されている最大ＴＥチルト駆動量を用いずに、新たに最大ＴＥチルト駆動量を求める場合について説明したが、これに限らず、例えば光ディスクがローディングされてから、記録処理が一度も行なわれていない場合のように、それほど温度差が大きくないことが明らかなときには、温度チェックを行なうことなく、ＲＡＭに保存されている最大ＴＥチルト駆動量を用いても良い。また、半導体レーザを記録パワーで発光させた積算時間が所定時間を超えたときに新たに最大ＴＥチルト駆動量を求めても良い。
【０２７１】
また、上記実施形態において、互いに異なる温度のときに得られた複数の最大ＴＥチルト駆動量がＲＡＭ４１に保存されている場合には、記録及び再生の際に、そのときの温度を求め、その温度に最も近い温度のときに得られた最大ＴＥチルト駆動量をＲＡＭ４１から抽出し、その最大ＴＥチルト駆動量を用いて最適なチルト駆動量を求めても良い。これにより、過去に取得されたデータを有効に活用することができ、記録及び再生のパフォーマンスを向上させることが可能となる。
【０２７２】
また、上記実施形態において、互いに異なる温度のときに得られた複数の補正オフセット値がＲＡＭ４１に保存されている場合には、記録の際に、そのときの温度を求め、その温度に最も近い温度のときに得られた補正オフセット値をＲＡＭ４１から抽出し、その補正オフセット値を用いて最適なチルト駆動量を求めても良い。これにより、過去に取得されたデータを有効に活用することができ、記録のパフォーマンスを向上させることが可能となる。
【０２７３】
また、上記実施形態において、互いに異なる温度のときに得られた複数の最適なチルト駆動量がＲＡＭ４１に保存されている場合には、記録及び再生の際に、そのときの温度を求め、その温度に最も近い温度のときに得られた最適なチルト駆動量をＲＡＭ４１から抽出し、その最適なチルト駆動量に応じたチルト制御信号を生成しても良い。これにより、過去に取得されたデータを有効に活用することができ、記録のパフォーマンスを更に向上させることが可能となる。
【０２７４】
また、上記実施形態では、ステップ５０５において、各最適なチルト駆動量の一次補間から推定値Ｍsを求める場合について説明したが、これに限定されるものではなく、一次補間以外の方法を用いて推定値Ｍsを求めても良い。
【０２７５】
また、上記実施形態では、特定ライトゾーンの前後に位置するライトゾーンの最適なチルト駆動量に基づいて、特定ライトゾーンの最適なチルト駆動量を推定する場合について説明したが、これに限定されるものではなく、特定ライトゾーンの前後いずれかに位置するライトゾーンの最適なチルト駆動量に基づいて、推定値Ｍsを求めても良い。
【０２７６】
また、上記実施形態では、ライトゾーン数が６の場合について説明したが、これに限定されるものではない。光ディスクにおけるそりの状況に応じてライトゾーン数を変更しても良い。また、各ライトゾーンの大きさについても、光ディスクにおけるそりの状況に応じて設定すれば良い。また、光ディスクのベンダ毎に記録時の分割情報を持っていても良い。
【０２７７】
また、上記実施形態では、リードゾーン数が２の場合について説明したが、これに限定されるものではない。要するに、再生処理のパフォーマンスをあまり低下させることなく、正常な再生データを得ることができる程度にチルト制御ができれば良い。また、各リードゾーンの大きさについても、効率良くチルト制御ができるように光ディスクにおけるそりの状況に応じて設定すれば良い。また、光ディスクのベンダ毎に再生時の分割情報を持っていても良い。
【０２７８】
また、上記実施形態において、そりの程度が小さくほぼ一様であると予想できる場合には、リードゾーン数を１としても良い。この場合には、リードゾーンの中央部近傍で最大ＴＥチルト駆動量を求めても良い。これにより、チルト制御による再生処理のパフォーマンスの低下を極めて低く抑えることが可能となる。
【０２７９】
また、上記実施形態では、ランニングＯＰＣにおいて、算出されたβ値と目標β値との差に基づいて記録パワーを修正する場合について説明したが、これに限らず、例えば、いわゆるＢ値の目標値（目標Ｂ値）をライトゾーン毎に予め設定しておき、ランニングＯＰＣにおいて、検出されたＢ値と目標Ｂ値との差に基づいて記録パワーを修正しても良い。この場合には、一例として図２０に示されるように、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号に基づいてＢ値を検出するためのＢ値検出回路２８ｊを備えた再生信号処理回路２８”を用いると良い。
【０２８０】
また、上記実施形態では、ＯＰＣにおいて、ＰＣＡに試し書きを行なう場合について説明したが、例えばＤＶＤ＋ＲＷのようにランダムに書き込みができるときには、ライトゾーン毎にＯＰＣを行なっても良い。これにより、更に精度良く最適な記録パワーを得ることができるとともに、ランニングＯＰＣにおいて、精度良く記録パワーを修正することが可能となる。
【０２８１】
また、上記実施形態では、記録速度に関係なく最適なチルト駆動量を求める場合について説明したが、例えば可能な記録速度の範囲が広いときには、記録速度毎に最適なチルト駆動量を求めても良い。また、例えば記録速度が低速のとき、及び高速のときとでそれぞれ最適なチルト駆動量を求めても良い。
【０２８２】
また、上記実施形態では、光ディスクがローディングされたときに、ライトゾーンとリードゾーンにおいて、それぞれゾーン毎の最大ＴＥチルト駆動量の取得処理が行なわれる場合について説明したが、これに限らず、例えばライトゾーン及びリードゾーンのいずれかのみにおいて、ゾーン毎の最大ＴＥチルト駆動量の取得処理が行なわれても良い。また、光ディスクがローディングされたときに、ゾーン毎の最大ＴＥチルト駆動量の取得処理が行なわれなくても良い。そして、記録時に特定ライトゾーンの最大ＴＥチルト駆動量がＲＡＭ４１に保存されていなければ、そのときに求めれば良い。同様に、再生時に特定リードゾーンの最大ＴＥチルト駆動量がＲＡＭ４１に保存されていなければ、そのときに求めれば良い。
【０２８３】
また、上記実施形態では、ステップ４２１で取得されたＲＦ振幅がＬrf以上のときに、リトライオーバとなるまで、別の既記録領域でＴＥ振幅及びＲＦ振幅を求める場合について説明したが、これに限らず、ＲＦ振幅がＬrf以上のときに、リトライせずに直ちにステップ４３７に移行しても良い。すなわち、ステップ４３１、４３３及び４３５はなくても良い。
【０２８４】
また、上記実施形態では、特定ライトゾーンにおいて取得された最適なチルト駆動量が有効でないときに、リトライオーバとなるまで、最適なチルト駆動量の取得リトライを行なう場合について説明したが、これに限らず、有効でないと判断すると、リトライせずに直ちにステップ５１３に移行しても良い。すなわち、ステップ５０９及び５１１はなくても良い。
【０２８５】
また、上記実施形態では、補正情報として、補正オフセット値が用いられる場合について説明したが、これに限定されるものではない。既記録領域を再生したときに得られる複数種類の信号によって定まる補正情報であれば良い。
【０２８６】
なお、上記実施形態において、記録対象領域での最大ＴＥチルト駆動量を求める際に、例えば検出されたＴＥ振幅のばらつきが大きいときには、記録対象領域近傍の既記録領域での記録前後におけるＴＥ振幅の比を用いて、記録対象領域で検出されたＴＥ振幅を補正しても良い。これにより、最大ＴＥチルト駆動量を精度良く求めることができる。
【０２８７】
また、上記実施形態では、２つのチルト用コイルを用いて対物レンズ６０をＸＺ面内で回動する場合について説明したが、これに限定されるものではない。
【０２８８】
また、上記実施形態では、２つのトラッキング用コイルを用いて対物レンズ６０をトラッキング方向に駆動する場合について説明したが、これに限定されるものではない。
【０２８９】
また、上記実施形態では、１つのフォーカス用コイルを用いて対物レンズ６０をフォーカス方向に駆動する場合について説明したが、これに限定されるものではない。
【０２９０】
また、上記実施形態では、光ディスクのトラックの接線方向に直交する方向（ラジアル方向）に対する対物レンズの傾き（ラジアルチルト）を補正する場合について説明したが、光ディスクのトラックの接線方向（タンジェンシャル方向）に対する対物レンズの傾き（タンジェンシャルチルト）を補正する場合にも本発明を適用することができる。この場合には、対物レンズはＹＺ面内で回動することとなる。
【０２９１】
また、上記実施形態では、前記チルト制御プログラムはフラッシュメモリ３９に記録されているが、他の記録媒体（ＣＤ系光ディスク、ＤＶＤ系光ディスク、光磁気ディスク、メモリカード、フレキシブルディスク等）に記録されていても良い。この場合には、記録媒体に対応するドライブ装置を付加し、そのドライブ装置からチルト制御プログラムをフラッシュメモリ３９に転送することとなる。また、ネットワーク（ＬＡＮ、イントラネット、インターネットなど）を介してチルト制御プログラムをフラッシュメモリ３９に転送しても良い。
【０２９２】
また、上記実施形態では、チルトを補正するための駆動機構として、可動部をガイド軸回りに回動する場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではない。
【０２９３】
また、上記実施形態では、光ディスク装置がＤＶＤ系の規格に準拠した光ディスクに対応する場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではなく、例えばＣＤ系の規格に準拠した光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。さらに、互いに異なる規格に準拠した複数種類の光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。この場合に、波長が約４０５ｎｍ、約６５０ｎｍ及び約７８０ｎｍの少なくともいずれかのレーザ光が用いられる光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。
【０２９４】
また、上記実施形態では、光ピックアップ装置が１つの半導体レーザを備える場合について説明したが、これに限らず、例えば互いに異なる波長の光束を発光する複数の半導体レーザを備えていても良い。この場合に、例えば波長が４０５ｎｍの光束を発光する半導体レーザ、波長が６６０ｎｍの光束を発光する半導体レーザ及び波長が７８０ｎｍの光束を発光する半導体レーザの少なくとも１つを含んでいても良い。
【０２９５】
また、上記実施形態では、インターフェース３８がＡＴＡＰＩの規格に準拠する場合について説明したが、これに限らず、例えばＡＴＡ（AT Attachment）、ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）１．０、ＵＳＢ２．０、ＩＥＥＥ１３９４、ＩＥＥＥ８０２．３、シリアルＡＴＡ及びシリアルＡＴＡＰＩのうちのいずれかの規格に準拠しても良い。
【０２９６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係るチルト制御方法によれば、パフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く補正することができるという効果がある。
【０２９７】
また、本発明に係るプログラム及び記録媒体によれば、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、パフォーマンスの低下を招くことなく、光ディスクに対する対物レンズの傾きを精度良く補正することができるという効果がある。
【０２９８】
また、本発明に係る光ディスク装置によれば、応答性に優れた光ディスクへのアクセスを安定して行うことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１における再生信号処理回路の構成を説明するためのブロック図である。
【図３】図３（Ａ）は記録時のチルト制御用のゾーン分割を説明するための図であり、図３（Ｂ）は再生時のチルト制御用のゾーン分割を説明するための図である。
【図４】図１における光ピックアップ装置の構成を説明するための図である。
【図５】図４における光束出射系の詳細構成を説明するための図である。
【図６】図４における集光系の詳細構成を説明するための図である。
【図７】図６のＡ−Ａ線断面図である。
【図８】図８（Ａ）は図６におけるガイド軸固定部を示す概略斜視図であり、図８（Ｂ）は図６におけるレンズホルダ及び線ばね固定部を示す概略斜視図である。
【図９】光ディスクがローディングされたときに実施される、ＴＥ振幅がほぼ最大となるときのチルト駆動量をゾーン毎に取得する処理動作を説明するためのフローチャート（その１）である。
【図１０】光ディスクがローディングされたときに実施される、ＴＥ振幅がほぼ最大となるときのチルト駆動量をゾーン毎に取得する処理動作を説明するためのフローチャート（その２）である。
【図１１】記録要求コマンドを受信したときの本発明に係る処理動作を説明するためのフローチャート（その１）である。
【図１２】記録要求コマンドを受信したときの本発明に係る処理動作を説明するためのフローチャート（その２）である。
【図１３】記録要求コマンドを受信したときの本発明に係る処理動作を説明するためのフローチャート（その３）である。
【図１４】ＴＥ振幅がほぼ最大となるときのチルト駆動量及びＲＦ振幅がほぼ最大となるときのチルト駆動量を説明するための図である。
【図１５】再生要求コマンドを受信したときの本発明に係る処理動作を説明するためのフローチャートである。
【図１６】図１６（Ａ）〜図１６（Ｃ）は、それぞれデータを記録する領域が複数のライトゾーンにまたがっているときのチルト制御信号を説明するための図（その１）である。
【図１７】図１７（Ａ）及び図１７（Ｂ）は、それぞれデータを記録する領域が複数のライトゾーンにまたがっているときのチルト制御信号を説明するための図（その２）である。
【図１８】ＲＦ振幅に代えてジッタを用いるときの再生信号処理回路の構成を説明するためのブロック図である。
【図１９】ＴＥ振幅がほぼ最大となるときのチルト駆動量及びジッタがほぼ最小となるときのチルト駆動量を説明するための図である。
【図２０】β値に代えてＢ値を用いるときの再生信号処理回路の構成を説明するためのブロック図である。
【符号の説明】
１５…光ディスク、２０…光ディスク装置、２３…光ピックアップ装置、３９…フラッシュメモリ（記録媒体）、４０…ＣＰＵ（制御情報取得手段、補正情報取得手段、エラー処理手段、無効処理手段、目標β値設定手段、チルト制御手段、補正手段、振幅変化取得手段、格納手段、処理装置）、４１…ＲＡＭ（メモリ）、４２…温度センサ（温度検知手段）。
Claims (54)
- スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクに対する対物レンズの傾きを制御するチルト制御方法であって、
光ディスクにデータを記録する際に、
前記光ディスクの前記データが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた前記既記録領域における、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きとトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きとの差に関する情報である既知の補正情報と、前記データが記録される記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに関する情報とに基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報を取得する制御情報取得工程を含むチルト制御方法。 - 前記制御情報取得工程に先立って、前記補正情報を取得する補正情報取得工程を更に含むことを特徴とする請求項１に記載のチルト制御方法。
- 前記補正情報取得工程は、前記既記録領域におけるトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに関する第１傾き情報と、前記既記録領域におけるＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きに関する第２傾き情報とを取得する第１副工程と；
前記第１、第２傾き情報に基づいて前記補正情報を取得する第２副工程と；を含むことを特徴とする請求項２に記載のチルト制御方法。 - 前記補正情報取得工程は、前記第２副工程に先立って、前記第１副工程で取得された前記第２傾き情報が有効であるか否かを判断する第３副工程と；
前記第３副工程での判断の結果、前記第２傾き情報が有効でない場合に、所定の無効処理を行う第４副工程と；を更に含むことを特徴とする請求項３に記載のチルト制御方法。 - 前記第３副工程では、前記既記録領域におけるＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きが所定値未満のときに、前記第２傾き情報は有効であると判断することを特徴とする請求項４に記載のチルト制御方法。
- 前記第４副工程では、前記第１、第２傾き情報をそれぞれ破棄し、前記既記録領域とは異なる位置に存在する既記録領域における第１、第２傾き情報をそれぞれ新たに取得することを特徴とする請求項４又は５に記載のチルト制御方法。
- 前記第４副工程では、前記第２傾き情報を破棄し、前記既記録領域におけるトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに所定の係数を乗じた値を、前記既記録領域におけるＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの対物レンズの傾きとみなし、第２傾き情報を新たに取得することを特徴とする請求項４又は５に記載のチルト制御方法。
- 前記チルト制御情報は、記録速度毎に取得されることを特徴とする請求項１〜７のいずれか一項に記載のチルト制御方法。
- 前記制御情報取得工程に先立って、前記記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅と前記対物レンズの傾きとの関係を求める関係取得工程を更に含み、
前記関係取得工程では、既記録領域での記録前後におけるトラックエラー信号の振幅比を用いて、前記記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅を補正することを特徴とする請求項１〜８のいずれか一項に記載のチルト制御方法。 - 前記光ディスクのトラックは記録時のチルト制御用に複数の記録制御用領域に分割され、
前記チルト制御情報は、前記記録制御用領域毎に取得されることを特徴とする請求項１〜９のいずれか一項に記載のチルト制御方法。 - 前記複数の記録制御用領域のうち、前記記録対象領域が含まれる特定記録制御用領域の前後に位置する２つの記録制御用領域での各チルト制御情報に基づいて、前記制御情報取得工程で取得された前記特定記録制御用領域でのチルト制御情報が有効であるか否かを判断する判断工程と；
前記判断工程での判断の結果、前記チルト制御情報が有効でない場合に、前記制御情報取得工程で取得されたチルト制御情報を破棄し、所定のエラー処理を行うエラー処理工程と；を更に含むことを特徴とする請求項１０に記載のチルト制御方法。 - 前記判断工程では、前記特定記録制御用領域の前後に位置する２つの記録制御用領域での各チルト制御情報に基づいて判断基準を設定し、前記制御情報取得工程で取得されたチルト制御情報が前記判断基準を満足しているときに、前記制御情報取得工程で取得されたチルト制御情報は有効であると判断することを特徴とする請求項１１に記載のチルト制御方法。
- 前記エラー処理工程では、前記特定記録制御用領域の前後に位置する２つの記録制御用領域での各チルト制御情報に基づいて前記特定記録制御用領域でのチルト制御情報を推定し、該推定されたチルト制御情報を前記特定記録制御用領域におけるチルト制御情報とみなすことを特徴とする請求項１１又は１２に記載のチルト制御方法。
- 前記エラー処理工程では、前記制御情報取得工程と同一の処理を行い、再度チルト制御情報を取得することを特徴とする請求項１１又は１２に記載のチルト制御方法。
- 前記記録対象領域は前記複数の記録制御用領域の中の第１の記録制御用領域及び第２の記録制御用領域の両方にまたがり、前記データの記録中にデータの書き込み位置が前記第１の記録制御用領域から前記第２の記録制御用領域に遷移する場合に、前記第１、第２の記録制御用領域の境界近傍では前記対物レンズの傾きが徐々に変化するように前記対物レンズの傾きを調整する遷移調整工程を更に含むことを特徴とする請求項１０〜１４のいずれか一項に記載のチルト制御方法。
- 前記光ディスクに設けられた試し書き領域における試し書き結果に基づいて、前記記録制御用領域毎にβ値の目標値を設定する目標β値設定工程を更に含むことを特徴とする請求項１０〜１５のいずれか一項に記載のチルト制御方法。
- 前記光ディスクに設けられた試し書き領域における試し書き結果に基づいて、前記記録制御用領域毎にＢ値の目標値を設定する目標Ｂ値設定工程を更に含むことを特徴とする請求項１０〜１６のいずれか一項に記載のチルト制御方法。
- 前記光ディスクからデータを再生する際に、
前記光ディスクのトラックの中央部近傍で取得されたチルト制御情報に基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するチルト制御工程を更に含むことを特徴とする請求項１〜１７のいずれか一項に記載のチルト制御方法。 - 前記光ディスクのトラックは再生時のチルト制御用に複数の再生制御用領域に分割され、
前記光ディスクからデータを再生する際に、
前記複数の再生制御用領域のうち再生領域が含まれる特定再生制御用領域の中央部近傍で取得されたチルト制御情報に基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するチルト制御工程を更に含むことを特徴とする請求項１０〜１７のいずれか一項に記載のチルト制御方法。 - 前記再生制御用領域の領域数は、前記記録制御用領域の領域数よりも少ないことを特徴とする請求項１９に記載のチルト制御方法。
- 前記チルト制御工程では、記録時における前記対物レンズの最適な傾きと再生時における前記対物レンズの最適な傾きとの差に関する既知の情報に基づいて、前記中央部近傍で取得されたチルト制御情報を修正することを特徴とする請求項１８〜２０のいずれか一項に記載のチルト制御方法。
- 前記チルト制御情報は、前記対物レンズ近傍の温度毎に取得されることを特徴とする請求項１〜２１のいずれか一項に記載のチルト制御方法。
- 前記対物レンズの傾きを制御する前後におけるトラックエラー信号の振幅変化あるいはＲＦ信号の振幅変化に関する情報を取得する振幅変化取得工程を更に含むことを特徴とする請求項１〜２２のいずれか一項に記載のチルト制御方法。
- 前記対物レンズがシーク動作によって移動したときに、停止前後におけるトラックエラー信号あるいはＲＦ信号の振幅変化の有無を検出する振幅変化検出工程を更に含むことを特徴とする請求項１〜２３のいずれか一項に記載のチルト制御方法。
- スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクを情報記録の対象媒体とする光ディスク装置に用いられるプログラムであって、
光ディスクにデータを記録する際に、前記光ディスクの前記データが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた前記既記録領域におけるトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに関する第１傾き情報と、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きに関する第２傾き情報とを取得し、前記第１、第２傾き情報に基づいて補正情報を取得する手順と；
前記記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きに関する情報と前記補正情報とに基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報を取得する手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラム。 - 前記第２傾き情報が有効であるか否かを判断する手順と；
前記判断の結果、前記第２傾き情報が有効でない場合に、所定のエラー処理を行う手順と；を前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項２５に記載のプログラム。 - 前記エラー処理を行う手順として、前記第１、第２傾き情報をそれぞれ破棄し、前記既記録領域とは異なる位置に存在する既記録領域において第１、第２傾き情報をそれぞれ新たに取得する手順を前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項２６に記載のプログラム。
- 前記エラー処理を行う手順として、前記第２傾き情報を破棄し、前記既記録領域におけるトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに所定の係数を乗じた値を、前記既記録領域におけるＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きとみなし、第２傾き情報を新たに取得する手順を前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項２６に記載のプログラム。
- 前記チルト制御情報を取得する手順に先立って、前記記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅と前記対物レンズの傾きとの関係を求める際に、既記録領域での記録前後におけるトラックエラー信号の振幅比を用いて、前記記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅を補正する手順を前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項２５〜２８のいずれか一項に記載のプログラム。
- 前記光ディスクのトラックは記録時のチルト制御用に複数の記録制御用領域に分割され、
前記複数の記録制御用領域のうち、前記記録対象領域が含まれる特定記録制御用領域の前後に位置する２つの記録制御用領域での各チルト制御情報により設定された判断基準に基づいて前記チルト制御情報を取得する手順で取得されたチルト制御情報が有効であるか否かを判断する手順と；
前記判断の結果、前記チルト制御情報が有効でない場合に、所定の無効処理を行う手順と；を前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項２５〜２９のいずれか一項に記載のプログラム。 - 前記無効処理を行う手順として、前記チルト制御情報を破棄し、前記特定記録制御用領域の前後に位置する２つの記録制御用領域での各チルト制御情報に基づいて、前記特定記録制御用領域でのチルト制御情報を推定し、該推定されたチルト制御情報を前記特定記録制御用領域におけるチルト制御情報とみなす手順を前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項３０に記載のプログラム。
- 前記無効処理を行う手順として、前記チルト制御情報を破棄し、前記記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに関する情報と前記補正情報とに基づいて、チルト制御情報を新たに取得する手順を前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項３０に記載のプログラム。
- 前記記録対象領域は前記複数の記録制御用領域の中の第１の記録制御用領域及び第２の記録制御用領域の両方にまたがり、前記データの記録中にデータの書き込み位置が前記第１の記録制御用領域から前記第２の記録制御用領域に遷移する場合に、前記第１、第２の記録制御用領域の境界近傍では前記対物レンズの傾きが徐々に変化するように前記対物レンズの傾きを制御する手順を前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項３０〜３２のいずれか一項に記載のプログラム。
- 前記光ディスクからデータを再生する際に、前記光ディスクのトラックの中央部近傍で取得されたチルト制御情報に基づいて、前記対物レンズの傾きを制御する手順を前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項２５〜３３のいずれか一項に記載のプログラム。
- 前記光ディスクのトラックは再生時のチルト制御用に複数の再生制御用領域に分割され、
前記光ディスクからデータを再生する際に、前記複数の再生制御用領域のうち再生領域が含まれる再生制御用領域の中央部近傍で取得されたチルト制御情報に基づいて、前記対物レンズの傾きを制御する手順を前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項３０〜３３のいずれか一項に記載のプログラム。 - 前記中央部近傍で取得されたチルト制御情報を、記録時における前記対物レンズの最適な傾きと再生時における前記対物レンズの最適な傾きとの差に関する既知の情報に基づいて補正する手順を前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項３４又は３５に記載のプログラム。
- 請求項２５〜３６のいずれか一項に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
- スパイラル状又は同心円状のトラックが記録面に形成された光ディスクを情報記録の対象媒体とする光ディスク装置であって、
光ディスクにデータを記録する際に、前記光ディスクの前記データが記録される記録対象領域の近傍に位置する既記録領域の再生時に得られた前記既記録領域における、ＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きとトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きとの差に関する情報である既知の補正情報と、前記データが記録される記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの対物レンズの傾きに関する情報とに基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するためのチルト制御情報を取得する制御情報取得手段と；
前記光ディスクの記録面に光ビームを照射し、前記記録面からの反射光を受光する光ピックアップ装置と；
前記光ピックアップ装置の出力信号を用いて、データの記録、再生及び消去のうち少なくとも記録を行なう処理装置と；を備える光ディスク装置。 - 前記既記録領域におけるＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きが所定値未満の場合に、所定のエラー処理を行うエラー処理手段を更に備えることを特徴とする請求項３８に記載の光ディスク装置。
- 前記エラー処理手段は、前記補正情報取得手段で取得された補正情報を無効とし、前記既記録領域とは異なる位置に存在する既記録領域において補正情報を新たに取得することを特徴とする請求項３９に記載の光ディスク装置。
- 前記エラー処理手段は、前記補正情報取得手段で取得された補正情報を無効とし、前記既記録領域におけるトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに所定の係数を乗じた値を、前記既記録領域におけるＲＦ信号の振幅が最大あるいはジッタが最小となるときの前記対物レンズの傾きとみなし、補正情報を新たに取得することを特徴とする請求項３９に記載の光ディスク装置。
- 前記記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅と前記対物レンズの傾きとの関係を求める際に、既記録領域での記録前後におけるトラックエラー信号の振幅比を用いて、前記記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅を補正するトラックエラー信号振幅補正手段を更に備えることを特徴とする請求項３８〜４１のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
- 前記光ディスクのトラックは記録時のチルト制御用に複数の記録制御用領域に分割され、
前記複数の記録制御用領域のうち前記記録対象領域が含まれる特定記録制御用領域の前後に位置する２つの記録制御用領域での各チルト制御情報に基づいて設定される判断基準を、前記制御情報取得手段で取得されたチルト制御情報が満足しない場合に、所定の無効処理を行う無効処理手段を更に備えることを特徴とする請求項３８〜４２のいずれか一項に記載の光ディスク装置。 - 前記無効処理手順では、前記制御情報取得手段で取得されたチルト制御情報を無効とし、前記特定記録制御用領域の前後に位置する２つの記録制御用領域での各チルト制御情報に基づいて前記特定記録制御用領域でのチルト制御情報を推定し、該推定されたチルト制御情報を前記特定記録制御用領域におけるチルト制御情報とみなすことを特徴とする請求項４３に記載の光ディスク装置。
- 前記無効処理手段では、前記制御情報取得手段で取得されたチルト制御情報を無効とし、前記記録対象領域でのトラックエラー信号の振幅が最大となるときの前記対物レンズの傾きに関する情報と前記補正情報とに基づいて、チルト制御情報を新たに取得することを特徴とする請求項４３に記載の光ディスク装置。
- 前記記録対象領域は前記複数の記録制御用領域の中の第１の記録制御用領域及び第２の記録制御用領域の両方にまたがり、前記データの記録中にデータの書き込み位置が前記第１の記録制御用領域から前記第２の記録制御用領域に遷移する場合に、前記第１、第２の記録制御用領域の境界近傍では前記対物レンズの傾きが徐々に変化するように前記対物レンズの傾きを制御する遷移制御手段を更に備えることを特徴とする請求項４３〜４５のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
- 前記光ディスクに設けられた試し書き領域における試し書き結果に基づいて、前記記録制御用領域毎にβ値の目標値を設定する目標β値設定手段を更に備えることを特徴とする請求項４３〜４６のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
- 前記光ディスクに設けられた試し書き領域における試し書き結果に基づいて、前記記録制御用領域毎にＢ値の目標値を設定する目標Ｂ値設定手段を更に備えることを特徴とする請求項４３〜４７のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
- 前記光ディスクからデータを再生する際に、前記光ディスクのトラックの中央部近傍で取得されたチルト制御情報に基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するチルト制御手段を更に備えることを特徴とする請求項３８〜４８のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
- 前記光ディスクのトラックは再生時のチルト制御用に複数の再生制御用領域に分割され、
前記光ディスクからデータを再生する際に、前記複数の再生制御用領域のうち再生領域が含まれる再生制御用領域の中央部近傍で取得されたチルト制御情報に基づいて、前記対物レンズの傾きを制御するチルト制御手段を更に備えることを特徴とする請求項４３〜４８のいずれか一項に記載の光ディスク装置。 - 前記中央部近傍で取得されたチルト制御情報を、記録時における前記対物レンズの最適な傾きと再生時における前記対物レンズの最適な傾きとの差に関する既知の情報に基づいて、補正する補正手段を更に備えることを特徴とする請求項４９又は５０に記載の光ディスク装置。
- 前記対物レンズの傾きを制御する前後におけるトラックエラー信号の振幅変化あるいはＲＦ信号の振幅変化に関する情報を取得する振幅変化取得手段を更に備えることを特徴とする請求項３８〜５１のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
- 前記対物レンズがシーク動作によって移動したときに、停止前後におけるトラックエラー信号あるいはＲＦ信号の振幅変化の有無を検出する振幅変化検出手段を更に備えることを特徴とする請求項３８〜５２のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
- 前記チルト制御情報が格納されるメモリと；
前記対物レンズ近傍の温度を検知する温度検知手段と；
前記温度検知手段で検知された温度情報と対応付けて前記チルト制御情報を前記メモリに格納する格納手段と；を更に備えることを特徴とする請求項３８〜５３のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
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